JP4771235B2 - 画像形成装置 - Google Patents
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Description
このため、従来より、検出信号に含まれる各信号波の波高値と閾値との比較により、傷等に対応する信号波(以下、「ノイズ波」という)を除去し、マークに対応する信号波(以下、「マーク波」という)だけを抽出しようとする画像形成装置がある(特許文献1)。また、この画像形成装置では、上記閾値を変更できる。
なお、ベルト上の傷等に限らず、例えば電磁ノイズなどにより上記検出信号にノイズ波が含まれることがある。
そこで、本適用例では、波形の評価指標(例えば波形、波高値、波幅、及び、他の波との相対位置など)について基本波形との合致度合いが高いものから第1規定範囲内に属する信号波を、マーク波として抽出することで、ノイズ波を除去するようにした。これにより、センサからの検出信号からマーク波を良好に抽出することができる。
本適用例では、上記基本波形との合致度合いが低いものから第2規定範囲内に属する信号波をノイズ波として除去し、これ以外の信号波をマーク波として抽出するようにした。これにより、センサからの検出信号からマーク波を良好に抽出することができる。
複数の信号波のほとんどはマークに対応する信号波であるので、それら複数の信号波における評価指標の平均値は、マークに対応する信号波群の平均的、代表的な波形の評価指標に近い。そこで、この平均値を、基本波形の評価指標として基本波形との合致度合いの高低を判断することが好ましい。また、この構成では、波形の評価指標の値が、平均値に近い信号波がマーク波として抽出され、平均値から離れた信号波はノイズ波として除去される。このため、例えば、マーク波よりも波高値が高いノイズ波を除去することができる。
例えば規定範囲(第1規定範囲、第2規定範囲)を固定としてもよいが、この場合、複数の信号波における波形の評価指標のバラツキ度合いによってはマーク波の抽出数が著しく少なくなるおそれがある。そこで、本適用例のように波形の評価指標のバラツキ度合いに応じて変更することが好ましい。
本適用例によれば、標準偏差を利用することにより、波形の評価指標のばらつき度合いに関係なく、平均値を基準とする、マークの基本波形との合致度合いが高い信号波を、マーク波として一定数分、抽出することができる。
波形自体を、波形の評価指標として波形の合致度合いの高低を判断する構成でもよい。しかし、本適用例のように、波高値、波幅、及び、他の波との相対位置のうち少なくともいずれか1つを波形の評価指標とすれば、波形自体を波形の評価指標とする構成に比べて、波形の合致度合いの高低を容易に判断することができる。
本適用例によれば、抽出部でのマーク波の抽出数よりも多い数のマークが対象物上に形成されるから、ノイズ波がマーク波として抽出されることを抑制できる。
複数のマークのうち、端に位置するマークと端に位置しないマークとは、夫々に隣接するマークの数が異なるため、両者の信号波形の特性が異なることがあり、このことが、マークの位置関係の検出精度に悪影響を及ぼすおそれがある。そこで、本適用例では、端に位置するマークに対応する信号波を、波形の合致度合いの高低にかかわらず抽出対象外とするようにした。
本適用例によれば、波形の評価指標の値が基準範囲外であって、ノイズ波であることが明らかな信号波が、マーク波の抽出精度に悪影響を与えることを抑制できる。
[プリンタの全体構成]
図1は、本実施形態のプリンタ1(本発明の「画像形成装置」の一例)の概略構成を示す側断面図である。なお、以下の説明では、図1の紙面右方向がプリンタ1の前方向であり、各図ではF方向として示してある。また、プリンタ1は4色(ブラックK、シアンC、マゼンタM、イエローY)のトナーによりカラー画像を形成するカラープリンタであり、色ごとに対応した複数の構成部品を有する。以下、各構成部品を色ごとに区別する場合には、その構成部品の符号末尾に各色を意味するK(ブラック)、C(シアン)、M(マゼンタ)、Y(イエロー)を付すものとする。
図3はプリンタ1の電気的構成を示すブロック図である。プリンタ1は、CPU61、ROM63、RAM65、NVRAM67(メモリの一例)、操作部69、表示部71、既述の画像形成部19、ネットワークインターフェイス73、光学センサ53等を備えている。
(1)形成ライン間隔の補正処理の概要
例えば、感光体33やベルト31は回転速度が常に一定ではなく変動している。このため、各露光ユニット23による走査ラインの露光時間間隔(各走査ラインの書き出しタイミングの時間間隔)を一定にしても、被記録媒体7上に形成される画像を構成するライン(以下、「形成ライン」という)の間隔は規定ライン間隔に対してばらつき、画像品質が悪化するおそれがある。
CPU61は、まずS100で、ブラックKのプロセスユニット25により、各光学センサ53の検出領域Eを通過するベルト31上の位置に、検査用パターン83を1つずつ形成し始める。このとき、CPU61は本発明の「制御部」として機能する。各検査用パターン83は、複数のブラックのマーク81を、ベルト31の回転方向(副走査方向)に沿って、感光体33の少なくとも1周長以上の長さに亘って並べたものである。本実施形態では、各検査用パターン83のマーク81の数は、感光体33が1回転する間に露光すべき露光ライン数(例えばN個)に4加えた数(N+4)である。
ところで、図5に示すように、例えば、ベルト31上に傷Bがあり、その部分の反射率がベルト面よりも低い場合、この傷Bに対応する信号波も、波高値が判別値TH0を超えて、判別後信号波WDとして判別されることがある。そうすると、本来、マーク81が存在しない位置をもマーク81の位置であると誤認識し、マーク群の位置関係を正確に決定できなくなる。なお、このように、実際にマーク81に対応しない信号波(以下、「実ノイズ波WN」という)は、ベルト31上の傷Bに限らず、汚れやゴミ等の付着物がベルト31上に付着したり、プリンタ1自身や周辺機器などからの電磁ノイズが検出信号SAに乗ったりする場合などにも生じ得る。そこで、CPU61は、次に示す抽出処理を実行し、本発明の「抽出部」として機能する。
