JP3495783B2 - エンコーダ - Google Patents
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- JP3495783B2 JP3495783B2 JP12452794A JP12452794A JP3495783B2 JP 3495783 B2 JP3495783 B2 JP 3495783B2 JP 12452794 A JP12452794 A JP 12452794A JP 12452794 A JP12452794 A JP 12452794A JP 3495783 B2 JP3495783 B2 JP 3495783B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 35
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 21
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 2
- 239000012858 resilient material Substances 0.000 claims 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
- G01D5/38—Forming the light into pulses by diffraction gratings
Landscapes
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はエンコーダに関する。本
発明は特に移動物体(スケール)に取り付けた回折格子
等の微細格子列にレーザ光等の可干渉性光束を入射さ
せ、該回折格子からの所定次数の回折光を互いに干渉さ
せて干渉縞を形成し、該干渉縞の明暗の縞を計数するこ
とによって回折格子の移動情報、例えば移動量、移動方
向、加速度、そして角加速度等を測定するロータリーエ
ンコーダやリニアエンコーダ等のエンコーダに良好に適
用できる。
発明は特に移動物体(スケール)に取り付けた回折格子
等の微細格子列にレーザ光等の可干渉性光束を入射さ
せ、該回折格子からの所定次数の回折光を互いに干渉さ
せて干渉縞を形成し、該干渉縞の明暗の縞を計数するこ
とによって回折格子の移動情報、例えば移動量、移動方
向、加速度、そして角加速度等を測定するロータリーエ
ンコーダやリニアエンコーダ等のエンコーダに良好に適
用できる。
【0002】
【従来の技術】従来よりNC工作機械等における回転物
体の回転量や回転方向等の回転情報を高精度に、例えば
サブミクロンの単位で測定することのできる測定器とし
てロータリーエンコーダがあり、各方面で使用されてい
る。
体の回転量や回転方向等の回転情報を高精度に、例えば
サブミクロンの単位で測定することのできる測定器とし
てロータリーエンコーダがあり、各方面で使用されてい
る。
【0003】特に高精度でかつ高分解能のロータリーエ
ンコーダとして、レーザ等の可干渉性光束を移動物体に
設けた回折格子に入射させ、該回折格子から生ずる所定
次数の回折光を互いに干渉させ、該干渉縞の明暗を計数
することにより、該移動物体の移動量や移動方向等の移
動状態を求めた回折光干渉方式のロータリーエンコーダ
が良く知られている。
ンコーダとして、レーザ等の可干渉性光束を移動物体に
設けた回折格子に入射させ、該回折格子から生ずる所定
次数の回折光を互いに干渉させ、該干渉縞の明暗を計数
することにより、該移動物体の移動量や移動方向等の移
動状態を求めた回折光干渉方式のロータリーエンコーダ
が良く知られている。
【0004】又、弾性体の弾性変形を測定することによ
って加速度を検出する加速度計が、例えば特開平4−2
64264号公報で提案されている。特に高精度な加速
度の検出を目的とした加速度計として、回折光干渉方式
のエンコーダを利用した加速度検出器が提案されてい
る。又、角加速度を検出する角加速度計として圧電振動
子式、光ファイバ式のジャイロスコープ等の角加速度計
が提案されている。
って加速度を検出する加速度計が、例えば特開平4−2
64264号公報で提案されている。特に高精度な加速
度の検出を目的とした加速度計として、回折光干渉方式
のエンコーダを利用した加速度検出器が提案されてい
る。又、角加速度を検出する角加速度計として圧電振動
子式、光ファイバ式のジャイロスコープ等の角加速度計
が提案されている。
【0005】図9は従来の回折光干渉方式のロータリー
エンコーダの一部分の要部概略図である。
エンコーダの一部分の要部概略図である。
【0006】同図においては光源101から射出した単
色の光束をスケール(ディスク)105a上の回折格子
等から成る格子ピッチP(回折格子列の1周の本数が
N)の微細格子列105に入射させて複数個の回折光を
発生させている。このとき直進する光束の次数を0とし
て、その両脇に±1,±2,±3・・・のような次数の
回折光を定義し、更にスケール105aの回転方向を
+、逆方向を−の符号を付けて区別することにする。そ
うするとn次の回折光の波面の位相は0次光の波面に対
してスケール105aの回転角度をθ(deg)とする
と 2π・n・N・θ/360 だけずれるという性質がある。
色の光束をスケール(ディスク)105a上の回折格子
等から成る格子ピッチP(回折格子列の1周の本数が
N)の微細格子列105に入射させて複数個の回折光を
発生させている。このとき直進する光束の次数を0とし
て、その両脇に±1,±2,±3・・・のような次数の
回折光を定義し、更にスケール105aの回転方向を
+、逆方向を−の符号を付けて区別することにする。そ
うするとn次の回折光の波面の位相は0次光の波面に対
してスケール105aの回転角度をθ(deg)とする
と 2π・n・N・θ/360 だけずれるという性質がある。
【0007】そこで異なる次数の回折光同士は互いに波
面の位相がずれているから適当な光学系によって2つの
回折光の光路を重ね合わせて干渉させると、明暗信号が
得られる。
面の位相がずれているから適当な光学系によって2つの
回折光の光路を重ね合わせて干渉させると、明暗信号が
得られる。
【0008】例えば+1次回折光と−1次回折光とをミ
ラー109a,109bとビームスプリッタ103を用
いて重ね合わせて干渉させるとスケール105aが微細
格子の1ピッチ分(360/N度)だけ回転する間に互
いの位相が4πだけずれていくから2周期の明暗の光量
変化が生じる。従ってこのときの明暗の光量変化を検出
すればスケール105aの回転量を求めることができ
る。
ラー109a,109bとビームスプリッタ103を用
いて重ね合わせて干渉させるとスケール105aが微細
格子の1ピッチ分(360/N度)だけ回転する間に互
いの位相が4πだけずれていくから2周期の明暗の光量
変化が生じる。従ってこのときの明暗の光量変化を検出
すればスケール105aの回転量を求めることができ
る。
【0009】図10はスケール105aの回転量だけで
はなく回転方向も検出するようにした従来の回折光干渉
方式のロータリーエンコーダの一部分の要部概略図であ
る。
はなく回転方向も検出するようにした従来の回折光干渉
方式のロータリーエンコーダの一部分の要部概略図であ
る。
【0010】同図では図9のロータリーエンコーダに比
べて、スケール105aの回転に伴う2つの回折光より
得られる明暗信号を少なくとも2種類用意して、それら
の互いの明暗のタイミングをずらしてスケール105a
の回転方向を検出している。
べて、スケール105aの回転に伴う2つの回折光より
得られる明暗信号を少なくとも2種類用意して、それら
の互いの明暗のタイミングをずらしてスケール105a
の回転方向を検出している。
【0011】即ち、同図では微細格子列105から生ず
るn次回折光とm次回折光とを重ね合わせる前に偏光板
108a,108b等を利用して両光束の偏光面が互い
に直交する直線偏光の光束にしている。そしてミラー1
09a,109bとビームスプリッタ103aを介して
光路を重ね合わせてから1/4波長板107aを透過さ
せて2光束間の位相差で偏光面の方位が決まる直線偏光
に変換している。
るn次回折光とm次回折光とを重ね合わせる前に偏光板
108a,108b等を利用して両光束の偏光面が互い
に直交する直線偏光の光束にしている。そしてミラー1
09a,109bとビームスプリッタ103aを介して
光路を重ね合わせてから1/4波長板107aを透過さ
せて2光束間の位相差で偏光面の方位が決まる直線偏光
に変換している。
【0012】更にそれを非偏光ビームスプリッタ103
bで2つの光束に分割して、それぞれの光束を互いに検
波方位(透過できる直線偏光の方位)がずれるように配
置した偏光板(アナライザ)108c,108dを透過
させ、2つの光束の干渉による明暗のタイミングのずれ
た2種類の明暗信号を検出器110a,110bで検出
している。
bで2つの光束に分割して、それぞれの光束を互いに検
波方位(透過できる直線偏光の方位)がずれるように配
置した偏光板(アナライザ)108c,108dを透過
させ、2つの光束の干渉による明暗のタイミングのずれ
た2種類の明暗信号を検出器110a,110bで検出
している。
【0013】例えばこの2つの偏光板の検波方位を互い
に45°ずらせば明暗のタイミングは位相で表すと90
°(π/2)ずれる。同図のロータリーエンコーダはこ
のときの2つの検出器110a,110bからの信号を
用いてスケール105aの回転方向を含めた回転情報を
検出している。
に45°ずらせば明暗のタイミングは位相で表すと90
°(π/2)ずれる。同図のロータリーエンコーダはこ
のときの2つの検出器110a,110bからの信号を
用いてスケール105aの回転方向を含めた回転情報を
検出している。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】従来のエンコーダにお
いて被測定物体に関して複数の移動情報、例えば回転情
報と直線移動情報とを検出しようとすると、2つの検出
系を各々設けなければならないために装置全体が大型化
及び複雑化する傾向があった。
いて被測定物体に関して複数の移動情報、例えば回転情
報と直線移動情報とを検出しようとすると、2つの検出
系を各々設けなければならないために装置全体が大型化
及び複雑化する傾向があった。
【0015】本発明は被測定物体の複数の移動情報、例
えば1方向の移動情報と1軸回りの回転情報を同時に独
立して高精度に検出することができるエンコーダの提供
を第1の目的とする本発明は、更にこれを利用して1方
向の加速度と1方向の角加速度も同様に高精度に検出す
ることができるエンコーダの提供を他の目的とする。本
発明の更に他の目的は、後述する説明の中で明らかにな
るであろう。
えば1方向の移動情報と1軸回りの回転情報を同時に独
立して高精度に検出することができるエンコーダの提供
を第1の目的とする本発明は、更にこれを利用して1方
向の加速度と1方向の角加速度も同様に高精度に検出す
ることができるエンコーダの提供を他の目的とする。本
発明の更に他の目的は、後述する説明の中で明らかにな
るであろう。
【0016】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明のエンコ
ーダは、第1の回折格子と第2の回折格子を設けた被測
定物体に、光源手段から光束を該第1の回折格子に入射
させ、該第1の回折格子から生じる所定次数の複数の回
折光を該第2の回折格子に入射させ、該第2の回折格子
で回折させた複数の回折光のうち、被測定物体が直線運
動したときに相対的に位相がずれる2光束を干渉させ、
該被測定物体の直線運動を検出する第1の光学系及び第
1の検出系と、被測定物体が回転運動するときに相対的
に位相がずれる2光束を干渉させ、該被測定物体の回転
運動を検出する第2の光学系及び第2の検出系の2つの
移動情報検出系をもつことを特徴としている。
ーダは、第1の回折格子と第2の回折格子を設けた被測
定物体に、光源手段から光束を該第1の回折格子に入射
させ、該第1の回折格子から生じる所定次数の複数の回
折光を該第2の回折格子に入射させ、該第2の回折格子
で回折させた複数の回折光のうち、被測定物体が直線運
動したときに相対的に位相がずれる2光束を干渉させ、
該被測定物体の直線運動を検出する第1の光学系及び第
1の検出系と、被測定物体が回転運動するときに相対的
に位相がずれる2光束を干渉させ、該被測定物体の回転
運動を検出する第2の光学系及び第2の検出系の2つの
移動情報検出系をもつことを特徴としている。
【0017】 請求項2の発明は、請求項1の発明にお
いて前記被測定物体は回転物体より成り、前記第1及び
第2の回折格子は該回転物体の回転軸を中心とする放射
格子より成っていることを特徴としている。 請求項3の発明は、請求項1又は2の発明において前記
被測定物体は回転物体より成り、前記第1及び第2の回
折格子はスケール面内にあって該回転物体の回転軸に直
交する直線に平行の直線格子であることを特徴としてい
る。 請求項4の発明は、請求項1、2又は3の発明において
前記被測定物体は筐体内に設けた弾性体と筐体とからな
り、前記第1の検出系と第2の検出系は該弾性体の筐体
に対する変動を検出して、該筐体に加わる加速度及び角
加速度を検出していることを特徴としている。
いて前記被測定物体は回転物体より成り、前記第1及び
第2の回折格子は該回転物体の回転軸を中心とする放射
格子より成っていることを特徴としている。 請求項3の発明は、請求項1又は2の発明において前記
被測定物体は回転物体より成り、前記第1及び第2の回
折格子はスケール面内にあって該回転物体の回転軸に直
交する直線に平行の直線格子であることを特徴としてい
る。 請求項4の発明は、請求項1、2又は3の発明において
前記被測定物体は筐体内に設けた弾性体と筐体とからな
り、前記第1の検出系と第2の検出系は該弾性体の筐体
に対する変動を検出して、該筐体に加わる加速度及び角
加速度を検出していることを特徴としている。
【0018】 請求項5の発明のエンコーダは、被測定
物体に対して第1の回折格子と第2の回折格子の2つの
回折格子を設け、光源手段からの光束を該第1の回折格
子に入射させ、該第1の回折格子から生じる所定次数の
複数の回折光を該第2の回折格子に入射させ、該第2の
回折格子から生じる所定次数の複数の回折光のうち該2
つの回折格子が格子方向と直交する方向に共に移動する
ときに相対的に位相がずれる2光束を干渉させて、該干
渉信号を検出する第1の検出系と、該第2の回折格子か
ら生じる所定次数の複数の光束のうち該2つの回折格子
が格子方向と直交する方向に互いに逆方向に移動すると
きに相対的に位相がずれる2光束を干渉させて、該干渉
信号を検出する第2の検出系とを設け、該第1の検出系
と第2の検出系から得られる信号を利用して該被測定物
体の移動情報を検出していることを特徴としている。
物体に対して第1の回折格子と第2の回折格子の2つの
回折格子を設け、光源手段からの光束を該第1の回折格
子に入射させ、該第1の回折格子から生じる所定次数の
複数の回折光を該第2の回折格子に入射させ、該第2の
回折格子から生じる所定次数の複数の回折光のうち該2
つの回折格子が格子方向と直交する方向に共に移動する
ときに相対的に位相がずれる2光束を干渉させて、該干
渉信号を検出する第1の検出系と、該第2の回折格子か
ら生じる所定次数の複数の光束のうち該2つの回折格子
が格子方向と直交する方向に互いに逆方向に移動すると
きに相対的に位相がずれる2光束を干渉させて、該干渉
信号を検出する第2の検出系とを設け、該第1の検出系
と第2の検出系から得られる信号を利用して該被測定物
体の移動情報を検出していることを特徴としている。
【0019】
【0020】
【実施例】図1は本発明の実施例1の要部概略図であ
る。本実施例は被測定物体(剛体、スケールともい
う。)5に2つの反射型の回折格子を設け、該被測定物
体の移動情報及び回転情報を検出する場合を示してい
る。
る。本実施例は被測定物体(剛体、スケールともい
う。)5に2つの反射型の回折格子を設け、該被測定物
体の移動情報及び回転情報を検出する場合を示してい
る。
【0021】図1において、1はP偏光とS偏光の両方
の可干渉光束を放射する光源(例えば偏光面を45度傾
けた半導体レーザ)である。光源1からの光束をコリメ
ータレンズ2によって整形した後、偏光面を光軸に対し
て45度の角度で配置した第1の偏光ビームスプリッタ
3aによって、S偏光LSとP偏光LPに分離してい
る。ここで偏光ビームスプリッタ3aはP偏光を透過
し、S偏光を反射するようにしている。
の可干渉光束を放射する光源(例えば偏光面を45度傾
けた半導体レーザ)である。光源1からの光束をコリメ
ータレンズ2によって整形した後、偏光面を光軸に対し
て45度の角度で配置した第1の偏光ビームスプリッタ
3aによって、S偏光LSとP偏光LPに分離してい
る。ここで偏光ビームスプリッタ3aはP偏光を透過
し、S偏光を反射するようにしている。
【0022】このうちP偏光LPはミラー4bで反射さ
せ、回折格子(第1の回折格子)5aの領域5aPに入
射させている。又S偏光LSはミラー4aで反射させ、
回折格子5aの領域5aPに入射させている。このとき
に回折格子5aに入射させる2つの光の入射角を1次回
折角と同一になるように、同一点に2方向から斜入射し
ている。そしてS偏光の+1次回折光S+ とP偏光の−
1次回折光P- が回折格子5aの面に対して垂直な同一
方向に反射回折するようにしている。
せ、回折格子(第1の回折格子)5aの領域5aPに入
射させている。又S偏光LSはミラー4aで反射させ、
回折格子5aの領域5aPに入射させている。このとき
に回折格子5aに入射させる2つの光の入射角を1次回
折角と同一になるように、同一点に2方向から斜入射し
ている。そしてS偏光の+1次回折光S+ とP偏光の−
1次回折光P- が回折格子5aの面に対して垂直な同一
方向に反射回折するようにしている。
【0023】そして1次回折光S+ と−1次回折光P-
をミラー等の偏向手段6a,6bにより、被測定物体
(弾性体)の捩れの回転軸(軸)10について第1の回
折格子5aと対称な位置に設けた回折格子(第2の回折
格子)5bに垂直入射させている。
をミラー等の偏向手段6a,6bにより、被測定物体
(弾性体)の捩れの回転軸(軸)10について第1の回
折格子5aと対称な位置に設けた回折格子(第2の回折
格子)5bに垂直入射させている。
【0024】図2はこのときスケール5がA方向に移動
したときの概略図、図4は図2の各要素におけるブロッ
ク説明図である。
したときの概略図、図4は図2の各要素におけるブロッ
ク説明図である。
【0025】図2,図4において、第2の回折格子5b
で−1次回折したP偏光P--とS偏光S+-をミラー7b
で反射させて偏光ビームスプリッター3bに導光してい
る。又、回折格子5bで+1次回折したP偏光P-+とS
偏光S++をミラー7aで反射させて偏光ビームスプリッ
ター3bに導光して、該偏光ビームスプリッター3bで
これらの各偏光を重ね合わせている。
で−1次回折したP偏光P--とS偏光S+-をミラー7b
で反射させて偏光ビームスプリッター3bに導光してい
る。又、回折格子5bで+1次回折したP偏光P-+とS
偏光S++をミラー7aで反射させて偏光ビームスプリッ
ター3bに導光して、該偏光ビームスプリッター3bで
これらの各偏光を重ね合わせている。
【0026】そしてこれらの光束のうち相対的な位相差
が8πあるS偏光S++とP偏光P--を偏光板13aに導
光して第1の光検出器9aで検出し、相対的な位相差が
0のS偏光S+1,P偏光P-+を偏光板13bに導光して
第2の光検出器9bで検出している。このとき光検出器
9aでは移動情報が検出されるが、光検出器9bでは移
動情報が検出されない。
が8πあるS偏光S++とP偏光P--を偏光板13aに導
光して第1の光検出器9aで検出し、相対的な位相差が
0のS偏光S+1,P偏光P-+を偏光板13bに導光して
第2の光検出器9bで検出している。このとき光検出器
9aでは移動情報が検出されるが、光検出器9bでは移
動情報が検出されない。
【0027】図3は図1においてスケール5がB方向に
移動したときの概略図、図5は図2の各要素におけるブ
ロック説明図である。
移動したときの概略図、図5は図2の各要素におけるブ
ロック説明図である。
【0028】図3,図5において、回折格子5bで−1
次回折したP偏光P--とS偏光S+1をミラー7aで反射
させて偏光ビームスプリッター3bに導光している。
又、回折格子5bで+1次回折したP偏光P-+とS偏光
S++をミラー7bで反射させて偏光ビームスプリッター
3bに導光している。そして該偏光ビームスプリッター
3bでこれらの各偏光を重ね合わせている。
次回折したP偏光P--とS偏光S+1をミラー7aで反射
させて偏光ビームスプリッター3bに導光している。
又、回折格子5bで+1次回折したP偏光P-+とS偏光
S++をミラー7bで反射させて偏光ビームスプリッター
3bに導光している。そして該偏光ビームスプリッター
3bでこれらの各偏光を重ね合わせている。
【0029】そして、これらの光束のうち相対的な位相
差が0のP偏光P-+とS偏光S+-を、偏光板13aを介
して第1の光検出器9aで検出し、相対的な位相差が8
πあるP偏光P--とS偏光S++を偏光板13bを介して
第2の光検出器9bで検出ている。このとき光検出器9
bでは移動情報が検出されるが、光検出器9aでは移動
情報が検出されない。
差が0のP偏光P-+とS偏光S+-を、偏光板13aを介
して第1の光検出器9aで検出し、相対的な位相差が8
πあるP偏光P--とS偏光S++を偏光板13bを介して
第2の光検出器9bで検出ている。このとき光検出器9
bでは移動情報が検出されるが、光検出器9aでは移動
情報が検出されない。
【0030】本実施例では光検出器9a,9bからの信
号を用いて不図示の信号処理系で移動物体の移動情報を
検出しているが、次に本実施例における移動物体の移動
情報の検出原理について、図4,図5を参照して説明す
る。尚、図4,図5ではm次回折光の次数mをm=1と
している。
号を用いて不図示の信号処理系で移動物体の移動情報を
検出しているが、次に本実施例における移動物体の移動
情報の検出原理について、図4,図5を参照して説明す
る。尚、図4,図5ではm次回折光の次数mをm=1と
している。
【0031】図6は格子の移動方向と回折次数との関係
を示す説明図である。図6に示すように、一定のピッチ
Pのスリットを形成した回折格子51に波長λの可干渉
光を入射すると、角度θの方向に、 Psin θ=mλ(m=0,±1,・・・・) の回折光が発生する。
を示す説明図である。図6に示すように、一定のピッチ
Pのスリットを形成した回折格子51に波長λの可干渉
光を入射すると、角度θの方向に、 Psin θ=mλ(m=0,±1,・・・・) の回折光が発生する。
【0032】ここで格子の移動方向に回折するm次回折
光を+m次回折光と、逆方向に回折するm次回折光を−
m次回折光と定義する。回折格子51がX移動すると、
移動前後でm次回折光の位相は、
光を+m次回折光と、逆方向に回折するm次回折光を−
m次回折光と定義する。回折格子51がX移動すると、
移動前後でm次回折光の位相は、
【0033】
【数1】
だけ変化する。従って、1次回折光(m=1)では回折
格子が1ピッチ移動すると、位相が2π変化する。
格子が1ピッチ移動すると、位相が2π変化する。
【0034】回折光干渉方式のエンコーダでは、スケー
ルに設けた回折格子において、+1次回折を2回した光
と−1次回折を2回した光を重ね合わせ、相対的に格子
1ピッチについて8π位相がずれるように構成されてい
る。従って、格子1ピッチのスケール移動につき、4周
期の位相変化が発生する。
ルに設けた回折格子において、+1次回折を2回した光
と−1次回折を2回した光を重ね合わせ、相対的に格子
1ピッチについて8π位相がずれるように構成されてい
る。従って、格子1ピッチのスケール移動につき、4周
期の位相変化が発生する。
【0035】本実施例において、回折格子より回折され
る+m次回折光はm次回折光のうち回折格子の移動方向
に回折する光であり、−m次回折光はm次回折光のうち
回折格子の移動方向と逆方向に回折する光である。
る+m次回折光はm次回折光のうち回折格子の移動方向
に回折する光であり、−m次回折光はm次回折光のうち
回折格子の移動方向と逆方向に回折する光である。
【0036】例えば、回折光干渉方式のロータリーエン
コーダでは、放射状の回折格子によるスケールの回転に
よって、+m次回折を2回した光と−m次回折を2回し
た光との相対的な位相が回折格子の1ピッチに相当する
角度変化に対して8mπ変化する。本実施例では、この
ときの両者の干渉光を検出することによって、回転物体
(回折格子)の回転情報を検出している。
コーダでは、放射状の回折格子によるスケールの回転に
よって、+m次回折を2回した光と−m次回折を2回し
た光との相対的な位相が回折格子の1ピッチに相当する
角度変化に対して8mπ変化する。本実施例では、この
ときの両者の干渉光を検出することによって、回転物体
(回折格子)の回転情報を検出している。
【0037】又スケール上の互いに平行な2ヶ所の回折
格子が共に格子と垂直な方向に同じ量だけ移動している
状態において、m次回折光に注目し、第1の回折格子に
可干渉の光源からの光線を入射し、その+m次回折光L
m と−m次回折光L-mをレンズ,プリズム,ミラー,光
ファイバ等の光伝送手段で伝送し、第2の回折格子に入
射させる。このとき第2の回折格子によって、+m次回
折光の+m次回折光Lm,m 、+m次回折光の−m次回折
光Lm,-m、−m次回折光の+m次回折光L-m,m、−m次
回折光の−m次回折光L-m,-m 、以上4通りのm次回折
光が得られる。
格子が共に格子と垂直な方向に同じ量だけ移動している
状態において、m次回折光に注目し、第1の回折格子に
可干渉の光源からの光線を入射し、その+m次回折光L
m と−m次回折光L-mをレンズ,プリズム,ミラー,光
ファイバ等の光伝送手段で伝送し、第2の回折格子に入
射させる。このとき第2の回折格子によって、+m次回
折光の+m次回折光Lm,m 、+m次回折光の−m次回折
光Lm,-m、−m次回折光の+m次回折光L-m,m、−m次
回折光の−m次回折光L-m,-m 、以上4通りのm次回折
光が得られる。
【0038】スケール5がA方向に移動しているとき
は、図2,図4(参照)に示すように+m次回折光の+
m次回折光Lm,mと−m次回折光の−m次回折光L-m,-m
とを干渉させる。これらの間の位相は、回折格子の1ピ
ッチ分の移動につき相対的に8mπずれるため、干渉光
をフォトダイオードやCCDのようなデバイス(光検出
器)を有する第1の検出系によって検出して、回折格子
の移動情報を検出している。
は、図2,図4(参照)に示すように+m次回折光の+
m次回折光Lm,mと−m次回折光の−m次回折光L-m,-m
とを干渉させる。これらの間の位相は、回折格子の1ピ
ッチ分の移動につき相対的に8mπずれるため、干渉光
をフォトダイオードやCCDのようなデバイス(光検出
器)を有する第1の検出系によって検出して、回折格子
の移動情報を検出している。
【0039】又、+m次回折光の−m次回折光Lm,-mと
−m次回折光の+m次回折光L-m,mについても、第1の
検出系と同様な第2の検出系によって検出する。2つの
回折格子が共に格子と垂直な方向に移動しているとき、
第2の検出系に達する2つの2回回折光Lm,-m ,L-m,
mは、同位相であるため干渉信号は変化しない。このた
め移動情報は得られない。
−m次回折光の+m次回折光L-m,mについても、第1の
検出系と同様な第2の検出系によって検出する。2つの
回折格子が共に格子と垂直な方向に移動しているとき、
第2の検出系に達する2つの2回回折光Lm,-m ,L-m,
mは、同位相であるため干渉信号は変化しない。このた
め移動情報は得られない。
【0040】次に、スケール5がB方向に変動している
とき、即ち2つの回折格子が格子と垂直な方向で一方の
回折格子は上記と同方向、他方の回折格子が上記の方向
とは逆方向に移動する場合(格子と垂直方向に互いに逆
方向に移動する場合)を考える(図3,図5参照)。
とき、即ち2つの回折格子が格子と垂直な方向で一方の
回折格子は上記と同方向、他方の回折格子が上記の方向
とは逆方向に移動する場合(格子と垂直方向に互いに逆
方向に移動する場合)を考える(図3,図5参照)。
【0041】これはスケールが面内で回転する状態に相
当する。このとき前述の第1の検出系に達する2つの回
折光Lm,-m,L-m,mの間には位相差が生じない。しかし
ながら第2の検出系に達する2つの回折光Lm,m ,L-
m,-m は、前述の格子が同方向に移動している場合と同
様に、第1の回折格子と第2の回折格子において、回折
格子の移動量の差が2ピッチ分のとき相対的に8mπの
位相差をもつ。
当する。このとき前述の第1の検出系に達する2つの回
折光Lm,-m,L-m,mの間には位相差が生じない。しかし
ながら第2の検出系に達する2つの回折光Lm,m ,L-
m,-m は、前述の格子が同方向に移動している場合と同
様に、第1の回折格子と第2の回折格子において、回折
格子の移動量の差が2ピッチ分のとき相対的に8mπの
位相差をもつ。
【0042】例えば、2つの回折格子が同一の剛体(被
測定物)上に2ヶ所の照射点を結ぶ方向に平行に設けら
れていれば、第1の検出系の信号は2か所の回折格子の
照射点の中点の回折格子面上で、格子と垂直な方向の移
動に対する信号となる。又、上記剛体が回折格子を含む
面内で回転する場合を考える。回転角が微小であれば、
それぞれの回折格子は反対方向に直線移動していると見
做すことができ、第2の検出系において2つの格子を含
む面内の回転角を検出することができる。
測定物)上に2ヶ所の照射点を結ぶ方向に平行に設けら
れていれば、第1の検出系の信号は2か所の回折格子の
照射点の中点の回折格子面上で、格子と垂直な方向の移
動に対する信号となる。又、上記剛体が回折格子を含む
面内で回転する場合を考える。回転角が微小であれば、
それぞれの回折格子は反対方向に直線移動していると見
做すことができ、第2の検出系において2つの格子を含
む面内の回転角を検出することができる。
【0043】又、2ヶ所の回折格子を従来の回折光干渉
方式のロータリーエンコーダと同様、放射状回折格子と
することにより、回転方向の検出範囲を広げることがで
きる。このとき直線移動に伴い格子の方向が変化するた
め、直線変位の検出範囲は平行な回折格子よりも小さく
なる。
方式のロータリーエンコーダと同様、放射状回折格子と
することにより、回転方向の検出範囲を広げることがで
きる。このとき直線移動に伴い格子の方向が変化するた
め、直線変位の検出範囲は平行な回折格子よりも小さく
なる。
【0044】本実施例では以上の検出原理を利用して移
動物体の移動情報を求めている。次に、本実施例の具体
的な検出方法について説明する。
動物体の移動情報を求めている。次に、本実施例の具体
的な検出方法について説明する。
【0045】まず、
(2−1)図2に示すように、2つの回折格子が共に矢
印Aの方向に変位する場合(回折格子スケールが格子と
直交する方向に直線移動する状態)。
印Aの方向に変位する場合(回折格子スケールが格子と
直交する方向に直線移動する状態)。
【0046】このとき偏光ビームスプリッター3bを通
過し、偏光板13aを介し、光検出器9a(第1の検出
系)に到達する光は−1次回折を2回したP偏光P--と
+1次回折を2回したS偏光S++であり、それぞれの相
対的な位相は格子1ピッチの変位につき8πとなる。こ
れらの光は偏光軸をそれぞれの直線偏光に対し45度に
設定した偏光板(不図示)を通過することにより、偏光
軸で規定された直線偏光となり、光検出器9aにおいて
格子の移動に伴なう干渉縞の移動として検出している。
そして光検出器9aからの信号を用いて演算手段(不図
示)により、格子の移動情報、即ち弾性体の捩じれの軸
10の移動情報を求めている。
過し、偏光板13aを介し、光検出器9a(第1の検出
系)に到達する光は−1次回折を2回したP偏光P--と
+1次回折を2回したS偏光S++であり、それぞれの相
対的な位相は格子1ピッチの変位につき8πとなる。こ
れらの光は偏光軸をそれぞれの直線偏光に対し45度に
設定した偏光板(不図示)を通過することにより、偏光
軸で規定された直線偏光となり、光検出器9aにおいて
格子の移動に伴なう干渉縞の移動として検出している。
そして光検出器9aからの信号を用いて演算手段(不図
示)により、格子の移動情報、即ち弾性体の捩じれの軸
10の移動情報を求めている。
【0047】一方、偏光ビームスプリッター3bで反射
し、偏光板13bを介し光検出器9b(第2の検出系)
に到達する光は、−1次回折と+1次回折をしたP偏光
P-+と+1次回折と−1次回折をしたS偏光S+-であ
る。このとき格子の移動による位相差は生じない。この
ため光検出器9bでは干渉状態の変化はなく、信号は得
られない。
し、偏光板13bを介し光検出器9b(第2の検出系)
に到達する光は、−1次回折と+1次回折をしたP偏光
P-+と+1次回折と−1次回折をしたS偏光S+-であ
る。このとき格子の移動による位相差は生じない。この
ため光検出器9bでは干渉状態の変化はなく、信号は得
られない。
【0048】(2−2)図3に示すように、2つの回折
格子が矢印Bの方向に回転する場合(格子を設けたスケ
ールが回転する状態)。
格子が矢印Bの方向に回転する場合(格子を設けたスケ
ールが回転する状態)。
【0049】即ち、被測定物体が回転軸10を中心に回
転している場合、このとき偏光ビームスプリッター3b
を通過し、偏光板13aを介し光検出器9aに到達する
光は、−1次回折と+1次回折をしたP偏光P-+と+1
次回折と−1次回折をしたS偏光S+-であり、格子の回
転による位相差は生じない。このため回転情報を得るこ
とができない。
転している場合、このとき偏光ビームスプリッター3b
を通過し、偏光板13aを介し光検出器9aに到達する
光は、−1次回折と+1次回折をしたP偏光P-+と+1
次回折と−1次回折をしたS偏光S+-であり、格子の回
転による位相差は生じない。このため回転情報を得るこ
とができない。
【0050】又、偏光ビームスプリッター3bで反射
し、偏光板13bを介し光検出器9bに到達する光は、
−1次回折を2回したP偏光P--と+1次回折を2回し
たS偏光S++であり、格子を含む面内の1ピッチ分の回
転により相対的な位相差は8πとなる。このP,S偏光
をP,S偏光に対し45度に偏光軸を傾けた偏光板(不
図示)により偏光軸で規定された直線偏光となり光検出
器9bによって干渉縞の移動を検出し、これにより格子
の面内の回転情報を検出している。
し、偏光板13bを介し光検出器9bに到達する光は、
−1次回折を2回したP偏光P--と+1次回折を2回し
たS偏光S++であり、格子を含む面内の1ピッチ分の回
転により相対的な位相差は8πとなる。このP,S偏光
をP,S偏光に対し45度に偏光軸を傾けた偏光板(不
図示)により偏光軸で規定された直線偏光となり光検出
器9bによって干渉縞の移動を検出し、これにより格子
の面内の回転情報を検出している。
【0051】本実施例においては、図2の光検出器9a
では格子のA方向のずれに対応する信号を得ており、図
3の光検出器9bでは格子の面内回転に対応する信号を
得ている。特に光検出器9a,9bからの検出信号によ
り、回折格子を設けた梁(転)10のたわみ、捩れを同
時に検出することにより、梁10に加わる加速度や角加
速度を検出している。変位や角変位から加速度や角加速
度を検出する方法は周知なので説明省略する。
では格子のA方向のずれに対応する信号を得ており、図
3の光検出器9bでは格子の面内回転に対応する信号を
得ている。特に光検出器9a,9bからの検出信号によ
り、回折格子を設けた梁(転)10のたわみ、捩れを同
時に検出することにより、梁10に加わる加速度や角加
速度を検出している。変位や角変位から加速度や角加速
度を検出する方法は周知なので説明省略する。
【0052】図1の構成においては、面内回転に伴い格
子の傾きがずれ、偏光方向がずれるため、回転角度は微
小量に限られるが、本構成によれば回転の中心は光の2
つの入射点に限定されずにスケールの回転角度を測定す
ることができる。
子の傾きがずれ、偏光方向がずれるため、回転角度は微
小量に限られるが、本構成によれば回転の中心は光の2
つの入射点に限定されずにスケールの回転角度を測定す
ることができる。
【0053】尚、本実施例では光の偏向及び伝送手段と
してミラーを使用しているが、これは光の進行方向を偏
向する手段であれば、例えば屈折を利用したプリズム,
光ファイバ,光導波路等でも同様の構成が可能である。
又、本実施例では第1の回折格子5aと第2の回折格子
5bとの間のS偏光とP偏光との光路を同一にするため
に、第1の回折格子5aへの入射角をそれより生じる1
次回折角と同一にしているが、他の角度で入射して別の
光路で伝送する構成も可能である。
してミラーを使用しているが、これは光の進行方向を偏
向する手段であれば、例えば屈折を利用したプリズム,
光ファイバ,光導波路等でも同様の構成が可能である。
又、本実施例では第1の回折格子5aと第2の回折格子
5bとの間のS偏光とP偏光との光路を同一にするため
に、第1の回折格子5aへの入射角をそれより生じる1
次回折角と同一にしているが、他の角度で入射して別の
光路で伝送する構成も可能である。
【0054】更に、運動の方向を検出する場合には、干
渉縞の移動方向を検出する必要がある。このとき回折光
干渉方式のエンコーダで実現されている方法として、干
渉光の光束内の干渉縞を0本に近づける。このとき干渉
光はスケールの移動に伴なう明暗の繰り返しパターンと
なるが、図7に示すような光学系を図1のλ/4板8a
(8b)と光検出器9a(9b)と交換しても良い。
渉縞の移動方向を検出する必要がある。このとき回折光
干渉方式のエンコーダで実現されている方法として、干
渉光の光束内の干渉縞を0本に近づける。このとき干渉
光はスケールの移動に伴なう明暗の繰り返しパターンと
なるが、図7に示すような光学系を図1のλ/4板8a
(8b)と光検出器9a(9b)と交換しても良い。
【0055】図7において、8cはP偏光とS偏光に対
して45度に進相軸を設定したλ/4波長板であり、P
偏光とS偏光を互いに回転方向の対向する円偏光として
いる。そして、その干渉光はスケールの移動に伴い、回
転する直線偏光となっている。これを非偏光ビームスプ
リッタ12で2つに分割し、それぞれの回転する直線偏
光を互いに45度偏光方向が異なる偏光板13a及び1
3bによって、光検出器9c及び9dで互いに90度位
相の異なる正弦波状の光の明暗として検出している。
して45度に進相軸を設定したλ/4波長板であり、P
偏光とS偏光を互いに回転方向の対向する円偏光として
いる。そして、その干渉光はスケールの移動に伴い、回
転する直線偏光となっている。これを非偏光ビームスプ
リッタ12で2つに分割し、それぞれの回転する直線偏
光を互いに45度偏光方向が異なる偏光板13a及び1
3bによって、光検出器9c及び9dで互いに90度位
相の異なる正弦波状の光の明暗として検出している。
【0056】そして光検出器9c,9dで互いに90度
位相のずれた2相の光の明暗を検出して、これより被測
定物の移動方向の情報を求めている。尚、被測定物が、
例えば図1において、矢印A方向と矢印B方向の双方の
変位を同時にすれば光検出器9a,9bから各々移動情
報が得られる。
位相のずれた2相の光の明暗を検出して、これより被測
定物の移動方向の情報を求めている。尚、被測定物が、
例えば図1において、矢印A方向と矢印B方向の双方の
変位を同時にすれば光検出器9a,9bから各々移動情
報が得られる。
【0057】図8は本発明の実施例2の要部概略図であ
る。本実施例は図1の実施例1に比べて反射型の回折格
子の代わりに透過型の回折格子を用いていること、光源
1からの光束を第1の回折格子に垂直入射させており、
また所定次数の回折光を第2の回折格子に斜入射させて
いること等が異なっており、その他の構成は同じであ
る。
る。本実施例は図1の実施例1に比べて反射型の回折格
子の代わりに透過型の回折格子を用いていること、光源
1からの光束を第1の回折格子に垂直入射させており、
また所定次数の回折光を第2の回折格子に斜入射させて
いること等が異なっており、その他の構成は同じであ
る。
【0058】図8において、光源1を出射しコリメータ
ーレンズ2で整形された光束を第1の回折格子5aに垂
直入射させている。そして回折格子5aで回折した+1
次回折光と−1次回折光をミラー6a,6bとミラー6
c,6dを介して第2の回折格子5bに1次回折角と同
一の角度で入射させている。そして回折格子5bで回折
した1次回折光と−1次回折光を重ね合わせて、光検出
器9a及びミラー7a,7b、ハーフミラー11を介し
て光検出器9bで各々検出している。
ーレンズ2で整形された光束を第1の回折格子5aに垂
直入射させている。そして回折格子5aで回折した+1
次回折光と−1次回折光をミラー6a,6bとミラー6
c,6dを介して第2の回折格子5bに1次回折角と同
一の角度で入射させている。そして回折格子5bで回折
した1次回折光と−1次回折光を重ね合わせて、光検出
器9a及びミラー7a,7b、ハーフミラー11を介し
て光検出器9bで各々検出している。
【0059】(3−1)2つの回折格子が共に図8の矢
印Aの方向に移動する場合。
印Aの方向に移動する場合。
【0060】このとき図2と同様に、光検出器9aには
+1次回折を2回した光と−1次回折を2回した光とが
重なった状態で入射する。この結果、上記実施例1と同
様に回折格子が1ピッチ分の移動をすると、それぞれの
回折光の位相が相対的に8πずれる。
+1次回折を2回した光と−1次回折を2回した光とが
重なった状態で入射する。この結果、上記実施例1と同
様に回折格子が1ピッチ分の移動をすると、それぞれの
回折光の位相が相対的に8πずれる。
【0061】本実施例では、このずれに基づく干渉縞を
計数することによって回折格子の変位情報を検出してい
る。又、光検出器9bで検出される光には回折格子の移
動による位相差は生じないために、光検出器9bで得ら
れる信号には干渉状態の変化はなく、このため移動信号
は得られない。
計数することによって回折格子の変位情報を検出してい
る。又、光検出器9bで検出される光には回折格子の移
動による位相差は生じないために、光検出器9bで得ら
れる信号には干渉状態の変化はなく、このため移動信号
は得られない。
【0062】(3−2)2つの回折格子が図8の矢印B
の方向に回転する場合。
の方向に回転する場合。
【0063】即ち、図3と同様に2つの回折格子が回転
軸(不図示)を中心に回転する場合、このとき回折格子
5bで回折し、ミラー7a,7bで反射し、ビームスプ
リッタ11によって重ね合わされ、光検出器9bには+
1次回折を2回した光と−1次回折を2回した光との干
渉光となり、このとき光検出器9bで得られる信号より
2つの光の重ね合わせに基づく干渉縞を計数することに
より、回折格子の回転情報を検出している。
軸(不図示)を中心に回転する場合、このとき回折格子
5bで回折し、ミラー7a,7bで反射し、ビームスプ
リッタ11によって重ね合わされ、光検出器9bには+
1次回折を2回した光と−1次回折を2回した光との干
渉光となり、このとき光検出器9bで得られる信号より
2つの光の重ね合わせに基づく干渉縞を計数することに
より、回折格子の回転情報を検出している。
【0064】このとき光検出器9aで検出される光は位
相差が生じないために、光検出器9aでは回転情報に関
する信号は得られない。
相差が生じないために、光検出器9aでは回転情報に関
する信号は得られない。
【0065】尚、本発明の2方向の移動情報を検出可能
なエンコーダを、例えば筐体と弾性体の一部に設けた回
折格子に対して適用し、弾性体の角加速度による捻じれ
をスケールの回転として検出すれば角加速度を検出する
ことが可能である。同時に、弾性体のたわみをスケール
の平行移動として検出すれば、加速度を検出することが
可能である。これにより加速度と角加速度を同一の光学
系で同時に測定することができるようになる。
なエンコーダを、例えば筐体と弾性体の一部に設けた回
折格子に対して適用し、弾性体の角加速度による捻じれ
をスケールの回転として検出すれば角加速度を検出する
ことが可能である。同時に、弾性体のたわみをスケール
の平行移動として検出すれば、加速度を検出することが
可能である。これにより加速度と角加速度を同一の光学
系で同時に測定することができるようになる。
【0066】
【外1】
互いに可干渉性をもつ2光束L1,L2を測定対象上に
設けた格子の2箇所に入射し、それぞれの+m次回折光
と−m次回折光を得る。この4光束を図のように2光束
ずつ重ね合わせ、それぞれについて既述実施例のように
干渉信号の検出系を構成すれば、格子を設けた剛体の回
転運動と直線運動を独立に検出することができる。
設けた格子の2箇所に入射し、それぞれの+m次回折光
と−m次回折光を得る。この4光束を図のように2光束
ずつ重ね合わせ、それぞれについて既述実施例のように
干渉信号の検出系を構成すれば、格子を設けた剛体の回
転運動と直線運動を独立に検出することができる。
【0067】
【発明の効果】本発明によれば、被測定物体の移動情
報、例えば1方向の移動情報と1軸周りの回転情報を独
立して高精度に検出することができる。
報、例えば1方向の移動情報と1軸周りの回転情報を独
立して高精度に検出することができる。
【図1】 本発明の実施例1の要部概略図
【図2】 図1でスケールがA方向に変動したときの要
部概略図
部概略図
【図3】 図1でスケールがB方向に変動したときの要
部概略図
部概略図
【図4】 図1でスケールがA方向に変動したときのブ
ロック説明図
ロック説明図
【図5】 図1でスケールがB方向に変動したときのブ
ロック説明図
ロック説明図
【図6】 本発明に係る回折格子の移動方向と回折光と
の関係を示す説明図
の関係を示す説明図
【図7】 図1の一部分を変更したときの説明図
【図8】 本発明の実施例2の要部概略図
【図9】 従来のロータリーエンコーダの一部分の要部
概略図
概略図
【図10】 従来のロータリーエンコーダの一部分の要
部概略図
部概略図
【図11】 本発明の変形例の要部概略図
1 光源
2 コリメーターレンズ
3a,3b,11 偏光ビームスプリッター
4a,4b,6a,6b,6c,6d,7a,7b
ミラー 5a,5b 回折格子 8a,8b λ/4 9a,9b 光検出器 10 回転軸
ミラー 5a,5b 回折格子 8a,8b λ/4 9a,9b 光検出器 10 回転軸
Claims (5)
- 【請求項1】 第1の回折格子と第2の回折格子を設け
た被測定物体に、光源手段から光束を該第1の回折格子
に入射させ、該第1の回折格子から生じる所定次数の複
数の回折光を該第2の回折格子に入射させ、該第2の回
折格子で回折させた複数の回折光のうち、被測定物体が
直線運動したときに相対的に位相がずれる2光束を干渉
させ、該被測定物体の直線運動を検出する第1の光学系
及び第1の検出系と、 被測定物体が回転運動するときに相対的に位相がずれる
2光束を干渉させ、該被測定物体の回転運動を検出する
第2の光学系及び第2の検出系の2つの移動情報検出系
をもつことを特徴とするエンコーダ。 - 【請求項2】 前記被測定物体は回転物体より成り、前
記第1及び第2の回折格子は該回転物体の回転軸を中心
とする放射格子より成っていることを特徴とする請求項
1のエンコーダ。 - 【請求項3】 前記被測定物体は回転物体より成り、前
記第1及び第2の回折格子はスケール面内にあって該回
転物体の回転軸に直交する直線に平行の直線格子である
ことを特徴とする請求項1又は2のエンコーダ。 - 【請求項4】 前記被測定物体は筐体内に設けた弾性体
と筐体とからなり、前記第1の検出系と第2の検出系は
該弾性体の筐体に対する変動を検出して、該筐体に加わ
る加速度及び角加速度を検出していることを特徴とする
請求項1,2又は3のエンコーダ。 - 【請求項5】 被測定物体に対して第1の回折格子と第
2の回折格子の2つの回折格子を設け、光源手段からの
光束を該第1の回折格子に入射させ、該第1の回折格子
から生じる所定次数の複数の回折光を該第2の回折格子
に入射させ、該第2の回折格子から生じる所定次数の複
数の回折光のうち該2つの回折格子が格子方向と直交す
る方向に共に移動するときに相対的に位相がずれる2光
束を干渉させて、該干渉信号を検出する第1の検出系
と、該第2の回折格子から生じる所定次数の複数の光束
のうち該2つの回折格子が格子方向と直交する方向に互
いに逆方向に移動するときに相対的に位相がずれる2光
束を干渉させて、該干渉信号を検出する第2の検出系と
を設け、該第1の検出系と第2の検出系から得られる信
号を利用して該被測定物体の移動情報を検出しているこ
とを特徴とするエンコーダ。
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