JP4512402B2 - メモリリークの原因箇所検出方法、及びその実行プログラム - Google Patents
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Description
コンピュータ内のメモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係をたどることができるプログラム言語であって、前記複数のデータを格納するメモリ領域を非明示的に解放するプログラミング言語で記述されたプログラムの実行で発生したメモリリークの原因箇所検出方法において、
前記コンピュータ内の制御部が、
前記メモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係を把握する第1関係把握工程と、
前記第1関係把握工程の後、前記メモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係を把握する第2関係把握工程と、
前記第2関係把握工程で参照関係が把握された複数のデータのうちから、前記第1関係把握工程で参照関係が把握された複数のデータ中に存在していなかった1以上の増加データを抽出する増加データ抽出工程と、
前記増加データ抽出工程で抽出された1以上の前記増加データ毎に、各増加データのデータサイズに応じた重みを付け、参照先の下位データから、順次、参照元の上位データに該重みを順次伝播させ、該重みの伝播過程で、複数の下位データに対して一の上位データが参照関係を成しているときには、該複数の下位データの重みを加算して、該一の上位データの重みとし、各データの重みをメモリリーク発生原因になっている可能性を示す危険度とする重み付け工程と
を実行することを特徴とする。
メモリリークの原因箇所検出方法に係る第一の発明において、
前記制御部が、前記重み付け工程において、更に、
前記増加データ抽出工程で抽出した1以上の前記増加データをデータ種類毎に分類し、種類ごとに分類されたデータの総サイズに応じた重みを求め、前記重み付け工程での重みの伝播過程において利用する各増加データの重みとして、該データの種類に対応する前記分類過程で求めた重みを用いて、当該重み付け工程を実行することを特徴とする。
メモリリークの原因箇所検出方法に係る第一又は第二の発明において、
前記制御部が、
前記参照関係を成す複数のデータの各重みのうちで、最も大きな重みのデータが複数存在し、且つ最も大きな重みの複数のデータが上位データと下位データとの関係を成す際には、該下位データの方をメモリリーク発生原因の可能性が高いものとして抽出する最危険データ抽出工程をさらに実行することを特徴とする。
メモリリークの原因箇所検出方法に係る第一から第三の発明のいずれかにおいて、
前記制御部が、
前記メモリの使用量を複数回調査し、複数回の調査結果からメモリリークが発生しているか否かを判断するメモリリーク検出工程をさらに実行し、
前記制御部が、
前記第2関係把握工程を、前記メモリリーク検出工程でメモリリークが発生しているか否かの判断処理と並行して、又は、前記メモリリーク検出工程でメモリリークが発生していると判断された後に実行することを特徴とする。
メモリリーク原因箇所検出方法に係る第一からの第四の発明のいずれかにおいて、
前記制御部が、
前記プログラムから、メモリリーク発生原因になっている可能性の高いデータが記述されている箇所を抽出するプログラム原因箇所抽出工程をさらに実行することを特徴とする。
コンピュータ内の制御部に、当該コンピュータ内のメモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係をたどることができるプログラム言語であって、前記複数のデータを格納するメモリ領域を非明示的に解放するプログラミング言語で記述されたプログラムの実行で発生したメモリリークの原因箇所を検出する機能を実行させるメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記制御部に、
前記メモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係を把握する第1関係把握工程と、
前記第1関係把握工程の後、前記メモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係を把握する第2関係把握工程と、
前記第2関係把握工程で参照関係が把握された複数のデータのうちから、前記第1関係把握工程で参照関係が把握された複数のデータ中に存在していなかった1以上の増加データを抽出する増加データ抽出工程と、
前記増加データ抽出工程で抽出された1以上の前記増加データ毎に、各増加データのデータサイズに応じた重みを付け、参照先の下位データから、順次、参照元の上位データに該重みを伝播させ、該重みの伝播過程で、複数の下位データに対して一の上位データが参照関係を成しているときには、該複数の下位データの重みを加算して、該一の上位データの重みとし、各データの重みをメモリリーク発生原因になっている可能性を示す危険度とする重み付け工程と
を実行させることを特徴とする。
メモリリークの原因箇所検出プログラムに係る第六の発明において、
前記制御部に、
前記参照関係を成す複数のデータの各重みのうちで、最も大きな重みのデータが複数存在し、且つ最も大きな重みの複数のデータが上位データと下位データとの関係を成す際には、該下位データの方をメモリリーク発生原因の可能性が高いものとして抽出する最危険データ抽出工程をさらに実行させることを特徴とする。
