JP4105778B2 - 気流搬送装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は被処理物を気流によって搬送路内を浮上搬送する搬送装置、特に半導体製造装置において半導体ウエハを搬送する気流搬送装置において使用するパーティクル集塵装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体製造装置においては半導体ウエハを各プロセス装置間に搬送するために搬送装置を用いている。この種の搬送装置としては半導体ウエハカセット治具を搬送車に積載して搬送する搬送装置、半導体ウエハを一枚毎にロボットアームで搬送する搬送装置が一般的である。しかし、これらの搬送装置においては半導体ウエハの処理空間の雰囲気は大気中であり、充分な高清浄雰囲気空間となっていない。最近では半導体ウエハカセット治具を密閉容器に入れて搬送する方法もあるが容器材質・気密用ガスケット等からの汚染が解決されていない。
【0003】
このため、半導体ウエハを気流(エアベアリング)によって搬送路内を搬送する気流搬送装置が試作されており、この気流搬送装置は搬送路内をクローズドタイプ(密閉系)にすることができるから、充分な高清浄雰囲気空間とする事ができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、気流搬送装置においては、装置内に発塵部がなく清浄空間を維持する構造となっていても、外部から持ち込まれる 例えば半導体ウエハに付着していたパーティクルが装置内で離脱する場合も有り得る。
【0005】
これらのパーティクルが他の清浄な半導体ウエハに付着するという問題がある。そして半導体ウエハに形成される半導体集積回路等の微細化、高性能化に伴って汚染や付着物に対する許容限度が殆ど許されなくなりつつあることを考慮すれば、半導体製造装置の信頼度や半導体ウエハの生産性(歩留り)向上などの点から、上記問題は重要な問題となる。
【0006】
本発明は上記の課題を解決するためになされたもので、搬送路内のパーティクルが被処理物に付着するのを防止できる、パーティクル集塵除去装置を提供する事を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明の気流搬送装置は、被処理物を気流によって搬送する気流搬送装置において、搬送路を形成する除塵対象面である搬送面および搬送路隔壁を表面に絶縁層を生成させた導電性材料で作り、被処理物と対面する該搬送路隔壁側に面状の集塵電極を設け、該搬送面にはガス噴射孔が複数設けられ、該ガス噴射孔から気流を噴射しつつ集塵電極と除塵対象面との距離を2.0mmより小とするための手段を設け、さらに搬送面と集塵電極との間および搬送路隔壁と集塵電極との間に電圧を印加するための手段を設けたことを特徴とする。
前記集塵電極と除塵対象面とを近接させるための手段は、該搬送面と該搬送路隔壁との間に収縮可能な構造体が設けられ微動昇降装置により該搬送路隔壁及び該集塵電極は該搬送面との間隔が調節可能となっていることを特徴とする。
【0008】
上記の集塵電極として表面抵抗率が5×105〜108Ω・cmの半導電性材料の板状体又はフォイルを使用することが好ましい。
上記の集塵電極と除塵対象である搬送面との距離および搬送路隔壁との距離を2.0mmより小とすることが好ましい。0.2〜0.5mmがより好ましい。
【0009】
上記の搬送面と搬送路隔壁と集塵電極との間に電界を発生させる回路と、該印加電界の正極性と負極性とを任意に切替可能な電源装置を具備することが好ましい。
パーティクルの集塵除去時に集塵電極と搬送面・搬送路隔壁との距離を気膜によって絶縁を維持するよう該ガス噴射孔に接続されている噴射ガス供給装置が該ガス噴射孔からの気流の噴射量を調整したことが好ましい。
【0010】
本発明の気流搬送装置は、被処理物を気流によって搬送する気流搬送装置において、搬送路を形成する除塵対象面である搬送面および搬送路隔壁を表面に絶縁層を生成させた導電性材料で作り、予め帯電させた半導電性板状体を上記搬送路上に浮上搬送するための手段を設け、該半導体性板状体を集塵電極としたことを特徴とする。
【0011】
装置内に侵入したパーティクルは、重力、ブラウン運動、慣性運動、静電気力、ブラウン拡散、Van der Waals力等種々の影響力を受けて搬送面・搬送路隔壁に付着する。パーティクルサイズが1μm以下になると、これをドライの処理条件で高清浄雰囲気を維持しながら集塵除去することは極めて困難である。高清浄雰囲気を維持しながら除去する手段としては静電気力(クーロン力)が最も有力であるが実験の結果、パーティクルの材質(金属等の良導体、半導体、不導体、樹脂)に係わらず除去は困難であった。
【0012】
静電気力でパーティクルを離脱させるためには、前記付着力を弱めて置くこと及び静電誘導により帯電し易くすることが必要である。
【0013】
実験の結果、表面に薄い酸化膜の絶縁層を生成させた導電性材料を採用し、絶縁層の表面にあるパーティクルに電界を加えると静電気力で容易に離脱することが判明した。この場合パーティクルは、前述した種々の影響力が弱められたためと考えられる。
