JP4133777B2 - 核磁気共鳴プローブ - Google Patents
核磁気共鳴プローブ Download PDFInfo
- Publication number
- JP4133777B2 JP4133777B2 JP2003405926A JP2003405926A JP4133777B2 JP 4133777 B2 JP4133777 B2 JP 4133777B2 JP 2003405926 A JP2003405926 A JP 2003405926A JP 2003405926 A JP2003405926 A JP 2003405926A JP 4133777 B2 JP4133777 B2 JP 4133777B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat insulating
- magnetic resonance
- nuclear magnetic
- detection unit
- detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims description 82
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 title claims description 56
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 146
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 74
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 21
- 230000008602 contraction Effects 0.000 claims description 14
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims description 13
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims description 13
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 13
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 8
- 239000011888 foil Substances 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 5
- 239000002826 coolant Substances 0.000 claims 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 13
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 9
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 9
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 4
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 239000012774 insulation material Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 1
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/30—Sample handling arrangements, e.g. sample cells, spinning mechanisms
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/30—Sample handling arrangements, e.g. sample cells, spinning mechanisms
- G01R33/31—Temperature control thereof
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
磁石内に挿入される筒状部を有する真空断熱容器と、この容器内に配置される検出コイルと同調整合回路で構成された検出部とを備え、該検出部を冷却手段で冷却することにより、核磁気共鳴信号の検出感度を高めるようにした核磁気共鳴プローブにおいて、
前記筒状部の上端端面または側面に断熱部材を介して前記検出部を取り付けるようにしたことを特徴としている。
前記冷却手段は、真空断熱容器の下端面に固着された支柱を備え、その支柱は、室温付近に温度制御されたガスが流れるガス配管と熱接触され、熱収縮を回避する構造になっていることを特徴としている。
Claims (9)
- 磁石内に挿入される筒状部を有する真空断熱容器と、この容器内に配置される検出コイルと同調整合回路で構成された検出部とを備え、該検出部を冷却手段で冷却することにより、核磁気共鳴信号の検出感度を高めるようにした核磁気共鳴プローブにおいて、
前記筒状部の上端端面または側面に断熱部材を介して前記検出部を取り付けるようにしたことを特徴とする核磁気共鳴プローブ。 - 前記検出部は、中心軸に沿って試料温度可変用のガス配管を備え、そのガス配管の外側には、ボビンがガス配管と同軸状に配置され、そのボビンの外側には、検出コイルがガス配管およびボビンと同軸状に配置されていることを特徴とする請求項1記載の核磁気共鳴プローブ。
- 前記検出部は、前記断熱部材の表面に施された薄いメッキを介して、アースされていることを特徴とする請求項1記載の核磁気共鳴プローブ。
- 前記検出部は、前記断熱部材と前記真空断熱容器との間に挟まれた薄い金属箔を介して、アースされていることを特徴とする請求項1記載の核磁気共鳴プローブ。
- 前記検出部は、低温ヘリウムガスで冷却されることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1つに記載の核磁気共鳴プローブ。
- 前記冷却手段は、冷媒を流すための配管を備え、その配管の少なくとも一部には、弾性部、または可動部が設けられていることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1つに記載の核磁気共鳴プローブ。
- 前記検出部は、真空断熱容器に固着された支柱によって支えられており、その支柱の少なくとも一部には、熱収縮時の支柱に加わる張力や歪力を吸収する弾性部、または可動部が設けられていることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1つに記載の核磁気共鳴プローブ。
- 前記検出部は、真空断熱容器に固着された支柱によって支えられており、その支柱は、前記検出部とは断熱部材を介して断熱されるとともに、室温付近に温度制御されたガスが流れるガス配管と熱接触されてほぼ室温に保たれることにより熱収縮を回避する構造になっていることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1つに記載の核磁気共鳴プローブ。
- 磁石内に挿入される筒状部を有する真空断熱容器と、この容器内に配置される検出コイルと同調整合回路で構成された検出部とを備え、該検出部を冷却手段で冷却することにより、核磁気共鳴信号の検出感度を高めるようにした核磁気共鳴プローブにおいて、
前記冷却手段は、真空断熱容器の下端面に固着された支柱を備え、その支柱は、室温付近に温度制御されたガスが流れるガス配管と熱接触され、熱収縮を回避する構造になっていることを特徴とする請求項1記載の核磁気共鳴プローブ。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003405926A JP4133777B2 (ja) | 2003-01-06 | 2003-12-04 | 核磁気共鳴プローブ |
EP03258170A EP1435525B1 (en) | 2003-01-06 | 2003-12-24 | Cooled NMR probe |
DE60333980T DE60333980D1 (de) | 2003-01-06 | 2003-12-24 | Gekühlter NMR-Probenkopf |
US10/751,669 US6914430B2 (en) | 2003-01-06 | 2004-01-05 | NMR probe |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003000169 | 2003-01-06 | ||
JP2003405926A JP4133777B2 (ja) | 2003-01-06 | 2003-12-04 | 核磁気共鳴プローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004233337A JP2004233337A (ja) | 2004-08-19 |
JP4133777B2 true JP4133777B2 (ja) | 2008-08-13 |
Family
ID=32510678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003405926A Expired - Fee Related JP4133777B2 (ja) | 2003-01-06 | 2003-12-04 | 核磁気共鳴プローブ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6914430B2 (ja) |
EP (1) | EP1435525B1 (ja) |
JP (1) | JP4133777B2 (ja) |
DE (1) | DE60333980D1 (ja) |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5914613A (en) | 1996-08-08 | 1999-06-22 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system with local contact scrub |
US6256882B1 (en) | 1998-07-14 | 2001-07-10 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
DE20114544U1 (de) | 2000-12-04 | 2002-02-21 | Cascade Microtech, Inc., Beaverton, Oreg. | Wafersonde |
WO2003052435A1 (en) | 2001-08-21 | 2003-06-26 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
US7057404B2 (en) | 2003-05-23 | 2006-06-06 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Shielded probe for testing a device under test |
DE112004002554T5 (de) | 2003-12-24 | 2006-11-23 | Cascade Microtech, Inc., Beaverton | Active wafer probe |
WO2006031646A2 (en) | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Cascade Microtech, Inc. | Double sided probing structures |
US7535247B2 (en) | 2005-01-31 | 2009-05-19 | Cascade Microtech, Inc. | Interface for testing semiconductors |
US7656172B2 (en) | 2005-01-31 | 2010-02-02 | Cascade Microtech, Inc. | System for testing semiconductors |
JP4291304B2 (ja) * | 2005-07-11 | 2009-07-08 | 株式会社日立製作所 | Nmrプローブ |
US7764072B2 (en) | 2006-06-12 | 2010-07-27 | Cascade Microtech, Inc. | Differential signal probing system |
US7403028B2 (en) | 2006-06-12 | 2008-07-22 | Cascade Microtech, Inc. | Test structure and probe for differential signals |
US7723999B2 (en) | 2006-06-12 | 2010-05-25 | Cascade Microtech, Inc. | Calibration structures for differential signal probing |
JP4851261B2 (ja) | 2006-08-17 | 2012-01-11 | 株式会社神戸製鋼所 | 冷却式nmrプローブヘッド |
JP4851265B2 (ja) * | 2006-08-24 | 2012-01-11 | 株式会社神戸製鋼所 | 冷却式nmrプローブヘッド及びこれを備えたnmr分析装置 |
DE102006046888B4 (de) * | 2006-10-04 | 2010-12-16 | Bruker Biospin Ag | Gekühlter Magnet-Resonanz-Probenkopf mit einem Vakuumbehälter sowie zugehörige NMR-Messapparatur |
US7909227B2 (en) * | 2006-12-19 | 2011-03-22 | Endocare, Inc. | Cryosurgical probe with vacuum insulation tube assembly |
US7876114B2 (en) | 2007-08-08 | 2011-01-25 | Cascade Microtech, Inc. | Differential waveguide probe |
US20090145585A1 (en) * | 2007-12-05 | 2009-06-11 | Varian, Inc. | Fused porous material heat exchanger |
US7888957B2 (en) | 2008-10-06 | 2011-02-15 | Cascade Microtech, Inc. | Probing apparatus with impedance optimized interface |
WO2010059247A2 (en) | 2008-11-21 | 2010-05-27 | Cascade Microtech, Inc. | Replaceable coupon for a probing apparatus |
DE102010029080B4 (de) * | 2010-05-18 | 2013-05-08 | Bruker Biospin Ag | Temperiereinrichtung für ein NMR-Probenröhrchen und Verfahren zur Temperierung eines NMR-Probenröhrchens |
JP5942699B2 (ja) | 2012-08-23 | 2016-06-29 | 国立大学法人京都大学 | 磁気共鳴信号検出モジュール |
JP5942700B2 (ja) | 2012-08-23 | 2016-06-29 | 国立大学法人京都大学 | 磁気共鳴信号検出用プローブ |
JP6549994B2 (ja) * | 2016-01-14 | 2019-07-24 | 日本電子株式会社 | Nmr測定用プローブ |
DE102016214728B3 (de) * | 2016-08-09 | 2017-08-03 | Bruker Biospin Ag | NMR-Apparatur mit durch eine Vakuumschleuse in den Kryostaten einer supraleitenden Magnetanordnung einführbaren gekühlten Probenkopfkomponenten sowie Verfahren zu deren Ein- und Ausbau |
DE102017211016B3 (de) * | 2017-06-29 | 2018-10-11 | Bruker Biospin Ag | NMR-Probenkopf mit mehrteiligem Insert-Unterteil |
DE102019202001B3 (de) | 2019-02-14 | 2020-06-25 | Bruker Biospin Gmbh | MAS-Probenkopf mit thermisch isolierter Probenkammer |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55131758A (en) * | 1979-03-30 | 1980-10-13 | Jeol Ltd | Nmr probe |
US4266194A (en) * | 1979-07-23 | 1981-05-05 | Varian Associates, Inc. | Sensor for VT probes |
DE4013111C2 (de) * | 1990-04-25 | 1994-05-26 | Spectrospin Ag | HF-Empfangsspulenanordnung für NMR-Spektrometer |
US5508613A (en) * | 1994-08-29 | 1996-04-16 | Conductus, Inc. | Apparatus for cooling NMR coils |
DE69526095T2 (de) | 1995-12-20 | 2002-11-14 | Bruker Biospin Ag, Faellanden | Probenkopf für ein NMR-Spektrometer |
DE19720677C1 (de) | 1997-05-16 | 1998-10-22 | Spectrospin Ag | NMR-Meßvorrichtung mit gekühltem Meßkopf |
DE19956977A1 (de) * | 1998-11-27 | 2000-07-20 | Jeol Ltd | NMR-Sonde |
DE19946371C1 (de) | 1999-09-28 | 2001-06-13 | Bruker Ag Faellanden | Verbindungskonzept zwischen Kryokühlsystemen und gekühlten NMR-Probenköpfen in einer NMR-Meßvorrichtung mit Kühlanlage und Transferleitung |
-
2003
- 2003-12-04 JP JP2003405926A patent/JP4133777B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2003-12-24 EP EP03258170A patent/EP1435525B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-24 DE DE60333980T patent/DE60333980D1/de not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-01-05 US US10/751,669 patent/US6914430B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1435525A2 (en) | 2004-07-07 |
JP2004233337A (ja) | 2004-08-19 |
US6914430B2 (en) | 2005-07-05 |
EP1435525A3 (en) | 2004-11-24 |
DE60333980D1 (de) | 2010-10-14 |
US20050122107A1 (en) | 2005-06-09 |
EP1435525B1 (en) | 2010-09-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4133777B2 (ja) | 核磁気共鳴プローブ | |
JP4960539B2 (ja) | ゼロ・ボイルオフ冷凍剤冷却式再凝縮形超伝導磁石集成体 | |
JP4908960B2 (ja) | 超伝導磁石装置および磁気共鳴イメージング装置 | |
JP4031121B2 (ja) | クライオスタット装置 | |
US7514922B2 (en) | Vacuum container for cooled magnetic resonance probe head | |
US10203067B2 (en) | Automatic thermal decoupling of a cold head | |
US7358736B2 (en) | Low temperature probe for NMR and NMR device | |
US6466019B2 (en) | Cooled NMR probe head comprising a device for centering the sample | |
US7570053B2 (en) | NMR measurement method | |
JP2010513924A (ja) | 電界シールドを有し、冷却された常伝導金属およびhtsnmrプローブコイル | |
JP6200159B2 (ja) | 電子常磁性共鳴システムのための超低振動無冷媒クライオスタット | |
JP3587844B1 (ja) | 超伝導磁石装置及びそれを用いた磁気共鳴イメージング装置 | |
Wang et al. | A vibration free cryostat using pulse tube cryocooler | |
US4225818A (en) | Cryogenic nuclear gyroscope | |
JP2006319319A (ja) | 熱的に補償されたセンタリング機構を有するクライオスタット構造 | |
JP2004212354A (ja) | 核磁気共鳴プローブ | |
Berlinger et al. | Two multipurpose EPR cavities for applications between 1.6 and 1300 K | |
EP3674737A1 (en) | Method for tuning a resonance frequency of an rf coil for a magnetic resonance system, a cryogenic device and magnectic resonance system assembly comprising such cryogenic device | |
JP4313333B2 (ja) | 核磁気共鳴計測装置 | |
JP2005121455A (ja) | Nmr計測装置 | |
JP2004325439A (ja) | Nmr測定方法およびnmr装置 | |
JP3851215B2 (ja) | 超電導マグネット装置 | |
JP2005185319A (ja) | 超電導磁石装置及び磁気共鳴イメージング装置 | |
JP2024020156A (ja) | Nmr磁石システムにおける温度誘発型のシムドリフトの受動的低減 | |
JPH05215829A (ja) | 核磁気共鳴装置のプローブ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060721 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080128 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080219 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080324 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080507 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080602 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110606 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4133777 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120606 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120606 Year of fee payment: 4 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120606 Year of fee payment: 4 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130606 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |