[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP3372911B2 - 電子ビーム描画装置の鏡筒内洗浄装置 - Google Patents

電子ビーム描画装置の鏡筒内洗浄装置

Info

Publication number
JP3372911B2
JP3372911B2 JP29398599A JP29398599A JP3372911B2 JP 3372911 B2 JP3372911 B2 JP 3372911B2 JP 29398599 A JP29398599 A JP 29398599A JP 29398599 A JP29398599 A JP 29398599A JP 3372911 B2 JP3372911 B2 JP 3372911B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning
lens barrel
discharge tube
discharge
electron beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP29398599A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001118767A (ja
Inventor
健太郎 石橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Toshiba Machine Co Ltd
Priority to JP29398599A priority Critical patent/JP3372911B2/ja
Publication of JP2001118767A publication Critical patent/JP2001118767A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3372911B2 publication Critical patent/JP3372911B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子ビーム描画装
置において、鏡筒内に設置されているビーム偏向器など
の部品の表面に付着した堆積物をエッチングして除去す
るための鏡筒内洗浄装置に係る。
【0002】
【従来の技術】電子ビーム描画装置は、長時間継続使用
すると、鏡筒内に設けられている部品、特にビーム偏向
器に堆積物が付着する。この様に付着した堆積物の内、
絶縁性を有するもの(絶縁膜)には帯電が生ずるので、
電子ビームのドリフトの原因となり、描画精度の劣化の
原因となる。
【0003】この様な問題に対処すべく、特開平8−1
39010号公報には、放電管中で洗浄ガス(例えば、
とCFとの混合ガス)にマイクロ波を照射してラ
ジカルを発生させ、ラジカル(遊離基)を含んだエッチ
ングガスを鏡筒内に流して、部品の表面に付着した堆積
物をエッチングして除去する鏡筒内洗浄装置が記載され
ている。
【0004】上記の鏡筒内洗浄装置は、描画の際には鏡
筒の内部から遮断する必要があるので、ゲートバルブを
介して鏡筒の側壁に接続されている。そこで、鏡筒内を
洗浄する際には、ゲートバルブの開閉をする必要があ
る。また、マイクロ波によって放電管の中の洗浄ガス内
で放電を起こさせることが比較的困難であるので、放電
の発生を確認する必要があるなど操作が煩雑であった。
また、電子ビーム描画装置では、塵埃による描画不良を
生じさせない様にするため、装置に人が近付くことを極
力避ける必要がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上の様な
ラジカルを含んだエッチングガスを用いた従来の鏡筒内
洗浄装置の問題点に鑑み成されたもので、本発明の目的
は、遠隔操作によって確実に実施することができる電子
ビーム描画装置の鏡筒内洗浄装置を提供することにあ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の電子ビーム描画
装置の鏡筒内洗浄装置は、電子ビーム描画装置の鏡筒内
にラジカルを含んだエッチングガスを流して、内部に配
置された部品を洗浄する鏡筒内洗浄装置において、前記
鏡筒の側壁に取り付けられたゲートバルブと、前記ゲー
トバルブを介して先端が前記鏡筒に接続されたガラス製
の放電管と、前記放電管の後端に接続され、洗浄ガスを
前記放電管内に供給する洗浄ガス供給装置と、マイクロ
波発生端子とマッチングタブを有し、これら間のキャビ
ティ内を前記放電管が貫通し、前記放電管内を流れる洗
浄ガス内で放電を起こさせて、ラジカルを発生させるマ
イクロ波発生装置と、前記マイクロ波発生装置に隣接し
て配置され、前記放電管の外から中に向けて、前記マイ
クロ波発生装置よりも強力なマイクロ波のパルスを発射
することによって、前記放電管内で放電を開始させるテ
