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JP3777311B2 - 真空圧力制御弁 - Google Patents

真空圧力制御弁 Download PDF

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JP3777311B2
JP3777311B2 JP2001225688A JP2001225688A JP3777311B2 JP 3777311 B2 JP3777311 B2 JP 3777311B2 JP 2001225688 A JP2001225688 A JP 2001225688A JP 2001225688 A JP2001225688 A JP 2001225688A JP 3777311 B2 JP3777311 B2 JP 3777311B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体製造工程で使用される真空容器内の真空圧力を所定値に正確かつ迅速に保持するための真空圧力制御装置に関し、さらに詳細には、大気圧に近い低真空圧力を所定値に正確かつ迅速に保持するための真空圧力制御装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来使用されていた真空圧力制御システムとしては、例えば、本出願人が出願したものである特開平9−72458号公報がある。そこで使用されている真空比例開閉弁の主要部であるポペット弁体の構造を図8に示し、それを参照して内容を説明する。
図8は、真空比例開閉弁が閉じた状態を示し、図8は、真空比例開閉弁が中真空領域で使用されている状態を示している。
ポペット弁体133は、図示しないピストンロッドと連結する弁本体133a、Oリング135を固定するためのOリング取付部133b、及びステンレス弁体134を取り付けるためのステンレス弁体取付部133cより構成されている。Oリング135は、ポペット弁体133のステンレス弁体134の外周に形成された先細りのテーパ面134aが弁本体145に形成された弁座136に当接して押圧されたときに、流体の漏れをなくすためのものである。テーパ面134aは特開平9−72458号公報では、θ=3度とされている。テーパ面134aの上部にはストレート部134bが形成されている。
【0003】
弁座136は、弁本体145の下部中央に形成された中空円筒の内面として形成されている。
そして、図9に示すように、ステンレス弁体134のテーパ面134aが弁座136の中心線に沿って移動することにより、テーパ面134aと弁座136とで構成される隙間の面積が変化し、真空比例開閉弁の弁開度が変化される。また、図8に示すように、ポペット弁体133が弁座136の上面に当接されたときは、Oリング135が押圧されることにより、流体の漏れが完全に遮断される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の真空圧力制御システム・制御装置には、次のような問題があった。
すなわち、弁体に形成されたテーパ面134aと弁座136とで構成される隙間の面積を変化させることにより、真空ポンプへの流量を変化させているので、真空により近い高真空圧力や中真空圧力に対応する流量を確保することは比較的容易であった。
しかし、テーパ面134aと弁座136とで構成される隙間は、比較的大きいため、大気圧に近い低真空圧力、特に大気圧にきわめて近い低真空圧力に制御することが困難であるという問題があった。この問題は、ゴム製のOリングが弁座の平面部と密着し易いため、特に問題であった。さらにプロセスガスが析出したときには密着の度合いが大きくなり、弁体が移動したときに静摩擦から動摩擦へ移行する摩擦係数の変化により弁体の移動距離が急速に変化し、Oリングが瞬間的に弁座平面部から離脱するため、テーパ面134a
と弁座136とで構成される隙間をきわめて狭い状態で正確に制御することが困難となり、大きな問題であった。
【0005】
