JP3860940B2 - Optical microscope - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学式顕微鏡に係り、詳しくは、検査対象物を観察検査しつつ、その欠陥部分等の修正やトリミング等が行える光学式顕微鏡に関する。
【0002】
【背景技術】
光学顕微鏡の1つとして、検査対象物に光を照射し、その反射光または透過光を接眼レンズを通して目視で観察する直接観察光学系のほかに、検査対象物にレーザ光を照射可能としたレーザ加工光学系を搭載したレーザ搭載型顕微鏡が知られている。このようなレーザ搭載型顕微鏡によれば、欠陥箇所を見つけたときに直接観察光学系からレーザ加工光学系に切り換え、そのレーザ加工光学系からのレーザ光によって欠陥箇所を修正することができる。
【0003】
上記レーザ搭載型顕微鏡では、直接観察光学系の観察光路およびレーザ加工光学系のレーザ光路を交差させ、これらの光路が交差する所定位置にプリズムを配置している。このプリズムにより、直接観察光学系の光路は折れ曲がったものとされる一方、レーザ加工光学系の光路は、プリズムを単に通過する直線状のものとされている。これらの光路の採用により、直接観察光学系およびレーザ加工光学系は、対物レンズの共用が可能となることから、一方から他方への切り替えを容易に行うことができる。
【0004】
ところで、直接観察光学系の観察光路およびレーザ加工光学系のレーザ光路が交差する所定位置にプリズムを配置しているので、加工時には、レーザ光がプリズムを通過し、レーザ光でプリズムを損傷するおそれがある。また、検査対象物に照射すべきレーザ光がプリズムで吸収、分散されるため、レーザ光のエネルギが失われ、レーザ光のエネルギ利用効率がよくないという問題があり、レーザ加工に用いられるレーザ光のパワーの大きさが制限され、パワーの小さいレーザ光を使用することができなかった。
これらの問題を解決するために、▲1▼プリズムを通過しないレーザ光路を別に設ける、または、▲2▼プリズムの近傍に設けた軸を中心にプリズムを回動させてレーザ光路から外れた位置に移動させることで、パワーの小さいレーザ光を使用可能な光学式顕微鏡が提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、▲1▼による光学式顕微鏡は、別の光路を形成するために光学部品が多くなってしまい高価であった。一方、▲2▼による光学式顕微鏡では、プリズムを回動させて移動させるため、プリズム自体の姿勢が変わってしまい、プリズムを元の位置に復帰させたときのプリズムの姿勢再現性(プリズムが元の姿勢に正しく復帰すること)が悪く、その結果、光軸がずれて像がぶれてしまうおそれがある。
【0006】
本発明の目的は、プリズムの姿勢を変えずにプリズムを移動させることで像のぶれが防止できるとともに、経済的に構成できる光学式顕微鏡を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明の光学式顕微鏡は、上記目的を達成するため、次の構成を採用する。
請求項1に記載の光学式顕微鏡は、検査対象物に光を照射してその反射光または透過光を観察可能な観察光学系と、検査対象物にレーザ光を照射可能なレーザ加工光学系と、前記観察光学系の観察光路および前記レーザ加工光学系のレーザ光路の交差する所定位置に配置されるプリズムとを備えた光学式顕微鏡であって、前記プリズムを、前記所定位置と、この所定位置から前記レーザ光路の直交方向へ外れた退避位置との間で移動させるプリズム移動機構が設けられ、このプリズム移動機構は、前記プリズムの移動方向に沿って平行に設けられる複数本のガイドシャフトと、これらガイドシャフトに沿って摺動可能に設けられるスライドブロックと、このスライドブロックに固定されかつ前記プリズムが載置されるプリズムホルダとを含んで構成され、前記プリズム移動機構には、前記スライドブロックを前記ガイドシャフト側に付勢する付勢手段が、前記ガイドシャフトに対して直交する少なくとも2方向に設けられていることを特徴とする。
【0008】
この発明によれば、所定位置と、この所定位置からレーザ光路の直交方向へ外れた退避位置との間で、プリズムをプリズムホルダおよびスライドブロックを介してガイドシャフトに沿って平行移動させるプリズム移動機構が設けられているから、プリズム自体の姿勢を変えずに安定してプリズムを所定位置と退避位置との間で移動させることができる。従って、光軸のずれによる像のぶれを防止できる。また、簡単な構造のプリズム移動機構であるから、経済的に構成できる。
