JP4653568B2 - Method and apparatus for visual inspection of surface mount substrate - Google Patents
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Description
本発明は、表面実装基板の実装や半田付けなどの良否を判定する外観検査に用いる検査方法及びその装置に関するものである。 The present invention relates to an inspection method and apparatus using the quality of such mounting and soldering of surface mount board to determine visual inspection.
ICチップ等の電子部品が実装された表面実装基板の実装や半田付けなどの被検査対象の良否を判定する外観検査は、被検査対象を真上から検査カメラで撮影し、撮影された当該被検査対象の画像をモニター画面に拡大表示して検査する方法が採られている。しかるに、被検査対象が、例えば半田付けのような場合、真上からのみの画像検査では、ICチップの端子の、所謂浮きのような不具合を検出することが困難であるので、検査カメラを所定傾斜角だけ傾け当該所定傾斜角方向から撮影して、即ち、ICチップの端子を横方向から撮影してこの画像をモニター画面に拡大表示して検査する方法が採られる(非特許文献1、特許文献1)。
図3には、検査カメラ101を所定傾斜角だけ傾け当該所定傾斜角方向から撮影できるように上記検査方法を採用した装置100が描かれており、この装置100は、被検査対象品(同図では端子a〜cを有するICチップWで簡略的に表している)を通る仮想垂線Xを軸芯とする軸102の略中央にドラム103が軸着され、当該軸102は、ドラム103の外周に巻き付けられたベルト104を介してモータ105により回転自在に支持され、この軸102の、ドラム103が軸着されたところの直下方には薄板状のブレード106の一方端が固着されている。かかるブレード106は、その中央部から他方端寄りのところが所定角度で折曲され、この他方端の折曲部の下面に検査カメラ101が取り付けられ、この検査カメラ101の光軸が上述した仮想垂線Xに対し所定傾斜角をなしている。尚、107は、当該軸102を支持する軸受である。
このような装置100において、図4のように、ICチップWの被検査対象(ICチップWの端子a〜cにおける半田付けとする)が、軸102の回転に伴って回転(公転)する検査カメラ101により撮影されてモニター画面に斜投影画像として拡大表示される。図4では、このような画像のうちの4方向からの画像、即ち、正対側方向、背面側方向、左面側方向、及び右面側方向からの画像(以下、正対側画像、背面側画像、左面側画像、及び右面側画像という。)がまとめて示されている。尚、モニター画面には、ソフトウェアなどで画像処理しない限り、通常は、上述した正対側画像等が個別にそれぞれ表示されることは言うまでもない。
Determining visual inspection the quality of the inspected object, such as mounting and soldering electronic parts mounting surface mount board such as IC chips is shot with inspection camera to be inspected from above, it captured the A method has been adopted in which an image to be inspected is enlarged and displayed on a monitor screen. However, when the object to be inspected is, for example, soldering, it is difficult to detect a defect such as a so-called floating of the terminal of the IC chip in the image inspection only from directly above. A method is adopted in which an image is taken from a predetermined tilt angle direction, that is, the terminal of the IC chip is taken from the horizontal direction, and this image is enlarged and displayed on a monitor screen (Non-patent Document 1, Patent) Reference 1).
FIG. 3 shows an
In such an
しかしながら、従来の上記装置により撮影される画像では、図4に示されているように、例えば正対側画像中のICチップWの端子aの位置は、他の背面側画像や、左面側画像、右面側画像中で表示される端子aの位置とはそれぞれ異なっており(例えば、左面側画像中での端子aは左側に表れ、右面側画像中での端子aは右側に表れるように)、これらの画像を順次切り換えて端子aの外観検査を実施して行く場合、この端子aの位置を常に確認しつつ(実際にはマーキング等を施している)検査しなければならず極めて煩雑である。通常のICチップWの端子数は、極めて多数であることは言うまでもなく、この端子数が多くなればなるほどこの種の検査についての煩雑さは極まりなく、従来の上記装置は極めて使い勝手の悪いものとなっていた。したがって、従来は、このような使い勝手の悪さを解消せんがために、ソフトウェアなどで画像処理して本発明の後述する画像が得られるように対処するようなこともあった。
解決しようとする問題点は、ICチップ等の電子部品が実装された表面実装基板の実装や半田付けなどの被検査対象の画像をモニター画面に拡大表示して検査するに際し、使い勝手の良好な画像を、ソフトウェアなどで画像処理を施すことなく簡便にモニター画面に表示できるようにする点である。 A problem to be solved is, when electronic components such as an IC chip to enlarge to an image of the inspection object, such as mounting and soldering of surface mount board that is mounted on the monitor screen test, good usability An image can be easily displayed on a monitor screen without image processing by software or the like.
本発明の請求項1に係る表面実装基板の外観検査方法は、ICチップ等が実装される表面実装基板の実装や半田付けなどの被検査対象の良否を判定する外観検査に際し、前記被検査対象の被検査対象品を通る仮想垂線に対し所定傾斜角をなす方向から撮影する検査カメラにより得られた当該被検査対象の画像をモニター画面に拡大表示して検査する外観検査方法であって、前記検査カメラを回転させつつ前記被検査対象をいずれの方向から撮影しても当該被検査対象の正対位置が変わることなく撮影される斜投影画像を、前記モニター画面に表示して検査するようにしたもので、これにより、被検査対象の正対位置は、正対側画像においてのみならず、例えば背面側画像や、左面側画像、右面側画像においても変わらないため、検査に際しては使い勝手が良好になるとともに、ソフトウェアなどで画像処理を施して所望の画像を得るような工程を要しないため簡便になる。 Appearance inspection method according to claim surface mount board according to the first invention, upon visual inspection determines the quality of the inspected object, such as mounting and soldering of surface mount board on which the IC chip or the like is mounted, the object to be a visual inspection method of a virtual perpendicular line to enlarge to the image of the object to be inspected obtained by the inspection camera for photographing from a direction forming a predetermined inclination angle on the monitor screen inspection through the inspection object to be inspected article The oblique projection image that is photographed without changing the directly-facing position of the object to be inspected from any direction while rotating the inspection camera is displayed on the monitor screen and inspected. As a result, the directly-facing position of the object to be inspected does not change not only in the directly-facing image but also in the back-side image, the left-side image, and the right-side image. Usability with is improved, such as by being subjected to image processing software will conveniently order not require a step so as to obtain a desired image.
本発明の請求項2に係る表面実装基板の外観検査装置は、ICチップ等が実装される表面実装基板の実装や半田付けなどの被検査対象の良否を判定する外観検査に際し、前記被検査対象の被検査対象品を通る仮想垂線に対し所定傾斜角をなす方向から撮影する検査カメラにより得られた当該被検査対象の画像をモニター画面に拡大表示して検査するための外観検査装置であって、前記検査カメラは、前記仮想垂線の回りに所定傾斜角をなして公転する一方、この所定傾斜角をなす光軸の回りに、前記公転する角度に相等して、且つ、前記公転方向とは反対方向に自転するようにしたもので、これにより、被検査対象の正対位置は、正対側画像においてのみならず、例えば背面側画像や、左面側画像、右面側画像においても変わらないので、モニター画面に表示される画像の使い勝手が良好になるとともに、このような画像をソフトウェアなどで画像処理することなく簡便にモニター画面に表示できる。 Appearance inspection apparatus of the surface mount board according to claim 2 of the present invention, upon visual inspection determines the quality of the inspected object, such as mounting and soldering of surface mount board on which the IC chip or the like is mounted, the object to be in the appearance inspection apparatus for enlarge to test the monitor screen image of the object to be inspected obtained by the inspection camera for photographing from a direction forming a predetermined inclination angle with respect to a virtual vertical line passing through the test object to be inspected article The inspection camera revolves around the virtual perpendicular with a predetermined inclination angle, and is equivalent to the revolving angle around the optical axis forming the predetermined inclination angle, and the revolving direction. Thus, the directly facing position of the object to be inspected is changed not only in the directly facing image, but also in the back side image, the left side image, and the right side image, for example. Because there is no Together with the usability of the image displayed on the coater screen is improved, can be displayed on easily monitor screen without image processing such an image software, such as.