【0014】
電気絶縁層を生成させた導電性材料で、高清浄雰囲気を維持できるものとして、重金属汚染を避け水分やその他のガス放出も少ない高純度アルミニューム・アルミニューム合金材料の表面にAl2O3を生成させたもの及びステンレススチールSUS316Lの表面にCr2O3をそれぞれ5〜10μm生成させたものが適する。酸化物でなくとも窒化物でもよい。
絶縁物として、誘電率の高いものは電界によって分極しパーティクルの離脱を妨げ、またクーロン力を弱めるので誘電体は適さない。
【0015】
パーティクルを静電気力で集塵電極に捕獲した場合、そのパーティクルの電気抵抗率が105Ω・cm未満のものは電荷を失い、電界による静電誘導で逆方向の静電吸引力を受け搬送面・搬送路隔壁に向かい、再荷電・再捕獲を繰り返す、いわゆる誘電再飛散が発生する。
【0016】
純アルミニューム(Al100)のパーティクルを用意し、集塵電極の表面抵抗が小さい程、またパーティクルサイズが大きい場合、発生し易い。表面対抗108Ω・cmの誘電性板を集塵電極にすることで20μm以下の導電性パーティクルは再飛散を防止できることが判明した。これはパーティクルの電荷の中和を遅らせるため、またサイズの小さいパーティクルはいったん捕獲されるとVander Waals力が支配的になるためと考えられる。
【0017】
前述した絶縁層状のパーティクルは材質の種類に係わらず不導体同様であり、これを静電誘導で帯電させ集塵するためには、集塵電極と搬送面・搬送路隔壁との電極間隔を極めて近接させることが効果的である。実験による結論から間隔を2.0mm未満、より好ましくは0.2mm〜0.5mmとし、印加電圧を1kV〜2.5Vとすることで1μm以下のパーティクルの集塵に成功した。
【0018】
請求項6に係る発明の気流搬送装置におけるパーティクル集塵方法について説明する。
本発明は、搬送面および搬送路隔壁表面を薄い絶縁層を生成させた導電性材料で作り、搬送面および搬送路隔壁で形成される搬送路内を半導電性板状体を浮上搬送させるための手段を設け、この半導電性板状体を集塵電極として搬送路内を浮上搬送するものである。集塵電極用の半導電性板状体を予め搬送面・搬送路隔壁に対し正または負に帯電させておき、これを被処理物の代わりに装置内に入れ、2mm未満より好ましくは0.2〜0.5mmの高さで浮上搬送し、パーティクルを捕獲し終わって搬送装置外にでた処でこれを回収する事で装置内のクリーニングを行う。
【0019】
この場合正負何れに帯電したパーティクルであっても確実に吸着できる。更に噴射孔4からの噴射ガス流量を増やして板状体の浮上高さを高くし、搬送路上部(天井部)1bに近接搬送することにより、これをクリーニングすると同時に搬送路内空間及び気流中に浮遊するパーティクルのクリーニングも行う。
【0020】
半導電性板状体としては、図5に示す各種のものを用いることができる。図5において白い部分は5×105〜108Ω・cmの半導電性材料からなる板状体であり、ハッチングを施した部分は、この半導電性材料からなる板状体上に形成した強誘電体帯電部である。
A〜Kの自重および静電吸引力は次のとおりである。
【0021】
【表1】
【0022】
集塵電極と搬送面・搬送路隔壁との間に電界を発生する回路と該印可電界の正負極性を任意に切り替え可能な電源装置を設け、クリーニング時に装置に電圧を印加して電界を与える。
被処理物の搬送時には集塵電極は搬送面・搬送路隔壁と同電位に接続して、被処理物に静電気障害を及ぼさない。
【0023】
パーティクルの集塵除去時に、集塵電極と搬送面・搬送路隔壁との微少間隔を保持するため、該ガス噴射孔からの気流の噴射量を調整して微少間隔に生ずる気膜によって絶縁を保持する。特に集塵電極にフォイルを採用した場合に効果的であった。
【0024】
【実施例】
図1、2は、本発明に係るパーティクル集塵装置を具備した気流搬送装置を示す概略装置の断面図である。
また、図3は本発明に係るパーティクル集塵装置を具備した気流搬送装置を示す概略断面斜視図である。
【0025】
図1において、気流搬送装置搬送路1の内面には搬送面1a及び搬送路上部隔壁(天井面)1bにより搬送路1が構成され、搬送路1は大気と遮断された密閉空間となっている。
【0026】
搬送面1aにはガス噴射孔4が複数設けられガス噴射孔4はN2ガス間の噴射ガス供給装置(図示せず)と接続されており、搬送路上部隔壁1bに近接して絶縁されたフォイル状集塵電極3が巻取ローラー2a、2b間に張りわたされ、ローラー2aを通じて電界発生用電源8に接続されている。また、搬送面1aと搬送路隔壁1bとの間にベローズ等の収縮可能な構造体7が設けられ微動昇降装置6a、6bにより搬送路隔壁1b及び集塵電極3は搬送面との間隔が調節可能となっている。
【0027】
この気流搬送装置においては図1に示すように、電源回路内スイッチ10を開き、スイッチ9を閉として集塵電極を搬送路1に接続した状態で被処理物(半導体ウエハ等)5を搬送路に入れると噴射孔4からの高純度N2ガス等により0.2〜0.5mm浮上し搬送される。噴射ガスは搬送経路内をを満たした後、排気孔10a、10b及び11a、11bから排気する。この排気量は噴射ガス総量とのバランスをとりつつ行われる。以上が通常搬送である。
