JP3343846B2 - 光導波路の製造方法 - Google Patents
光導波路の製造方法Info
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Description
理、光計測分野における光回路部品に用いられる光導波
路の製造方法に関するものであり、波長1.3μm帯お
よび1.55μm帯における信号光処理を行う光導波路
の製造方法に関するものである。
ファイバと低損失で接続可能なことから、実用的な導波
路型光部品を実現できる手段として注目されている。石
英系ガラス光導波路は、数μmから数十μm厚のコアま
たはクラッドとなる石英系ガラス膜を形成する技術と、
形成されたコア石英系ガラス膜をフォトリソグラフィー
工程およびエッチングを利用して数μm幅のパターン形
状に加工する技術を組み合わせて作製され、これまで
に、様々な光回路が実現されている。
と製造方法の一例を示す。この光導波路は、平面基板1
上に形成された光を伝搬するコア6およびコアより屈折
率の低いクラッド5,7により構成されており、コア6
およびクラッド5、7は石英系ガラスで形成されてい
る。ここでは、基板1としてシリコン基板を用いた。こ
の石英系ガラス光導波路を作製するには、まず、シリコ
ン基板1上に膜厚30μm程度である下部クラッド石英
系ガラス層5および膜厚数μmであるコア石英系ガラス
層10を火炎堆積法により形成する。次に、コア石英系
ガラス層をフォトリソグラフィー工程およびエッチング
を用いて矩形のコア6に加工する。最後に、膜厚30μ
m程度である上部クラッド石英系ガラス層7を火炎堆積
法により作製する。
光導波路は波長1.3μmおよび1.55μmにおける
伝搬損失が0.1dB/cm以下と小さく、また、コア
がクラッドに囲まれた埋め込み型の構造であることから
曲げ半径を小さくできる。さらに、コア作製にフォトリ
ソグラフィー工程を用いていることから、導波路で構成
する光回路の設計自由度が高い。以上の特徴より、光波
の干渉を利用したマッハツェンダ干渉計、アレー導波路
格子において、高消光比、低挿入損失である光部品が実
現されている。さらに、石英系ガラスの熱光学効果を利
用し、マッハツェンダ干渉計の片方のアーム導波路に金
属薄膜によるヒータを具備した光スイッチおよび光スイ
ッチをマトリックス状に配置したN×Nマトリックス光
スイッチが実現されており、高消光比、低挿入損失な動
作が達成されている(例えば、M.Okuno et al., "Impr
oved 8x8 integrated optical matrix switch using si
lica-based planar lightwave circuits", J. Lightwav
e Technol., vol.12, pp.1597-1606, 1994)。
とシリコン層との三層構造を有するSOI基板を用いた
シリコン光導波路に関する研究が活発化している(例え
ば、U. Fischer et. al.,"0.1dB/cm waveguide losses
in single-mode SOI rib waveguides", IEEE Photon. T
echnol. Lett., vol.8, pp.647-648, 1996) 。図8にシ
リコン光導波路と製造方法を示す。シリコンで形成され
たコアと石英系ガラス(シリコン酸化層)で形成された
クラッドにより構成されたリブ導波路構造である。
ず、シリコン基板1にイオン注入と高温度熱酸化処理に
よりシリコンの酸化層(すなわち、石英系ガラス層)2
を形成し、その上にさらにシリコン層3を設けて、シリ
コン層1と石英系ガラス層(シリコン酸化層)2とシリ
コン層3の三層構造を有するSOI基板を作製する。こ
の段階で必要に応じて最上層のシリコン層3の膜厚をエ
ピタキシャル成長により厚くする。次に、シリコン層3
をフォトリソグラフィー工程およびエッチングを用いて
加工し、シリコンスラブ層3とシリコンリッジ部4より
形成されるリブ導波路構造を形成する。最後に、高温度
熱酸化処理により上部クラッド用石英系ガラス層7を形
成する。
路は、シリコンの熱光学定数が石英系ガラスの10倍程
度大きい値であり、かつ、シリコンの熱伝導率が石英系
ガラスの100倍程度大きいことから、例えば、金属薄
膜ヒータを装荷したマッハツェンダ干渉計を用いた光ス
イッチにおいて、1MHz程度の高速スイッチ周波数が
実現できる。さらに、シリコンのコアに電流注入する
