[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP4545537B2 - 半導体装置及び半導体装置ユニット - Google Patents

半導体装置及び半導体装置ユニット Download PDF

Info

Publication number
JP4545537B2
JP4545537B2 JP2004271910A JP2004271910A JP4545537B2 JP 4545537 B2 JP4545537 B2 JP 4545537B2 JP 2004271910 A JP2004271910 A JP 2004271910A JP 2004271910 A JP2004271910 A JP 2004271910A JP 4545537 B2 JP4545537 B2 JP 4545537B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
semiconductor device
corner
stage
leads
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004271910A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006086454A (ja
Inventor
尚生 伊勢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Semiconductor Ltd
Original Assignee
Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Semiconductor Ltd filed Critical Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority to JP2004271910A priority Critical patent/JP4545537B2/ja
Priority to US11/034,760 priority patent/US7187065B2/en
Publication of JP2006086454A publication Critical patent/JP2006086454A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4545537B2 publication Critical patent/JP4545537B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49503Lead-frames or other flat leads characterised by the die pad
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49537Plurality of lead frames mounted in one device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49589Capacitor integral with or on the leadframe
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48253Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a potential ring of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48257Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a die pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15787Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30105Capacitance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

本発明は半導体装置及び半導体装置ユニットに係り、特に高密度化に対応しうる半導体装置及び半導体装置ユニットに関する。
近年、半導体装置は高機能化及び多ビット化等が急速な勢いで進んでおり、これに伴いリード数は増大する傾向にある。また、一方において半導体装置には小型化が要求されており、よってリードも狭ピッチ化する必要がある。従って、これらの要望に対応しうる半導体装置が望まれている。
従来の半導体装置として、例えば特許文献1,2に開示さたれものがある。これらの半導体装置は、樹脂パッケージ内に半導体素子,ステージ,リード,及びワイヤ等を設けた構成とされている。
特許文献1に開示された半導体装置は、電気信号伝達用リードフレームと、半導体素子を搭載したVSS電源兼用半導体支持リードフレームと、この半導体支持リードフレームの上部に枠状に形成されたVDD電源専用リードフレームとを有している。そして、半導体素子に形成された信号用電極は、ワイヤを用いて電気信号伝達用リードフレームと接続される。また、半導体素子に形成された電源用電極は、ワイヤを用いてVSS電源兼用半導体支持リードフレームまたはVDD電源専用リードフレームと接続される。更に、半導体支持リードフレームの四隅の内、一の対角線上においては外側に向け延出する延出部が形成されている。
一方、特許文献2に開示された半導体装置は、金属製のタブ上に半導体素子を搭載した構成とされている。また、このタブ上には、枠状のメタル層が絶縁層を介して半導体素子を囲繞するように形成されている。リードはメタル層を囲繞するよう配設されており、このリードはボンディングワイヤにより半導体チップの電極、タブ、及びメタル層に接続された構成とされている。また、タブの四隅においては外側に向け延出する延出部が形成されている。
特開平9−293822号公報 特開平7−30067号公報
しかしながら、上記した従来の半導体装置では、特許文献1における半導体支持リードフレームの四隅位置から対角線上に延出する延出部、及び特許文献2におけるタブの四隅から外側に向け延出する延出部は、いずれもパッケージの形成後に切断されるものであり、外部接続端子して機能するものでなかった。
このため、半導体装置のパッケージ外周に配設されるリードのレイアウトとしては、パッケージの四隅位置が疎となり、四隅を除く側辺では密となっていた。よって、このように、従来においてはリードの配置においてパッケージの全周の有効利用がされておらず、よって半導体装置が大型化してしまうという問題点があった。
また、半導体装置の高密度に伴い前記のようにリードピッチは狭くなり、またリード自体の幅も狭くなる。これに対し、電源及びグランドに接続されるリードも狭い幅となるが、半導体装置の電気的特性を高めるには電源及びグランドは低インピーダンスであることが望ましい。しかしながら、従来の半導体装置では電源及びグランドに接続されるリードの低インピーダンス化を図ることができず、電気的特性が劣化してしまうという問題点があった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、リードの高密度化及び装置の小型化を図りうる半導体装置及び半導体装置ユニットを提供することを目的とする。
上記の課題を解決するために本発明では、次に述べる各手段を講じたことを特徴とするものである。
請求項1記載の発明は、
ステージ上に搭載された半導体チップと、
該半導体チップと電気的に接続される複数のリードと、
前記半導体チップ及び前記リードの一部を覆うパッケージとを有してなる半導体装置において、
前記ステージの四隅位置である頂点部の内、少なくとも一つの頂点部より前記パッケージの外部に延出する第1のコーナーリードを設けたことを特徴とするものである。
上記発明によれば、従来はリードの配置位置として利用されていなかったステージの四隅に第1のコーナーリードを設けたことにより、リード配置の高密度化が可能となり、また半導体装置の小型化を図ることができる。
また、請求項2記載の発明は、
請求項1記載の半導体装置において、
前記第1のコーナーリードを電源リードまたはグランドリードとして用いたことを特徴とするものである。
上記発明によれば、第1のコーナーリードは比較的スペースのあるステージの四隅に形成されるため、リード幅を広く取ることが可能である。よって、第1のコーナーリードを電源リードまたはグランドリードとして用いることにより、電源或はグランドとして使用される第1のコーナーリードのインピーダンスを低減することができ、半導体装置の電気的特性を向上させることができる。
また、請求項3記載の発明は、
請求項1または2記載の半導体装置において、
前記ステージを囲繞する外周リードを形成すると共に、該外周リードの前記頂点部に対応する位置より前記パッケージの外部に延出する第2のコーナーリードを形成したことを特徴とするものである。
上記発明によれば、半導体チップが搭載されたステージを囲繞する外周リードを形成したことにより、半導体チップと外周リードは半導体チップ上のいかなる位置でもワイヤ接続することが可能となる。よって、半導体チップに配設される電源電極及びグランド電極の配設位置に自由度を持たせることができ、半導体チップ及びワイヤレイアウトの設計の容易化を図ることができる。
