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JP3006987B2 - Optical pickup - Google Patents

Optical pickup

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Publication number
JP3006987B2
JP3006987B2 JP5318392A JP31839293A JP3006987B2 JP 3006987 B2 JP3006987 B2 JP 3006987B2 JP 5318392 A JP5318392 A JP 5318392A JP 31839293 A JP31839293 A JP 31839293A JP 3006987 B2 JP3006987 B2 JP 3006987B2
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JP
Japan
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light
movable
movable optical
optical unit
detecting
Prior art date
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JP5318392A
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Japanese (ja)
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Inventor
徹男 上山
利之 田中
幸夫 倉田
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
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Publication of JPH07176056A publication Critical patent/JPH07176056A/en
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  • Optical Head (AREA)
  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置に使用
される分離光学方式の光ピックアップであって、その可
動光学部の移動位置を検出する位置検出手段を備えた
ピックアップに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup of a separation optical system used in an optical disk apparatus, and more particularly to an optical pickup provided with position detecting means for detecting a moving position of a movable optical section.

【0002】[0002]

【従来の技術】高密度で多大の情報を記録することがで
きる光ディスクは、近年多くの分野において利用が進め
られている。このような光ディスクは、非接触で情報の
記録、再生が行え、かつ媒体交換が可能であるという優
れた特長を有する光情報記録媒体であるため、特に光フ
ァイルやコンピュータの外部記憶媒体として注目されて
いる。
2. Description of the Related Art Recently, optical discs capable of recording a large amount of information at a high density have been used in many fields. Such an optical disk is an optical information recording medium having excellent features that information can be recorded and reproduced in a non-contact manner and that the medium can be exchanged, and thus is attracting attention particularly as an optical file and an external storage medium of a computer. ing.

【0003】光ディスクでは、例えば、光源として半導
体レーザを用いた光ピックアップによって情報の記録又
は再生が行われ、媒体によっては一旦記録された情報が
消去され、また書き換えられる。この種のピックアップ
では、高速アクセス化が極めて重要な要素とされてい
る。しかし、光ピックアップは、ハードディスク等に用
いられている磁気ヘッドに比べて大型になり、重量が嵩
むために、高速アクセス化には不向きであると言われて
きた。
In an optical disk, information is recorded or reproduced by an optical pickup using a semiconductor laser as a light source, for example, and the information once recorded is erased or rewritten depending on the medium. In this type of pickup, high-speed access is an extremely important factor. However, it has been said that the optical pickup is not suitable for high-speed access because the optical pickup is larger and heavier than a magnetic head used for a hard disk or the like.

【0004】そこで、この点を解決するために、光学系
を、光源および光ディスクからの反射光を検出する光検
出部を備えた固定光学部と、光偏向手段及び対物レンズ
を備えた可動光学部とに分離した分離光学方式の光ピッ
クアップが提案されている。
In order to solve this problem, an optical system includes a fixed optical section having a light source and a light detecting section for detecting light reflected from an optical disk, and a movable optical section having a light deflecting means and an objective lens. There has been proposed an optical pickup of a separation optical system which is separated into the following.

【0005】また、可動光学部を光ディスクの半径方向
にアクセス動作させる際、可動光学部を高速かつ正確に
位置決めするためには、可動光学部の移動位置、すなわ
ち集光ビームの光ディスク上での位置を検出する必要が
あることから、様々な可動光学部の移動位置検出手段が
提案されている。例えば、構成を簡略化したものとし
て、固定光学部にビームスプリッタと半導体位置センサ
とを搭載し、可動光学部に反射プリズムを搭載した位置
検出手段(移動位置検出手段)がある。
Further, when the movable optical section is accessed in the radial direction of the optical disk, the moving position of the movable optical section, that is, the position of the condensed beam on the optical disk, is required to position the movable optical section accurately at high speed. Therefore, various moving position detecting means of the movable optical unit have been proposed. For example, as a simplified configuration, there is a position detecting unit (moving position detecting unit) in which a beam splitter and a semiconductor position sensor are mounted on a fixed optical unit and a reflecting prism is mounted on a movable optical unit.

【0006】図13はこの簡略型の位置検出手段が搭載
された分離光学方式の光ピックアップを示す。図におい
て、固定光学部20には半導体レーザ1等が搭載されて
いる。また、可動光学部21は図示しないリニアモータ
により、図中zで示されるディスク(光ディスク)14
の半径方向に移動可能になっている。なお、ディスク1
4の表面に直角な方向をy、y方向およびz方向のいず
れにも直角な方向をxで示してある。以下にこの光ピッ
クアップの概略動作を説明する。
FIG. 13 shows a separation optical type optical pickup on which this simplified type position detecting means is mounted. In the figure, a semiconductor laser 1 and the like are mounted on a fixed optical unit 20. The movable optical section 21 is driven by a linear motor (not shown) by a disk (optical disk) 14 indicated by z in the figure.
Can be moved in the radial direction. In addition, disk 1
The direction perpendicular to the surface of No. 4 is denoted by y, and the direction perpendicular to any of the y and z directions is denoted by x. Hereinafter, a schematic operation of the optical pickup will be described.

