JP3429166B2 - 光学的記憶装置 - Google Patents
光学的記憶装置Info
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- JP3429166B2 JP3429166B2 JP23216097A JP23216097A JP3429166B2 JP 3429166 B2 JP3429166 B2 JP 3429166B2 JP 23216097 A JP23216097 A JP 23216097A JP 23216097 A JP23216097 A JP 23216097A JP 3429166 B2 JP3429166 B2 JP 3429166B2
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10595—Control of operating function
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＭＯカートリッジ
や相変化型光ディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭ等のリムーバブ
ルな媒体を用いた光学的記憶装置に関し、特に、ホスト
コマンドを受けた際に媒体上でのテストライトにより最
適発光パワーを決定しながらコマンドのアクセスを実行
する光学的記憶装置に関する。
や相変化型光ディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭ等のリムーバブ
ルな媒体を用いた光学的記憶装置に関し、特に、ホスト
コマンドを受けた際に媒体上でのテストライトにより最
適発光パワーを決定しながらコマンドのアクセスを実行
する光学的記憶装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクは、近年急速に発展するマル
チメディアの中核となる記憶媒体として注目されてお
り、例えば３．５インチのＭＯカートリッジを見ると、
旧来の１２８ＭＢや２３０ＭＢに加え、近年にあって
は、５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度記録の媒体
も提供されつつある。
チメディアの中核となる記憶媒体として注目されてお
り、例えば３．５インチのＭＯカートリッジを見ると、
旧来の１２８ＭＢや２３０ＭＢに加え、近年にあって
は、５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度記録の媒体
も提供されつつある。
【０００３】光ディスクドライブに使用するＭＯカート
リッジにあっては、媒体トラックをゾーン分割し、ゾー
ン毎のセクタ数を同一としたＺＣＡＶ記録（ゾーン定角
速度記録）を採用している。また１２８ＭＢ媒体は、ピ
ットポジション変調（ＰＰＭ）による記録であり、発光
パワーはリードパワー、イレーズパワー及び記録パワー
の３段階の変化でよい。これに対し２３０ＭＢ媒体、５
４０ＭＢ媒体及び６４０ＭＢ媒体では、記録密度を高め
るためにパルス幅変調（ＰＷＭ）による記録を採用して
いる。ＰＷＭ記録では、発光パワーを、リードパワー、
イレーズパワー、第１ライトパワー、及び第２ライトパ
ワーの４段階に変化させる必要がある。
リッジにあっては、媒体トラックをゾーン分割し、ゾー
ン毎のセクタ数を同一としたＺＣＡＶ記録（ゾーン定角
速度記録）を採用している。また１２８ＭＢ媒体は、ピ
ットポジション変調（ＰＰＭ）による記録であり、発光
パワーはリードパワー、イレーズパワー及び記録パワー
の３段階の変化でよい。これに対し２３０ＭＢ媒体、５
４０ＭＢ媒体及び６４０ＭＢ媒体では、記録密度を高め
るためにパルス幅変調（ＰＷＭ）による記録を採用して
いる。ＰＷＭ記録では、発光パワーを、リードパワー、
イレーズパワー、第１ライトパワー、及び第２ライトパ
ワーの４段階に変化させる必要がある。
【０００４】更にイレーズを必要としないダイレクトオ
ーバライト対応型媒体のＰＷＭ記録では、発光パワー
を、リードパワー、アシストパワー、第１ライトパワ
ー、及び第２ライトパワーの４段階に変化させる必要が
ある。
ーバライト対応型媒体のＰＷＭ記録では、発光パワー
を、リードパワー、アシストパワー、第１ライトパワ
ー、及び第２ライトパワーの４段階に変化させる必要が
ある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、５４０
ＭＢや６４０ＭＢといったＰＷＭ記録を行う高密度の記
録媒体にあっては、媒体記録に使用するレーザタイオー
ドの最適ライトパワーのマージンが狭く、媒体の温度が
温度変化すると最適ライトパワーが変化してしまう。ま
た、媒体の製造条件、光ディスクドライブのライト性能
の差によっても、最適ライトパワーが変化してしまう。
即ち、設計段階で一義的に決めた一定のライトパワーで
記録した場合、実際の最適ライトパワーから大きくず
れ、記録できなくなる場合が出てきてしまい、ライト・
リード性能が悪化する問題があった。
ＭＢや６４０ＭＢといったＰＷＭ記録を行う高密度の記
録媒体にあっては、媒体記録に使用するレーザタイオー
ドの最適ライトパワーのマージンが狭く、媒体の温度が
温度変化すると最適ライトパワーが変化してしまう。ま
た、媒体の製造条件、光ディスクドライブのライト性能
の差によっても、最適ライトパワーが変化してしまう。
即ち、設計段階で一義的に決めた一定のライトパワーで
記録した場合、実際の最適ライトパワーから大きくず
れ、記録できなくなる場合が出てきてしまい、ライト・
リード性能が悪化する問題があった。
【０００６】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたもので、装置の性能や媒体の製造条件に差が
あったり、装置温度が変化しても常に最適ライトパワー
を設定でき、更に、最適パワーを設定するための処理に
時間がかかっても上位装置に対しタイムアウトによるエ
ラーとならないようにした光学的記憶装置を提供するこ
とを目的とする。
てなされたもので、装置の性能や媒体の製造条件に差が
あったり、装置温度が変化しても常に最適ライトパワー
を設定でき、更に、最適パワーを設定するための処理に
時間がかかっても上位装置に対しタイムアウトによるエ
ラーとならないようにした光学的記憶装置を提供するこ
とを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。まず本発明の光学的記憶装置は、最適ライト
パワーの設定にテストライトを採用する。テストライト
とは、記録動作を開始する前に、媒体上の非ユーザエリ
ア（テストエリア）において、ライトパワーを変化させ
ながらテストパターンの記録した後に再生し、データコ
ンペアを行ってエラーレートを求め、エラーレートが最
小となるライトパワーを見つけ、このパワーを最適ライ
トパワーとして、イレーズ及びライトに使用する処理で
ある。
図である。まず本発明の光学的記憶装置は、最適ライト
パワーの設定にテストライトを採用する。テストライト
とは、記録動作を開始する前に、媒体上の非ユーザエリ
ア（テストエリア）において、ライトパワーを変化させ
ながらテストパターンの記録した後に再生し、データコ
ンペアを行ってエラーレートを求め、エラーレートが最
小となるライトパワーを見つけ、このパワーを最適ライ
トパワーとして、イレーズ及びライトに使用する処理で
ある。
【０００８】テストライトの実行は、上位装置からライ
トコマンドが発行された時、前回のテストライトからの
経過時間や温度変化が規定値を超えたことを判断した時
等に行われる。しかし、装置温度が大きく変化し、最適
ライトパワーが初期調整で設定したデフォルトのライト
パワーとかけ離れているような状態でテストライトを実
行すると、デフォルトパワーから一定パワーずつ変化さ
せて最適ライトパワーを探すため、最適ライトパワーが
見つかるまでに、かなり長い時間がかかってしまい、上
位装置がコマンド実行のタイムアウトと判断し、デバイ
スエラーが発生することがある。
トコマンドが発行された時、前回のテストライトからの
経過時間や温度変化が規定値を超えたことを判断した時
等に行われる。しかし、装置温度が大きく変化し、最適
ライトパワーが初期調整で設定したデフォルトのライト
パワーとかけ離れているような状態でテストライトを実
行すると、デフォルトパワーから一定パワーずつ変化さ
せて最適ライトパワーを探すため、最適ライトパワーが
見つかるまでに、かなり長い時間がかかってしまい、上
位装置がコマンド実行のタイムアウトと判断し、デバイ
スエラーが発生することがある。
【０００９】本発明に従えば、このような最適パワーを
見つけるためのテストライト処理に時間がかかっても上
位装置に対しタイムアウトによるエラーとならないよう
にした光学的記憶装置が提供される。まず本発明の光学
的記憶装置は、図１（Ａ）のように、媒体の記録再生に
使用するレーザダイオードの発光パワーを調整する発光
パワー調整部１８６と、媒体上でテストライトを行って
最適発光パワーを決定するテストライト処理を複数に分
割した個々の分割処理を所定のタイミングで個別に独立
して実行する分割テストライト処理部１６０を備える。
見つけるためのテストライト処理に時間がかかっても上
位装置に対しタイムアウトによるエラーとならないよう
にした光学的記憶装置が提供される。まず本発明の光学
的記憶装置は、図１（Ａ）のように、媒体の記録再生に
使用するレーザダイオードの発光パワーを調整する発光
パワー調整部１８６と、媒体上でテストライトを行って
最適発光パワーを決定するテストライト処理を複数に分
割した個々の分割処理を所定のタイミングで個別に独立
して実行する分割テストライト処理部１６０を備える。
【００１０】このようにな分割テストライト処理によ
り、上位コマンドを受けた際のイレーズ、ライト、リー
ドを伴う一連のテストライト処理（イレーズを必要とし
ないダイレクトオーバライト対応型媒体ではライトとリ
ードのテストライト処理）が複数の処理段階に分割され
て順番に実行され、装置温度が急激に変化して初期設定
されているデフォルトパワーから最適パワーが大きくず
れており、最適パワーを見つけ出すテストライト終了ま
での時間が長くかかる場合でも、処理が分散されて実行
されるため、上位コマンドに対するタイムアウトは発生
せず、最適パワーからずれていても可能な限り記録再生
ができるので、装置性能が向上する。
り、上位コマンドを受けた際のイレーズ、ライト、リー
ドを伴う一連のテストライト処理（イレーズを必要とし
ないダイレクトオーバライト対応型媒体ではライトとリ
ードのテストライト処理）が複数の処理段階に分割され
て順番に実行され、装置温度が急激に変化して初期設定
されているデフォルトパワーから最適パワーが大きくず
れており、最適パワーを見つけ出すテストライト終了ま
での時間が長くかかる場合でも、処理が分散されて実行
されるため、上位コマンドに対するタイムアウトは発生
せず、最適パワーからずれていても可能な限り記録再生
ができるので、装置性能が向上する。
【００１１】分割テストライト処理部１６０は、分割実
行部１７３と分割制御部１６２を備える。分割実行部１
７３は、テストライト処理を複数の処理に分割して実行
する。分割制御部１６２は、上位コマンドを受けた際に
テストライトの必要性の有無を判断し、テストライトが
必要と判断した場合は、分割実行部１７３の中の未実行
の先頭に位置にスキップし、所定時間に亘りテストライ
トの分割処理を実行させる。
行部１７３と分割制御部１６２を備える。分割実行部１
７３は、テストライト処理を複数の処理に分割して実行
する。分割制御部１６２は、上位コマンドを受けた際に
テストライトの必要性の有無を判断し、テストライトが
必要と判断した場合は、分割実行部１７３の中の未実行
の先頭に位置にスキップし、所定時間に亘りテストライ
トの分割処理を実行させる。
【００１２】分割制御部１６２は、１つの分割実行の処
理を終了する毎に処理済み番号と処理結果を保存し、分
割処理の開始からの経過時間が所定時間未満の場合は次
の分割処理に移行し、所定時間を経過していた場合は、
処理を中断して次の上位コマンドを待つ。分割制御部１
６２は、分割実行部１７３による前回の分割処理から今
回の分割処理までの経過時間が所定時間を超えていた場
合、前回までの処理済み番号及び処理結果をキャンセル
して最初から分割処理をやり直す。あまり分割処理の中
断時間が長くなると、その間に温度変化等により最適パ
ワーが変動してしまうことがあり、この場合は最初から
やり直すことで、より正確な最適パワーを見つける。
理を終了する毎に処理済み番号と処理結果を保存し、分
割処理の開始からの経過時間が所定時間未満の場合は次
の分割処理に移行し、所定時間を経過していた場合は、
処理を中断して次の上位コマンドを待つ。分割制御部１
６２は、分割実行部１７３による前回の分割処理から今
回の分割処理までの経過時間が所定時間を超えていた場
合、前回までの処理済み番号及び処理結果をキャンセル
して最初から分割処理をやり直す。あまり分割処理の中
断時間が長くなると、その間に温度変化等により最適パ
ワーが変動してしまうことがあり、この場合は最初から
やり直すことで、より正確な最適パワーを見つける。
【００１３】分割実行部１７３は例えば次のように構成
される。 初回は所定の初期発光パワー（デフォルト値）を設定
し次回以降は前記初期発光パワーを所定値ずつ変化させ
た発光パワーを設定する第１分割実行部１７４； 設定発光パワーで媒体のテスト領域をイレーズする第
２分割実行部１７６； イレーズ済みのテスト領域に、所定のテストパターン
を書き込む第３分割実行部１７８； テスト領域に書き込んだテストパターンを読み出す第
４分割実行部１８０； テストパターンと読出したパターンを比較してデータ
の不一致個数（エラーレート）を決定し、第１乃至第４
分割実行部による複数回のテストライトで得られた不一
致個数に基づいて最適発光パワーを算出する第５分割実
行部１８２； ここでイレーズを必要としないダイレクトオーバライト
対応型の媒体については、分割実行部１７３は次のよう
に構成される。
される。 初回は所定の初期発光パワー（デフォルト値）を設定
し次回以降は前記初期発光パワーを所定値ずつ変化させ
た発光パワーを設定する第１分割実行部１７４； 設定発光パワーで媒体のテスト領域をイレーズする第
２分割実行部１７６； イレーズ済みのテスト領域に、所定のテストパターン
を書き込む第３分割実行部１７８； テスト領域に書き込んだテストパターンを読み出す第
４分割実行部１８０； テストパターンと読出したパターンを比較してデータ
の不一致個数（エラーレート）を決定し、第１乃至第４
分割実行部による複数回のテストライトで得られた不一
致個数に基づいて最適発光パワーを算出する第５分割実
行部１８２； ここでイレーズを必要としないダイレクトオーバライト
対応型の媒体については、分割実行部１７３は次のよう
に構成される。
【００１４】初回は所定の初期発光パワー（デフォル
ト値）を設定し次回以降は前記初期発光パワーを所定値
ずつ変化させた発光パワーを設定する第１分割実行部１
７４； テスト領域に、所定のテストパターンを書き込む第３
分割実行部１７８； テスト領域に書き込んだテストパターンを読み出す第
４分割実行部１８０； テストパターンと読出したパターンを比較してデータ
の不一致個数（エラーレート）を決定し、第１乃至第４
分割実行部による複数回のテストライトで得られた不一
致個数に基づいて最適発光パワーを算出する第５分割実
行部１８２； 分割制御部１６２は、予め定めた装置の起動タイミング
からの経過時間に基づいて分割テストライト処理を行う
か否か判断して制御する経過時間制御部１６４を備え
る。ここで起動タイミングとは、装置に対する媒体のロ
ード時以外に、サーボ部やスピンドルモータを停止して
いるスリープモードからの復帰等も含む。
ト値）を設定し次回以降は前記初期発光パワーを所定値
ずつ変化させた発光パワーを設定する第１分割実行部１
７４； テスト領域に、所定のテストパターンを書き込む第３
分割実行部１７８； テスト領域に書き込んだテストパターンを読み出す第
４分割実行部１８０； テストパターンと読出したパターンを比較してデータ
の不一致個数（エラーレート）を決定し、第１乃至第４
分割実行部による複数回のテストライトで得られた不一
致個数に基づいて最適発光パワーを算出する第５分割実
行部１８２； 分割制御部１６２は、予め定めた装置の起動タイミング
からの経過時間に基づいて分割テストライト処理を行う
か否か判断して制御する経過時間制御部１６４を備え
る。ここで起動タイミングとは、装置に対する媒体のロ
ード時以外に、サーボ部やスピンドルモータを停止して
いるスリープモードからの復帰等も含む。
【００１５】経過時間制御部１６４は、媒体ロード等の
起動タイミングからの経過時間が所定時間に達するまで
の間、有効に動作して複数の分割実行部を制御する。即
ち、装置の電源投入に伴って媒体をロードしてから２〜
３分程度を経過するまでの間は、急速に装置内の温度が
上昇し、内部温度の分布がかなり不均一になっており、
温度センサの検出値も保証できない状況にある。そこで
媒体ロードからの経過時間が短いときはテストライトを
高頻度で行ない、経過時間が長くなって温度が安定して
きたら、テストライトの頻度を下げるように経過時間に
基づいてテストライトの必要性を判断する。
起動タイミングからの経過時間が所定時間に達するまで
の間、有効に動作して複数の分割実行部を制御する。即
ち、装置の電源投入に伴って媒体をロードしてから２〜
３分程度を経過するまでの間は、急速に装置内の温度が
上昇し、内部温度の分布がかなり不均一になっており、
温度センサの検出値も保証できない状況にある。そこで
媒体ロードからの経過時間が短いときはテストライトを
高頻度で行ない、経過時間が長くなって温度が安定して
きたら、テストライトの頻度を下げるように経過時間に
基づいてテストライトの必要性を判断する。
【００１６】即ち、経過時間制御部１６４は、最初の上
位コマンドで複数のテストライト処理を一括して行って
最適発光パワーを決定すると共に、そのときの経過時間
に基づいて最適発光パワーの調整を不必要とする有効時
間Ｔｖを設定する。初回以降については、有効時間Ｔｖ
の所定割合時間を経過するまでは上位コマンドに対する
分割テストライトを禁止し、所定割合時間から有効時間
Ｔｖまでの間に上位コマンドに対し分割テストライトを
実行させる。経過時間制御部１６４は、起動タイミング
からの経過時間に比例して有効時間Ｔｖを段階的に長く
するように設定する。
位コマンドで複数のテストライト処理を一括して行って
最適発光パワーを決定すると共に、そのときの経過時間
に基づいて最適発光パワーの調整を不必要とする有効時
間Ｔｖを設定する。初回以降については、有効時間Ｔｖ
の所定割合時間を経過するまでは上位コマンドに対する
分割テストライトを禁止し、所定割合時間から有効時間
Ｔｖまでの間に上位コマンドに対し分割テストライトを
実行させる。経過時間制御部１６４は、起動タイミング
からの経過時間に比例して有効時間Ｔｖを段階的に長く
するように設定する。
【００１７】経過時間制御部１６４は、分割テストライ
トを有効時間の例えば９０％未満の時間帯で禁止し、有
効時間の９０％を超える時間帯で許容する。また経過時
間制御部１６４は、分割テストライトの実行段階の途中
で有効時間Ｔｖを超えた場合、最適パワーが大きくずれ
ている可能性があるので、この場合には次の上位コマン
ドで残りの分割テストライトを一括して実行する。
トを有効時間の例えば９０％未満の時間帯で禁止し、有
効時間の９０％を超える時間帯で許容する。また経過時
間制御部１６４は、分割テストライトの実行段階の途中
で有効時間Ｔｖを超えた場合、最適パワーが大きくずれ
ている可能性があるので、この場合には次の上位コマン
ドで残りの分割テストライトを一括して実行する。
【００１８】一方、分割制御部１６４は、装置温度の変
化に基づいて分割テストライト処理を行うか否か判断し
て制御する温度変化制御部１６６を備える。この温度変
化制御部１６６は、装置の起動タイミングから経過時間
制御部１６２が動作している所定時間、例えば１６０秒
を経過して装置内の温度が安定した後に動作する。温度
変化制御部１６６は、所定時間毎に装置内の温度を検出
し、前回の検出温度との温度差が所定温度、例えば３℃
を超えた場合に分割処理を実行させる。また温度変化制
御部１６６は、分割処理の中断中に温度差が所定温度３
℃より高い上限温度、例えば４℃を超えた場合は、最適
パワーが大きく変化している可能性があるので、この場
合には分割実行部１７３に分割処理を一括して実行させ
る。
化に基づいて分割テストライト処理を行うか否か判断し
て制御する温度変化制御部１６６を備える。この温度変
化制御部１６６は、装置の起動タイミングから経過時間
制御部１６２が動作している所定時間、例えば１６０秒
を経過して装置内の温度が安定した後に動作する。温度
