JP4393934B2 - 半導体加工用粘着シート - Google Patents
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Description
体加工用粘着シートが求められている。
[1]基材と、その上に形成された粘着層と、該粘着層の上に形成された剥離フィルムとからなる半導体加工用粘着シートであって、
該基材が、少なくとも1層のヤング率が2000MPa以上の剛性フィルムを有し、
該粘着層が、貯蔵弾性率が1.0×105Pa以下であり厚さが50μm以上の軟質粘着層を含み、
該剥離フィルムが、ヤング率が700MPa以下のフィルムからなることを特徴とする半導体加工用粘着シート。
[2]前記剥離フィルムの粘着層に接する面が剥離処理されていることを特徴とする[1]に記載の半導体加工用粘着シート。
ポリメチルペンテン、エチレン・酢酸ビニル共重合体、エチレン・(メタ)アクリル酸共重合体、エチレン・(メタ)アクリル酸メチル共重合体、エチレン・(メタ)アクリル酸エチル共重合体、ポリ塩化ビニル、エチレン・酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル・酢酸ビニル共重合体、エチレン・塩化ビニル・酢酸ビニル共重合体、ポリウレタンフィルム、ポリアミドフィルム、アイオノマーあるいはスチレン・ブタジエンゴムおよびその水添加物または変性物等からなるフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム等のポリオレフィンフィルム等が挙げられる。
とする、低分子量成分の量を増加する、などの方法が挙げられ、具体的には、
1)軟質粘着層のポリマー成分を構成するモノマーにおいて、ホモポリマーのTgが低いモノマーの配合比を増加させること、または極性の高いモノマーの配合比を低減すること、
2)軟質粘着層に配合する架橋剤の量を低減する、または軟質粘着層のポリマー成分への架橋可能な官能基の導入量を低減すること、あるいは軟質粘着層に配合する架橋剤を架橋点間距離の長い化合物にすること、
3)軟質粘着層の架橋構造に影響を及ぼさないような可塑剤等の低分子量成分の配合量を増加する、または軟質粘着層のポリマー成分の分子量分布を低分子領域にシフトするようにすることが挙げられる。
4)エネルギー線硬化性成分として使用するモノマーやオリゴマーの配合量を増加することが挙げられる。
<実施例>
以下、本発明を実施例により説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
「ヤング率」
剛性フィルム及び剥離フィルムをJIS K 7127に従って測定したMD方向の値を、そのフィルムのヤング率とした。具体的には、長さ150mm(MD方向)、幅15mm(CD方向)の試験片を用意し、これを万能引張試験機により、チャック間初期距離100mm、引張スピード200mm/分で測定した。
「貯蔵弾性率」
Rheometrics社製、ダイナミックアナライザ RDA−IIを用い、直径8mm、厚さ3mmの円柱型の測定試料を用いて、捻り剪断法により周波数1Hz、23℃において測定した。
「シワの発生」
(1)ロールの作製
後述の構成で作製した粘着シートを幅330mmに裁断しながら、外径87mmのABS樹脂製の巻芯に、巻き取り速度3m/min、巻き取り張力100N/m、巻き取り長さ50mとなるよう巻き取った。なお、巻き取り方向は基材面が内側で剥離フィルムが外側とする内巻きと、基材面が外側で剥離フィルムが内側となる外巻きの2種の形態を用意した。
(2)評価方法
(1)により作製されたロールを、それぞれ5℃の低温条件、23℃相対湿度50%の室温条件、40℃相対湿度80%の高温高湿条件とする環境下に1ヶ月保管し、シワの発生の有無を目視で確認した。
(実施例1)
基材として、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と表記する。東レ社製「ルミラーS」:ヤング率4000MPa、厚さ100μm)の単層品を用いた。
(実施例2)
基材として、ポリエチレンナフタレート(帝人デュポン社製「テオネックス」:ヤング率6000MPa、厚さ75μm)の単層品を用いた。
(実施例3)
基材として、PET(東レ社製、商品名ルミラーS:ヤング率4000MPa、厚さ75μm)と直鎖低密度ポリエチレンフィルム(アイセロ化学社製「スズロンL−105」:ヤング率500MPa、厚さ100μm)とを、アクリル系粘着剤(ブチルアクリレート90重量部とアクリル酸10重量部との共重合体(重量平均分子量Mw60万)100重量部、多価イソシアネート化合物(日本ポリウレタン社製「コロネートL」)2重量部)10μmにより積層した積層品(厚さ185μm)を用いた。
(実施例4)
基材として、PET(東レ社製「ルミラーS」:ヤング率4000MPa、厚さ188μm)の単層品を用いた。
(実施例5)
基材として、PET(東レ社製「ルミラーS」:ヤング率4000MPa、厚さ50μm)と、低密度ポリエチレン(タマポリ社製「GF−1」:ヤング率200MPa、厚さ25μm)とをポリエステル系のドライラミネート用接着剤(厚さ2μm)により積層し、PET側をコロナ処理した積層品(厚さ77μm)を用いた。
(実施例6)
基材として、PET(東レ社製「ルミラーS」:ヤング率4000MPa、厚さ25μm)の両面に、低密度ポリエチレン(タマポリ社製「GF−1」:ヤング率200MPa、厚さ25μm)をポリエステル系のドライラミネート用接着剤(厚さ2μm)によりそれぞれ積層した積層品(厚さ79μm)を用いた。
(実施例7)
実施例1の基材をポリイミド(宇部興産社製「ユーピレックス−S」:ヤング率7000MPa、厚さ75μm)に、粘着層の厚さを500μmに変更した以外は実施例1と同様にして、粘着層が軟質粘着層の単層である半導体加工用粘着シートを得た。
(実施例8)
基材として実施例5で使用したPETと低密度ポリエチレンの積層品を用い、剥離フィルムとして実施例1と同じ剥離フィルムを用いた。また、軟質粘着層として実施例1で使用した粘着剤組成物を用いた。
(実施例9)
実施例8の軟質粘着層に使用する粘着剤組成物及びその塗工方法を以下のように変更した以外は、実施例8と同様にして半導体加工用粘着シートを得た。
(比較例1)
実施例1の剥離フィルムを、PETフィルム(東レ社製「ルミラーS」:ヤング率4000MPa、厚さ38μm)に実施例1と同じ処方および塗布方法により剥離剤層を形成したフィルムに変更した以外は、実施例1と同様にして半導体加工用粘着シートを得た。
(比較例2)
実施例1の剥離フィルムを、二軸延伸ポリプロピレンフィルム(東洋紡績社製「パイレン−OTP2164」:ヤング率1600MPa、厚さ40μm)に実施例1と同じ処方
および塗布方法により剥離剤層を形成したフィルムに変更した以外は、実施例1と同様にして半導体加工用粘着シートを得た。
(比較例3)
実施例3の剥離フィルムを、PETフィルム(東レ社製「ルミラーS」:ヤング率4000MPa、厚さ38μm)に実施例1と同じ処方および塗布方法により剥離剤層を形成したフィルムに変更した以外は、実施例3と同様にして半導体加工用粘着シートを得た。
(比較例4)
実施例6の剥離フィルムを、PETフィルム(東レ社製「ルミラーS」:ヤング率4000MPa、厚さ38μm)に実施例1と同じ処方および塗布方法により剥離剤層を形成したフィルムに変更した以外は、実施例6と同様にして半導体加工用粘着シートを得た。
(比較例5)
実施例7の剥離フィルムを、PETフィルム(東レ社製「ルミラーS」:ヤング率4000MPa、厚さ38μm)に実施例1と同じ処方および塗布方法により剥離剤層を形成したフィルムに変更した以外は、実施例7と同様にして半導体加工用粘着シートを得た。
Claims (2)
- 基材と、その上に形成された粘着層と、該粘着層の上に形成された剥離フィルムとからなる半導体加工用粘着シートであって、
該基材が、少なくとも1層のヤング率が2000MPa以上の剛性フィルムを有し、
該粘着層が、貯蔵弾性率が1.0×105Pa以下であり厚さが50μm以上の軟質粘着層を含み、
該剥離フィルムが、ヤング率が700MPa以下のフィルムからなることを特徴とする半導体加工用粘着シート。 - 前記剥離フィルムの粘着層に接する面が剥離処理されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体加工用粘着シート。
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