【0007】固定光学部20内の半導体レーザ1から出
射された光ビームは、コリメートレンズ2によって平行
光にされ、続いて整形プリズム3によって円形ビームに
された後、偏光ビームスプリッター4によって反射光L
1と透過光L2とに分離される。そして透過光L2は、固
定光学部20から可動光学部21に向けて、可動光学部
21の移動軸の方向、すなわちz方向に向かう。
The light beam emitted from the semiconductor laser 1 in the fixed optical section 20 is converted into a parallel light by a collimating lens 2, then into a circular beam by a shaping prism 3, and then reflected by a polarizing beam splitter 4.
It is separated into 1 and the transmitted light L 2. The transmitted light L 2 travels from the fixed optical unit 20 to the movable optical unit 21 in the direction of the moving axis of the movable optical unit 21, that is, in the z direction.

【0008】可動光学部21に導かれた透過光L2は、
立ち上げ45°ミラー11によって光路をy方向に変更
され、続いて、対物レンズ12によって上方のディスク
14の情報記録面に集光された後、該情報記録面によっ
て反射される。この反射光は、再び対物レンズ12を透
過し、立ち上げ45°ミラー11によって光路を90°
変更された後、再び固定光学部20内の偏光ビームスプ
リッター4に入射し、一部が反射されて、ウォーラスト
ンプリズム5、スポットレンズ6等を通過してディ
ター7上に集光される。
The transmitted light L 2 guided to the movable optical section 21 is
The light path is changed in the y-direction by the rising 45 ° mirror 11, and subsequently focused by the objective lens 12 on the information recording surface of the disk 14 above, and then reflected by the information recording surface. This reflected light passes through the objective lens 12 again and rises the optical path by 90 ° by the 45 ° mirror 11.
After being modified, again incident on the polarization beam splitter 4 in the fixed optical unit 20, a portion is reflected, Wollaston prism 5, the upper Di Te click <br/> coater 7 passes through the spot lens 6 like Is collected.

【0009】一方、反射光L1は、一部が半導体レーザ
1の光出力を制御する自動出力制御装置(APC)用の
光検出器9に入射し、残りが反射ミラー8によって可動
光学部21の方向へ移動位置検出用の光ビームL1′と
して反射される。この反射光L1′は、可動光学部21
の移動軸に平行なz方向の光ビームであり、可動光学部
21に搭載された反射プリズム13によって反射されて
再び固定光学部20に戻ってくる。
On the other hand, a part of the reflected light L 1 is incident on a photodetector 9 for an automatic output control device (APC) for controlling the optical output of the semiconductor laser 1, and the rest is moved by a reflecting mirror 8 into a movable optical part 21. Is reflected as a light beam L 1 'for detecting the moving position in the direction of. The reflected light L 1 ′ is
The light beam is in the z-direction parallel to the moving axis of the movable optical unit 21, is reflected by the reflecting prism 13 mounted on the movable optical unit 21, and returns to the fixed optical unit 20 again.

【0010】ここで反射プリズム13は、その反射光が
可動光学部21の移動軸に対してx方向に傾斜するよう
に、反射面がディスク14の表面に平行な面内で傾斜し
たウエッジプリズムになっている。そのため、反射プリ
ズム13で反射された光は、固定光学部20内の半導体
位置センサ10に角度を持って入射する。
Here, the reflecting prism 13 is a wedge prism whose reflecting surface is inclined in a plane parallel to the surface of the disk 14 so that the reflected light is inclined in the x direction with respect to the moving axis of the movable optical section 21. Has become. Therefore, the light reflected by the reflecting prism 13 is incident on the semiconductor position sensor 10 in the fixed optical unit 20 at an angle.

【0011】図14は上記位置検出手段の検出原理を示
す。半導体位置センサ10は、x方向の位置検出を行う
1次元のセンサである。半導体位置センサ10には、反
射プリズム13で反射された光が、可動光学部21の移
動軸に対してx方向に傾斜して入射する。そのため、半
導体位置センサ10に入射する光の傾斜角度をθとする
と、可動光学部21がz方向に距離lだけ移動したとき
は、半導体位置センサ10ではl×tanθだけ光ビー
ムがx方向に移動する。従って、半導体位置センサ10
の出力信号から、可動光学部21のz方向の位置が検出
される。
FIG. 14 shows the principle of detection by the position detecting means. The semiconductor position sensor 10 is a one-dimensional sensor that detects a position in the x direction. The light reflected by the reflecting prism 13 is incident on the semiconductor position sensor 10 while being inclined in the x direction with respect to the movement axis of the movable optical unit 21. Therefore, assuming that the inclination angle of the light incident on the semiconductor position sensor 10 is θ, when the movable optical unit 21 moves by the distance 1 in the z direction, the light beam moves by l × tan θ in the semiconductor position sensor 10 in the x direction. I do. Therefore, the semiconductor position sensor 10
, The position of the movable optical unit 21 in the z direction is detected.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな可動光学部の位置検出手段では、図15に示すよう
に、可動光学部21にy軸回りの回転ずれが生じると、
反射プリズム13で反射された光の傾斜角度θが変化す
る。そのため、半導体位置センサ10での受光位置がx
方向に移動し、可動光学部21の検出位置に誤差が生じ
る。一般に、可動光学部21と固定光学部20内の半導
体位置センサ10は部品の配置上、最接近した場合でも
ある程度は離れているため、離隔距離が長くなればなる
程、光ビームのシフト量は大きくなり、それに伴って位
置信号の誤差も大きくなる。
However, in such a position detecting means of the movable optical unit, as shown in FIG. 15, when the movable optical unit 21 is rotationally displaced around the y-axis,
The inclination angle θ of the light reflected by the reflecting prism 13 changes. Therefore, the light receiving position of the semiconductor position sensor 10 is x
, And an error occurs in the detection position of the movable optical unit 21. Generally, the semiconductor position sensors 10 in the movable optical unit 21 and the fixed optical unit 20 are separated to some extent even when they are closest to each other due to the arrangement of components. Therefore, as the separation distance increases, the shift amount of the light beam increases. As a result, the error of the position signal also increases.

