JP3763436B2 - Excimer laser device energy control device and control method thereof - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、主に逐次移動型縮小投影露光装置(以下、ステッパと呼ぶ)の光源として用いられ、放電励起によりレーザ発振させるエキシマレーザ装置の出力エネルギーを一定に制御するエネルギー制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体のウェハ等を露光するステッパは、その露光量を一定に制御することが非常に重要である。この露光用の光源としては、最近の半導体回路の高集積密度の要求に対応するため、エキシマレーザ装置が広く用いられている。ところが、エキシマレーザ装置は、いわゆるパルス放電励起ガスレーザであるために、その発振するレーザ光の1パルス毎のパルスエネルギーに様々な要因によるばらつきが生じ、この結果露光量が安定しないという問題がある。したがって、従来から、ステッパ等に用いられるエキシマレーザ装置では、このばらつきを小さくして露光量を一定値に安定化させるために、複数回のパルス発振を連続して行う、いわゆる複数パルス露光による露光量制御を行うものがある。この複数パルス露光量制御によって、全体としての露光量ばらつきを所定値以下にでき、所望の露光量精度を得るようになっている。
【0003】
また、ステッパでは、露光と、ウェハが設置されたステージの移動とが交互に繰り返されるので、上記のエキシマレーザ装置はいわゆるバーストモードで運転されている。このバーストモードとは、レーザ光を所定回数連続してパルス発振させた後、所定時間パルス発振を休止させる運転を繰り返し行うことを言う。ところが、このバーストモードでの運転時の特徴として、図9に示すように、所定時間休止した後の各連続パルス発振(以後、バースト発振と呼ぶ)の初期には発振が安定した状態となって比較的高いパルスエネルギーが得られるが、パルス発振を続けると、レーザガスの密度擾乱や、放電電極の表面の局所的な温度上昇等によって、徐々に各パルス発振が不安定となり、同図のA部で示すように出力パルスエネルギーが低下してゆく、いわゆるスパイキング現象が見られる。
【0004】
また、各バースト発振において、発振開始時のスパイキング現象が発生するスパイク領域の後には、発振が安定化して来るプラトー領域及び定常領域(図9参照)が続いている。スパイク領域では休止時間tsの長さの影響を受けやすく、同じ充電電圧でも他の領域に比べて大きなパルスエネルギーが出力される。ところが、プラトー領域や定常領域では、休止時間tsの影響よりも、同じバースト発振内の直前までのパルス発振の影響(例えば、電極温度の上昇や、レーザガスの乱れ等)を強く受けていると考えられる。したがって、スパイク領域及びそれ以降の領域のそれぞれの発振特性に合わせて、スパイキング現象を抑制すると共に、全領域でパルスエネルギーを精度良く一定値制御しなければならないという問題があった。
【0005】
このような問題を解決するために、同出願人は、特開平9−248682号公報によって以下のようなエキシマレーザ装置を提案している。図10は、同公報に開示されたエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置をシンボリックに表わした機能ブロック図を示している。同図において、学習制御部11は、出力パルスエネルギーの大きさがレーザ電源の充電電圧の大きさに比例するという性質を利用してスパイキング現象を抑制制御するものであり、例えば図11に示すように各バースト発振時の最初のパルスの充電電圧を小さくし、この後次第に各パルスの充電電圧を大きくして行くように制御している。このために、学習制御部11は、各バースト発振のスパイク領域における各パルス発振時のレーザ電源への電圧指令値Viを発振休止時間、同じバースト発振内でのパルスの順番i、及び出力されたパルスエネルギーの計測値(モニタ値)に対応させて電圧テーブルとして記憶している。そして、スパイク領域で各バーストのi番目のパルス発振を行う際には、学習制御部11は前記記憶した過去の電圧テーブルデータのうち、発振休止時間、及びバースト発振内のパルス順番iが等しく、かつ、今回のバースト発振のエネルギー目標値に近い前記出力パルスエネルギーの計測値とその時のパルスの電圧指令値Viを少なくとも1組読み出し、この読み出した値に基づいてi番目の電圧指令値Viを演算し、この演算した電圧指令値Viによりパルス発振を行う。(以後、このような制御を学習制御と呼ぶ)
【0006】
また、毎パルス制御部12は、スパイク領域以降で各パルス発振の際の電圧指令値Viを、出力されたパルスエネルギーの計測値に対応させて記憶するようにしており、i番目のパルス発振の際には同一バースト内で直前に、つまり(i−1)番目に出力されたパルスのパルスエネルギー計測値及びその時の電圧指令値Vi-1 に基づいてi番目の電圧指令値Viを演算し、この演算した電圧指令値Viによってパルス発振(以後、これを毎パルス制御と呼ぶ)を行うようにしている。
【0007】
この従来技術によると、電圧指令値Viは、この電圧指令値Viにより出力されたパルスレーザ光のエネルギー計測値Eiに基づいて、以下のようにフィードバック制御されている。例えばエネルギー目標値Edを一定としたエネルギー一定値制御を行っている場合、学習制御部11では、数1により、今回(N回目)のバースト発振におけるi番目パルスの電圧指令値VN,iに対して、次回(N+1回目)のバースト発振におけるi番目パルスの電圧指令値VN+1,iが演算されて電圧テーブルに記憶される。
【数1】
VN+1,i=VN,i+G1 ×(Ed−Ei)
すなわち、エネルギー目標値Edとエネルギー計測値Eiとの偏差に所定のフィードバックゲインG1 がかかった値を今回のバースト発振における電圧指令値VN,iに加算して、次回のバースト発振における電圧指令値VN+1,iが演算される。
【0008】
また、同様にして、毎パルス制御部12では、数2により、i番目パルスの電圧指令値VN,iに対して、次(i+1番目)パルスの電圧指令値VN,i+1 が演算される。
【数2】
VN,i+1 =VN,i+G2 ×(Ed−Ei)
すなわち、エネルギー目標値Edとエネルギー計測値Eiとの偏差に所定のフィードバックゲインG2 がかかった値をi番目パルスの電圧指令値VN,iに加算して、( i+1) 番目パルスの電圧指令値VN,i+1 が演算される。
なお、通常、前記フィードバックゲインG1 ,G2 はレーザ発振の入出力特性、すなわち電圧指令値Viと出力パルスエネルギー値との関係に基づいて設定されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、エキシマレーザ装置は、レーザ発振を繰り返している内に、前記レーザ発振の入出力特性が変化する傾向があり、例えば、レーザガス交換の前後で、あるいは、レーザガス、レーザチャンバ、及びその他のレーザ構成部品が新しい時と所定時間経過した時や寿命に近い時とで前記入出力特性が異なっている。図12及び図13は、それぞれ、レーザガス交換後初期の、及びレーザガス寿命後半での入出力特性の例を表わしている。そして、従来は、このように入出力特性が変化しても電圧指令値Viが一定になるようにレーザガス圧の調整を行っており、これにより、一定のパルスエネルギーの出力を得るためにレーザ電源に投入する充電電圧はほとんど一定となる。ここで、このほぼ一定となる充電電圧を動作電圧と呼ぶ。このとき、図12及び図13に示した入出力特性において、動作電圧Va よりも低い電圧部分では入出力特性のカーブの傾斜が急峻になり、また電圧が高くなるとこのカーブが平坦になることが従来から判明している。そして、動作電圧Va よりも低い電圧部分の入出力特性の傾斜は、レーザガスの寿命が近くなるにつれて徐々に大きくなって来る。
【0010】
一方、前述のように、スパイク領域では充電電圧に対してパルスエネルギーが高めに出力されるので、上記特開平9−248682号公報により開示されたエネルギー制御装置では、図11に示したように、学習制御時には1番目のパルスの電圧指令値Viを前記動作電圧Va よりも低く設定し、2番目のパルスからは次第に大きくしており、また、この学習制御時の最終に出力された電圧指令値Viが毎パルス制御時の最初の電圧指令値Viとして使用されている。よって、学習制御時及び毎パルス制御時は入出力特性のカーブの傾斜が急峻な領域で発振が行われている。したがって、前記フィードバックゲインG1 ,G2 はレーザガスを交換した初期状態での入出力特性の前記比較的小さな傾斜に基づいて小さい値に設定されている。このとき、学習制御時及び毎パルス制御時の電圧指令値Viは、それぞれ前記数1及び数2により示したように、そのときのエネルギー偏差値にそれぞれフィードバックゲインG1 ,G2 をかけた値に基づいて補正されている。
【0011】
しかしながら、フィードバックゲインG1 ,G2 が初期状態での小さい値のままパルスエネルギーを制御すると、レーザガスの寿命が近くなるに伴って徐々に、例えば図14に示すように、各バースト先頭領域でのパルスエネルギー偏差が収束するのが遅くなるようになる。この結果、パルスエネルギーのばらつきが大きくなって、ステッパでのトータル露光量を一定に維持することができないという問題が発生する。また、レーザガスの劣化が進みパルスエネルギー偏差量が大きくなった状態でフィードバックゲインG1 ,G2 を再調整すると、ガスを交換してレーザガスが新しくなったときに出力パルスエネルギーがハンチングを起こしてエネルギー目標値Edに収束しないという問題も生じる。
【0012】
本発明は、上記の問題点に着目してなされたものであり、レーザ発振時間の経過に伴うレーザ発振の入出力特性の変化に影響されずに各パルスエネルギーの偏差量を小さくできるエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置を提供することを目的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】
上記の目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、所定時間の連続パルス発振と所定時間の休止とを交互に繰り返すバースト運転モードでパルス発振するとき、各連続パルス発振の初期の所定数のパルス発振に対して学習制御を行い、この学習制御の後は毎パルス制御を行い、前記学習制御時は、発振開始からi番目のパルス発振の際に、前回の連続パルス発振時のi番目パルスの電圧指令値Viを、エネルギー目標値Edとこのi番目の電圧指令値Viに対応して発振したパルスのエネルギー計測値Eとの偏差値に所定のフィードバックゲインG1 をかけた値によって更新して、今回のi番目の電圧指令値Viとして出力し、また前記毎パルス制御時は、発振開始からI番目のパルス発振の際には、同一回の連続パルス発振内での(I−1)番目のパルス発振の電圧指令値VI-1を、エネルギー目標値Edとこの(I−1)番目の電圧指令値VI-1に対応して発振したパルスのエネルギー計測値Eとの偏差値に所定のフィードバックゲインG2 をかけた値によって更新して、I番目の電圧指令値VIとして出力し、パルス発振させる出力制御部10を備え、前記電圧指令値Vi,VIに基づいて放電電圧を制御してレーザのパルスエネルギーを制御するエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置において、
前記出力制御部10は、現在の、電圧指令値Viと出力パルスエネルギーとの関係を表わす入出力特性を計測し、この入出力特性に基づいて前記フィードバックゲインG1 ,G2 を補正し、補正したフィードバックゲインG1 ,G2 によりそれぞれ前記学習制御時の電圧指令値Vi及び毎パルス制御時の電圧指令値VI-1を更新して出力するようにしている。
【0014】
請求項1に記載の発明によると、出力制御部は、電圧指令値と出力パルスエネルギーとの関係を表わす入出力特性を随時計測し、現在の入出力特性に基づいて、学習制御時及び毎パルス制御時に電圧指令値と出力パルスエネルギーとの偏差値により電圧指令値を更新するためのフィードバックゲインを補正する。これにより、フィードバックゲインは常時入出力特性に適合したものとなる。したがって、レーザ発振時間の経過に伴って入出力特性が変化しても、フィードバックゲインがこの変化に対応して補正されるので、フィードバックゲインにより更新された電圧指令値が、エネルギー目標値に達する電圧指令値に短時間で収束する。この結果、エネルギー偏差が短時間で収束すると共に、偏差量が小さくなるので、エネルギーが精度良く一定値制御される。
【0015】
請求項2に記載の発明は、請求項1記載のエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置において、前記出力制御部10は、各バースト発振開始前に、使用電圧範囲の少なくとも2点以上での電圧指令値Vi,VIと出力パルスのエネルギー計測値Eとに基づいて、前記現在の入出力特性を計測し、この現在の入出力特性とレーザガスが初期状態での入出力特性とを比較して前記フィードバックゲインG1 ,G2 を補正している。
【0016】
請求項2に記載の発明によると、バースト発振開始前に例えば調整発振を行って、使用する電圧範囲内で電圧指令値に対する出力パルスエネルギーを計測し、この計測した結果に基づいて前記現在の入出力特性を算出する。この入出力特性は、例えば上記使用電圧範囲の入出力特性カーブを直線近似したときのこの直線の傾斜、すなわち電圧指令値と出力パルスエネルギーとの比例係数により表わされる。計測した現在の入出力特性(カーブの傾斜)とレーザガス初期状態での入出力特性とを比較し、初期状態に対する入出力特性の変化比率(傾斜の変化度合など)に応じて、出力パルスエネルギーの偏差値に基づいて電圧指令値を更新するための前記フィードバックゲインを補正する。したがって、レーザ発振時間の経過に伴って、例えば使用電圧範囲の前記カーブが立ち上がってくる、つまり前記電圧指令値と出力パルスエネルギーとの比例係数が大きくなるなどのように、入出力特性が変化するが、このような変化があっても、この変化に適合して前記フィードバックゲインが補正されるので、学習制御及び毎パルス制御時に電圧指令値がエネルギー目標値に適した電圧指令値に速く収束する。この結果、エネルギー偏差が短時間で収束すると共に、偏差量が小さくなるので、エネルギーが精度良く一定値制御される。
【0017】
請求項3に記載の発明は、請求項1記載のエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置において、前記出力制御部10は、現在のバーストの1番目パルスの電圧指令値Viよりバースト先頭電圧Vb を求め、レーザガス初期状態でのバーストの1番目パルスの電圧指令値Viより初期バースト先頭電圧Vbiを求め、このバースト先頭電圧Vb と初期バースト先頭電圧Vbiとの比に基づいて、前記フィードバックゲインG1 ,G2 を補正している。
【0018】
請求項3に記載の発明によると、各バーストの1番目パルスの電圧指令値(これをバースト先頭電圧と呼び)は、エネルギー一定値制御を行っている時、学習制御により学習されているのでレーザ発振時間の経過に伴う入出力特性の変化の情報を含んでおり、よって、現在のバーストのバースト先頭電圧Vb と、レーザガス初期状態でのバーストの初期バースト先頭電圧Vbiとの比により等価的に入出力特性の変化状態が表わされる。したがって、この比に基づいてフィードバックゲインを補正することにより、入出力特性の変化に適合したフィードバックゲインが求められ、学習制御及び毎パルス制御時に電圧指令値がエネルギー目標値に適した電圧指令値に速く収束する。この結果、エネルギー偏差が短時間で収束すると共に、偏差量が小さくなるので、エネルギーが精度良く一定値制御される。
【0019】
請求項4に記載の発明は、請求項1記載のエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置において、前記出力制御部10は、現在のバースト発振の電圧指令値Vi,VIの内、1番目のパルスのバースト先頭電圧Vb とバースト後半部の電圧指令値Veとの偏差値、及び、レーザガスの初期状態でのバースト発振の内、1番目パルスの初期バースト先頭電圧Vbiとバースト後半部の電圧指令値Veiとの偏差値の比に基づいて、フィードバックゲインG1 ,G2 を補正している。
【0020】
請求項4に記載の発明によると、エネルギー一定値制御を行っている時、各バーストのバースト先頭電圧は学習制御により学習されており、またバースト後半部の電圧指令値は毎パルス制御によりエネルギー計測値がフィードバックされて更新されているので、各バーストのバースト先頭電圧とバースト後半部の電圧指令値との偏差値は、レーザ発振時間の経過に伴う入出力特性の変化の情報を含んでいる。よって、現在のバーストのバースト先頭電圧Vb とバースト後半部の電圧指令値との偏差値、及び、レーザガス初期状態での初期バースト先頭電圧Vbiとバースト後半部の電圧指令値Veiとの偏差値の比により等価的に入出力特性の変化状態が表わされる。したがって、この比に基づいてフィードバックゲインを補正することにより、入出力特性の変化に適合したフィードバックゲインが求められ、学習制御及び毎パルス制御時に電圧指令値がエネルギー目標値に適した電圧指令値に速く収束する。この結果、エネルギー偏差が短時間で収束すると共に、偏差量が小さくなるので、エネルギーが精度良く一定値制御される。
【0021】
請求項5に記載の発明は、請求項1記載のエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置において、レーザガスの圧力を検出し、圧力信号を前記出力制御部10に出力する圧力センサ9を付設し、前記出力制御部10は、現在のレーザガス圧Ppとレーザガスの初期状態での初期レーザガス圧Ppiとの比に基づいて、フィードバックゲインG1 ,G2 を補正するようにしている。
【0022】
請求項5に記載の発明によると、通常エキシマレーザ装置では、エネルギー一定値制御を行っている時、動作電圧が所定の使用電源範囲以内に入るようにするために、レーザガス圧を制御(一般的には加圧制御)しているので、このレーザガス圧はレーザ発振時間の経過に伴う入出力特性の変化の情報を含んでいる。このことから、現在のレーザガス圧Ppと、レーザガス初期状態での初期レーザガス圧Ppiとの比により等価的に入出力特性の変化状態が表わされる。したがって、この比に基づいてフィードバックゲインを補正することにより、入出力特性の変化に適合したフィードバックゲインが求められ、学習制御及び毎パルス制御時に電圧指令値がエネルギー目標値に適した電圧指令値に速く収束する。この結果、エネルギー偏差が短時間で収束すると共に、偏差量が小さくなるので、エネルギーが精度良く一定値制御される。
【0023】
請求項6に記載の発明は、所定時間の連続パルス発振と所定時間の休止とを交互に繰り返すバースト運転モードでパルス発振するとき、各連続パルス発振の初期の所定数のパルス発振に対して学習制御を行い、この学習制御の後は毎パルス制御を行い、前記学習制御時は、発振開始からi番目のパルス発振の際に、前回の連続パルス発振時のi番目パルスの電圧指令値Viを、エネルギー目標値Edとこのi番目の電圧指令値Viに対応して発振したパルスのエネルギー計測値Eとの偏差値に所定のフィードバックゲインG1 をかけた値によって更新して、今回のi番目の電圧指令値Viとして出力し、また前記毎パルス制御時は、発振開始からI番目のパルス発振の際には、同一回の連続パルス発振内での(I−1)番目のパルス発振の電圧指令値VI-1を、エネルギー目標値Edとこの(I−1)番目の電圧指令値VI-1に対応して発振したパルスのエネルギー計測値Eとの偏差値に所定のフィードバックゲインG2 をかけた値によって更新して、I番目の電圧指令値VIとして出力し、前記電圧指令値Vi,VIに基づいて放電電圧を制御してレーザのパルスエネルギーを制御するエキシマレーザ装置のエネルギー制御方法において、現在の、電圧指令値Viと出力パルスエネルギーとの関係を表わす入出力特性を計測し、この入出力特性に基づいて前記フィードバックゲインG1 ,G2 を補正し、補正したフィードバックゲインG1 ,G2 によりそれぞれ前記電圧指令値Vi及び電圧指令値VI-1を更新する方法としている。
【0024】
請求項6に記載の発明によると、電圧指令値と出力パルスエネルギーとの関係を表わす入出力特性を随時計測し、現在の入出力特性に基づいて、学習制御時及び毎パルス制御時にエネルギー計測値により電圧指令値を更新するためのフィードバックゲインを補正するので、このフィードバックゲインは常時入出力特性に適合したものとなる。したがって、レーザ発振時間の経過に伴って入出力特性が変化しても、フィードバックゲインがこの変化に対応して補正されるので、フィードバックゲインにより更新された電圧指令値が、エネルギー目標値に達する電圧指令値に短時間で収束する。この結果、エネルギー偏差が短時間で収束すると共に、偏差量が小さくなるので、エネルギーが精度良く一定値制御される。
【0025】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して実施形態を説明する。
図1は、本発明に係わるエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置が用いられるステッパの構成例を示したブロック構成図である。同図において、エキシマレーザ装置1のレーザチャンバ2の内部には、レーザガスが封入されている。また、レーザチャンバ2の内部に配設された図示しない電極に、レーザ電源8から所定の放電電圧が印加され、この電極間で放電が行われる。この放電で励起された前記レーザガスによりレーザ発振が行われ、発振したレーザ光はグレーティング、プリズムなどといった狭帯域化素子6とフロントミラー7とを有する光共振器により共振し、フロントミラー7からレーザ光4として出射される。このレーザ光4はビームスプリッタ3を透過してステッパ30に導かれると共に、レーザ光4の一部はビームスプリッタ3でサンプリングされて出力モニタ部のエネルギーセンサ5に入射され、エネルギーセンサ5によりレーザ光4の1パルス当たりのエネルギー、つまりパルスエネルギーが計測される。このエネルギー計測値Eは、出力制御部10にフィードバックされている。また、レーザチャンバ2にはレーザガス圧を検出する圧力センサ9が配設されており、この圧力センサ9の圧力信号は出力制御部10に出力されている。
【0026】
また、ステッパ30は露光制御装置31を備えており、露光制御装置31は取り込んだ前記レーザ光4を露光対象のウェハに照射したり、このウェハが搭載されたステージを逐次所定距離ずつ移動させるのを制御している。そして、この露光制御装置31は、所望の露光量を得るために、前記出力制御部10に、発振パルスの1パルス当たりのエネルギー目標値Edを出力し、また、各バースト発振内のトータル発振パルス数imを出力している。また、入出力特性を計測するタイミングを指令する調整発振条件OK信号又は計測条件OK信号を出力している。
【0027】
出力制御部10は、出力するパルスエネルギーが前記入力したエネルギー目標値Edに等しくなるように、後述する所定の制御アルゴリズムにより、エネルギー目標値Edと前記エネルギー計測値Eとの偏差値に基づいて各パルス毎に電圧指令値Viを演算し、レーザ電源部8にこの演算した電圧指令値Viを出力する。これにより、所定の放電電圧で放電されてレーザ光4が発振される。このとき、出力パルス数が前記トータル発振パルス数imに達するまでパルス発振する。なお、出力制御部10は、例えばマイクロコンピュータなどのコンピュータ装置を主体にして構成することができる。
【0028】
図2は、本発明に係わる前記出力制御部10の内部の基本的な制御機能構成をイメージ的に表わす制御ブロック図を示している。
同図において、ゲイン補正演算部20は、エキシマレーザ装置の稼動中にレーザ電源部8への電圧指令値Vi及びこれに対するエネルギー計測値Ei、あるいは現在のレーザガス圧を常時監視し、これらの監視データに基づいて現在のレーザ発振の入出力特性を随時演算して求めている。そして、現在のレーザ発振の入出力特性に基づいて、学習制御部11及び毎パルス制御部12の各フィードバックゲインG1 ,G2 を補正する演算を行い、補正したフィードバックゲインG1 , G2 を学習制御部11及び毎パルス制御部12に出力している。
【0029】
学習制御部11は、各バースト発振時の初期のスパイク領域(図9参照)において、学習制御によってスパイクキラー制御を行うものである。すなわち、予め、所定のエネルギー目標値Edに対応して、各バーストの発振開始からのパルス順番iに従って電圧指令値Viを電圧テーブルとして記憶しておく。初回目のバースト発振のときには、先頭パルスからi番目のパルス発振の際に、この記憶している初期の電圧テーブルのi番目の電圧指令値Vi(このときは、VN,iでN=0のとき)を読み出してレーザ電源部8に出力する。この後、前記数1により、前記エネルギー目標値Edとレーザ発振時に計測されたエネルギー計測値Eiとの偏差値、及びゲイン補正演算部20により補正されたフィードバックゲインG1 に基づいて、前記読み出した電圧指令値Viを更新し(これを学習と言う)、この更新した電圧指令値Viを電圧テーブルのi番目の電圧指令値Vi(VN,iでN=1とする)として記憶する。そして、以後、この更新された電圧テーブルは、次回(N+1回目)のバースト発振の際に使用し、i番目のパルス発振の時に対応する電圧指令値Vi(VN,i)を読み出してレーザ電源部8に出力する。なお、所定のi0 番目の発振を終了したら、最終の電圧指令値Vi0を毎パルス制御部12に送信する。
【0030】
毎パルス制御部12は、前記スパイク領域以降の各パルス発振の際に、各パルスエネルギーのばらつきを小さくする制御を行うものである。すなわち、毎パルス制御部12は、各バースト発振(N回目とする)の先頭からi番目のパルス発振の際に、同一のバースト発振内における直前の、つまり(i−1)番目のパルス発振時の電圧指令値Vi-1(前記VN,i-1に相当)、及び、前記入力したエネルギー目標値Edとこれに対するエネルギー計測値Ei-1との偏差値を参照して、今回の電圧指令値Vi(前記VN,iに相当)としてレーザ電源部8に出力している。この後、毎パルス制御部12は、前記数2により、このとき発振したパルスのエネルギー目標値Edとエネルギー計測値Eiとの偏差値、及びゲイン補正演算部20により補正されたフィードバックゲインG2 に基づいて、前記i番目の電圧指令値Vi(VN,i)を更新し、この更新した電圧指令値Viを記憶する。前述のごとく、この記憶したi番目の電圧指令値Viが、同一バースト発振の(i+1)番目の電圧指令値Vi+1(前記VN,i+1に相当)としてパルス発振時に出力される。なお、学習制御から毎パルス制御に切り換わった時は、前記学習制御部11から入力した電圧指令値Vi0を毎パルス制御時の初期値としている。
【0031】
セレクタ13は、現在の制御処理がスパイク領域に対するものか、あるいはこれ以降の領域かを判断し、スパイク領域での制御時には学習制御部11から出力された電圧指令値Viを選択して出力し、この領域以降の制御時には毎パルス制御部12から出力された電圧指令値Viを選択して出力する。
【0032】
本発明においては、レーザの入出力特性を直接的に又は間接的に計測し、この計測した入出力特性に基づいて、これまで一定値とされていたフィードバックゲインG1 ,G2 を調整している。こうすることによって、前記入出力特性が変化しても、バースト発振の先頭領域でのエネルギー目標値Edへの追従遅れを防止することができる。以下に、入出力特性を計測してフィードバックゲインG1 ,G2 を補正するための各実施形態を説明する。
【0033】
まず、図3及び図4に基づいて、第1実施形態を説明する。いま、現在の入出力特性が図3により表わされるものとし、同図において横軸は電圧指令値Viを表わし、縦軸はこの電圧指令値Viによるパルスエネルギーを表わしている。本発明は、入出力特性の内、通常最もよく使用する電圧範囲の入出力特性に基づいて、フィードバックゲインG1 ,G2 を調整するようにしている。本実施形態では、この入出力特性を、図3における電圧指令値Viが小さい範囲の、カーブの傾斜が急峻な部分の傾斜角度によって表わすようにしており、この傾斜角度は直線近似されたカーブに基づいて数式「K=dE/dV」により求められる。
【0034】
通常、長期間休止後、あるいはレーザガス交換後のレーザ立ち上げ時には、レーザ状態を安定化させるために調整発振を行う。出力制御部10は、この調整発振の際、使用する所定の電圧範囲の少なくとも2点以上における出力パルスエネルギーを電圧一定モード、すなわち、そのままの入出力特性に従って計測する。いま、図3に示したように、2点の電圧指令値Vt0,Vt1に対応して、それぞれエネルギー計測値Et0,Et1が計測されたものとする。なお、使用電圧範囲の3点以上で測定したカーブを直線近似し、求めた直線上に2点の電圧指令値Vt0,Vt1とこれに対応するエネルギー計測値Et0,Et1とを選択してもよい。前記ゲイン補正演算部20は、この電圧指令値Vt0,Vt1及びエネルギー計測値Et0,Et1に基づいて、次の数3,4により新しいフィードバックゲインG1 ,G2 を演算している。
【数3】
G1 =G1a×(K/Ka )
【数4】
G2 =G2a×(K/Ka )
ここで、G1a,G2aは、それぞれ、レーザガス交換直後の初期状態での学習制御部11及び毎パルス制御部12のフィードバックゲインG1 ,G2 の初期値を表わしており、通常は所定の一定値に設定されるか、あるいは初期状態での調整発振時に計測した入出力特性により求められる。また、K,Ka は、それぞれ、上記の各計測値に基づいて数5により演算された入出力特性、及びレーザガス交換直後の初期状態で計測した入出力特性を表わしている。
【数5】
K=(Et1−Et0)/(Vt1−Vt0)
【0035】
つぎに、以上の構成による出力制御部10のフィードバックゲインG1 , G2 の演算処理方法を、図4に示すフローチャートに基づいて説明する。
S1で、露光制御装置31からの発振トリガ信号TRにより、出力制御部10はバーストの最終パルスのレーザ発振を行う。すなわち、最終のim番目のパルス発振の際、毎パルス制御部12が求めた電圧指令値Vimによりレーザ電源部8が充電されており、充電完了後に前記発振トリガ信号TRを受信したとき、出力制御部10はレーザ電源部8に発振指令を出力してレーザ光4を発振させる。つぎに、S2で、露光制御装置31から調整発振条件OK信号が入力されているか否かをチェックし、調整発振条件OK信号が入力されていないときには、S6に処理を移行して次バーストの1番目のパルス発振のための準備を行う。すなわち、学習制御部11が求めた1番目の電圧指令値V1をレーザ電源部8に出力して充電し、次バースト発振のための準備を行い、本フローを終了する。
【0036】
前記S2において、調整発振条件OK信号が入力されているときには、S3で調整発振を行って入出力特性を計測する。すなわち、具体的には、動作電圧近傍の所定の電圧指令値Vt0,Vt1に基づいてレーザ電源部8を充電してそれぞれレーザ発振させ、それぞれに対応するエネルギー計測値Et0,Et1を入力する。つぎにS4で、前記数5により現在の入出力特性Kを演算し、そしてS5で、前記数3,4によりこの現在の入出力特性Kに対応するフィードバックゲインG1 ,G2 を演算してゲイン調整を行う。この後、次バーストのパルス発振の際には、この調整されたフィードバックゲインG1 ,G2 によって電圧指令値Viが演算される。つぎに、前記S6へ処理を移行して同様に次バーストのパルス発振のための準備を行う。
【0037】
以上説明したように、本実施形態によると、レーザ発振の経過に伴って入出力特性が変化しても、常時この入出力特性を計測し、この計測した入出力特性と初期状態での入出力特性とを比較することによって、初期状態に対する入出力特性の変化比率が求められる。この変化比率は、例えば使用電圧範囲の入出力特性カーブの傾斜の変化度合を表わしており、この変化度合に応じて前記フィードバックゲインを補正しているので、常に入出力特性に適合したフィードバックゲインG1 ,G2 が求められる。この結果、新しいフィードバックゲインG1 ,G2 によって電圧指令値Viが更新されるので、エネルギー目標値Edを達成できる最適な電圧指令値Vdに各電圧指令値Viが短時間で収束する。したがって、出力パルスエネルギーがエネルギー目標値Edに短時間で収束すると共に、出力パルスエネルギーの偏差値が小さくなる。
【0038】
つぎに、図5,6に基づいて、第2実施形態を説明する。本実施形態は、間接的に入出力特性を計測する一例を示している。
図5は、バースト発振での電圧指令特性を示しており、横軸にパルス順番iを、縦軸に電圧指令値Viを表わしている。同図には2つの電圧指令特性が示されており、C1はレーザガス交換直後の初期状態での電圧指令特性を、C2は所定回数バースト発振を繰り返した後の電圧指令特性を示している。同図において、電圧指令特性C1,C2の先頭パルス(1番目のパルス)発振時の電圧指令値Viをそれぞれ初期バースト先頭電圧Vbi,バースト先頭電圧Vb とする。
【0039】
前述のように、学習制御時にはエネルギー目標値Edとエネルギー計測値Eとの偏差値に基づいて電圧指令値Viが学習されているので、各バーストの先頭パルス発振時の電圧指令値Vi(前記バースト先頭電圧Vb に相当)には現在のレーザ発振の入出力特性に関する情報が含まれていると考えられる。すなわち、レーザガスの劣化に伴ってレーザ発振に係わる前記入出力特性は立ってくる傾向、つまり前記図3における電圧指令値Viが低い領域で傾斜が急になる傾向があり、入出力特性が立ってくると前記バースト先頭電圧Vb は上昇する傾向がある。したがって、バースト先頭電圧Vb の上昇度合には、現在の入出力特性の変化状態に関する情報が含まれている。このことから、前記初期バースト先頭電圧Vbiと現在のバースト先頭電圧Vb とに基づいて、つぎの数6,7によりフィードバックゲインG1 ,G2 を演算する。
【数6】
G1 =G1a×Kb×(Vb /Vbi)
【数7】
G2 =G2a×Kb×(Vb /Vbi)
ここで、G1a,G2aは、前述した、レーザガス交換直後の初期状態での学習制御部11及び毎パルス制御部12のフィードバックゲインG1 ,G2 の初期値を表わしており、Kbは初期バースト先頭電圧をフィードバックゲインに変換する係数を表わしている。なお、この係数Kbは、実験結果に基づいて経験値として設定される。
【0040】
図6に本実施形態における出力制御部10の演算処理フローチャート例を示しており、つぎに同図に基づいて説明する。なお、ここでは、前記図4のステップと同じ処理を行うステップに同一のステップ番号Sを付けている。
S11で、露光制御装置31からの発振トリガ信号TRにより、出力制御部10はレーザ発振を行う。すなわち、i番目のパルス発振の際、学習制御部11あるいは毎パルス制御部12が求めた電圧指令値Viによりレーザ電源部8が充電されており、充電完了後に前記発振トリガ信号TRを受信したとき、出力制御部10はレーザ電源部8に発振指令を出力してレーザ光4を発振させる。つぎに、S12で、露光制御装置31から計測条件OK信号が入力されているか否かをチェックし、計測条件OK信号が入力されていないときには、S16に処理を移行して次の(i+1)番目のパルス発振のための準備を行う。すなわち、学習制御部11又は毎パルス制御部12が求めた電圧指令値Vi+1をレーザ電源部8に出力して充電する。この後、S11に戻って以上の処理を繰り返す。
【0041】
前記S12において、計測条件OK信号が入力されているときには、S13で現在のバースト先頭電圧Vb を計測する。すなわち、今回のバースト発振の先頭パルス発振後に更新された電圧指令値V1 を学習制御部11の電圧テーブルから読み出し、この電圧指令値V1 をバースト先頭電圧Vb とする。つぎに、S14でこのバースト先頭電圧Vb と初期バースト先頭電圧Vbiとの比率に基づいて、数式「K=Vb /Vbi」により入出力特性Kを等価的に求める。そして、S15において、前記数6,7により現在の入出力特性Kに対応するフィードバックゲインG1 ,G2 を演算してゲイン調整を行う。この後、次の(i+1)番目のパルス発振の際には、この調整されたフィードバックゲインG1 ,G2 によって電圧指令値Viが演算される。つぎに、前記S16へ処理を移行して同様に次の(i+1)番目のパルス発振のための準備を行う。
【0042】
次に、第3実施形態について説明する。
前記図5において、各バースト後半部では電圧指令値Viがほぼ一定値となって安定している。そして、本発明者らは、このバースト後半部の安定した電圧指令値Veとバースト先頭電圧Vb との偏差の大きさが、レーザガスの劣化度合に反比例する、すなわち、レーザ発振の経過に伴ってこの偏差値が小さくなるという傾向を確認している。この傾向により、この偏差値はレーザ発振の入出力特性の変化状態を表わしていると考えられる。このことから、本実施形態では、ゲイン補正演算部20は次の数8,9により、現在のバースト先頭電圧Vb とバースト後半部の電圧指令値Veとの偏差値、及び、初期バースト先頭電圧Vbiと初期バースト後半部の電圧指令値Veiとの偏差値の比に基づいて、フィードバックゲインG1 ,G2 を補正するようにしている。
【数8】
G1 =G1a×Kb×(Vei−Vbi)/(Ve−Vb )
【数9】
G2 =G2a×Kb×(Vei−Vbi)/(Ve−Vb )
ここで、フィードバックゲインG1a,G2a、及び係数Kbは、前実施形態と同様である。
【0043】
図7は、本実施形態における出力制御部10の演算処理フローチャート例を示しており、同フローチャートに基づいて説明する。
S21で、露光制御装置31からの発振トリガ信号TRにより、出力制御部10はバーストの最終パルスのレーザ発振を行う。すなわち、最終のim番目のパルス発振の際、毎パルス制御部12が求めた電圧指令値Vimによりレーザ電源部8が充電されており、充電完了後に前記発振トリガ信号TRを受信したとき、出力制御部10はレーザ電源部8に発振指令を出力してレーザ光4を発振させる。つぎに、S22で、露光制御装置31から計測条件OK信号が入力されているか否かをチェックし、計測条件OK信号が入力されていないときには、S26に処理を移行して次バーストの1番目のパルス発振のための準備を行う。すなわち、学習制御部11が求めた1番目の電圧指令値V1をレーザ電源部8に出力して充電し、次バースト発振のための準備を行い、本フローを終了する。
【0044】
S22で、計測条件OK信号が入力されているときには、S23で現在のバースト先頭電圧Vb 及びバースト後半部の電圧指令値Veを計測する。すなわち、前回のバースト発振の際に更新された先頭パルスの電圧指令値V1 、及び後半部の電圧指令値Vi(これは、後半部の幾つかの電圧指令値Viの平均値でも良い)を学習制御部11の電圧テーブル及び毎パルス制御部12からそれぞれ読み出し、この電圧指令値V1 及び後半部の電圧指令値Viをそれぞれバースト先頭電圧Vb 及びバースト後半部の電圧指令値Veとする。つぎに、S24で、この求めた現在のバースト先頭電圧Vb とバースト後半部の電圧指令値Veとの偏差値、及び、初期バースト先頭電圧Vbiと初期バースト後半部の電圧指令値Veiとの偏差値の比に基づいて、数式「K=(Vei−Vbi)/(Ve−Vb )」により入出力特性Kを等価的に求める。そして、S25において、前記数8,9により現在の入出力特性Kに対応するフィードバックゲインG1 ,G2 を演算してゲイン調整を行う。この後、次バーストのパルス発振の際には、この調整されたフィードバックゲインG1 ,G2 によって電圧指令値Viが演算される。つぎに、前記S26へ処理を移行して同様に次バーストのパルス発振のための準備を行う。
【0045】
つぎに、第4実施形態を図8に基づいて説明する。本実施形態においても、間接的に入出力特性を計測する例を示している。
一般的に、エキシマレーザ装置においては、レーザガスが劣化するにつれて、エネルギーを一定に制御する際の動作電圧Va が変化する。精度良くエネルギー制御を行うためには、この動作電圧Va は所定の範囲、例えば図12に示したような入出力特性の低電圧指令値の範囲以内に収まるようにすることが必要である。したがって、通常、動作電圧Va を所定範囲以内で一定に保つために、レーザガス圧を変化(加圧)させている。このため、現在のレーザガス圧には現在の入出力特性の変化状態に関する情報が含まれていることになる。すなわち、レーザガスの劣化に伴ってレーザガス圧が上がると、入出力特性の傾斜の急峻な部分が立ってくる、よってゲインが大きくなる傾向がある。
【0046】
本実施形態はこのことに着目しており、現在のレーザガス圧Ppと、レーザガス交換直後の初期状態での初期レーザガス圧Ppiとに基づいて、以下の数10,11によりフィードバックゲインG1 ,G2 を求めている。
【数10】
G1 =G1a×Kb×(Pp/Ppi)
【数11】
G2 =G2a×Kb×(Pp/Ppi)
ここで、フィードバックゲインG1a,G2a、及び係数Kbは、前実施形態と同様である。なお、レーザガス圧は制御中に徐々に変化して行くので、初期レーザガス圧Ppiはレーザガス交換直後の調整発振終了後、つまり初期の動作電圧Va が所定値になるようにレーザガス圧を加圧補正した後に測定したものとする。
【0047】
図8は本実施形態での出力制御部10の演算処理フローチャート例を示しており、同図に基づいて以下に処理方法を説明する。
まず、S31でレーザガスを交換したか否かを判断し、交換した場合はS32において露光制御装置31から調整発振条件OK信号が入力されるまで待つ。そして、この調整発振条件OK信号が入力されたら、S33で調整発振を行い、初期レーザガス圧Ppiを計測して記憶した後、S34に処理を移行する。また、前記S31でレーザガスを交換してない場合も、S34に処理を移行する。
【0048】
つぎに、S34では、露光制御装置31からの発振トリガ信号TRにより、出力制御部10はレーザ発振を行う。すなわち、i番目のパルス発振の際、学習制御部11あるいは毎パルス制御部12が求めた電圧指令値Viによりレーザ電源部8が充電されており、充電完了後に前記発振トリガ信号TRを受信したとき、出力制御部10はレーザ電源部8に発振指令を出力してレーザ光4を発振させる。つぎに、S35で、露光制御装置31から計測条件OK信号が入力されているか否かをチェックし、計測条件OK信号が入力されていないときには、S39に処理を移行して次の(i+1)番目のパルス発振のための準備を行う。すなわち、学習制御部11又は毎パルス制御部12が求めた電圧指令値Vi+1をレーザ電源部8に出力して充電する。この後、S31に戻って以上の処理を繰り返す。
【0049】
前記S35において、計測条件OK信号が入力されているときには、S36で圧力センサ9からの圧力信号を取り込み、現在のレーザガス圧Ppを計測する。つぎに、S37で、このレーザガス圧Ppと前記記憶している初期レーザガス圧Ppiとの比率に基づいて、数式「K=Pp/Ppi」により入出力特性Kを等価的に求める。そして、S38において、前記数10,11により現在の入出力特性Kに対応するフィードバックゲインG1 ,G2 を演算してゲイン調整を行う。この後、次の(i+1)番目のパルス発振の際には、この調整されたフィードバックゲインG1 ,G2 によって電圧指令値Viが演算される。つぎに、前記S39へ処理を移行して同様に次の(i+1)番目のパルス発振のための準備を行う。
【0050】
以上、説明したように、本発明によると、エキシマレーザ装置のレーザ発振の経過に伴って入出力特性が変化した場合でも、稼働中に逐次その入出力特性を計測し、計測した入出力特性の初期入出力特性に対する変化の度合に基づいて、現在の入出力特性に適合するように電圧指令値ViのフィードバックゲインG1 ,G2 を補正している。したがって、補正されたフィードバックゲインG1 ,G2 によって各パルス発振の度に更新される電圧指令値Viは、エネルギー目標値Edを達成できる最適な電圧指令値Vdに短時間で収束することができる。この結果、レーザガス寿命が近くなって入出力特性が初期状態から変化していても、出力パルスエネルギーをエネルギー目標値Edに短時間で収束させ、かつ、出力パルスエネルギーとエネルギー目標値Edとの偏差値を小さくすることが可能となる。よって、ステッパ等の露光量を精度良く一定に制御できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わるエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置が用いられるステッパの構成例を示したブロック構成図である。
【図2】出力制御部の内部の基本的な制御機能構成をイメージ的に表わす制御ブロック図を示す。
【図3】第1実施形態を説明する計測された入出力特性を表わす。
【図4】第1実施形態の演算処理方法を説明するフローチャート例を示す。
【図5】第2実施形態を説明するバースト発振での電圧指令特性例を表わす。
【図6】第2実施形態の演算処理方法を説明するフローチャート例を示す。
【図7】第3実施形態の演算処理方法を説明するフローチャート例を示す。
【図8】第4実施形態の演算処理方法を説明するフローチャート例を示す。
【図9】従来技術に係わるバースト発振時のパルスエネルギーの変化の説明図である。
【図10】従来技術に係わるエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置をシンボリックに表わした機能ブロック図を示す。
【図11】スパイキング現象の抑制制御時の充電電圧の出力例を示す。
【図12】レーザガス交換後初期の入出力特性例を表わす。
【図13】レーザガス寿命後半での入出力特性例を表わす。
【図14】従来技術に係わるフィードバックゲインが低い場合のパルスエネルギー偏差の収束が遅い様子を表わす。
【符号の説明】
1…エキシマレーザ装置、4…レーザ光、5…エネルギーセンサ、8…レーザ電源部、9…圧力センサ、10…出力制御部、11…学習制御部、12…毎パルス制御部、20…ゲイン補正演算部、30…ステッパ、Vi…電圧指令値、Ed…エネルギー目標値、E…エネルギー計測値、K…入出力特性。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an energy control apparatus that is mainly used as a light source of a progressive moving reduction projection exposure apparatus (hereinafter referred to as a stepper) and that controls output energy of an excimer laser apparatus that oscillates laser by discharge excitation.
[0002]
[Prior art]
It is very important for a stepper that exposes a semiconductor wafer or the like to control the exposure amount to be constant. As the light source for exposure, an excimer laser device is widely used in order to meet the recent demand for high integration density of semiconductor circuits. However, since the excimer laser device is a so-called pulse discharge excitation gas laser, there is a problem that the pulse energy of each pulse of the oscillating laser light varies due to various factors, and as a result, the exposure amount is not stable. Therefore, conventionally, in an excimer laser apparatus used for a stepper or the like, in order to reduce this variation and stabilize the exposure amount to a constant value, exposure by so-called multiple pulse exposure is performed in which a plurality of pulse oscillations are continuously performed. Some perform volume control. By this multiple pulse exposure amount control, the exposure amount variation as a whole can be reduced to a predetermined value or less, and a desired exposure amount accuracy can be obtained.
[0003]
In the stepper, since exposure and movement of the stage on which the wafer is placed are repeated alternately, the above excimer laser device is operated in a so-called burst mode. The burst mode refers to repeatedly performing an operation of suspending pulse oscillation for a predetermined time after laser light is continuously pulsed a predetermined number of times. However, as a feature during operation in the burst mode, as shown in FIG. 9, at the initial stage of each continuous pulse oscillation after a pause for a predetermined time (hereinafter referred to as burst oscillation), the oscillation is in a stable state. Although relatively high pulse energy can be obtained, if pulse oscillation is continued, each pulse oscillation gradually becomes unstable due to a laser gas density disturbance or a local temperature rise on the surface of the discharge electrode. The so-called spiking phenomenon in which the output pulse energy decreases as shown in FIG.
[0004]
In each burst oscillation, a spike region where the spiking phenomenon occurs at the start of oscillation is followed by a plateau region and a steady region (see FIG. 9) where the oscillation stabilizes. The spike region is easily affected by the length of the pause time ts, and a larger pulse energy is output than the other regions even at the same charging voltage. However, in the plateau region and the steady region, it is considered that the influence of pulse oscillation (for example, increase in electrode temperature, laser gas disturbance, etc.) immediately before the same burst oscillation is more strongly affected than the influence of the pause time ts. It is done. Therefore, there is a problem that the spiking phenomenon must be suppressed and the pulse energy must be accurately controlled at a constant value in the entire region in accordance with the oscillation characteristics of the spike region and the subsequent regions.
[0005]
In order to solve such a problem, the same applicant has proposed the following excimer laser device according to Japanese Patent Laid-Open No. 9-248682. FIG. 10 is a functional block diagram symbolically showing the energy control device of the excimer laser device disclosed in the publication. In the figure, the
[0006]
Further, every
[0007]
According to this prior art, the voltage command value Vi is feedback-controlled as follows based on the energy measurement value Ei of the pulse laser beam output by the voltage command value Vi. For example, when the constant energy control is performed with the target energy value Ed being constant, the
[Expression 1]
VN + 1, i = VN, i + G1 x (Ed-Ei)
That is, a value obtained by multiplying the deviation between the energy target value Ed and the energy measured value Ei by a predetermined feedback gain G1 is added to the voltage command value VN, i in the current burst oscillation, and the voltage command value VN in the next burst oscillation. + 1, i is calculated.
[0008]
Similarly, in each
[Expression 2]
VN, i + 1 = VN, i + G2 × (Ed−Ei)
That is, a value obtained by multiplying the deviation between the target energy value Ed and the measured energy value Ei by a predetermined feedback gain G2 is added to the voltage command value VN, i of the i-th pulse, and the voltage command value VN of the (i + 1) th pulse. , i + 1 is calculated.
Normally, the feedback gains G1 and G2 are set based on the input / output characteristics of laser oscillation, that is, the relationship between the voltage command value Vi and the output pulse energy value.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
However, the excimer laser apparatus tends to change the input / output characteristics of the laser oscillation while repeating the laser oscillation. For example, before and after the laser gas exchange or the laser gas, the laser chamber, and other laser configurations. The input / output characteristics are different when the part is new and when a predetermined time has passed or when the part is near the end of its life. 12 and 13 show examples of input / output characteristics in the initial stage after the laser gas exchange and in the latter half of the laser gas lifetime, respectively. Conventionally, the laser gas pressure is adjusted so that the voltage command value Vi is constant even when the input / output characteristics change as described above, and in order to obtain a constant pulse energy output, The charging voltage applied to is almost constant. Here, this substantially constant charging voltage is called an operating voltage. At this time, in the input / output characteristics shown in FIGS. 12 and 13, the slope of the curve of the input / output characteristics becomes steep at a voltage portion lower than the operating voltage Va, and this curve becomes flat as the voltage increases. It has been known from the past. The slope of the input / output characteristics of the voltage portion lower than the operating voltage Va gradually increases as the lifetime of the laser gas approaches.
[0010]
On the other hand, as described above, since the pulse energy is output higher than the charging voltage in the spike region, in the energy control device disclosed in the above Japanese Patent Laid-Open No. 9-248682, as shown in FIG. At the time of learning control, the voltage command value Vi of the first pulse is set lower than the operating voltage Va, and gradually increases from the second pulse. Also, the voltage command value output at the end of the learning control. Vi is used as the first voltage command value Vi at the time of every pulse control. Therefore, during learning control and pulse-by-pulse control, oscillation occurs in a region where the slope of the input / output characteristic curve is steep. Therefore, the feedback gains G1 and G2 are set to small values based on the relatively small slope of the input / output characteristics in the initial state where the laser gas is exchanged. At this time, the voltage command value Vi during learning control and pulse-by-pulse control is based on values obtained by multiplying the energy deviation values at that time by feedback gains G1 and G2, respectively, as shown by the
[0011]
However, if the pulse energy is controlled with the feedback gains G1 and G2 being small values in the initial state, the pulse energy in each burst head region gradually increases as the laser gas life approaches, for example, as shown in FIG. Deviation converges later. As a result, the variation in pulse energy becomes large, causing a problem that the total exposure amount in the stepper cannot be kept constant. If the feedback gains G1 and G2 are readjusted while the laser gas has deteriorated and the pulse energy deviation has increased, the output pulse energy will hunt when the gas is replaced and the laser gas is renewed. There also arises a problem that it does not converge to Ed.
[0012]
The present invention has been made paying attention to the above problems, and an excimer laser device capable of reducing the deviation amount of each pulse energy without being influenced by the change in the input / output characteristics of the laser oscillation with the lapse of the laser oscillation time. It aims to provide an energy control device.
[0013]
[Means, actions and effects for solving the problems]
In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, when pulse oscillation is performed in a burst operation mode in which a continuous pulse oscillation for a predetermined time and a pause for a predetermined time are alternately repeated, Learning control is performed for a predetermined number of pulse oscillations, and after this learning control, each pulse control is performed. During the learning control, at the time of the i-th pulse oscillation from the start of oscillation, The voltage command value Vi of the i-th pulse is obtained by multiplying a deviation value between the energy target value Ed and the energy measurement value E of the pulse oscillated corresponding to the i-th voltage command value Vi by a predetermined feedback gain G1. Updated and output as the i-th voltage command value Vi of this time, and at the time of each pulse control, during the I-th pulse oscillation from the start of oscillation, within the same continuous pulse oscillation ( -1) Deviation between the voltage command value VI-1 of the first pulse oscillation and the energy target value Ed and the measured energy value E of the pulse oscillated corresponding to the (I-1) th voltage command value VI-1 The value is updated with a value obtained by multiplying the value by a predetermined feedback gain G2, and is output as the I-th voltage command value VI. The
The
[0014]
According to the first aspect of the present invention, the output control unit measures the input / output characteristic representing the relationship between the voltage command value and the output pulse energy as needed, and based on the current input / output characteristic, at the time of learning control and every pulse During the control, the feedback gain for updating the voltage command value is corrected by the deviation value between the voltage command value and the output pulse energy. As a result, the feedback gain is always adapted to the input / output characteristics. Therefore, even if the input / output characteristics change as the laser oscillation time elapses, the feedback gain is corrected corresponding to this change, so the voltage command value updated by the feedback gain reaches the energy target value. It converges to the command value in a short time. As a result, the energy deviation converges in a short time and the deviation amount becomes small, so that the energy is controlled to a constant value with high accuracy.
[0015]
According to a second aspect of the present invention, in the energy control device for the excimer laser device according to the first aspect, the
[0016]
According to the second aspect of the present invention, for example, the adjustment oscillation is performed before the burst oscillation is started, the output pulse energy with respect to the voltage command value is measured within the voltage range to be used, and the current input is based on the measurement result. Calculate the output characteristics. This input / output characteristic is expressed, for example, by the slope of this straight line when the input / output characteristic curve in the above operating voltage range is linearly approximated, that is, by a proportional coefficient between the voltage command value and the output pulse energy. Compare the measured current input / output characteristics (inclination of the curve) with the input / output characteristics in the initial state of the laser gas. The feedback gain for updating the voltage command value is corrected based on the deviation value. Therefore, as the laser oscillation time elapses, for example, the curve of the operating voltage range rises, that is, the input / output characteristics change such that the proportional coefficient between the voltage command value and the output pulse energy increases. However, even if there is such a change, the feedback gain is corrected in accordance with this change, so that the voltage command value quickly converges to a voltage command value suitable for the energy target value during learning control and every pulse control. . As a result, the energy deviation converges in a short time and the deviation amount becomes small, so that the energy is controlled to a constant value with high accuracy.
[0017]
According to a third aspect of the present invention, in the energy control device of the excimer laser device according to the first aspect, the
[0018]
According to the invention described in
[0019]
According to a fourth aspect of the present invention, in the energy control device of the excimer laser device according to the first aspect, the
[0020]
According to the fourth aspect of the present invention, when the constant energy value control is performed, the burst head voltage of each burst is learned by learning control, and the voltage command value of the latter half of the burst is energy measured by pulse control. Since the value is fed back and updated, the deviation value between the burst head voltage of each burst and the voltage command value of the latter half of the burst includes information on changes in input / output characteristics with the lapse of the laser oscillation time. Therefore, the deviation value between the burst first voltage Vb of the current burst and the voltage command value of the second half of the burst, and the ratio of the deviation value between the initial burst first voltage Vbi and the voltage command value Vei of the second half of the burst in the initial state of the laser gas. Equivalently represents the change state of the input / output characteristics. Therefore, by correcting the feedback gain based on this ratio, a feedback gain suitable for the change in the input / output characteristics is obtained, and the voltage command value becomes a voltage command value suitable for the energy target value during learning control and every pulse control. Converge quickly. As a result, the energy deviation converges in a short time and the deviation amount becomes small, so that the energy is controlled to a constant value with high accuracy.
[0021]
According to a fifth aspect of the present invention, in the energy control device for the excimer laser device according to the first aspect, a
[0022]
According to the fifth aspect of the present invention, in the normal excimer laser apparatus, when the constant energy value control is performed, the laser gas pressure is controlled (general) so that the operating voltage falls within a predetermined power supply range. Therefore, the laser gas pressure includes information on changes in input / output characteristics with the lapse of the laser oscillation time. From this, the change state of the input / output characteristics is equivalently represented by the ratio between the current laser gas pressure Pp and the initial laser gas pressure Ppi in the initial laser gas state. Therefore, by correcting the feedback gain based on this ratio, a feedback gain suitable for the change in the input / output characteristics is obtained, and the voltage command value becomes a voltage command value suitable for the energy target value during learning control and every pulse control. Converge quickly. As a result, the energy deviation converges in a short time and the deviation amount becomes small, so that the energy is controlled to a constant value with high accuracy.
[0023]
According to a sixth aspect of the present invention, when pulse oscillation is performed in a burst operation mode in which continuous pulse oscillation for a predetermined time and pause for a predetermined time are alternately repeated, learning is performed for a predetermined number of pulse oscillations at the initial stage of each continuous pulse oscillation. After this learning control, every pulse control is performed. At the time of the learning control, the voltage command value Vi of the i-th pulse at the time of the previous continuous pulse oscillation is obtained at the time of the i-th pulse oscillation from the start of oscillation. , And updated by a value obtained by multiplying a deviation value between the energy target value Ed and the energy measurement value E of the pulse oscillated corresponding to the i-th voltage command value Vi by a predetermined feedback gain G1. The voltage command value Vi is output, and at the time of each pulse control, during the I-th pulse oscillation from the start of oscillation, the (I-1) -th pulse oscillation current within the same continuous pulse oscillation is output. The command value VI-1 is multiplied by a predetermined feedback gain G2 to the deviation value between the energy target value Ed and the measured energy value E of the pulse oscillated corresponding to the (I-1) th voltage command value VI-1. In the energy control method of the excimer laser device, which is updated with the value and output as the I-th voltage command value VI, and controls the discharge voltage based on the voltage command values Vi and VI to control the pulse energy of the laser. An input / output characteristic representing the current relationship between the voltage command value Vi and output pulse energy is measured, the feedback gains G1 and G2 are corrected based on the input / output characteristic, and the corrected feedback gains G1 and G2 respectively The voltage command value Vi and the voltage command value VI-1 are updated.
[0024]
According to the sixth aspect of the present invention, the input / output characteristic representing the relationship between the voltage command value and the output pulse energy is measured at any time, and the energy measured value at the time of learning control and every pulse control based on the current input / output characteristic. Since the feedback gain for updating the voltage command value is corrected by this, this feedback gain is always adapted to the input / output characteristics. Therefore, even if the input / output characteristics change as the laser oscillation time elapses, the feedback gain is corrected corresponding to this change, so the voltage command value updated by the feedback gain reaches the energy target value. It converges to the command value in a short time. As a result, the energy deviation converges in a short time and the deviation amount becomes small, so that the energy is controlled to a constant value with high accuracy.
[0025]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a stepper in which an energy control device for an excimer laser device according to the present invention is used. In the figure, a laser gas is sealed in a
[0026]
Further, the
[0027]
Based on the deviation value between the target energy value Ed and the measured energy value E, the
[0028]
FIG. 2 is a control block diagram conceptually showing the basic control function configuration inside the
In the figure, the gain
[0029]
The
[0030]
Each
[0031]
The
[0032]
In the present invention, the input / output characteristics of the laser are measured directly or indirectly, and the feedback gains G1 and G2 that have been set to constant values are adjusted based on the measured input / output characteristics. In this way, even if the input / output characteristics change, it is possible to prevent a follow-up delay to the energy target value Ed in the head region of burst oscillation. Each embodiment for measuring the input / output characteristics and correcting the feedback gains G1 and G2 will be described below.
[0033]
First, based on FIG.3 and FIG.4, 1st Embodiment is described. Now, it is assumed that the current input / output characteristics are represented by FIG. 3, in which the horizontal axis represents the voltage command value Vi, and the vertical axis represents the pulse energy by this voltage command value Vi. In the present invention, the feedback gains G1 and G2 are adjusted on the basis of the input / output characteristics of the voltage range that is usually used most frequently among the input / output characteristics. In the present embodiment, this input / output characteristic is represented by an inclination angle of a portion where the slope of the curve is steep in a range where the voltage command value Vi in FIG. 3 is small, and this inclination angle is a curve that is linearly approximated. Based on this, it is obtained by the mathematical expression “K = dE / dV”.
[0034]
Normally, adjustment oscillation is performed in order to stabilize the laser state when the laser is started after a long period of rest or after laser gas exchange. The
[Equation 3]
G1 = G1a x (K / Ka)
[Expression 4]
G2 = G2a x (K / Ka)
Here, G1a and G2a represent initial values of the feedback gains G1 and G2 of the
[Equation 5]
K = (Et1-Et0) / (Vt1-Vt0)
[0035]
Next, a calculation processing method of the feedback gains G1 and G2 of the
In S <b> 1, the
[0036]
When the adjusted oscillation condition OK signal is input in S2, the adjusted oscillation is performed in S3 to measure the input / output characteristics. Specifically, based on predetermined voltage command values Vt0 and Vt1 in the vicinity of the operating voltage, the laser
[0037]
As described above, according to the present embodiment, even if the input / output characteristics change with the progress of laser oscillation, the input / output characteristics are always measured, and the measured input / output characteristics and the input / output in the initial state are measured. By comparing with the characteristics, the change ratio of the input / output characteristics with respect to the initial state is obtained. This change ratio represents, for example, the degree of change in the slope of the input / output characteristic curve in the operating voltage range, and the feedback gain is corrected in accordance with this degree of change, so that the feedback gain G1 always adapted to the input / output characteristic. , G2 is required. As a result, the voltage command value Vi is updated by the new feedback gains G1 and G2, so that each voltage command value Vi converges in a short time to the optimum voltage command value Vd that can achieve the energy target value Ed. Therefore, the output pulse energy converges to the energy target value Ed in a short time, and the deviation value of the output pulse energy becomes small.
[0038]
Next, a second embodiment will be described based on FIGS. This embodiment shows an example of indirectly measuring input / output characteristics.
FIG. 5 shows voltage command characteristics in burst oscillation, where the horizontal axis represents the pulse order i and the vertical axis represents the voltage command value Vi. In the figure, two voltage command characteristics are shown. C1 indicates a voltage command characteristic in an initial state immediately after laser gas exchange, and C2 indicates a voltage command characteristic after repeating burst oscillation a predetermined number of times. In the figure, the voltage command value Vi at the time of oscillation of the first pulse (first pulse) of the voltage command characteristics C1 and C2 is assumed to be an initial burst head voltage Vbi and a burst head voltage Vb, respectively.
[0039]
As described above, during the learning control, the voltage command value Vi is learned based on the deviation value between the energy target value Ed and the energy measurement value E. Therefore, the voltage command value Vi at the start pulse oscillation of each burst (the burst It is considered that information on the input / output characteristics of the current laser oscillation is included in the head voltage Vb). That is, the input / output characteristics related to laser oscillation tend to stand up with the deterioration of the laser gas, that is, the slope tends to become steep in the region where the voltage command value Vi in FIG. When it comes, the burst head voltage Vb tends to increase. Therefore, the degree of increase of the burst head voltage Vb includes information on the current change state of the input / output characteristics. From this, feedback gains G1 and G2 are calculated by the following
[Formula 6]
G1 = G1a × Kb × (Vb / Vbi)
[Expression 7]
G2 = G2a x Kb x (Vb / Vbi)
Here, G1a and G2a represent the initial values of the feedback gains G1 and G2 of the
[0040]
FIG. 6 shows an example of a calculation processing flowchart of the
In S11, the
[0041]
When the measurement condition OK signal is input in S12, the current burst head voltage Vb is measured in S13. That is, the voltage command value V1 updated after the first pulse oscillation of the current burst oscillation is read from the voltage table of the
[0042]
Next, a third embodiment will be described.
In FIG. 5, the voltage command value Vi is almost constant and stable in the latter half of each burst. Then, the inventors of the present invention indicate that the magnitude of the deviation between the stable voltage command value Ve and the burst head voltage Vb in the latter half of the burst is inversely proportional to the degree of deterioration of the laser gas, that is, with the progress of laser oscillation. The tendency that the deviation value becomes smaller is confirmed. Due to this tendency, this deviation value is considered to represent a change state of the input / output characteristics of laser oscillation. Therefore, in this embodiment, the gain
[Equation 8]
G1 = G1a * Kb * (Vei-Vbi) / (Ve-Vb)
[Equation 9]
G2 = G2a * Kb * (Vei-Vbi) / (Ve-Vb)
Here, the feedback gains G1a and G2a and the coefficient Kb are the same as in the previous embodiment.
[0043]
FIG. 7 shows a calculation processing flowchart example of the
In S21, the
[0044]
When the measurement condition OK signal is input in S22, the current burst head voltage Vb and the voltage command value Ve of the latter half of the burst are measured in S23. That is, the first pulse voltage command value V1 updated at the time of the previous burst oscillation and the second half voltage command value Vi (this may be an average value of several voltage command values Vi in the second half). The voltage command value V1 and the second half voltage command value Vi are respectively read from the voltage table of the
[0045]
Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIG. This embodiment also shows an example in which input / output characteristics are indirectly measured.
In general, in an excimer laser apparatus, as the laser gas deteriorates, the operating voltage Va when the energy is controlled to be constant changes. In order to perform energy control with high accuracy, it is necessary that the operating voltage Va be within a predetermined range, for example, the range of the low voltage command value of the input / output characteristics as shown in FIG. Therefore, the laser gas pressure is usually changed (pressurized) in order to keep the operating voltage Va constant within a predetermined range. For this reason, the current laser gas pressure includes information on the current input / output characteristic change state. In other words, when the laser gas pressure increases with the deterioration of the laser gas, a steep portion of the input / output characteristics is steep, so that the gain tends to increase.
[0046]
This embodiment pays attention to this, and based on the current laser gas pressure Pp and the initial laser gas pressure Ppi in the initial state immediately after the laser gas exchange, the feedback gains G1 and G2 are obtained by the following
[Expression 10]
G1 = G1a x Kb x (Pp / Ppi)
[Expression 11]
G2 = G2a x Kb x (Pp / Ppi)
Here, the feedback gains G1a and G2a and the coefficient Kb are the same as in the previous embodiment. Since the laser gas pressure gradually changes during the control, the initial laser gas pressure Ppi is corrected by pressurizing the laser gas pressure after the adjustment oscillation immediately after the laser gas replacement, that is, the initial operating voltage Va becomes a predetermined value. It shall be measured later.
[0047]
FIG. 8 shows an example of a calculation processing flowchart of the
First, in S31, it is determined whether or not the laser gas has been replaced. If it has been replaced, the process waits until an adjusted oscillation condition OK signal is input from the
[0048]
Next, in S <b> 34, the
[0049]
In S35, when the measurement condition OK signal is input, the pressure signal from the
[0050]
As described above, according to the present invention, even when the input / output characteristics change with the progress of laser oscillation of the excimer laser device, the input / output characteristics are sequentially measured during operation. Based on the degree of change with respect to the initial input / output characteristics, the feedback gains G1 and G2 of the voltage command value Vi are corrected so as to conform to the current input / output characteristics. Therefore, the voltage command value Vi updated at each pulse oscillation by the corrected feedback gains G1 and G2 can be converged in a short time to the optimum voltage command value Vd that can achieve the energy target value Ed. As a result, even if the laser gas life is near and the input / output characteristics have changed from the initial state, the output pulse energy is converged to the energy target value Ed in a short time, and the deviation between the output pulse energy and the energy target value Ed is achieved. The value can be reduced. Therefore, the exposure amount of the stepper or the like can be controlled accurately and constant.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a stepper in which an energy control device of an excimer laser device according to the present invention is used.
FIG. 2 is a control block diagram schematically showing a basic control function configuration inside the output control unit.
FIG. 3 shows measured input / output characteristics for explaining the first embodiment.
FIG. 4 is a flowchart illustrating an arithmetic processing method according to the first embodiment.
FIG. 5 shows an example of voltage command characteristics in burst oscillation for explaining the second embodiment.
FIG. 6 is a flowchart illustrating an arithmetic processing method according to the second embodiment.
FIG. 7 is a flowchart illustrating an arithmetic processing method according to a third embodiment.
FIG. 8 is a flowchart illustrating an arithmetic processing method according to a fourth embodiment.
FIG. 9 is an explanatory diagram of a change in pulse energy during burst oscillation according to the prior art.
FIG. 10 is a functional block diagram symbolically showing an energy control device of an excimer laser device according to the prior art.
FIG. 11 shows an example of charging voltage output during suppression control of the spiking phenomenon.
FIG. 12 represents an example of initial input / output characteristics after laser gas exchange.
FIG. 13 shows an example of input / output characteristics in the latter half of the laser gas life.
FIG. 14 shows how pulse energy deviation converges slowly when the feedback gain according to the prior art is low.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記出力制御部(10)は、現在の、電圧指令値(Vi)と出力パルスエネルギーとの関係を表わす入出力特性を計測し、この入出力特性に基づいて前記フィードバックゲイン(G1,G2) を補正し、補正したフィードバックゲイン(G1,G2) によりそれぞれ前記学習制御時の電圧指令値(Vi)及び毎パルス制御時の電圧指令値(VI-1)を更新して出力することを特徴とするエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置。When pulse oscillation is performed in the burst operation mode in which continuous pulse oscillation for a predetermined time and pause for a predetermined time are alternately repeated, learning control is performed for a predetermined number of pulse oscillations at the initial stage of each continuous pulse oscillation. Performs pulse-by-pulse control, and at the time of learning control, the voltage command value (Vi) of the i-th pulse at the previous continuous pulse oscillation at the time of the i-th pulse oscillation from the start of oscillation is used as the energy target value (Ed). Is updated with a value obtained by multiplying a deviation value between the measured energy (E) of the pulse oscillated corresponding to this i-th voltage command value (Vi) and a predetermined feedback gain (G1), and this i-th voltage command value (Vi). Voltage command value (Vi), and during the pulse control, the (I-1) th pulse oscillation within the same continuous pulse oscillation during the I-th pulse oscillation from the start of oscillation The voltage command value (VI-1) of the energy target A value obtained by multiplying the deviation value between (Ed) and the measured energy value (E) of the pulse oscillated corresponding to the (I-1) th voltage command value (VI-1) by a predetermined feedback gain (G2) And an output control unit (10) that outputs the pulse voltage as an I-th voltage command value (VI), and controls the discharge voltage based on the voltage command values (Vi) and (VI). In the energy control device of the excimer laser device for controlling the pulse energy of the laser,
The output control unit (10) measures an input / output characteristic representing the current relationship between the voltage command value (Vi) and the output pulse energy, and determines the feedback gain (G1, G2) based on the input / output characteristic. The voltage command value (Vi) at the time of the learning control and the voltage command value (VI-1) at the time of each pulse control are updated and output by the corrected feedback gain (G1, G2), respectively. Excimer laser device energy control device.
前記出力制御部(10)は、各バースト発振開始前に、使用電圧範囲の少なくとも2点以上での電圧指令値(Vi),(VI)と出力パルスのエネルギー計測値(E) とに基づいて、前記現在の入出力特性を計測し、この現在の入出力特性とレーザガスが初期状態での入出力特性とを比較して前記フィードバックゲイン(G1,G2) を補正することを特徴とするエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置。In the energy control device of the excimer laser device according to claim 1,
The output control unit (10) is based on the voltage command values (Vi) and (VI) at at least two points in the operating voltage range and the energy measurement value (E) of the output pulse before starting each burst oscillation. Measuring the current input / output characteristics and comparing the current input / output characteristics and the input / output characteristics of the laser gas in an initial state to correct the feedback gain (G1, G2). Equipment energy control device.
前記出力制御部(10)は、現在のバーストの1番目パルスの電圧指令値(Vi)よりバースト先頭電圧(Vb)を求め、レーザガス初期状態でのバーストの1番目パルスの電圧指令値(Vi)より初期バースト先頭電圧(Vbi) を求め、このバースト先頭電圧(Vb)と初期バースト先頭電圧(Vbi) との比に基づいて、前記フィードバックゲイン(G1,G2) を補正することを特徴とするエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置。In the energy control device of the excimer laser device according to claim 1,
The output control unit (10) obtains the burst head voltage (Vb) from the voltage command value (Vi) of the first pulse of the current burst, and the voltage command value (Vi) of the first pulse of the burst in the initial state of the laser gas. The initial burst head voltage (Vbi) is obtained, and the feedback gain (G1, G2) is corrected based on the ratio between the burst head voltage (Vb) and the initial burst head voltage (Vbi). Energy control device for laser equipment.
前記出力制御部(10)は、現在のバースト発振の電圧指令値(Vi),(VI)の内、1番目のパルスのバースト先頭電圧(Vb)とバースト後半部の電圧指令値(Ve)との偏差値、及び、レーザガスの初期状態でのバースト発振の内、1番目パルスの初期バースト先頭電圧(Vbi) とバースト後半部の電圧指令値(Vei) との偏差値の比に基づいて、フィードバックゲイン(G1,G2) を補正することを特徴とするエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置。In the energy control device of the excimer laser device according to claim 1,
The output control unit (10) includes the burst start voltage (Vb) of the first pulse and the voltage command value (Ve) of the second half of the burst among the voltage command values (Vi) and (VI) of the current burst oscillation. Feedback based on the deviation value and the ratio of the deviation value between the initial burst head voltage (Vbi) of the first pulse and the voltage command value (Vei) of the second half of the burst of the burst oscillation in the initial state of the laser gas An energy control device for an excimer laser device, wherein the gain (G1, G2) is corrected.
レーザガスの圧力を検出し、圧力信号を前記出力制御部(10)に出力する圧力センサ(9) を付設し、
前記出力制御部(10)は、現在のレーザガス圧(Pp)とレーザガスの初期状態での初期レーザガス圧(Ppi) との比に基づいて、フィードバックゲイン(G1,G2) を補正することを特徴とするエキシマレーザ装置のエネルギー制御装置。In the energy control device of the excimer laser device according to claim 1,
A pressure sensor (9) that detects the pressure of the laser gas and outputs a pressure signal to the output control unit (10) is provided,
The output controller (10) corrects the feedback gain (G1, G2) based on the ratio of the current laser gas pressure (Pp) and the initial laser gas pressure (Ppi) in the initial state of the laser gas. Excimer laser device energy control device.
現在の、電圧指令値(Vi)と出力パルスエネルギーとの関係を表わす入出力特性を計測し、この入出力特性に基づいて前記フィードバックゲイン(G1,G2) を補正し、補正したフィードバックゲイン(G1,G2) によりそれぞれ前記電圧指令値(Vi)及び電圧指令値(VI-1)を更新することを特徴とするエキシマレーザ装置のエネルギー制御方法。When pulse oscillation is performed in the burst operation mode in which continuous pulse oscillation for a predetermined time and pause for a predetermined time are alternately repeated, learning control is performed for a predetermined number of pulse oscillations at the initial stage of each continuous pulse oscillation. Performs pulse-by-pulse control, and at the time of learning control, the voltage command value (Vi) of the i-th pulse at the previous continuous pulse oscillation at the time of the i-th pulse oscillation from the start of oscillation is used as the energy target value (Ed). Is updated with a value obtained by multiplying a deviation value between the measured energy (E) of the pulse oscillated corresponding to this i-th voltage command value (Vi) and a predetermined feedback gain (G1), and this i-th voltage command value (Vi). Voltage command value (Vi), and during the pulse control, the (I-1) th pulse oscillation within the same continuous pulse oscillation during the I-th pulse oscillation from the start of oscillation The voltage command value (VI-1) of the energy target A value obtained by multiplying the deviation value between (Ed) and the measured energy value (E) of the pulse oscillated corresponding to the (I-1) th voltage command value (VI-1) by a predetermined feedback gain (G2) The energy of the excimer laser device that outputs the I-th voltage command value (VI) and controls the pulse voltage of the laser by controlling the discharge voltage based on the voltage command values (Vi) and (VI). In the control method,
Current input / output characteristics representing the relationship between the voltage command value (Vi) and output pulse energy are measured, the feedback gains (G1, G2) are corrected based on the input / output characteristics, and the corrected feedback gain (G1 , G2) to update the voltage command value (Vi) and the voltage command value (VI-1), respectively.
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