JP3457463B2 - 光学的記憶装置 - Google Patents
光学的記憶装置Info
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
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- G—PHYSICS
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- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
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- G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
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- G11B7/0045—Recording
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- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/006—Overwriting
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- G11B11/10502—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing characterised by the transducing operation to be executed
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- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＭＯカートリッジ
等の書替え可能な媒体を用いた光学的記憶装置に関し、
特に、媒体ローディング時にレーザダイオードの発光パ
ワーを効率的に最適パワーに調整する光学的記憶装置に
関する。
等の書替え可能な媒体を用いた光学的記憶装置に関し、
特に、媒体ローディング時にレーザダイオードの発光パ
ワーを効率的に最適パワーに調整する光学的記憶装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクは、近年急速に発展するマル
チメディアの中核となる記憶媒体として注目されてお
り、例えば３．５インチのＭＯカートリッジを見ると、
旧来の１２８ＭＢや２３０ＭＢに加え、近年にあって
は、５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度記録の媒体
も提供されつつある。このため、光ディスククドライブ
としては、現在入手できる１８０ＭＢ、２３０ＭＢ、５
４０ＭＢ及び６４０ＭＢといった全ての媒体を使用でき
ることが望まれる。
チメディアの中核となる記憶媒体として注目されてお
り、例えば３．５インチのＭＯカートリッジを見ると、
旧来の１２８ＭＢや２３０ＭＢに加え、近年にあって
は、５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度記録の媒体
も提供されつつある。このため、光ディスククドライブ
としては、現在入手できる１８０ＭＢ、２３０ＭＢ、５
４０ＭＢ及び６４０ＭＢといった全ての媒体を使用でき
ることが望まれる。
【０００３】また近年、急速に普及しているパーソナル
コンピュータにあっては、再生専用として知られたコン
パクトディスク（ＣＤ）の再生機能が不可欠であり、Ｃ
Ｄ用の光ディスクドライブに加え、書替え可能な光ディ
スク装置であるＭＯカートリッジの光ディスクドライブ
を実装することは、スペース的及びコスト的に無理があ
る。
コンピュータにあっては、再生専用として知られたコン
パクトディスク（ＣＤ）の再生機能が不可欠であり、Ｃ
Ｄ用の光ディスクドライブに加え、書替え可能な光ディ
スク装置であるＭＯカートリッジの光ディスクドライブ
を実装することは、スペース的及びコスト的に無理があ
る。
【０００４】このため近年にあっては、ＭＯカートリッ
ジとＣＤの両方を使用できる光ディスクドライブも開発
されている。このＣＤ／ＭＯ共用型の光ディスクドライ
ブは、光学系、機構構造及びコントローラ回路部につ
き、可能な限りＣＤ用とＭＯカートリッジ用の共用化を
図っている。ところで、光ディスクドライブに使用する
ＭＯカートリッジにあっては、媒体トラックをゾーン分
割し、ゾーン毎のセクタ数を同一としたＺＣＡＶ記録
（ゾーン定角速度記録）を採用している。ＭＯ媒体のゾ
ーン数は、従来の１２８ＭＢ媒体では１ゾーン、２３０
ＭＢ媒体では１０ゾーンとなっているが、近年実用化さ
れた５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度のＰＷＭ記
録媒体にあっては、記録密度の向上に伴って媒体のトラ
ックピッチが狭くなり、ゾーン数も増加している。
ジとＣＤの両方を使用できる光ディスクドライブも開発
されている。このＣＤ／ＭＯ共用型の光ディスクドライ
ブは、光学系、機構構造及びコントローラ回路部につ
き、可能な限りＣＤ用とＭＯカートリッジ用の共用化を
図っている。ところで、光ディスクドライブに使用する
ＭＯカートリッジにあっては、媒体トラックをゾーン分
割し、ゾーン毎のセクタ数を同一としたＺＣＡＶ記録
（ゾーン定角速度記録）を採用している。ＭＯ媒体のゾ
ーン数は、従来の１２８ＭＢ媒体では１ゾーン、２３０
ＭＢ媒体では１０ゾーンとなっているが、近年実用化さ
れた５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度のＰＷＭ記
録媒体にあっては、記録密度の向上に伴って媒体のトラ
ックピッチが狭くなり、ゾーン数も増加している。
【０００５】即ち、６４０ＭＢ媒体は１１ゾーン、５４
０ＭＢ媒体では１８ゾーンとなっている。通常、ＭＯカ
ートリッジを使用する光ディスク媒体の場合、媒体毎に
最適な記録パワーに相違があることから、媒体をローデ
ィングした際に、ゾーン毎に試し書きを行って最適な記
録パワーに調整する発光調整を行っている。
０ＭＢ媒体では１８ゾーンとなっている。通常、ＭＯカ
ートリッジを使用する光ディスク媒体の場合、媒体毎に
最適な記録パワーに相違があることから、媒体をローデ
ィングした際に、ゾーン毎に試し書きを行って最適な記
録パワーに調整する発光調整を行っている。
【０００６】また従来の１２８ＭＢや２３０ＭＢ媒体
は、ピットポジション変調（ＰＷＭ）による記録であ
り、発光パワーはイレーズパワーと記録パワーの２段階
の変化でよい。これに対し５４０ＭＢや６４０ＭＢのＰ
ＷＭ媒体では、記録密度を高めるためにパルストレイン
による記録を採用している。パルストレイン記録では、
発光パワーを、イレーズパワー、第１ライトパワー、及
び第２ライトパワーの３段階に変化させる必要がある。
は、ピットポジション変調（ＰＷＭ）による記録であ
り、発光パワーはイレーズパワーと記録パワーの２段階
の変化でよい。これに対し５４０ＭＢや６４０ＭＢのＰ
ＷＭ媒体では、記録密度を高めるためにパルストレイン
による記録を採用している。パルストレイン記録では、
発光パワーを、イレーズパワー、第１ライトパワー、及
び第２ライトパワーの３段階に変化させる必要がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このためゾーン数が増
加した５４０ＭＢや６４０ＭＢの媒体について、ゾーン
毎に発光調整を行うと、パルストレイン記録により発光
パワーの種類が増加したことと併せ、調整に非常に時間
がかる問題がある。また、発光調整時には、実際のＰＰ
Ｍ記録やＰＷＭ記録における瞬時的なライト発光に比べ
ると、調整を必要とする比較的長い時間に亘ってファー
ムウェアの指定するデフォルト値によってレーザダイオ
ードが発光駆動される。これは実質的にレーザダイオー
ドをＤＣ発光させることとなり、高い発光パワーで発光
調整を行なうとレーザダイオードにダメージを与え、劣
化を早めてしまう恐れもあった。
加した５４０ＭＢや６４０ＭＢの媒体について、ゾーン
毎に発光調整を行うと、パルストレイン記録により発光
パワーの種類が増加したことと併せ、調整に非常に時間
がかる問題がある。また、発光調整時には、実際のＰＰ
Ｍ記録やＰＷＭ記録における瞬時的なライト発光に比べ
ると、調整を必要とする比較的長い時間に亘ってファー
ムウェアの指定するデフォルト値によってレーザダイオ
ードが発光駆動される。これは実質的にレーザダイオー
ドをＤＣ発光させることとなり、高い発光パワーで発光
調整を行なうとレーザダイオードにダメージを与え、劣
化を早めてしまう恐れもあった。
【０００８】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたもので、ゾーン数が多くともレーザタイオー
ドに負担を掛けることなく効率良く発光調整ができるよ
うにした光学的記憶装置を提供することを目的とする。
また従来の光ディスクドライブにあっては、媒体のデー
タ書込みに使用するライトパワーは、媒体の種類及び媒
体温度により最適パワーが異なっている。このため光デ
ィスクドライブに媒体をローディングした際、媒体にテ
ストパターンの試し書き、即ちテストライトを行うこと
で最適パワーを決定するパワー調整処理を行っている。
てなされたもので、ゾーン数が多くともレーザタイオー
ドに負担を掛けることなく効率良く発光調整ができるよ
うにした光学的記憶装置を提供することを目的とする。
また従来の光ディスクドライブにあっては、媒体のデー
タ書込みに使用するライトパワーは、媒体の種類及び媒
体温度により最適パワーが異なっている。このため光デ
ィスクドライブに媒体をローディングした際、媒体にテ
ストパターンの試し書き、即ちテストライトを行うこと
で最適パワーを決定するパワー調整処理を行っている。
【０００９】従来のパワー調整処理は、図５７のよう
に、デフォルトパワーとして与えられたライトパワーを
スタート４０１のパワーとして、例えばライトパワーを
段階的に減少させながらテストパターンの書込みと読出
しを繰り返してデータ不一致数（エラー数）を計数す
る。ライトパワーを低下させて限界パワーに近づくと、
データ不一致数が増加し、例えば１０００個を超える限
界点４０４の限界パワーＷＰａを求める。
に、デフォルトパワーとして与えられたライトパワーを
スタート４０１のパワーとして、例えばライトパワーを
段階的に減少させながらテストパターンの書込みと読出
しを繰り返してデータ不一致数（エラー数）を計数す
る。ライトパワーを低下させて限界パワーに近づくと、
データ不一致数が増加し、例えば１０００個を超える限
界点４０４の限界パワーＷＰａを求める。
【００１０】次に、スタート点４０１からライトパワー
を段階的に増加させながらテストパターンの書込みと読
出しを繰り返してデータ不一致数（エラー数）を計数す
る。ライトパワーを増加させて限界パワーに近づくと、
データ不一致数が増加し、例えば１０００個を超える限
界点４０６の限界パワーＷＰｂを求める。このように上
下限の限界パワーＷＰａ，ＷＰｂが検出できたならば、
その中間のライトパワー（ＷＰｂ−ＷＰａ）／２を最適
ライトパワーＷＰ-best と決定する。
を段階的に増加させながらテストパターンの書込みと読
出しを繰り返してデータ不一致数（エラー数）を計数す
る。ライトパワーを増加させて限界パワーに近づくと、
データ不一致数が増加し、例えば１０００個を超える限
界点４０６の限界パワーＷＰｂを求める。このように上
下限の限界パワーＷＰａ，ＷＰｂが検出できたならば、
その中間のライトパワー（ＷＰｂ−ＷＰａ）／２を最適
ライトパワーＷＰ-best と決定する。
【００１１】しかしながら、このような従来の光ディス
クドライブにおけるテストライトを伴うライトパワーの
調整処理にあっては、スタートパワーを起点にライトパ
ワーを減少及び増加させながら２つの限界パワーを検出
しなければならないため、限界パワーの検出に時間がか
かり、例えば媒体をローディングしてからレディ状態に
なるまでに時間がかかる問題がある。
クドライブにおけるテストライトを伴うライトパワーの
調整処理にあっては、スタートパワーを起点にライトパ
ワーを減少及び増加させながら２つの限界パワーを検出
しなければならないため、限界パワーの検出に時間がか
かり、例えば媒体をローディングしてからレディ状態に
なるまでに時間がかかる問題がある。
【００１２】
【００１３】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。 （発光調整）本発明に従えば、ゾーン数が多くともレー
ザタイオードに負担を掛けることなく効率良く発光調整
ができるようにした光学的記憶装置が提供される。
図である。 （発光調整）本発明に従えば、ゾーン数が多くともレー
ザタイオードに負担を掛けることなく効率良く発光調整
ができるようにした光学的記憶装置が提供される。
【００１４】本発明の光学的記憶装置は、媒体の記録再
生に使用するレーザ光を発光するレーザダイオード１０
０を有する。媒体の記録時には、発光電流源により複数
の異なる規定パワーの組合せに応じた駆動電流をレーザ
ダイオード１００に流す。発光電流源は、レジスタ、Ｄ
Ａコンバータ及び電流源回路で構成され、発光電流源で
流す電流値は、レジスタとＤＡコンバータを用いた発光
電流指示部が指示する。またレーザダイオード１００の
発光パワーを規定の目標パワーに制御する自動パワー制
御部（ＡＰＣ；Automatic Power Control) １３８が設
けられる。自動パワー制御部１３８は、例えば規定の目
標リードパワーに制御する。
生に使用するレーザ光を発光するレーザダイオード１０
０を有する。媒体の記録時には、発光電流源により複数
の異なる規定パワーの組合せに応じた駆動電流をレーザ
ダイオード１００に流す。発光電流源は、レジスタ、Ｄ
Ａコンバータ及び電流源回路で構成され、発光電流源で
流す電流値は、レジスタとＤＡコンバータを用いた発光
電流指示部が指示する。またレーザダイオード１００の
発光パワーを規定の目標パワーに制御する自動パワー制
御部（ＡＰＣ；Automatic Power Control) １３８が設
けられる。自動パワー制御部１３８は、例えば規定の目
標リードパワーに制御する。
【００１５】レーザダイオード１００には、レーザ光の
一部を受光して受光電流を出力するモニタ受光素子１０
２が設けられる。媒体の記録時には、受光電流から規定
の発光パワーと目標リードパワーの差に相当する規定の
差引電流を差し引いてモニタ電流とし、このモニタ電流
を自動パワー制御部に帰還させる。このため目標リード
パワーを越えるイレーズパワー及びライトパワーの発光
時にも、リードパワー相当のモニタ電流が自動パワー制
御部１３８に帰還される。差引電流源はレジスタ、ＤＡ
コンバータ及び電流源回路で構成され、差引電流はレジ
スタ指示値によりＤＡコンバータを備えた差引電流指示
部が電流源回路を制御して流す。差引電流源から得られ
たモニタ電流は、パワー測定部となるモニタ用ＡＤコン
バータ１５２が読み込む。
一部を受光して受光電流を出力するモニタ受光素子１０
２が設けられる。媒体の記録時には、受光電流から規定
の発光パワーと目標リードパワーの差に相当する規定の
差引電流を差し引いてモニタ電流とし、このモニタ電流
を自動パワー制御部に帰還させる。このため目標リード
パワーを越えるイレーズパワー及びライトパワーの発光
時にも、リードパワー相当のモニタ電流が自動パワー制
御部１３８に帰還される。差引電流源はレジスタ、ＤＡ
コンバータ及び電流源回路で構成され、差引電流はレジ
スタ指示値によりＤＡコンバータを備えた差引電流指示
部が電流源回路を制御して流す。差引電流源から得られ
たモニタ電流は、パワー測定部となるモニタ用ＡＤコン
バータ１５２が読み込む。
【００１６】発光調整処理部は、調整モードの設定時
に、発光電流源のＤＡコンバータに予め定めた２点のテ
ストパワーでの発光を順次指示してレーザダイオードを
発光駆動すると共に、差引電流源の差引用ＤＡコンバー
タに２点のテストパワーに対応する規定の差引電流を指
示してモニタ用測定部のモニタＡＤコンバータから各テ
ストパワーを測定し、この測定結果に基づき、発光電流
源及び差引電流源における任意のパワーに対する電流指
示値との関係を直線近似により求めてパワーテーブル１
８０に登録する。
に、発光電流源のＤＡコンバータに予め定めた２点のテ
ストパワーでの発光を順次指示してレーザダイオードを
発光駆動すると共に、差引電流源の差引用ＤＡコンバー
タに２点のテストパワーに対応する規定の差引電流を指
示してモニタ用測定部のモニタＡＤコンバータから各テ
ストパワーを測定し、この測定結果に基づき、発光電流
源及び差引電流源における任意のパワーに対する電流指
示値との関係を直線近似により求めてパワーテーブル１
８０に登録する。
【００１７】発光調整処理部は、具体的には、発光粗調
整処理部１６２と発光微調整処理部１６４で構成され
る。発光粗調整処理部１６２は、オントラック制御を解
除した状態で、発光電流源のＤＡコンバータに、予め定
めた２点のテストパワーでの発光を順次指示してレーザ
ダイオードを発光駆動すると共に、差引電流源のＤＡコ
ンバータに２点のテストパワーに対応する規定の差引電
流を指示してモニタ測定部のＡＤコンバータから各テス
トパワーを測定する。
整処理部１６２と発光微調整処理部１６４で構成され
る。発光粗調整処理部１６２は、オントラック制御を解
除した状態で、発光電流源のＤＡコンバータに、予め定
めた２点のテストパワーでの発光を順次指示してレーザ
ダイオードを発光駆動すると共に、差引電流源のＤＡコ
ンバータに２点のテストパワーに対応する規定の差引電
流を指示してモニタ測定部のＡＤコンバータから各テス
トパワーを測定する。
【００１８】そして、この２点の測定結果に基づき、
任意の発光パワーに対するモニタ用のパワー測定値と
の関係、 任意の発光パワーに対する発光用の電流指示値との関
係、及び 任意の発光パワーに対する差引用の電流指示値との関
係 を各々直線近似により求めてパワーテーブル１８０に登
録する。
の関係、 任意の発光パワーに対する発光用の電流指示値との関
係、及び 任意の発光パワーに対する差引用の電流指示値との関
係 を各々直線近似により求めてパワーテーブル１８０に登
録する。
【００１９】発光微調整処理部１６４は、オントラック
制御し且つ自動パワー制御をオンした状態で、発光電流
源のＤＡコンバータに、予め定めた２点のテストパワー
での発光を順次指示してレーザダイオード１００を発光
駆動すると共に、差引電流源のＤＡコンバータに２点の
テストパワーに対応する規定の差引電流を指示し、モニ
タ測定部のＡＤコンバータによる測定パワーが目標リー
ドパワーとなるように発光電流源のＤＡコンバータの指
示値を調整する。そして、この２点の調整結果に基づ
き、任意の発光パワーに対する発光用の電流指示値との
関係を、直線近似により求めてパワーテーブル１８０を
補正する。
制御し且つ自動パワー制御をオンした状態で、発光電流
源のＤＡコンバータに、予め定めた２点のテストパワー
での発光を順次指示してレーザダイオード１００を発光
駆動すると共に、差引電流源のＤＡコンバータに２点の
テストパワーに対応する規定の差引電流を指示し、モニ
タ測定部のＡＤコンバータによる測定パワーが目標リー
ドパワーとなるように発光電流源のＤＡコンバータの指
示値を調整する。そして、この２点の調整結果に基づ
き、任意の発光パワーに対する発光用の電流指示値との
関係を、直線近似により求めてパワーテーブル１８０を
補正する。
【００２０】このように本発明の発光調整は、２点のテ
ストパワーの指定による測定パワーから、例えば発光電
流源の電流指示値ｙと発光パワーｘの関係を直線近似し
た関係式ｙ＝ａｘ＋ｂの係数である傾きａとｙ軸交点ｂ
を求め、これによって任意の発光パワーｘでの発光電流
源への電流指示値を算出できる。このため調整時のテス
トパワーは２点の発光で済み、特に２点のテストパワー
を低パワー側に設定することで、レーザダイオードの負
担を軽減できる。
ストパワーの指定による測定パワーから、例えば発光電
流源の電流指示値ｙと発光パワーｘの関係を直線近似し
た関係式ｙ＝ａｘ＋ｂの係数である傾きａとｙ軸交点ｂ
を求め、これによって任意の発光パワーｘでの発光電流
源への電流指示値を算出できる。このため調整時のテス
トパワーは２点の発光で済み、特に２点のテストパワー
を低パワー側に設定することで、レーザダイオードの負
担を軽減できる。
【００２１】発光用電流源は、リードパワー電流源１０
４、イレーズパワー電流源１０６、第１ライトパワー電
流源１０８、及び第２ライトパワー電流源１１０を備え
る。リードパワー電流源１０４は、レーザダイオードに
よるリードパワー、イレーズパワーＰ、第１ライトパワ
ー及び第２ライトパワーの発光時に、レーザダイオード
に第１パワーレベル、例えばリードパワーレベルで発光
させるためのリードパワー電流Ｉ0 を流す。
４、イレーズパワー電流源１０６、第１ライトパワー電
流源１０８、及び第２ライトパワー電流源１１０を備え
る。リードパワー電流源１０４は、レーザダイオードに
よるリードパワー、イレーズパワーＰ、第１ライトパワ
ー及び第２ライトパワーの発光時に、レーザダイオード
に第１パワーレベル、例えばリードパワーレベルで発光
させるためのリードパワー電流Ｉ0 を流す。
【００２２】イレーズパワー電流源106 は、レーザダイ
オードによるイレーズパワー、第１ライトパワー及び第
２ライトパワーの発光時に、レーザダイオードをイレー
ズパワーで発光させるためのイレーズパワー電流I1を、
リードパワー電流Ｉ0 に加算して流す。第１ライトパワ
ー電流源１０８は、レーザダイオードによる第１ライト
パワーの発光時に、レーザダイオードを第２パワーレベ
ル、例えば第１ライトパワーレベルで発光させるための
第１ライトパワー電流Ｉ2 を、リードパワー電流Ｉ0 及
びイレーズ電流Ｉ1 に加算して流す。
オードによるイレーズパワー、第１ライトパワー及び第
２ライトパワーの発光時に、レーザダイオードをイレー
ズパワーで発光させるためのイレーズパワー電流I1を、
リードパワー電流Ｉ0 に加算して流す。第１ライトパワ
ー電流源１０８は、レーザダイオードによる第１ライト
パワーの発光時に、レーザダイオードを第２パワーレベ
ル、例えば第１ライトパワーレベルで発光させるための
第１ライトパワー電流Ｉ2 を、リードパワー電流Ｉ0 及
びイレーズ電流Ｉ1 に加算して流す。
【００２３】更に、第２ライトパワー電流源１１０は、
レーザダイオードによる第２ライトパワーの発光時に、
レーザダイオードに第３パワーレベル、例えば第２ライ
トパワーレベルで発光させるための第２ライトパワー電
流Ｉ３を、リードパワー電流Ｉ０及びイレーズパワー電
流Ｉ１に加算して流す。発光電流指示部は、リードパワ
ー電流源、第１ライトパワー電流源及び第２ライトパワ
ー電流源の各々の電流値を指示するＤＡコンバータ１３
６〜１４４を個別に備える。
レーザダイオードによる第２ライトパワーの発光時に、
レーザダイオードに第３パワーレベル、例えば第２ライ
トパワーレベルで発光させるための第２ライトパワー電
流Ｉ３を、リードパワー電流Ｉ０及びイレーズパワー電
流Ｉ１に加算して流す。発光電流指示部は、リードパワ
ー電流源、第１ライトパワー電流源及び第２ライトパワ
ー電流源の各々の電流値を指示するＤＡコンバータ１３
６〜１４４を個別に備える。
【００２４】差引用電流源は、イレーズパワー差引電流
源１１２、第１ライトパワー差引電流源１１４、及び第
２ライトパワー差引電流源１１６を備える。イレーズパ
ワー差引電流源１１２は、イレーズパワー、第１ライト
パワー及び第２ライトパワーの発光時に、受光素子の受
光電流ｉ0 からイレーズパワー分の受光電流ｉ1 を差し
引く。
源１１２、第１ライトパワー差引電流源１１４、及び第
２ライトパワー差引電流源１１６を備える。イレーズパ
ワー差引電流源１１２は、イレーズパワー、第１ライト
パワー及び第２ライトパワーの発光時に、受光素子の受
光電流ｉ0 からイレーズパワー分の受光電流ｉ1 を差し
引く。
【００２５】第１ライトパワー差引電流源１１４は、第
１ライトパワーの発光時に、受光素子の受光電流ｉ0 か
ら第１ライトパワー分の受光電流ｉ2 を差し引く。更
に、第２ライトパワー差引電流源１１６は、第２ライト
パワーの発光時に、受光素子の受光電流ｉ0 から第２ラ
イトパワー分の受光電流ｉ3 を差し引く。差引電流指示
部は、リードパワー差引電流源、第１ライトパワー差引
電流源及び第２ライトパワー差引電流源の各々の電流値
を指示するＤＡコンバータ１４６〜１５０を個別に備え
る。
１ライトパワーの発光時に、受光素子の受光電流ｉ0 か
ら第１ライトパワー分の受光電流ｉ2 を差し引く。更
に、第２ライトパワー差引電流源１１６は、第２ライト
パワーの発光時に、受光素子の受光電流ｉ0 から第２ラ
イトパワー分の受光電流ｉ3 を差し引く。差引電流指示
部は、リードパワー差引電流源、第１ライトパワー差引
電流源及び第２ライトパワー差引電流源の各々の電流値
を指示するＤＡコンバータ１４６〜１５０を個別に備え
る。
【００２６】装置にローディングされた媒体がピットポ
ジション変調（ＰＰＭ）の記録媒体の場合、発光粗調整
処理部１６２及び発光微調整処理部１６４は、イレーズ
パワー及び第１ライトパワーの各々を調整する。また装
置にローディングされた媒体がパルス幅変調（ＰＷＭ）
の記録媒体の場合、発光粗調整処理部１６２及び発光微
調整処理部１６４は、イレーズパワー、第１ライトパワ
ー、及び第２ライトパワーの各々を調整する。
ジション変調（ＰＰＭ）の記録媒体の場合、発光粗調整
処理部１６２及び発光微調整処理部１６４は、イレーズ
パワー及び第１ライトパワーの各々を調整する。また装
置にローディングされた媒体がパルス幅変調（ＰＷＭ）
の記録媒体の場合、発光粗調整処理部１６２及び発光微
調整処理部１６４は、イレーズパワー、第１ライトパワ
ー、及び第２ライトパワーの各々を調整する。
【００２７】発光粗調整処理部１６２及び発光微調整処
理部１６４は、半径方向にトラックを複数単位に分割し
た媒体のゾーンを複数領域、例えば内周領域、中間領
域、外周領域の３領域に分割する。そして、各領域の最
内周ゾーンと最外周ゾーンの各々につき、テストパワー
を指示して発光パワーを測定しながら２点で調整する。
最内周ゾーンと最外周ゾーン外周端の間のゾーンの調整
値は、２点のテストパワーと測定パワーの直線近似の関
係式から算出して設定する。
理部１６４は、半径方向にトラックを複数単位に分割し
た媒体のゾーンを複数領域、例えば内周領域、中間領
域、外周領域の３領域に分割する。そして、各領域の最
内周ゾーンと最外周ゾーンの各々につき、テストパワー
を指示して発光パワーを測定しながら２点で調整する。
最内周ゾーンと最外周ゾーン外周端の間のゾーンの調整
値は、２点のテストパワーと測定パワーの直線近似の関
係式から算出して設定する。
【００２８】このため、ゾーン数が増加しても、調整の
ためのライトパワーでの発光は、内周と外周の２つのゾ
ーンのみで済み、ライト発光を伴う調整に必要な時間を
大幅に短縮できる。発光粗調整処理部１６２及び発光微
調整処理部１６４は、テストパワーとしてイレーズパワ
ーとライトパワーを個別に指定して調整する。また発光
微調整処理部１６４は、発光粗調整処理部１６２により
調整されたパワーテーブルの調整値（調整済みデフォル
ト値）に基づいて、テストパワーに対応する発光電流指
示部のＤＡコンバータ及び差引電流指示部のＤＡコンバ
ータに対する指示値を算出して設定する。
ためのライトパワーでの発光は、内周と外周の２つのゾ
ーンのみで済み、ライト発光を伴う調整に必要な時間を
大幅に短縮できる。発光粗調整処理部１６２及び発光微
調整処理部１６４は、テストパワーとしてイレーズパワ
ーとライトパワーを個別に指定して調整する。また発光
微調整処理部１６４は、発光粗調整処理部１６２により
調整されたパワーテーブルの調整値（調整済みデフォル
ト値）に基づいて、テストパワーに対応する発光電流指
示部のＤＡコンバータ及び差引電流指示部のＤＡコンバ
ータに対する指示値を算出して設定する。
【００２９】発光微調整処理部１６４は、媒体の試し書
きにより決定された最適ライトパワーが、パワーテーブ
ルに登録されたライトパワーを調整値（デフォルト値）
を基準とする比率で表わした補正係数（オフセット比）
として与えられた際に、テストパワーに補正係数を乗じ
て最適テストパワーに修正する。発光微調整処理部１６
４は、最適パワーの補正係数が与えられた際に、予め定
められた補正係数の上限値と下限値をもつ係数限界範囲
と比較し、係数限界範囲を外れた場合は、パワー補正係
数を前記上限値又は下限値にリミットする。
きにより決定された最適ライトパワーが、パワーテーブ
ルに登録されたライトパワーを調整値（デフォルト値）
を基準とする比率で表わした補正係数（オフセット比）
として与えられた際に、テストパワーに補正係数を乗じ
て最適テストパワーに修正する。発光微調整処理部１６
４は、最適パワーの補正係数が与えられた際に、予め定
められた補正係数の上限値と下限値をもつ係数限界範囲
と比較し、係数限界範囲を外れた場合は、パワー補正係
数を前記上限値又は下限値にリミットする。
【００３０】発光微調整処理部１６４は、パワー補正係
数の上限値と下限値についても、半径方向にトラックを
複数単位に分割した媒体のゾーンを複数領域に分割し、
各分割領域の最内周ゾーンのライトパワーを最小パワー
として下限値に対する下限比率を求めると共に、最外周
ゾーンのライトパワーを最大パワーとして上限値に対す
る上限比率を求め、最内周ゾーンと最外周ゾーン外周端
の間の任意のゾーンは下限比率と上限比率の直線近似の
関係式から算出して上限比率及び下限比率を設定する。
このためゾーン毎の上限値及び下限値の設定が不要とな
り、上下限の設定が簡単にできる。
数の上限値と下限値についても、半径方向にトラックを
複数単位に分割した媒体のゾーンを複数領域に分割し、
各分割領域の最内周ゾーンのライトパワーを最小パワー
として下限値に対する下限比率を求めると共に、最外周
ゾーンのライトパワーを最大パワーとして上限値に対す
る上限比率を求め、最内周ゾーンと最外周ゾーン外周端
の間の任意のゾーンは下限比率と上限比率の直線近似の
関係式から算出して上限比率及び下限比率を設定する。
このためゾーン毎の上限値及び下限値の設定が不要とな
り、上下限の設定が簡単にできる。
