JP4627651B2 - 定電圧発生回路 - Google Patents
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Description
図1は、実施の形態1の定電圧発生回路の構成を示す回路図である。図1に示すように、実施の形態1は、従来同様の定電圧発生回路にスイッチ手段61と、スイッチ手段61の開閉制御を行うスイッチ制御手段62とを設けたものである。スイッチ手段61は、基準電圧発生源1のカレントミラー回路を構成する第1および第2のPMOSトランジスタ11,12の各ゲート、すなわち基準電圧発生源1の出力端子となる出力ノード16と、負の電源ライン4との間に接続されている。
図7は、実施の形態2の定電圧発生回路の構成を示す回路図である。図7に示すように、実施の形態2は、実施の形態1と同様のスイッチ手段61を第1および第2のPMOSトランジスタ11,12の各ゲート(出力ノード16)とレギュレート電圧出力端子35との間に設け、実施の形態1と同様のスイッチ制御手段62によりスイッチ手段61の開閉制御を行うものである。図7に示す定電圧発生回路の起動時の各部の電位変化は、実施の形態1と同じであり、その波形図は図2に示す通りである。
図8は、実施の形態3の定電圧発生回路の構成を示す回路図である。図8に示すように、実施の形態3は、実施の形態1と同様のスイッチ手段61を差動アンプ2の二つの入力端子の間に設け、実施の形態1と同様のスイッチ制御手段62によりスイッチ手段61の開閉制御を行うものである。
図10は、実施の形態4の定電圧発生回路の構成を示す回路図である。図10に示すように、実施の形態4は、実施の形態1と同様のスイッチ手段61を第1および第2のNMOSトランジスタ13,14の各ゲート(基準電圧発生源1の前記出力ノード16と対をなすもう一つの出力ノード18)と正の電源ライン5との間に設け、実施の形態1と同様のスイッチ制御手段62によりスイッチ手段61の開閉制御を行うものである。実施の形態4では、電源投入直後に、基準電圧発生源1のもう一つの出力ノード18が、一時的に正の電源電位VDD側に引かれるので、第1および第2のNMOSトランジスタ13,14がオン状態となり、カレントミラー回路に流れる電流量が増える。
図11は、実施の形態5の定電圧発生回路の構成を示す回路図である。図11に示すように、実施の形態5は、実施の形態3において、スイッチ手段61をNMOSトランジスタ81で構成し、このNMOSトランジスタ81のオン状態とオフ状態との切り替えを定電圧発生回路内の信号により制御するようにしたものである。従って、実施の形態5では、スイッチ制御手段62は設けられていない。
図13は、実施の形態6の定電圧発生回路の構成を示す回路図である。図13に示すように、実施の形態6は、実施の形態3において、スイッチ手段61をPMOSトランジスタ82で構成し、このPMOSトランジスタ82のオン状態とオフ状態との切り替えを定電圧発生回路内の信号により制御するようにしたものである。従って、実施の形態6では、スイッチ制御手段62は設けられていない。
図14は、実施の形態7の定電圧発生回路の構成を示す回路図である。図14に示すように、実施の形態7は、実施の形態1において、スイッチ手段61をPMOSトランジスタ83で構成し、このPMOSトランジスタ83のオン状態とオフ状態との切り替えを定電圧発生回路内の信号により制御するようにしたものである。従って、実施の形態7では、スイッチ制御手段62は設けられていない。
図15は、実施の形態8の定電圧発生回路の構成を示す回路図である。図15に示すように、実施の形態8は、実施の形態2において、スイッチ手段61をPMOSトランジスタ84で構成し、このPMOSトランジスタ84のオン状態とオフ状態との切り替えを定電圧発生回路内の信号により制御するようにしたものである。従って、実施の形態8では、スイッチ制御手段62は設けられていない。
VREG レギュレート電圧
VSS 負の電源電位
1 基準電圧発生源
2 差動アンプ
4 負の電源ライン
5 正の電源ライン
11,12,13,14 カレントミラー回路を構成するトランジスタ
16 基準電圧発生源の出力端子となる出力ノード
35 レギュレート電圧出力端子
61 スイッチ手段、ゲート制御手段、基準電圧制御手段
62 スイッチ制御手段、ゲート制御手段、基準電圧制御手段
81,82,83,84 スイッチ手段となるトランジスタ
Claims (8)
- 電源電圧を降圧して得られたレギュレート電圧を出力する定電圧発生回路であって、
電源電圧に基づいて、レギュレート電圧を生成するための基準電圧を発生する基準電圧発生源と、
一方の入力端子に前記基準電圧発生源の出力電位が入力され、他方の入力端子に、レギュレート電圧出力端子の電位に所定の電位差を加算した電位が入力され、前記レギュレート電圧出力端子の電位を、前記2つの入力端子に入力される電位に基づいて一定に保つように動作する差動アンプと、