本発明の請求項3に係る表面実装基板の外観検査装置は、前記仮想垂線の回りに回転自在にブレードを配設し、このブレードの片方端にて前記検査カメラの取付軸を回転自在に支持する一方、その軸芯が前記仮想垂線と一致するようにして固定された第1プーリと、この第1プーリと同径の、前記検査カメラの取付軸上に固定された第2プーリとの間に巻き掛け部材を張り渡して構成するもので、より具体的な実施の形態の一態様である。 Appearance inspection apparatus of the surface mount board according to claim 3 of the present invention disposed rotatably blades around said virtual perpendicular line, rotatably mounting shaft of the inspection camera at one end of the blade A first pulley that is fixed so that its axis coincides with the virtual perpendicular line, and a second pulley that has the same diameter as the first pulley and is fixed on the mounting shaft of the inspection camera. A structure in which a winding member is stretched between them is one aspect of a more specific embodiment.
本発明の表面実装基板の外観検査方法およびその装置は、ICチップ等の電子部品が実装された表面実装基板の実装や半田付けなどの被検査対象の画像をモニター画面に拡大表示して検査するに際し、正対側画像における被検査対象の正対位置を、背面側画像や、左面側画像、右面側画像などのいずれの画像においても変えずにモニター画面に表示できるので、使い勝手が良好になるとともに、使い勝手の良好な画像がソフトウェアなどで画像処理を施すことなく簡便に得ることができる。 Visual inspection method and apparatus for surface mount board of the present invention, enlarged display to the image of the inspection object, such as mounting and soldering of surface mount board on which an electronic component such as an IC chip is mounted on the monitor screen When inspecting, the position of the object to be inspected in the image on the opposite side can be displayed on the monitor screen without changing any of the back side image, left side image, right side image, etc. In addition, a user-friendly image can be easily obtained without performing image processing with software or the like.
本発明の実施形態に係る表面実装基板の外観検査方法及び装置を図1,2を参照して説明する。
本外観検査装置1は、図1に示すような構成をなし、被検査対象品(図1,2では端子a〜cを有するICチップWで簡略的に表している)の、例えば端子a〜cにおける半田付け状態などの被検査対象を撮影し、撮影して得られた被検査対象の画像をモニター画面などに拡大表示して当該被検査対象の良否を判定する外観検査に供されるものである。
本外観検査装置1の具体的構成を、図1を参照して説明する。
本外観検査装置1は、被検査対象品のICチップWを通る仮想垂線Xを軸芯とする主軸2が当該主軸2の上端側に配された軸受3により回転自在に支持され、この主軸2の略中央には薄円筒状のドラム4が、また、この主軸2の下端側にはその略中央部が折曲された薄板状ブレード5の一方端がそれぞれ軸着されている。上記ドラム4の外周は凹設され、この凹設の一部にベルト6が巻き付けられる一方、このベルト6がモータ7の出力軸に巻き付けられており、これによって主軸2はモータ7により回転駆動されるようになっている。また、上記ブレード5は、上述のようにその略中央部のところが所定角度で折曲され、その他方端(片方端)には軸受(図示せず)を介して従軸(検査カメラの取付軸)8が回転自在に支持されている。そして、この従軸8の下端側には検査カメラ9が取り付けられるとともに、この上端側には第2プーリ10bが軸着されている。このような従軸8の軸芯は上記主軸2の軸芯に対し、換言すれば、検査カメラ9の光軸は上記仮想垂線Xに対し所定傾斜角をなしている。
The visual inspection method and apparatus for surface mount board according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
The appearance inspection apparatus 1 has a configuration as shown in FIG. 1 and, for example, terminals a to b of a product to be inspected (simply represented by IC chips W having terminals a to c in FIGS. 1 and 2). Photographed to be inspected such as soldered state in c, and used for appearance inspection to enlarge and display an image of the inspected object on the monitor screen or the like to determine the quality of the inspected object It is.
A specific configuration of the appearance inspection apparatus 1 will be described with reference to FIG.
In the appearance inspection apparatus 1, a main shaft 2 having a virtual perpendicular line X passing through an IC chip W of a product to be inspected as an axis is rotatably supported by a bearing 3 disposed on the upper end side of the main shaft 2. A thin cylindrical drum 4 is attached to the center of the main shaft 2, and one end of a thin plate blade 5 having a substantially central portion bent is attached to the lower end side of the main shaft 2. The outer periphery of the drum 4 is recessed, and a
また、本外観検査装置1においては、上記第2プーリ10bと対をなす第1プーリ10aは、当該第1プーリ10aの軸芯が主軸2の軸芯と一致するように、且つ、ドラム4が軸着された部位とブレード5が軸着された部位との略中間部位に位置するところの主軸2の周りに配設される態様で固定部材(図示せず)により固定され、このように固定されたプーリ10aと当該プーリ10aと同径の上記第2プーリ10bとの間に、ベルトやロープ等の巻き掛け部材11を張り渡して、両プーリ10a,10bを連結している。尚、本実施の形態では、主軸2の軸芯と従軸8の軸芯とが、換言すれば、仮想垂線Xと検査カメラ9の光軸とが所定傾斜角をなしていることに対応して、両プーリ10a,10b間の、上記ブレード5の折曲部に近傍する位置に案内ローラ12を配設してこれに巻き掛け部材11を圧接させるとともに、この圧接させられたところで巻き掛け部材11がブレード5の折曲部の上記所定角度に合わせて折り曲げられた態様をなしている。
Further, in the appearance inspection apparatus 1, the
次に、本外観検査装置1を用いた検査方法を図1,2を参照して説明する。
但し、説明の都合上、被検査対象品をICチップWとし、このICチップWの端子aにおける半田付けを被検査対象とする。尚、図2ではモニター画面に一つ一つ表示される正対側画像や、右面側画像、背面側画像、左面側画像がまとめて表示されている。
本実施の形態では、本外観検査装置1の検査カメラ9をICチップWに正対させ、当該正対位置にあるICチップWを撮影するところから始める。すると、撮影されたICチップWは、図2(A)のような斜投影された正対側画像としてモニター画面に表示されるので、この画像での端子aの半田付け状態を検査する。このときの正対側画像に表れている端子aに注目すると、端子aは画面の上方に表れている。次に、検査カメラ9を、モータ7で主軸2を回転することによりICチップWに対し正対位置にあるところから図1中の矢印で示す反時計方向に90゜回転させる。即ち、検査カメラ9を仮想垂線Xの回りに反時計方向に90゜公転させる。すると、検査カメラ9は、従軸8の回転に伴って図1中の矢印で示す時計方向に90゜回転する。即ち、検査カメラ9は、光軸の回りに、上記公転する角度に相等して、且つ、上記公転方向とは反対方向に自転する。ここで、ICチップWを撮影すると、撮影されたICチップWは、図2(B)のような斜投影された右面側画像としてモニター画面に表示されるので、この画像での端子aの半田付け状態を検査する。このときの右面側画像に表れている端子aに注目すると、端子aは、上述した正対側画像における場合と同様に画面の上方に表れており、検査カメラ9で右面側方向から撮影してもICチップWの正対位置が変わることなく撮影される。即ち、検査カメラ9で被検査対象を右面側方向から撮影しても被検査対象の正対位置が変わることなく撮影されるのである。
Next, an inspection method using the appearance inspection apparatus 1 will be described with reference to FIGS.
However, for convenience of explanation, the product to be inspected is an IC chip W, and soldering at the terminal a of the IC chip W is the object to be inspected. In FIG. 2, the facing image, the right side image, the back side image, and the left side image that are displayed one by one on the monitor screen are displayed together.
In the present embodiment, the
そして、検査カメラ9を、更にモータ7で主軸2を回転することにより図1中の矢印で示す反時計方向に90゜回転させる。即ち、検査カメラ9を仮想垂線Xの回りに反時計方向に更に90゜公転させる。すると、検査カメラ9は、従軸8の回転に伴って図1中の矢印で示す時計方向に更に90゜回転する。即ち、検査カメラ9は、光軸の回りに、上記公転する角度に相等して、且つ、上記公転方向とは反対方向に自転する。ここで、ICチップWを撮影すると、撮影されたICチップWは、図2(C)のような斜投影された背面側画像としてモニター画面に表示されるので、この画像での端子aの半田付け状態を検査する。このときの背面側画像に表れている端子aに注目すると、端子aは、上述した正対側画像等における場合と同様に画面の上方に表れており、検査カメラ9で背面側方向から撮影してもICチップWの正対位置が変わることなく撮影される。即ち、検査カメラ9で被検査対象を背面側方向から撮影しても被検査対象の正対位置が変わることなく撮影される。同様にして、検査カメラ9を、更にモータ7で主軸2を回転することにより図1中の矢印で示す反時計方向に90゜回転させると、検査カメラ9は、従軸8の回転に伴って図1中の矢印で示す時計方向に更に90゜回転する。ここで、ICチップWを撮影すると、撮影されたICチップWは、図2(D)のような斜投影された左面側画像としてモニター画面に表示されるので、この画像での端子aの半田付け状態を検査する。このときの左面側画像に表れている端子aに注目すると、端子aは、上述した正対側画像等における場合と同様に画面の上方に表れており、検査カメラ9で左面側方向から撮影してもICチップWの正対位置が変わることなく撮影される。即ち、検査カメラ9で被検査対象を左面側方向から撮影しても被検査対象の正対位置が変わることなく撮影される。
このように、本外観検査装置1においては、被検査対象をいずれの方向から撮影しても、当該被検査対象の正対位置が変わることなく撮影される斜投影画像をモニター画面に表示して検査することができるので、使い勝手が極めて良好になっている。
Then, the
As described above, in this appearance inspection apparatus 1, even if the object to be inspected is imaged from any direction, an oblique projection image that is imaged without changing the directly-facing position of the object to be inspected is displayed on the monitor screen. Since it can be inspected, it is very easy to use.
ところで、本実施の形態では、検査カメラ9の光軸が上記仮想垂線Xに対し所定傾斜角(一定の)をなしている場合について説明したが、かかる傾斜角を被検査対象によって変えられるように、例えばブレード5の折曲部の上記所定角度を変えられるようにしてもよい。
In the present embodiment, the case where the optical axis of the
本発明は、ICチップ等の電子部品が実装された表面実装基板の実装や半田付けなどの被検査対象の画像をモニター画面に拡大表示して検査するに際し、正対側画像における被検査対象の正対位置を、いずれの方向から撮影した画像においても変えずにモニター画面に表示できるので、使い勝手が良好になるとともに、使い勝手の良好な画像がソフトウェアなどで画像処理を施すことなく簡便に得ることができるので、この種の検査に広く利用され得るものと言える。 The present invention, when an electronic component such as an IC chip to enlarge to an image of the inspection object, such as mounting and soldering of surface mount board that is mounted on the monitor screen test, the object to be inspected in the confronting side image Can be displayed on the monitor screen without changing the image taken from either direction, so that it is easy to use and easy-to-use images without software processing etc. It can be said that it can be widely used for this kind of inspection.
1 外観検査装置
5 ブレード
8 従軸(検査カメラの取付軸)
9 検査カメラ
10a 第1プーリ
10b 第2プーリ
11 巻き掛け部材
W ICチップ(被検査対象品)
1 Appearance inspection device 5 Blade 8 Slave shaft (Inspection camera mounting shaft)
9
Claims (3)
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publication Number | Publication Date |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08304299A (en) * | 1995-05-11 | 1996-11-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method for inspecting soldered state |
JP2001255274A (en) * | 2000-03-08 | 2001-09-21 | Hitachi Giken Co Ltd | Visual inspection support device of industrial product |
JP2002340814A (en) * | 2001-05-18 | 2002-11-27 | Omron Corp | Irradiation device and substrate inspection device using irradiation device |
JP2005043341A (en) * | 2003-07-23 | 2005-02-17 | Samsung Electronics Co Ltd | Panel inspection device |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH08304299A (en) * | 1995-05-11 | 1996-11-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method for inspecting soldered state |
JP2001255274A (en) * | 2000-03-08 | 2001-09-21 | Hitachi Giken Co Ltd | Visual inspection support device of industrial product |
JP2002340814A (en) * | 2001-05-18 | 2002-11-27 | Omron Corp | Irradiation device and substrate inspection device using irradiation device |
JP2005043341A (en) * | 2003-07-23 | 2005-02-17 | Samsung Electronics Co Ltd | Panel inspection device |
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A521 | Written amendment |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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