【００３１】発光粗調整処理部１６２は、装置にローデ
ィングされた媒体がピットポジション変調（ＰＰＭ）の
記録媒体及びパルス幅変調（ＰＷＭ）の記録媒体の場
合、いずれについてもイレーズパワーと第１ライトパワ
ーを調整してパワーテーブルに登録する。これに対し、
発光微調整処理部１６４は、パルス幅変調（ＰＷＭ）の
記録媒体の場合、イレーズパワー、第１ライトパワーに
加え、第１ライトパワーを基準とした第２ライトパワー
のパワー比率を登録し、第２ライトパワーの設定は、指
定した第１ライトパワーにパワー比率を乗じて算出す
る。
ィングされた媒体がピットポジション変調（ＰＰＭ）の
記録媒体及びパルス幅変調（ＰＷＭ）の記録媒体の場
合、いずれについてもイレーズパワーと第１ライトパワ
ーを調整してパワーテーブルに登録する。これに対し、
発光微調整処理部１６４は、パルス幅変調（ＰＷＭ）の
記録媒体の場合、イレーズパワー、第１ライトパワーに
加え、第１ライトパワーを基準とした第２ライトパワー
のパワー比率を登録し、第２ライトパワーの設定は、指
定した第１ライトパワーにパワー比率を乗じて算出す
る。
【００３２】この場合、発光微調整処理部１６４は、各
パワー及びパワー比率をゾーン番号毎にパワーテーブル
に登録し、第２ライトパワーの設定は、指定ゾーンの第
１ライトパワーに同じ指定ゾーンのパワー比率を乗じて
算出する。パワー比率は温度により変化する値である。
温度に応じたパワー比率を得るため、発光微調整処理部
１６４は、内周側ゾーンの異なる２点の温度Ｔ１，Ｔ２
の各々におけるパワー比率ｙ１，ｙ２と、外周側ゾーン
の異なる２点の温度Ｔ１，Ｔ２の各々におけるパワー比
率ｙ３，ｙ４との４点から、２つの温度Ｔ１，Ｔ２に対
するパワー比率の直線近似による２つの関係式ｙ＝ａ１
・Ｔ＋ｂ１、ｙ＝ａ２・Ｔ＋ｂ２を求める。
パワー及びパワー比率をゾーン番号毎にパワーテーブル
に登録し、第２ライトパワーの設定は、指定ゾーンの第
１ライトパワーに同じ指定ゾーンのパワー比率を乗じて
算出する。パワー比率は温度により変化する値である。
温度に応じたパワー比率を得るため、発光微調整処理部
１６４は、内周側ゾーンの異なる２点の温度Ｔ１，Ｔ２
の各々におけるパワー比率ｙ１，ｙ２と、外周側ゾーン
の異なる２点の温度Ｔ１，Ｔ２の各々におけるパワー比
率ｙ３，ｙ４との４点から、２つの温度Ｔ１，Ｔ２に対
するパワー比率の直線近似による２つの関係式ｙ＝ａ１
・Ｔ＋ｂ１、ｙ＝ａ２・Ｔ＋ｂ２を求める。
【００３３】次に、２つの直線関係式の２つの傾きａ
１，ａ２とパワー比率のｙ軸交点ｂ１，ｂ２の各々につ
き、内周側と外周側の２つのゾーン番号Ｎ１，Ｎ２に対
する直線近似による２つの関係式ａ＝α・Ｎ＋β、ｂ＝
γ・Ｎ＋δを求め、各々の傾きα，γ及びｙ軸交点β，
δを前記パワーテーブルに登録する。発光微調整処理部
１６４は、ゾーン番号Ｎが指定されると、指定ゾーン番
号Ｎに対するパワー比率の関係式の傾きα，γ及びｙ軸
交点β，δを読み出して温度Ｔに対する関係式の傾きａ
１，ａ２とｙ軸交点ｂ１，ｂ２を算出し、最終的に、そ
のときの測定温度Ｔから指定ゾーンのパワー比率を算出
する。
１，ａ２とパワー比率のｙ軸交点ｂ１，ｂ２の各々につ
き、内周側と外周側の２つのゾーン番号Ｎ１，Ｎ２に対
する直線近似による２つの関係式ａ＝α・Ｎ＋β、ｂ＝
γ・Ｎ＋δを求め、各々の傾きα，γ及びｙ軸交点β，
δを前記パワーテーブルに登録する。発光微調整処理部
１６４は、ゾーン番号Ｎが指定されると、指定ゾーン番
号Ｎに対するパワー比率の関係式の傾きα，γ及びｙ軸
交点β，δを読み出して温度Ｔに対する関係式の傾きａ
１，ａ２とｙ軸交点ｂ１，ｂ２を算出し、最終的に、そ
のときの測定温度Ｔから指定ゾーンのパワー比率を算出
する。
【００３４】発光微調整処理部１６４は、イレーズパワ
ー、第１ライトパワー及びパルス幅に応じた数の第２ラ
イトパワーのパルス列で発光し、発光パルス列の最後で
自動パワー制御部１３８の目標リードパワーよりも低い
値に低下させて次発光パルス列に移行するＰＷＭにより
記録する場合、目標リードパワーに対する不足パワーの
時間積と目標パワーを越える第１ライトパワーの時間積
とを等しくして相殺するように、第１ライト電流差引用
のＤＡコンバータ１４８に対する差引電流ｉ1の指示値
を減少させる。
ー、第１ライトパワー及びパルス幅に応じた数の第２ラ
イトパワーのパルス列で発光し、発光パルス列の最後で
自動パワー制御部１３８の目標リードパワーよりも低い
値に低下させて次発光パルス列に移行するＰＷＭにより
記録する場合、目標リードパワーに対する不足パワーの
時間積と目標パワーを越える第１ライトパワーの時間積
とを等しくして相殺するように、第１ライト電流差引用
のＤＡコンバータ１４８に対する差引電流ｉ1の指示値
を減少させる。
【００３５】これによってＰＷＭ記録のパルス列の最後
で、ライトパワーを零又はリードパワー以下に低下させ
ることで、パワー自動制御にパワー過剰分を補うための
大きなフィードバックがかかっても、その前に不足分を
補って相殺するパワー減少の制御が行われているため、
パワー不測によるライトパワーのドリフトを起こすこと
なく、安定したライトパワーの自動制御ができる。
で、ライトパワーを零又はリードパワー以下に低下させ
ることで、パワー自動制御にパワー過剰分を補うための
大きなフィードバックがかかっても、その前に不足分を
補って相殺するパワー減少の制御が行われているため、
パワー不測によるライトパワーのドリフトを起こすこと
なく、安定したライトパワーの自動制御ができる。
【００３６】
【００３７】
【００３８】
【００３９】
【００４０】
【００４１】
【００４２】
【００４３】
【００４４】
【００４５】
【００４６】
【００４７】
【００４８】
【００４９】
【００５０】
＜目 次＞
１．装置構成
２．発光調整
３．最適ライトパワー調整
１．装置構成
図２は本発明の光学的記憶装置である光ディスクドライ
ブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライ
ブは、コントローラ１０とエンクロージャ１２で構成さ
れる。コントローラ１０には光ディスクドライブの全体
的な制御を行うＭＰＵ１４、上位装置との間でコマンド
及びデータのやり取りを行なうインタフェースコントロ
ーラ１６、光ディスク媒体に対するデータのリード、ラ
イトに必要な処理を行うフォーマッタ１８、ＭＰＵ１
４，インタフェースコントローラ１６及びフォーマッタ
１８で共用されるバッファメモリ２０を備える。
ブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライ
ブは、コントローラ１０とエンクロージャ１２で構成さ
れる。コントローラ１０には光ディスクドライブの全体
的な制御を行うＭＰＵ１４、上位装置との間でコマンド
及びデータのやり取りを行なうインタフェースコントロ
ーラ１６、光ディスク媒体に対するデータのリード、ラ
イトに必要な処理を行うフォーマッタ１８、ＭＰＵ１
４，インタフェースコントローラ１６及びフォーマッタ
１８で共用されるバッファメモリ２０を備える。
【００５１】フォーマッタ１８に対してはライト系統と
してエンコーダ２２とレーザダイオード制御回路２４が
設けられ、レーザダイオード制御回路２４の制御出力は
エンクロージャ１２側の光学ユニットに設けたレーザダ
イオードユニット３０に与えられている。レーザダイオ
ードユニット３０はレーザダイオードとモニタ用の受光
素子を一体に備える。
してエンコーダ２２とレーザダイオード制御回路２４が
設けられ、レーザダイオード制御回路２４の制御出力は
エンクロージャ１２側の光学ユニットに設けたレーザダ
イオードユニット３０に与えられている。レーザダイオ
ードユニット３０はレーザダイオードとモニタ用の受光
素子を一体に備える。
【００５２】レーザダイオードユニット３０を使用して
記録再生を行う光ディスク、即ち書替え可能なＭＯカー
トリッジ媒体として、この実施形態にあっては１２８Ｍ
Ｂ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢ及び６４０ＭＢのいずれか
を使用することができる。このうち１２８ＭＢ及び２３
０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体については、媒体上のマ
ークの有無に対応してデータを記録するピットポジショ
ン記録（ＰＰＭ記録）を採用している。また媒体の記録
フォーマットは、ＺＣＡＶであり、１２８ＭＢは１ゾー
ン、２３０ＭＢは１０ゾーンである。
記録再生を行う光ディスク、即ち書替え可能なＭＯカー
トリッジ媒体として、この実施形態にあっては１２８Ｍ
Ｂ、２３０ＭＢ、５４０ＭＢ及び６４０ＭＢのいずれか
を使用することができる。このうち１２８ＭＢ及び２３
０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体については、媒体上のマ
ークの有無に対応してデータを記録するピットポジショ
ン記録（ＰＰＭ記録）を採用している。また媒体の記録
フォーマットは、ＺＣＡＶであり、１２８ＭＢは１ゾー
ン、２３０ＭＢは１０ゾーンである。
【００５３】一方、高密度記録となる５４０ＭＢ及び６
４０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体については、マークの
エッジ即ち前縁と後縁をデータに対応させるパルス幅記
録（ＰＷＭ記録）を採用している。ここで、６４０ＭＢ
と５４０ＭＢの記憶容量の差はセクタ容量の違いによる
もので、セクタ容量が２ＫＢのとき６４０ＭＢとなり、
一方、５１２Ｂのときは５４０ＭＢとなる。また媒体の
記録フォーマットはＺＣＡＶであり、６４０ＭＢは１１
ゾーン、５４０ＭＢは１８ゾーンである。
４０ＭＢのＭＯカートリッジ媒体については、マークの
エッジ即ち前縁と後縁をデータに対応させるパルス幅記
録（ＰＷＭ記録）を採用している。ここで、６４０ＭＢ
と５４０ＭＢの記憶容量の差はセクタ容量の違いによる
もので、セクタ容量が２ＫＢのとき６４０ＭＢとなり、
一方、５１２Ｂのときは５４０ＭＢとなる。また媒体の
記録フォーマットはＺＣＡＶであり、６４０ＭＢは１１
ゾーン、５４０ＭＢは１８ゾーンである。
【００５４】このように本発明の光ディスクドライブ
は、１２８ＭＢ、２３０ＭＢ５４０ＭＢまたは６４０Ｍ
Ｂの各記憶容量のＭＯカートリッジに対応可能である。
したがって光ディスクドライブにＭＯカートリッジをロ
ーディングした際には、まず媒体のＩＤ部をリードし、
そのピット間隔からＭＰＵ１４において媒体の種別を認
識し、種別結果をフォーマッタ１８に通知することで、
１２８ＭＢまたは２３０ＭＢ媒体であればＰＰＭ記録に
対応したフォーマッタ処理を行い、５４０ＭＢまたは６
４０ＭＢ媒体であればＰＷＭ記録に従ったフォーマッタ
処理を行うことになる。
は、１２８ＭＢ、２３０ＭＢ５４０ＭＢまたは６４０Ｍ
Ｂの各記憶容量のＭＯカートリッジに対応可能である。
したがって光ディスクドライブにＭＯカートリッジをロ
ーディングした際には、まず媒体のＩＤ部をリードし、
そのピット間隔からＭＰＵ１４において媒体の種別を認
識し、種別結果をフォーマッタ１８に通知することで、
１２８ＭＢまたは２３０ＭＢ媒体であればＰＰＭ記録に
対応したフォーマッタ処理を行い、５４０ＭＢまたは６
４０ＭＢ媒体であればＰＷＭ記録に従ったフォーマッタ
処理を行うことになる。
【００５５】フォーマッタ１８に対するリード系統とし
ては、デコーダ２６、リードＬＳＩ回路２８が設けられ
る。リードＬＳＩ回路２８に対しては、エンクロージャ
１２に設けたディテクタ３２によるレーザダイオード３
０からのビームの戻り光の受光信号が、ヘッドアンプ３
４を介してＩＤ信号及びＭＯ信号として入力されてい
る。
ては、デコーダ２６、リードＬＳＩ回路２８が設けられ
る。リードＬＳＩ回路２８に対しては、エンクロージャ
１２に設けたディテクタ３２によるレーザダイオード３
０からのビームの戻り光の受光信号が、ヘッドアンプ３
４を介してＩＤ信号及びＭＯ信号として入力されてい
る。
【００５６】リードＬＳＩ回路２８にはＡＧＣ回路、フ
ィルタ、セクタマーク検出回路、シンセサイザ及びＰＬ
Ｌ等の回路機能が設けられ、入力したＩＤ信号及びＭＯ
信号よりリードクロックとリードデータを作成し、デコ
ーダ２６に出力している。またスピンドルモータ４０に
よる媒体の記録方式としてゾーンＣＡＶを採用している
ことから、リードＬＳＩ回路２８に対してはＭＰＵ１４
より、内蔵したシンセサイザに対しゾーン対応のクロッ
ク周波数の切替制御が行われている。
ィルタ、セクタマーク検出回路、シンセサイザ及びＰＬ
Ｌ等の回路機能が設けられ、入力したＩＤ信号及びＭＯ
信号よりリードクロックとリードデータを作成し、デコ
ーダ２６に出力している。またスピンドルモータ４０に
よる媒体の記録方式としてゾーンＣＡＶを採用している
ことから、リードＬＳＩ回路２８に対してはＭＰＵ１４
より、内蔵したシンセサイザに対しゾーン対応のクロッ
ク周波数の切替制御が行われている。
【００５７】ここでエンコーダ２２の変調方式及びデコ
ーダ２６の復調方式は、フォーマッタ１８による媒体種
別に応じ、１２８ＭＢ及び２３０ＭＢについてはＰＰＭ
記録の変調及び復調方式に切り替えられる。一方、５４
０及び６４０ＭＢの媒体については、ＰＷＭ記録の変調
及び復調方式に切り替えられる。ＭＰＵ１４に対して
は、エンクロージャ１２側に設けた温度センサ３６の検
出信号が与えられている。ＭＰＵ１４は、温度センサ３
６で検出した装置内部の環境温度に基づき、レーザダイ
オード制御回路２４におけるリード、ライト、イレーズ
の各発光パワーを最適値に制御する。ＭＰＵは、ドライ
バ３８によりエンクロージャ１２側に設けたスピンドル
モータ４０を制御する。
ーダ２６の復調方式は、フォーマッタ１８による媒体種
別に応じ、１２８ＭＢ及び２３０ＭＢについてはＰＰＭ
記録の変調及び復調方式に切り替えられる。一方、５４
０及び６４０ＭＢの媒体については、ＰＷＭ記録の変調
及び復調方式に切り替えられる。ＭＰＵ１４に対して
は、エンクロージャ１２側に設けた温度センサ３６の検
出信号が与えられている。ＭＰＵ１４は、温度センサ３
６で検出した装置内部の環境温度に基づき、レーザダイ
オード制御回路２４におけるリード、ライト、イレーズ
の各発光パワーを最適値に制御する。ＭＰＵは、ドライ
バ３８によりエンクロージャ１２側に設けたスピンドル
モータ４０を制御する。
【００５８】ＭＯカートリッジの記録フォーマットはＺ
ＣＡＶであることから、スピンドルモータ４０を例えば
３６００ｒｐｍの一定速度で回転させる。またＭＰＵ１
４は、ドライバ４２を介してエンクロージャ１２側に設
けた電磁石４４を制御する。電磁石４４は装置内にロー
ディングされたＭＯカートリッジのビーム照射側と反対
側に配置されており、記録時及び消去時に媒体に外部磁
界を供給する。
ＣＡＶであることから、スピンドルモータ４０を例えば
３６００ｒｐｍの一定速度で回転させる。またＭＰＵ１
４は、ドライバ４２を介してエンクロージャ１２側に設
けた電磁石４４を制御する。電磁石４４は装置内にロー
ディングされたＭＯカートリッジのビーム照射側と反対
側に配置されており、記録時及び消去時に媒体に外部磁
界を供給する。
【００５９】ＤＳＰ１５は、媒体に対しレーザダイオー
ド３０からのビームの位置決めを行うためのサーボ機能
を実現する。このため、エンクロージャ１２側の光学ユ
ニットに媒体からのビーム戻り光を受光する２分割ディ
テクタ４６を設け、ＦＥＳ検出回路（フォーカスエラー
信号検出回路）４８が、２分割ディテクタ４６の受光出
力からフォーカスエラー信号Ｅ１を作成してＤＳＰ１５
に入力している。
ド３０からのビームの位置決めを行うためのサーボ機能
を実現する。このため、エンクロージャ１２側の光学ユ
ニットに媒体からのビーム戻り光を受光する２分割ディ
テクタ４６を設け、ＦＥＳ検出回路（フォーカスエラー
信号検出回路）４８が、２分割ディテクタ４６の受光出
力からフォーカスエラー信号Ｅ１を作成してＤＳＰ１５
に入力している。
【００６０】またＴＥＳ検出回路（トラッキングエラー
信号検出回路）５０が２分割ディテクタ４６の受光出力
からトラッキングエラー信号Ｅ２を作成し、ＤＳＰ１５
に入力している。トラッキングエラー信号Ｅ２はＴＺＣ
回路（トラックゼロクロス検出回路）４５に入力され、
トラックゼロクロスパルスＥ３を作成してＤＳＰ１５に
入力している。
信号検出回路）５０が２分割ディテクタ４６の受光出力
からトラッキングエラー信号Ｅ２を作成し、ＤＳＰ１５
に入力している。トラッキングエラー信号Ｅ２はＴＺＣ
回路（トラックゼロクロス検出回路）４５に入力され、
トラックゼロクロスパルスＥ３を作成してＤＳＰ１５に
入力している。
【００６１】更にエンクロージャ１２側には、媒体に対
しレーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検
出するレンズ位置センサ５２が設けられ、そのレンズ位
置検出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４をＤＳＰ１５に入力してい
る。ＤＳＰ１５は、ビーム位置決めのため、ドライバ５
４，５８，６２を介してフォーカスアクチュエータ５
６、レンズアクチュエータ６０及びＶＣＭ６４を制御駆
動している。
しレーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検
出するレンズ位置センサ５２が設けられ、そのレンズ位
置検出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４をＤＳＰ１５に入力してい
る。ＤＳＰ１５は、ビーム位置決めのため、ドライバ５
４，５８，６２を介してフォーカスアクチュエータ５
６、レンズアクチュエータ６０及びＶＣＭ６４を制御駆
動している。
【００６２】ここで光ディスクドライブにおけるエンク
ロージャの概略は図３のようになる。図３において、ハ
ウジング６６内にはスピンドルモータ４０が設けられ、
スピンドルモータ４０の回転軸のハブに対しインレット
ドア６８側よりＭＯカートリッジ７０を挿入すること
で、内部のＭＯ媒体７２がスピンドルモータ４０の回転
軸のハブに装着されるローディングが行われる。
ロージャの概略は図３のようになる。図３において、ハ
ウジング６６内にはスピンドルモータ４０が設けられ、
スピンドルモータ４０の回転軸のハブに対しインレット
ドア６８側よりＭＯカートリッジ７０を挿入すること
で、内部のＭＯ媒体７２がスピンドルモータ４０の回転
軸のハブに装着されるローディングが行われる。
【００６３】ローディングされたＭＯカートリッジ７０
のＭＯ媒体７２の下側には、ＶＣＭ６４により媒体トラ
ックを横切る方向に移動自在なキャリッジ７６が設けら
れている。キャリッジ７６上には対物レンズ８０が搭載
され、固定光学系７８に設けている半導体レーザからの
ビームをプリズム８２を介して入射し、ＭＯ媒体７２の
媒体面にビームスポットを結像している。
のＭＯ媒体７２の下側には、ＶＣＭ６４により媒体トラ
ックを横切る方向に移動自在なキャリッジ７６が設けら
れている。キャリッジ７６上には対物レンズ８０が搭載
され、固定光学系７８に設けている半導体レーザからの
ビームをプリズム８２を介して入射し、ＭＯ媒体７２の
媒体面にビームスポットを結像している。
【００６４】対物レンズ８０は図２のエンクロージャ１
２に示したフォーカスアクチュエータ５６により光軸方
向に移動制御され、またレンズアクチュエータ６０によ
り媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラック
の範囲内で移動することができる。このキャリッジ７６
に搭載している対物レンズ８０の位置が、図２のレンズ
位置センサ５２により検出される。レンズ位置センサ５
２は対物レンズ８０の光軸が直上に向かう中立位置でレ
ンズ位置検出信号を０とし、アウタ側への移動とインナ
側への移動に対しそれぞれ異なった極性の移動量に応じ
たレンズ位置検出信号Ｅ４を出力する。 ２．ＬＤ発光調整 図４は図２のコントローラ１０に設けたレーザダイオー
ド制御回路２４の回路ブロック図である。図４におい
て、レーザダイオードユニット３０にはレーザダイオー
ド１００とモニタフォトダイオード１０２が一体に設け
られている。レーザダイオード１００は電源電圧Ｖccに
より駆動電流Ｉを受けて発光し、光学ユニットによりレ
ーザビームを生成して媒体面に照射して記録再生を行
う。
２に示したフォーカスアクチュエータ５６により光軸方
向に移動制御され、またレンズアクチュエータ６０によ
り媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラック
の範囲内で移動することができる。このキャリッジ７６
に搭載している対物レンズ８０の位置が、図２のレンズ
位置センサ５２により検出される。レンズ位置センサ５
２は対物レンズ８０の光軸が直上に向かう中立位置でレ
ンズ位置検出信号を０とし、アウタ側への移動とインナ
側への移動に対しそれぞれ異なった極性の移動量に応じ
たレンズ位置検出信号Ｅ４を出力する。 ２．ＬＤ発光調整 図４は図２のコントローラ１０に設けたレーザダイオー
ド制御回路２４の回路ブロック図である。図４におい
て、レーザダイオードユニット３０にはレーザダイオー
ド１００とモニタフォトダイオード１０２が一体に設け
られている。レーザダイオード１００は電源電圧Ｖccに
より駆動電流Ｉを受けて発光し、光学ユニットによりレ
ーザビームを生成して媒体面に照射して記録再生を行
う。
【００６５】モニタフォトダイオード１０２はレーザダ
イオード１００からの光の一部を入射し、レーザダイオ
ード１００の発光パワーに比例した受光電流Ｉ0 を出力
する。レーザダイオード１００に対しては、リードパワ
ー電流源１０４、イレーズパワー電流源１０６、第１ラ
イトパワー電流源１０８、第２ライトパワー電流源１１
０が並列接続されており、それぞれリードパワー電流Ｉ
0 、イレーズパワー電流Ｉ１、第１ライトパワー電流Ｉ
２、及び第３ライトパワー電流Ｉ３を流すようにしてい
る。
イオード１００からの光の一部を入射し、レーザダイオ
ード１００の発光パワーに比例した受光電流Ｉ0 を出力
する。レーザダイオード１００に対しては、リードパワ
ー電流源１０４、イレーズパワー電流源１０６、第１ラ
イトパワー電流源１０８、第２ライトパワー電流源１１
０が並列接続されており、それぞれリードパワー電流Ｉ
0 、イレーズパワー電流Ｉ１、第１ライトパワー電流Ｉ
２、及び第３ライトパワー電流Ｉ３を流すようにしてい
る。
【００６６】即ち、リードパワー発光時にはリードパワ
ー電流Ｉ0 が流れ、イレーズパワー発光時にはリードパ
ワー電流Ｉ0 にイレーズパワー電流Ｉ１を加えた電流
（Ｉ0＋Ｉ１）が流れ、第１ライトパワー発光時には更
に第１ライトパワー電流Ｉ２を加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１
＋Ｉ２）が流れる。また第２ライトパワー発光時には第
２ライトパワー電流Ｉ３をリードパワー電流Ｉ0 及びイ
レーズパワー電流Ｉ１に加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１＋Ｉ
３）が流れる。
ー電流Ｉ0 が流れ、イレーズパワー発光時にはリードパ
ワー電流Ｉ0 にイレーズパワー電流Ｉ１を加えた電流
（Ｉ0＋Ｉ１）が流れ、第１ライトパワー発光時には更
に第１ライトパワー電流Ｉ２を加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１
＋Ｉ２）が流れる。また第２ライトパワー発光時には第
２ライトパワー電流Ｉ３をリードパワー電流Ｉ0 及びイ
レーズパワー電流Ｉ１に加えた電流（Ｉ0 ＋Ｉ１＋Ｉ
３）が流れる。
【００６７】リードパワー電流源１０４に対しては、自
動パワー制御部（以下「ＡＰＣ」という）１３８が設け
られている。ＡＰＣ１３８に対しては目標ＤＡＣレジス
タ１２０及びＤＡコンバータ（以下「ＤＡＣ」という）
１３６を介して、目標パワーとして規定の目標リードパ
ワーが設定されている。イレーズパワー電流源１０６に
対しては、ＥＰ電流指示部としてＥＰ電流ＤＡＣレジス
タ１２２及びＤＡＣ１４０が設けられる。ＷＰ１電流源
１０８に対してはＷＰ１電流指示部としてＷＰ１電流Ｄ
ＡＣレジスタ１２４及びＤＡＣ１４２が設けられ、更に
第２ライトパワー電流源１１０に対してもＷＰ２電流指
示部としてＷＰ２電流ＤＡＣレジスタ１２６及びＤＡＣ
１４４が設けられる。
動パワー制御部（以下「ＡＰＣ」という）１３８が設け
られている。ＡＰＣ１３８に対しては目標ＤＡＣレジス
タ１２０及びＤＡコンバータ（以下「ＤＡＣ」という）
１３６を介して、目標パワーとして規定の目標リードパ
ワーが設定されている。イレーズパワー電流源１０６に
対しては、ＥＰ電流指示部としてＥＰ電流ＤＡＣレジス
タ１２２及びＤＡＣ１４０が設けられる。ＷＰ１電流源
１０８に対してはＷＰ１電流指示部としてＷＰ１電流Ｄ
ＡＣレジスタ１２４及びＤＡＣ１４２が設けられ、更に
第２ライトパワー電流源１１０に対してもＷＰ２電流指
示部としてＷＰ２電流ＤＡＣレジスタ１２６及びＤＡＣ
１４４が設けられる。
【００６８】このため各電流源１０４，１０６，１０
８，１１０の電流は、対応するレジスタ１２０，１２
２，１２４，１２６に対するＤＡＣ指示値をセットする
ことで適宜に変更することができる。ここでレジスタ、
ＤＡＣ及び定電流源によって、発光電流源回路が構成さ
れている。ＡＰＣ１３８による制御は、フォトダイオー
ド１０２の受光電流ｉ0 から得られたモニタ電流ｉm が
目標リードパワーに対応したＤＡＣ１３６の目標電圧に
一致するようにフィードバック制御を行う。このためモ
ニタフォトダイオード１０２に対し、リードパワーを超
えるイレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライト
パワーで発光した際の受光電流を差し引いて、リードパ
ワー相当のモニタ電流ｉm をＡＰＣに帰還するため、差
引電流源１１２，１１４，１１６を設けている。
８，１１０の電流は、対応するレジスタ１２０，１２
２，１２４，１２６に対するＤＡＣ指示値をセットする
ことで適宜に変更することができる。ここでレジスタ、
ＤＡＣ及び定電流源によって、発光電流源回路が構成さ
れている。ＡＰＣ１３８による制御は、フォトダイオー
ド１０２の受光電流ｉ0 から得られたモニタ電流ｉm が
目標リードパワーに対応したＤＡＣ１３６の目標電圧に
一致するようにフィードバック制御を行う。このためモ
ニタフォトダイオード１０２に対し、リードパワーを超
えるイレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライト
パワーで発光した際の受光電流を差し引いて、リードパ
ワー相当のモニタ電流ｉm をＡＰＣに帰還するため、差
引電流源１１２，１１４，１１６を設けている。
【００６９】イレーズパワー用差引電流源１１２に対し
ては、ＥＰ差引電流指示部としてのＥＰ差引ＤＡＣレジ
スタ１２８及びＤＡＣ１４６により任意の差引電流ｉ１
を設定することができる。第１ライトパワー用差引電流
源１１４に対しては、ＷＰ１差引電流指示部としてのＷ
Ｐ１差引ＤＡＣレジスタ１３０及びＤＡＣ１４８により
任意の差引電流ｉ２を設定することができる。更に第２
ライトパワー差引電流源１１６に対しても、ＷＰ２差引
電流指示部としてのＷＰ２差引ＤＡＣレジスタ１３２及
びＤＡＣ１５０によって任意の差引電流ｉ３を設定する
ことができる。
ては、ＥＰ差引電流指示部としてのＥＰ差引ＤＡＣレジ
スタ１２８及びＤＡＣ１４６により任意の差引電流ｉ１
を設定することができる。第１ライトパワー用差引電流
源１１４に対しては、ＷＰ１差引電流指示部としてのＷ
Ｐ１差引ＤＡＣレジスタ１３０及びＤＡＣ１４８により
任意の差引電流ｉ２を設定することができる。更に第２
ライトパワー差引電流源１１６に対しても、ＷＰ２差引
電流指示部としてのＷＰ２差引ＤＡＣレジスタ１３２及
びＤＡＣ１５０によって任意の差引電流ｉ３を設定する
ことができる。
【００７０】この３つの差引電流源ｉ１，ｉ２，ｉ３の
発光モードにおけるモニタ電流ｉmは次のようになる。 リード発光時 ；ｉm ＝ｉ0 イレーズ発光時 ；ｉm ＝ｉ0 −ｉ１ 第１ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
２） 第２ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
３） したがって、目標リードパワーを超えるイレーズパワ
ー、第１または第２ライトパワーのいずれの発光時にあ
っても、対応する差引電流を受光電流ｉ0 から引くこと
で、モニタ電流ｉm はリードパワー相当の電流としてモ
ニタ電圧検出用抵抗１１８に流れ、ＡＰＣ１３８に帰還
される。
発光モードにおけるモニタ電流ｉmは次のようになる。 リード発光時 ；ｉm ＝ｉ0 イレーズ発光時 ；ｉm ＝ｉ0 −ｉ１ 第１ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
２） 第２ライトパワー発光時；ｉm ＝ｉ0 −（ｉ１＋ｉ
３） したがって、目標リードパワーを超えるイレーズパワ
ー、第１または第２ライトパワーのいずれの発光時にあ
っても、対応する差引電流を受光電流ｉ0 から引くこと
で、モニタ電流ｉm はリードパワー相当の電流としてモ
ニタ電圧検出用抵抗１１８に流れ、ＡＰＣ１３８に帰還
される。
【００７１】このためＡＰＣ１３８は発光パワーの如何
に関わらず、常時目標リードパワーを維持するようにリ
ードパワー電流源１０４を制御し、これによって規定の
イレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワ
ーの自動パワー制御が実現される。この差引電流につい
ても、レジスタ、ＤＡＣおよび定電流源によって、差引
電流源回路が構成されている。
に関わらず、常時目標リードパワーを維持するようにリ
ードパワー電流源１０４を制御し、これによって規定の
イレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワ
ーの自動パワー制御が実現される。この差引電流につい
ても、レジスタ、ＤＡＣおよび定電流源によって、差引
電流源回路が構成されている。
【００７２】モニタ電流ｉm に対応したモニタ電圧検出
抵抗１１８によるモニタ電圧は、ＡＤコンバータ（以下
「ＡＤＣ」という）１５２によりディジタルデータに変
換され、モニタＡＤＣレジスタ１３４に入力された後、
ＭＰＵ１４側に読み出される。このため、ＡＤＣ１５２
及びモニタＡＤＣレジスタ１３４はモニタ電流ｉm の測
定部を構成する。
抵抗１１８によるモニタ電圧は、ＡＤコンバータ（以下
「ＡＤＣ」という）１５２によりディジタルデータに変
換され、モニタＡＤＣレジスタ１３４に入力された後、
ＭＰＵ１４側に読み出される。このため、ＡＤＣ１５２
及びモニタＡＤＣレジスタ１３４はモニタ電流ｉm の測
定部を構成する。
【００７３】図５は図４のレーザダイオード制御回路２
４におけるＰＷＭ記録の信号、発光電流、差引電流及び
タイムチャートである。いま図５（Ａ）のライトゲート
に同期して図５（Ｂ）のライトデータが与えられたとす
ると、図５（Ｃ）のライトクロックに同期してライトデ
ータは図５（Ｄ）のパルス幅データに変換される。この
パルス幅データに基づき、図５（Ｅ）のように消去パル
スが生成され、更に図５（Ｆ）のように第１ライトパル
スが生成される。更に図５（Ｇ）の第２ライトパルスが
生成される。
４におけるＰＷＭ記録の信号、発光電流、差引電流及び
タイムチャートである。いま図５（Ａ）のライトゲート
に同期して図５（Ｂ）のライトデータが与えられたとす
ると、図５（Ｃ）のライトクロックに同期してライトデ
ータは図５（Ｄ）のパルス幅データに変換される。この
パルス幅データに基づき、図５（Ｅ）のように消去パル
スが生成され、更に図５（Ｆ）のように第１ライトパル
スが生成される。更に図５（Ｇ）の第２ライトパルスが
生成される。
【００７４】この第２ライトパルスは図５（Ｄ）のパル
ス幅データのパルス幅に応じたパルス数をもつ。例えば
先頭のパルス幅データについては４クロックのパルス幅
であり、次のパルス幅データは２クロックであり、次の
パルス幅データは３クロックである。これに対応して図
５（Ｇ）の第２ライトパルスは、図５（Ｆ）の第１ライ
トパルスに続いて先頭データの４クロック幅については
２パルス発生し、次の２クロック幅については０パルス
であり、３番目の３クロック幅については１パルスを発
生し、パルス幅を表わす情報を記録するようにしてい
る。
ス幅データのパルス幅に応じたパルス数をもつ。例えば
先頭のパルス幅データについては４クロックのパルス幅
であり、次のパルス幅データは２クロックであり、次の
パルス幅データは３クロックである。これに対応して図
５（Ｇ）の第２ライトパルスは、図５（Ｆ）の第１ライ
トパルスに続いて先頭データの４クロック幅については
２パルス発生し、次の２クロック幅については０パルス
であり、３番目の３クロック幅については１パルスを発
生し、パルス幅を表わす情報を記録するようにしてい
る。
【００７５】図５（Ｈ）は図５（Ｅ）（Ｆ）及び（Ｇ）
の消去パルス、第１ライトパルス及び第２ライトパルス
に基づいた発光電流とパワーであり、５４０ＭＢ及び６
４０ＭＢのオーバライト媒体でのＰＷＭ記録を例にとっ
ている。まずリード電流は常時流してリードパワーＲＰ
でＤＣ発光させている。このため、消去パルスに同期し
て発光電流（Ｉ０＋Ｉ１）が流れ、これによってイレー
ズパワーＥＰ分アップとなり、第１ライトパルスのタイ
ミングで発光電流Ｉ２が加算されて第１ライトパワーＷ
Ｐ１分アップとなり、更に第２ライトパルスのタイミン
グで発光電流Ｉ３が加算されて（Ｉ０＋Ｉ２＋Ｉ３）と
なって第２ライトパワーＷＰ２分アップする。
の消去パルス、第１ライトパルス及び第２ライトパルス
に基づいた発光電流とパワーであり、５４０ＭＢ及び６
４０ＭＢのオーバライト媒体でのＰＷＭ記録を例にとっ
ている。まずリード電流は常時流してリードパワーＲＰ
でＤＣ発光させている。このため、消去パルスに同期し
て発光電流（Ｉ０＋Ｉ１）が流れ、これによってイレー
ズパワーＥＰ分アップとなり、第１ライトパルスのタイ
ミングで発光電流Ｉ２が加算されて第１ライトパワーＷ
Ｐ１分アップとなり、更に第２ライトパルスのタイミン
グで発光電流Ｉ３が加算されて（Ｉ０＋Ｉ２＋Ｉ３）と
なって第２ライトパワーＷＰ２分アップする。
【００７６】この図５（Ｈ）の発光電流に同期して、図
５（Ｉ）に示す差引電流が図４の差引電流源１１２，１
１４，１１６に流れる。即ち、イレーズパワーＥＰ分の
アップに対応する差引電流ｉ１が流れ、次の第１ライト
パワーＷＰ１分のアップ分に対応する差引電流ｉ２を加
算して差引電流（ｉ１＋ｉ２）が流れ、更に第２ライト
パワーＷＰ２分のアップに対応する差引電流ｉ３を加算
して差引電流（ｉ１＋ｉ３）が流れる。
５（Ｉ）に示す差引電流が図４の差引電流源１１２，１
１４，１１６に流れる。即ち、イレーズパワーＥＰ分の
アップに対応する差引電流ｉ１が流れ、次の第１ライト
パワーＷＰ１分のアップ分に対応する差引電流ｉ２を加
算して差引電流（ｉ１＋ｉ２）が流れ、更に第２ライト
パワーＷＰ２分のアップに対応する差引電流ｉ３を加算
して差引電流（ｉ１＋ｉ３）が流れる。
【００７７】このため図５（Ｊ）のモニタ電流ｉm は、
図５（Ｈ）の発光電流及び発光パワーに対応した受光電
流ｉ0 から図５（Ｈ）の差引電流を差し引いた値とな
り、発光中であっても常にリードパワー相当の一定電流
に変換され、ＡＰＣ１３８に帰還される。尚、１２８Ｍ
Ｂ及び２３０ＭＢのオーバライト媒体のＰＷＭ記録にあ
っては、図５（Ｈ）における（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ１）が
イレーズパワーとなり、また（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ２）が
ライトパワーとなる。更に、（ＲＰ＋ＥＰ）はアシスト
パワーとして図５（Ｅ）の消去パルスに同期して発光さ
れ、イレーズパワー及びライトパワーへの立ち上げを高
速にできるようにしている。
図５（Ｈ）の発光電流及び発光パワーに対応した受光電
流ｉ0 から図５（Ｈ）の差引電流を差し引いた値とな
り、発光中であっても常にリードパワー相当の一定電流
に変換され、ＡＰＣ１３８に帰還される。尚、１２８Ｍ
Ｂ及び２３０ＭＢのオーバライト媒体のＰＷＭ記録にあ
っては、図５（Ｈ）における（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ１）が
イレーズパワーとなり、また（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ２）が
ライトパワーとなる。更に、（ＲＰ＋ＥＰ）はアシスト
パワーとして図５（Ｅ）の消去パルスに同期して発光さ
れ、イレーズパワー及びライトパワーへの立ち上げを高
速にできるようにしている。
【００７８】図６はＰＰＭ媒体の記録時の信号発光電
流、差引電流及びモニタ電流のタイミングチャートであ
る。図６（Ａ）のライトゲートに同期して図６（Ｂ）の
ライトデータが与えられたとすると、図６（Ｃ）のライ
トクロックに同期して図６ （Ｄ）のピットエッジパル
スが生成される。このピットエッジパルスに対応して、
図６（Ｅ）の消去パルスと図６（Ｆ）の第１ライトパル
スが作られる。ＰＰＭ記録にあっては、図６（Ｇ）の第
２ライトパルスは使用されない。
流、差引電流及びモニタ電流のタイミングチャートであ
る。図６（Ａ）のライトゲートに同期して図６（Ｂ）の
ライトデータが与えられたとすると、図６（Ｃ）のライ
トクロックに同期して図６ （Ｄ）のピットエッジパル
スが生成される。このピットエッジパルスに対応して、
図６（Ｅ）の消去パルスと図６（Ｆ）の第１ライトパル
スが作られる。ＰＰＭ記録にあっては、図６（Ｇ）の第
２ライトパルスは使用されない。
【００７９】このような消去パルス及び第１ライトパル
スによる図６（Ｈ）の発光電流をレーザダイオードに流
すことで、発光パワーＰが得られる。ＰＰＭ記録にあっ
ては、消去パワーはリードパワーＲＰと同じであること
から、消去パルスのタイミングであってもリードパワー
電流Ｉ0 によるリードパワーＲＰによる発光が維持され
る。第１ライトパルスのタイミングでは発光電流が（Ｉ
１＋Ｉ２）に増加して第１ライトパワーＷＰ１分にイレ
ーズパワーＥＰ分を加算したパワーとなる。図６（Ｉ）
の差引電流は第１ライトパルスの発光タイミングで差引
電流（ｉ１＋ｉ２）を流す。これによって図６（Ｊ）の
モニタ電流ｉm は常にリードパワーの受光電流相当に維
持される。
スによる図６（Ｈ）の発光電流をレーザダイオードに流
すことで、発光パワーＰが得られる。ＰＰＭ記録にあっ
ては、消去パワーはリードパワーＲＰと同じであること
から、消去パルスのタイミングであってもリードパワー
電流Ｉ0 によるリードパワーＲＰによる発光が維持され
る。第１ライトパルスのタイミングでは発光電流が（Ｉ
１＋Ｉ２）に増加して第１ライトパワーＷＰ１分にイレ
ーズパワーＥＰ分を加算したパワーとなる。図６（Ｉ）
の差引電流は第１ライトパルスの発光タイミングで差引
電流（ｉ１＋ｉ２）を流す。これによって図６（Ｊ）の
モニタ電流ｉm は常にリードパワーの受光電流相当に維
持される。
【００８０】図７は図２のＭＰＵ１４により実現される
本発明の発光調整の機能ブロック図である。図７におい
て、ＬＤ発光処理部１６０には発光粗調整処理部１６
２、発光微調整処理部１６４及びパワー設定処理部１６
６が設けられる。発光粗調整処理部１６２と発光微調整
処理部１６４が本発明の発光処理部を構成することにな
る。
本発明の発光調整の機能ブロック図である。図７におい
て、ＬＤ発光処理部１６０には発光粗調整処理部１６
２、発光微調整処理部１６４及びパワー設定処理部１６
６が設けられる。発光粗調整処理部１６２と発光微調整
処理部１６４が本発明の発光処理部を構成することにな
る。
【００８１】ＬＤ発光処理部１６０に対しては、外部よ
りレジスタ１６８、１７０、１７２及び１７４によって
ローディングされた媒体種別、上位装置からのアクセス
に対するライトまたはイレーズのモード、アクセストラ
ックから求められたゾーン番号、更に図２のエンクロー
ジャ１２側に設けている温度センサ３６による装置内温
度がセットされ、発光調整及び通常の動作時におけるパ
ワー設定処理に使用される。
りレジスタ１６８、１７０、１７２及び１７４によって
ローディングされた媒体種別、上位装置からのアクセス
に対するライトまたはイレーズのモード、アクセストラ
ックから求められたゾーン番号、更に図２のエンクロー
ジャ１２側に設けている温度センサ３６による装置内温
度がセットされ、発光調整及び通常の動作時におけるパ
ワー設定処理に使用される。
【００８２】ＬＤ発光処理部１６０に対してはパワーテ
ーブル格納部１８０が設けられる。パワーテーブル格納
部１８０は図２のＭＰＵ１４がもっているＤＲＡＭ等の
メモリを使用する。パワーテーブル格納部１８０には、
まず右側に示すようにモニタＡＤＣ係数テーブル１８
２、ＥＰ電流ＤＡＣ係数テーブル１８４、ＥＰ差引ＤＡ
Ｃ係数テーブル１８６、ＷＰ１電流ＤＡＣ係数テーブル
１８８、ＷＰ１差引ＤＡＣ係数テーブル１９０、ＷＰ２
電流ＤＡＣ係数テーブル１９２及びＷＰ２差引ＤＡＣ係
数テーブル１９４が設けられている。
ーブル格納部１８０が設けられる。パワーテーブル格納
部１８０は図２のＭＰＵ１４がもっているＤＲＡＭ等の
メモリを使用する。パワーテーブル格納部１８０には、
まず右側に示すようにモニタＡＤＣ係数テーブル１８
２、ＥＰ電流ＤＡＣ係数テーブル１８４、ＥＰ差引ＤＡ
Ｃ係数テーブル１８６、ＷＰ１電流ＤＡＣ係数テーブル
１８８、ＷＰ１差引ＤＡＣ係数テーブル１９０、ＷＰ２
電流ＤＡＣ係数テーブル１９２及びＷＰ２差引ＤＡＣ係
数テーブル１９４が設けられている。
【００８３】モニタＡＤＣ係数テーブル１８２は、図４
のモニタ用のＡＤＣ１５２における入力モニタ電圧を与
える任意のパワーに対するパワー測定値としてのＡＤＣ
出力の直線近似による関係式を発光調整処理で求め、こ
の関係式の傾きａ0 とｙ軸交点ｂ0 を登録している。ま
たテーブル１８４，１８６，１８８，１９０，１９２，
１９４のそれぞれは、図４のＤＡＣ１４０，１４２，１
４４，１４６，１４８，１５０のそれぞれにおける任意
のパワーに対するレジスタ指示値の関係を、発光調整に
よる測定結果の直線近似により求めた関係式につき、そ
の傾きとｙ軸交点を格納している。
のモニタ用のＡＤＣ１５２における入力モニタ電圧を与
える任意のパワーに対するパワー測定値としてのＡＤＣ
出力の直線近似による関係式を発光調整処理で求め、こ
の関係式の傾きａ0 とｙ軸交点ｂ0 を登録している。ま
たテーブル１８４，１８６，１８８，１９０，１９２，
１９４のそれぞれは、図４のＤＡＣ１４０，１４２，１
４４，１４６，１４８，１５０のそれぞれにおける任意
のパワーに対するレジスタ指示値の関係を、発光調整に
よる測定結果の直線近似により求めた関係式につき、そ
の傾きとｙ軸交点を格納している。
【００８４】ここで発光電流の係数テーブル１８４，１
８８，１９２については、直線近似の関係式をｙ＝ａx
＋ｂで設定していることから、係数ａ１，ａ２，ａ３及
びｙ軸交点ｂ１，ｂ２，ｂ３を登録している。これに対
し差引電流用の係数テーブル１８６，１９０，１９４に
ついては、直線近似の関係式ｙ＝ｃｘ＋ｄを定義してい
ることから、傾きｃ１，ｃ２，ｃ３とｙ軸交点ｂ１，ｂ
２，ｂ３を登録している。
８８，１９２については、直線近似の関係式をｙ＝ａx
＋ｂで設定していることから、係数ａ１，ａ２，ａ３及
びｙ軸交点ｂ１，ｂ２，ｂ３を登録している。これに対
し差引電流用の係数テーブル１８６，１９０，１９４に
ついては、直線近似の関係式ｙ＝ｃｘ＋ｄを定義してい
ることから、傾きｃ１，ｃ２，ｃ３とｙ軸交点ｂ１，ｂ
２，ｂ３を登録している。
【００８５】一方、パワーテーブル格納部１８０にはイ
レーズパワーテーブル１９６、第１ライトパワーテーブ
ル１９８、第２ライトパワーテーブル２００、パワー比
テーブル２０２、温度補正係数テーブル２０４及び限界
パワーテーブル２０６が設けられている。これらのテー
ブルは本来、媒体の全ゾーンに対応して固有のパワー値
を格納しているものであるが、本発明にあっては、媒体
をローディングした初期状態にあっては全てのゾーンの
パワーはもっておらず、発光調整に必要な少なくとも２
つのゾーンのパワー値のみが格納されている。
レーズパワーテーブル１９６、第１ライトパワーテーブ
ル１９８、第２ライトパワーテーブル２００、パワー比
テーブル２０２、温度補正係数テーブル２０４及び限界
パワーテーブル２０６が設けられている。これらのテー
ブルは本来、媒体の全ゾーンに対応して固有のパワー値
を格納しているものであるが、本発明にあっては、媒体
をローディングした初期状態にあっては全てのゾーンの
パワーはもっておらず、発光調整に必要な少なくとも２
つのゾーンのパワー値のみが格納されている。
【００８６】このため発光粗調整処理部１６２は、各テ
ーブルに初期設定された２つのゾーンのパワー値を使用
した発光調整によりゾーン番号に対する各パワーを直線
近似する関係式を求め、この関係式から全ゾーンの対応
するパワーを算出してテーブル登録するようになる。具
体的には、発光粗調整処理部１６２によるＡＤＣやＤＡ
Ｃの調整結果を使用して、発光微調整処理部１６４が初
期設定された２ゾーンの発光パワーを使用した発光調整
による測定処理と測定結果に基づく直線近似の関係式に
従った各パワーのゾーンごとの設定を実行する。
ーブルに初期設定された２つのゾーンのパワー値を使用
した発光調整によりゾーン番号に対する各パワーを直線
近似する関係式を求め、この関係式から全ゾーンの対応
するパワーを算出してテーブル登録するようになる。具
体的には、発光粗調整処理部１６２によるＡＤＣやＤＡ
Ｃの調整結果を使用して、発光微調整処理部１６４が初
期設定された２ゾーンの発光パワーを使用した発光調整
による測定処理と測定結果に基づく直線近似の関係式に
従った各パワーのゾーンごとの設定を実行する。
【００８７】更にパワーテーブル格納部１８０には、最
適パワーテーブル２０８が設けられている。最適パワー
テーブル２０８には、発光調整終了後の状態で調整され
た各パワーを使用したテストライトによって、そのとき
の装置内温度に対応した各ゾーンの最適パワーが求めら
れ、これが最適パワーテーブル２０８に登録されること
になる。
適パワーテーブル２０８が設けられている。最適パワー
テーブル２０８には、発光調整終了後の状態で調整され
た各パワーを使用したテストライトによって、そのとき
の装置内温度に対応した各ゾーンの最適パワーが求めら
れ、これが最適パワーテーブル２０８に登録されること
になる。
【００８８】この場合の最適パワーテーブル２０８に対
する登録は最適パワーそのものではなく、発光調整によ
り得られた各パワーテーブルの調整値を基準として、求
めた最適パワーを割ったデフォルト倍率Ｋ（デフォルト
比）が登録される。したがって最適パワーテーブル２０
８のデフォルト倍率を使用したパワー設定は、デフォル
ト倍率Ｋを対応するパワーテーブルのパワー調整値に掛
け合わせることで、実際に設定するパワーを求めること
ができる。この最適パワーテーブル２０８を使用した最
適パワーの設定は、パワー設定処理部１６６により行わ
れることになる。
する登録は最適パワーそのものではなく、発光調整によ
り得られた各パワーテーブルの調整値を基準として、求
めた最適パワーを割ったデフォルト倍率Ｋ（デフォルト
比）が登録される。したがって最適パワーテーブル２０
８のデフォルト倍率を使用したパワー設定は、デフォル
ト倍率Ｋを対応するパワーテーブルのパワー調整値に掛
け合わせることで、実際に設定するパワーを求めること
ができる。この最適パワーテーブル２０８を使用した最
適パワーの設定は、パワー設定処理部１６６により行わ
れることになる。
【００８９】パワーテーブル格納部１８０に設けたパワ
ー比テーブル２０２は、第２ライトパワーＷＰ２と第１
ライトパワーＷＰ１の比（ＷＰ２／ＷＰ１）が格納され
ている。このパワー比テーブル２０２を作成した場合に
は第２ライトパワーテーブル２００は不要となり、パワ
ー比テーブル２０２に対応してパワー比をそのときの装
置内温度により補正するための温度補正係数テーブル２
０４が設けられる。
ー比テーブル２０２は、第２ライトパワーＷＰ２と第１
ライトパワーＷＰ１の比（ＷＰ２／ＷＰ１）が格納され
ている。このパワー比テーブル２０２を作成した場合に
は第２ライトパワーテーブル２００は不要となり、パワ
ー比テーブル２０２に対応してパワー比をそのときの装
置内温度により補正するための温度補正係数テーブル２
０４が設けられる。
【００９０】更に限界パワーテーブル２０６は、パワー
設定処理部１６６で最適パワーテーブル２０８から対応
するデフォルト倍率Ｋを読み出して調整済みデフォルト
値に掛け合わせた際の上下限を設定している。パワーテ
ーブル２０６の上下限は最適パワーテーブル２０８の場
合と同様、デフォルト倍率として登録されており、最適
パワーテーブルのデフォルト倍率が限界パワーテーブル
の限界倍率Ｋmax ，Ｋmin を外れた場合には、限界比率
によるリミットを掛けている。
設定処理部１６６で最適パワーテーブル２０８から対応
するデフォルト倍率Ｋを読み出して調整済みデフォルト
値に掛け合わせた際の上下限を設定している。パワーテ
ーブル２０６の上下限は最適パワーテーブル２０８の場
合と同様、デフォルト倍率として登録されており、最適
パワーテーブルのデフォルト倍率が限界パワーテーブル
の限界倍率Ｋmax ，Ｋmin を外れた場合には、限界比率
によるリミットを掛けている。
【００９１】図８は図７のＬＤ発光処理部１６０による
レーザダイオード発光調整処理のジェネリックフローチ
ャートである。まずステップＳ１で媒体をローディング
して回転し、続いてステップＳ２で、図３のキャリッジ
７６の駆動によりビームを例えば媒体の最アウタ側の非
ユーザ領域に移動する。この状態でステップＳ３に進
み、レーザダイオードの発光粗調整を実行する。レーザ
ダイオードの発光粗調整の際にはフォーカスサーボをオ
フし、またＡＰＣ１３８もオフとしている。
レーザダイオード発光調整処理のジェネリックフローチ
ャートである。まずステップＳ１で媒体をローディング
して回転し、続いてステップＳ２で、図３のキャリッジ
７６の駆動によりビームを例えば媒体の最アウタ側の非
ユーザ領域に移動する。この状態でステップＳ３に進
み、レーザダイオードの発光粗調整を実行する。レーザ
ダイオードの発光粗調整の際にはフォーカスサーボをオ
フし、またＡＰＣ１３８もオフとしている。
【００９２】次にステップＳ４で、フォーカスサーボと
トラックサーボをオンし、更にＡＰＣ１３８もオンした
状態とし、ステップＳ５で媒体の種類を認識する。媒体
の種類の認識は、トラックＩＤ部のリードデータからピ
ット間隔を認識することで媒体の処理即ち、１２８ＭＢ
媒体か、２３０ＭＢ媒体か、５４０ＭＢ媒体か、６４０
ＭＢ媒体か認識できる。
トラックサーボをオンし、更にＡＰＣ１３８もオンした
状態とし、ステップＳ５で媒体の種類を認識する。媒体
の種類の認識は、トラックＩＤ部のリードデータからピ
ット間隔を認識することで媒体の処理即ち、１２８ＭＢ
媒体か、２３０ＭＢ媒体か、５４０ＭＢ媒体か、６４０
ＭＢ媒体か認識できる。
【００９３】ステップＳ５で媒体の種類を認識したなら
ば、ステップＳ６で、リード、イレーズ、ライトの複数
パワーでのレーザダイオードの発行による微調整を行
う。この場合、媒体が１２８ＭＢ又は２３０ＭＢ媒体で
あればＰＰＭ記録に従った発光微調整を行い、また５４
０ＭＢまたは６４０ＭＢ媒体であればＰＷＭ記録に従っ
た発光微調整を行う。
ば、ステップＳ６で、リード、イレーズ、ライトの複数
パワーでのレーザダイオードの発行による微調整を行
う。この場合、媒体が１２８ＭＢ又は２３０ＭＢ媒体で
あればＰＰＭ記録に従った発光微調整を行い、また５４
０ＭＢまたは６４０ＭＢ媒体であればＰＷＭ記録に従っ
た発光微調整を行う。
【００９４】図９は図８のステップＳ３におけるＬＤ発
光粗調整のジェネリックフローチャートである。このＬ
Ｄ発光粗調整にあっては、まずステップＳ１で、図４の
モニタ用ＡＤＣ１５２の正規化を行う。続いてステップ
Ｓ２で、図４の発光電流用のＤＡＣ１３６，１４０，１
４２，１４４と差引電流用のＤＡＣ１４６，１４８，１
５０の調整を行う。
光粗調整のジェネリックフローチャートである。このＬ
Ｄ発光粗調整にあっては、まずステップＳ１で、図４の
モニタ用ＡＤＣ１５２の正規化を行う。続いてステップ
Ｓ２で、図４の発光電流用のＤＡＣ１３６，１４０，１
４２，１４４と差引電流用のＤＡＣ１４６，１４８，１
５０の調整を行う。
【００９５】図１０は図９のステップＳ１のモニタＡＤ
Ｃの正規化処理のフローチャートである。モニタＡＤＣ
の正規化処理にあっては、ステップＳ１で、図４の目標
ＤＡＣレジスタ１２０に指示値ｙ0 として規定のリード
パワーをセットし、レーザダイオード１００をリードパ
ワーで発光する。この状態でステップＳ２において、モ
ニタＡＤＣレジスタ１３４の値ｘ0 をリードする。
Ｃの正規化処理のフローチャートである。モニタＡＤＣ
の正規化処理にあっては、ステップＳ１で、図４の目標
ＤＡＣレジスタ１２０に指示値ｙ0 として規定のリード
パワーをセットし、レーザダイオード１００をリードパ
ワーで発光する。この状態でステップＳ２において、モ
ニタＡＤＣレジスタ１３４の値ｘ0 をリードする。
【００９６】次にステップＳ３で目標ＤＡＣレジスタ１
２０に指示値ｙ１＝２ｍＷをセットし、ステップＳ４で
モニタＡＤＣレジスタ１３４の値ｘ１をリードする。同
様にステップＳ５で目標ＤＡＣレジスタ１２０に指示値
ｙ２＝４ｍＷをセットし、ステップＳ６でモニタＡＤＣ
レジスタ１３４の値ｘ２をリードする。このステップＳ
１〜Ｓ６の処理により、リードパワー２ｍＷ及び４ｍＷ
の３点のパワーに対するＡＤＣ１５２の測定値が得られ
る。そこでステップＳ７で、３つの関係式から係数とし
て傾きａ0 とｙ軸交点ｂ0 を算出して図７のモニタＡＤ
Ｃ係数テーブル１８２に登録する。したがって、この正
規化が済むと、それ以降はモニタＡＤＣレジスタ１３４
から得られた測定値ｘを関係式ｙ＝ａ0 ×ｘ＋ｂ0 に代
入して測定パワーｙを算出することになる。
２０に指示値ｙ１＝２ｍＷをセットし、ステップＳ４で
モニタＡＤＣレジスタ１３４の値ｘ１をリードする。同
様にステップＳ５で目標ＤＡＣレジスタ１２０に指示値
ｙ２＝４ｍＷをセットし、ステップＳ６でモニタＡＤＣ
レジスタ１３４の値ｘ２をリードする。このステップＳ
１〜Ｓ６の処理により、リードパワー２ｍＷ及び４ｍＷ
の３点のパワーに対するＡＤＣ１５２の測定値が得られ
る。そこでステップＳ７で、３つの関係式から係数とし
て傾きａ0 とｙ軸交点ｂ0 を算出して図７のモニタＡＤ
Ｃ係数テーブル１８２に登録する。したがって、この正
規化が済むと、それ以降はモニタＡＤＣレジスタ１３４
から得られた測定値ｘを関係式ｙ＝ａ0 ×ｘ＋ｂ0 に代
入して測定パワーｙを算出することになる。
【００９７】図１１は図１０のモニタ用ＡＤＣ正規化に
おける直線近似の関係式を示している。即ち、縦軸ｙの
測定パワーはリードパワー、２ｍＷ，４ｍＷであること
から、それぞれについて得られた横軸のレジスタ値ｘ0
，ｘ１，ｘ２からＱ0 ，Ｑ１，Ｑ２の３点が決まり、
この３点を結んだ直線ｙ＝ａ0 ×ｘ＋ｂ0 の関係式から
係数ａ0 ，ｂ0 を求めればよい。なお、この場合には、
３点Ｑ0 ，Ｑ１，Ｑ２を求めて関係式の精度を高めてい
るが、２点の測定であってもよい。
おける直線近似の関係式を示している。即ち、縦軸ｙの
測定パワーはリードパワー、２ｍＷ，４ｍＷであること
から、それぞれについて得られた横軸のレジスタ値ｘ0
，ｘ１，ｘ２からＱ0 ，Ｑ１，Ｑ２の３点が決まり、
この３点を結んだ直線ｙ＝ａ0 ×ｘ＋ｂ0 の関係式から
係数ａ0 ，ｂ0 を求めればよい。なお、この場合には、
３点Ｑ0 ，Ｑ１，Ｑ２を求めて関係式の精度を高めてい
るが、２点の測定であってもよい。
【００９８】図１２は図４のイレーズ用の発光電流を指
示するＤＡＣ１４０とイレーズ用の差引電流を指示する
ＤＡＣ１４６の発光粗調整のフローチャートである。ま
ずステップＳ１で、モニタＡＤＣ１３４をリードしなが
ら測定パワーｘ１＝２ｍＷとなるようにＥＰ電流ＤＡＣ
レジスタ１２２に対するレジスタ値ｙを増加し、（ｘ
１，ｙ１）を取得する。
示するＤＡＣ１４０とイレーズ用の差引電流を指示する
ＤＡＣ１４６の発光粗調整のフローチャートである。ま
ずステップＳ１で、モニタＡＤＣ１３４をリードしなが
ら測定パワーｘ１＝２ｍＷとなるようにＥＰ電流ＤＡＣ
レジスタ１２２に対するレジスタ値ｙを増加し、（ｘ
１，ｙ１）を取得する。
【００９９】次にステップＳ２で、モニタＡＤＣレジス
タ１３４をリードしながら測定パワーがリードパワーと
なるようにＥＰ差引ＤＡＣレジスタ１２８のレジスタ値
ｚを増加し、（ｘ１，ｚ１）を取得する。次にステップ
３で、モニタＡＤＣレジスタ１３４をリードしながら測
定パワーｘ２＝４ｍＷとなるようにＥＰ電流ＤＡＣレジ
スタ１２２のレジスタ値ｙを増加し、（ｘ２，ｙ２）を
取得する。
タ１３４をリードしながら測定パワーがリードパワーと
なるようにＥＰ差引ＤＡＣレジスタ１２８のレジスタ値
ｚを増加し、（ｘ１，ｚ１）を取得する。次にステップ
３で、モニタＡＤＣレジスタ１３４をリードしながら測
定パワーｘ２＝４ｍＷとなるようにＥＰ電流ＤＡＣレジ
スタ１２２のレジスタ値ｙを増加し、（ｘ２，ｙ２）を
取得する。
【０１００】更にステップＳ４で、モニタＡＤＣレジス
タ１３４をリードしながら測定パワーがリードパワーと
なるようにＥＰ差引ＤＡＣレジスタ１２８のレジスタ値
ｚを増加し、（ｘ２，ｚ２）を取得する。以上の発光に
よるパワー測定が済んだならば、ステップＳ５で、ステ
ップＳ１とステップＳ３で求めた２点（ｘ１，ｙ１），
（ｘ２，ｙ２）について、パワーｘに対するＥＰ電流Ｄ
ＡＣレジスタ値ｙを直線近似の関係式ｙ＝ａ１・ｘ＋ｂ
１に代入し、この２つの代入式から傾きａ１とｙ軸交点
ｂ１を算出する。
タ１３４をリードしながら測定パワーがリードパワーと
なるようにＥＰ差引ＤＡＣレジスタ１２８のレジスタ値
ｚを増加し、（ｘ２，ｚ２）を取得する。以上の発光に
よるパワー測定が済んだならば、ステップＳ５で、ステ
ップＳ１とステップＳ３で求めた２点（ｘ１，ｙ１），
（ｘ２，ｙ２）について、パワーｘに対するＥＰ電流Ｄ
ＡＣレジスタ値ｙを直線近似の関係式ｙ＝ａ１・ｘ＋ｂ
１に代入し、この２つの代入式から傾きａ１とｙ軸交点
ｂ１を算出する。
【０１０１】具体的には、図１３のように、Ｑ１（ｘ
１，ｙ１）とＱ２（ｘ２，ｙ２）を結ぶ直線の関係式ｙ
＝ａ１・ｘ＋ｂ１を近似し、その係数として傾きａ１と
ｙ軸交点ｂ１を求める。次にステップＳ６で、ステップ
Ｓ２及びステップＳ４で求めた２点（ｘ１，ｚ１），
（ｘ２，ｚ２）につき、図１４のようにＱ３，Ｑ４を設
定して２点を結ぶ直線を近似して関係式ｚ＝ｃ１・ｘ＋
ｄ１を求め、これにＱ３，Ｑ４の値を代入して傾きｃ１
とｙ軸交点ｄ１を算出する。
１，ｙ１）とＱ２（ｘ２，ｙ２）を結ぶ直線の関係式ｙ
＝ａ１・ｘ＋ｂ１を近似し、その係数として傾きａ１と
ｙ軸交点ｂ１を求める。次にステップＳ６で、ステップ
Ｓ２及びステップＳ４で求めた２点（ｘ１，ｚ１），
（ｘ２，ｚ２）につき、図１４のようにＱ３，Ｑ４を設
定して２点を結ぶ直線を近似して関係式ｚ＝ｃ１・ｘ＋
ｄ１を求め、これにＱ３，Ｑ４の値を代入して傾きｃ１
とｙ軸交点ｄ１を算出する。
【０１０２】このようにステップＳ５で算出された図４
のイレーズパワー発光電流を指示するＤＡＣ１４０の任
意のパワーに対するレジスタ指示値の直線近似の関係式
の傾きａとｙ軸交点ｂは、図７のＥＰ電流ＤＡＣ係数テ
ーブル１８４に登録される。またステップＳ６で算出し
た任意のパワーに対する差引電流用のＤＡＣ１４６に対
するレジスタ値ｙを求める直線近似の関係式の傾きｃと
ｙ軸交点ｂは、図７のＥＰ差引ＤＡＣ係数テーブル１８
６に登録される。
のイレーズパワー発光電流を指示するＤＡＣ１４０の任
意のパワーに対するレジスタ指示値の直線近似の関係式
の傾きａとｙ軸交点ｂは、図７のＥＰ電流ＤＡＣ係数テ
ーブル１８４に登録される。またステップＳ６で算出し
た任意のパワーに対する差引電流用のＤＡＣ１４６に対
するレジスタ値ｙを求める直線近似の関係式の傾きｃと
ｙ軸交点ｂは、図７のＥＰ差引ＤＡＣ係数テーブル１８
６に登録される。
【０１０３】図１５は図４の第１ライトパワー発光用の
ＤＡＣ１４２とその差引電流指示用のＤＡＣ１４８の発
光粗調整のフローチャートである。この第１ライトパワ
ー発光粗調整にあっては、基本的には図１２のイレーズ
用の発光粗調整と同じであり、ＷＰ１電流ＤＡＣレジス
タ１２４に対する指示パワーが４ｍＷと８ｍＷの２点と
している点が相違する。
ＤＡＣ１４２とその差引電流指示用のＤＡＣ１４８の発
光粗調整のフローチャートである。この第１ライトパワ
ー発光粗調整にあっては、基本的には図１２のイレーズ
用の発光粗調整と同じであり、ＷＰ１電流ＤＡＣレジス
タ１２４に対する指示パワーが４ｍＷと８ｍＷの２点と
している点が相違する。
【０１０４】このステップＳ１〜Ｓ４における４ｍＷ及
び８ｍＷの発光に対するリードパワーとなるような差引
電流の設定で、ライトパワー発光電流については（ｘ
１，ｙ１），（ｘ２，ｙ２）の２点が得られ、また差引
電流については（ｘ１，ｚ１），（ｘ２，ｚ２）の２点
が得られる。ステップＳ５で任意の第１ライトパワーｘ
に対するレジスタ値ｙの直線近似の関係式の傾きａ２と
ｙ軸交点ｂ２を算出し、ステップＳ６で任意の第１ライ
トパワーｘに対する差引電流のレジスタ値ｚの直線近似
の関係式の傾きｃ２とｙ軸交点ｄ２を算出し、それぞれ
図７のＷＰ１電流ＤＡＣ係数テーブル１８８とＷＰ１差
引ＤＡＣ係数テーブル１９０に登録する。
び８ｍＷの発光に対するリードパワーとなるような差引
電流の設定で、ライトパワー発光電流については（ｘ
１，ｙ１），（ｘ２，ｙ２）の２点が得られ、また差引
電流については（ｘ１，ｚ１），（ｘ２，ｚ２）の２点
が得られる。ステップＳ５で任意の第１ライトパワーｘ
に対するレジスタ値ｙの直線近似の関係式の傾きａ２と
ｙ軸交点ｂ２を算出し、ステップＳ６で任意の第１ライ
トパワーｘに対する差引電流のレジスタ値ｚの直線近似
の関係式の傾きｃ２とｙ軸交点ｄ２を算出し、それぞれ
図７のＷＰ１電流ＤＡＣ係数テーブル１８８とＷＰ１差
引ＤＡＣ係数テーブル１９０に登録する。
【０１０５】図１６は、図４の第２ライトパワー発光の
電流指示を行うＤＡＣ１４４と、その差引電流を指示す
るＤＡＣ１５０についての第２ライトパワー粗調整処理
のフローチャートである。第２ライトパワー粗調整処理
にあっては、まずステップＳ１で、ローディングした媒
体がＰＰＭ記録媒体か否かチェックする。ＰＰＭ記録媒
体であった場合には第２ライトパワーの調整処理はスキ
ップする。
電流指示を行うＤＡＣ１４４と、その差引電流を指示す
るＤＡＣ１５０についての第２ライトパワー粗調整処理
のフローチャートである。第２ライトパワー粗調整処理
にあっては、まずステップＳ１で、ローディングした媒
体がＰＰＭ記録媒体か否かチェックする。ＰＰＭ記録媒
体であった場合には第２ライトパワーの調整処理はスキ
ップする。
【０１０６】続いてステップＳ２に進み、ＰＷＭ媒体の
イレーズか否かチェックする。もしＰＷＭ媒体のイレー
ズであれば第２ライトパワーは使用しないことから、こ
の場合にもライトパワー粗調整の処理をスキップする。
もちろん、ＰＰＭ媒体またはＰＷＭ媒体のイレーズを判
別せずに、常に第２ライトパワー粗調整を行うようにし
てもよい。ステップＳ３からステップＳ６の発光調整
は、図１２のイレーズ発光粗調整と同じであり、この場
合にも４ｍＷと８ｍＷの２点で発光調整し、続いてリー
ドパワーとなるように差引電流を調整している。
イレーズか否かチェックする。もしＰＷＭ媒体のイレー
ズであれば第２ライトパワーは使用しないことから、こ
の場合にもライトパワー粗調整の処理をスキップする。
もちろん、ＰＰＭ媒体またはＰＷＭ媒体のイレーズを判
別せずに、常に第２ライトパワー粗調整を行うようにし
てもよい。ステップＳ３からステップＳ６の発光調整
は、図１２のイレーズ発光粗調整と同じであり、この場
合にも４ｍＷと８ｍＷの２点で発光調整し、続いてリー
ドパワーとなるように差引電流を調整している。
【０１０７】そしてステップＳ７，ステップＳ８で、第
２ライトパワー発光の電流指示を行うＤＡＣ１４４につ
いての直線近似の関係式の傾きａ３とｙ軸交点ｂ３を算
出する。またステップＳ８で、第２ライトパワー発光時
の差引電流を指示するＤＡＣ１５０についての直線近似
の関係式の傾きｃ３とｙ軸交点ｄ３を算出し、それぞれ
図７のＷＰ２電流ＤＡＣ係数テーブル１９２及びＷＰ２
差引係数テーブル１９４に登録する。
２ライトパワー発光の電流指示を行うＤＡＣ１４４につ
いての直線近似の関係式の傾きａ３とｙ軸交点ｂ３を算
出する。またステップＳ８で、第２ライトパワー発光時
の差引電流を指示するＤＡＣ１５０についての直線近似
の関係式の傾きｃ３とｙ軸交点ｄ３を算出し、それぞれ
図７のＷＰ２電流ＤＡＣ係数テーブル１９２及びＷＰ２
差引係数テーブル１９４に登録する。
【０１０８】図１７は、以上の発光粗調整により登録さ
れた図７のパワーテーブル格納部１８０における各係数
テーブル１８２〜１９４の登録内容であり、これらの傾
き及びｙ軸交点の値を使用して直線近似の関係式を作る
ことで、任意のモニタ電圧測定値から測定パワーへの変
換、及び任意のパワーからＡＤＣに対する電流指示値へ
の変換が実現できる。
れた図７のパワーテーブル格納部１８０における各係数
テーブル１８２〜１９４の登録内容であり、これらの傾
き及びｙ軸交点の値を使用して直線近似の関係式を作る
ことで、任意のモニタ電圧測定値から測定パワーへの変
換、及び任意のパワーからＡＤＣに対する電流指示値へ
の変換が実現できる。
【０１０９】図１８は図７の発光微調整処理部１６４に
よるレーザダイオード発光微調整のジェネリックフロー
チャートである。この発光微調整処理にあっては、ステ
ップＳ１で、既に終了した発光粗調整による係数テーブ
ルから傾き及びｙ軸交点を読み出して、発光調整に必要
とするモニタ電流測定用のＡＤＣ１５２及び各パワーを
得るための電流を制御する電流指示用のＤＡＣ１４０〜
１４４、及び差引電流指示用のＤＡＣ１４６〜１５０に
ついて、関係式を求める。次にステップＳ２で媒体のゾ
ーンに対するパワーテーブルを作成する。更にステップ
Ｓ３でゾーンと温度に対するパワー比テーブルを作成す
る。最終的にステップＳ４でパワー限界の算出を行う。
よるレーザダイオード発光微調整のジェネリックフロー
チャートである。この発光微調整処理にあっては、ステ
ップＳ１で、既に終了した発光粗調整による係数テーブ
ルから傾き及びｙ軸交点を読み出して、発光調整に必要
とするモニタ電流測定用のＡＤＣ１５２及び各パワーを
得るための電流を制御する電流指示用のＤＡＣ１４０〜
１４４、及び差引電流指示用のＤＡＣ１４６〜１５０に
ついて、関係式を求める。次にステップＳ２で媒体のゾ
ーンに対するパワーテーブルを作成する。更にステップ
Ｓ３でゾーンと温度に対するパワー比テーブルを作成す
る。最終的にステップＳ４でパワー限界の算出を行う。
【０１１０】図１９は図１８のステップＳ２のゾーンに
対するパワーテーブルの作成処理で行われるイレーズパ
ワー微調整のフローチャートである。イレーズパワー微
調整にあっては、まずステップＳ１で、イレーズパワー
の発光粗調整で求めた電流指示用ＤＡＣ１４０に関する
関係式ｙ＝ａ１・ｘ＋ｃ１と、対応する差引電流指示用
のＤＡＣ１４６の関係式ｚ＝ｃ１・ｘ＋ｄ１をセットす
る。
対するパワーテーブルの作成処理で行われるイレーズパ
ワー微調整のフローチャートである。イレーズパワー微
調整にあっては、まずステップＳ１で、イレーズパワー
の発光粗調整で求めた電流指示用ＤＡＣ１４０に関する
関係式ｙ＝ａ１・ｘ＋ｃ１と、対応する差引電流指示用
のＤＡＣ１４６の関係式ｚ＝ｃ１・ｘ＋ｄ１をセットす
る。
【０１１１】次にステップＳ２で、ｘ１＝３ｍＷを関係
式に代入して、対応する電流ＤＡＣレジスタ値ｙ１を算
出してレーザダイオード１００を発光駆動し、この状態
で同じくｘ１＝３ｍＷの差引ＤＡＣレジスタ値ｘ１を算
出して差引電流を流すことで、モニタ電流から差し引い
た状態を作り出す。このような３ｍＷのパワーによる発
光及び差引電流の状態で、ステップＳ３に進み、モニタ
用ＡＤＣ１５２のレジスタ値を測定値ｙとしてリードし
ながら、リードパワーとなるようにＥＰ電流ＤＡＣレジ
スタ１２２に対するレジスタ値ｘ１を変えてＤＡＣ１４
０により発光パワーを調整する。これによって調整値
（ｘ１，ｙ１）が取得できる。
式に代入して、対応する電流ＤＡＣレジスタ値ｙ１を算
出してレーザダイオード１００を発光駆動し、この状態
で同じくｘ１＝３ｍＷの差引ＤＡＣレジスタ値ｘ１を算
出して差引電流を流すことで、モニタ電流から差し引い
た状態を作り出す。このような３ｍＷのパワーによる発
光及び差引電流の状態で、ステップＳ３に進み、モニタ
用ＡＤＣ１５２のレジスタ値を測定値ｙとしてリードし
ながら、リードパワーとなるようにＥＰ電流ＤＡＣレジ
スタ１２２に対するレジスタ値ｘ１を変えてＤＡＣ１４
０により発光パワーを調整する。これによって調整値
（ｘ１，ｙ１）が取得できる。
【０１１２】次にステップＳ４で発光パワーを５ｍＷに
増加させ、同じく対応する差引電流をセットしてモニタ
電流から差し引き、ステップＳ５でモニタＡＤＣ値ｙが
リードパワーとなるようにＥＰ電流ＤＡＣ１４０のレジ
スタ１２２に対するレジスタ値ｘ２を変えて発光電流を
調整する。これによって２点目の（ｘ２，ｙ２）が得ら
れる。
増加させ、同じく対応する差引電流をセットしてモニタ
電流から差し引き、ステップＳ５でモニタＡＤＣ値ｙが
リードパワーとなるようにＥＰ電流ＤＡＣ１４０のレジ
スタ１２２に対するレジスタ値ｘ２を変えて発光電流を
調整する。これによって２点目の（ｘ２，ｙ２）が得ら
れる。
【０１１３】最終的にステップＳ６で、調整で得た２点
をＥＰ電流用のＤＡＣ１４０の関係式に代入して、この
関係式の係数ａ１とｙ軸交点ｂ１を算出し、これをイレ
ーズパワー微調整結果として図７のＥＰ電流ＤＡＣ係数
テーブル１８４に登録して修正する。図２０は第１ライ
トパワーの微調整処理のフローチャートである。第１ラ
イトパワー微調整処理にあっては、イレーズパワーの発
光電流と第１ライトパワーの発光電流の２つを使用する
ことから、ステップＳ１でイレーズパワーについて粗調
整で求めた電流ＤＡＣ値の関係式と差引ＤＡＣの関係式
をセットし、また同じく粗調整で求めた第２ライトパワ
ーについての電流ＤＡＣ値の関係式と対応する差引ＤＡ
Ｃ値の関係式をセットする。
をＥＰ電流用のＤＡＣ１４０の関係式に代入して、この
関係式の係数ａ１とｙ軸交点ｂ１を算出し、これをイレ
ーズパワー微調整結果として図７のＥＰ電流ＤＡＣ係数
テーブル１８４に登録して修正する。図２０は第１ライ
トパワーの微調整処理のフローチャートである。第１ラ
イトパワー微調整処理にあっては、イレーズパワーの発
光電流と第１ライトパワーの発光電流の２つを使用する
ことから、ステップＳ１でイレーズパワーについて粗調
整で求めた電流ＤＡＣ値の関係式と差引ＤＡＣの関係式
をセットし、また同じく粗調整で求めた第２ライトパワ
ーについての電流ＤＡＣ値の関係式と対応する差引ＤＡ
Ｃ値の関係式をセットする。
【０１１４】次にステップＳ２で、５ｍＷの第１ライト
パワーの発光のため、第１ライトパワーＷＰ１＝３ｍ
Ｗ、イレーズパワーＥＰ＝２ｍＷとし、それぞれの電流
ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値をステップＳ１でセットした関
係式から算出して発光制御する。この状態でステップＳ
３でモニタＡＤＣ値を測定値ｙとしてリードし、リード
パワーとなるように第１ライトパワーＰＷ１の電流ＡＤ
Ｃレジスタ値ｘ１を変えてＤＡＣ１４２により発光パワ
ーを調整する。この時点で（ｘ１，ｙ１）が取得され
る。
パワーの発光のため、第１ライトパワーＷＰ１＝３ｍ
Ｗ、イレーズパワーＥＰ＝２ｍＷとし、それぞれの電流
ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値をステップＳ１でセットした関
係式から算出して発光制御する。この状態でステップＳ
３でモニタＡＤＣ値を測定値ｙとしてリードし、リード
パワーとなるように第１ライトパワーＰＷ１の電流ＡＤ
Ｃレジスタ値ｘ１を変えてＤＡＣ１４２により発光パワ
ーを調整する。この時点で（ｘ１，ｙ１）が取得され
る。
【０１１５】次にステップＳ４で第１ライトパワーを９
ｍＷとする。この第１ライトパワー９ｍＷは、第１ライ
トパワーＷＰ＝７ｍＷ、イレーズパワーＥＰ＝２ｍＷに
より実現する。したがって７ｍＷと２ｍＷのそれぞれに
ついて、第１ライトパワー及びイレーズパワーについて
の電流ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値をステップＳ１の関係式
から算出して発光制御する。この発光制御の状態で、ス
テップＳ５のようにモニタＡＤＣ値ｙをリードしなが
ら、リードパワーとなるようにＷＰ１電流ＤＡＣ値ｘ２
を変えて発光パワーを調整する。
ｍＷとする。この第１ライトパワー９ｍＷは、第１ライ
トパワーＷＰ＝７ｍＷ、イレーズパワーＥＰ＝２ｍＷに
より実現する。したがって７ｍＷと２ｍＷのそれぞれに
ついて、第１ライトパワー及びイレーズパワーについて
の電流ＤＡＣ値と差引ＤＡＣ値をステップＳ１の関係式
から算出して発光制御する。この発光制御の状態で、ス
テップＳ５のようにモニタＡＤＣ値ｙをリードしなが
ら、リードパワーとなるようにＷＰ１電流ＤＡＣ値ｘ２
を変えて発光パワーを調整する。
【０１１６】この時点で（ｘ２，ｙ２）が取得される。
最終的にステップＳ６で、調整データ２点の関係式の代
入式から第２ライトパワーの発光時の第１ライトパワー
ＷＰ１電流指示用のＤＡＣ１４２の関係式における係数
ａ２とｙ軸交点ｂ２を算出し、図７のＷＰ１電流ＤＡＣ
係数テーブル１８８に登録して修正する。図２１は第２
ライトパワーの微調整処理であり、ステップＳ１で第２
ライトパワーについて粗調整で求めた関係式をセット
し、この関係式に基づいて５ｍＷと９ｍＷの２点で発光
して、測定結果から関係式の係数ａ３とｙ軸交点ｂ３を
算出して、図７のＷＰ２電流ＤＡＣ係数テーブル１９２
を修正することになる。それ以外の点は図２０の第１ラ
イトパワー発光調整処理と基本的に同じである。
最終的にステップＳ６で、調整データ２点の関係式の代
入式から第２ライトパワーの発光時の第１ライトパワー
ＷＰ１電流指示用のＤＡＣ１４２の関係式における係数
ａ２とｙ軸交点ｂ２を算出し、図７のＷＰ１電流ＤＡＣ
係数テーブル１８８に登録して修正する。図２１は第２
ライトパワーの微調整処理であり、ステップＳ１で第２
ライトパワーについて粗調整で求めた関係式をセット
し、この関係式に基づいて５ｍＷと９ｍＷの２点で発光
して、測定結果から関係式の係数ａ３とｙ軸交点ｂ３を
算出して、図７のＷＰ２電流ＤＡＣ係数テーブル１９２
を修正することになる。それ以外の点は図２０の第１ラ
イトパワー発光調整処理と基本的に同じである。
【０１１７】図２２は、図７のパワーテーブル格納部１
８０に設けたイレーズパワーテーブル１９６、第１ライ
トパワーテーブル１９８及び第２ライトパワーテーブル
２００をゾーン番号に対する直線近似の関係式から求め
るためのゾーン分割パワーテーブル作成処理のフローチ
ャートである。まずステップＳ１で、図２３のように、
例えば５４０ＭＢ媒体のゾーン番号０〜１７からなる１
８ゾーンについて、内周領域、中間領域、外周領域の３
領域に分割する。続いてステップＳ２で、各領域の両端
ゾーンのイレーズモードにおけるイレーズパワーの値、
即ち図２３のパワーＰ１１〜Ｐ１６をセットする。また
イレーズモードにおける第１ライトパワーＷＰ１の値Ｐ
２１〜Ｐ２６をセットする。
８０に設けたイレーズパワーテーブル１９６、第１ライ
トパワーテーブル１９８及び第２ライトパワーテーブル
２００をゾーン番号に対する直線近似の関係式から求め
るためのゾーン分割パワーテーブル作成処理のフローチ
ャートである。まずステップＳ１で、図２３のように、
例えば５４０ＭＢ媒体のゾーン番号０〜１７からなる１
８ゾーンについて、内周領域、中間領域、外周領域の３
領域に分割する。続いてステップＳ２で、各領域の両端
ゾーンのイレーズモードにおけるイレーズパワーの値、
即ち図２３のパワーＰ１１〜Ｐ１６をセットする。また
イレーズモードにおける第１ライトパワーＷＰ１の値Ｐ
２１〜Ｐ２６をセットする。
【０１１８】次にステップＳ３で、内周、中間、外周の
各領域のゾーン番号に対し、ステップＳ２でセットした
イレーズパワー及び第１ライトパワーＷＰ１を直線近似
し、その関係式から傾きとｙ軸交点を導出する。具体的
には、例えばイレーズパワーについては内周、中間、外
周の各領域について直線２１０，２１２，２１４で近似
し、各直線２１０，２１２，２１４の関係式からそれぞ
れの傾きとｙ軸交点を導出する。
各領域のゾーン番号に対し、ステップＳ２でセットした
イレーズパワー及び第１ライトパワーＷＰ１を直線近似
し、その関係式から傾きとｙ軸交点を導出する。具体的
には、例えばイレーズパワーについては内周、中間、外
周の各領域について直線２１０，２１２，２１４で近似
し、各直線２１０，２１２，２１４の関係式からそれぞ
れの傾きとｙ軸交点を導出する。
【０１１９】この場合、ｙ軸交点は各領域の内周端のゾ
ーン番号０，７，１２におけるパワー値Ｐ１１，Ｐ１
３，Ｐ１５を使用する。同様に第１ライトパワーについ
ても直線２１６，２１８，２２０で直線近似し、その関
係式から傾きとｙ軸交点を導出する。続いてステップＳ
３で、ライトモードについて、図２３の内周、中間及び
外周の各領域における両端ゾーンのイレーズパワー、第
１ライトパワーＷＰ１及び第２ライトパワーＷＰ２をセ
ットする。この場合には、イレーズモードにおけるイレ
ーズパワー及び第１ライトパワーに加え、新たに第２ラ
イトパワーＷＰ２がセットされることで、図２３の内
周、中間、外周の各領域の両端ゾーンに第２ライトパワ
ーＰ３１〜Ｐ３６がセットされる。
ーン番号０，７，１２におけるパワー値Ｐ１１，Ｐ１
３，Ｐ１５を使用する。同様に第１ライトパワーについ
ても直線２１６，２１８，２２０で直線近似し、その関
係式から傾きとｙ軸交点を導出する。続いてステップＳ
３で、ライトモードについて、図２３の内周、中間及び
外周の各領域における両端ゾーンのイレーズパワー、第
１ライトパワーＷＰ１及び第２ライトパワーＷＰ２をセ
ットする。この場合には、イレーズモードにおけるイレ
ーズパワー及び第１ライトパワーに加え、新たに第２ラ
イトパワーＷＰ２がセットされることで、図２３の内
周、中間、外周の各領域の両端ゾーンに第２ライトパワ
ーＰ３１〜Ｐ３６がセットされる。
【０１２０】続いてステップＳ４について、イレーズパ
ワーＥＰ、第１ライトパワーＷＰ１及び第２ライトパワ
ーＷＰ２のそれぞれについて、図２３の直線２１０〜２
２６のように直線近似し、その関係式から傾きとｙ軸交
点を導出する。以上の処理が終了したならば、ステップ
Ｓ５で内周、中間、外周の３領域につき、イレーズモー
ドとライトモードのそれぞれにつきイレーズパワーＥ
Ｐ、第１ライトパワーＷＰ１及び第２ライトパワーＷＰ
２（イレーズモードは除く）の関係式の傾きとｙ軸交点
のテーブル登録を、図７のイレーズパワーテーブル１９
６、第１ライトパワーテーブル１９８及び第２ライトパ
ワーテーブル２００に対し行う。
ワーＥＰ、第１ライトパワーＷＰ１及び第２ライトパワ
ーＷＰ２のそれぞれについて、図２３の直線２１０〜２
２６のように直線近似し、その関係式から傾きとｙ軸交
点を導出する。以上の処理が終了したならば、ステップ
Ｓ５で内周、中間、外周の３領域につき、イレーズモー
ドとライトモードのそれぞれにつきイレーズパワーＥ
Ｐ、第１ライトパワーＷＰ１及び第２ライトパワーＷＰ
２（イレーズモードは除く）の関係式の傾きとｙ軸交点
のテーブル登録を、図７のイレーズパワーテーブル１９
６、第１ライトパワーテーブル１９８及び第２ライトパ
ワーテーブル２００に対し行う。
【０１２１】ここで１８ゾーン全てについて各パワーを
求めたとすると、（１８ゾーン×３パワー＝５４パワ
ー）をイレーズモードとライトモードで必要とするた
め、１０８個のパワーをテーブルに記憶する必要があ
る。これに対し本発明のゾーンの領域分割による直線近
似の関係式の係数の登録にあっては、１領域当たり６つ
の係数の登録で済むことから、 （３領域）×（６係数）×（２モード）＝３６ で済み、テーブル登録のデータ量を大幅に低減すること
ができる。
求めたとすると、（１８ゾーン×３パワー＝５４パワ
ー）をイレーズモードとライトモードで必要とするた
め、１０８個のパワーをテーブルに記憶する必要があ
る。これに対し本発明のゾーンの領域分割による直線近
似の関係式の係数の登録にあっては、１領域当たり６つ
の係数の登録で済むことから、 （３領域）×（６係数）×（２モード）＝３６ で済み、テーブル登録のデータ量を大幅に低減すること
ができる。
【０１２２】図２４は、このようにして得られた図７の
イレーズパワーテーブル１９６、第１ライトパワーテー
ブル１９８及び第２ライトパワーテーブル２００に対す
る直線近似による関係式の係数の登録内容を示してい
る。図２５は、発光微調整処理におけるライトパワー比
温度補正処理のフローチャートである。このライトパワ
ー比温度補正処理は、図７において第２ライトパワーテ
ーブル２００の代わりに第１ライトパワーとのパワー比
を登録するパワー比テーブル２０２を用いた場合に適用
される。このパワー比テーブル２０２に対応して、温度
補正係数テーブル２０４が準備される。
イレーズパワーテーブル１９６、第１ライトパワーテー
ブル１９８及び第２ライトパワーテーブル２００に対す
る直線近似による関係式の係数の登録内容を示してい
る。図２５は、発光微調整処理におけるライトパワー比
温度補正処理のフローチャートである。このライトパワ
ー比温度補正処理は、図７において第２ライトパワーテ
ーブル２００の代わりに第１ライトパワーとのパワー比
を登録するパワー比テーブル２０２を用いた場合に適用
される。このパワー比テーブル２０２に対応して、温度
補正係数テーブル２０４が準備される。
【０１２３】まずステップＳ１で、例えば５４０ＭＢ媒
体を例にとると、最内周ゾーンの異なった２つの温度Ｔ
１，Ｔ２、例えば１０℃と５５℃における各パワー比
（ＷＰ２／ＷＰ１）と、最外周ゾーンの同じ異なった温
度Ｔ１，Ｔ２、即ち１０℃と５５℃における各パワー比
（ＷＰ２／ＷＰ１）の４点をセットする。図２６は図２
５のステップＳ１における最内周ゾーンの２点Ｑ１，Ｑ
２と最外周ゾーンの２点Ｑ３，Ｑ４の横軸温度Ｔ、縦軸
ｙをパワー比（ＷＰ２／ＷＰ１）としてプロットしてい
る。
体を例にとると、最内周ゾーンの異なった２つの温度Ｔ
１，Ｔ２、例えば１０℃と５５℃における各パワー比
（ＷＰ２／ＷＰ１）と、最外周ゾーンの同じ異なった温
度Ｔ１，Ｔ２、即ち１０℃と５５℃における各パワー比
（ＷＰ２／ＷＰ１）の４点をセットする。図２６は図２
５のステップＳ１における最内周ゾーンの２点Ｑ１，Ｑ
２と最外周ゾーンの２点Ｑ３，Ｑ４の横軸温度Ｔ、縦軸
ｙをパワー比（ＷＰ２／ＷＰ１）としてプロットしてい
る。
【０１２４】続いてステップＳ２で、最内周ゾーンの温
度Ｔ１，Ｔ２の各パワー比、即ち図２６の２点Ｑ１，Ｑ
２を結ぶ直線の直線近似による関係式ｙ＝ａ１・Ｔ＋ｂ
１にＱ１，Ｑ２の値を代入して、その傾きａ１とｙ軸交
点ｂ１を算出する。同様にステップＳ３で、最外周ゾー
ンのＱ３，Ｑ４の値を、両者を直線近似した直線の関係
式ｙ＝ａ17・Ｔ＋ｂ17に代入し、傾きａ17とｙ軸交点ｂ
17を算出する。
度Ｔ１，Ｔ２の各パワー比、即ち図２６の２点Ｑ１，Ｑ
２を結ぶ直線の直線近似による関係式ｙ＝ａ１・Ｔ＋ｂ
１にＱ１，Ｑ２の値を代入して、その傾きａ１とｙ軸交
点ｂ１を算出する。同様にステップＳ３で、最外周ゾー
ンのＱ３，Ｑ４の値を、両者を直線近似した直線の関係
式ｙ＝ａ17・Ｔ＋ｂ17に代入し、傾きａ17とｙ軸交点ｂ
17を算出する。
【０１２５】続いてステップＳ４で、図２６の２つの関
係式における最内周ゾーンの傾きａ１と最外周ゾーンの
傾きａ17をゾーン番号Ｎに対する直線近似の関係式ａ＝
α・Ｎ＋βに代入して、その傾きαとｙ軸交点βを算出
する。同様にステップＳ５で、最内周ゾーンのｙ軸交点
ｂ１と最外周ゾーンの交点ｂ17をゾーン番号Ｎに対する
直線近似の関係式ｂ＝γ・Ｎ＋δに代入して、傾きγと
ｙ軸交点δを算出する。
係式における最内周ゾーンの傾きａ１と最外周ゾーンの
傾きａ17をゾーン番号Ｎに対する直線近似の関係式ａ＝
α・Ｎ＋βに代入して、その傾きαとｙ軸交点βを算出
する。同様にステップＳ５で、最内周ゾーンのｙ軸交点
ｂ１と最外周ゾーンの交点ｂ17をゾーン番号Ｎに対する
直線近似の関係式ｂ＝γ・Ｎ＋δに代入して、傾きγと
ｙ軸交点δを算出する。
【０１２６】最終的にステップＳ６で、ゾーン番号Ｎを
インデックスとした係数（α，β）と係数（γ，δ）の
係数を図２７のようにテーブルに登録する。この図２７
のテーブル内容が、図７に示したパワー比テーブル２０
２及び温度補正係数テーブル２０４を構成することにな
る。図２７のパワーテーブルからは、ゾーン番号Ｎとそ
のときの装置内温度Ｔが与えられると、指定されたゾー
ンＮのパワー比を求めることができる。例えばゾーン番
号Ｎ＝２が指定されたとすると、テーブルから係数α０
２，β０２を求めて、傾き算出式ａ＝α・Ｎ＋βに代入
してパワー比算出式の傾きａを求める。
インデックスとした係数（α，β）と係数（γ，δ）の
係数を図２７のようにテーブルに登録する。この図２７
のテーブル内容が、図７に示したパワー比テーブル２０
２及び温度補正係数テーブル２０４を構成することにな
る。図２７のパワーテーブルからは、ゾーン番号Ｎとそ
のときの装置内温度Ｔが与えられると、指定されたゾー
ンＮのパワー比を求めることができる。例えばゾーン番
号Ｎ＝２が指定されたとすると、テーブルから係数α０
２，β０２を求めて、傾き算出式ａ＝α・Ｎ＋βに代入
してパワー比算出式の傾きａを求める。
【０１２７】同時にゾーン番号Ｎ＝２から係数γ０２，
δ０２を読み出して、交点算出式ｂ＝γ・Ｎ＋δに代入
して、パワー比算出式のｙ軸交点ｂ２を算出する。そし
てパワー比算出式に計算した傾きａとｙ軸交点ｂをセッ
トし、更にそのときの装置内温度Ｔを代入することで、
パワー比（ＷＰ２／ＷＰ１）を算出することができる。
装置内温度とゾーン番号Ｎに基づいたパワー比の算出
は、その都度行ってもよいし、予めパワー比テーブル２
０２にゾーン番号Ｎに対応してそのときの装置内温度Ｔ
に基づいた算出値を登録しておいてもよい。
δ０２を読み出して、交点算出式ｂ＝γ・Ｎ＋δに代入
して、パワー比算出式のｙ軸交点ｂ２を算出する。そし
てパワー比算出式に計算した傾きａとｙ軸交点ｂをセッ
トし、更にそのときの装置内温度Ｔを代入することで、
パワー比（ＷＰ２／ＷＰ１）を算出することができる。
装置内温度とゾーン番号Ｎに基づいたパワー比の算出
は、その都度行ってもよいし、予めパワー比テーブル２
０２にゾーン番号Ｎに対応してそのときの装置内温度Ｔ
に基づいた算出値を登録しておいてもよい。
【０１２８】更に図２３のゾーンを内周、中間及び外周
領域に分割して直線近似による傾きをテーブル登録する
場合と同様、そのときの装置温度における内周、中間、
外周の両端ゾーンのパワー比を図２７のテーブル内容か
ら求め、これについて図２３の場合と同様、パワー比に
ついて内周、中間及び外周の３領域の直線近似における
各直線の傾きとｙ軸交点を求めて、これをパワー比テー
ブル２０２に登録してもよい。
領域に分割して直線近似による傾きをテーブル登録する
場合と同様、そのときの装置温度における内周、中間、
外周の両端ゾーンのパワー比を図２７のテーブル内容か
ら求め、これについて図２３の場合と同様、パワー比に
ついて内周、中間及び外周の３領域の直線近似における
各直線の傾きとｙ軸交点を求めて、これをパワー比テー
ブル２０２に登録してもよい。
【０１２９】図２８は発光調整処理で行われるパワー限
界の算出処理のフローチャートである。パワー限界の算
出処理は、まずステップＳ１で、図２９のようにゾーン
を内周、中間、外周の３領域に分割し、且つ温度を８℃
ごとの温度範囲に分割する。例えば０〜７℃、８〜１５
℃、・・・６４−７１℃の８つの温度範囲に分割する。
界の算出処理のフローチャートである。パワー限界の算
出処理は、まずステップＳ１で、図２９のようにゾーン
を内周、中間、外周の３領域に分割し、且つ温度を８℃
ごとの温度範囲に分割する。例えば０〜７℃、８〜１５
℃、・・・６４−７１℃の８つの温度範囲に分割する。
【０１３０】続いてステップＳ２で、各温度範囲ごとに
パワー上限Ｐmax とパワー下限Ｐmin を設定する。図２
９の温度範囲については、パワー上限Ｐmax が設定さ
れ、またパワー下限Ｐmin が設定されている。次にステ
ップＳ３で、各温度範囲につき内周、中間、外周の３領
域の最大パワーＰmax と最小パワーＰmin を設定する。
図２９はＰＷＭ記録のパワー限界の算出を例にとってお
り、この場合にはリードパワーＲＰ、イレーズパワーＥ
Ｐ、第２ライトパワーＷＰ２を加算したパワー（ＲＰ＋
ＥＰ＋ＷＰ２）が各領域の最大パワー及び最小パワーの
設定に使用される。即ち、（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ２）につ
いて、内周、中間、外周の各領域の外周端ゾーン６，１
１，１７のパワーＰ３２，Ｐ３４，Ｐ３６を最大パワー
とし、内周端ゾーン０，７，１２のパワーＰ３１，Ｐ３
３，Ｐ３５を最小パワーＰmin とする。
パワー上限Ｐmax とパワー下限Ｐmin を設定する。図２
９の温度範囲については、パワー上限Ｐmax が設定さ
れ、またパワー下限Ｐmin が設定されている。次にステ
ップＳ３で、各温度範囲につき内周、中間、外周の３領
域の最大パワーＰmax と最小パワーＰmin を設定する。
図２９はＰＷＭ記録のパワー限界の算出を例にとってお
り、この場合にはリードパワーＲＰ、イレーズパワーＥ
Ｐ、第２ライトパワーＷＰ２を加算したパワー（ＲＰ＋
ＥＰ＋ＷＰ２）が各領域の最大パワー及び最小パワーの
設定に使用される。即ち、（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ２）につ
いて、内周、中間、外周の各領域の外周端ゾーン６，１
１，１７のパワーＰ３２，Ｐ３４，Ｐ３６を最大パワー
とし、内周端ゾーン０，７，１２のパワーＰ３１，Ｐ３
３，Ｐ３５を最小パワーＰmin とする。
【０１３１】なお、ＰＰＭ記録媒体の場合には、各領域
の最大パワー及び最小パワーは、リードパワーＲＰ、イ
レーズパワーＥＰ、第１ライトパワーＷＰ１を加算した
パワー（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ１）により設定する。次にス
テップＳ４で、各温度範囲につき内周、中間、外周の３
領域の最大パワーＰmax をデフォルト値としたパワー上
限に対する倍率Ｋmax を算出する。
の最大パワー及び最小パワーは、リードパワーＲＰ、イ
レーズパワーＥＰ、第１ライトパワーＷＰ１を加算した
パワー（ＲＰ＋ＥＰ＋ＷＰ１）により設定する。次にス
テップＳ４で、各温度範囲につき内周、中間、外周の３
領域の最大パワーＰmax をデフォルト値としたパワー上
限に対する倍率Ｋmax を算出する。
【０１３２】同様にして最小パワーＰmin をデフォルト
値としたパワー下限に対する倍率Ｋmin を算出する。最
終的にステップＳ５で、８℃ごとの温度範囲とゾーン領
域をインデックスとしてパワー上下限のデフォルト倍率
を登録した図７の限界パワーテーブル２０６を作成す
る。このような限界パワーテーブルによれば、装置内温
度Ｔ℃、ゾーン番号から限界パワーテーブル２０６の参
照により対応するパワー上限のデフォルト倍率Ｋmax と
パワー下限のデフォルト倍率Ｋmin が求められ、これら
の倍率Ｋmax ，Ｋmin に、その領域の最大パワーを与え
る例えばＰＷＭ媒体であれば（ＥＰ＋ＷＰ２）のパワー
を乗算することで、パワー上限及びパワー下限を求める
ことができる。
値としたパワー下限に対する倍率Ｋmin を算出する。最
終的にステップＳ５で、８℃ごとの温度範囲とゾーン領
域をインデックスとしてパワー上下限のデフォルト倍率
を登録した図７の限界パワーテーブル２０６を作成す
る。このような限界パワーテーブルによれば、装置内温
度Ｔ℃、ゾーン番号から限界パワーテーブル２０６の参
照により対応するパワー上限のデフォルト倍率Ｋmax と
パワー下限のデフォルト倍率Ｋmin が求められ、これら
の倍率Ｋmax ，Ｋmin に、その領域の最大パワーを与え
る例えばＰＷＭ媒体であれば（ＥＰ＋ＷＰ２）のパワー
を乗算することで、パワー上限及びパワー下限を求める
ことができる。
【０１３３】これは、図２９における各領域ごとにパワ
ー上限２３４，２３６，２３８の直線近似による設定、
及びパワー下限２２８，２３０，２３２の直線近似によ
る設定が行われたことと実質的に同じである。このよう
なパワー上下限の設定は、発光調整終了後のライト動作
の際に与えられる最適ライトパワーを得るためのデフォ
ルト倍率と比較される。
ー上限２３４，２３６，２３８の直線近似による設定、
及びパワー下限２２８，２３０，２３２の直線近似によ
る設定が行われたことと実質的に同じである。このよう
なパワー上下限の設定は、発光調整終了後のライト動作
の際に与えられる最適ライトパワーを得るためのデフォ
ルト倍率と比較される。
【０１３４】最適ライトパワーを得るデフォルト倍率が
図２９のようにして設定されたパワー上限またはパワー
下限を外れている場合には、最適パワーを与えるデフォ
ルト倍率をパワー上限またはパワー下限にリミットして
使用する。図３０は図２８のパワー限界の算出処理によ
り作成された限界パワーテーブルの登録内容である。図
３１のフローチャートは、本発明の第１ライトパワー発
光粗調整処理の他の実施形態である。この実施形態にあ
っては図４のＡＰＣ１３８によるＰＷＭ記録のライトパ
ワーの自動発光制御において生ずるドリフトを、発光粗
調整の際に調整して補償できるようにしたことを特徴と
する。
図２９のようにして設定されたパワー上限またはパワー
下限を外れている場合には、最適パワーを与えるデフォ
ルト倍率をパワー上限またはパワー下限にリミットして
使用する。図３０は図２８のパワー限界の算出処理によ
り作成された限界パワーテーブルの登録内容である。図
３１のフローチャートは、本発明の第１ライトパワー発
光粗調整処理の他の実施形態である。この実施形態にあ
っては図４のＡＰＣ１３８によるＰＷＭ記録のライトパ
ワーの自動発光制御において生ずるドリフトを、発光粗
調整の際に調整して補償できるようにしたことを特徴と
する。
【０１３５】図３２はＰＷＭ記録のライトパワーの発光
で生ずるパワードリフトを示している。ＰＷＭ記録のラ
イトパワーの発光については、図３２（Ａ）のように、
イレーズパワーＥＰ、第１ライトパワーＷＰ１、第２ラ
イトパワーＷＰ２の３段階の発光の組合せを行ってお
り、１回の発光パルス列が終了すると発光パワーを零と
し、次のパルスの発光に移行する。
で生ずるパワードリフトを示している。ＰＷＭ記録のラ
イトパワーの発光については、図３２（Ａ）のように、
イレーズパワーＥＰ、第１ライトパワーＷＰ１、第２ラ
イトパワーＷＰ２の３段階の発光の組合せを行ってお
り、１回の発光パルス列が終了すると発光パワーを零と
し、次のパルスの発光に移行する。
【０１３６】この図３２（Ａ）の発光パワーに対応して
図３２（Ｂ）に示す差引電流が作り出され、モニタフォ
トダイオード１０２の受光電流ｉ0 から差し引くことで
リードパワーＰ１相当分のモニタ電流ｉm を作り出し
て、図４のＡＰＣ１３８に帰還して目標リードパワーを
維持する自動パワー制御が行われている。しかしながら
図３２（Ａ）のＰＷＭの発光パルストレインの最後の発
光パワーを零パワー２４０に落としているため、ＡＰＣ
１３８における目標リードパワーより発光パワーが下が
り、零パワー２４０の部分でＡＰＣ１３８の目標リード
パワーに対し実際の発光パワーが不足する。
図３２（Ｂ）に示す差引電流が作り出され、モニタフォ
トダイオード１０２の受光電流ｉ0 から差し引くことで
リードパワーＰ１相当分のモニタ電流ｉm を作り出し
て、図４のＡＰＣ１３８に帰還して目標リードパワーを
維持する自動パワー制御が行われている。しかしながら
図３２（Ａ）のＰＷＭの発光パルストレインの最後の発
光パワーを零パワー２４０に落としているため、ＡＰＣ
１３８における目標リードパワーより発光パワーが下が
り、零パワー２４０の部分でＡＰＣ１３８の目標リード
パワーに対し実際の発光パワーが不足する。
【０１３７】そのためＡＰＣ１３８は不足したパワー分
を補うように、点線で示すようにパワーを大きくするフ
ィードバックによる補正を掛け、この結果、後続する発
光パルストレインが破線のようにずれてしまう。即ち、
図３２（Ｃ）のモニタ電流ｉｍは常にパワーが不足する
方向に変動するため、全体としてのライトパワーが増加
する方にシフトするドリフトを起こす。
を補うように、点線で示すようにパワーを大きくするフ
ィードバックによる補正を掛け、この結果、後続する発
光パルストレインが破線のようにずれてしまう。即ち、
図３２（Ｃ）のモニタ電流ｉｍは常にパワーが不足する
方向に変動するため、全体としてのライトパワーが増加
する方にシフトするドリフトを起こす。
【０１３８】そこで本発明にあっては、図３３（Ｂ）の
ように、ＰＷＭ記録における１パルス当たりに必ず１個
発生する第１ライトパワーＷＰ１に対応する差引電流ｉ
２を図３３（Ｃ）のモニタ電流が目標リードパワー以下
となるパワー不足分を補うように減少させる。図３３
（Ｄ）は、図３３（Ｃ）のモニタ電流における目標リー
ドパワーＲＰを基準とした第１ライトパワーＷＰ１分の
モニタ電流ｉa の時間分の領域２４６と、パルストレイ
ンの最後で発光パワーを０としたことで生ずる不足パワ
ー分のモニタ電流ｉb の時間幅の領域２４８を取り出し
ている。
ように、ＰＷＭ記録における１パルス当たりに必ず１個
発生する第１ライトパワーＷＰ１に対応する差引電流ｉ
２を図３３（Ｃ）のモニタ電流が目標リードパワー以下
となるパワー不足分を補うように減少させる。図３３
（Ｄ）は、図３３（Ｃ）のモニタ電流における目標リー
ドパワーＲＰを基準とした第１ライトパワーＷＰ１分の
モニタ電流ｉa の時間分の領域２４６と、パルストレイ
ンの最後で発光パワーを０としたことで生ずる不足パワ
ー分のモニタ電流ｉb の時間幅の領域２４８を取り出し
ている。
【０１３９】ここで第１ライトパワーＷＰ１のパルス区
間Ｔa とパワー不足を起こす区間Ｔb は、図５（Ｃ）の
ライトクロックのタイミングを図５（Ｈ）の発光パワー
について見ると、Ｔa ＝１．５クロック、Ｔb ＝１クロ
ックであり、 Ｔa ：Ｔb ＝３：２ の固定的な関係を保っている。
間Ｔa とパワー不足を起こす区間Ｔb は、図５（Ｃ）の
ライトクロックのタイミングを図５（Ｈ）の発光パワー
について見ると、Ｔa ＝１．５クロック、Ｔb ＝１クロ
ックであり、 Ｔa ：Ｔb ＝３：２ の固定的な関係を保っている。
【０１４０】また第１ライトパワーＷＰ１は図５（Ｆ）
の第１ライトパルスのように、図５（Ｄ）のパルス幅デ
ータ１つごとに必ず１個発生する関係にある。そこで図
３３（Ｄ）のリードパワーＲＰを基準として見たパワー
増加領域２４６とパワー不足領域２４８の時間積を等し
くすれば、図３２のようなパワー不足によるライトパワ
ーのドリフトは防止できる。
の第１ライトパルスのように、図５（Ｄ）のパルス幅デ
ータ１つごとに必ず１個発生する関係にある。そこで図
３３（Ｄ）のリードパワーＲＰを基準として見たパワー
増加領域２４６とパワー不足領域２４８の時間積を等し
くすれば、図３２のようなパワー不足によるライトパワ
ーのドリフトは防止できる。
【０１４１】即ち、（Ｔa ×ｉa ）＝（Ｔb ×ｉb ）と
すればよい。ここでＴa は３、Ｔbは２と固定的に定ま
ることから、不足領域２４８と等しい時間積をもつパワ
ー増加領域２４６のモニタ電流ｉa は ｉa ＝ｉb ×２／３ となる。このモニタ電流ｉa を得るためには、図３３
（Ｂ）の差引電流における第１ライトパワー差引電流ｉ
２をｉa 分だけ少ない（ｉ１−ｉa)とすればよい。即
ち、 （ｉ２−ｉa ）＝（ｉ２−｛ｉb ×（２／３）｝ となるように、第１ライトパワーＷＰ１のタイミングで
図４のＷＰ１差引ＤＡＣレジスタ１３０にこれに対応す
る値をセットし、第１ライトパワー用の差引電流源１１
４の差引電流ｉ２をｉa 分だけ減少させた（ｉ２−ｉa
）とすればよい。
すればよい。ここでＴa は３、Ｔbは２と固定的に定ま
ることから、不足領域２４８と等しい時間積をもつパワ
ー増加領域２４６のモニタ電流ｉa は ｉa ＝ｉb ×２／３ となる。このモニタ電流ｉa を得るためには、図３３
（Ｂ）の差引電流における第１ライトパワー差引電流ｉ
２をｉa 分だけ少ない（ｉ１−ｉa)とすればよい。即
ち、 （ｉ２−ｉa ）＝（ｉ２−｛ｉb ×（２／３）｝ となるように、第１ライトパワーＷＰ１のタイミングで
図４のＷＰ１差引ＤＡＣレジスタ１３０にこれに対応す
る値をセットし、第１ライトパワー用の差引電流源１１
４の差引電流ｉ２をｉa 分だけ減少させた（ｉ２−ｉa
）とすればよい。
【０１４２】図３１の第１ライトパワー発光粗調整にあ
っては、図３３（Ｄ）のような関係を維持するため、ス
テップＳ１で４ｍＷで発光した後のステップＳ２におけ
るＷＰ１差引ＤＡＣレジスタ値ｚの増加でモニタ電流が
相殺用パワーの値（ｉa ）となるように調整し、（ｘ
１，ｚ１）を取得する。同様にステップＳ３で、８ｍＷ
で発光した状態でのステップＳ４におけるＷＰ１差引Ｄ
ＡＣレジスタ値Ｚの調整についても、同じ相殺パワーを
もたらすモニタ電流ｉa となるように調整して、（ｘ
２，ｚ２）を取得する。
っては、図３３（Ｄ）のような関係を維持するため、ス
テップＳ１で４ｍＷで発光した後のステップＳ２におけ
るＷＰ１差引ＤＡＣレジスタ値ｚの増加でモニタ電流が
相殺用パワーの値（ｉa ）となるように調整し、（ｘ
１，ｚ１）を取得する。同様にステップＳ３で、８ｍＷ
で発光した状態でのステップＳ４におけるＷＰ１差引Ｄ
ＡＣレジスタ値Ｚの調整についても、同じ相殺パワーを
もたらすモニタ電流ｉa となるように調整して、（ｘ
２，ｚ２）を取得する。
【０１４３】そしてステップＳ５で、差引電流が相殺用
パワーに対応したｉa となるように調整された（ｘ１，
ｚ１），（ｘ２，ｚ２）に基づいて、ステップＳ６でＷ
Ｐ１差引電流ＤＡＣレジスタ、Ｚの直線近似の関係式か
ら傾きｃ２とｙ軸交点ｄ２を算出してテーブル登録す
る。このような傾きｃ２及びｙ軸交点ｄ２を用いたＷＰ
１電流ＤＡＣレジスタ値ｙの設定により、図３３（Ｂ）
の差引電流における第１ライトパワーＰＷ１のタイミン
グでの差引電流の減少による不足パワーの補償が行われ
る。その結果、図３３（Ｃ）のように、第１ライトパワ
ーＰＷ１のタイミングでモニタ電流ｉa は目標リードパ
ワーＲＰを超えて増加し、破線のようにＡＰＣ１３８は
この増加パワーを抑え込むようにフィードバックする。
パワーに対応したｉa となるように調整された（ｘ１，
ｚ１），（ｘ２，ｚ２）に基づいて、ステップＳ６でＷ
Ｐ１差引電流ＤＡＣレジスタ、Ｚの直線近似の関係式か
ら傾きｃ２とｙ軸交点ｄ２を算出してテーブル登録す
る。このような傾きｃ２及びｙ軸交点ｄ２を用いたＷＰ
１電流ＤＡＣレジスタ値ｙの設定により、図３３（Ｂ）
の差引電流における第１ライトパワーＰＷ１のタイミン
グでの差引電流の減少による不足パワーの補償が行われ
る。その結果、図３３（Ｃ）のように、第１ライトパワ
ーＰＷ１のタイミングでモニタ電流ｉa は目標リードパ
ワーＲＰを超えて増加し、破線のようにＡＰＣ１３８は
この増加パワーを抑え込むようにフィードバックする。
【０１４４】このため発光パルストレインが終了してパ
ワーが零となったとき、ＡＰＣ１３８はパワーを抑え込
む方向にフィードバック制御しており、パワー零で目標
リードパワーＲＰを大きく下回るモニタ電流がフィード
バックされてパワーアップされても、その前段階でパワ
ーを抑え込んでいることから、不足によるパワー増加が
行われても、これによって前段の不足分が相殺され、次
の発光パルストレインでのライトパワーの変動を吸収す
ることができる。
ワーが零となったとき、ＡＰＣ１３８はパワーを抑え込
む方向にフィードバック制御しており、パワー零で目標
リードパワーＲＰを大きく下回るモニタ電流がフィード
バックされてパワーアップされても、その前段階でパワ
ーを抑え込んでいることから、不足によるパワー増加が
行われても、これによって前段の不足分が相殺され、次
の発光パルストレインでのライトパワーの変動を吸収す
ることができる。
【０１４５】このため、ＰＷＭ記録のパルストレインの
終了時点でパワーを零としていても、ＡＰＣ１３８によ
るパワーを増加させる方向のドリフトは発生せず、安定
したライト動作が実現できる。なお図３３にあっては、
ＰＷＭのパワーパルストレインの最後でパワーを０とす
る場合を例にとっているが、パワーを０にしなくても目
標リードパワーＲＰ以下にパワーを下げるものについて
全く同様に適用することができる。
終了時点でパワーを零としていても、ＡＰＣ１３８によ
るパワーを増加させる方向のドリフトは発生せず、安定
したライト動作が実現できる。なお図３３にあっては、
ＰＷＭのパワーパルストレインの最後でパワーを０とす
る場合を例にとっているが、パワーを０にしなくても目
標リードパワーＲＰ以下にパワーを下げるものについて
全く同様に適用することができる。
【０１４６】図３４は、図７の発光粗調整処理部１６２
及び発光微調整処理部１６４による全て発光調整が終了
した後にパワー設定処理部１６６で行われるライトパワ
ーの設定処理のフローチャートである。パワー設定処理
は、まずステップＳ１で上位装置からのコマンド解読に
よりライトモードかイレーズモードかを認識し、更にト
ラックアドレスからゾーン番号を導出する。
及び発光微調整処理部１６４による全て発光調整が終了
した後にパワー設定処理部１６６で行われるライトパワ
ーの設定処理のフローチャートである。パワー設定処理
は、まずステップＳ１で上位装置からのコマンド解読に
よりライトモードかイレーズモードかを認識し、更にト
ラックアドレスからゾーン番号を導出する。
【０１４７】続いてステップＳ２で、このとき与えられ
ている最適パワーのデフォルト倍率を、レジスタ１７４
のリードで得られたそのときの装置内温度とステップＳ
１で求めたゾーン番号をインデックスとして限界パワー
テーブル２０６から読み出す。もし最適パワーのデフォ
ルト倍率がパワー限界を外れていた場合には、パワー限
界をリミットとした値に修正する。次にステップＳ３
で、ローディングされた媒体がＰＷＭ記録媒体か否かチ
ェックする。ＰＰＭ記録媒体であれば、ステップＳ４で
イレーズまたはライトの指定モードとゾーン番号からイ
レーズパワーテーブル１９６及び第１ライトパワーテー
ブル１９８を参照して、対応するイレーズパワーＥＰ及
び第１ライトパワーＷＰ１の各パワーを算出する。
ている最適パワーのデフォルト倍率を、レジスタ１７４
のリードで得られたそのときの装置内温度とステップＳ
１で求めたゾーン番号をインデックスとして限界パワー
テーブル２０６から読み出す。もし最適パワーのデフォ
ルト倍率がパワー限界を外れていた場合には、パワー限
界をリミットとした値に修正する。次にステップＳ３
で、ローディングされた媒体がＰＷＭ記録媒体か否かチ
ェックする。ＰＰＭ記録媒体であれば、ステップＳ４で
イレーズまたはライトの指定モードとゾーン番号からイ
レーズパワーテーブル１９６及び第１ライトパワーテー
ブル１９８を参照して、対応するイレーズパワーＥＰ及
び第１ライトパワーＷＰ１の各パワーを算出する。
【０１４８】一方、ＰＷＭ媒体であった場合にはステッ
プＳ５に進み、同じくイレーズまたはライトの指定モー
ドとゾーン番号からＰＰＭ媒体の場合と同様、イレーズ
パワーＥＰと第１ライトパワーＷＰ１の各パワーを算出
する。更に第２ライトパワーＷＰ２については、そのと
きの装置内温度Ｔとゾーン番号からパワー比テーブル２
０２の参照によりパワー比（ＷＰ２／ＷＰ１）を求め、
これに既に算出した第１ライトパワーＷＰ１を掛けて求
める。
プＳ５に進み、同じくイレーズまたはライトの指定モー
ドとゾーン番号からＰＰＭ媒体の場合と同様、イレーズ
パワーＥＰと第１ライトパワーＷＰ１の各パワーを算出
する。更に第２ライトパワーＷＰ２については、そのと
きの装置内温度Ｔとゾーン番号からパワー比テーブル２
０２の参照によりパワー比（ＷＰ２／ＷＰ１）を求め、
これに既に算出した第１ライトパワーＷＰ１を掛けて求
める。
【０１４９】以上の各パワーが算出できたならば、ステ
ップＳ４で、算出されたイレーズパワーＥＰ、第１ライ
トパワーＷＰ１、第２ライトパワーＷＰ２の各々に、そ
のとき与えられている最適ライトパワーのデフォルト倍
率を掛け合わせて、設定するパワーを算出する。続いて
ステップＳ７で、算出されたパワーから発光電流及び最
適電流を指示するためのＤＡＣの指示値を算出する。
ップＳ４で、算出されたイレーズパワーＥＰ、第１ライ
トパワーＷＰ１、第２ライトパワーＷＰ２の各々に、そ
のとき与えられている最適ライトパワーのデフォルト倍
率を掛け合わせて、設定するパワーを算出する。続いて
ステップＳ７で、算出されたパワーから発光電流及び最
適電流を指示するためのＤＡＣの指示値を算出する。
【０１５０】このＤＡＣ指示値の算出は、図７の係数テ
ーブル１８４〜１９４から直線近似の関係式の傾きとｙ
軸交点を読み出して関係式を作り出し、これにステップ
Ｓ６で、算出されたパワーを代入して電流ＤＡＣレジス
タ値及び差引ＤＡＣレジスタ値を算出する。そしてステ
ップＳ８で最終的に、図４に示したレーザダイオード制
御回路の対応するレジスタに計算されたレジスタ値を設
定して、一連のパワー設定処理を終了する。 ３．最適ライトパワー調整 図３５は、図２の光ディスクドライブのＭＰＵ１４で実
現されるレーザダイオードによるライトパワーを最適値
に設定するためのライトパワー調整機能の機能ブロック
図である。
ーブル１８４〜１９４から直線近似の関係式の傾きとｙ
軸交点を読み出して関係式を作り出し、これにステップ
Ｓ６で、算出されたパワーを代入して電流ＤＡＣレジス
タ値及び差引ＤＡＣレジスタ値を算出する。そしてステ
ップＳ８で最終的に、図４に示したレーザダイオード制
御回路の対応するレジスタに計算されたレジスタ値を設
定して、一連のパワー設定処理を終了する。 ３．最適ライトパワー調整 図３５は、図２の光ディスクドライブのＭＰＵ１４で実
現されるレーザダイオードによるライトパワーを最適値
に設定するためのライトパワー調整機能の機能ブロック
図である。
【０１５１】図３５において、ＭＰＵ１４によってライ
トパワー調整部３００が構成され、ライトパワー調整部
３００には調整タイミング判定部３０２、テストライト
実行部３０４及びパワーテーブル作成部３０６が設けら
れている。ライトパワー調整部３００に対しては、レジ
スタ３０８によって装置内温度が入力される。またライ
トパワー調整部３００に対してはパワーテーブル格納部
３１０が設けられる。
トパワー調整部３００が構成され、ライトパワー調整部
３００には調整タイミング判定部３０２、テストライト
実行部３０４及びパワーテーブル作成部３０６が設けら
れている。ライトパワー調整部３００に対しては、レジ
スタ３０８によって装置内温度が入力される。またライ
トパワー調整部３００に対してはパワーテーブル格納部
３１０が設けられる。
【０１５２】パワーテーブル格納部３１０にはデフォル
トイレーズパワーテーブル３１２、デフォルトライトパ
ワーテーブル３１４及び温度補正係数テーブル３１６が
設けられる。例えばデフォルトイレーズパワーテーブル
３１２としては、図３６のように、ゾーン番号ｉ＝１〜
１１に対応してデフォルトイレーズパワーが３．０〜
４．５ｍＷとして格納されている。
トイレーズパワーテーブル３１２、デフォルトライトパ
ワーテーブル３１４及び温度補正係数テーブル３１６が
設けられる。例えばデフォルトイレーズパワーテーブル
３１２としては、図３６のように、ゾーン番号ｉ＝１〜
１１に対応してデフォルトイレーズパワーが３．０〜
４．５ｍＷとして格納されている。
【０１５３】またデフォルトライトパワーテーブル３１
４は、図３７のように、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応
してデフォルトライトパワー＝６．０〜１１．０ｍＷが
格納されている。更に温度補正係数テーブル３１６は図
３８のように、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応して温度
補正係数Ｋｔ＝−０．１．〜０．１０が格納されてい
る。なお図３８の温度補正係数テーブル３１６の温度補
正係数Ｋｔは、装置内温度Ｔ＝２５℃の場合の値であ
る。
４は、図３７のように、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応
してデフォルトライトパワー＝６．０〜１１．０ｍＷが
格納されている。更に温度補正係数テーブル３１６は図
３８のように、ゾーン番号ｉ＝１〜１１に対応して温度
補正係数Ｋｔ＝−０．１．〜０．１０が格納されてい
る。なお図３８の温度補正係数テーブル３１６の温度補
正係数Ｋｔは、装置内温度Ｔ＝２５℃の場合の値であ
る。
【０１５４】パワーテーブル格納部３１０には、更にイ
レーズパワーテーブル３１８、第１ライトパワーテーブ
ル３２０及び第２ライトパワーテーブル３２２が設けら
れている。このためライトパワー調整部３００で決定さ
れた最適ライトパワーを与えるデフォルト倍率をゾーン
番号に対応するデフォルトイレーズパワーテーブル３１
２、デフォルトライトパワーテーブル３１４に掛け合わ
せることで、イレーズパワーテーブル３１８及び第１ラ
イトパワーテーブル３２０の各パワーを算出して登録す
ることができる。
レーズパワーテーブル３１８、第１ライトパワーテーブ
ル３２０及び第２ライトパワーテーブル３２２が設けら
れている。このためライトパワー調整部３００で決定さ
れた最適ライトパワーを与えるデフォルト倍率をゾーン
番号に対応するデフォルトイレーズパワーテーブル３１
２、デフォルトライトパワーテーブル３１４に掛け合わ
せることで、イレーズパワーテーブル３１８及び第１ラ
イトパワーテーブル３２０の各パワーを算出して登録す
ることができる。
【０１５５】また第２ライトパワーテーブル３２２につ
いては、予め第１ライトパワーを基準とした第２ライト
パワーのパワー比率が定まっていることから、デフォル
トライトパワーテーブル３１４からゾーン番号に対応し
て求めた第１ライトパワーにパワー比率を乗ずること
で、第２ライトパワーを得ることができる。更にイレー
ズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワーのそ
れぞれについては、そのときの装置内温度Ｔに基づいた
温度補正係数テーブル３１６の温度補正係数を用いた温
度補正された値を使用する。
いては、予め第１ライトパワーを基準とした第２ライト
パワーのパワー比率が定まっていることから、デフォル
トライトパワーテーブル３１４からゾーン番号に対応し
て求めた第１ライトパワーにパワー比率を乗ずること
で、第２ライトパワーを得ることができる。更にイレー
ズパワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワーのそ
れぞれについては、そのときの装置内温度Ｔに基づいた
温度補正係数テーブル３１６の温度補正係数を用いた温
度補正された値を使用する。
【０１５６】このようなライトパワー調整部３００で決
定された最適ライトパワーのデフォルト値を用いたイレ
ーズパワーテーブル３１８、第１ライトテーブル３２０
及び第２ライトパワーテーブル３２２の作成は、パワー
テーブル作成部３０６により行われる。パワーテーブル
格納部３１０に対してはパワー設定処理部３２４が設け
られる。パワー設定処理部３２４は最適ライトパワーの
調整が終了した後の上位装置からのアクセスを受け、レ
ジスタ群３２６に示される装置内温度、媒体種別、ライ
トまたはイレーズのアクセスモード、更にアクセストラ
ックを示すゾーン番号に基づいて、レーザダイオードの
発光制御によるパワー設定を行う。
定された最適ライトパワーのデフォルト値を用いたイレ
ーズパワーテーブル３１８、第１ライトテーブル３２０
及び第２ライトパワーテーブル３２２の作成は、パワー
テーブル作成部３０６により行われる。パワーテーブル
格納部３１０に対してはパワー設定処理部３２４が設け
られる。パワー設定処理部３２４は最適ライトパワーの
調整が終了した後の上位装置からのアクセスを受け、レ
ジスタ群３２６に示される装置内温度、媒体種別、ライ
トまたはイレーズのアクセスモード、更にアクセストラ
ックを示すゾーン番号に基づいて、レーザダイオードの
発光制御によるパワー設定を行う。
【０１５７】このパワー設定の際にパワー設定処理部３
２４は、装置内温度、媒体種別、ライトまたはイレーズ
のアクセスモード、更にゾーン番号によって、パワーテ
ーブル格納部３１０のイレーズパワーテーブル３１８、
第１ライトパワーテーブル３２０、第２ライトパワーテ
ーブル３２２及び温度補正係数テーブル３１６を参照
し、テーブルから検索されたデータに基づいて、図４に
示したレーザダイオード制御回路２４の各レジスタに対
する電流指示値を算出して出力する。
２４は、装置内温度、媒体種別、ライトまたはイレーズ
のアクセスモード、更にゾーン番号によって、パワーテ
ーブル格納部３１０のイレーズパワーテーブル３１８、
第１ライトパワーテーブル３２０、第２ライトパワーテ
ーブル３２２及び温度補正係数テーブル３１６を参照
し、テーブルから検索されたデータに基づいて、図４に
示したレーザダイオード制御回路２４の各レジスタに対
する電流指示値を算出して出力する。
【０１５８】ライトパワー調整部３００に設けた調整タ
イミング判定部３０２は、テストライト実行部３０４に
よるライトパワー調整タイミングを判定して起動する。
調整タイミング判定部３０２は、光ディスクドライブに
媒体がローディングされた直後は最適ライトパワーの調
整処理は起動せず、光ディスクドライブの初期化処理が
終了して上位装置から最初のライトコマンドが発行され
た際に、これを判断してテストライト実行部３０４によ
る最適ライトパワーの実行のためのテストライトを実行
させる。
イミング判定部３０２は、テストライト実行部３０４に
よるライトパワー調整タイミングを判定して起動する。
調整タイミング判定部３０２は、光ディスクドライブに
媒体がローディングされた直後は最適ライトパワーの調
整処理は起動せず、光ディスクドライブの初期化処理が
終了して上位装置から最初のライトコマンドが発行され
た際に、これを判断してテストライト実行部３０４によ
る最適ライトパワーの実行のためのテストライトを実行
させる。
【０１５９】一度、テストライト実行部３０４によるラ
イトパワー調整処理が終了すると、その後はライトパワ
ー調整結果の有効時間を算出し、調整終了からの経過時
間が算出した有効時間に達したとき、次のライトパワー
調整のためテストライト実行部３０４の処理を起動す
る。また経過時間が有効時間に達するまでの間、レジス
タ３０８から入力する装置内温度Ｔが例えば±３℃を超
えたときには、強制的にテストライト実行部３０４の起
動によるライトパワー調整を行わせる。
イトパワー調整処理が終了すると、その後はライトパワ
ー調整結果の有効時間を算出し、調整終了からの経過時
間が算出した有効時間に達したとき、次のライトパワー
調整のためテストライト実行部３０４の処理を起動す
る。また経過時間が有効時間に達するまでの間、レジス
タ３０８から入力する装置内温度Ｔが例えば±３℃を超
えたときには、強制的にテストライト実行部３０４の起
動によるライトパワー調整を行わせる。
【０１６０】テストライト実行部３０４はローディング
された媒体の非ユーザ領域の任意のテスト領域を指定
し、予め定めたテストパターンを媒体にライトパワーを
段階的に徐々に低下させながら書き込んだ後に読み出し
て、元のテストパターンと比較してデータの不一致個数
を計数する処理を繰り返す。このテストライト処理にお
いて、計数された不一致個数が予め定めた最大数例えば
１０００個を超えるときのライトパワーを限界ライトパ
ワーとして検出する。
された媒体の非ユーザ領域の任意のテスト領域を指定
し、予め定めたテストパターンを媒体にライトパワーを
段階的に徐々に低下させながら書き込んだ後に読み出し
て、元のテストパターンと比較してデータの不一致個数
を計数する処理を繰り返す。このテストライト処理にお
いて、計数された不一致個数が予め定めた最大数例えば
１０００個を超えるときのライトパワーを限界ライトパ
ワーとして検出する。
【０１６１】このようにライトパワーを段階的に低下さ
せながら限界ライトパワーを検出したならば、この限界
ライトパワーに所定のオフセットを加算した値を最適ラ
イトパワーと決定する。テストライト実行部３０４にお
けるライトパワーの設定は、そのときのライトパワーデ
フォルト値を基準としたデフォルト比率を使用して行わ
れる。したがって限界ライトパワーも、限界ライトパワ
ーを示すデフォルト比率として検出され、これに所定の
オフセット比を加算した値を最適ライトパワーのデフォ
ルト比として決定することになる。
せながら限界ライトパワーを検出したならば、この限界
ライトパワーに所定のオフセットを加算した値を最適ラ
イトパワーと決定する。テストライト実行部３０４にお
けるライトパワーの設定は、そのときのライトパワーデ
フォルト値を基準としたデフォルト比率を使用して行わ
れる。したがって限界ライトパワーも、限界ライトパワ
ーを示すデフォルト比率として検出され、これに所定の
オフセット比を加算した値を最適ライトパワーのデフォ
ルト比として決定することになる。
【０１６２】次に、図３５のライトパワー調整部３００
による最適ライトパワーを決定するための調整処理の詳
細をフローチャートを参照して説明する。図３９は本発
明の光ディスクドライブに媒体をローディングした際の
ディスク起動処理である。本発明の光ディスクドライブ
として使用する媒体には、ＰＰＭ記録媒体である１２８
ＭＢ媒体と２３０ＭＢ媒体、及びＰＷＭ記録媒体である
５４０ＭＢ媒体と６４０ＭＢ媒体の４種類がある。図３
９において、ステップＳ１で媒体のロードを行って、図
３に示したようにスピンドルモータ４０にセットして一
定速度で回転する。
による最適ライトパワーを決定するための調整処理の詳
細をフローチャートを参照して説明する。図３９は本発
明の光ディスクドライブに媒体をローディングした際の
ディスク起動処理である。本発明の光ディスクドライブ
として使用する媒体には、ＰＰＭ記録媒体である１２８
ＭＢ媒体と２３０ＭＢ媒体、及びＰＷＭ記録媒体である
５４０ＭＢ媒体と６４０ＭＢ媒体の４種類がある。図３
９において、ステップＳ１で媒体のロードを行って、図
３に示したようにスピンドルモータ４０にセットして一
定速度で回転する。
【０１６３】続いてステップＳ２で、テストライト要求
フラグＦＬをセットする。更にステップＳ３で現在時刻
を初期化し、ステップＳ４で現在の装置内温度Ｔを検出
して、起動時のライトパワーの調整に必要な処理を終了
する。またディスク起動処理にあっては、この最適ライ
トパワー決定のための準備処理以外に、図７に示したＬ
Ｄ発光処理部１６０の機能によるレーザダイオード制御
回路に設けている電流指示用のＤＡＣの各係数テーブル
の作成、及び発光パワーのデフォルト値を格納するパワ
ーテーブルの作成が行われ、結果として図３６，図３７
及び図３８に示したデフォルトイレーズパワーテーブル
３１２、デフォルトライトパワーテーブル３１４及び温
度補正係数テーブル３１６が準備されることになる。
フラグＦＬをセットする。更にステップＳ３で現在時刻
を初期化し、ステップＳ４で現在の装置内温度Ｔを検出
して、起動時のライトパワーの調整に必要な処理を終了
する。またディスク起動処理にあっては、この最適ライ
トパワー決定のための準備処理以外に、図７に示したＬ
Ｄ発光処理部１６０の機能によるレーザダイオード制御
回路に設けている電流指示用のＤＡＣの各係数テーブル
の作成、及び発光パワーのデフォルト値を格納するパワ
ーテーブルの作成が行われ、結果として図３６，図３７
及び図３８に示したデフォルトイレーズパワーテーブル
３１２、デフォルトライトパワーテーブル３１４及び温
度補正係数テーブル３１６が準備されることになる。
【０１６４】図４０は光ディスクドライブ起動後のライ
ト処理のジェネリックフローチャートである。このライ
ト処理にあっては、ステップＳ１で上位装置からのテス
トライト要求の有無をチェックしており、もしテストラ
イト要求があればステップＳ４に進んでテストライトを
実行する。通常時にあっては上位装置からのテストライ
ト要求はないことから、ステップＳ２に進み、テストラ
イトの必要性を判断する。
ト処理のジェネリックフローチャートである。このライ
ト処理にあっては、ステップＳ１で上位装置からのテス
トライト要求の有無をチェックしており、もしテストラ
イト要求があればステップＳ４に進んでテストライトを
実行する。通常時にあっては上位装置からのテストライ
ト要求はないことから、ステップＳ２に進み、テストラ
イトの必要性を判断する。
【０１６５】このテストライト必要性の判断は、図３５
の調整タイミング判定部３０２が行っている。ステップ
Ｓ３でテストライトの必要性が判断されると、ステップ
Ｓ４に進み、テストライト実行部３０４がテストライト
を実行し、最適ライトパワーを決定する。最適ライトパ
ワーが決定されたならば、ステップＳ５でテストライト
要求フラグＦＬをリセットする。
の調整タイミング判定部３０２が行っている。ステップ
Ｓ３でテストライトの必要性が判断されると、ステップ
Ｓ４に進み、テストライト実行部３０４がテストライト
を実行し、最適ライトパワーを決定する。最適ライトパ
ワーが決定されたならば、ステップＳ５でテストライト
要求フラグＦＬをリセットする。
【０１６６】続いてステップＳ６で現在時刻を更新し、
テストライト実行により最適ライトパワーが決定された
時刻を保持する。次にステップＳ７で現在温度を更新
し、同じくテストライト実行で最適ライトパワーが決定
されたときの装置内温度を保持する。そしてステップＳ
８で、このとき上位装置からライトアクセスが要求され
ていれば上位装置からのライトを実行する。
テストライト実行により最適ライトパワーが決定された
時刻を保持する。次にステップＳ７で現在温度を更新
し、同じくテストライト実行で最適ライトパワーが決定
されたときの装置内温度を保持する。そしてステップＳ
８で、このとき上位装置からライトアクセスが要求され
ていれば上位装置からのライトを実行する。
【０１６７】図４１は図４０のステップＳ３におけるテ
ストライトの必要性判断処理のフローチャートである。
テストライト必要性判断処理にあっては、まずステップ
Ｓ１で現在時刻を読み込み、ステップＳ２で光ディスク
ドライブの起動から前回のテストライトまでの時間Ａを
算出する。ステップＳ３では、起動からの時間Ａを予め
定めた一定時間例えば２０秒で割ることで、単位時間数
Ｂに変換する。
ストライトの必要性判断処理のフローチャートである。
テストライト必要性判断処理にあっては、まずステップ
Ｓ１で現在時刻を読み込み、ステップＳ２で光ディスク
ドライブの起動から前回のテストライトまでの時間Ａを
算出する。ステップＳ３では、起動からの時間Ａを予め
定めた一定時間例えば２０秒で割ることで、単位時間数
Ｂに変換する。
【０１６８】ステップＳ４にあっては、単位時間数Ｂが
８未満、即ち起動から最初のテストライトまでの時間Ａ
が１６０秒未満か否かチェックする。１６０秒未満であ
ればステップＳ５に進み、単位時間数Ｂは４未満か、即
ち時間Ａは８０秒未満か否かチェックする。時間Ａが８
０秒から１６０秒の間であった場合には、ステップＳ６
で単位時間数Ｂを３、即ち時間Ａを３０秒にクリップし
て、ステップＳ７に進む。ステップＳ５で時間Ａが８０
秒未満であった場合には、そのままステップＳ７に進
む。ステップＳ７では、前回のテストライトにより決定
された最適ライトパワーの使用を保証する有効時間Ｃを
算出する。
８未満、即ち起動から最初のテストライトまでの時間Ａ
が１６０秒未満か否かチェックする。１６０秒未満であ
ればステップＳ５に進み、単位時間数Ｂは４未満か、即
ち時間Ａは８０秒未満か否かチェックする。時間Ａが８
０秒から１６０秒の間であった場合には、ステップＳ６
で単位時間数Ｂを３、即ち時間Ａを３０秒にクリップし
て、ステップＳ７に進む。ステップＳ５で時間Ａが８０
秒未満であった場合には、そのままステップＳ７に進
む。ステップＳ７では、前回のテストライトにより決定
された最適ライトパワーの使用を保証する有効時間Ｃを
算出する。
【０１６９】この場合、有効時間Ｃは２０秒×２B （単
位時間数）とする。但し、有効時間の最大値は１６０秒
にリミットされる。この結果、テストライトで決定され
た最適ライトパワーを保証する有効時間Ｃは、起動から
テストライトまでの時間Ａが１６０秒未満であれば２B
に対応した時間に設定される。１６０秒を超えた場合に
は、一定の有効時間Ｃ＝１６０秒に固定される。
位時間数）とする。但し、有効時間の最大値は１６０秒
にリミットされる。この結果、テストライトで決定され
た最適ライトパワーを保証する有効時間Ｃは、起動から
テストライトまでの時間Ａが１６０秒未満であれば２B
に対応した時間に設定される。１６０秒を超えた場合に
は、一定の有効時間Ｃ＝１６０秒に固定される。
【０１７０】このような有効時間Ｃの算出は、光ディス
クドライブにローディングした媒体の媒体温度が装置内
温度に安定するまでに掛かる時間に応じて可変させてい
る。即ち、媒体をローディングした直後の初期化時にあ
っては、媒体と装置内の温度の間には差があることか
ら、この段階では装置内温度に基づいた最適ライトパワ
ーの調整は有効にできないことから、起動時にはライト
パワーの調整は行わない。
クドライブにローディングした媒体の媒体温度が装置内
温度に安定するまでに掛かる時間に応じて可変させてい
る。即ち、媒体をローディングした直後の初期化時にあ
っては、媒体と装置内の温度の間には差があることか
ら、この段階では装置内温度に基づいた最適ライトパワ
ーの調整は有効にできないことから、起動時にはライト
パワーの調整は行わない。
【０１７１】ローディングした媒体の温度は１〜２分程
度経過すると装置内の温度に平衡してくる。そこで光デ
ィスクドライブ起動後の最初に上位装置からライトコマ
ンドが発行されたタイミングに同期して最初のライトパ
ワー調整を行う。起動後、上位装置からライトコマンド
が発行されるタイミングは様々であることから、図４１
のステップＳ１〜Ｓ７において、起動から最初のテスト
ライトまでの時間Ａを求め、この時間Ａから次回以降の
テストライトタイミング判別のための有効時間Ｃを決め
るようにしている。
度経過すると装置内の温度に平衡してくる。そこで光デ
ィスクドライブ起動後の最初に上位装置からライトコマ
ンドが発行されたタイミングに同期して最初のライトパ
ワー調整を行う。起動後、上位装置からライトコマンド
が発行されるタイミングは様々であることから、図４１
のステップＳ１〜Ｓ７において、起動から最初のテスト
ライトまでの時間Ａを求め、この時間Ａから次回以降の
テストライトタイミング判別のための有効時間Ｃを決め
るようにしている。
【０１７２】ステップＳ７で有効時間Ｃが算出できたな
らば、ステップＳ８で、有効判定時刻Ｄを前回のテスト
ライト時刻に算出した有効時間Ｃを加えた時刻として算
出する。そしてステップＳ９で、現在時刻が有効判定時
刻Ｄを超えたか否か判定する。現在時刻が有効判定時刻
Ｄを超えていれば、ステップＳ１４に進んでテストライ
トフラグをオンし、次のテストライトの実行に進む。
らば、ステップＳ８で、有効判定時刻Ｄを前回のテスト
ライト時刻に算出した有効時間Ｃを加えた時刻として算
出する。そしてステップＳ９で、現在時刻が有効判定時
刻Ｄを超えたか否か判定する。現在時刻が有効判定時刻
Ｄを超えていれば、ステップＳ１４に進んでテストライ
トフラグをオンし、次のテストライトの実行に進む。
【０１７３】ステップＳ９で現在時刻が有効判定時刻Ｄ
に達していない場合には、ステップＳ１７でテストライ
トフラグをオフとする。またステップＳ４で単位時間Ｂ
が８以上即ち１６０秒以上の場合には、ステップＳ１０
に進み、現在時刻から前回のテストライト時刻を引いた
時間が１時間未満か否かチェックする。１時間未満であ
ればステップＳ１１で現在温度を読み込み、ステップＳ
１２で前回温度に対し現在温度が±３℃の範囲内か否か
チェックする。３℃以内であれば、ステップＳ１３でテ
ストライトフラグをオフし、テストライトは行わない。
に達していない場合には、ステップＳ１７でテストライ
トフラグをオフとする。またステップＳ４で単位時間Ｂ
が８以上即ち１６０秒以上の場合には、ステップＳ１０
に進み、現在時刻から前回のテストライト時刻を引いた
時間が１時間未満か否かチェックする。１時間未満であ
ればステップＳ１１で現在温度を読み込み、ステップＳ
１２で前回温度に対し現在温度が±３℃の範囲内か否か
チェックする。３℃以内であれば、ステップＳ１３でテ
ストライトフラグをオフし、テストライトは行わない。
【０１７４】前回温度に対し±３℃の範囲を超える温度
変動があった場合には、ステップＳ１４でテストライト
フラグをオンし、テストライトを実行する。またステッ
プＳ１０で現在時刻と前回のテストライト時刻との差が
１時間以上の場合には、ステップＳ１４で強制的にテス
トライトフラグをオンしてテストライトを実行する。な
お、このテストライト必要性判断処理で整定されている
各閾値時間は必要に応じて適宜に定めることができる。
変動があった場合には、ステップＳ１４でテストライト
フラグをオンし、テストライトを実行する。またステッ
プＳ１０で現在時刻と前回のテストライト時刻との差が
１時間以上の場合には、ステップＳ１４で強制的にテス
トライトフラグをオンしてテストライトを実行する。な
お、このテストライト必要性判断処理で整定されている
各閾値時間は必要に応じて適宜に定めることができる。
【０１７５】図４２は図４０のステップＳ４で行うテス
トライト実行処理であり、図３５のテストライト実行部
３０４により行われる。まずステップＳ１で装置内温度
Ｔを測定する。続いてステップＳ２で、図２のコントロ
ーラ１０に設けているバッファメモリ２０上にライトパ
ターン『５９６５９５』と『ＦＥＤＣ，・・・３２１
０』の各１６進のテストパターンを生成する。テストパ
ターン『５９６５９５』はエラー発生が最も大きいこと
が予想される最悪パターンであり、『ＦＥＤＣ，・・・
３２１０』は１６進の各ワードの全パターンである。
トライト実行処理であり、図３５のテストライト実行部
３０４により行われる。まずステップＳ１で装置内温度
Ｔを測定する。続いてステップＳ２で、図２のコントロ
ーラ１０に設けているバッファメモリ２０上にライトパ
ターン『５９６５９５』と『ＦＥＤＣ，・・・３２１
０』の各１６進のテストパターンを生成する。テストパ
ターン『５９６５９５』はエラー発生が最も大きいこと
が予想される最悪パターンであり、『ＦＥＤＣ，・・・
３２１０』は１６進の各ワードの全パターンである。
【０１７６】続いてステップＳ３に進み、テストライト
実行セクタを生成する。テストライト実行セクタは、後
の説明で明らかにするように、媒体の非ユーザ領域に定
めたテスト領域を指定してセクタアドレスを発生する。
次にステップＳ４で、装置内温度からスタートライトパ
ワーＷＰのデフォルト比ＷＰＯを計算する。次にステッ
プＳ５で、デフォルトライトパワー比ＷＰＯにそのとき
のデフォルトライトパワーＤＷＰを掛け合わせることで
ライトパワーＷＰを計算する。
実行セクタを生成する。テストライト実行セクタは、後
の説明で明らかにするように、媒体の非ユーザ領域に定
めたテスト領域を指定してセクタアドレスを発生する。
次にステップＳ４で、装置内温度からスタートライトパ
ワーＷＰのデフォルト比ＷＰＯを計算する。次にステッ
プＳ５で、デフォルトライトパワー比ＷＰＯにそのとき
のデフォルトライトパワーＤＷＰを掛け合わせることで
ライトパワーＷＰを計算する。
【０１７７】次にステップＳ６で、デフォルト比ＷＰＯ
を用いてイレーズパワーＥＰを計算する。デフォルトイ
レーズパワーＥＰの計算は、ライトパワーのデフォルト
比ＷＰＯから１．０を引いた値に係数０．７を掛けた値
を１に足したイレーズパワーのデフォルト比を用いて、
これをデフォルトイレーズパワーＤＥＰに掛け合わせる
ことで、イレーズパワーＥＰを計算する。即ち、ライト
パワーに対しイレーズパワーの変動比を抑えるようにし
ている。
を用いてイレーズパワーＥＰを計算する。デフォルトイ
レーズパワーＥＰの計算は、ライトパワーのデフォルト
比ＷＰＯから１．０を引いた値に係数０．７を掛けた値
を１に足したイレーズパワーのデフォルト比を用いて、
これをデフォルトイレーズパワーＤＥＰに掛け合わせる
ことで、イレーズパワーＥＰを計算する。即ち、ライト
パワーに対しイレーズパワーの変動比を抑えるようにし
ている。
【０１７８】次にステップＳ７で、算出されたライトパ
ワーＷＰとイレーズパワーＥＰを使用して、ステップＳ
２でバッファメモリに生成された２種のライトパターン
の媒体のテスト領域に対するライトを行う。このとき媒
体が１２８ＭＢ媒体または２３０ＭＢ媒体であればＰＰ
Ｍ記録を行い、５４０ＭＢ媒体または６４０ＭＢ媒体で
あればＰＷＭ記録を行う。
ワーＷＰとイレーズパワーＥＰを使用して、ステップＳ
２でバッファメモリに生成された２種のライトパターン
の媒体のテスト領域に対するライトを行う。このとき媒
体が１２８ＭＢ媒体または２３０ＭＢ媒体であればＰＰ
Ｍ記録を行い、５４０ＭＢ媒体または６４０ＭＢ媒体で
あればＰＷＭ記録を行う。
【０１７９】データライトが済んだならば、ステップＳ
８でテストパターンのデータリードを行い、ステップＳ
９でリードパターンをバッファメモリの元のライトパタ
ーンと比較し、データ不一致をワード単位に計数する。
ステップＳ１０でデータ不一致数が１０００未満であれ
ば、ライト低パワー限界点に達していないことからステ
ップＳ１１に進み、ライトパワーのデフォルト比ＷＰＯ
を所定値０．０５減少させ、再びステップＳ５に戻り、
０．０５だけ減らしたデフォルト比ＷＰＯを用いたテス
トライトを行う。
８でテストパターンのデータリードを行い、ステップＳ
９でリードパターンをバッファメモリの元のライトパタ
ーンと比較し、データ不一致をワード単位に計数する。
ステップＳ１０でデータ不一致数が１０００未満であれ
ば、ライト低パワー限界点に達していないことからステ
ップＳ１１に進み、ライトパワーのデフォルト比ＷＰＯ
を所定値０．０５減少させ、再びステップＳ５に戻り、
０．０５だけ減らしたデフォルト比ＷＰＯを用いたテス
トライトを行う。
【０１８０】このようなライトパワーのデフォルト比Ｗ
ＰＯを低下させながらデータライトを繰り返し、ステッ
プＳ１０でデータ不一致数が１０００以上になるとライ
ト低パワー限界点に達したものと判定し、ステップＳ１
２で２５℃の限界パワーのデフォルト比ＷＰＯ−ＥＤＧ
に校正する。即ち、現在温度から２５℃を差し引いた値
に温度補正係数を乗じた値をステップＳ１０で判定した
ライト低パワー限界点ＷＰＯ−ＥＤＧに加えて校正す
る。次にステップＳ１３で、この温度校正値に所定のオ
フセット比ΔＷＰＯを加算して最適パワーのデフォルト
比率ＷＰＯを算出し、ステップＳ１４で、決定された最
適ライトパワーのデフォルト比ＷＰＯに基づいた各ゾー
ンのライトパワーの設定を行う。
ＰＯを低下させながらデータライトを繰り返し、ステッ
プＳ１０でデータ不一致数が１０００以上になるとライ
ト低パワー限界点に達したものと判定し、ステップＳ１
２で２５℃の限界パワーのデフォルト比ＷＰＯ−ＥＤＧ
に校正する。即ち、現在温度から２５℃を差し引いた値
に温度補正係数を乗じた値をステップＳ１０で判定した
ライト低パワー限界点ＷＰＯ−ＥＤＧに加えて校正す
る。次にステップＳ１３で、この温度校正値に所定のオ
フセット比ΔＷＰＯを加算して最適パワーのデフォルト
比率ＷＰＯを算出し、ステップＳ１４で、決定された最
適ライトパワーのデフォルト比ＷＰＯに基づいた各ゾー
ンのライトパワーの設定を行う。
【０１８１】図４３は図４２におけるテストライト実行
におけるテストパワーを段階的に低下させるテストライ
トを示している。まずスタート点３２８のデフォルトラ
イトパワーＤＷＰの設定によりテストライトを開始し、
スタートデフォルト比１．０から０．０５ずつ減らしな
がらテストライトを行って不一致数を求める。ライトパ
ワーＷＰが下限ライトパワーＷＰに近付くと不一致数は
増加し、予め定めた閾値例えば１０００回に達したとき
に限界点３３０として検出する。そして、このときの限
界点３３０における下限ライトパワーＷＰに対応したデ
フォルト比ＷＰＯ-limitに対し所定のオフセット比ΔＷ
ＰＯを加えることで、最適ライトパワーＷＰを与えるデ
フォルト比ＷＰ-best を決定する。
におけるテストパワーを段階的に低下させるテストライ
トを示している。まずスタート点３２８のデフォルトラ
イトパワーＤＷＰの設定によりテストライトを開始し、
スタートデフォルト比１．０から０．０５ずつ減らしな
がらテストライトを行って不一致数を求める。ライトパ
ワーＷＰが下限ライトパワーＷＰに近付くと不一致数は
増加し、予め定めた閾値例えば１０００回に達したとき
に限界点３３０として検出する。そして、このときの限
界点３３０における下限ライトパワーＷＰに対応したデ
フォルト比ＷＰＯ-limitに対し所定のオフセット比ΔＷ
ＰＯを加えることで、最適ライトパワーＷＰを与えるデ
フォルト比ＷＰ-best を決定する。
【０１８２】図４４は、図４２のステップＳ１３で限界
パワーのデフォルト比に加算するオフセット比ΔＷＰＯ
の温度Ｔに対する温度補正係数Ｋｔを示している。図４
４の温度Ｔに対するオフセット比ΔＷＰＯを補正するた
めの温度補正係数Ｋｔは、温度Ｔ＝２５℃の補正係数Ｋ
ｔ＝１．０とした直線近似の関係式Ｋｔ＝Ａ・Ｔ＋Ｂの
係数である傾きＡとｙ軸交点Ｂにより定められている。
パワーのデフォルト比に加算するオフセット比ΔＷＰＯ
の温度Ｔに対する温度補正係数Ｋｔを示している。図４
４の温度Ｔに対するオフセット比ΔＷＰＯを補正するた
めの温度補正係数Ｋｔは、温度Ｔ＝２５℃の補正係数Ｋ
ｔ＝１．０とした直線近似の関係式Ｋｔ＝Ａ・Ｔ＋Ｂの
係数である傾きＡとｙ軸交点Ｂにより定められている。
【０１８３】そこで、そのときの装置内温度Ｔを関係式
に代入することで、対応する温度係数Ｋｔの値を求め、
これに温度Ｔ＝２５℃で求めているデフォルトオフセッ
ト比ΔＷＰＯを掛け合わせることで、最適ライトパワー
の算出に使用するオフセット比ΔＷＰＯを求めることが
できる。図４５は、図４２のステップＳ１３で使用する
オフセット比ΔＷＰＯのゾーン番号に対するゾーン補正
係数Ｋｉの直線近似の関係式である。この関係式はＫｉ
＝Ｃ・ｉ＋Ｄで決まり、その係数として傾きＣとｙ軸交
点Ｄが準備されている。またゾーン補正係数Ｋｉは中央
のゾーン番号ｉ＝６で１．０としていることから、ゾー
ン番号６におけるデフォルトオフセット比ΔＷＰＯが準
備されている。
に代入することで、対応する温度係数Ｋｔの値を求め、
これに温度Ｔ＝２５℃で求めているデフォルトオフセッ
ト比ΔＷＰＯを掛け合わせることで、最適ライトパワー
の算出に使用するオフセット比ΔＷＰＯを求めることが
できる。図４５は、図４２のステップＳ１３で使用する
オフセット比ΔＷＰＯのゾーン番号に対するゾーン補正
係数Ｋｉの直線近似の関係式である。この関係式はＫｉ
＝Ｃ・ｉ＋Ｄで決まり、その係数として傾きＣとｙ軸交
点Ｄが準備されている。またゾーン補正係数Ｋｉは中央
のゾーン番号ｉ＝６で１．０としていることから、ゾー
ン番号６におけるデフォルトオフセット比ΔＷＰＯが準
備されている。
【０１８４】このため、任意のゾーン番号ｉに対し関係
式Ｋｉ＝Ｃ・ｉ＋Ｄからゾーン補正係数Ｋｉを求め、ゾ
ーン番号ｉのデフォルトオフセット比ΔＷＰＯに掛け合
わせることで、ステップＳ１３の最適ライトパワーの算
出に使用するオフセット比ΔＷＰＯを求めることができ
る。図４６は図４２のテストライトにおける装置内温度
に対応したライトパワーＷＰＯに対する不一致数の特性
である。図４６（Ａ）は装置内温度２５℃の場合であ
り、図４６（Ｂ）はＴ＝１０℃と低下した場合であり、
図４６（Ｃ）はＴ＝５５℃と増加した場合である。図４
６（Ａ）のＴ＝２５℃に対し、装置内温度が低下する
と、図４６（Ｂ）のＴ＝１０℃のように、ライトパワー
に対する不一致数の特性曲線３６０は温度低下によりラ
イトパワーを増加する方向の特性３６４にシフトする。
式Ｋｉ＝Ｃ・ｉ＋Ｄからゾーン補正係数Ｋｉを求め、ゾ
ーン番号ｉのデフォルトオフセット比ΔＷＰＯに掛け合
わせることで、ステップＳ１３の最適ライトパワーの算
出に使用するオフセット比ΔＷＰＯを求めることができ
る。図４６は図４２のテストライトにおける装置内温度
に対応したライトパワーＷＰＯに対する不一致数の特性
である。図４６（Ａ）は装置内温度２５℃の場合であ
り、図４６（Ｂ）はＴ＝１０℃と低下した場合であり、
図４６（Ｃ）はＴ＝５５℃と増加した場合である。図４
６（Ａ）のＴ＝２５℃に対し、装置内温度が低下する
と、図４６（Ｂ）のＴ＝１０℃のように、ライトパワー
に対する不一致数の特性曲線３６０は温度低下によりラ
イトパワーを増加する方向の特性３６４にシフトする。
【０１８５】逆に図４６（Ｃ）のように温度がＴ＝５５
℃と増加すると、ライトパワーが低下する方向の特性３
６８にシフトする。このため、温度に応じ最適ライトパ
ワー点は３６２，３６６，３７０のように変化する。こ
のように装置内温度に依存したライトパワーと不一致数
の特性に対し、例えばテストライトのスタートパワーを
Ｔ＝２５℃の低パワー側のスタートパワーＷＰｓに固定
していたとすると、図４６（Ｂ）のようにＴ＝１０℃に
低下した場合には、不一致数１０００を超える限界点３
３０のライトパワーより低いライトパワーをスタートパ
ワーとしてしまう。
℃と増加すると、ライトパワーが低下する方向の特性３
６８にシフトする。このため、温度に応じ最適ライトパ
ワー点は３６２，３６６，３７０のように変化する。こ
のように装置内温度に依存したライトパワーと不一致数
の特性に対し、例えばテストライトのスタートパワーを
Ｔ＝２５℃の低パワー側のスタートパワーＷＰｓに固定
していたとすると、図４６（Ｂ）のようにＴ＝１０℃に
低下した場合には、不一致数１０００を超える限界点３
３０のライトパワーより低いライトパワーをスタートパ
ワーとしてしまう。
【０１８６】このため図４２のテストライト実行におい
て、もし最初のテストライトでデータ不一致数が低パワ
ー側の限界点の閾値１０００を超えていた場合には、ス
テップＳ１１におけるライトパワーのデフォルト比ΔＷ
ＰＯを所定比だけ増加させる処理を行ない、これによっ
て、温度が低下していてもスタートパワーを限界点３３
０より高いパワー側に移動させて正常なテストライトを
行うことができる。
て、もし最初のテストライトでデータ不一致数が低パワ
ー側の限界点の閾値１０００を超えていた場合には、ス
テップＳ１１におけるライトパワーのデフォルト比ΔＷ
ＰＯを所定比だけ増加させる処理を行ない、これによっ
て、温度が低下していてもスタートパワーを限界点３３
０より高いパワー側に移動させて正常なテストライトを
行うことができる。
【０１８７】もちろん、所定のデフォルト値をスタート
ライトパワーと設定した際に装置内温度Ｔに基づいた温
度補正を行なうことで、図４６（Ａ）〜（Ｃ）のような
温度に応じた特性のシフトに応じ最適なテストライトの
スタートパワーを設定することもできる。そして、それ
でもテストパワーのスタートパワーが低パワー側の限界
点を下回るような場合には、同様な処理によりスタート
パワーを増加させるようにオフセット比を加えればよ
い。
ライトパワーと設定した際に装置内温度Ｔに基づいた温
度補正を行なうことで、図４６（Ａ）〜（Ｃ）のような
温度に応じた特性のシフトに応じ最適なテストライトの
スタートパワーを設定することもできる。そして、それ
でもテストパワーのスタートパワーが低パワー側の限界
点を下回るような場合には、同様な処理によりスタート
パワーを増加させるようにオフセット比を加えればよ
い。
【０１８８】図４７は、図４２のテストライト実行のス
テップＳ３で行われるテストライト実行セクタのアドレ
ス生成のフローチャートである。図４７のテストライト
実行アドレスの生成は、ランダムなセクタアドレスの発
生を例にとっている。まずステップＳ１で、媒体の領域
先頭アドレスをセットする。本発明のテストライトにあ
っては、図４８の媒体７２のユーザ領域３３４に対する
インナ側の非ユーザ領域３３６またはアウタ側の非ユー
ザ領域３３８をパワー調整領域に割り当てる。
テップＳ３で行われるテストライト実行セクタのアドレ
ス生成のフローチャートである。図４７のテストライト
実行アドレスの生成は、ランダムなセクタアドレスの発
生を例にとっている。まずステップＳ１で、媒体の領域
先頭アドレスをセットする。本発明のテストライトにあ
っては、図４８の媒体７２のユーザ領域３３４に対する
インナ側の非ユーザ領域３３６またはアウタ側の非ユー
ザ領域３３８をパワー調整領域に割り当てる。
【０１８９】図４９は図４８のアウタ側の非ユーザ領域
３３８であり、非ユーザ領域３３８の中の所定トラック
範囲についてパワー調整領域３４０を設定している。し
たがってステップＳ１にあっては、このパワー調整領域
３４０の任意のテストライトの領域先頭アドレス即ちト
ラックアドレスとセクタ番号をセットする。次にステッ
プＳ２に進み、１トラック分の領域長から既にテストラ
イトが終了したセクタ数を差し引いて、残り領域長を求
める。これは、一度テストライトを行ったセクタについ
ては連続してテストライトを行わないためである。続い
てステップＳ３で、オフセットセクタ数を残り領域長に
乱数を乗ずることで求める。乱数は、０〜１の範囲の任
意の値が所定の乱数ルーチンに従って発生される。この
ようにしてオフセットセクタ数が求められたならば、ス
テップＳ４で、実行アドレスを領域先頭アドレスにオフ
セットセクタ数を加算することで求める。
３３８であり、非ユーザ領域３３８の中の所定トラック
範囲についてパワー調整領域３４０を設定している。し
たがってステップＳ１にあっては、このパワー調整領域
３４０の任意のテストライトの領域先頭アドレス即ちト
ラックアドレスとセクタ番号をセットする。次にステッ
プＳ２に進み、１トラック分の領域長から既にテストラ
イトが終了したセクタ数を差し引いて、残り領域長を求
める。これは、一度テストライトを行ったセクタについ
ては連続してテストライトを行わないためである。続い
てステップＳ３で、オフセットセクタ数を残り領域長に
乱数を乗ずることで求める。乱数は、０〜１の範囲の任
意の値が所定の乱数ルーチンに従って発生される。この
ようにしてオフセットセクタ数が求められたならば、ス
テップＳ４で、実行アドレスを領域先頭アドレスにオフ
セットセクタ数を加算することで求める。
【０１９０】図５０は図４７のランダムなテストライト
アドレスの生成によるテストライトであり、３回のテス
トライト３４２−１，３４２−２，３４２−３が４セク
タを１単位としてランダムに行われている。図５１は図
４２のテストライト実行のステップＳ３で行われるテス
トライト実行セクタのアドレス生成の他の実施形態であ
り、順次的なテストライト実行アドレスの生成としたこ
とを特徴とする。まずステップＳ１で、パワー調整領域
の最終開始アドレスを領域最終アドレスからテスト済み
のテストライトセクタ数を差し引くことで求める。
アドレスの生成によるテストライトであり、３回のテス
トライト３４２−１，３４２−２，３４２−３が４セク
タを１単位としてランダムに行われている。図５１は図
４２のテストライト実行のステップＳ３で行われるテス
トライト実行セクタのアドレス生成の他の実施形態であ
り、順次的なテストライト実行アドレスの生成としたこ
とを特徴とする。まずステップＳ１で、パワー調整領域
の最終開始アドレスを領域最終アドレスからテスト済み
のテストライトセクタ数を差し引くことで求める。
【０１９１】続いてステップＳ２で、実行アドレスに前
回の実行アドレスをセットする。続いてステップＳ３
で、前回の実行アドレスと最終開始アドレスを比較し、
前回実行アドレスが最終開始アドレスに達するまではス
テップＳ５に進み、実行アドレスを前回実行アドレス＋
テストライトセクタ数としてテストライトを行う。前回
実行アドレスが最終開始アドレスを超えた場合には、ス
テップＳ４で実行アドレスに領域先頭アドレスをセット
してテストライトを実行する。
回の実行アドレスをセットする。続いてステップＳ３
で、前回の実行アドレスと最終開始アドレスを比較し、
前回実行アドレスが最終開始アドレスに達するまではス
テップＳ５に進み、実行アドレスを前回実行アドレス＋
テストライトセクタ数としてテストライトを行う。前回
実行アドレスが最終開始アドレスを超えた場合には、ス
テップＳ４で実行アドレスに領域先頭アドレスをセット
してテストライトを実行する。
【０１９２】図５２は図５１の順次的なテストライトア
ドレスの生成によるパワー調整領域のテストライトの様
子であり、４セクタ単位にテストライト３４４−１，３
４４−２，３４４−３が行われている。図５３は図４２
のステップＳ８のデータリードのフローチャートであ
る。テストライト終了後のデータリードにあっては、ス
テップＳ１でまずセクタをリードする。このセクタリー
ドについて、ステップＳ２で異常終了の有無をチェック
する。もし異常終了であれば、ステップＳ３でエラー要
因がシンクバイトの同期ミスか否かチェックする。
ドレスの生成によるパワー調整領域のテストライトの様
子であり、４セクタ単位にテストライト３４４−１，３
４４−２，３４４−３が行われている。図５３は図４２
のステップＳ８のデータリードのフローチャートであ
る。テストライト終了後のデータリードにあっては、ス
テップＳ１でまずセクタをリードする。このセクタリー
ドについて、ステップＳ２で異常終了の有無をチェック
する。もし異常終了であれば、ステップＳ３でエラー要
因がシンクバイトの同期ミスか否かチェックする。
【０１９３】ここで図５４のトラックフォーマットに示
すように、シンクバイト３５４はデータ３５６の開始位
置を示す重要な情報であり、もしシンクバイト３５４に
よる同期ミスであった場合には後続するデータ３５６の
リードはできないことから、ステップＳ５に進み、強制
的に不一致数を最大とするため、リードバッファにテス
トパターンとは全く異なるパターンを入れる。この結
果、リードバッファの異なるパターンとテストパターン
との比較によりデータ不一致数が最大となる。
すように、シンクバイト３５４はデータ３５６の開始位
置を示す重要な情報であり、もしシンクバイト３５４に
よる同期ミスであった場合には後続するデータ３５６の
リードはできないことから、ステップＳ５に進み、強制
的に不一致数を最大とするため、リードバッファにテス
トパターンとは全く異なるパターンを入れる。この結
果、リードバッファの異なるパターンとテストパターン
との比較によりデータ不一致数が最大となる。
【０１９４】ステップＳ３でシンクバイトの同期ミス以
外のエラーについては、ステップＳ４で他のエラー処理
を必要に応じて行う。ステップＳ６にあっては、パワー
調整領域の最終セクタか否かチェックしており、最終セ
クタに達するまでステップＳ１からの処理を繰り返し、
最終セクタであれば次の不一致数の判定処理に移行す
る。
外のエラーについては、ステップＳ４で他のエラー処理
を必要に応じて行う。ステップＳ６にあっては、パワー
調整領域の最終セクタか否かチェックしており、最終セ
クタに達するまでステップＳ１からの処理を繰り返し、
最終セクタであれば次の不一致数の判定処理に移行す
る。
【０１９５】図５５は図４２のステップＳ９のデータ不
一致数のワード単位の計数処理のフローチャートであ
る。まずステップＳ１で、良質セクタの判定に使用する
カウンタＤにＤ＝０をセットして初期化する。次にステ
ップＳ２で１セクタ分の不一致数をテストパターンとリ
ードパターンとの比較により求め、ステップＳ３で１セ
クタ分の不一致数が所定の閾値数例えば１０未満か否か
チェックする。
一致数のワード単位の計数処理のフローチャートであ
る。まずステップＳ１で、良質セクタの判定に使用する
カウンタＤにＤ＝０をセットして初期化する。次にステ
ップＳ２で１セクタ分の不一致数をテストパターンとリ
ードパターンとの比較により求め、ステップＳ３で１セ
クタ分の不一致数が所定の閾値数例えば１０未満か否か
チェックする。
【０１９６】もし１０未満であればこれを良質セクタと
判定し、ステップＳ４で、良質セクタを示すカウンタＤ
を１つインクリメントする。不一致数が１０以上であれ
ば不一致数をカウントアップし、ステップＳ７で最終セ
クタを判別しなければ再びステップＳ２に戻り、次の１
セクタの不一致数を比較処理により求める。ステップＳ
４で良質セクタのカウンタＤを１つインクリメントした
場合には、ステップＳ５に進み、カウンタＤが１未満か
否か判定する。即ち、リードデータにおける先頭セクタ
が良質か否かチェックする。Ｄが１未満即ち０であれば
ステップＳ６に進み、全セクタを良質セクタと見做し、
不一致数＝０にセットする。
判定し、ステップＳ４で、良質セクタを示すカウンタＤ
を１つインクリメントする。不一致数が１０以上であれ
ば不一致数をカウントアップし、ステップＳ７で最終セ
クタを判別しなければ再びステップＳ２に戻り、次の１
セクタの不一致数を比較処理により求める。ステップＳ
４で良質セクタのカウンタＤを１つインクリメントした
場合には、ステップＳ５に進み、カウンタＤが１未満か
否か判定する。即ち、リードデータにおける先頭セクタ
が良質か否かチェックする。Ｄが１未満即ち０であれば
ステップＳ６に進み、全セクタを良質セクタと見做し、
不一致数＝０にセットする。
【０１９７】この結果、テストライトでリードした先頭
セクタが良質と見做されると、それ以降のセクタについ
ては不一致数の比較を行うことなく次のテストライトに
移行する。これによってテストライトの処理を高速化し
て調整時間を短縮できる。図５６は、図４２のステップ
Ｓ１４で最終的に行われる各ゾーンのライトパワー設定
処理即ちパワーテーブル作成処理のフローチャートであ
る。パワーテーブル作成処理にあっては、ステップＳ１
でゾーンごとのイレーズパワーＥＰ、第１ライトパワー
ＷＰ１のデフォルトパワーテーブルを装置内温度から計
算する。続いてステップＳ２でゾーン番号ｉのライトパ
ワー（ＷＰ）ｉを設定し、ライトパワー調整に求めた最
適デフォルト比ＷＰＯをデフォルトライトパワーＤＷＰ
ｉに掛け合わせ、更に温度補正を行ってライトパワーを
算出する。
セクタが良質と見做されると、それ以降のセクタについ
ては不一致数の比較を行うことなく次のテストライトに
移行する。これによってテストライトの処理を高速化し
て調整時間を短縮できる。図５６は、図４２のステップ
Ｓ１４で最終的に行われる各ゾーンのライトパワー設定
処理即ちパワーテーブル作成処理のフローチャートであ
る。パワーテーブル作成処理にあっては、ステップＳ１
でゾーンごとのイレーズパワーＥＰ、第１ライトパワー
ＷＰ１のデフォルトパワーテーブルを装置内温度から計
算する。続いてステップＳ２でゾーン番号ｉのライトパ
ワー（ＷＰ）ｉを設定し、ライトパワー調整に求めた最
適デフォルト比ＷＰＯをデフォルトライトパワーＤＷＰ
ｉに掛け合わせ、更に温度補正を行ってライトパワーを
算出する。
【０１９８】次にステップＳ３で、ＰＷＭ媒体か否かチ
ェックする。もしＰＷＭ媒体であった場合にはステップ
Ｓ４に進み、ゾーン番号ｉのパワー比（ＷＰ２／ＷＰ
１）にステップＳ２で求めた第１ライトパワーに相当す
るライトパワー（ＷＰ１）ｉを乗じ、第２ライトパワー
（ＷＰ２）ｉを算出する。最終的にステップＳ５で、ゾ
ーン番号ｉのイレーズパワー（ＥＰ）ｉを設定する。
ェックする。もしＰＷＭ媒体であった場合にはステップ
Ｓ４に進み、ゾーン番号ｉのパワー比（ＷＰ２／ＷＰ
１）にステップＳ２で求めた第１ライトパワーに相当す
るライトパワー（ＷＰ１）ｉを乗じ、第２ライトパワー
（ＷＰ２）ｉを算出する。最終的にステップＳ５で、ゾ
ーン番号ｉのイレーズパワー（ＥＰ）ｉを設定する。
【０１９９】このイレーズパワーの算出にあっては、ラ
イトパワー調整で得られた最適ライトパワーのデフォル
ト比ＷＰＯから１．０を引いた値に変動分を抑えるため
の係数０．７を乗じ、これを１．０に加えてデフォルト
イレーズパワーＤＰｉに掛け合わせる。もちろん、その
ときの測定温度による温度補正を施す。このような図５
６のパワーテーブル作成処理により、図３５のパワーテ
ーブル格納部３１０に示したイレーズパワーテーブル３
１８、第１ライトパワーテーブル３２０及び第２ライト
パワーテーブル３２２が作成されることになる。
イトパワー調整で得られた最適ライトパワーのデフォル
ト比ＷＰＯから１．０を引いた値に変動分を抑えるため
の係数０．７を乗じ、これを１．０に加えてデフォルト
イレーズパワーＤＰｉに掛け合わせる。もちろん、その
ときの測定温度による温度補正を施す。このような図５
６のパワーテーブル作成処理により、図３５のパワーテ
ーブル格納部３１０に示したイレーズパワーテーブル３
１８、第１ライトパワーテーブル３２０及び第２ライト
パワーテーブル３２２が作成されることになる。
【０２００】そして、それ以降の上位装置からのライト
アクセスに対しゾーン番号に対応したパワーを読み出
し、そのときの装置内温度に従った温度補正を施した
後、図４のレーザダイオード制御回路のレジスタに対す
るＤＡＣ指示値を算出してセットし、レーザダイオード
１００の発光制御を行うことになる。
アクセスに対しゾーン番号に対応したパワーを読み出
し、そのときの装置内温度に従った温度補正を施した
後、図４のレーザダイオード制御回路のレジスタに対す
るＤＡＣ指示値を算出してセットし、レーザダイオード
１００の発光制御を行うことになる。
【０２０１】
（発光調整）以上説明したように本発明によれば、レー
ザダイオードの発光調整を、レーザダイオードにダメー
ジを与えない程度に低い２点のパワーで行うことによ
り、装置を劣化させることなく短時間で発光調整を実行
できる。
ザダイオードの発光調整を、レーザダイオードにダメー
ジを与えない程度に低い２点のパワーで行うことによ
り、装置を劣化させることなく短時間で発光調整を実行
できる。
【０２０２】またゾーン数が増加しても、例えば３領域
に分割して各々２点のパワーを指定して発光調整し、こ
の調整結果による直線近似で全てのゾーンにおける任意
のパワーでの調整値が設定でき、ゾーン数が増加しても
短時間で発光調整ができる。更に、媒体のフォーマット
変更に伴なってゾーン数が変わっても、簡単に対応でき
る。 （最適ライトパワー調整）また本発明よれば、短時間で
レーザダイオードに負担を加えることなくテストライト
による最適ライトパワーを決定する処理が適切にでき
る。即ち、最適ライトパワーを決定するための調整処理
は、スタートパワーから徐々にライトパワーを減少させ
て下限側の限界パワーを検出するだけでよく、従来、上
下限の２点の限界パワーを検出していた場合に比べ、半
分の時間で済む。またテストライトに高パワーを必要と
しないため、レーザダイオードにダメージを与えること
がなく、装置の耐久性を向上できる。
に分割して各々２点のパワーを指定して発光調整し、こ
の調整結果による直線近似で全てのゾーンにおける任意
のパワーでの調整値が設定でき、ゾーン数が増加しても
短時間で発光調整ができる。更に、媒体のフォーマット
変更に伴なってゾーン数が変わっても、簡単に対応でき
る。 （最適ライトパワー調整）また本発明よれば、短時間で
レーザダイオードに負担を加えることなくテストライト
による最適ライトパワーを決定する処理が適切にでき
る。即ち、最適ライトパワーを決定するための調整処理
は、スタートパワーから徐々にライトパワーを減少させ
て下限側の限界パワーを検出するだけでよく、従来、上
下限の２点の限界パワーを検出していた場合に比べ、半
分の時間で済む。またテストライトに高パワーを必要と
しないため、レーザダイオードにダメージを与えること
がなく、装置の耐久性を向上できる。
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明による光ディスクドライブのブロック図
【図３】ＭＯカートリッジをローディングした装置内部
構造の説明図
構造の説明図
【図４】図２のレーザダイオード制御回路のブロック図
【図５】本発明のＰＷＭのパルストレインにおける信
号、発光電流、差引電流及びモニタ電流のタイムチャー
ト
号、発光電流、差引電流及びモニタ電流のタイムチャー
ト
【図６】本発明のＰＰＭ記録における信号、発光電流、
差引電流及びモニタ電流のタイムチャート
差引電流及びモニタ電流のタイムチャート
【図７】図２のＭＰＵにより実現されるＬＤ発光処理部
の機能ブロック図
の機能ブロック図
【図８】図７によるＬＤ発光調整処理のジェネリックフ
ローチャート
ローチャート
【図９】図８のＬＤ発光粗調整処理のジェネリックフロ
ーチャート
ーチャート
【図１０】図９のモニタＡＤＣ正規化処理のフローチャ
ート
ート
【図１１】図１０の処理による直線近似の関係式の説明
図
図
【図１２】図９におけるイレーズ用発光粗調整処理のフ
ローチャート
ローチャート
【図１３】図１２のイレーズ発光電流における直線近似
の関係式の説明図
の関係式の説明図
【図１４】図１２のイレーズ差引電流における直線近似
の関係式の説明図
の関係式の説明図
【図１５】図９における第１ライトパワー用発光粗調整
のフローチャート
のフローチャート
【図１６】図９における第２ライトパワー用発光粗調整
のフローチャート
のフローチャート
【図１７】図９のＬＤ発光粗調整によるパワーテーブル
登録内容の説明図
登録内容の説明図
【図１８】図８のＬＤ発光微調整処理のジェネリックフ
ローチャート
ローチャート
【図１９】図１８のイレーズパワー微調整のフローチャ
ート
ート
【図２０】図１８の第１ライトパワー微調整のフローチ
ャート
ャート
【図２１】図１８の第２ライトパワー微調整のフローチ
ャート
ャート
【図２２】微調整結果に基づくゾーン領域分割によるパ
ワーテーブル設定処理のフローチャート
ワーテーブル設定処理のフローチャート
【図２３】図２２のゾーン領域分割と直線近似の説明図
【図２４】図２２の設定処理で得られたパワーテーブル
登録内容の説明図
登録内容の説明図
【図２５】第２ライトパワーをパワー比率として扱う場
合の温度補正のフローチャート
合の温度補正のフローチャート
【図２６】図２５の温度に対するパワー比率の直線近似
の説明図
の説明図
【図２７】図２５の処理で得られたパワーテーブルの登
録内容の説明図
録内容の説明図
【図２８】図８のパワー限界算出処理のフローチャート
【図２９】図２８のパワー限界の算出における直線近似
の説明図
の説明図
【図３０】図２８の処理によるパワーテーブル登録内容
の説明図
の説明図
【図３１】ＰＷＭ記録の自動パワー制御で起きるライト
パワーのドリフトを説明するフローチャート
パワーのドリフトを説明するフローチャート
【図３２】図３１のライトパワーのドリフトを補償する
ための差引電流調整を説明するタイムチャート
ための差引電流調整を説明するタイムチャート
【図３３】図３２のドリフト補償を実現する第１ライト
パワー発光粗調整のタイムチャート
パワー発光粗調整のタイムチャート
【図３４】発光調整済みのパワーテーブルを用いたパワ
ー設定処理のフローチャート
ー設定処理のフローチャート
【図３５】図２のＭＰＵで実現される最適ライトパワー
調整部の機能ブロック図
調整部の機能ブロック図
【図３６】図３５のデフォルトイレーズパワーテーブル
の説明図
の説明図
【図３７】図３５のデフォルトライトパワーテーブルの
説明図
説明図
【図３８】図３５の温度補正係数テーブルの説明図
【図３９】図３５の最適ライトパワー調整に先立つディ
スク起動処理のフローチャート
スク起動処理のフローチャート
【図４０】図３５の最適ライトパワー調整を含むライト
処理のフローチャート
処理のフローチャート
【図４１】図４０のテストライト必要性判断のフローチ
ャート
ャート
【図４２】図４０のテストライト処理のフローチャート
【図４３】図４２のテストライトにおける限界パワーの
検出と最適パワーの設定の説明図
検出と最適パワーの設定の説明図
【図４４】図４２の限界パワーに加算して最適パワーを
求めるオフセット比の温度を補正する温度補正係数の説
明図
求めるオフセット比の温度を補正する温度補正係数の説
明図
【図４５】図４２の限界パワーに加算して最適パワーを
求めるオフセット比のゾーン位置に対する補正係数の説
明図
求めるオフセット比のゾーン位置に対する補正係数の説
明図
【図４６】温度による最適ライトパワーのシフトを示し
た説明図
た説明図
【図４７】図４２のテストライトの書込アドレスをラン
ダムに生成するフローチャート
ダムに生成するフローチャート
【図４８】媒体の領域説明図
【図４９】図４８の非ユーザ領域に割り当てられたパワ
ー調整領域の説明図
ー調整領域の説明図
【図５０】図４７のランダムアドレスによるテストライ
トの説明図
トの説明図
【図５１】図４２のテストライトの書込アドレスを順次
的に生成するフローチャート
的に生成するフローチャート
【図５２】図５１の順次的アドレスによるテストライト
の説明図
の説明図
【図５３】図４２のテストライトによるテストデータの
リード処理のフローチャート
リード処理のフローチャート
【図５４】図５３のデータリードの対象となるトラック
フォーマットの説明図
フォーマットの説明図
【図５５】図４２のテストライトにおけるデータ不一致
計数処理のフローチャート
計数処理のフローチャート
【図５６】最適ライトパワーの調整結果を用いたパワー
テーブル設定処理のフローチャート
テーブル設定処理のフローチャート
【図５７】従来の最適ライトパワー調整処理の説明図
１０：コントローラ
１２：エンクロージャ
１４：ＭＰＵ
１５：ＤＳＰ
１６：インタフェースコントローラ
１８：フォーマッタ
２０：バッファメモリ
２２：エンコーダ
２４：レーザダイオード制御回路
２６：デコーダ
２８：リードＬＳＩ回路
３０：レーザダイオードユニット
３２：：ディテクタ
３４：ヘッドアンプ
３６：温度センサ
３８，４２，５４，５８，６２：ドライバ
４０：スピンドルモータ
４４：電磁石
４６：２分割ディテクタ
４８：ＦＥＳ検出回路
５０：ＴＥＳ検出回路
５２：レンズ位置センサ
５６：フォーカスアクチュエータ
６０：レンズアクチェータ
６４：ＶＣＭ（キャリッジアクチュエータ）
６６：ハウジング
６８：インレットドア
７０：ＭＯカートリッジ
７２：ＭＯ媒体
７６：キャリッジ
７８：固定光学系
８０：対物レンズ
１００：レーザダイオード（ＬＤ）
１０２：モニタフォトダイオード（ＰＤ）
１０４：リードパワー電流源
１０６：イレーズパワー電流源
１０８：第１ライトパワー電流源
１１０：第２ライトパワー電流源
１１２：イレーズパワー差引電流源
１１４：第１ライトパワー差引電流源
１１６：第２ライトパワー差引電流源
１１８：モニタ電圧検出抵抗
１２０：目標ＤＡレジスタ（目標ＤＡＣレジスタ）
１２２：イレーズパワー電流レジスタ（ＥＰ電流ＤＡＣ
レジスタ） １２４：第１ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ１電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２６：第２ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ２電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２８：イレーズパワー差引ＤＡレジスタ（ＥＰ差引Ｄ
ＡＣレジスタ） １３０：第１ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ１差
引ＤＡＣレジスタ） １３２：第２ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ２差
引ＤＡＣレジスタ） １３４：モニタＡＤＣレジスタ 136,140,142,144,146,148,150 ：ＤＡコンバータ（ＤＡ
Ｃ） １３８：自動パワー制御部（ＡＰＣ） １５２：ＡＤコンバータ（ＡＤＣ） １６０：ＬＤ発光処理部 １６２：発光粗調整状態部 １６４：発光微調整処理部 １６６：パワー設定処理部 １６８，１７０，１７２，１７４：レジスタ １８０：パワーテーブル格納部 １８２：モニタＡＤＣ係数テーブル １８４：ＥＰ電流ＤＡＣ係数テーブル １８６：ＥＰ差引ＤＡＣ係数テーブル １８８：ＷＰ１電流ＤＡＣ係数テーブル １９０：ＷＰ１差引ＤＡＣ係数テーブル １９２：ＷＰ２電流ＤＡＣ係数テーブル １９４：ＷＰ２差引ＤＡＣ係数テーブル １９６：イレーズパワーテーブル １９８：第１ライトパワーテーブル ２００：第２ライトパワーテーブル ２０２：パワー比テーブル ２０４：温度補正係数テーブル ２０６：限界パワーテーブル ２０８：最適パワーテーブル ３００：最適ライトパワー調整部 ３０２：テストライト判定部 ３０４：テストライト実行部 ３０６：パワーテーブル作成部 ３１０：パワーテーブル格納部 ３１２：デフォルトイレーズパワーテーブル ３１４：デフォルトライトパワーテーブル ３１６：温度補正係数テーブル ３１８：イレーズパワーテーブル ３２０：第１ライトパワーテーブル ３２２：第２ライトパワーテーブル ３２４：パワー設定処理部 ３２６：レジスタ群 ３２８：開始点 ３３０：限界点 ３３２：最適点 ３３４：ユーザ領域 ３３６，３３８：非ユーザ領域 ３４０：パワー調整領域 ３４２−１〜３４２−３，３４４−１〜３４４−３：テ
ストライトセクタ領域
レジスタ） １２４：第１ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ１電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２６：第２ライトパワー電流レジスタ（ＷＰ２電流Ｄ
ＡＣレジスタ） １２８：イレーズパワー差引ＤＡレジスタ（ＥＰ差引Ｄ
ＡＣレジスタ） １３０：第１ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ１差
引ＤＡＣレジスタ） １３２：第２ライトパワー差引ＤＡレジスタ（ＷＰ２差
引ＤＡＣレジスタ） １３４：モニタＡＤＣレジスタ 136,140,142,144,146,148,150 ：ＤＡコンバータ（ＤＡ
Ｃ） １３８：自動パワー制御部（ＡＰＣ） １５２：ＡＤコンバータ（ＡＤＣ） １６０：ＬＤ発光処理部 １６２：発光粗調整状態部 １６４：発光微調整処理部 １６６：パワー設定処理部 １６８，１７０，１７２，１７４：レジスタ １８０：パワーテーブル格納部 １８２：モニタＡＤＣ係数テーブル １８４：ＥＰ電流ＤＡＣ係数テーブル １８６：ＥＰ差引ＤＡＣ係数テーブル １８８：ＷＰ１電流ＤＡＣ係数テーブル １９０：ＷＰ１差引ＤＡＣ係数テーブル １９２：ＷＰ２電流ＤＡＣ係数テーブル １９４：ＷＰ２差引ＤＡＣ係数テーブル １９６：イレーズパワーテーブル １９８：第１ライトパワーテーブル ２００：第２ライトパワーテーブル ２０２：パワー比テーブル ２０４：温度補正係数テーブル ２０６：限界パワーテーブル ２０８：最適パワーテーブル ３００：最適ライトパワー調整部 ３０２：テストライト判定部 ３０４：テストライト実行部 ３０６：パワーテーブル作成部 ３１０：パワーテーブル格納部 ３１２：デフォルトイレーズパワーテーブル ３１４：デフォルトライトパワーテーブル ３１６：温度補正係数テーブル ３１８：イレーズパワーテーブル ３２０：第１ライトパワーテーブル ３２２：第２ライトパワーテーブル ３２４：パワー設定処理部 ３２６：レジスタ群 ３２８：開始点 ３３０：限界点 ３３２：最適点 ３３４：ユーザ領域 ３３６，３３８：非ユーザ領域 ３４０：パワー調整領域 ３４２−１〜３４２−３，３４４−１〜３４４−３：テ
ストライトセクタ領域
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平７−44886（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−157633（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−225570（ＪＰ，Ａ)
特開 平２−257441（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 7/00 - 7/0045
G11B 7/12 - 7/125
G11B 11/105
Claims (18)
- 【請求項１】ビーム光を発光するレーザダイオードと、 複数のパワーに応じた駆動電流を前記レーザダイオード
に流す発光電流源回路と、 前記レーザダイオードの発光パワーを規定の目標パワー
に制御する自動パワー制御部と、 前記レーザダイオードのレーザ光の一部を受光して受光
電流を出力するモニタ受光素子と、 前記受光電流から規定の発光パワーと前記目標パワーの
差に相当する規定の差引電流を差し引いてモニタ電流に
変換し、該モニタ電流を前記自動パワー制御部に帰還さ
せる差引電流源回路と、 前記差引電流源回路から得られたモニタ電流をパワー測
定値として読み込むモニタ用測定部と、 前記発光電流源回路に、予め定めた２点のテストパワー
での発光を順次指示して前記レーザダイオードを発光駆
動すると共に、前記差引電流源回路に前記２点のテスト
パワーに対応する規定の差引電流を指示して前記モニタ
用測定部から各テストパワーを測定し、該測定結果に基
づき、任意のパワーにおける前記発光電流源回路及び前
記差引電流源回路の指示値との関係を直線近似により求
める発光調整処理部と、 を設けたことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項２】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、
前記発光調整処理部は、 オントラック制御を解除した状態で、前記発光電流源回
路に、予め定めた２点のテストパワーでの発光を順次指
示して前記レーザダイオードを発光駆動すると共に、前
記差引電流源回路に前記２点のテストパワーに対応する
規定の差引電流を指示して前記モニタ用測定部から各テ
ストパワーを測定し、該測定結果に基づき、 任意の発光パワーに対する前記モニタ用測定部のパワー
測定値との関係、 任意の発光パワーに対する前記発光用の指示値との関
係、及び任意の発光パワーに対する前記差引用の指示値
との関係を各々直線近似により求めてパワーテーブルに
登録する発光粗調整処理部と、 オントラック制御を有効とした状態で、前記発光電流源
回路に、予め定めた２点のテストパワーでの発光を順次
指示して前記レーザダイオードを発光駆動すると共に、
前記差引電流源回路に前記２点のテストパワーに対応す
る規定の差引電流を指示し、前記モニタ用測定部の測定
パワーが前記目標パワーとなるように前記発光電流源回
路の指示値を調整し、該調整結果に基づき、任意の発光
パワーに対する前記発光電流源回路の指示値との関係を
直線近似により求めて前記パワーテーブルを補正する発
光微調整処理部と、 を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項３】請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、 前記発光用電流源回路は、 前記レーザダイオードによるリードパワー、イレーズパ
ワー、第１ライトパワー及び第２ライトパワーの発光時
に、前記レーザダイオードに第１パワーレベルで発光さ
せるためのリードパワー電流を流すリードパワー電流源
と、 前記レーザダイオードによるイレーズパワー、第１ライ
トパワー及び第２ライトパワーの発光時に、前記レーザ
ダイオードを第２パワーレベルで発光させるためのイレ
ーズパワー電流を、前記リードパワー電流に加算して流
す第１ライトパワー電流源と、 前記レーザダイオードによる第１ライトパワーの発光時
に、レーザダイオードを第１ライトパワーで発光させる
ための第１ライトパワー電流を、前記リードパワー電流
及びイレーズパワー電流に加算して流す第１ライトパワ
ー電流源と、 前記レーザダイオードによる第２ライトパワーの発光時
に、レーザダイオードを第３パワーレベルで発光させる
ための第２ライトパワー電流を、前記リードパワー電流
及びイレーズパワー電流に加算して流す第２ライトパワ
ー電流源と、 前記リードパワー電流源、第１ライトパワー電流源及び
第２ライトパワー電流源の各々の電流値を指示するＤＡ
コンバータを個別に備えた発光電流指示部と、を設け、 前記差引用電流源回路は、 前記イレーズパワー、第１ライトパワー及び第２ライト
パワーの発光時に、前記受光素子の受光電流からイレー
ズパワー分の受光電流を差し引くイレーズパワー差引電
流源と、 前記第１ライトパワーの発光時に、前記受光素子の受光
電流から第１ライトパワー分の受光電流を差し引く第１
ライトパワー差引電流源と、 前記第２ライトパワーの発光時に、前記受光素子の受光
電流から第２ライトパワー分の受光電流を差し引く第２
ライトパワー差引電流源と、 前記リードパワー差引電流源、第１ライトパワー差引電
流源及び第２ライトパワー差引電流源の各々の電流値を
指示するＤＡコンバータを個別に備えた差引電流指示部
と、 を設けたことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項４】請求項２記載の光学的記憶装置に於いて、 装置にローディングされた媒体がピットポション変調
（ＰＰＭ）の記録媒体の場合、前記発光粗調整処理部及
び発光微調整処理部は、前記イレーズパワー及び第１ラ
イトパワーの各々を調整し、 装置にローディングされた媒体がパルス幅変調（ＰＷ
Ｍ）の記録媒体の場合、前記発光粗調整処理部及び発光
微調整処理部は、前記イレーズパワー、第１ライトパワ
ー、及び第２ライトパワーの各々を調整することを特徴
とする光学的記憶装置。 - 【請求項５】請求項２記載の光学的記憶装置に於いて、
前記発光調整処理部は、半径方向にトラックを複数単位
に分割した媒体のゾーンを複数領域に分割し、各分割領
域の最内周ゾーンと最外周ゾーンの各々につき前記テス
トパワーを指示して発光パワーを測定しながら調整し、
最内周ゾーンと最外周ゾーン外周端の間のゾーンの調整
値は、前記テストパワーと測定パワーの直線近似の関係
式から算出して設定することを特徴とする光学的記憶装
置。 - 【請求項６】請求項５記載の光学的記憶装置に於いて、
前記発光粗調整処理部及び発光微調整処理部は、前記テ
ストパワーとしてイレーズパワーとライトパワーを個別
に指定して調整することを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項７】請求項２記載の光学的記憶装置に於いて、
前記発光微調整処理部は、前記発光粗調整処理部により
調整された前記パワーテーブルの調整値に基づいて、前
記テストパワーに対応する前記発光電流指示部及び差引
電流指示部に対する指示値を算出して設定することを特
徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項８】請求項７記載の光学的記憶装置に於いて、
前記発光微調整処理部は、前記媒体の試し書きにより決
定された最適ライトパワーが、前記パワーテーブルに登
録されたライトパワーを調整値を基準とする比率で表わ
した補正係数として与えられた際に、前記テストパワー
に前記補正係数を乗じて最適テストパワーに修正するこ
とを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項９】請求項８記載の光学的記憶装置に於いて、
前記発光微調整処理部は、前記最適パワーの補正係数が
与えられた際に、予め定められた補正係数の上限値と下
限値をもつ係数限界範囲と比較し、該係数限界範囲を外
れた場合は、前記パワー補正係数を前記上限値又は下限
値でリミットすることを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１０】請求項８記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部は、前記上限値と下限値を、
半径方向にトラックを複数単位に分割して媒体のゾーン
を複数領域に分割し、各分割領域の最内周ゾーンのライ
トパワーを最小パワーとして前記下限値に対する下限比
率を求めると共に、最外周ゾーンのライトパワーを最大
パワーとして前記上限値に対する上限比率を求め、最内
周ゾーンと最外周ゾーン外周端の間の任意のゾーンは前
記下限比率と上限比率の直線近似の関係式から算出して
上限比率及び下限比率を設定することを特徴とする光学
的記憶装置。 - 【請求項１１】請求項２記載の光学的記憶装置に於い
て、 前記発光粗調整処理部は、装置にローディングされた媒
体がピットポジション変調（ＰＰＭ）の記録媒体及びパ
ルス幅変調（ＰＷＭ）の記録媒体の場合、いずれについ
てもイレーズパワーと第１ライトパワーを調整して前記
パワーテーブルに登録し、 前記発光微調整処理部は、パルス幅変調（ＰＷＭ）の記
録媒体の場合、イレーズパワー、第１ライトパワーに加
え、第１ライトパワーを基準とした第２ライトパワーの
パワー比率を登録し、第２ライトパワーの設定は、指定
した第１ライトパワーに前記パワー比率を乗じて算出す
ることを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１２】請求項１１記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部は、前記各パワー及びパワー
比率をゾーン番号毎に前記パワーテーブルに登録し、第
２ライトパワーの設定は、指定ゾーンの第１ライトパワ
ーに同じ指定ゾーンのパワー比率を乗じて算出すること
を特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１３】請求項１２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記パワー比率は装置温度により変化する値である
ことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１４】請求項１３記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部は、内周側ゾーンの異なる２
点の温度Ｔ１，Ｔ２の各々におけるパワー比率ｙ１，ｙ
２と、外周側ゾーンの異なる２点の温度Ｔ１，Ｔ２の各
々におけるパワー比率ｙ３，ｙ４との４点から、２つの
温度Ｔ１，Ｔ２に対するパワー比率の直線近似による２
つの関係式ｙ＝ａ１・Ｔ＋ｂ１、ｙ＝ａ１・Ｔ＋ｂ１、
を求め、該２つの直線関係式の２つの傾きａ１，ａ２と
パワー比率のｙ軸交点ｂ１，ｂ２の各々につき、前記内
周側と外周側の２つのゾーン番号Ｎ１，Ｎ２に対する前
記直線近似による２つの関係式ａ＝α・Ｎ＋β、ｂ＝γ
・Ｎ＋δを求め、各々の傾きα，γ及びｙ軸交点β，δ
を前記パワーテーブルに登録することを特徴とする光学
的記憶装置。 - 【請求項１５】請求項１４記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部は、指定されたゾーン番号Ｎ
に対するパワー比率の関係式の傾きα，γ及びｙ軸交点
β，δを読み出して温度Ｔに対する関係式の傾きａ１，
ａ２とｙ軸交点ｂ１，ｂ２を算出し、最終的に、測定温
度からパワー比率を算出することを特徴とする光学的記
憶装置。 - 【請求項１６】請求項３記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光微調整処理部は、イレーズパワー、第１ラ
イトパワー及びパルス幅に応じた数の第２ライトパーの
パルス列で発光し、該発光パルス列の最後で前記自動パ
ワー制御部の目標パワーよりも低い値に低下させて次発
光パルス列に移行するパルス幅変調により記録する場
合、前記目標パワーに対する不足パワーの時間積と前記
目標パワーを越える第１ライトパワーの時間積とを等し
くして相殺するように、前記第１ライト電流差引き用の
ＤＡコンバータに対する差引電流の指示値を減少させる
ことを特徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１７】請求項２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記発光粗調整処理部及び発光微調整処理部は、前
記テストパワーを低パワー側の２点に設定することを特
徴とする光学的記憶装置。 - 【請求項１８】請求項２記載の光学的記憶装置に於い
て、前記自動パワー制御部は、前記レーザダイオードの
発光パワーを規定の目標リードパワーに制御することを
特徴とする光学的記憶装置。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3457463B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2003-10-20 | 富士通株式会社 | 光学的記憶装置 |
| US5802031A (en) * | 1997-01-28 | 1998-09-01 | International Business Machines Corporation | Programmable PPM/PWM writing system for optical disk |
| JPH10340412A (ja) * | 1997-06-06 | 1998-12-22 | Fujitsu Ltd | 情報記憶装置 |
| US6266203B1 (en) * | 1997-06-13 | 2001-07-24 | Seagate Technology Llc | Integrated temperature sense circuit in a disc drive |
| JPH11232681A (ja) | 1998-02-13 | 1999-08-27 | Fujitsu Ltd | 光学的情報記憶装置 |
| JP3537662B2 (ja) * | 1998-03-24 | 2004-06-14 | パイオニア株式会社 | 光ビームの記録パワー制御装置 |
| US6639890B1 (en) | 1998-06-29 | 2003-10-28 | Olympus Optical | Optical disk drive for precisely adjusting the intensity of laser light irradiated onto an optical disk |
| JP2000090579A (ja) * | 1998-07-15 | 2000-03-31 | Ricoh Co Ltd | 光ディスクのフォ―マット装置、フォ―マット方法及び光ディスク |
| US6292448B1 (en) * | 1998-07-27 | 2001-09-18 | Pioneer Corporation | Information recording apparatus |
| US6282038B1 (en) * | 1999-02-19 | 2001-08-28 | International Business Machines Corporation | Variable gain amplifier with temperature compensation for use in a disk drive system |
| JP3762847B2 (ja) * | 1999-04-13 | 2006-04-05 | 株式会社日立製作所 | 情報の記録方法及び情報の記録装置 |
| KR100322601B1 (ko) * | 1999-06-18 | 2002-03-18 | 윤종용 | 광디스크 기록 방법, 광디스크 기록 장치의 제어 방법 및 이에 적합한 광디스크 기록 장치 |
| JP3548057B2 (ja) * | 1999-08-31 | 2004-07-28 | 三洋電機株式会社 | 記録再生方法、および記録再生装置 |
| JP3528697B2 (ja) * | 1999-08-31 | 2004-05-17 | ヤマハ株式会社 | 光ディスクの適正記録速度判定方法および記録速度設定方法 |
| JP2001272282A (ja) * | 2000-03-24 | 2001-10-05 | Toshiba Corp | 温度検出回路及び同回路を備えたディスク記憶装置 |
| US6469856B1 (en) | 2000-05-12 | 2002-10-22 | International Business Machines Corporation | System and method for calibrating a corner frequency of a tunable filter employed in a read channel of a data storage system |
| JP2002025139A (ja) * | 2000-07-06 | 2002-01-25 | Fujitsu Ltd | 情報記憶装置及び情報記憶方法 |
| JP2002109772A (ja) * | 2000-09-29 | 2002-04-12 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ディスク装置 |
| JP2002109822A (ja) | 2000-09-29 | 2002-04-12 | Fujitsu Ltd | 回転制御方法及び記憶装置 |
| US6538966B1 (en) * | 2000-10-06 | 2003-03-25 | Hewlett-Packard Company | Accurate positioning of data marks and spaces relative to groove wobble on a rewritable optical disc |
| JP3768089B2 (ja) * | 2000-11-15 | 2006-04-19 | 三洋電機株式会社 | 光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法 |
| US6747838B2 (en) | 2001-02-15 | 2004-06-08 | Seagate Technology Llc | Thermal performance of an integrated amplifier in a disc drive |
| US6731453B2 (en) | 2001-02-15 | 2004-05-04 | Seagate Technology Llc | Optimizing thermal performance of an integrated circuit in a disc drive |
| JP2002247758A (ja) * | 2001-02-21 | 2002-08-30 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | トライアックの制御装置 |
| US20030188095A1 (en) * | 2001-04-16 | 2003-10-02 | Gang-Ming Fan | Method for dynamically determining optimal write speed of optical disk |
| JP3883100B2 (ja) | 2001-05-30 | 2007-02-21 | 富士通株式会社 | トラッキング制御方法及び記憶装置 |
| JP4031915B2 (ja) | 2001-05-30 | 2008-01-09 | 富士通株式会社 | 再生方法及び記憶装置 |
| JP3768415B2 (ja) | 2001-05-30 | 2006-04-19 | 富士通株式会社 | 書き込み／消去方法及び記憶装置 |
| JP3745291B2 (ja) * | 2001-10-16 | 2006-02-15 | シナノケンシ株式会社 | 光ディスク記録再生装置 |
| JP2003203339A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-07-18 | Tdk Corp | 追記型光記録媒体の記録方法及び追記型光記録媒体 |
| JP2003317251A (ja) * | 2002-02-21 | 2003-11-07 | Ricoh Co Ltd | 光ディスク装置、光記録方法、光記録プログラムおよび記憶媒体 |
| EP1341164A3 (en) * | 2002-02-21 | 2004-12-01 | Mitsumi Electric Co., Ltd. | Optical power level-controlling device for stable oscillation of laser diode |
| JP2003248928A (ja) * | 2002-02-21 | 2003-09-05 | Mitsumi Electric Co Ltd | 光レベル制御装置 |
| US7376064B2 (en) | 2002-02-25 | 2008-05-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for recording data on optical recording medium |
| KR100607948B1 (ko) | 2002-02-25 | 2006-08-03 | 삼성전자주식회사 | 광 기록매체에 데이터를 기록하는 방법 |
| KR100459708B1 (ko) * | 2002-03-29 | 2004-12-04 | 삼성전자주식회사 | 자동 레이저 출력 제어 기능을 가지는 레이저 다이오드 드라이버 |
| KR100857083B1 (ko) * | 2002-06-26 | 2008-09-05 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 광디스크 장치에서의 기준 파워 설정방법 |
| JP3753105B2 (ja) * | 2002-07-10 | 2006-03-08 | ティアック株式会社 | 光ディスク装置 |
| JP4070529B2 (ja) * | 2002-07-15 | 2008-04-02 | パイオニア株式会社 | 情報記録装置及び方法、並びに波形データ生成装置及び方法 |
| TWI223243B (en) * | 2002-07-25 | 2004-11-01 | Acer Labs Inc | Optical disk system which records data onto optical disk at a constant angular velocity |
| TWI234776B (en) * | 2002-09-12 | 2005-06-21 | Via Tech Inc | Power control method of a pick-up head of an optical disk drive |
| WO2004077418A1 (ja) * | 2003-02-25 | 2004-09-10 | Pioneer Corporation | 情報記録装置及び情報記録方法 |
| US20070055471A1 (en) * | 2003-05-09 | 2007-03-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Copy window setpoint control for domain expansion reading |
| JP4042624B2 (ja) * | 2003-05-16 | 2008-02-06 | 株式会社日立製作所 | ディスク装置調整方法、ディスク装置 |
| JP3885774B2 (ja) * | 2003-07-03 | 2007-02-28 | 船井電機株式会社 | 光ディスク装置 |
| US20050030860A1 (en) * | 2003-08-08 | 2005-02-10 | Gage Donald B. | Method and system for optical medium power calibration |
| TW200509111A (en) * | 2003-08-27 | 2005-03-01 | Ricoh Co Ltd | The control of laser emission power for recording information on optical disc |
| KR100545808B1 (ko) * | 2003-11-04 | 2006-01-24 | 엘지전자 주식회사 | 기록 장치에서의 최적 기록 파워 서치방법 및 이를 위한기록매체 |
| WO2005067379A2 (en) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | Technion Research And Development Foundation Ltd. | A test device and method for measuring strength |
| JP2007523436A (ja) * | 2004-02-24 | 2007-08-16 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 媒体及び温度依存性のパワー制御を有する記録装置 |
| TWI269280B (en) * | 2004-06-04 | 2006-12-21 | Lite On It Corp | Method of erasing an erasable disc |
| JP4263165B2 (ja) * | 2004-12-09 | 2009-05-13 | 三洋電機株式会社 | 光記録再生装置 |
| KR100611246B1 (ko) * | 2005-02-07 | 2006-08-10 | 삼성전자주식회사 | 광디스크 재생 및 기록장치 및 그 방법 |
| JP2006303428A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-11-02 | Sony Corp | レーザ駆動装置、レーザ発光装置およびレーザ駆動方法 |
| KR100771863B1 (ko) * | 2005-09-06 | 2007-11-01 | 삼성전자주식회사 | 기록 광 신호 제어 장치 및 방법 |
| US7729219B2 (en) * | 2005-10-07 | 2010-06-01 | Mediatek Inc. | Read and write power control methods and system for optical recording device |
| JP2007323734A (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Toshiba Corp | 光ディスク装置及び記録パワー制御方法 |
| JP2008016165A (ja) * | 2006-07-10 | 2008-01-24 | Canon Inc | 記録パワー調整方法及び光ディスク装置 |
| US7365929B2 (en) * | 2006-07-30 | 2008-04-29 | International Business Machines Corporation | Synchronous servo channel for tape drive systems |
| JP4961523B2 (ja) * | 2006-08-30 | 2012-06-27 | 株式会社東芝 | 制御装置、記憶装置及びサーボ情報復調方法 |
| JP2008059689A (ja) * | 2006-08-31 | 2008-03-13 | Toshiba Corp | レーザ駆動回路およびこのレーザ駆動回路を備える光ディスク装置 |
| US7889609B2 (en) * | 2006-09-26 | 2011-02-15 | Silicon Core Technology, Inc. | Enhanced linearity DVD writing current circuit |
| JP2008108402A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-08 | Toshiba Corp | 光ディスク装置および光ディスク記録方法 |
| WO2008085961A1 (en) * | 2007-01-05 | 2008-07-17 | Silicon Core Technology, Inc. | Higher performance dvd writing current circuit |
| JP2009266277A (ja) * | 2008-04-23 | 2009-11-12 | Nec Corp | 情報記録装置及び記録条件調整方法 |
| JP2014186781A (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Hitachi-Lg Data Storage Inc | データ記録再生装置、アーカイブシステム、記録制御方法 |
| US9772232B2 (en) * | 2014-03-28 | 2017-09-26 | Darryl G. Walker | Semiconductor device having temperature sensor circuit that detects a temperature range upper limit value and a temperature range lower limit value |
| WO2016075729A1 (ja) * | 2014-11-10 | 2016-05-19 | 日立コンシューマエレクトロニクス株式会社 | 光情報装置、光情報処理方法 |
| JP7170583B2 (ja) * | 2019-05-17 | 2022-11-14 | 株式会社東芝 | 磁気記録装置及びその磁気ヘッド制御方法 |
Family Cites Families (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2615553B2 (ja) * | 1985-11-14 | 1997-05-28 | 富士通株式会社 | レーザ制御装置 |
| JPH03158919A (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-08 | Seiko Epson Corp | 外部記憶装置接続用インターフェース |
| JPH03171437A (ja) * | 1989-11-30 | 1991-07-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 信号記録方法と最適パワー設定装置 |
| JPH03185689A (ja) * | 1989-12-14 | 1991-08-13 | Fujitsu Ltd | 光ディスクカートリッジおよび光ディスク装置 |
| JPH03256289A (ja) * | 1990-03-06 | 1991-11-14 | Sony Corp | 光ディスク記録再生装置 |
| JP2797733B2 (ja) * | 1990-03-14 | 1998-09-17 | 松下電器産業株式会社 | 光学情報記録部材の記録方法 |
| US5185734A (en) * | 1990-07-20 | 1993-02-09 | International Business Machines Corporation | Calibrating and power-protecting laser drive circuits |
| JPH04255925A (ja) * | 1991-02-08 | 1992-09-10 | Fujitsu Ltd | 光ディスク装置 |
| US5216659A (en) * | 1991-09-11 | 1993-06-01 | International Business Machines | Laser power calibration by measuring laser drive current at out of focus and in focus conditions |
| US5268893A (en) * | 1991-10-18 | 1993-12-07 | International Business Machines Corporation | Write power calibration utilizing least squares fit of read-back signals for moving media memory |
| JPH05159409A (ja) * | 1991-12-02 | 1993-06-25 | Fujitsu Ltd | 光ディスク装置 |
| EP0559391B1 (en) * | 1992-03-03 | 1998-06-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Magnetooptical recording/reproducing method and apparatus |
| US5475666A (en) * | 1992-03-04 | 1995-12-12 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Optically modulated overwritable recording device |
| US5341360A (en) * | 1992-06-05 | 1994-08-23 | Maxoptix Corporation | Method and apparatus for calibrating laser write power by averaging upper and lower knees of a calibration profile |
| JPH0773471A (ja) * | 1993-09-03 | 1995-03-17 | Pioneer Electron Corp | 追記型光ディスクの情報記録装置 |
| JP3517915B2 (ja) * | 1993-11-30 | 2004-04-12 | ソニー株式会社 | 光ディスクデータ記録・再生装置 |
| JPH07225957A (ja) * | 1993-12-15 | 1995-08-22 | Canon Inc | 情報記録再生装置 |
| JPH07200177A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Mitsumi Electric Co Ltd | 情報処理装置 |
| JPH07225635A (ja) * | 1994-02-10 | 1995-08-22 | Hitachi Maxell Ltd | 情報記憶装置 |
| JP2999684B2 (ja) * | 1995-03-10 | 2000-01-17 | 株式会社日立製作所 | 光学ディスクの記録制御方法および光学ディスク装置 |
| US5640381A (en) * | 1996-03-08 | 1997-06-17 | International Business Machines Corporation | Laser power-drive circuit having a scaling DAC supplying a scaled reference signal to a plurality of scaled DAC's that supply a plurality of scaled output signals |
| US5617401A (en) * | 1996-03-08 | 1997-04-01 | International Business Machines Corporation | Calibration of lasers that produce multiple power output levels of emitted radiation |
| JP3457463B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2003-10-20 | 富士通株式会社 | 光学的記憶装置 |
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