JP3227365B2 - Appearance inspection method and apparatus for printed board unit - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】本発明はプリント板ユニット
の外観検査方法及び装置に関し、特にSMTプリント板
ユニットの部品実装不良や半田付け不良等の製造不良を
検査する方法及び装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for inspecting the appearance of a printed circuit board unit, and more particularly to a method and an apparatus for inspecting an SMT printed circuit board unit for defective production such as defective component mounting or defective soldering.
【0001】プリント板ユニットは一般に部品実装や半
田付け処理が機械によって自動的に行われることが多い
ため、その実装不良や半田付け不良が発生することがあ
り、このような不良状態を検査する方法及び装置が必要
になっている。Generally, a printed circuit board unit is often subjected to component mounting and soldering processing automatically by a machine, so that a mounting defect or a soldering defect may occur. And equipment is needed.
【0002】[0002]
【従来の技術】SMTプリント板ユニットの部品実装不
良や半田付け不良等の製造不良を検査する装置として
は、従来より、テレビカメラ等の光学的手段で検査対象
の外観形状を検知し、予め実験等により求めて設定され
た良品状態と比較して不良状態を検出する自動外観検査
機や、電気的に搭載部品の定数や導通状態を測定し、予
め実験等により求めて設定された良品値と比較して不良
を検出するインサーキットテスタ(以下、ICTと略称
することがある)がある。2. Description of the Related Art Conventionally, as an apparatus for inspecting a manufacturing defect such as a component mounting defect or a soldering defect of an SMT printed circuit board unit, an external shape of an inspection target is detected by an optical means such as a television camera, and an experiment is performed in advance. An automatic visual inspection machine that detects a defective state by comparing it with a non-defective state set by a non-defective product, etc., and electrically measures the constants and continuity of mounted components, and determines a non-defective value determined in advance through experiments and the like There is an in-circuit tester (hereinafter sometimes abbreviated as ICT) that detects a defect by comparison.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】この内、自動外観検査
機は目視による官能検査を機械化したものであるため、
目視検査結果と一致しない判定結果が生じる。Among them, the automatic appearance inspection machine is a machine which is obtained by mechanizing a visual sensory inspection.
A determination result that does not match the visual inspection result occurs.
【0004】すなわち、図13は、IC(集積回路)リ
ードの半田付け状態の判定例を示したもので、リードが
浮いて接合不良となっている状態(同図(1))の上面
をテレビカメラで撮像した時の画像が同図(2)に示さ
れているが、これは、半田量が多い場合の正常接合箇所
(同図(3))の上面をテレビカメラで撮像した時の画
像(同図(4))に類似しており、外観検査機は、不良
を見逃さないようにするため正常接合状態(同図
(4))も不良と判定してしまう。FIG. 13 shows an example of the determination of the soldering state of an IC (integrated circuit) lead. The image taken by the camera is shown in FIG. 2B, which is the image taken by the television camera of the top surface of the normal joint (FIG. 3C) when the amount of solder is large. Similar to ((4) in FIG. 4), the appearance inspection machine determines that the normal bonding state ((4) in FIG. 4) is also defective in order not to overlook the defect.
【0005】このように一般的に、自動外観検査機の不
良判定には良品も多数含まれ得るということで、自動外
観検査による不良判定箇所を、図14に示すように自動
外観検査機20からのプリンタ出力結果201を基に目
視で再検査(ベリファイ)して検査結果内容202を得
ることにより補完修正する従来方式(1)や、図15に
示すように自動外観検査機20のデータ格納ファイル2
03に記憶された検査結果(不良)データとXYステー
ジ付目視検査支援装置204を用いて、XYステージを
移動させ、拡大表示された不良判定箇所を目視で再検査
することにより補完修正する従来方式(2)が採用され
ている。[0005] As described above, in general, many defective products can be included in the defect judgment of the automatic appearance inspection machine. Therefore, the defect judgment places by the automatic appearance inspection are determined by the automatic appearance inspection machine 20 as shown in FIG. The conventional method (1), in which the inspection result contents 202 are obtained by visually re-inspection (verification) based on the printer output result 201 of the above (1), and the data storage file of the automatic appearance inspection machine 20 as shown in FIG. 2
A conventional method in which the XY stage is moved using the inspection result (defective) data stored in the storage unit 03 and the visual inspection support device with an XY stage 204, and the defect determination portion displayed in an enlarged manner is visually inspected again to complement and correct it. (2) is adopted.
【0006】このように自動外観検査による不良判定箇
所が多い場合は、再検査に多大な工数が割かれてしま
い、自動検査を採用したメリットが薄れる。[0006] When there are many defective judgment points by the automatic appearance inspection as described above, a large number of steps are required for re-inspection, and the advantage of employing the automatic inspection is diminished.
【0007】一方、上記のインサ−キットテスタも製造
不良を電気的に検出するものとして有効な手段である
が、微細化/高密度化した表面実装プリント板ユニット
では、専用フィクスチャによるプロービングが困難とな
り、適用率が低下している。On the other hand, the above-mentioned in-circuit tester is also an effective means for electrically detecting a manufacturing defect, but it is difficult to probe with a dedicated fixture in a miniaturized / high-density surface mount printed circuit board unit. , And the application rate is decreasing.
【0008】移動式(フライング)プローブによるフィ
クスチャレスタイプのインサーキットテスタも市販され
ているが、試験時間がかかる為、量産製品には不向きで
あるという欠点がある。[0008] A fixtureless type in-circuit tester using a movable (flying) probe is also commercially available, but has a drawback that it is not suitable for mass-produced products due to the long test time.
【0009】さらに、インサーキットテストに自動外観
検査機能を備えた装置は、すでに市場に提供されている
が、これらは検査項目を分担して検査を実行させるもの
であり、自動外観検査による不良判定箇所を自動的に再
検査するものではない。Further, devices having an automatic appearance inspection function in the in-circuit test have already been provided on the market. However, these devices share inspection items and execute inspections. It does not automatically re-examine the location.
【0010】したがって本発明は、自動外観検査機と移
動プローブ式インサーキットテスタとを組み合わせるこ
とで、目視による再検査(ベリファイ)を自動化するこ
とにより、プリント板ユニット検査の自動化率向上を図
ったプリント板ユニットの外観検査方法及び装置を実現
することを目的としている。Therefore, the present invention is to improve the automation rate of printed circuit board unit inspection by automating visual re-inspection (verification) by combining an automatic appearance inspection machine and a moving probe type in-circuit tester. An object of the present invention is to realize a method and an apparatus for inspecting the appearance of a plate unit.
【0011】[0011]
〔1〕上記の目的を達成するため、本発明に係るプリン
ト板ユニットの外観検査方法では、被検査プリント板ユ
ニットを外観検査用テストデータに従って外観検査機に
より外観検査して不良検出データを生成し、インサーキ
ットテスタ用テストデータにおける該不良検出データ中
の部品番号と同じ部品番号のテストデータだけを抽出し
た自動ベリファイ用テストデータを生成し、該被検査プ
リント板ユニットを該自動ベリファイ用テストデータに
対する部品について移動プローブ式のインサーキットテ
スタにより再検査し、該再検査データと該自動ベリファ
イ用テストデータとを比較することにより最終の不良判
定結果を出力する、ことを特徴としている。[1] In order to achieve the above object, in the method for inspecting the appearance of a printed circuit board unit according to the present invention, the appearance of a printed circuit board unit to be inspected is inspected by an appearance inspection machine in accordance with test data for appearance inspection to generate defect detection data. Generating test data for automatic verification by extracting only test data having the same part number as the part number in the failure detection data in the test data for the in-circuit tester, and connecting the inspection target printed circuit board unit to the test data for automatic verification. The component is re-inspected by a moving probe type in-circuit tester, and the final failure judgment result is output by comparing the re-inspection data with the test data for automatic verification.
【0012】すなわち、本発明方法においては、被検査
プリント板ユニットをテストデータに従って外観検査機
で不良検出する。That is, according to the method of the present invention, a defect is detected by a visual inspection machine in accordance with test data.
【0013】そして、外観検査機による不良判定箇所を
移動プローブ式のインサーキットテスタ(ICT)で検
査させることで、不良箇所の再検査(ベリファイ)の自
動化を図ったものである。[0013] Then, the defective inspection portion is inspected by a moving probe type in-circuit tester (ICT) by an appearance inspection machine, thereby automating re-inspection (verification) of the defective portion.
【0014】この場合、移動プローブ式インサーキット
テスタは、テストデ−タの手順に従い検査を実行して行
き、本発明では、検査結果の不良データ中の部品番号を
キ−にしてテストデータ中の特定部品番号のデータだけ
を抽出し、外観検査で不良となった部品のみを試験す
る。In this case, the moving probe type in-circuit tester performs the inspection in accordance with the procedure of the test data, and in the present invention, the part number in the defect data of the inspection result is used as a key to specify the test data. Only the part number data is extracted, and only the parts that have failed in the appearance inspection are tested.
【0015】検査結果は、最終の不良判定結果として不
良結果検出格納ファイルやプリンタに出力される。The inspection result is output to a failure result detection storage file or a printer as a final failure determination result.
【0016】〔2〕上記〔1〕において、該自動ベリフ
ァイ用テストデータを生成する前に、該不良検出データ
とインサーキットテスタ用ベリファイ対象不良コードと
を比較して目視検査用データを予め分離しておき、該目
視検査用データを用いて目視支援装置により目視検査
し、その検査結果を該最終の不良判定結果と結合するこ
ともできる。[2] In the above [1], before the test data for automatic verification is generated, the defect detection data is compared with the defect code to be verified for the in-circuit tester to separate the visual inspection data in advance. In addition, it is also possible to perform a visual inspection using the visual inspection data using a visual assistance device and combine the inspection result with the final failure determination result.
【0017】〔3〕また、上記の本発明方法の実施に使
用される本発明に係るプリント板ユニットの外観検査装
置では、被検査プリント板ユニットをファイルに予め格
納された外観検査用テストデータに従って外観検査して
不良検出データを生成する外観検査機と、ファイルに予
め格納されたインサーキットテスタ用テストデータにお
ける該不良検出データ中の部品番号と同じ部品番号のテ
ストデータだけを抽出した自動ベリファイ用テストデー
タを生成するデータ処理部と、該被検査プリント板ユニ
ットを該自動ベリファイ用テストデータの部品について
再検査し、該再検査データと該自動ベリファイ用テスト
データとを比較することにより最終の不良判定結果を出
力する移動プローブ式のインサーキットテスタと、を備
えたことを特徴としている。[3] Further, in the appearance inspection apparatus for a printed board unit according to the present invention used for carrying out the above-described method of the present invention, the printed board unit to be inspected is subjected to appearance inspection test data stored in a file in advance. Appearance inspection machine for inspecting appearance and generating defect detection data, and automatic verification for extracting only test data with the same part number as the part number in the defect detection data in the test data for the in-circuit tester stored in a file in advance A data processing unit for generating test data; retesting the inspected printed circuit board unit with respect to the components of the test data for automatic verification; comparing the retest data with the test data for automatic verification to determine the final failure; A moving probe-type in-circuit tester that outputs a determination result. To have.
【0018】すなわち、本発明装置においては、被検査
プリント板ユニットは予めファイルに格納されたテスト
データに従って外観検査機で不良検出が行われ、その結
果は検査結果ファイルに格納される。That is, in the apparatus of the present invention, the printed circuit board unit to be inspected is subjected to defect detection by the appearance inspection machine according to the test data stored in the file in advance, and the result is stored in the inspection result file.
【0019】そして本発明では、外観検査機の不良判定
箇所を移動プローブ式のインサーキットテスタで検査さ
せる。移動プローブ式インサーキットテスタは、テスト
データファイルに格納されたテストデ−タの手順に従い
検査を実行して行く。According to the present invention, the defect determination portion of the visual inspection machine is inspected by a moving probe type in-circuit tester. The mobile probe type in-circuit tester performs the test according to the procedure of the test data stored in the test data file.
【0020】本発明のデータ処理部では、検査結果ファ
イルの不良データ中の部品番号と同じテストデータ中の
特定部品番号のデータだけを抽出し、外観検査で不良と
なった部品のみを試験するベリファイ用テストデータを
構成する回路を付加する。インサーキットテスタはこの
テストデータに従い検査を実行する。検査結果は、最終
の不良判定結果として不良結果検出格納ファイルやプリ
ンタに出力される。The data processing section of the present invention extracts only the data of the specific part number in the test data which is the same as the part number in the failure data of the inspection result file, and verifies only the parts which failed in the appearance inspection. A circuit that constitutes test data is added. The in-circuit tester performs an inspection according to the test data. The inspection result is output to a failure result detection storage file or a printer as a final failure determination result.
【0021】〔4〕上記〔3〕において、該データ処理
部は、該不良検出データから部品番号を読み出して格納
する第1のデータ読み出し用レジスタと、該インサーキ
ットテスタ用テストデータから部品番号及びそのテスト
パラメータを読み出して格納する第2のデータ読み出し
用レジスタと、両レジスタに格納されたデータ中の部品
番号を比較して一致したもののみを検出する比較器と、
該比較器で検出された一致部品番号とそのテストパラメ
ータを格納し該自動ベリファイ用テストデータとして出
力するデータ書き込み用レジスタと、を備えることがで
きる。[4] In the above [3], the data processing unit reads a part number from the failure detection data and stores the data, and a part number and a part number based on the in-circuit tester test data. A second data reading register for reading and storing the test parameter, a comparator for comparing the part numbers in the data stored in both registers and detecting only a matching part number,
A data write register for storing the matching part number detected by the comparator and its test parameter and outputting the same as the automatic verification test data can be provided.
【0022】〔5〕さらに上記〔3〕において、該デー
タ処理部は、該不良検出データとファイルに予め格納さ
れたインサーキットテスタ用ベリファイ対象不良判定デ
ータとを比較して目視検査用データを予め分別する検査
結果分別部を含み、該目視検査用データを用いて目視支
援装置により目視検査し、該データ処理部がその目視検
査結果を該最終の不良判定結果と結合することができ
る。[5] Further, in the above [3], the data processing section compares the defect detection data with the in-circuit tester verification target defect determination data stored in the file in advance to store the visual inspection data in advance. Including an inspection result classification unit for performing classification, the visual inspection device performs a visual inspection using the visual inspection data, and the data processing unit can combine the visual inspection result with the final failure determination result.
【0023】〔6〕さらに上記〔5〕において、該検査
結果分別回路は、該インサーキットテスタで試験できる
不良コードを読み出して格納するデータ読み出し用レジ
スタと、部品番号、不良コード、及び位置座標で構成さ
れる該不良判定データを読み出して格納するデータレジ
スタと、各々のレジスタの不良判定データを比較し、そ
の結果に応じて切替え動作を行うスイッチ部と、該スイ
ッチ部を通して分離・格納され、自動ベリファイ対象の
不良判定結果と目視ベリファイ対象の不良判定結果とし
て出力するデータ書き込みレジスタとを有することがで
きる。[6] Further, in the above [5], the inspection result discriminating circuit includes a data reading register for reading and storing a defect code that can be tested by the in-circuit tester, and a part number, a defect code, and a position coordinate. A data register configured to read and store the failure determination data, a switch unit that compares the failure determination data of each register, and performs a switching operation according to the result, A data write register that outputs the result of the determination of the defect to be verified and the result of the determination of the defect to be visually verified can be provided.
【0024】[0024]
【発明の実施の形態】図1に本発明に係るプリント板ユ
ニットの外観検査方法を実施するための自動ベリファイ
機能付きの自動外観検査装置の実施例を示し、この実施
例では、まず、プリント板ユニット1とプリント板ユニ
ット1の上部を移動して部品や半田を撮像するテレビカ
メラ2とプリント板ユニット1の部品電極に接触して電
気信号の入出力を行う移動プローブ3〜5とを用意す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows an embodiment of an automatic appearance inspection apparatus having an automatic verifying function for carrying out a method for inspecting the appearance of a printed circuit board unit according to the present invention. A television camera 2 for moving the unit 1 and the upper part of the printed board unit 1 to image components and solder and moving probes 3 to 5 for contacting component electrodes of the printed board unit 1 and inputting and outputting electric signals are prepared. .
【0025】さらに、種々のファイルの集合ファイルで
あるデータファイル11と、テストデータや検査結果の
転送とデータ処理を行うデータ処理部12と、テレビカ
メラ2とプローブ3〜5の移動を制御するXYテーブル
制御部13と、画像処理部14a及び判定部14bを備
えテレビカメラ2で撮像された画像を処理し、検査の実
行と良否判定を行う外観検査実行部14と、切替機15
a、測定部15b及び判定部15cを備えプローブ3〜
5を介して入出力する電気信号の切り替えと測定及び良
否判定を行うインサーキットテスト実行部15と、を備
えている。Further, a data file 11 which is a set file of various files, a data processing unit 12 for transferring test data and inspection results and data processing, and an XY for controlling the movement of the television camera 2 and the probes 3 to 5 A table control unit 13, an appearance inspection execution unit 14 including an image processing unit 14 a and a determination unit 14 b, which processes an image captured by the television camera 2 to execute inspection and determine pass / fail;
a, probes 3 to 3 including a measuring unit 15b and a determining unit 15c
And an in-circuit test execution unit 15 that performs switching of the electrical signal input / output via the input / output 5, measurement, and quality judgment.
【0026】また、データファイル11は、(1)プリ
ント板ユニット1上の部品及びその部品の半田付け箇所
を外観検査する為に予め実験等に基づいて作成した外観
検査用テストデータファイルと、(2)外観検査を行う
部品と同じ部品をインサーキットテストする為に予め作
成したICT用テストデータファイルと、(3)外観検
査の不良判定内容(不良部品番号、不良コード、位置座
標)で構成される外観検査結果(データ)ファイルと、
(4)外観検査結果とICT用テストデータで作成する
自動ベリファイ用テストデータファイルと、(5)IC
Tで検査をおこなった後の不良判定内容で構成される最
終判定結果(データ)ファイル、とを含んでいる。The data file 11 includes (1) a test data file for appearance inspection prepared in advance based on experiments and the like for inspecting the appearance of components on the printed circuit board unit 1 and the soldered portions of the components. 2) It is composed of an ICT test data file created in advance for performing the in-circuit test on the same part as the part to be inspected, and (3) the defect determination contents (defective part number, defect code, position coordinates) of the appearance inspection. Visual inspection result (data) file
(4) Test data file for automatic verification created based on the appearance inspection result and test data for ICT, and (5) IC
And a final judgment result (data) file composed of the contents of the defect judgment after the inspection at T.
【0027】なお、テレビカメラ2と外観検査実行部1
4とで自動外観検査機を構成している。The television camera 2 and the appearance inspection execution unit 1
4 together form an automatic visual inspection machine.
【0028】この実施例の動作を図2により説明する。
被検査プリント板ユニット1がセットされると、データ
ファイル11内の該当する外観検査用テストデータ11
1を外観検査実行部14にロード(a)する。自動外観
検査機20を構成する外観検査実行部14は、データフ
ァイル11内の外観検査用テストデータファイル111
のテストデータに従ってテレビカメラ2を移動させ、実
装部品及び半田部を撮像し、撮像した画像データとテス
トパラメータ(内容)を基に良品状態との比較判定を行
い、不良内容を外観検査結果としてデータファイル1
12に格納(b)する。ここまでは従来の自動外観検査
機と同じである。The operation of this embodiment will be described with reference to FIG.
When the printed board unit 1 to be inspected is set, the corresponding test data 11 for appearance inspection in the data file 11 are set.
1 is loaded (a) into the appearance inspection execution unit 14. The appearance inspection execution unit 14 included in the automatic appearance inspection machine 20 includes a test data file 111 for appearance inspection in the data file 11.
The TV camera 2 is moved in accordance with the test data of (1), the mounted part and the soldered part are imaged, a comparison is made with the non-defective state based on the imaged image data and the test parameters (contents), and the content of the defect is output as the appearance inspection result File 1
12 (b). Up to this point, it is the same as the conventional automatic appearance inspection machine.
【0029】次に、ICT用テストデータファイル11
3に予め格納されている該当するICT用テストデータ
と上記の外観検査結果とを用いて、外観検査で不良
判定した部品だけをインサーキットテストするための自
動ベリファイ用テストデータを自動ベリファイ用テス
トデータ作成部22で作成し、データファイル114に
格納(c)する。Next, the ICT test data file 11
3 using the relevant ICT test data stored in advance and the above-mentioned appearance inspection results, the automatic verification test data for performing an in-circuit test only on the parts determined to be defective in the appearance inspection. It is created by the creating unit 22 and stored in the data file 114 (c).
【0030】すなわち、この実施例では、検査結果ファ
イル112の不良データ中の部品種別番号(以後 部品
番号と称する)をキ−に、テストデータファイル113
中の特定部品番号のデータだけを抽出し、外観検査で不
良となった部品番号のみを試験するベリファイ用テスト
データを生成している。That is, in this embodiment, the test data file 113 is used as the key to the part type number (hereinafter referred to as the part number) in the defect data of the inspection result file 112.
Only the data of the specific part number in the data is extracted, and verification test data for testing only the part number which is defective in the appearance inspection is generated.
【0031】自動ベリファイ用テストデータは、イン
サーキットテスト実行部15にロードされ、外観検査で
不良判定した部品だけを移動プローブICT30がテス
トデータファイル114に格納されたテストデ−タの手
順に従いプロービングしながらインサーキットテストを
実行する。The test data for automatic verification is loaded into the in-circuit test execution unit 15, and only the parts determined to be defective by the appearance inspection are probed by the moving probe ICT 30 in accordance with the procedure of the test data stored in the test data file 114. Perform an in-circuit test.
【0032】試験結果は、最終判定結果としてデータフ
ァイル115に格納するとともに目視のため不良検出結
果格納プリント23として出力(d)される。The test result is stored in the data file 115 as a final judgment result and is output (d) as a defect detection result storage print 23 for visual inspection.
【0033】図3は、図2に示した自動ベリファイテス
トデータ作成部22の実施例を示したもので、この実施
例では、3つのレジスタ部221〜223と比較器22
4とを含んでいる。FIG. 3 shows an embodiment of the automatic verify test data creating section 22 shown in FIG. 2. In this embodiment, three register sections 221 to 223 and a comparator 22 are provided.
4 is included.
【0034】概略的には、まず、データ読み出しレジス
タ部221は、外観検査結果ファイル112よりアドレ
スカウンタAC1が示すアドレスの部品番号データを読
み出してレジスタR1に格納する。Schematically, first, the data read register section 221 reads the part number data of the address indicated by the address counter AC1 from the appearance inspection result file 112 and stores it in the register R1.
【0035】また、データ読み出しレジスタ部222で
は、ICT用テストデータファイル113より、アドレ
スカウンタAC2が示すアドレスの部品番号データとテ
ストパラメータデータ(内容)を読み出してそれぞれレ
ジスタR2−1とR2−2に格納する。The data read register 222 reads out the part number data and the test parameter data (contents) of the address indicated by the address counter AC2 from the ICT test data file 113 and stores them in the registers R2-1 and R2-2, respectively. Store.
【0036】レジスタR1に格納された部品番号データ
とレジスタR2−1に格納された部品番号データは、比
較器224で照合される。データが一致しない場合は、
アドレスカウンタAC2をカウントアップし、次のアド
レスが示す部品番号データをICT用テストデータファ
イル113より読み出す。データが一致する場合は、レ
ジスタR2−1,R2−2にそれぞれ格納された部品番
号データとテストパラメータデータは、 データ書き込み
レジスタ部223を経由し、アドレスカウンタAC3が
示す自動ベリファイ用テストデータファイル114に格
納される。The comparator 224 compares the part number data stored in the register R1 with the part number data stored in the register R2-1. If the data does not match,
The address counter AC2 is counted up, and the part number data indicated by the next address is read from the ICT test data file 113. If the data match, the part number data and the test parameter data stored in the registers R2-1 and R2-2 pass through the data write register unit 223, and pass through the automatic verification test data file 114 indicated by the address counter AC3. Is stored in
【0037】データ読み出しレジスタ部221のアドレ
スカウンタAC1はカウントアップされ、データ読み出
しレジスタ部222のアドレスカウンタAC2はリセッ
トされる。以降、同様の動作を繰り返す。The address counter AC1 of the data read register 221 is counted up, and the address counter AC2 of the data read register 222 is reset. Thereafter, the same operation is repeated.
【0038】図4は、自動ベリファイ用テストデータ
の作成処理フローチャートを示したもので、外観検査結
果ファイル112及びICT用テストデータファイル1
13のデータの最後に終端コードを設けた場合の処理フ
ローを示している。FIG. 4 is a flow chart of a process for generating test data for automatic verification, and shows the appearance inspection result file 112 and the ICT test data file 1.
13 shows a processing flow in the case where a termination code is provided at the end of data No. 13.
【0039】まず、アドレスカウンタAC1に初期値を
セットし(A1←a1)(ステップS1)、アドレスカ
ウンタAC3に初期値をセットし(A3←a3)(ステ
ップS2)、そして、外観検査結果ファイル112のア
ドレス(A1)に格納された部品番号をレジスタR1に
セットする(ステップS3)。First, an initial value is set in the address counter AC1 (A1 ← a1) (step S1), an initial value is set in the address counter AC3 (A3 ← a3) (step S2), and the appearance inspection result file 112 is set. The part number stored at the address (A1) is set in the register R1 (step S3).
【0040】そして、レジスタR1=終端コードである
か否かを判定し(ステップS4)、“YES”の場合に
はこのフローチャートを出るが、“NO”の場合には、
アドレスカウンタAC2に初期値をセットする(A2←
a2)(ステップS5)。Then, it is determined whether or not the register R1 = termination code (step S4). If “YES”, the process exits the flowchart.
An initial value is set in the address counter AC2 (A2 ←
a2) (Step S5).
【0041】そして、ICT用テストデータファイル1
13のアドレス(A2)に格納された部品番号をレジス
タR2−1に格納し、テストパラメータをレジスタR2
−2に格納する(ステップS6)。Then, the ICT test data file 1
13 is stored in the register R2-1, and the test parameter is stored in the register R2.
-2 (step S6).
【0042】そして、レジスタR2−1=終端コードで
あるか否かを判定し(ステップS7)、“YES”の場
合にはステップS13に進んでアドレスカウンタAC1
を「1」だけインクリメントするが、“NO”の場合に
はレジスタR1=レジスタR2−1であるか否かを判定
する(ステップS8)。Then, it is determined whether or not the register R2-1 = termination code (step S7). If "YES", the flow advances to step S13 to advance to the address counter AC1.
Is incremented by “1”, but if “NO”, it is determined whether or not register R1 = register R2-1 (step S8).
【0043】この結果、“NO”の場合にはアドレスカ
ウンタAC2を「1」だけインクリメントする(ステッ
プS9)が、“YES”の場合には、レジスタR2−1
の内容をレジスタR3−1に転送し、レジスタR2−2
の内容をレジスタR3−2に転送する(ステップS1
0)。As a result, if "NO", the address counter AC2 is incremented by "1" (step S9), but if "YES", the register R2-1 is incremented.
Is transferred to the register R3-1, and the contents of the register R2-2 are transferred to the register R2-2.
Is transferred to the register R3-2 (step S1).
0).
【0044】また、自動ベリファイ用テストデータファ
イル114のアドレス(A3)の部品番号格納エリアに
レジスタR3−1の内容を格納し、テストパラメータ格
納エリアにレジスタR3−2の内容を格納する(ステッ
プS11)。The contents of the register R3-1 are stored in the part number storage area of the address (A3) of the automatic verification test data file 114, and the contents of the register R3-2 are stored in the test parameter storage area (step S11). ).
【0045】そして、アドレスカウンタAC3及びAC
1をそれぞれ「1」だけインクリメントする(ステップ
S12,S13)The address counters AC3 and AC3
1 is incremented by "1" (steps S12 and S13).
【0046】図5も図4と同様に、自動ベリファイ用テ
ストデータの作成処理フローチャートを示したもので
あるが、ここでは特に各ファイルの先頭にデータ数を格
納するエリアを設けた場合の処理フローチャートを示し
ている。FIG. 5 is a flow chart of a process for creating test data for automatic verification, similarly to FIG. 4. In this case, a process flowchart particularly when an area for storing the number of data is provided at the head of each file is shown. Is shown.
【0047】すなわち、まず、アドレスカウンタAC1
に初期値をセットし(A1←a1)(ステップS2
0)、アドレスカウンタAC2に初期値をセットし(A
2←a2)(ステップS21)、そしてアドレスカウン
タAC3に初期値をセットする(A2←a2)(ステッ
プS22)。That is, first, the address counter AC1
Is set to the initial value (A1 ← a1) (step S2
0), the initial value is set in the address counter AC2 (A
2 ← a2) (step S21), and set an initial value in the address counter AC3 (A2 ← a2) (step S22).
【0048】次に、外観検査結果ファイル112のアド
レス(a1)に格納されたデータ数(M)を読み出し
(ステップS23)、ICT用テストデータファイル1
13のアドレス(a2)に格納されたデータ数(N)を
読み出す(ステップS24)。Next, the number of data (M) stored at the address (a1) of the visual inspection result file 112 is read (step S23), and the ICT test data file 1 is read.
The number of data (N) stored in the address (a2) of No. 13 is read (step S24).
【0049】さらに、外観検査結果ファイル112のア
ドレス(A1)に格納された部品番号をレジスタR1に
セットし(ステップS25)、ICT用テストデータフ
ァイル113のアドレス(A2)に格納された部品番号
をレジスタR2−1に、テストパラメータをレジスタR
2−2にそれぞれ格納する(ステップS26)。Further, the part number stored in the address (A1) of the visual inspection result file 112 is set in the register R1 (step S25), and the part number stored in the address (A2) of the ICT test data file 113 is stored. The test parameter is stored in the register R2-1.
2-2 are stored (step S26).
【0050】そして、レジスタR1=レジスタR2−1
であるか否かを判定し(ステップS27)、“NO”で
あれば続くステップS28〜S30を飛ばすが、“YE
S”の場合には、レジスタR2−1の内容をレジスタR
3−1へ転送し、レジスタR2−2の内容をレジスタR
3−2へ転送する(ステップS28)。Then, register R1 = register R2-1
Is determined (step S27). If “NO”, the subsequent steps S28 to S30 are skipped, but “YE
S ", the contents of the register R2-1 are stored in the register R2-1.
3-1 and transfer the contents of register R2-2 to register R
Transfer to 3-2 (step S28).
【0051】そして、自動ベリファイ用テストデータフ
ァイル114のアドレス(A3)の部品番号格納エリア
にレジスタR3−1の内容を格納し、テストパラメータ
格納エリアにレジスタR3−2の内容を格納する(ステ
ップS29)。そして、アドレスカウンタAC3を
「1」だけインクリメントする(ステップS30)。Then, the contents of the register R3-1 are stored in the part number storage area of the address (A3) of the automatic verification test data file 114, and the contents of the register R3-2 are stored in the test parameter storage area (step S29). ). Then, the address counter AC3 is incremented by "1" (step S30).
【0052】上記のステップS26〜S30は、アドレ
スカウンタAC2の値がa2+1からa2+Nまで実行
され、ステップS25〜S30はアドレスカウンタAC
1の値がa1+1からa1+Nまで実行される。In the above steps S26 to S30, the value of the address counter AC2 is executed from a2 + 1 to a2 + N, and in steps S25 to S30, the address counter AC2 is set.
The value of 1 is executed from a1 + 1 to a1 + N.
【0053】なお、図4及び図5の処理フローチャート
は、コンピュータソフトウェアでも実現できる。The processing flowcharts of FIGS. 4 and 5 can be realized by computer software.
【0054】上記の実施例の場合、例えば図6に示すよ
うに、 フットプリント61,62とチップ部品63との
部品装着のズレは外観的には不良となっても、電気的に
接続されている限り、インサーキットテストで良品とな
り不良として検出できないという問題点がある。In the case of the above-described embodiment, as shown in FIG. 6, for example, as shown in FIG. 6, even if the component mounting displacement between the footprints 61 and 62 and the chip component 63 becomes poor in appearance, they are still electrically connected. As long as there is a problem, there is a problem that it becomes a good product in the in-circuit test and cannot be detected as a defect.
【0055】そこで本発明の他の実施例として、上記の
実施例である自動外観検査機−インサーキットテスタの
組合せにさらに目視支援装置を加えた製造不良検出装置
を図7に示す。Therefore, as another embodiment of the present invention, FIG. 7 shows a manufacturing defect detecting apparatus in which a visual support device is added to the combination of the automatic appearance inspection machine and the in-circuit tester of the above embodiment.
【0056】この装置は、プリント板ユニット1の識別
コード認識装置21を備えた自動外観検査機20と、自
動外観検査機20の不良判定箇所を自動的に再検査する
プリント板ユニット識別コード認識装置31を備えた移
動プローブインサーキットテスタ30と、自動外観検査
機20の不良判定箇所をXYステージを移動させて画面
もしくは拡大鏡の視野に拡大表示させ、作業者に目視検
査を行わせるプリント板ユニット識別コード認識装置4
1を備えた目視検査支援装置40と、テストデータや検
査結果を格納するファイルサーバ50と、各々の装置を
結合するLAN(ローカル・エリア・ネットワーク)6
0と、で構成される。This apparatus includes an automatic appearance inspection machine 20 provided with an identification code recognition device 21 for the printed board unit 1 and a printed board unit identification code recognition device for automatically re-inspecting a defective judgment portion of the automatic appearance inspection machine 20. A movable probe in-circuit tester 30 equipped with a printed circuit board 31 and a printed board unit for moving a XY stage to display a defect determination portion of the automatic visual inspection machine 20 on a screen or a field of view of a magnifying glass so that an operator can perform a visual inspection. Identification code recognition device 4
, A file server 50 for storing test data and test results, and a LAN (local area network) 6 for connecting the respective devices.
0.
【0057】本装置の動作を図8に示した製造不良検出
動作の説明図、図9に示したデ−タ遷移図、 及び図10
に示した検査結果分別部の動作説明図を基に説明する。FIG. 8 is a view for explaining the operation of the present apparatus for detecting a manufacturing defect, FIG. 9 is a data transition diagram, and FIG.
A description will be given based on the operation explanatory diagram of the inspection result sorting unit shown in FIG.
【0058】なお、図8において、図2に示した自動ベ
リファイ動作の説明図と異なる点は、目視検査支援装置
40と検査結果分別部42と結合部43を新たに加える
とともにICTベリファイ対象不良コード格納ファイル
116と検査結果ファイル117と目視検査結果ファイ
ル118と不良検出結果格納ファイル119とをデータ
ファイル11(図1)中に新たに加えたことである。8 differs from the explanatory diagram of the automatic verifying operation shown in FIG. 2 in that a visual inspection support device 40, an inspection result sorting unit 42 and a connecting unit 43 are newly added, and a defect code to be subjected to ICT verification is added. That is, the storage file 116, the inspection result file 117, the visual inspection result file 118, and the defect detection result storage file 119 are newly added to the data file 11 (FIG. 1).
【0059】また、図9は不良コード格納ファイル、外
観検査結果ファイルのデータの最後に終端コードを設け
た場合の処理フローを示している。FIG. 9 shows a processing flow when a termination code is provided at the end of the data of the defective code storage file and the appearance inspection result file.
【0060】さらに図10は、各ファイルの先頭にデー
タ数を格納するエリアを設けた場合の処理フローを示し
ており、また、この検査結果分別部40においては、デ
ータ読み出し用レジスタ部421,422と、データ書
き込み用レジスタ部423,424と、比較器44と、
スイッチSW1〜SW3を設けている。FIG. 10 shows a processing flow in the case where an area for storing the number of data is provided at the head of each file. In the inspection result sorting section 40, the data reading register sections 421 and 422 are provided. A data write register section 423, 424, a comparator 44,
Switches SW1 to SW3 are provided.
【0061】まず、被検査プリント板ユニット1が自動
外観検査機20にセットされると(図9のステップS3
1)、識別コード認識装置21でプリント板ユニット1
に付けられた識別コードを読み取り(同ステップS3
2)、ファイルサーバ50上の該当する外観検査用テス
トデータをテストデータファイル111(図2参照)自
動外観検査機20に取り込み(同ステップS33)、外
観検査を行う(同ステップS34)。First, when the printed board unit 1 to be inspected is set on the automatic appearance inspection machine 20 (step S3 in FIG. 9).
1) The printed board unit 1 in the identification code recognition device 21
Read the identification code attached to (step S3
2) The corresponding test data for visual inspection on the file server 50 is loaded into the test data file 111 (see FIG. 2) automatic visual inspection machine 20 (step S33), and visual inspection is performed (step S34).
【0062】不良内容は識別コード番号を付加して、外
観検査結果(図10参照)としてファイルサーバ50
に格納する。自動外観検査機20の不良判定箇所は、上
記のように全てインサーキットテスタ30で再検査でき
る訳ではない。The content of the defect is added with an identification code number, and the result of the appearance inspection (see FIG. 10) is stored in the file server 50.
To be stored. As described above, not all of the defective judgment portions of the automatic appearance inspection machine 20 can be re-inspected by the in-circuit tester 30.
【0063】そこで、自動外観検査機20の不良判定箇
所がインサーキットテスタ30で再検査できるか否かを
識別する手段として、外観検査結果にICTベリファ
イ対象不良コードを付加する。Therefore, as a means for determining whether or not the defect determination portion of the automatic appearance inspection machine 20 can be re-inspected by the in-circuit tester 30, a failure code to be subjected to ICT verification is added to the appearance inspection result.
【0064】具体的には、図10に示す如く、ファイル
サーバ50中にインサーキットテスタ30でも検出でき
る外観検査の不良コードを事前に不良コード格納ファ
イル116に登録し、その登録データと外観検査不良結
果とを検査結果分別部42に入力することにより、イ
ンサーキットテスタ30で自動ベリファイできる自動ベ
リファイ用検査結果と、インサーキットテスタ30で
自動ベリファイできずに目視でベリファイをおこなう目
視ベリファイ対象検査結果とに分別される(同ステッ
プS36)。More specifically, as shown in FIG. 10, a defect code of the appearance inspection that can be detected by the in-circuit tester 30 is registered in the file server 50 in advance in the defect code storage file 116, and the registered data and the appearance inspection defect are registered. By inputting the result to the inspection result classification unit 42, the inspection result for automatic verification that can be automatically verified by the in-circuit tester 30 and the inspection result for visual verification that cannot be automatically verified by the in-circuit tester 30 but are visually verified. (The same step S36).
【0065】この検査結果の分別方法を図10により具
体的に説明すると、まず、データ読み出し用レジスタ部
421は、自動ベリファイ対象不良コード格納ファイル
116よりアドレスカウンタAC1の示すアドレス内の
不良コードを読み出してレジスタR1に格納する。デー
タ読み出し用レジスタ部422は、外観検査結果ファイ
ル112よりアドレスカウンタAC2の示すアドレス内
の部品番号、不良コード、位置座標を読み出し、各々レ
ジスタR2−1,R2−2,R2−3に格納する。レジ
スタR1に格納された不良コードとレジスタR2−2
に格納された不良コードは比較器44に入力されて比較
される。The method of sorting the inspection results will be described in detail with reference to FIG. 10. First, the data read register section 421 reads a defective code in the address indicated by the address counter AC1 from the automatic verification target defective code storage file 116. And store it in the register R1. The data readout register unit 422 reads out the part number, the defect code, and the position coordinate in the address indicated by the address counter AC2 from the appearance inspection result file 112 and stores them in the registers R2-1, R2-2, and R2-3, respectively. Bad code stored in register R1 and register R2-2
Are input to the comparator 44 and compared.
【0066】比較器44での比較判定出力は、スイッチ
SW1〜SW3に開閉制御信号として与えられ、データ
が等しい場合はスイッチSW1〜SW3は共に0−1側
に接続され、レジスタR2−1〜R2−3にそれぞれ格
納された部品番号、不良コード、位置座標が、データ書
き込みレジスタ部423におけるレジスタR3−1〜R
3−3にセットされる。The comparison judgment output from the comparator 44 is given as an open / close control signal to the switches SW1 to SW3. When the data is equal, the switches SW1 to SW3 are connected to the 0-1 side, and the registers R2-1 to R2 are connected. -3 are stored in registers R3-1 to R3-1 in data write register section 423.
Set to 3-3.
【0067】すなわち、データ書き込み用レジスタ部4
23は、アドレスカウンタAC3の示す検査結果(自動
ベリファイ用)ファイル112’の該当箇所にレジスタ
内のデータを格納する。データ格納後、アドレスカウン
タAC2、アドレスカウンタAC3はカウントアップさ
れる。That is, the data write register section 4
Reference numeral 23 stores the data in the register in a corresponding part of the inspection result (for automatic verification) file 112 'indicated by the address counter AC3. After storing the data, the address counter AC2 and the address counter AC3 are counted up.
【0068】比較器44において、データが等しくない
場合は、アドレスカウンタAC1をカウントアップし、
アドレスカウンタAC1の示すアドレス内の不良コード
を読み出してレジスタR1に格納する。If the data is not equal in the comparator 44, the address counter AC1 is counted up,
The defective code in the address indicated by the address counter AC1 is read and stored in the register R1.
【0069】不良コード格納ファイル116の全ての不
良コードが一致しない時、スイッチSW1〜SW3は
共に0−2側に接続され、データ読み出しレジスタ部4
22に格納された部品番号、不良コード、位置座標が、
データ書き込み用レジスタ424にセットされる。When all the fault codes in the fault code storage file 116 do not match, the switches SW1 to SW3 are all connected to the 0-2 side, and the data read register unit 4
The part number, defect code, and position coordinates stored in
It is set in the data write register 424.
【0070】すなわち、データ書き込み用レジスタR4
−1〜R4−3には、アドレスカウンタAC4の示す検
査結果(目視ベリファイ用)ファイル117の該当箇所
にレジスタ内のデータが格納される。データ格納後、
アドレスカウンタAC2、アドレスカウンタAC4はカ
ウントアップされる。That is, the data write register R4
In -1 to R4-3, data in the register is stored in a corresponding portion of the inspection result (for visual verification) file 117 indicated by the address counter AC4. After storing the data,
The address counter AC2 and the address counter AC4 are counted up.
【0071】外観検査結果ファイル111のデータがな
くなるまで、上記動作を繰り返す。The above operation is repeated until there is no more data in the visual inspection result file 111.
【0072】このようにして分別された自動ベリファイ
検査結果と目視ベリファイ検査結果の内、自動ベリ
ファイ検査結果は自動ベリファイテストデータ作成部
22に送られ、その後は図2について説明したのと同様
にして自動外観検査が行われ、ICTテスト結果ファイ
ル115が得られる。The automatic verification test result among the automatic verification inspection results and the visual verification inspection results sorted out in this manner is sent to the automatic verification test data creating section 22, and thereafter, in the same manner as described with reference to FIG. An automatic appearance inspection is performed, and an ICT test result file 115 is obtained.
【0073】すなわち、従来と同様に外観検査が終了し
た後、被検査プリント板ユニット1をインサーキットテ
スタ30にセットする(同ステップS37)。プリント
板ユニット1に付けられた識別コードを識別コード認識
装置31で読み取り(同ステップS38)、ファイルサ
ーバ50よりロードしたICT用テストデータと自動
ベリファイ対象テストデータを自動ベリファイ用テス
トデ−タ作成部(図2参照)に入力し、自動ベリファイ
用テストデータを作成し(同ステップS39)、ファ
イルサ−バ50に格納する。That is, after the appearance inspection is completed as in the prior art, the printed board unit 1 to be inspected is set on the in-circuit tester 30 (step S37). The identification code attached to the printed board unit 1 is read by the identification code recognition device 31 (step S38), and the test data for ICT and the test data to be automatically verified loaded from the file server 50 are generated by the test data creating unit for automatic verification ( 2 (see FIG. 2) to create test data for automatic verification (step S39) and store it in the file server 50.
【0074】インサーキットテスタ30は、自動ベリフ
ァイ用テストデータをロードし(同ステップS40)、
インサーキットテストを実行し(同ステップS41)、
インサーキットテスト結果としてファイルサーバ50に
格納する(同ステップS42)。この場合、ファイルサ
ーバ50に格納されるICTテスト結果ファイルは図2
の不良検出結果格納ファイル115に対応している。The in-circuit tester 30 loads the test data for automatic verification (step S40),
Execute an in-circuit test (step S41),
The result is stored in the file server 50 as an in-circuit test result (step S42). In this case, the ICT test result file stored in the file server 50 is as shown in FIG.
Corresponds to the failure detection result storage file 115.
【0075】インサーキットテスト終了後(インサーキ
ットテストの前でも可能)、自動で移動するXYステー
ジと拡大鏡もしくは拡大表示装置を備えた目視検査支援
装置40に被検査プリント板ユニット1をセットする
(同ステップS43)。After the end of the in-circuit test (this is also possible before the in-circuit test), the printed circuit board unit 1 to be inspected is set on the visual inspection support device 40 equipped with an automatically moving XY stage and a magnifying glass or a magnifying display device ( Step S43).
【0076】プリント板ユニット1に付けられた識別コ
ードを識別コード認識装置41で読み取り(同ステップ
S44)、ファイルサーバ50より該当する目視ベリフ
ァイ対象外観検査結果をロードし(同ステップS4
5)、XYテーブル制御部13がXYステージを移動さ
せながら不良判定箇所を表示し、作業者に再に検査を行
わせる(同ステップS46)。The identification code attached to the printed board unit 1 is read by the identification code recognition device 41 (step S44), and the corresponding visual inspection target visual inspection result is loaded from the file server 50 (step S4).
5), the XY table control unit 13 displays the defect determination position while moving the XY stage, and causes the operator to perform the inspection again (step S46).
【0077】この検査結果は、目視検査結果としてファ
イルサーバ50(ファイル118)に格納する(同ステ
ップS47)。インサーキットテスト結果と目視検査
結果は結合部43で結合され、最終版の不良検出結果
となり、不良検出結果格納ファイル119としてファイ
ルサーバ50に格納される(同ステップS48)。This inspection result is stored in the file server 50 (file 118) as a visual inspection result (step S47). The result of the in-circuit test and the result of the visual inspection are combined by the combining unit 43 to become a failure detection result of the final version, which is stored in the file server 50 as the failure detection result storage file 119 (step S48).
【0078】なお、これら図8〜図10に示した構成も
コンピュータソフトウェアで実現できる。The configurations shown in FIGS. 8 to 10 can also be realized by computer software.
【0079】図11は図10に示した検査結果分別部4
2の動作フロー(1)を示したもので、まず、アドレス
カウンタAC2に初期値をセットし(A2←a2)(ス
テップS51)、アドレスカウンタAC3に初期値をセ
ットし(A3←a3)(ステップS52)、そして、ア
ドレスカウンタAC4に初期値をセットする(A4←a
4)(ステップS53)。FIG. 11 shows the inspection result sorting unit 4 shown in FIG.
2 shows an operation flow (1), first, an initial value is set in an address counter AC2 (A2 ← a2) (step S51), and an initial value is set in an address counter AC3 (A3 ← a3) (step S51). S52) Then, an initial value is set in the address counter AC4 (A4 ← a).
4) (Step S53).
【0080】次に、アドレスカウンタAC1に初期値を
セットし(A1←a1)(ステップS54)、不良コー
ド格納ファイルのアドレス(A1)に格納された不良コ
ードをレジスタR1にセットする(ステップS55)。Next, an initial value is set in the address counter AC1 (A1 ← a1) (step S54), and the defective code stored at the address (A1) of the defective code storage file is set in the register R1 (step S55). .
【0081】外観検査結果ファイル112のアドレス
(A2)に格納された部品番号をレジスタR2−1に、
不良コードをレジスタR2−2に、位置座標をレジスタ
R2−3に格納する(ステップS56)。The part number stored in the address (A2) of the visual inspection result file 112 is stored in the register R2-1.
The fault code is stored in the register R2-2, and the position coordinates are stored in the register R2-3 (step S56).
【0082】そして、レジスタR2−2=終端コードで
あるか否かを判定し(ステップS57)、“YES”の
場合にはこのフローチャートを出るが、“NO”の場合
にはさらにレジスタR1=終端コードであるか否かを判
定し(ステップS58)、“NO”の場合にはさらにレ
ジスタR1=レジスタR2−2であるか否かを判定し
(ステップS59)、“NO”の場合にはアドレスカウ
ンタAC1を「1」だけインクリメントして(ステップ
S60)、ステップS54に戻る。Then, it is determined whether or not the register R2-2 is a termination code (step S57). If "YES", the process exits the flowchart. If "NO", the register R1 is further terminated. It is determined whether or not the code is a code (step S58). If "NO", it is further determined whether or not register R1 = register R2-2 (step S59). If "NO", the address is determined. The counter AC1 is incremented by "1" (step S60), and the process returns to step S54.
【0083】ステップS58において“YES”の場合
には、レジスタR2−1からレジスタR3−1へ、レジ
スタR2−2からレジスタR3−2へ、そしてレジスタ
R2−3からレジスタR3−3へデータ転送する(ステ
ップS61)。If "YES" in the step S58, data is transferred from the register R2-1 to the register R3-1, from the register R2-2 to the register R3-2, and from the register R2-3 to the register R3-3. (Step S61).
【0084】そして、検査結果ファイル(自動ベリファ
イ用)アドレス(A3)に格納された部品番号エリアに
レジスタR3−1を、不良コードエリアにレジスタR3
−2を、位置座標エリアにレジスタR3−3を格納して
(ステップS62)、アドレスカウンタAC3を「1」
だけインクリメントする(ステップS63)。The register R3-1 is stored in the part number area stored in the inspection result file (for automatic verification) address (A3), and the register R3 is stored in the defective code area.
-2 is stored in the register R3-3 in the position coordinate area (step S62), and the address counter AC3 is set to "1".
Is incremented by one (step S63).
【0085】ステップS57において“YES”の場合
には、レジスタR2−1→レジスタR4−1,レジスタ
R2−2→レジスタR4−2,レジスタR2−3→レジ
スタR4−3へのデータ転送をそれぞれ行う(ステップ
S64)。If "YES" in the step S57, data is transferred to the register R2-1 → register R4-1, register R2-2 → register R4-2, register R2-3 → register R4-3, respectively. (Step S64).
【0086】そして、検査結果ファイル(目視ベリファ
イ用)アドレス(A4)に格納された部品番号エリアに
レジスタR4−1を、不良コードエリアにレジスタR4
−2を、位置座標エリアにレジスタR4−3を格納して
(ステップS65)、アドレスカウンタAC4を「1」
だけインクリメントする(ステップS66)。The register R4-1 is stored in the part number area stored in the inspection result file (for visual verification) address (A4), and the register R4 is stored in the defective code area.
The register R4-3 is stored in the position coordinate area (step S65), and the address counter AC4 is set to "1".
Is incremented by one (step S66).
【0087】その後、アドレスカウンタAC2を「1」
だけインクリメントして(ステップS67)、ステップ
S53に戻る。Thereafter, the address counter AC2 is set to "1".
Is incremented by one (step S67), and the process returns to step S53.
【0088】図12は図10に示した検査結果分別部4
2の動作フロー(2)を示したもので、まず、アドレス
カウンタAC1に初期値をセットし(A1←a1)(ス
テップS71)、アドレスカウンタAC2に初期値をセ
ットし(A2←a2)(ステップS72)、アドレスカ
ウンタAC3に初期値をセットし(A3←a3)(ステ
ップS73)、そして、アドレスカウンタAC4に初期
値をセットする(A4←a4)(ステップS74)。FIG. 12 shows the inspection result sorting unit 4 shown in FIG.
The operation flow (2) of No. 2 is shown. First, an initial value is set in the address counter AC1 (A1 ← a1) (step S71), and an initial value is set in the address counter AC2 (A2 ← a2) (step S71). (S72), an initial value is set in the address counter AC3 (A3 ← a3) (step S73), and an initial value is set in the address counter AC4 (A4 ← a4) (step S74).
【0089】次に、不良コード格納ファイルのアドレス
(a1)に格納されたデータ数(M)を読み出し(ステ
ップS75)、外観検査結果ファイル112のアドレス
(a2)に格納されたデータ数(N)を読み出す(ステ
ップS76)。Next, the number of data (M) stored at the address (a1) of the defective code storage file is read (step S75), and the number of data (N) stored at the address (a2) of the visual inspection result file 112 is read. Is read (step S76).
【0090】外観検査結果ファイル112のアドレス
(A2)に格納された部品番号をレジスタR2−1に、
不良コードをレジスタR2−1に、位置座標をレジスタ
R2−1に格納する(ステップS77)。The part number stored in the address (A2) of the visual inspection result file 112 is stored in the register R2-1.
The defective code is stored in the register R2-1, and the position coordinates are stored in the register R2-1 (step S77).
【0091】また、不良コード格納ファイルのアドレス
(A1)に格納された不良コードをレジスタR1にセッ
トする(ステップS78)。Further, the fault code stored at the address (A1) of the fault code storage file is set in the register R1 (step S78).
【0092】そして、レジスタR1=レジスタR2−2
であるか否かを判定し(ステップS79)、“NO”の
場合には、レジスタR2−1→レジスタR4−1,レジ
スタR2−2→レジスタR4−2,レジスタR2−3→
レジスタR4−3のそれぞれのデータ転送を行い(ステ
ップS80)、検査結果ファイル(目視ベリファイ用)
アドレス(A4)の部品番号エリアにレジスタR4−1
を格納し、不良コードエリアにレジスタR4−2を格納
し、位置座標エリアにレジスタR4−3を格納する(ス
テップS81)。そして、アドレスカウンタAC4を
「1」だけインクリメントする(ステップS82)。Then, register R1 = register R2-2
Is determined (step S79), and if “NO”, the register R2-1 → the register R4-1, the register R2-2 → the register R4-2, the register R2-3 →
Each data transfer of the register R4-3 is performed (step S80), and the inspection result file (for visual verification)
Register R4-1 is stored in the part number area of address (A4).
Is stored, the register R4-2 is stored in the defective code area, and the register R4-3 is stored in the position coordinate area (step S81). Then, the address counter AC4 is incremented by "1" (step S82).
【0093】ステップS78において“YES”の場合
には、レジスタR2−1→レジスタR3−1,レジスタ
R2−2→レジスタR3−2,レジスタR2−3→レジ
スタR3−3のデータ転送をそれぞれ行い(ステップS
83)、検査結果ファイル(自動ベリファイ用)アドレ
ス(A3)の部品番号エリアにレジスタR3−1を格納
し、不良コードエリアにレジスタR3−2を格納し、位
置座標エリアにレジスタR3−3を格納して(ステップ
S84)、アドレスカウンタAC3を「1」だけインク
リメントする(ステップS85)。If "YES" in the step S78, data transfer from the register R2-1 to the register R3-1, the register R2-2, the register R3-2, the register R2-3, and the register R3-3 is performed respectively ( Step S
83), the register R3-1 is stored in the part number area of the inspection result file (for automatic verification) address (A3), the register R3-2 is stored in the defective code area, and the register R3-3 is stored in the position coordinate area. Then (step S84), the address counter AC3 is incremented by "1" (step S85).
【0094】そして、アドレスカウンタAC1はM個
分、アドレスカウンタAC2はN個分、繰り返し上記の
処理を実行することとなる。Then, the above-described processing is repeatedly performed for M address counters AC1 and N address counters AC2.
【0095】[0095]
【発明の効果】以上述べたように、本発明に係るプリン
ト板ユニットの外観検査方法及び装置によれば、被検査
プリント板ユニットを外観検査用テストデータに従って
外観検査機により外観検査して不良検出データを生成
し、インサーキットテスタ用テストデータにおける該不
良検出データ中の部品番号と同じ部品番号のテストデー
タだけを抽出した自動ベリファイ用テストデータを生成
し、該被検査プリント板ユニットを該自動ベリファイ用
テストデータに対する部品について移動プローブ式のイ
ンサーキットテスタにより再検査し、該再検査データと
該自動ベリファイ用テストデータとを比較することによ
り最終の不良判定結果を出力するように構成したので、
(1)プリント板ユニット自動外観検査後の目視による
再検査作業が削減され、(2)プリント板ユニット外観
検査の自動化率が向上する、という効果が得られる。As described above, according to the method and apparatus for inspecting the appearance of a printed circuit board unit according to the present invention, the appearance of a printed circuit board unit to be inspected is inspected by an appearance inspection machine in accordance with the test data for the appearance inspection to detect a defect. And generating test data for automatic verification by extracting only test data having the same part number as the part number in the failure detection data in the test data for the in-circuit tester. Since the components corresponding to the test data are re-inspected by a moving probe type in-circuit tester, and the re-inspection data is compared with the automatic verification test data, a final failure judgment result is output.
(1) The effect of reducing the visual re-inspection work after the printed board unit automatic appearance inspection is reduced, and (2) improving the automation rate of the printed board unit appearance inspection.
【図1】本発明に係るプリント板ユニットの外観検査装
置の実施例(1)の構成を示したブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment (1) of a printed board unit appearance inspection apparatus according to the present invention.
【図2】本発明の実施例(1)における自動ベリファイ
動作の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of an automatic verify operation in the embodiment (1) of the present invention.
【図3】図2に示した自動ベリファイ用テストデータ作
成部の実施例の構成を概略的に示したブロック図であ
る。FIG. 3 is a block diagram schematically showing a configuration of an embodiment of a test data creating unit for automatic verification shown in FIG. 2;
【図4】図2に示した自動ベリファイ用テストデータ作
成部の動作例(1)を示したフローチャート図である。FIG. 4 is a flowchart illustrating an operation example (1) of the automatic verification test data creating unit illustrated in FIG. 2;
【図5】図2に示した自動ベリファイ用テストデータ作
成部の動作例(2)を示したフローチャート図である。FIG. 5 is a flowchart showing an operation example (2) of the test data creating unit for automatic verification shown in FIG. 2;
【図6】インサーキットテスタ(ICT)で検出できな
い製造不良(位置ずれ)を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a manufacturing defect (position shift) that cannot be detected by an in-circuit tester (ICT).
【図7】本発明に係るプリント板ユニットの外観検査装
置の実施例(2)の構成を示したブロック図である。FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of an embodiment (2) of a visual inspection apparatus for a printed board unit according to the present invention.
【図8】本発明の実施例(2)における製造不良検出動
作の説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram of a manufacturing defect detection operation in the embodiment (2) of the present invention.
【図9】本発明の実施例(2)の動作を示したフローチ
ャート図である。FIG. 9 is a flowchart showing the operation of the embodiment (2) of the present invention.
【図10】図8に示した検査結果分別部の実施例の構成
を概略的に示したブロック図である。FIG. 10 is a block diagram schematically showing a configuration of an embodiment of a test result sorting unit shown in FIG. 8;
【図11】図8に示した検査結果分別部の実施例の動作
例(1)を示したフローチャート図である。FIG. 11 is a flowchart illustrating an operation example (1) of the embodiment of the inspection result sorting unit illustrated in FIG. 8;
【図12】図8に示した検査結果分別部の実施例の動作
例(2)を示したフローチャート図である。FIG. 12 is a flowchart illustrating an operation example (2) of the embodiment of the inspection result sorting unit illustrated in FIG. 8;
【図13】外観検査で誤判定し易い例(ICリードの半
田付け状態検査例)を示した図である。FIG. 13 is a diagram illustrating an example (an example of an IC lead soldering state inspection) in which an erroneous determination is easy in an appearance inspection.
【図14】従来例(1)(プリンタ出力結果を用いた目
視によるベリファイ例)を示した図である。FIG. 14 is a diagram illustrating a conventional example (1) (an example of visual verification using a printer output result).
【図15】従来例(2)(目視支援装置を用いた目視に
よるベリファイ例)を示した図である。FIG. 15 is a diagram showing a conventional example (2) (an example of verification by visual observation using a visual assistance device).
1 プリント板ユニット 2 テレビカメラ 3〜5 プローブ 11 データファイル 12 データ処理部 13 XYテーブル制御部 14 外観検査実行部 15 インサーキットテスト実行部 20 外観検査機 30 移動(フライング)プローブインサーキットテス
タ(ICT) 40 目視検査支援装置 42 検査結果分別部 111 外観検査用テストデータファイル 112 検査結果ファイル 112’ 自動ベリファイ用検査結果ファイル 113 ICT用テストデータファイル 114 自動ベリファイ用テストデータ格納ファイル 115,119 不良検出結果格納ファイル 116 ICTベリファイ対象不良コード格納ファイル 117 目視ベリファイ用検査結果ファイル 118 目視検査結果ファイル 221,222,421,422 データ読み出し用レ
ジスタ部 223,423,424 データ書き込み用レジスタ部 図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Printed board unit 2 Television camera 3-5 Probe 11 Data file 12 Data processing unit 13 XY table control unit 14 Visual inspection execution unit 15 In-circuit test execution unit 20 Visual inspection machine 30 Moving (flying) probe in-circuit tester (ICT) Reference Signs List 40 visual inspection support device 42 inspection result classification unit 111 visual inspection test data file 112 inspection result file 112 'automatic verification inspection result file 113 ICT test data file 114 automatic verification test data storage file 115, 119 failure detection result storage File 116 ICT verification target defective code storage file 117 Visual verification inspection result file 118 Visual inspection result file 221, 222, 421, 422 For data reading During register unit 223,423,424 data write register unit diagram, the same reference numerals denote the same or corresponding parts.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−207908(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 13/08 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-6-207908 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H05K 13/08
Claims (6)
ストデータに従って外観検査機により外観検査して不良
検出データを生成し、 インサーキットテスタ用テストデータにおける該不良検
出データ中の部品番号と同じ部品番号のテストデータだ
けを抽出した自動ベリファイ用テストデータを生成し、 該被検査プリント板ユニットを該自動ベリファイ用テス
トデータに対する部品について移動プローブ式のインサ
ーキットテスタにより再検査し、該再検査データと該自
動ベリファイ用テストデータとを比較することにより最
終の不良判定結果を出力する、 ことを特徴としたプリント板ユニットの外観検査方法。1. A printed circuit board unit to be inspected by a visual inspection machine according to test data for visual inspection to generate defect detection data, and the same component number as the component number in the defect detection data in the in-circuit tester test data. Automatic test data is generated by extracting only the test data of the number, and the printed circuit board unit to be inspected is re-inspected by a moving probe type in-circuit tester for parts corresponding to the automatic test data. A method for inspecting the appearance of a printed circuit board unit, comprising: outputting a final defect determination result by comparing the test data with the automatic verification test data.
良検出データとインサーキットテスタ用ベリファイ対象
不良コードとを比較して目視検査用データを予め分離し
ておき、該目視検査用データを用いて目視支援装置によ
り目視検査し、その検査結果を該最終の不良判定結果と
結合することを特徴としたプリント板ユニットの外観検
査方法。2. The visual inspection data according to claim 1, wherein before the automatic verification test data is generated, the visual inspection data is separated in advance by comparing the defective detection data with a verification target defective code for an in-circuit tester. And a visual inspection apparatus for visually inspecting the data using the visual inspection data, and combining the inspection result with the final failure determination result.
め格納された外観検査用テストデータに従って外観検査
して不良検出データを生成する外観検査機と、 ファイルに予め格納されたインサーキットテスタ用テス
トデータにおける該不良検出データ中の部品番号と同じ
部品番号のテストデータだけを抽出した自動ベリファイ
用テストデータを生成するデータ処理部と、 該被検査プリント板ユニットを該自動ベリファイ用テス
トデータの部品について再検査し、該再検査データと該
自動ベリファイ用テストデータとを比較することにより
最終の不良判定結果を出力する移動プローブ式のインサ
ーキットテスタと、 を備えたことを特徴としたプリント板ユニットの外観検
査装置。3. An appearance inspection machine for inspecting the appearance of a printed circuit board unit in accordance with appearance inspection test data stored in a file in advance to generate defect detection data, and an in-circuit tester test data stored in a file in advance. And a data processing unit for generating test data for automatic verification by extracting only test data having the same part number as the part number in the failure detection data. A movable probe type in-circuit tester for inspecting and comparing the re-inspection data with the automatic verification test data to output a final failure judgment result; and an external appearance of a printed circuit board unit characterized by comprising: Inspection equipment.
み出して格納する第1のデータ読み出し用レジスタと、
該インサーキットテスタ用テストデータから部品番号及
びそのテストパラメータを読み出して格納する第2のデ
ータ読み出し用レジスタと、両レジスタに格納されたデ
ータ中の部品番号を比較して一致したもののみを検出す
る比較器と、該比較器で検出された一致部品番号とその
テストパラメータを格納し該自動ベリファイ用テストデ
ータとして出力するデータ書き込み用レジスタと、を備
えたことを特徴とするプリント板ユニットの外観検査装
置。4. The first data reading register according to claim 3, wherein the data processing unit reads a part number from the defect detection data and stores the read part number.
A second data reading register that reads and stores a part number and its test parameter from the in-circuit tester test data and a part number in the data stored in both registers are compared to detect only a match. An appearance inspection of a printed circuit board unit, comprising: a comparator; and a data write register for storing a matching part number detected by the comparator and its test parameter and outputting the same as test data for automatic verification. apparatus.
格納されたインサーキットテスタ用ベリファイ対象不良
判定データとを比較して目視検査用データを予め分別す
る検査結果分別部を含み、該目視検査用データを用いて
目視支援装置により目視検査し、該データ処理部がその
目視検査結果を該最終の不良判定結果と結合することを
特徴としたプリント板ユニットの外観検査装置。5. The inspection according to claim 3, wherein the data processing unit compares the failure detection data with failure determination data for an in-circuit tester to be verified which is stored in a file in advance and classifies the visual inspection data in advance. A printed board unit comprising a result sorting unit, wherein the visual inspection device performs a visual inspection using the visual inspection data, and the data processing unit combines the visual inspection result with the final failure determination result. Appearance inspection device.
できる不良コードを読み出して格納するデータ読み出し
用レジスタと、部品番号、不良コード、及び位置座標で
構成される該不良判定データを読み出して格納するデー
タレジスタと、各々のレジスタの不良判定データを比較
し、その結果に応じて切替え動作を行うスイッチ部と、
該スイッチ部を通して分離・格納され、自動ベリファイ
対象の不良判定結果と目視ベリファイ対象の不良判定結
果として出力するデータ書き込みレジスタとを有するこ
とを特徴としたプリント板ユニットの外観検査装置。6. The inspection result classification circuit according to claim 5, wherein the inspection result classification circuit comprises a data reading register for reading and storing a defect code that can be tested by the in-circuit tester, a part number, a defect code, and a position coordinate. A data register that reads and stores the failure determination data, a switch unit that compares the failure determination data of each register, and performs a switching operation according to the result;
An appearance inspection apparatus for a printed circuit board unit, comprising: a data write register that is separated and stored through the switch unit and outputs a result of a failure determination for an automatic verification and a result of a failure determination for a visual verification.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33161195A JP3227365B2 (en) | 1995-12-20 | 1995-12-20 | Appearance inspection method and apparatus for printed board unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33161195A JP3227365B2 (en) | 1995-12-20 | 1995-12-20 | Appearance inspection method and apparatus for printed board unit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09172300A JPH09172300A (en) | 1997-06-30 |
JP3227365B2 true JP3227365B2 (en) | 2001-11-12 |
Family
ID=18245597
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33161195A Expired - Fee Related JP3227365B2 (en) | 1995-12-20 | 1995-12-20 | Appearance inspection method and apparatus for printed board unit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3227365B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000019061A (en) * | 1998-07-02 | 2000-01-21 | Asahi Optical Co Ltd | Optical member-inspecting apparatus and holder |
JP2008300408A (en) * | 2007-05-29 | 2008-12-11 | Hioki Ee Corp | Inspection device and inspection method |
JP5198040B2 (en) * | 2007-11-13 | 2013-05-15 | 日置電機株式会社 | Control device, inspection device, and control method |
JP5776605B2 (en) | 2012-03-30 | 2015-09-09 | オムロン株式会社 | Information display system for supporting analysis work of substrate inspection result and analysis work support method |
-
1995
- 1995-12-20 JP JP33161195A patent/JP3227365B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH09172300A (en) | 1997-06-30 |
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