JP3417602B2

JP3417602B2 - 眼科用測定装置

Info

Publication number: JP3417602B2
Application number: JP15227093A
Authority: JP
Inventors: 良一矢萩
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 1993-06-23
Filing date: 1993-06-23
Publication date: 2003-06-16
Anticipated expiration: 2018-06-16
Also published as: JPH07136115A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、幾何光学的原理を利用
して角膜頂点の位置を測定する角膜距離測定系と、物理
光学的原理を利用して眼内測定対象物の位置を測定する
干渉光学系とを備え、眼内測定対象物の位置を測定する
眼科用測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、眼科用測定装置には、幾何光
学的原理を利用して角膜頂点の位置を測定する角膜距離
測定系と、物理光学的原理を利用して眼内測定対象物の
位置を測定する干渉光学系とを備え、眼内測定対象物か
ら角膜頂点位置までの長さを測定するものが知られてい
る。

【０００３】この種の眼科用測定装置では、干渉光学系
を利用して眼内測定対象物の位置を測定するために、測
定光束を眼内測定対象物に照射することにより得られる
眼内測定対象物からの反射光束を観測して、干渉信号を
得ている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、被検眼の眼
球（眼内測定対象物）に異常屈折、偏光特性が存在しな
い場合には、眼内測定対象物により反射された測定光と
被検眼対応参照面で反射された参照光とをそのまま干渉
させることにより、コントラストの良好な干渉信号を得
ることができる。

【０００５】しかしながら、被検眼の眼球には複屈折性
が存在する。この場合には、直線偏光の測定光を用いた
としても、眼内測定対象物により反射された測定光が常
光線と異常光線との２つの偏光光束となるため、これら
２つの偏光光束の間で位相差が生じる。また、眼内測定
対象物が眼底の場合、網膜に存在する視神経繊維、血管
等のため、途中に存在する水晶体、角膜も繊維状又は膜
状となつているため、眼底からの反射光束が偏光光束と
なる。

【０００６】この種の偏光が存在すると、眼内測定対象
物により反射された測定光の偏光方向と眼内測定対象物
に入射する測定光の偏光方向とが不一致の場合、特に眼
内測定対象物からの反射光量が少ない場合に眼内測定対
象物により反射された測定光と被検眼対応参照面により
反射された参照光とを干渉させたときに、受光素子から
得られる干渉信号のコントラストが低下し、正確な生体
眼の寸法の測定ができなくなる。被検眼に白内障眼等の
疾患が存在する場合にこのような干渉信号のコントラス
トの低下がとりわけ生じる。

【０００７】本件出願人は、先に特願平４−８１９８１
号（発明の名称；眼軸長測定装置；平成４年４月３日）
において、被検眼の眼球に複屈折性が存在することを考
慮してバビネ補償板を干渉光学系の光路に設ける試みを
提案しているが、眼球に偏光特性が存在する場合までも
補償できるものではなかった。

【０００８】本発明は上記の事情を考慮して為されたも
のであり、眼球の偏光特性と複屈折性とに影響されずに
コントラストの良好な干渉信号が得られる眼科用測定装
置を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明に係わる請求項１
に記載の眼科用測定装置は、上記の課題を解決するた
め、測定のための光束を射出する測定光源部と、該測定
光源部から射出された光束を被検眼内を経由する測定光
と被検眼対応参照面を経由する参照光とに分割して、測
定光路と参照光路とを形成すると共に、該測定光路と該
参照光路とを合成して干渉光路を形成するビームスプリ
ッタを含む干渉光学系と、前記被検眼内の測定対象物に
より反射された測定光と前記被検眼対応参照面により反
射された参照光とによる干渉光を受光する受光素子を有
する眼科用測定装置において、前記測定光源部は直線偏
光の光束を射出するものとし、被検眼に円偏光の光束と
して入射させるために前記測定光路に設けられた円偏光
子と、前記参照光路中に偏光方向を変更可能に設けられ
た移相子と、前記ビームスプリッタと前記受光素子との
間に設けられた検光子とを有し、前記移相子と前記検光
子とが光軸回りに回転可能であることを特徴とする。本
発明に係わる請求２に記載の眼科用測定装置は、上記の
課題を解決するため、幾何光学的原理を利用して角膜頂
点位置を測定する角膜距離測定系と、物理光学的原理を
利用して眼内測定対象物の位置を測定する干渉光学系と
を備え、該干渉光学系には測定光源部から出射された光
束を被検眼内を経由する測定光と被検眼対応参照面を経
由する参照光とに分割して測定光路と参照光路とを形成
すると共に該測定光路と該参照光路とを合成して干渉光
路を形成するビームスプリッタが設けられ、前記干渉光
路には前記眼内測定対象物により反射された測定光と前
記被検眼対応参照面により反射された参照光とによる干
渉光を受光する受光素子が設けられ、眼内測定対象物か
ら角膜頂点位置までの長さを測定する眼科用測定装置に
おいて、前記測定光源部から出射された光束が直線偏光
であり、前記測定光路に円偏光子が設けられ、前記参照
光路中に偏光方向を変更可能に移相子が設けられ、前記
ビームスプリッタと前記受光子との間に検光子が設けら
れ、前記移相子と前記検光子とが光軸回りに回転可能で
あることを特徴とする。

【００１０】

【００１１】

【作用】本発明によれば、測定光源部は直線偏光の光束
を出射する。干渉光学系に設置のビームスプリッタはそ
の光束を被検眼内を経由する測定光と被検眼対応参照反
射面を経由する参照光とに分割する。測定光は円偏光子
を介して眼内測定対象物に導かれ、参照光は移相子を介
して被検眼対応参照面に導かれ、眼内測定対象物により
反射された測定光と被検眼対応参照面により反射された
参照光とは再びビームスプリッタにより合成されて干渉
光となる。受光素子はその干渉光を受光する。

【００１２】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。

【００１３】図１において、１００は角膜距離測定系、
１０１は干渉光学系、１０２は被検眼角膜にリング状の
光束を照射するリング状光源投影部、１０３は被検眼、
１０４は対物レンズである。

【００１４】角膜距離測定系１００は、第１光路１０
５、第２光路１０６を有している。第１光路１０５は二
次元イメージセンサ１０７、結像レンズ１０８、ハーフ
ミラー１０９、絞り１１０、レンズ１１１、全反射ミラ
ー１１２、レンズ１１３、ハーフミラー１１４、ダイク
ロイックミラー１１５、対物レンズ１０４から大略構成
されている。第２光路１０６は、全反射ミラー１１６、
レンズ１１７、全反射ミラー１１８，１１９、絞り１２
４から大略構成されている。

【００１５】リング状光源投影部１０２は、リング状光
源とパターン板（図示を略す）とからなり、ここでは、
メリジオナル横断光線が平行であるような照明光を被検
眼１０３に投影している。この照明光を被検眼１０３に
向かって照射すると、被検眼１０３の角膜１２０にはリ
ング状の虚像１２１が形成される。ここで、リング状光
源投影部１０２の照明光の波長は９００ｎｍ〜１０００
ｎｍである。ダイクロイックミラー１１５は、その照明
光を透過し、後述する測定光源部から出射された所定波
長の光束を反射する役割を果たす。

【００１６】角膜１２０による反射光は、対物レンズ１
０４、ダイクロイックミラー１１５を介してハーフミラ
ー１１４に導かれ、第１光路１０５と第２光路１０６と
に分岐される。第１光路１０５に導かれた反射光は、レ
ンズ１１３に基づきいったんリング状の空中像１２２と
して結像され、更に、全反射ミラー１１２、レンズ１１
１、絞り１１０、ハーフミラー１０９、結像レンズ１０
８を経由して、二次元イメージセンサ１０７にリング像
ｉ₂（図２参照）として結像される。なお、このリング
像ｉ₂の結像倍率は、ここでは０．５倍とする。第２光
路１０６に導かれた反射光は、全反射ミラー１１９によ
り反射され、対物レンズ１０４に基づき一旦空中像１２
３として結像され、全反射ミラー１１８、レンズ１１
７、全反射ミラー１１６、絞り１２４、ハーフミラー１
０９、結像レンズ１０８を経由して、二次元イメージセ
ンサ１０７にリング像ｉ₁として結像される。このリン
グ像ｉ₁の結像倍率は、リング像ｉ₂の結像倍率よりも大
きく設定されている。

【００１７】絞り１１０は、レンズ１１１、レンズ１１
３によって対物レンズ１０４の後方焦点位置付近にリレ
ーされ、共役像１２５がその対物レンズ１０４の後方焦
点位置に形成され、第１光路１０５の光学系は物体側に
テレセントリックである。絞り１２４は、レンズ１１７
によって被検眼１０３の前方（対物レンズ１０４の前
方）にリレーされ、ここでは、その共役像（実像）１２
６が被検眼１０３の前方２５ｍｍ〜５０ｍｍの個所に形
成される。

【００１８】この角膜距離測定系１００を用いての角膜
頂点１２０Ｐの位置は、二次元受光素子１０７に結像さ
れたリング状の像ｉ₂，ｉ₁に基づき求められ、その詳細
は特願平２−１４５１０７号（発明の名称：眼内長さ測
定装置：出願日平成２年５月３１日；特開平４−３５
６３７号公報）に記載されているのでその詳細な説明は
割愛する。

【００１９】次に、干渉光学系１０１について、図１及
び図３、図４を参照しつつ説明する。

【００２０】干渉光学系１０１は測定光源１３０、直線
偏光子の役割を果たす偏光ビームスプリッタ１９０、レ
ンズ１３３から構成され、これらは測定光源部を構成し
ている。測定光源１３０には、低コヒーレント長のもの
で、そのコヒーレント長が例えば、０．０５ｍｍ〜０．
１ｍｍ程度のものを使用する。その測定光源１３０はレ
ーザー駆動部１５３により駆動される。

【００２１】測定光源１３０から出射された光束Ｑは図
３に示すように偏光ビームスプリッタ１９０によって直
線偏光（ここでは、Ｐ波）とされる。このＰ偏光の光束
Ｑはレンズ１３３によってピンホール１３４に収束され
る。ピンホール１３４は準点光源としての役割を果た
す。ピンホール１３４を通過した光束Ｑはビームスプリ
ッタ１３５に導かれる。

【００２２】ビームスプリッタ１３５は、測定光源部か
ら出射された光束Ｑを被検眼内を経由する測定光と被検
眼対応参照面を経由する参照光とに分割して測定光路１
７１と参照光路１７４とを形成すると共にこの測定光路
１７１と参照光路１７４とを合成して干渉光路１７３
（図１、図４を参照）を形成する。

【００２３】測定光路１７１にはレンズ１３６、合焦レ
ンズ１３７、ダイクロイックミラー１１５、対物レンズ
１０４、１／４波長板１９１が設けられている。参照光
路１７４にはコリメートレンズ１３８、全反射ミラー１
７２、移相子としての１／４波長板１９２、被検眼対応
参照面としての可動参照ミラー１７６が設けられてい
る。干渉光路１７３にはピンホール１４０、レンズ１４
１、検光子１９３、受光素子１４２が設けられている。

【００２４】レンズ１３６は、ビームスプリッタ１３５
によって反射された光束ををコリメートする役割を果た
す。レンズ１３６によってコリメートされた光束は測定
光として合焦レンズ１３７に導かれる。合焦レンズ１３
７は光軸方向に移動可能とされ、被検眼１０３に対する
屈折力補正光学系としての役割を果たす。２００はその
合焦レンズ１３７の駆動モータである。

【００２５】合焦レンズ１３７を通過した測定光は、ダ
イクロイックミラー１１５、対物レンズ１０４を通り、
偏光方向の軸が４５°に固定の１／４波長板１９１に導
かれる。１／４波長板１９１は円偏光子として機能し、
合焦レンズ１３７を通過した測定光は右回りの円偏光と
して被検眼１０３に導かれ、眼内測定対象物としての眼
底１５２に収束される。

【００２６】右回りの円偏光の測定光が眼底１５２で反
射されると、仮に眼球が複屈折性を有していないとする
と、図４に示すように左回りの円偏光となる。この左回
りの円偏光の測定光は１／４波長板１９１を通過すると
Ｓ波の直線偏光となる。すなわち、被検眼１０３に入射
する測定光の偏光方向と眼底１５２により反射された測
定光の偏光方向とが９０°ずれることになる。合焦レン
ズ１３７は、眼底１５２より反射された測定光をコリメ
ートする機能を果たし、このコリメートされた測定光は
レンズ１３６、ビームスプリッタ１３５を経由してピン
ホール１４０にリレーされる。ピンホール１４０は、ピ
ンホール１３４とビームスプリッタ１３５との反射面に
関して共役位置に設けられ、被検眼１０３に対して対物
レンズ１０４の光軸が多少ずれても眼底１５２により反
射された測定光はピンホール１４０を通過できる。

【００２７】ビームスプリッタ１３５を通過した光束は
コリメートレンズ１３８に参照光として導かれる。参照
光はコリメートレンズ１３８により平行光束とされ、全
反射ミラー１７２で反射されて１／４波長板１９２に導
かれる。１／４波長板１９２は偏光方向の軸が４５°に
設定されている。この１／４波長板１９２は移相子とし
て機能する。

【００２８】その参照光は１／４波長板１９２により右
回りの円偏光とされ、可動参照ミラー１７６に導かれ
る。可動参照ミラー１７６は、参照光路１７４の光路長
と測定光路１７１の測定光路長とが同じになるように移
動される。

【００２９】可動参照ミラー１７６により反射された参
照光は、その反射に基づき左回りの円偏光となる。この
左回りの円偏光の参照光は１／４波長板１９２によりＳ
波の直線偏光となる。このＳ波の参照光は、ビームスプ
リッタ１３５を経由し、ビームスプリッタ１３５により
反射されてＳ波の測定光と合成され、干渉光となる。こ
の干渉光はピンホール１４０にリレーされ、そのピンホ
ール１４０を通過した干渉光は、レンズ１４１によって
集光され、検光子１９３を介して受光素子１４２に収束
される。

【００３０】可動参照ミラー１７６を移動させて、参照
光路１７４と測定光路１７１との光路差がコヒーレント
長以下になると、参照光と測定光とが干渉を起こし、可
動参照ミラー１７６の移動速度と測定光源１３０から出
射された光束の発振波長とに応じた干渉信号が受光素子
１４２に得られる。この干渉信号は、参照光路１７４と
測定光路１７１との光路差が測定光源１３０の発振波長
の一波長分変化するごとに正弦波的に変化し、参照光路
１７４と測定光路１７１との光路長が等しくなった時、
最も強い干渉が得られる。つまり、最も強い干渉が得ら
れた時の参照光路１７４の光路長が測定光路１７１の光
路長に等しく、このときの可動参照ミラー１７６の位置
がビームスプリッタ１３５の反射面に対して眼底１５２
と同一の位置になる。しかし、眼球には複屈折性があ
り、眼球に円偏光で入射しても眼底１５２からの反射光
はいかなる偏光状態になるかを予測できない。

【００３１】この眼底１５２に入射する測定光Ｑの偏光
状態とは異なる偏光状態を有する測定光と可動参照ミラ
ー１７６により反射された直線偏光の参照光とを干渉さ
せると、位相差を有する２偏光による位相成分が混ざり
合うことになるので、複屈折性がない場合に比べて干渉
信号のコントラストが低下する。

【００３２】ここで、Ｐ波の直線偏光成分を有する参照
光を１／４波長板１９２に入射させる時に、その１／４
波長板１９２の偏光方向の軸をＰ波の直線偏光の軸から
θ°回転させると、可動参照ミラー１７６で反射されて
再び１／４波長板１９２に戻ってこの１／４波長板１９
２を透過した参照光束は、Ｐ波の直線偏光の軸から２倍
のθ°だけ回転した直線偏光成分を有する参照光束とな
る。

【００３３】そこで、眼底１５２により反射された測定
光と参照光との干渉により得られる干渉信号のコントラ
ストが最も大きくなるように、パルスモータＭ₁によ
り、１／４波長板１９２をその光軸回りに回転させると
同時に、２光束による干渉成分のみが得られるように、
パルスモータＭ₂により検光子１９３をその光軸回りに
回転させる。このパルスモータＭ₁、Ｍ₂は制御回路１５
７により同期駆動される。

【００３４】次に、図５を参照しつつ信号処理の詳細を
説明する。

【００３５】眼底１５２により反射された測定光は、参
照光に比べて微弱光であり、光量差が大きい。しかし、
両光束を干渉させて干渉信号として測定するので、受光
素子１４２の暗電流に基づくノイズ成分等を除去するこ
とができ、効率よく信号成分を検出することができる。
そのため、増幅器１５０は、受光素子１４２の干渉信号
の交流成分のみを増幅する。

【００３６】この時得られる干渉信号Ｃ₄は、図６に示
すように０Ｖを中心とする交流波形となるが、ショット
ノイズ等のランダムノイズに埋もれている。このため、
このままでは、干渉信号Ｃ₄が得られた時点の可動参照
ミラー１７６の位置を検出することが困難である。

【００３７】しかしながら、干渉信号Ｃ₄の周波数ｆ
は、可動参照ミラー１７６の移動速度Ｖと、測定光源１
３０の発信波長λ₀とが既知であれば、下記の式により
求めることができる。

【００３８】ｆ＝２・Ｖ／λ₀ ここで、可動参照ミラー１７６の移動量を適宜に設定
し、測定中の移動速度Ｖを一定と考えれば、周波数ｆに
中心周波数を有するバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）１７
９を使用することにより、ランダムノイズから干渉信号
Ｃ₄のみを抽出できる。

【００３９】可動参照ミラー１７６の位置を横軸にと
り、受光素子１４２の出力電圧を縦軸にとると、バンド
パスフィルタ１７９から図６に示す干渉信号Ｃ₄が得ら
れる。この干渉信号Ｃ₄は、全波整流回路１８０に入力
され、図７に示す整流波形Ｃ₅に波形整形される。その
整流波形Ｃ₅は、平滑回路１８１に入力され、図８に示
す平滑波形Ｃ₆とされる。

【００４０】平滑波形Ｃ₆は、ピークホールド回路１８
２を介して比較回路１８３に入力されると共に、Ａ／Ｄ
コンバータ１８９に入力される。ピークホールド回路１
８２は、平滑波形Ｃ₆よりもΔＶだけ低い電圧をピーク
電圧として保持し、この保持電圧を出力する。すなわ
ち、ピークホールド回路１８２は、図９に示すような波
形Ｃ₇を出力する。比較回路１８３は、波形Ｃ₆と波形Ｃ
₇を比較し、波形Ｃ₇が波形Ｃ₆よりも大きくなった位置
Ｘ₀で、出力がＬからＨになり、ステップ信号Ｃ₈を出力
することになる。

【００４１】ここで、ΔＶが平滑波形Ｃ₆の出力ピーク
レベルＶに対して十分に小さければ、比較回路１８３の
出力信号の反転する位置Ｘ₀の本来のピーク位置Ｘ_pとの
ずれ量としてのｄを十分に小さいと考えてよく、比較回
路１８３の出力信号が反転する時の可動参照ミラー１７
６の位置Ｘ₀を干渉が最も強く生じた時点の可動参照ミ
ラー１７６の位置とみなしてよい。

【００４２】比較回路１８３の出力信号は、ラッチ回路
１８４、制御回路１５７に入力される。可動参照ミラー
１７６は、ユニット駆動部１８５により駆動され、位置
検出回路１８６でその位置データを検出可能な構成とさ
れている。ラッチ回路１８４は、可動参照ミラー１７６
の移動量を表す位置検出回路１８６の位置データをラッ
チする。

【００４３】位置検出回路１８６は、例えば、ユニット
駆動部１８５のモータの回転に伴ってパルス列を出力す
るエンコーダの出力信号をカウントし、そのカウント数
から可動参照ミラー１７６の移動量を検出する構成とす
ればよい。また、可動参照ミラー１７６に直接セットさ
れたリニアエンコーダの出力信号をカウントしてもよ
い。

【００４４】従って、ラッチ回路１８４は、干渉信号Ｃ
₄が最も強く現れた時の可動参照ミラー１７６の位置デ
ータを保存する。その位置データは、演算部１２９に入
力され、基準位置から眼内測定対象物１５２までの距離
が測定される。また、角膜距離測定系１００により、基
準位置から角膜頂点１２０Ｐまでの距離を測定すること
が可能なため、両測定結果から生体眼の寸法を測定する
ことができる。

【００４５】しかし、実際の測定は、移相子としての１
／４波長板１９２、検光子１９３の回転調節の作業を行
ってから測定する。測定結果は、表示部１６４に表示さ
れる。

【００４６】ここで、被検眼１０３の微動の影響を除去
するために、両測定が同時に行われる必要があるが、比
較回路１８３の出力信号を角膜距離測定系１００のスタ
ート信号として使用し、制御回路１５７がスタート信号
を検出すると同時に、二次元イメージセンサ１０７のリ
ング像ｉ１，ｉ２のデータをフレームメモリ１６３に取
り込むことにより、同時測定を行うことができる。

【００４７】バンドパスフィルタ１７９、全波整流回路
１８０、平滑回路１８１、ピークホールド回路１８２、
比較回路１８３を有する波形整形回路１７８は、角膜距
離測定系１００のスタート信号生成部１７８としての機
能を果たす。

【００４８】次に、１／４波長板１９２、検光子１９３
の回転制御について説明する。

【００４９】１／４波長板操作部１９４から制御回路１
５７へ回転駆動信号を送ると、制御回路１５７はパルス
モータＭ₁、Ｍ₂を駆動し、１／４波長板１９２と検光子
１９３とが回転される。その１／４波長板１９２、検光
子１９３の回転速度は、可動参照ミラー１７６の移動速
度と合焦レンズ１３７の移動速度とに同期しない速度と
する。

【００５０】即ち、可動参照ミラー１７６の一行程期間
（可動参照ミラー１７６が移動可能とされている範囲の
端から端まで移動するのに必要な期間）と合焦レンズ１
３７の一行程期間（合焦レンズ１３７が移動可能とされ
る範囲の端から端まで移動するのに必要な期間）に差を
もたせる必要がある。

【００５１】ここで、可動参照ミラー１７６の一行程期
間が合焦レンズ１３７の一行程期間よりも充分短いか又
はその逆で充分に長い場合、すなわち、この差を大きく
することによって、測定時間を短縮することができる。

【００５２】１／４波長板１９２の軸を０°〜９０°回
転すると、１／４波長板１９２に入射する前の参照光の
直線偏光の方向に対して可動参照ミラー１７６により反
射されて再び１／４波長板１９２に戻り、この１／４波
長板１９２を透過した後の参照光の直線偏光の方向は光
軸回りに０°〜１８０°回転することとなる。

【００５３】従って、眼底１５２により反射された測定
光の偏光状態が楕円偏光であれば、楕円の長径に合わせ
るように１／４波長板１９２と検光子１９３を回転しさ
えすれば、受光素子１４２からコントラストの良好な干
渉信号が得られる。これにより、眼底１５２からの測定
光の反射光量が最大になるのがどの偏光方向であっても
対応できることになる。

【００５４】そこで、１／４波長板１９２を０°〜９０
°、検光子１９３を０°〜１８０°まで回転させ、受光
素子１４２から出力される干渉信号を増幅器１５０、バ
ンドパスフィルタ１７９、全波整流回路１８０、平滑回
路１８１を介してＡ／Ｄコンバータ１８９に導き、Ａ／
Ｄコンバータ１８９によりデータ変換して制御回路１５
７に干渉信号のデータを蓄積し、この干渉信号のデータ
のうち受光量が最大となる１／４波長板１９２、検光子
１９３の回転角を抽出し（干渉信号のコントラストが最
も良好なときの１／４波長板１９２、検光子１９３の回
転角を抽出し）、この１／４波長板１９２、検光子１９
３の回転角位置にこれらを事前にセットする。そして、
制御回路１５７は、その後、生体眼の実際の寸法測定に
入ることにする。

【００５５】なお、符号１６０はピークホールドレベル
を表示するレベル表示回路、１６２は二次元イメージセ
ンサ１０７からデータが入力されるゲートアレー、符号
１６３はフレームメモリー、符号１７０はモニターテレ
ビである。

【００５６】なお、生体眼の寸法は、装置光学系から角
膜頂点までの位置と装置光学系から眼内測定対象物まで
の位置に基づき求められるが、その詳細については、特
願平２−１４５１０７５号に記載されているので、説明
は割愛する。また、測定・演算の詳細については、特願
平３−２７９６９７号（発明の名称；視度調整機能付眼
軸長測定装置；平成３年１０月２５日出願；国内優先に
よる取り下げ）及び特願平４−２８６１０９号（発明の
名称；屈折力補正機能付生体眼寸法測定装置；特願平３
−２７９６９７号に基づく国内優先権主張出願；平成４
年１０月２３日出願）に記載されているので、説明は割
愛する。

【００５７】本発明はこれに限定されるものではなく、
他の方式、例えば干渉光学系の測定光源１３０の可干渉
距離が長くかつ波長変化が可能な光源により角膜１２０
Ｐから眼内測定対象物１５２までの距離を測る生体眼寸
法測定装置などにも適用することができる。

【００５８】

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成した
ので、眼球の偏光特性と複屈折性とに影響されずに確実
に眼内測定対象物から反射光が得られ、その結果、正確
に生体眼の寸法を測定することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例に係る眼科用測定装置の光学図
である。

【図２】二次元イメージセンサに結像された２重のリン
グ像を示す説明図である。

【図３】被検眼および可動参照ミラーへの入射光束の偏
光状態を示す模式図である。

【図４】被検眼および可動参照ミラーからの反射光束の
偏光状態を示す模式図である。

【図５】本発明の眼科用測定装置のブロック回路図であ
る。

【図６】干渉信号を示す波形図である。

【図７】干渉信号の整流波形図である。

【図８】干渉信号の整流波形を平滑した波形図である。

【図９】図７に示す波形のピークホールドを検出するた
めの説明図である。

【符号の説明】

１３０測定光源１３５ビームスプリッタ１７１測定光路１７３干渉光路１７４参照光路１９０偏光ビームスプリッタ（直線偏光子）１９１１／４波長板（円偏光子）１９２１／４波長板（移相子）１９３検光子

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】測定のための光束を射出する測定光源部
と、該測定光源部から射出された光束を被検眼内を経由する
測定光と被検眼対応参照面を経由する参照光とに分割し
て、測定光路と参照光路とを形成すると共に、該測定光
路と該参照光路とを合成して干渉光路を形成するビーム
スプリッタを含む干渉光学系と、前記被検眼内の測定対象物により反射された測定光と前
記被検眼対応参照面により反射された参照光とによる干
渉光を受光する受光素子を有する眼科用測定装置におい
て、前記測定光源部は直線偏光の光束を射出するものとし、被検眼に円偏光の光束として入射させるために前記測定
光路に設けられた円偏光子と、前記参照光路中に偏光方
向を変更可能に設けられた移相子と、前記ビームスプリ
ッタと前記受光素子との間に設けられた検光子とを有
し、前記移相子と前記検光子とが光軸回りに回転可能で
あることを特徴とする。
【請求項２】幾何光学的原理を利用して角膜頂点位置
を測定する角膜距離測定系と、物理光学的原理を利用し
て眼内測定対象物の位置を測定する干渉光学系とを備
え、該干渉光学系には測定光源部から出射された光束を
被検眼内を経由する測定光と被検眼対応参照面を経由す
る参照光とに分割して測定光路と参照光路とを形成する
と共に該測定光路と該参照光路とを合成して干渉光路を
形成するビームスプリッタが設けられ、前記干渉光路に
は前記眼内測定対象物により反射された測定光と前記被
検眼対応参照面により反射された参照光とによる干渉光
を受光する受光素子が設けられ、眼内測定対象物から角
膜頂点位置までの長さを測定する眼科用測定装置におい
て、前記測定光源部から出射された光束が直線偏光であり、
前記測定光路に円偏光子が設けられ、前記参照光路中に
偏光方向を変更可能に移相子が設けられ、前記ビームス
プリッタと前記受光子との間に検光子が設けられ、前記
移相子と前記検光子とが光軸回りに回転可能であること
を特徴とする眼科用測定装置。