電源投入直後の一定期間、前記基準電圧発生源の出力端子の電流量が増えるように前記基準電圧発生源の出力電位を制御する基準電圧制御手段と、
を備えることを特徴とする定電圧発生回路。 - 前記基準電圧制御手段は、前記基準電圧発生源の出力端子を差動アンプの前記他方の入力端子に接続可能なスイッチ手段を含むことを特徴とする請求項1に記載の定電圧発生回路。
- 前記基準電圧制御手段は、電源投入直後の一定期間だけ前記スイッチ手段を閉状態にするスイッチ制御手段をさらに有することを特徴とする請求項2に記載の定電圧発生回路。
- 前記基準電圧制御手段は、前記基準電圧発生源の出力端子を負の電源ラインに接続可能なことを特徴とする請求項1に記載の定電圧発生回路。
- 前記基準電圧制御手段は、前記基準電圧発生源の出力端子を定電圧発生回路の出力に接続可能なことを特徴とする請求項1に記載の定電圧発生回路。
- 前記基準電圧制御手段は、前記基準電圧発生源の出力電位に基づいてオン状態とオフ状態との切り替えが制御されるNチャネルのトランジスタを含むことを特徴とする請求項1に記載の定電圧発生回路。
- 前記基準電圧制御手段は、差動アンプの前記他方の入力端子に入力される電位に基づいてオン状態とオフ状態との切り替えが制御されるPチャネルのトランジスタを含むことを特徴とする請求項1に記載の定電圧発生回路。
- 前記基準電圧発生源は、カレントミラー回路を含み、
前記基準電圧制御手段は、前記カレントミラー回路を構成するトランジスタのゲートの電位を制御して前記カレントミラー回路に流れる電流量が増えるようにすることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1つに記載の定電圧発生回路。
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JP6320273B2 (ja) * | 2014-10-27 | 2018-05-09 | 三菱電機株式会社 | 駆動回路 |
CN113566912A (zh) * | 2020-04-29 | 2021-10-29 | 上海肯特仪表股份有限公司 | 一种效率高干扰小的电磁水表电路 |
EP4254127A1 (en) * | 2022-03-29 | 2023-10-04 | Imec VZW | A voltage reference circuit and a power management unit |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2594470Y2 (ja) * | 1992-04-24 | 1999-04-26 | シチズン時計株式会社 | 基準電圧発生回路 |
JP2000075947A (ja) * | 1998-09-03 | 2000-03-14 | Toshiba Corp | 定電圧発生回路 |
JP2001042960A (ja) * | 1999-06-22 | 2001-02-16 | Alcatel | モニタ手段およびスタートアップ手段を有する基準電圧発生器 |
JP2003051187A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-02-21 | Hynix Semiconductor Inc | 内部電源電圧発生装置 |
JP3561716B1 (ja) * | 2003-05-30 | 2004-09-02 | 沖電気工業株式会社 | 定電圧回路 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN85104092A (zh) * | 1985-05-23 | 1987-03-04 | 中国科学院东海研究站 | 数字式稳压电源 |
US4857823A (en) * | 1988-09-22 | 1989-08-15 | Ncr Corporation | Bandgap voltage reference including a process and temperature insensitive start-up circuit and power-down capability |
JPH03288217A (ja) * | 1990-04-03 | 1991-12-18 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
JP3118929B2 (ja) | 1992-01-27 | 2000-12-18 | 松下電工株式会社 | 定電圧回路 |
JP3149992B2 (ja) | 1992-08-06 | 2001-03-26 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | 半導体集積回路 |
KR970010284B1 (en) * | 1993-12-18 | 1997-06-23 | Samsung Electronics Co Ltd | Internal voltage generator of semiconductor integrated circuit |
JPH07250437A (ja) * | 1994-03-09 | 1995-09-26 | Canon Inc | 太陽電池を用いた電源装置 |
KR0143344B1 (ko) * | 1994-11-02 | 1998-08-17 | 김주용 | 온도의 변화에 대하여 보상 기능이 있는 기준전압 발생기 |
JPH09265329A (ja) | 1996-03-27 | 1997-10-07 | New Japan Radio Co Ltd | バイアス発生回路およびレギュレータ回路 |
JP3185698B2 (ja) * | 1997-02-20 | 2001-07-11 | 日本電気株式会社 | 基準電圧発生回路 |
KR100240874B1 (ko) * | 1997-03-18 | 2000-01-15 | 윤종용 | 반도체장치의내부전압발생회로 |
CN2374879Y (zh) * | 1999-04-23 | 2000-04-19 | 乐清市长城电源有限公司 | 无空耗交流自动调压器 |
JP3423282B2 (ja) | 2000-10-18 | 2003-07-07 | 株式会社 沖マイクロデザイン | 半導体集積回路 |
DE10237122B4 (de) * | 2002-08-13 | 2011-06-22 | Infineon Technologies AG, 81669 | Schaltung und Verfahren zur Einstellung des Arbeitspunkts einer BGR-Schaltung |
US6677808B1 (en) * | 2002-08-16 | 2004-01-13 | National Semiconductor Corporation | CMOS adjustable bandgap reference with low power and low voltage performance |
US6815941B2 (en) * | 2003-02-05 | 2004-11-09 | United Memories, Inc. | Bandgap reference circuit |
US6784652B1 (en) * | 2003-02-25 | 2004-08-31 | National Semiconductor Corporation | Startup circuit for bandgap voltage reference generator |
KR100626367B1 (ko) * | 2003-10-02 | 2006-09-20 | 삼성전자주식회사 | 내부전압 발생장치 |
JP4150326B2 (ja) * | 2003-11-12 | 2008-09-17 | 株式会社リコー | 定電圧回路 |
US7113025B2 (en) * | 2004-04-16 | 2006-09-26 | Raum Technology Corp. | Low-voltage bandgap voltage reference circuit |
KR101056737B1 (ko) * | 2004-09-20 | 2011-08-16 | 삼성전자주식회사 | 내부 전원 전압을 발생하는 장치 |
US7321256B1 (en) * | 2005-10-18 | 2008-01-22 | Xilinx, Inc. | Highly reliable and zero static current start-up circuits |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2594470Y2 (ja) * | 1992-04-24 | 1999-04-26 | シチズン時計株式会社 | 基準電圧発生回路 |
JP2000075947A (ja) * | 1998-09-03 | 2000-03-14 | Toshiba Corp | 定電圧発生回路 |
JP2001042960A (ja) * | 1999-06-22 | 2001-02-16 | Alcatel | モニタ手段およびスタートアップ手段を有する基準電圧発生器 |
JP2003051187A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-02-21 | Hynix Semiconductor Inc | 内部電源電圧発生装置 |
JP3561716B1 (ja) * | 2003-05-30 | 2004-09-02 | 沖電気工業株式会社 | 定電圧回路 |
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