JP3263553B2 - 光送信機 - Google Patents
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- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/29—Repeaters
- H04B10/291—Repeaters in which processing or amplification is carried out without conversion of the main signal from optical form
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- H04B10/2914—Repeaters in which processing or amplification is carried out without conversion of the main signal from optical form characterised by the medium used for amplification or processing using lumped semiconductor optical amplifiers [SOA]
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/50—Amplifier structures not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/5036—Amplifier structures not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30 the arrangement being polarisation-selective
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
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- H04B10/516—Details of coding or modulation
- H04B10/532—Polarisation modulation
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- H01S5/00—Semiconductor lasers
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- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/06233—Controlling other output parameters than intensity or frequency
- H01S5/06236—Controlling other output parameters than intensity or frequency controlling the polarisation, e.g. TM/TE polarisation switching
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、注入電流を制御するこ
とによって出力光の偏波面方向を互いに直交する2種類
の方向のどちらかに選択的に変化しうる半導体レーザな
どを有する光発光装置を用いた光送信機に関する。
とによって出力光の偏波面方向を互いに直交する2種類
の方向のどちらかに選択的に変化しうる半導体レーザな
どを有する光発光装置を用いた光送信機に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、注入電流を制御することによっ
て、出力光の偏波面方向を互いに直交するいわゆるTE
モード、TMモードの間で選択的に変化させる半導体レ
ーザ(分布帰還型(DFB)半導体レーザ)を用いた通
信方式については、特開昭62−42593号あるいは
特開昭62−144426号に記載がある。これらの従
来例では、上述の出力光の偏波モードをTEとTMの間
で変化させることが可能な半導体レーザと、出力光のう
ちどちらか一方の偏波面の光を透過する偏波選択手段と
を組み合わせて、偏波面の変化を強度変化に変換して、
光通信を行うものであった。
て、出力光の偏波面方向を互いに直交するいわゆるTE
モード、TMモードの間で選択的に変化させる半導体レ
ーザ(分布帰還型(DFB)半導体レーザ)を用いた通
信方式については、特開昭62−42593号あるいは
特開昭62−144426号に記載がある。これらの従
来例では、上述の出力光の偏波モードをTEとTMの間
で変化させることが可能な半導体レーザと、出力光のう
ちどちらか一方の偏波面の光を透過する偏波選択手段と
を組み合わせて、偏波面の変化を強度変化に変換して、
光通信を行うものであった。
【0003】このような通信に用いられる出力光の偏波
面が変化する半導体レーザを安定させて動作させるため
には、従来、半導体レーザに対して行われていたAPC
(自動パワ−制御)だけでは不十分で、半導体レーザの
動作点を安定させるための制御が必要であった。このた
めの制御方式としては、出力光の一部をTE偏波とTM
偏波に分離して、各々電気信号に変換し、2つの電気信
号をもとに半導体レーザを制御する方式などが考えられ
る。
面が変化する半導体レーザを安定させて動作させるため
には、従来、半導体レーザに対して行われていたAPC
(自動パワ−制御)だけでは不十分で、半導体レーザの
動作点を安定させるための制御が必要であった。このた
めの制御方式としては、出力光の一部をTE偏波とTM
偏波に分離して、各々電気信号に変換し、2つの電気信
号をもとに半導体レーザを制御する方式などが考えられ
る。
【0004】
【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、上
記の例では、注入電流を制御することにより出力光の偏
波面を変化させることができる半導体レーザの出力光の
一部を用いて、制御動作をするために次のような欠点が
あった。 (1)出力光の一部を制御に用いるために、それ用の光
学系が必要となる(系が複雑となる)。 (2)また、分岐用の光学系を半導体レーザと集積する
と、過剰損失が発生する(損失の増大)。
記の例では、注入電流を制御することにより出力光の偏
波面を変化させることができる半導体レーザの出力光の
一部を用いて、制御動作をするために次のような欠点が
あった。 (1)出力光の一部を制御に用いるために、それ用の光
学系が必要となる(系が複雑となる)。 (2)また、分岐用の光学系を半導体レーザと集積する
と、過剰損失が発生する(損失の増大)。
【0005】従って、本発明の目的は、損失が小さく簡
単な構成で偏波面が変調可能な半導体レーザなどの発光
手段の制御をかけることができる光発光装置を用いた光
送信機を提供することにある。
単な構成で偏波面が変調可能な半導体レーザなどの発光
手段の制御をかけることができる光発光装置を用いた光
送信機を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明による光送信機
は、励起状態を制御することによって、出力光の偏波面
方向を互いに直交する2つの方向のどちらかに選択的に
変化しうる発光手段と、該発光手段の出力光を増幅し、
該互いに直交する2種類の方向の偏波に対して増幅率が
異なる光増幅手段とから構成される光発光装置、及び前
記光増幅手段の光信号の増幅時における、該信号の互い
に直交する2種類の方向の偏波に対する該光増幅手段の
端子間電圧の変化を検出し、該検出信号にもとづいて、
前記発光手段の動作を制御する回路を有することを特徴
とする。
は、励起状態を制御することによって、出力光の偏波面
方向を互いに直交する2つの方向のどちらかに選択的に
変化しうる発光手段と、該発光手段の出力光を増幅し、
該互いに直交する2種類の方向の偏波に対して増幅率が
異なる光増幅手段とから構成される光発光装置、及び前
記光増幅手段の光信号の増幅時における、該信号の互い
に直交する2種類の方向の偏波に対する該光増幅手段の
端子間電圧の変化を検出し、該検出信号にもとづいて、
前記発光手段の動作を制御する回路を有することを特徴
とする。
【0007】
【0008】
【0009】
【0010】具体的には、発光手段は半導体レーザであ
る。また、光増幅手段は半導体光増幅器である。また、
半導体レーザと半導体光増幅器が1つの半導体基板上に
作製された集積デバイスである。また、光送信機は、光
発光装置の出力光の互いに直交する2種類の直線偏光の
光のうちのいずれか一方を透過させる偏光選択手段を更
に有する。
る。また、光増幅手段は半導体光増幅器である。また、
半導体レーザと半導体光増幅器が1つの半導体基板上に
作製された集積デバイスである。また、光送信機は、光
発光装置の出力光の互いに直交する2種類の直線偏光の
光のうちのいずれか一方を透過させる偏光選択手段を更
に有する。
【0011】
【第1実施例】図1は本実施例の特徴を最もよく表わす
図面であり、1は注入電流を制御することにより出力光
の偏波を選択的にTEまたはTMとすることができる半
導体レーザ、3は増幅率に偏波依存性のある光増幅器、
2は半導体レーザ1の出力光を光増幅器3へ結合するた
めの光学系などの光学系手段、4は光増幅器3の出力光
のうち、特定の偏波の光だけを透過させる偏光子、5は
偏光子4を透過してきた光を光ファイバ6へ結合するた
めの光結合手段、7は制御回路、9は制御回路7へ入力
される送信しようとしている電気信号、8は光ファイバ
6を伝送される光信号、12は光増幅器3の出力光を偏
光子4へ結合するための光結合手段である。
図面であり、1は注入電流を制御することにより出力光
の偏波を選択的にTEまたはTMとすることができる半
導体レーザ、3は増幅率に偏波依存性のある光増幅器、
2は半導体レーザ1の出力光を光増幅器3へ結合するた
めの光学系などの光学系手段、4は光増幅器3の出力光
のうち、特定の偏波の光だけを透過させる偏光子、5は
偏光子4を透過してきた光を光ファイバ6へ結合するた
めの光結合手段、7は制御回路、9は制御回路7へ入力
される送信しようとしている電気信号、8は光ファイバ
6を伝送される光信号、12は光増幅器3の出力光を偏
光子4へ結合するための光結合手段である。
【0012】半導体レーザ1は、例えば特開昭62−4
2593号に記載されているような構成をもつ分布帰還
型半導体レーザを用いることができる。また、光増幅器
3は、例えば半導体レーザ1の出力波長に利得のある活
性層を持つファブリペロー型半導体レーザの両端面に反
射防止膜が形成されている所謂進行波型半導体レーザア
ンプを用いる。このような光増幅器3は、導波路の非対
称性、活性領域の利得の偏光依存性により、増幅率に偏
光依存性を有している。この実施例では、光増幅器3の
活性層として多重量子井戸構成を持つものを用い、TE
モードの光に対して20dB程度の増幅率、TMモード
の光に対して13dB程度の増幅率を示すようにした。
図1の構成では、半導体レーザ1のTE光が、光増幅器
3のTEモードと結合するように構成してある。また、
偏光子4は、光増幅器3の出力光(増幅光)のTEモー
ドを透過するように設置した(TMモードだけを透過す
るようにしてもよい)。
2593号に記載されているような構成をもつ分布帰還
型半導体レーザを用いることができる。また、光増幅器
3は、例えば半導体レーザ1の出力波長に利得のある活
性層を持つファブリペロー型半導体レーザの両端面に反
射防止膜が形成されている所謂進行波型半導体レーザア
ンプを用いる。このような光増幅器3は、導波路の非対
称性、活性領域の利得の偏光依存性により、増幅率に偏
光依存性を有している。この実施例では、光増幅器3の
活性層として多重量子井戸構成を持つものを用い、TE
モードの光に対して20dB程度の増幅率、TMモード
の光に対して13dB程度の増幅率を示すようにした。
図1の構成では、半導体レーザ1のTE光が、光増幅器
3のTEモードと結合するように構成してある。また、
偏光子4は、光増幅器3の出力光(増幅光)のTEモー
ドを透過するように設置した(TMモードだけを透過す
るようにしてもよい)。
【0013】次に本実施例の動作について説明する。制
御回路7は制御信号10を含む半導体レーザ1への駆動
用電流を送り、その結果、出力された光が光増幅器3へ
入力される。制御回路7から電流11の注入される光増
幅器3中では入力された光信号が増幅され、この増幅作
用によって光増幅器3の端子間電圧に変化が生じる。光
増幅器3の活性層として多重量子井戸構成を持つものを
用いているので、この変化の度合が、入力光がTE光と
TM光の時で異なる(TE光の時の方が大きく変化す
る)。したがって、半導体レーザ1からの出力光の偏光
状態が、図2(a)に示すように、TE光とTM光から
構成されるパルス列であると、光増幅器3の端子間電圧
は図2(b)のように変化する。制御回路7は、このよ
うな電圧変化を用いて電圧パターンが一定になるように
半導体レーザ1を制御することにより、半導体レーザ1
のバイアス点を制御することが可能である。
御回路7は制御信号10を含む半導体レーザ1への駆動
用電流を送り、その結果、出力された光が光増幅器3へ
入力される。制御回路7から電流11の注入される光増
幅器3中では入力された光信号が増幅され、この増幅作
用によって光増幅器3の端子間電圧に変化が生じる。光
増幅器3の活性層として多重量子井戸構成を持つものを
用いているので、この変化の度合が、入力光がTE光と
TM光の時で異なる(TE光の時の方が大きく変化す
る)。したがって、半導体レーザ1からの出力光の偏光
状態が、図2(a)に示すように、TE光とTM光から
構成されるパルス列であると、光増幅器3の端子間電圧
は図2(b)のように変化する。制御回路7は、このよ
うな電圧変化を用いて電圧パターンが一定になるように
半導体レーザ1を制御することにより、半導体レーザ1
のバイアス点を制御することが可能である。
【0014】より詳細に説明すると以下のようになる。
制御回路7は、光増幅器3が光を増幅するときに光増幅
器3の端子間に生じる電圧変化を検知する機構を有す
る。この様な構成は、例えば、コイルとコンデンサから
成る回路(バイアスT)を用いることにより、注入電流
11を流しながら、電圧変化を検出することが可能であ
る。この様な構成を図3に示した。制御回路7は、図3
に示されるように、光増幅器3の駆動回路71、電圧変
化検出器72、DC−AC結合器73(バイアスT)、
半導体レーザ1用の駆動回路74、電圧変化検出器72
の出力をもとに半導体レーザ1の駆動回路74を制御す
る制御回路75を有する。ここでは、光増幅器駆動回路
71は、定電流を光増幅器3へ注入する様に動作させ
た。
制御回路7は、光増幅器3が光を増幅するときに光増幅
器3の端子間に生じる電圧変化を検知する機構を有す
る。この様な構成は、例えば、コイルとコンデンサから
成る回路(バイアスT)を用いることにより、注入電流
11を流しながら、電圧変化を検出することが可能であ
る。この様な構成を図3に示した。制御回路7は、図3
に示されるように、光増幅器3の駆動回路71、電圧変
化検出器72、DC−AC結合器73(バイアスT)、
半導体レーザ1用の駆動回路74、電圧変化検出器72
の出力をもとに半導体レーザ1の駆動回路74を制御す
る制御回路75を有する。ここでは、光増幅器駆動回路
71は、定電流を光増幅器3へ注入する様に動作させ
た。
【0015】ここで用いた半導体レーザ1の特性は、注
入電流量11により発振光の偏光方向がTEであったり
TMであったりするもので、図4に示される。
入電流量11により発振光の偏光方向がTEであったり
TMであったりするもので、図4に示される。
【0016】出力光の偏光状態を直交する方向で変化さ
せる変調方式では、変調のための駆動電流(変調電流)
が少なくて、大きな消光比が得られることが特徴であ
る。従って、バイアス点及び変調電流の振幅の設定がう
まく行われなければならない。図4に示されるような特
性の場合、バイアス点では、TM光が出力され、変調電
流のパルスがかかった時にはTE光が出力される。よっ
て、バイアス点では、極力TE光が出力されず、また、
パルスがかかった時には、極力TM光が出力されない状
態が実現でき、且つ、変調に用いるパルス振幅が極力小
さくなる動作点になるように、制御回路7は半導体レー
ザ1を制御する。
せる変調方式では、変調のための駆動電流(変調電流)
が少なくて、大きな消光比が得られることが特徴であ
る。従って、バイアス点及び変調電流の振幅の設定がう
まく行われなければならない。図4に示されるような特
性の場合、バイアス点では、TM光が出力され、変調電
流のパルスがかかった時にはTE光が出力される。よっ
て、バイアス点では、極力TE光が出力されず、また、
パルスがかかった時には、極力TM光が出力されない状
態が実現でき、且つ、変調に用いるパルス振幅が極力小
さくなる動作点になるように、制御回路7は半導体レー
ザ1を制御する。
【0017】この制御の為に、図2に示されるTE、T
M光に対応した信号を検知する。この信号を用いた制御
方法としては、例えば、一定のパルス振幅のパルスを、
バイアス電流が無い状態から徐々にバイアス電流を増加
させた状態で半導体レーザ1に注入し、光増幅器3の電
圧変化を検知する方法などがある。この様にバイアス電
流を変化させると、光パルスに対応した光増幅器3の電
圧変化はパルス状になり、そのパルス振幅は、TE光と
TM光が混在するにつれて徐々に大きくなる。そのパル
スは、上記の様な動作点で最大振幅となり、そのあと
は、TE光が主になり、振幅が小さくなる。この最大振
幅の状態で駆動条件を固定すればよい。
M光に対応した信号を検知する。この信号を用いた制御
方法としては、例えば、一定のパルス振幅のパルスを、
バイアス電流が無い状態から徐々にバイアス電流を増加
させた状態で半導体レーザ1に注入し、光増幅器3の電
圧変化を検知する方法などがある。この様にバイアス電
流を変化させると、光パルスに対応した光増幅器3の電
圧変化はパルス状になり、そのパルス振幅は、TE光と
TM光が混在するにつれて徐々に大きくなる。そのパル
スは、上記の様な動作点で最大振幅となり、そのあと
は、TE光が主になり、振幅が小さくなる。この最大振
幅の状態で駆動条件を固定すればよい。
【0018】更に、この場合、電流のパルス振幅も変化
させ(例えば、小さい値から徐々に大きなものへ)、且
つ、各パルス振幅でバイアス電流を変化させたときの光
増幅器3の電圧変化を見ることにより、より良くバイア
ス点とパルス振幅を設定することが可能である。
させ(例えば、小さい値から徐々に大きなものへ)、且
つ、各パルス振幅でバイアス電流を変化させたときの光
増幅器3の電圧変化を見ることにより、より良くバイア
ス点とパルス振幅を設定することが可能である。
【0019】
【他の実施例】本発明の他の実施例を、図5〜図7に示
した。図5と図6は第2実施例のデバイスの構成を示す
図、図7は使い方を説明するための図である。
した。図5と図6は第2実施例のデバイスの構成を示す
図、図7は使い方を説明するための図である。
【0020】まず、デバイス構成について説明する。図
6は、図5のA−A′での断面図である。図5、図6に
おいて、101は例えばn−InPからなる基板、10
2は例えばn−InPからなる第1クラッド層、103
は例えば厚さ0.2μm程度のn−In0.71Ga
0.29A0.62P0.38からなる光ガイド層、1
04Aは例えばIn0.53Ga0.47As(厚さ5
nm)とIn0.28Ga0.72As(厚さ5nm)
の交互層10層からなる歪多重量子井戸、105は第1
クラッド層101と光ガイド層103の界面の一部に形
成された格子、106は例えばP−InPからなる第2
クラッド層、107は例えばP+−InPからなるキャ
ップ層、108は反射防止膜、109から113は電
極、114は例えばP−InPからなる第1埋め込み
層、115は例えばn−InPからなる第2埋め込み層
である。また、104Bは光増幅器の活性層で、歪多重
量子井戸104Aの活性層とは異なり、歪のない多重量
子井戸からなっていて、構成はGaInAsP(厚さ2
00Å、1.3μm組成)/Ga0.47In0.53
As(厚さ60Å)の交互層である。また、図6には示
してないが、DFBレーザ側の端面にも反射防止膜があ
ってもよい。
6は、図5のA−A′での断面図である。図5、図6に
おいて、101は例えばn−InPからなる基板、10
2は例えばn−InPからなる第1クラッド層、103
は例えば厚さ0.2μm程度のn−In0.71Ga
0.29A0.62P0.38からなる光ガイド層、1
04Aは例えばIn0.53Ga0.47As(厚さ5
nm)とIn0.28Ga0.72As(厚さ5nm)
の交互層10層からなる歪多重量子井戸、105は第1
クラッド層101と光ガイド層103の界面の一部に形
成された格子、106は例えばP−InPからなる第2
クラッド層、107は例えばP+−InPからなるキャ
ップ層、108は反射防止膜、109から113は電
極、114は例えばP−InPからなる第1埋め込み
層、115は例えばn−InPからなる第2埋め込み層
である。また、104Bは光増幅器の活性層で、歪多重
量子井戸104Aの活性層とは異なり、歪のない多重量
子井戸からなっていて、構成はGaInAsP(厚さ2
00Å、1.3μm組成)/Ga0.47In0.53
As(厚さ60Å)の交互層である。また、図6には示
してないが、DFBレーザ側の端面にも反射防止膜があ
ってもよい。
【0021】上記のような構成のデバイスによって、格
子105が形成された領域が第1実施例の半導体レーザ
1に相当し、活性層104Bの部分が第1実施例の光増
幅器の部分となる。本デバイスの場合、例えば、DFB
レーザ側の第1、第3 電極111、113に一定のバ
イアス電流を注入した状態で第2電極112へ注入する
電流を変化させて、出力光の偏光方向をTEとTMの間
で切り換えることができる。即ち、こうした電流変化
で、TEとTMモードに対するブラッグ波長におけるし
きい値ゲインなどを変化させて出力光の偏光方向をTE
とTMの間で切り換える。
子105が形成された領域が第1実施例の半導体レーザ
1に相当し、活性層104Bの部分が第1実施例の光増
幅器の部分となる。本デバイスの場合、例えば、DFB
レーザ側の第1、第3 電極111、113に一定のバ
イアス電流を注入した状態で第2電極112へ注入する
電流を変化させて、出力光の偏光方向をTEとTMの間
で切り換えることができる。即ち、こうした電流変化
で、TEとTMモードに対するブラッグ波長におけるし
きい値ゲインなどを変化させて出力光の偏光方向をTE
とTMの間で切り換える。
【0022】本デバイスは、第1実施例の半導体レーザ
1と光結合手段2と光増幅器3の部分に相当する動作は
第1実施例と実質的に同じである。即ち、DFBレーザ
からの光がTE光或はTM光であるべきときに実際にそ
うなっているか否かを光増幅器の電圧変化から検出し、
そうなっていなければ制御回路7は、例えば、DFBレ
ーザ側の第1、第3 電極111、113に注入するバ
イアス電流を調整したり第2電極112へ注入する電流
の変化態様を調整したりしてDFBレーザを制御する。
1と光結合手段2と光増幅器3の部分に相当する動作は
第1実施例と実質的に同じである。即ち、DFBレーザ
からの光がTE光或はTM光であるべきときに実際にそ
うなっているか否かを光増幅器の電圧変化から検出し、
そうなっていなければ制御回路7は、例えば、DFBレ
ーザ側の第1、第3 電極111、113に注入するバ
イアス電流を調整したり第2電極112へ注入する電流
の変化態様を調整したりしてDFBレーザを制御する。
【0023】図7に、本実施例のデバイスを光送信機あ
るいは光送受信機の送信部に適用した構成を示す。図7
において、211は第2実施例のデバイス、210は図
1の光結合手段5、12であるレンズ、他の部材等は第
1実施例と同じである。
るいは光送受信機の送信部に適用した構成を示す。図7
において、211は第2実施例のデバイス、210は図
1の光結合手段5、12であるレンズ、他の部材等は第
1実施例と同じである。
【0024】次に動作について説明する。端末からの電
気信号9が制御回路7に入力されると、制御回路7は、
電気信号9にしたがったパルス信号をDFB第2電極1
12へ送り、パルス信号にしたがいDFBレーザからT
EとTMモードで切り変わる光を出力する。このとき、
DFBレーザ側の第1、第3 電極111、113には
一定のバイアス電流が注入されている。この出力光は光
増幅器の領域へ進行し、ここで増幅作用をうける。増幅
作用を光信号に施すと、この光増幅器領域での電圧変化
が生じ(例えば図2のような)、制御回路7はこの電圧
変化にもとづいて、DFBレーザ部分の動作点が安定す
るように制御をほどこす。この際、どのような電流注入
状態でTE或はTMモードになるかは初めに調べられて
いて、この情報に基づいて制御回路7はDFBレーザ部
分の動作点安定制御を行う。光増幅器部分を出力した光
信号はレンズ210でコリメート光とされ、偏光子4で
TE光だけが透過され強度変調された光となる。強度変
調光は、さらにレンズ210で光ファイバ6へ結合され
伝送される。この光信号は、強度変調されている信号な
ので、従来用いられている強度変調用の光受信機で受信
することができる。
気信号9が制御回路7に入力されると、制御回路7は、
電気信号9にしたがったパルス信号をDFB第2電極1
12へ送り、パルス信号にしたがいDFBレーザからT
EとTMモードで切り変わる光を出力する。このとき、
DFBレーザ側の第1、第3 電極111、113には
一定のバイアス電流が注入されている。この出力光は光
増幅器の領域へ進行し、ここで増幅作用をうける。増幅
作用を光信号に施すと、この光増幅器領域での電圧変化
が生じ(例えば図2のような)、制御回路7はこの電圧
変化にもとづいて、DFBレーザ部分の動作点が安定す
るように制御をほどこす。この際、どのような電流注入
状態でTE或はTMモードになるかは初めに調べられて
いて、この情報に基づいて制御回路7はDFBレーザ部
分の動作点安定制御を行う。光増幅器部分を出力した光
信号はレンズ210でコリメート光とされ、偏光子4で
TE光だけが透過され強度変調された光となる。強度変
調光は、さらにレンズ210で光ファイバ6へ結合され
伝送される。この光信号は、強度変調されている信号な
ので、従来用いられている強度変調用の光受信機で受信
することができる。
【0025】また、半導体レーザの部分を、適当に電極
を増やして、発振波長が変化させられ且つ出力光の偏光
状態を切り換えることが可能な構成とすることにより、
波長多重送信機として使うことができる。
を増やして、発振波長が変化させられ且つ出力光の偏光
状態を切り換えることが可能な構成とすることにより、
波長多重送信機として使うことができる。
【0026】ここで示したような光送信部分は、光強度
変調信号を扱う系であれば、単純な2点間の光通信系に
限らず、光CATV、光LANなどにも適用できる。
変調信号を扱う系であれば、単純な2点間の光通信系に
限らず、光CATV、光LANなどにも適用できる。
【0027】上記実施例では、光増幅器の部分に量子井
戸構造の活性層を用いて増幅率に偏光依存性をもたせ、
検出電圧を得た。しかし、光増幅器の部分の構成は、こ
の活性層に限定されるものではなく、例えば、圧縮歪の
導入された歪量子井戸を用いて、従来の量子井戸構成よ
り、TE偏波の光に対して大きな利得をもたせた構造を
用いることも可能である。また、引っ張り歪の導入され
た歪量子井戸を用いて、TM偏波の光に対して大きな増
幅率を持たせた構造を用いることも可能である。さら
に、量子井戸構造でなくてバルク構成の活性層であって
も、導波構造の非対称性により、増幅率に偏光依存性を
もたせたものを用いることも可能である。
戸構造の活性層を用いて増幅率に偏光依存性をもたせ、
検出電圧を得た。しかし、光増幅器の部分の構成は、こ
の活性層に限定されるものではなく、例えば、圧縮歪の
導入された歪量子井戸を用いて、従来の量子井戸構成よ
り、TE偏波の光に対して大きな利得をもたせた構造を
用いることも可能である。また、引っ張り歪の導入され
た歪量子井戸を用いて、TM偏波の光に対して大きな増
幅率を持たせた構造を用いることも可能である。さら
に、量子井戸構造でなくてバルク構成の活性層であって
も、導波構造の非対称性により、増幅率に偏光依存性を
もたせたものを用いることも可能である。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
注入電流を変化させることにより出力光の偏波面を変化
させることができるDFB、DBR(分布反射型)、F
P(ファブリペロー型)などの半導体レーザ等の発光手
段と、増幅率に偏波依存性がある半導体光増幅器等の光
増幅手段と、光増幅手段の増幅時の電圧変化をもとに半
導体レーザ等の発光手段の動作点を制御する手段ないし
回路とを用いることにより、従来より損失が小さく簡単
な構成で半導体レーザ等の発光手段の制御をかけること
ができる。
注入電流を変化させることにより出力光の偏波面を変化
させることができるDFB、DBR(分布反射型)、F
P(ファブリペロー型)などの半導体レーザ等の発光手
段と、増幅率に偏波依存性がある半導体光増幅器等の光
増幅手段と、光増幅手段の増幅時の電圧変化をもとに半
導体レーザ等の発光手段の動作点を制御する手段ないし
回路とを用いることにより、従来より損失が小さく簡単
な構成で半導体レーザ等の発光手段の制御をかけること
ができる。
【図1】本発明の第1実施例の構成を示す図。
【図2】本発明の第1実施例の動作を説明するための
図。
図。
【図3】図1の制御回路7の構成を示す図。
【図4】図1の半導体レーザの特性を示す図。
【図5】本発明の第2実施例のデバイスの構成を示す
図。
図。
【図6】図5のA−A′断面図。
【図7】本発明の第2実施例のデバイスを、光通信に用
いられる送信機に適用した構成図。
いられる送信機に適用した構成図。
1 半導体レーザ 2,5,12 光結合手段 3 光増幅器 4 偏光子 6 光ファイバ 7 制御回路 71 光増幅器駆動回路 72 電圧変化検知回路 73 バイアスT 74 半導体レーザ駆動回路 75 半導体レーザ駆動回路の制御回路 101 基板 102,106 クラッド層 103 光ガイド層 104A,104B 活性層 105 グレーティング(格子) 107 キャップ層 108 反射防止層 109,110,111,112,113 電極 114,115 埋め込み層 210 レンズ 211 光発光装置 104 光結合手段 105 光ファイバ 111 光送信機
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H04B 10/28
Claims (4)
- 【請求項1】 励起状態を制御することによって、出力
光の偏波面方向を互いに直交する2つの方向のどちらか
に選択的に変化しうる発光手段と、該発光手段の出力光
を増幅し、該互いに直交する2種類の方向の偏波に対し
て増幅率が異なる光増幅手段とから構成される光発光装
置、及び前記光増幅手段の光信号の増幅時における、該
信号の互いに直交する2種類の方向の偏波に対する該光
増幅手段の端子間電圧の変化を検出し、該検出信号にも
とづいて、前記発光手段の動作を制御する回路を有する
ことを特徴とする光送信機。 - 【請求項2】 前記発光手段が半導体レーザであり、前
記光増幅手段が半導体光増幅器であることを特徴とする
請求項1記載の光送信機。 - 【請求項3】 前記半導体レーザと前記半導体光増幅器
が1つの半導体基板上に作製された集積デバイスである
ことを特徴とする請求項2記載の光送信機。 - 【請求項4】 前記光発光装置の出力光の互いに直交す
る2種類の直線偏光の光のうちのいずれか一方を透過さ
せる偏光選択手段を更に有することを特徴とする請求項
1記載の光送信機。
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DE69532981T DE69532981T2 (de) | 1994-02-23 | 1995-02-21 | Lichtaussendende Vorrichtung fähig zur Auswahl der Polarisationsrichtung, optisches Übertragungssystem und Steuerungsverfahren von Polarisationsmodulation |
EP95102415A EP0670642B1 (en) | 1994-02-23 | 1995-02-21 | Light-emitting apparatus capable of selecting polarization direction, optical communication system, and polarization modulation control method |
US08/392,212 US5590145A (en) | 1994-02-23 | 1995-02-22 | Light-emitting apparatus capable of selecting polarization direction, optical communication system, and polarization modulation control method |
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---|---|---|---|
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JP5120694 | 1994-02-23 | ||
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Publication Number | Publication Date |
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ID=26391739
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JP3244976B2 (ja) * | 1994-12-05 | 2002-01-07 | キヤノン株式会社 | 半導体レーザの駆動方法及び半導体レーザ装置及び光通信方法及びノード及び光通信システム |
DE69609547T2 (de) * | 1995-03-31 | 2001-04-19 | Canon K.K., Tokio/Tokyo | Optischer Halbleitervorrichtung, Antriebsverfahren und optisches Kommunikationssystem |
CN1305183C (zh) * | 1995-06-02 | 2007-03-14 | 松下电器产业株式会社 | 激光光源及其光盘设备 |
EP0825689A3 (en) * | 1996-08-22 | 2001-05-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical device capable of switching output intensity of light of predetermined polarized wave, optical transmitter using the device, network using the transmitter, and method of driving optical device |
JP2820138B2 (ja) * | 1996-11-26 | 1998-11-05 | 日本電気株式会社 | 光変調装置 |
EP0863628B1 (de) * | 1997-03-07 | 2001-12-19 | Contraves Space AG | Verfahren und Anordnung zum Betreiben eines Laser-Sendesystems für optische Freiraum-Kommunikation |
JPH11243256A (ja) | 1997-12-03 | 1999-09-07 | Canon Inc | 分布帰還形半導体レーザとその駆動方法 |
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US6905900B1 (en) | 2000-11-28 | 2005-06-14 | Finisar Corporation | Versatile method and system for single mode VCSELs |
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US6836501B2 (en) * | 2000-12-29 | 2004-12-28 | Finisar Corporation | Resonant reflector for increased wavelength and polarization control |
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US7433381B2 (en) | 2003-06-25 | 2008-10-07 | Finisar Corporation | InP based long wavelength VCSEL |
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US9306372B2 (en) | 2013-03-14 | 2016-04-05 | Emcore Corporation | Method of fabricating and operating an optical modulator |
US9306672B2 (en) | 2013-03-14 | 2016-04-05 | Encore Corporation | Method of fabricating and operating an optical modulator |
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US10074959B2 (en) | 2016-08-03 | 2018-09-11 | Emcore Corporation | Modulated laser source and methods of its fabrication and operation |
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JPS62144426A (ja) * | 1985-12-19 | 1987-06-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光伝送装置 |
US5007063A (en) * | 1990-02-12 | 1991-04-09 | Eastman Kodak Company | Laser diode |
EP0484923B1 (en) * | 1990-11-07 | 1994-04-13 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Semiconductor wavelength conversion device |
US5117469A (en) * | 1991-02-01 | 1992-05-26 | Bell Communications Research, Inc. | Polarization-dependent and polarization-diversified opto-electronic devices using a strained quantum well |
JPH0537074A (ja) * | 1991-07-31 | 1993-02-12 | Nec Corp | 半導体レーザ装置 |
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- 1994-12-12 JP JP33210694A patent/JP3263553B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-02-21 EP EP95102415A patent/EP0670642B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-02-21 DE DE69532981T patent/DE69532981T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-02-22 US US08/392,212 patent/US5590145A/en not_active Expired - Lifetime
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US5590145A (en) | 1996-12-31 |
EP0670642A1 (en) | 1995-09-06 |
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