さらに、プリズム移動機構には、スライドブロックをガイドシャフト側に付勢する付勢手段が、ガイドシャフトに対して直交する少なくとも2方向に設けられているから、ガイドシャフトとスライドブロックとの間にクリアランスがあっても、そのクリアランスの位置を一定に保持することができるので、可動部のクリアランスによってプリズムの姿勢が変わることを防止できる。このため、プリズムの移動(所定位置および退避位置間)を確実に繰り返すことができる。
【0009】
請求項2に記載の光学式顕微鏡は、請求項1に記載の光学式顕微鏡において、前記スライドブロックには、前記プリズムの移動方向に沿う軸をもった光路切換つまみが設けられていることを特徴とするものである。
この発明によれば、光路切換つまみを引っ張ったり押したりするだけで、スライドブロックを介してプリズムを移動させることができ、観察光学系およびレーザ加工光学系の各光路を容易に切り換えることができる。
【0010】
請求項3に記載の発明は、請求項1または請求項2に記載の光学式顕微鏡において、前記プリズムホルダには、前記プリズムが前記所定位置に位置しているときに前記レーザ光路を遮断するシャッタが設けられていることを特徴とするものである。
この発明によれば、プリズムが所定位置に設置されているときに、誤ってレーザ光を照射しても、シャッタによりレーザ光路が遮断されているので、レーザ光が、たとえば、直接観察光学系の接眼レンズに到達することがなく、オペレータの眼が損傷されるのを防止できる。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明する。
図1において、光学式顕微鏡1は、水平面内の二軸方向へ移動可能な載物台2と、この載物台2の鉛直方向に延びる支柱3とを備えている。このうち、支柱3には顕微鏡ユニット4が支持されており、この顕微鏡ユニット4は、支柱3に上下方向に摺動可能に設けられた昇降装置5の昇降つまみ6の回動操作によって上下方向に移動可能となっている。
【0013】
顕微鏡ユニット4には、昇降装置5に固定された第1筐体41と、この第1筐体41の上方に配置される第2筐体42とを備えている。
このうち第1筐体41の下部には、拡大倍率の異なる複数種の対物レンズ43がレボルバ44を介して取り付けられている。レボルバ44は、第1筐体41に回動可能に設けられ、このレボルバ44を回動させることにより、対物レンズ43が選択的に共通光路P1上に配置可能となっている。第1筐体41の内部には、共通光路P1上にチューブレンズ11およびビームスプリッタ12がそれぞれ配置されている。
第1筐体41の上面には、照明用光源口45が設けられ、この照明用光源口45からの光が進む照明光路P2上には、レンズ13およびミラー14がそれぞれ配置されている。照明用光源口45からの光は、ミラー14で反射してビームスプリッタ12に入射されるようになっている。
【0014】
第2筐体42の前面部には、一対の接眼レンズ46を有する双眼鏡筒47が共通光路P1に対して傾斜する観察光路P3上に取り付けられている。第2筐体42の上面部には、レーザアダプタ48を介してレーザ発振器49が取り付けられている。ここで、レーザ発振器49からのレーザ光は、レーザアダプタ48内を通ってレーザ光路P4を進む。このレーザ光路P4は、共通光路P1と一直線に連結されている。第2筐体42の内部には、共通光路P1の上端に配置される第1プリズム21と、この第1プリズム21の図中左側に隣接される第2プリズム22と、この第2プリズム22の上部に隣接される第3プリズム23とが設けられている。なお、第1プリズム21が、本発明におけるプリズムである。
これらのプリズム21,22,23により、観察光路P3は、ジグザグに折曲して共通光路P1に連結されている。このうち、第1プリズム21は、観察光路P3とレーザ光路P4とが交差する所定位置に配置されたもので、この所定位置と、所定位置からレーザ光路P4の直交方向へ外れた退避位置との間で、プリズム移動機構5により、移動可能とされている。
【0015】
図2および図3において、プリズム移動機構5は、第2筐体42内部に固定された略コ字状の保持ブロック55と、この保持ブロック55に上下に間隔を隔てて架設されかつ第1プリズム21の移動方向に平行に設けられた第1ガイドシャフト51および第2ガイドシャフト52と、これら第1および第2ガイドシャフト51,52に沿って摺動可能に設けられたスライドブロック53と、このスライドブロック53に固定されかつ第1プリズム21が載置されるプリズムホルダ54とを備えている。
【0016】
スライドブロック53には、第1ガイドシャフト51に対応しかつ第1プリズム21側に開口した摺動溝53Aと、第2ガイドシャフト52に対応した摺動孔53Bとが形成されている。このうち、摺動孔53Bには、ガイドブッシュ56が設けられており、第2ガイドシャフト52との滑りを円滑にしている。また、スライドブロック53には、第1プリズム21の移動方向に沿う軸57Aをもった光路切換つまみ57が設けられている。
この光路切換つまみ57の軸57Aは、保持ブロック55に貫通されかつ第2筐体42から突出されている。光路切換つまみ57を引っ張ったり押したりすることでスライドブロック53(つまり、第1プリズム21)が、保持ブロック55の間で第1および第2ガイドシャフト51,52に沿って摺動される。スライドブロック53の一端が保持ブロック55の一端に接触されるときが所定位置(図4参照)となっており、スライドブロック53の他端が保持ブロック55の他端に接触されるときが退避位置(図5参照)となっている。
【0017】
プリズム移動機構5には、スライドブロック53を水平方向および垂直方向にかつ第1および第2ガイドシャフト51,52側に付勢する付勢手段58A,58Bが設けられている。
付勢手段58Aは、保持ブロック55の第1および第2ガイドシャフト51,52に対応した位置にかつ水平方向それぞれ形成されたねじ孔55Aと、このねじ孔55Aに順に挿通された駒581、圧縮コイルばね582および止めねじ583とを有している。駒581は、スライドブロック53に当接されており、圧縮コイルばね582で駒581が付勢されることで、スライドブロック53が水平方向に第1および第2ガイドシャフト51,52側に付勢される。
付勢手段58Bは、スライドブロック53の第1ガイドシャフト51の上部に対応した位置にかつ垂直方向に形成されたねじ孔53Cと、このねじ孔53Cに順に挿通された駒581、圧縮コイルばね582および止めねじ583とを有している。駒581は、第1ガイドシャフト51に当接されており、圧縮コイルばね582で駒581が付勢されることで、スライドブロック53が上方に付勢される。
【0018】
プリズムホルダ54は、第1プリズム21が載置されるプリズム載置面541と、スライドブロック53に固定されるスライドブロック固定面542と、レーザ光路P4を遮断するシャッタ543とを有している。このうち、プリズム載置面541には、観察光路P3を妨げぬよう光路用孔541Aが形成されている。
【0019】
次に、本実施形態の作用を説明する。
はじめに、直接観察光学系によって検査対象物を目視で観察する。直接観察光学系で観察するにあたっては、図4に示すように、予め光学系をレーザ加工光学系から直接観察光学系に切り換えて、第1プリズム21を所定位置に移動しておく。この切り換えは、光路切換つまみ57を押して、第1プリズム21を、プリズムホルダ54およびスライドブロック53を介して第1および第2ガイドシャフト51,52に沿って所定位置まで移動させることで行う。これにより、直接観察光学系の観察光路P3が確実に形成され、検査対象物の目視観察が可能となる。また、万一観察時にレーザ光が照射されてもレーザ光路P4はシャッタ543で完全に遮断されているので、観察中のオペレータの眼を損傷することもない。
【0020】
次に、レーザ加工光学系によって検査対象物の加工を行う。レーザ加工光学系で加工するにあたっては、図5に示すように、予め光学系を直接観察光学系からレーザ加工光学系に切り換えて、第1プリズム21を退避位置に移動しておく。この切り換えは、光路切換つまみ57を引っ張って、第1プリズム21を、プリズムホルダ54およびスライドブロック53を介して第1および第2ガイドシャフト51,52に沿って退避位置まで移動させることで行う。これにより、レーザ加工光学系のレーザ光路P4が形成され、検査対象物のレーザ加工が可能となる。この際、第1プリズム21がレーザ光路P4から外れた退避位置にあるので、第1プリズム21の損傷がないうえ、検査対象物に照射すべきレーザ光が第1プリズム21で吸収、分散されることもない。
【0021】
上述のような本実施形態によれば、次のような効果がある。
すなわち、本実施形態では、第1プリズム21を、プリズムホルダ54およびスライドブロック53を介して第1および第2ガイドシャフト51,52に沿って、所定位置と、この所定位置からレーザ光路P4の直交方向へ外れた退避位置との間で移動させるプリズム移動機構5が設けられているから、第1プリズム21自体の姿勢を変えずに安定して第1プリズム21を所定位置と退避位置との間で移動させることができる。また、簡単な構造のプリズム移動機構5であるから、経済的に構成できる。
【0022】
プリズム移動機構5のスライダブロック53には、第1プリズム21の移動方向に沿う軸57Aをもった光路切換つまみ57が設けられているから、この光路切換つまみ57を引っ張ったり押したりするだけで、スライドブロック53を介して第1プリズム21を移動させることができ、直接観察光学系およびレーザ加工光学系の各光路P3,P4を容易に切り換えることができる。
【0023】
プリズム移動機構5のプリズムホルダ54には、レーザ光路P4を遮断するシャッタ543が設けられているので、第1プリズム21が所定位置に位置されているときに、誤ってレーザ光を照射しても、シャッタ543により、レーザ光が直接観察光学系の接眼レンズ46に到達することがなく、オペレータの眼が損傷されるのを防止できる。
【0024】
プリズム移動機構5には、スライドブロック53を水平方向および垂直方向にかつ第1および第2ガイドシャフト51,52側に付勢する付勢手段58A,58Bが設けられているいるから、第1および第2ガイドシャフト51,52とスライドブロック53との間のクリアランスの位置を一定に保持でき、第1プリズム21の姿勢を変えることなく、第1プリズム21の移動(所定位置および退避位置間)を繰り返すことができる。
また、付勢手段58A,58Bにおいて、各ねじ孔55A,53Cに対して止めねじ583の挿通位置を調節することで、圧縮コイルばね582のばね圧を調整できるので、駒581を適切な圧力でスライドブロック53および第1ガイドシャフト51に当接できる。
【0025】
なお、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良は、本発明に含まれるものである。
たとえば、前記実施形態では、スライドブロック53を水平方向および垂直方向に第1および第2ガイドシャフト51,52側に付勢する付勢手段58が、保持ブロック55およびスライドブロック53に設けられているが、たとえば、付勢手段を全て保持ブロック側に設けてもよい。また、付勢する方向においても水平および垂直方向に限らず、斜め方向等から付勢してもよく、要するに、スライドブロックをガイドシャフト側に付勢する付勢手段が、ガイドシャフトに対して直交する少なくとも2方向に設けられていればよい。
【0026】
前記実施形態では、プリズムホルダ54にシャッタ543が設けられているが、本発明に係るプリズムホルダはこれに限定されるものではなく、シャッタは設けられなくともよいが、オペレータの眼の保護のためにも設けられた方が望ましい。
【0027】
前記実施形態では、スライドブロック57に光路切換つまみ57を設け、この光路切換つまみ57を引っ張ったり押したりすることで、第1プリズム21を移動させているが、たとえば、モータ等で第1プリズムを移動させてもよい。
【0028】
前記実施形態のプリズム移動機構5では、2本のガイドシャフト51,52が上下に間隔を隔てて設けられているが、本発明に係るガイドシャフトはこれに限定されるものではなく、左右に間隔を隔てて設けられてもよい。また、2本の第1および第2ガイドシャフト51,52を用いているが、3本以上のガイドシャフトを用いてもよい。
【0029】
前記実施形態では、観察光学系として接眼レンズによる直接観察光学系を挙げているが、たとえば、レーザアダプタ48を取り外して、別のアダプタを用いることで、テレビ画像による観察光学系を利用してもよい。
【0030】
前記実施形態では、光を照明用光源口45から取り入れているが、たとえば、ビームスプリッタ12とミラー14との間の光路上に別の光源を設置することで光を顕微鏡ユニット4内に取り入れてもよい。
【0031】
【発明の効果】
本発明の光学式顕微鏡によれば、プリズムの損傷を未然に防止できるうえ、レーザ光のエネルギ利用効率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光学式顕微鏡の一実施形態を示す一部破断した側面図である。
【図2】前記実施形態の要部を示した拡大断面図である。
【図3】前記要部を示した平面図である。
【図4】前記実施形態の作用(所定位置)を示す断面図である。
【図5】前記実施形態の他の作用(退避位置)を示す断面図である。
【符号の説明】
1 光学式顕微鏡
5 プリズム移動機構
21 プリズムである第1プリズム
51,52 ガイドシャフトである第1および第2ガイドシャフト
53 スライドブロック
54 プリズムホルダ
57 光路切換つまみ
58A,58B 付勢手段
543 シャッタ
P3 観察光路
P4 レーザ光路[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical microscope, and more particularly to an optical microscope capable of correcting or trimming a defective portion or the like while observing and inspecting an inspection object.