本発明は、上述した問題点を解決するためになされたものであり、大気圧に近い低真空圧力を正確に保持できる真空圧力制御弁を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明の真空圧力制御弁は、次に示す構成を有している。
(1)真空容器と真空ポンプとを接続する配管上にあって開度を変化させることにより真空容器内の真空圧力を変化させる真空圧力制御弁であって、(a)弁座と、前記弁座と当接または離間する弾性シール部材を備える弁体とを有すること、(b)前記弾性シール部材が前記弁座に押圧されている状態において、前記弾性シール部材の弾性変形量と前記弾性シール部材からの漏れ量とのリニアな関係を有する領域を含み、前記リニアな関係を有する領域より漏れ量の少ない領域における前記弾性シール部材の弾性変形量と前記弾性シール部材からの漏れ量との関係をマップデータとして記憶し、前記マップデータに基づいて、前記弾性シール部材の弾性変形量を変化させ、前記弾性シール部材からの漏れ量を制御することにより、前記真空容器内の圧力を制御する制御手段を有すること、を特徴とする。
【0007】
(2)(1)に記載する真空圧力制御弁において、前記制御手段が、前記真空容器内の真空圧力別に前記マッピングデータを記憶していることを特徴とする。
(3)(1)又は(2)に記載する真空圧力制御弁において、前記制御手段が、前記弾性シール部材に加える力を変化させることにより、前記弾性シール部材の弾性変形量を変化 させることを特徴とする。
(4)()に記載する真空圧力制御弁において、前記弁体を移動するためのパイロット弁を有し、前記制御手段が、前記パイロット弁に供給する空気圧を変化させることにより、前記弾性シール部材の弾性変形量を変化させることを特徴とする。
【0008】
)(1)乃至()のいずれか1つに記載する真空圧力制御弁において、前記弾性シール部材が、Oリングであることを特徴とする。
)(1)乃至()のいずれか1つに記載する真空圧力制御弁において、前記弾性シール部材の弾性変形量を所定値以上とすることにより、前記漏れを無くして前記真空圧力制御弁を遮断することを特徴とする
【0009】
ぎに、上記構成を有する真空圧力制御装置の作用を説明する。
真空ポンプは、真空容器内のガスを吸引して、真空容器内を真空にする。ここで、真空ポンプは一定の吸引を行っており、真空比例開閉弁が、開度を変化させることにより真空容器内から真空ポンプが吸引するガス量を調整し、真空容器内の真空圧力を変化させている。また、圧力センサは、真空容器内の真空圧力を計測する。
真空圧力制御装置は、中央制御装置からの真空圧力指示値を受けて、真空圧力指示値と圧力センサの出力が一致するように真空比例開閉弁の開度を制御する。
ここで、真空比例開閉弁の開度は、高真空圧力または中真空圧力の場合には、弁座に対して、パイロット弁により、弁体を弁座の中心線に沿って移動させ、弁座と弁体とで構成する隙間の面積を変化させることにより調整される。
そして、大気圧に近い低真空圧力の場合には、真空圧力制御装置が、圧力センサの出力に基づいて、弾性シール部材の弾性変形量を変化させ、弾性シール部材からの漏れ量を変
化させることにより、真空容器内の圧力を制御する。
【0010】
特に、パイロット弁に供給する空気圧を変化させることにより、弾性シール部材であるOリングに加える力を変化させ、Oリングの弾性変化量を変化させて、漏れ量を変化させる方法によると、安いコストでシステムを構築することができる。
弁体を移動させるパイロット弁に供給される空気圧は、圧力センサの出力に基づいて真空圧力制御装置がサーボ弁を介して制御する。
例えば、サーボ弁を構成するエア供給電磁弁は、真空圧力制御装置よりパルス信号を受けて、パルス信号に応じて時間開閉動作することにより、パイロット弁に対して駆動エアを供給する。また、電磁弁を構成するエア排気電磁弁は、真空圧力制御装置よりパルス信号を受けて、パイロット弁の供給エアを排気管に排気することで、パイロット弁に供給される駆動エアの圧力を調整する。
【0011】
パイロット弁は、ベロフラムによりピストン両側を隔離しているので、ピストンが移動するときに、摺動抵抗がきわめて僅かなためピストンの停止位置を微妙に制御することが可能である。
また、パイロット弁は、ノーマルクローズタイプのシリンダなので、停電等のトラブルが発生したときに、パイロット弁は、迅速に緊急遮断される。
【0012】
【発明の実施の形態】
本発明の真空圧力制御装置を具体化した実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
真空圧力制御装置が利用される真空圧力制御システムの一実施の形態の全体構成を図5に示す。
真空容器である真空チャンバ11の内部に、ウエハ15が段状に配置される。真空チャンバ11には、入口13と出口14が形成され、入口13には、プロセスガスの供給源及び真空チャンバ11内をパージするための窒素ガスの供給源が接続している。
出口14には、弁開度比例弁である真空比例開閉弁18の入口ポートが接続されている。真空比例開閉弁18の出口ポートは、真空ポンプ19に接続している。
また、出口14には、遮断弁16を介して圧力センサ17が接続されている。本実施の形態では、圧力センサ17として、キャパシタンス・マノメータを使用している。
【0013】
次に、真空比例開閉弁18の構造を図1及び図2に基づいて詳細に説明する。図1は、真空比例開閉弁18が閉じられた状態を示している。
真空比例開閉弁18は、大きく上部のパイロットシリンダ32と下部のベローズ式ポペット弁31に別れている。
パイロットシリンダ32は、次のような構成を有する。単動空気圧シリンダ43に対して、摺動可能にピストン41が嵌合されている。ピストン41は、復帰バネ42により下向きに付勢されている。
【0014】
ピストン41の上端にスライドレバー48の一端が連結されている。スライドレバー48は、単動空気圧シリンダ43の外部に出てポテンショメータ50の図示しないロッドと連結している。ロッドは、ポテンショメータ50内の可変抵抗に接続しており、このポテンショメータ50によりピストン41の位置を正確に計測している。
また、ピストン41の下面には、ベロフラム51の内周端部が固定されている。ベロフラム51の外周端部は、単動空気圧シリンダ43の室壁に固定されている。ベロフラム51は、極めて薄く設計され、構造的には、強力なポリエステル、テトロン布等の上にゴムを被覆したものである。ベロフラム51とは、長いストロークと深い折り返し部を持ち、作動中にその有効受圧面積が一定不変に保たれる円筒形のダイヤフラムである。
本実施の形態では、パイロットシリンダ32のピストン41両側の隔離にベロフラム51を使用しているので、ピストン41のスティックスリップの発生がなく、ピストン41
を高い応答性と正確な位置精度で移動させることが可能である。
【0015】
ピストン41の中央には、ピストンロッド37が固設され、ピストン41の移動に応じて上下に摺動する。ピストンロッド37の下端には、ポペット弁体33が付設されている。また、ポペット弁体33の上面には、ベローズ38の一端が周回して取り付けられている。
ポペット弁体33の詳細な構造を図2に示す。図2は、真空比例開閉弁18が閉じた状態を示している。
ポペット弁体33は、ピストンロッド37と連結する弁本体33a、Oリング35を固定するためのOリング取付部33b、及びステンレス弁体34を取り付けるためのステンレス弁体取付部33cより構成されている。本実施の形態では、ステンレス弁体34の材料としてSUS316Lを使用している。Oリング35は、ポペット弁体33のステンレス弁体34の外周に形成された先細りのテーパ面34aが弁本体45に形成された弁座36の水平弁座部36aに当接して押圧されたときに、流体の漏れをなくすためのものであり、同時に本発明の主要部である弾性シール部材である。サイズはP=80を用いている。
テーパ面34aは本実施の形態では、θ=3度としている。テーパ面34aの上部にはストレート部34bが形成されている。
【0016】
弁座36は、弁本体45の下部中央に形成された中空円筒の内面として形成されている。また、弁座36の上部の段差部には、水平弁座部36aが形成されている。