図6は、抽出処理を示すフローチャートである。この抽出処理が実行されると、実ノイズ波WNを含み得る、判別後信号波WD群のうち、マークに対応する基本波形との合致度合いが高いものから第1規定範囲内に属するものが、マークに対応する信号波として抽出される。以下、この抽出処理により抽出される判別後信号波WDを、「みなしマーク波WM'」という。
DA−(k・SD) < 第1規定範囲 < DA+(k・SD)
これにより、波幅の分布状況にかかわらず、波幅について平均値との合致度合いが高いものから、kに応じた割合の範囲内に属する判別後信号波WDを、みなしマーク波WM'として抽出できる。なお、本実施形態ではkは「1」に設定されており、全判別後信号波WDのうち、平均値DAとの合致度合いが最も高いものから上位約9割の範囲内が、第1規定範囲とされている。なお、例えば操作部69におけるユーザの操作により、kの設定値を変更することにより、第1規定範囲を変えることができる。
上記抽出処理により、実ノイズ波WN(1,2)を除外できたとしても、それに隣り合う実マーク波WM(3,4,N−1,N)の波形(以下、「ノイズ近傍波」という)は、実ノイズ波WN(1,2)に影響され、左右非対称となり得る。そうすると、上記上流端及び下流端の実マーク波WM(1、N+4)と同様、マーク位置の特定情報としての信用性が低くなることがある。そこで、CPU61は、図4のS400で除外処理を実行する。
上記除外処理により実マーク波WM(3、N−1、N)が除外されると、それに対応するマーク位置を決定することができない。現在残存しているみなしマーク波WM'群について、マーク81の位置を決定すると、例えば図5の下段において実線で示したようになる。そこで、CPU61は、図4のS500の決定処理において、マーク81の位置を修正しつつ、マーク81の位置を最終的に決定する。
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような種々の態様も本発明の技術的範囲に含まれる。特に、各実施形態の構成要素のうち、最上位の発明の構成要素以外の構成要素は、付加的な要素なので適宜省略可能である。
(1)上記実施形態では、抽出処理において、標準偏差SDに応じた範囲に属する判別後信号波WDを抽出する構成であったが、これに限らない。例えば波幅DM、DNが,平均値DAから所定量ずれたものまで抽出する構成であってもよい。但し、上記実施形態の構成であれば、波幅の分布状況にかかわらず、kに応じた割合の範囲内に属する判別後信号波WDを抽出できるから、抽出数の決定、調整が容易である。
このように、決定処理にて、複数のマークを、グループ単位で扱う場合、グループ内の1つのマークに対応する信号波が除外されたときには当該グループ全体を除外することが好ましい。
23...露光ユニット(形成部)
25...プロセスユニット(形成部)
31...ベルト(対象物)
53...光学センサ(センサ)
61...CPU(制御部、抽出部)
81...マーク
SA...検出信号
Claims (9)
- 対象物上に画像を形成する形成部と、
前記形成部により複数のマークの画像を前記対象物上に形成させる制御部と、
前記対象物上に光を照射する発光素子、及び、前記対象物からの反射光に応じた検出信号を出力する受光素子を有するセンサと、
前記検出信号に含まれる複数の信号波のうち、波形の評価指標についてマークに対応する基本波形との合致度合いが高いものから第1規定範囲内に属する信号波を、前記マークに対応する信号波であるマーク波として抽出する抽出部と、を備える画像形成装置。 - 対象物上に画像を形成する形成部と、
前記形成部により複数のマークの画像を前記対象物上に形成させる制御部と、
前記対象物上に光を照射する発光素子、及び、前記対象物からの反射光に応じた検出信号を出力する受光素子を有するセンサと、
前記検出信号に含まれる複数の信号波のうち、波形の評価指標についてマークに対応する基本波形との合致度合いが低いものから第2規定範囲内に属する信号波以外を、前記マークに対応する信号波であるマーク波として抽出する抽出部と、を備える画像形成装置。 - 請求項1または請求項2に記載の画像形成装置であって、
前記基本波形の評価指標は、前記複数の信号波における評価指標の平均値である画像形成装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の画像形成装置であって、
前記抽出部は、前記規定範囲を、前記複数の信号波における波形の評価指標のバラツキ度合いに応じて変更する画像形成装置。 - 請求項4に記載の画像形成装置であって、
前記抽出部は、前記規定範囲を、前記複数の信号波における評価指標の標準偏差に応じて変更する画像形成装置。 - 請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の画像形成装置であって、
前記波形の評価指標は、前記信号波についての波高値、波幅、及び、他の波との相対位置のうち少なくともいずれか1つを含む画像形成装置。 - 請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の画像形成装置であって、
前記制御部は、前記抽出部での前記マーク波の抽出数よりも多い数のマークを前記形成部に形成させる画像形成装置。 - 請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の画像形成装置であって、
前記抽出部は、前記複数のマークのうち端に位置するマークに対応する信号波を、前記合致度合いの高低にかかわらず、抽出対象外とする画像形成装置。 - 請求項1から請求項8のいずれか一項に記載の画像形成装置であって、
前記抽出部は、前記波形の評価指標の値が基準範囲外である信号波を抽出対象外とし、残りの信号波群について前記波形の合致度合いの高低に基づき前記マーク波を抽出する画像形成装置。
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