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JP4266454B2 - socket - Google Patents

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JP4266454B2
JP4266454B2 JP26502399A JP26502399A JP4266454B2 JP 4266454 B2 JP4266454 B2 JP 4266454B2 JP 26502399 A JP26502399 A JP 26502399A JP 26502399 A JP26502399 A JP 26502399A JP 4266454 B2 JP4266454 B2 JP 4266454B2
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JP
Japan
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positioning
base
socket
contact
chip
Prior art date
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Inventor
昇 与五沢
正生 遠山
秀幸 高橋
Original Assignee
株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン
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Publication date
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、多数のリード端子を有する電気部品を着脱可能に装着して各リードと外部装置とを電気的に接続するためのソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】
図6(a)〜(d)は、従来のバーンインテスト用のソケットの構成を示す断面図である。
また、図7(a)は、従来のバーンインテスト用のソケットの構成を示す断面図で、第1のタイプのICチップが装填された状態を示すもの、図7(b)は、従来のバーンインテスト用のソケットの構成を示す断面図で、第2のタイプのICチップが装填された状態を示すもの、図7(c)は、図7(a)の一点鎖線で囲まれた部分Pを拡大して示す図、図7(d)は、図7(b)の一点鎖線で囲まれた部分Qを拡大して示す図、図7(e)は、図7(b)の一点鎖線で囲まれた部分Qを拡大して示す図、図7(f)は、図7(e)の一点鎖線で囲まれた部分Rを拡大して示す図である。
【0003】
図6(a)〜(d)に示すように、このソケット101は、例えばTSOP(Thin Small Outline Package)のICチップ105のテスティングに用いられるものであり、プラスチックで形成されたベース102を有している。
【0004】
ベース102には、カバー103がベース102に対して接近又は離間可能に取り付けられ、さらにカバー103に対して押圧力を加えない状態において図示しないスプリングによってベース102に対してカバー103が離間する方向に付勢されるように構成されている。
【0005】
ベース102上には、弾性力のある金属材料を用い板バネ状に成形されたコンタクト109が複数配置されている。このコンタクト109は、ICチップ105のパッケージ周囲から導出されたICリード111と同じ数だけ設けられており、各コンタクト109の先端部は各ICリード111と弾性力を持って接触できるように構成されている。
【0006】
このコンタクト109は、リード部191がベース102の底面からほぼ垂直に導出された状態でベース102に固定され、このリード部191によってソケット101をプリント基板(図示せず)にはんだ付けできるように構成されている。
【0007】
各コンタクト109は、カバー103に設けられたガイド部103aと係合して揺動することによってICチップ105の装着及びICリード111との電気的な接続が行われるように構成されている。
【0008】
すなわち、ベース102に対してカバー103を押し下げた場合には、図6(b)(c)に示すように、コンタクト109のレバー部195がカバー103のガイド部103aと係合してコンタクト109の接点部109aがアダプター104から離れ、これによりICチップ105が装着可能な状態になる。
【0009】
その後、ICチップ105を装着してカバー103に対する押圧を解除すると、図6(d)に示すように、コンタクト109はそれ自身のばね性によって接点部109がICリード111の先端部に接触し、コンタクト109の反力によって、ICリード111とコンタクト109との良好な電気的接続が達成される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、この種のソケット101においては、ICチップ105を装填する際にアダプター104に設けた位置決め部104aによってICチップ105の位置決めを行うようにしている。
【0011】
しかし、図7(c)(d)に示すように、この種のICチップ105には、パッケージのサイズが同じであっても、パッケージ厚さが異なるもの(t1、t2)が存在する。
【0012】
このため、従来は、各タイプのICチップ1051、1052に応じて位置決め部104aの高さを異ならせたソケット1011、1012を用いなければならず、ソケットを設置する部位の面積が増大する等の課題があった。
【0013】
一方、第1のICチップ1051を第2のICチップ1052用のソケット1012に装着することは可能であるが、その場合、図7(e)(f)に示すように、第2のICチップ1012と位置決め部104aとのクリアランスが大きくなる(C1>C2)ため、ICリード111とコンタクト109との位置が合わなくなりこれらが接触しにくい状態になる。その結果、導通不良を起こす可能性があるためこの方法は採用することができない。
【0014】
本発明は、このような従来の技術の課題を解決するためになされたもので、1つのソケットで異なるタイプの電気素子をそれぞれ精度良く位置決めして装填可能なソケットを提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するためになされた本発明のソケットは、少なくとも2種類の電気素子を装着可能であり、着脱自在に装着された電気素子を外部回路に接続するためのソケットであって、複数のコンタクトと、複数のコンタクトが配設されたベースと、前記ベース上に取り付けられたアダプターとを有し、前記アダプターは、電子素子を収容可能な凹部と、凹部の底部に設けられた電気素子の一面を受けるための着座部と、凹部の内周縁に形成され電気素子を位置決めする位置決め部とを有し、前記位置決め部には、異なる傾斜角の少なくとも2つの位置決め面が形成され、少なくとも2つの位置決め面は一方から他方に連続的に接続されており、少なくとも2つの位置決め面は、前記少なくとも2種類の電気素子のそれぞれの側面の傾斜角とほぼ等しい角度である。
【0016】
本発明の場合、位置決め部に異なる傾斜角度の位置決め面を設けたことから、異なるタイプの電気素子をそれぞれ精度良く位置決めして装填することができる。その結果、本発明によれば、複数種類の電気素子に適用可能なソケットを得ることができる。
【0017】
また、前記位置決め部に2種類の傾斜角度の位置決め面を設けること、前記2種類の位置決め面のうち電気素子の導入部側の位置決め面の傾斜角度が電気素子の着座部側の位置決め面の傾斜角度より大きくなるように構成することも効果的である。
【0018】
さらに、前記位置決め部に当該電気素子の側面の傾斜角度とほぼ等しい角度の位置決め面を設けるようにすれば、電気素子の側面の各部分が、対応する位置決め面に対して均一な状態で当接するため、より精度の高い位置決めを行うことが可能になる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係るソケットの好ましい実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図1(a)は、本実施の形態のソケットの外観構成を示す平面図、図1(b)は、図1(a)のA−A線断面図である。
図2(a)は、本実施の形態のソケットの側面図、図2(b)は、図1(a)のB−B線断面図である。
【0020】
本実施の形態のソケット1は、概略、ベース2と、カバー3と、アダプター4から構成され、これらは、例えばポリエーテルイミド等の樹脂材料を用いて形成されている。
ここで、ベース2は、図示しないプリント基板等の回路基板上に固定されるもので、例えば四角形状に形成されている。
【0021】
一方、カバー3は、ベース2とほぼ同様の大きさを有する四角形状のフレーム状に形成され、その中央部分には電気素子であるICチップ5(51、52)を挿入するための開口部3aが形成されている。
【0022】
ベース2とカバー3とは、互いに平行な状態を保持したまま接近又は離れるように構成されている。そして、カバー3とベース2との間には、コイルばね6が設けられ、これによりカバー3とベース2とが互いに離れる方向に付勢されている。
【0023】
また、ベース2には、弾性力のある金属材料を用いて一体的に形成されたコンタクト9が複数配設されている。これらのコンタクト9は、ICチップ5のパッケージ10の周囲から導出されたICリード11と同じ数だけ設けられており、以下に説明する構成によって各コンタクト9の接点部9aが各ICリード11の先端部に対して上方から弾性力を持って接触できるようになっている。
【0024】
図2(b)に示すように、コンタクト9は、ベース2の取付部に固定されるコ字状の基部90を有し、この基部90の一方の側部には棒状のリード部91が形成されている。そして、コンタクトの基部90はベース2に固定された状態でリード部91がベース2の底面から導出されており、このリード部91をはんだ付けすることによって図示しない回路基板上の接続端子と接続できるようになっている。
【0025】
一方、コンタクト9の基部90の他方の側部側、すなわち、コンタクト9が取り付けられた状態におけるカバー3側にはIC接続部92が設けられている。
【0026】
このIC接続部92は、基部90から細長く延びるように形成した部分を曲がりくねらせてばね性を持たせたばね部93と、このばね部93の先端部から2つに分岐するように形成された接触腕部94及びレバー部95とから構成されている。
【0027】
カバー3には、各コンタクト9のレバー部95と係合するガイド溝部30が形成されている。このガイド溝部30は、カバー3の上部に向って所定の角度だけ傾斜させた溝底部31を有しており、カバー3の押し下げ動作に伴って溝底部31とコンタクト9のレバー部95の先端部とが係合することによってコンタクト9の接触腕部94をアダプター4から離す方向へ移動させるように構成されている。
【0028】
一方、アダプター4はベース2より一回り小さい大きさに形成され、ベース2の中央部分に組み付けられる。このアダプター4にはICチップ5を収容可能な四角形状の開口部を有する凹部4aが形成され、この凹部4aの底部には、ICチップ5を受けるための着座部4bが設けられている。
【0029】
また、アダプター4の開口端部の内周縁部には、ICチップ5を誘い込むためのテーパ状の導入部4cが形成され、また、この導入部4cの下方には、誘い込んだICチップ5を位置決めするための位置決め部4dが設けられている。
【0030】
図3(a)は、図1(a)のA−A線断面図で、第1のタイプのICチップが装填された状態を示すもの、図3(b)は、図1(a)のA−A線断面図で、第2のタイプのICチップが装填された状態を示すものである。
また、図4(a)は、図3(a)の一点鎖線で囲まれた部分Pを拡大して示す図、図4(b)は、図3(b)の一点鎖線で囲まれた部分Qを拡大して示す図である。
図5(a)は、図3(b)の一点鎖線で囲まれた部分Qを拡大して示す図、図5(b)は、図5(a)の一点鎖線で囲まれた部分Rを拡大して示す図である。
【0031】
図4(a)(b)及び図5(a)(b)に示すように、本実施の形態の位置決め部4dには、カバー3の移動方向(鉛直方向)に対して異なる傾斜角度の二つの位置決め面41、42が設けられている。
【0032】
本発明の場合、タイプの異なるICチップ51、52に対応するためには、図5(a)(b)に示すように、カバー3(上)側の第1の位置決め面41の角度をα、着座面(下)側の第2の位置決め面42の角度をβとした場合に、第1の位置決め面41の角度αが第2の位置決め面42の角度βより大きくなるように構成することが好ましい。
【0033】
このように構成することにより、例えばCOLタイプ、LOCタイプという2種類のICチップ51、52に対して適当なクリアランスを確保することができ、それぞれを容易に位置決めすることができる。
【0034】
さらに、本実施の形態にあっては、各位置決め面41、42の角度を、装填すべきICチップ51、52の側面の傾斜角度と対応するようにしている。
すなわち、本実施の形態の場合は、図4(a)(b)に示すように、パッケージ厚さがt1であるCOLタイプのICチップ51の側面51aの傾斜角度をα(例えば33°)とし、パッケージ厚さがt2であるLOCタイプのICチップ52の側面52aの傾斜角度をβ(例えば15°)とした場合に、図5(a)(b)に示すように、第1の位置決め面41の角度をα、第2の位置決め面42の角度についてはβと等しくなるように設定されている。
【0035】
また、第1及び第2の位置決め面41、42の高さ、特に第1の位置決め面41の高さh1については、より精度良く各ICチップ51、52の位置決めを行う観点から、図5(b)に示すように、対応するCOLタイプのICチップ51のパッケージ厚さt1に対し、0.4t1〜0.6t1の範囲となるように設定することが好ましく、より好ましくは0.5t1程度に設定する。
【0036】
このような構成を有する本実施の形態によれば、ICチップ51、52の角度αを形成する斜面の直線とICチップ52の角度βを形成する斜面の直線とが交差する点が、パッケージ厚さt1,2のうち小さい方(t1)の範囲内にある場合に、COLタイプのICチップ51と第1の位置決め面41とのクリアランスを0.08mm、LOCタイプのICチップ52と第2の位置決め面42とのクリアランスを0.06mmとほぼ等しくすることができる。
【0037】
そして、本実施の形態において、ICチップ51、52をソケット1に装填する場合には、カバー3をベース2に押し付けてコンタクト9のレバー部95をカバー3のガイド溝部30の溝底部31に係合させてコンタクト9の接触腕部94を退避させ、その状態でICチップ51、52をアダプター4の凹部4aに落とし込む。
【0038】
次いで、カバー3に加える力を解除すると、コイルばね6の付勢力によってカバー3がベース2から離れてコンタクト9のレバー部95とカバー3のガイド溝部30の溝底部31との係合が外れ、コンタクト9の弾性力によってコンタクト9の接点部9aがICチップ5のICリード11の先端部に押し付けられ、これによりICチップ51、52がソケット1に装填される。
【0039】
以上述べたように本実施の形態によれば、アダプター4の位置決め部4dに異なる傾斜角度の位置決め面41、42を設けるようにしたことから、一つのソケット1で、COLタイプ及びLOCタイプの2種類のICチップ51、52をそれぞれ精度良く位置決めして装填することができる。
【0040】
特に、本実施の形態にあっては、位置決め部4dに各ICチップ51、52の側面51a、52aの傾斜角度α、βと等しい角度の第1及び第2の位置決め面41、42を設けたことから、各ICチップ51、52の側面51a、52aの各部分が、第1の位置決め面41又は第2の位置決め面42に対して均一な状態で当接するため、各ICチップ51、52に対して精度の高い位置決めを行うことができるものである。
【0041】
なお、本発明は上述の実施の形態に限られることなく、以下に説明するように種々の変更を行うことができる。
例えば、上述の実施の形態においては、アダプターの位置決め部に2つの位置決め面を設けるようにしたが、本発明はこれに限られず、3つ以上の位置決め面を設けることも可能である。
【0042】
また、各位置決め面の傾斜角度についても、上述した実施の形態のものには限られず、適宜変更することができる。ただし、上記実施の形態のように各位置決め面の傾斜角度を各ICチップの側面の傾斜角度と等しくなるように構成すれば、各ICチップをより精度良く位置決めして装填することができる。
【0043】
さらにまた、本発明は、バーンインテスト用のソケットのみならず、種々の電気的特性試験用のソケットに適用することができるものである。
【0044】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、1つのソケットで異なるタイプの電気素子をそれぞれ精度良く位置決めして装填することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a):本発明の実施の形態のソケットの外観構成を示す平面図
(b):図1(a)のA−A線断面図
【図2】(a):同ソケットの側面図
(b):図1(a)のB−B線断面図である。
【図3】(a):図1(a)のA−A線断面図で、第1のタイプのICチップが装填された状態を示すもの
(b):図1(a)のA−A線断面図で、第2のタイプのICチップが装填された状態を示すもの
【図4】(a):図3(a)の一点鎖線で囲まれた部分Pを拡大して示す図
(b):図3(b)の一点鎖線で囲まれた部分Qを拡大して示す図
【図5】(a):図3(b)の一点鎖線で囲まれた部分Qを拡大して示す図
(b):図5(a)の一点鎖線で囲まれた部分Rを拡大して示す図
【図6】(a)〜(d):従来のバーンインテスト用のソケットの構成を示す断面図
【図7】(a):従来のバーンインテスト用のソケットの構成を示す断面図で、第1のタイプのICチップが装填された状態を示すもの
(b):従来のバーンインテスト用のソケットの構成を示す断面図で、第2のタイプのICチップが装填された状態を示すもの
(c):図7(a)の一点鎖線で囲まれた部分Pを拡大して示す図
(d):図7(b)の一点鎖線で囲まれた部分Qを拡大して示す図
(e):図7(b)の一点鎖線で囲まれた部分Qを拡大して示す図
(f):図7(e)の一点鎖線で囲まれた部分Rを拡大して示す図
【符号の説明】
1……ソケット 2……ベース 3……カバー 4……アダプター 4d……位置決め部 41……第1の位置決め面 42……第2の位置決め面 5……ICチップ(電気素子) 51……COLタイプのICチップ 52……LOCタイプのICチップ 9……コンタクト 11……ICリード
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a socket for detachably mounting an electrical component having a large number of lead terminals to electrically connect each lead to an external device.
[0002]
[Prior art]
6A to 6D are cross-sectional views showing the configuration of a conventional burn-in test socket.
FIG. 7A is a cross-sectional view showing the configuration of a conventional burn-in test socket, showing a state in which a first type IC chip is loaded, and FIG. 7B shows a conventional burn-in test. FIG. 7C is a cross-sectional view showing the configuration of the test socket, and shows a state in which the second type IC chip is loaded. FIG. 7C shows a portion P surrounded by an alternate long and short dash line in FIG. FIG. 7 (d) is an enlarged view, FIG. 7 (d) is an enlarged view of a portion Q surrounded by an alternate long and short dash line in FIG. 7 (b), and FIG. 7 (e) is an alternate long and short dashed line in FIG. FIG. 7F is an enlarged view of the enclosed portion Q, and FIG. 7F is an enlarged view of the portion R enclosed by the alternate long and short dash line in FIG.
[0003]
As shown in FIGS. 6A to 6D, this socket 101 is used, for example, for testing a TSOP (Thin Small Outline Package) IC chip 105 and has a base 102 made of plastic. is doing.
[0004]
The cover 103 is attached to the base 102 so as to be able to approach or separate from the base 102, and the cover 103 is separated from the base 102 by a spring (not shown) in a state where no pressing force is applied to the cover 103. It is configured to be energized.
[0005]
On the base 102, a plurality of contacts 109 formed in a leaf spring shape using an elastic metal material are arranged. The number of contacts 109 is the same as the number of IC leads 111 derived from the package periphery of the IC chip 105, and the tip of each contact 109 is configured to be able to contact each IC lead 111 with elasticity. ing.
[0006]
The contact 109 is fixed to the base 102 in a state in which the lead portion 191 is led out almost vertically from the bottom surface of the base 102, and the lead portion 191 is configured so that the socket 101 can be soldered to a printed circuit board (not shown). Has been.
[0007]
Each contact 109 is configured to engage with a guide portion 103 a provided on the cover 103 and swing to engage the IC chip 105 and electrically connect to the IC lead 111.
[0008]
That is, when the cover 103 is pushed down with respect to the base 102, the lever portion 195 of the contact 109 engages with the guide portion 103a of the cover 103 as shown in FIGS. The contact portion 109a is separated from the adapter 104, so that the IC chip 105 can be mounted.
[0009]
Thereafter, when the IC chip 105 is mounted and the pressure on the cover 103 is released, the contact 109 comes into contact with the tip of the IC lead 111 due to its own spring property, as shown in FIG. A good electrical connection between the IC lead 111 and the contact 109 is achieved by the reaction force of the contact 109.
[0010]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in this type of socket 101, the IC chip 105 is positioned by the positioning portion 104a provided in the adapter 104 when the IC chip 105 is loaded.
[0011]
However, as shown in FIGS. 7C and 7D, there are IC chips 105 of this type having different package thicknesses (t 1 , t 2 ) even if the package size is the same. .
[0012]
For this reason, conventionally, the sockets 1011 and 1012 in which the height of the positioning portion 104a is different depending on each type of IC chip 1051 and 1052 must be used, which increases the area of the part where the socket is installed. There was a problem.
[0013]
On the other hand, it is possible to attach the first IC chip 1051 to the socket 1012 for the second IC chip 1052, but in this case, as shown in FIGS. 7E and 7F, the second IC chip Since the clearance between 1012 and the positioning portion 104a increases (C 1 > C 2 ), the positions of the IC lead 111 and the contact 109 are not aligned, making it difficult to contact them. As a result, this method cannot be adopted because there is a possibility of causing a conduction failure.
[0014]
The present invention has been made to solve the above-described problems of the prior art, and an object of the present invention is to provide a socket in which different types of electrical elements can be accurately positioned and loaded with one socket. .
[0015]
[Means for Solving the Problems]
The socket of the present invention made to achieve the above object is a socket for attaching at least two kinds of electric elements, and for connecting the detachably attached electric elements to an external circuit, wherein a plurality of electric elements are attached. A contact, a base on which a plurality of contacts are disposed, and an adapter mounted on the base. The adapter includes a recess capable of accommodating an electronic element, and an electrical element provided at the bottom of the recess. A seat portion for receiving one surface and a positioning portion for positioning an electric element formed on the inner peripheral edge of the recess, wherein at least two positioning surfaces having different inclination angles are formed on the positioning portion; The positioning surfaces are continuously connected from one to the other, and at least two positioning surfaces are inclined angles of side surfaces of the at least two types of electric elements. It is substantially equal to the angle.
[0016]
In the case of the present invention , since the positioning portion is provided with positioning surfaces having different inclination angles, different types of electric elements can be positioned and loaded with high accuracy. As a result, according to the present invention, a socket applicable to a plurality of types of electrical elements can be obtained.
[0017]
Furthermore, the positioning portion 2 kinds of the provision of the positioning surface of the inclined angle, the two types of inclination angle of inclination of the positioning surfaces of the inlet side of the electric element of the positioning surface of the positioning surface of the seating portion of the electrical device It is also effective to make it larger than the angle.
[0018]
Furthermore, if a positioning surface having an angle substantially equal to the inclination angle of the side surface of the electric element is provided in the positioning portion, each part of the side surface of the electric element abuts against the corresponding positioning surface in a uniform state. Therefore, positioning with higher accuracy can be performed.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a preferred embodiment of a socket according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
Fig.1 (a) is a top view which shows the external appearance structure of the socket of this Embodiment, FIG.1 (b) is the sectional view on the AA line of Fig.1 (a).
Fig.2 (a) is a side view of the socket of this Embodiment, FIG.2 (b) is BB sectional drawing of Fig.1 (a).
[0020]
The socket 1 of the present embodiment is generally composed of a base 2, a cover 3, and an adapter 4, which are formed using a resin material such as polyetherimide.
Here, the base 2 is fixed on a circuit board such as a printed board (not shown), and is formed in a square shape, for example.
[0021]
On the other hand, the cover 3 is formed in a rectangular frame shape having substantially the same size as the base 2, and an opening 3a for inserting an IC chip 5 (51, 52), which is an electric element, in the central portion thereof. Is formed.
[0022]
The base 2 and the cover 3 are configured to approach or leave while maintaining a parallel state to each other. A coil spring 6 is provided between the cover 3 and the base 2, and the cover 3 and the base 2 are urged away from each other.
[0023]
The base 2 is provided with a plurality of contacts 9 that are integrally formed using an elastic metal material. These contacts 9 are provided in the same number as the IC leads 11 derived from the periphery of the package 10 of the IC chip 5, and the contact portions 9 a of the contacts 9 are arranged at the tips of the IC leads 11 by the configuration described below. It can come into contact with the portion with elasticity from above.
[0024]
As shown in FIG. 2 (b), the contact 9 has a U-shaped base 90 fixed to the mounting portion of the base 2, and a rod-shaped lead portion 91 is formed on one side of the base 90. Has been. The base portion 90 of the contact is fixed to the base 2, and the lead portion 91 is led out from the bottom surface of the base 2, and can be connected to a connection terminal on a circuit board (not shown) by soldering the lead portion 91. It is like that.
[0025]
On the other hand, an IC connection portion 92 is provided on the other side of the base 90 of the contact 9, that is, on the cover 3 side in a state where the contact 9 is attached.
[0026]
The IC connection portion 92 is formed so that a portion formed so as to extend from the base portion 90 is bent to have a spring property, and a spring portion 93 is branched from the tip portion of the spring portion 93 into two. The contact arm portion 94 and the lever portion 95 are configured.
[0027]
The cover 3 is formed with guide groove portions 30 that engage with the lever portions 95 of the respective contacts 9. The guide groove portion 30 has a groove bottom portion 31 that is inclined by a predetermined angle toward the upper portion of the cover 3, and the groove bottom portion 31 and the distal end portion of the lever portion 95 of the contact 9 as the cover 3 is pushed down. And the contact arm portion 94 of the contact 9 is moved in a direction away from the adapter 4.
[0028]
On the other hand, the adapter 4 is formed to be slightly smaller than the base 2 and is assembled to the center portion of the base 2. The adapter 4 is formed with a concave portion 4a having a rectangular opening capable of accommodating the IC chip 5, and a seat portion 4b for receiving the IC chip 5 is provided at the bottom of the concave portion 4a.
[0029]
Further, a tapered introduction portion 4c for drawing the IC chip 5 is formed at the inner peripheral edge of the opening end portion of the adapter 4, and the introduced IC chip 5 is positioned below the introduction portion 4c. A positioning part 4d is provided for this purpose.
[0030]
3A is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1A, showing a state in which the first type IC chip is loaded, and FIG. 3B is a cross-sectional view of FIG. It is an AA line sectional view and shows the state where the 2nd type IC chip was loaded.
4A is an enlarged view of a portion P surrounded by a one-dot chain line in FIG. 3A, and FIG. 4B is a portion surrounded by a one-dot chain line in FIG. 3B. It is a figure which expands and shows Q.
5A is an enlarged view of a portion Q surrounded by a one-dot chain line in FIG. 3B, and FIG. 5B shows a portion R surrounded by the one-dot chain line in FIG. FIG.
[0031]
As shown in FIGS. 4A and 4B and FIGS. 5A and 5B, the positioning portion 4d of the present embodiment has two different inclination angles with respect to the moving direction (vertical direction) of the cover 3. Two positioning surfaces 41 and 42 are provided.
[0032]
In the case of the present invention, in order to deal with different types of IC chips 51 and 52, the angle of the first positioning surface 41 on the cover 3 (upper) side is set to α as shown in FIGS. When the angle of the second positioning surface 42 on the seating surface (lower) side is β, the angle α of the first positioning surface 41 is configured to be larger than the angle β of the second positioning surface 42. Is preferred.
[0033]
By configuring in this way, an appropriate clearance can be secured for two types of IC chips 51 and 52, for example, COL type and LOC type, and each can be easily positioned.
[0034]
Furthermore, in the present embodiment, the angles of the positioning surfaces 41 and 42 correspond to the inclination angles of the side surfaces of the IC chips 51 and 52 to be loaded.
That is, in the case of the present embodiment, as shown in FIGS. 4A and 4B, the inclination angle of the side surface 51a of the COL type IC chip 51 whose package thickness is t 1 is α (for example, 33 °). As shown in FIGS. 5A and 5B, when the inclination angle of the side surface 52a of the LOC type IC chip 52 whose package thickness is t 2 is β (for example, 15 °), as shown in FIGS. The angle of the positioning surface 41 is set to be α, and the angle of the second positioning surface 42 is set to be equal to β.
[0035]
Further, with respect to the height of the first and second positioning surfaces 41 and 42, particularly the height h 1 of the first positioning surface 41, from the viewpoint of positioning each IC chip 51 and 52 with higher accuracy, FIG. (b), the relative package thickness t 1 of the corresponding COL type of IC chip 51 is preferably set to be in the range of 0.4t 1 ~0.6t 1, more preferably 0 Set to about 5t 1 .
[0036]
According to the present embodiment having such a configuration, the point where the straight line of the slope forming the angle α of the IC chips 51 and 52 intersects the straight line of the slope forming the angle β of the IC chip 52 is the package thickness. The clearance between the COL type IC chip 51 and the first positioning surface 41 is 0.08 mm and the LOC type IC chip 52 is within the range of the smaller one of the lengths t 1 and t 2 (t 1 ). The clearance with the second positioning surface 42 can be made substantially equal to 0.06 mm.
[0037]
In this embodiment, when the IC chips 51 and 52 are loaded in the socket 1, the cover 3 is pressed against the base 2, and the lever portion 95 of the contact 9 is engaged with the groove bottom portion 31 of the guide groove portion 30 of the cover 3. The contact arm portion 94 of the contact 9 is retracted, and the IC chips 51 and 52 are dropped into the concave portion 4a of the adapter 4 in this state.
[0038]
Next, when the force applied to the cover 3 is released, the cover 3 is separated from the base 2 by the biasing force of the coil spring 6, and the lever portion 95 of the contact 9 and the groove bottom portion 31 of the guide groove portion 30 of the cover 3 are disengaged. The contact portion 9 a of the contact 9 is pressed against the tip of the IC lead 11 of the IC chip 5 by the elastic force of the contact 9, whereby the IC chips 51 and 52 are loaded into the socket 1.
[0039]
As described above, according to the present embodiment, since the positioning portions 41 and 42 of the adapter 4 are provided with the positioning surfaces 41 and 42 having different inclination angles, the COL type and the LOC type 2 are provided with one socket 1. Each kind of IC chips 51 and 52 can be positioned and loaded with high accuracy.
[0040]
In particular, in the present embodiment, the positioning portion 4d is provided with the first and second positioning surfaces 41, 42 having an angle equal to the inclination angles α, β of the side surfaces 51a, 52a of the IC chips 51, 52. Therefore, each part of the side surfaces 51a, 52a of each IC chip 51, 52 comes into contact with the first positioning surface 41 or the second positioning surface 42 in a uniform state. On the other hand, highly accurate positioning can be performed.
[0041]
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made as described below.
For example, in the above-described embodiment, the two positioning surfaces are provided in the positioning portion of the adapter, but the present invention is not limited to this, and it is possible to provide three or more positioning surfaces.
[0042]
Further, the inclination angle of each positioning surface is not limited to that of the above-described embodiment, and can be changed as appropriate. However, if the tilt angle of each positioning surface is made equal to the tilt angle of the side surface of each IC chip as in the above embodiment, each IC chip can be positioned and loaded with higher accuracy.
[0043]
Furthermore, the present invention can be applied not only to burn-in test sockets but also to various electrical characteristic test sockets.
[0044]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, different types of electrical elements can be accurately positioned and loaded with one socket.
[Brief description of the drawings]
1A is a plan view showing an external configuration of a socket according to an embodiment of the present invention; FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1A; FIG. Side view (b): It is the BB sectional drawing of Fig.1 (a).
3A is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1A, and shows a state in which a first type IC chip is loaded. FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. FIG. 4 (a) is an enlarged view of a portion P surrounded by a one-dot chain line in FIG. 3 (a). FIG. 5B is an enlarged view of a portion Q surrounded by a dashed line in FIG. 3B. FIG. 5A is an enlarged view of a portion Q surrounded by a dashed line in FIG. (B): An enlarged view of a portion R surrounded by a one-dot chain line in FIG. 5 (a). FIG. 6 (a) to (d): Cross-sectional views showing the configuration of a conventional burn-in test socket. 7A is a cross-sectional view showing a configuration of a conventional burn-in test socket, and shows a state in which a first type IC chip is loaded. FIG. 7B is a conventional burn-in test. FIG. 7 is a cross-sectional view showing a configuration of a socket for use, and shows a state in which a second type IC chip is loaded (c): an enlarged view showing a portion P surrounded by a one-dot chain line in FIG. (D): FIG. 7 (b) is an enlarged view of the portion Q surrounded by the one-dot chain line (e): FIG. 7 (b) is an enlarged view of the portion Q surrounded by the one-dot chain line (f) ): Enlarged view of the portion R surrounded by the alternate long and short dash line in FIG. 7E.
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 …… Socket 2 …… Base 3 …… Cover 4 …… Adapter 4d …… Positioning part 41 …… First positioning surface 42 …… Second positioning surface 5 …… IC chip (electric element) 51 …… COL Type IC chip 52 …… LOC type IC chip 9 …… Contact 11 …… IC lead

Claims (3)

少なくとも2種類の電気素子を装着可能であり、着脱自在に装着された電気素子を外部回路に接続するためのソケットであって、
複数のコンタクトと、
複数のコンタクトが配設されたベースと、
前記ベース上に取り付けられたアダプターとを有し、
前記アダプターは、電子素子を収容可能な凹部と、凹部の底部に設けられた電気素子の一面を受けるための着座部と、凹部の内周縁に形成され電気素子を位置決めする位置決め部とを有し、
前記位置決め部には、異なる傾斜角の少なくとも2つの位置決め面が形成され、少なくとも2つの位置決め面は一方から他方に連続的に接続されており、少なくとも2つの位置決め面は、前記少なくとも2種類の電気素子のそれぞれの側面の傾斜角とほぼ等しい角度である、ソケット
At least two types of electrical elements can be mounted, and a socket for connecting the detachably mounted electrical elements to an external circuit,
Multiple contacts,
A base provided with a plurality of contacts;
An adapter mounted on the base,
The adapter has a recess capable of accommodating an electronic element, a seating portion for receiving one surface of the electrical element provided at the bottom of the recess, and a positioning portion formed on the inner periphery of the recess for positioning the electrical element. ,
The positioning portion is formed with at least two positioning surfaces having different inclination angles, and the at least two positioning surfaces are continuously connected from one to the other, and the at least two positioning surfaces have the at least two types of electric surfaces. Socket that is approximately equal to the angle of inclination of each side of the element
少なくとも2つの位置決め面のうち、電気素子の導入部側の位置決め面の傾斜角度が電気素子の着座部側の位置決め面の傾斜角度より大きくなるように構成されている、請求項1に記載のソケット。 Of the at least two positioning surfaces, angle of inclination of the positioning surfaces of the inlet side of the electric element has been configured so as to be larger than the inclination angle of the positioning surface of the seating portion of the electrical device, according to claim 1 socket . ソケットはさらに、ベースに対して接近または離れるように構成されたカバーを含み、The socket further includes a cover configured to approach or leave the base;
各コンタクトの先端は、基部と、基部から延在するばね部と、ばね部から分岐した接触腕部とレバー部とを含み、  The tip of each contact includes a base, a spring portion extending from the base, a contact arm portion and a lever portion branched from the spring portion,
カバーは、各コンタクトのレバー部と係合し、カバーがベースに接近されたとき、前記接触腕部がアダプターから離れるように移動される、請求項1に記載のソケット。  The socket according to claim 1, wherein the cover is engaged with a lever portion of each contact, and the contact arm portion is moved away from the adapter when the cover is approached to the base.
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