そして、ステンレス弁体34のテーパ面34aが弁座36の中心線に沿って移動することにより、テーパ面34aと弁座36とで構成される隙間の面積が変化し、真空比例開閉弁18の弁開度が変化される。また、ポペット弁体33が弁座36の水平弁座部36aに当接されたときは、Oリング35が押圧されることにより、流体の漏れが完全に遮断される。
従来、Oリング35は、完全遮断を目的としてのみ使用されていた。従って、Oリング35からの漏れは無い方が良いものとして認識されていた。
しかし、本発明者は、Oリング35に加える力を変化させることにより、Oリング35からの漏れ量をコントロールできることを発見した。すなわち、従来無くそうと努力してきたものを逆に利用することに成功したのである。詳細な説明は後述する。
【0017】
次に、本実施の形態の真空圧力制御装置について説明する。図3にシステム全体の制御装置の構成を示し、図4に時間開閉動作弁62の詳細な構成を示す。
始めに空気系統の構成を説明する。真空比例開閉弁18には、第1電磁弁60の出力ポートが接続している。第1電磁弁60の第1入力ポート601には、時間開閉動作弁62が接続している。第1電磁弁60の第2入力ポート602には、第2電磁弁61が接続している。
時間開閉動作弁62は、図4に示すように、給気側比例弁74と排気側比例弁75とで構成されている。給気側比例弁74の入力ポート74aは、供給エアに接続している。排気側比例弁75の出力ポート75aは、排気配管に接続している。また、給気側比例弁74の出力ポート74bと排気側比例弁75の入力ポート75bとは共に、第1電磁弁60の第1入力ポート601に接続している。
【0018】
次に、電気系統の構成を説明する。時間開閉動作弁62には、パルスドライブ回路68が接続している。パルスドライブ回路68には、位置制御回路64が接続している。また、位置制御回路64には、ポテンショメータ50の位置信号がアンプ63を介して接続している。また、位置制御回路64には、真空圧力制御回路67が接続している。
真空圧力制御回路67には、インターフェース回路66が接続している。また、真空圧力制御回路67には、圧力センサ17が接続されている。
インターフェース回路66には、シーケンス回路65が接続している。シーケンス回路65は、第1電磁弁60の駆動コイルSV1、第2電磁弁61の駆動コイルSV2に接続している。
【0019】
次に、上記構成を有する真空圧力制御装置の作用を説明する。
始めに、急速給排気動作について説明する。全開にするときは、第1電磁弁60をOFF状態にし、第2電磁弁61をON状態とする。これにより、第2電磁弁61の第1入力ポート611が出力ポート613と接続し、第1電磁弁60の第2入力ポート602が出力ポート603と接続し、真空比例開閉弁18に駆動エアが供給される。
ポペット弁体33のステンレス弁体34は、弁座36から遠く離間しており、真空ポンプ19が真空チャンバ11内の気体を大量に吸引し、急速に排気することができる。
【0020】
次に、全閉状態について説明する。第1電磁弁60をOFF状態にし、第2電磁弁61もOFF状態とする。これにより、第2電磁弁61の第2入力ポート612が出力ポート613と接続し、第1電磁弁60の第2入力ポート602が出力ポート603と接続し、真空比例開閉弁18が排気配管に接続される。
そして、真空比例開閉弁18に駆動エアが供給されず、パイロット弁内部の空気が排気され、ピストン41は、復帰バネ42により下向きに付勢され図1に示すように、ポペット弁体33は弁座36の上面に当接される。このとき、Oリング35が、ポペット弁体33と弁座36の水平弁座部36aに押圧されて変形するため、流体の漏れがなく真空比例開閉弁18は完全に遮断される。
一方、停電等が発生した場合にも、第1電磁弁60及び第2電磁弁61は、復帰バネにより出力ポート603と第2入力ポート602が連通し、かつ出力ポート613と第2入力ポート612が連通し、同様に、真空比例開閉弁18は、復帰バネ42により遮断される。これにより、緊急時の遮断機能が実現されている。
【0021】
次に、低真空領域、中真空領域、及び高真空領域におけるポペット弁体33の位置制御動作について説明する。
