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JP3667288B2 - Interface buffer - Google Patents

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JP3667288B2
JP3667288B2 JP2002049488A JP2002049488A JP3667288B2 JP 3667288 B2 JP3667288 B2 JP 3667288B2 JP 2002049488 A JP2002049488 A JP 2002049488A JP 2002049488 A JP2002049488 A JP 2002049488A JP 3667288 B2 JP3667288 B2 JP 3667288B2
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power supply
potential
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康文 鈴木
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Necマイクロシステム株式会社
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Publication date
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、インタフェースバッファに関し、特に、多電源で構成したインタフェース電源の貫通電流を防止したインタフェースバッファに関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、情報処理装置の電子機器、特に、携帯電話等の電子機器の低消費電力化のため、これらの電子機器の動作電圧が下がってきていることは、周知の事実である。その結果、これらの電子機器に搭載される集積回路に使用される素子、例えば、トランジスタなどの動作電圧も下がってきていることも、周知である。
【0003】
しかしながら、これらの電子機器に搭載される集積回路のチップ間のインタフェース電圧は、その信号の伝送の問題等により、その動作電圧を下げられない。そのため、CORE回路で使用している動作電圧とインタフェースの動作電圧の差が、ますます広がってきている。
【0004】
また、低消費電力化のため、停止状態のチップには電源供給を切断(OFF)する方法が多く取られている。そして、停止状態のチップと動作状態のチップ間のインタフェースは接続されたままであるため、インタフェース電源は供給されたままである。
【0005】
したがって、CORE回路の電源はOFFするが、次段の動作状態のチップに対して動作を保障するため、インタフェースの論理出力は、固定電位の出力をする必要がある。
【0006】
そのため、CORE回路の電源がOFF、インタフェース電源がON状態で各インタフェースブロックの出力を固定するCORE領域の電源OFF検知用ブロックにおいて低電力化(貫通電流防止)が必要となっている。
【0007】
このような多電源に対する従来の電源検知回路は、例えば、特開平9−205355号公報に記載されている。この従来の電源検知回路の回路構成を図7に示す。従来の電源検知回路は、異電位間の電源検知回路付のインタフェースバッファが存在していないため、特開平9−205355号公報特の回路をインタフェースバッファに適用し、電源検知回路付のインタフェースバッファについて、図4を参照して説明する。
【0008】
まず、図7を参照して、従来の電源検知回路の動作について説明する。
【0009】
電源V1がOFF状態で、電源V2がON状態では、電源V1は、電位固定回路4のPchトランジスタ20が常にONしているため、抵抗5とPchトランジスタ20によりOFFしている電源である、すなわちフローティングとなっている電源V1の電位がGNDとなり、V1電位固定回路4の出力6はGNDとなり、インバータ50の出力信号17Zは電源V2の電位となり、OR回路39Zの出力S39Zは電源V2電位固定となり、LD11Zを無効化する。
【0010】
電源V1,電源V2がともにON状態では、V1電位固定回路4のPchトランジスタ20が常にONしているため、V1電位固定回路4の出力6はPchトランジスタ20のON抵抗と抵抗5の抵抗比により中間電位となるが、抵抗5の抵抗値はPchトランジスタ20のON抵抗値に比べ十分大きく電源V1近くまで電位が上がり、インバータ50の出力17ZはGNDとなり、OR回路39Zの出力S39ZはLD11Zにより変化し、LD11Zを有効化する。すなわち、電源V1のON,OFFによりLD11Zを有効、無効の切り替えを行う。
【0011】
次に、図4を参照して、特開平9−205355号公報に記載の電源検知回路付インタフェースバッファについて説明する。
【0012】
電源検知回路付インタフェースバッファは、コア回路用の1.5Vの電圧電源V1と、インタフェース用の3.3Vの電圧電源V2を有する。
【0013】
電源検知回路51は、抵抗5を含むV1電位固定回路4と、インバータ50から成る。
【0014】
インタフェース回路10は、CORE回路8の出力を端子OUTに出力する回路で、インタフェース用レベルシフト回路11と、NOR回路12と、出力バッファ13から成る。
【0015】
電源V1がOFF、電源V2がON状態では、V1電位固定回路4のPchトランジスタ20が常にONしているため、抵抗5とPchトランジスタ20によりOFFしている電源、すなわちフローティングとなっている電源V1の電位がGNDとなり、V1電位固定回路4の出力6はGNDとなり、インバータ50の出力17Zは電源V2の電位となり、OUTは電源V2の電位固定となる。すなわち、電源V1がOFFしていることをV1電位固定回路4により検知してインバータ50によりレベルを変換している。
【0016】
電源V1、電源V2がともにON状態では、V1電位固定回路4のPchトランジスタ20が常にONしているため、V1電位固定回路4の出力6はPchトランジスタ20のON抵抗と抵抗5の抵抗比により中間電位となるが、抵抗5の抵抗値はPchトランジスタ20のON抵抗値に比べ十分大きく電源V1近くまで電位が上がり、インバータ50の出力17ZはGNDとなり、OUTはCORE回路8の論理を出力する。
【0017】
すなわち、電源V1のON,OFFの状態により、インタフェース出力の制御を行う構成となっている。
【0018】
しかし、図4の回路では電源V1、電源V2がともにON状態では、V1電位固定回路4の出力6の電位が電源V2の電位よりも低いため、インバータ50のPchトランジスタ52はOFFしないため、電源V2とGND間に電流54が流れる。
【0019】
さらに、近年では前述したように、CORE回路の電源とインタフェースの電源の電位差が大きくなってきており、この貫通電流が無視できない電流となっている。
【0020】
例えば、貫通電流の例を挙げて説明すると、V1電位固定回路4による貫通電流は主に抵抗Rにより決定されるが、抵抗Rは1GΩ程度の大抵抗で構成されるため、V1=1.5Vとすると1.5nA程度の電流となる。インバータ50では例えばゲートソース間電圧VGS=3.3VでPchトランジスタのION=0.5mA、NchトランジスタのION=1mAとした場合、VGS=1.5Vでは PchトランジスタのION=0.18mA NchトランジスタのION=0.36mAとなり、200μA程度の電流となる。また、トランジスタのゲート長を長くしてON抵抗値を下げ、数nAとするためには、トランジスタ面積が数百倍必要となり、チップの占有面積の点で不利となる。
【0021】
また抵抗素子面積の例を挙げて説明すると、V1電位固定回路4で使用される1GΩの抵抗を抵抗素子(例えばポリ抵抗)で構成するためには、20mm程度の長さが必要であり、4mm2 程度の面積が必要となり、トランジスタ素子の代わりに抵抗素子を多用することはレイアウト面積の面で不利となる。
【0022】
次に、従来、電源V2とGND間の電流を流さずに、電源V1、電源V2のように異電位間の電圧変換(レベルシフト)に使用される回路を用いて電源検知回路付のインタフェースバッファを構成した場合について、図5、図6を元に説明する。
【0023】
図5は、電源V2とGND間の電流を流さずに、電源V1、電源V2のように異電位間の電圧変換(レベルシフト)する回路である。
【0024】
CORE回路8の論理信号60がインタフェースバッファ65に入力される。信号61はCORE回路の論理信号60の反転信号となり、Nchトランジスタ63がON、Nchトランジスタ64がOFFであるか、あるいはNchトランジスタ63がOFF、Nchトランジスタ64がONとなり、信号62の電位が電源V2あるいはGND電位となる構成であり、電源V2,GND間の電流を流さずに電源V1から電源V2へレベルシフトを行う。
【0025】
図6に、図4のインバータ52を図5の貫通電流を防止したレベルシフト回路に置き換えた電源検知回路付のインタフェースバッファを示す。
【0026】
電源V1、電源V2がともにON状態では、V1電位固定回路4の出力6の電位が電源V1の電位、インバータ70の出力3の電位がGNDとなり、電源検知回路1の出力信号17の電位がGNDとなりCORE回路8の論理を出力する。
【0027】
電源V1がOFF、電源V2がON状態では、V1電位固定回路4の出力6の電位がGND、インバータ70の電源である電源V1がGNDとなるためインバータ70の出力3の電位もGNDとなり、Nchトランジスタ9,19がともにOFFし、電源検知回路1の出力信号17の電位は確定されず、レベル出力端子OUTが確定されない。
【0028】
すなわち、従来のインタフェース電源の貫通電流防止のレベルシフト回路を用いた場合、電源検知回路付のインタフェースブロックとして動作しない。
【0029】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来技術では以下の問題点があった。
【0030】
低電位であるCORE電源V1から高電位であるインタフェース電源V2に変換する際に高電位であるインタフェース電源V2のみで電位変換(レベルシフト)すると、高電位のゲート回路に低電位を入力する必要があり、PchトランジスタがOFFしきらず、貫通電流が流れる。
【0031】
従来技術の電源検知回路で、貫通電流を防止した、低電位から高電位に変換する回路を使用すると、回路内に低電位であるCORE電源V1と高電位であるインタフェース電源V2を用いた回路構成となっているため、CORE電源V1がOFFすると出力が固定できず不安定な動作となる問題があった。
したがって、本発明の主な目的は、上記問題を解決したインタフェースバッファを提供することにある。
【0032】
【課題を解決するための手段】
本発明のインタフェースバッファは、動作電圧が第1の電源電位で動作するコア回路と、前記第1の電源電位および動作電圧が第2の電源電位で動作し、前記コア回路の出力を受け、前記第1の電源電位に対応するレベルシフトした出力を出力するインタフェース回路と、前記第1の電源電位および前記第2の電源電位で動作し、前記インタフェース回路の出力を制御する電源検知回路とを備え、前記電源検知回路は、前記第1の電源がオフ状態で、前記前記第2の電源がオン状態で、前記インタフェース回路の出力を所定の固定電位とする制御をし、前記第2の電源からGNDに貫通電流が流れない構成である。
【0033】
また、本発明のインタフェースバッファの前記電源検知回路は、前記第1の電源電位の電位を入力とするV1電位固定回路と、前記第2の電源電位の電位を入力とするレベルシフト回路とから成り、前記V1電位固定回路の出力を受けて、前記レベルシフト回路が、前記インタフェース回路の出力を所定の固定電位とする制御をする構成である。
【0034】
また、本発明のインタフェースバッファの前記レベルシフト回路は、一導電型の第1および第2のトランジスタとを縦積みで前記電源V2に接続し、逆導電型の第3のトランジスタのバックゲートを前記第2のトランジスタのドレインに接続したインバータとを備え、前記第3のトランジスタのドレイン端子の電位が、前記第1の電源電位よりも低い電位となるように、前記第1および第2トランジスタの縦積み段数を調整する構成である。
【0035】
またさらに、本発明のインタフェースバッファの前記一導電型の第1および第2のトランジスタは、Nchトランジスタであり、前記逆導電型の第3のトランジスタは、Pchトランジスタである。
【0036】
【発明の実施の形態】
本発明によるインタフェースバッファは、CORE(内部)電圧、インタフェース(外部)電圧が異電位で供給され、CORE電圧(例えば1.5V)<インタフェース電圧(例えば3.3V)の関係にあるチップにおいて、CORE電源がOFF、インタフェース電源がON状態となっても次段チップの誤動作を防ぐため、チップの出力(インタフェース出力)を固定電位(電源電圧またはGND)出力するために使用される、インタフェース電源の貫通電流を防止した電源検知回路を備えたインタフェースバッファである。
【0037】
図面を参照しながら、本発明の実施の形態のインタフェースバッファについて、詳細に説明する。
【0038】
図1は、本発明の第1の実施の形態のインタフェースバッファの構成を示すブロック図を示す。
【0039】
図1を参照すると、本発明の第1の実施の形態のインタフェースバッファは、動作電圧が1.5Vのコア回路用の電源V1で動作するコア回路8と、電源V1および動作電圧が3.3Vのインタフェース用の電源V2で動作し、コア回路8の出力102を受け、レベルシフトした出力103を出力するインタフェース回路10と、電源V1および電源V2で動作し、インタフェース回路10の貫通電流を制御する電源検知回路1とを備える。
【0040】
また、インタフェース回路10は、コア回路8の出力102を端子OUT103に出力する回路で、インタフェース用レベルシフト回路11と、NOR回路12と、出力バッファ13から成る。
【0041】
電源検知回路1は、電源V2で動作するレベルシフト回路2と、電源V1で動作し、抵抗5を含むV1電位固定回路4とから成る。
【0042】
レベルシフト回路2は、Nchトランジスタ9と、Nchトランジスタ19と、Pchトランジスタ22と、Pchトランジスタ23と、縦積みインバータ3とから成る。
【0043】
縦積みインバータ3は、通常のインバータと構成が異なり、Nchトランジスタ(14、15)が2段縦積みで電源V2に接続され、Pchトランジスタ16はバックゲートがNchトランジスタ15のドレイン端子7に接続されている。
【0044】
V1電位固定回路4は、Nchトランジスタ21とPchトランジスタ20から成る。Nchトランジスタ21は、そのゲートに縦積みインバータ3の出力が接続され、そのドレインにV1電位固定回路4の出力信号6が接続されている。Pchトランジスタ20はゲートにGNDが接続され、そのソースに電源V1が接続され、そのレインにV1電位固定回路4の出力信号6が接続されている。
【0045】
インタフェース用レベルシフト回路11は、CORE回路8の出力信号を入力し、V1電圧レベルの信号をV2レベルに昇圧させ出力信号18として出力する回路である。
【0046】
NOR回路12は電源検知回路1の出力信号17と、インタフェース用レベルシフト回路11の出力信号18を論理演算する回路である。出力バッファ13はNOR回路12の出力を論理反転し端子OUTから出力する。
【0047】
次に、本発明の第1の実施の形態のインタフェースバッファの動作について説明する
本発明の第1の実施の形態のインタフェースバッファは、電源V1がOFF、電源V2がON状態では、V1電位固定回路4のPchトランジスタ20が常にONしているため、抵抗5とPchトランジスタ20によりOFFしている電源、すなわち、フローティングとなっている電源V1の電位がGNDとなり、V1電位固定回路4の出力6はGNDとなり、Nchトランジスタ24がOFF、Pchトランジスタ16がONし、インバータ3の出力 24はNchトランジスタ15のドレイン端子7の電位を出力する。
【0048】
このとき、Nchトランジスタ15のドレイン端子7の電位は、電源V2よりNchトランジスタ(14、15)の閾値VTn分電位が降下した電位となっており、その電位をVXとすると、電位VXは電源V1以下の電位となっている。Nchトランジスタ(14、15)の閾値VTnは、1.0V程度であり、2段縦積みとすることにより、電位VXは、電源V1よりも2V程度電位降下した値となる。
【0049】
V1電位固定回路4の出力6とNchトランジスタ15のドレイン端子7の電位により、Nchトランジスタ9はOFFし、Nchトランジスタ19はONし、電源検知回路1の出力信号17の電位は、電源V2の電位となり、NOR回路12の出力はCORE回路8の出力に関係なくGNDとなり、出力端子OUTは電源V2の電位固定となる。
【0050】
電源V1および電源V2がともにON状態では、V1電位固定回路4のPchトランジスタ20が常にONしているため、V1電位固定回路4の出力6は、Pchトランジスタ20のON抵抗と抵抗5の抵抗比により中間電位となるが、抵抗5の抵抗値は、Pchトランジスタ20のON抵抗値に比べ十分大きく、V1電位固定回路4の出力6の電位は電源V1近くまで上がる。
【0051】
Nchトランジスタ15のドレイン端子7をバックゲートとしているPchトランジスタ16は、バックゲートの電位VXが電源V1以下となるように、Nchトランジスタ14,15の2段落を介して電源V2に接続されているため、完全にOFFし、インタフェース電源に貫通電流を流さずに、縦積みインバータ3の出力24の電位をGNDとする。そして、Nchトランジスタ9はON、Nchトランジスタ19はOFFし、電源検知回路1の出力信号17の電位をGNDとし、OUTはCORE回路8の論理を出力する
図2は、本発明の第2の実施の形態のインタフェースバッファの構成を示すブロック図である。
【0052】
図2を参照すると、本発明の第2の実施の形態のインタフェースバッファは、図1の本発明の第1の実施の形態のインタフェースバッファの縦積みインバータ3のNchトランジスタ14、15をダイオード34、35に置き換えた縦積みインバータ32で、その他の構成要素は同一であるので、その詳細な説明は省略する。
【0053】
本発明の第2の実施の形態のインタフェースバッファは、ダイオード35の端子7の電位VXが電源V1よりも低い電位となるように、ダイオードの縦積み段数を調整することにより、本発明の第1の実施の形態のインタフェースバッファと同様の効果が得られる。
【0054】
図3は、本発明の第3の実施の形態のインタフェースバッファの構成を示すブロック図である。
【0055】
図3を参照すると、本発明の第2の実施の形態のインタフェースバッファは、図1の本発明の第1の実施の形態のインタフェースバッファのインタフェースブロック用レベルシフタ回路11をNOR型のレベルシフト回路43に置き換えた回路で、その他の構成要素は同一であるので、その詳細な説明は省略する。
【0056】
本発明の第3の実施の形態のインタフェースバッファは、インタフェース部にインタフェースブロック用と電源検知用レベルシフタを合わせたNOR型レベルシフト回路を用いても、本発明の第1の実施の形態のインタフェースバッファと同様の効果が得られる。
【0057】
【発明の効果】
以上説明した通り、電源V1の電位を入力としているレベルシフト回路2内のインバータ3のNchトランジスタ15のドレイン端子7の電位VXが、電源V1よりも低い電位となるように、Nchトランジスタ14,15の縦積み段数を調整することにより、インタフェース電源V2からGNDに貫通電流が流れずに内部電源V1の電源検知回路を構成できる。
【0058】
例えば、CORE電位V1=1.5V、インタフェース電圧V2=3.3V、NchトランジスタのVTn=1.0Vの場合 Nch2段縦積みすることにより、VX=3.3V−1.0V×2=1.3VとなりVX<V1の関係となる、Pchトランジスタ16のゲート電圧は、V1=1.5V、ソース電圧VX=1.3Vであり、ゲートソース間電圧VGS=−0.2Vとなるため、Pchトランジスタ16は完全にOFFしインバータ3には貫通電流が流れない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態のインタフェースバッファの構成を示すブロック図である。。
【図2】本発明の第2の実施の形態のインタフェースバッファの構成を示すブロック図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態のインタフェースバッファの構成を示すブロック図である。
【図4】従来のインタフェースバッファの構成を示すブロック図である。
【図5】本発明の実施の形態の貫通電流防止レベルシフタのブロック図である。
【図6】貫通電流防止レベルシフタを用いた従来のインタフェースバッファの構成を示すブロック図である。
【図7】特開平9−205355号公報に記載の多電源電源検知回路である。
【符号の説明】
1 電源検知回路
2 レベルシフト回路
3 縦積みインバータ
4 V1電位固定回路
5 抵抗
6 出力
7 ドレイン端子
8 CORE回路
10 インタフェース回路
11 インタフェース用レベルシフト回路
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an interface buffer, and more particularly to an interface buffer that prevents a through current of an interface power source configured with multiple power sources.
[0002]
[Prior art]
In recent years, it is a well-known fact that the operating voltage of electronic devices of information processing apparatuses, in particular electronic devices such as mobile phones, has been lowered in order to reduce power consumption. As a result, it is also well known that the operating voltage of elements used in integrated circuits mounted on these electronic devices, such as transistors, has been decreasing.
[0003]
However, the operating voltage of the interface voltage between the chips of the integrated circuit mounted on these electronic devices cannot be lowered due to the problem of signal transmission. For this reason, the difference between the operating voltage used in the CORE circuit and the operating voltage of the interface is increasing.
[0004]
Further, in order to reduce power consumption, many methods are used to cut off (OFF) the power supply to a chip in a stopped state. Since the interface between the stopped chip and the operating chip remains connected, the interface power supply is still supplied.
[0005]
Therefore, although the power supply of the CORE circuit is turned off, the logic output of the interface needs to output a fixed potential in order to guarantee the operation for the chip in the next operation state.
[0006]
For this reason, it is necessary to reduce the power (prevention of through current) in the power OFF detection block in the CORE region that fixes the output of each interface block when the power of the CORE circuit is OFF and the interface power is ON.
[0007]
A conventional power supply detection circuit for such multiple power supplies is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-205355. The circuit configuration of this conventional power supply detection circuit is shown in FIG. Since the conventional power supply detection circuit does not have an interface buffer with a power supply detection circuit between different potentials, a circuit specially disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-205355 is applied to the interface buffer. This will be described with reference to FIG.
[0008]
First, the operation of the conventional power supply detection circuit will be described with reference to FIG.
[0009]
When the power supply V1 is OFF and the power supply V2 is ON, the power supply V1 is a power supply that is OFF by the resistor 5 and the Pch transistor 20 because the Pch transistor 20 of the potential fixing circuit 4 is always ON. The potential of the floating power supply V1 becomes GND, the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 becomes GND, the output signal 17Z of the inverter 50 becomes the potential of the power supply V2, and the output S39Z of the OR circuit 39Z becomes the power supply V2 potential fixed. , LD11Z is invalidated.
[0010]
When the power source V1 and the power source V2 are both ON, the Pch transistor 20 of the V1 potential fixing circuit 4 is always ON. Therefore, the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 depends on the resistance ratio between the ON resistance of the Pch transistor 20 and the resistor 5. Although it becomes an intermediate potential, the resistance value of the resistor 5 is sufficiently larger than the ON resistance value of the Pch transistor 20, and the potential rises to near the power source V1, the output 17Z of the inverter 50 becomes GND, and the output S39Z of the OR circuit 39Z varies depending on LD11Z. Then, the LD 11Z is activated. That is, the LD 11Z is switched between valid and invalid by turning on and off the power source V1.
[0011]
Next, an interface buffer with a power supply detection circuit described in JP-A-9-205355 will be described with reference to FIG.
[0012]
The interface buffer with a power supply detection circuit has a 1.5V voltage power supply V1 for the core circuit and a 3.3V voltage power supply V2 for the interface.
[0013]
The power supply detection circuit 51 includes a V1 potential fixing circuit 4 including a resistor 5 and an inverter 50.
[0014]
The interface circuit 10 is a circuit that outputs the output of the CORE circuit 8 to a terminal OUT, and includes an interface level shift circuit 11, a NOR circuit 12, and an output buffer 13.
[0015]
When the power source V1 is OFF and the power source V2 is ON, the Pch transistor 20 of the V1 potential fixing circuit 4 is always ON. Therefore, the power source that is OFF by the resistor 5 and the Pch transistor 20, that is, the power source V1 that is floating. Becomes the GND, the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 becomes GND, the output 17Z of the inverter 50 becomes the potential of the power source V2, and OUT becomes the potential of the power source V2. That is, the V1 potential fixing circuit 4 detects that the power source V1 is turned off, and the inverter 50 converts the level.
[0016]
When both the power supply V1 and the power supply V2 are in the ON state, the Pch transistor 20 of the V1 potential fixing circuit 4 is always ON, so that the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 depends on the resistance ratio between the ON resistance of the Pch transistor 20 and the resistance 5 Although it becomes an intermediate potential, the resistance value of the resistor 5 is sufficiently larger than the ON resistance value of the Pch transistor 20 and the potential rises to near the power source V1, the output 17Z of the inverter 50 becomes GND, and OUT outputs the logic of the CORE circuit 8. .
[0017]
That is, the interface output is controlled according to the ON / OFF state of the power supply V1.
[0018]
However, in the circuit of FIG. 4, when both the power supply V1 and the power supply V2 are in the ON state, the potential of the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 is lower than the potential of the power supply V2, so the Pch transistor 52 of the inverter 50 is not turned off. A current 54 flows between V2 and GND.
[0019]
Furthermore, in recent years, as described above, the potential difference between the power supply of the CORE circuit and the power supply of the interface has increased, and this through current is a current that cannot be ignored.
[0020]
For example, to explain with an example of the through current, the through current due to the V1 potential fixing circuit 4 is mainly determined by the resistor R, but the resistor R is composed of a large resistance of about 1 GΩ, so V1 = 1.5V. Then, the current is about 1.5 nA. In the inverter 50, for example, when the gate-source voltage VGS = 3.3 V, the Pch transistor ION = 0.5 mA, and the Nch transistor ION = 1 mA, the Vch = 1.5 V, the Pch transistor ION = 0.18 mA. ION = 0.36 mA, resulting in a current of about 200 μA. Further, in order to increase the gate length of the transistor to reduce the ON resistance value to several nA, the transistor area is required several hundred times, which is disadvantageous in terms of the occupied area of the chip.
[0021]
Further, to explain the example of the area of the resistance element, in order to configure the resistance of 1 GΩ used in the V1 potential fixing circuit 4 with a resistance element (for example, poly resistance), a length of about 20 mm is required, and 4 mm An area of about 2 is required, and using a large number of resistance elements instead of transistor elements is disadvantageous in terms of layout area.
[0022]
Next, a conventional interface buffer with a power supply detection circuit using a circuit used for voltage conversion (level shift) between different potentials, such as the power supply V1 and the power supply V2, without flowing a current between the power supply V2 and GND. Will be described with reference to FIGS. 5 and 6. FIG.
[0023]
FIG. 5 is a circuit that performs voltage conversion (level shift) between different potentials, such as the power supply V1 and the power supply V2, without passing a current between the power supply V2 and GND.
[0024]
The logic signal 60 of the CORE circuit 8 is input to the interface buffer 65. The signal 61 is an inverted signal of the logic signal 60 of the CORE circuit, and the Nch transistor 63 is ON and the Nch transistor 64 is OFF, or the Nch transistor 63 is OFF and the Nch transistor 64 is ON, and the potential of the signal 62 is the power supply V2. Or it is the structure which becomes GND electric potential, and a level shift is performed from the power supply V1 to the power supply V2 without flowing the electric current between the power supplies V2 and GND.
[0025]
FIG. 6 shows an interface buffer with a power supply detection circuit in which the inverter 52 of FIG. 4 is replaced with the level shift circuit of FIG. 5 which prevents the through current.
[0026]
When both the power supply V1 and the power supply V2 are in the ON state, the potential of the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 is the potential of the power supply V1, the potential of the output 3 of the inverter 70 is GND, and the potential of the output signal 17 of the power supply detection circuit 1 is GND. The logic of the CORE circuit 8 is output.
[0027]
When the power source V1 is OFF and the power source V2 is ON, the potential of the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 is GND, and the power source V1 that is the power source of the inverter 70 is GND, so the potential of the output 3 of the inverter 70 is also GND. The transistors 9 and 19 are both turned OFF, the potential of the output signal 17 of the power supply detection circuit 1 is not fixed, and the level output terminal OUT is not fixed.
[0028]
That is, when a conventional level shift circuit for preventing through current of an interface power supply is used, it does not operate as an interface block with a power supply detection circuit.
[0029]
[Problems to be solved by the invention]
However, the prior art has the following problems.
[0030]
When converting from the CORE power source V1 having a low potential to the interface power source V2 having a high potential, if the potential is converted (level shift) only with the interface power source V2 having a high potential, it is necessary to input the low potential to the high potential gate circuit. Yes, the Pch transistor is not completely turned off and a through current flows.
[0031]
When a circuit for converting from a low potential to a high potential in which a through current is prevented is used in a conventional power source detection circuit, a circuit configuration using a CORE power source V1 having a low potential and an interface power source V2 having a high potential in the circuit. Therefore, when the CORE power supply V1 is turned OFF, the output cannot be fixed and there is a problem that the operation becomes unstable.
Therefore, a main object of the present invention is to provide an interface buffer that solves the above-mentioned problems.
[0032]
[Means for Solving the Problems]
The interface buffer of the present invention includes a core circuit that operates at a first power supply potential, an operating voltage that operates at a first power supply potential and a second power supply potential, receives an output of the core circuit, An interface circuit that outputs a level-shifted output corresponding to a first power supply potential, and a power supply detection circuit that operates with the first power supply potential and the second power supply potential and controls the output of the interface circuit. The power source detection circuit controls the output of the interface circuit to a predetermined fixed potential when the first power source is in an off state and the second power source is in an on state, and from the second power source In this configuration, a through current does not flow through the GND.
[0033]
The power supply detection circuit of the interface buffer according to the present invention includes a V1 potential fixing circuit that receives the potential of the first power supply potential and a level shift circuit that receives the potential of the second power supply potential. In response to the output of the V1 potential fixing circuit, the level shift circuit controls the output of the interface circuit to a predetermined fixed potential.
[0034]
In the level shift circuit of the interface buffer according to the present invention, the first and second transistors of one conductivity type are vertically connected to the power supply V2, and the back gate of the third transistor of reverse conductivity type is connected to the power supply V2. An inverter connected to the drain of the second transistor, and the first and second transistors are arranged vertically so that the drain terminal potential of the third transistor is lower than the first power supply potential. It is the structure which adjusts the number of stacking stages.
[0035]
Furthermore, in the interface buffer of the present invention, the first and second transistors of the one conductivity type are Nch transistors, and the third transistor of the reverse conductivity type is a Pch transistor.
[0036]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
The interface buffer according to the present invention has a CORE (internal) voltage and an interface (external) voltage supplied at different potentials, and the CORE voltage (for example, 1.5 V) <interface voltage (for example, 3.3 V) In order to prevent malfunction of the next-stage chip even when the power supply is turned off and the interface power supply is turned on, the interface power supply is used to output the chip output (interface output) to a fixed potential (power supply voltage or GND). It is an interface buffer including a power supply detection circuit that prevents current.
[0037]
An interface buffer according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0038]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an interface buffer according to the first embodiment of this invention.
[0039]
Referring to FIG. 1, the interface buffer according to the first embodiment of the present invention includes a core circuit 8 that operates with a power source V1 for a core circuit having an operating voltage of 1.5V, and a power source V1 and an operating voltage of 3.3V. The interface circuit 10 operates with the interface power supply V2, receives the output 102 of the core circuit 8 and outputs the level-shifted output 103, operates with the power supply V1 and the power supply V2, and controls the through current of the interface circuit 10. And a power detection circuit 1.
[0040]
The interface circuit 10 is a circuit that outputs the output 102 of the core circuit 8 to a terminal OUT103, and includes an interface level shift circuit 11, a NOR circuit 12, and an output buffer 13.
[0041]
The power supply detection circuit 1 includes a level shift circuit 2 that operates with a power supply V2, and a V1 potential fixing circuit 4 that operates with a power supply V1 and includes a resistor 5.
[0042]
The level shift circuit 2 includes an Nch transistor 9, an Nch transistor 19, a Pch transistor 22, a Pch transistor 23, and a vertically stacked inverter 3.
[0043]
The vertical inverter 3 has a different configuration from a normal inverter, and the Nch transistors (14, 15) are vertically stacked and connected to the power source V2. The Pch transistor 16 has a back gate connected to the drain terminal 7 of the Nch transistor 15. ing.
[0044]
The V1 potential fixing circuit 4 includes an Nch transistor 21 and a Pch transistor 20. The Nch transistor 21 has its gate connected to the output of the vertically stacked inverter 3 and its drain connected to the output signal 6 of the V1 potential fixing circuit 4. The Pch transistor 20 has a gate connected to GND, a source connected to the power supply V1, and a rain connected to the output signal 6 of the V1 potential fixing circuit 4.
[0045]
The interface level shift circuit 11 is a circuit that receives the output signal of the CORE circuit 8, boosts the signal at the V1 voltage level to the V2 level, and outputs it as the output signal 18.
[0046]
The NOR circuit 12 is a circuit that performs a logical operation on the output signal 17 of the power supply detection circuit 1 and the output signal 18 of the interface level shift circuit 11. The output buffer 13 logically inverts the output of the NOR circuit 12 and outputs it from the terminal OUT.
[0047]
Next, the operation of the interface buffer according to the first embodiment of the present invention will be described. The interface buffer according to the first embodiment of the present invention has a V1 potential fixing circuit when the power supply V1 is OFF and the power supply V2 is ON. 4 Pch transistor 20 is always ON, the power supply that is OFF by the resistor 5 and the Pch transistor 20, that is, the potential of the floating power supply V1 becomes GND, and the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 is GND, the Nch transistor 24 is turned off, the Pch transistor 16 is turned on, and the output 24 of the inverter 3 outputs the potential of the drain terminal 7 of the Nch transistor 15.
[0048]
At this time, the potential of the drain terminal 7 of the Nch transistor 15 is a potential obtained by dropping the potential of the Nch transistors (14, 15) by the threshold VTn from the power source V2, and when the potential is VX, the potential VX is the power source V1. The potential is as follows. The threshold value VTn of the Nch transistors (14, 15) is about 1.0V, and the potential VX is a value that is about 2V lower than the power source V1 by stacking in two stages.
[0049]
The Nch transistor 9 is turned off and the Nch transistor 19 is turned on by the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 and the potential of the drain terminal 7 of the Nch transistor 15, and the potential of the output signal 17 of the power supply detection circuit 1 is the potential of the power supply V2. Thus, the output of the NOR circuit 12 becomes GND regardless of the output of the CORE circuit 8, and the output terminal OUT is fixed at the potential of the power supply V2.
[0050]
When both the power supply V1 and the power supply V2 are in the ON state, the Pch transistor 20 of the V1 potential fixing circuit 4 is always ON, so the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 is the resistance ratio between the ON resistance of the Pch transistor 20 and the resistance 5 However, the resistance value of the resistor 5 is sufficiently larger than the ON resistance value of the Pch transistor 20, and the potential of the output 6 of the V1 potential fixing circuit 4 rises to near the power source V1.
[0051]
The Pch transistor 16 having the drain terminal 7 of the Nch transistor 15 as the back gate is connected to the power supply V2 through the two stages of the Nch transistors 14 and 15 so that the back gate potential VX is equal to or lower than the power supply V1. Then, it is completely turned off, and the potential of the output 24 of the vertical inverter 3 is set to GND without passing through current to the interface power supply. The Nch transistor 9 is turned ON, the Nch transistor 19 is turned OFF, the potential of the output signal 17 of the power supply detection circuit 1 is set to GND, and OUT outputs the logic of the CORE circuit 8. FIG. 2 shows the second embodiment of the present invention. It is a block diagram which shows the structure of the interface buffer of a form.
[0052]
Referring to FIG. 2, the interface buffer according to the second embodiment of the present invention includes Nch transistors 14 and 15 of the vertically stacked inverter 3 of the interface buffer according to the first embodiment of FIG. Since the other components are the same in the vertically stacked inverter 32 replaced with 35, detailed description thereof is omitted.
[0053]
The interface buffer according to the second embodiment of the present invention adjusts the number of vertically stacked diodes so that the potential VX of the terminal 7 of the diode 35 is lower than the power supply V1. The same effect as the interface buffer of the embodiment can be obtained.
[0054]
FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of an interface buffer according to the third embodiment of this invention.
[0055]
Referring to FIG. 3, the interface buffer according to the second embodiment of the present invention is different from the interface block level shifter circuit 11 of the interface buffer according to the first embodiment of the present invention shown in FIG. Since the other components are the same in the circuit replaced with, detailed description thereof is omitted.
[0056]
The interface buffer according to the third embodiment of the present invention may be the interface buffer according to the first embodiment of the present invention even if a NOR type level shift circuit in which an interface block and a power supply detection level shifter are combined is used in the interface section. The same effect can be obtained.
[0057]
【The invention's effect】
As described above, the Nch transistors 14 and 15 so that the potential VX of the drain terminal 7 of the Nch transistor 15 of the inverter 3 in the level shift circuit 2 receiving the potential of the power supply V1 is lower than the power supply V1. By adjusting the number of vertical stacked stages, a power supply detection circuit for the internal power supply V1 can be configured without a through current flowing from the interface power supply V2 to the GND.
[0058]
For example, when the CORE potential V1 = 1.5V, the interface voltage V2 = 3.3V, and the VTn of the Nch transistor = 1.0V, by vertically stacking Nch 2 stages, VX = 3.3V−1.0V × 2 = 1. The gate voltage of the Pch transistor 16 that satisfies 3V and VX <V1 is V1 = 1.5V, the source voltage VX = 1.3V, and the gate-source voltage VGS = −0.2V. No. 16 is completely turned off and no through current flows through the inverter 3.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of an interface buffer according to a first embodiment of this invention. .
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of an interface buffer according to a second embodiment of this invention.
FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of an interface buffer according to a third embodiment of this invention.
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional interface buffer.
FIG. 5 is a block diagram of a through current prevention level shifter according to an embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a conventional interface buffer using a through current prevention level shifter.
FIG. 7 is a multi-power supply detection circuit described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-205355.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Power supply detection circuit 2 Level shift circuit 3 Vertically stacked inverter 4 V1 electric potential fixing circuit 5 Resistance 6 Output 7 Drain terminal 8 CORE circuit 10 Interface circuit 11 Level shift circuit for interface

Claims (8)

動作電圧が第1の電源電位で動作するコア回路と、前記第1の電源電位および動作電圧が第2の電源電位で動作し、前記コア回路の出力を受け、前記第1の電源電位に対応するレベルシフトした出力を出力するインタフェース回路と、前記第1の電源電位および前記第2の電源電位で動作し、前記インタフェース回路の出力を制御する電源検知回路とを備え、
前記電源検知回路は、前記第1の電源がオフ状態で、前記前記第2の電源がオン状態で、前記インタフェース回路の出力を所定の固定電位とする制御をし、前記第2の電源からGNDに貫通電流が流れないことを特徴とするインタフェースバッファ。
A core circuit that operates at an operating voltage of a first power supply potential, and operates at a first power supply potential and an operating voltage of a second power supply potential, receives an output of the core circuit, and corresponds to the first power supply potential An interface circuit that outputs a level-shifted output, and a power detection circuit that operates at the first power supply potential and the second power supply potential and controls the output of the interface circuit,
The power supply detection circuit controls the output of the interface circuit to be a predetermined fixed potential when the first power supply is in an off state and the second power supply is in an on state, and from the second power supply to GND An interface buffer characterized in that a through current does not flow through.
前記電源検知回路は、前記第1の電源電位の電位を入力とするV1電位固定回路と、前記第2の電源電位の電位を入力とするレベルシフト回路とから成り、前記V1電位固定回路の出力を受けて、前記レベルシフト回路が、前記インタフェース回路の出力を所定の固定電位とする制御をする請求項1記載のインタフェースバッファ。The power supply detection circuit includes a V1 potential fixing circuit that receives the potential of the first power supply potential and a level shift circuit that receives the potential of the second power supply potential, and outputs the V1 potential fixing circuit. The interface buffer according to claim 1, wherein the level shift circuit controls the output of the interface circuit to a predetermined fixed potential. 前記レベルシフト回路は、一導電型の第1および第2のトランジスタとを縦積みで前記電源V2に接続し、逆導電型の第3のトランジスタのバックゲートを前記第2のトランジスタのドレインに接続したインバータとを備え、
前記第3のトランジスタのドレイン端子の電位が、前記第1の電源電位よりも低い電位となるように、前記第1および第2トランジスタの縦積み段数を調整する請求項2記載のインタフェースバッファ。
In the level shift circuit, first and second transistors of one conductivity type are vertically connected to the power supply V2, and the back gate of the third transistor of reverse conductivity type is connected to the drain of the second transistor. And an inverter
3. The interface buffer according to claim 2, wherein the number of vertically stacked stages of the first and second transistors is adjusted so that the potential of the drain terminal of the third transistor is lower than the first power supply potential.
前記一導電型の第1および第2のトランジスタは、Nchトランジスタであり、前記逆導電型の第3のトランジスタは、Pchトランジスタである請求項3記載のインタフェースバッファ。4. The interface buffer according to claim 3, wherein the first and second transistors of one conductivity type are Nch transistors, and the third transistor of opposite conductivity type is a Pch transistor. 前記第2の電源電位は、前記第1の電源電位より高い請求項1記載のインタフェースバッファ。The interface buffer according to claim 1, wherein the second power supply potential is higher than the first power supply potential. 前記第1の電源電位は、1.5Vである請求項1記載のインタフェースバッファ。The interface buffer according to claim 1, wherein the first power supply potential is 1.5V. 前記第2の電源電位は、3.3Vである請求項1、2、3または4記載のインタフェースバッファ。5. The interface buffer according to claim 1, wherein the second power supply potential is 3.3V. 前記第1および第2トランジスタの縦積み段数は、2段である請求項3または4記載のインタフェースバッファ。5. The interface buffer according to claim 3, wherein the number of vertically stacked stages of the first and second transistors is two.
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