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JP4386700B2 - ウエハー供給回収装置 - Google Patents

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JP4386700B2 JP2003334329A JP2003334329A JP4386700B2 JP 4386700 B2 JP4386700 B2 JP 4386700B2 JP 2003334329 A JP2003334329 A JP 2003334329A JP 2003334329 A JP2003334329 A JP 2003334329A JP 4386700 B2 JP4386700 B2 JP 4386700B2
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Description

本発明は半導体製造のためのプロセス処理装置にウエハーを供給及び回収する装置であって、特に、ウエハー収納容器としてFOUP(Front Opening Unified Pod)を用いた場合、FOUP内のクリーン度を改善し、FOUP内のプロセス処理前のウエハーの汚染の防止に関するものである。
φ300mmウエハーはFOUPに収納され、FOUPからウエハーの取り出し、収納等のハンドリングを行い、また枚葉式に搬送され各プロセス処理装置にウエハーを供給し、プロセス処理後のウエハーはFOUP内に回収されている。
すなわち、φ300mmウエハーを収納されたFOUPの下側から順次ウエハーを取り出し、プロセス処理装置にウエハーを1枚づつ供給し、プロセス処理後、プロセス処理装置から1枚づつ取り出し元のFOUP内に下側から順次回収される。
また、各プロセス処理装置でプロセス処理されたウエハーは、プロセス処理装置内での処理ガスによって汚染されている。例えば、CVDであればリン、ボロン系の化合物、エッチングであれば塩素系ガス等により汚染されている。
また、ウエハーはプロセス処理により加熱されており、プロセス処理直後のウエハーは温度が高く、上記ガスが発生しやすい状態になっている。
一方、これまで、その収納容器はφ300mmより直径の小さいウエハーの場合は、密閉構造になっておらず、大気に開放された状態になっている。
たとえ、同一収納容器内にプロセス処理前のウエハーとプロセス処理後のウエハーが混在したとしてもプロセス処理前のウエハーがプロセス処理後のウエハー表面からの脱ガスにより汚染されるという問題はなかった。
ここで、収納容器とは、口径φ300mmウエハーにおいてはFOUPであり、口径φ300mmより直径の小さいウエハーの場合は、プロセス処理装置にウエハーを供給及び取り出しするときに使用する、ウエハー自体を直接に収納するカセットをいう。
先行文献としてFOUPを用いたウエハー供給回収装置は、下記文献を参照すると、半導体基板上に膜を成長させるため半導体製造装置に関するもので、FOUPは単にここからウエハーを取り出すために用いられているものであって、FOUP内のウエハーの周囲の環境をクリーンに維持する意図は全くない。
特開2002−141293
従来、口径φ200mm以下のウエハーを入れる収納容器は、背景技術の欄で述べたように密閉構造となっておらず、収納容器内で空気は滞留せず、周囲に発散し、収納容器内でのクロスコンタミによる汚染は問題にならなかった。
しかし、ウエハーの口径がますます大きくなり、大気からの汚染の防止のためφ300mmウエハーでは収納容器としてFOUPを使用することをSEMIで義務付けられている。
また、半導体製造において、枚葉式でプロセス処理されたウエハーは、プロセス処理後、元のFOUPに戻されるのが一般的である。
従って、プロセス処理前のウエハーとプロセス処理後のウエハーが同一FOUP内で両者が混在することになりプロセス処理前のウエハーがプロセス処理後のウエハー表面からの発ガスによって汚染される。
また、前述したように、プロセス処理後のウエハーはプロセス処理により常温より高くなっており、ウエハー表面から発ガスしやすい状態になっている場合が多いため、なおさらプロセス処理前のウエハーは、プロセス処理後のウエハーによる汚染を受ける。
また、一般的にウエハーはFOUP内の最下段よりプロセス処理され、プロセス処理後、そのウエハーはFOUPの元の位置の最下段よりから順次、回収収納される。
従って、温度が高いプロセス処理後のウエハーの発ガス成分は上昇し、上部にあるプロセス処理前のウエハーを汚染しやすい。これはFOUP内の空気が前部の蓋が開いている状態ではあるもののそれ以外の部分はFOUPを構成する壁に覆われているため、FOUP内の空気の外部流出がほとんどないためである。
上記問題を解決するため、本発明は、ウエハー収納容器FOUPと、そのFOUPからウエハーを取り出し、またFOUPに回収するためにFOUPのドアを開放するドアオプナーとを備え、ウエハーを枚葉式にプロセス処理するため、FOUPの下側からウエハーを順次取り出し、プロセス処理後、前記FOUP内の元の位置に下側から順次、回収するウエハー供給回収装置であって、プロセス処理前のウエハークリーンエアーを吹き付けるように、前記FOUP内の処理前ウエハーに合わせて順次、上方に移動されるクリーンユニットが設けられている。FOUP内を常にクリーンエアーでパージさせ、FOUP内の空気の滞留をなくし、プロセス処理前のウエハーは常にクリーンエアーの雰囲気に維持する。
また、プロセス処理前のウエハーの汚染防止をより確実にするため、FOUPの下方にFOUP内の空気を吸引する吸引口を設け、FOUPの下側から空気を吸引する。
また、その下部より吸引する機構を設けることによりFOUP内の空気の上昇気流を抑える。
その吸引機能を備えることにより、FOUP内の下側にあるプロセス処理後のウエハーからの脱ガスが、FOUP内の上側にあるプロセス処理前のウエハーに入らない気流を形成する。
従って、プロセス処理後のウエハーから発生するプロセス処理により生じた残留ガスからの汚染を防止する。
吸引口の排気ラインにガス検知器を設け、吸引エアーをガス検知器によりモニタリングしFOUP内のクリーン度管理も行う。
FOUPの開口部の左右少なくとも一方に、FOUP内にクリーンエアーを吹き込むエアーノズルを設ける。プロセス処理後ウエハーに残留した発ガスをFOUP内から強制的に排出させる。
ドアオプナーを2台設置し、かつFOUPを2台使用し、ローダー用FOUPとアンローダー用FOUPを分けてプロセス処理前のウエハーとプロセス処理後のウエハーをそれぞれ分離独立した別個のFOUP内に収納し、プロセス処理前のウエハーとプロセス処理後のウエハー間のクロスコンタミを防止する。
プロセス処理装置内にプロセス処理後のウエハーを一時、収納するストックエリアを設ける。このストックエリアは、例えば、ロードロックで構成され、プロセス処理装置の処理室から完全に空間的に分離隔絶されている。
プロセス処理後のウエハーを脱ガスエリアと冷却エリアとストックエリアを順次、搬送してFOUP内に収納する。
脱ガスエリア内にはホットプレートを、冷却エリア内には冷却板を設け、プロセス処理のウエハーをホットプレートで脱ガスを十分行い、冷却板で脱ガスを抑える。
上段にホットプレートを備え、下段に冷却板を備えた上下2段から成り、プロセス処理後のウエハーをホットプレート上で脱ガス、その後、冷却板でプロセス処理後のウエハーを冷却する。
ジョウゴ状のフードによりミニエンクロジャー内のクリーンエアーを集めFOUP2内に送り込む。
また、フードを搬送ロボットのアーム位置に合わせて上下動させる。この方法は特に別個にFOUP2内へクリーンエアーを吹き込む専用のクリーンユニットを設けなくてもFOUP2から発生した残留ガスを排出してFOUP2をクリーンに維持できる。
本発明によるウエハー供給回収装置は、いずれの場合も、たとえプロセス処理前のウエハーとプロセス処理後のウエハーが同一FOUP内に混在しているとしてもプロセス処理前のウエハーの周囲をクリーンエアーによるパージによりプロセス処理後のウエハーの発ガスを寄せ付けない。
従って、プロセス処理前のウエハーは、プロセス処理後のウエハーの脱ガスの影響を受けることなく、常にクリーンな雰囲気に維持することができ、プロセス処理前のウエハーの汚染からの防止を達成することができる。
プロセス処理後のウエハーをプロセス処理前のウエハーと完全に空間的に分離させ、プロセス処理後のウエハーの汚染の影響を受けないようにする。
上記2つの方法によりプロセス処理前のウエハーの周辺はクリーンな環境に保持され、プロセス処理前ウエハーとプロセス処理後のウエハー間のクロスコンタミを防止する。
この方法によっても、プロセス処理前のウエハーの汚染からの防止を達成することができる。
本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の第1の実施例を示す図である。ドアオプナー16の積載台16−1上に複数枚の口径φ300mmウエハー1を収納したFOUP2を載置する。ウエハー1をFOUP2の最下位置から1枚づつ順次取り出し、搬送装置によりプロセス処理装置15に送り込まれる。プロセス処理装置内ではCVDあるいはドライエッチング等のプロセス処理が行われ、処理終了後、ウエハー1は搬送装置により上記FOUP2の最下位置から順次、元の位置に戻される。
このとき、プロセス処理後のウエハー1とプロセス処理前のウエハー1が同一のFOUP2内に混在することになる。
また、プロセス処理後のウエハー1はプロセス処理中に加熱され、ウエハー1の表面温度は周囲の温度より高いのが通常である。そこでウエハー1の表面からプロセス処理中に付着した残留ガスを放出する。これがプロセス処理前のウエハー1を汚染させる原因となっている。
また、ウエハー1のプロセス処理はFOUP2の最下端から行い、前述のようにウエハー1はFOUP2の元の位置に収納されるため、FOUP2の下側には温度の高いプロセス残留ガスに汚染されたプロセス処理後のウエハー1が、FOUP2の上側にはプロセス処理前のウエハー1が収納されることになる。プロセス処理後のウエハー1から発生するプロセス残留ガスが上昇し、プロセス処理前のウエハー1をも汚染することになる。
このような汚染問題については、口径φ300mmウエハー以前のこれよりも口径の小さいウエハーの場合、収納容器は密閉型ではないため、たとえ収納容器の下側に位置するプロセス処理後のウエハーが残留ガスを発生したとしても、収納容器の周囲に拡散蒸発してしまうため問題とならなかった。
しかし、φ300mmウエハーは収納容器としてSEMIで密閉型のFOUPを使用することが義務付けられているため、図8に示す従来方法では、蓋が開いているとはいえ、それ以外はFOUP2を構成する壁で覆われており、このプロセス残留ガスによる汚染の問題が解決できなかった。
本発明は、FOUP2の開口部の前面に、上下駆動するクリーンユニット4をドアオプナー16、プロセス処理装置15またはミニエンバイロメント18に取り付け設置する。最下端からウエハー1のプロセス処理を行い、処理後、ウエハー1をFOUP2の元の位置に戻す工程に付随してクリーンユニット4も順次、上方に移動させる。また、この工程ではプロセス処理前のウエハー1とプロセス処理後のウエハー1が、同一のFOUP2内に混在する。
そこで上記のように、プロセス処理前のウエハー1にクリーンユニット4からのクリーンエアーを吹き付け、プロセス処理前のウエハー1の周囲の環境をクリーン状態に維持し、プロセス処理後のウエハー1のもたらす残留ガスによる汚染を防止するものである。FOUP2内を常にクリーンエアーでパージさせFOUP2内の空気の滞留をなくするものである。そのようにしてプロセス処理前のウエハー1には常にクリーンエアーの雰囲気に維持することができる。
FOUP2内よりウエハーを出し入れするロボットの上側が空間的に空いており、クリーンユニット4は、そこに上から保持させる。
また、クリーンユニット4はウエハー出入口ボットのアーム高さに応じ順次上昇させる。クリーンユニット4からのエアーはプロセス処理前のウエハー1に対して層流形成し、プロセス処理後のウエハー1からの空気を巻き込まない気流を形成する。
また、プロセス処理前のウエハー1の汚染防止をより確実にするためFOUP2の下側にエアーの吸入口5を設け、FOUP2内の上昇気流を抑え、発生した残留ガスを吸入ファン7により引き込み、残留ガスのFOUP2上部への対流による拡散を防止する。
この吸入口5と吸入ファン7のラインの途中にガス検知器6を設け、吸引エアーをガス検知器6に送り込み、吸引エアー内に含まれる残留ガスの残量をモニタリングすることができる。吸引エアー内のガス種及びその濃度等を検出し、FOUP2内のクリーン度の管理に利用できる。
本発明の第2の実施例として、図2に示すようにFOUP2の開口部の両側にエアーノズル8によりプロセス処理前のウエハー1にクリーンエアーを吹き込み、プロセス処理後のウエハー1の表面から発生する残留ガスを強制的に除去する。これは第一の実施例に付随して利用すれば効果が大きい。
本発明の第3の実施例として、図3に示すようにプロセス処理前のウエハー1とプロセス処理後のウエハー1それぞれ別に専用のFOUPを設ける。FOUPAからプロセス処理前のウエハー1が処理室(CVD、ドライエッチング等)に搬送され、プロセス処理後のウエハー1がFOUPBに入る。
このようにFOUPを2台取り付けローダー用FOUP2とアンローダー用FOUP2を分ければ、クロスコンタミを防止することができる。従って、プロセス処理前ウエハー1とプロセス処理後のウエハー1の収納容器FOUP2が分離独立しているため、プロセス処理後のウエハー1から発生する残留ガスがプロセス処理前のウエハー1を汚染することはない。
本発明の第4の実施例として、図4に示すようにプロセス処理装置15に処理後ウエハーを一時、収納する25枚ストックエリア9を設ける。FOUP2から取り出されたプロセス処理前のウエハー1が搬送ロボット10によりプロセス処理装置15に投入される。ウエハー1は、その処理室内でCVD等の処理後、ストックエリア9に収納され、プロセス処理前のウエハー1が収納されているFOUP2内には直ちに回収されない。プロセス処理後のウエハー1は、脱ガス完了後、FOUP2の元の位置に回収収納される。
また、本方法は、ストックエリア9に収納することにより、FOUP2からプロセス処理前のウエハー1がなくなってからプロセス処理後のウエハー1をFOUP2に収納し、戻すこともできるので、プロセス処理前のウエハー1がプロセス処理後のウエハー1による汚染の影響は全く受けない。
なお、このストックエリア9は、プロセス処理装置15内にロードロックを設け、プロセス処理室とは空間的に完全に隔離遮断された領域を形成している。
本発明の第5の実施例として、図5に示すように脱ガスエリア11、冷却エリア12、ストックエリア9を水平に併設し、プロセス処理後のウエハー1を順次、脱ガス、冷却を経てストックエリア9に収納される。
ホットプレートと冷却板を設け、プロセス処理後のウエハー1をホットプレートで 脱ガ スを十分行い、冷却板で脱ガスを抑える。
本発明の第6の実施例として、図6に示すように、上段にホットプレート13、下段に冷却板14を設置して上下2段の構成とし、さらに下段の冷却板14の下方にストックエリア9を設置する。プロセス処理後のウエハー1を上段にホットプレート13上に載せ、150℃で10分間加熱し、ウエハー1表面上を脱ガスを行う。次に、脱ガスを行ったウエハー1を下段の冷却板14上に載せ、1分間冷却をし、ウエハー1の表面上になお残留しているガスの発生を抑える。その後、ウエハー1を最下部にあるストックエリア9に収納する。
本発明の第7の実施例として、図7に示すように、ミニエンバイロメント18のクリーンエアーをじょうご形フード17によりFOUP2内に引き込む。ミニエンバイロメント18のクリーンエアーの吹出し面とドアオプナー16をじょうご形フード17で接続する。このとき、じょうご形フード17は、ドアオプナー16側はFOUP2の開口部付近に吹出し口がくるように接続する。
また、フードを搬送ロボットのアーム位置に合わせて上下動させる。このようにすれば、FOUP2の発生ガスをパージするために別個にクリーンユニットを設けなくても、FOUP2を発生した残留ガスを排出してFOUP2をクリーンに維持できる。
本発明の第1の実施例の構成を示す概略図である。 本発明の第2の実施例の構成を示すFOUPの開口部の左右両側にエアーノズルを取り付けた図である。 本発明の第3の実施例の処理前ウエハーと処理後ウエハーのそれぞれ分離独立したFOUPの配置を示す図である。 本発明の第4の実施例の構成を示す概略図で、プロセス処理装置に処理後ウエハーのストックエリアを設けた図である。 本発明の第5の実施例の構成を示す概略図で、脱ガスエリア、冷却エリア及びストックエリアを設けた図である。 本発明の第5の実施例の構成を示す概略図で、ホットプレート、冷却板を上下に2段に設けた図である。 本発明の第5の実施例の構成を示す概略図で、ミニエンバイロメントからじょうご形フードによりFOUP内にクリーンエアーを引き込めるように配置した図である。 従来のドアオプナーにFOUPを設置した状態を示す図である。
符号の説明
1 ウエハー
2 FOUP
3 オプナー
4 クリーンユニット
5 吸入口
6 ガス検知器
7 吸入ファン
8 エアーノズル
9 ストックエリア
10 搬送ロボット
11 脱ガスエリア
12 冷却エリア
13 ホットプレート
14 冷却板
15 プロセス処理装置
16 ドアオプナー
16−1 積載台
16−2 ドア駆動装置
17 じょうご形フード
18 ミニエンバイロメント

Claims (5)

  1. ウエハー収納容器FOUPと、該FOUPからウエハーを取り出し、また前記FOUPに回収するために前記FOUPのドアを開放するドアオプナーとを備え、
    ウエハーを枚葉式にプロセス処理するため、前記FOUPの下側からウエハーを順次取り出し、プロセス処理後、該ウエハーをFOUP内の元の位置に下側から順次、回収するウエハー供給回収装置であって、
    プロセス処理前のウエハークリーンエアーを吹き付けるように、前記FOUP内の処理前ウエハーに合わせて順次、上方に移動されるクリーンユニットが設けられているウエハー供給回収装置。
  2. 前記FOUPの下方にFOUP内の空気を吸引する吸引口を設けたことを特徴とする請求項1記載のウエハー供給回収装置。
  3. 前記吸引口の排気ラインにガス検知器を設けたことを特徴とする請求項1または請求項2記載のウエハー供給回収装置。
  4. FOUPの開口部の左右少なくとも一方に、FOUP内にクリーンエアーを吹き込むエアーノズルを設けたことを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載のウエハー供給回収装置。
  5. 前記クリーンユニットが、ミニエンバイロメント内のクリーンエアーを集めFOUP内に送り込むフードを有する請求項1から4のいずれか一項に記載のウエハー供給回収装置。
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