スラーコイルと、前記放電管内が放電状態にあることを
検出するためのセンサと、前記洗浄ガス供給装置、前記
ゲートバルブ、前記マイクロ波発生装置及び前記テスラ
ーコイルをそれぞれ制御して、前記放電管内での放電の
開始及び終了を行う制御部とを備え、前記制御部は、前
記テスラーコイルの作動から予め定められた時間の経過
後に、前記放電管内が放電状態にあることが前記センサ
によって確認されなかったとき、再び前記テスラーコイ
ルを作動させる様に構成されていることを特徴とする。
【0007】本発明の鏡筒内洗浄装置によれば、前記制
御部からの指令に基づき所定のシーケンスに従って、ガ
ス供給装置、ゲートバルブ、マイクロ波発生装置及びテ
スラーコイルを作動させて、自動的に洗浄ガス中で放電
を開始させる。もし、放電が起こらなかった場合にはセ
ンサによってこれを検知し、その結果に基づいて再びテ
スラーコイルを作動させて、放電を開始させる。この様
なテスラーコイルの再作動は、センサによって放電状態
が確認されるまで、所定回数、繰り返し行われる。
【0008】好ましくは、前記制御部を、テスラーコイ
ルの再作動の回数が、予め設定された上限回数に到達す
るまでに放電状態が確認されなかったときには、ガス供
給装置及びマイクロ波発生装置の作動を停止するととも
に、ゲートバルブを閉じる様に構成する。
【0009】好ましくは、前記センサとして光電センサ
を使用するとともに、放電管の中間部の周囲を遮光カバ
ーによって覆い、この遮光カバーの中に前記マイクロ波
発生装置のキャビティ部分及び前記センサを収容する。
【0010】好ましくは、前記遮光カバーを、その内部
を排気することができる様に構成する。
【0011】好ましくは、前記ゲートバルブを、フラン
ジを介して鏡筒の側壁に取り付け、前記放電管及び前記
ゲートバルブを、それぞれの軸が一直線上に並ぶ様に配
置する。この様に構成することによって、前記マイクロ
波発生装置によって洗浄ガス内に生成されたラジカル
を、効率良く鏡筒内へ送り込むことができる。
【0012】好ましくは、前記マイクロ波発生装置及び
前記テスラーコイルを、電気絶縁材製のベースプレート
によって支持し、このベースプレートを鏡筒に固定す
る。この様に構成することによって、前記マイクロ波発
生装置及び前記テスラーコイルが、電子ビーム描画装置
本体に対して電気的あるいは磁気的ノイズを与えること
を防止することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明に基づく鏡筒内洗浄
装置の一例について、図面を用いて説明する。
【0014】図1に、本発明に基づく鏡筒内洗浄装置が
取り付けられた電子ビーム描画装置の概略構成を示す。
図中、10は電子ビーム描画装置の鏡筒部分であり、そ
の中に、電子ビーム発生部11、各種電子レンズ12、
13、14、15、可変成形ビーム用の第一アパーチャ
16及び第二アパーチャ17、ビーム成形用偏向器18
a、18b、ビーム位置制御用偏向器19などが配置さ
れている。鏡筒10の下部には描画室20が設けられ、
その内部にXYステージ22が設けられている。被描画
材21は、XYステージ22の上に保持される。本発明
の鏡筒内洗浄装置30は、鏡筒10の第一アパーチャ1
6と電子レンズ13の間に該当する位置で、ゲートバル
ブ34を介して鏡筒10に取り付けられている。
【0015】この電子ビーム描画装置では、電子ビーム
発生部11から発射された電子ビームを、電子レンズ1
2によって第一アパーチャ16上で焦点を結ばせて、所
定の断面形状の電子ビームとする。これを電子レンズ1
3、14によって第二アパーチャ17上で焦点を結ばせ
るとともに、ビーム成形用偏向器18a、18bによっ
て偏向させて、所望の断面形状の電子ビームとする。こ
れを電子レンズ15によって被描画材21上で焦点を結
ばせるとともに、ビーム位置制御用偏向器19によって
電子ビームを被描画材21上に導いて、被描画材21上
に所定のパターンを描画する。
【0016】なお、電子ビーム描画装置の本体部分の構
成自体は、本発明の主題ではないので、公知の種々の形
態でも良く、このため、概要のみを示して詳細な説明は
省略する。
【0017】図2に、鏡筒内洗浄装置30の主要部の軸
方向断面図を示す。鏡筒内洗浄装置30は、ゲートバル
ブ34、放電管40、洗浄ガス供給装置45、マイクロ
波発生装置48、テスラーコイル49及び光電センサ5
0(センサ)などから構成される。
【0018】鏡筒10の側壁には、フランジ31がボル
ト32によって固定されている。このフランジ31の背
面(図2において左側面)には、ゲートバルブ34がボ
ルト33によって固定されている。フランジ31の背面
には、更に、ブラケット56を介して電気絶縁材製(例
えば、塩化ビニールの様な樹脂製)のベースプレート5
5が取り付けられている。
【0019】ゲートバルブ34は、フランジ31を介し
て鏡筒10に取り付けられている。フランジ31は、そ
の中央に、前後に貫通する孔35を有している。この孔
35は、ゲートバルブ34の出口側の通孔36に対して
一直線上で連通し、孔35の鏡筒10側には、ガス導入
用のノズル37が取り付けられている。ゲートバルブ3
4は、圧空式で、空圧シリンダ(図示せず)によって自
動的に開閉される。
【0020】ゲートバルブ34の入口側の通孔38に
は、石英ガラス製の放電管40の先端部が、継手39を
介して気密に取り付けられている。放電管40は、上記
通孔38に対して一直線上で連通する様に配置されてい
る。
【0021】放電管40の後端には、洗浄ガス供給装置
45が、継手43及び管継手44を介して気密に接続さ
れている。継手43は、ブラケット57を介して、ベー
スプレート55の先端部分(図2では左端)の上に支持
されている。
【0022】ベースプレート55の中央付近には、取付
台46を介して遮光カバー47が取り付けられている。
遮光カバー47は、放電管40の中間部分の周囲を覆う
様に設けられている。この遮光カバー47の中に、マイ
クロ波発生装置48のキャビティ部分が収容されてい
る。マイクロ波発生装置48は、互いに対を成すマイク
ロ波発生端子48a及び調整用のマッチングタブ48b
を有し、これらの間に形成されたキャビティ(共振空
洞)内を放電管40が貫通している。更に、遮光カバー
47の中には、放電管40内での放電の有無を検出する
ための光電センサ50が収容されている。遮光カバー4
7には、マイクロ波によって発生するオゾンガスなどを
排気するためのパイプ47aが接続されている。
【0023】更に、遮光カバー47に隣接して、放電管
40に沿ってマイクロ波発生装置48よりも上流側に、
テスラーコイル49が配置されている。このテスラーコ
イル49もベースプレート55上に支持されている。
【0024】図3に、図2のA−A断面図を示す。テス
ラーコイル49は、図3に示す様に、その端子49aの
先端が放電管40の中心軸に向けられ、マイクロ波発生
装置48よりも強力なマイクロ波のパルスを発射して、
放電管40内で放電を開始させる様になっている。遮光
カバー47の中には、先に述べた様に、光電センサ50
が収容されている。
【0025】図4に、鏡筒内洗浄装置の制御ブロック図
を示す。洗浄ガス供給装置45、ゲートバルブ34、マ
イクロ波発生装置48及びテスラーコイル49は、制御
部62からの指令に従って制御される。制御部62は、
操作部61からの洗浄開始の信号を受けて、所定のシー
ケンスに従って上記各装置を作動させ、放電管40内で
の放電を開始させるとともに、鏡筒10内へラジカルを
含んだエッチングガスを供給する。同様に、制御部62
は、操作部61からの洗浄終了の信号を受けて、放電管
40内での放電を停止させるとともに、鏡筒10内へ洗
浄ガスの供給を停止する。また、後述する様に、放電管
40内で放電が起こらなかった場合には、制御部62
は、光電センサ50からの検出信号を受けてテスラーコ
イル49の作動を制御することにより、放電開始動作を
繰り返す。
【0026】図5に、制御部62による制御のフローチ
ャートを示す。なお、(a)は洗浄開始のフロー、
(b)は洗浄終了のフローである。
【0027】累計描画時間や電子ビームのドリフト量か
ら、鏡筒内の洗浄が必要と判断されたとき、描画作業を
中断し、操作部61(図4)から制御部62へ洗浄開始
の指令信号を与える。制御部62は、この指令信号を受
けて、図5(a)に示す洗浄開始フローを実行し、洗浄
ガス供給装置45、ゲートバルブ34、マイクロ波発生
装置48及びテスラーコイル49を作動させる。
【0028】即ち、先ず、洗浄ガス供給装置45から洗
浄ガスの供給を開始する(ステップST1)。次いで、
ゲートバルブ34を開く(ステップST2)。これによ
り、洗浄ガス(例えば、OとCFの混合ガス)が、
洗浄ガス供給装置45から放電管40、ゲートバルブ3
4及びノズル37を順に通って、鏡筒10内へ送り込ま
れる。
【0029】この状態で、マイクロ波発生装置48を作
動させる(ステップST3)。なお、このマイクロ波発
生装置48の作動のみでは、放電管40内で放電は起こ
らない。次のステップで(ステップST4)、テスラー
コイル49を作動させることによって放電が起こり、そ
の後は、マイクロ波発生装置48によって放電状態が維
持される。このマイクロ波発生装置48による放電状態
は、光電センサ50によって検出される。しかしなが
ら、テスラーコイル49による放電の開始、あるいはこ
れに続くマイクロ波発生装置48による放電状態の維持
に失敗することがある。このため、テスラーコイル49
の作動後、2〜3秒待機した後(ステップST5)、光
電センサ50を用いて放電管50内での放電状態を確認
する。
【0030】その結果、放電管50内で放電状態が維持
されていない場合には、ステップST4に戻り、再び、
テスラーコイル49を作動させて、放電を開始させる。
この様なテスラーコイル49の再作動の動作は、光電セ
ンサ50によって放電状態が確認されるまで繰り返し行
われる。
【0031】なお、予め設定された所定の回数、テスラ
ーコイル49を再作動させても、放電が確認されない場
合には、放電管40の破損など装置が故障している可能
性があるので、マイクロ波発生装置48及び洗浄ガス供
給装置45の作動を停止するとともに、ゲートバルブ3
4を閉じる。一方、ステップST6で放電状態が確認さ
れた場合には、ラジカル生成開始を表示して(ステップ
ST7)、洗浄開始フローを終了する。
【0032】放電管40内における洗浄ガス中での放電
によって、洗浄ガス中にラジカルが生成され、ラジカル
を含んだエッチングガスが、ゲートバルブ34及びフラ
ンジ31を通ってノズル37から鏡筒10内へ供給され
る。ラジカルを含んだエッチングガスは、ビーム成形用
偏向器18a、18b(図1)などの部品に沿って流
れ、それらの表面に堆積している絶縁膜などをエッチン
グした後、排気口25(図1)を介して排出される。
【0033】このとき、ラジカルの発生位置、即ち、マ
イクロ波発生装置48のキャビティを貫通する放電管4
0の内部(放電位置)は、ゲートバルブ34及びフラン
ジ31のみの短く且つ直線状の経路を介して、鏡筒10
に接続されているので、生成されたラジカルの失活が少
なく、ラジカルの密度が高い洗浄ガスが鏡筒10内へ供
給される。
【0034】この様にして、鏡筒10(図1)内の洗浄
工程が終了した後、操作部61(図4)から制御部62
へ洗浄終了の指令信号を与える。制御部62は、この指
令信号を受けて、図5(b)に示す洗浄終了フローを実
行する。即ち、操作部61からの洗浄終了の指令信号を
受けて、マイクロ波発生装置48を停止し(ステップS
T11)、次いで、洗浄ガス供給装置45からの洗浄ガ
スの供給を停止するとともに(ステップST12)、ゲ
ートバルブ34を閉じる(ステップST13)。
【0035】なお、この洗浄終了フローは、図5(a)
に示したステップST7からの経過時間や、排気口25
(図1)から排出されるガスの分析データなどに基づい
て自動的に実行させる様にしてもよい。
【0036】以上の鏡筒内の洗浄作業自体は、描画を停
止させて行うので、描画精度に悪影響を及ぼすことはな
い。但し、マイクロ波発生装置48及びテスラーコイル
49はいずれも接地され、鏡筒10も接地されているの
で(図示せず)、仮に、マイクロ波発生装置48及びテ
スラーコイル49を鏡筒10に対して電気的に絶縁して
おかないと、これらを結ぶ電気回路が構成され、マイク
ロ波発生装置48及びテスラーコイル49の非作動時に
も、電子ビーム描画装置本体に電気的または磁気的ノイ
ズを与えるおそれがある。このため、図2に示した例で
は、マイクロ波発生装置48及びテスラーコイル49
を、電気絶縁材製(例えば、塩化ビニール)のベースプ
レート55の上に支持し、このベースプレート55をブ
ラケット56を介して鏡筒10に取り付けている。従っ
て、マイクロ波発生装置48及びテスラーコイル49
が、電子ビーム描画装置本体に電気的または磁気的ノイ
ズを与えるおそれはない。
【0037】
【発明の効果】本発明の鏡筒内洗浄装置によれば、ラジ
カルを含んだエッチングガスによる鏡筒内の洗浄作業
を、遠隔操作によって確実に実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に基づく鏡筒内洗浄装置が取り付けられ
た電子ビーム描画装置の構成を示す概略図。
【図2】本発明に基づく鏡筒内洗浄装置の主要部の構成
を示す詳細図。
【図3】図2のA−A断面図。
【図4】本発明に基づく鏡筒内洗浄装置の制御ブロック
図。
【図5】本発明に基づく鏡筒内洗浄装置の制御フローチ
ャートであって、(a)は洗浄開始のフロー、(b)は
洗浄終了のフローである。
【符号の説明】
10・・・鏡筒、 11・・・電子ビーム発生部、 12,13,14,15・・・電子レンズ、 16・・・第一アパーチャ、 17・・・第二アパーチャ、 18a、18b・・・ビーム成形用偏向器、 19・・・ビーム位置制御用偏向器、 20・・・描画室、 21・・・被描画材、 22・・・XYステージ、 25・・・排気口、 30・・・鏡筒内洗浄装置、 31・・・フランジ、 34・・・ゲートバルブ、 37・・・ノズル、 39・・・継手部、 40・・・放電管、 43・・・継手、 44・・・管継手、 45・・・ガス供給装置、 46・・・取付台、 47・・・遮光カバー、 47a・・・(排気用の)パイプ、 48・・・マイクロ波発生装置、 48a・・・マイクロ波発生端子、 48b・・・マッチングタブ、 49・・・テスラーコイル、 50・・・光電センサ(センサ)、 55・・・ベースプレート、 56・・・ブラケット、 57・・・ブラケット、 61・・・操作部、 62・・・制御部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 21/30 541G