また、請求項4記載の発明は、
請求項3記載の半導体装置において、
前記第1のコーナーリードと前記第2のコーナーリードとを、前記ステージと面一となるよう並設したことを特徴とするものである。
上記発明によれば、第1のコーナーリードと第2のコーナーリードとをステージと面一となるよう並設したことにより、コーナーリードを複数設けても半導体装置の薄型化を図ることができる。また、ワイヤボンディングのリード側のボンディング高さを一定とできるため、ワイヤボンディング処理の容易化を図ることができる。
また、請求項5記載の発明は、
請求項3記載の半導体装置において、
前記第1のコーナーリードと前記第2のコーナーリードとを絶縁層を中間に挟んで積層した構成としたことを特徴とする半導体装置。
上記発明によれば、コーナーリードは比較的スペースのあるステージの四隅に形成されるため、リード幅を広く取ることができインピーダンスの低減を図ることができる。よって、電源或はグランドとして使用される各コーナーリードのインピーダンスを低減することができ、半導体装置の電気的特性を向上させることができる。
また、第1のコーナーリードと前記第2のコーナーリードとを絶縁層を中間に挟んで積層した構成としたことにより、半導体装置を平面視した場合において1本のリード幅内に第1及び第2の2本のコーナーリードを配設することが可能となり、更に高密度にリードを配設することが可能となる。
また、請求項6記載の発明は、
請求項5記載の半導体装置において、
先端部における前記第1のコーナーリードの長さと前記第2のコーナーリードの長さを異ならせたことを特徴とするものである。
上記発明によれば、第1のコーナーリードの先端位置と第2のコーナーリードの先端位置が異なるため、半導体装置を実装する実装基板に対し各コーナーリードを容易に接合することができる。
また、請求項7記載の発明は、
請求項5記載の半導体装置において、
先端部における前記第1のコーナーリード及び前記第2のコーナーリードの形状を、前記絶縁層を中心として対称なL字形状としたことを特徴とするものである。
上記発明によれば、第1及び第2のコーナーリードの先端部が絶縁層を中心として相反する方向に延出した状態となるため、半導体装置を実装基板に容易に接合することができる。
また、請求項8記載の発明は、
請求項1乃至7のいずれか1項に記載の半導体装置と、
該半導体装置を実装する実装基板と、
前記実装基板に配設されると共に、前記半導体素子に接続される外部付加回路とを有する半導体装置ユニットにおいて、
前記外部付加回路を前記半導体装置の第1のコーナーリードに隣接して配置したことを特徴とするものである。
上記発明によれば、外部付加回路は比較的スペースのあるステージの四隅に形成されるため、外部付加回路を設けても半導体装置ユニットが大型化してしまうことはない。また、外部付加回路を第1のコーナーリードに隣接して配置したことにより、外部付加回路と第1のコーナーリードとの間のインピーダンスを低減することができ、両者間の電気的特性の向上を図ることができる。
上述の如く本発明によれば、ステージの四隅位置である頂点部をリードの配設位置として有効利用しているため、高密度化を図りつつ装置の小型化を図ることができる。
次に、本発明を実施するための最良の形態について図面と共に説明する。
図1乃至図3は、本発明の第1実施例である半導体装置10Aを示している。図1は半導体装置10Aの樹脂パッケージ13を透視して内部構造を見た要部平面図であり、図2は半導体装置10Aの断面図であり、図3は半導体装置10Aの頂点部(これについては後述する)におけるリードの配設状態を説明するための図である。
半導体装置10AはQFP(Quad Flat Package)構造を有しており、大略すると半導体チップ11、リード12、樹脂パッケージ13、ステージ14、及び外周リード15等により構成されている。半導体チップ11は高密度化されたものであり、よって回路形成面(本実施例では上面)には多数の電極パッド16を有している。この半導体チップ11は、ステージ14上に図示しない接着剤を用いて接合されている。
リード12はインナーリード12aとアウターリード12bとよりなり、半導体チップ11の回りに配設されている。リード12のインナーリード12aは、ワイヤ17Aにより半導体チップ11の信号用の電極パッド16に接続されている。また、リード12のアウターリード12bは、樹脂パッケージ13の外部に延出し実装端子として機能する(図2参照)。本実施例では、アウターリード12bをガルウイング状に整形された構成とされている。このリード12は、略長方形状とされたステージ14の外周4辺と対向するよう配設されている。従って、ステージ14の四隅位置である頂点部(図1に矢印Aで示す部位)においては、リード12は配設されていない。
ステージ14は導電性金属(例えば、銅合金)よりなり、前記のようにその上面には接着剤により半導体チップ11が搭載される。このステージ14は略長方形状を有しており、その四隅位置である頂点部Aからは第1のコーナーリード20が外側に向け一体的に延出した構成とされている。本実施例では、ステージ14の四隅位置である4つの頂点部Aの全てに第1のコーナーリード20が形成された構成とされている。
この第1のコーナーリード20の幅寸法は、リード12の幅寸法よりも広く設定されており、よって第1のコーナーリード20のインピーダンスとリード12のインピーダンスよりも低くなっている。また、このステージ14は、ワイヤ17Cにより半導体チップ11のグランド用の電極パッド16に接続されている。尚、第1のコーナーリード20は必ずしも全ての頂点部Aに設ける必要はなく、少なくとも一つの頂点部Aに設けた構成とすればよく、適宜配設数が選択できるものである。
外周リード15は導電性金属製の4つの分割リード部15A〜15Dよりなり、それぞれがステージ14の外周に配置された構成とされている。具体的には、分割リード部15A〜15Dよりなる外周リード15は、ステージ14の外周位置で、かつ、リード12の先端部よりも内側の位置に配設されている。また、外周リード15とステージ14は互いに面一となるよう、即ち側面視したときの両者14,15の高さが等しくなるよう構成されている。
外周リード15を構成する各分割リード部15A〜15Dの両端部には、第2のコーナーリード21が形成されている。この各第2のコーナーリード21は、頂点部Aに対応する位置より樹脂パッケージ13の外部に延出するよう形成されている。ここで、頂点部Aに対応する位置とは、頂点部Aの近傍位置で、かつ第1のコーナーリード20に近接した位置をいう。
本実施例では、頂点部Aを平面視した場合、第1のコーナーリード20を挟んでその両側部に第2のコーナーリード21が位置した構成とされている。また、この第1及び第2のコーナーリード20,21は、並設された状態で樹脂パッケージ13から外部に延出するよう構成されている。この外周リード15は、ワイヤ17Bにより半導体チップ11の電源用の電極パッド16に接続されている。
樹脂パッケージ13は、半導体チップ11,インナーリード12a、ステージ14、外周リード15、及びワイヤ17A〜17Cを覆うよう形成される。これにより、これらの半導体装置10Aの構成要素11,12a、14、15、17A〜17Cは樹脂パッケージ13により保護される。
この樹脂パッケージ13は、図1に示すように、略長方形状を有しており、その頂点部Aに対応する位置である樹脂パッケージ13の四隅位置からは、第1及び第2のコーナーリード20,21が並設された状態で外側に向け延出した構成となっている。また、第1及び第2のコーナーリード20,21の樹脂パッケージ13から延出した部分(アウターリード部分)は、アウターリード12bと同様にガルウイング状に整形されている。
上記実施例に係る半導体装置10Aは、ステージ14の頂点部Aより樹脂パッケージ13の外部に延出する第1のコーナーリード20を設けた構成としている。この第1のコーナーリード20はステージ14と一体的に形成されており、かつステージ14はワイヤ17Cにより半導体チップ11のグランド電極に接続されているため、グランドリードとして機能する。
また、この第1及び第2のコーナーリード20,21が配設される頂点部Aは、従来はリードの配置位置して利用されていなかった位置である。よって、この頂点部Aに第1のコーナーリード20を設け、頂点部Aに対応する位置に第2のコーナーリード21を設けたことにより、リード配置の高密度化が可能となり、また半導体装置10Aの小型化を図ることができる。
また、第1及び第2のコーナーリード20,21は比較的スペースのある頂点部A及びこれに対応する位置に形成されるため、各リード20,21のリード幅を広く取ることが可能である。よって、各リード20,21のインピーダンス低減を図ることができる。本実施例では、第1のコーナーリード20をグランドとし、第2のコーナーリード21を電源としているため、よって各リード20,21のインピーダンス低減が図れることにより、半導体装置10Aの電気的特性を向上させることができる。
また、本実施例では半導体チップ11が搭載されたステージ14を囲繞するよう外周リード15が形成されているため、半導体チップ11と外周リード15は半導体チップ11上のいかなる位置でもワイヤ接続することが可能である。よって、半導体チップ11に配設される電源電極及びグランド電極の配設位置に自由度を持たせることができ、半導体チップ11及びワイヤレイアウトの設計の容易化を図ることができる。
更に、本実施例に係る半導体装置10Aは、前記のように第1のコーナーリード20と第2のコーナーリード21とをステージ14と面一となるよう並設しているため、複数のコーナーリード20,21を設けても半導体装置10Aの薄型化を図ることができる。また、ワイヤボンディングのリード側のボンディング高さを一定とできため、ワイヤボンディング処理の容易化を図ることができる。
図4は、本発明の第1実施例である半導体装置ユニット30Aを示している。この半導体装置ユニット30Aは、前記した半導体装置10Aを実装基板31に実装した構成とされている。
実装基板31はプリント配線基板であり、その表面には信号配線32、電源配線33,34、及びグランド配線35が形成されている。信号配線32は半導体装置10Aのリード12に対応して形成されており、電源配線33,34は第2のコーナーリード21に対応して形成されており、またグランド配線35は第1のコーナーリード20に対応して形成されている。
また、電源配線33とグランド配線35との間には外部付加回路となるデカップリングコンデンサ37が配設されており、電源配線34とグランド配線35との間には同じく外部付加回路となるデカップリングコンデンサ36が配設されている。各デカップリングコンデンサ36,37は、第1のコーナーリード20及び第2のコーナーリード21の近傍位置に配設されている。
このデカップリングコンデンサ36,37は、半導体装置10Aに供給される電源の平滑化を図ると共に、半導体装置10Aに電源ノイズの混入を防止する機能を奏するものである。尚、上記の第1のコーナーリード20及び第2のコーナーリード21の近傍位置とは、デカップリングコンデンサ36,37による電源の平滑化及び電源ノイズの混入が従来に比べてより効果的に防止できる半導体装置10Aの頂点部Aに近い位置である。
半導体装置10Aを実装基板31に実装するには、リフロー処理を用いて行われる。即ち、実装基板31上に形成されている信号配線32、電源配線33,34、及びグランド配線35上にクリームはんだを塗布しておき、これに半導体装置10Aを載置する。これにより、リード12は信号配線32に、第1のコーナーリード20はグランド配線35に、第2のコーナーリード21は電源配線33,34に仮止めされた状態となる。この状態の実装基板31をリフロー炉に入れて加熱しはんだを溶融することにより、半導体装置10Aは実装基板31に表面実装される。
ここで、デカップリングコンデンサ36,37の配設位置に注目すると、前記したようにデカップリングコンデンサ36,37は第1及び第2のコーナーリード20,21の近傍位置(頂点部Aに近い位置)に配設されている。半導体装置10Aの第1及び第2のコーナーリード20,21の配設位置近傍は、比較的スペースのある位置である。よって、この位置にデカップリングコンデンサ36,37を配設しても、半導体装置ユニット30Aが大型化してしまうことはなく、返ってデカップリングコンデンサ36,37を各コーナーリード20,21に近接できるため、デカップリングコンデンサ36,37とコーナーリード20,21間のインピーダンスを低減することができ、半導体装置ユニット30Aの電気的特性の向上を図ることができる。
尚、上記した実施例では実装基板31としてプリント配線板を用いた例を示したが、実装基板31は樹脂基板に限定されるものではなく、セラミック基板や他の基板を用いることも可能である。また、両面基板や積層配線基板を用いることも可能である。また、上記した実施例では、外部付加回路としてデカップリングコンデンサ36,37を用いた例を示したが、外部付加回路はデカップリングコンデンサに限定されるものではなく、抵抗,コイル,アンテナ等の他の付加回路を配設することも可能である。
続いて、本発明の第2実施例である半導体装置10Bについて説明する。図5は第2実施例である半導体装置10Bの頂点部Aにおけるリードの配設状態を説明するための図であり、図6は半導体装置10Bの頂点部A近傍の断面図である。尚、図5及び図6において、第1実施例の説明に用いた図1乃至図3に示した構成と同一構成については同一符号を付してその説明を省略する。
本実施例に係る半導体装置10Bは、樹脂パッケージ13のコーナー部から1本のコーナーリード40Aのみが延出した構成とされている。このコーナーリード40Aは、前記した第1実施例における第1のコーナーリード20に相当する上側リード部41と、第2のコーナーリード21に相当する下側リード部42と、この上側リード部41と下側リード部42との間に配設された絶縁層43とにより構成されている。即ち、コーナーリード40Aは、ステージ14と接続された上側リード部41(第1のコーナーリード)と、外周リード15に接続された下側リード部42(第2のコーナーリード)とを、絶縁層43を中間に挟んで積層した構成とされている。
本実施例に係る半導体装置10Bも、第1実施例に係る半導体装置10Aと同様にコーナーリード40Aは比較的スペースのある位置(ステージ15の四隅)に形成されるため、リード幅を広く取ることができインピーダンスの低減を図ることができ、半導体装置10Bの電気的特性を向上させることができる。
また、上側リード部41と下側リード部42とを絶縁層43を中間に挟んで積層した構成としたことにより、半導体装置10Bを1本のリード幅(平面視した場合における幅)内に2本のリード(上側リード部41と下側リード部42)を配設することが可能となり、更にリードの配設密度を高密度化することができる。
また、コーナーリード40Aの先端部に注目すると、本実施例では上側リード部41と下側リード部42の長さが異なった構成とされている。具体的には、下側リード部42に対して上側リード部41が長くなるよう構成されている。またその幅においても、下側リード部42の幅寸法が上側リード部41の幅寸法に対して広くなるよう設定されている。
このように、上側リード部41と下側リード部42の長さを異ならせることにより、また下側リード部42の幅を上側リード部41の幅に比べて広くすることにより、上側リード部41と下側リード部42を積層した構成(即ち、極めて近接させた構成)としても、はんだ付け位置において上側リード部41と下側リード部42とを分離することができ、コーナーリード40Aのはんだ付け処理(半導体装置10Bの実装処理への実装処理)を容易に行うことが可能となる。
図7は、図6に示した第2実施例に係る半導体装置10Bの変形例を示している。尚、図7において図6と同一構成については同一符号を付してその説明を省略する。
本変形例に係る半導体装置10Cは、コーナーリード40Bの先端部における上側リード部41及び下側リード部42の形状を、絶縁層43を中心として対称なL字形状としたことを特徴とするものである。この構成することにより、コーナーリード40Bはその先端部において、上側リード部41と下側リード部42が絶縁層43を中心として相反する方向に延出した状態となるため、本変形例の構成によってもコーナーリード40Bのはんだ付け処理を容易に行うことができる。
図8は、本発明の第2実施例である半導体装置ユニって30Bを示している。尚、図8において図4に示した第1実施例に係る半導体装置ユニット30Aと対応する構成については同一符号を付してその説明を省略する。
本実施例に係る半導体装置ユニって30Bは、半導体装置として第2実施例に係る半導体装置10Bを用いたことを特徴とするものである。本実施例においては、コーナーリード40Aを実装基板31にはんだ付けするのに、下側リード部42の上側リード部41の両側から左右に延出した部分を電源配線33とはんだ付けした構成としている。また、上側リード部41は、下側リード部42より長く延出した部分をはんだ付けした構成としている。よって、半導体装置10Bと実装基板31とのはんだ付けを容易に行うことができる。
また、本実施例の構成おいては、コーナーリード40Aの近傍に第1実施例に比べて広いスペースが確保されるため、形状の大きな(即ち、容量の大きな)デカップリングコンデンサ36を配置することができ、電源の平滑化及び電源ノイズの混入防止をより効果的に行うことが可能となる。
図1は、本発明の第1実施例である半導体装置の樹脂パッケージを透視して見た状態を示す要部平面図である。 図2は、本発明の第1実施例である半導体装置の断面図である。 図3は、本発明の第1実施例である半導体装置の頂点部におけるリードの配設状態を説明するための図である。 図4は、本発明の第1実施例である半導体装置ユニットの要部を拡大して示す平面図である。 図5は、本発明の第2実施例である半導体装置の頂点部におけるリードの配設状態を説明するための図である。 図6は、本発明の第2実施例である半導体装置の断面図である。 図7は、本発明の第2実施例の変形例である半導体装置の断面図である。 図8は、本発明の第2実施例である半導体装置ユニットの要部を拡大して示す平面図である。
符号の説明
10A〜10C 半導体装置
11 半導体チップ
12 リード
13 樹脂パッケージ
14 ステージ
15 外周リード
16 電極パッド
20 第1のコーナーリード
21 第2のコーナーリード
30A 半導体装置ユニット
30B 半導体装置ユニって
31 実装基板
36,37 デカップリングコンデンサ
40A,40B コーナーリード
41 上側リード部
42 下側リード部
43 絶縁層

Claims (10)

  1. ステージ上に搭載された半導体チップと、
    該半導体チップと電気的に接続される複数のリードと、
    前記半導体チップ及び前記リードの一部を覆うパッケージとを有してなる半導体装置において、
    前記ステージの四隅位置である頂点部の内、少なくとも一つの頂点部より、前記パッケージの四隅位置である頂点部の内の少なくとも一つの頂点部を通って前記パッケージの外部に延出する第1のコーナーリードと、
    前記ステージの外周に配置される外周リードと、
    前記ステージの前記少なくとも一つの頂点部において前記外周リードの端部に設けられるとともに、前記第1のコーナーリードと平行して設けられ、前記パッケージの外部に延出する第2のコーナーリードと
    を有することを特徴とする半導体装置。
  2. 請求項1記載の半導体装置において、
    前記第1のコーナーリードを電源リードまたはグランドリードとして用いたことを特徴とする半導体装置。
  3. 請求項1または2記載の半導体装置において、
    前記第1のコーナーリードが前記ステージの四隅位置である四つの頂点部に設けられ、
    前記第1のコーナーリードのそれぞれに対して2つの前記第2のコーナーリードが前記第1のコーナーリードに対して平行して設けられること
    を特徴とする半導体装置。
  4. 請求項3記載の半導体装置において、
    前記第1のコーナーリードと前記第2のコーナーリードとを、前記ステージと面一となるよう並設したことを特徴とする半導体装置。
  5. 請求項3記載の半導体装置において、
    前記第1のコーナーリードと前記第2のコーナーリードとを絶縁層を中間に挟んで積層した構成としたことを特徴とする半導体装置。
  6. 請求項5記載の半導体装置において、
    先端部における前記第1のコーナーリードの長さと前記第2のコーナーリードの長さを異ならせたことを特徴とする半導体装置。
  7. 請求項5記載の半導体装置において、
    先端部における前記第1のコーナーリード及び前記第2のコーナーリードの形状を、前記絶縁層を中心として対称なL字形状としたことを特徴とする半導体装置。
  8. 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の半導体装置と、
    該半導体装置を実装する実装基板と、
    前記実装基板に配設されると共に、前記半導体素子に接続される外部付加回路とを有する半導体装置ユニットにおいて、
    前記外部付加回路を前記半導体装置の第1のコーナーリードに隣接して配置したことを特徴とする半導体装置ユニット。
  9. 前記2つの第2のコーナーリードは対応する前記第1のコーナーリードを挟んで配置されること
    を特徴とする請求項3に記載の半導体装置。
  10. 前記外周リードは前記ステージの各辺に対応して配置される複数の分割リード部を有し、
    前記第2のコーナーリードは前記複数の分割リード部の両端部に設けられていること
    を特徴とする請求項1乃至請求項7及び請求項9の何れか一に記載の半導体装置。
JP2004271910A 2004-09-17 2004-09-17 半導体装置及び半導体装置ユニット Expired - Fee Related JP4545537B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004271910A JP4545537B2 (ja) 2004-09-17 2004-09-17 半導体装置及び半導体装置ユニット
US11/034,760 US7187065B2 (en) 2004-09-17 2005-01-14 Semiconductor device and semiconductor device unit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004271910A JP4545537B2 (ja) 2004-09-17 2004-09-17 半導体装置及び半導体装置ユニット

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006086454A JP2006086454A (ja) 2006-03-30
JP4545537B2 true JP4545537B2 (ja) 2010-09-15

Family

ID=36073063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004271910A Expired - Fee Related JP4545537B2 (ja) 2004-09-17 2004-09-17 半導体装置及び半導体装置ユニット

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7187065B2 (ja)
JP (1) JP4545537B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8633575B1 (en) * 2012-05-24 2014-01-21 Amkor Technology, Inc. IC package with integrated electrostatic discharge protection

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01173747A (ja) * 1987-12-28 1989-07-10 Mitsubishi Electric Corp 樹脂封止形半導体装置
JPH11289043A (ja) * 1998-04-01 1999-10-19 Nec Corp 半導体集積回路装置
JP2000299423A (ja) * 1999-04-16 2000-10-24 Hitachi Ltd リードフレームおよびそれを用いた半導体装置ならびにその製造方法
JP2000349222A (ja) * 1999-06-07 2000-12-15 Sony Corp リードフレーム及び半導体パッケージ

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3308047B2 (ja) 1993-06-25 2002-07-29 株式会社日立製作所 半導体装置
JPH09293822A (ja) 1996-04-25 1997-11-11 Seiko Epson Corp 電源専用リードフレーム付半導体装置
US20020140064A1 (en) * 2001-03-29 2002-10-03 Advanced Semiconductor Engineering Inc. Semiconductor chip package and lead frame structure thereof
JP2003204027A (ja) * 2002-01-09 2003-07-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd リードフレーム及びその製造方法、樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
TW578292B (en) * 2002-11-22 2004-03-01 Via Tech Inc Chip to eliminate noise and manufacturing method thereof
JP2005057067A (ja) * 2003-08-05 2005-03-03 Renesas Technology Corp 半導体装置およびその製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01173747A (ja) * 1987-12-28 1989-07-10 Mitsubishi Electric Corp 樹脂封止形半導体装置
JPH11289043A (ja) * 1998-04-01 1999-10-19 Nec Corp 半導体集積回路装置
JP2000299423A (ja) * 1999-04-16 2000-10-24 Hitachi Ltd リードフレームおよびそれを用いた半導体装置ならびにその製造方法
JP2000349222A (ja) * 1999-06-07 2000-12-15 Sony Corp リードフレーム及び半導体パッケージ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006086454A (ja) 2006-03-30
US7187065B2 (en) 2007-03-06
US20060060951A1 (en) 2006-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6534879B2 (en) Semiconductor chip and semiconductor device having the chip
US8547709B2 (en) Electronic system with a composite substrate
US10109576B2 (en) Capacitor mounting structure
JP2004071670A (ja) Icパッケージ、接続構造、および電子機器
JP4190111B2 (ja) 高周波モジュール
US6833512B2 (en) Substrate board structure
JP2010153831A5 (ja) 配線基板および半導体装置
JP2008124072A (ja) 半導体装置
JP2006344740A (ja) 半導体パッケージ
JP4996193B2 (ja) 配線基板、半導体パッケージ
JP4545537B2 (ja) 半導体装置及び半導体装置ユニット
JP2007005452A (ja) 半導体装置
US20060263934A1 (en) Chip-type micro-connector and method of packaging the same
JP4370993B2 (ja) 半導体装置
JP5178028B2 (ja) 半導体装置の製造方法
WO1999013509A1 (en) Semiconductor device
JP2006186053A (ja) 積層型半導体装置
JP4701779B2 (ja) 集積回路パッケージ組立構造
JP4215530B2 (ja) 回路装置
WO2023176267A1 (ja) 半導体装置
US9484290B2 (en) Electronic system with a composite substrate
WO2023190611A1 (ja) 高周波モジュール
JP4640950B2 (ja) 半導体装置
JP2005191411A (ja) 高周波集積回路装置
JP2005340535A (ja) 電子部品実装基板

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070822

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080104

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20080728

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100406

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100528

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100629

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100630

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4545537

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees