JP4765840B2 - Tilt mirror element - Google Patents
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Description
本発明は、ミラー面を有するミラー部を2つの回転軸周りに回転運動させ、外部から入射される光ビームを2次元的に偏向又はスキャンする2軸静電型のチルトミラー素子に関する。 The present invention relates to a two-axis electrostatic tilt mirror element that rotates a mirror portion having a mirror surface around two rotation axes to deflect or scan a light beam incident from the outside in a two-dimensional manner.
従来より、例えばバーコードリーダやプロジェクタ等の光学機器には、ミラー面が設けられたミラー部を揺動させて、そのミラー面に入射した光ビーム等をスキャンするチルトミラー素子が搭載されている。このようなチルトミラー素子としては、例えば、マイクロマシニング技術を用いて成形される小型のものであって、静電力によりミラー部を2つの回転軸周りに回転運動させて、光ビームを2次元的に偏向又はスキャンする2軸静電型のものが知られている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, for example, optical devices such as a barcode reader and a projector are equipped with a tilt mirror element that swings a mirror portion provided with a mirror surface and scans a light beam incident on the mirror surface. . As such a tilt mirror element, for example, a small one formed by using micromachining technology, the mirror portion is rotated around two rotation axes by electrostatic force, and the light beam is two-dimensionally moved. A two-axis electrostatic type that deflects or scans is known (for example, see Patent Document 1).
このようなチルトミラー素子は、ミラー部と、ミラー部を支持する可動フレームと、可動フレームを支持する固定フレームとを有している。ミラー部と可動フレーム、及び可動フレームと固定フレームとは、それぞれ互いにヒンジにより連結されている。ミラー部と可動フレームとの間、及び可動フレームと固定フレームとの間には、それぞれ、互いに噛み合う一対の櫛歯電極が形成されている。この櫛歯電極は、例えば互いの電極が2μm乃至5μm程度の間隔で噛み合うように形成されており、互いの電極間に電圧が印加されることにより静電力を発生する。このようなチルトミラー素子では、ミラー部と可動フレームとの間の櫛歯電極と、可動フレームと固定フレームとの間の櫛歯電極がそれぞれ発生する駆動力により、それぞれのヒンジを捻りながら、ミラー部が可動フレームに対して回動し、可動フレームが固定フレームに対して回動する。これにより、ミラー部が、2つの回転軸周りに回転運動し、スキャン動作を行う。 Such a tilt mirror element has a mirror part, a movable frame that supports the mirror part, and a fixed frame that supports the movable frame. The mirror part and the movable frame, and the movable frame and the fixed frame are connected to each other by hinges. A pair of comb-shaped electrodes that mesh with each other are formed between the mirror portion and the movable frame, and between the movable frame and the fixed frame. The comb electrodes are formed, for example, so that the electrodes are engaged with each other at intervals of about 2 μm to 5 μm, and an electrostatic force is generated when a voltage is applied between the electrodes. In such a tilt mirror element, each of the mirrors is twisted by a driving force generated by a comb-shaped electrode between the mirror portion and the movable frame and a comb-shaped electrode between the movable frame and the fixed frame. The part rotates with respect to the movable frame, and the movable frame rotates with respect to the fixed frame. As a result, the mirror unit rotates around the two rotation axes to perform a scanning operation.
ここで、ミラー部を2つの回転軸周りに回転運動させるためには、ミラー部と可動フレームとの間に設けられた櫛歯電極が、ミラー部側の電極と可動フレーム側の電極とが互いに絶縁された状態に構成されており、両電極間に電圧を印加できるように構成されていなければならない。そこで、例えば特許文献1には、2つの互いに絶縁されたシリコン層を有するSOI(Silicon on Insulator)基板により構成され、一方のシリコン層にミラー部と可動フレームとを連結するヒンジと上記櫛歯電極のうちミラー部側の電極とが形成され、もう一方のシリコン層に上記櫛歯電極のうち可動フレーム側の電極が形成された構成を有するチルトミラー素子が示されている。このチルトミラー素子では、互いに対向し櫛歯電極を構成する電極同士が同一のシリコン層に形成されていないので、ミラー部と可動フレームとが電気的に絶縁されており、上記櫛歯電極に電圧を印加することができる。また、このような構造とは別の構造として、例えば、可動フレームのうちミラー部と可動フレームとを連結するヒンジが形成されている部位と上記櫛歯電極のうち可動フレーム側の電極が形成されている部位とを絶縁するように、可動フレームに絶縁分離構造が形成されたチルトミラー素子も知られている。
しかしながら、上記のような特許文献1に記載されているようなチルトミラー素子を作製するには、一対の櫛歯電極を形成する際、SOI基板の各シリコン層の表面から、ミラー部側の電極と可動フレーム側の電極とをそれぞれ形成しなければならない。そのため、電極等をエッチング等により形成する際、電極同士が狭い間隔で互いに噛み合うように互いに精密な位置決めが必要であり、素子の作製が困難であり、良品率を高くすることが困難であるという問題があった。
However, in order to manufacture the tilt mirror element as described in
一方、可動フレームに絶縁分離構造を形成するためには、可動フレーム内の絶縁分離構造を設ける部位に溝を形成する工程、その溝の端面を酸化させる工程、溝にポリシリコン等を埋め込む工程、及びチルトミラー素子を形成する基板の表面を研磨する工程等を行う必要がある。そのため、チルトミラー素子の製造工程が複雑になり、チルトミラー素子の作製が困難であるという問題があった。 On the other hand, in order to form an insulating separation structure in the movable frame, a step of forming a groove in a portion where the insulating separation structure in the movable frame is provided, a step of oxidizing the end surface of the groove, a step of embedding polysilicon or the like in the groove, In addition, it is necessary to perform a step of polishing the surface of the substrate on which the tilt mirror element is formed. For this reason, the manufacturing process of the tilt mirror element becomes complicated, and it is difficult to manufacture the tilt mirror element.
本発明は、上記問題点を鑑みてなされたものであり、容易に作製可能で製造時の良品率が高い2軸静電型のチルトミラー素子を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a biaxial electrostatic tilt mirror element that can be easily manufactured and has a high yield rate at the time of manufacture.
上記目的を達成するため、本発明は、外部から入射した光を反射するミラー面を有するミラー部と、前記ミラー部と第1のヒンジにより連結され、該ミラー部を支持する可動フレームと、前記可動フレームと第2のヒンジにより連結され、該可動フレームを支持する固定フレームと、前記ミラー部と可動フレームとにそれぞれ電極が形成され、それらの電極が互いに対向して噛み合うように配置された一対の第1の櫛歯電極と、前記可動フレームと固定フレームとにそれぞれ電極が形成され、それらの電極が互いに対向して噛み合うように配置された一対の第2の櫛歯電極と、を備え、前記第1のヒンジと第2のヒンジとは、互いに直交する方向に形成されており、前記第1の櫛歯電極は、電圧が印加されることにより静電力を発生し、その静電力によって前記ミラー部を前記第1のヒンジを回転軸として回動させ、前記第2の櫛歯電極は、電圧が印加されることにより静電力を発生し、その静電力によって前記可動フレームを前記第2のヒンジを回転軸として回動させる2軸静電型のチルトミラー素子において、前記チルトミラー素子は、2層のシリコン層が絶縁膜を介し互いに接合されて成る3層のSOI(Silicon on Insulator)基板をエッチングすることにより形成されており、前記ミラー部、前記可動フレーム、前記第2のヒンジ及び前記固定フレームは、前記3層で構成され、該ミラー部には、前記2層のシリコン層同士を電気的に接続する導電構造が形成されており、前記第1のヒンジは、前記2層のシリコン層のうち一方のシリコン層により形成されており、前記1対の第1の櫛歯電極は、前記2層のシリコン層のうち他方のシリコン層により形成され、該第1の櫛歯電極のうち前記ミラー部側の電極は、前記導電構造と、前記第1のヒンジと、前記可動フレーム及び前記第2のヒンジのうち前記一方のシリコン層により形成された部位とを介して、前記固定フレームのうち該一方のシリコン層により形成された部位と同電位とされており、前記1対の第2の櫛歯電極は、前記他方のシリコン層により形成されており、前記固定フレームのうち、前記他方のシリコン層において、前記第2の櫛歯電極が形成されている部位と、前記第2のヒンジが接続されている部位とは、両部位間に絶縁溝部が形成されることにより電気的に絶縁されており、該第2のヒンジが接続されている部位は、該第2のヒンジを介して、前記可動フレームに形成されている前記第1の櫛歯電極及び該第2の櫛歯電極と同電位とされており、前記固定フレームにおいて、前記一方のシリコン層により形成されている部位の電位と、前記他方のシリコン層により形成され前記第2のヒンジが接続されている部位の電位と、該他方のシリコン層により前記第2の櫛歯電極が形成されている部位の電位とを変更することにより、前記1対の第1の櫛歯電極の電極間及び前記1対の第2の櫛歯電極の電極間に電圧を印加できるように構成されていることを特徴とする。
To achieve the above object, the present invention includes a mirror unit having a mirror surface for reflecting light incident from the outside, are connected by the mirror portion and the first hinge, a movable frame for supporting the mirror unit, wherein are connected by a movable frame and a second hinge, a fixed frame supporting said moving frame, respectively electrode and the movable frame the mirror portion is formed, arranged so that their electrodes are engaged facing each other pair comprises a first comb electrodes of the respective electrode and the movable frame and the fixed frame is formed, a pair of second comb electrodes these electrodes are disposed so as to mesh facing each other and, The first hinge and the second hinge are formed in directions orthogonal to each other, and the first comb electrode generates an electrostatic force when a voltage is applied thereto, The mirror part is rotated by the electric power about the first hinge as a rotation axis, and the second comb electrode generates an electrostatic force when a voltage is applied thereto, and the electrostatic force causes the movable frame to move the movable frame. In a two-axis electrostatic tilt mirror element that rotates about a second hinge as a rotation axis , the tilt mirror element includes a three-layer SOI (Silicon on) formed by bonding two silicon layers to each other via an insulating film. Insulator) is formed by etching a substrate , and the mirror portion, the movable frame, the second hinge, and the fixed frame are configured by the three layers, and the mirror portion includes the two layers of silicon. A conductive structure is formed to electrically connect the layers , and the first hinge is formed of one of the two silicon layers, and the pair of
この発明において、前記ミラー面は、前記第1のヒンジが形成されているシリコン層に配設されていることが望ましい。 In the present invention, it is desirable that the mirror surface is disposed on a silicon layer on which the first hinge is formed .
この発明において、前記ミラー面は、前記第1の櫛歯電極が形成されているシリコン層に配設されていることが望ましい。 In the present invention, the mirror surface is preferably disposed on a silicon layer on which the first comb electrode is formed .
本発明によれば、一対の第1の櫛歯電極は、第1のヒンジが形成されているシリコン層とは異なるシリコン層に形成されており、第1の櫛歯電極のうちミラー部側の電極は第1のヒンジが形成されているシリコン層と同電位になるように構成されているので、一対の櫛歯電極を構成する各電極を同時に形成して、チルトミラー素子を作製することができる。可動フレームに絶縁分離構造を形成するような複雑な工程が必要なく、容易にミラー部と可動フレームとが絶縁された構造を形成することができるので、チルトミラー素子を容易に作製することができ、チルトミラー素子の良品率が高くなる。 According to the present invention , the pair of first comb electrodes are formed on a silicon layer different from the silicon layer on which the first hinge is formed, and the mirror portion side of the first comb electrodes is formed. Since the electrodes are configured to have the same potential as that of the silicon layer on which the first hinge is formed, it is possible to manufacture the tilt mirror element by simultaneously forming the electrodes constituting the pair of comb-teeth electrodes. it can. A complicated process of forming an insulating separation structure on the movable frame is not required, and a structure in which the mirror portion and the movable frame are insulated can be easily formed, so that the tilt mirror element can be easily manufactured. Therefore, the yield rate of tilt mirror elements is increased.
以下、本発明の第1の実施形態について図面を参照しつつ説明する。図1(a)、(b)、図2、及び図3(a)、(b)、(c)、(d)は、本実施形態に係るチルトミラー素子(以下、素子と称する)の一例を示す。素子1は、例えば、バーコードリーダ、外部のスクリーン等に画像を投影するプロジェクタ装置、又は光スイッチ等の光学機器に搭載される小型のものであり、外部の光源等(図示せず)から入射する光ビーム等をスキャン動作させる機能を有している。
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 (a), (b), FIG. 2, and FIGS. 3 (a), (b), (c), and (d) are examples of tilt mirror elements (hereinafter referred to as elements) according to the present embodiment. Indicates. The
先ず、この素子1の構成について以下に説明する。素子1は、導電性を有する第1のシリコン層100aと第2のシリコン層100bとをシリコンの酸化膜(絶縁膜)120を介して接合して成る、3層のSOI(Silicon on Insulator)基板100から構成されている。酸化膜120は絶縁性を有しているので、第1のシリコン層100aと第2のシリコン層100bとは互いに絶縁されている。この素子1は、例えば、上面視で一辺が数mm程度の略正方形である直方体状の素子であり、例えば、ガラス等の支持基板150上に配置されて光学機器等に搭載される。なお、支持基板150は図3(c)、(d)に図示しており、図1(a)、(b)、(c)、(d)及び図2においては図示を省略している。
First, the configuration of the
この素子1は、上面視で略矩形形状であり上面にミラー面20が形成されたミラー部2と、ミラー部2の周囲を囲むように略矩形の環状に形成された可動フレーム3と、可動フレーム3の周囲を囲むように形成され、素子1の側周部となる固定フレーム4とを有している。ミラー部2と可動フレーム3とは、互いに並んで1つの軸を成すように、ミラー部2の互いに対向する2側面から各面に直交するように形成された梁状の2つの第1のヒンジ5により連結されている。一方、可動フレーム3と固定フレーム4とは、第1のヒンジ5の長手方向と直交する方向に、互いに並んで1つの軸を成すように形成された梁状の2つの第2のヒンジ6により連結されている。第1のヒンジ5及び第2のヒンジ6は、それらそれぞれが成す軸が、上面視でミラー部2の重心位置を通過するように形成されている。ミラー部2は、第1のヒンジ5を回転軸として、可動フレーム3に対して回動可能に可動フレーム3に支持されている。一方、可動フレーム3は、第2のヒンジ6を回転軸として、固定フレーム4に対して回動可能に固定フレーム4に支持されている。すなわち、ミラー部2は、第1のヒンジ5と第2のヒンジ6とによりそれぞれ構成される2つの軸周りに、2次元的に回動可能に構成されている。以下、第1のヒンジ5の長手方向をX方向と称し、第2のヒンジ6の長手方向をY方向と称し、X方向とY方向に直交する垂直な方向をZ方向と称する。
The
この素子1は静電力を用いてミラー部2を回動させるものであり、ミラー部2と可動フレーム3との間の第1のヒンジ5が形成されていない部位には第1の櫛歯電極7が形成されており、可動フレーム3と固定フレーム4との間の第2のヒンジ6が形成されていない部位には第2の櫛歯電極8が形成されている。第1の櫛歯電極7は、ミラー部2のうちX方向に略直交する2側面にそれぞれ櫛歯形状に形成された電極2aと、可動フレーム3のうち電極2aに対向する部位にそれぞれ櫛歯形状に形成された電極3aとが、一対に互いに噛み合うように配置されて構成されている。第2の櫛歯電極8は、可動フレーム3のうちY方向に略直交する2側面にそれぞれ櫛歯形状に形成された電極3bと、固定フレーム4のうち電極3bに対向する部位にそれぞれ形成された電極4aとが、一対に互いに噛み合うように配置されて構成されている。第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8において、電極2a,3a間の隙間や、電極3b,4a間の隙間は、例えば、2μm乃至5μm程度の大きさとなるように構成されている。第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8は、それぞれの電極2a,3a間、又は電極3b,4a間に電圧が印加されることにより、互いの電極2a,3a間、又は電極3b,4aに、互いに引き合う方向に作用する静電力を発生する。
This
ミラー部2、可動フレーム3、固定フレーム4等は、それぞれ、後述するようにSOI基板100をマイクロマシニング技術を用いて加工することにより形成されており、それぞれ、SOI基板100の上記の3層で構成されている。以下に、素子1の各部位について、SOI基板100の各層の構造について説明する。
The
ミラー部2のうち第1のシリコン層100aにより形成された部位には、第1のヒンジ5が接続されている。また、ミラー部2のうち、第2のシリコン層100bにより形成された部位には、第1の櫛歯電極7を構成する電極2aが形成されている。ミラー部2において、ミラー面20は、ミラー部2の上面となる第1のシリコン層100aの上面に、ミラー部2が静止状態のとき略Z方向がその法線方向となるように形成されている。ミラー面20は、例えばアルミニウム膜等であり、外部から入射した光ビームを反射する。なお、ミラー面20の材質はこれに限られるものではなく、素子1によりスキャンする光ビームの種類等に応じて、金等、種々の材質を選択可能である。ミラー部2の下面となる第2のシリコン層100bの下面には、酸化膜120が露出するように、ミラー部2の側面を残してくりぬかれた肉抜部2cが形成されている。これにより、肉抜部2cが形成されていない場合よりもミラー部2が軽量化され、ミラー部2の揺動角を大きくすることができるように構成されている。
A
可動フレーム3のうち、第1のシリコン層100aにより形成された部位は、第1のヒンジ5に連結される部位と第2のヒンジ6に連結される部位とを接続するように、下方の酸化膜120上にリブ形状に形成されている。そして、可動フレーム3のうち酸化膜120及び第2のシリコン層100bにより形成された部位は、ミラー部2を囲むように環状に形成されている。第2のヒンジ6は、可動フレーム3を形成するSOI基板100の上記3層のうち、酸化膜120と第2のシリコン層100bにも接続されており、固定フレーム4と可動フレーム3は、SOI基板100の上記3層それぞれにおいて連結されている。可動フレーム3のうち、第2のシリコン層100bには、ミラー部2の電極2aと向き合うように形成された電極3aと、第2の櫛歯電極8を構成する電極3bとが形成されている。電極3bと噛み合う電極4aは、固定フレーム4のうち第2のシリコン層100bに形成されている。
Of the
このように、この素子1では、互いに絶縁された第1のシリコン層100aと第2のシリコン層100bのうち、第1のシリコン層100aには、第1のヒンジ5が形成されており、第2のシリコン層100bには、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8が共に形成されている。
Thus, in the
ここで、ミラー部2の第1のシリコン層100aの上面のうち、ミラー面20が形成されていない部位には、複数(例えば8つ)のコンタクトホール(導電構造)9が形成されている。このコンタクトホール9は、第1のシリコン層100aと酸化膜120を貫通し、上面に第2のシリコン層100bが露出するように形成した貫通孔内に、例えば銅等、導電性を有する金属が充填されて構成されている。このように設けられたコンタクトホール9を介して、ミラー部2を構成する第1のシリコン層100aと第2のシリコン層100bとは電気的に接続されており、第1の櫛歯電極7のうちミラー部2側の電極2aが、第1のシリコン層100aと同電位となるように構成されている。また、固定フレーム4を形成する第2のシリコン層100bのうち、第2のヒンジ6が接続されている部位と、第2の櫛歯電極8を構成する電極4aが形成されている部位とは、両部位間に酸化膜120まで達するように掘り込まれた絶縁溝部4gが形成されていることにより、電気的に絶縁されている。すなわち、本実施形態においては、固定フレーム4のうち、第1のシリコン層100aにより形成された部位4cが電極2aと同電位となり、第2のシリコン層100bにより形成され第2のヒンジ6が接続されている部位4dが電極3a,3bと同電位となり、第2のシリコン層100bにより形成された他の部位4eが電極4aとなるように形成されている。そして、この素子1は、各部位4c,4d,4eに設けられた電極パッド(図示せず)の電位を変更することにより、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8に電圧を印加してミラー部2を回転運動させることができるように構成されている。
Here, a plurality of (for example, eight) contact holes (conductive structures) 9 are formed in a portion of the upper surface of the
次に、上記のように構成された素子1の動作について説明する。第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8は、それぞれ、いわゆる垂直静電コムとして動作し、ミラー部2は、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8が所定の駆動周波数で駆動力を発生することにより駆動される。第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8は、例えば、電極3a,3bが基準電位に接続された状態で、電極2a、及び電極4aの電位をそれぞれ周期的に変化させることにより駆動され、静電力を発生する。この素子1においては、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8それぞれが、例えば矩形波形状の電圧が印加されて周期的に駆動力を発生するように構成されている。
Next, the operation of the
上述のように形成されたミラー部2や可動フレーム3は、一般に多くの場合、その成型時に内部応力等が生じることにより、静止状態でも水平姿勢ではなく、きわめて僅かであるが傾いている。そのため、例えば第1の櫛歯電極7が駆動されると、静止状態からであっても、ミラー部2に略垂直な方向の駆動力が加わり、ミラー部2が第1のヒンジ5を回転軸として第1のヒンジ5を捻りながら回動する。そして、第1の櫛歯電極7の駆動力を、ミラー部2が電極2a,3aが完全に重なりあうような姿勢となったときに解除すると、ミラー部2は、その慣性力により、第1のヒンジ5を捻りながら回動を継続する。そして、ミラー部2の回動方向への慣性力と、第1のヒンジ5の復元力とが等しくなったとき、ミラー部2のその方向への回動が止まる。このとき、第1の櫛歯電極7が再び駆動され、ミラー部2は、第1のヒンジ5の復元力と第1の櫛歯電極7の駆動力により、それまでとは逆の方向への回動を開始する。ミラー部2は、このような第1の櫛歯電極7の駆動力と第1のヒンジ5の復元力による回動を繰り返して、第1のヒンジ5周りに揺動する。可動フレーム3も、ミラー部2の回動時と略同様に、第2の櫛歯電極8の駆動力と第2のヒンジ6の復元力による回動を繰り返して、第2のヒンジ6周りに揺動する。このとき、ミラー部2の姿勢が可動フレーム3の揺動に応じて変化するので、ミラー部2は、2次元的な揺動を繰り返す。
In many cases, the
ここで、第1の櫛歯電極7は、ミラー部2と第1のヒンジ5により構成される振動系の共振周波数の略2倍の周波数の電圧が印加されて駆動される。また、第2の櫛歯電極8は、ミラー部2及び可動フレーム3と第2のヒンジ6とにより構成される振動系の共振周波数の略2倍の周波数の電圧が印加されて駆動される。これにより、ミラー部2が共振現象を伴って駆動され、その揺動角が大きくなるように構成されている。なお、第1の櫛歯電極7や第2の櫛歯電極8の電圧の印加態様や駆動周波数は、上述に限られるものではなく、例えば、駆動電圧が正弦波形で印加されるように構成されていても、また、電極3a,3bの電位が、電極2a及び電極4aの電位と共に変化するように構成されていてもよい。
Here, the first comb-
次に、図4(a)、(b)、(c)、及び図5(a)、(b)、(c)を参照しつつ、素子1の製造工程について説明する。なお、素子1は、例えば4インチ程度の大きさのSOI基板100上に複数個同時に形成された後、ダイシングされて個別の素子1に分割され製造される。なお、加工前のSOI基板100においては、第2のシリコン層100bは所定の厚さよりも厚く構成されている。
Next, the manufacturing process of the
先ず、SOI基板100の第1のシリコン層100aに、ミラー部2と、それに連結する第1のヒンジ5と、第1のヒンジ5から固定フレーム4までを接続する部位とをエッチングにより形成する。また、ミラー部2の上面のうちミラー面20が形成される部位の周縁部に、貫通孔9aを、ミラー部2等と同時に形成する(図4(a)、(b)、(c)参照)。次に、ミラー部2のうち第1のシリコン層100aと第2のシリコン層100bとを電気的に接続するために、貫通孔9a内に銅等の金属を埋め込み、コンタクトホール9を形成する。また、ミラー部2上に、光ビームの反射率を向上するためのアルミニウム等の薄膜を蒸着し、ミラー面20を形成する(図5(a)、(b)、(c))。このように素子1の上部を加工した後、第2のシリコン層100bを研磨して、所定の厚さまで薄くする。そして、第2のシリコン層100b内に、ミラー部2の下部となる部位と、可動フレーム3及び固定フレーム4と、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8と、それらを連結する第2のヒンジ6とをエッチングにより形成する。なお、コンタクトホール9、ミラー面20、櫛歯電極7,8、及びヒンジ5,6等の形成の順番は、工程上の都合により前後しても構わない。その後、固定フレーム4の下面を支持基板150に接合して素子1を補強し、図3(a)、(b)、(c)、(d)に示すような素子1が製造される。
First, in the
このように、本実施形態においては、SOI基板100を用いて、一対の第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8を構成する各電極2a,3a,3b,4aを第2のシリコン層100bに同時に形成し、素子1を作製する。従って、可動フレーム3に絶縁分離構造を形成するような複雑な工程が必要なく、容易にミラー部2と可動フレーム3とが絶縁された構造を形成することができるので、素子1を容易に作製することができ、素子1の良品率が高くなる。また、ミラー面20は、第1のヒンジ5が形成されている第1のシリコン層に形成されているので、ミラー部2が形成されている部位の2つのシリコン層100a,100bのうち、ミラー面20が形成されている第1のシリコン層100aの厚さを、第2のシリコン層100bの厚さにかかわらず任意に選択することができる。従って、第1の櫛歯電極7が形成されている第2のシリコン層100bを厚くしてミラー部2を回転させる駆動力を増大させると共に、第1のシリコン層100aを薄くしてミラー部2を軽量化することにより、ミラー部2の共振周波数や振れ角を増大させ、素子1を高性能化することができる。
As described above, in the present embodiment, each of the
次に、本発明の第2の実施形態に係る素子について、図6(a)、(b)、(c)、(d)を参照して説明する。以下の各実施形態において、上述の第1の実施形態と同様の構成部材には同一の符号を付し、上述の実施形態と相違する部分についてのみ説明する。 Next, an element according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 6 (a), (b), (c), and (d). In the following embodiments, the same components as those in the first embodiment described above are denoted by the same reference numerals, and only the portions different from those in the above embodiments will be described.
第2の実施形態に係る素子31は、ミラー面30が、第1の櫛歯電極7が形成されている第2のシリコン層100bに形成されている点で、上述の素子1とは相違する。換言すると、この素子31は、上述の素子1とは逆に、SOI基板100のうち、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8が形成されている第2のシリコン層100bの表面が、ミラー面30が形成された上面となり、第1のヒンジ5が形成されている第1のシリコン層100aの表面が下面となる。
The
素子31においては、上述のコンタクトホール9に替えて、ミラー部32に、素子31の上面から第2のシリコン層100bと酸化膜120とを貫通するように形成されたコンタクトホール39が形成されている。すなわち、第1の櫛歯電極7のうちミラー部32側の電極32aは、コンタクトホール39を介して、固定フレーム4のうち第1のシリコン層100aにより構成された部位4cと電気的に接続されて同電位となっている。また、ミラー部32のうち第1のシリコン層100aの下面には、酸化膜120が下方に露出するように、ミラー部32の側面を残してくりぬかれた肉抜部32cが形成されている。これにより、肉抜部32cが形成されていない場合よりもミラー部32が軽量化され、ミラー部32の揺動角を大きくすることができるように構成されている。
In the
次に、図7(a)、(b)、(c)、及び図8(a)、(b)、(c)を参照しつつ、素子31の製造工程について説明する。素子31の製造時にも、上述の第1の実施形態と略同様に、SOI基板100のうち、第1のシリコン層100aの加工から開始する。先ず、SOI基板100の第1のシリコン層100aに、ミラー部32と、それに連結する第1のヒンジ5と、第1のヒンジ5から固定フレーム4までを接続する部位とをエッチングにより形成する。また、それと同時に、ミラー部32の下面に、肉抜部32cを形成する(図7(a)、(b)、(c)参照)。
Next, a manufacturing process of the
次に、第2のシリコン層100bの加工を行う。先ず、第2のシリコン層100bを研磨して所定の厚さまで薄くする。そして、薄くした第2のシリコン層100bのうち、ミラー面30を形成する部位の周辺部位に、貫通孔を形成した後銅等の金属を埋め込むことによりコンタクトホール39を形成する。また、第2のシリコン層100bの上面に、上述の第1の実施形態と同様にミラー面30を形成する(図8(a)、(b)、(c))。そして、第2のシリコン層100b内に、可動フレーム3及び固定フレーム4と、第1の櫛歯電極7及び第2の櫛歯電極8と、それらを連結する第2のヒンジ6とをエッチングにより形成する。なお、コンタクトホール39、ミラー面30、櫛歯電極7,8、及びヒンジ5,6等の形成の順番は、工程上の都合により前後しても構わない。その後、固定フレーム4の下面を支持基板150に接合して素子31を補強し、図6(a)、(b)、(c)、(d)に示すような素子31が製造される。
Next, the
このように、第2の実施形態においては、ミラー面30が、第1の櫛歯電極7が形成されている第2のシリコン層100bに形成されているので、ミラー部32が形成されている部位の2つのシリコン層100a,100bのうち、第1のヒンジ5が形成されている第1のシリコン層100aの厚さを、第2のシリコン層100bの厚さにかかわらず任意に選択することができる。従って、第1のヒンジ5のばね定数の設定範囲が広くなり、ミラー部32の共振周波数を調整可能な範囲が広くなる。また、第1の櫛歯電極7と第2の櫛歯電極8とを構成する各電極2a,3a,3b,4aを同時に形成して素子31を作製することができるので、素子31を容易に作製することができ、素子31の良品率が高くなる。
Thus, in the second embodiment, since the
なお、本発明は上記実施形態の構成に限定されるものではなく、発明の趣旨を変更しな
い範囲で適宜に種々の変形が可能である。例えば、ミラー部のうち第1のシリコン層と第
2のシリコン層とは、上述のようなコンタクトホールではなく、他の導電構造を設けるこ
とにより互いに電気的に接続されていてもよい。
In addition, this invention is not limited to the structure of the said embodiment, A various deformation | transformation is possible suitably in the range which does not change the meaning of invention. For example, the first silicon layer and the second silicon layer in the mirror portion may be electrically connected to each other by providing another conductive structure instead of the contact hole as described above .
1,31 チルトミラー素子
2,32 ミラー部
2a,32a (ミラー部側の)電極
3 可動フレーム
4 固定フレーム
5 第1のヒンジ
6 第2のヒンジ
7 第1の櫛歯電極
8 第2の櫛歯電極
9,39 コンタクトホール(導電構造)
20,30 ミラー面
100 SOI基板
100a 第1のシリコン層
100b 第2のシリコン層
120 酸化膜(絶縁膜)
DESCRIPTION OF
20, 30
Claims (3)
前記ミラー部と第1のヒンジにより連結され、該ミラー部を支持する可動フレームと、
前記可動フレームと第2のヒンジにより連結され、該可動フレームを支持する固定フレームと、
前記ミラー部と可動フレームとにそれぞれ電極が形成され、それらの電極が互いに対向して噛み合うように配置された一対の第1の櫛歯電極と、
前記可動フレームと固定フレームとにそれぞれ電極が形成され、それらの電極が互いに対向して噛み合うように配置された一対の第2の櫛歯電極と、を備え、
前記第1のヒンジと第2のヒンジとは、互いに直交する方向に形成されており、
前記第1の櫛歯電極は、電圧が印加されることにより静電力を発生し、その静電力によって前記ミラー部を前記第1のヒンジを回転軸として回動させ、
前記第2の櫛歯電極は、電圧が印加されることにより静電力を発生し、その静電力によって前記可動フレームを前記第2のヒンジを回転軸として回動させる2軸静電型のチルトミラー素子において、
前記チルトミラー素子は、2層のシリコン層が絶縁膜を介し互いに接合されて成る3層のSOI(Silicon on Insulator)基板をエッチングすることにより形成されており、
前記ミラー部、前記可動フレーム、前記第2のヒンジ及び前記固定フレームは、前記3層で構成され、該ミラー部には、前記2層のシリコン層同士を電気的に接続する導電構造が形成されており、
前記第1のヒンジは、前記2層のシリコン層のうち一方のシリコン層により形成されており、
前記1対の第1の櫛歯電極は、前記2層のシリコン層のうち他方のシリコン層により形成され、該第1の櫛歯電極のうち前記ミラー部側の電極は、前記導電構造と、前記第1のヒンジと、前記可動フレーム及び前記第2のヒンジのうち前記一方のシリコン層により形成された部位とを介して、前記固定フレームのうち該一方のシリコン層により形成された部位と同電位とされており、
前記1対の第2の櫛歯電極は、前記他方のシリコン層により形成されており、
前記固定フレームのうち、前記他方のシリコン層において、前記第2の櫛歯電極が形成されている部位と、前記第2のヒンジが接続されている部位とは、両部位間に絶縁溝部が形成されることにより電気的に絶縁されており、該第2のヒンジが接続されている部位は、該第2のヒンジを介して、前記可動フレームに形成されている前記第1の櫛歯電極及び該第2の櫛歯電極と同電位とされており、
前記固定フレームにおいて、前記一方のシリコン層により形成されている部位の電位と、前記他方のシリコン層により形成され前記第2のヒンジが接続されている部位の電位と、該他方のシリコン層により前記第2の櫛歯電極が形成されている部位の電位とを変更することにより、前記1対の第1の櫛歯電極の電極間及び前記1対の第2の櫛歯電極の電極間に電圧を印加できるように構成されていることを特徴とするチルトミラー素子。 A mirror portion having a mirror surface that reflects light incident from the outside;
A movable frame connected to the mirror portion by a first hinge and supporting the mirror portion;
Are connected by the movable frame and a second hinge, a fixed frame supporting said movable frame,
Wherein the electrodes are respectively formed on the mirror portion and the movable frame, a pair of first comb electrodes these electrodes are disposed so as to mesh to face each other,
An electrode is formed on each of the movable frame and the fixed frame, and a pair of second comb electrodes arranged so that the electrodes face each other and mesh with each other , and
The first hinge and the second hinge are formed in directions orthogonal to each other,
The first comb-teeth electrode generates an electrostatic force when a voltage is applied, and the electrostatic force rotates the mirror portion about the first hinge as a rotation axis.
The second comb-shaped electrode generates an electrostatic force when a voltage is applied, and the electrostatic force causes the movable frame to rotate about the second hinge as a rotation axis. In the element
The tilt mirror element is formed by etching a three-layer SOI (Silicon on Insulator) substrate in which two silicon layers are bonded to each other through an insulating film.
The mirror unit, the movable frame, the second hinge, and the fixed frame are configured by the three layers, and a conductive structure that electrically connects the two silicon layers is formed in the mirror unit. And
The first hinge is formed of one of the two silicon layers,
First comb electrodes of the pair, the formed by the other silicon layer of 2-layer silicon layer, the mirror side electrode of the said first comb electrodes, and the conductive structure, Same as the part of the fixed frame formed by the one silicon layer through the first hinge and the part of the movable frame and the second hinge formed by the one silicon layer. It is considered as a potential
The pair of second comb electrodes are formed by the other silicon layer,
Of the fixed frame, an insulating groove is formed between a portion of the other silicon layer where the second comb electrode is formed and a portion where the second hinge is connected. The first hinge electrode formed on the movable frame via the second hinge, and the portion to which the second hinge is connected is electrically insulated. The same potential as the second comb electrode,
In the fixed frame, the potential of a portion formed by the one silicon layer, the potential of a portion formed by the other silicon layer and connected to the second hinge, and the other silicon layer By changing the potential of the portion where the second comb-teeth electrode is formed, the voltage between the pair of first comb-teeth electrodes and between the pair of second comb-teeth electrodes is changed. A tilt mirror element configured to be capable of applying a voltage.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006231133A JP4765840B2 (en) | 2006-08-28 | 2006-08-28 | Tilt mirror element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006231133A JP4765840B2 (en) | 2006-08-28 | 2006-08-28 | Tilt mirror element |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008052220A JP2008052220A (en) | 2008-03-06 |
JP4765840B2 true JP4765840B2 (en) | 2011-09-07 |
Family
ID=39236295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006231133A Expired - Fee Related JP4765840B2 (en) | 2006-08-28 | 2006-08-28 | Tilt mirror element |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4765840B2 (en) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010220344A (en) * | 2009-03-16 | 2010-09-30 | Panasonic Electric Works Co Ltd | Movable structure and micro mirror element using the same |
JP5554523B2 (en) * | 2009-08-10 | 2014-07-23 | 日本信号株式会社 | Planar actuator |
JP2011186330A (en) * | 2010-03-10 | 2011-09-22 | Toshiba Corp | Laser beam scanning apparatus |
JP5775765B2 (en) * | 2011-01-21 | 2015-09-09 | オリンパス株式会社 | Optical deflector |
DE102011004782A1 (en) * | 2011-02-25 | 2012-08-30 | Harting Kgaa | Removable micro and nano components for space-saving use |
US8944598B2 (en) * | 2012-11-13 | 2015-02-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrostatic comb actuator, deformable mirror using the electrostatic comb actuator, adaptive optics system using the deformable mirror, and scanning laser ophthalmoscope using the adaptive optics system |
JP2016059191A (en) | 2014-09-11 | 2016-04-21 | ソニー株式会社 | Electrostatic device |
JP7369399B2 (en) * | 2020-02-19 | 2023-10-26 | 国立大学法人静岡大学 | Method for manufacturing a vibration element, method for manufacturing a vibration power generation element, vibration element, and vibration power generation element |
CN113985601A (en) * | 2021-11-04 | 2022-01-28 | 珩图科技(上海)有限公司 | MEMS micro-mirror adopting controllable shape memory alloy and manufacturing method |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3987382B2 (en) * | 2002-06-11 | 2007-10-10 | 富士通株式会社 | Micromirror device and manufacturing method thereof |
KR100940206B1 (en) * | 2003-10-24 | 2010-02-10 | 삼성전자주식회사 | Frequency tunable resonant scanner |
JP2007171780A (en) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Sony Corp | Drive device and manufacturing method therefor, and display apparatus |
-
2006
- 2006-08-28 JP JP2006231133A patent/JP4765840B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008052220A (en) | 2008-03-06 |
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---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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