と、フリーキャリヤの移動による屈折率変化が誘起され
る性質がある。従って、シリコン光導波路にドープ領域
を設けて電流注入用電極とし、マッハツェンダ干渉計を
用いた光強度変調器や光スイッチを構成すると、熱光学
効果を用いる場合に比べさらに高速であるnsec領域
での応答が可能となる。さらに、シリコン光導波路は、
SiGe液晶部を設けることによって光検出器を集積で
きる。また、LSI高速電子回路を光導波路とモノリシ
ック集積できるといった特徴を有する。
示されるシリコン光導波路はリブ導波路構造であるた
め、コア部とクラッド部の比屈折率差はたかだか10-3
程度であり、曲げ導波路での損失が顕著となる問題があ
った。つまり、実効屈折率が10-3の場合、許容曲げ半
径は数cmに及ぶ。従って、分岐や曲がりを含む実用的
な光回路を構成するには適していない。
光導波路は埋め込み型の三次元光導波路構造であること
から曲げ半径は1cm以下となる。例えばコアとクラッ
ドの比屈折率差が0.75%である場合、許容曲げ半径
は5mmである。
路の構成に適した石英系ガラス光導波路と電極による高
速屈折率制御が可能なシリコン光導波路とを組み合わせ
ることができれば、例えば、光強度変調器や光スイッチ
およびこれらを組み合わせた実用的な光回路を実現でき
ることが期待できる。しかしながら、これまで、石英系
ガラス光導波路とシリコン光導波路を同一基板上に集積
した光導波路およびその製造方法に関しては提案がなか
った。
たものであり、その目的は、石英系ガラス光導波路とシ
リコン光導波路を同一基板上に集積した光導波路の製造
方法を提供することにある。
るために、本発明の光導波路の製造方法は、 (a)シリコン層と石英系ガラス層とシリコン層との三
層から構成される積層体にフォトリソグラフィー工程お
よびエッチングを行って、シリコン層と石英系ガラス層
とシリコン層とからなるシリコンテラス構造部を形成
し、 (b)前記シリコンテラス構造部が形成された積層体上
に、石英系ガラス光導波路部の下部クラッド用石英系ガ
ラス層を前記シリコンテラス構造部の頂部が覆われるよ
うな膜厚で形成し、前記下部クラッド用石英系ガラス層
を前記シリコンテラス構造部の頂部高さに合わせて研磨
して前記シリコンテラス構造部の頂部より上の領域を除
去し、前記下部クラッド用石英系ガラス層をエッチング
して石英系ガラス用光導波路部の光軸高さを調整して、
石英系ガラス光導波路部の下部クラッドを形成し、 (c)石英系ガラス光導波路部のコア用石英系ガラス層
を前記下部クラッドおよび前記シリコンテラス構造部の
上に前記シリコンテラス構造部の頂部が覆われるような
膜厚で形成し、前記コア用石英系ガラス層を前記シリコ
ンテラス構造部の頂部高さに合わせて研磨してシリコン
テラス構造部の頂部より上の領域を除去し、前記コア用
石英系ガラス層と前記シリコンテラス構造部のシリコン
層をフォトリソグラフィー工程およびエッチングにより
加工して、石英系ガラス光導波路部のコア部およびシリ
コン光導波路部のコア部を形成し、 (d)前記石英系ガラス光導波路部のコア部の上部周辺
および前記シリコン光導波路部のコア部の上部周辺に上
部クラッド用石英系ガラス層を形成して、石英系ガラス
光導波路部の上部クラッドおよびシリコン光導波路部の
上部クラッドを形成することを特徴とする。
層から構成される積層体にフォトリソグラフィー工程お
よびエッチングを行って、シリコン層と石英系ガラス層
とシリコン層とからなるシリコンテラス構造部を形成
し、 (b)前記シリコンテラス構造部が形成された積層体上
に、石英系ガラス光導波路部の下部クラッド用石英系ガ
ラス層と該コア用石英系ガラス層とを、光軸高さに合わ
せるように、しかも前記下部クラッド用石英系ガラス層
と前記コア用石英系ガス層の積層された合計膜厚が前記
シリコンテラス構造部の頂部高さと等しくなるように順
次積層し、 (c)前記シリコンテラス構造部の頂部より上の領域、
および前記シリコンテラス構造部の周辺において前記下
部クラッド用石英系ガラス層と前記コア用石英系ガラス
層との積層構造が傾斜している領域にある前記コア用石
英系ガラス層および前記下部クラッド用石英系ガラス層
をフォトリソグラフィー工程およびエッチングにより除
去して、前記下部クラッド用石英系ガラス層と前記コア
用石英系ガラス層とからの構造と前記シリコンテラス構
造部との間に間隙を形成し、 (d)前記コア用石英系ガラス層および前記シリコンテ
ラス構造部の最上層のシリコン層をフォトリソグラフィ
ー工程およびエッチングにより加工して、石英系ガラス
光導波路部のコア部およびシリコン光導波路部のコア部
を形成し、 (e)前記石英系ガラス光導波路部のコア部および前記
シリコン光導波路部のコア部の上部周辺および前記間隙
に上部クラッド用石英系ガラス層を形成して、石英系ガ
ラス光導波路部とシリコン光導波路部の上部クラッドを
形成することを特徴とするか、あるいは、 (a)シリコン層と石英系ガラス層とシリコン層との三
層から構成される積層体にフォトリソグラフィー工程お
よびエッチングを行って、シリコン層と石英系ガラス層
とシリコン層とからなるシリコンテラス構造部を形成
し、 (b)前記シリコンテラス構造部の最上層のシリコン層
をフォトリソグラフィー工程およびエッチングを用いて
加工して、該シリコン層上にシリコン光導波路部のコア
部を形成し、 (c)前記コア部の形成されたシリコンテラス構造部を
有する積層体上に、石英系ガラス光導波路部の下部クラ
ッド用石英系ガラス層と該コア用石英系ガラス層とを、
光軸高さに合わせるように、しかも前記下部クラッド用
石英系ガラス層と前記コア用石英系ガス層との積層され
た合計膜厚が前記シリコンテラス構造部の高さと等しく
なるように順次積層し、 (d)前記石英系ガラス光導波路部のコア用石英系ガラ
ス層にフォトリソグラフィー工程およびエッチングを行
って石英系ガラス光導波路部のコア部を形成し、 (e)前記石英系ガラス光導波路部のコア部および前記
シリコン光導波路部のコア部を覆うようにして、上部ク
ラッド用石英系ガラス層を形成して、石英系ガラス光導
波路部とシリコン光導波路部の上部クラッド層を形成
し、 (f)前記シリコンテラス構造部の周辺において前記石
英系ガラス光導波路部のコア用石英系ガラス層が傾斜し
ている領域にある前記コア用石英系ガラス層前記下部ク
ラッド用石英系ガラス層および前記石英系ガラス光導波
路部の上部クラッド用石英系ガラス層をフォトリソグラ
フィー工程およびエッチングにより除去して、前記石英
系ガラス光導波路部と前記シリコン光導波路部との間に
間隙を形成し、 (g)前記間隙に、前記石英系ガラス光導波路部のコア
部を構成する石英系ガラスの屈折率と前記シリコン光導
波路部のコア部を構成するシリコンの屈折率との間の屈
折率を有する光学材料を充填することを特徴とする。
ば、石英系ガラス光導波路とシリコン光導波路が同一基
板上で接続される構造を有していることから、例えば、
曲げを含む光干渉回路部を石英系ガラス光導波路で構成
し、屈折率変調部をシリコン光導波路で構成する光回路
を実現できる。しかも、この光導波路の製造方法は、シ
リコンテラス構造による高さ基準面を規定していること
から、石英系ガラス光導波路とシリコン光導波路の高さ
方向の光軸がずれなく接続することが可能であり、か
つ、フォトリソグラフィー工程によりコア部を形成する
ことから横方向の光軸は1μm以下の精度で接続するこ
とが可能となる。さらに、本発明によれば石英系ガラス
光導波路とシリコン光導波路とを間隙なく接続し、又は
間隙が生じてもその間隙が空気である場合でも必要に応
じて屈折率が石英系ガラス光導波路の石英系ガラスコア
の屈折率より高くシリコンより小さい石英系ガラスや光
学ポリマー材料などを埋めることが可能であるため、シ
リコン導波路と空気の間で発生する反射による接続損失
を最小限に抑制できる。従って、本発明の光導波路の製
造方法を用いることにより、石英系ガラス光導波路とシ
リコン光導波路の光軸を一致させて一枚の基板上に集積
することができる。本発明により製造される光導波路
は、石英系ガラス光導波路とシリコン光導波路の接続損
失が最小限に抑制できることから、回路内に接続部を複
数箇所含む複雑な光回路に適用できる。また、本発明の
光導波路の製造方法は、既存のフォトリソグラフィー工
程、エッチング技術および研磨技術を組み合わせて用い
ることから、石英系ガラス光導波路とシリコン光導波路
が低損失で接続された光導波路を歩留り良く製造するこ
とができる。
を詳細に説明する。
製造される光導波路の構造を示す。シリコン基板1上に
石英系ガラス光導波路部とシリコン光導波路部とが間隙
なく直列に接続された構造である。石英系ガラス光導波
路部は矩形のコア6とコアの底面に配置された下部クラ
ッド5、およびコア6の側面と上面に配置された上部ク
ラッド7により構成される。コア6とクラッド5、7は
石英系ガラスで形成される。一方、シリコン光導波路部
はシリコンテラス構造部9の上に位置している。シリコ
ンで形成されたコア4はシリコンテラス構造部9の中に
形成された下部クラッド石英系ガラス層2と、コア4の
側面および上面に形成された上部クラッド石英系ガラス
7で囲まれており、リブ導波路構造である。石英系ガラ
ス光導波路部のコア6とシリコン光導波路部のコア4は
互いに間隙なく接続されている。
ず、シリコン基板1中にイオン注入により酸素イオンを
打ち込み、高温処理によりシリコンの酸化層(または石
英系ガラス層)2を形成し、さらにその上にシリコン層
を設けて、積層体であるSOI基板を作製する。次に、
こうして得られたSOI基板にフォトリソグラフィー工
程およびエッチングを行って、シリコン光導波路部とな
る領域にシリコンテラス構造部9を形成する。ここにお
いて、「シリコンテラス構造部」とは、シリコン基板1
上に一段高くして形成された、上部の平らな台状形状を
有する、シリコン層−石英ガラス層−シリコン層で構成
された三層の構造体をいい、シリコンテラス構造部の
「頂部高さ」とは、そのテラス部分の高さをいう。次
に、膜厚がシリコンテラス構造部9の頂部高さ以上であ
る下部クラッド石英系ガラス層5を火炎堆積法により形
成する。次に、シリコンテラス構造部9上の下部クラッ
ド石英系ガラス層5を研磨して、シリコンテラス構造部
9の頂部領域を除去する。次に、下部クラッド石英系ガ
ラス層5を高さがシリコンテラス構造部9中の石英系ガ
ラス層2の高さと同じになるようエッチングする。次
に、膜厚がシリコンテラス構造部9の頂部高さ以上であ
るコア石英系ガラス層10を火炎堆積法により形成す
る。次に、シリコンテラス構造部9の頂部より上の領域
にあるコア石英系ガラス層を研磨により除去する。最後
に、フォトリソグラフィー工程およびエッチングにより
石英系ガラス光導波路のコア部6とシリコン光導波路部
のコア部4を加工し、それらの上に上部クラッド石英系
ガラス層7を火炎堆積法により形成する。この場合、石
英系ガラス光導波路のコア部6の加工とシリコン光導波
路のコア部4の加工の順番に制限はなく、フォトリソグ
ラフィー工程において同時にマスクを形成して同時にエ
ッチングする方法、もしくは、石英系ガラス導波路部の
コア部6をエッチングにより形成した後にシリコン光導
波路部のコア部4をエッチングにより形成する方法、ま
たは、シリコン光導波路部のコア部4をエッチングによ
り形成した後に石英系ガラス導波路部のコア部6をエッ
チングにより形成する方法が適用可能である。
た光導波路は、石英系ガラス光導波路部の導波路長さが
5cm、比屈折率差が0.75%、コア6の寸法が7×
7μm、下部クラッド石英系ガラス層5の膜厚が20μ
m、上部クラッド石英系ガラス層7の膜厚が30μm、
シリコン光導波路部の全長が5cm、コア4の高さが
5.5μm、コア4の幅が8μm、コア4の下部のシリ
コンスラブ層3の膜厚が1.5μm、石英系ガラス層2
の膜厚が0.5μmであった。この光導波路は、波長
1.55μmにおける損失を測定したところ、石英系ガ
ラス光導波路の伝搬損失が0.1dB/cm、シリコン
光導波路の伝搬損失が0.2dB/cm、石英系ガラス
光導波路とシリコン光導波路の接続損失が0.5dBで
あり、本発明の光導波路の構造および製造方法が石英系
ガラス光導波路とシリコン光導波路を集積した光導波路
を実現する上で有効であることが判明した。
製造される光導波路の構造を示す。石英系ガラス光導波
路部とシリコン光導波路部の構造は実施例1で示した図
1の光導波路の構造と同じであるが、石英系ガラス光導
波路部とシリコン光導波路部の間に50μmの間隙8が
ある。この間隙は上部クラッド石英系ガラス膜により埋
められている。
ず、シリコン基板1中にイオン注入により酸素イオンを
打ち込み、高温度処理によりシリコンの酸化層(石英系
ガラス層)2を形成し、さらにその上にシリコン層を設
けて、積層体であるSOI基板を作製する。次に、こう
して得られたSOI基板にフォトリソグラフィー工程お
よびエッチングを行って、シリコン光導波路部となる領
域にシリコンテラス構造部9を形成する。次に、このシ
リコンテラス構造部9が形成された積層体上に、石英系
ガラス光導波路部の下部クラッド石英系ガラス層5とコ
ア石英系ガラス層10とを、光軸高さに合わせるよう
に、しかも下部クラッド石英系ガラス層5とコア石英系
ガラス層10の積層された合計膜厚がシリコンテラス構
造部9の頂部高さと等しくなるように順次積層する。次
に、シリコンテラス構造部9の頂部より上にある領域お
よびシリコンテラス構造部9の周辺部に位置するコア石
英系ガラス層10が傾斜している領域にあるコア石英系
ガラス層10および下部クラッド石英系ガラス層5をフ
ォトリソグラフィー工程およびエッチングにより除去し
て間隙8を形成する。最後に、フォトリソグラフィー工
程およびエッチングにより石英系ガラス光導波路部のコ
ア6とシリコン光導波路部のコア4を加工し、上部クラ
ッド石英系ガラス層7を火炎堆積法により形成する。こ
の場合、石英系ガラス光導波路部のコア部6の加工とシ
リコン光導波路部のコア部4の加工の順番に制限はな
く、フォトリソグラフィー工程において同時にマスクを
形成して同時にエッチングする方法、もしくは、石英系
ガラス導波路部のコア部6をエッチングにより形成した
後にシリコン光導波路部のコア部4をエッチングにより
形成する方法、または、シリコン光導波路部のコア部4
をエッチングにより形成した後に石英系ガラス導波路部
のコア部6をエッチングにより形成する方法が適用可能
である。
に比べ、一括して下部クラッド石英系ガラス層5および
コア石英系ガラス層10を形成し、フォトリソグラフィ
ー工程およびエッチングにより不要部分を取り除いてい
ることから、作製工程が最小限に少なく、歩留りが高い
という利点を有する。
た光導波路は、石英系ガラス光導波路部の導波路長が5
cm、比屈折率差が0.75%、コア6の寸法が7×7
μm、下部クラッド石英系ガラス層5の膜厚が20μ
m、上部クラッド石英系ガラス層7の膜厚が30μm、
シリコン光導波路部の全長が5cm、コア4の高さが
5.5μm、コア4の幅が8μm、コア4下部のシリコ
ンスラブ層3の膜厚が1.5μm、石英系ガラス層2の
膜厚が0.5μm、石英系ガラス光導波路部とシリコン
光導波路部の間隙8が50μmであった。波長1.55
μmにおける損失を測定したところ、石英系ガラス光導
波路部の伝搬損失が0.1dB/cm、シリコン光導波
路部の伝搬損失が0.2dB/cm、石英系ガラス光導
波路とシリコン光導波路の接続損失が0.8dBであ
り、本発明の光導波路の構造および製造方法が石英系ガ
ラス光導波路とシリコン光導波路を集積した光導波路を
実現する上で有効であることが判明した。
示す。石英系ガラス光導波路部とシリコン光導波路部の
構造は実施例2で示した図3の光導波路の構造と同じで
あるが、石英系ガラス光導波路部とシリコン光導波路部
の間に50μmの間隙8を設けてあり、間隙8には屈折
率を整合させた紫外線硬化樹脂11が充填されている。
り酸素イオンを打ち込み、高温度処理によりシリコンの
酸化層2を形成し、さらにその上にシリコン層3を設け
て、積層体であるSOI基板を作製する。次に、SOI
基板にフォトリソグラフィー工程およびエッチングを行
って、シリコン光導波路部となる領域にシリコンテラス
構造部9を形成する。次に、フォトリソグラフィー工程
およびエッチングによりシリコン光導波路部のコア4を
加工する。次に、コア部4が形成されたシリコンテラス
構造部9を有する積層体上に、石英系ガラス光導波路部
の下部クラッド用石英系ガラス層5とコア用石英系ガラ
ス層10とを、光軸高さに合わせるように、しかも下部
クラッド用石英系ガラス層5とコア用石英系ガラス層1
0との積層された合計膜厚がシリコンテラス構造体9の
頂部高さと等しくなるように順次積層する。次に、フォ
トリソグラフィー工程およびエッチングにより石英系ガ
ラス光導波路部のコア6を加工し、上部クラッド石英系
ガラス層7を火炎堆積法により形成する。次に、シリコ
ンテラス構造部9の周辺部に位置する石英系ガラスコア
6が傾斜している領域にある石英系ガラスコア6および
クラッド石英系ガラス層5をフォトリソグラフィー工程
およびエッチングにより除去する。最後に、石英系ガラ
ス光導波路部とシリコン光導波路部の間に設けた間隙8
に、石英系ガラスコア6とシリコンコア4の屈折率の間
の屈折率を有する紫外線硬化樹脂を充填する。
に比べ、上部クラッド石英系ガラス層7を間隙8に充填
する必要がなくなり、上部クラッド石英系ガラス層7形
成における作製条件を緩和できる。
た光導波路は、石英系ガラス光導波路の導波路長が5c
m、比屈折率差が0.75%、コア6の寸法が7×7μ
m、下部クラッド石英系ガラス層5の膜厚が20μm、
上部クラッド石英系ガラス層7の膜厚が30μm、シリ
コン光導波路部の全長が5cm、コア4の高さが5.5
μm、コア4の幅が8μm、コア4下部のシリコンスラ
ブ層3の膜厚が1.5μm、石英系ガラス層2の膜厚が
0.5μm、石英系ガラス光導波路部とシリコン光導波
路部の間隙8が50μmであった。波長1.55μmに
おける損失を測定したところ、石英系ガラス光導波路部
の伝搬損失が0.1dB/cm、シリコン光導波路部の
伝搬損失が0.2dB/cm、石英系ガラス光導波路部
とシリコン光導波路部の接続損失は間隙8が空気である
場合3.4dBであり、間隙8を屈折率が石英系ガラス
とシリコンの間である紫外線硬化樹脂で充填することに
より接続損失は0.8まで低減された。
石英系ガラス光導波路とシリコン光導波路を集積した光
導波路を実現する上で有効であることが判明した。
を用いて光スイッチ回路を作製した。図6に回路図の概
要を示す。光回路全体はマッハツェンダ干渉計になって
いる。光回路は二個の石英系ガラス光導波路12で形成
された方向性結合器14、シリコン光導波路13で形成
されたアーム導波路、および金属薄膜ヒータ15より構
成されている。光回路の全長は5cmである。光導波路
の構造および製造方法は実施例1と同じである。金属薄
膜ヒータ15は上部クラッド石英系ガラス層7の上にク
ロムを蒸着して作製した。ここでは、金属薄膜ヒータ1
5にCrを用いたが、他の金属の適用も可能である。
特性を測定したところ、挿入損失1.5dB、スイッチ
周波数1MHzを確認できた。従って、本発明の光導波
路および製造方法が低損失で高速応答可能な光スイッチ
に適用可能であることが明らかとなった。
ダ干渉計を用いた光スイッチを示したが、マッハツェン
ダ干渉計を用いた光強度変調器、位相変調器にも適用可
能である。さらに、本発明の光導波路の構造および製造
方法を、光スイッチ、光強度変調器、位相変調器を組み
合わせた大規模光回路、例えば光スイッチをマトリック
ス状に配置したN×Nマトリックススイッチに適用する
ことは、石英系ガラス光導波路の有する回路設計の自由
度が大きいという利点とシリコン光導波路の有する屈折
率変化が高速応答するという利点を最大限発揮できるこ
とから極めて有用である。
に火炎堆積法を用いたが、これは、この方法が、比較的
厚く高品質なガラス膜の堆積に適しているからである。
場合によっては、別のガラス膜合成方法、例えばCVD
法やスパッタ法を一部または全部に用いることもでき
る。また、SOI基板の作製にイオン注入法を用いた
が、シリコン基板と石英系ガラス基板を張り合わせる方
法も有効である。また、石英系ガラス光導波路とシリコ
ン光導波路の間隙部に紫外線硬化樹脂を用いたが、これ
以外でも、例えば、屈折率整合オイル、PMMA等屈折
率が石英系ガラスとシリコンの間の値を有する光学材料
であれば適用できる。また、フォトマスクにおける導波
路の端面を斜めにした斜め端面構造を採用することは、
シリコン光導波路の端面での反射に起因する接続損失を
低減できることから有効である。また、場合によって
は、間隙部の空気の状態でも本発明の目的は達成でき
る。
路の製造方法により製造される光導波路を用いれば、高
速応答する光スイッチ素子等を設計の自由度を妨げるこ
となく実現することができる。また、シリコンテラス構
造を用いていることから高さ方向の基準面が設定されて
おり、かつ、フォトリソグラフィー工程によりコア加工
を行っていることから横方向の光軸ずれが1μm以下と
なり、石英系ガラス光導波路とシリコン光導波路間の接
続部の光軸が精度良く調整できる。その結果、石英系ガ
ラス光導波路とシリコン光導波路を集積した低損失な光
回路を実現することができる。
で製造された光導波路において、(a)構造、(b)コ
アに沿った断面の構造、(c)石英系ガラス光導波路部
のコアに垂直な断面の構造、(d)シリコン光導波路部
のコアに垂直な断面の構造をそれぞれ示す図である。
を説明するためのコアに沿った断面の構造を示す図であ
る。
で製造された光導波路において、(a)構造、(b)コ
アに沿った断面の構造、(c)石英系ガラス光導波路部
のコアに垂直な断面の構造、(d)シリコン光導波路部
のコアに垂直な断面の構造をそれぞれ示す図である。
を説明するためのコアに沿った断面の構造を示す図であ
る。
を説明するためのコアに沿った断面の構造を示す図であ
る。
波路を適用した光スイッチの回路構成を示す図である。
構造、(b)製造方法をそれぞれ示す図である。
造、(b)製造方法をそれぞれ示す図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 光導波路の製造方法であって、 (a)シリコン層と石英系ガラス層とシリコン層との三
層から構成される積層体にフォトリソグラフィー工程お
よびエッチングを行って、シリコン層と石英系ガラス層
とシリコン層とからなるシリコンテラス構造部を形成
し、 (b)前記シリコンテラス構造部が形成された積層体上
に、石英系ガラス光導波路部の下部クラッド用石英系ガ
ラス層を前記シリコンテラス構造部の頂部が覆われるよ
うな膜厚で形成し、前記下部クラッド用石英系ガラス層
を前記シリコンテラス構造部の頂部高さに合わせて研磨
して前記シリコンテラス構造部の頂部より上の領域を除
去し、前記下部クラッド用石英系ガラス層をエッチング
して石英系ガラス用光導波路部の光軸高さを調整して、
石英系ガラス光導波路部の下部クラッドを形成し、 (c)石英系ガラス光導波路部のコア用石英系ガラス層
を前記下部クラッドおよび前記シリコンテラス構造部の
上に前記シリコンテラス構造部の頂部が覆われるような
膜厚で形成し、前記コア用石英系ガラス層を前記シリコ
ンテラス構造部の頂部高さに合わせて研磨してシリコン
テラス構造部の頂部より上の領域を除去し、前記コア用
石英系ガラス層と前記シリコンテラス構造部のシリコン
層をフォトリソグラフィー工程およびエッチングにより
加工して、石英系ガラス光導波路部のコア部およびシリ
コン光導波路部のコア部を形成し、 (d)前記石英系ガラス光導波路部のコア部の上部周辺
および前記シリコン光導波路部のコア部の上部周辺に上
部クラッド用石英系ガラス層を形成して、石英系ガラス
光導波路部の上部クラッドおよびシリコン光導波路部の
上部クラッドを形成することを特徴とする光導波路の製
造方法。 - 【請求項2】 光導波路の製造方法であって、 (a)シリコン層と石英系ガラス層とシリコン層との三
層から構成される積層体にフォトリソグラフィー工程お
よびエッチングを行って、シリコン層と石英系ガラス層
とシリコン層とからなるシリコンテラス構造部を形成
し、 (b)前記シリコンテラス構造部が形成された積層体上
に、石英系ガラス光導波路部の下部クラッド用石英系ガ
ラス層と該コア用石英系ガラス層とを、光軸高さに合わ
せるように、しかも前記下部クラッド用石英系ガラス層
と前記コア用石英系ガス層の積層された合計膜厚が前記
シリコンテラス構造部の頂部高さと等しくなるように順
次積層し、 (c)前記シリコンテラス構造部の頂部より上の領域、
および前記シリコンテラス構造部の周辺において前記下
部クラッド用石英系ガラス層と前記コア用石英系ガラス
層との積層構造が傾斜している領域にある前記コア用石
英系ガラス層および前記下部クラッド用石英系ガラス層
をフォトリソグラフィー工程およびエッチングにより除
去して、前記下部クラッド用石英系ガラス層と前記コア
用石英系ガラス層とからの構造と前記シリコンテラス構
造部との間に間隙を形成し、 (d)前記コア用石英系ガラス層および前記シリコンテ
ラス構造部の最上層のシリコン層をフォトリソグラフィ
ー工程およびエッチングにより加工して、石英系ガラス
光導波路部のコア部およびシリコン光導波路部のコア部
を形成し、 (e)前記石英系ガラス光導波路部のコア部および前記
シリコン光導波路部のコア部の上部周辺および前記間隙
に上部クラッド用石英系ガラス層を形成して、石英系ガ
ラス光導波路部とシリコン光導波路部の上部クラッドを
形成することを特徴とする光導波路の製造方法。 - 【請求項3】 光導波路の製造方法であって、 (a)シリコン層と石英系ガラス層とシリコン層との三
層から構成される積層体にフォトリソグラフィー工程お
よびエッチングを行って、シリコン層と石英系ガラス層
とシリコン層とからなるシリコンテラス構造部を形成
し、 (b)前記シリコンテラス構造部の最上層のシリコン層
をフォトリソグラフィー工程およびエッチングを用いて
加工して、該シリコン層上にシリコン光導波路部のコア
部を形成し、 (c)前記コア部の形成されたシリコンテラス構造部を
有する積層体上に、石英系ガラス光導波路部の下部クラ
ッド用石英系ガラス層と該コア用石英系ガラス層とを、
光軸高さに合わせるように、しかも前記下部クラッド用
石英系ガラス層と前記コア用石英系ガス層との積層され
た合計膜厚が前記シリコンテラス構造部の高さと等しく
なるように順次積層し、 (d)前記石英系ガラス光導波路部のコア用石英系ガラ
ス層にフォトリソグラフィー工程およびエッチングを行
って石英系ガラス光導波路部のコア部を形成し、 (e)前記石英系ガラス光導波路部のコア部および前記
シリコン光導波路部のコア部を覆うようにして、上部ク
ラッド用石英系ガラス層を形成して、石英系ガラス光導
波路部とシリコン光導波路部の上部クラッド層を形成
し、 (f)前記シリコンテラス構造部の周辺において前記石
英系ガラス光導波路部のコア用石英系ガラス層が傾斜し
ている領域にある前記コア用石英系ガラス層前記下部ク
ラッド用石英系ガラス層および前記石英系ガラス光導波
路部の上部クラッド用石英系ガラス層をフォトリソグラ
フィー工程およびエッチングにより除去して、前記石英
系ガラス光導波路部と前記シリコン光導波路部との間に
間隙を形成し、 (g)前記間隙に、前記石英系ガラス光導波路部のコア
部を構成する石英系ガラスの屈折率と前記シリコン光導
波路部のコア部を構成するシリコンの屈折率との間の屈
折率を有する光学材料を充填することを特徴とする光導
波路の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27821696A JP3343846B2 (ja) | 1996-10-21 | 1996-10-21 | 光導波路の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27821696A JP3343846B2 (ja) | 1996-10-21 | 1996-10-21 | 光導波路の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10123341A JPH10123341A (ja) | 1998-05-15 |
JP3343846B2 true JP3343846B2 (ja) | 2002-11-11 |
Family
ID=17594230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27821696A Expired - Fee Related JP3343846B2 (ja) | 1996-10-21 | 1996-10-21 | 光導波路の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3343846B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2002014242A (ja) * | 2000-06-28 | 2002-01-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光導波路装置 |
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JP4522340B2 (ja) * | 2005-08-01 | 2010-08-11 | シャープ株式会社 | 平面導波路素子 |
JP6091883B2 (ja) | 2012-12-19 | 2017-03-08 | 株式会社東芝 | 集光体及び太陽電池 |
US9588291B2 (en) * | 2013-12-31 | 2017-03-07 | Medlumics, S.L. | Structure for optical waveguide and contact wire intersection |
-
1996
- 1996-10-21 JP JP27821696A patent/JP3343846B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
G.V.Treyz et.al.,Electronics Letters,1991年1月17日,Vol.27 No.2,pp.118−120 |
U.Fischer et.al.,Electronics Letters,1994年3月3日,Vol.30 No.5,pp.406−407 |
U.Fischer et.al.,IEEE Photonics Technology Letters,Vol.8 No.5(May 1996),pp647−648 |
U.Fischer et.al.,Proceedings of 1995 IEEE International SOI Conference,Oct.1995,pp.141−142 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10123341A (ja) | 1998-05-15 |
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