[0002]
[Background]
As one of the optical microscopes, in addition to a direct observation optical system for irradiating light to an inspection object and visually observing the reflected light or transmitted light through an eyepiece lens, a laser capable of irradiating the inspection object with laser light A laser-mounted microscope equipped with a processing optical system is known. According to such a laser-mounted microscope, it is possible to directly switch from the observation optical system to the laser processing optical system when a defect portion is found, and to correct the defect portion with the laser light from the laser processing optical system.
[0003]
In the laser-mounted microscope, the observation optical path of the direct observation optical system and the laser optical path of the laser processing optical system are intersected, and a prism is disposed at a predetermined position where these optical paths intersect. The optical path of the direct observation optical system is bent by this prism, while the optical path of the laser processing optical system is a straight line that simply passes through the prism. By employing these optical paths, the direct observation optical system and the laser processing optical system can share the objective lens, so that switching from one to the other can be easily performed.
[0004]
By the way, since the prism is disposed at a predetermined position where the observation optical path of the direct observation optical system and the laser optical path of the laser processing optical system intersect, the laser light may pass through the prism during processing, and the prism may be damaged by the laser light. There is. In addition, since the laser light to be irradiated onto the inspection object is absorbed and dispersed by the prism, there is a problem that the energy of the laser light is lost and the energy utilization efficiency of the laser light is not good. The magnitude of the power of the laser beam was limited, and it was not possible to use a laser beam with a low power.
In order to solve these problems, (1) a laser beam path that does not pass through the prism is provided separately, or (2) the prism is rotated around an axis provided in the vicinity of the prism, and is moved away from the laser beam path. There has been proposed an optical microscope capable of using a laser beam with low power by being moved.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
However, the optical microscope according to (1) is expensive because of the increase in the number of optical components for forming another optical path. On the other hand, in the optical microscope according to (2), since the prism is rotated and moved, the posture of the prism itself changes, and the prism reproducibility when the prism is returned to the original position (the prism is the original). To return to the correct posture), and as a result, the optical axis may be shifted and the image may be blurred.
[0006]
An object of the present invention is to provide an optical microscope that can prevent image blurring and can be economically constructed by moving the prism without changing the posture of the prism.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
The optical microscope of the present invention employs the following configuration in order to achieve the above object.
The optical microscope according to
[0008]
According to the present invention, the prism moving mechanism that translates the prism parallel to the guide shaft via the prism holder and the slide block between the predetermined position and the retracted position that deviates from the predetermined position in the orthogonal direction of the laser optical path. Therefore, the prism can be stably moved between the predetermined position and the retracted position without changing the posture of the prism itself. Therefore, it is possible to prevent image blurring due to the deviation of the optical axis. In addition, since the prism moving mechanism has a simple structure, it can be constructed economically.
Further, since the prism moving mechanism is provided with urging means for urging the slide block toward the guide shaft in at least two directions orthogonal to the guide shaft, a clearance is provided between the guide shaft and the slide block. Even if there is, the position of the clearance can be kept constant, so that the posture of the prism can be prevented from changing due to the clearance of the movable part. For this reason, the movement of the prism (between the predetermined position and the retracted position) can be reliably repeated.
[0009]
The optical microscope according to
According to the present invention, the prism can be moved through the slide block simply by pulling or pushing the optical path switching knob, and the optical paths of the observation optical system and the laser processing optical system can be easily switched.
[0010]
According to a third aspect of the present invention, in the optical microscope according to the first or second aspect, the prism holder includes a shutter that blocks the laser light path when the prism is located at the predetermined position. Is provided.
According to the present invention, even when laser light is accidentally irradiated when the prism is installed at a predetermined position, the laser light path is blocked by the shutter. It is possible to prevent the eye of the operator from being damaged without reaching the eyepiece.
[0012]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
In FIG. 1, an
[0013]
The microscope unit 4 includes a
Among these, a plurality of types of
An illumination
[0014]
A
By these
[0015]
2 and 3, the
[0016]
The
The
[0017]
The
The biasing means 58A includes a
The biasing means 58B includes a screw hole 53C formed in a vertical direction at a position corresponding to the upper portion of the
[0018]
The
[0019]
Next, the operation of this embodiment will be described.
First, the inspection object is visually observed by a direct observation optical system. When observing with the direct observation optical system, as shown in FIG. 4, the optical system is switched from the laser processing optical system to the direct observation optical system in advance, and the
[0020]
Next, the inspection object is processed by the laser processing optical system. When processing with the laser processing optical system, as shown in FIG. 5, the optical system is switched from the direct observation optical system to the laser processing optical system in advance, and the
[0021]
According to this embodiment as described above, the following effects are obtained.
In other words, in the present embodiment, the
[0022]
Since the
[0023]
Since the
[0024]
The
Further, in the biasing means 58A, 58B, the spring pressure of the
[0025]
It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and modifications and improvements within a scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.
For example, in the embodiment, the holding
[0026]
In the above embodiment, the
[0027]
In the embodiment, the
[0028]
In the
[0029]
In the above embodiment, a direct observation optical system using an eyepiece is cited as the observation optical system. However, for example, by removing the
[0030]
In the above-described embodiment, light is taken in from the illumination
[0031]
【The invention's effect】
According to the optical microscope of the present invention, the prism can be prevented from being damaged, and the energy utilization efficiency of the laser beam can be improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a partially broken side view showing an embodiment of an optical microscope according to the present invention.
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view showing a main part of the embodiment.
FIG. 3 is a plan view showing the main part.
FIG. 4 is a sectional view showing an operation (predetermined position) of the embodiment.
FIG. 5 is a cross-sectional view showing another operation (retraction position) of the embodiment.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記プリズムを、前記所定位置と、この所定位置から前記レーザ光路の直交方向へ外れた退避位置との間で移動させるプリズム移動機構が設けられ、このプリズム移動機構は、前記プリズムの移動方向に平行に設けられる複数本のガイドシャフトと、これらガイドシャフトに沿って摺動可能に設けられるスライドブロックと、このスライドブロックに固定されかつ前記プリズムが載置されるプリズムホルダとを含んで構成され、
前記プリズム移動機構には、前記スライドブロックを前記ガイドシャフト側に付勢する付勢手段が、前記ガイドシャフトに対して直交する少なくとも2方向に設けられていることを特徴とする光学式顕微鏡。An observation optical system capable of irradiating the inspection object with light and observing the reflected or transmitted light, a laser processing optical system capable of irradiating the inspection object with laser light, an observation optical path of the observation optical system and the laser An optical microscope including a prism disposed at a predetermined position where a laser beam path of a processing optical system intersects,
A prism moving mechanism is provided for moving the prism between the predetermined position and a retracted position deviating from the predetermined position in the orthogonal direction of the laser optical path, and the prism moving mechanism is parallel to the moving direction of the prism. A plurality of guide shafts provided on the slide block, a slide block slidably provided along the guide shafts, and a prism holder fixed to the slide block and on which the prism is placed ,
The optical microscope, wherein the prism moving mechanism is provided with urging means for urging the slide block toward the guide shaft in at least two directions orthogonal to the guide shaft .
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