ステンレス弁体34がテーパ面34aを有しているので、ポペット弁体33の停止する位置により、弁座36とテーパ面34aが形成する隙間の断面積が僅かづつ変化する。そのため、ポペット弁体33の停止位置を制御することにより、弁の開度を微小量変化させる制御を行うことができる。
中真空領域では、テーパ面34aが弁座36に対抗する位置に停止するよう制御し、高真空領域では、テーパ面34aが弁座36から少し離れた位置に停止するように制御している。
そして、低真空領域及びより大気圧に近い低々真空領域では、完全遮断している状態のOリング35の弾性変形量を、パイロット弁に加えている空気圧を徐々に低減させることにより減少させることにより、Oリング35からの漏れを発生させ、その微小の漏れ量により低真空圧力を実現している。
【0022】
シーケンス回路65は、インターフェース回路66を介して中央制御装置より、真空チャンバ11の真空圧力値の指示をコマンド信号として受け、第1電磁弁60を開き、第2電磁弁61を閉じると共に、真空圧力制御回路67にその真空圧力値の指示を与える。
真空圧力制御回路67は、インターフェース回路66により与えられた目標真空圧力値と、圧力センサ17が計測した真空チャンバ11内の現在の真空圧力値を比較して、両者が一致するように、真空比例開閉弁18の弁開度を制御するため、パルスドライブ回路68を介して時間開閉動作弁62の給気側比例弁74及び排気側比例弁75を制御する。
すなわち、真空チャンバ11内の真空圧力値がコマンド信号より大気圧に近い場合は、ピストン41の位置を上に移動させて真空比例開閉弁18の弁開度大きくし、真空チャンバ11内の真空圧力値がコマンド信号より絶対真空に近い場合は、ピストン41の位置を
下に移動させて真空比例開閉弁18の弁開度を小さくする。
ここで、パルスドライブ回路68は、真空圧力制御回路67からの信号を受けて、その信号をパルス信号に変換し、開閉信号として給気側比例弁74及び排気側比例弁75に供給する。給気側比例弁74及び排気側比例弁75は、パルス信号に応じた時間開閉動作することで真空比例開閉弁18への供給圧力を調節する。
【0023】
ここで、給気側比例弁74及び排気側比例弁75は共に、パルス入力電圧に応じて弁体を弁座から所定距離離すための機能を有する電磁弁である。
パルスドライブ回路68は、給気側比例弁74を駆動することにより、真空比例開閉弁18に駆動エアを供給する。同時にパルスドライブ回路68は、排気側比例弁75を駆動することにより、真空比例開閉弁18に供給される駆動エアを排気配管に接続して駆動エアの供給圧力を調整する。
真空比例開閉弁18に供給される駆動エアの圧力が給気配管に接続する給気側比例弁74と、排気配管に接続する排気側比例弁75とを同時に、パルスドライブ回路68によりパルス電圧で駆動しているので、高い応答速度でピストン41を所定の位置に正確に停止させることができる。
【0024】
すなわち、給気側比例弁74及び排気側比例弁75とが、同じ一定周期の電気パルス信号により駆動され、その一定パルスの間で電磁弁のオン時間とオフ時間の時間比率を換えることにより、給気側比例弁74と排気側比例弁75とを通過する空気量を変化させている。
ここで、給気側比例弁74と排気側比例弁75とのデューティ比は、位置制御回路64により次のように定められる。弁開度指令値より弁開度を開く方向に動作させるときは、給気側比例弁74のデューティを大きくする。これにより、真空比例開閉弁18に給気される空気流量は増加し、真空比例開閉弁18内部の空気圧力は増加し、弁は開く方向に動作する。この結果は、ポテンショメータ50によりフィードバックされて位置制御回路64に入力される。ポテンショメータ50の計測値と弁開度指令値とが近づくと、給気側比例弁74のデューティ比は小さくなり、完全に一致するとデューティ比はバイアス値となる。
【0025】
弁開度指令値より弁開度を閉じる方向に動作させるときは、排気側比例弁75のデューティ比を大きくする。これにより、真空比例開閉弁18より排気される空気流量は増加し、真空比例開閉弁18内部の空気圧力は減少し、弁は閉じる方向に動作する。この結果は、ポテンショメータ50によりフィードバックされて位置制御回路64に入力される。ポテンショメータ50の計測値と弁開度指令値とが近づくと、排気側比例弁75のデューティ比は小さくなり、完全に一致するとデューティ比はバイアス値となる。
バイアスは、パルス信号に対する電磁弁動作の不感帯をなくすために与えている。電磁弁に不感帯があるのは、電磁弁に働く空気圧力の面圧荷重と、電磁弁内部にある復帰バネのためである。
【0026】
例えば、真空チャンバ11内の真空圧力がコマンド信号より大気圧に近い場合、ポペット弁体33を少し上に移動させて弁開度を大きくし、真空ポンプ19により吸引するプロセスガスの量を多くすることにより、真空チャンバ11内の真空圧力値をコマンド信号で指示された真空圧力値に一致させることができる。
すなわち、真空圧力制御回路67がパルスドライブ回路68を介して、給気側比例弁74にパルス電圧を与えることにより、給気側比例弁74の弁体を弁座から離間させ、真空比例開閉弁18に対して駆動エアを多く供給することができ、ピストン41が上に移動され、ポペット弁体33が上に移動され、テーパ面34aと弁座36とが構成する隙間の断面積が大きくなる。
ここで、給気側比例弁74を駆動させるだけでは、所定の位置でピストン41を停止さ
せることは困難である。ピストン41の行き過ぎ等が発生するためである。本実施の形態の真空圧力制御システムでは、ピストン41が行き過ぎたとき、排気側比例弁75により、真空比例開閉弁18に供給する駆動エア圧力を下げているので、迅速かつ正確にピストン41を所定の位置で停止させることができる。
【0027】
また、例えば、真空チャンバ11内の真空圧力がコマンド信号より絶対真空に近い場合、ポペット弁体33を少し下に移動させて弁開度を小さくし、真空ポンプ19により吸引するプロセスガスの量を少なくすることにより、真空チャンバ11内の真空圧力値をコマンド信号で指示された真空圧力値に一致させることができる。
すなわち、真空圧力制御回路67がパルスドライブ回路68を介して、排気側比例弁75にパルス電圧を与えることにより、排気側比例弁75の弁体を弁座から離間させ、真空比例開閉弁18に対して駆動エアの供給を停止し排気を増やすことができ、ピストン41が下に移動され、ポペット弁体33が下に移動され、テーパ面34aと弁座36とが構成する隙間の断面積が小さくなる。
ここで、排気側比例弁75を駆動させるだけでは、所定の位置でピストン41を停止させることは困難である。ピストン41の行き過ぎ等が発生するためである。本実施の形態の真空圧力制御システムでは、ピストン41が行き過ぎたとき、給気側比例弁74により、真空比例開閉弁18に供給する駆動エア圧力を上げているので、迅速かつ正確にピストン41を所定の位置で停止させることができる。
【0028】
本実施の形態の真空圧力制御装置の効果を実験データとして、図6、図7に示す。使用しているOリング35は、サイズJIS P80、材質はフッ素ゴム、ゴム硬度75Hs(ショアA)、内径79.6mm、外径91mm、中心径85.7mm、外周長さ26.92mmである。
図6では、横軸にOリング35の1cm当たりに加える荷重、単位Kgf/cm、を採り、縦軸にOリング35のつぶれる量を示す弾性体変形量、単位μmを採っている。ここで、荷重は、Oリング35に加えられた力をOリング35の外周長さで除したものである。
図6に示すように、Oリング35に加える荷重と弾性変形量とはリニアな関係にあり、Oリング35に加える荷重をコントロールすることにより、任意の弾性変形量を実現できることがわかる。
【0029】
図7では、横軸にOリング35のつぶれる量を示す弾性体変形量、単位μmを採り、縦軸に真空比例開閉弁18における流量、単位SLM(スタンダードリットル/分)を採っている。
図7に示すデータは特定の容量の真空比例開閉弁18における実験値である。実験値は、真空容器11内を大気圧に近い低真空圧力としたときの真空比例制開閉弁の流量を計測している。各線は、低真空圧力P20=20KPa(150Torr)、P40=40KPa(300Torr)、P60=60KPa(450Torr)、P70=70KPa(530Torr)、P93=93KPa(700Torr)におけるデータを示している。
図7に示すように、Oリング35の弾性変形量と流量とは、流量が1SLM以上の領域でほぼリニアな関係にあることがわかる。
従って、大気圧に近い低真空圧力領域では、真空比例開閉弁18を1SLM〜10SLM程度の範囲で使用することが多いので、パイロット弁に加える空気圧と流量がほぼリニアな関係となり、パイロット弁に加える空気圧をコントロールすることにより、真空比例開閉弁18の流量を正確に制御でき、これにより、大気圧に近い低真空圧力領域で真空圧を正確に制御することができる。
本実施の形態においては、真空容器11内の圧力を圧力センサ17の計測値によりフィードバック制御しているが、目標真空圧力または計測した真空圧力に応じて、図7における流量を選択してフィードバックするときの係数を変化させて、真空圧力に最適な応答性
の高い制御を行っている。
【0030】
さらに、流量1SLM以下の領域においても、弾性変形量と流量との関係をマップ等のデータとして記憶させておけば、Oリング35のつぶし量を所定値とすることにより、1SLM以下の流量をコントロールすることも可能である。この問題は、本実施の形態のようにフィードバック制御していれば生じない。
また、図7からわかるように、真空比例開閉弁18の流量は、弾性体変形量であるOリング35のつぶれ量と1対1の関係にあるので、Oリング35のつぶし量を本実施の形態のように、パイロット弁にかける空気圧で制御せずに、サーボモータ等を利用した直線送り装置によりOリング35のつぶし量を制御しても同様である。
【0031】
以上詳細に説明したように、本実施の形態の真空圧力制御装置によれば、真空容器11と真空ポンプ19とを接続する配管上にあって開度を変化させることにより真空容器内の真空圧力を変化させる真空比例開閉弁18と、真空容器11内の真空圧力を計測する圧力センサ17とを有し、圧力センサ17の出力に基づいて真空比例開閉弁18の開度を制御する真空圧力制御装置であって、(a)真空比例開閉弁18が、水平弁座部36aと、水平弁座部36aと当接または離間するOリング35を備える弁体とを有すること、(b)真空圧力制御装置が、圧力センサ17の出力に基づいて、Oリング35の弾性変形量を変化させ、Oリング35からの漏れ量を変化させることにより、真空容器内11の圧力を制御しているので、真空容器11内を大気圧に近い低真空圧力領域に正確にコントロールすることができる。
【0032】
また、Oリング35に加える力がOリング35の弾性変形量とリニアな関係にあることを利用しているので、制御が単純であり、制御装置を低コスト化できる。ここで、弾性シール部材としては、Oリングの他に、例えば、断面が三角形のゴム部材を弁体下面水平部に接着、焼き付け等しても良い。Oリング35を利用すると、品質の安定性等を確保できる利点がある。
また、真空比例開閉弁18が、弁体を移動するためのパイロット弁を有し、真空圧力制御装置が、パイロット弁に供給する空気圧を変化させることにより、Oリング35の弾性変形量を変化させているので、従来の真空圧力制御システムをそのまま利用することも可能であり、コストダウンできる。
また、Oリング35の弾性変形量を所定値以上とすることにより、漏れを無くして真空比例開閉弁18を完全遮断することができる。
【0033】
以上、本発明の真空圧力制御システムの実施の形態について説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、様々な変更が可能である。
例えば、Oリングに所定の荷重を加える制御を行うのではなく、Oリングを所定量弾性変形させるために、ステッピングモータやサーボモータ等を用いた直線送り装置を用いても良い。
弾性シール部材としては、断面が円形のものでなくとも良いし、断面が三角形状等のゴム部材を接着等しても良い。
【0034】
【発明の効果】
本発明の真空圧力制御装置によれば、真空容器と真空ポンプとを接続する配管上にあって開度を変化させることにより真空容器内の真空圧力を変化させる真空圧力制御弁であって、(a)弁座と、弁座と当接または離間する弾性シール部材を備える弁体とを有すること、(b)弾性シール部材が弁座に押圧されている状態において、弾性シール部材の弾性変形量と弾性シール部材からの漏れ量とのリニアな関係を有する領域を含み、リニアな関係を有する領域より漏れ量の少ない領域における弾性シール部材の弾性変形量と弾性シール部材からの漏れ量との関係をマップデータとして記憶し、マップデータに基づいて、弾性シール部材の弾性変形量を変化させ、弾性シール部材からの漏れ量を制御することにより、真空容器内の圧力を制御する制御手段を有しているので、真空容器内を大気圧に近い低真空圧力領域に正確にコントロールすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明で使用する真空比例開閉弁の構成を示す断面図である。
【図2】 本発明で使用する真空比例開閉弁の弁座付近の構成を示す断面図である。
【図3】 本発明の真空圧力制御装置のハードウェアを示すブロック図である。
【図4】 時間開閉動作弁の構成を示すブロック図である。
【図5】 本発明の真空圧力制御装置が使用される真空圧力制御システムの全体構成を示すブロック図である。
【図6】 本発明の効果を示す第1データ図である。
【図7】 本発明の効果を示す第2データ図である。
【図8】 従来の弁座付近の構成を示す第1図である。
【図9】 従来の弁座付近の構成を示す第2図である。
【符号の説明】
11 真空チャンバ
17 圧力センサ
18 真空比例開閉弁
19 真空ポンプ
31 ベローズ式ポペット弁
32 パイロットシリンダ
33 ポペット弁体
34 ステンレス弁体
34a テーパ面
35 Oリング
36 弁座
36a 水平弁座部
50 ポテンショメータ
62 時間開閉動作弁
64 位置制御回路
74 給気側比例弁
75 排気側比例弁

Claims (6)

  1. 真空容器と真空ポンプとを接続する配管上にあって開度を変化させることにより真空容器内の真空圧力を変化させる真空圧力制御弁において、
    (1)弁座と、前記弁座と当接または離間する弾性シール部材を備える弁体とを有すること、
    (2)前記弾性シール部材が前記弁座に押圧されている状態において、前記弾性シール部材の弾性変形量と前記弾性シール部材からの漏れ量とのリニアな関係を有する領域を含み、前記リニアな関係を有する領域より漏れ量の少ない領域における前記弾性シール部材の弾性変形量と前記弾性シール部材からの漏れ量との関係をマップデータとして記憶し、前記マップデータに基づいて、前記弾性シール部材の弾性変形量を変化させ、前記弾性シール部材からの漏れ量を制御することにより、前記真空容器内の圧力を制御する制御手段を有すること、
    を特徴とする真空圧力制御弁。
  2. 請求項1に記載する真空圧力制御弁において、
    前記制御手段が、前記真空容器内の真空圧力別に前記マッピングデータを記憶していることを特徴とする真空圧力制御弁。
  3. 請求項1又は請求項2に記載する真空圧力制御弁において、
    前記制御手段が、前記弾性シール部材に加える力を変化させることにより、前記弾性シール部材の弾性変形量を変化させることを特徴とする真空圧力制御弁。
  4. 求項3に記載する真空圧力制御弁において、
    前記弁体を移動するためのパイロット弁を有し、
    前記制御手段が、前記パイロット弁に供給する空気圧を変化させることにより、前記弾性シール部材の弾性変形量を変化させることを特徴とする真空圧力制御弁。
  5. 請求項1乃至請求項4のいずれか1つに記載する真空圧力制御弁において、
    前記弾性シール部材が、Oリングであることを特徴とする真空圧力制御弁。
  6. 請求項1乃至請求項5のいずれか1つに記載する真空圧力制御弁において、
    前記弾性シール部材の弾性変形量を所定値以上とすることにより、前記漏れを無くして前記真空圧力制御弁を遮断することを特徴とする真空圧力制御弁。
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