[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP4583619B2 - 縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法 - Google Patents

縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4583619B2
JP4583619B2 JP2001022633A JP2001022633A JP4583619B2 JP 4583619 B2 JP4583619 B2 JP 4583619B2 JP 2001022633 A JP2001022633 A JP 2001022633A JP 2001022633 A JP2001022633 A JP 2001022633A JP 4583619 B2 JP4583619 B2 JP 4583619B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase shift
fringe image
observed
image analysis
amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001022633A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002162205A5 (ja
JP2002162205A (ja
Inventor
宗濤 ▲葛▼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Corp
Original Assignee
Fujifilm Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujifilm Corp filed Critical Fujifilm Corp
Priority to JP2001022633A priority Critical patent/JP4583619B2/ja
Priority to US09/944,357 priority patent/US6532073B2/en
Publication of JP2002162205A publication Critical patent/JP2002162205A/ja
Publication of JP2002162205A5 publication Critical patent/JP2002162205A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4583619B2 publication Critical patent/JP4583619B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02083Interferometers characterised by particular signal processing and presentation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02055Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
    • G01B9/0207Error reduction by correction of the measurement signal based on independently determined error sources, e.g. using a reference interferometer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02083Interferometers characterised by particular signal processing and presentation
    • G01B9/02084Processing in the Fourier or frequency domain when not imaged in the frequency domain

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、位相シフト法を用いて縞画像を解析する際における、フーリエ変換を用いた縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法に関し、特に、PZT(ピエゾ素子)を用いて位相をシフトさせ、得られた、干渉縞等の縞パターンを有する画像データを解析する際にフーリエ変換を利用し、その解析値をより高精度なものとし得る縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、物体表面の精密測定に関する重要な手段として、例えば光波干渉法が知られているが、近年1/10波長以上の面精度や波面収差を計測することの必要性から1干渉縞(1フリンジ)以下の情報を読み取る干渉計測法(サブフリンジ干渉計測法)の開発が急務である。
【0003】
このようなサブフリンジ干渉計測法として、代表的な技術であり広く実用されているものに、例えば、「PROGRESS IN OPTICS」 VOL
XXVI(1988年)第349頁〜第393頁の「PHASE-MEASUREMENT
INTERFEROMETRY TECHNIQUES」に記載されている位相シフト縞解析法(縞走査法あるいは位相走査法とも称される)がある。
【0004】
位相シフト法においては、例えばPZT(ピエゾ)素子の如き位相シフト素子を用いて、被観察体と基準との相対関係を位相シフトさせて、所定のステップ量をシフトする毎に干渉縞画像データを取り込んで被検面の各点の干渉縞強度を測定し、この測定結果を用いて被検面の各点の位相を求める。
【0005】
例えば、4ステップの位相シフト法を行う場合、各位相シフトステップにおける干渉縞強度I、I、I、Iは、以下のように表わされる。
【0006】
【数1】
Figure 0004583619
【0007】
これらの式から位相φ(x,y)を求めると、
【0008】
【数2】
Figure 0004583619
と表わすことができる。
【0009】
位相シフト法は、所定ステップ量を正確にシフトできれば、非常に精度の高い測定が可能であるが、ステップ量の誤差に伴う測定誤差問題や複数の干渉縞画像データを必要とするため計測中の外乱に影響されやすいという問題がある。
【0010】
位相シフト法以外のサブフリンジ干渉計側法として、例えば、「光学」第13巻第1号(1984年2月)第55頁〜第65頁の「サブフリンジ干渉計測基礎論」に記載されている如くフーリエ変換法を用いた技術が注目されている。
【0011】
フーリエ変換縞解析法はキャリア周波数(被観察体表面と基準面との間の相対的傾斜による)を導入することにより、1枚の縞画像から高精度に被観察体の位相を求めることを可能とする手法である。キャリア周波数を導入し、物体の初期位相を考えないと、干渉縞強度i(x,y)は次式(3)で表される。
【0012】
【数3】
Figure 0004583619
【0013】
上式(3)は下式(4)のように変形できる。
【0014】
【数4】
Figure 0004583619
【0015】
なお、c(x,y)は下式(5)のように表される。
【0016】
【数5】
Figure 0004583619
【0017】
上式(4)をフーリエ変換すると、下式(6)が得られる。
【0018】
【数6】
Figure 0004583619
【0019】
次に、フィルタリングによってC(η−fx,ζ−fy)を取り出し、座標(fx
,fy)に位置するスペクトルのピークを周波数座標系(フーリエ・スペクトル座標系とも称する;図6参照)の原点に移し、キャリア周波数を除去する。次に、逆フーリエ変換しc(x,y)を求め、下式(7)によってラッピングされた位相φ(x,y)を得る。
【0020】
【数7】
Figure 0004583619
【0021】
最後に、アンラッピング処理を行ない、被測定物の位相Φ(x,y)を求める。
【0022】
以上に説明したフーリエ変換縞解析法においては、上述したようにキャリア周波数により変調された縞画像データに対してフーリエ変換が施されることになる。
【0023】
【発明が解決しようとする課題】
前述した如く、位相シフト法は、干渉計の物体光と参照(基準)光の間に一般には2πを整数分の一に分割した位相角ずつ位相差を与えながら画像の明るさを取り込み解析するものであり、理論的には高精度な位相解析を実現可能である。
【0024】
しかしながら、高精度な位相解析を確保するためには被検体と基準との相対関係を所定位相量(極めて微小な距離)ずつ高精度に変位させることが必要であり、位相シフト法を位相シフト素子、例えば、PZT(ピエゾ素子)を用いて参照(基準)面等を物理的に移動させることにより実行する場合には、このPZT(ピエゾ素子)の変位量を高精度に制御する必要がある。しかしながら、位相シフト素子の変位誤差、あるいは参照面もしくは被検面の傾斜誤差を完全に除去することは難しく、位相シフト量あるいは傾斜量を高精度に制御することは、実際には困難な作業である。したがって、位相シフト素子に起因する上記誤差を検出し、縞画像解析を行なう際に前記検出値に基づき補正することが良好な結果を得る上で重要となる。
【0025】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、位相シフト法を用いて得られた縞画像データを解析する場合に、位相シフトの変位量および/または該被観察体と該基準との相対的な傾斜量の誤差による影響を、装置構成を複雑にすることなく良好に検出し得るフーリエ変換縞解析法を利用した縞画像解析誤差検出方法を提供することを目的とするものである。
【0026】
さらに、本発明は、位相シフト法を用いて得られた縞画像データを解析する場合に、位相シフトの変位量および/または該被観察体と該基準との相対的な傾斜量の誤差による影響を、装置構成を複雑にすることなく良好に補正し得るフーリエ変換縞解析法を利用した縞画像解析誤差補正方法を提供することを目的とするものである。
【0027】
【課題を解決するための手段】
本発明の、請求項1に係る縞画像解析誤差検出方法は、位相シフト素子を用いて、被観察体と基準とを相対的に位相シフトせしめ、縞画像解析により被観察体波面を求める方法において、
位相シフト前後の前記被観察体の波面情報を担持した、キャリア縞が重畳された2つのキャリア縞画像データにフーリエ変換を施しキャリア縞の複素振幅を求め、2つの該複素振幅に基づき前記位相シフト素子の位置の演算を行って、前記位相シフト素子の変位誤差を含んだ位相シフト量(以下「位相シフトの変位量」または「位相シフト変位量」と称することがある)を検出することを特徴とするものである。
【0028】
また、本発明の、請求項2に係る縞画像解析誤差検出方法は、位相シフト素子を用いて、被観察体と基準とを相対的に位相シフトせしめ、縞画像解析により被観察体の波面を求める方法において、
位相シフト前後の前記被観察体の波面情報を担持した、キャリア縞が重畳された2つのキャリア縞画像データにフーリエ変換を施しキャリア周波数および複素振幅を求め、2つの該キャリア周波数および2つの該複素振幅に基づき前記位相シフト素子の位置の演算を行って、前記位相シフトにより発生した前記被観察体と前記基準との相対的な傾き量および前記位相シフト素子の変位誤差を含んだ位相シフト量を検出することを特徴とするものである。
【0029】
また、本発明の、請求項に係る縞画像解析誤差検出方法は、前記縞画像が干渉縞画像であることを特徴とするものである。
【0030】
また、本発明の、請求項に係る縞画像解析誤差補正方法は、上記請求項1に係る縞画像解析誤差検出方法において、前記検出が行われた後、前記キャリア縞画像データの縞画像解析において、該検出された前記位相シフト素子の変位誤差を含んだ位相シフト量を補正する補正演算を行うことを特徴とするものである。
【0031】
また、本発明の、請求項に係る縞画像解析誤差補正方法は、上記請求項に係る縞画像解析誤差検出方法において、前記検出が行われた後、前記キャリア縞画像データの縞画像解析において、該検出された前記位相シフトにより発生した前記被観察体と前記基準との相対的な傾き量および前記位相シフト素子の変位誤差を含んだ位相シフト量を補正する補正演算を行うことを特徴とするものである。
【0039】
なお、本発明に係る前述した各方法は、フーリエ変換法を用いた縞画像解析手法全般に適用可能であり、例えば干渉縞やモアレ縞の解析、あるいは縞投影による3次元プロジェクタ等にも適用可能である。
【0040】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態に係る縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法を図面を用いて説明する。
【0041】
この方法は、位相シフト法を用いて被観察体表面形状を求める手法において、被観察体表面と参照(基準)面との相対形状に基づき得られた該被観察体の表面形状情報を担持した縞画像データにフーリエ変換を施し、該被観察体からの波面と基準からの波面とのずれに伴って発生するキャリア周波数と複素振幅を求め、該キャリア周波数と複素振幅に基づき、前記被観察体表面と参照(基準)面との相対傾斜量および位相シフトの変位量を検出するものであり、さらにこの後、前記縞画像データの位相シフト法による縞画像解析において前記検出された傾斜量および変位量を補償する補正演算を行うものである。
【0042】
以下、位相シフトの変位量の検出、補正と、位相シフトにおける、該被観察体と該基準との相対的な傾斜量の検出、補正とに分けて説明する。
【0043】
<位相シフトの変位量の検出、補正>
本実施形態に係る位相シフトの誤差量検出補正方法の概略について、図1のフローチャートを用いて説明する。
【0044】
まず、空間キャリア縞が重畳された、被観察体の形状情報を担持してなる干渉縞画像をCCD撮像カメラにより得る(S1)。次に、得られた干渉縞画像データに対してフーリエ変換を施し(S2)、空間キャリア周波数(fx,fy)を抽出し(S3)、このキャリア周波数に基づきフーリエ変換縞解析を行ない、後述する複素振幅c(x,y)を求める(S4)。次に、参照(基準)面の変位量を求め(S5)、これにより位相シフトの変位量を求めことができ(S6)、さらに位相シフト法による縞画像解析を行なう場合に、(S6)で求めた変位量を補正し被観察体の位相を求める(S7)。
【0045】
一般的に、フーリエ変換縞解析法はキャリア周波数(被観察体表面と参照面との相対的な傾斜)を導入することにより、一枚の縞画像のみで位相を求めることができる。キャリア周波数を導入すると干渉縞強度は次の式(8)で表される。
【0046】
【数8】
Figure 0004583619
ただし、a(x,y)は干渉縞のバックグラウンド
b(x,y)は縞のビジビリテイ
φ(x,y)は被観察体の位相
ξは被観察体の初期位相(2πx/λ)
fx ,fy はキャリア周波数
【0047】
ξは前述したように、λを光の波長、xを位相シフト素子の位相シフト量としたとき、ξ=2πx/λで表わせるから上式(8)は下式(9)のように変形できる。
【0048】
【数9】
Figure 0004583619
ただし、c*(x,y)はc(x,y)の共役である。
【0049】
【数10】
Figure 0004583619
【0050】
上式(9)をフーリエ変換すると、下式(11)を得ることができる。
【0051】
【数11】
Figure 0004583619
【0052】
一般に、フーリエ変換法では、フィルタリングによって、C(η−fx ,ζ−fy)を求め、逆フーリエ変換してc(x,y)を得る。ここで、位相シフトの初期位相をξ、被観察体移動後の位相をξとすると、開始位置における干渉縞画像データから下式(12)が得られる。
【0053】
【数12】
Figure 0004583619
【0054】
次に、被観察体移動後における干渉縞画像データから下式(13)が得られる。
【0055】
【数13】
Figure 0004583619
【0056】
これにより、下式(14)が得られる。
【0057】
【数14】
Figure 0004583619
【0058】
したがって、被観察体移動前後の位相差は下式(15)で表わされる。
【0059】
【数15】
Figure 0004583619
【0060】
したがって、被観察体の変位量は下式(16)で表わされる。
【0061】
【数16】
Figure 0004583619
【0062】
また、所定の位相シフトにより得られた各干渉縞画像毎に求めた変位量の平均を求めることにより高精度の変位検出を行なうことができる。なお、フーリエ変換縞解析法により被観察体の変位を検出する際には、必ずしも縞画像データ全体を用いる必要はなく、一部の縞画像データによっても充分に精度の高い変位検出を行なうことが可能である。
【0063】
次に、上記のようにして検出された位相シフト変位量を補正する方法について説明する。
まず、補正原理を、位相シフト法の一般式を用いて説明する。
【0064】
PZT等を用いて参照面を動かすnバケット法位相シフト方式では、参照面をj(j=1,2,…n)回シフトした被観察体上の干渉縞の強度分布は下式(17)で表わされる。
【0065】
【数17】
Figure 0004583619
【0066】
一般的にj(j=1,2,…n)回目の位相シフト量ξj は、PZT等の高精度のアクチュエータで次式(18)のように与えている。
【0067】
【数18】
Figure 0004583619
【0068】
上式(17)を展開し、三角関数の直交性を利用して被観察位相φ(x,y)を求めることができる。求められた式(19)を以下に示す。
【0069】
【数19】
Figure 0004583619
【0070】
ところで、高精度のアクチュエータは高価である。そこで、アクチュエータの変位を検出する方法を用いることで、高価なアクチュエータを用いることなく高精度の位相シフトを得ることができる。
【0071】
すなわち、j(j=1,2,…n)回目の位相シフト量をξj(具体的な値が未知)としたとき下式(20)が得られる。
【0072】
【数20】
Figure 0004583619
【0073】
ただし、δjはアクチュエータの位相シフト誤差である(δj <<π/2)。
前述した位相シフト誤差量検出方法でδjを求めることができることから、下式(21)、(22)を用いて位相解析誤差を高精度に補正可能である。