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子ビーム描画装置の鏡筒内にラジカル
    を含んだエッチングガスを流して、内部に配置された部
    品を洗浄する鏡筒内洗浄装置において、 前記鏡筒の側壁に取り付けられたゲートバルブと、 前記ゲートバルブを介して先端が前記鏡筒に接続された
    ガラス製の放電管と、 前記放電管の後端に接続され、洗浄ガスを前記放電管内
    に供給する洗浄ガス供給装置と、 マイクロ波発生端子とマッチングタブを有し、これら間
    のキャビティ内を前記放電管が貫通し、前記放電管内を
    流れる洗浄ガス内で放電を起こさせて、ラジカルを発生
    させるマイクロ波発生装置と、 前記マイクロ波発生装置に隣接して配置され、前記放電
    管の外から中に向けて、前記マイクロ波発生装置よりも
    強力なマイクロ波のパルスを発射することによって、前
    記放電管内で放電を開始させるテスラーコイルと、 前記放電管内が放電状態にあることを検出するためのセ
    ンサと、 前記洗浄ガス供給装置、前記ゲートバルブ、前記マイク
    ロ波発生装置及び前記テスラーコイルをそれぞれ制御し
    て、前記放電管内での放電の開始及び終了を行う制御部
    とを備え、 前記制御部は、前記テスラーコイルの作動から予め定め
    られた時間の経過後に、前記放電管内が放電状態にある
    ことが前記センサによって確認されなかったとき、再び
    前記テスラーコイルを作動させる様に構成されているこ
    とを特徴とする電子ビーム描画装置の鏡筒内洗浄装置。
  2. 【請求項2】 前記制御部は、前記テスラーコイルの再
    作動の回数が、予め設定された上限回数に到達するまで
    に放電状態が確認されなかったとき、前記洗浄ガス供給
    装置及び前記マイクロ波発生装置の作動を停止するとと
    もに、前記ゲートバルブを閉じる様に構成されているこ
    とを特徴とする請求項1記載の電子ビーム描画装置の鏡
    筒内洗浄装置。
  3. 【請求項3】 前記センサは光電センサであって、 前記放電管の中間部の周囲は遮光カバーによって覆わ
    れ、この遮光カバーの中に前記マイクロ波発生装置のキ
    ャビティ部分及び前記センサが収容されていることを特
    徴とする請求項1に記載の電子ビーム描画装置の鏡筒内
    洗浄装置。
  4. 【請求項4】 前記遮光カバーは、内部を排気可能に構
    成されていることを特徴とする請求項3に記載の電子ビ
    ーム描画装置の鏡筒内洗浄装置。
  5. 【請求項5】 前記ゲートバルブは、フランジを介して
    鏡筒の側壁に取り付けられ、 前記放電管及び前記ゲートバルブは、それぞれの軸が一
    直線上に並ぶ様に配置されていることを特徴とする請求
    項1に記載の電子ビーム描画装置の鏡筒内洗浄装置。
  6. 【請求項6】 前記マイクロ波発生装置及び前記テスラ
    ーコイルは、電気絶縁材製のベースプレートによって支
    持され、このベースプレートを介して鏡筒に取り付けら
    れていることを特徴とする請求項1に記載の電子ビーム
    描画装置の鏡筒内洗浄装置。
JP29398599A 1999-10-15 1999-10-15 電子ビーム描画装置の鏡筒内洗浄装置 Expired - Lifetime JP3372911B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29398599A JP3372911B2 (ja) 1999-10-15 1999-10-15 電子ビーム描画装置の鏡筒内洗浄装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29398599A JP3372911B2 (ja) 1999-10-15 1999-10-15 電子ビーム描画装置の鏡筒内洗浄装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001118767A JP2001118767A (ja) 2001-04-27
JP3372911B2 true JP3372911B2 (ja) 2003-02-04

Family

ID=17801767

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29398599A Expired - Lifetime JP3372911B2 (ja) 1999-10-15 1999-10-15 電子ビーム描画装置の鏡筒内洗浄装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3372911B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7465943B2 (en) * 2005-12-08 2008-12-16 Asml Netherlands B.V. Controlling the flow through the collector during cleaning
JP4945698B1 (ja) * 2010-12-28 2012-06-06 株式会社Param 電子ビーム装置
CN114392985B (zh) * 2022-01-19 2023-10-10 南京理工大学 一种利用特斯拉线圈清理三维原子探针近局域电极的方法
CN115208227B (zh) * 2022-07-26 2025-01-07 山东大学 适用于电离层卫星载荷的高压发生电路、清洁系统和方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001118767A (ja) 2001-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8841641B2 (en) Extreme ultraviolet light source apparatus
US5753886A (en) Plasma treatment apparatus and method
US7652272B2 (en) Plasma-based debris mitigation for extreme ultraviolet (EUV) light source
USRE43508E1 (en) Plasma confinement by use of preferred RF return path
TWI411015B (zh) A plasma processing apparatus, a plasma apparatus for performing the cleaning method thereof, and a memory medium for storing a program for executing the cleaning method
US5911833A (en) Method of in-situ cleaning of a chuck within a plasma chamber
JPH05144716A (ja) 荷電ビーム照射装置及び方法
JP2006066398A (ja) 局部的プラズマ処理
JP2018056248A (ja) プラズマ処理装置の運転方法
JPH0864584A (ja) マイクロ波トラップを有するプラズマアッシャー
CN108668423A (zh) 等离子体加工设备及预清洗工艺
JP3372911B2 (ja) 電子ビーム描画装置の鏡筒内洗浄装置
JPH06190269A (ja) ドライ洗浄方法およびその装置
JP2000003902A (ja) 半導体製造装置のパ―ティクル除去装置及びパ―ティクルの除去方法
JP4169854B2 (ja) ウエハ平坦化方法
JPH05243160A (ja) 半導体デバイス製造用プラズマcvd装置
JPH09209179A (ja) ドライエッチング装置およびそのクリーニング方法
JPH0669172A (ja) 光窓の曇防止装置およびプラズマ処理装置
JPH07235523A (ja) プラズマ反応装置
JPH0494524A (ja) 電子線装置の洗浄方法
KR100583956B1 (ko) 반도체 제조설비용 래티클 클리너
JPH0740563B2 (ja) 光導入窓の曇防止装置
JP2005074414A (ja) 大気圧プラズマ発生装置
JPH08206491A (ja) 表面改質装置及び表面改質方法
JP2000231897A (ja) 光学鏡筒及びそのクリーニング方法

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3372911

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081122

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081122

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091122

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101122

Year of fee payment: 8

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111122

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121122

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131122

Year of fee payment: 11

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term