変化制御部１６６は、所定時間毎に装置内の温度を検出
し、前回の検出温度との温度差が所定温度、例えば３℃
を超えた場合に分割処理を実行させる。また温度変化制
御部１６６は、分割処理の中断中に温度差が所定温度３
℃より高い上限温度、例えば４℃を超えた場合は、最適
パワーが大きく変化している可能性があるので、この場
合には分割実行部１７３に分割処理を一括して実行させ
る。
【００１９】温度変化制御部１６６は、分割実行部１７
３による分割処理の途中で、前回の分割処理と今回の分
割処理との温度差が所定温度、例えば２℃を超えていた
場合、分割状態の中断時間が長すぎて最適パワーが大き
く変化している可能性があるので、前回までの処理済み
番号及び処理結果をキャンセルして最初から分割処理を
やり直す。
３による分割処理の途中で、前回の分割処理と今回の分
割処理との温度差が所定温度、例えば２℃を超えていた
場合、分割状態の中断時間が長すぎて最適パワーが大き
く変化している可能性があるので、前回までの処理済み
番号及び処理結果をキャンセルして最初から分割処理を
やり直す。
【００２０】本発明は、媒体を半径方向で複数のエリ
ア、例えば内周エリア・中間エリア・外周エリアに分割
し、分割テストライト処理部及び分割制御部による処理
を各エリア毎に独立に行う。これは媒体の回転制御にＣ
ＡＶを使用しており、媒体の半径方向での周速度が異な
るために媒体を加熱するレーザパワーも相違するため、
例えば３つのエリアに分けて独立に分割ライトテストで
各エリア毎の最適パワーを見つける。
ア、例えば内周エリア・中間エリア・外周エリアに分割
し、分割テストライト処理部及び分割制御部による処理
を各エリア毎に独立に行う。これは媒体の回転制御にＣ
ＡＶを使用しており、媒体の半径方向での周速度が異な
るために媒体を加熱するレーザパワーも相違するため、
例えば３つのエリアに分けて独立に分割ライトテストで
各エリア毎の最適パワーを見つける。
【００２１】また媒体は半径方向で複数のゾーンに分割
されていることから、複数のゾーンを半径方向で複数ゾ
ーンずつグループ化して複数のエリアに分割し、分割テ
ストライト処理部及び分割制御部による処理を各エリア
毎に独立に行うことになる。更に本発明の別の形態にあ
っては、上位コマンドに依存することなく、予め定めた
経過時間のタイムスケジュールに従って分割テストライ
ト処理部１６０による分割テストライト処理を順番に実
行するようにしてもよい。また上位コマンドに依存する
ことなく、一定値以上の温度変化があった場合に、分割
テストライト処理部１６０による分割テストライト処理
を順番に実行するようにしてもよい。更に、媒体上でテ
ストライトを行って最適発光パワーを決定するテストラ
イト処理を行う光学的記憶装置に於いて、テストライト
処理を少なくとも２つの処理に分割する分割テストライ
ト処理部と、連続したテストライト処理と分割したテス
トライト処理のいずれかの実行を決定する決定部と、決
定部で決定された連続したテストライト処理として、分
割された個々の分割処理を連続的に一括して実行し、決
定部で決定された分割したテストライト処理として、分
割された個々の分割処理を所定のタイミングで独立に実
行するテストライト実行部とを備えている。
されていることから、複数のゾーンを半径方向で複数ゾ
ーンずつグループ化して複数のエリアに分割し、分割テ
ストライト処理部及び分割制御部による処理を各エリア
毎に独立に行うことになる。更に本発明の別の形態にあ
っては、上位コマンドに依存することなく、予め定めた
経過時間のタイムスケジュールに従って分割テストライ
ト処理部１６０による分割テストライト処理を順番に実
行するようにしてもよい。また上位コマンドに依存する
ことなく、一定値以上の温度変化があった場合に、分割
テストライト処理部１６０による分割テストライト処理
を順番に実行するようにしてもよい。更に、媒体上でテ
ストライトを行って最適発光パワーを決定するテストラ
イト処理を行う光学的記憶装置に於いて、テストライト
処理を少なくとも２つの処理に分割する分割テストライ
ト処理部と、連続したテストライト処理と分割したテス
トライト処理のいずれかの実行を決定する決定部と、決
定部で決定された連続したテストライト処理として、分
割された個々の分割処理を連続的に一括して実行し、決
定部で決定された分割したテストライト処理として、分
割された個々の分割処理を所定のタイミングで独立に実
行するテストライト実行部とを備えている。
【００２２】
＜目 次＞
１．装置構成
２．ＬＤ発光制御
３．分割テストライト処理
１．装置構成
図２は本発明の光学的記憶装置である光ディスクドライ
ブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライ
ブは、コントロールユニット１０とエンクロージャ１２
で構成される。コントロールユニット１０には光ディス
クドライブの全体的な制御を行うＭＰＵ１４、上位装置
との間でコマンド及びデータのやり取りを行うインタフ
ェースコントローラ１６、光ディスク媒体に対するデー
タのリード、ライトに必要なフォーマッタやＥＣＣの機
能を備えた光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）１８、バ
ッファメモリ２０を備える。
ブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライ
ブは、コントロールユニット１０とエンクロージャ１２
で構成される。コントロールユニット１０には光ディス
クドライブの全体的な制御を行うＭＰＵ１４、上位装置
との間でコマンド及びデータのやり取りを行うインタフ
ェースコントローラ１６、光ディスク媒体に対するデー
タのリード、ライトに必要なフォーマッタやＥＣＣの機
能を備えた光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）１８、バ
ッファメモリ２０を備える。
【００２３】光ディスクコントローラ１８に対してはラ
イト系統としてエンコーダ２２とレーザダイオード制御
回路２４が設けられ、レーザダイオード制御回路２４の
制御出力はエンクロージャ１２側の設けたレーザダイオ
ードユニット３０に与えられている。レーザダイオード
ユニット３０はレーザダイオードとモニタ用の受光素子
を一体に備える。
イト系統としてエンコーダ２２とレーザダイオード制御
回路２４が設けられ、レーザダイオード制御回路２４の
制御出力はエンクロージャ１２側の設けたレーザダイオ
ードユニット３０に与えられている。レーザダイオード
ユニット３０はレーザダイオードとモニタ用の受光素子
を一体に備える。
【００２４】レーザダイオードユニット３０を使用して
記録再生を行う光ディスク、即ちリムーバルなＭＯカー
トリッジ媒体として、この実施形態にあっては１２８Ｍ
Ｂ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢ、６４０ＭＢのＭＯカート
リッジ媒体、更にダイレクトオーバライト対応型の２３
０ＭＢ、５４０ＭＢ、６４０ＭＢ媒体のいずれかを使用
することができる。このうち１２８ＭＢのＭＯカートリ
ッジ媒体については、媒体上のマークの有無に対応して
データを記録するピットポジション記録（ＰＰＭ記録）
を採用している。また媒体の記録フォーマットは、ＺＣ
ＡＶであり、１２８ＭＢは１ゾーンである。
記録再生を行う光ディスク、即ちリムーバルなＭＯカー
トリッジ媒体として、この実施形態にあっては１２８Ｍ
Ｂ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢ、６４０ＭＢのＭＯカート
リッジ媒体、更にダイレクトオーバライト対応型の２３
０ＭＢ、５４０ＭＢ、６４０ＭＢ媒体のいずれかを使用
することができる。このうち１２８ＭＢのＭＯカートリ
ッジ媒体については、媒体上のマークの有無に対応して
データを記録するピットポジション記録（ＰＰＭ記録）
を採用している。また媒体の記録フォーマットは、ＺＣ
ＡＶであり、１２８ＭＢは１ゾーンである。
【００２５】一方、高密度記録となる２３０ＭＢ、５４
０ＭＢ及び６４０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体について
は、マークのエッジ即ち前縁と後縁をデータに対応させ
るパルス幅記録（ＰＷＭ記録）を採用している。尚、Ｐ
ＷＭ記録は、マーク記録又はエッジ記録とも呼ばれる。
ここで、６４０ＭＢと５４０ＭＢの記憶容量の差はセク
タ容量の違いによるもので、セクタ容量が２ＫＢのとき
６４０ＭＢとなり、一方、５１２Ｂのときは５４０ＭＢ
となる。また媒体の記録フォーマットはＺＣＡＶであ
り、２３０ＭＢは１０ゾーン、６４０ＭＢは１１ゾー
ン、５４０ＭＢは１８ゾーンである。
０ＭＢ及び６４０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体について
は、マークのエッジ即ち前縁と後縁をデータに対応させ
るパルス幅記録（ＰＷＭ記録）を採用している。尚、Ｐ
ＷＭ記録は、マーク記録又はエッジ記録とも呼ばれる。
ここで、６４０ＭＢと５４０ＭＢの記憶容量の差はセク
タ容量の違いによるもので、セクタ容量が２ＫＢのとき
６４０ＭＢとなり、一方、５１２Ｂのときは５４０ＭＢ
となる。また媒体の記録フォーマットはＺＣＡＶであ
り、２３０ＭＢは１０ゾーン、６４０ＭＢは１１ゾー
ン、５４０ＭＢは１８ゾーンである。
【００２６】このように本発明の光ディスクドライブ
は、１２８ＭＢ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢまたは６４０
ＭＢの各記憶容量のＭＯカートリッジ、更にダイレクト
オーバライト対応型媒体カートリッジに対応可能であ
る。したがって光ディスクドライブにＭＯカートリッジ
をローディングした際には、まず媒体のＩＤ部をリード
し、そのピット間隔からＭＰＵ１４において媒体の種別
を認識し、種別結果を光ディスクコントローラ１８に通
知することで、１２８ＭＢ媒体または２３０ＭＢ媒体で
あればＰＰＭ記録に対応したフォーマッタ処理を行い、
５４０ＭＢまたは６４０ＭＢ媒体であればＰＷＭ記録に
従ったフォーマッタ処理を行うことになる。
は、１２８ＭＢ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢまたは６４０
ＭＢの各記憶容量のＭＯカートリッジ、更にダイレクト
オーバライト対応型媒体カートリッジに対応可能であ
る。したがって光ディスクドライブにＭＯカートリッジ
をローディングした際には、まず媒体のＩＤ部をリード
し、そのピット間隔からＭＰＵ１４において媒体の種別
を認識し、種別結果を光ディスクコントローラ１８に通
知することで、１２８ＭＢ媒体または２３０ＭＢ媒体で
あればＰＰＭ記録に対応したフォーマッタ処理を行い、
５４０ＭＢまたは６４０ＭＢ媒体であればＰＷＭ記録に
従ったフォーマッタ処理を行うことになる。
【００２７】光ディスクコントローラ１８に対するリー
ド系統としては、デコーダ２６、リードＬＳＩ回路２８
が設けられる。リードＬＳＩ回路２８に対しては、エン
クロージャ１２に設けたディテクタ３２によるレーザダ
イオード３０からのビームの戻り光の受光信号が、ヘッ
ドアンプ３４を介してＩＤ信号及びＭＯ信号として入力
されている。
ド系統としては、デコーダ２６、リードＬＳＩ回路２８
が設けられる。リードＬＳＩ回路２８に対しては、エン
クロージャ１２に設けたディテクタ３２によるレーザダ
イオード３０からのビームの戻り光の受光信号が、ヘッ
ドアンプ３４を介してＩＤ信号及びＭＯ信号として入力
されている。
【００２８】リードＬＳＩ回路２８にはＡＧＣ回路、フ
ィルタ、セクタマーク検出回路、シンセサイザ及びＰＬ
Ｌ等の回路機能が設けられ、入力したＩＤ信号及びＭＯ
信号よりリードクロックとリードデータを作成し、デコ
ーダ２６に出力している。またスピンドルモータ４０に
よる媒体の記録方式としてゾーンＣＡＶを採用している
ことから、リードＬＳＩ回路２８に対してはＭＰＵ１４
より、内蔵したシンセサイザに対しゾーン対応のクロッ
ク周波数の切替制御が行われている。
ィルタ、セクタマーク検出回路、シンセサイザ及びＰＬ
Ｌ等の回路機能が設けられ、入力したＩＤ信号及びＭＯ
信号よりリードクロックとリードデータを作成し、デコ
ーダ２６に出力している。またスピンドルモータ４０に
よる媒体の記録方式としてゾーンＣＡＶを採用している
ことから、リードＬＳＩ回路２８に対してはＭＰＵ１４
より、内蔵したシンセサイザに対しゾーン対応のクロッ
ク周波数の切替制御が行われている。
【００２９】ここでエンコーダ２２の変調方式及びデコ
ーダ２６の復調方式は、光ディスクコントローラ１８に
よる媒体種別に応じ、１２８ＭＢ媒体及び２３０ＭＢ媒
体についてはＰＰＭ記録の変調及び復調方式に切り替え
られる。一方、５４０ＭＢ媒体及び６４０ＭＢ媒体につ
いては、ＰＷＭ記録の変調及び復調方式に切り替えられ
る。
ーダ２６の復調方式は、光ディスクコントローラ１８に
よる媒体種別に応じ、１２８ＭＢ媒体及び２３０ＭＢ媒
体についてはＰＰＭ記録の変調及び復調方式に切り替え
られる。一方、５４０ＭＢ媒体及び６４０ＭＢ媒体につ
いては、ＰＷＭ記録の変調及び復調方式に切り替えられ
る。
【００３０】ＭＰＵ１４に対しては、ヘッド部１２側に
設けた温度センサ３６の検出信号が与えられている。Ｍ
ＰＵ１４は、温度センサ３６で検出した装置内部の環境
温度に基づき、レーザダイオード制御回路２４における
リード、ライト、イレーズの各発光パワーを最適値に制
御する。この発光パワーを最適化する制御として、本発
明にあっては、５４０ＭＢ媒体および６４０ＭＢ媒体に
ついて、上位ライトコマンドを受けた際に、テストパタ
ーンを媒体のテスト領域に書き込んだ後に読み出してエ
ラー個数を判定しながら最適発光パワーを見つけるテス
トライトを行う。
設けた温度センサ３６の検出信号が与えられている。Ｍ
ＰＵ１４は、温度センサ３６で検出した装置内部の環境
温度に基づき、レーザダイオード制御回路２４における
リード、ライト、イレーズの各発光パワーを最適値に制
御する。この発光パワーを最適化する制御として、本発
明にあっては、５４０ＭＢ媒体および６４０ＭＢ媒体に
ついて、上位ライトコマンドを受けた際に、テストパタ
ーンを媒体のテスト領域に書き込んだ後に読み出してエ
ラー個数を判定しながら最適発光パワーを見つけるテス
トライトを行う。
【００３１】また本発明は、テストライトを一塊りのス
テップ毎に分割し、上位ライトコマンドを受けた際に分
割処理を順番に実行し、実行時間が所定時間を超えた場
合は、分割処理を中断し、次に上位ライトコマンドを受
けた時に、中断したステップからテストライトの分割処
理を実行する分割テストライトを行う。更に、ＭＰＵ１
４は、ドライバ３８によりエンクロージャ１２側に設け
たスピンドルモータ４０を制御する。ＭＯカートリッジ
の記録フォーマットはＺＣＡＶであることから、スピン
ドルモータ４０を例えば３６００ｒｐｍの一定速度で回
転させる。またＭＰＵ１４は、ドライバ４２を介してエ
ンクロージャ１２側に設けた電磁石４４を制御する。電
磁石４４は装置内にローディングされたＭＯカートリッ
ジのビーム照射側と反対側に配置されており、記録時及
び消去時に媒体に外部磁界を供給する。
テップ毎に分割し、上位ライトコマンドを受けた際に分
割処理を順番に実行し、実行時間が所定時間を超えた場
合は、分割処理を中断し、次に上位ライトコマンドを受
けた時に、中断したステップからテストライトの分割処
理を実行する分割テストライトを行う。更に、ＭＰＵ１
４は、ドライバ３８によりエンクロージャ１２側に設け
たスピンドルモータ４０を制御する。ＭＯカートリッジ
の記録フォーマットはＺＣＡＶであることから、スピン
ドルモータ４０を例えば３６００ｒｐｍの一定速度で回
転させる。またＭＰＵ１４は、ドライバ４２を介してエ
ンクロージャ１２側に設けた電磁石４４を制御する。電
磁石４４は装置内にローディングされたＭＯカートリッ
ジのビーム照射側と反対側に配置されており、記録時及
び消去時に媒体に外部磁界を供給する。
【００３２】ＤＳＰ１５は、媒体に対しレーザダイオー
ド３０からのビームの位置決めを行うためのサーボ機能
を実現する。このため、エンクロージャ１２側の光学ユ
ニットに媒体からのビームモードの光を受光する４分割
ディテクタ４６を設け、ＦＥＳ検出回路（フォーカスエ
ラー信号検出回路）４８が、４分割ディテクタ４６の受
光出力からフォーカスエラー信号Ｅ１を作成してＤＳＰ
１５に入力している。
ド３０からのビームの位置決めを行うためのサーボ機能
を実現する。このため、エンクロージャ１２側の光学ユ
ニットに媒体からのビームモードの光を受光する４分割
ディテクタ４６を設け、ＦＥＳ検出回路（フォーカスエ
ラー信号検出回路）４８が、４分割ディテクタ４６の受
光出力からフォーカスエラー信号Ｅ１を作成してＤＳＰ
１５に入力している。
【００３３】またＴＥＳ検出回路（トラッキングエラー
信号検出回路）５０が４分割ディテクタ４６の受光出力
からトラッキングエラー信号Ｅ２を作成し、ＤＳＰ１５
に入力している。トラッキングエラー信号Ｅ２はＴＺＣ
回路（トラックゼロクロス検出回路）４５に入力され、
トラックゼロクロスパルスＥ３を作成してＤＳＰ１５に
入力している。
信号検出回路）５０が４分割ディテクタ４６の受光出力
からトラッキングエラー信号Ｅ２を作成し、ＤＳＰ１５
に入力している。トラッキングエラー信号Ｅ２はＴＺＣ
回路（トラックゼロクロス検出回路）４５に入力され、
トラックゼロクロスパルスＥ３を作成してＤＳＰ１５に
入力している。
【００３４】更にエンクロージャ１２側には、媒体に対
しレーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検
出するレンズ位置センサ５２が設けられ、そのレンズ位
置検出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４をＤＳＰ１５に入力してい
る。ＤＳＰ１５は、ビーム位置決めのため、ドライバ５
４，５８，６２を介してフォーカスアクチュエータ５
６、レンズアクチュエータ６０及びＶＣＭ６４を制御駆
動している。
しレーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検
出するレンズ位置センサ５２が設けられ、そのレンズ位
置検出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４をＤＳＰ１５に入力してい
る。ＤＳＰ１５は、ビーム位置決めのため、ドライバ５
４，５８，６２を介してフォーカスアクチュエータ５
６、レンズアクチュエータ６０及びＶＣＭ６４を制御駆
動している。
【００３５】ここで光ディスクドライブにおけるエンク
ロージャの概略は図３のようになる。図３において、ハ
ウジング６６内にはスピンドルモータ４０が設けられ、
スピンドルモータ４０の回転軸のハブに対しインレット
ドア６８側よりＭＯカートリッジ７０を挿入すること
で、内部のＭＯ媒体７２がスピンドルモータ４０の回転
軸のハブに装着されるローディングが行われる。
ロージャの概略は図３のようになる。図３において、ハ
ウジング６６内にはスピンドルモータ４０が設けられ、
スピンドルモータ４０の回転軸のハブに対しインレット
ドア６８側よりＭＯカートリッジ７０を挿入すること
で、内部のＭＯ媒体７２がスピンドルモータ４０の回転
軸のハブに装着されるローディングが行われる。
【００３６】ローディングされたＭＯカートリッジ７０
のＭＯ媒体７２の下側には、ＶＣＭ６４により媒体トラ
ックを横切る方向に移動自在なキャリッジ７６が設けら
れている。キャリッジ７６上には対物レンズ８０が搭載
され、固定光学系７８に設けている半導体レーザからの
ビームをプリズム８２を介して入射し、ＭＯ媒体７２の
媒体面にビームスポットを結像している。
のＭＯ媒体７２の下側には、ＶＣＭ６４により媒体トラ
ックを横切る方向に移動自在なキャリッジ７６が設けら
れている。キャリッジ７６上には対物レンズ８０が搭載
され、固定光学系７８に設けている半導体レーザからの
ビームをプリズム８２を介して入射し、ＭＯ媒体７２の
媒体面にビームスポットを結像している。
【００３７】対物レンズ８０は図２のエンクロージャ１
２に示したフォーカスアクチュエータ５６により光軸方
向に移動制御され、またレンズアクチュエータ６０によ
り媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラック
の範囲内で移動することができる。このキャリッジ７６
に搭載している対物レンズ８０の位置が、図２のレンズ
位置センサ５２により検出される。レンズ位置センサ５
２は対物レンズ８０の光軸が直上に向かう中立位置でレ
ンズ位置検出信号を０とし、アウタ側への移動とインナ
側への移動に対しそれぞれ異なった極性の移動量に応じ
たレンズ位置検出信号Ｅ４を出力する。 ２，ＬＤ発光制御 図４は図２のコントローラ１０に設けたレーザダイオー
ド制御回路２４の回路ブロック図であり、書込の先立っ
てイレーズを必要とするＭＯカートリッジ媒体を例にと
っている。尚、イレーズを必要としないダイレクトオー
バライト対応型の媒体については、ＭＯカートリッジの
イレーズパワーがダイレクトオーバライトの際のライト
パワーの立ち上げを高速化させるアシストパワーに代替
される。
２に示したフォーカスアクチュエータ５６により光軸方
向に移動制御され、またレンズアクチュエータ６０によ
り媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラック
の範囲内で移動することができる。このキャリッジ７６
に搭載している対物レンズ８０の位置が、図２のレンズ
位置センサ５２により検出される。レンズ位置センサ５
２は対物レンズ８０の光軸が直上に向かう中立位置でレ
ンズ位置検出信号を０とし、アウタ側への移動とインナ
側への移動に対しそれぞれ異なった極性の移動量に応じ
たレンズ位置検出信号Ｅ４を出力する。 ２，ＬＤ発光制御 図４は図２のコントローラ１０に設けたレーザダイオー
ド制御回路２４の回路ブロック図であり、書込の先立っ
てイレーズを必要とするＭＯカートリッジ媒体を例にと
っている。尚、イレーズを必要としないダイレクトオー
バライト対応型の媒体については、ＭＯカートリッジの
イレーズパワーがダイレクトオーバライトの際のライト
パワーの立ち上げを高速化させるアシストパワーに代替
される。
【００３８】図４において、レーザダイオードユニット
３０にはレーザダイオード１００とモニタフォトダイオ
ード１０２が一体に設けられている。レーザダイオード
１００は電源電圧Ｖccにより駆動電流Ｉを受けて発光
し、光学ユニットによりレーザビームを生成して媒体面
に照射して記録再生を行う。モニタフォトダイオード１
０２はレーザダイオード１００からの光の一部を入射
し、レーザダイオード１００の発光パワーに比例した受
光電流ｉ０を出力する。レーザダイオード１００に対し
ては、リードパワー電流源１０４、イレーズパワー電流
源１０６、第１ライトパワー電流源１０８、第２ライト
パワー電流源１１０が並列接続されており、それぞれリ
ードパワー電流Ｉ0 、イレーズパワー電流Ｉ１、第１ラ
イトパワー電流Ｉ２、及び第３ライトパワー電流Ｉ３を
流すようにしている。
３０にはレーザダイオード１００とモニタフォトダイオ
ード１０２が一体に設けられている。レーザダイオード
１００は電源電圧Ｖccにより駆動電流Ｉを受けて発光
し、光学ユニットによりレーザビームを生成して媒体面
に照射して記録再生を行う。モニタフォトダイオード１
０２はレーザダイオード１００からの光の一部を入射
し、レーザダイオード１００の発光パワーに比例した受
光電流ｉ０を出力する。レーザダイオード１００に対し
ては、リードパワー電流源１０４、イレーズパワー電流
源１０６、第１ライトパワー電流源１０８、第２ライト
パワー電流源１１０が並列接続されており、それぞれリ
ードパワー電流Ｉ0 、イレーズパワー電流Ｉ１、第１ラ
イトパワー電流Ｉ２、及び第３ライトパワー電流Ｉ３を
流すようにしている。
【００３９】即ち、リードパワー発光時にはリードパワ
ー電流Ｉ0 が流れ、イレーズパワー発光時にはリードパ
ワー電流Ｉ0 にイレーズパワー電流Ｉ１を加えた電流
（Ｉ0＋Ｉ１）が流れ、第１ライトパワー発光時には更
に第１ライトパワー電流Ｉ２を加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１
＋Ｉ２）が流れる。また第２ライトパワー発光時には第
２ライトパワー電流Ｉ３をリードパワー電流Ｉ0 及びイ
レーズパワー電流Ｉ１に加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１＋Ｉ
３）が流れる。
ー電流Ｉ0 が流れ、イレーズパワー発光時にはリードパ
ワー電流Ｉ0 にイレーズパワー電流Ｉ１を加えた電流
（Ｉ0＋Ｉ１）が流れ、第１ライトパワー発光時には更
に第１ライトパワー電流Ｉ２を加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１
＋Ｉ２）が流れる。また第２ライトパワー発光時には第
２ライトパワー電流Ｉ３をリードパワー電流Ｉ0 及びイ
レーズパワー電流Ｉ１に加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１＋Ｉ
３）が流れる。
【００４０】リードパワー電流源１０４に対しては、自
動パワー制御部（以下「ＡＰＣ」という）１３８が設け
られている。ＡＰＣ１３８に対しては目標ＤＡＣレジス
タ１２０及びＤＡコンバータ（以下「ＤＡＣ」という）
１３６を介して、目標パワーとして規定の目標リードパ
ワーが設定されている。イレーズパワー電流源１０６に
対しては、ＥＰ電流指示部としてＥＰ電流ＤＡＣレジス
タ１２２及びＤＡＣ１４０が設けられる。第１ライトパ
ワー電流源１０８に対してはＷＰ１電流指示部としてＷ
Ｐ１電流ＤＡＣレジスタ１２４及びＤＡＣ１４２が設け
られ、更に第２ライトパワー電流源１１０に対してもＷ
Ｐ２電流指示部としてＷＰ２電流ＤＡＣレジスタ１２６
及びＤＡＣ１４４が設けられる。
動パワー制御部（以下「ＡＰＣ」という）１３８が設け
られている。ＡＰＣ１３８に対しては目標ＤＡＣレジス
タ１２０及びＤＡコンバータ（以下「ＤＡＣ」という）
１３６を介して、目標パワーとして規定の目標リードパ
ワーが設定されている。イレーズパワー電流源１０６に
対しては、ＥＰ電流指示部としてＥＰ電流ＤＡＣレジス
タ１２２及びＤＡＣ１４０が設けられる。第１ライトパ
ワー電流源１０８に対してはＷＰ１電流指示部としてＷ
Ｐ１電流ＤＡＣレジスタ１２４及びＤＡＣ１４２が設け
られ、更に第２ライトパワー電流源１１０に対してもＷ
Ｐ２電流指示部としてＷＰ２電流ＤＡＣレジスタ１２６
及びＤＡＣ１４４が設けられる。
【００４１】このため各電流源１０４，１０６，１０
８，１１０の電流は、対応するレジスタ１２０，１２
２，１２４，１２６に対するＤＡＣ指示値をセットする
ことで適宜に変更することができる。ここでレジスタ、
ＤＡＣ及び定電流源によって、発光電流源回路が構成さ
れている。ＡＰＣ１３８による制御は、フォトダイオー
ド１０２の受光電流ｉ0 から得られたモニタ電流ｉm が
目標リードパワーに対応したＤＡＣ１３６の目標電圧に
一致するようにフィードバック制御を行う。このためモ
ニタフォトダイオード１０２に対し、リードパワーを超
えるイレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライト
パワーで発光した際の受光電流を差し引いて、リードパ
ワー相当のモニタ電流ｉm をＡＰＣに帰還するため、差
引電流源１１２，１１４，１１６を設けている。
８，１１０の電流は、対応するレジスタ１２０，１２
２，１２４，１２６に対するＤＡＣ指示値をセットする
ことで適宜に変更することができる。ここでレジスタ、
ＤＡＣ及び定電流源によって、発光電流源回路が構成さ
れている。ＡＰＣ１３８による制御は、フォトダイオー
ド１０２の受光電流ｉ0 から得られたモニタ電流ｉm が
目標リードパワーに対応したＤＡＣ１３６の目標電圧に
一致するようにフィードバック制御を行う。このためモ
ニタフォトダイオード１０２に対し、リードパワーを超
えるイレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライト
パワーで発光した際の受光電流を差し引いて、リードパ
ワー相当のモニタ電流ｉm をＡＰＣに帰還するため、差
引電流源１１２，１１４，１１６を設けている。
【００４２】イレーズパワー用差引電流源１１２に対し
ては、ＥＰ差引電流指示部としてのＥＰ差引ＤＡＣレジ
スタ１２８及びＤＡＣ１４６により任意の差引電流ｉ１
を設定することができる。第１ライトパワー用差引電流
源１１４に対しては、ＷＰ１差引電流指示部としてのＷ
Ｐ１差引ＤＡＣレジスタ１３０及びＤＡＣ１４８により
任意の差引電流ｉ２を設定することができる。更に第２
ライトパワー差引電流源１１６に対しても、ＷＰ２差引
電流指示部としてのＷＰ２差引ＤＡＣレジスタ１３２及
びＤＡＣ１５０によって任意の差引電流ｉ３を設定する
ことができる。
ては、ＥＰ差引電流指示部としてのＥＰ差引ＤＡＣレジ
スタ１２８及びＤＡＣ１４６により任意の差引電流ｉ１
を設定することができる。第１ライトパワー用差引電流
源１１４に対しては、ＷＰ１差引電流指示部としてのＷ
Ｐ１差引ＤＡＣレジスタ１３０及びＤＡＣ１４８により
任意の差引電流ｉ２を設定することができる。更に第２
ライトパワー差引電流源１１６に対しても、ＷＰ２差引
電流指示部としてのＷＰ２差引ＤＡＣレジスタ１３２及
びＤＡＣ１５０によって任意の差引電流ｉ３を設定する
ことができる。
【００４３】この３つの差引電流源ｉ１，ｉ２，ｉ３の
発光モードにおけるモニタ電流ｉmは次のようになる。 リード発光時 ；ｉm ＝ｉ0 イレーズ発光時 ；ｉm ＝ｉ0 −ｉ１ 第１ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
２） 第２ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
３） したがって、目標リードパワーを超えるイレーズパワ
ー、第１または第２ライトパワーのいずれの発光時にあ
っても、対応する差引電流を受光電流ｉ0 から引くこと
で、モニタ電流ｉm はリードパワー相当の電流としてモ
ニタ電圧検出用抵抗１１８に流れ、ＡＰＣ１３８に帰還
される。
発光モードにおけるモニタ電流ｉmは次のようになる。 リード発光時 ；ｉm ＝ｉ0 イレーズ発光時 ；ｉm ＝ｉ0 −ｉ１ 第１ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
２） 第２ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
３） したがって、目標リードパワーを超えるイレーズパワ
ー、第１または第２ライトパワーのいずれの発光時にあ
っても、対応する差引電流を受光電流ｉ0 から引くこと
で、モニタ電流ｉm はリードパワー相当の電流としてモ
ニタ電圧検出用抵抗１１８に流れ、ＡＰＣ１３８に帰還
される。
【００４４】このためＡＰＣ１３８は発光パワーの如何
に関わらず、常時目標リードパワーを維持するようにリ
ードパワー電流源１０４を制御し、これによって規定の
イレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワ
ーの自動パワー制御が実現される。この差引電流につい
ても、レジスタ、ＤＡＣおよび定電流源によって、差引
電流源回路が構成されている。
に関わらず、常時目標リードパワーを維持するようにリ
ードパワー電流源１０４を制御し、これによって規定の
イレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワ
ーの自動パワー制御が実現される。この差引電流につい
ても、レジスタ、ＤＡＣおよび定電流源によって、差引
電流源回路が構成されている。
【００４５】モニタ電流ｉm に対応したモニタ電圧検出
抵抗１１８によるモニタ電圧は、ＡＤコンバータ（以下
「ＡＤＣ」という）１５２によりディジタルデータに変
換され、モニタＡＤＣレジスタ１３４に入力された後、
ＭＰＵ１４側に読み出される。このため、ＡＤＣ１５２
及びモニタＡＤＣレジスタ１３４はモニタ電流ｉm の測
定部を構成する。
抵抗１１８によるモニタ電圧は、ＡＤコンバータ（以下
「ＡＤＣ」という）１５２によりディジタルデータに変
換され、モニタＡＤＣレジスタ１３４に入力された後、
ＭＰＵ１４側に読み出される。このため、ＡＤＣ１５２
及びモニタＡＤＣレジスタ１３４はモニタ電流ｉm の測
定部を構成する。
【００４６】図４は、イレーズを必要とするＭＯカート
リッジを例にとるものであったが、イレーズを必要とし
ないダイレクトオーバライト対応のカートリッジ媒体の
場合には、ＰＷＭ記録ではリードパワーＲＰにアシスト
パワーＰＡを加えたパワー（ＲＰ＋ＰＡ）に第１ライト
パワーＷＰ１と第２ライトパワーＷＰ２を重畳させてお
り、またＰＰＭ記録では、リードパワーＲＰにアシスト
パワーＰＡを加えたパワー（ＲＰ＋ＰＡ）に第１ライト
パワーＷＰ１を重畳させている。
リッジを例にとるものであったが、イレーズを必要とし
ないダイレクトオーバライト対応のカートリッジ媒体の
場合には、ＰＷＭ記録ではリードパワーＲＰにアシスト
パワーＰＡを加えたパワー（ＲＰ＋ＰＡ）に第１ライト
パワーＷＰ１と第２ライトパワーＷＰ２を重畳させてお
り、またＰＰＭ記録では、リードパワーＲＰにアシスト
パワーＰＡを加えたパワー（ＲＰ＋ＰＡ）に第１ライト
パワーＷＰ１を重畳させている。
【００４７】このため図４のイレーズパワーＥＰのため
のレジスタ１２４，１２８，ＤＡＣ１４２，１４６及び
電流源１１０，１１２を、各々、アシストパワーＰＡ用
に代替すればよい。勿論、アシストパワー専用のレジス
タ，ＤＡＣ及び電流源を付加してもよい。図５は図４の
レーザダイオード制御回路２４におけるＰＷＭ記録の信
号、発光電流、差引電流及びタイムチャートであり、イ
レーズを必要としないダイレクトオーバライト対応型の
５４０ＭＢ及び６４０ＭＢのカートリッジ媒体を例にと
っている。いま図５（Ａ）のライトゲートに同期して図
５（Ｂ）のライトデータが与えられたとすると、図５
（Ｃ）のライトクロックに同期してライトデータは図５
（Ｄ）のパルス幅データに変換される。このパルス幅デ
ータに基づき、図５（Ｅ）のようにアシストパルスが生
成され、更に図５（Ｆ）のように第１ライトパルスが生
成される。更に図５（Ｇ）の第２ライトパルスが生成さ
れる。
のレジスタ１２４，１２８，ＤＡＣ１４２，１４６及び
電流源１１０，１１２を、各々、アシストパワーＰＡ用
に代替すればよい。勿論、アシストパワー専用のレジス
タ，ＤＡＣ及び電流源を付加してもよい。図５は図４の
レーザダイオード制御回路２４におけるＰＷＭ記録の信
号、発光電流、差引電流及びタイムチャートであり、イ
レーズを必要としないダイレクトオーバライト対応型の
５４０ＭＢ及び６４０ＭＢのカートリッジ媒体を例にと
っている。いま図５（Ａ）のライトゲートに同期して図
５（Ｂ）のライトデータが与えられたとすると、図５
（Ｃ）のライトクロックに同期してライトデータは図５
（Ｄ）のパルス幅データに変換される。このパルス幅デ
ータに基づき、図５（Ｅ）のようにアシストパルスが生
成され、更に図５（Ｆ）のように第１ライトパルスが生
成される。更に図５（Ｇ）の第２ライトパルスが生成さ
れる。
【００４８】この第２ライトパルスは図５（Ｄ）のパル
ス幅データのパルス幅に応じたパルス数をもつ。例えば
先頭のパルス幅データについては４クロックのパルス幅
であり、次のパルス幅データは２クロックであり、次の
パルス幅データは３クロックである。これに対応して図
５（Ｇ）の第２ライトパルスは、図５（Ｆ）の第１ライ
トパルスに続いて先頭データの４クロック幅については
２パルス発生し、次の２クロック幅については０パルス
であり、３番目の３クロック幅については１パルスを発
生し、パルス幅を表わす情報を記録するようにしてい
る。
ス幅データのパルス幅に応じたパルス数をもつ。例えば
先頭のパルス幅データについては４クロックのパルス幅
であり、次のパルス幅データは２クロックであり、次の
パルス幅データは３クロックである。これに対応して図
５（Ｇ）の第２ライトパルスは、図５（Ｆ）の第１ライ
トパルスに続いて先頭データの４クロック幅については
２パルス発生し、次の２クロック幅については０パルス
であり、３番目の３クロック幅については１パルスを発
生し、パルス幅を表わす情報を記録するようにしてい
る。
【００４９】図５（Ｈ）は、図５（Ｅ）（Ｆ）及び
（Ｇ）のアシストパルス、第１ライトパルス及び第２ラ
イトパルスに基づいた発光電流とパワーである。まずリ
ード電流は常時流してリードパワーＰＲでＤＣ発光させ
ている。このため、アシストパルスに同期して発光電流
（Ｉ0 ＋Ｉ1 ）が流れ、これによってアシストパワーＰ
Ａ分アップとなり、第１ライトパルスのタイミングで発
光電流Ｉ２が加算されて第１ライトパワーＷＰ１分アッ
プとなり、更に第２ライトパルスのタイミングで発光電
流Ｉ３が加算されて（Ｉ0 ＋Ｉ1 ＋Ｉ3 ）となって第２
ライトパワーＷＰ２分アップする。
（Ｇ）のアシストパルス、第１ライトパルス及び第２ラ
イトパルスに基づいた発光電流とパワーである。まずリ
ード電流は常時流してリードパワーＰＲでＤＣ発光させ
ている。このため、アシストパルスに同期して発光電流
（Ｉ0 ＋Ｉ1 ）が流れ、これによってアシストパワーＰ
Ａ分アップとなり、第１ライトパルスのタイミングで発
光電流Ｉ２が加算されて第１ライトパワーＷＰ１分アッ
プとなり、更に第２ライトパルスのタイミングで発光電
流Ｉ３が加算されて（Ｉ0 ＋Ｉ1 ＋Ｉ3 ）となって第２
ライトパワーＷＰ２分アップする。
【００５０】この図５（Ｈ）の発光電流に同期して、図
５（Ｉ）に示す差引電流が図４の差引電流源１１２，１
１４，１１６に流れる。即ち、アシストパワーＰＡ分の
アップに対応する差引電流ｉ１が流れ、次の第１ライト
パワーＷＰ１分のアップ分に対応する差引電流ｉ２を加
算して差引電流（ｉ１＋ｉ２）が流れ、更に第２ライト
パワーＷＰ２分のアップに対応する差引電流ｉ３を加算
して差引電流（ｉ１＋ｉ３）が流れる。
５（Ｉ）に示す差引電流が図４の差引電流源１１２，１
１４，１１６に流れる。即ち、アシストパワーＰＡ分の
アップに対応する差引電流ｉ１が流れ、次の第１ライト
パワーＷＰ１分のアップ分に対応する差引電流ｉ２を加
算して差引電流（ｉ１＋ｉ２）が流れ、更に第２ライト
パワーＷＰ２分のアップに対応する差引電流ｉ３を加算
して差引電流（ｉ１＋ｉ３）が流れる。
【００５１】このため図５（Ｊ）のモニタ電流ｉm は、
図５（Ｈ）の発光電流及び発光パワーに対応した受光電
流ｉ0 から図５（Ｈ）の差引電流を差し引いた値とな
り、発光中であっても常にリードパワー相当の一定電流
に変換され、ＡＰＣ１３８に帰還される。図６はダイレ
クトオーバライト対応の５４０ＭＢと６４０ＭＢ媒体を
例にとってＰＰＭ記録する時の信号発光電流、差引電流
及びモニタ電流のタイミングチャートである。図６
（Ａ）Ａのライトゲートに同期して図６（Ｂ）のライト
データが与えられたとすると、図６（Ｃ）のライトクロ
ックに同期して図６（Ｄ）のパルス幅データが生成され
る。このパルス幅データに対応して、図６（Ｅ）のアシ
ストパルスと図６（Ｆ）の第１ライトパルスが作られ
る。ＰＰＭ記録にあっては、図６（Ｇ）の第２ライトパ
ルスは使用されない。
図５（Ｈ）の発光電流及び発光パワーに対応した受光電
流ｉ0 から図５（Ｈ）の差引電流を差し引いた値とな
り、発光中であっても常にリードパワー相当の一定電流
に変換され、ＡＰＣ１３８に帰還される。図６はダイレ
クトオーバライト対応の５４０ＭＢと６４０ＭＢ媒体を
例にとってＰＰＭ記録する時の信号発光電流、差引電流
及びモニタ電流のタイミングチャートである。図６
（Ａ）Ａのライトゲートに同期して図６（Ｂ）のライト
データが与えられたとすると、図６（Ｃ）のライトクロ
ックに同期して図６（Ｄ）のパルス幅データが生成され
る。このパルス幅データに対応して、図６（Ｅ）のアシ
ストパルスと図６（Ｆ）の第１ライトパルスが作られ
る。ＰＰＭ記録にあっては、図６（Ｇ）の第２ライトパ
ルスは使用されない。
【００５２】このようなアシストパルス及び第１ライト
パルスによる図６（Ｈ）の発光電流をレーザダイオード
に流すことで、発光パワーＰが得られる。ＰＰＭ記録に
あっては、アシストパルスのタイミングでアシストパワ
ーＰＲをリードパワーＲＰに加算したパワー（ＰＲ＋Ａ
Ｐ）とするが、この場合にはアシストパワーＰＡをリー
ドパワーＰＲのそのものとし（ＡＰ＝ＰＲ）、アシスト
パルスのタイミングにあってもリードパワー電流Ｉ0 に
よるリードパワーＲＰによる発光が維持される。第１ラ
イトパルスのタイミングでは、発光電流が（Ｉ１＋Ｉ
２）だけ増加して第１ライトパワーＷＰ１分にアシスト
パワーＡＰ分を加算したパワーとなる。図６（Ｉ）の差
引電流は第１ライトパルスの発光タイミングで差引電流
（ｉ１＋ｉ２）を流す。これによって図６（Ｊ）のモニ
タ電流ｉm は常にリードパワーの受光電流相当に維持さ
れる。 ３．分割テストライト処理 図７は、図２の光ディスクドライブのＭＰＵ１４で実現
される本発明による分割テストライト処理の機能ブロッ
ク図である。図７において分割テストライト処理部１６
０は、分割制御部１６２と分割実行部１７３で構成され
る。
パルスによる図６（Ｈ）の発光電流をレーザダイオード
に流すことで、発光パワーＰが得られる。ＰＰＭ記録に
あっては、アシストパルスのタイミングでアシストパワ
ーＰＲをリードパワーＲＰに加算したパワー（ＰＲ＋Ａ
Ｐ）とするが、この場合にはアシストパワーＰＡをリー
ドパワーＰＲのそのものとし（ＡＰ＝ＰＲ）、アシスト
パルスのタイミングにあってもリードパワー電流Ｉ0 に
よるリードパワーＲＰによる発光が維持される。第１ラ
イトパルスのタイミングでは、発光電流が（Ｉ１＋Ｉ
２）だけ増加して第１ライトパワーＷＰ１分にアシスト
パワーＡＰ分を加算したパワーとなる。図６（Ｉ）の差
引電流は第１ライトパルスの発光タイミングで差引電流
（ｉ１＋ｉ２）を流す。これによって図６（Ｊ）のモニ
タ電流ｉm は常にリードパワーの受光電流相当に維持さ
れる。 ３．分割テストライト処理 図７は、図２の光ディスクドライブのＭＰＵ１４で実現
される本発明による分割テストライト処理の機能ブロッ
ク図である。図７において分割テストライト処理部１６
０は、分割制御部１６２と分割実行部１７３で構成され
る。
【００５３】分割制御部１６２は、上位装置からライト
コマンドを受けた際にテストライト処理の必要性の有無
を判断し、テストライト処理の必要性がある場合には、
分割実行部１７３を起動して分割テストライト処理を行
わせる。分割制御部１６２によるテストライトの必要性
の判断処理は次の２つがある。 媒体ロードからの経過時間に基づいたテストライトの
必要性の判断； 図２の温度センサ３６で検出している装置内の温度の
変化に基づいたテストライトの必要性の判断； この２つのテストライトの必要性を判断するため、分割
制御部１６２には経過時間制御部１６４と温度変化制御
部１６６が設けられている。経過時間制御部１６４と温
度変化制御部１６６によるテストライトの必要性の判断
は、図８（Ａ）のタイムスケジュールのようになる。
コマンドを受けた際にテストライト処理の必要性の有無
を判断し、テストライト処理の必要性がある場合には、
分割実行部１７３を起動して分割テストライト処理を行
わせる。分割制御部１６２によるテストライトの必要性
の判断処理は次の２つがある。 媒体ロードからの経過時間に基づいたテストライトの
必要性の判断； 図２の温度センサ３６で検出している装置内の温度の
変化に基づいたテストライトの必要性の判断； この２つのテストライトの必要性を判断するため、分割
制御部１６２には経過時間制御部１６４と温度変化制御
部１６６が設けられている。経過時間制御部１６４と温
度変化制御部１６６によるテストライトの必要性の判断
は、図８（Ａ）のタイムスケジュールのようになる。
【００５４】図８（Ａ）は光ディスクドライブに媒体カ
ートリッジをロードしたときのタイムスケジュールであ
り、媒体ロードから例えば１６０秒経過するまでの期間
を、経過時間制御部１６４によってテストライトの必要
性を判断する有効時間テストライト処理期間２０４とし
ている。この有効時間テストライト処理期間２０４が過
ぎた１６０秒以降については、温度変化制御部１６６に
よる温度変化テストライト処理期間２０６に切り替える
ようにしている。
ートリッジをロードしたときのタイムスケジュールであ
り、媒体ロードから例えば１６０秒経過するまでの期間
を、経過時間制御部１６４によってテストライトの必要
性を判断する有効時間テストライト処理期間２０４とし
ている。この有効時間テストライト処理期間２０４が過
ぎた１６０秒以降については、温度変化制御部１６６に
よる温度変化テストライト処理期間２０６に切り替える
ようにしている。
【００５５】有効時間テストライト処理期間２０４の開
始は、光ディスクドライブに対する媒体ロードから開始
される。この媒体ロードからの経過時間は、図７の分割
制御部１６２に設けている経過時間タイマ１７０で測定
される。この経過時間タイマ１７０の測定時間を経過時
間Ａで表わす。図８（Ａ）で媒体ロードが行われると、
続いて上位装置から最初のライトコマンドが発行され
る。この初回のライトコマンドに対し、分割制御部１６
２の経過時間制御部１６４にあっては、分割実行部１７
３に対するテストライトの一括処理と分割処理を設定す
る一括実行フラグをオンし、一括テストライト処理を行
う。
始は、光ディスクドライブに対する媒体ロードから開始
される。この媒体ロードからの経過時間は、図７の分割
制御部１６２に設けている経過時間タイマ１７０で測定
される。この経過時間タイマ１７０の測定時間を経過時
間Ａで表わす。図８（Ａ）で媒体ロードが行われると、
続いて上位装置から最初のライトコマンドが発行され
る。この初回のライトコマンドに対し、分割制御部１６
２の経過時間制御部１６４にあっては、分割実行部１７
３に対するテストライトの一括処理と分割処理を設定す
る一括実行フラグをオンし、一括テストライト処理を行
う。
【００５６】即ち本発明にあっては、テストライト処理
を複数の実行単位に分けて上位装置からライトコマンド
を受けるごとに順次行うものであるが、最初のライトコ
マンドについては最適発光パワーが得られていないこと
から、分割処理とせずに一括テストライトにより最適発
光パワーを見つけ出す。図８（Ａ）で初回コマンドによ
り一括テストライトが行われて最適発光パワーが決定さ
れると、そのときの経過時間タイマ１７０による経過時
間Ａに応じ、一括テストライトで決定された最適発光パ
ワーが有効に使用できる有効時間Ｔｖを設定する。この
経過時間Ａに対する有効時間Ｔｖの関係は、有効時間テ
ーブル１６８により設定される。
を複数の実行単位に分けて上位装置からライトコマンド
を受けるごとに順次行うものであるが、最初のライトコ
マンドについては最適発光パワーが得られていないこと
から、分割処理とせずに一括テストライトにより最適発
光パワーを見つけ出す。図８（Ａ）で初回コマンドによ
り一括テストライトが行われて最適発光パワーが決定さ
れると、そのときの経過時間タイマ１７０による経過時
間Ａに応じ、一括テストライトで決定された最適発光パ
ワーが有効に使用できる有効時間Ｔｖを設定する。この
経過時間Ａに対する有効時間Ｔｖの関係は、有効時間テ
ーブル１６８により設定される。
【００５７】図９は図７の有効時間テーブル１６８の一
例であり、経過時間が増加するにつれて長くなるように
有効時間Ｔｖを設定している。例えば経過時間Ａが０〜
１９秒の間にテストライトによって最適発光パワーが決
定されると、有効時間Ｔｖ＝２０秒を設定する。また経
過時間が２０〜３９秒については有効時間Ｔｖ＝４０
秒、経過時間４０〜５９秒についてはＴｖ＝６０秒、経
過時間６０〜１６０秒についてはＴｖ＝１６０秒が設定
される。
例であり、経過時間が増加するにつれて長くなるように
有効時間Ｔｖを設定している。例えば経過時間Ａが０〜
１９秒の間にテストライトによって最適発光パワーが決
定されると、有効時間Ｔｖ＝２０秒を設定する。また経
過時間が２０〜３９秒については有効時間Ｔｖ＝４０
秒、経過時間４０〜５９秒についてはＴｖ＝６０秒、経
過時間６０〜１６０秒についてはＴｖ＝１６０秒が設定
される。
【００５８】即ち、光ディスクドライブの電源を投入し
て媒体カートリッジをロードした直後は、急速にドライ
ブ内の温度が上昇し、ドライブ内部の温度分布がかなり
均一ではないことから、経過時間Ａが短いときはテスト
ライトを頻繁に行い、経過時間Ａが長くなっらたテスト
ライトの頻度を下げるように有効時間Ｔｖを設定してテ
ストライトの必要性を判断している。
て媒体カートリッジをロードした直後は、急速にドライ
ブ内の温度が上昇し、ドライブ内部の温度分布がかなり
均一ではないことから、経過時間Ａが短いときはテスト
ライトを頻繁に行い、経過時間Ａが長くなっらたテスト
ライトの頻度を下げるように有効時間Ｔｖを設定してテ
ストライトの必要性を判断している。
【００５９】図８（Ｂ）は、図８（Ａ）で初回コマンド
に基づく一括テストライトによって最初の最適発光パワ
ーが決定された後に、有効時間テストライト処理期間２
０４内で上位装置のライトコマンドを受けたときの分割
テストライト処理のタイムスケジュールである。まず前
回のテストライト処理の完了時点で、そのときの経過時
間Ａに基づき、図９の有効時間テーブルから次にテスト
ライトを必要とする有効時間Ｔｖが設定される。この有
効時間Ｔｖに対し、図７の経過時間制御部１６４にあっ
ては、９０％有効時間をテストライト休止時間２０８と
して設定し、テストライト休止時間２０８に上位装置か
らライトコマンドを受けても、前回のテストライト処理
による最適発光パワーを有効としてテストライト処理は
実行しない。
に基づく一括テストライトによって最初の最適発光パワ
ーが決定された後に、有効時間テストライト処理期間２
０４内で上位装置のライトコマンドを受けたときの分割
テストライト処理のタイムスケジュールである。まず前
回のテストライト処理の完了時点で、そのときの経過時
間Ａに基づき、図９の有効時間テーブルから次にテスト
ライトを必要とする有効時間Ｔｖが設定される。この有
効時間Ｔｖに対し、図７の経過時間制御部１６４にあっ
ては、９０％有効時間をテストライト休止時間２０８と
して設定し、テストライト休止時間２０８に上位装置か
らライトコマンドを受けても、前回のテストライト処理
による最適発光パワーを有効としてテストライト処理は
実行しない。
【００６０】９０％有効時間で決まるテストライト休止
期間２０８に続いては、有効期間Ｔｖの９０％〜１００
％の範囲に設定した１０％有効時間の長さをもつ分割テ
ストライト有効期間２１０を設定している。この分割テ
ストライト有効期間２１０の間に上位装置ライトコマン
ドを受けると、経過時間制御部１６４は一括実行フラグ
をオフし、これによって分割実行部１７３によるテスト
ライトの分割処理を実行する。
期間２０８に続いては、有効期間Ｔｖの９０％〜１００
％の範囲に設定した１０％有効時間の長さをもつ分割テ
ストライト有効期間２１０を設定している。この分割テ
ストライト有効期間２１０の間に上位装置ライトコマン
ドを受けると、経過時間制御部１６４は一括実行フラグ
をオフし、これによって分割実行部１７３によるテスト
ライトの分割処理を実行する。
【００６１】分割テストライト有効期間２１０における
分割テストライト処理は、図７の分割実行部１７３に示
すように、第１分割実行部１７４、第２分割実行部１７
６、第３分割実行部１７８、第４分割実行部１８０及び
第５分割実行部１８２による５つの分割処理に分けられ
て順次実行される。第１分割実行部１７４は、最適発光
パワーを見つけるための初期値としての発光パワーのデ
フォルト値を設定し、デフォルト値によって発光パワー
が見つからない場合はデフォルト値を更新する。
分割テストライト処理は、図７の分割実行部１７３に示
すように、第１分割実行部１７４、第２分割実行部１７
６、第３分割実行部１７８、第４分割実行部１８０及び
第５分割実行部１８２による５つの分割処理に分けられ
て順次実行される。第１分割実行部１７４は、最適発光
パワーを見つけるための初期値としての発光パワーのデ
フォルト値を設定し、デフォルト値によって発光パワー
が見つからない場合はデフォルト値を更新する。
【００６２】このデフォルト値は、発光パワー調整部１
８６に設けているデフォルトイレーズ／アシストパワー
テーブル１８８及びデフォルトライトパワーテーブル１
９０から読み出して設定される。尚、デフォルトイレー
ズ／アシストパワーテーブル１８８の代りに、専用のデ
フォルトイレーズパワーテーブルとデフォルトアシスト
パワーテーブルを個別に設けてもよい。
８６に設けているデフォルトイレーズ／アシストパワー
テーブル１８８及びデフォルトライトパワーテーブル１
９０から読み出して設定される。尚、デフォルトイレー
ズ／アシストパワーテーブル１８８の代りに、専用のデ
フォルトイレーズパワーテーブルとデフォルトアシスト
パワーテーブルを個別に設けてもよい。
【００６３】また第１分割実行部１７４にあっては、デ
フォルト値を設定する際にレジスタ群１８４に格納され
た装置内温度によるデフォルト値の補正を、発光パワー
調整部１８６に対し設けている温度補正係数テーブル１
９２から温度補正係数を読み出して温度補正を行う。ま
た第１分割実行部１７４によるテストライトのための発
光パワーを決めるデフォルト値の設定は、デフォルト値
を中心に所定のデフォルト単位ずつ変化させながらテス
トライトを実行する。具体的には、（デフォルト−
２），（デフォルト−１），（デフォルト），（デフォ
ルト＋１），（デフォルト＋２）の５段階に発光パワー
を変えながらテストライトを行わせる。
フォルト値を設定する際にレジスタ群１８４に格納され
た装置内温度によるデフォルト値の補正を、発光パワー
調整部１８６に対し設けている温度補正係数テーブル１
９２から温度補正係数を読み出して温度補正を行う。ま
た第１分割実行部１７４によるテストライトのための発
光パワーを決めるデフォルト値の設定は、デフォルト値
を中心に所定のデフォルト単位ずつ変化させながらテス
トライトを実行する。具体的には、（デフォルト−
２），（デフォルト−１），（デフォルト），（デフォ
ルト＋１），（デフォルト＋２）の５段階に発光パワー
を変えながらテストライトを行わせる。
【００６４】第２分割実行部１７６は、第１分割実行部
１７４で設定したイレーズパワーによるレーザダイオー
ドの発光で媒体のテスト領域のイレーズを行う。尚、ダ
イレクトオーバライト対応型媒体の場合には第２分割実
行部１７６の処理はスキップされる。第３分割実行部１
７８は、第１分割実行部１７４で設定したライトパワー
でレーザダイオードを発光駆動して、イレーズ後のテス
ト領域に対する所定のテストパターンの書込みを行う。
１７４で設定したイレーズパワーによるレーザダイオー
ドの発光で媒体のテスト領域のイレーズを行う。尚、ダ
イレクトオーバライト対応型媒体の場合には第２分割実
行部１７６の処理はスキップされる。第３分割実行部１
７８は、第１分割実行部１７４で設定したライトパワー
でレーザダイオードを発光駆動して、イレーズ後のテス
ト領域に対する所定のテストパターンの書込みを行う。
【００６５】第４分割実行部１８０は、第３分割実行部
１７８により書き込まれたテストパターンを読み出す処
理を実行する。更に第５分割実行部１８２は、第３分割
実行部１７８によるライトパターンと第４分割実行部１
８０によるリードパターンをビット単位に比較し、その
ときの発光パワーに対する不一致数を求める。第１分割
実行部１７４〜第５分割実行部１８２による分割テスト
ライト処理は、第１分割実行部１７４で発光パワーのデ
フォルト値に対し（−２，−１，０，＋１，＋２）の５
段階に亘る処理を繰り返し、その結果から第５分割実行
部１８２において最適発光パワーを決定する。即ち、１
回のテストライト処理で最適発光パワーを見つけ出すた
めには、デフォルト設定、イレーズ、ライト、リード、
比較の分割テストライトを５回繰り返す必要がある。
１７８により書き込まれたテストパターンを読み出す処
理を実行する。更に第５分割実行部１８２は、第３分割
実行部１７８によるライトパターンと第４分割実行部１
８０によるリードパターンをビット単位に比較し、その
ときの発光パワーに対する不一致数を求める。第１分割
実行部１７４〜第５分割実行部１８２による分割テスト
ライト処理は、第１分割実行部１７４で発光パワーのデ
フォルト値に対し（−２，−１，０，＋１，＋２）の５
段階に亘る処理を繰り返し、その結果から第５分割実行
部１８２において最適発光パワーを決定する。即ち、１
回のテストライト処理で最適発光パワーを見つけ出すた
めには、デフォルト設定、イレーズ、ライト、リード、
比較の分割テストライトを５回繰り返す必要がある。
【００６６】更に分割テストライトを５回繰り返しても
最適発光パワーが見つからない場合には、第１分割実行
部１７４で最初に設定するデフォルト値そのものを別の
値に更新して同じ処理を繰り返し、最適発光パワーが得
られるまでテストライトを繰り返すことになる。図１０
は図７の分割実行部１７３による最適発光パワーを決め
るテストライト処理により得られる測定結果であり、ラ
イトパワーの最適発光調整を例にとっている。
最適発光パワーが見つからない場合には、第１分割実行
部１７４で最初に設定するデフォルト値そのものを別の
値に更新して同じ処理を繰り返し、最適発光パワーが得
られるまでテストライトを繰り返すことになる。図１０
は図７の分割実行部１７３による最適発光パワーを決め
るテストライト処理により得られる測定結果であり、ラ
イトパワーの最適発光調整を例にとっている。
【００６７】図１０において、テストライトに先立ち第
１分割実行部１７４がそのときの装置温度により補正さ
れたデフォルトパワーＤＷＰを求め、最初は−２単位低
いライトパワー ＷＰ＝ＤＷＰ−２ を設定し、第２分割実行部１７６によるイレーズ、第３
分割実行部１７８によるテストパターンのライト、第４
分割実行部１８０によるリード、更に第５分割実行部１
８２によるライトパターンとリードパターンの不一致数
を測定する。この場合の不一致数ＥはＯ点となり、最適
発光パワーの限界を示す閾値Ｅｔｈを超えている。次に
デフォルトパワーＤＷＰを−１単位増加させたライトパ
ワー ＷＰ＝ＤＷＰ−１ を第１分割実行部１７４で更新設定し、第２分割実行部
１７６によるイレーズ、第３分割実行部１７８によるテ
ストパターンのライト、第４分割実行部１８０によるリ
ード、及び第５分割実行部１８２によるライトパターン
とリードパターンのビットの不一致数の測定を行う。
１分割実行部１７４がそのときの装置温度により補正さ
れたデフォルトパワーＤＷＰを求め、最初は−２単位低
いライトパワー ＷＰ＝ＤＷＰ−２ を設定し、第２分割実行部１７６によるイレーズ、第３
分割実行部１７８によるテストパターンのライト、第４
分割実行部１８０によるリード、更に第５分割実行部１
８２によるライトパターンとリードパターンの不一致数
を測定する。この場合の不一致数ＥはＯ点となり、最適
発光パワーの限界を示す閾値Ｅｔｈを超えている。次に
デフォルトパワーＤＷＰを−１単位増加させたライトパ
ワー ＷＰ＝ＤＷＰ−１ を第１分割実行部１７４で更新設定し、第２分割実行部
１７６によるイレーズ、第３分割実行部１７８によるテ
ストパターンのライト、第４分割実行部１８０によるリ
ード、及び第５分割実行部１８２によるライトパターン
とリードパターンのビットの不一致数の測定を行う。
【００６８】この場合、不一致数ＥはＰ点のように最適
発光パワーの限界を示す閾値Ｅｔｈより少なく、ライト
パワー（ＤＷＰ−１）は最適パワーということができ
る。同様にして、デフォルトパワーＤＷＰに対し０，＋
１，＋２とライトパワーＷＰを変化させ、このときの不
一致数をＱ点、Ｒ点、Ｓ点のように求める。この場合、
Ｑ点，Ｒ点は閾値Ｅｔｈより小さく、最適発光パワーの
範囲に入っているが、Ｓ点にあっては閾値Ｅｔｈより大
きく、最適発光パワーの範囲を外れている。
発光パワーの限界を示す閾値Ｅｔｈより少なく、ライト
パワー（ＤＷＰ−１）は最適パワーということができ
る。同様にして、デフォルトパワーＤＷＰに対し０，＋
１，＋２とライトパワーＷＰを変化させ、このときの不
一致数をＱ点、Ｒ点、Ｓ点のように求める。この場合、
Ｑ点，Ｒ点は閾値Ｅｔｈより小さく、最適発光パワーの
範囲に入っているが、Ｓ点にあっては閾値Ｅｔｈより大
きく、最適発光パワーの範囲を外れている。
【００６９】このようなデフォルトパワーＤＷＰに対す
る（−２，−１，０，＋１，＋２）となる５段階のライ
トパワーＷＰの調整によるテストライトでの不一致数が
求められたならば、閾値Ｅｔｈより小さいＰ，Ｑ，Ｒの
３点の中央値、即ちＱ点のライトパワーＷＰ＝ＤＷＰを
最適発光パワーに決定する。このようなライトパワーＷ
Ｐに対するテストライトによる不一致数の特性は、装置
内の温度により左右にシフトする。即ち、テストライト
により測定点Ｏ，Ｐ，Ｑ，Ｒ，Ｓの５点で与えられる実
線の特性２１２は、装置温度が２５℃の場合であったと
すると、装置温度が１０℃に低下すると破線の特性２１
４のように最適ライトパワーは増加する方向にシフトす
る。これに対し装置温度が５５℃に増加すると、２点鎖
線の特性２１６のように最適発光パワーは低い方にシフ
トする。
る（−２，−１，０，＋１，＋２）となる５段階のライ
トパワーＷＰの調整によるテストライトでの不一致数が
求められたならば、閾値Ｅｔｈより小さいＰ，Ｑ，Ｒの
３点の中央値、即ちＱ点のライトパワーＷＰ＝ＤＷＰを
最適発光パワーに決定する。このようなライトパワーＷ
Ｐに対するテストライトによる不一致数の特性は、装置
内の温度により左右にシフトする。即ち、テストライト
により測定点Ｏ，Ｐ，Ｑ，Ｒ，Ｓの５点で与えられる実
線の特性２１２は、装置温度が２５℃の場合であったと
すると、装置温度が１０℃に低下すると破線の特性２１
４のように最適ライトパワーは増加する方向にシフトす
る。これに対し装置温度が５５℃に増加すると、２点鎖
線の特性２１６のように最適発光パワーは低い方にシフ
トする。
【００７０】このような装置温度により異なる最適発光
パワーに対するエラー数の特性２１２，２１４，２１６
から明らかなように、テストライト時の最適発光パワー
はそのときの装置温度により大きく変動していることが
分かる。このため、そのときの装置温度に対応した最適
ライトパワーがデフォルトのライトパワーとかけ離れて
いる状態、例えば装置温度が５５℃に増加した特性２１
６のような状態でテストライトを実行すると、デフォル
トパワーＤＷＰに対するライトパワーの（−２，−１，
０，＋１，＋２）による５段階のテストライトでは最適
ライトパワーが見つからない場合がある。
パワーに対するエラー数の特性２１２，２１４，２１６
から明らかなように、テストライト時の最適発光パワー
はそのときの装置温度により大きく変動していることが
分かる。このため、そのときの装置温度に対応した最適
ライトパワーがデフォルトのライトパワーとかけ離れて
いる状態、例えば装置温度が５５℃に増加した特性２１
６のような状態でテストライトを実行すると、デフォル
トパワーＤＷＰに対するライトパワーの（−２，−１，
０，＋１，＋２）による５段階のテストライトでは最適
ライトパワーが見つからない場合がある。
【００７１】そこでデフォルトパワーＤＷＰをＤＷＰ＝
ＤＷＰ−１に修正し、修正後のデフォルトパワーに対し
（−２，−１，０，＋１，＋２」）ライトパワーＷＰを
変化させてテストライトを行う必要がある。このため、
装置温度がへ大きく変化してデォルトから最適パワーが
大きくずれると、最適ライトパワーを探すためにかなり
時間がかかることが分かる。
ＤＷＰ−１に修正し、修正後のデフォルトパワーに対し
（−２，−１，０，＋１，＋２」）ライトパワーＷＰを
変化させてテストライトを行う必要がある。このため、
装置温度がへ大きく変化してデォルトから最適パワーが
大きくずれると、最適ライトパワーを探すためにかなり
時間がかかることが分かる。
【００７２】その結果、最適発光パワーを見つけるまで
に時間がかかり過ぎて、上位装置のアクセスに対しタイ
ムアウトと判断してエラーとなってしまうが、本発明に
あっては、図７の分割実行部１７３のように、発光パワ
ーの設定からイレーズ、ライト、リード、比較決定まで
の１回分のテストライトを５つの処理に分割して実行し
ており、分割処理が完了して最適デフォルトパワーが見
つかるまでは以前の最適発光パワーによるアクセスで上
位コマンドに応答することから、最適発光パワーを見つ
けるテストライトに時間がかかっても、上位コマンドに
対するタイムアウトと判断されてエラーとなってしまう
ことが確実に防止できる。
に時間がかかり過ぎて、上位装置のアクセスに対しタイ
ムアウトと判断してエラーとなってしまうが、本発明に
あっては、図７の分割実行部１７３のように、発光パワ
ーの設定からイレーズ、ライト、リード、比較決定まで
の１回分のテストライトを５つの処理に分割して実行し
ており、分割処理が完了して最適デフォルトパワーが見
つかるまでは以前の最適発光パワーによるアクセスで上
位コマンドに応答することから、最適発光パワーを見つ
けるテストライトに時間がかかっても、上位コマンドに
対するタイムアウトと判断されてエラーとなってしまう
ことが確実に防止できる。
【００７３】図７の分割制御部１６２に設けた温度変化
制御部１６６にあっては、図８（Ａ）の媒体ロード２０
８からのタイムスケジュールのように、１６０秒に亘る
有効時間テストライト処理期間２０４が経過した後の期
間として設定した温度変化テストライト期間２０６につ
いて、テストライトの必要性を判断している。即ち温度
変化制御部１６６は、温度変化テストライト期間２０６
において例えば有効時間テストライト期間２０４の最終
時間１６０秒で設定した有効時間Ｔｖの最大時間、即ち
Ｔｖ＝１６０秒ごとに装置温度を検出し、前回の検出温
度との温度差を算出する。
制御部１６６にあっては、図８（Ａ）の媒体ロード２０
８からのタイムスケジュールのように、１６０秒に亘る
有効時間テストライト処理期間２０４が経過した後の期
間として設定した温度変化テストライト期間２０６につ
いて、テストライトの必要性を判断している。即ち温度
変化制御部１６６は、温度変化テストライト期間２０６
において例えば有効時間テストライト期間２０４の最終
時間１６０秒で設定した有効時間Ｔｖの最大時間、即ち
Ｔｖ＝１６０秒ごとに装置温度を検出し、前回の検出温
度との温度差を算出する。
【００７４】この温度差が例えば３℃以上となったと
き、テストライトの必要性ありと判断し、図８（Ａ）の
ように上位装置からのライトコマンドを受けるごとに分
割実行部１７３に設けている第１分割実行部１７４から
第５分割実行部１８２の各分割処理を順次繰り返す。一
方、分割テストライト処理は、最適発光パワーの決定に
時間が掛かる場合に上位コマンドに対しオーバタイムと
なってエラーを防止できる利点を有するが、逆に分割処
理の中断期間が長すぎると、その間に装置温度が大きく
変化し、前回までの分割処理の結果が有効に利用できな
い場合がある。
き、テストライトの必要性ありと判断し、図８（Ａ）の
ように上位装置からのライトコマンドを受けるごとに分
割実行部１７３に設けている第１分割実行部１７４から
第５分割実行部１８２の各分割処理を順次繰り返す。一
方、分割テストライト処理は、最適発光パワーの決定に
時間が掛かる場合に上位コマンドに対しオーバタイムと
なってエラーを防止できる利点を有するが、逆に分割処
理の中断期間が長すぎると、その間に装置温度が大きく
変化し、前回までの分割処理の結果が有効に利用できな
い場合がある。
【００７５】そこで経過時間制御部１６４にあっては、
図８（Ｂ）のように、有効時間Ｔｖの９０％から１００
％の範囲の１０％有効時間の幅をもつ分割テストライト
有効期間２１０が経過した後、即ち有効時間Ｔｖが経過
した後の期間について、一括テストライト期間２１１を
設定し、有効時間Ｔｖまでに全ての分割テストライト処
理を終了せずに分割処理の途中で中断していた場合、有
効時間Ｔｖ経過時点で上位装置からライトコマンドを受
けた場合には、残りの分割処理を一括して行う一括テス
トライトに切り替える。これによって有効時間Ｔｖを超
えて分割テストライトが行われ、分割実行したテストラ
イトが長くなり過ぎて、その間に最適発光パワーがずれ
てしまうことによる不具合を防止する。
図８（Ｂ）のように、有効時間Ｔｖの９０％から１００
％の範囲の１０％有効時間の幅をもつ分割テストライト
有効期間２１０が経過した後、即ち有効時間Ｔｖが経過
した後の期間について、一括テストライト期間２１１を
設定し、有効時間Ｔｖまでに全ての分割テストライト処
理を終了せずに分割処理の途中で中断していた場合、有
効時間Ｔｖ経過時点で上位装置からライトコマンドを受
けた場合には、残りの分割処理を一括して行う一括テス
トライトに切り替える。これによって有効時間Ｔｖを超
えて分割テストライトが行われ、分割実行したテストラ
イトが長くなり過ぎて、その間に最適発光パワーがずれ
てしまうことによる不具合を防止する。
【００７６】一方、図７の温度変化制御部１６６にあっ
ては、最大有効時間Ｔｖ＝１６０秒ごとの装置温度の検
出による温度差が分割テストライト処理の必要性を判断
する３℃を超える例えば４℃以上となった場合には、分
割テストライト処理では時間がかかって最適発光パワー
の調整が遅れることから、この場合には残っている分割
テストライト処理を一括して実行する一括テストライト
処理に切り替える。
ては、最大有効時間Ｔｖ＝１６０秒ごとの装置温度の検
出による温度差が分割テストライト処理の必要性を判断
する３℃を超える例えば４℃以上となった場合には、分
割テストライト処理では時間がかかって最適発光パワー
の調整が遅れることから、この場合には残っている分割
テストライト処理を一括して実行する一括テストライト
処理に切り替える。
【００７７】また分割処理を行う毎に前回の分割処理の
検出温度との温度差をチェックし、例えば２℃以上の温
度変化があった場合には、それまでの分割処理の結果が
有効に活用できないことから、この場合には、それまで
の分割処理を全てキャンセルし、最初から分割処理をや
り直すようにする。図７の分割テストライト処理部１６
０における分割処理を実行するためのレジスタ群１８４
には、装置温度に加え媒体種別、上位コマンドの種別を
示すライト／イレーズ情報、及びアクセストラックが含
まれる媒体のゾーン番号が設定されている。レジスタ群
１８４にセットされる媒体種別としては、１２８ＭＢ媒
体、２３０ＭＢ媒体、５４０ＭＢ媒体、６４０ＭＢ媒体
があり、更にイレーズを必要とせずにライトすることの
できるオーバライト媒体か、イレーズ・ライトを別々に
行う通常媒体かが格納される。
検出温度との温度差をチェックし、例えば２℃以上の温
度変化があった場合には、それまでの分割処理の結果が
有効に活用できないことから、この場合には、それまで
の分割処理を全てキャンセルし、最初から分割処理をや
り直すようにする。図７の分割テストライト処理部１６
０における分割処理を実行するためのレジスタ群１８４
には、装置温度に加え媒体種別、上位コマンドの種別を
示すライト／イレーズ情報、及びアクセストラックが含
まれる媒体のゾーン番号が設定されている。レジスタ群
１８４にセットされる媒体種別としては、１２８ＭＢ媒
体、２３０ＭＢ媒体、５４０ＭＢ媒体、６４０ＭＢ媒体
があり、更にイレーズを必要とせずにライトすることの
できるオーバライト媒体か、イレーズ・ライトを別々に
行う通常媒体かが格納される。
【００７８】媒体がオーバライト媒体であった場合には
イレーズが必要ないので、分割実行部１７３に設けてい
る第２分割実行部１７６による処理は行われない。また
レジスタ群１８４のゾーン番号は、分割テストライト処
理部１６０におけるテストライト処理が５４０ＭＢ媒体
と６４０ＭＢ媒体については媒体ゾーンを３つのエリア
に分けてテストライトによる最適発光パワーを見つけて
いることから、ゾーン番号によってテストライトを行う
媒体エリアが判定され、分割テストライト処理部１６０
におけるテストライトが各エリアごとに並列的に行われ
る。
イレーズが必要ないので、分割実行部１７３に設けてい
る第２分割実行部１７６による処理は行われない。また
レジスタ群１８４のゾーン番号は、分割テストライト処
理部１６０におけるテストライト処理が５４０ＭＢ媒体
と６４０ＭＢ媒体については媒体ゾーンを３つのエリア
に分けてテストライトによる最適発光パワーを見つけて
いることから、ゾーン番号によってテストライトを行う
媒体エリアが判定され、分割テストライト処理部１６０
におけるテストライトが各エリアごとに並列的に行われ
る。
【００７９】この５４０ＭＢ媒体及び６４０ＭＢ媒体に
おけるテストライトの媒体エリアは、内周エリア、中間
エリア、外周エリアの３エリアに分割される。例えば６
４０ＭＢ媒体にあっては１１ゾーンであり、ゾーン番号
１〜４が内周エリア、ゾーン番号５〜８が中間エリア、
ゾーン番号９〜１１が外周エリアに分けられ、それぞれ
テストライトにより固有の最適発光パワーが見つけられ
る。
おけるテストライトの媒体エリアは、内周エリア、中間
エリア、外周エリアの３エリアに分割される。例えば６
４０ＭＢ媒体にあっては１１ゾーンであり、ゾーン番号
１〜４が内周エリア、ゾーン番号５〜８が中間エリア、
ゾーン番号９〜１１が外周エリアに分けられ、それぞれ
テストライトにより固有の最適発光パワーが見つけられ
る。
【００８０】また５４０ＭＢ媒体は１８ゾーンであるこ
とから、６ゾーン単位に内周エリア、中間エリア及び外
周エリアに分割され、各エリアごとにテストライトによ
って最適発光パワーが見つけ出される。次に図７の発光
パワー調整部１８６を説明する。発光パワー調整部１８
６は光ディスクドライブの電源投入に伴う立ち上げ時に
発光パワー調整処理を実行し、その結果をデフォルト値
としてデフォルトイレーズ／アシストパワーテーブル１
８８、デフォルトライトパワーテーブル１９０に格納
し、更に装置温度に対応した温度補正係数を格納した温
度補正係数テーブル１９２を設けている。
とから、６ゾーン単位に内周エリア、中間エリア及び外
周エリアに分割され、各エリアごとにテストライトによ
って最適発光パワーが見つけ出される。次に図７の発光
パワー調整部１８６を説明する。発光パワー調整部１８
６は光ディスクドライブの電源投入に伴う立ち上げ時に
発光パワー調整処理を実行し、その結果をデフォルト値
としてデフォルトイレーズ／アシストパワーテーブル１
８８、デフォルトライトパワーテーブル１９０に格納
し、更に装置温度に対応した温度補正係数を格納した温
度補正係数テーブル１９２を設けている。
【００８１】デフォルトイレーズ／アシストパワーテー
ブル１８８は、例えば６４０ＭＢ媒体を例にとると、図
１１のようにゾーン番号１〜１１に対応してデフォルト
イレーズパワーＤＥＰｉが例えば３．０ｍＷ〜４．５ｍ
Ｗとして格納されている。またデフォルトライトパワー
テーブル１９０には、図１２のように６４０ＭＢ媒体を
例にとると、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応してデフォ
ルトライトパワーＤＷＰ＝６．０ｍＷ〜１１．０ｍＷが
格納されている。
ブル１８８は、例えば６４０ＭＢ媒体を例にとると、図
１１のようにゾーン番号１〜１１に対応してデフォルト
イレーズパワーＤＥＰｉが例えば３．０ｍＷ〜４．５ｍ
Ｗとして格納されている。またデフォルトライトパワー
テーブル１９０には、図１２のように６４０ＭＢ媒体を
例にとると、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応してデフォ
ルトライトパワーＤＷＰ＝６．０ｍＷ〜１１．０ｍＷが
格納されている。
【００８２】更に温度補正係数テーブル１９２には、図
１３のように、５４０ＭＢ媒体のゾーン番号ｉ＝１〜１
１に対応して温度補正係数Ｋｔ＝−０．１０〜０．１０
が格納されている。なお図１３の温度補正係数テーブル
１９２の係数Ｋｔは、装置温度Ｔ＝２５℃の場合の値で
ある。再び図７を参照するに、発光パワー調整部１８６
に対しては更に、分割テストライト処理部１６０のテス
トライトで見つけ出した最適発光パワーを格納するイレ
ーズ／アシストパワーテーブル１９４、第１ライトパワ
ーテーブル１９６及び第２ライトパワーテーブル１９８
が設けられている。
１３のように、５４０ＭＢ媒体のゾーン番号ｉ＝１〜１
１に対応して温度補正係数Ｋｔ＝−０．１０〜０．１０
が格納されている。なお図１３の温度補正係数テーブル
１９２の係数Ｋｔは、装置温度Ｔ＝２５℃の場合の値で
ある。再び図７を参照するに、発光パワー調整部１８６
に対しては更に、分割テストライト処理部１６０のテス
トライトで見つけ出した最適発光パワーを格納するイレ
ーズ／アシストパワーテーブル１９４、第１ライトパワ
ーテーブル１９６及び第２ライトパワーテーブル１９８
が設けられている。
【００８３】ここでイレーズ／アシストパワーテーブル
１９４は、通常のＭＯカートリッジに使用するイレーズ
パワーＥＰとダイレクトオーバライト媒体に使用するア
シストパワーＡＰを格納しており、媒体種別の判別結果
に応じて選択的に使用される。尚、イレーズ／アシスト
パワーテーブル１９４の代りに、専用のイレーズパワー
テーブルとアシストパワーテーブルを個別に設けてもよ
い。
１９４は、通常のＭＯカートリッジに使用するイレーズ
パワーＥＰとダイレクトオーバライト媒体に使用するア
シストパワーＡＰを格納しており、媒体種別の判別結果
に応じて選択的に使用される。尚、イレーズ／アシスト
パワーテーブル１９４の代りに、専用のイレーズパワー
テーブルとアシストパワーテーブルを個別に設けてもよ
い。
【００８４】第１ライトパワーテーブル１９６と第２ラ
イトパワーテーブル１９８は、図５のタイムチャートに
示したＰＷＭ記録に使用する２種のライトパワーを格納
しており、デフォルトライトパワーテーブル１９０には
第１ライトパワーテーブル１９６のデフォルト値が格納
されており、第１ライトパワーに対し第２ライトパワー
のパワー比率が予め定まっていることから、デフォルト
ライトパワーテーブル１９０のデフォルトライトパワー
に所定のパワー比率を乗ずることで第２ライトパワーＷ
Ｐ２を求めて、第２ライトパワーテーブル１９８を得る
ことができる。
イトパワーテーブル１９８は、図５のタイムチャートに
示したＰＷＭ記録に使用する２種のライトパワーを格納
しており、デフォルトライトパワーテーブル１９０には
第１ライトパワーテーブル１９６のデフォルト値が格納
されており、第１ライトパワーに対し第２ライトパワー
のパワー比率が予め定まっていることから、デフォルト
ライトパワーテーブル１９０のデフォルトライトパワー
に所定のパワー比率を乗ずることで第２ライトパワーＷ
Ｐ２を求めて、第２ライトパワーテーブル１９８を得る
ことができる。
【００８５】またイレーズ／アシストパワーテーブル１
９４、第１ライトパワーテーブル１９６及び第２ライト
パワーテーブル１９８の初期値は、そのときのレジスタ
２００の装置温度による温度補正係数テーブル１９２の
参照で温度補正係数Ｋｔを求め、この温度補正係数Ｋｔ
によってデフォルトイレーズ／アシストパワーテーブル
１８８及びデフォルトライトパワーテーブル１９０の各
デフォルト値を温度補正した値が格納される。
９４、第１ライトパワーテーブル１９６及び第２ライト
パワーテーブル１９８の初期値は、そのときのレジスタ
２００の装置温度による温度補正係数テーブル１９２の
参照で温度補正係数Ｋｔを求め、この温度補正係数Ｋｔ
によってデフォルトイレーズ／アシストパワーテーブル
１８８及びデフォルトライトパワーテーブル１９０の各
デフォルト値を温度補正した値が格納される。
【００８６】この温度補正は、温度補正後のライトパワ
ーをＷＰ、デフォルトライトパワーをＤＷＰ、ゾーン番
号ｉに対応した温度補正係数をＫｔとすると、 ＷＰ＝ＤＷＰ（１＋Ｋｔ） で与えられる。次に図７の分割テストライト処理部１６
０による処理動作を説明する。図１４は図７の分割テス
トライト処理部１６０を備えた本発明の光ディスクドラ
イブにおける全体的な処理の概略である。光ディスクド
ライブの電源を投入すると、ステップＳ１で初期化処理
が行われる。この初期化処理には、図７の発光パワー調
整部１８６による各デフォルト値、温度補正係数等の設
定調整が含まれる。
ーをＷＰ、デフォルトライトパワーをＤＷＰ、ゾーン番
号ｉに対応した温度補正係数をＫｔとすると、 ＷＰ＝ＤＷＰ（１＋Ｋｔ） で与えられる。次に図７の分割テストライト処理部１６
０による処理動作を説明する。図１４は図７の分割テス
トライト処理部１６０を備えた本発明の光ディスクドラ
イブにおける全体的な処理の概略である。光ディスクド
ライブの電源を投入すると、ステップＳ１で初期化処理
が行われる。この初期化処理には、図７の発光パワー調
整部１８６による各デフォルト値、温度補正係数等の設
定調整が含まれる。
【００８７】続いてステップＳ２で媒体ロードを判別す
ると、ステップＳ３に進み、経過時間タイマ１７０によ
り経過時間Ａの計測をスタートする。続いてステップＳ
４でコマンド受領の有無をチェックしており、上位装置
からコマンドを受領すると、ステップＳ５でライトコマ
ンドか否かチェックする。ライトコマンドであればステ
ップＳ６に進み、経過時間タイマ１７０による経過時間
Ａが１６０秒未満か否かチェックする。１６０秒未満で
あればステップＳ７に進み、経過時間制御部１６４によ
る有効時間に基づいたテストライト処理を実行する。こ
のテストライト処理が終了すると、ステップＳ８で上位
装置からのライトコマンドを実行し、ステップＳ９で媒
体アンロードでなければ、ステップＳ４に戻って次の上
位装置からのコマンドの受領を待つ。
ると、ステップＳ３に進み、経過時間タイマ１７０によ
り経過時間Ａの計測をスタートする。続いてステップＳ
４でコマンド受領の有無をチェックしており、上位装置
からコマンドを受領すると、ステップＳ５でライトコマ
ンドか否かチェックする。ライトコマンドであればステ
ップＳ６に進み、経過時間タイマ１７０による経過時間
Ａが１６０秒未満か否かチェックする。１６０秒未満で
あればステップＳ７に進み、経過時間制御部１６４によ
る有効時間に基づいたテストライト処理を実行する。こ
のテストライト処理が終了すると、ステップＳ８で上位
装置からのライトコマンドを実行し、ステップＳ９で媒
体アンロードでなければ、ステップＳ４に戻って次の上
位装置からのコマンドの受領を待つ。
【００８８】一方、ステップＳ６で経過時間Ａが１６０
秒以上であった場合には、ステップＳ１１に進み、図７
の温度変化制御部１６６による温度変化に基づくテスト
ライト処理を実行する。このテストライト処理が済む
と、ステップＳ８で上位装置からのライトコマンドを実
行する。またステップＳ５でリードコマンドを判別した
場合には、ステップＳ８でそのリードコマンドを実行す
ることになる。
秒以上であった場合には、ステップＳ１１に進み、図７
の温度変化制御部１６６による温度変化に基づくテスト
ライト処理を実行する。このテストライト処理が済む
と、ステップＳ８で上位装置からのライトコマンドを実
行する。またステップＳ５でリードコマンドを判別した
場合には、ステップＳ８でそのリードコマンドを実行す
ることになる。
【００８９】またステップＳ９で媒体アンロードを判別
した場合には、ステップＳ１０に進み、装置停止でなけ
ればステップＳ２に戻って次の媒体ロードを待つ。装置
停止であれば一連の処理を終了する。図１５は図１４の
ステップＳ７で媒体ロードからの経過時間Ａが１６０秒
未満となる図８（Ａ）の有効時間テストライト処理期間
２０４で行われる有効時間テストライト処理のフローチ
ャートである。この有効時間テストライト処理にあって
は、ステップＳ１で上位装置からのライトコマンドが初
回か否かチェックする。
した場合には、ステップＳ１０に進み、装置停止でなけ
ればステップＳ２に戻って次の媒体ロードを待つ。装置
停止であれば一連の処理を終了する。図１５は図１４の
ステップＳ７で媒体ロードからの経過時間Ａが１６０秒
未満となる図８（Ａ）の有効時間テストライト処理期間
２０４で行われる有効時間テストライト処理のフローチ
ャートである。この有効時間テストライト処理にあって
は、ステップＳ１で上位装置からのライトコマンドが初
回か否かチェックする。
【００９０】初回のライトコマンドであればステップＳ
２に進み、この場合は最適発光パワーが見つかっていな
いので、一括実行フラグをオンし、ステップＳ９で分割
テストライト処理の分割処理を行わず、図７に示した分
割実行部１７３に設けている５つの第１〜第５分割実行
部１７４〜１８２を一括して実行して最適発光パワーを
見つけ出す。
２に進み、この場合は最適発光パワーが見つかっていな
いので、一括実行フラグをオンし、ステップＳ９で分割
テストライト処理の分割処理を行わず、図７に示した分
割実行部１７３に設けている５つの第１〜第５分割実行
部１７４〜１８２を一括して実行して最適発光パワーを
見つけ出す。
【００９１】この一括実行フラグのオンによる一括テス
トライトが終了すると、ステップＳ１１でそのときの経
過時間Ａから有効時間Ｔｖを求め、有効時間タイマ１７
２をスタートする。ここで有効時間タイママ１７２の計
測時間をＢとする。一方、ステップＳ１で２回目以降の
上位装置からのライトコマンドであった場合には、ステ
ップＳ３で有効時間タイマ１７２の計測時間Ｂを読み取
り、ステップＳ４で有効時間タイマ１７２の値Ｂがその
ときの有効時間Ｔｖの９０％有効時間以上か否かチェッ
クする。９０％有効時間未満であればステップＳ５〜Ｓ
１１の処理はスキップし、分割テストライトは行わな
い。
トライトが終了すると、ステップＳ１１でそのときの経
過時間Ａから有効時間Ｔｖを求め、有効時間タイマ１７
２をスタートする。ここで有効時間タイママ１７２の計
測時間をＢとする。一方、ステップＳ１で２回目以降の
上位装置からのライトコマンドであった場合には、ステ
ップＳ３で有効時間タイマ１７２の計測時間Ｂを読み取
り、ステップＳ４で有効時間タイマ１７２の値Ｂがその
ときの有効時間Ｔｖの９０％有効時間以上か否かチェッ
クする。９０％有効時間未満であればステップＳ５〜Ｓ
１１の処理はスキップし、分割テストライトは行わな
い。
【００９２】有効時間タイマ値ＢがステップＳ４で９０
％有効時間以上であると、ステップＳ５に進み、有効時
間タイマ値Ｂがそのときの有効時間Ｔｖ以上か否かチェ
ックし、有効時間Ｔｖ未満であれば、ステップＳ６で一
括実行フラグをオフし、ステップＳ９で分割テストライ
ト処理を実行することになる。この場合、ステップＳ７
で前回の分割処理の実行からの経過時間がそのときの有
効時間Ｔｖの１０％有効時間以上か否かチェックする。
もし分割処理経過時間が１０％有効時間を超えていた場
合には、それまでの分割処理の結果は有効に利用できな
いことから、ステップＳ８で分割処理番号をクリアし、
これによってステップＳ９の分割テストライト処理を最
初からやり直すことになる。
％有効時間以上であると、ステップＳ５に進み、有効時
間タイマ値Ｂがそのときの有効時間Ｔｖ以上か否かチェ
ックし、有効時間Ｔｖ未満であれば、ステップＳ６で一
括実行フラグをオフし、ステップＳ９で分割テストライ
ト処理を実行することになる。この場合、ステップＳ７
で前回の分割処理の実行からの経過時間がそのときの有
効時間Ｔｖの１０％有効時間以上か否かチェックする。
もし分割処理経過時間が１０％有効時間を超えていた場
合には、それまでの分割処理の結果は有効に利用できな
いことから、ステップＳ８で分割処理番号をクリアし、
これによってステップＳ９の分割テストライト処理を最
初からやり直すことになる。
【００９３】ステップＳ９の分割テストライト処理は、
図７の分割実行部１７３の第１分割実行部１７４〜第５
分割実行部１８２のそれぞれに予め割り当てている分割
処理番号＃１，＃２，＃３，＃４，＃５を参照し、その
とき未処理となっている先頭の分割処理番号に対応する
分割実行部の処理を行う。ステップＳ９でいずれかの分
割テストライト処理が終了すると、ステップＳ１０で分
割テストライト処理が完了したか否かチェックし、完了
していなければ再び図４のメインルーチンにリターンし
て、次の上位コマンドによる分割テストライトを待つ。
分割テストライト処理が完了していると、経過時間タイ
マ１７０による経過時間Ａから図９の有効時間テーブル
１６８を参照して有効時間Ｔｖを求め、次の有効時間の
監視のため有効時間タイマ１７２をクリアしてスタート
する。
図７の分割実行部１７３の第１分割実行部１７４〜第５
分割実行部１８２のそれぞれに予め割り当てている分割
処理番号＃１，＃２，＃３，＃４，＃５を参照し、その
とき未処理となっている先頭の分割処理番号に対応する
分割実行部の処理を行う。ステップＳ９でいずれかの分
割テストライト処理が終了すると、ステップＳ１０で分
割テストライト処理が完了したか否かチェックし、完了
していなければ再び図４のメインルーチンにリターンし
て、次の上位コマンドによる分割テストライトを待つ。
分割テストライト処理が完了していると、経過時間タイ
マ１７０による経過時間Ａから図９の有効時間テーブル
１６８を参照して有効時間Ｔｖを求め、次の有効時間の
監視のため有効時間タイマ１７２をクリアしてスタート
する。
【００９４】図１５のステップＳ９における分割テスト
ライト処理は、図１６及び図１７のフローチャートに示
すようになる。この図１６，図１７の分割テストライト
処理は、図７の分割実行部１７３に示したように、第１
分割実行部１７４〜第５分割実行部１８２で示される５
つの処理部分に分けられており、それぞれ処理番号＃１
〜＃５が設定されている。
ライト処理は、図１６及び図１７のフローチャートに示
すようになる。この図１６，図１７の分割テストライト
処理は、図７の分割実行部１７３に示したように、第１
分割実行部１７４〜第５分割実行部１８２で示される５
つの処理部分に分けられており、それぞれ処理番号＃１
〜＃５が設定されている。
【００９５】即ち、ステップＳ１〜Ｓ１０が処理番号＃
１の第１分割実行部１７４による処理、ステップＳ１１
〜Ｓ１６が第２分割実行部１７６による処理番号＃２の
処理、ステップＳ１７〜Ｓ２１が第３分割実行部１７８
による処理番号＃３の処理、ステップＳ２２〜Ｓ２６が
第４分割実行部１８０による処理番号＃４の分割処理、
更にステップＳ２７〜Ｓ３４が第５分割実行部１８２に
よる処理番号＃５の分割処理となる。
１の第１分割実行部１７４による処理、ステップＳ１１
〜Ｓ１６が第２分割実行部１７６による処理番号＃２の
処理、ステップＳ１７〜Ｓ２１が第３分割実行部１７８
による処理番号＃３の処理、ステップＳ２２〜Ｓ２６が
第４分割実行部１８０による処理番号＃４の分割処理、
更にステップＳ２７〜Ｓ３４が第５分割実行部１８２に
よる処理番号＃５の分割処理となる。
【００９６】処理番号＃１となるステップＳ１〜Ｓ１０
の第１分割実行部１７４によるデフォルト設定更新処理
を説明する。まずステップＳ１でレーザダイオード再調
整フラグがオンか否かチェックする。このレーザダイオ
ード再調整フラグは、例えば上位コマンドの実行でリー
ドエラーもしくはライトエラーとなった際のエラー回復
処理でフラグオンとなり、ステップＳ２で図７の発光パ
ワー調整部１８６によるレーザダイオードの再調整が行
われる。
の第１分割実行部１７４によるデフォルト設定更新処理
を説明する。まずステップＳ１でレーザダイオード再調
整フラグがオンか否かチェックする。このレーザダイオ
ード再調整フラグは、例えば上位コマンドの実行でリー
ドエラーもしくはライトエラーとなった際のエラー回復
処理でフラグオンとなり、ステップＳ２で図７の発光パ
ワー調整部１８６によるレーザダイオードの再調整が行
われる。
【００９７】通常、レーザダイオード再調整フラグはオ
フとなっていることから、ステップＳ２のレーザダイオ
ード再調整はスキップされる。続いてステップＳ３に進
み、上位装置からのライトコマンドで指定されたアクセ
ストラックの媒体エリアを判定する。テストライトを必
要とする５４０ＭＢ媒体または６４０ＭＢ媒体にあって
は、媒体ゾーンを内周エリア、中間エリア、外周エリア
の３エリアに分けており、したがってゾーン番号からア
クセストラックの属するテストライトのための媒体エリ
アを判定する。
フとなっていることから、ステップＳ２のレーザダイオ
ード再調整はスキップされる。続いてステップＳ３に進
み、上位装置からのライトコマンドで指定されたアクセ
ストラックの媒体エリアを判定する。テストライトを必
要とする５４０ＭＢ媒体または６４０ＭＢ媒体にあって
は、媒体ゾーンを内周エリア、中間エリア、外周エリア
の３エリアに分けており、したがってゾーン番号からア
クセストラックの属するテストライトのための媒体エリ
アを判定する。
【００９８】続いてステップＳ４で、判定した媒体エリ
アのテスト領域に光ビームを位置決めするシークを行
う。媒体を内周エリア、中間エリア、外周エリアの３エ
リアに分けた場合、例えば６４０ＭＢ媒体にあっては、
図１１のデフォルトイレーズパワーテーブルのように、
内周エリアがゾーン番号１〜４、中間エリアがゾーン番
号５〜８、外周エリアがゾーン番号９〜１１となってい
る。
アのテスト領域に光ビームを位置決めするシークを行
う。媒体を内周エリア、中間エリア、外周エリアの３エ
リアに分けた場合、例えば６４０ＭＢ媒体にあっては、
図１１のデフォルトイレーズパワーテーブルのように、
内周エリアがゾーン番号１〜４、中間エリアがゾーン番
号５〜８、外周エリアがゾーン番号９〜１１となってい
る。
【００９９】このゾーン番号１〜１１にあっては、各ゾ
ーンのゾーン境界の例えば５トラックを１ユーザ領域と
して予め割り当てており、このゾーン境界の非ユーザ領
域をテストライトのテスト領域に使用することができ
る。この場合、各エリアは複数ゾーンに分かれており、
非ユーザ領域の各ゾーン境界の５トラック部分に分散し
ていることから、各エリアの中央に位置するゾーンの非
ユーザ領域をテスト領域としてテストライトを実行する
ことが望ましい。
ーンのゾーン境界の例えば５トラックを１ユーザ領域と
して予め割り当てており、このゾーン境界の非ユーザ領
域をテストライトのテスト領域に使用することができ
る。この場合、各エリアは複数ゾーンに分かれており、
非ユーザ領域の各ゾーン境界の５トラック部分に分散し
ていることから、各エリアの中央に位置するゾーンの非
ユーザ領域をテスト領域としてテストライトを実行する
ことが望ましい。
【０１００】続いてステップＳ５で現在時間を保存し、
次の分割処理を実行済みか否かチェックする。初期状態
にあっては、分割処理番号＃１〜＃５のいずれも実行済
みでないことから、未実行となっている先頭の分割処理
番号＃１に従って、そのときの装置温度に基づいてテス
トライトのための発光パワーを初期設定する。この発光
パワーの初期設定は図７の発光パワー調整部１８６によ
り行われ、デフォルトイレーズ／アシストパワーテーブ
ル１８８、デフォルトライトパワーテーブル１９０及び
温度補正係数テーブル１９２からデフォルト値と温度係
数を読み出し、それぞれ温度係数により補正したデフォ
ルトイレーズパワーＤＥＰ、デフォルト第１ライトパワ
ーＤＷＰ１、デフォルト第２ライトパワーＤＷＰ２を求
め、各デフォルト値から発光パワーを（−２，−１，
０，＋１，＋２）の５段階に設定する内の初期値「−
２」をディフォルトパワーから差し引いたパワーを初期
設定する。ここで、オーバライト媒体の場合には、ディ
フォルトアシストパワーＤＡＰから初期値「−２」を差
し引いたアシストパワーＡＰを初期設定する。
次の分割処理を実行済みか否かチェックする。初期状態
にあっては、分割処理番号＃１〜＃５のいずれも実行済
みでないことから、未実行となっている先頭の分割処理
番号＃１に従って、そのときの装置温度に基づいてテス
トライトのための発光パワーを初期設定する。この発光
パワーの初期設定は図７の発光パワー調整部１８６によ
り行われ、デフォルトイレーズ／アシストパワーテーブ
ル１８８、デフォルトライトパワーテーブル１９０及び
温度補正係数テーブル１９２からデフォルト値と温度係
数を読み出し、それぞれ温度係数により補正したデフォ
ルトイレーズパワーＤＥＰ、デフォルト第１ライトパワ
ーＤＷＰ１、デフォルト第２ライトパワーＤＷＰ２を求
め、各デフォルト値から発光パワーを（−２，−１，
０，＋１，＋２）の５段階に設定する内の初期値「−
２」をディフォルトパワーから差し引いたパワーを初期
設定する。ここで、オーバライト媒体の場合には、ディ
フォルトアシストパワーＤＡＰから初期値「−２」を差
し引いたアシストパワーＡＰを初期設定する。
【０１０１】続いてステップＳ８で、第１分割実行部１
７４による設定処理の終了を示す分割処理番号＃１を保
存する。続いてステップＳ９に進み、一括実行フラグが
オンしているか否かチェックする。この場合、一括実行
フラグはオフにあることから、ステップＳ１０に進み、
予め定めた分割実行時間０．５秒を超えたか否かチェッ
クする。このとき０．５秒を超えていれば、ステップＳ
１１以降の処理を行わず、図１４のメインルーチンにリ
ターンする。これに対しステップＳ１０で０．５秒を超
えていなかった場合には、ステップＳ１１に進み、次の
分割処理の実行済みの有無をチェックする。
７４による設定処理の終了を示す分割処理番号＃１を保
存する。続いてステップＳ９に進み、一括実行フラグが
オンしているか否かチェックする。この場合、一括実行
フラグはオフにあることから、ステップＳ１０に進み、
予め定めた分割実行時間０．５秒を超えたか否かチェッ
クする。このとき０．５秒を超えていれば、ステップＳ
１１以降の処理を行わず、図１４のメインルーチンにリ
ターンする。これに対しステップＳ１０で０．５秒を超
えていなかった場合には、ステップＳ１１に進み、次の
分割処理の実行済みの有無をチェックする。
【０１０２】ここで次の分割処理となる第２分割実行部
１７６の分割処理番号＃２は未実行メあることから、ス
テップＳ１２に進み、媒体がオーバライト媒体か否かチ
ェックする。オーバライト媒体の場合には、ステップＳ
１３のテストセクタのイレーズは必要ないことからスキ
ップする。通常のＭＯ媒体であれば、ステップＳ１３で
テストセクタのイレーズをそのときのイレーズパワーＥ
Ｐ＝ＤＥＰ１−２の発光で行う。ステップＳ１３のテス
トセクタのイレーズが済むと、ステップＳ１５で、その
分割処理番号＃２をＲＡＭ等に保存する。
１７６の分割処理番号＃２は未実行メあることから、ス
テップＳ１２に進み、媒体がオーバライト媒体か否かチ
ェックする。オーバライト媒体の場合には、ステップＳ
１３のテストセクタのイレーズは必要ないことからスキ
ップする。通常のＭＯ媒体であれば、ステップＳ１３で
テストセクタのイレーズをそのときのイレーズパワーＥ
Ｐ＝ＤＥＰ１−２の発光で行う。ステップＳ１３のテス
トセクタのイレーズが済むと、ステップＳ１５で、その
分割処理番号＃２をＲＡＭ等に保存する。
【０１０３】続いてステップＳ１４で一括実行フラグの
オンをチェックした後、ステップＳ１６で０．５秒を超
えたか否かチェックする。０．５秒を超えていればステ
ップＳ１７以降の処理を行わず、図１４のメインルーチ
ンにリターンする。ステップＳ１６で０．５秒以下であ
れば図１７のステップＳ１７に進み、次の分割処理の実
行済み、即ち第３分割実行部１７８の分割処理番号＃３
が実行済みか否かチェックする。
オンをチェックした後、ステップＳ１６で０．５秒を超
えたか否かチェックする。０．５秒を超えていればステ
ップＳ１７以降の処理を行わず、図１４のメインルーチ
ンにリターンする。ステップＳ１６で０．５秒以下であ
れば図１７のステップＳ１７に進み、次の分割処理の実
行済み、即ち第３分割実行部１７８の分割処理番号＃３
が実行済みか否かチェックする。
【０１０４】分割処理番号＃３が未実行であれば、ステ
ップＳ１８でテストライトセクタに対するテストパター
ンのライト処理を実行する。この場合のテストライトセ
クタのライト処理は、ＥＣＣ及びＣＲＣを作成せず、所
定のライトパターンの書込みのみを行う。このライト処
理に使用するテストパターンは、最初のライトコマンド
による一括テストライト処理の際にＲＡＭ上に準備され
ているものを使用する。ＲＡＭ上に準備するライトパタ
ーンとしては、エラー発生が最も大きいことが予測され
る最悪パターンである「５９６５９５」と、１６進の各
ワードの全パターンとなる「ＦＥＤＣ・・・３２１０」
を使用する。
ップＳ１８でテストライトセクタに対するテストパター
ンのライト処理を実行する。この場合のテストライトセ
クタのライト処理は、ＥＣＣ及びＣＲＣを作成せず、所
定のライトパターンの書込みのみを行う。このライト処
理に使用するテストパターンは、最初のライトコマンド
による一括テストライト処理の際にＲＡＭ上に準備され
ているものを使用する。ＲＡＭ上に準備するライトパタ
ーンとしては、エラー発生が最も大きいことが予測され
る最悪パターンである「５９６５９５」と、１６進の各
ワードの全パターンとなる「ＦＥＤＣ・・・３２１０」
を使用する。
【０１０５】ステップＳ１８でテストライトセクタに対
するライト処理が済むと、ステップＳ１９でライト処理
の分割処理番号＃３をＲＡＭに保存した後、ステップＳ
２０で一括実行フラグのオンをチェックし、ステップＳ
２１で０．５秒を超えたか否かチェックする。０．５秒
を超えていれば、図１４のメインルーチンにリターンす
る。０．５秒以下であれば、ステップＳ２２で、次の第
３分割実行部１７８による分割処理番号＃３が実行済み
か否かチェックする。
するライト処理が済むと、ステップＳ１９でライト処理
の分割処理番号＃３をＲＡＭに保存した後、ステップＳ
２０で一括実行フラグのオンをチェックし、ステップＳ
２１で０．５秒を超えたか否かチェックする。０．５秒
を超えていれば、図１４のメインルーチンにリターンす
る。０．５秒以下であれば、ステップＳ２２で、次の第
３分割実行部１７８による分割処理番号＃３が実行済み
か否かチェックする。
【０１０６】実行済みでなければステップＳ２３に進
み、ステップＳ１８でライトしたテストライトセクタの
リードを行う。この場合のリード処理は、ＥＣＣ及びＣ
ＲＣのエラー訂正なしのリード処理を行う。リード処理
が済むと、ステップＳ２４でその分割処理番号＃４をＲ
ＡＭに保存した後、ステップＳ２５で一括実行フラグの
オンをチェックし、ステップＳ２６で処理時間が０．５
秒を超えたか否かチェックする。０．５秒を超えていれ
ば図１４のメインルーチンにリターンする。
み、ステップＳ１８でライトしたテストライトセクタの
リードを行う。この場合のリード処理は、ＥＣＣ及びＣ
ＲＣのエラー訂正なしのリード処理を行う。リード処理
が済むと、ステップＳ２４でその分割処理番号＃４をＲ
ＡＭに保存した後、ステップＳ２５で一括実行フラグの
オンをチェックし、ステップＳ２６で処理時間が０．５
秒を超えたか否かチェックする。０．５秒を超えていれ
ば図１４のメインルーチンにリターンする。
【０１０７】０．５秒を超えていなければ、ステップＳ
２７で、次の分割処理となる第５分割実行部１８２の分
割処理番号＃５が実行済みか否かチェックする。実行済
みでなかった場合には、それまでの分割処理番号＃１，
＃２，＃３，＃４の分割処理で得られた処理結果から、
ステップＳ２８でエラー数を算出する。
２７で、次の分割処理となる第５分割実行部１８２の分
割処理番号＃５が実行済みか否かチェックする。実行済
みでなかった場合には、それまでの分割処理番号＃１，
＃２，＃３，＃４の分割処理で得られた処理結果から、
ステップＳ２８でエラー数を算出する。
【０１０８】即ち、ステップＳ１８で媒体のテストライ
トセクタに書き込んだライトパターンとステップＳ２３
でテストライトセクタからリードしたリードパターンを
ビット単位に比較し、その不一致数を算出する。続いて
ステップＳ２５で分割処理番号＃５をＲＡＭに保存した
後、ステップＳ３０でテストライトの発光パワーの調整
が最大調整値となる「デフォルト＋２」を超えたか、即
ち５回の発光パワーの設定によるイレーズ、ライト、リ
ードの処理が終了したか否かチェックする。終了してい
なければ、ステップＳ３１で発光パワーを１単位増加し
た後、再び図１６のステップＳ１０に戻る。
トセクタに書き込んだライトパターンとステップＳ２３
でテストライトセクタからリードしたリードパターンを
ビット単位に比較し、その不一致数を算出する。続いて
ステップＳ２５で分割処理番号＃５をＲＡＭに保存した
後、ステップＳ３０でテストライトの発光パワーの調整
が最大調整値となる「デフォルト＋２」を超えたか、即
ち５回の発光パワーの設定によるイレーズ、ライト、リ
ードの処理が終了したか否かチェックする。終了してい
なければ、ステップＳ３１で発光パワーを１単位増加し
た後、再び図１６のステップＳ１０に戻る。
【０１０９】発光パワーを変化させた５回分の処理が終
了していた場合には、ステップＳ３２で最適パワーの算
出処理を行う。最適パワーが算出できたならば、ステッ
プＳ３３で、実行済みの分割処理番号＃１〜＃５を全て
クリアし、更にステップＳ３４で新たな最適パワーの設
定ができたことから、そのときの経過時間タイマ１７０
の計測時間Ａから図９の有効時間テーブル１６８を参照
して有効時間Ｔｖを求め、有効時間タイマ１７２をクリ
アして有効時間Ｂの計数を再度スタートする。なお、経
過時間タイマ１７０の経過時間ＡがＡ＝１６０秒以上に
なると、有効時間ＴｖはＴｖ＝１６０秒の最大値に固定
されることになる。
了していた場合には、ステップＳ３２で最適パワーの算
出処理を行う。最適パワーが算出できたならば、ステッ
プＳ３３で、実行済みの分割処理番号＃１〜＃５を全て
クリアし、更にステップＳ３４で新たな最適パワーの設
定ができたことから、そのときの経過時間タイマ１７０
の計測時間Ａから図９の有効時間テーブル１６８を参照
して有効時間Ｔｖを求め、有効時間タイマ１７２をクリ
アして有効時間Ｂの計数を再度スタートする。なお、経
過時間タイマ１７０の経過時間ＡがＡ＝１６０秒以上に
なると、有効時間ＴｖはＴｖ＝１６０秒の最大値に固定
されることになる。
【０１１０】図１８は図１７のステップＳ２の最適パワ
ーの算出処理である。図１６〜図１７の発光パワーを変
化させた５回に亘るイレーズ、ライト及びリードの処理
に基づく不一致数の検出結果により、例えば図１１の特
性２１２を与えるデフォルトパワーＤＷＰを（−２，−
１，０，＋１，＋２）と変化させたときの不一致数を示
すＯ，Ｐ，Ｑ，Ｒ，Ｓの５点が得られていることから、
ステップＳ１でエラー数と最適発光パワーを判定するた
めの閾値Ｅｔｈとを比較し、閾値Ｅｔｈ以下の不一致数
をもつ発光パワーを抽出する。
ーの算出処理である。図１６〜図１７の発光パワーを変
化させた５回に亘るイレーズ、ライト及びリードの処理
に基づく不一致数の検出結果により、例えば図１１の特
性２１２を与えるデフォルトパワーＤＷＰを（−２，−
１，０，＋１，＋２）と変化させたときの不一致数を示
すＯ，Ｐ，Ｑ，Ｒ，Ｓの５点が得られていることから、
ステップＳ１でエラー数と最適発光パワーを判定するた
めの閾値Ｅｔｈとを比較し、閾値Ｅｔｈ以下の不一致数
をもつ発光パワーを抽出する。
【０１１１】続いてステップＳ２で、閾値Ｅｔｈ以下の
不一致数を与える発光パワーが２つ以上あるか否かチェ
ックする。２つ以上あれば、ステップＳ３で２つのパワ
ーの最大値と最小値の差の２分の１として最適パワーを
決定する。ステップＳ２で不一致数が閾値Ｅｔｈ以下と
なる発光パワーが２つ以上なかった場合、即ち１つしか
なかった場合には、最適パワーを決定することができな
いことから、ステップＳ４に進み、パワーシフト方向を
判別してデフォルトを修正する。
不一致数を与える発光パワーが２つ以上あるか否かチェ
ックする。２つ以上あれば、ステップＳ３で２つのパワ
ーの最大値と最小値の差の２分の１として最適パワーを
決定する。ステップＳ２で不一致数が閾値Ｅｔｈ以下と
なる発光パワーが２つ以上なかった場合、即ち１つしか
なかった場合には、最適パワーを決定することができな
いことから、ステップＳ４に進み、パワーシフト方向を
判別してデフォルトを修正する。
【０１１２】この場合のデフォルトのパワーシフト方向
は、エラー数が閾値Ｅｔｈを超えている発光パワー側に
デフォルトパワーを１単位シフトするように修正する。
続いてステップＳ５で、修正デフォルト値が予め定めた
ライトパワーの限界、即ち下限値または上限値を超えた
か否かチェックし、超えていなければ図１９のルーチン
にリターンする。もし調整後のデフォルトパワーが限界
を超えていた場合には異常終了とする。
は、エラー数が閾値Ｅｔｈを超えている発光パワー側に
デフォルトパワーを１単位シフトするように修正する。
続いてステップＳ５で、修正デフォルト値が予め定めた
ライトパワーの限界、即ち下限値または上限値を超えた
か否かチェックし、超えていなければ図１９のルーチン
にリターンする。もし調整後のデフォルトパワーが限界
を超えていた場合には異常終了とする。
【０１１３】図１９のフローチャートは、初回のライト
コマンドを受けた際に実行される一括テストライト処理
であり、一括実行フラグをオンとした状態で図１６及び
図１７でスキップする部分を除いて一連の流れとして示
している。即ち、図１６及び図１７におけるステップＳ
９，Ｓ１５，Ｓ２５の一括実行フラグのオンを判別した
場合の処理を抽出すると、図１９のステップＳ１〜Ｓ
４，Ｓ７，Ｓ１２〜Ｓ１３，Ｓ１８，Ｓ２３，Ｓ２８，
Ｓ３０，Ｓ３２，Ｓ３４の処理のみを実行することにな
る。
コマンドを受けた際に実行される一括テストライト処理
であり、一括実行フラグをオンとした状態で図１６及び
図１７でスキップする部分を除いて一連の流れとして示
している。即ち、図１６及び図１７におけるステップＳ
９，Ｓ１５，Ｓ２５の一括実行フラグのオンを判別した
場合の処理を抽出すると、図１９のステップＳ１〜Ｓ
４，Ｓ７，Ｓ１２〜Ｓ１３，Ｓ１８，Ｓ２３，Ｓ２８，
Ｓ３０，Ｓ３２，Ｓ３４の処理のみを実行することにな
る。
【０１１４】この一括テストライト処理の内容は図１
６、図１７の対応するステップと同じであるが、ステッ
プＳ３のアクセストラックのエリア判定の処理におい
て、初回のライトコマンドであることから、テストライ
トに使用するライトデータパターンをＲＡＭ上に準備し
ている点が相違する。図２０は図１４のステップＳ１１
に示した温度変化に基づくテストライト処理のフローチ
ャートである。この温度変化に基づくテストライト処理
は、図８（Ａ）のタイムスケジュールに示したように、
媒体ロードから有効時間テストライト処理時間２０４と
なる１６０秒を経過した以降の温度変化テストライト処
理期間２０６において実行される。
６、図１７の対応するステップと同じであるが、ステッ
プＳ３のアクセストラックのエリア判定の処理におい
て、初回のライトコマンドであることから、テストライ
トに使用するライトデータパターンをＲＡＭ上に準備し
ている点が相違する。図２０は図１４のステップＳ１１
に示した温度変化に基づくテストライト処理のフローチ
ャートである。この温度変化に基づくテストライト処理
は、図８（Ａ）のタイムスケジュールに示したように、
媒体ロードから有効時間テストライト処理時間２０４と
なる１６０秒を経過した以降の温度変化テストライト処
理期間２０６において実行される。
【０１１５】図２０において、上位装置からのライトコ
マンドに基づいて温度変化テストライト処理が起動する
と、ステップＳ１で分割テストライトの途中か否かチェ
ックする。即ち、分割テストライトの中断中か否かチェ
ックする。分割テストライトの途中でなければステップ
Ｓ２に進み、前回の検出温度からの経過時間を検出す
る。
マンドに基づいて温度変化テストライト処理が起動する
と、ステップＳ１で分割テストライトの途中か否かチェ
ックする。即ち、分割テストライトの中断中か否かチェ
ックする。分割テストライトの途中でなければステップ
Ｓ２に進み、前回の検出温度からの経過時間を検出す
る。
【０１１６】この経過時間は有効時間タイマ１７２の計
測時間Ｂで求められる。続いてステップＳ３で経過時間
Ｂが１６０秒以上か否かチェックする。１６０秒未満で
あれば、ステップＳ４以降の処理をスキップして図４の
メインルーチンにリターンする。経過時間Ｂが１６０秒
以上であった場合にはステップＳ４に進み、前回と今回
の温度差を算出し、ステップＳ５で３℃以上か否かチェ
ックする。
測時間Ｂで求められる。続いてステップＳ３で経過時間
Ｂが１６０秒以上か否かチェックする。１６０秒未満で
あれば、ステップＳ４以降の処理をスキップして図４の
メインルーチンにリターンする。経過時間Ｂが１６０秒
以上であった場合にはステップＳ４に進み、前回と今回
の温度差を算出し、ステップＳ５で３℃以上か否かチェ
ックする。
【０１１７】３℃以上であればステップＳ６に進み、４
℃以上か否かチェックする。４℃未満であれば、ステッ
プＳ７で一括実行フラグをオフし、ステップＳ８の分割
テストライト処理に進み、図１６，図１７に示した分割
テストライト処理を実行する。そしてステップＳ９でテ
ストライト完了を判別すると、新たな最適発光パワーが
得られたことで、ステップＳ１０に進んで、経過時間タ
イマ１７０をリセットした後に、経過時間Ｂを計測する
有効時間タイマ１７２をリセットスタートする。
℃以上か否かチェックする。４℃未満であれば、ステッ
プＳ７で一括実行フラグをオフし、ステップＳ８の分割
テストライト処理に進み、図１６，図１７に示した分割
テストライト処理を実行する。そしてステップＳ９でテ
ストライト完了を判別すると、新たな最適発光パワーが
得られたことで、ステップＳ１０に進んで、経過時間タ
イマ１７０をリセットした後に、経過時間Ｂを計測する
有効時間タイマ１７２をリセットスタートする。
【０１１８】一方、ステップＳ１で分割テストライト途
中、即ち分割テストライトの中断中を判別した場合に
は、ステップＳ１１に進み、分割実行についての前回と
今回の温度差を算出する。この分割実行の中断時間にお
ける温度変化がステップＳ１２で２℃以上となっていた
場合には、分割中断期間における温度変化が大きすぎ
て、それまでの分割実行で得られた結果が有効に使用で
きないことから、ステップＳ１３で分割処理番号をクリ
アし、その結果、ステップＳ８にあっては、最初から分
割テストライト処理をやり直すことになる。また、ステ
ップＳ６で前回と今回の温度差が４℃以上と大きく変化
していた場合には、最適発光パワーが大きくずれている
可能性があることから、ステップＳ１４に進んで一括実
行フラグをオンし、残りの分割処理をステップＳ８で一
括して行う。このステップＳ１４で一括実行フラグをオ
ンした場合の分割テストライト処理は、図１９の一括実
行フラグに基づいた一括テストライト処理となる。
中、即ち分割テストライトの中断中を判別した場合に
は、ステップＳ１１に進み、分割実行についての前回と
今回の温度差を算出する。この分割実行の中断時間にお
ける温度変化がステップＳ１２で２℃以上となっていた
場合には、分割中断期間における温度変化が大きすぎ
て、それまでの分割実行で得られた結果が有効に使用で
きないことから、ステップＳ１３で分割処理番号をクリ
アし、その結果、ステップＳ８にあっては、最初から分
割テストライト処理をやり直すことになる。また、ステ
ップＳ６で前回と今回の温度差が４℃以上と大きく変化
していた場合には、最適発光パワーが大きくずれている
可能性があることから、ステップＳ１４に進んで一括実
行フラグをオンし、残りの分割処理をステップＳ８で一
括して行う。このステップＳ１４で一括実行フラグをオ
ンした場合の分割テストライト処理は、図１９の一括実
行フラグに基づいた一括テストライト処理となる。
【０１１９】尚、上記の実施形態は、上位装置からのラ
イトコマンドを受けるごとにテストライトの必要性を判
断して分割テストライト処理を行う場合を例にとってい
るが、本発明の他の実施形態として、ライトコマンドに
依存せず、図８（Ａ）の媒体ロードからの経過時間タイ
マ１７０による経過時間Ａに基づいた有効時間テーブル
１６８の参照で有効時間Ｔｖを求め、有効時間Ｔｖを経
過するごとに分割テストライトを０．５秒ごとの処理時
間に分けて実行するようにしてもよい。
イトコマンドを受けるごとにテストライトの必要性を判
断して分割テストライト処理を行う場合を例にとってい
るが、本発明の他の実施形態として、ライトコマンドに
依存せず、図８（Ａ）の媒体ロードからの経過時間タイ
マ１７０による経過時間Ａに基づいた有効時間テーブル
１６８の参照で有効時間Ｔｖを求め、有効時間Ｔｖを経
過するごとに分割テストライトを０．５秒ごとの処理時
間に分けて実行するようにしてもよい。
【０１２０】また装置温度変化に基づいた分割テストラ
イト処理についても、上位装置からのライトコマンドに
依存せず、装置温度が例えば３℃以上変化したときに分
割テストライト処理を開始し、０．５秒ごとの処理期間
に分けて分割して行うようにしてもよい。また上記の実
施形態で示した有効時間テストライト処理の期間、有効
時間テストライト処理における経過時間に対応した有効
時間、また温度変化に基づいてテストライトの必要性を
判断する場合の温度変化の数値については、必要に応じ
て適宜の値を決めることができ、実施形態の数値による
限定は受けない。
イト処理についても、上位装置からのライトコマンドに
依存せず、装置温度が例えば３℃以上変化したときに分
割テストライト処理を開始し、０．５秒ごとの処理期間
に分けて分割して行うようにしてもよい。また上記の実
施形態で示した有効時間テストライト処理の期間、有効
時間テストライト処理における経過時間に対応した有効
時間、また温度変化に基づいてテストライトの必要性を
判断する場合の温度変化の数値については、必要に応じ
て適宜の値を決めることができ、実施形態の数値による
限定は受けない。
【０１２１】また上記の実施形態は、５４０ＭＢ媒体及
び６４０ＭＢ媒体を例にとるものであったが、２３０Ｍ
Ｂ媒体についても全く同様に分割テストライトを適用す
ることができる。但し、２３０ＭＢ媒体の場合、テスト
ライトを行う媒体エリアは媒体全面について１エリアで
良く、したがって５４０ＭＢ媒体や６４０ＭＢ媒体のよ
うに複数エリアに分け各エリアごとにテストライトを行
う必要はない。
び６４０ＭＢ媒体を例にとるものであったが、２３０Ｍ
Ｂ媒体についても全く同様に分割テストライトを適用す
ることができる。但し、２３０ＭＢ媒体の場合、テスト
ライトを行う媒体エリアは媒体全面について１エリアで
良く、したがって５４０ＭＢ媒体や６４０ＭＢ媒体のよ
うに複数エリアに分け各エリアごとにテストライトを行
う必要はない。
【０１２２】更に本発明のテストライトにあっては、デ
フォルト値にデフォルト１単位を加減算して５段階に亘
るライトパワーの変化を作り出しているが、デフォルト
値に例えば０．８，０．９，１．０，１．１，１．２と
いうように所定の係数を乗じてライトパワーの変化を作
り出してもよい。更に、本発明は、イレーズを必要とす
るＭＯカートリッジ媒体とイレーズを必要としないダイ
レクトオーバライト対応型のカートリッジ媒体を例にと
るものであったが、その他に相変化型光ディスクやＤＶ
Ｄ−ＲＡＭ等の光パワーを利用した記録方式のものにつ
いても、本発明の実施形態を同様に適用してもよい。
フォルト値にデフォルト１単位を加減算して５段階に亘
るライトパワーの変化を作り出しているが、デフォルト
値に例えば０．８，０．９，１．０，１．１，１．２と
いうように所定の係数を乗じてライトパワーの変化を作
り出してもよい。更に、本発明は、イレーズを必要とす
るＭＯカートリッジ媒体とイレーズを必要としないダイ
レクトオーバライト対応型のカートリッジ媒体を例にと
るものであったが、その他に相変化型光ディスクやＤＶ
Ｄ−ＲＡＭ等の光パワーを利用した記録方式のものにつ
いても、本発明の実施形態を同様に適用してもよい。
【０１２３】
【発明の効果】以上説明してきたように本発明によれ
ば、上位コマンドを受けた際のイレーズ、ライト、リー
ドを伴う一連のテストライト処理が複数の処理段階に分
割されて順番に実行され、装置温度が急激に変化して、
初期設定されているデフォルトパワーから最適パワーが
大きくずれることにより最適パワーを見つけ出すテスト
ライト処理の終了までの時間が長くかかる場合でも、処
理が分散されて実行されるため、ライトパワーの分割処
理の中断中に上位コマンドに対するアクセスを終了し、
その結果、上位コマンドに対するタイムアウトによるエ
ラーを発生せず、またテストライトの分割処理の途中で
最適パワーからずれていても、可能な限り記録再生は行
うことができるので、全体としての装置性能を向上する
ことができる。
ば、上位コマンドを受けた際のイレーズ、ライト、リー
ドを伴う一連のテストライト処理が複数の処理段階に分
割されて順番に実行され、装置温度が急激に変化して、
初期設定されているデフォルトパワーから最適パワーが
大きくずれることにより最適パワーを見つけ出すテスト
ライト処理の終了までの時間が長くかかる場合でも、処
理が分散されて実行されるため、ライトパワーの分割処
理の中断中に上位コマンドに対するアクセスを終了し、
その結果、上位コマンドに対するタイムアウトによるエ
ラーを発生せず、またテストライトの分割処理の途中で
最適パワーからずれていても、可能な限り記録再生は行
うことができるので、全体としての装置性能を向上する
ことができる。
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明による光ディスクドライブのブロック図
【図３】ＭＯカートリッジをローディングした装置内部
構造の説明図
構造の説明図
【図４】図２のレーザダイオード制御回路のブロック図
【図５】ダイレクトオーバライト対応型の媒体における
本発明のＰＷＭ記録による信号、発光電流、差引電流及
びモニタ電流のタイムチャート
本発明のＰＷＭ記録による信号、発光電流、差引電流及
びモニタ電流のタイムチャート
【図６】ダイレクトオーバライト対応型の媒体における
本発明のＰＰＭ記録による信号、発光電流、差引電流及
びモニタ電流のタイムチャート
本発明のＰＰＭ記録による信号、発光電流、差引電流及
びモニタ電流のタイムチャート
【図７】図２のＭＰＵで実現される本発明のテストライ
ト処理の機能ブロック図
ト処理の機能ブロック図
【図８】媒体ロードからのタイムスケジュールに従った
本発明のテストライト処理の説明図
本発明のテストライト処理の説明図
【図９】本発明のテストライト処理で使用する有効時間
設定テーブルの説明図
設定テーブルの説明図
【図１０】本発明の最適発光パワーを算出するために分
割テストライト処理で求めた発光パワーとエラー数の特
性図
割テストライト処理で求めた発光パワーとエラー数の特
性図
【図１１】図７のデフォルトイレーズパワーテーブルの
説明図
説明図
【図１２】図７のデフォルトライトパワーテーブルの説
明図
明図
【図１３】図７の温度補正係数テーブルの説明図
【図１４】本発明の分割テストライトを含む装置の全体
的な動作の概略フローチャートート
的な動作の概略フローチャートート
【図１５】図１４の有効時間に基づいてテストライトの
必要性を判断する有効時間テストライト処理のフローチ
ャート
必要性を判断する有効時間テストライト処理のフローチ
ャート
【図１６】図１５の分割テストライト処理の詳細フロー
チャート
チャート
【図１７】図１５の分割テストライト処理の詳細フロー
チャート（続き）
チャート（続き）
【図１８】図１７の最適パワーの算出処理のフローチャ
ート
ート
【図１９】図１６，図１７の分割テストライトで一括実
行フラグがオンとなった場合の処理部分を抽出した一括
テストライト処理のフローチャート
行フラグがオンとなった場合の処理部分を抽出した一括
テストライト処理のフローチャート
【図２０】図１４の温度変化に基づいてテストライトの
必要性を判断する温度変化テストライト処理のフローチ
ャート
必要性を判断する温度変化テストライト処理のフローチ
ャート
１０：コントロールユニット
１２：エンクロージャ
１４：ＭＰＵ
１５：ＤＳＰ
１６：インタフェースコントローラ
１８：光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）
２０：バッファメモリ
２２：エンコーダ
２４：レーザダイオード制御回路
２６：デコーダ
２８：リードＬＳＩ回路
３０：レーザダイオードユニット
３２：ディテクタ
３４：ヘッドアンプ
３６：温度センサ
３８，４２，５４，５８，６２：ドライバ
４０：スピンドルモータ
４４：電磁石
４６：２分割ディテクタ
４８：ＦＥＳ検出回路
５０：ＴＥＳ検出回路
５２：レンズ位置センサ
５６：フォーカスアクチュエータ
６０：レンズアクチェータ
６４：ＶＣＭ（キャリッジアクチュエータ）
６６：ハウジング
６８：インレットドア
７０：ＭＯカートリッジ
７２：ＭＯ媒体
７６：キャリッジ
７８：固定光学系
８０：対物レンズ
１００：レーザダイオード（ＬＤ）
１０２：モニタフォトダイオード（ＰＤ）
１０４：リードパワー電流源
１０６：イレーズパワー電流源
１０８：第１ライトパワー電流源
１１０：第２ライトパワー電流源
１１２：イレーズパワー差引電流源
１１４：第１ライトパワー差引電流源
１１６：第２ライトパワー差引電流源
１１８：モニタ電圧検出抵抗
１２０：目標ＤＡレジスタ（目標ＤＡＣレジスタ）
１２２：イレーズパワー電流レジスタ（ＥＰ電流ＤＡＣ
レジスタ） １２４：第１ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ１電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２６：第２ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ２電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２８：イレーズパワー差引ＤＡレジスタ（ＥＰ差引Ｄ
ＡＣレジスタ） １３０：第１ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ１差
引ＤＡＣレジスタ） １３２：第２ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ２差
引ＤＡＣレジスタ） １３４：モニタＡＤＣレジスタ 136,140,142,144,146,148,150 ：ＤＡコンバータ（ＤＡ
Ｃ） １３８：自動パワー制御部（ＡＰＣ） １５２：ＡＤコンバータ（ＡＤＣ） １６０：分割テストライト処理部 １６２：分割制御部 １６４：経過時間制御部 １６６：温度変化制御部 １６８：有効時間テーブル １７０：経過時間タイマＡ １７２：有効時間タイマＢ １７３：分割実行部 １７４：第１分割実行部 １７６：第２分割実行部 １７８：第３分割実行部 １８０：第４分割実行部 １８２：第５分割実行部 １８４：レジスタ群 １８６：発光パワー調整部 １８８：デフォルトイレーズ／アシストパワーテーブル １９０：デフォルトライトパワーテーブル １９２：温度補正係数テーブル １９４：イレーズ／アシストパワーテーブル １９６：第１ライトパワーテーブル １９８：第２ライトパワーテーブル ２００：レジスタ ２０２：アクセス実行部
レジスタ） １２４：第１ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ１電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２６：第２ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ２電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２８：イレーズパワー差引ＤＡレジスタ（ＥＰ差引Ｄ
ＡＣレジスタ） １３０：第１ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ１差
引ＤＡＣレジスタ） １３２：第２ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ２差
引ＤＡＣレジスタ） １３４：モニタＡＤＣレジスタ 136,140,142,144,146,148,150 ：ＤＡコンバータ（ＤＡ
Ｃ） １３８：自動パワー制御部（ＡＰＣ） １５２：ＡＤコンバータ（ＡＤＣ） １６０：分割テストライト処理部 １６２：分割制御部 １６４：経過時間制御部 １６６：温度変化制御部 １６８：有効時間テーブル １７０：経過時間タイマＡ １７２：有効時間タイマＢ １７３：分割実行部 １７４：第１分割実行部 １７６：第２分割実行部 １７８：第３分割実行部 １８０：第４分割実行部 １８２：第５分割実行部 １８４：レジスタ群 １８６：発光パワー調整部 １８８：デフォルトイレーズ／アシストパワーテーブル １９０：デフォルトライトパワーテーブル １９２：温度補正係数テーブル １９４：イレーズ／アシストパワーテーブル １９６：第１ライトパワーテーブル １９８：第２ライトパワーテーブル ２００：レジスタ ２０２：アクセス実行部
─────────────────────────────────────────────────────
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(56)参考文献 特開 平７−29178（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−232651（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−93754（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−203081（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 7/00 - 7/125
Claims (23)
- 【請求項１】媒体の記録再生に使用するレーザダイオー
ドの発光パワーを調整する発光パワー調整部と、 前記媒体上でテストライトを行って最適発光パワーを決
定するテストライト処理を複数に分割した個々の分割処
理を所定のタイミングで個別に独立して実行する分割テ
ストライト処理部と、 を設けたことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項２】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記分割テストライト処理部は、前記複数の分割処理を
個別に実行する複数の分割実行部と、 上位コマンドを受けた際にテストライトの必要性の有無
を判断し、テストライトが必要と判断した場合は前記分
割実行部の中の未実行の先頭に位置する分割処理にスキ
ップして所定時間に亘り実行させる分割制御部と、 を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項３】請求項２記載の光学的記憶装置に於いて、
前記分割制御部は、１つの分割実行部の処理を終了する
毎に処理済み番号と処理結果を保存し、分割処理開始か
らの経過時間が所定時間未満の場合は次の分割実行部の
処理に移行し、所定時間を経過していた場合は、処理を
中断して次の上位コマンドを待つことを特徴とする光学
的記憶装置。 - 【請求項４】請求項２記載の光学的記憶装置に於いて、
前記分割制御部は、複数の分割実行部による前回の分割
処理から今回の分割処理までの経過時間が所定時間を超
えていた場合、前回までの処理済み番号及び処理結果を
キャンセルして最初から分割処理をやり直すことを特徴
とする光学的記憶装置。 - 【請求項５】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記分割処理部は、イレーズを必要とする媒体の場合、 初回は所定の初期発光パワーを設定し次回以降は前記初
期発光パワーを所定値ずつ変化させた発光パワーを設定
する第１分割実行部と、 前記設定発光パワーで媒体のテスト領域をイレーズする
第２分割実行部と、 前記イレーズ済みのテスト領域に所定のテストパターン
を書き込む第３分割実行部と、 前記テスト領域に書き込んだテストパターンを読み出す
第４分割実行部と、 前記テストパターンと読出したパターンを比較してデー
タの不一致個数を検出し、前記第１乃至第４分割実行部
による複数回のテストライトで得られた不一致個数に基
づいて最適発光パワーを決定する第５分割実行部と、 を備え、前記第１〜第５分割実行部を所定のタイミング
で個別に独立して実行させることを特徴とする光学的記
憶装置。 - 【請求項６】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記分割処理部は、イレーズを必要としないダイレクト
オーバライト対応の媒体の場合、 初回は所定の初期発光パワーを設定し次回以降は前記初
期発光パワーを所定値ずつ変化させた発光パワーを設定
する第１分割実行部と、 媒体のテスト領域に所定のテストパターンを書き込む第
２分割実行部と、 前記テスト領域に書き込んだテストパターンを読み出す
第３分割実行部と、 前記テストパターンと読出したパターンを比較してデー
タの不一致個数を検出し、前記第１乃至第３分割実行部
による複数回のテストライトで得られた不一致個数に基
づいて最適発光パワーを決定する第４分割実行部と、 を備え、前記第１〜第４分割実行部を所定のタイミングで個々に
独立して実行させる ことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項７】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
予め定めた装置の起動タイミングからの経過時間に基づ
いて前記分割テストライト処理部を制御する経過時間制
御部を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項８】請求項７記載の光学的記憶装置に於いて、
前記経過時間制御部は、前記起動タイミングからの経過
時間が所定時間に達するまでの間、有効に動作して前記
分割テストライト処理部を制御することを特徴とする光
学的記憶装置。 - 【請求項９】請求項８記載の光学的記憶装置に於いて、
前記経過時間制御部は、最初の上位コマンドで前記分割
テストライト処理部の分割処理を一括して行って最適発
光パワーを決定すると共に、現在までの経過時間に基づ
いて前記最適発光パワーの調整を不必要とする有効時間
を設定し、該有効時間の所定割合時間を経過するまでは
上位コマンドに対する分割処理を禁止し、前記所定割合
時間から前記有効時間までの間に上位コマンドに対し分
割を実行させることを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１０】請求項９記載の光学的記憶装置に於い
て、前記経過時間制御部は、前記分割処理を前記有効時
間の９０％未満の時間帯で禁止し、前記有効時間の９０
％を超える時間帯で許容することを特徴とする光学的記
憶装置。 - 【請求項１１】請求項９記載の光学的記憶装置に於い
て、前記経過時間制御部は、前記分割処理の実行段階の
途中で前記有効時間を超えた場合、次の上位コマンドで
残りの分割処理を一括して実行することを特徴とする光
学的記憶装置。 - 【請求項１２】請求項９記載の光学的記憶装置に於い
て、前記経過時間制御部は、前記起動タイミングからの
経過時間に比例して有効時間を段階的に長くなるように
設定することを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１３】請求項１記載の光学的記憶装置に於い
て、装置温度の変化に基づいて前記分割テストライト処
理部を制御する温度変化制御部を備えたことを特徴とす
る光学的記憶装置。 - 【請求項１４】請求項１３記載の光学的記憶装置に於い
て、前記経過時間制御部は、前記起動タイミングからの
経過時間が所定時間を超えた後に有効に動作して前記分
割テストライト処理部を制御することを特徴とする光学
的記憶装置。 - 【請求項１５】請求項１３記載の光学的記憶装置に於い
て、前記温度変化制御部は、所定時間毎に装置内の温度
を検出し、前回の検出温度との温度差が所定温度を超え
た場合に前記分割テストライト処理部の分割処理に実行
させることを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１６】請求項１５記載の光学的記憶装置に於い
て、前記温度変化制御部は、前記分割処理の実行段階の
途中で前記温度差が前記所定温度より高い上限温度を超
えた場合は、前記分割テストライト処理部に分割処理を
連続的に一括して実行させることを特徴とする光学的記
憶装置。 - 【請求項１７】請求項１６記載の光学的記憶装置に於い
て、前記温度変化制御部は、前記分割テストライト処理
部による分割処理の途中で、前回の分割処理と今回の分
割処理との温度差が所定温度を超えていた場合、前回ま
での処理済み番号及び処理結果をキャンセルして最初か
ら分割処理をやり直すことを特徴とする光学的記憶装
置。 - 【請求項１８】請求項７、８または１３のいずれかに記
載の光学的記憶装置に於いて、前記起動タイミングは、
装置に対する媒体のロード時、サーボ部やスピンドルモ
ータを停止しているスリープモードからの復帰時を含む
ことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１９】請求項１記載の光学的記憶装置に於い
て、前記分割テストライト処理部による処理を前記媒体
を半径方向に分割された各エリア毎に独立に行うことを
特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項２０】請求項１記載の光学的記憶装置に於い
て、前記媒体を半径方向で複数に分割した複数のゾーン
ずつグループ化されてなり、 前記分割テストライト処理部による処理を複数の各エリ
ア毎に独立に行うことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項２１】媒体の記録再生に使用するレーザダイオ
ードの発光パワーを調整する発光パワー調整部と、 前記媒体上でテストライトを行って最適発光パワーを決
定するテストライト処理を複数に分割した個々の分割処
理を、予め定めた経過時間のタイムスケジュールに従っ
て個別に独立して実行する分割テストライト処理部と、 を設けたことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項２２】媒体の記録再生に使用するレーザダイオ
ードの発光パワーを調整する発光パワー調整部と、 前記媒体上でテストライトを行って最適発光パワーを決
定するテストライト処理を複数に分割した個々の分割処
理を、一定値以上の温度変化があった場合に所定のタイ
ミングで個別に独立して実行する分割テストライト処理
部を設けたことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項２３】媒体上でテストライトを行って最適発光
パワーを決定するテストライト処理を行う光学的記憶装
置に於いて、 テストライト処理を少なくとも２つの処理に分割する分
割テストライト処理部と、 連続したテストライト処理と分割したテストライト処理
のいずれかの実行を決定する決定部と、 前記決定部で決定された連続したテストライト処理とし
て、分割された個々の分割処理を連続的に一括して実行
し、前記決定部で決定された分割したテストライト処理
として、分割された個々の分割処理を所定のタイミング
で独立に実行するテストライト実行部と、 を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23216097A JP3429166B2 (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | 光学的記憶装置 |
| US09/027,260 US6275462B1 (en) | 1997-08-28 | 1998-02-20 | Optical storage apparatus |
| DE1998113872 DE19813872C2 (de) | 1997-08-28 | 1998-03-29 | Optische Speichervorrichtung |
| US09/898,930 US6526014B2 (en) | 1997-08-28 | 2001-07-02 | Optical storage apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23216097A JP3429166B2 (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | 光学的記憶装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1173669A JPH1173669A (ja) | 1999-03-16 |
| JP3429166B2 true JP3429166B2 (ja) | 2003-07-22 |
Family
ID=16934944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23216097A Expired - Fee Related JP3429166B2 (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | 光学的記憶装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US6275462B1 (ja) |
| JP (1) | JP3429166B2 (ja) |
Families Citing this family (35)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001143266A (ja) * | 1999-11-17 | 2001-05-25 | Tdk Corp | 光記録方法 |
| US6557126B1 (en) * | 2000-01-31 | 2003-04-29 | Oak Technology, Inc. | Method and apparatus for calibrating write power |
| JP3800022B2 (ja) * | 2000-04-07 | 2006-07-19 | ティアック株式会社 | 光ディスク記録装置 |
| JP3926967B2 (ja) | 2000-05-19 | 2007-06-06 | 富士通株式会社 | 記憶装置 |
| CN1336639A (zh) * | 2000-05-22 | 2002-02-20 | 松下电器产业株式会社 | 光盘装置 |
| JP3765223B2 (ja) * | 2000-05-23 | 2006-04-12 | ヤマハ株式会社 | 光ディスク記録方法および光ディスク記録装置 |
| JP2002025139A (ja) * | 2000-07-06 | 2002-01-25 | Fujitsu Ltd | 情報記憶装置及び情報記憶方法 |
| JP3795738B2 (ja) * | 2000-09-29 | 2006-07-12 | 富士通株式会社 | 記録媒体の回転制御方法及び記憶装置 |
| JP3762629B2 (ja) | 2000-09-29 | 2006-04-05 | 富士通株式会社 | トラックジャンプ方法及び記憶装置 |
| JP2002109822A (ja) | 2000-09-29 | 2002-04-12 | Fujitsu Ltd | 回転制御方法及び記憶装置 |
| WO2002043065A2 (en) * | 2000-11-27 | 2002-05-30 | T.T.R. Technologies Ltd. | A copy protected dvd disc and method for producing and validating same |
| KR20020079820A (ko) * | 2000-12-04 | 2002-10-19 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 최적 기록전력을 결정하기 위한 방법 및 광 기록장치 |
| JP3883100B2 (ja) | 2001-05-30 | 2007-02-21 | 富士通株式会社 | トラッキング制御方法及び記憶装置 |
| JP2003015897A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-17 | Yamaha Corp | 制御装置、メディア記録装置、制御方法、制御プログラム、およびメモリ書換えプログラム |
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1997
- 1997-08-28 JP JP23216097A patent/JP3429166B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-02-20 US US09/027,260 patent/US6275462B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-07-02 US US09/898,930 patent/US6526014B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1173669A (ja) | 1999-03-16 |
| US20020036962A1 (en) | 2002-03-28 |
| US6526014B2 (en) | 2003-02-25 |
| US6275462B1 (en) | 2001-08-14 |
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Legal Events
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| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |