JP3292024B2 - 合成開口レーダの試験装置 - Google Patents
合成開口レーダの試験装置Info
- Publication number
- JP3292024B2 JP3292024B2 JP03349996A JP3349996A JP3292024B2 JP 3292024 B2 JP3292024 B2 JP 3292024B2 JP 03349996 A JP03349996 A JP 03349996A JP 3349996 A JP3349996 A JP 3349996A JP 3292024 B2 JP3292024 B2 JP 3292024B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- synthetic aperture
- aperture radar
- reception
- phase shifter
- attenuator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、人工衛星または
航空機から地表のマイクロ波画像を取得するレーダの一
種である合成開口レーダの試験装置に関するものであ
る。
航空機から地表のマイクロ波画像を取得するレーダの一
種である合成開口レーダの試験装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】図１１は例えば久田、伊東他、「合成開
口レーダ研究モデル点像応答試験結果」（計測自動制御
学会主催第１１回リモートセンシングシンポジウム、昭
和６０年１０月３０日、３１日）に示された従来の合成
開口レーダの試験装置を示すもので、図において１は被
試験体である合成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ
１との間で電波の送受を行うための一次放射器、３は上
記一次放射器２における送信、受信を切り換える送受切
換器、４は上記送受切換器３からの受信信号に対しパル
スごとに移相を変化させる移相器、５は上記移相器４か
らの出力信号を減衰させる減衰器、６は上記減衰器５か
らの出力信号を増幅し、上記送受切換器３、一次放射器
２経由で合成開口レーダ１へ電波を送信する増幅器であ
る。
口レーダ研究モデル点像応答試験結果」（計測自動制御
学会主催第１１回リモートセンシングシンポジウム、昭
和６０年１０月３０日、３１日）に示された従来の合成
開口レーダの試験装置を示すもので、図において１は被
試験体である合成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ
１との間で電波の送受を行うための一次放射器、３は上
記一次放射器２における送信、受信を切り換える送受切
換器、４は上記送受切換器３からの受信信号に対しパル
スごとに移相を変化させる移相器、５は上記移相器４か
らの出力信号を減衰させる減衰器、６は上記減衰器５か
らの出力信号を増幅し、上記送受切換器３、一次放射器
２経由で合成開口レーダ１へ電波を送信する増幅器であ
る。
【０００３】次に動作について説明する。合成開口レー
ダは、レーダのプラットフォームである航空機、或いは
人工衛星の動きを利用して等価的なアレーを時間的に合
成するものである。図１２に合成開口レーダの原理を説
明する図を示す。図において１は合成開口レーダ、１３
はレーダビーム、１４は地表である。図に示すように合
成開口レーダ１は位置Ｂから位置Ｃへ移動する間地表１
４上の点Ａを照射し続ける。従って点Ｂから点Ｃまでに
受信するデータを合成することによって等価的に長さＢ
Ｃの大きな開口を合成することが可能となる。この時、
長さＢＣを合成開口長、長さＢＣを移動するためにかか
る時間を合成開口時間という。これにより、合成開口レ
ーダではプラットフォームの進行方向と同じ方向に通常
のレーダ方式では得ることができない高分解能を得るこ
とができる。ただし、この高分解能を得るためには受信
信号に対し、各受信地点と観測地点との距離の変化を補
正する必要があり、このための信号処理回路を設ける必
要がある。この処理回路はしばしば大規模なものになる
ため、プラットフォーム上ではなく地上に設置すること
が多い。なお、この信号処理回路における位置補正処理
を以下合成開口処理と呼ぶ。以上に述べた合成開口レー
ダは、図１２からわかるようにビーム幅を広げた方が合
成開口長が長くなるためアンテナ長を短くした方が理論
的な分解能は良くなる。原理的には分解能はアンテナ長
の１／２となる。なお、合成開口レーダにおいてプラッ
トフォームに垂直な方向の分解能は通常のレーダにおい
て採用されているパルス圧縮技術によって高分解能化が
実現されている。
ダは、レーダのプラットフォームである航空機、或いは
人工衛星の動きを利用して等価的なアレーを時間的に合
成するものである。図１２に合成開口レーダの原理を説
明する図を示す。図において１は合成開口レーダ、１３
はレーダビーム、１４は地表である。図に示すように合
成開口レーダ１は位置Ｂから位置Ｃへ移動する間地表１
４上の点Ａを照射し続ける。従って点Ｂから点Ｃまでに
受信するデータを合成することによって等価的に長さＢ
Ｃの大きな開口を合成することが可能となる。この時、
長さＢＣを合成開口長、長さＢＣを移動するためにかか
る時間を合成開口時間という。これにより、合成開口レ
ーダではプラットフォームの進行方向と同じ方向に通常
のレーダ方式では得ることができない高分解能を得るこ
とができる。ただし、この高分解能を得るためには受信
信号に対し、各受信地点と観測地点との距離の変化を補
正する必要があり、このための信号処理回路を設ける必
要がある。この処理回路はしばしば大規模なものになる
ため、プラットフォーム上ではなく地上に設置すること
が多い。なお、この信号処理回路における位置補正処理
を以下合成開口処理と呼ぶ。以上に述べた合成開口レー
ダは、図１２からわかるようにビーム幅を広げた方が合
成開口長が長くなるためアンテナ長を短くした方が理論
的な分解能は良くなる。原理的には分解能はアンテナ長
の１／２となる。なお、合成開口レーダにおいてプラッ
トフォームに垂直な方向の分解能は通常のレーダにおい
て採用されているパルス圧縮技術によって高分解能化が
実現されている。
【０００４】このような原理を有する合成開口レーダの
システム全系の試験を行うために、ターゲット発生器を
使用して点像応答を確認する手法が使用される。この方
法は合成開口レーダ１に対して十分Ｆａｒ Ｆｉｅｌｄ
とみなせる遠く離れた位置に合成開口レーダからの電波
を受信し、所望の処理をした後に再び送り返すターゲッ
ト発生器を配置し、電波を空間に伝搬させて送受信する
ことによって試験を行うものである。合成開口レーダ１
から送信された電波はターゲット発生器の一次放射器２
において受信され、送受切換器３を経由して移相器４に
よって移相値を、減衰器５によって振幅値を変化させ、
増幅器６によって増幅した後、再び送受切換器３を経由
して一次放射器２から合成開口レーダ１に向かって送信
される。この際、あたかも合成開口レーダ１が飛行して
電波を受信しているようにするため、移相器４の移相及
び減衰器５における減衰量を衛星或いは航空機と地上の
ある１点間の距離のヒストリと同一にする。すなわち移
相値、減衰値を図１３に示すように時間とともにパルス
ごとに変化させることによって飛行中に受信する１点か
らのターゲット信号を模擬する。図１３は移相器４及び
減衰器５に設定する移相及び減衰量の時間特性を表した
もので、１５は時間、１６は移相量、１７は減衰量であ
る。図１３からわかるようにターゲットと合成開口レー
ダ１の距離は一度近づいて真横にきたときに最小距離と
なり、再び遠ざかる。合成開口レーダ１から送信された
電波は以上に説明したような処理が施された後に再度一
次放射器２にて送信される。この電波は合成開口レーダ
１によって受信され、合成開口処理が施されることによ
ってシステム全体の点像応答が評価されることになる。
システム全系の試験を行うために、ターゲット発生器を
使用して点像応答を確認する手法が使用される。この方
法は合成開口レーダ１に対して十分Ｆａｒ Ｆｉｅｌｄ
とみなせる遠く離れた位置に合成開口レーダからの電波
を受信し、所望の処理をした後に再び送り返すターゲッ
ト発生器を配置し、電波を空間に伝搬させて送受信する
ことによって試験を行うものである。合成開口レーダ１
から送信された電波はターゲット発生器の一次放射器２
において受信され、送受切換器３を経由して移相器４に
よって移相値を、減衰器５によって振幅値を変化させ、
増幅器６によって増幅した後、再び送受切換器３を経由
して一次放射器２から合成開口レーダ１に向かって送信
される。この際、あたかも合成開口レーダ１が飛行して
電波を受信しているようにするため、移相器４の移相及
び減衰器５における減衰量を衛星或いは航空機と地上の
ある１点間の距離のヒストリと同一にする。すなわち移
相値、減衰値を図１３に示すように時間とともにパルス
ごとに変化させることによって飛行中に受信する１点か
らのターゲット信号を模擬する。図１３は移相器４及び
減衰器５に設定する移相及び減衰量の時間特性を表した
もので、１５は時間、１６は移相量、１７は減衰量であ
る。図１３からわかるようにターゲットと合成開口レー
ダ１の距離は一度近づいて真横にきたときに最小距離と
なり、再び遠ざかる。合成開口レーダ１から送信された
電波は以上に説明したような処理が施された後に再度一
次放射器２にて送信される。この電波は合成開口レーダ
１によって受信され、合成開口処理が施されることによ
ってシステム全体の点像応答が評価されることになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の合成開口レーダ
の試験装置は、以上のように構成され、試験を行うため
に広大なスペースを必要としていた。例えばＬバンドの
レーダの場合数ｋｍ以上の距離が必要となる。また、屋
外で試験を行う必要があるため、外乱が混入し正確な測
定ができないという問題点を有していた。
の試験装置は、以上のように構成され、試験を行うため
に広大なスペースを必要としていた。例えばＬバンドの
レーダの場合数ｋｍ以上の距離が必要となる。また、屋
外で試験を行う必要があるため、外乱が混入し正確な測
定ができないという問題点を有していた。
【０００６】また、従来の合成開口レーダの試験装置で
は固定レーダビーム角での試験しか実現することができ
ないという問題点を有していた。
は固定レーダビーム角での試験しか実現することができ
ないという問題点を有していた。
【０００７】さらに、従来の合成開口レーダの試験装置
では単一の偏波における試験しか実現することができな
いという問題点を有していた。
では単一の偏波における試験しか実現することができな
いという問題点を有していた。
【０００８】さらに、従来の合成開口レーダの試験装置
では単一の周波数における試験しか実現することができ
ないという問題点を有していた。
では単一の周波数における試験しか実現することができ
ないという問題点を有していた。
【０００９】さらに、従来の合成開口レーダの試験装置
では観測幅を広げるためにビームを高速に走査するスキ
ャンＳＡＲ（Ｓｙｎｔｈｅｔｉｃ Ａｐｅｒｔｕｒｅ
Ｒａｄａｒ：合成開口レーダ）モードにおける試験が実
現することができないという問題点を有していた。即
ち、このスキャンＳＡＲモードではビーム位置を高速に
変化させるため、従来のような一式のアンテナで１ビー
ム位置のみしかカバーできない合成開口レーダの試験装
置では対応できないという問題点を有していた。
では観測幅を広げるためにビームを高速に走査するスキ
ャンＳＡＲ（Ｓｙｎｔｈｅｔｉｃ Ａｐｅｒｔｕｒｅ
Ｒａｄａｒ：合成開口レーダ）モードにおける試験が実
現することができないという問題点を有していた。即
ち、このスキャンＳＡＲモードではビーム位置を高速に
変化させるため、従来のような一式のアンテナで１ビー
ム位置のみしかカバーできない合成開口レーダの試験装
置では対応できないという問題点を有していた。
【００１０】さらに、従来の合成開口レーダの試験装置
では１個のターゲットによる評価しかできないという問
題点を有していた。
では１個のターゲットによる評価しかできないという問
題点を有していた。
【００１１】さらに、従来の合成開口レーダの試験装置
では外部校正源としてのアクティブレーダキャリブレー
タとしての機能を実現できないという問題点を有してい
た。
では外部校正源としてのアクティブレーダキャリブレー
タとしての機能を実現できないという問題点を有してい
た。
【００１２】この発明はかかる課題を解決するためにな
されたものであり、広大な場所を必要としないで安定な
試験を実現することを目的としている。また、可変オフ
ナディア角、複数偏波、複数周波数、スキャンＳＡＲモ
ード、複数ターゲット、アクティブレーダキャリブレー
タへの対応を行うことも目的としている。
されたものであり、広大な場所を必要としないで安定な
試験を実現することを目的としている。また、可変オフ
ナディア角、複数偏波、複数周波数、スキャンＳＡＲモ
ード、複数ターゲット、アクティブレーダキャリブレー
タへの対応を行うことも目的としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】第１の発明による合成開
口レーダの試験装置は、Ｎｅａｒ ＦｉｅｌｄとＦａｒ
Ｆｉｅｌｄの変換を行うための金属面オフセットパラ
ボラを設けたものである。
口レーダの試験装置は、Ｎｅａｒ ＦｉｅｌｄとＦａｒ
Ｆｉｅｌｄの変換を行うための金属面オフセットパラ
ボラを設けたものである。
【００１４】また、第２の発明による合成開口レーダの
試験装置は、Ｎｅａｒ ＦｉｅｌｄとＦａｒ Ｆｉｅｌ
ｄの変換を行うためのメッシュ面オフセットパラボラを
設けたものである。
試験装置は、Ｎｅａｒ ＦｉｅｌｄとＦａｒ Ｆｉｅｌ
ｄの変換を行うためのメッシュ面オフセットパラボラを
設けたものである。
【００１５】また、第３の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に合成開口レーダのエレベーション方向の角度を可
変とするためのアンテナ回転台を設けたものである。
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に合成開口レーダのエレベーション方向の角度を可
変とするためのアンテナ回転台を設けたものである。
【００１６】また、第４の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に偏波を分割するための偏分波器と、それぞれの偏
波を処理するための２式の移相器、減衰器、及び増幅器
を設けたものである。
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に偏波を分割するための偏分波器と、それぞれの偏
波を処理するための２式の移相器、減衰器、及び増幅器
を設けたものである。
【００１７】また、第５の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に周波数を分割するための分波器と、それぞれの周
波数を処理するための２式の移相器、減衰器、及び増幅
器を設けたものである。
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に周波数を分割するための分波器と、それぞれの周
波数を処理するための２式の移相器、減衰器、及び増幅
器を設けたものである。
【００１８】また、第６の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に周波数を分割するための分波器及び２式の偏分波
器、それぞれの周波数、偏波の信号を処理するための４
式の移相器、減衰器、及び増幅器を設けたものである。
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に周波数を分割するための分波器及び２式の偏分波
器、それぞれの周波数、偏波の信号を処理するための４
式の移相器、減衰器、及び増幅器を設けたものである。
【００１９】また、第７の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に、３種類の角度におけるデータを取得できるよう
に一次放射器、移相器、減衰器、及び増幅器を２式設け
たものである。
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に、３種類の角度におけるデータを取得できるよう
に一次放射器、移相器、減衰器、及び増幅器を２式設け
たものである。
【００２０】また、第８の発明による合成開口レーダの
試験装置は同時に複数の偏波に対応するため、上記第１
の発明による合成開口レーダの試験装置に偏波を分割す
るための偏分波器と、偏波切換スイッチを設けたもので
ある。
試験装置は同時に複数の偏波に対応するため、上記第１
の発明による合成開口レーダの試験装置に偏波を分割す
るための偏分波器と、偏波切換スイッチを設けたもので
ある。
【００２１】また、第９の発明による合成開口レーダの
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に、２種類のターゲット信号を発生できるように信
号を遅らせるための遅延線と、２式の移相器、減衰器、
及び方向性結合器を設けたものである。
試験装置は上記第１の発明による合成開口レーダの試験
装置に、２種類のターゲット信号を発生できるように信
号を遅らせるための遅延線と、２式の移相器、減衰器、
及び方向性結合器を設けたものである。
【００２２】また、第１０の発明による合成開口レーダ
の試験装置は上記第９の発明による合成開口レーダの試
験装置から金属面オフセットパラボラを削除したもので
ある。
の試験装置は上記第９の発明による合成開口レーダの試
験装置から金属面オフセットパラボラを削除したもので
ある。
【００２３】
実施の形態１．図１はこの発明の実施の形態１を示す図
であり、図において１は被試験体である合成開口レー
ダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波の送受を行
うための一次放射器、３は上記一次放射器２における送
信、受信を切り換える送受切換器、４は上記送受切換器
３からの受信信号に対しパルスごとに移相を変化させる
移相器、５は上記移相器４からの出力信号を減衰させる
減衰器、６は上記減衰器５からの出力信号を増幅し、上
記送受切換器３、一次放射器２経由で合成開口レーダ１
へ電波を送信する増幅器、７は合成開口レーダ１に入出
力される電波に対してＮｅａｒ ＦｉｅｌｄからＦａｒ
Ｆｉｅｌｄに変換するための金属面オフセットパラボ
ラである。上記のうち、合成開口レーダ１、一次放射器
２、送受切換器３、移相器４、減衰器５、増幅器６は従
来の合成開口レーダの試験装置と同等のものである。
であり、図において１は被試験体である合成開口レー
ダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波の送受を行
うための一次放射器、３は上記一次放射器２における送
信、受信を切り換える送受切換器、４は上記送受切換器
３からの受信信号に対しパルスごとに移相を変化させる
移相器、５は上記移相器４からの出力信号を減衰させる
減衰器、６は上記減衰器５からの出力信号を増幅し、上
記送受切換器３、一次放射器２経由で合成開口レーダ１
へ電波を送信する増幅器、７は合成開口レーダ１に入出
力される電波に対してＮｅａｒ ＦｉｅｌｄからＦａｒ
Ｆｉｅｌｄに変換するための金属面オフセットパラボ
ラである。上記のうち、合成開口レーダ１、一次放射器
２、送受切換器３、移相器４、減衰器５、増幅器６は従
来の合成開口レーダの試験装置と同等のものである。
【００２４】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置においては、合成
開口レーダ１と一次放射器２間に配置した金属面オフセ
ットパラボラ７によって合成開口レーダ１の入出力を等
価的にＦａｒ Ｆｉｅｌｄとする。これは一次放射器２
を金属面オフセットパラボラ７の焦点位置に配置するこ
とによって、一次放射器２から金属面オフセットパラボ
ラ７へ向かう電波は金属面オフセットパラボラ７におい
て反射した後、光学におけるレンズの場合と同様に平行
な電波になって合成開口レーダ１に向かう。逆に、合成
開口レーダ１側から一次放射器２へ向かうパスも同一で
ある。従って、一次放射器２以降の機器はＮｅａｒ Ｆ
ｉｅｌｄに設置されているにもかかわらず、被試験体で
ある合成開口レーダ１にとっては平行電波となりＦａｒ
Ｆｉｅｌｄと等価の環境を実現することができる。こ
のようにＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換することによって合
成開口レーダ１と一次放射器２の距離を従来の数ｋｍ以
上から数１０ｍ以内に抑えることが可能となるため、電
波暗室等の電波状態が管理された部屋で正確なレーダ測
定を行うことが可能となる。合成開口レーダ１から送信
された電波は金属面オフセットパラボラ７によってＮｅ
ａｒ Ｆｉｅｌｄの電波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換さ
れた後、パラボラの焦点に位置するターゲット発生器の
一次放射器２において受信される。この電波は従来の合
成開口レーダの試験装置と同様に送受切換器３を経由し
た後、移相器４によって移相値を、減衰器５によって振
幅値を変化させ、増幅器６によって増幅した後、再び送
受切換器３を経由して一次放射器２から金属面オフセッ
トパラボラ７に向かって送信される。この際、あたかも
合成開口レーダ１が飛行して電波を受信しているように
するため、従来の合成開口レーダ１における場合と同様
に移相器４の移相及び減衰器５における減衰量を衛星或
いは航空機と地上のある１点間の距離のヒストリと同一
にする。すなわち移相値、減衰値を図１３に示すように
時間とともにパルスごとに変化させることによって飛行
中に受信する１点からのターゲット信号を模擬する。こ
の電波は金属面オフセットパラボラ７によって再びＦａ
ｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、合成開口レーダ１によって
受信され、合成開口処理が施されることによってシステ
ム全体の点像応答が評価されることになる。
構成された合成開口レーダの試験装置においては、合成
開口レーダ１と一次放射器２間に配置した金属面オフセ
ットパラボラ７によって合成開口レーダ１の入出力を等
価的にＦａｒ Ｆｉｅｌｄとする。これは一次放射器２
を金属面オフセットパラボラ７の焦点位置に配置するこ
とによって、一次放射器２から金属面オフセットパラボ
ラ７へ向かう電波は金属面オフセットパラボラ７におい
て反射した後、光学におけるレンズの場合と同様に平行
な電波になって合成開口レーダ１に向かう。逆に、合成
開口レーダ１側から一次放射器２へ向かうパスも同一で
ある。従って、一次放射器２以降の機器はＮｅａｒ Ｆ
ｉｅｌｄに設置されているにもかかわらず、被試験体で
ある合成開口レーダ１にとっては平行電波となりＦａｒ
Ｆｉｅｌｄと等価の環境を実現することができる。こ
のようにＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換することによって合
成開口レーダ１と一次放射器２の距離を従来の数ｋｍ以
上から数１０ｍ以内に抑えることが可能となるため、電
波暗室等の電波状態が管理された部屋で正確なレーダ測
定を行うことが可能となる。合成開口レーダ１から送信
された電波は金属面オフセットパラボラ７によってＮｅ
ａｒ Ｆｉｅｌｄの電波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換さ
れた後、パラボラの焦点に位置するターゲット発生器の
一次放射器２において受信される。この電波は従来の合
成開口レーダの試験装置と同様に送受切換器３を経由し
た後、移相器４によって移相値を、減衰器５によって振
幅値を変化させ、増幅器６によって増幅した後、再び送
受切換器３を経由して一次放射器２から金属面オフセッ
トパラボラ７に向かって送信される。この際、あたかも
合成開口レーダ１が飛行して電波を受信しているように
するため、従来の合成開口レーダ１における場合と同様
に移相器４の移相及び減衰器５における減衰量を衛星或
いは航空機と地上のある１点間の距離のヒストリと同一
にする。すなわち移相値、減衰値を図１３に示すように
時間とともにパルスごとに変化させることによって飛行
中に受信する１点からのターゲット信号を模擬する。こ
の電波は金属面オフセットパラボラ７によって再びＦａ
ｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、合成開口レーダ１によって
受信され、合成開口処理が施されることによってシステ
ム全体の点像応答が評価されることになる。
【００２５】実施の形態２．図２はこの発明の実施の形
態２を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、４は上記
送受切換器３からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、５は上記移相器４からの出力信号を
減衰させる減衰器、６は上記減衰器５からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器３、一次放射器２経由で合成開
口レーダ１へ電波を送信する増幅器、８は合成開口レー
ダ１に入出力される電波に対してＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄ
からＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するためのメッシュ面オ
フセットパラボラである。上記のうち、合成開口レーダ
１、一次放射器２、送受切換器３、移相器４、減衰器
５、増幅器６は従来の合成開口レーダの試験装置と同等
のものである。
態２を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、４は上記
送受切換器３からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、５は上記移相器４からの出力信号を
減衰させる減衰器、６は上記減衰器５からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器３、一次放射器２経由で合成開
口レーダ１へ電波を送信する増幅器、８は合成開口レー
ダ１に入出力される電波に対してＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄ
からＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するためのメッシュ面オ
フセットパラボラである。上記のうち、合成開口レーダ
１、一次放射器２、送受切換器３、移相器４、減衰器
５、増幅器６は従来の合成開口レーダの試験装置と同等
のものである。
【００２６】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１に
おける金属面オフセットパラボラ７をメッシュ面オフセ
ットパラボラ８に置き換えたものであり、動作は実施の
形態１と同じである。メッシュ面オフセットパラボラ８
は金属面に小さな穴を多数空けたもので、穴径がある一
定の大きさ以下であれば金属面オフセットパラボラ７と
全く同一の機能を有することができる。穴の分だけオフ
セットパラボラを構成する金属量が減少するため、軽量
化を実現することが可能である。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１に
おける金属面オフセットパラボラ７をメッシュ面オフセ
ットパラボラ８に置き換えたものであり、動作は実施の
形態１と同じである。メッシュ面オフセットパラボラ８
は金属面に小さな穴を多数空けたもので、穴径がある一
定の大きさ以下であれば金属面オフセットパラボラ７と
全く同一の機能を有することができる。穴の分だけオフ
セットパラボラを構成する金属量が減少するため、軽量
化を実現することが可能である。
【００２７】実施の形態３．図３はこの発明の実施の形
態３を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、４は上記
送受切換器３からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、５は上記移相器４からの出力信号を
減衰させる減衰器、６は上記減衰器５からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器３、一次放射器２経由で合成開
口レーダ１へ電波を送信する増幅器、７は合成開口レー
ダ１に入出力される電波に対してＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄ
からＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するための金属面オフセ
ットパラボラ、９は合成開口レーダ１のエレベーション
方向の角度を変化させることができるアンテナ回転台で
ある。上記のうち、合成開口レーダ１、一次放射器２、
送受切換器３、移相器４、減衰器５、増幅器６は従来の
合成開口レーダの試験装置と同等のものである。
態３を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、４は上記
送受切換器３からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、５は上記移相器４からの出力信号を
減衰させる減衰器、６は上記減衰器５からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器３、一次放射器２経由で合成開
口レーダ１へ電波を送信する増幅器、７は合成開口レー
ダ１に入出力される電波に対してＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄ
からＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するための金属面オフセ
ットパラボラ、９は合成開口レーダ１のエレベーション
方向の角度を変化させることができるアンテナ回転台で
ある。上記のうち、合成開口レーダ１、一次放射器２、
送受切換器３、移相器４、減衰器５、増幅器６は従来の
合成開口レーダの試験装置と同等のものである。
【００２８】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１に
対して合成開口レーダ１のエレベーション方向の角度を
変化させるためのアンテナ回転台９を付加したものであ
る。これはエレベーション方向に対してビーム走査を行
った状態で合成開口レーダ１のシステム試験を行うため
のもので、合成開口レーダ１がビーム走査を行ったエレ
ベーション角度だけアンテナ回転台９を逆にエレベーシ
ョン方向に回転させ、合成開口レーダ１を逆回転させる
ことによって最終的にはビームが水平に伝搬するように
する。このような補正を行う以外の動作は実施の形態１
と同じである。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１に
対して合成開口レーダ１のエレベーション方向の角度を
変化させるためのアンテナ回転台９を付加したものであ
る。これはエレベーション方向に対してビーム走査を行
った状態で合成開口レーダ１のシステム試験を行うため
のもので、合成開口レーダ１がビーム走査を行ったエレ
ベーション角度だけアンテナ回転台９を逆にエレベーシ
ョン方向に回転させ、合成開口レーダ１を逆回転させる
ことによって最終的にはビームが水平に伝搬するように
する。このような補正を行う以外の動作は実施の形態１
と同じである。
【００２９】実施の形態４．図４はこの発明の実施の形
態４を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、１０は送
受切換器３の入出力信号を偏波ごとに分配する偏分波
器、４ａは偏分波器１０からの水平偏波受信信号に対し
パルスごとに移相を変化させる第１の移相器、５ａは上
記第１の移相器４ａからの出力信号を減衰させる第１の
減衰器、６は上記第１の減衰器５ａからの出力信号を増
幅し、上記偏分波器１０、送受切換器３、一次放射器２
経由で合成開口レーダ１へ水平偏波の電波を送信する第
１の増幅器、４ｂは偏分波器１０からの垂直偏波受信信
号に対しパルスごとに移相を変化させる第２の移相器、
５ｂは上記第２の移相器４ｂからの出力信号を減衰させ
る第２の減衰器、６ｂは上記第２の減衰器５ｂからの出
力信号を増幅し、上記偏分波器１０、送受切換器３、一
次放射器２経由で合成開口レーダ１へ垂直偏波の電波を
送信する第２の増幅器、７は合成開口レーダ１に入出力
される電波に対してＮｅａｒ ＦｉｅｌｄからＦａｒ
Ｆｉｅｌｄに変換するための金属面オフセットパラボラ
である。
態４を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、１０は送
受切換器３の入出力信号を偏波ごとに分配する偏分波
器、４ａは偏分波器１０からの水平偏波受信信号に対し
パルスごとに移相を変化させる第１の移相器、５ａは上
記第１の移相器４ａからの出力信号を減衰させる第１の
減衰器、６は上記第１の減衰器５ａからの出力信号を増
幅し、上記偏分波器１０、送受切換器３、一次放射器２
経由で合成開口レーダ１へ水平偏波の電波を送信する第
１の増幅器、４ｂは偏分波器１０からの垂直偏波受信信
号に対しパルスごとに移相を変化させる第２の移相器、
５ｂは上記第２の移相器４ｂからの出力信号を減衰させ
る第２の減衰器、６ｂは上記第２の減衰器５ｂからの出
力信号を増幅し、上記偏分波器１０、送受切換器３、一
次放射器２経由で合成開口レーダ１へ垂直偏波の電波を
送信する第２の増幅器、７は合成開口レーダ１に入出力
される電波に対してＮｅａｒ ＦｉｅｌｄからＦａｒ
Ｆｉｅｌｄに変換するための金属面オフセットパラボラ
である。
【００３０】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１と
同様に合成開口レーダ１から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ７によってＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電
波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器２において
受信される。この電波は送受切換器３を経由した後、偏
分波器１０によって水平偏波電波と垂直偏波電波に分波
する。それぞれの偏波出力は実施の形態１と同様に水平
偏波については移相器４ａによって移相値を、減衰器５
ａによって振幅値を変化させ、増幅器６ａによって増幅
した後、垂直偏波については移相器４ｂによって移相値
を、減衰器５ｂによって振幅値を変化させ、増幅器６ｂ
によって増幅した後、再び偏分波器１０によって水平偏
波の電波、垂直偏波の電波が合成され、送受切換器３を
経由して一次放射器２から金属面オフセットパラボラ７
に向かって送信される。この電波は金属面オフセットパ
ラボラ７によって再びＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、
合成開口レーダ１によって受信され、合成開口処理が施
されることによって水平偏波、垂直偏波を有する多偏波
合成開口レーダシステム全体の点像応答が同時に評価さ
れることになる。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１と
同様に合成開口レーダ１から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ７によってＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電
波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器２において
受信される。この電波は送受切換器３を経由した後、偏
分波器１０によって水平偏波電波と垂直偏波電波に分波
する。それぞれの偏波出力は実施の形態１と同様に水平
偏波については移相器４ａによって移相値を、減衰器５
ａによって振幅値を変化させ、増幅器６ａによって増幅
した後、垂直偏波については移相器４ｂによって移相値
を、減衰器５ｂによって振幅値を変化させ、増幅器６ｂ
によって増幅した後、再び偏分波器１０によって水平偏
波の電波、垂直偏波の電波が合成され、送受切換器３を
経由して一次放射器２から金属面オフセットパラボラ７
に向かって送信される。この電波は金属面オフセットパ
ラボラ７によって再びＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、
合成開口レーダ１によって受信され、合成開口処理が施
されることによって水平偏波、垂直偏波を有する多偏波
合成開口レーダシステム全体の点像応答が同時に評価さ
れることになる。
【００３１】実施の形態５．図５はこの発明の実施の形
態５を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、１１は送
受切換器３の入出力信号を周波数ごとに分配する分波
器、４ａは分波器１１からの第１の周波数を有する受信
信号に対しパルスごとに移相を変化させる第１の移相
器、５ａは上記第１の移相器４ａからの出力信号を減衰
させる第１の減衰器、６ａは上記第１の減衰器５ａから
の出力信号を増幅し、上記分波器１１、送受切換器３、
一次放射器２経由で合成開口レーダ１へ第１の周波数の
電波を送信する第１の増幅器、４ｂは分波器１１からの
第２の周波数を有する受信信号に対しパルスごとに移相
を変化させる第２の移相器、５ｂは上記第２の移相器４
ｂからの出力信号を減衰させる第２の減衰器、６ｂは上
記第２の減衰器５ｂからの出力信号を増幅し、上記分波
器１１、送受切換器３、一次放射器２経由で合成開口レ
ーダ１へ第２の周波数の電波を送信する増幅器、７は合
成開口レーダ１に入出力される電波に対してＮｅａｒ
ＦｉｅｌｄからＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するための金
属面オフセットパラボラである。
態５を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、１１は送
受切換器３の入出力信号を周波数ごとに分配する分波
器、４ａは分波器１１からの第１の周波数を有する受信
信号に対しパルスごとに移相を変化させる第１の移相
器、５ａは上記第１の移相器４ａからの出力信号を減衰
させる第１の減衰器、６ａは上記第１の減衰器５ａから
の出力信号を増幅し、上記分波器１１、送受切換器３、
一次放射器２経由で合成開口レーダ１へ第１の周波数の
電波を送信する第１の増幅器、４ｂは分波器１１からの
第２の周波数を有する受信信号に対しパルスごとに移相
を変化させる第２の移相器、５ｂは上記第２の移相器４
ｂからの出力信号を減衰させる第２の減衰器、６ｂは上
記第２の減衰器５ｂからの出力信号を増幅し、上記分波
器１１、送受切換器３、一次放射器２経由で合成開口レ
ーダ１へ第２の周波数の電波を送信する増幅器、７は合
成開口レーダ１に入出力される電波に対してＮｅａｒ
ＦｉｅｌｄからＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するための金
属面オフセットパラボラである。
【００３２】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１と
同様に合成開口レーダ１から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ７によってＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電
波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器２において
受信される。この電波は送受切換器３を経由した後、分
波器１１によって第１の周波数と第２の周波数の２つの
電波に分波する。それぞれの周波数を有する電波出力は
実施の形態１と同様に第１の周波数については移相器４
によって移相値を、減衰器５によって振幅値を変化さ
せ、増幅器６によって増幅した後、第２の周波数につい
ては移相器４ｂによって移相値を、減衰器５ｂによって
振幅値を変化させ、増幅器６ｂによって増幅した後、再
び分波器１１によって第１の周波数を有する電波、第２
の周波数を有する電波が合成され、送受切換器３を経由
して一次放射器２から金属面オフセットパラボラ７に向
かって送信される。この電波は金属面オフセットパラボ
ラ７によって再びＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、合成
開口レーダ１によって受信され、合成開口処理が施され
ることによって複数周波数合成開口レーダシステム全体
の点像応答が同時に評価されることになる。なお、この
例では周波数の数を２としたが、この数は分波器を追加
することによって任意の値に増加させることができる。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１と
同様に合成開口レーダ１から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ７によってＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電
波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器２において
受信される。この電波は送受切換器３を経由した後、分
波器１１によって第１の周波数と第２の周波数の２つの
電波に分波する。それぞれの周波数を有する電波出力は
実施の形態１と同様に第１の周波数については移相器４
によって移相値を、減衰器５によって振幅値を変化さ
せ、増幅器６によって増幅した後、第２の周波数につい
ては移相器４ｂによって移相値を、減衰器５ｂによって
振幅値を変化させ、増幅器６ｂによって増幅した後、再
び分波器１１によって第１の周波数を有する電波、第２
の周波数を有する電波が合成され、送受切換器３を経由
して一次放射器２から金属面オフセットパラボラ７に向
かって送信される。この電波は金属面オフセットパラボ
ラ７によって再びＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、合成
開口レーダ１によって受信され、合成開口処理が施され
ることによって複数周波数合成開口レーダシステム全体
の点像応答が同時に評価されることになる。なお、この
例では周波数の数を２としたが、この数は分波器を追加
することによって任意の値に増加させることができる。
【００３３】実施の形態６．図６はこの発明の実施の形
態６を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、１１は送
受切換器３の入出力信号を周波数ごとに分配する分波
器、１０ａは上記分波器からの第１の周波数を有する信
号を偏波ごとに分配する第１の偏分波器、４ａは上記偏
分波器１０からの第１の周波数を有する水平偏波受信信
号に対しパルスごとに移相を変化させる第１の移相器、
５ａは上記第１の移相器４ａからの出力信号を減衰させ
る第１の減衰器、６は上記第１の減衰器５ａからの出力
信号を増幅し、上記偏分波器１０、分波器１１、送受切
換器３、一次放射器２経由で合成開口レーダ１へ第１の
周波数を有する水平偏波の電波を送信する第１の増幅
器、４ｂは上記偏分波器１０からの第１の周波数を有す
る垂直偏波受信信号に対しパルスごとに移相を変化させ
る第２の移相器、５ｂは上記第２の移相器４ｂからの出
力信号を減衰させる第２の減衰器、６ｂは上記第２の減
衰器５ｂからの出力信号を増幅し、上記偏分波器１０、
分波器１１、送受切換器３、一次放射器２経由で合成開
口レーダ１へ第１の周波数を有する垂直偏波の電波を送
信する第２の増幅器、１０ｂは上記分波器１１からの第
２の周波数を有する信号を偏波ごとに分配する第２の偏
分波器、４ｃは上記偏分波器１０ｂからの第２の周波数
を有する水平偏波受信信号に対しパルスごとに移相を変
化させる第３の移相器、５ｃは上記第３の移相器４ｃか
らの出力信号を減衰させる第３の減衰器、６ｃは上記第
３の減衰器５ｃからの出力信号を増幅し、上記偏分波器
１０ｂ、分波器１１、送受切換器３、一次放射器２経由
で合成開口レーダ１へ第２の周波数を有する水平偏波の
電波を送信する第３の増幅器、４ｄは上記偏分波器１０
ｂからの第２の周波数を有する垂直偏波受信信号に対し
パルスごとに移相を変化させる第４の移相器、５ｄは上
記第４の移相器４ｄからの出力信号を減衰させる第４の
減衰器、６ｄは上記第４の減衰器５ｄからの出力信号を
増幅し、上記偏分波器１０ｂ、分波器１１、送受切換器
３、一次放射器２経由で合成開口レーダ１へ第２の周波
数を有する垂直偏波の電波を送信する第４の増幅器、７
は合成開口レーダ１に入出力される電波に対してＮｅａ
ｒ ＦｉｅｌｄからＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するため
の金属面オフセットパラボラである。
態６を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、１１は送
受切換器３の入出力信号を周波数ごとに分配する分波
器、１０ａは上記分波器からの第１の周波数を有する信
号を偏波ごとに分配する第１の偏分波器、４ａは上記偏
分波器１０からの第１の周波数を有する水平偏波受信信
号に対しパルスごとに移相を変化させる第１の移相器、
５ａは上記第１の移相器４ａからの出力信号を減衰させ
る第１の減衰器、６は上記第１の減衰器５ａからの出力
信号を増幅し、上記偏分波器１０、分波器１１、送受切
換器３、一次放射器２経由で合成開口レーダ１へ第１の
周波数を有する水平偏波の電波を送信する第１の増幅
器、４ｂは上記偏分波器１０からの第１の周波数を有す
る垂直偏波受信信号に対しパルスごとに移相を変化させ
る第２の移相器、５ｂは上記第２の移相器４ｂからの出
力信号を減衰させる第２の減衰器、６ｂは上記第２の減
衰器５ｂからの出力信号を増幅し、上記偏分波器１０、
分波器１１、送受切換器３、一次放射器２経由で合成開
口レーダ１へ第１の周波数を有する垂直偏波の電波を送
信する第２の増幅器、１０ｂは上記分波器１１からの第
２の周波数を有する信号を偏波ごとに分配する第２の偏
分波器、４ｃは上記偏分波器１０ｂからの第２の周波数
を有する水平偏波受信信号に対しパルスごとに移相を変
化させる第３の移相器、５ｃは上記第３の移相器４ｃか
らの出力信号を減衰させる第３の減衰器、６ｃは上記第
３の減衰器５ｃからの出力信号を増幅し、上記偏分波器
１０ｂ、分波器１１、送受切換器３、一次放射器２経由
で合成開口レーダ１へ第２の周波数を有する水平偏波の
電波を送信する第３の増幅器、４ｄは上記偏分波器１０
ｂからの第２の周波数を有する垂直偏波受信信号に対し
パルスごとに移相を変化させる第４の移相器、５ｄは上
記第４の移相器４ｄからの出力信号を減衰させる第４の
減衰器、６ｄは上記第４の減衰器５ｄからの出力信号を
増幅し、上記偏分波器１０ｂ、分波器１１、送受切換器
３、一次放射器２経由で合成開口レーダ１へ第２の周波
数を有する垂直偏波の電波を送信する第４の増幅器、７
は合成開口レーダ１に入出力される電波に対してＮｅａ
ｒ ＦｉｅｌｄからＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するため
の金属面オフセットパラボラである。
【００３４】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１と
同様に合成開口レーダ１から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ７によってＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電
波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器２において
受信される。この電波は送受切換器３を経由した後、分
波器１１によって第１の周波数と第２の周波数の２つの
電波に分波する。それぞれの周波数を有する電波出力は
さらに偏分波器１０ａ及び第２の偏分波器１０ｂによっ
て水平偏波成分及び垂直偏波成分の２系統に分配され
る。これによって２周波数、２偏波の計４チャンネルの
電波に分割されることになる。実施の形態１と同様に第
１の周波数の水平偏波については移相器４ａによって移
相値を、減衰器５ａによって振幅値を変化させ、増幅器
６ａによって増幅した後、第１の周波数の垂直偏波につ
いては移相器４ｂによって移相値を、減衰器５ｂによっ
て振幅値を変化させ、増幅器６ｂによって増幅した後、
第２の周波数の水平偏波については移相器４ｃによって
移相値を、減衰器５ｃによって振幅値を変化させ、増幅
器６ｃによって増幅した後、第２の周波数の垂直偏波に
ついては移相器４ｄによって移相値を、減衰器５ｄによ
って振幅値を変化させ、増幅器６ｄによって増幅した
後、再び偏分波器１０ａ或いは偏分波器１０ｂ及び分波
器１１によって第１の周波数を有する水平偏波電波、垂
直偏波電波、第２の周波数を有する水平偏波電波、垂直
偏波電波が合成され、送受切換器３を経由して一次放射
器２から金属面オフセットパラボラ７に向かって送信さ
れる。この電波は金属面オフセットパラボラ７によって
再びＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、合成開口レーダ１
によって受信され、合成開口処理が施されることによっ
て多偏波、複数周波数合成開口レーダシステム全体の点
像応答が同時に評価されることになる。なお、この例で
は周波数の数を２としたが、この数は分波器を追加する
ことによって任意の値に増加させることができる。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１と
同様に合成開口レーダ１から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ７によってＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電
波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器２において
受信される。この電波は送受切換器３を経由した後、分
波器１１によって第１の周波数と第２の周波数の２つの
電波に分波する。それぞれの周波数を有する電波出力は
さらに偏分波器１０ａ及び第２の偏分波器１０ｂによっ
て水平偏波成分及び垂直偏波成分の２系統に分配され
る。これによって２周波数、２偏波の計４チャンネルの
電波に分割されることになる。実施の形態１と同様に第
１の周波数の水平偏波については移相器４ａによって移
相値を、減衰器５ａによって振幅値を変化させ、増幅器
６ａによって増幅した後、第１の周波数の垂直偏波につ
いては移相器４ｂによって移相値を、減衰器５ｂによっ
て振幅値を変化させ、増幅器６ｂによって増幅した後、
第２の周波数の水平偏波については移相器４ｃによって
移相値を、減衰器５ｃによって振幅値を変化させ、増幅
器６ｃによって増幅した後、第２の周波数の垂直偏波に
ついては移相器４ｄによって移相値を、減衰器５ｄによ
って振幅値を変化させ、増幅器６ｄによって増幅した
後、再び偏分波器１０ａ或いは偏分波器１０ｂ及び分波
器１１によって第１の周波数を有する水平偏波電波、垂
直偏波電波、第２の周波数を有する水平偏波電波、垂直
偏波電波が合成され、送受切換器３を経由して一次放射
器２から金属面オフセットパラボラ７に向かって送信さ
れる。この電波は金属面オフセットパラボラ７によって
再びＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、合成開口レーダ１
によって受信され、合成開口処理が施されることによっ
て多偏波、複数周波数合成開口レーダシステム全体の点
像応答が同時に評価されることになる。なお、この例で
は周波数の数を２としたが、この数は分波器を追加する
ことによって任意の値に増加させることができる。
【００３５】実施の形態７．図７はこの発明の実施の形
態７を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、４は上記
送受切換器３からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、５は上記移相器４からの出力信号を
減衰させる減衰器、６は上記減衰器５からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器３、一次放射器２経由で合成開
口レーダ１へ電波を送信する増幅器、７は合成開口レー
ダ１に入出力される電波に対してＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄ
からＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するための金属面オフセ
ットパラボラである。また、１２ａは上記一次放射器
２、送受切換器３、移相器４、減衰器５、増幅器６から
構成される第１の疑似ターゲット発生器、１２ｂは上記
第１の疑似ターゲット発生器１２ａと同様の構成の第２
の疑似ターゲット発生器、１２ｃはやはり上記第１の疑
似ターゲット発生器と同様の構成の第３の疑似ターゲッ
ト発生器である。
態７を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、４は上記
送受切換器３からの受信信号に対しパルスごとに移相を
変化させる移相器、５は上記移相器４からの出力信号を
減衰させる減衰器、６は上記減衰器５からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器３、一次放射器２経由で合成開
口レーダ１へ電波を送信する増幅器、７は合成開口レー
ダ１に入出力される電波に対してＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄ
からＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するための金属面オフセ
ットパラボラである。また、１２ａは上記一次放射器
２、送受切換器３、移相器４、減衰器５、増幅器６から
構成される第１の疑似ターゲット発生器、１２ｂは上記
第１の疑似ターゲット発生器１２ａと同様の構成の第２
の疑似ターゲット発生器、１２ｃはやはり上記第１の疑
似ターゲット発生器と同様の構成の第３の疑似ターゲッ
ト発生器である。
【００３６】次に動作について説明する。第１の疑似タ
ーゲット発生器１２ａ自体は合成開口レーダ１、金属面
オフセットパラボラ７と組み合わせて使用することによ
り実施の形態１と全く同じ動作を行うものである。これ
に第２の疑似ターゲット発生器１２ｂ、及び第３の疑似
ターゲット発生器１２ｃをエレベーション方向に並列に
組み合わせることによって合成開口レーダがスキャンＳ
ＡＲによってエレベーション方向がビームを走査した際
のシステム評価を行うことができる。即ち、合成開口レ
ーダ１のビームがビームポジション１（エレベーション
位置、以下も同じ）に存在する時には第１の疑似ターゲ
ット発生器１２ａを使用してターゲット信号を受け、ビ
ームポジション２に存在する時には第２の疑似ターゲッ
ト発生器１２ｂを使用してターゲット信号を受け、ビー
ムポジション３に存在する時には第３の疑似ターゲット
発生器１２ｃを使用してターゲット信号を受ける。この
ようにして高速にビームを走査しながら、連続的にター
ゲット信号を受信することができるため、スキャンＳＡ
Ｒモードにおける点像評価試験が可能となる。また、そ
れぞれの疑似ターゲット発生器の発生信号パターン（移
相の絶対値、振幅等）を変化させれば、スキャンＳＡＲ
時にそれぞれのビームポジションのビームが走査された
ことを確認する手段にもなり得る。なお、この例ではビ
ームスポット数を３としたが、この数は疑似ターゲット
発生器を追加することによって任意の数に増加させるこ
とができる。
ーゲット発生器１２ａ自体は合成開口レーダ１、金属面
オフセットパラボラ７と組み合わせて使用することによ
り実施の形態１と全く同じ動作を行うものである。これ
に第２の疑似ターゲット発生器１２ｂ、及び第３の疑似
ターゲット発生器１２ｃをエレベーション方向に並列に
組み合わせることによって合成開口レーダがスキャンＳ
ＡＲによってエレベーション方向がビームを走査した際
のシステム評価を行うことができる。即ち、合成開口レ
ーダ１のビームがビームポジション１（エレベーション
位置、以下も同じ）に存在する時には第１の疑似ターゲ
ット発生器１２ａを使用してターゲット信号を受け、ビ
ームポジション２に存在する時には第２の疑似ターゲッ
ト発生器１２ｂを使用してターゲット信号を受け、ビー
ムポジション３に存在する時には第３の疑似ターゲット
発生器１２ｃを使用してターゲット信号を受ける。この
ようにして高速にビームを走査しながら、連続的にター
ゲット信号を受信することができるため、スキャンＳＡ
Ｒモードにおける点像評価試験が可能となる。また、そ
れぞれの疑似ターゲット発生器の発生信号パターン（移
相の絶対値、振幅等）を変化させれば、スキャンＳＡＲ
時にそれぞれのビームポジションのビームが走査された
ことを確認する手段にもなり得る。なお、この例ではビ
ームスポット数を３としたが、この数は疑似ターゲット
発生器を追加することによって任意の数に増加させるこ
とができる。
【００３７】実施の形態８．図８はこの発明の実施の形
態８を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、１０は送
受切換器３の入出力信号を偏波ごとに分配する偏分波
器、１８は偏分波器１０からの水平偏波受信信号及び垂
直偏波信号をパルスごとに切り換える偏波切換スイッ
チ、４は上記偏波切換スイッチ１８からの出力信号に対
しパルスごとに移相を変化させる移相器、５は上記移相
器４からの出力信号を減衰させる減衰器、６は上記減衰
器５からの出力信号を増幅し、上記偏波切換スイッチ１
８、偏分波器１０、送受切換器３、一次放射器２経由で
合成開口レーダ１へ水平偏波及び垂直偏波の電波を送信
する増幅器、７は合成開口レーダ１に入出力される電波
に対してＮｅａｒ ＦｉｅｌｄからＦａｒ Ｆｉｅｌｄ
に変換するための金属面オフセットパラボラである。
態８を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、１０は送
受切換器３の入出力信号を偏波ごとに分配する偏分波
器、１８は偏分波器１０からの水平偏波受信信号及び垂
直偏波信号をパルスごとに切り換える偏波切換スイッ
チ、４は上記偏波切換スイッチ１８からの出力信号に対
しパルスごとに移相を変化させる移相器、５は上記移相
器４からの出力信号を減衰させる減衰器、６は上記減衰
器５からの出力信号を増幅し、上記偏波切換スイッチ１
８、偏分波器１０、送受切換器３、一次放射器２経由で
合成開口レーダ１へ水平偏波及び垂直偏波の電波を送信
する増幅器、７は合成開口レーダ１に入出力される電波
に対してＮｅａｒ ＦｉｅｌｄからＦａｒ Ｆｉｅｌｄ
に変換するための金属面オフセットパラボラである。
【００３８】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１と
同様に合成開口レーダ１から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ７によってＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電
波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器２において
受信される。この電波は送受切換器３を経由した後、偏
分波器１０によって水平偏波電波と垂直偏波の電波に分
波する。それぞれの偏波出力はパルスごとに偏波切換ス
イッチ１８によって水平、垂直が選択され、いずれかの
偏波受信信号に対して実施の形態１と同様に移相器４に
よって移相値を、減衰器５によって振幅値を変化させ、
増幅器６によって増幅した後、再び偏波切換スイッチ１
８、偏分波器１０、送受切換器３を経由して一次放射器
２から金属面オフセットパラボラ７に向かって送信され
る。この電波は金属面オフセットパラボラ７によって再
びＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、合成開口レーダ１に
よって受信され、合成開口処理が施されることによって
水平偏波、垂直偏波から構成される多偏波合成開口レー
ダシステム全体の点像応答がパルスごとに同時に評価さ
れることになる。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１と
同様に合成開口レーダ１から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ７によってＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電
波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器２において
受信される。この電波は送受切換器３を経由した後、偏
分波器１０によって水平偏波電波と垂直偏波の電波に分
波する。それぞれの偏波出力はパルスごとに偏波切換ス
イッチ１８によって水平、垂直が選択され、いずれかの
偏波受信信号に対して実施の形態１と同様に移相器４に
よって移相値を、減衰器５によって振幅値を変化させ、
増幅器６によって増幅した後、再び偏波切換スイッチ１
８、偏分波器１０、送受切換器３を経由して一次放射器
２から金属面オフセットパラボラ７に向かって送信され
る。この電波は金属面オフセットパラボラ７によって再
びＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、合成開口レーダ１に
よって受信され、合成開口処理が施されることによって
水平偏波、垂直偏波から構成される多偏波合成開口レー
ダシステム全体の点像応答がパルスごとに同時に評価さ
れることになる。
【００３９】実施の形態９．図９はこの発明の実施の形
態９を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、４ａは分
波器１１からの受信信号に対しパルスごとに移相を変化
させる第１の移相器、５は上記移相器４ａからの出力信
号を減衰させる第１の減衰器、１９は上記送受切換器３
からの出力を分配した信号を時間的に遅延させる遅延
線、４ｂは遅延線１９からの遅延した受信信号に対しパ
ルスごとに移相を変化させる第２の移相器、５ｂは上記
移相器４ｂからの出力信号を減衰させる第２の減衰器、
２０は上記第１の減衰器５ａ及び第２の減衰器５ｂの出
力を合成する方向性結合器、６は上記方向性結合器２０
からの出力信号を増幅し、上記送受切換器３、一次放射
器２経由で合成開口レーダ１へ電波を送信する増幅器、
７は合成開口レーダ１に入出力される電波に対してＮｅ
ａｒ ＦｉｅｌｄからＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するた
めの金属面オフセットパラボラである。
態９を示す図であり、図において１は被試験体である合
成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間で電波
の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放射器２
における送信、受信を切り換える送受切換器、４ａは分
波器１１からの受信信号に対しパルスごとに移相を変化
させる第１の移相器、５は上記移相器４ａからの出力信
号を減衰させる第１の減衰器、１９は上記送受切換器３
からの出力を分配した信号を時間的に遅延させる遅延
線、４ｂは遅延線１９からの遅延した受信信号に対しパ
ルスごとに移相を変化させる第２の移相器、５ｂは上記
移相器４ｂからの出力信号を減衰させる第２の減衰器、
２０は上記第１の減衰器５ａ及び第２の減衰器５ｂの出
力を合成する方向性結合器、６は上記方向性結合器２０
からの出力信号を増幅し、上記送受切換器３、一次放射
器２経由で合成開口レーダ１へ電波を送信する増幅器、
７は合成開口レーダ１に入出力される電波に対してＮｅ
ａｒ ＦｉｅｌｄからＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するた
めの金属面オフセットパラボラである。
【００４０】次に動作について説明する。前記のように
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１と
同様に合成開口レーダ１から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ７によってＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電
波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器２において
受信される。この電波は送受切換器３を経由した後、遅
延線１９を通過して遅延を有する電波と遅延線１９を通
らないでそのまま通過する電波に分波する。それぞれの
電波出力は実施の形態１と同様に遅延線を通過しない第
１のターゲット信号については移相器４によって移相値
を、減衰器５ａによって振幅値を変化させ、遅延線１９
を通過した第２のターゲット信号については移相器４ｂ
によって移相値を、減衰器５ｂによって振幅値を変化さ
せ、方向性結合器２０によって両者の出力を合成した
後、増幅器６によって増幅し、送受切換器３を経由して
一次放射器２から金属面オフセットパラボラ７に向かっ
て送信される。この電波は金属面オフセットパラボラ７
によって再びＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、合成開口
レーダ１によって受信され、合成開口処理が施されるこ
とによって合成開口レーダシステム全体の複数ターゲッ
トによる点像応答が同時に評価されることになる。これ
によって複数のターゲットが存在しないと試験不可能な
ダイナミックレンジの確認（第１のターゲットのレベル
を大きく、第２のターゲットのレベルを小さくする）、
ラジオメトリック精度（第１のターゲットと第２のター
ゲットのレベル差を計測したい精度範囲とする）の確認
が可能となる。なお、この例ではターゲットの数を２と
したが、この数は遅延線、移相器、減衰器を追加するこ
とによって任意の値に増加させることができる。
構成された合成開口レーダの試験装置は実施の形態１と
同様に合成開口レーダ１から送信された電波は金属面オ
フセットパラボラ７によってＮｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電
波がＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換された後、パラボラの焦
点に位置するターゲット発生器の一次放射器２において
受信される。この電波は送受切換器３を経由した後、遅
延線１９を通過して遅延を有する電波と遅延線１９を通
らないでそのまま通過する電波に分波する。それぞれの
電波出力は実施の形態１と同様に遅延線を通過しない第
１のターゲット信号については移相器４によって移相値
を、減衰器５ａによって振幅値を変化させ、遅延線１９
を通過した第２のターゲット信号については移相器４ｂ
によって移相値を、減衰器５ｂによって振幅値を変化さ
せ、方向性結合器２０によって両者の出力を合成した
後、増幅器６によって増幅し、送受切換器３を経由して
一次放射器２から金属面オフセットパラボラ７に向かっ
て送信される。この電波は金属面オフセットパラボラ７
によって再びＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換され、合成開口
レーダ１によって受信され、合成開口処理が施されるこ
とによって合成開口レーダシステム全体の複数ターゲッ
トによる点像応答が同時に評価されることになる。これ
によって複数のターゲットが存在しないと試験不可能な
ダイナミックレンジの確認（第１のターゲットのレベル
を大きく、第２のターゲットのレベルを小さくする）、
ラジオメトリック精度（第１のターゲットと第２のター
ゲットのレベル差を計測したい精度範囲とする）の確認
が可能となる。なお、この例ではターゲットの数を２と
したが、この数は遅延線、移相器、減衰器を追加するこ
とによって任意の値に増加させることができる。
【００４１】実施の形態１０．図１０はこの発明の実施
の形態１０を示す図であり、図において１は被試験体で
ある合成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間
で電波の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放
射器２における送信、受信を切り換える送受切換器、４
ａは分波器１１からの受信信号に対しパルスごとに移相
を変化させる第１の移相器、５ａは上記移相器４ａから
の出力信号を減衰させる第１の減衰器、１９は上記送受
切換器３からの出力を分配した信号を時間的に遅延させ
る遅延線、４ｂは遅延線１９からの遅延した受信信号に
対しパルスごとに移相を変化させる第２の移相器、５ｂ
は上記移相器４ｂからの出力信号を減衰させる第２の減
衰器、２０は上記第１の減衰器５ａ及び第２の減衰器５
ｂの出力を合成する方向性結合器、６は上記方向性結合
器２０からの出力信号を増幅し、上記送受切換器３、一
次放射器２経由で合成開口レーダ１へ電波を送信する増
幅器である。
の形態１０を示す図であり、図において１は被試験体で
ある合成開口レーダ、２は上記合成開口レーダ１との間
で電波の送受を行うための一次放射器、３は上記一次放
射器２における送信、受信を切り換える送受切換器、４
ａは分波器１１からの受信信号に対しパルスごとに移相
を変化させる第１の移相器、５ａは上記移相器４ａから
の出力信号を減衰させる第１の減衰器、１９は上記送受
切換器３からの出力を分配した信号を時間的に遅延させ
る遅延線、４ｂは遅延線１９からの遅延した受信信号に
対しパルスごとに移相を変化させる第２の移相器、５ｂ
は上記移相器４ｂからの出力信号を減衰させる第２の減
衰器、２０は上記第１の減衰器５ａ及び第２の減衰器５
ｂの出力を合成する方向性結合器、６は上記方向性結合
器２０からの出力信号を増幅し、上記送受切換器３、一
次放射器２経由で合成開口レーダ１へ電波を送信する増
幅器である。
【００４２】次に動作について説明する。この実施の形
態では試験装置は外部校正の１手段であるアクティブレ
ーダキャリブレータとして動作する。この場合、合成開
口レーダ１からの電波は合成開口レーダの試験装置によ
って受信され、再び合成開口レーダの試験装置によって
送信した信号を再度合成開口レーダ１によって受信し、
振幅を測定することによってレーダ全系の校正を行う。
前記のように構成された合成開口レーダの試験装置にお
いては合成開口レーダ１から送信された電波は空中を伝
搬し、一次放射器２において受信される。この電波は送
受切換器３を経由した後、遅延線１９を通過して遅延を
有する電波と遅延線１９を通らないでそのまま通過する
電波に分波する。それぞれの電波出力は実施の形態１と
同様に遅延線を通過しない第１のターゲット信号につい
ては移相器４ａによって移相値を、減衰器５ａによって
振幅値を変化させ、遅延線１９を通過した第２のターゲ
ット信号については移相器４ｂによって移相値を、減衰
器５ｂによって振幅値を変化させ、方向性結合器２０に
よって両者の出力を合成した後、増幅器６によって増幅
し、送受切換器３を経由して一次放射器２から合成開口
レーダ１に向かって送信される。この電波は再び空中を
伝搬した後に合成開口レーダ１によって受信され、合成
開口処理が施され、振幅、移相を評価することによって
合成開口レーダ１における複数ターゲットによる外部キ
ャリブレーションが同時に行われることになる。なお、
この例ではターゲットの数を２としたが、この数は遅延
線、移相器、減衰器を追加することによって任意の値に
増加させることができる。なお、この第１０の発明にお
いては数ｋｍ程度の距離の屋外で行わなければならない
という課題を解決することにはならないが、アクティブ
レーダキャリブレーションは実際には衛星に搭載された
状態で実際の観測との比較のために地上のある固定され
た点との間で行うものであり、この場合はこの課題につ
いては問題とならない。
態では試験装置は外部校正の１手段であるアクティブレ
ーダキャリブレータとして動作する。この場合、合成開
口レーダ１からの電波は合成開口レーダの試験装置によ
って受信され、再び合成開口レーダの試験装置によって
送信した信号を再度合成開口レーダ１によって受信し、
振幅を測定することによってレーダ全系の校正を行う。
前記のように構成された合成開口レーダの試験装置にお
いては合成開口レーダ１から送信された電波は空中を伝
搬し、一次放射器２において受信される。この電波は送
受切換器３を経由した後、遅延線１９を通過して遅延を
有する電波と遅延線１９を通らないでそのまま通過する
電波に分波する。それぞれの電波出力は実施の形態１と
同様に遅延線を通過しない第１のターゲット信号につい
ては移相器４ａによって移相値を、減衰器５ａによって
振幅値を変化させ、遅延線１９を通過した第２のターゲ
ット信号については移相器４ｂによって移相値を、減衰
器５ｂによって振幅値を変化させ、方向性結合器２０に
よって両者の出力を合成した後、増幅器６によって増幅
し、送受切換器３を経由して一次放射器２から合成開口
レーダ１に向かって送信される。この電波は再び空中を
伝搬した後に合成開口レーダ１によって受信され、合成
開口処理が施され、振幅、移相を評価することによって
合成開口レーダ１における複数ターゲットによる外部キ
ャリブレーションが同時に行われることになる。なお、
この例ではターゲットの数を２としたが、この数は遅延
線、移相器、減衰器を追加することによって任意の値に
増加させることができる。なお、この第１０の発明にお
いては数ｋｍ程度の距離の屋外で行わなければならない
という課題を解決することにはならないが、アクティブ
レーダキャリブレーションは実際には衛星に搭載された
状態で実際の観測との比較のために地上のある固定され
た点との間で行うものであり、この場合はこの課題につ
いては問題とならない。
【００４３】
【発明の効果】第１の発明によれば、Ｎｅａｒ Ｆｉｅ
ｌｄをＦａｒ Ｆｉｅｌｄに等価的に変換することによ
って狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験が可
能となる。
ｌｄをＦａｒ Ｆｉｅｌｄに等価的に変換することによ
って狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験が可
能となる。
【００４４】第２の発明によれば、メッシュ型の柱パラ
ボラ鏡を使用することにより材料である金属量を減少さ
せることが可能となり、第１の発明による効果に加えて
さらに試験装置の軽量化、低コスト化が可能となる。
ボラ鏡を使用することにより材料である金属量を減少さ
せることが可能となり、第１の発明による効果に加えて
さらに試験装置の軽量化、低コスト化が可能となる。
【００４５】第３の発明によれば、アンテナ回転台によ
って合成開口レーダを回転させることによりビームをス
キャンした状態で狭い屋内での合成開口レーダシステム
総合試験が可能となる。
って合成開口レーダを回転させることによりビームをス
キャンした状態で狭い屋内での合成開口レーダシステム
総合試験が可能となる。
【００４６】第４の発明によれば、偏分波器を利用する
ことにより複数偏波同時に狭い屋内での合成開口レーダ
システム総合試験が可能となる。
ことにより複数偏波同時に狭い屋内での合成開口レーダ
システム総合試験が可能となる。
【００４７】第５の発明によれば、分波器を利用するこ
とにより複数周波数同時に狭い屋内での合成開口レーダ
システム総合試験が可能となる。
とにより複数周波数同時に狭い屋内での合成開口レーダ
システム総合試験が可能となる。
【００４８】第６の発明によれば、分波器及び２つの偏
分波器を利用することにより複数周波数及び複数偏波同
時に狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験が可
能となる。
分波器を利用することにより複数周波数及び複数偏波同
時に狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験が可
能となる。
【００４９】第７の発明によれば、スキャンＳＡＲ（Ｓ
ｙｎｔｈｅｔｉｃ Ａｐｅｒｔｕｒｅ Ｒａｄａｒ）モ
ード時に狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験
が可能となり、しかも同時にスキャンＳＡＲの機能確認
が実現できる。
ｙｎｔｈｅｔｉｃ Ａｐｅｒｔｕｒｅ Ｒａｄａｒ）モ
ード時に狭い屋内での合成開口レーダシステム総合試験
が可能となり、しかも同時にスキャンＳＡＲの機能確認
が実現できる。
【００５０】第８の発明によれば、偏分波器、偏波切換
スイッチを利用することにより、ハードウェアを増加さ
せることなく、複数偏波同時に狭い屋内での合成開口レ
ーダシステム総合試験が可能となる。
スイッチを利用することにより、ハードウェアを増加さ
せることなく、複数偏波同時に狭い屋内での合成開口レ
ーダシステム総合試験が可能となる。
【００５１】第９の発明によれば、遅延線を利用するこ
とにより複数ターゲット同時に狭い屋内での合成開口レ
ーダシステム総合試験が可能となる。
とにより複数ターゲット同時に狭い屋内での合成開口レ
ーダシステム総合試験が可能となる。
【００５２】第１０の発明によれば、遅延線を利用する
ことにより複数ターゲット同時にアクティブレーダキャ
リブレーション方式による合成開口レーダの外部校正が
可能となる。
ことにより複数ターゲット同時にアクティブレーダキャ
リブレーション方式による合成開口レーダの外部校正が
可能となる。
【図１】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態１を示す図である。
実施の形態１を示す図である。
【図２】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態２を示す図である。
実施の形態２を示す図である。
【図３】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態３を示す図である。
実施の形態３を示す図である。
【図４】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態４を示す図である。
実施の形態４を示す図である。
【図５】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態５を示す図である。
実施の形態５を示す図である。
【図６】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態６を示す図である。
実施の形態６を示す図である。
【図７】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態７を示す図である。
実施の形態７を示す図である。
【図８】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態８を示す図である。
実施の形態８を示す図である。
【図９】 この発明による合成開口レーダの試験装置の
実施の形態９を示す図である。
実施の形態９を示す図である。
【図１０】 この発明による合成開口レーダの試験装置
の実施の形態１０を示す図である。
の実施の形態１０を示す図である。
【図１１】 従来の合成開口レーダの試験装置を示す図
である。
である。
【図１２】 合成開口レーダの原理を説明する図であ
る。
る。
【図１３】 移相器及び減衰器に設定する移相及び減衰
量を示す図である。
量を示す図である。
１ 合成開口レーダ、２ 一次放射器、３ 送受切換
器、４ 移相器、５ 減衰器、６ 増幅器、７ 金属面
オフセットパラボラ、８ メッシュ面オフセットパラボ
ラ、９ アンテナ回転台、１０ 偏分波器、１１ 分波
器、１２ 疑似ターゲット発生器、１３ レーダビー
ム、１４ 地表、１５ 時間、１６ 移相量、１７ 減
衰量、１８ 偏波切換スイッチ、１９ 遅延線、２０
方向性結合器。
器、４ 移相器、５ 減衰器、６ 増幅器、７ 金属面
オフセットパラボラ、８ メッシュ面オフセットパラボ
ラ、９ アンテナ回転台、１０ 偏分波器、１１ 分波
器、１２ 疑似ターゲット発生器、１３ レーダビー
ム、１４ 地表、１５ 時間、１６ 移相量、１７ 減
衰量、１８ 偏波切換スイッチ、１９ 遅延線、２０
方向性結合器。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−45788（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−230108（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−38580（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−38579（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−38578（ＪＰ，Ａ) 実開 平３−110386（ＪＰ，Ｕ) 実開 平６−47884（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01S 7/00 - 7/42 G01S 13/00 - 13/95
Claims (9)
- 【請求項１】 被試験体である合成開口レーダからのＮ
ｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電波をＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器からの受信信号に対しパルスごと
に移相を変化させる移相器と、上記移相器からの出力信
号を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器経由で上記一次放射器からの電
波を送信するための増幅器とから構成される合成開口レ
ーダの試験装置。 - 【請求項２】 被試験体である合成開口レーダからのＮ
ｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電波をＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換す
るためのメッシュ面オフセットパラボラと、上記合成開
口レーダとの間で電波の送受を行うために上記メッシュ
面オフセットパラボラの焦点位置に配置された一次放射
器と、上記一次放射器における送信、受信を切り換える
送受切換器と、上記送受切換器からの受信信号に対しパ
ルスごとに移相を変化させる移相器と、上記移相器から
の出力信号を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出
力信号を増幅し、上記送受切換器経由で上記一次放射器
からの電波を送信するための増幅器とから構成される合
成開口レーダの試験装置。 - 【請求項３】 被試験体である合成開口レーダを支持す
るアンテナ回転台と、上記合成開口レーダからのＮｅａ
ｒ Ｆｉｅｌｄの電波をＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換するた
めの金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レーダ
との間で電波の送受を行うために上記金属面オフセット
パラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上記一
次放射器における送信、受信を切り換える送受切換器
と、上記送受切換器からの受信信号に対しパルスごとに
移相を変化させる移相器と、上記移相器からの出力信号
を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出力信号を増
幅し、上記送受切換器経由で上記一次放射器から電波を
送信するための増幅器とから構成される合成開口レーダ
の試験装置。 - 【請求項４】 被試験体である合成開口レーダからのＮ
ｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電波をＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器の入出力信号を偏波ごとに分配す
る偏分波器と、上記偏分波器からの水平偏波受信信号に
対しパルスごとに移相を変化させる移相器と、上記移相
器からの出力信号を減衰させる減衰器と、上記減衰器か
らの出力信号を増幅し、上記偏分波器、送受切換器経由
で上記一次放射器からの水平偏波の電波を送信するため
の増幅器と、上記偏分波器からの垂直偏波受信信号に対
しパルスごとに移相を変化させる第２の移相器と、上記
第２の移相器からの出力信号を減衰させる第２の減衰器
と、上記第２の減衰器からの出力信号を増幅し、上記偏
分波器、送受切換器経由で上記一次放射器から垂直偏波
の電波を送信するための第２の増幅器とから構成される
合成開口レーダの試験装置。 - 【請求項５】 被試験体である合成開口レーダからのＮ
ｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電波をＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器の入出力信号を周波数ごとに分配
する分波器と、上記分波器からの第１の周波数を有する
受信信号に対しパルスごとに移相を変化させる移相器
と、上記移相器からの出力信号を減衰させる減衰器と、
上記減衰器からの出力信号を増幅し、上記分波器、送受
切換器経由で上記一次放射器から第１の周波数の電波を
送信するための増幅器と、上記分波器からの第２の周波
数を有する受信信号に対しパルスごとに移相を変化させ
る第２の移相器と、上記第２の移相器からの出力信号を
減衰させる第２の減衰器と、上記第２の減衰器からの出
力信号を増幅し、上記分波器、送受切換器経由で上記一
次放射器から第２の周波数の電波を送信するための第２
の増幅器とから構成される合成開口レーダの試験装置。 - 【請求項６】 被試験体である合成開口レーダからのＮ
ｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電波をＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器の入出力信号を周波数ごとに分配
する分波器と、上記分波器からの第１の周波数を有する
信号を偏波ごとに分配する偏分波器と、上記偏分波器か
らの第１の周波数を有する水平偏波受信信号に対しパル
スごとに移相を変化させる移相器と、上記移相器からの
出力信号を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出力
信号を増幅し、上記偏分波器、分波器、送受切換器経由
で上記一次放射器から第１の周波数の水平偏波の電波を
送信するための増幅器と、上記偏分波器からの第１の周
波数を有する垂直偏波受信信号に対しパルスごとに移相
を変化させる第２の移相器と、上記第２の移相器からの
出力信号を減衰させる第２の減衰器と、上記第２の減衰
器からの出力信号を増幅し、上記偏分波器、分波器、送
受切換器経由で上記一次放射器から第１の周波数の垂直
偏波の電波を送信するための第２の増幅器と、上記分波
器からの第２の周波数を有する信号を偏波ごとに分配す
る第２の偏分波器と、上記第２の偏分波器からの第２の
周波数を有する水平偏波受信信号に対しパルスごとに移
相を変化させる第３の移相器と、上記第３の移相器から
の出力信号を減衰させる第３の減衰器と、上記第３の減
衰器からの出力信号を増幅し、上記第２の偏分波器、分
波器、送受切換器経由で上記一次放射器から第２の周波
数の水平偏波の電波を送信するための第３の増幅器と、
上記第２の偏分波器からの第２の周波数を有する垂直偏
波受信信号に対しパルスごとに移相を変化させる第４の
移相器と、上記第４の移相器からの出力信号を減衰させ
る第４の減衰器と、上記第４の減衰器からの出力信号を
増幅し、上記第２の偏分波器、分波器、送受切換器経由
で上記一次放射器から第２の周波数の垂直偏波の電波を
送信するための第４の増幅器とから構成される合成開口
レーダの試験装置。 - 【請求項７】 被試験体である合成開口レーダからのＮ
ｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電波をＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器からの受信信号に対しパルスごと
に移相を変化させる移相器と、上記移相器からの出力信
号を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出力信号を
増幅し、上記送受切換器経由で上記一次放射器から電波
を送信するための増幅器と、上記一次放射器、送受切換
器、移相器、減衰器、増幅器を構成要素とする第１の疑
似ターゲット発生器と、同様の構成要素から構成される
第２の疑似ターゲット発生器と、同じく同様の構成要素
から構成される第３の疑似ターゲット発生器とから構成
される合成開口レーダの試験装置。 - 【請求項８】 被試験体である合成開口レーダからのＮ
ｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電波をＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器の入力信号を偏波ごとに分配する
偏分波器と、上記偏分波器からの水平偏波受信信号及び
垂直偏波受信信号をパルスごとに切り換える偏波切換ス
イッチと、上記偏波切換スイッチ出力信号に対しパルス
ごとに移相を変化させる移相器と、上記移相器からの出
力信号を減衰させる減衰器と、上記減衰器からの出力信
号を増幅し、上記偏波切換スイッチ、偏分波器、送受切
換器経由で上記一次放射器から電波を送信するための増
幅器とから構成される合成開口レーダの試験装置。 - 【請求項９】 被試験体である合成開口レーダからのＮ
ｅａｒ Ｆｉｅｌｄの電波をＦａｒ Ｆｉｅｌｄに変換す
るための金属面オフセットパラボラと、上記合成開口レ
ーダとの間で電波の送受を行うために上記金属面オフセ
ットパラボラの焦点位置に配置された一次放射器と、上
記一次放射器における送信、受信を切り換える送受切換
器と、上記送受切換器からの受信信号に対しパルスごと
に移相を変化させる移相器と、上記移相器からの出力信
号を減衰させる減衰器と、上記送受切換器からの分岐出
力を遅延させる遅延線と、上記遅延線からの信号に対し
パルスごとに移相を変化させる第２の移相器と、上記第
２の移相器からの出力信号を減衰させる第２の減衰器
と、上記減衰器からの出力信号及び上記第２の減衰器か
らの出力信号を合成する方向性結合器と、上記方向性結
合器からの出力信号を増幅し、上記送受切換器経由で上
記一次放射器から電波を送信するための増幅器とから構
成される合成開口レーダの試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03349996A JP3292024B2 (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 合成開口レーダの試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03349996A JP3292024B2 (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 合成開口レーダの試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09230029A JPH09230029A (ja) | 1997-09-05 |
| JP3292024B2 true JP3292024B2 (ja) | 2002-06-17 |
Family
ID=12388248
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03349996A Expired - Fee Related JP3292024B2 (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 合成開口レーダの試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3292024B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101472413B1 (ko) * | 2012-12-13 | 2014-12-12 | 국방과학연구소 | 영상 레이더 성능 분석 기법 |
| AT519538B1 (de) | 2016-12-29 | 2019-05-15 | Avl List Gmbh | Verfahren und System zur simulationsgestützten Bestimmung von Echopunkten sowie Verfahren zur Emulation und Emulationsvorrichtung |
| AT519540B1 (de) | 2016-12-29 | 2018-10-15 | Avl List Gmbh | Schaltvorrichtung für einen Radarzielemulator und Radarzielemulator mit einer solchen Schaltvorrichtung |
| AT519539B1 (de) | 2016-12-29 | 2018-10-15 | Avl List Gmbh | Radarzielemulator mit einer Überblendungsvorrichtung und Verfahren zum Überblenden von Signalen |
| AT520578B1 (de) | 2017-10-06 | 2021-01-15 | Avl List Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Konvertierung eines Radarsignals sowie Prüfstand |
-
1996
- 1996-02-21 JP JP03349996A patent/JP3292024B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09230029A (ja) | 1997-09-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6133868A (en) | System and method for fully self-contained calibration of an antenna array | |
| US10001517B2 (en) | Antenna system | |
| US5682165A (en) | Active array self calibration | |
| US5493304A (en) | Calibration system for wide band array using true-time-delay beamsteering | |
| Şeker | Calibration methods for phased array radars | |
| US5909191A (en) | Multiple beam antenna and beamforming network | |
| KR20190093124A (ko) | Esa 계측을 위한 방법 및 시스템 | |
| CN101278441A (zh) | 合成孔径环形阵列雷达 | |
| JPH04315984A (ja) | 海からの逆拡散係数を測定する衛星搭載用レーダ装置 | |
| JP3441326B2 (ja) | レーダ装置 | |
| US7038633B2 (en) | Antenna system and net drift verification | |
| US6067042A (en) | Test beacon for radar system | |
| CN111175712B (zh) | 相控阵雷达损伤评估与修复的验证系统 | |
| GB2289799A (en) | Improvements relating to radar antenna systems | |
| JP3292024B2 (ja) | 合成開口レーダの試験装置 | |
| JPH0130112B2 (ja) | ||
| US8085189B2 (en) | Antenna calibration | |
| JPH06230108A (ja) | レーダ絶対校正装置 | |
| JP2812319B2 (ja) | アクティブ・フェイズト・アレイ・レーダの位相校正装置 | |
| CA1240389A (en) | Adaptive antenna for reducing multipath fades | |
| WO2009027725A1 (en) | Antenna calibration | |
| JP2000111642A (ja) | 合成開口レーダの試験装置 | |
| Smolders et al. | System specification THEA | |
| US20100220003A1 (en) | Antenna calibration | |
| JP3757574B2 (ja) | フェーズドアレーレーダ装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080329 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090329 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100329 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100329 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110329 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |