JP3459967B2 - 回転シャフトの位置を検知するための装置 - Google Patents
回転シャフトの位置を検知するための装置Info
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- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、回転シャフトの位置を検知するための装置
に関するものであり、その際、磁石を備えたホール・セ
ンサ・エレメントの前で、歯を持つパルス・ホイールが
角速度ｗで動かされる。ホール・センサ・エレメントに
よって、パルス・ホイールを通る磁束密度Ｂの時間的推
移がホール電圧の推移として受け入れられる。磁束密度
の変化から、シャフトの動作中の位置が求められる。
に関するものであり、その際、磁石を備えたホール・セ
ンサ・エレメントの前で、歯を持つパルス・ホイールが
角速度ｗで動かされる。ホール・センサ・エレメントに
よって、パルス・ホイールを通る磁束密度Ｂの時間的推
移がホール電圧の推移として受け入れられる。磁束密度
の変化から、シャフトの動作中の位置が求められる。
前述のような装置は、DE−A1 32 20 896から知られて
いる。それに関して、磁束密度の時間的推移Ｂ（ｔ）を
測定するセンサを使用し、その際、フェロ磁性板のセグ
メント・プレートがホール・センサ・エレメントのそば
を通過する。ホール・センサ・エレメントには、信号Ｂ
（ｔ）の微分器を取り囲む評価回路が接続される。即
ち、微分信号B'（ｔ）が生成される。いずれにせよ、微
分信号だけが、ゲート回路を制御するために使用され、
次に、ゲート回路がカウンターを作動させる。サイクル
数は、セグメント・プレートのセグメントの長さに割り
当てられている。従って、微分信号がゲート回路だけを
制御する。得られた曲線に対する歯のフランクの正確な
配置が、それに従って得られるわけではない。
いる。それに関して、磁束密度の時間的推移Ｂ（ｔ）を
測定するセンサを使用し、その際、フェロ磁性板のセグ
メント・プレートがホール・センサ・エレメントのそば
を通過する。ホール・センサ・エレメントには、信号Ｂ
（ｔ）の微分器を取り囲む評価回路が接続される。即
ち、微分信号B'（ｔ）が生成される。いずれにせよ、微
分信号だけが、ゲート回路を制御するために使用され、
次に、ゲート回路がカウンターを作動させる。サイクル
数は、セグメント・プレートのセグメントの長さに割り
当てられている。従って、微分信号がゲート回路だけを
制御する。得られた曲線に対する歯のフランクの正確な
配置が、それに従って得られるわけではない。
更に、永久磁石を備えた回転する歯車に対して、２つ
のホール・センサを備えた微分ホール・センサ回路を配
置するということが知られている（DE−A1 42 0921
2）。特別な分岐によって、回転する歯車が両方のホー
ル・センサに位相変位信号を発生させる。そうすること
によって、歯車の位置を求めるために、少なくとも２つ
の歯を走査しなければならない。これには、比較的高い
パルス・ホイール速度が必要である。それに加えて、曲
線に対して歯の形を直接割り当てることはできない。
のホール・センサを備えた微分ホール・センサ回路を配
置するということが知られている（DE−A1 42 0921
2）。特別な分岐によって、回転する歯車が両方のホー
ル・センサに位相変位信号を発生させる。そうすること
によって、歯車の位置を求めるために、少なくとも２つ
の歯を走査しなければならない。これには、比較的高い
パルス・ホイール速度が必要である。それに加えて、曲
線に対して歯の形を直接割り当てることはできない。
最後に、FR−A1 2 571 134には、シャフトと結合され
た歯車を有し、その有効範囲にホール・センサが配置さ
れている装置が記載されている。歯車が回転する際に、
基本的に正弦形であるが、歯のギャップの領域に異常が
ある磁束Ｂ（ｔ）が検知される。異常の推移が数学的に
評価される。測定曲線に対する歯の位置の正確な配置は
得られない。
た歯車を有し、その有効範囲にホール・センサが配置さ
れている装置が記載されている。歯車が回転する際に、
基本的に正弦形であるが、歯のギャップの領域に異常が
ある磁束Ｂ（ｔ）が検知される。異常の推移が数学的に
評価される。測定曲線に対する歯の位置の正確な配置は
得られない。
従って、本発明の課題は、歯のフランクの位置に正確
に対応する曲線を生成し、その結果、回転するシャフト
の正確な位置を検知することができる、回転シャフトの
位置を検知する装置を提供することである。
に対応する曲線を生成し、その結果、回転するシャフト
の正確な位置を検知することができる、回転シャフトの
位置を検知する装置を提供することである。
かかる課題を解決するために、本発明では、磁石とホ
ール・センサ・エレメントの前で、立ち上がり及び立ち
下がり歯フランクを有する歯を備えたパルス・ホイール
が角速度で動かされ、前記ホール・センサ・エレメント
は前記パルス・ホイールを通る磁束密度の時間的推移を
ホール電圧信号として生成し、前記ホール電圧信号を微
分信号に変換する微分ユニットを用いた、回転シャフト
の位置を検知する装置において、前記微分ユニットに接
続されるとともにディジタル出力信号を生成する変曲点
認識回路が備えられ、前記ディジタル出力信号はこのデ
ィジタル出力信号の低レベルから高レベルへの移行が前
記微分信号の最大値を表すとともにこのディジタル出力
信号の高レベルから低レベルへの移行が前記微分信号の
最小値を表しており、これにより前記立ち上がり歯フラ
ンクと前記立ち下がり歯フランクの位置が決定される。
前記変曲点認識回路が差動増幅器と双方向ドライバと第
１のコンパレータと第２のコンパレータ（103.3.4）を
備えている。その際、前記差動増幅器の第１入力部に前
記微分信号が入力され、前記差動増幅器の出力部に前記
双方向ドライバの第１入力が接続されており、さらに前
記差動増幅器の第１入力部には前記第１のコンパレータ
の第１入力部と前記第２のコンパレータの第１入力部が
接続されており、前記差動増幅器の第２入力部には一方
側を接地されたコンデンサと前記第１のコンパレータの
第２入力部が接続されており、前記第１のコンパレータ
の第２入力部には双方向ドライバの第２入力が接続され
ており、前記双方向ドライバの第３入力には前記第２の
コンパレータの出力部が接続されており、前記第２のコ
ンパレータの第２入力部がコンデンサを介して接地され
ている。
ール・センサ・エレメントの前で、立ち上がり及び立ち
下がり歯フランクを有する歯を備えたパルス・ホイール
が角速度で動かされ、前記ホール・センサ・エレメント
は前記パルス・ホイールを通る磁束密度の時間的推移を
ホール電圧信号として生成し、前記ホール電圧信号を微
分信号に変換する微分ユニットを用いた、回転シャフト
の位置を検知する装置において、前記微分ユニットに接
続されるとともにディジタル出力信号を生成する変曲点
認識回路が備えられ、前記ディジタル出力信号はこのデ
ィジタル出力信号の低レベルから高レベルへの移行が前
記微分信号の最大値を表すとともにこのディジタル出力
信号の高レベルから低レベルへの移行が前記微分信号の
最小値を表しており、これにより前記立ち上がり歯フラ
ンクと前記立ち下がり歯フランクの位置が決定される。
前記変曲点認識回路が差動増幅器と双方向ドライバと第
１のコンパレータと第２のコンパレータ（103.3.4）を
備えている。その際、前記差動増幅器の第１入力部に前
記微分信号が入力され、前記差動増幅器の出力部に前記
双方向ドライバの第１入力が接続されており、さらに前
記差動増幅器の第１入力部には前記第１のコンパレータ
の第１入力部と前記第２のコンパレータの第１入力部が
接続されており、前記差動増幅器の第２入力部には一方
側を接地されたコンデンサと前記第１のコンパレータの
第２入力部が接続されており、前記第１のコンパレータ
の第２入力部には双方向ドライバの第２入力が接続され
ており、前記双方向ドライバの第３入力には前記第２の
コンパレータの出力部が接続されており、前記第２のコ
ンパレータの第２入力部がコンデンサを介して接地され
ている。
ここでは、パルス・ホイールが回転するとき、歯のフ
ランクが、それぞれ、時間単位における最大の磁束密度
の変化を生成する、という知識を利用する。こうした量
は、磁束の絶対量に依存しないので、温度、作業間隔、
及び、ホール・探針の許容差の影響に左右されない。
ランクが、それぞれ、時間単位における最大の磁束密度
の変化を生成する、という知識を利用する。こうした量
は、磁束の絶対量に依存しないので、温度、作業間隔、
及び、ホール・探針の許容差の影響に左右されない。
この装置では、アナログ動作するホール・センサを用
いて、高精度のディジタル信号を生成することができ
る。パルス・ホイールの歯のそれぞれの位置が正確なの
で、カムシャフト、クランク・シャフト、あるいは、類
似のものの対応する位置も正確に決定することができ
る。
いて、高精度のディジタル信号を生成することができ
る。パルス・ホイールの歯のそれぞれの位置が正確なの
で、カムシャフト、クランク・シャフト、あるいは、類
似のものの対応する位置も正確に決定することができ
る。
前述の微分信号から、方形の測定点信号を生成するこ
とができ、その立ち上がりフランクは初期の最大傾きに
よって、その立ち下がりフランクは初期のマイナスの傾
きによって形成される。そうすることによって、方形測
定点信号から、ピーク・ポイント測定信号を生成するこ
とができ、そのピーク値は微分信号の最高値と、その基
底値は微分信号の最低値と一致する。そうすることによ
って、高精度に検知できるアナログ測定信号をディジタ
ル測定信号に変換することができる。
とができ、その立ち上がりフランクは初期の最大傾きに
よって、その立ち下がりフランクは初期のマイナスの傾
きによって形成される。そうすることによって、方形測
定点信号から、ピーク・ポイント測定信号を生成するこ
とができ、そのピーク値は微分信号の最高値と、その基
底値は微分信号の最低値と一致する。そうすることによ
って、高精度に検知できるアナログ測定信号をディジタ
ル測定信号に変換することができる。
ここでは、変曲点認識回路の増幅器を差動増幅器とし
て形成することで、微分信号を段階的にディジタル出力
信号に変換することができる。
て形成することで、微分信号を段階的にディジタル出力
信号に変換することができる。
本発明の実施形態の１つとして、前記双方向ドライバ
が互いに結合された第１の抵抗と第２の抵抗を備え、前
記第１の抵抗と第２の抵抗がそれぞれ第１のトランジス
タと第２のトランジスタのベースに接続され、第１のト
ランジスタと第１の抵抗との接続部と第２トランジスタ
と第２抵抗との接続部との間に直列に接続された２つの
タイオードが配置され、それらのダイオードがアナログ
AND−ゲートとして接続されていると、好都合である。
が互いに結合された第１の抵抗と第２の抵抗を備え、前
記第１の抵抗と第２の抵抗がそれぞれ第１のトランジス
タと第２のトランジスタのベースに接続され、第１のト
ランジスタと第１の抵抗との接続部と第２トランジスタ
と第２抵抗との接続部との間に直列に接続された２つの
タイオードが配置され、それらのダイオードがアナログ
AND−ゲートとして接続されていると、好都合である。
また、微分ユニット第２の差動増幅器（IC1C）と第２
のコンデンサ（C2）と直列回路を備えており、前記第２
の差動増幅器（IC1C）の第１入力部がコンデンサを介し
て接地されており、前記第２の差動増幅器（IC1C）の第
２入力部と出力部がこの第２の差動増幅器（IC1C）と並
列となっている第３の抵抗（R6）と接続されており、前
記第２のコンデンサが前記第２の差動増幅器（IC1C）と
並列でその第２入力部と出力部とに接続されており、前
記直列回路は第３のコンデンサ（C1）と第４の抵抗（R
5）からなるとともに前記前記第２の差動増幅器（IC1
C）の第２入力部に接続されていると、好都合である。
のコンデンサ（C2）と直列回路を備えており、前記第２
の差動増幅器（IC1C）の第１入力部がコンデンサを介し
て接地されており、前記第２の差動増幅器（IC1C）の第
２入力部と出力部がこの第２の差動増幅器（IC1C）と並
列となっている第３の抵抗（R6）と接続されており、前
記第２のコンデンサが前記第２の差動増幅器（IC1C）と
並列でその第２入力部と出力部とに接続されており、前
記直列回路は第３のコンデンサ（C1）と第４の抵抗（R
5）からなるとともに前記前記第２の差動増幅器（IC1
C）の第２入力部に接続されていると、好都合である。
また、別に形成された微分ユニットを挿入することも
でき、それにより、線形、あるいは、非線形伝送ユニッ
トを用いて、パルスの形状に相応した影響を与えること
ができる。本発明に従った微分ユニットの場合、歯のフ
ランクに応じて、最大値と最小値が正確に形成される形
に、目標を定めてパルスを生成することができる。
でき、それにより、線形、あるいは、非線形伝送ユニッ
トを用いて、パルスの形状に相応した影響を与えること
ができる。本発明に従った微分ユニットの場合、歯のフ
ランクに応じて、最大値と最小値が正確に形成される形
に、目標を定めてパルスを生成することができる。
集積回路（IC）の形のホール増幅器回路により、次の
変換のために、求めた値を直接入力することが保証され
る。
変換のために、求めた値を直接入力することが保証され
る。
パルス・ホイールについて、様々な歯の形の実例を挙
げる。通常、エンジン管理で予想されるデータに相応し
て形成された既知のパルス・ホイールの構成を用いる。
げる。通常、エンジン管理で予想されるデータに相応し
て形成された既知のパルス・ホイールの構成を用いる。
パルス・ホイールは、既知の方法で軟磁性材料から製
作する。それとは対照的に、付属の磁石は、永久磁石と
して、特に、サマリウム−コバルト、バリウム−チタン
−フェライト、稀土類、あるいは、類似の材料から形成
することができる。
作する。それとは対照的に、付属の磁石は、永久磁石と
して、特に、サマリウム−コバルト、バリウム−チタン
−フェライト、稀土類、あるいは、類似の材料から形成
することができる。
次に示す実施例を用いて、本発明を詳細に説明する。
図１は本発明に従って、回転するシャフトの位置を検
知するための装置の基本配線図、 図２は図１に従った変曲点検知回路のブロック図、 図３は図１に従った装置の詳細な回路図、 図４は概略図で示した、図３に従った回路に発生する
信号経路の同期概観図、 図５は概略側面図で示した、図１に従った装置のパル
ス・ホイール、 図６は概略側面図で示した、図１に従った装置のその
他のパルス・ホイール、 図７は、VII−VII線に沿った６に従ったパルス・ホイ
ールの断面図である。
知するための装置の基本配線図、 図２は図１に従った変曲点検知回路のブロック図、 図３は図１に従った装置の詳細な回路図、 図４は概略図で示した、図３に従った回路に発生する
信号経路の同期概観図、 図５は概略側面図で示した、図１に従った装置のパル
ス・ホイール、 図６は概略側面図で示した、図１に従った装置のその
他のパルス・ホイール、 図７は、VII−VII線に沿った６に従ったパルス・ホイ
ールの断面図である。
回転するシャフトの位置を検知するために、本発明に
よる装置には、評価回路103に配置された図１に従った
ホール・センサ・エレメント101が含まれる。評価回路1
03は、集積複合ホール増幅回路103.1、微分ュニット10
3.2、及び変曲点認識回路103.3で構成される。ホール・
センサ・エレメント101の領域には、磁石102が配置され
ている。このような磁石は永久磁石であり、例えば、サ
マリウム−コバルト、バリウム−チタン−フェライト、
稀土類磁石材料、あるいは、類似の材料で形成される。
また、特別に形成された電磁石を使用することもでき
る。
よる装置には、評価回路103に配置された図１に従った
ホール・センサ・エレメント101が含まれる。評価回路1
03は、集積複合ホール増幅回路103.1、微分ュニット10
3.2、及び変曲点認識回路103.3で構成される。ホール・
センサ・エレメント101の領域には、磁石102が配置され
ている。このような磁石は永久磁石であり、例えば、サ
マリウム−コバルト、バリウム−チタン−フェライト、
稀土類磁石材料、あるいは、類似の材料で形成される。
また、特別に形成された電磁石を使用することもでき
る。
更に、ホール・センサ・エレメント101の前に、パル
ス・ホイール104を配置する。以下、様々な実施形態を
説明する。
ス・ホイール104を配置する。以下、様々な実施形態を
説明する。
図５には、カムシャフトと結合された特別装備のパル
ス・ホイール104.3を示す。“OT"は、上死点を示す。パ
ルス・ホイールは、歯Z11、Z12、Z13、及びZ14を有す
る。歯Z11及びZ12は、同一に形成されており、360゜の
全周の場合、ほぼ８゜の幅を有している。それとは対照
的に、同様に同一に形成された歯Z13及びZ14は、それぞ
れ65゜の幅を有する。
ス・ホイール104.3を示す。“OT"は、上死点を示す。パ
ルス・ホイールは、歯Z11、Z12、Z13、及びZ14を有す
る。歯Z11及びZ12は、同一に形成されており、360゜の
全周の場合、ほぼ８゜の幅を有している。それとは対照
的に、同様に同一に形成された歯Z13及びZ14は、それぞ
れ65゜の幅を有する。
歯Z11及びZ12の歯のフランクは、次のような間隔を置
かれている。即ち、 ａ）歯Z11の立ち上がり歯フランクZFAは、立ち下がり歯
フランクZFFから、８゜の距離を有する。
かれている。即ち、 ａ）歯Z11の立ち上がり歯フランクZFAは、立ち下がり歯
フランクZFFから、８゜の距離を有する。
ｂ）歯Z11の立ち下がり歯フランクZFFは、歯車Z14の立
ち上がり歯フランクZFAから、60゜の距離を有する。
ち上がり歯フランクZFAから、60゜の距離を有する。
ｃ）歯車Z14の立ち上がり歯フランクZFAは、歯車Z14の
立ち下がり歯フランクZFFから、65゜の距離を有する。
立ち下がり歯フランクZFFから、65゜の距離を有する。
ｄ）歯車Z14の立ち下がり歯フランクZFFは、歯車Z13の
立ち上がり歯フランクZFAから、20゜の距離を有する。
立ち上がり歯フランクZFAから、20゜の距離を有する。
ｅ）歯車Z13の立ち上がり歯フランクZFAは、歯車Z13の
立ち下がり歯フランクZFFから、65゜の距離を有する。
立ち下がり歯フランクZFFから、65゜の距離を有する。
ｆ）歯車Z13の立ち下がり歯フランクZFFは、歯車Z12の
立ち上がり歯フランクZFAから、20゜の距離を有する。
立ち上がり歯フランクZFAから、20゜の距離を有する。
ｇ）歯車Z12の立ち上がり歯フランクZFAは、歯車Z12の
立ち上がり歯フランクから、８゜の距離を有する。
立ち上がり歯フランクから、８゜の距離を有する。
ｈ）歯車Z12の立ち下がり歯フランクは、歯車Z11の立ち
上がり歯フランクから、114゜の距離を有する。
上がり歯フランクから、114゜の距離を有する。
図６及び７には、パルス・ホイール104.5を示す。パ
ルス・ホイールは、単一の歯Z31と単一の歯の間隔ZL31
を有する。歯Z1は、例えば、179゜の幅を有している。
本装置によれば、この種の極端な歯の形状でも、検知す
ることができる。
ルス・ホイールは、単一の歯Z31と単一の歯の間隔ZL31
を有する。歯Z1は、例えば、179゜の幅を有している。
本装置によれば、この種の極端な歯の形状でも、検知す
ることができる。
歯車104、104.3、及び104.5は、角速度ｗでホール・
センサ・エレメント101の前で回転する。
センサ・エレメント101の前で回転する。
この種のパルス・ホイールに対する試験によって、歯
のフランクのそばで、磁束密度Ｂが時間的に最も速く変
化することが判明した。従って、一次時間導関数Ｂは、 B'（ｔ）＝dB（ｔ）/dt 立ち上がり歯フランクに対して際立った最大値を、立ち
下がり歯フランクZFFに対して際立った最小値を有す
る。かかる効果は、本発明に基づくものである。
のフランクのそばで、磁束密度Ｂが時間的に最も速く変
化することが判明した。従って、一次時間導関数Ｂは、 B'（ｔ）＝dB（ｔ）/dt 立ち上がり歯フランクに対して際立った最大値を、立ち
下がり歯フランクZFFに対して際立った最小値を有す
る。かかる効果は、本発明に基づくものである。
図３に従って、ホール・センサ・エレメント101は、
評価回路103に埋め込まれている。ホール・センサ・エ
レメント101は、動作電圧Ubの入力“Ub"と、アース（対
応するアース）GNDの対向する入力“GND"と結合されて
いる。その他の入力Ｑ−は、抵抗R18とR20との間にあ
り、この抵抗は、抵抗R21と共に、UbとアースGNDとの間
で直列に配置されている。入力Ｑ＋には、抵抗R1が接続
されている。
評価回路103に埋め込まれている。ホール・センサ・エ
レメント101は、動作電圧Ubの入力“Ub"と、アース（対
応するアース）GNDの対向する入力“GND"と結合されて
いる。その他の入力Ｑ−は、抵抗R18とR20との間にあ
り、この抵抗は、抵抗R21と共に、UbとアースGNDとの間
で直列に配置されている。入力Ｑ＋には、抵抗R1が接続
されている。
評価回路103の中心部は、６つの異なる差動増幅器IC1
A、IC1B、IC1C、IC1D、IC2B、及びIC2Dを形成し、差動
増幅器の他に、AND−ゲートとして接続されたダイオー
ドD1及びD2、並びにコンデンサC3を形成している。
A、IC1B、IC1C、IC1D、IC2B、及びIC2Dを形成し、差動
増幅器の他に、AND−ゲートとして接続されたダイオー
ドD1及びD2、並びにコンデンサC3を形成している。
差動増幅器IC1Dの入力部（以下単に入力部は入力、出
力部は出力と略称される）12には、抵抗R1及びコンデン
サC4を介してアースGNDに接した抵抗R4が接続されてい
る。差動増幅器IC1Dの第２の入力13は、２つの抵抗R2と
R3との間に接続されている。抵抗R2は、抵抗R20とR21と
の間に結合している。抵抗R3と抵抗R5は、差動増幅器IC
1Dの出力14と結合している。コンデンサC1を介して、抵
抗R5は、差動増幅器IC1Cの第１の入力９に導かれる。
力部は出力と略称される）12には、抵抗R1及びコンデン
サC4を介してアースGNDに接した抵抗R4が接続されてい
る。差動増幅器IC1Dの第２の入力13は、２つの抵抗R2と
R3との間に接続されている。抵抗R2は、抵抗R20とR21と
の間に結合している。抵抗R3と抵抗R5は、差動増幅器IC
1Dの出力14と結合している。コンデンサC1を介して、抵
抗R5は、差動増幅器IC1Cの第１の入力９に導かれる。
コンデンサC1から、コンデンサC2が接続された導線
と、抵抗R6が接続された導線が出ている。
と、抵抗R6が接続された導線が出ている。
差動増幅器IC2Bは、動作電圧UbとアースGNDとの間で
直列に配置された抵抗R15とR16との間の入力５と接続さ
れている。既に述べたように、その第２の入力６は、抵
抗R5とコンデンサC4との間に接続されている。その出力
７は、同様に抵抗R4とコンデンサC4との間を結合する導
線に接続されている。更にその出力は、差動増幅器IC1C
の第２の入力10と結合されており、その出力が抵抗R9に
導かれている。
直列に配置された抵抗R15とR16との間の入力５と接続さ
れている。既に述べたように、その第２の入力６は、抵
抗R5とコンデンサC4との間に接続されている。その出力
７は、同様に抵抗R4とコンデンサC4との間を結合する導
線に接続されている。更にその出力は、差動増幅器IC1C
の第２の入力10と結合されており、その出力が抵抗R9に
導かれている。
差動増幅器IC1Aの入力３は、コンデンサC2に至る導線
と結合されている。MP1で、導線は別の導線と交差して
おり、その導線にIC1CとR9及びR6が接続されている。交
点MP1は、変曲点認識回路103.3の入力Ｅを形成している
（図２と比較すること）。
と結合されている。MP1で、導線は別の導線と交差して
おり、その導線にIC1CとR9及びR6が接続されている。交
点MP1は、変曲点認識回路103.3の入力Ｅを形成している
（図２と比較すること）。
抵抗R13を介して、コンデンサC3からの導線が、差動
増幅器IC1Aの別の入力２に導かれている。抵抗R13は、
２つのトランジスタ01及び02との間に接続されている。
増幅器IC1Aの別の入力２に導かれている。抵抗R13は、
２つのトランジスタ01及び02との間に接続されている。
両方のトランジスタ01及び02のベースは、抵抗R11及
びR12を介して差動増幅器IC1Aによって制御され、その
間で、既に論理AND−ゲートとして述べたダイオードD1
とD2が接続されている。これら２つのダイオードD1とD2
との間の交点MP2に、差動増幅器IC1Bの出力が接続され
ている。それを越えて、その出力は、抵抗R10を介して
第１の入力５に、コンデンサC6を介して第２の入力６に
導かれている。第１の入力５には、更に、抵抗R9が配置
されているが、入力６と、C4とR14、あるいは、コンデ
ンサC6との間の導線との間には、更に抵抗R17がある。
びR12を介して差動増幅器IC1Aによって制御され、その
間で、既に論理AND−ゲートとして述べたダイオードD1
とD2が接続されている。これら２つのダイオードD1とD2
との間の交点MP2に、差動増幅器IC1Bの出力が接続され
ている。それを越えて、その出力は、抵抗R10を介して
第１の入力５に、コンデンサC6を介して第２の入力６に
導かれている。第１の入力５には、更に、抵抗R9が配置
されているが、入力６と、C4とR14、あるいは、コンデ
ンサC6との間の導線との間には、更に抵抗R17がある。
動作電圧Ubの導線は、トンランジスタ01によりトラン
ジスタ02に接続され、GNDで終わっている。
ジスタ02に接続され、GNDで終わっている。
差動増幅器IC2Dは、測定点MP1とその入力12との間で
抵抗R8と接続されている。更に、その入力12と出力14と
の間には、抵抗R7がある。出力14は、抵抗R19及び第３
のトランジスタ03を介して、出力Ａだけでなく、コンデ
ンサC3、並びにGNDへも導かれている。
抵抗R8と接続されている。更に、その入力12と出力14と
の間には、抵抗R7がある。出力14は、抵抗R19及び第３
のトランジスタ03を介して、出力Ａだけでなく、コンデ
ンサC3、並びにGNDへも導かれている。
差動増幅器IC2Dの第２の入力13は、抵抗R13とコンデ
ンサC13との間の測定点MP3に接続され、抵抗R14に導か
れている。
ンサC13との間の測定点MP3に接続され、抵抗R14に導か
れている。
図３には、大まかに次のようなアセンブリをまとめて
示してあるが、その概略を図２に示す。
示してあるが、その概略を図２に示す。
−増幅器103.3.1に対する差動増幅器IC1A、
−双方向ドライバ103.3.2に対するタイオードD1及びD
2、トランジスタ01及び02、及び抵抗R11及びR12、 −コンパレータ103.3.3に対する差動増幅器IC2D、トラ
ンジスタ03及び抵抗R7、R8、及びR19、 −コンパレータ103.3.4に対する差動増幅器IC1B、コン
デンサC6、及び抵抗R9、R10、及びR17、 −微分ユニット103.2に対する差動増幅器IC1C、コンデ
ンサC1及びC2、及び抵抗R5及びR6、 −ホール−IC−増幅回路103.1に対する差動増幅器IC1
D、ホール・センサ・エレメント101、及び抵抗R1、R2、
R3、R4、R18、R20、及びR21。
2、トランジスタ01及び02、及び抵抗R11及びR12、 −コンパレータ103.3.3に対する差動増幅器IC2D、トラ
ンジスタ03及び抵抗R7、R8、及びR19、 −コンパレータ103.3.4に対する差動増幅器IC1B、コン
デンサC6、及び抵抗R9、R10、及びR17、 −微分ユニット103.2に対する差動増幅器IC1C、コンデ
ンサC1及びC2、及び抵抗R5及びR6、 −ホール−IC−増幅回路103.1に対する差動増幅器IC1
D、ホール・センサ・エレメント101、及び抵抗R1、R2、
R3、R4、R18、R20、及びR21。
増幅器103.3.1、双方向ドライバ103.3.2、及びコンパ
レータ103.3.3及び103.3.4を別の形に形成するか、ある
いは、僅かに変更を加えた市販の回路を使用することが
できる。これは、必要に応じた変更を加えた回路の別の
部品にも当てはまる。
レータ103.3.3及び103.3.4を別の形に形成するか、ある
いは、僅かに変更を加えた市販の回路を使用することが
できる。これは、必要に応じた変更を加えた回路の別の
部品にも当てはまる。
特に、図１及び４に関連させて、示した実施例から得
られる本発明に従った装置の動作方法を説明する。
られる本発明に従った装置の動作方法を説明する。
パルス・ホイール104が、ホール・センサ・エレメン
ト101の前で回転する。図５を参照して説明したよう
に、歯Ｚは、立ち上がり歯フランクZFAと立ち下がり歯
フランクZFFを有している。その際、ホール・センサ・
エレメント101によって、磁束密度Ｂ（ｔ）の推移がス
キャニングされる。Ｂ（ｔ）は、立ち上がり（左）及び
立ち下がり（右）フランクを通過時の特徴を示す。磁束
密度Ｂ（ｔ）に対応した信号が、ホール増幅回路103.1
で増幅され、微分ユニット103.2に入力される。
ト101の前で回転する。図５を参照して説明したよう
に、歯Ｚは、立ち上がり歯フランクZFAと立ち下がり歯
フランクZFFを有している。その際、ホール・センサ・
エレメント101によって、磁束密度Ｂ（ｔ）の推移がス
キャニングされる。Ｂ（ｔ）は、立ち上がり（左）及び
立ち下がり（右）フランクを通過時の特徴を示す。磁束
密度Ｂ（ｔ）に対応した信号が、ホール増幅回路103.1
で増幅され、微分ユニット103.2に入力される。
差動増幅器IC1Cは、信号Ｂ（ｔ）を微分測定信号（単
に微分信号又は測定信号とも呼ぶ）B'（ｔ）＝SMP1に変
換する。この測定信号SMP1は、振れSMP1maxとSMP1minが
顕著である。即ち、最大の傾きの最高点は、SMP1maxで
あり、最小点はMP1mintである。
に微分信号又は測定信号とも呼ぶ）B'（ｔ）＝SMP1に変
換する。この測定信号SMP1は、振れSMP1maxとSMP1minが
顕著である。即ち、最大の傾きの最高点は、SMP1maxで
あり、最小点はMP1mintである。
そのように変換された微分測定信号SMP1は、測定点Mp
1の変曲点認識回路103.3の入力Ｅに現れる（図２及び３
を参照すること）。測定点MP2で方形測定点信号SMP2が
発生するように、微分測定信号SMP1は、最大値SMP1max
で３つの差動増幅器IC1A、IC1B、及びIC1Dを制御する。
その際、方形測定点信号SMP2の立ち上がりフランクSMP2
stは、微分測定信号SMP1の初めの上り勾配と一致する。
同時に、測定点MP3でコンデンサC3が最大値まで充電さ
れる。
1の変曲点認識回路103.3の入力Ｅに現れる（図２及び３
を参照すること）。測定点MP2で方形測定点信号SMP2が
発生するように、微分測定信号SMP1は、最大値SMP1max
で３つの差動増幅器IC1A、IC1B、及びIC1Dを制御する。
その際、方形測定点信号SMP2の立ち上がりフランクSMP2
stは、微分測定信号SMP1の初めの上り勾配と一致する。
同時に、測定点MP3でコンデンサC3が最大値まで充電さ
れる。
微分測定信号SMP1の最小の傾きの始めに、方形測定信
号SMP2の立ち下がりフランクSMP2Hが生成される。それ
によって、コンデンサＣが放電される。そうすることに
よって発生したピーク・ポイント信号SMP3は、波高値SM
P3schと基底値SMP3soが、際立っている。
号SMP2の立ち下がりフランクSMP2Hが生成される。それ
によって、コンデンサＣが放電される。そうすることに
よって発生したピーク・ポイント信号SMP3は、波高値SM
P3schと基底値SMP3soが、際立っている。
波高値SMP3schに達すると、特に、差動増幅器IC2Dに
よって、ディジタル出力信号ASが出力Ａに発生し、この
ディジタル出力信号は、そこで高レベルを有し、その基
底値SMP3soに達した際に、その低レベルを有する。
よって、ディジタル出力信号ASが出力Ａに発生し、この
ディジタル出力信号は、そこで高レベルを有し、その基
底値SMP3soに達した際に、その低レベルを有する。
図４から明らかなように、その際、ディジタル出力信
号ASが、歯Ｚの形状に応じて形成される。例えば、図５
に従ったパルス・ホイール104.3を使用すると、歯Z11に
よって、高レベルASHが短期間生成され、歯Z13によっ
て、高レベルが長期間生成される。歯と歯の間は、相応
して低レベルとして形成される。
号ASが、歯Ｚの形状に応じて形成される。例えば、図５
に従ったパルス・ホイール104.3を使用すると、歯Z11に
よって、高レベルASHが短期間生成され、歯Z13によっ
て、高レベルが長期間生成される。歯と歯の間は、相応
して低レベルとして形成される。
高レベル及び低レベルによって、正確に、すべての歯
Z11、...、Z14の位置を確認して、そこから、シャフト
の位置を推測することができる。
Z11、...、Z14の位置を確認して、そこから、シャフト
の位置を推測することができる。
ホール信号の絶対高さには到達しないので、振動エラ
ー、長時間変動、及び類似のものが、有害な影響量とは
ならない。
ー、長時間変動、及び類似のものが、有害な影響量とは
ならない。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 昭52−85865（ＪＰ，Ａ)
特開 昭57−200814（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−136715（ＪＰ，Ａ)
実開 平４−138205（ＪＰ，Ｕ)
特公 昭30−6737（ＪＰ，Ｂ１)
西独国特許出願公告1237173（ＤＥ,
Ｂ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01D 5/00 - 5/62
G01B 7/00 - 7/34
G01P 1/00 - 3/80
Claims (3)
- 【請求項１】磁石（102）とホール・センサ・エレメン
ト（101）の前で、立ち上がり及び立ち下がり歯フラン
ク（ZFA;ZFF）を有する歯（Ｚ）を備えたパルス・ホイ
ール（104,104.1,...,104.5）が角速度（ｗ）で動かさ
れ、前記ホール・センサ・エレメント（101）は前記パ
ルス・ホイールを通る磁束密度（Ｂ）の時間的推移をホ
ール電圧信号として生成し、前記ホール電圧信号を微分
信号（SPM1）に変換する微分ユニット（103.2）を用い
た、回転シャフトの位置を検知する装置において、 前記微分ユニット（103.2）に接続されるとともにディ
ジタル出力信号を生成する変曲点認識回路（103.3）が
備えられ、前記ディジタル出力信号はこのディジタル出
力信号の低レベル（ASL）から高レベル（ASH）への移行
が前記微分信号（SPM1）の最大値を表すとともにこのデ
ィジタル出力信号の高レベル（ASH）から低レベル（AS
L）への移行が前記微分信号（SPM1）の最小値を表して
おり、これにより前記立ち上がり歯フランク（ZFA）と
前記立ち下がり歯フランク（ZFF）の位置が決定され、
かつ 前記変曲点認識回路（103.3）が差動増幅器（103.3.1）
と双方向ドライバ（103.3.2）と第１のコンパレータ（1
03.3.3）と第２のコンパレータ（103.3.4）を備え、 前記差動増幅器（103.3.1）の第１入力部に前記微分信
号が入力され、前記差動増幅器（103.3.1）の出力部に
前記双方向ドライバ（103.3.2）の第１入力が接続され
ており、さらに前記差動増幅器（103.3.1）の第１入力
部には前記第１のコンパレータの第１入力部と前記第２
のコンパレータ（103.3.4）の第１入力部が接続されて
おり、前記差動増幅器（103.3.1）の第２入力部には一
方側を接地されたコンデンサと前記第１のコンパレータ
（103.3.3）の第２入力部が接続されており、 前記第１のコンパレータ（103.3.3）の第２入力部には
双方向ドライバ（103.3.2）の第２入力が接続されてお
り、前記双方向ドライバ（103.3.2）の第３入力には前
記第２のコンパレータ（103.3.4）の出力部が接続され
ており、前記第２のコンパレータ（103.3.4）の第２入
力部がコンデンサを介して接地されていることを特徴と
する回転シャフトの位置を検知する装置。 - 【請求項２】前記双方向ドライバ（103.3.2）が互いに
結合された第１の抵抗（R11）と第２の抵抗（R12）を備
え、前記第１の抵抗（R11）と第２の抵抗（R12）がそれ
ぞれ第１のトランジスタ（01）と第２のトランジスタ
（02）のベースに接続され、第１のトランジスタ（01）
と第１の抵抗（R11）との接続部と第２トランジスタ（0
2）と第２抵抗（R12）との接続部との間に直列に接続さ
れた２つのダイオード（D1,D2）が配置され、それらの
ダイオードがアナログAND−ゲートとして接続されてい
ることを特徴とする請求項１に記載の回転シャフトの位
置を検知する装置。 - 【請求項３】前記微分ユニット（103.2）が第２の差動
増幅器（IC1C）と第２のコンデンサ（C2）と直列回路を
備えており、前記第２の差動増幅器（IC1C）の第１入力
部がコンデンサを介して接地されており、前記第２の差
動増幅器（IC1C）の第２入力部と出力部がこの第２の差
動増幅器（IC1C）と並列となっている第３の抵抗（R6）
と接続されており、前記第２のコンデンサが前記第２の
差動増幅器（IC1C）と並列でその第２入力部と出力部と
に接続されており、前記直列回路は第３のコンデンサ
（C1）と第４の抵抗（R5）からなるとともに前記前記第
２の差動増幅器（IC1C）の第２入力部に接続されている
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の回転シャフト
の位置を検知する装置。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4343198.4 | 1993-12-17 | ||
| DE4343198A DE4343198C2 (de) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung der Position rotierender Wellen |
| PCT/EP1994/004140 WO1995016896A1 (de) | 1993-12-17 | 1994-12-14 | Verfahren und vorrichtung zur erfassung der position rotierender wellen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08507151A JPH08507151A (ja) | 1996-07-30 |
| JP3459967B2 true JP3459967B2 (ja) | 2003-10-27 |
Family
ID=6505351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51652895A Expired - Fee Related JP3459967B2 (ja) | 1993-12-17 | 1994-12-14 | 回転シャフトの位置を検知するための装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5721486A (ja) |
| EP (1) | EP0685061B1 (ja) |
| JP (1) | JP3459967B2 (ja) |
| DE (2) | DE4343198C2 (ja) |
| WO (1) | WO1995016896A1 (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4445378A1 (de) * | 1994-12-20 | 1996-06-27 | A B Elektronik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung der Winkelposition einer rotierenden Welle |
| US5777465A (en) * | 1996-02-16 | 1998-07-07 | Analog Devices, Inc. | Circuitry and method for sensing spatial transitions sensed with a magnetic sensor |
| US5986450A (en) * | 1997-04-04 | 1999-11-16 | Analog Devices | Directionally independent magnet sensor |
| DE19722016A1 (de) * | 1997-05-27 | 1998-12-03 | Bosch Gmbh Robert | Anordnung zur berührungslosen Drehwinkelerfassung |
| US6050143A (en) * | 1998-10-21 | 2000-04-18 | Dresser Industries, Inc. | Fluid flow system and method for sensing fluid flow |
| US6229299B1 (en) * | 1998-11-17 | 2001-05-08 | Caterpillar Inc. | System and method for computing the angular velocity and direction of a rotational body |
| DE10006467A1 (de) * | 2000-02-14 | 2001-08-16 | Bayerische Motoren Werke Ag | Brennkraftmaschinen-Kurbelwelle mit einem Zahnrad |
| DE10013196B4 (de) | 2000-03-17 | 2004-02-26 | Festo Ag & Co. | Positionserfassungseinrichtung |
| US6486661B2 (en) * | 2001-02-12 | 2002-11-26 | Delphi Technologies, Inc. | Sensor bias drift compensation |
| US20030117132A1 (en) * | 2001-12-21 | 2003-06-26 | Gunnar Klinghult | Contactless sensing input device |
| DE10202319A1 (de) * | 2002-01-23 | 2003-07-31 | Bosch Gmbh Robert | Winkelsensor mit magnetoelektrischem Wandlerelement |
| EP1474862A2 (en) * | 2002-02-01 | 2004-11-10 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Additive dc component detection included in an input burst signal |
| DE10246064A1 (de) * | 2002-10-02 | 2004-04-15 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Anordnung der Auswertung der Signale einer Magnetfeldsensoranordnung |
| US7375509B2 (en) * | 2005-03-02 | 2008-05-20 | Stoneridge Control Devices, Inc. | System and method for position sensing using inflection point position sensing of a sensor output |
| DE102007019923A1 (de) * | 2007-04-27 | 2008-10-30 | Schaeffler Kg | Nockenwellenverstellsystem |
| CN104682814A (zh) * | 2013-11-29 | 2015-06-03 | 台达电子工业股份有限公司 | 风扇防回风系统及方法 |
| CN108628467B (zh) | 2017-03-23 | 2021-05-07 | 微软技术许可有限责任公司 | 使用磁场进行输入检测的输入设备 |
| US10829201B2 (en) | 2019-03-20 | 2020-11-10 | Pratt & Whitney Canada Corp. | Blade angle position feedback system with extended markers |
Family Cites Families (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB990993A (en) * | 1960-09-19 | 1965-05-05 | Ass Elect Ind | Improvements in and relating to electric signal generators |
| GB1063041A (en) * | 1964-02-06 | 1967-03-30 | Marconi Co Ltd | Improvements in or relating to wave form shaping circuit arrangements |
| DE2114149C3 (de) * | 1971-03-24 | 1973-09-20 | Robert Bosch Fernsehanlagen Gmbh, 6100 Darmstadt | Amphtudendiskriminator fur eine Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines Korrektursignals zur Flankenverstelle rung von Impulsen |
| US3832635A (en) * | 1972-01-07 | 1974-08-27 | Canadian Nat Railway Co | Combined digital-analogue speedometer |
| US3819268A (en) * | 1972-08-10 | 1974-06-25 | Iomec | Velocity determination with optoelectronic linear position transducer |
| US3970935A (en) * | 1975-02-18 | 1976-07-20 | Burroughs Corporation | Wide-range digital reluctance tachometer |
| JPS5285865A (en) * | 1976-01-09 | 1977-07-16 | Asahi Chemical Ind | Method and apparatus for detecting rpm of rotary object |
| FR2366572A1 (fr) * | 1976-03-19 | 1978-04-28 | Snecma | Chaine de mesure de vitesse de rotation auto-alimentee |
| US4213085A (en) * | 1978-08-28 | 1980-07-15 | Ramer Daniel J | Phase inversion test device |
| US4293814A (en) * | 1979-08-08 | 1981-10-06 | Ford Motor Company | Crankshaft position sensor circuitry for providing stable cyclical output signals without regard to peak to peak variations in sensor signals |
| JPS57200814A (en) * | 1981-06-04 | 1982-12-09 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Detection amplifier |
| DE3201811A1 (de) * | 1982-01-21 | 1983-09-08 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Einrichtung zur erfassung von drehzahl, winkel, lage |
| DE3220896A1 (de) * | 1982-06-03 | 1983-12-08 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Sensor |
| US4518918A (en) * | 1982-09-28 | 1985-05-21 | Sprague Electric Company | Ferromagnetic article detector with dual Hall-sensors |
| US4737710A (en) * | 1983-01-27 | 1988-04-12 | Trw Inc. | Hall-effect array for sensing second spatial derivative of magnetic field |
| US4629982A (en) * | 1983-07-01 | 1986-12-16 | Transducer Systems, Inc. | Apparatus for detecting motion and direction using magnetoresistive sensors producing sum and difference signals |
| FR2571134B1 (fr) * | 1984-10-03 | 1988-08-12 | Peugeot | Dispositif detecteur de la position angulaire d'un disque ou d'une couronne dentee rotatif |
| WO1989009412A1 (en) * | 1988-03-31 | 1989-10-05 | Anritsu Corporation | Transition condition detector and measuring instrument utilizing the same |
| DE3904958A1 (de) * | 1989-02-18 | 1990-08-23 | Dienes Apparatebau Gmbh | Positionsgeber fuer maschinenteile |
| US5196794A (en) * | 1989-03-14 | 1993-03-23 | Mitsubishi Denki K.K. | Hall-effect sensor with integrally molded frame, magnet, flux guide and insulative film |
| JP2593955B2 (ja) * | 1990-09-28 | 1997-03-26 | オ−クマ株式会社 | エンコーダ |
| JPH04138205U (ja) * | 1991-06-17 | 1992-12-24 | 浜松光電株式会社 | 位置検出装置 |
| DE4131004A1 (de) * | 1991-09-18 | 1993-03-25 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur zylindererkennung |
| DE4209212A1 (de) * | 1992-03-21 | 1993-09-23 | Schaeffler Waelzlager Kg | Anordnung zur erzielung von hohen orts-/winkelaufloesungen mit digitalen hallsensoren in inkrementalen weg-/winkelgebern |
| ES2084870T3 (es) * | 1992-05-15 | 1996-05-16 | Siemens Ag | Disposicion para la deteccion sin contacto del numero de revoluciones o posicion de una parte de transmisor giratoria. |
| DE9216703U1 (de) * | 1992-12-08 | 1993-02-25 | AB Elektronik GmbH, 4712 Werne | Anordnung zur Erfassung der Position rotierender Wellen |
-
1993
- 1993-12-17 DE DE4343198A patent/DE4343198C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1994
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