JP4629554B2 - 検査表面特性の光学的検査方法および該方法を実施するための装置 - Google Patents
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Description
20 赤の効果ピグメントを持つ黒の上塗りの色位置(位置積分した色測定に基づく)
30 赤い効果ピグメントの色位置
Claims (18)
- − 所定のビームを一つの第1の所定の立体角で一つの検査対象表面に照射するステップと、
− 前記検査対象表面により影響を受けた各ビームの少なくとも一部分を第2の所定の立体角で検出し、このとき少なくとも一つの測定量を位置分解して捕捉し、これにより、前記検査対象表面により影響を受けたビームの少なくとも一つの所定の特性の特徴づけを行うステップと、
− 表面の特徴づけのために、位置分解された測定値の少なくとも一部分を介して少なくとも一つの統計量を決定するが、このとき、前記位置分解された測定値の統計量は、絶対分布および相対分布、平均値μm*、ばらつき、中央値、値域、最小値、最大値、絶対偏差、四分位間隔、標準偏差σm*、ならびに分散σ2 m*から構成される統計量のグループから選ばれるステップと、
を備えた検査表面特性の光学的検査方法において、
少なくとも一度は前記第1の所定の立体角が変更されるか、または前記第1の所定の立体角および前記第2の所定の立体角の双方が変更され、検出装置によって前記検査対象表面から影響を受けたビームを新たに検出し、少なくとも一つの統計量が新たに決定される、
ことを特徴とする検査方法。 - 所定のビームが統計量決定の際にA、B、C、D50、D65、D75、F11、TL84標準光といった標準の光に換算されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 検査対象表面により影響を受けたビームの特性が、スペクトル拡散反射β(λ)、スペクトル透過τ(λ)、ビーム強度積分、最大ビーム強度の波長で構成される特性グループの中から選ばれることを特徴とする、請求項1または2に記載の方法。
- 少なくとも一つの測定量の、少なくとも一つの所定の値間隔を使用して統計量が決定されることを特徴とする、請求項1から3のうちいずれか1項に記載の方法。
- 位置分解した測定値の分布Fm*(m*=m)が少なくとも一つ決定され、これが、影響を受けたビームを特徴づけることを特徴とする、請求項1から4のうちいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも一つの、影響を受けたビームを特徴づける指標が、少なくとも一つの統計的パラメータに応じて、位置分解された測定値の少なくとも一つの分布Fm*(m*=m)から導出されることを特徴とする、請求項1から5のうちいずれか1項に記載の方法。
- 平均値μm*が、算術平均、幾何学平均、移動平均、ベクトル平均、調和平均、加重平均、一般平均値およびこれらの組み合わせで構成される平均値グループから選ばれることを特徴とする、請求項1から6のうちいずれか1項に記載の方法。
- 請求項1から8のうちいずれか1項に記載の方法を実施するための装置であって、
− 所定のビームを第1の所定の立体角で検査対象表面に照射する少なくとも一つの第1の照射装置と、
− 前記検査対象表面により影響を受けたビームの少なくとも一部分を第2の所定の立体角で検出し、このとき少なくとも一つの測定量が位置分解して捕捉され、これにより、前記検査対象表面により影響を受けたビームの少なくとも一つの所定の特性を特徴づける少なくとも一つの第1の検出装置と、
− 少なくとも一つの統計量を、位置分解された測定値の少なくとも一部分を介して表面の特徴づけのために決定する少なくとも一つのプロセッサ装置であって、前記位置分解された測定値の統計量が、絶対分布および相対分布、平均値μm*、ばらつき、中央値、値域、最小値、最大値、絶対偏差、四分位間隔、標準偏差σm*、ならびに分散σ2 m*から構成される統計量のグループから選ばれるプロセッサ装置と、
− 少なくとも一度は前記第1の所定の立体角を変更するか、または前記第1の所定の立体角および前記第2の所定の立体角の双方を変更し、検出装置によって前記検査対象表面から影響を受けたビームを新たに検出し、少なくとも一つの統計量を新たに決定する装置と、
− 少なくとも統計量、またはこれから導出した指標、または位置分解された測定値から導出した指標を出力する少なくとも一つの出力装置と、
を備える装置。 - 第1の検出装置が少なくとも一つの望ましくは平面受像要素を備え、これが位置分解したビーム検出を行えることを特徴とする、請求項9に記載の装置。
- 第1の検出装置が、カメラ、CCDチップから構成される検出装置のグループから選ばれることを特徴とする、請求項9または10に記載の装置。
- 所定のビームを前記第2の所定の立体角で前記検査対象表面に照射するための第2の照射装置を更に備えたことを特徴とする、請求項9から11のうちいずれか1項に記載の装置。
- 前記検査対象表面が少なくとも時間的に同時に、少なくとも2つの照射装置から照射されることを特徴とする、請求項12に記載の装置。
- 少なくとも一つの照射装置が、電球、放電灯、ハロゲンランプ、発光ダイオード、レーザーおよびレーザーダイオード、熱照射源から構成される照射源のグループの少なくとも一つの照射源であることを特徴とする、請求項9から13のうちいずれか1項に記載の装置。
- 前記少なくとも一つの照射源が、発光スペクトルS(λ)、最大強度の波長、偏光、強度、変調、コヒーレンスのうち、少なくとも一つのビーム特性について変更可能であることを特徴とする、請求項14に記載の装置。
- 前記少なくとも一つの照射源がビームを照射し、これが統計量決定の際に標準の光、すなわちA、B、C、D50、D65、D75、F11、TL84標準光に換算できることを特徴とする、請求項14または15に記載の装置。
- 少なくとも一つの第2の検出装置が備わっており、これが、フォトセル、光電池、光ダイオードから構成される検出装置グループから選ばれることを特徴とする、請求項9から16のうちいずれか1項に記載の装置。
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