JP3882252B2 - Contactless semiconductor contactor - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、サイリスタをパワー素子として主回路を開閉する無接点式半導体接触器,特にその組立構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
在来の電磁接触器(有接点式接触器)に置き代わる無接点式接触器として、サイリスタを主回路の開閉素子として採用した通称ソリッドステートコンタクタと呼ばれる半導体接触器が公知であり、その具体的な構成が例えば特公平4−31442号公報に開示されている。
【0003】
かかる半導体接触器は、電磁接触器の主接点に相当するパワー素子(開閉素子)からなるパワー部と、パワー素子の制御部と、パワー部,制御部を組み込んだケースとの組立体からなる。ここで、主回路のパワー素子には、1相当たり2個の逆阻止3端子サイリスタを逆並列に接続したもの,もしくは2方向性3端子サイリスタ(トライアック)を採用し、このサイリスタチップの主面(アノード,カソード端子、あるいはトライアックのT1端子, T2端子)にモリブデン,銅板などのヒートスプレッダを半田付けした上で主回路端子フレームとともにセラミックス基板などの絶縁基板上に半田付け実装し、これを放熱用の金属ベース上に搭載してパワー部を構成している。なお、基板として放熱用の金属ベース上に絶縁層,導体層を積層した構造の絶縁金属基板を採用したものもある。また、制御部は入力モジュール,点弧モジュール,スナバモジュールなどからなり、各モジュールは別々なプリント板として構成し、前記パワー部の上に積み重ねて配置する。なお、パワー部1,制御部2はそれぞれ別々な工程で製作され、製品の組立工程でケースと組合せて組み立て構成される。
【0004】
次に、前記半導体接触器(3相回路用)の従来構造を図8〜図10に示す。各図において、1はパワー部、2は制御部、3はパワー部1を組み込んだ外囲樹脂ケース、4は制御部2を収容して外囲樹脂ケース3の上に被せたケースカバーである。
ここで、パワー部1は放熱用の金属ベース5と、金属ベース上に搭載した絶縁基板6と、絶縁基板6の導体パターン上に主回路端子フレーム7と重ねて半田付け実装したサイリスタ(パワー素子)8との組立体からなる。また、制御部2は入力モジュール,点弧モジュール,スナバモジュールの各プリント板を上,中,下の3段に重ねた組立体としてなり、その上部には制御回路の端子台2aを備えている。一方、外囲樹脂ケース3はその対向二辺の周壁から側方に主回路端子台3aが突き出した樹脂成形品としてなり、主回路端子台3aには外部接続用の端子金具(ねじ付き端子)9が装着してあり、該端子金具9はその後端がケースの周壁を貫通して内方に突き出している。なお、主回路端子台3aには各相ごとに左右から上方に起立する仕切用の相間隔壁3bを備えている。また、ケースカバー4はその頂部の一辺に前記の制御回路端子台2aを引き出す窓穴が開口した樹脂成形品であり、外囲樹脂ケース3の上に被せた上でケース側壁に形成した係合爪3cに係止固定される。
【0005】
かかる構成の半導体接触器を組み立てるには、まず、前記パワー部1の組立体に対して、上方から外囲樹脂ケース3を被せてパワー部1の金属ベース5との間を接着固定した上で、主回路端子台3aに設けたねじ付き端子金具9の後端と主回路端子フレーム7の立ち上がり端部との間を半田接合する。さらに、主回路端子台3aに組み込んだ内部配線リード15(制御部2との渡り接続用のリード片であり、上端にクリップ式のコネクタが形成されている)とサイリスタ8のゲート端子との間を配線し、その後に外囲樹脂ケース3の内部にシリコーンゲル,エポキシ樹脂などの封止樹脂(図示せず)を充填してパワー素子を封止する。
【0006】
次に、外囲樹脂ケース3の上に制御部2の組立体を搭載した上で、制御部2と前記した内部配線リード15との間をプラグイン式に接続し、最後にケースカバー4を外囲樹脂ケース3の上に被せて製品が完成する。なお、半導体接触器の実使用時には、前記した金属ベース5の下面側に放熱フィンなどのヒートシンクを伝熱結合してサイリスタ8の通電に伴う発熱を放熱するようにしている。
なお、図11は、従来の半導体接触器におけるサイリスタのゲート電極に対するリード接続図であり、 (a) はゲート電極の端子リードと内部配線リードとの接続構造図、 (b) は (a) 図における絶縁金属基板との間に形成される漂遊容量の等価回路図である。図11 (a) で示すように、絶縁基板6の導体パターン6a上にサイリスタ8のゲート電極から引き出した端子リード8a,および内部配線リード15に接続するリードピン15aとを並べて半田付けした構成では、図11 (b) の等価回路図で表すように、サイリスタ8(トライアック)の各電極T 1 --, T 2 ,Gと絶縁基板6を挟んで対向する設置側の金属ベース5との間に、漂遊容量C T1 ,C T2 ,C G が形成される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記の組立構成になる従来の半導体接触器では、次記のような解決すべき問題点がある。すなわち、
(1) パワー部1の組立体を外囲樹脂ケース3に組み込んだ状態で、主回路端子フレーム7とケース側の端子台3aに配した端子片9との間を半田接合するには、半田付け箇所に予備半田を施すなどした上で、組立体全体を加熱炉内に通して半田付けを行うようにしている。しかして、パワー部1の端子フレーム7,サイリスタ8はあらかじめパワー部の組立工程で絶縁基板6の上に半田付けされており、前記の製品組立工程で改めて加熱炉を通して端子フレームと外部接続用の端子片との間の半田付けを行うと、パワー素子であるサイリスタには高温加熱による熱ストレスが2回加わることになる。そのためにサイリスタ素子が劣化して信頼性が低下する。
【0008】
また、先記のようにサイリスタ8を周囲環境から保護するために外囲樹脂ケース3内には封止樹脂を充填しているが、半導体接触器の製品テスト,および実使用時に加わるヒートサイクルに伴って封止樹脂が膨張,収縮すると、熱膨張率の差からサイリスタチップに応力が加わり、これが原因でサイリスタのチップにクラック,割れなどが生じて破損することがある。
【0010】
本発明は上記の点にかんがみなされたものであり、その目的は前記の課題を解決して信頼性の高い無接点式半導体接触器,特にその組立構造を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明によれば、絶縁基板上にサイリスタ,主回路端子フレームを半田付け実装してなるパワー部を、ケース側面に主回路端子台を形成した外囲樹脂ケース内に組み込み、その上部に制御部,ケースカバーを取付けて組立てた半導体接触器を対象に、次記のように構成するものとする。
【0012】
(1) 前記の主回路端子フレームを起立延長してその先端に外部接続用の端子部を形成するとともに、外囲樹脂ケースには端子台の背面壁部を切欠して端子導出窓を開口し、パワー部に外囲樹脂ケースを被せた状態で前記の端子導出窓を通して主回路端子フレームの端子部を外側へL字形に折り曲げ、主回路端子台上に直接引出すものとする。
【0013】
かかる構成によれば、パワー部の主回路端子フレームと外部接続用端子片との間の半田付け工程が不要となり、製品の全組立工程を通じてサイリスタに加わる熱的ストレスは1回のみであり、それだけパワー部の信頼性が向上する。
(2) また、前記の構成において、パワー部を外囲樹脂ケースに組み込んだ状態で主回路端子フレームの先端に形成した端子部を外囲樹脂ケースの端子台へ引き出せるようにするために、本発明では、外囲樹脂ケースの端子導出窓を端子台から起立する左右の相間隔壁の間に切欠き形成し、該端子導出窓をケースカバーの周壁から下方に延長した垂下壁部で閉塞した組立て構造とし、さらに前記の端子台から起立する相間隔壁の後端部に縦向きの凹溝を形成しておき、該凹溝にケースカバーの垂下壁部の左右側縁を嵌め込んで固定するようにしている。
【0014】
かかる構成でパワー部を外囲樹脂ケースに組み込む際には、主回路端子フレームはその外部接続用の端子部を起立させたままでパワー部に上方から外囲樹脂ケースを被せ、しかる後に端子フレームの先端端子部を外方に折り曲げ、前記の端子導出窓を通して端子台の上に導出することができる。なお、この組立状態では端子台の背面側に開口した端子導出窓が明いたままであるが、外囲樹脂ケースの上にケースカバーを被せることによりその垂下壁部で前記の端子導出窓が塞がれることになる。
【0015】
(3) さらに、本発明によれば、先記した主回路端子フレームのチップマウント部について、その周縁から起立してパワー素子を包囲する側壁部を形成することができる。かかる構成により、サイリスタの周域に充填した封止樹脂の膨張,収縮に伴って生じた熱的応力が端子フレームの側壁部で分散され、これによりサイリスタのチップに直接加わるストレスが緩和されるので信頼性が向上する。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。なお、各実施例の図中で図8〜図11に対応する同一部材には同じ符号が付してある。
〔実施例1〕
図1〜図3において、パワー部1に設けた主回路端子フレーム7は、その詳細構造を図2(a),(b) で示すように全体形状がL字形になり、その上端部には端子ねじ穴を開口した外部接続用の端子部7aが形成され、その基部には後工程で端子部7aを折り曲げ易くするために切り込み溝7bが形成されている。また、底部側のチップマウント部7cにはその周縁から上方へL字形に起立する側壁7dを形成しており、この側壁7dでマウント部7cに半田マウントしたサイリスタ8のチップ周域を包囲するようにしている。なお、図1においては制御部2(図9参照)が省略して描かれてない。
【0019】
また、パワー部1を組み込んだ外囲樹脂ケース3には、図3で示すように、主回路端子台3aの各相ごとに相間を仕切る隔壁3bの間の後面壁を切り欠き、ここにケースの内側から端子台3aの上面側に通じる端子導出窓3dを開口している。また、この端子導出窓3dに対応して左右の仕切り隔壁3bに縦向きの凹溝3eを形成し、この凹溝にケースカバー4の周壁から前記の端子導出窓3dに対応して下方へ延在する櫛歯状の垂下壁部4aを差し込んで保持するようにしている。なお、図1において、10は外囲樹脂ケース3に充填した封止樹脂、11は主回路端子台3aの穴に圧入して固定した端子のねじ座片である。
【0020】
かかる構成の半導体接触器を組立てる際には、図3で示すように、まずパワー部1の組立体に上方から外囲樹脂ケース3を被せ、該ケースの底面を金属ベース5の上に重ね合わせて接着剤で接合する。続いて主回路端子フレーム7の上部先端に形成した端子部7aを前記の切り込み溝7bを境に外側へL字状に屈曲させて前記端子導出窓3dを通して端子台3aの上面に引き出し、ねじ座片11の上に重ねる。次いで、樹脂ケース3内に封止樹脂10を充填してサイリスタ8を樹脂封止した後、樹脂ケース3の上に制御部2(図9参照)の組立体を載置固定し、最後にケースカバー4を被せて樹脂ケース3の係合爪3cに係止固定する。この場合に、前記したケースカバー4の周壁から下方に延在する垂下壁部4aの左右側縁が樹脂ケース3の端子台隔壁3bに形成した凹溝3eへ嵌合し、この位置で垂下壁部4aが樹脂ケース3の端子導出窓3dを塞いで図1の組立状態となる。
【0021】
そして、半導体接触器の実使用時には、前記の金属ベース5に放熱フィンなどのヒートシンクを結合し、電源側,負荷側の主回路導体を主回路端子台3aに引出した主回路端子フレーム7の端子部7aに直接ねじ止めして接続する。
〔実施例2〕
図4,図5は本発明の応用実施例を示すものであり、その基本構造は先記した実施例1と略同様であるが、サイリスタ8,主回路端子フレーム7を実装する基板として、伝熱性のよい銅板などの金属ベースに絶縁層,および銅箔を積層した放熱用金属ベース兼用の絶縁金属基板12を採用し、銅箔に形成した導体パターン上に熱容量の大きな銅板13(ヒートスプレッダ)を介してサイリスタ8を半田付けし、さらにサイリスタ8の側方位置で金属絶縁基板12上に図5に示すような主回路端子フレーム7を半田付けしてパワー部1を構成している。ここで、端子フレーム7はその上端部に図2で述べたと同様な外部接続用の端子部7aを形成し、実施例1と同様に外囲樹脂ケース3の周壁に開口して端子導出窓を通して端子部7aを端子台3aの上面に引出すようにしているのに対して、端子フレーム7の下端部は図示のようにU字形に屈曲してベンド部7fを形成し、その底面を前記した絶縁金属基板12の導体パターンに半田付けしている。
【0022】
〔実施例3〕
次に、サイリスタのゲート電極から引出した端子リードと制御部への接続用にパワー部内に組み込んだ内部配線リードの接続構造について、本発明の一実施例を図6に示す。この実施例においては、実施例2と同様にパワー部の基板として、金属ベース12aに絶縁層12b,銅箔12cを積層した絶縁金属基板12を採用し、銅箔12aで形成した導体パターンの上にヒートスプレッダとしての銅板13を介してサイリスタ8を半田付けしており、さらに銅板13の側方にはセラミックスなどの絶縁板の両面にメタライズを施した小片の絶縁基板14を絶縁金属基板12の上に半田付けし、該絶縁板14を半田付け用のパッドとして、ここにサイリスタ8のゲート電極から引出した端子リード8a(図11(a) 参照),および制御部2(図9参照)に通じる内部配線リード15から分岐したリードピン15aの先端を並べて半田付け接続している。
【0023】
かかる構成によれば、サイリスタ8のゲート電極から引出した端子リード8aの接続部と絶縁金属基板12の金属ベース12aとの間には、絶縁金属基板12の絶縁層12bと前記した小片の絶縁基板14とが直列に介挿されることになり、これにより図11(b) で述べた漂遊容量CG が図11(a) の従来構造と比べて半減し、その分だけゲート電極に流れ込むノイズ電流iG (図11(b) 参照)が小さく抑えられてノイズ耐量が向上する。
【0024】
〔実施例4〕
図7は、前記実施例3とは異なる一実施例を示すものである。この実施例においては、サイリスタ8のゲート電極から引出した端子リード8aを絶縁金属基板12の上へ落とさずにそのまま上方に立ち上がらせ、サイリスタ8の上方に敷設した内部配線リード15に直接半田付けして接続している。かかる構成によれば、サイリスタ8のゲート電極と絶縁金属基板12の金属ベース12aとの間には、図11(b) で述べた漂遊容量CG を含む閉ループが形成されず、これにより従来構造と比べてノズル耐量が向上する。
【0025】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、次記の効果を奏する。
(1) 請求項1の構成によれば、パワー部を外囲樹脂ケースに組み込んだ状態で、従来の製品組立てに実施していた主回路端子フレームと外部接続用端子片との間の半田付け工程が不要となる。したがって、半導体接触器の全組立工程を通じてサイリスタに加わる熱ストレスは、パワー部の組立工程でサイリスタを絶縁基板に半田付けする際の1回のみで済み、その分だけ従来と比べて製品の信頼性が向上する。
【0026】
(2) また、請求項2,3の構成を採用することにより、パワー部に外囲樹脂ケースを上方から被せた組立後の状態で、主回路端子フレームの端子部を樹脂ケースに開口した端子導出窓を通して主回路端子台上に引き出すことができて組立てが簡単に行えるとともに、パワー部の樹脂ケースにケースカバーを被せた状態では前記端子導出窓がケースカバーの垂下壁部で塞がれ、かつこの垂下壁部を樹脂ケース側の凹溝に嵌め込んで安定よく固定することができる。
【0027】
(3) さらに、請求項4の構成によれば、サイリスタの周域に充填した封止樹脂の膨張,収縮に伴って生じた熱的応力が端子フレームのチップマウント部周縁に形成した側壁部で分散され、これによりサイリスタのチップに直接加わる熱的ストレスを緩和して信頼性の向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1に対応する半導体接触器の構成断面図
【図2】図1における主回路端子フレームの構造図であり、(a) は正面図、(b) は側面図、(c) は平面図
【図3】図1の半導体接触器の組立手順を表すパワー部,外囲樹脂ケース,ケースカバーの分解斜視図
【図4】本発明の実施例2に対応する半導体接触器の構成断面図
【図5】図4における主回路端子フレームの構造図であり、(a) は正面図、(b) は側面図
【図6】本発明の実施例3に対応するサイリスタのゲート電極から引出した端子リードの接続構造図
【図7】本発明の実施例4に対応するサイリスタのゲート電極から引出した端子リードの接続構造図
【図8】従来における半導体接触器の外観斜視図
【図9】図8の内部構造を表す構成断面図
【図10】図8におけるパワー部と外囲樹脂ケースとの組立状態を表す斜視図
【図11】従来の半導体接触器におけるサイリスタのゲート電極に対するリード接続図であり、(a) はゲート電極の端子リードと内部配線リードとの接続構造図、(b) は(a) 図における絶縁金属基板との間に形成される漂遊容量の等価回路図
【符号の説明】
1 パワー部
2 制御部
3 外囲樹脂ケース
3a 主回路端子台
3b 相間隔壁
3d 端子導出窓
3e 凹溝
4 ケースカバー
4a 垂下壁部
5 金属ベース
6 絶縁基板
7 主回路端子フレーム
7a 端子部
7c チップマウント部
7d 側壁部
8 サイリスタ(パワー素子)
8a ゲート電極の端子リード
10 封止樹脂
12 絶縁金属基板
12a 金属ベース
12b 絶縁層
12c 銅箔
14 絶縁板
15 内部配線リード
15a リードピン[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a contactless semiconductor contactor that opens and closes a main circuit using a thyristor as a power element, and more particularly to an assembly structure thereof.
[0002]
[Prior art]
As a contactless contactor that replaces a conventional electromagnetic contactor (contacted contactor), a semiconductor contactor known as a solid-state contactor that employs a thyristor as a switching element of a main circuit is well known. Such a configuration is disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 4-31442.
[0003]
Such a semiconductor contactor is composed of an assembly of a power part composed of a power element (switching element) corresponding to the main contact of the electromagnetic contactor, a control part for the power element, and a case incorporating the power part and the control part. Here, the power element of the main circuit employs two reverse-blocking three-terminal thyristors connected in reverse parallel per phase, or a bi-directional three-terminal thyristor (triac), and the main surface of this thyristor chip (anode, cathode terminal or triac T 1 terminal,, T 2 terminal) molybdenum, the heat spreader, such as soldered to soldering on an insulating substrate such as a ceramic substrate mounted with the main circuit terminal frame on the copper plate, it The power unit is mounted on a metal base for heat dissipation. Some substrates employ an insulating metal substrate having a structure in which an insulating layer and a conductor layer are laminated on a metal base for heat dissipation. The control unit includes an input module, an ignition module, a snubber module, and the like. Each module is configured as a separate printed board, and is stacked on the power unit. The
[0004]
Next, the conventional structure of the semiconductor contactor (for three-phase circuit) is shown in FIGS. In each figure, 1 is a power unit, 2 is a control unit, 3 is an enclosing resin case in which the
Here, the
[0005]
In order to assemble the semiconductor contactor having such a configuration, first, the assembly of the
[0006]
Next, after mounting the assembly of the control unit 2 on the surrounding
FIG. 11 is a lead connection diagram for the gate electrode of the thyristor in the conventional semiconductor contactor, (a) is a connection structure diagram of the terminal lead of the gate electrode and the internal wiring lead, and (b) is a diagram (a) . It is an equivalent circuit schematic of the stray capacity formed between the insulated metal substrates in FIG. As shown in FIG. 11 (a), the in
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, the conventional semiconductor contactor having the above assembly configuration has the following problems to be solved. That is,
(1) In the state in which the assembly of the
[0008]
In addition, as described above, in order to protect the
[0010]
The present invention has been considered in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a highly reliable contactless semiconductor contactor, particularly an assembly structure thereof, by solving the above-mentioned problems.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, according to the present invention, a power part formed by soldering and mounting a thyristor and a main circuit terminal frame on an insulating substrate is provided in an outer resin case in which a main circuit terminal block is formed on the side of the case. It is assumed that the semiconductor contactor is assembled and assembled as follows, with the controller and case cover attached to the top.
[0012]
(1) The main circuit terminal frame is extended upright to form a terminal portion for external connection at the tip, and the outer resin case is notched with the back wall portion of the terminal block to open a terminal lead-out window. The terminal portion of the main circuit terminal frame is bent outwardly into an L-shape through the terminal lead-out window in a state in which the surrounding resin case is covered with the power portion, and is directly drawn out onto the main circuit terminal block.
[0013]
According to such a configuration, the soldering process between the main circuit terminal frame of the power section and the external connection terminal piece is not required, and the thermal stress applied to the thyristor is only once throughout the entire assembly process of the product. The reliability of the power section is improved.
(2) Further, in the above configuration, in order to allow the terminal portion formed at the tip of the main circuit terminal frame with the power portion incorporated in the surrounding resin case to be pulled out to the terminal block of the surrounding resin case, In the invention, the terminal lead-out window of the outer resin case is notched between the left and right phase interval walls rising from the terminal block, and the terminal lead-out window is closed by a hanging wall portion extending downward from the peripheral wall of the case cover. A vertical groove is formed in the rear end portion of the phase interval wall standing up from the terminal block, and the right and left side edges of the hanging wall portion of the case cover are fitted into the groove to be fixed. I have to.
[0014]
When the power part is incorporated into the outer resin case with such a configuration, the main circuit terminal frame covers the power resin part from above with the outer resin terminal part standing upright, and then the terminal frame of the terminal frame. The tip terminal portion can be bent outward and led out onto the terminal block through the terminal lead-out window. In this assembled state, the terminal lead-out window opened on the back side of the terminal block remains clear, but the terminal lead-out window is blocked by the hanging wall portion by covering the case resin cover on the outer resin case. Will be removed.
[0015]
(3) Further, according to the present invention, the side wall portion that stands up from the periphery of the chip mount portion of the main circuit terminal frame described above and surrounds the power element can be formed. With this configuration, the thermal stress generated along with the expansion and contraction of the sealing resin filled in the peripheral area of the thyristor is dispersed on the side wall portion of the terminal frame, thereby reducing the stress directly applied to the thyristor chip. Reliability is improved.
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same member corresponding to FIGS. 8-11 in the figure of each Example.
[Example 1]
1 to 3, the main
[0019]
Further, as shown in FIG. 3, the surrounding
[0020]
When assembling the semiconductor contactor having such a configuration, as shown in FIG. 3, first, the assembly of the
[0021]
When the semiconductor contactor is actually used, a terminal of the main
[Example 2]
4 and 5 show an applied embodiment of the present invention, and its basic structure is substantially the same as that of the first embodiment described above. However, as a substrate on which the
[0022]
Example 3
Next, FIG. 6 shows an embodiment of the present invention regarding the connection structure of the terminal lead drawn from the gate electrode of the thyristor and the internal wiring lead incorporated in the power section for connection to the control section. In this embodiment, as in the second embodiment, an insulating
[0023]
According to this configuration, the insulating layer 12b of the insulating
[0024]
Example 4
Figure 7 shows an embodiment that is different from the third embodiment. In this embodiment, the
[0025]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.
(1) According to the configuration of
[0026]
(2) Further, by adopting the configuration of
[0027]
(3) Further, according to the configuration of
[Brief description of the drawings]
1 is a structural cross-sectional view of a semiconductor contactor corresponding to Example 1 of the present invention. FIG. 2 is a structural diagram of a main circuit terminal frame in FIG. 1, wherein (a) is a front view and (b) is a side view. FIGS. 3A and 3B are plan views. FIG. 3 is an exploded perspective view of a power unit, an outer resin case, and a case cover, which represent the assembly procedure of the semiconductor contactor of FIG. 1. FIG. 4 is a semiconductor corresponding to Example 2 of the invention. FIG. 5 is a structural diagram of the main circuit terminal frame in FIG. 4, (a) is a front view, and (b) is a side view. FIG. 6 is a thyristor corresponding to
DESCRIPTION OF
8a Gate
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