メモリリークの原因箇所検出プログラムに係る第六又は第七の発明において、
前記制御部に、
前記メモリの使用量を複数回調査し、複数回の調査結果からメモリリークが発生しているか否かを判断するメモリリーク検出工程をさらに実行させ、
前記制御部に、
前記第2関係把握工程を、前記メモリリーク検出工程でメモリリークが発生しているか否かの判断処理と並行して、又は、前記メモリリーク検出工程でメモリリークが発生していると判断された後に実行させることを特徴とする。
メモリリークの原因箇所検出プログラムに係る第六から第八の発明のいずれかにおいて、
前記制御部に、
前記プログラムから、前記危険度の高いデータが記述されている箇所を抽出するプログラム原因箇所抽出工程をさらに実行させることを特徴とする。
メモリリークの原因箇所検出プログラムに係る第六から第九の発明のいずれかにおいて、
前記コンピュータは、表示装置と接続され、
前記制御部に、
前記重み付け工程の結果を少なくとも前記表示装置に表示する表示工程をさらに実行させることを特徴とする。
メモリリークの原因箇所検出プログラムに係る第十の発明において、
前記制御部に、前記表示工程において、
前記第2関係把握工程で把握された複数のデータを、参照関係が分かるように表示すると共に、該複数のデータ毎の危険度を表示させることを特徴とする。
メモリリークの原因箇所検出プログラムに係る第九の発明において、
前記制御部に、
前記危険度の高いデータのデータ名、該データのデータ種宣言、前記プログラム言語で記載された前記プログラム中の該データの記載箇所を表示する表示工程をさらに実行させることを特徴とする。
Claims (20)
- コンピュータ内のメモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係をたどることができるプログラム言語であって、前記複数のデータを格納するメモリ領域を非明示的に解放するプログラミング言語で記述されたプログラムの実行で発生したメモリリークの原因箇所検出方法において、
前記コンピュータ内の制御部が、
前記メモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係を把握する第1関係把握工程と、
前記第1関係把握工程の後、前記メモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係を把握する第2関係把握工程と、
前記第2関係把握工程で参照関係が把握された複数のデータのうちから、前記第1関係把握工程で参照関係が把握された複数のデータ中に存在していなかった1以上の増加データを抽出する増加データ抽出工程と、
前記増加データ抽出工程で抽出された1以上の前記増加データ毎に、各増加データのデータサイズに応じた重みを付け、参照先の下位データから、順次、参照元の上位データに該重みを順次伝播させ、該重みの伝播過程で、複数の下位データに対して一の上位データが参照関係を成しているときには、該複数の下位データの重みを加算して、該一の上位データの重みとし、各データの重みをメモリリーク発生原因になっている可能性を示す危険度とする重み付け工程と
を実行することを特徴とするメモリリークの原因箇所検出方法。 - 請求項1に記載のメモリリークの原因箇所検出方法において、
前記制御部が、前記重み付け工程において、更に、
前記増加データ抽出工程で抽出した1以上の前記増加データをデータ種類毎に分類し、種類ごとに分類されたデータの総サイズに応じた重みを求め、前記重み付け工程での重みの伝播過程において利用する各増加データの重みとして、該データの種類に対応する前記分類過程で求めた重みを用いて、当該重み付け工程を実行することを特徴とするメモリリークの原因箇所検出方法。 - 請求項1又は2に記載のメモリリークの原因箇所検出方法において、
前記制御部が、
前記参照関係を成す複数のデータの各重みのうちで、最も大きな重みのデータが複数存在し、且つ最も大きな重みの複数のデータが上位データと下位データとの関係を成す際には、該下位データの方をメモリリーク発生原因の可能性が高いものとして抽出する最危険データ抽出工程をさらに実行することを特徴とするメモリリーク原因箇所検出方法。 - 請求項1から3のいずれか一項に記載のメモリリークの原因箇所検出方法において、
前記制御部が、
前記メモリの使用量を複数回調査し、複数回の調査結果からメモリリークが発生しているか否かを判断するメモリリーク検出工程をさらに実行し、
前記制御部が、
前記第2関係把握工程を、前記メモリリーク検出工程でメモリリークが発生しているか否かの判断処理と並行して、又は、前記メモリリーク検出工程でメモリリークが発生していると判断された後に実行することを特徴とするメモリリークの原因箇所検出方法。 - 請求項4に記載のメモリリークの原因箇所検出方法において、
前記制御部が、前記メモリリーク検出工程において、
複数回の調査のうちで、一の調査時のメモリ使用量に対して、該一の調査以降の調査時のメモリ使用量が予め定められた増加量以上に増加しているときには、メモリリークが発生していると判断することを特徴とするメモリリークの原因箇所検出方法。 - 請求項1から5のいずれか一項に記載のメモリリーク原因箇所検出方法において、
前記制御部が、
前記プログラムから、メモリリーク発生原因になっている可能性の高いデータが記述されている箇所を抽出するプログラム原因箇所抽出工程をさらに実行することを特徴とするメモリリークの原因箇所検出方法。 - 請求項6に記載のメモリリークの原因箇所検出方法において、
前記プログラミング言語で記述された前記プログラムは、中間言語に変換されて実行されるプログラムであり、
前記制御部が、前記プログラム原因箇所抽出工程において、
前記中間言語に変換された前記プログラムから、前記メモリリーク発生原因になっている可能性の高いデータが記述されている箇所を見出し、前記プログラム言語で記述された前記プログラムから該箇所と対応する個所を抽出することを特徴とするメモリリークの原因箇所検出方法。 - 請求項1から7のいずれか一項に記載のメモリリークの原因箇所検出方法において、
前記コンピュータは、表示装置と接続され、
前記制御部が、
前記重み付け工程の結果を少なくとも前記表示装置に表示する表示工程をさらに実行することを特徴とするメモリリークの原因箇所検出方法。 - コンピュータ内の制御部に、当該コンピュータ内のメモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係をたどることができるプログラム言語であって、前記複数のデータを格納するメモリ領域を非明示的に解放するプログラミング言語で記述されたプログラムの実行で発生したメモリリークの原因箇所を検出する機能を実行させるメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記制御部に、
前記メモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係を把握する第1関係把握工程と、
前記第1関係把握工程の後、前記メモリに格納された複数のデータに関して、データ相互間の参照関係を把握する第2関係把握工程と、
前記第2関係把握工程で参照関係が把握された複数のデータのうちから、前記第1関係把握工程で参照関係が把握された複数のデータ中に存在していなかった1以上の増加データを抽出する増加データ抽出工程と、
前記増加データ抽出工程で抽出された1以上の前記増加データ毎に、各増加データのデータサイズに応じた重みを付け、参照先の下位データから、順次、参照元の上位データに該重みを伝播させ、該重みの伝播過程で、複数の下位データに対して一の上位データが参照関係を成しているときには、該複数の下位データの重みを加算して、該一の上位データの重みとし、各データの重みをメモリリーク発生原因になっている可能性を示す危険度とする重み付け工程と
を実行させることを特徴とするメモリリークの原因箇所検出プログラム。 - 請求項9に記載のメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記制御部に、前記重み付け工程において、更に、
前記増加データ抽出工程で抽出した1以上の前記増加データをデータ種類毎に分類し、種類ごとに分類されたデータの総サイズに応じた重みを求め、前記重み付け工程での重みの伝播過程において利用する各増加データの重みとして、該データの種類に対応する前記分類過程で求めた重みを用いて、当該重み付け工程を実行させることを特徴とするメモリリークの原因箇所検出プログラム。 - 請求項9又は10に記載のメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記制御部に、
前記参照関係を成す複数のデータの各重みのうちで、最も大きな重みのデータが複数存在し、且つ最も大きな重みの複数のデータが上位データと下位データとの関係を成す際には、該下位データの方をメモリリーク発生原因の可能性が高いものとして抽出する最危険データ抽出工程をさらに実行させることを特徴とするメモリリーク原因箇所検出プログラム。 - 請求項9から11のいずれか一項に記載のメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記制御部に、
前記メモリの使用量を複数回調査し、複数回の調査結果からメモリリークが発生しているか否かを判断するメモリリーク検出工程をさらに実行させ、
前記制御部に、
前記第2関係把握工程を、前記メモリリーク検出工程でメモリリークが発生しているか否かの判断処理と並行して、又は、前記メモリリーク検出工程でメモリリークが発生していると判断された後に実行させることを特徴とするメモリリークの原因箇所検出プログラム。 - 請求項12に記載のメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記制御部に、前記メモリリーク検出工程において、
複数回の調査のうちで、一の調査時のメモリ使用量に対して、該一の調査以降の調査時のメモリ使用量が予め定められた増加量以上に増加しているときには、メモリリークが発生していると判断させることを特徴とするメモリリークの原因箇所検出プログラム。 - 請求項9から13のいずれか一項に記載のメモリリーク原因箇所検出プログラムにおいて、
前記制御部に、
前記プログラムから、前記危険度の高いデータが記述されている箇所を抽出するプログラム原因箇所抽出工程をさらに実行させることを特徴とするメモリリークの原因箇所検出プログラム。 - 請求項14に記載のメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記プログラミング言語で記述された前記プログラムは、中間言語に変換されて実行されるプログラムであり、
前記制御部に、前記プログラム原因箇所抽出工程において、
前記中間言語に変換された前記プログラムから、前記危険度の高いデータが記述されている箇所を見出し、前記プログラム言語で記述された前記プログラムから該箇所と対応する個所を抽出させることを特徴とするメモリリークの原因箇所検出プログラム。 - 請求項9から15のいずれか一項に記載のメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記コンピュータは、表示装置と接続され、
前記制御部に、
前記重み付け工程の結果を少なくとも前記表示装置に表示する表示工程をさらに実行させることを特徴とするメモリリークの原因箇所検出プログラム。 - 請求項16に記載のメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記制御部に、前記表示工程において、
前記第2関係把握工程で把握された複数のデータを、参照関係が分かるように表示すると共に、該複数のデータ毎の危険度を表示させることを特徴とするメモリリークの原因箇所検出プログラム。 - 請求項14又は15に記載のメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記制御部に、
前記危険度の高いデータのデータ名、該データのデータ種宣言、前記プログラム言語で記載された前記プログラム中の該データの記載箇所を表示する表示工程をさらに実行させることを特徴とするメモリリークの原因箇所検出プログラム。 - 請求項18に記載のメモリリークの原因箇所検出プログラムにおいて、
前記プログラム言語は、Java言語であり、
前記制御部に、前記表示工程において、
前記危険度の高いデータのデータ名と関係付けて、該データの所属するデータ種を表示させることを特徴とするメモリリークの原因箇所検出プログラム。 - 請求項9から19のいずれか一項に記載のメモリリーク原因箇所検出プログラムにおいて、
前記プログラムは、Webサービス提供プログラムであることを特徴とするメモリリーク原因箇所検出プログラム。
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Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7089460B2 (en) * | 2003-02-28 | 2006-08-08 | Microsoft Corporation | System and method for memory leak detection |
US8219856B2 (en) * | 2004-03-09 | 2012-07-10 | Alcatel Lucent | Memory growth detection |
JP4512402B2 (ja) * | 2004-04-12 | 2010-07-28 | 株式会社日立製作所 | メモリリークの原因箇所検出方法、及びその実行プログラム |
US20060248103A1 (en) * | 2005-04-29 | 2006-11-02 | Cisco Technology, Inc. | Method of detecting memory leaks in software applications |
DE102006029138A1 (de) * | 2006-06-22 | 2007-12-27 | Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh | Verfahren und Computerprogrammprodukt zur Detektion von Speicherlecks |
US7500079B2 (en) * | 2006-07-31 | 2009-03-03 | Microsoft Corporation | Detection of memory leaks |
KR100965426B1 (ko) * | 2008-04-24 | 2010-06-24 | 주식회사 파수닷컴 | 메모리 누수 검출 장치 및 방법 |
JP5327886B2 (ja) * | 2010-04-30 | 2013-10-30 | Necシステムテクノロジー株式会社 | メモリリーク判定装置、メモリリーク判定方法およびプログラム |
US8863094B2 (en) | 2010-05-18 | 2014-10-14 | International Business Machines Corporation | Framework for a software error inject tool |
JP5618796B2 (ja) | 2010-12-02 | 2014-11-05 | 株式会社日立製作所 | 計算機、計算機の制御方法及びプログラム |
CN103714004A (zh) * | 2014-01-02 | 2014-04-09 | 金蝶软件(中国)有限公司 | Jvm在线内存泄露分析方法及系统 |
US10108475B2 (en) * | 2014-08-20 | 2018-10-23 | Oracle International Corporation | Pattern analysis for triaging memory leaks |
CN105446871B (zh) * | 2014-08-26 | 2018-08-17 | 华为技术有限公司 | 一种资源泄漏检测方法、装置及系统 |
CN105630662B (zh) * | 2014-10-28 | 2019-07-19 | 腾讯科技(深圳)有限公司 | 内存检测方法和装置 |
CN106776342B (zh) * | 2017-01-03 | 2020-04-21 | 百度在线网络技术(北京)有限公司 | 一种对移动应用的内存对象进行分析的方法和装置 |
CN110134611B (zh) * | 2019-05-20 | 2021-06-25 | 腾讯科技(深圳)有限公司 | 内存泄漏分析方法、装置、终端和存储介质 |
CN111352734A (zh) * | 2020-02-26 | 2020-06-30 | 烽火通信科技股份有限公司 | 一种内存泄漏检测方法及内存管理模块 |
CN113535150B (zh) * | 2021-07-29 | 2023-09-22 | 北京大学 | 一种针对dram/nvm混合内存的无内存泄漏编程方法 |
JP7427143B2 (ja) | 2022-02-15 | 2024-02-02 | 三菱電機株式会社 | 要因分析装置、要因分析方法及び要因分析プログラム |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000003303A (ja) * | 1998-06-16 | 2000-01-07 | Nippon Signal Co Ltd:The | 情報処理装置、情報処理方法、記憶媒体 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6167535A (en) * | 1997-12-09 | 2000-12-26 | Sun Microsystems, Inc. | Object heap analysis techniques for discovering memory leaks and other run-time information |
US6370684B1 (en) * | 1999-04-12 | 2002-04-09 | International Business Machines Corporation | Methods for extracting reference patterns in JAVA and depicting the same |
US7234080B2 (en) * | 2002-10-18 | 2007-06-19 | Computer Associates Think, Inc. | Locating potential sources of memory leaks |
US7089460B2 (en) * | 2003-02-28 | 2006-08-08 | Microsoft Corporation | System and method for memory leak detection |
US7568192B2 (en) * | 2003-09-29 | 2009-07-28 | International Business Machines Corporation | Automated scalable and adaptive system for memory analysis via identification of leak root candidates |
US7257692B2 (en) * | 2003-10-01 | 2007-08-14 | Lakeside Software, Inc. | Apparatus and method for detecting memory leaks |
US7577943B2 (en) * | 2003-10-24 | 2009-08-18 | Microsoft Corporation | Statistical memory leak detection |
JP4512402B2 (ja) * | 2004-04-12 | 2010-07-28 | 株式会社日立製作所 | メモリリークの原因箇所検出方法、及びその実行プログラム |
US7293142B1 (en) * | 2004-04-19 | 2007-11-06 | Cisco Technology, Inc. | Memory leak detection system and method using contingency analysis |
US7716648B2 (en) * | 2005-08-02 | 2010-05-11 | Oracle America, Inc. | Method and apparatus for detecting memory leaks in computer systems |
CN101615143B (zh) * | 2008-06-27 | 2013-04-17 | 国际商业机器公司 | 用于内存泄漏诊断的方法和装置 |
-
2004
- 2004-04-12 JP JP2004116581A patent/JP4512402B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-04-12 US US11/103,565 patent/US20050268286A1/en not_active Abandoned
-
2009
- 2009-12-10 US US12/635,135 patent/US8250539B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000003303A (ja) * | 1998-06-16 | 2000-01-07 | Nippon Signal Co Ltd:The | 情報処理装置、情報処理方法、記憶媒体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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