【0074】
【数21】
Figure 0004583619
【0075】
【数22】
Figure 0004583619
【0076】
以下、よく使用される5バケット法を例にあげて説明する。5バケット法は下式(23)で表わされる。
【0077】
【数23】
Figure 0004583619
【0078】
ここで、aj =π( j−1) / 2 ( j=1,2,…,5)
を利用すると、下式(24)が得られる。
【0079】
【数24】
Figure 0004583619
【0080】
一般にεj 2は小さいことから、式(24)は下式(25)で表わされる。
【0081】
【数25】
Figure 0004583619
【0082】
したがって、下式(26)が導出される。
【0083】
【数26】
Figure 0004583619
【0084】
これにより、アクチュエータのシフト誤差を補正した位相を求めることができる。
【0085】
次に、本発明の実施形態を実施するための装置について、図2、3を用いて説明する。
【0086】
この装置は、上記実施形態方法を実施するためのもので、図2に示すように、マイケルソン型干渉計1において、被観察体表面2と参照(基準)面3からの両反射光束によって形成される干渉縞は、撮像カメラ4のCCD5の撮像面において形成され、画像入力基板6を介して、CPUおよび画像処理用のメモリを搭載したコンピュータ7に入力され、入力された干渉縞画像データに対して種々の演算処理が施され、その処理結果はモニタ画面7A上に表示される。なお、撮像カメラ4から出力される干渉縞画像データはCPUの処理により一旦メモリ内に格納されるようになっている。
【0087】
コンピュータ7は、図3に示すように、ソフト的に、FFT演算複素振幅演算手段11、位相シフト変位量検出手段12および位相シフト変位量補正手段13を備えている。FFT演算複素振幅演算手段11は、前述したように、得られた干渉縞画像データに対してフーリエ変換を施すとともにFFT演算複素振幅を抽出するステップ3(S3)の処理を行うものであり、位相シフト変位量検出手段12は、前記FFT演算複素振幅演算手段11において演算されたFFT演算複素振幅に基づいて、上記ステップ4(S4)から上記ステップ6(S6)に相当する処理を行うものである。さらに、位相シフト変位量補正手段13は、上記位相シフト変位量検出手段12において検出された変位量に基づいて該変位量を補償し、被観察体の誤差補正された位相を求めるものである(S7)。
【0088】
これにより、PZT(ピエゾ素子)アクチュエータ10が所定量だけシフトし、このPZT(ピエゾ素子)アクチュエータ10のシフト量に誤差が生じている場合にも、最終的に求められた被観察体の位相には該誤差による影響がないように調整される。図2においては、被観察体の表面2は固定されているため、被観察体の表面2と参照面3の相対的なシフト量変位はPZT(ピエゾ素子)アクチュエータ10によりシフトされた参照面3のシフト量の変位量にのみ依存する。
【0089】
したがって、上述したような図2および図3に示す要素により構成された系は、求められたFFT演算複素振幅に基づき、参照面3の位相シフト変位量が除去された状態における被観察体の位相を演算し得る。
【0090】
また、図4は、上記PZT(ピエゾ素子)アクチュエータ10の2つの態様を示すものである。
【0091】
すなわち、第1の態様は、図4(A)に示すように、参照面(参照ミラー)3の裏面を支持する3つのピエゾ素子21、22、23を備え、支点部材としても機能するピエゾ素子21と各ピエゾ素子22、23とを結ぶ参照面3を有する参照ミラー上の、2本の直線Lx、Lyが互いに直交するように構成されたものである。3本のピエゾ素子21、22、23が同量だけ伸縮することにより位相シフトが行なわれ、さらにピエゾ素子22のみの伸縮により参照ミラーの参照面3がy軸を中心として回転するようにx軸方向に傾き、ピエゾ素子23のみの伸縮により参照ミラーの参照面3がx軸を中心として回転するようにy軸方向に傾くことになる。一方、第2の態様は、図4(B)に示すように、参照面(参照ミラー)3の裏面中央部を円柱状のピエゾチューブ24によって支持するように構成されたものである。このピエゾチューブ24の偏奇しない伸縮により位相シフトが行なわれ、一方、偏奇した伸縮により参照ミラーの参照面3がx軸方向およびy軸方向に自在に傾けられることになる。
【0092】
<傾斜量の検出、補正>
一般に、被観察体や参照面のサイズが大きい場合には、複数の位相シフト素子、あるいは位相シフト素子と支持ガイドとを有することが必要となり、この場合には、位相シフトの直進性を確保することが難しくなり、被観察体や参照面に傾きが生じる場合がある。そこで、以下に示す実施形態方法においては、上記実施形態方法と略同様の手法により位相シフト素子の傾斜量(被観察体の表面と基準面との相対的な傾き量)を検出し、補正するようにしている。
【0093】
以下、位相シフト素子の傾斜量を検出し、補正する本発明の第2の実施形態方法について説明する。
【0094】
図5は、上記第2の実施形態方法を概念的に示すフローチャートである。
すなわち、まず、空間キャリア縞が重畳された、被観察体の形状情報を担持してなる干渉縞画像をCCD撮像カメラにより得る(S11)。次に、得られた干渉縞画像データに対してフーリエ変換を施し(S12)、空間キャリア周波数(fx ,fy)を抽出し(S13)、このキャリア周波数に基づきフーリエ変換縞解析を行ない、後述するc(x,y)を求め、参照面の傾斜量を求め(S14)、この傾斜量を補償するようにして(S15)、被観察体の、補正演算された位相を求める(S16)。
【0095】
以下、数式を用いて上記第2の実施形態について説明する。
【0096】
前述したように、フーリエ変換縞解析法はキャリア周波数(被観察体表面と参照面との相対的傾斜)を導入することにより、一枚の縞画像のみで位相を求めることができる。キャリア周波数を導入すると干渉縞強度は次の式(27)で表される。
【0097】
【数27】
Figure 0004583619
【0098】
また、前述したように、λを光の波長、θxとθyを被観察体表面のX,Y方向の傾斜(姿勢)、xを位相シフト素子の位相シフト量としたとき、上式(27)は下式(28)のように変形できる。
【0099】
【数28】
Figure 0004583619
ただし、c*(x,y)はc(x,y)の共役である。
【0100】
【数29】
Figure 0004583619
【0101】
上式(28)をフーリエ変換すると、下式(30)を得ることができる。
【0102】
【数30】
Figure 0004583619
【0103】
一般に、フーリエ変換方法においては、フィルタリングによって、C(η−fx ,ζ−fy) を求め、図6に示す如く周波数座標系上の位置(fx ,fy)に存在するスペクトルのピークを座標原点に移動させ、キャリア周波数を除去する。次に、逆フーリエ変換を用いてc(x,y)を求めることにより、ラップ処理された位相が得られる。次に、アンラップ処理によって被測定物の位相Φ(x,y) が求められる。ここで、(fx ,fy)
はキャリア周波数であるが、被観察体の表面と参照面との間には所定の角度関係(相対姿勢)、具体的には式(27a)の関係が存在することに着目し、(fx ,fy)
の各値を求め、その値に基づき、被観察体表面と参照面の間の角度関係を求める。
【0104】
(fx ,fy)
の各値は、上式(30)の結果から、座標原点にある最大ピーク以外のサブピーク位置、すなわち、C(η−fx ,ζ−fy)の位置を求めることで得られる。これにより、被観察体のX,Y方向の傾斜(姿勢)であるθxとθyを求めることができる。
【0105】
被観察体のX,Y方向の傾斜(姿勢)であるθxとθyは、上記手法(第1の手法)に代えて次のような手法(第2の手法)によっても求めることができる。
【0106】
この傾斜検出方法の概略は図5のステップ11〜14(S11〜14)に代えて、図9のフローチャートの各ステップ(S21〜27)よって表わされる。
【0107】
まず、空間キャリア縞が重畳された、被観察体の形状情報を担持してなる干渉縞画像をCCD撮像カメラにより得る(S21)。次に、得られた干渉縞画像データに対してフーリエ変換を施し(S22)、フィルタリングによってキャリア周波数のスペクトル分布(サイドローブ)であるC(n−fx,ζ−fy)を抽出する(S23)。次に、この分布C(n−fx,ζ−fy)に逆フーリエ変換を施してc(x, y)を得、ラップされた位相を得る(S24)。この後、アンラップ処理を施すことにより被観察体の形状情報に基づき被観察体の位相p(x,y)を求める(S25)。次に、最小二乗法を用いて上記位相p(x,y)の最小二乗平面を求める(S26)。最後に、最小二乗平面の微係数に基づき被観察体の傾斜を求める(S27)。
【0108】
ところで、上記第1の手法におけるフーリエ縞解析法では、例えばフィルタリングによって、周波数座標系上におけるキャリア周波数のスペクトル分布(サイドローブ)であるC(n−fx,ζ−fy)を抽出した後、そのピークをその位置(fx,fy)から座標原点に移動することによりキャリア周波数を除去し、この後逆フーリエ変換を施すことにより被観察体の位相(形状)を求めるようにしている。
【0109】
これに対し、上記第2の手法においては、被観察体の傾斜もその形状の一部と考え、前述した式(30)におけるキャリア周波数のスペクトル分布(サイドローブ)であるC(n−fx,ζ−fy)のピークを、移動させることなく、すなわち、キャリア周波数を除去することなくこのスペクトル分布C(n−fx,ζ−fy)に対して逆フーリエ変換を施す。これにより、最終的に得られた上記被観察体の位相p(x,y)には傾き成分が含まれることになる。
【0110】
すなわち、上記位相p(x,y)は下式(31)の如く表される。
【0111】
【数31】
Figure 0004583619
ただし、
aは最小二乗平面のx方向の微係数
bは最小二乗平面のy方向の微係数
【0112】
したがって、上記第2の手法によれば、最小二乗法を用いて、キャリア周波数を除去せずに求めた被観察体の形状の最小二乗平面(形状を最小二乗法でフィッティングし得られた平面)を求め、この最小二乗平面のx、y方向の微係数を求め、さらに上式(31)を用いて被観察体の傾斜qxとqを得るようにしており、これにより被観察体の傾きを容易に求めることができる。
【0113】
なお、上記手法において、被観察体の形状を表す平面を求める際には、上記最小二乗法に替えて他のフィッティング手法を採用することによっても、曲面をフィッティングした所望の平面を求めることができる。
【0114】
このように、フーリエ変換縞解析法を用いることで、被観察体の姿勢(傾斜)を検出できる。なお、フーリエ変換縞解析法により被観察体の姿勢(傾斜)を求める際には、縞画像の全領域を使う必要がなく、一部の縞画像領域を解析することによっても充分に有効なデータを得ることが可能である。
【0115】
次に、上記のようにして検出された傾斜量を補正する方法について説明する。
まず、補正原理を、位相シフト法の一般式を用いて説明する。
【0116】
PZTを用いて参照面を動かすnバケット法位相シフト方式では、参照面をj(j=1,2,…n)回シフトした被観察体表面上の干渉縞の強度分布は下式(32)で表わされる。
【0117】
【数32】
Figure 0004583619
【0118】
一般的にj(j=1,2,... ..n)回目の位相シフト量ξjは、PZT等の高精度のアクチュエータで次式(33)のように表わされる。
【0119】
【数33】
Figure 0004583619
【0120】
上式(33)を展開し、三角関数の直交性を利用して被検位相φ(x,y)を求めることができる。求められた式(34)を以下に示す。
【0121】
【数34】
Figure 0004583619
【0122】
被観察体と参照面との姿勢に変更があるときj(j=1,2,... ..n)回目の位相シフト量ξj(ξjは具体的な値が未知)は下式(35)で表される。
【0123】
【数35】
Figure 0004583619
ただし、θxjとθyjはアクチュエータの傾斜であり(εj<<π/2)、前述した方法でθxjとθyjを求めることができるから、下式(36)、(37)を用いて位相解析誤差を高精度に補正可能である。
【0124】
一般にεj 2は小さいことから、式(39)は下式(40)で表わされる。
【0125】
【数36】
Figure 0004583619
【0126】
【数37】
Figure 0004583619
【0127】
以下、よく使用される5バケット法を例にあげて説明する。5バケット法は下式(37)で表わされる。
【0128】
【数38】
Figure 0004583619
【0129】
ここで、aj =π(j−1)/2 (j=1,2,…,5)
を利用すると、下式(39)が得られる。
【0130】
【数39】
Figure 0004583619
【0131】
一般にεj 2は小さいことから、式(39)は下式(40)で表わされる。
【0132】
【数40】
Figure 0004583619
【0133】
したがって、下式(41)が導出される。
【0134】
【数41】
Figure 0004583619
【0135】
これにより、アクチュエータの傾斜量を補正した位相を求めることができる。
【0136】
次に、本発明の実施形態装置について、図7、8を用いて説明する。
【0137】
この装置は、上記実施形態方法(傾き検出については第1の手法を例示する)を実施するためのもので、図7に示すように、マイケルソン型干渉計1において、被観察体表面2と参照(基準)面3からの両反射光束によって形成される干渉縞は、撮像カメラ4のCCD5の撮像面において形成され、画像入力基板6を介して、CPUおよび画像処理用のメモリを搭載したコンピュータ7に入力され、入力された干渉縞画像データに対して種々の演算処理が施され、その処理結果はモニタ画面7A上に表示される。なお、撮像カメラ4から出力される干渉縞画像データはCPUの処理により一旦メモリ内に格納されるようになっている。
【0138】
コンピュータ7は、図8に示すように、ソフト的に、FFT演算キャリア周波数演算手段21、傾斜量検出手段22および傾斜量補正手段23を備えている。FFT演算キャリア周波数演算手段21は、前述したように、得られた干渉縞画像データに対してフーリエ変換を施すとともにFFT演算キャリア周波数(fx ,fy)を抽出するステップ13(S13)の処理を行うものであり、傾斜量検出手段22は、前記FFT演算キャリア周波数演算手段21において演算されたFFT演算キャリア周波数に基づいて、上記ステップ14(S14)に相当する処理を行うものである。さらに、傾斜量補正手段23は、上記傾斜量検出手段22において検出された参照面の傾斜量に応じて、該傾斜量を補償し、被観察体の位相を求めるステップ15、16(S15、S16)に相当する処理を行なうものである。
【0139】
なお、上述した2つの実施形態方法(位相シフト素子の変位量検出、補正方法および傾斜量の検出、補正方法)は、両者を1つの検査工程あるいは補正工程において行ってもよく、このようにすれば、より効率的に縞画像の解析精度を上げることができる。
【0140】
また、一般的に位相シフト干渉計においては、決定された位相シフト量(例えば45度、90度さらには120度)を、精密に制御する必要があり、高精度かつ高価なアクチュエータを使用している。しかし、本発明方法においては、測定された縞画像からキャリア周波数を求め、このキャリア周波数に基づいて位相シフトの変位量および位相シフトに基づく参照面および/または被観察体の傾斜量を求めているので、アクチュエータの変位と傾斜を検出でき、また、縞画像の解析において上記変位量または上記傾斜量が補償されるような補正が可能であるから、必ずしも、高精度かつ高価なアクチュエータを要しない。また、Nバケット法を採用する場合に、必ずしも、1ステップを正確に(360/N(度))調整することを要しない。
【0141】
以下、本発明方法を、任意バケット位相シフト干渉計に適用した場合について説明する。任意バケット位相シフト干渉計とは、位相シフト量を特定の値(例えば45度、90度、120度等)とせず、任意の値(各シフト量も互いに異なってよい)とした位相シフト干渉計である。なお、以下の説明においては、説明の便宜のため、3バケット法、4バケット法および5バケット法についてのみ言及するが、バケット数としてはこれらに限られないことは勿論である。
【0142】
まず、任意シフト量4バケット位相シフト法においては、キャリア周波数を導入した第m回目の干渉縞強度は下式(42)で表される。
【0143】
【数42】
Figure 0004583619
【0144】
ここで、λは光の波長、θxmとθymは第m回目の位相シフトがなされた後における被観察体のX,Y方向の傾斜(傾斜量)、xm は被観察体の第m回目の位相シフト量である。次に、被観察体位相θ(x,y)を求めるために下式(43)の考察を行なう。
【0145】
【数43】
Figure 0004583619
【0146】
したがって、下式(44)が得られる。
【0147】
【数44】
Figure 0004583619
【0148】
位相シフト素子PZTの駆動による参照面または被観察体の位相シフト変位量と傾斜量を検出できるので、式(42a)におけるδmを求めることができる。したがって、上式(44)を用いて、被観察体形状のラップした位相φを求めることができる。さらに、周知のアンラップ処理方法を用いて連続的な被観察体位相Φを求めることができる。
【0149】
なお、任意シフト量4バケット位相シフト法においては、上式(43)、(44)に代えて、下式(45)、(46)を用いる。
【0150】
【数45】
Figure 0004583619
【0151】
【数46】
Figure 0004583619
【0152】
また、任意シフト量5バケット位相シフト法においては、上式(43)、(44)に代えて、下式(47)、(48)を用いる。
【0153】
【数47】
Figure 0004583619
【0154】
【数48】
Figure 0004583619
【0155】
なお、本発明の方法としては上記実施形態のものに限られるものではなく、その他の種々の態様の変更が可能である。例えば、位相シフト素子としては、上記PZTに限られるものではなく、参照面または被観察面を物理的に移動させたり、AO素子、EO素子を用いること等によって光学光路長を変化させて位相シフト法を達成できるもの、あるいは、参照光路および/または観察光路中に挿入し、屈折率等を変化させ光学的光路長を所定量変化させ得る透過型素子であってもよい。
【0156】
また、上記実施形態においては、3つのPZT素子を配設する態様としてこれら3つの部材が丁度直角三角形の各頂点に位置するようにしているが、これら3つの部材は参照ミラー上で任意の三角形の頂点を形成するような配置とすれば所期の効果得ることができる。
【0157】
また、上述した実施形態では、キャリア周波数として空間キャリア周波数を用いて説明しているが、本発明のキャリア周波数として、時間キャリア周波数あるいは時空間キャリア周波数を用いることが可能である。
【0158】
また、上記実施形態のものにおいては、干渉縞画像データをマイケルソン型干渉計を用いて撮像しているが、フィゾー型等のその他の干渉計を用いて得られた干渉縞画像データに対しても同様に適用できることは勿論である。
さらに、本発明は、干渉縞のみならずモアレ縞やスペックル縞、その他の種々の縞画像に対しても同様に適用可能である。
【0159】
【発明の効果】
本発明の位相シフト素子誤差検出方法によれば、位相シフト法を用いて得られた縞画像データに対してフーリエ変換を施す場合に、被観察体からの波面と基準からの波面とのずれに伴って発生するキャリア周波数と複素振幅を求め、該キャリア周波数と該複素振幅に基づき、前記被観察体表面と基準面との相対傾斜量と前記位相シフトの変位量を検出することで、位相シフト素子の傾斜量および/または変位量の誤差による影響を、装置構成を複雑にすることなく良好に検出することができる。
【0160】
さらに、本発明の位相シフト素子誤差補正方法によれば、前記縞画像データの縞画像解析において検出された誤差量を補償する補正演算を行うようにしているので、位相シフト法を用いて得られた結果に対して位相シフト素子の傾斜量および/または変位量の誤差による影響を、装置構成を複雑にすることなく良好に補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態方法を説明するためのフローチャート
【図2】図1に示す実施形態方法を実施するためのブロック図
【図3】図2の一部を詳細に示すブロック図
【図4】図2の一部を具体的に示す概念図
【図5】本発明の他の実施形態方法を説明するためのフローチャート
【図6】図5に示す方法の一部を説明するための概念図
【図7】図5に示す実施形態方法を実施するためのブロック図
【図8】図7の一部を具体的に示すブロック図
【図9】図5に示すフローチャートの一部変更例を示すフローチャート
【符号の説明】
1 マイケルソン型干渉計
2 被観察体表面
3 参照面
4 撮像カメラ
5 CCD
7 コンピュータ
7A モニタ画面
9 ピエゾ駆動部
10 PZTアクチュエータ
11 FFT演算複素振幅演算手段
21 FFT演算キャリア周波数演算手段
12 位相シフト変位量検出手段
13 位相シフト変位量補正手段
22 傾斜量検出手段
23 傾斜量補正手段
121、122、123 ピエゾ素子
124 ピエゾチューブ

Claims (5)

  1. 位相シフト素子を用いて、被観察体と基準とを相対的に位相シフトせしめ、縞画像解析により被観察体の波面を求める方法において、
    位相シフト前後の前記被観察体の波面情報を担持した、キャリア縞が重畳された2つのキャリア縞画像データにフーリエ変換を施しキャリア縞の複素振幅を求め、2つの該複素振幅に基づき前記位相シフト素子の位置の演算を行って、前記位相シフト素子の変位誤差を含んだ位相シフト量を検出することを特徴とする縞画像解析誤差検出方法。
  2. 位相シフト素子を用いて、被観察体と基準とを相対的に位相シフトせしめ、縞画像解析により被観察体の波面を求める方法において、
    位相シフト前後の前記被観察体の波面情報を担持した、キャリア縞が重畳された2つのキャリア縞画像データにフーリエ変換を施しキャリア周波数および複素振幅を求め、2つの該キャリア周波数および2つの該複素振幅に基づき前記位相シフト素子の位置の演算を行って、前記位相シフトにより発生した前記被観察体と前記基準との相対的な傾き量および前記位相シフト素子の変位誤差を含んだ位相シフト量を検出することを特徴とする縞画像解析誤差検出方法。
  3. 前記縞画像が干渉縞画像であることを特徴とする請求項1または2記載の縞画像解析誤差検出方法。
  4. 請求項1記載の縞画像解析誤差検出方法において、前記検出が行われた後、前記キャリア縞画像データの縞画像解析において、該検出された前記位相シフト素子の変位誤差を含んだ位相シフト量を補正する補正演算を行うことを特徴とする縞画像解析誤差補正方法。
  5. 請求項2記載の縞画像解析誤差検出方法において、前記検出が行われた後、前記キャリア縞画像データの縞画像解析において、該検出された前記位相シフトにより発生した前記被観察体と前記基準との相対的な傾き量および前記位相シフト素子の変位誤差を含んだ位相シフト量を補正する補正演算を行うことを特徴とする縞画像解析誤差補正方法。
JP2001022633A 2000-09-13 2001-01-31 縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法 Expired - Fee Related JP4583619B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001022633A JP4583619B2 (ja) 2000-09-13 2001-01-31 縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法
US09/944,357 US6532073B2 (en) 2000-09-13 2001-09-04 Fringe analysis error detection method and fringe analysis error correction method

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000-277444 2000-09-13
JP2000277444 2000-09-13
JP2001022633A JP4583619B2 (ja) 2000-09-13 2001-01-31 縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2002162205A JP2002162205A (ja) 2002-06-07
JP2002162205A5 JP2002162205A5 (ja) 2008-01-10
JP4583619B2 true JP4583619B2 (ja) 2010-11-17

Family

ID=26599818

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001022633A Expired - Fee Related JP4583619B2 (ja) 2000-09-13 2001-01-31 縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6532073B2 (ja)
JP (1) JP4583619B2 (ja)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4183219B2 (ja) * 1999-12-21 2008-11-19 フジノン株式会社 フーリエ変換を用いた縞解析方法
JP4607311B2 (ja) * 2000-11-22 2011-01-05 富士フイルム株式会社 開口合成による大型被観察体の波面形状測定方法および測定波面形状補正方法
JP3946499B2 (ja) * 2000-12-27 2007-07-18 フジノン株式会社 被観察体の姿勢検出方法およびこれを用いた装置
JP3871309B2 (ja) * 2001-01-31 2007-01-24 フジノン株式会社 位相シフト縞解析方法およびこれを用いた装置
EP1191321B1 (en) * 2001-06-07 2002-12-11 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Determination of properties of an optical device
JP3946586B2 (ja) * 2002-06-28 2007-07-18 フジノン株式会社 縞画像の円形領域抽出方法
WO2005089299A2 (en) * 2004-03-15 2005-09-29 Zygo Corporation Interferometer having an auxiliary reference surface
US7492469B2 (en) 2004-03-15 2009-02-17 Zygo Corporation Interferometry systems and methods using spatial carrier fringes
CN1307428C (zh) * 2004-04-09 2007-03-28 中国人民解放军国防科学技术大学 生成无干涉斑合成孔径雷达干涉相位图的方法
US7319514B2 (en) * 2004-12-23 2008-01-15 Baker Hughes Incorporated Optical inclination sensor
GB2435092A (en) * 2006-02-10 2007-08-15 Taylor Hobson Ltd Surface measurement instrument with adjustable sample support
US7531774B2 (en) * 2006-06-05 2009-05-12 General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. Measurement-diverse imaging and wavefront sensing with amplitude and phase estimation
JP4797887B2 (ja) * 2006-08-29 2011-10-19 住友金属工業株式会社 板材の平坦度測定方法及び板材の平坦度測定装置
JP5153120B2 (ja) * 2006-11-02 2013-02-27 オリンパス株式会社 フリンジスキャン干渉縞計測方法および干渉計
US8120781B2 (en) * 2008-11-26 2012-02-21 Zygo Corporation Interferometric systems and methods featuring spectral analysis of unevenly sampled data
WO2011135698A1 (ja) * 2010-04-28 2011-11-03 キヤノン株式会社 変形計測方法
CN102789138A (zh) * 2012-08-27 2012-11-21 中国科学院光电技术研究所 一种莫尔条纹倾角测量方法
CN103323832B (zh) * 2013-05-31 2015-01-21 浙江大学 一种相控阵三维摄像声纳系统换能器阵列的幅相误差校正方法
CN104268837B (zh) * 2014-09-26 2018-08-21 天津工业大学 电子散斑干涉条纹图相位信息提取方法
CN105844593B (zh) * 2016-01-25 2019-01-18 哈尔滨理工大学 一种单幅干涉圆条纹预处理的自动化处理方法
CN106441085B (zh) * 2016-09-08 2019-11-01 哈尔滨工程大学 一种双载频共路数字全息显微装置及显微方法
CN109405979B (zh) * 2018-09-14 2019-11-15 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种迈克尔逊干涉仪图像条纹宽度检测方法及系统
CN109916332B (zh) * 2019-04-01 2020-09-08 哈尔滨理工大学 一种带载频单幅干涉条纹相位重构方法
CN110006367B (zh) * 2019-04-17 2021-08-13 北京信息科技大学 偏摆角、俯仰角测量方法和装置
JP7267213B2 (ja) * 2020-01-14 2023-05-01 浜松ホトニクス株式会社 観察装置および観察方法
CN111397506B (zh) * 2020-04-13 2021-07-30 剑桥大学南京科技创新中心有限公司 一种全息干涉仪的全自动相位误差修正方法与系统
CN115127683B (zh) * 2022-06-27 2024-02-06 南京理工大学 一种动态干涉仪干涉图参数失配的相位提取的方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61230002A (ja) * 1985-04-03 1986-10-14 Ricoh Co Ltd 干渉測定方法
JPH03249513A (ja) * 1990-02-28 1991-11-07 Hitachi Ltd 傾き若しくは高さ検出方法及びその装置並びに投影露光方法及びその装置
JPH04264205A (ja) * 1991-02-18 1992-09-21 Asahi Optical Co Ltd 干渉計
JPH0783637A (ja) * 1993-09-17 1995-03-28 Asahi Optical Co Ltd 縞画像解析方法
JPH0886631A (ja) * 1994-07-22 1996-04-02 Toray Ind Inc 物体の姿勢測定装置、姿勢測定方法、姿勢制御装置および物体表面の検査装置
JPH08110204A (ja) * 1994-10-12 1996-04-30 Toshio Honda 耐振動型干渉計
JPH09250907A (ja) * 1995-06-08 1997-09-22 Olympus Optical Co Ltd 圧電素子の位置決め方法及び位置決め精度確認方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61230002A (ja) * 1985-04-03 1986-10-14 Ricoh Co Ltd 干渉測定方法
JPH03249513A (ja) * 1990-02-28 1991-11-07 Hitachi Ltd 傾き若しくは高さ検出方法及びその装置並びに投影露光方法及びその装置
JPH04264205A (ja) * 1991-02-18 1992-09-21 Asahi Optical Co Ltd 干渉計
JPH0783637A (ja) * 1993-09-17 1995-03-28 Asahi Optical Co Ltd 縞画像解析方法
JPH0886631A (ja) * 1994-07-22 1996-04-02 Toray Ind Inc 物体の姿勢測定装置、姿勢測定方法、姿勢制御装置および物体表面の検査装置
JPH08110204A (ja) * 1994-10-12 1996-04-30 Toshio Honda 耐振動型干渉計
JPH09250907A (ja) * 1995-06-08 1997-09-22 Olympus Optical Co Ltd 圧電素子の位置決め方法及び位置決め精度確認方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20020051134A1 (en) 2002-05-02
JP2002162205A (ja) 2002-06-07
US6532073B2 (en) 2003-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4583619B2 (ja) 縞画像解析誤差検出方法および縞画像解析誤差補正方法
JP3946499B2 (ja) 被観察体の姿勢検出方法およびこれを用いた装置
JP3871309B2 (ja) 位相シフト縞解析方法およびこれを用いた装置
EP1717546B1 (en) Interferometer and method of calibrating the interferometer
JP5597205B2 (ja) 被検面の形状を計測する装置及び被検面の形状を算出するためのプログラム
JP2008544295A (ja) 物体の表面トポロジを再構成する方法
US6621579B2 (en) Fringe analysis method and apparatus using Fourier transform
Chang et al. Phase-measuring profilometry using sinusoidal grating
JP4607311B2 (ja) 開口合成による大型被観察体の波面形状測定方法および測定波面形状補正方法
JP4610117B2 (ja) フーリエ変換縞解析方法および装置
JP4108085B2 (ja) 光学歪補正装置および光学歪補正方法
JP2000205822A (ja) 画像計測システム及びその画像校正方法
US8692999B1 (en) Crosstalk cancellation for a simultaneous phase shifting interferometer
JP6386954B2 (ja) 表面形状測定装置及び表面形状測定方法
JP2011089926A (ja) 信号解析装置、走査型白色干渉計装置、信号解析方法、及び信号解析プログラム
JP2004053307A (ja) 微細構造計測方法及びその計測装置
JP3493329B2 (ja) 平面形状計測装置、平面形状計測方法及び該方法を実行するプログラムを記憶した記憶媒体
JP5894464B2 (ja) 計測装置
JP5618727B2 (ja) 形状測定法及び形状計測装置
JP2004069394A (ja) 溝面形状測定装置および溝面形状測定方法およびプログラム
JP4187124B2 (ja) フリンジスキャンを用いた干渉計装置
JP2002195886A (ja) 波長シフト量の検出方法
US7898672B1 (en) Real-time scanner-nonlinearity error correction for HDVSI
JP2001201326A (ja) 干渉縞測定解析方法
JP4505318B2 (ja) 3次元形状測定装置、3次元形状測定方法および3次元形状測定プログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071119

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071119

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100416

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100421

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100609

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20100618

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100804

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100901

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130910

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees