JP3514303B2 - ボルテージリファレンス回路 - Google Patents
ボルテージリファレンス回路Info
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- JP3514303B2 JP3514303B2 JP2000181053A JP2000181053A JP3514303B2 JP 3514303 B2 JP3514303 B2 JP 3514303B2 JP 2000181053 A JP2000181053 A JP 2000181053A JP 2000181053 A JP2000181053 A JP 2000181053A JP 3514303 B2 JP3514303 B2 JP 3514303B2
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Description
LSI等において、温度変動及び電源電圧変動に依存せ
ず一定のリファレンス電圧を供給するためのボルテージ
リファレンス回路に関する。
しては、先に本願出願人によって特願平11−0998
74号として提案されたものがある。この特願平11−
099874号に記載のボルテージリファレンス回路を
図6に示す。図6におけるMP1,MN2はそれぞれP
chMOSトランジスタ及びNchMOSトランジスタ
であり、この2つのトランジスタMP1,MN2はチャ
ネル不純物の導電型及び濃度が等しく、かつゲートポリ
電極の不純物の導電型が正反対である。
ンジスタMP1、(b) はMN2の構造を示す。SOI技
術では本発明に使用されるチャネル不純物の導電型及び
濃度が等しいPchMOSトランジスタ及びNchMO
Sトランジスタの製造が容易に実現できる。
造がお互いに等しいトランジスタMN3とMN4,およ
び演算増幅器OP1であり、トランジスタMP1および
MN2それぞれに同じ電流値の電流を供給する電流供給
回路を構成している。このボルテージリファレンス回路
では、トランジスタMP1のソース電極とMN2のゲー
ト電極を接続し、トランジスタMP1のドレイン電極と
トランジスタMN2のソース電極を接続し、2つのトラ
ンジスタMP1,MN2に大きさの等しい電流を供給す
る電流供給回路を接続している。
2の利得定数が等しくなるように設計することでリファ
レンス電圧VREFはトランジスタMP1とMN2の閾
値電圧の和となり、電源電圧および温度特性が良好なリ
ファレンス電圧が得られる。
の構成要素である演算増幅器OP1の回路図であり、演
算増幅器OP1はフィードバックループ上で使用されて
いる。図において、MP11,MP12,MP13はP
chトランジスタ、MN11,MN12,MN20,M
N21,MN22はNchトランジスタであり、Icは
定電流源、VDDは電源電圧である。このとき抵抗Rc
及び容量Ccにより位相補償をおこなうことでフィード
バックループによる発振を防いでいる。
では、図6に示したようにトランジスタMN2は定電流
源回路を負荷にしており、MN2のゲート入力に対する
電圧利得が非常に大きい。このため、フィードバックル
ープの位相補償が不完全になり、発振する可能性があっ
た。
ものであり、その目的は、フィードバックループの回路
構成を改良することで発振しない安定したボルテージリ
ファレンス回路を提供することである。
決するために、フィードバックループに演算増幅器OP
1ではなく差動アンプAMP1を用い、位相補償用の抵
抗Rc及び容量CcをトランジスタMN2のゲート/ド
レイン間に挿入している。
を用いる場合には、トランジスタMP1のソースとトラ
ンジスタMN2のゲート間の接続を切り、MN2のゲー
ト/ドレイン間を短絡することでMN2による電圧利得
の無い構成にしてフィードバックによる発振を防いでい
る。
の発明のボルテージリファレンス回路は、第1のトラン
ジスタMP1と、第1のトランジスタMP1とチャネル
不純物の導電型が等しく、かつ第1のトランジスタMP
1とゲートポリ電極の不純物の導電型が正反対であり、
かつ第1のトランジスタMP1と反対の導電型をもつ第
2のトランジスタMN2と、第1のトランジスタMP1
のソース電極及び第2のトランジスタMN2のドレイン
電極に接続される差動アンプAMP1と、第1のトラン
ジスタMP1と反対の導電型をもち、トランジスタ構造
が互いに等しい第3,第4のトランジスタMN3,MN
4と電源電圧VDDとから構成され、第1のトランジス
タMP1及び第2のトランジスタMN2にそれぞれに同
じ電流値の電流を供給する電流供給回路と、位相補償用
の抵抗Rc及び容量Ccとを具備し、第1のトランジス
タMP1のソース電極と第2のトランジスタMN2のゲ
ート電極が接続され、第1のトランジスタMP1のドレ
イン電極と第2のトランジスタMN2のソース電極が接
続され、第2のトランジスタMN2のゲート/ドレイン
間が抵抗Rc及び容量Ccを通して接続され、第1のト
ランジスタMP1のゲート電極からのリファレンス電圧
VREFを出力として取り出すことに特徴を有してい
る。
ス回路は、第1のトランジスタMP1と、第1のトラン
ジスタMP1とチャネル不純物の導電型が等しく、かつ
第1のトランジスタMP1とゲートポリ電極の不純物の
導電型が正反対であり、かつ第1のトランジスタMP1
と反対の導電型をもつ第2のトランジスタMN2と、第
1のトランジスタMP1のソース電極及び第2のトラン
ジスタMN2のドレイン電極に接続される演算増幅器O
P1と、第1のトランジスタMP1と反対の導電型をも
ちトランジスタ構造が互いに等しい第3,第4のトラン
ジスタMN3,MN4と電源電圧VDDとから構成さ
れ、第1のトランジスタMP1及び第2のトランジスタ
MN2にそれぞれに同じ電流値の電流を供給する電流供
給回路とを具備し、第2のトランジスタMN2のドレイ
ン電極とゲート電極が接続され、第1のトランジスタM
P1のドレイン電極と第2のトランジスタMN2のソー
ス電極が接続され、第1のトランジスタMP1のゲート
電極からのリファレンス電圧VREFを出力として取り
出すことに特徴を有している。
ンス回路は、電流供給回路に第1のトランジスタMP1
と同じ導電型をもち、トランジスタ構造が互いに等しい
第5,第6のトランジスタMP5,MP6を用いること
に特徴を有している。
ス回路は、すべてのトランジスタの導電型を反転させ、
すべてのトランジスタのチャネル領域の不純物の導電型
を反転させ、すべてのゲートポリシリコンの導電型を反
転させ、かつ電源と接地への接続を入れ替えることで、
電源電位からの負のリファレンス電圧VREFを出力す
ることに特徴を有している。
ンス回路は、第1のトランジスタMP1と第2のトラン
ジスタMN2のチャネル不純物の濃度が等しいことに特
徴を有している。
する。なお、前述の図6,図8と同一符号を付したもの
はそれぞれ同一の要素を示しており、説明を省略する。
ンス回路である。図6に示したものと同じものには同じ
符号を付した。MP1,MN2はそれぞれデプレッショ
ン型PchMOSトランジスタ及びエンハンスメント型
NchMOSトランジスタであり、この2つのトランジ
スタはチャネル不純物の導電型が等しく、かつゲートポ
リ電極の不純物の導電型が正反対である。
MP1のソース電極及び第2のトランジスタMN2のド
レイン電極に接続され、第1のトランジスタMP1と反
対の導電型をもち、トランジスタ構造が互いに等しい第
3,第4のトランジスタMN3,MN4のドレイン電極
は電源電圧VDDに接続され、同じく、第3,第4のト
ランジスタMN3,MN4のソース電極とゲート電極は
第1のトランジスタMP1のソース電極に、第2のトラ
ンジスタMN2のドレイン電極にそれぞれ接続されてい
る。第1のトランジスタMP1のソース電極と第2のト
ランジスタMN2のゲート電極が接続され、第1のトラ
ンジスタMP1のドレイン電極と第2のトランジスタM
N2のソース電極が接続され、第2のトランジスタMN
2のゲート/ドレイン間が抵抗Rc及び容量Ccを通し
て接続され、第1のトランジスタMP1のゲート電極か
らのリファレンス電圧VREFを出力として取り出して
いる。
路は、従来技術と同様に2つのトランジスタMP1,M
N2の閾値の和をリファレンス電圧VREFとして出力
する。したがって、トランジスタMP1,MN2のチャ
ネル濃度が一致するとき、リファレンス電圧VREFは
理論的に温度依存性が0となり、良好なリファレンス電
圧がえられる。また、トランジスタMP1及びMN2に
図7に示したSOI技術を用いる場合にはSOIトラン
ジスタは閾値温度依存性が極めて小さい(IEEEElectron
Device letters, Vol. 11, No. 8,pp. 329-331)ため、
2つのトランジスタMP1,MN2のチャネル濃度が一
致しなくても、リファレンス電圧VREFの温度依存性
は極めて小さく実用上問題ない。但し、本発明はSOI
技術に限ったものではない。
ードバックループに演算増幅器OP1ではなく差動アン
プAMP1を用いたことに特徴を有している。この差動
アンプAMP1を図2に示す。この差動アンプAMP1
には、位相補償用の抵抗Rc及び容量Ccは用いられて
いない。なお、図において、トランジスタMP11,M
P12,MN11,MN12でブリッジを構成してお
り、トランジスタMP11,MP12のソース電極は電
源電圧VDDに接続され、トランジスタMN11,MN
12のゲート電極は+側の入力端子と−側入力端子とな
っている。出力端子OUTはトランジスタMP12のド
レイン電極とMN12のドレイン電極との接続点であ
る。Icは定電流源、MN20,MN21はNchトラ
ンジスタである。
よりトランジスタMN2を含むフィードバックループ全
体での位相補償が可能になり、安定したボルテージリフ
ァレンス回路を構成することができる。また、本構成は
差動アンプAMP1の入力オフセット電圧がリファレン
ス電圧VREFにほとんど影響しないため、リファレン
ス電圧VREF値のばらつきを小さくできるという長所
も持つ。
ンス回路である。本実施の形態は、図6の従来技術と同
様にフィードバックに演算増幅器OP1を用いている。
但し、トランジスタMP1のソースとトランジスタMN
2のゲート間の接続を切り、トランジスタMN2のゲー
ト/ドレイン間を短絡することでトランジスタMN2に
よる電圧利得の無い構成になっており、フィードバック
による発振を防いでいる。
ンス回路である。本実施の形態は、図1に示した第1の
実施の形態に記載のボルテージリファレンス回路に用い
た第1のトランジスタMP1と反対の導電型をもつトラ
ンジスタMN3,MN4の代わりに、第1のトランジス
タMP1と同じ導電型をもちトランジスタ構造が互いに
等しい第5,第6のトランジスタMP5,MP6により
電流供給回路を構成している。
実施の形態においても、第5,第6のトランジスタMP
5,MP6を電流供給回路に用いたボルテージリファレ
ンス回路を構成できる。
ンス回路である。本実施の形態は、第1の実施の形態に
記載のボルテージリファレンス回路において、すべての
トランジスタMP1,MN2,MN3,MN4の導電型
を反転させ、すべてのトランジスタのチャネル領域の不
純物の導電型を反転させ、すべてのゲートポリシリコン
の導電型を反転させてMN1,MP2,MP3,MP4
とし、かつ電源と接地への接続を入れ替えることで、電
源電位からの負のリファレンス電圧VREFを出力して
いる。
それぞれデプレッション型NchMOSトランジスタ及
びエンハンスメント型PchMOSトランジスタであ
り、トランジスタMP3およびMP4が定電流源として
動作し、トランジスタMP2のゲート電極およびドレイ
ン電極と電源電位間に2つのトランジスタMN1および
MP2の閾値電圧の和であるリファレンス電圧VREF
を出力する。
たは第3の実施の形態においても、すべてのトランジス
タの導電型を反転させ、すべてのトランジスタのチャネ
ル領域の不純物の導電型を反転させ、すべてのゲートポ
リシリコンの導電型を反転させ、かつ電源と接地への接
続を入れ替えることで、電源電位からの負のリファレン
ス電圧VREFを出力するボルテージリファレンス回路
を構成できる。
によれば、従来の演算増幅器OP1に代え、位相補償用
の抵抗Rc及び容量CcをトランジスタMN2のゲート
/ドレイン間に挿入してなる差動アンプを用い、抵抗R
c及び容量Ccをフィードバックループから外し、フィ
ードバックループの回路構成を改良することで発振のな
い安定したボルテージリファレンス回路を得ることがで
きる。また、差動アンプAMP1の入力オフセットがリ
ファレンス電圧VREFに殆ど影響しないため、リファ
レンス電圧VREF値のばらつきを小さくできる利点を
有する。
の発明によれば、第1の実施の形態に記載のボルテージ
リファレンス回路に用いた第1のトランジスタMP1と
反対の導電型をもつトランジスタMN3,MN4の代わ
りに、第1のトランジスタMP1と同じ導電型をもちト
ランジスタ構造が互いに等しい第5,第6のトランジス
タMP5,MP6により電流供給回路を構成しているの
で、ボルテージリファレンス回路の構成が容易になる。
発明によれば、第1の実施の形態に記載のボルテージリ
ファレンス回路において、すべてのトランジスタMP
1,MN2,MN3,MN4の導電型を反転させ、すべ
てのトランジスタのチャネル領域の不純物の導電型を反
転させ、すべてのゲートポリシリコンの導電型を反転さ
せてMN1,MP2,MP3,MP4とし、かつ電源と
接地への接続を入れ替えることで、電源電位からの負の
リファレンス電圧VREFを得ることができる。
の発明によれば、トランジスタMP1、MN2のチャネ
ル不純物の濃度を一致させることにより、リファレンス
電圧VREFの温度依存性を確実になくすことが可能と
なり安定なリファレンス電圧VREFを得ることができ
る。
レンス回路図である。
ンプの回路図である。
レンス回路図である。
レンス回路図である。
レンス回路図である。
である。
レンス回路に用いられるトランジスタ構造例である。
(a)はPchMOSトランジスタMP1,(b)はN
chMOSトランジスタMN2の構造図である。
る。
Nchトランジスタ Ic 定電流源 VDD 電源電圧 VREF リファレンス電圧 Rc 抵抗 Cc 容量 OP1 演算増幅器 AMP1 差動アンプ
Claims (4)
- 【請求項1】第1のトランジスタ(MP1)と、 第1のトランジスタ(MP1)とチャネル不純物の導電
型が等しく、かつ第1のトランジスタ(MP1)とゲー
トポリ電極の不純物の導電型が正反対であり、かつ第1
のトランジスタ(MP1)と反対の導電型をもつ第2の
トランジスタ(MN2)と、 第1のトランジスタ(MP1)のソース電極及び第2の
トランジスタ(MN2)のドレイン電極に接続される差
動アンプ(AMP1)と、第1のトランジスタ(MP
1)と反対の導電型をもち、トランジスタ構造が互いに
等しい第3,第4のトランジスタ(MN3),(MN
4)と電源電圧(VDD)とから構成され、第1のトラ
ンジスタ(MP1)及び第2のトランジスタ(MN2)
にそれぞれに同じ電流値の電流を供給する電流供給回路
と、 位相補償用の抵抗(Rc)及び容量(Cc)とを具備
し、 第1のトランジスタ(MP1)のソース電極と第2のト
ランジスタ(MN2)のゲート電極が接続され、 第1のトランジスタ(MP1)のドレイン電極と第2の
トランジスタ(MN2)のソース電極が接続され、 第2のトランジスタ(MN2)のゲート/ドレイン間が
抵抗(Rc)及び容量(Cc)を通して接続され、 第1のトランジスタ(MP1)のゲート電極からのリフ
ァレンス電圧(VREF)を出力として取り出すことを
特徴とするボルテージリファレンス回路。 - 【請求項2】請求項1に記載のボルテージリファレンス
回路において、 電流供給回路に第1のトランジスタ(MP1)と同じ導
電型をもち、トランジスタ構造が互いに等しい第5,第
6のトランジスタ(MP5),(MP6)を用いること
を特徴とするボルテージリファレンス回路。 - 【請求項3】請求項1または2に記載のボルテージリフ
ァレンス回路において、 すべてのトランジスタの導電型を反転させ、 すべてのトランジスタのチャネル領域の不純物の導電型
を反転させ、 すべてのゲートポリシリコンの導電型を反転させ、 かつ電源と接地への接続を入れ替えることで、電源電位
からの負のリファレンス電圧(VREF)を出力するこ
とを特徴とするボルテージリファレンス回路。 - 【請求項4】請求項1または2または3に記載のボルテ
ージリファレンス回路において、 第1のトランジスタ(MP1)と第2のトランジスタ
(MN2)のチャネル不純物の濃度が等しいことを特徴
とするボルテージリファレンス回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000181053A JP3514303B2 (ja) | 2000-06-16 | 2000-06-16 | ボルテージリファレンス回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000181053A JP3514303B2 (ja) | 2000-06-16 | 2000-06-16 | ボルテージリファレンス回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001356831A JP2001356831A (ja) | 2001-12-26 |
JP3514303B2 true JP3514303B2 (ja) | 2004-03-31 |
Family
ID=18682039
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000181053A Expired - Lifetime JP3514303B2 (ja) | 2000-06-16 | 2000-06-16 | ボルテージリファレンス回路 |
Country Status (1)
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DE102005039365B4 (de) * | 2005-08-19 | 2022-02-10 | Infineon Technologies Ag | Gate-gesteuertes Fin-Widerstandselement, welches als pinch - resistor arbeitet, zur Verwendung als ESD-Schutzelement in einem elektrischen Schaltkreis und Einrichtung zum Schutz vor elektrostatischen Entladungen in einem elektrischen Schaltkreis |
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CN107990992B (zh) * | 2017-11-27 | 2019-10-11 | 电子科技大学 | 高精度温度传感器及精度调节方法 |
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2000
- 2000-06-16 JP JP2000181053A patent/JP3514303B2/ja not_active Expired - Lifetime
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