【0013】本発明は上記従来技術の問題点を解決する
ものであり、その目的は、分離光学方式の光ピックアッ
プにおける可動光学部の回転ずれの影響を排除でき、該
可動光学部の位置を高精度に検出できる光ピックアップ
を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and an object of the present invention is to eliminate the influence of rotational displacement of a movable optical unit in an optical pickup of a separation optical system, and to increase the position of the movable optical unit. An object of the present invention is to provide an optical pickup capable of detecting with high accuracy.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
は、光源及びディスクからの反射光を検出する光検出部
を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レン
ズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能になった可
動光学部に分離され、該可動光学部の位置検出手段を備
えた光ピックアップであって、該位置検出手段が、該固
定光学部に設けられ、該光源からの光ビームを該対物レ
ンズに入射する光ビームとは異なる方向に分離する手段
と、該固定光学部に設けられ、該異なる方向に分離され
た光を、異なる方向に進行する2つの位置検出用光ビー
ムに分離して、該可動光学部へと導く回折格子と、 該可
動光学部に設けられ、2つの該位置検出用光ビームを反
射して該固定光学部に導く平面ミラーと、 該固定光学部
に設けられ、該平面ミラーにより反射された該位置検出
用光ビームのそれぞれを受光して、その位置を検出する
センサとを具備しており、そのことにより上記目的が達
成される。
An optical pickup according to the present invention comprises a fixed optical section having a light source and a light detecting section for detecting reflected light from a disk, a light beam deflecting section and an objective lens. is separated into a movable optical part to be movable in a radial direction, an optical pickup having a position detecting means of the movable optical unit, the said position detection means, the solid
Provided constant light faculties, and means <br/> for separating in a direction different from the light beam entering the light beam from the light source to the objective lens, provided in said solid constant light faculty is separated into said different direction
Light that travels in different directions
Separating the beam, a diffraction grating leads to movable optical part, movable
The two optical beams for position detection are provided in
A plane mirror for projecting light to the fixed optical unit , and the fixed optical unit
And the position detection reflected by the plane mirror
A sensor for receiving each of the light beams for use and detecting the position thereof, thereby achieving the above object.

【0015】また、本発明の光ピックアップは、光源及
びディスクからの反射光を検出する光検出部を備えた固
定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レンズを備え、
該ディスクの半径方向に移動可能になった可動光学部に
分離され、該可動光学部の位置検出手段を備えた光ピッ
クアップであって、 該位置検出手段が、 該固定光学部に
設けられ、該光源からの光ビームを該対物レンズに入射
する光ビームとは異なる方向に分離する手段と、 該固定
光学部に設けられ、該異なる方向に分離された光を、異
なる方向に進行する2つの位置検出用光ビームに分離し
て、該可動光学部へと導くウェッジプリズムと、 該可動
光学部に設けられ、2つの該位置検出用光ビームを反射
して該固定光学部に導く平面ミラーと、 該固定光学部に
設けられ、該平面ミラーにより反射された該位置検出用
光ビームのそれぞれを受光して、その位置を検出するセ
ンサと を具備しており、そのことにより上記目的が達成
される。
Further , the optical pickup of the present invention comprises a light source and
And a light detector that detects light reflected from the disc.
Comprising a constant optical unit, a light beam deflecting unit and an objective lens,
To the movable optical section that can move in the radial direction of the disc
An optical pick-up which is separated and provided with a position detecting means for the movable optical unit.
The position detecting means is attached to the fixed optical unit.
Light beam from the light source is incident on the objective lens
Means for separating in a direction different from the light beam, the fixed
The light provided in the optical unit and separated in the different directions
Into two position detection light beams traveling in different directions.
Te, and the wedge prism leading to movable optical unit, the movable
Provided in the optical section and reflects the two position detection light beams
And a flat mirror for guiding to the fixed optical section,
Provided for detecting the position reflected by the plane mirror
A sensor that receives each light beam and detects its position
To achieve the above objectives
Is done.

【0016】[0016]

【0017】[0017]

【0018】[0018]

【0019】[0019]

【0020】また、本発明の光ピックアップは、光源及
びディスクからの反射光を検出する光検出部を備えた固
定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レンズを備え、
該ディスクの半径方向に移動可能になった可動光学部に
分離され、該可動光学部の位置検出手段を備えた光ピッ
クアップであって、該位置検出手段が、該固定光学部に
設けられ、該光源からの光ビームを該対物レンズに入射
する光ビームとは異なる方向に分離して、位置検出用光
ビームとして該可動光学部の移動軸に対して平行な角度
で該可動光学部側に導く手段と、該可動光学部に設けら
れ、該位置検出用光ビームを2回反射して、前記移動軸
に対して傾斜した反射光として該固定光学部に導く、2
つの反射面を有する手段と、該固定光学部に設けられ、
2つの該反射面により反射された該位置検出用光ビーム
を受光して、その位置を検出するセンサとを具備してお
り、そのことにより上記目的が達成される。
Further, the optical pickup of the present invention comprises: a fixed optical section having a light source and a light detecting section for detecting light reflected from the disk; a light beam deflecting means and an objective lens;
An optical pickup which is separated into a movable optical unit which is movable in a radial direction of the disk and includes a position detecting unit of the movable optical unit, wherein the position detecting unit is provided in the fixed optical unit, The light beam from the light source is separated in a direction different from that of the light beam incident on the objective lens, and guided as a position detection light beam to the movable optical unit side at an angle parallel to the moving axis of the movable optical unit. Means, provided on the movable optical section, for reflecting the position detecting light beam twice ,
To the fixed optical section as reflected light inclined with respect to
Means having two reflecting surfaces, provided on the fixed optical part,
A sensor for receiving the position detecting light beams reflected by the two reflecting surfaces and detecting the position thereof, thereby achieving the above object.

【0021】[0021]

【0022】[0022]

【作用】上記の構成によれば、可動光学部の移動軸に対
して異なる方向に傾斜した2つの光ビームが固定光学部
に入射するので、可動光学部の移動位置が変化すると、
2つの半導体位置センサにおける受光位置が異なる方向
へ移動する。一方、分離された2つの光ビームを含む平
面内で可動光学部が回転ずれを起こした場合は、2つの
半導体位置センサにおける受光位置は同じ方向へ移動す
る。そのため、2つの半導体位置センサにおける受光位
置の変化から可動光学部の移動位置が検出されるように
しておけば、可動光学部の回転ずれによる受光位置変化
は互いに打ち消し合う。従って、検出された移動位置
は、可動光学部の回転ずれの影響を受けない。
According to the above arrangement, two light beams inclined in different directions with respect to the moving axis of the movable optical unit enter the fixed optical unit. Therefore, when the moving position of the movable optical unit changes,
The light receiving positions of the two semiconductor position sensors move in different directions. On the other hand, when the movable optical unit is rotationally displaced within the plane including the two separated light beams, the light receiving positions of the two semiconductor position sensors move in the same direction. Therefore, if the moving position of the movable optical unit is detected from the change in the light receiving positions of the two semiconductor position sensors, the change in the light receiving position due to the rotational displacement of the movable optical unit cancels out each other. Therefore, the detected moving position is not affected by the rotational displacement of the movable optical unit.

【0023】[0023]

【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。Embodiments of the present invention will be described below.

【0024】(参考例) 図1に参考例の光ピックアップを示す。この光ピック
アップの位置検出手段以外の構成は、上記図13の従来
例の光ピックアップの構成と同様であるので、対応する
部分に同一の番号を付し、詳細な説明は省略する。
Reference Example 1 FIG. 1 shows an optical pickup of Reference Example 1 . The configuration other than the position detecting means of this optical pickup is the same as the configuration of the conventional optical pickup of FIG. 13 described above, and the corresponding parts are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted.

【0025】固定光学部20内の半導体レーザ1から出
射した光は、コリメートレンズ2によって平行光にさ
れ、整形プリズム3によって円形ビームに整形された
後、偏光ビームスプリッタ4によって反射光L1と透過
光L2に分離される。透過光L2は、固定光学部20から
可動光学部21に導かれ、ディスク14上に情報記録面
に集光される。一方、反射光L1は、一部がAPC用の
光検出器9に入射され、残りが反射ミラー8によって可
動光学部21の方向へ移動位置検出用の光ビームとして
反射される。
The light emitted from the semiconductor laser 1 in the fixed optical unit 20 is collimated by the collimator lens 2, is shaped into a circular beam by a shaping prism 3, the polarized beam splitter 4 and the reflected light L 1 transmission It is separated into light L 2. The transmitted light L 2 is guided from the fixed optical unit 20 to the movable optical unit 21 and is focused on the information recording surface on the disk 14. On the other hand, a part of the reflected light L 1 is made incident on the APC photodetector 9, and the rest is reflected by the reflection mirror 8 in the direction of the movable optical unit 21 as a light beam for detecting the movement position.

【0026】可動光学部21は、ディスク14の半径方
向、すなわちz方向に移動する。この移動は、図示しな
いリニアモータにより行われる。反射ミラー8によって
反射された光は、可動光学部21の移動軸に平行なz方
向の光ビームである。可動光学部21に入射したこの光
ビームは、可動光学部21に搭載されたウエッジプリズ
ム15によって固定光学部20の方向へ反射される。ウ
エッジプリズム15は、入射光をディスク14の表面に
平行な面内で、可動光学部21の移動軸の方向に対して
異なる方向(+x方向,−x方向)に等角度θで傾斜し
た2つの反射光L3、L4に分離して反射させる。そし
て、2つの反射光L3 、L4は、固定光学部20に搭載
された2つの半導体位置センサ10a、10bにそれぞ
れ入射する。
The movable optical section 21 moves in the radial direction of the disk 14, that is, in the z direction. This movement is performed by a linear motor (not shown). The light reflected by the reflection mirror 8 is a light beam in the z direction parallel to the movement axis of the movable optical unit 21. This light beam incident on the movable optical unit 21 is reflected in the direction of the fixed optical unit 20 by the wedge prism 15 mounted on the movable optical unit 21. The wedge prism 15 converts the incident light into two different directions (+ x direction, -x direction) inclined at the same angle θ with respect to the direction of the movement axis of the movable optical unit 21 in a plane parallel to the surface of the disk 14. The light is separated into reflected lights L 3 and L 4 and reflected. Then, the two reflected lights L 3 and L 4 enter the two semiconductor position sensors 10a and 10b mounted on the fixed optical unit 20, respectively.

【0027】図2は可動光学部21の移動位置の検出原
理を示す。また、図3は可動光学部21の回転ずれの影
響が排除される原理を示す。2つの半導体位置センサ1
0a,10bは、いずれもx方向の位置検出を行う1次
元のセンサであって、受光位置がxの正方向へ移動する
と、どちらの出力も増加するようになっている。
FIG. 2 shows the principle of detecting the moving position of the movable optical section 21. FIG. 3 shows the principle on which the influence of the rotational displacement of the movable optical section 21 is eliminated. Two semiconductor position sensors 1
Reference numerals 0a and 10b denote one-dimensional sensors for detecting the position in the x direction, and when the light receiving position moves in the positive x direction, both outputs increase.

【0028】今、図2に示すように、可動光学部21が
ディスク14の内周から外周側へ距離lだけ移動した場
合を仮定すると、反射光L3は半導体位置センサ10a
上で正の方向へl×tanθだけ移動する。一方、反射
光L4は半導体位置センサ10b上で同じ量だけ負の方
向へ移動する。そのため、半導体位置センサ10a、1
0bからの出力を差動増幅器30で演算処理すると、2
l×tanθに相当する出力が得られ、この出力から可
動光学部21の移動位置が検出される。
Now, assuming that the movable optical section 21 moves from the inner circumference to the outer circumference of the disk 14 by a distance 1 as shown in FIG. 2, the reflected light L 3 is reflected by the semiconductor position sensor 10a.
Move in the positive direction by l × tan θ. On the other hand, the reflected light L 4 are moved only in the negative direction the same amount on the semiconductor position sensor 10b. For this reason, the semiconductor position sensors 10a, 1
0b is processed by the differential amplifier 30 to obtain 2
An output corresponding to 1 × tan θ is obtained, and the movement position of the movable optical unit 21 is detected from this output.

【0029】また、図3に示すように、可動光学部21
がy軸回りの回転ずれを起こした場合は、反射光L3
4 のいずれもが、半導体位置センサ10a、10b上
で同じ方向へほぼ同じ量だけ移動する。そのため、差動
増幅器30からの出力は殆ど変化しない。従って、可動
光学部21の検出位置は、可動光学部21の回転ずれの
影響を殆ど受けることがない。従って、高精度の移動位
置の検出が可能になる。
Further, as shown in FIG.
Causes a rotational shift about the y-axis, the reflected light L 3 ,
Any of L 4 moves by approximately the same amount the semiconductor position sensor 10a, on the 10b in the same direction. Therefore, the output from the differential amplifier 30 hardly changes. Therefore, the detection position of the movable optical unit 21 is hardly affected by the rotational deviation of the movable optical unit 21. Therefore, the movement position can be detected with high accuracy.

【0030】(実施例) 図4は本発明光ピックアップの実施例を示す。本実施
では、光ビームの分離手段として、上記のウェッジ
プリズム15に代えて、固定光学部20から可動光学部
21の移動軸に略平行に出射される光ビームL1の光路
中に配置された透過型回折格子16を用いている。
Embodiment 1 FIG. 4 shows Embodiment 1 of the optical pickup of the present invention. In Example 1, as a light beam separation means, in place of the wedge prism 15, arranged substantially parallel to the optical path of the light beam L 1 emitted for the movement axis of the movable optical unit 21 from the fixed optical unit 20 The transmission type diffraction grating 16 is used.

【0031】透過型回折格子16は、入射光をディスク
14の表面に平行な面内で、可動光学部21の移動軸の
方向に対して異なる方向(+x方向,−x方向)に等角
度θで傾斜した+1次光L3′と−1次光L4′とに分離
する。+1次光L3′と−1次光L4′は、可動光学部2
1に搭載された平面ミラー17によって反射されて、固
定光学部20内の半導体位置センサ10a、10bにそ
れぞれ入射する。平面ミラー17は、可動光学部21の
移動軸に対して直角に配置されている。また、半導体位
置センサ10a、10bは、いずれもx方向の位置検出
を行う1次元のセンサであり、それぞれの出力は図示さ
れない差動増幅器で演算処理される。
The transmission type diffraction grating 16 converts incident light into an angle θ different in directions (+ x direction, −x direction) different from the direction of the moving axis of the movable optical section 21 in a plane parallel to the surface of the disk 14. The light is separated into + 1st-order light L 3 ′ and −1st-order light L 4 ′ inclined by The +1 order light L 3 ′ and the −1 order light L 4 ′ are
The light is reflected by the plane mirror 17 mounted on the optical system 1 and enters the semiconductor position sensors 10a and 10b in the fixed optical unit 20, respectively. The plane mirror 17 is arranged at right angles to the movement axis of the movable optical unit 21. Each of the semiconductor position sensors 10a and 10b is a one-dimensional sensor for detecting a position in the x direction, and outputs of the sensors are processed by a differential amplifier (not shown).

【0032】本実施例1においても、上記参考例と同
様に、差動増幅器の出力から可動光学部21の移動位置
が検出され、しかも、その検出位置は、可動光学部21
の回転ずれの影響を殆ど受けない。
[0032] Also in this embodiment 1, in the same manner as in Reference Example 1, the movement position of the movable optical unit 21 is detected from the output of the differential amplifier, moreover, the detection position, the movable optical unit 21
Hardly affected by the rotational deviation of

【0033】透過型回折格子16を、図5および図6に
示すような透過型ウエッジプリズム18a、18bに変
更しても同様の効果を得ることができる。
The same effect can be obtained by changing the transmission type diffraction grating 16 to transmission type wedge prisms 18a and 18b as shown in FIGS.

【0034】(参考例2) 図7に参考例2の光ピックアップを示す。また、可動光
学部21が回転方向にずれた場合の光路を図8に示す。
本参考例2では、 可動光学部21に入射された移動位置
検出用の光ビームを、反射プリズム19に反射させて固
定光学部20に戻す構成をとっている。
Reference Example 2 FIG. 7 shows an optical pickup of Reference Example 2. Also, movable light
FIG. 8 shows an optical path when the department 21 is shifted in the rotation direction.
In the second embodiment, the light beam for detecting the moving position, which is incident on the movable optical unit 21, is reflected by the reflecting prism 19 and returned to the fixed optical unit 20.

【0035】反射プリズム19は、所定の角度を持って
対向する2つの反射面19a、19bを有し、可動光学
部21の移動軸に平行な入射光を反射面19a、19b
で2回反射させて、移動軸に対して傾斜した反射光とす
る。この反射光は固定光学部20内の半導体位置センサ
10に入射され、その出力から可動光学部21の移動位
置が検出される。
The reflecting prism 19 has two reflecting surfaces 19a and 19b facing each other at a predetermined angle, and reflects incident light parallel to the moving axis of the movable optical section 21 on the reflecting surfaces 19a and 19b.
Is reflected twice to obtain reflected light inclined with respect to the movement axis. The reflected light is incident on the semiconductor position sensor 10 in the fixed optical unit 20, and the movement position of the movable optical unit 21 is detected from the output.

【0036】可動光学部21が回転ずれを起こした場合
は、反射プリズム19の反射面19a、19bが同方向
に同じ量だけ傾斜するため、一方の反射面19aの光軸
移動が他方の反射面19bの斜面で吸収される。そのた
め、反射プリズム19からの反射光の角度は変化しな
If the movable optical section 21 is deviated in rotation, the reflecting surfaces 19a and 19b of the reflecting prism 19 are inclined by the same amount in the same direction, so that the movement of the optical axis of one reflecting surface 19a causes the other reflecting surface to move. Absorbed on the slope of 19b. Therefore, the angle of the reflected light from the reflecting prism 19 does not change.
No.

【0037】(参考例3) 図9に参考例3の光ピックアップを示す。また、図10
は可動光学部の回転ずれの影響が排除される原理を示
す。参考例3では、固定光学部20から移動位置検出用
の光ビームを、可動光学部21の移動軸に対してx方向
に傾斜させて出射させる構成をとっている。そして、そ
の光ビームを可動光学部21に搭載した半導体位置セン
サ10で受光している。
(Embodiment 3 ) FIG. 9 shows an optical pickup of Embodiment 3 . FIG.
Indicates the principle by which the influence of the rotational displacement of the movable optical unit is eliminated. In the third embodiment, the light beam for detecting the moving position is emitted from the fixed optical unit 20 while being inclined in the x direction with respect to the moving axis of the movable optical unit 21. The light beam is received by the semiconductor position sensor 10 mounted on the movable optical unit 21.

【0038】このような構成によれば、半導体位置セン
サ10の出力から可動光学部21の移動位置が検出され
ると共に、可動光学部21が回転ずれを起こしても半導
体位置センサ10での受光位置は変化しない。従って、
可動光学部21の検出位置が、その回転ずれの影響を受
けない。
According to such a configuration, the moving position of the movable optical section 21 is detected from the output of the semiconductor position sensor 10 and the light receiving position of the semiconductor position sensor 10 is obtained even if the movable optical section 21 is rotated. Does not change. Therefore,
The detection position of the movable optical unit 21 is not affected by the rotational displacement.

【0039】ただし、参考例3では、可動光学部21の
x方向の位置ずれが、可動光学部21の検出位置に影響
する。これを除去するためには、図11に示すように、
可動光学部21に入射される光ビームを、異なる方向に
同じ角度で傾斜した2つのビームに分離し、それぞれを
半導体位置センサ10a、10bに入射して、各出力を
図示されない差動増幅器で演算処理する。
However, in the third embodiment , the displacement of the movable optical section 21 in the x direction affects the detection position of the movable optical section 21. To remove this, as shown in FIG.
The light beam incident on the movable optical unit 21 is separated into two beams inclined at the same angle in different directions, each of which is incident on the semiconductor position sensors 10a and 10b, and each output is calculated by a differential amplifier (not shown). To process.

【0040】そうすると、図12に示すように、可動光
学部21がx方向に位置ずれを起こしても、半導体位置
センサ10a、10bでの受光位置で同じ方向へほぼ同
じ量だけ移動するため、差動増幅器からの出力は殆ど変
化しない。すなわち、上記の参考例および実施例1に
おいて、可動光学部21の回転ずれの影響が排除される
のと同じ原理で、可動光学部21のx方向の位置ずれに
よる影響が排除され、高精度の移動位置検出が可能にな
る。
Then, as shown in FIG. 12, even if the movable optical section 21 is displaced in the x direction, the movable optical section 21 moves by the same amount in the same direction at the light receiving position of the semiconductor position sensors 10a and 10b. The output from the dynamic amplifier hardly changes. That is, in the above-described Reference Example 1 and Example 1, the effect of the displacement of the movable optical unit 21 in the x direction is eliminated according to the same principle that the influence of the rotational displacement of the movable optical unit 21 is eliminated. Can be detected.

【0041】[0041]

【発明の効果】本発明の光ピックアップは、このよう
に、いずれも分離光学方式の光ピックアップにおける可
動光学部の回転ずれの影響を相殺することにより、その
影響が可動光学部の検出位置に及ぶのを防止することが
できる。これにより常に安定した状態で、可動光学部の
移動位置を高精度に検出できる。従って、高速かつ正確
なアクセス動作が可能になるので、光ピックアップの信
頼性を格段に向上できる。
As described above, the optical pickup of the present invention cancels out the influence of the rotational displacement of the movable optical part in the optical pickup of the separation optical system, so that the influence reaches the detection position of the movable optical part. Can be prevented. Thereby, the moving position of the movable optical unit can be detected with high accuracy in a constantly stable state. Therefore, a high-speed and accurate access operation can be performed, so that the reliability of the optical pickup can be remarkably improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】参考例1の光ピックアップを示す概略構成図。FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an optical pickup of Reference Example 1.

【図2】参考例1の光ピックアップにおける可動光学部
の移動位置の検出原理を示す模式図。
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a principle of detecting a moving position of a movable optical unit in the optical pickup of Reference Example 1.

【図3】参考例1の光ピックアップにおける可動光学部
の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a principle of eliminating the influence of rotational displacement of a movable optical unit in the optical pickup according to Reference Example 1.

【図4】本発明光ピックアップの実施例1を示す模式
図。
FIG. 4 is a schematic view showing Embodiment 1 of the optical pickup of the present invention.

【図5】実施例1の光ピックアップにおけるビーム分離
手段の他の例を示す模式図。
FIG. 5 is a schematic view showing another example of the beam separating means in the optical pickup according to the first embodiment.

【図6】実施例1の光ピックアップにおけるビーム分離
手段の更に他の例を示す模式図。
FIG. 6 is a schematic diagram showing still another example of the beam separating means in the optical pickup according to the first embodiment.

【図7】本発明光ピックアップの参考例2を示す模式
図。
FIG. 7 is a schematic diagram showing Reference Example 2 of the optical pickup of the present invention.

【図8】参考例2の光ピックアップにおける可動光学部
が回転方向にずれた場合の光路を示す模式図。
FIG. 8 shows a movable optical unit in the optical pickup of Reference Example 2 .
FIG. 4 is a schematic diagram showing an optical path when the light is shifted in the rotation direction .

【図9】参考例3の光ピックアップを示す模式図。FIG. 9 is a schematic view showing an optical pickup of Reference Example 3 .

【図10】参考例3の光ピックアップにおける可動光学
部の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
FIG. 10 is a schematic diagram illustrating a principle of eliminating the influence of rotational displacement of a movable optical unit in the optical pickup of Reference Example 3 .

【図11】参考例3の光ピックアップの変形例を示す模
式図。
FIG. 11 is a schematic diagram showing a modification of the optical pickup of Reference Example 3 .

【図12】図11に示す光ピックアップにおける可動光
学部の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
FIG. 12 is a schematic diagram showing a principle of eliminating the influence of rotational displacement of the movable optical unit in the optical pickup shown in FIG.

【図13】可動光学部の移動位置を検出する位置検出手
段を備えた分離光学方式の光ピックアップの従来例を示
す概略構成図。
FIG. 13 is a schematic configuration diagram showing a conventional example of a separation optical type optical pickup provided with a position detecting means for detecting a moving position of a movable optical unit.

【図14】従来例における可動光学部の移動位置検出原
理を示す模式図。
FIG. 14 is a schematic diagram showing a principle of detecting a moving position of a movable optical unit in a conventional example.

【図15】従来例における可動光学部の回転ずれの影響
を示す模式図。
FIG. 15 is a schematic diagram showing the influence of rotational displacement of a movable optical unit in a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザ 4 偏光ビームスプリッタ 8 反射ミラー 10、10a、10b 半導体位置センサ 15 ウエッジプリズム(ビーム分離手段) 16 透過型回折格子(ビーム分離手段) 18a、18b 透過型ウエッジプリズム(ビーム分離
手段) 19 反射プリズム(ビーム反射手段) 19a、19b 反射面 20 固定光学部 21 可動光学部
Reference Signs List 1 semiconductor laser 4 polarization beam splitter 8 reflection mirror 10, 10a, 10b semiconductor position sensor 15 wedge prism (beam separation means) 16 transmission diffraction grating (beam separation means) 18a, 18b transmission wedge prism (beam separation means) 19 reflection Prism (beam reflecting means) 19a, 19b Reflecting surface 20 Fixed optical unit 21 Movable optical unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−178101(JP,A) 特開 昭63−200327(JP,A) 特開 昭63−211125(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/085 G11B 7/09 G11B 7/095 G11B 7/135 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-57-178101 (JP, A) JP-A-63-200327 (JP, A) JP-A-63-211125 (JP, A) (58) Field (Int.Cl. 7 , DB name) G11B 7/085 G11B 7/09 G11B 7/095 G11B 7/135

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光源及びディスクからの反射光を検出す
る光検出部を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及
び対物レンズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能
になった可動光学部に分離され、該可動光学部の位置検
出手段を備えた光ピックアップであって、 該位置検出手段が、 該固定光学部に設けられ、該光源からの光ビームを該対
物レンズに入射する光ビームとは異なる方向に分離する
手段と、 該固定光学部に設けられ、該異なる方向に分離された光
を、異なる方向に進行する2つの位置検出用光ビームに
分離して、該可動光学部へと導く回折格子と、 該可動光学部に設けられ、2つの該位置検出用光ビーム
を反射して該固定光学部に導く平面ミラーと、 該固定光学部に設けられ、該平面ミラーにより反射され
た該位置検出用光ビームのそれぞれを受光して、その位
置を検出するセンサとを具備する光ピックアップ。
1. A fixed optical section having a light source and a light detecting section for detecting light reflected from a disk, and a movable optical section having a light beam deflecting means and an objective lens and being movable in a radial direction of the disk. An optical pickup provided with position detecting means for the movable optical section, wherein the position detecting means is provided on the fixed optical section, and a light beam from the light source is incident on the objective lens. Means for separating light in a direction different from the direction, and the light separated in the different direction is separated into two position detecting light beams traveling in different directions, and the light is separated to the movable optical unit. A planar grating provided in the movable optical section, for reflecting the two position detection light beams and guiding the same to the fixed optical section; and a planar mirror provided in the fixed optical section and reflected by the planar mirror. The position detection light By receiving each over beam, an optical pickup comprising a sensor for detecting the position.
【請求項2】 光源及びディスクからの反射光を検出す
る光検出部を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及
び対物レンズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能
になった可動光学部に分離され、該可動光学部の位置検
出手段を備えた光ピックアップであって、 該位置検出手段が、 該固定光学部に設けられ、該光源からの光ビームを該対
物レンズに入射する光ビームとは異なる方向に分離する
手段と、 該固定光学部に設けられ、該異なる方向に分離された光
を、異なる方向に進行する2つの位置検出用光ビームに
分離して、該可動光学部へと導くウェッジプリズムと、 該可動光学部に設けられ、2つの該位置検出用光ビーム
を反射して該固定光学部に導く平面ミラーと、 該固定光学部に設けられ、該平面ミラーにより反射され
た該位置検出用光ビームのそれぞれを受光して、その位
置を検出するセンサとを具備する光ピックアップ。
2. A fixed optical section having a light source and a light detecting section for detecting reflected light from a disk, and a movable optical section having a light beam deflecting means and an objective lens and being movable in a radial direction of the disk. An optical pickup provided with position detecting means for the movable optical section, wherein the position detecting means is provided on the fixed optical section, and a light beam from the light source is incident on the objective lens. Means for separating light in a direction different from the direction, and the light separated in the different direction is separated into two position detecting light beams traveling in different directions, and the light is separated to the movable optical unit. A wedge prism provided on the movable optical section, a plane mirror for reflecting the two position detection light beams to guide the fixed optical section to the fixed optical section, and a wedge prism provided on the fixed optical section and reflected by the plane mirror. The position By receiving the respective output light beam, the optical pickup comprising a sensor for detecting the position.
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