【0028】
(集塵の作用)
図2は被処理物の搬送を中止し、装置内のクリーニング中のを示す。微動昇降装置6a,6bを作動して搬送路隔壁1及び集塵電極3を下降し搬送面1aに近接させ、噴射孔4から気流を噴射して集塵電極と搬送面の間に気膜を作って微少間隔の絶縁を維持する。
【0029】
次に電源回路12のスイッチ9を開き、スイッチ10を閉じて集塵電極3と搬送面1a・搬送経路隔壁1bとの間に電圧を印可する。前述したようにパーティクル除塵対象表面は絶縁層であり、パーティクルは搬送面1a・搬送路隔壁1bの基体金属から浮いた状態にあるので諸種の影響力は弱められており静電気力で容易に搬送面1a・搬送路隔壁1bから離脱して集塵電極3に到達する。集塵電極3は表面抵抗率が大きいから誘導再飛散防止して確実にパーティクルを捕捉する。また同時に搬送路空間に浮遊したパーティクルは噴射孔4からの気流に乗って集塵電極3に繰り返し近接・接触するので集塵電極3に捕捉される。
【0030】
パーティクルを捕捉下集塵電極3は巻取りロール2bに巻取り、その両面共収納するから電源を切ってもパーティクルを放出しない。一方、巻取と同時にローラー2aから送り出された新しい集塵面により次の集塵が行われる。
【0031】
集塵終了後は電源回路のスイッチ10を開き、スイッチ9を閉じて集塵電極の電荷を中和して被処理物に影響を与える静電気障害を排除する。次に微動昇降装置6a、6b(集電電極と除塵対象面とを近接させるための手段)を作動して搬送路隔壁1及び集塵電極3を通常搬送の位置に上昇させ、被処理物の気流搬送を行う。
【0032】
ある期間集塵を繰り返し、集塵フォイルの終端に近づいた場合は、図3に示したように搬送路1内の高清浄ガス圧力を装置外圧力に対して陽圧に保ち、ローラー部桟溝13aを外してローラー2aの終端部分をスペアー集塵電極ローラーフォイルにつないで交換した後、新しい清浄なフォイルを送り出す。他方のパーティクル集塵済ローラー2bは同様に交換して、パーティクルは集塵済ローラーに収納したまま除去する。
【0033】
図4は本発明に係る他の気流搬送装置におけるパーティクル集塵方法を示す概略断面図である。
搬送装置1’の搬送面1a’・搬送路隔壁1b’は、表面に薄い絶縁層を生成させた導電性材料で作り、表面抵抗率が5×105〜108Ω・cmの半導電性材料で作った板状体3’を集塵電極として浮上搬送するものである。
【0034】
半導電性板状体を浮上搬送するためには、被処理物を浮上搬送すると同様に、気流を下面から噴射すればよい。したがって、被処理物を浮上搬送するための構成を半導電性板状体を浮上搬送するための手段として用いることができる。
【0035】
集塵電極用の半導電性板状体3’を複数枚用意し、搬送面1a’・搬送路隔壁1b’に対し、予め正または負に帯電させた状態で被処理物5の代わりに装置1’内に入れ、搬送面上に2mm未満、好ましくは0.2〜0.5mmの高さで浮上搬送する。
搬送面1a’のパーティクルは前述の集塵条件と同様なので容易に集塵でき、集塵電極用の半導電性板状体3’は搬送装置1’を出たところで回収する。
【0036】
これを複数枚次々に搬送することで装置1’内のクリーニングを行う。また、正、負、何れに帯電したパーティクルであっても、負及び正に帯電させた集塵板状体3’を搬送するので、確実に集塵でき、さらに噴射孔4’からの噴射ガス流量をまして集塵板状体3’の浮上高さを高くし、搬送路隔壁1b’に近接して搬送することによりこれをクリーニングすると共に搬送路内空間及び気流中に浮遊するパーティクルのクリーニングも行う。
【0037】
なお、図1に示した集塵電極面と除塵対象面とを近接させるための手段を設けてもよい。
本例では搬送路うちの構造は極めてシンプルとなり発塵部分がない。
【0038】
なお、上述実施の形態においては、被処理物が半導体ウエハの場合について説明したが、ガラス基板等の他の被処理物を搬送する気流搬送装置にも本発明を適用することができる。
【0039】
また、本案は気流搬送装置におけるパーティクル集塵装置について説明したが、各種半導体製造装置の隔壁面に付着したパーティクルの除去についても本発明を適用することができる。
【0040】
なお、搬送路内は、常圧でもいいが、400Torrの減圧下、あるいは50Torrまでの減圧下でもよい。かかる減圧下でも被処理物あるいは半導電性板状体を浮上搬送することができる。
【0041】
【発明の効果】
図1、2、3に示したような集塵装置を具備した気流搬送装置においては搬送路を大気に解放することなく集塵作用を行うことができ、装置内のパーティクルを確実に除去することができるから、搬送路内のパーティクルが被処理物に付着することがない。
【0042】
また、図4に示したような構造の気流搬送装置とし、予め帯電させた半導電性板状体を集塵電極として、被処理物の代わりに浮上搬送させた場合は、なんら装置に操作を加えることなく、搬送路を大気に解放されることなしに装置内クリーニングを随時行うことができる。
【0043】
搬送装置も可動部がなく極めてシンプルな静止機器であるので発展がない。
本案によるクリーニングは、集塵用板状体を複数枚用意して次々に繰り返し実施でき、負または正、何れに帯電したパーティクルにも対応することができるから、搬送路内のパーティクルが被処理物に付着することがない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る集塵装置を具備した気流搬送装置における被処理物搬送時の概略断面図である。
【図2】本発明に係る集塵装置を具備した気流搬送装置における搬送路内クリーニング時の概略断面図である。
【図3】本発明に係る気流搬送装置の集塵電極部及び搬送面の一部を示す概略断面図である。
【図4】本発明に係る他の気流搬送装置におけるパーティクル集塵方法を示す概略断面図である。
【図5】半導電性板状体の平面図である。
【符号の説明】
1 気流搬送装置本体、
2 集塵電極収納ローラー、
3 集塵電極、
4 気体噴射孔、
5 被処理物、
6 微動昇降装置、
7 ベローズ等収縮可能体、
8 電界発生用電源、
9 短絡スイッチ、
10 正負切替スイッチ、
11 排気、
12 排気、
13 ローラー部機構。
Claims (5)
- 被処理物を気流によって搬送する気流搬送装置において、搬送路を形成する除塵対象面である搬送面および搬送路隔壁を表面に絶縁層を生成させた導電性材料で作り、被処理物と対面する該搬送路隔壁側に面状の集塵電極を設け、該搬送面にはガス噴射孔が複数設けられ、
該ガス噴射孔から気流を噴射しつつ集塵電極と除塵対象面との距離を2.0mmより小とするための手段を設け、さらに搬送面と集塵電極との間および搬送路隔壁と集塵電極との間に電圧を印加するための手段を設けたことを特徴とする気流搬送装置。 - 前記集塵電極と除塵対象面とを近接させるための手段は、該搬送面と該搬送路隔壁との間に収縮可能な構造体が設けられ微動昇降装置により該搬送路隔壁及び該集塵電極は該搬送面との間隔が調節可能となっていることを特徴とする請求項1に記載の気流搬送装置。
- 上記の集塵電極として表面抵抗率が5×105〜108Ω・cmの半導電性材料の板状体又はフォイルを使用することを特徴とする請求項1又は2に記載の装置。
- 上記の搬送面と搬送路隔壁と集塵電極との間に電界を発生させる回路と、該印加電界の正極性と負極性とを任意に切替可能な電源装置を具備したことを特徴とした請求項1ないし3のいずれか1項に記載の気流搬送装置。
- パーティクルの集塵除去時に集塵電極と搬送面・搬送路隔壁との距離を気膜によって絶縁を維持するよう該ガス噴射孔に接続されている噴射ガス供給装置が該ガス噴射孔からの気流の噴射量を調整したことを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の気流搬送装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10793597A JP4105778B2 (ja) | 1997-04-24 | 1997-04-24 | 気流搬送装置 |
TW087106285A TW397717B (en) | 1997-04-24 | 1998-04-23 | Air stream delivery apparatus |
PCT/JP1998/001913 WO1998047798A1 (fr) | 1997-04-24 | 1998-04-24 | Machine-transfert a flux d'air |
US09/403,380 US6315501B1 (en) | 1997-04-24 | 1998-04-24 | Air stream particulate collecting transfer apparatus |
KR1019997009880A KR100630895B1 (ko) | 1997-04-24 | 1998-04-24 | 기류반송장치 |
EP98917684A EP1018477A1 (en) | 1997-04-24 | 1998-04-24 | Air stream transfer apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10793597A JP4105778B2 (ja) | 1997-04-24 | 1997-04-24 | 気流搬送装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10303273A JPH10303273A (ja) | 1998-11-13 |
JP4105778B2 true JP4105778B2 (ja) | 2008-06-25 |
Family
ID=14471788
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10793597A Expired - Fee Related JP4105778B2 (ja) | 1997-04-24 | 1997-04-24 | 気流搬送装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6315501B1 (ja) |
EP (1) | EP1018477A1 (ja) |
JP (1) | JP4105778B2 (ja) |
KR (1) | KR100630895B1 (ja) |
TW (1) | TW397717B (ja) |
WO (1) | WO1998047798A1 (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001010724A (ja) * | 1999-06-28 | 2001-01-16 | Watanabe Shoko:Kk | 浮上搬送装置 |
KR20010086942A (ko) * | 2000-03-04 | 2001-09-15 | 안길홍 | 피-엔 타입 산화티타늄 광촉매 코팅제조 방법과 이에전류를 이용한 기상중 환경오염물질 제거장치 |
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CN1759054B (zh) * | 2003-04-03 | 2010-09-29 | 布劳恩股份有限公司 | 用于产生预定定向的装置 |
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CN103010707B (zh) * | 2012-12-17 | 2015-01-14 | 云南云铝涌鑫铝业有限公司 | 气垫带式输送机装置 |
NL2010471C2 (en) * | 2013-03-18 | 2014-09-24 | Levitech B V | Substrate processing apparatus. |
WO2020123204A2 (en) * | 2018-12-13 | 2020-06-18 | Corning Incorporated | Conveying apparatus and methods for conveying ribbon |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2348131A1 (fr) * | 1976-04-13 | 1977-11-10 | Ibm | Dispositif de transport d'articles sur support fluide |
JPS6221623A (ja) * | 1985-07-19 | 1987-01-30 | Hitachi Ltd | 搬送装置 |
JPH09219432A (ja) * | 1996-02-14 | 1997-08-19 | Hitachi Ltd | 気流搬送装置 |
-
1997
- 1997-04-24 JP JP10793597A patent/JP4105778B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-04-23 TW TW087106285A patent/TW397717B/zh active
- 1998-04-24 KR KR1019997009880A patent/KR100630895B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1998-04-24 US US09/403,380 patent/US6315501B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-04-24 WO PCT/JP1998/001913 patent/WO1998047798A1/ja active IP Right Grant
- 1998-04-24 EP EP98917684A patent/EP1018477A1/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1018477A1 (en) | 2000-07-12 |
WO1998047798A1 (fr) | 1998-10-29 |
KR20010020278A (ko) | 2001-03-15 |
TW397717B (en) | 2000-07-11 |
JPH10303273A (ja) | 1998-11-13 |
US6315501B1 (en) | 2001-11-13 |
KR100630895B1 (ko) | 2006-10-02 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A521 | Written amendment |
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|
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|
A521 | Written amendment |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
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