JP3096403B2 - 光ディスク記録装置におけるレーザ書込み出力レベルを制御する方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、追記型（ＷＯＲＭ）光
ディスク記憶装置に関し、特に、ＷＯＲＭディスク上に
データを書き込むために使用されるレーザの制御に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】追記型（ＷＯＲＭ）光媒体には、それぞ
れの媒体にデータを記録つまり書き込むために、製造者
が選択したレーザ出力レベルの指示が刻印してある。そ
のような追記型媒体上に記録するために、指示されたレ
ーザ出力レベルを読み取って使用することが現在一般に
行われている。通常、光ディスクのレーザの制御では、
レーザ放射レベルを正確に制御するためにフィードバッ
クを利用する。それにより、ディスク媒体を装填する際
のレーザの較正が回避される。

【０００３】光媒体間の変動性、媒体の老朽化とレーザ
制御回路の老朽化、および媒体の汚染のために、最適記
録のための実際の放射レーザ・ビーム出力が、そのよう
な媒体が指示するレーザ・ビーム出力レベルに基づくレ
ーザ駆動電流の設定とは異なることがある。前述の老朽
化は、回路の動作および媒体の応答を変化させ、その結
果、過大なレーザ出力レベルまたは過小なレーザ出力レ
ベルの状況をまねく。そのような過大出力のレーザ・ビ
ーム・レベルでは、トラックを過度に融除して隣に記録
されたデータを破壊し、溝を破壊してトラッキングやシ
ークなどを妨害する。また、過少な出力レベルでは、あ
らかじめ記録されたデータの上に記録するような欠陥の
ある記録をまねく。したがって、そのような過少または
過大な出力のレーザ・ビーム・レベルを避けるために、
追記型媒体の記録装置におけるレーザ出力レベルを較正
することが望まれる。

【０００４】従来技術においては、追記型ディスク用の
レーザ・ビーム・レベルの較正には、焦点をはずしたビ
ームを使用して、ディスクの使用可能なデータ記憶空間
を融除することを避けていた。そのような焦点をはずす
較正により、較正されたレーザ・ビーム・レベルとは異
なるレーザ・ビーム出力レベルとなることがある。つま
り、所与のレーザ駆動電流のレーザ・ビーム出力レベル
は、ビームが合焦されたときに変化する。この現象は、
光ディスク上のレーザ・ビーム・スポットが合焦したと
き、光記録に使用される半導体レーザの差動効率の変動
によって引き起こされる。この変動は、レーザ・キャビ
ティにディスクから反射される光がレーザの外側にキャ
ビティを作成するために起こる。このレーザの差動効率
の変動は、レーザごとに変化するだけでなく、光学的フ
ィードバック経路の効率によっても影響を受ける。経路
の変動性は、媒体のばらつきおよび光路（対物レンズ）
の汚染によって生じる。したがって、合焦したビームを
使用する追記型記録装置において、データ記憶空間を使
用しない方法で、レーザ・ビーム出力レベルを較正し制
御することが望まれる。さらに、レーザを較正するため
に媒体のデータ記憶域を使用することは、再書込み可能
な光ディスク（一般に、磁気光学的ディスク）では妥当
であるが、追記型媒体システムでは有効ではない。した
がって、ディスクのデータ記憶容量を減少させることに
なるディスク・セクタのデータ・フィールドを使用する
ことなしに、合焦した状態でレーザ・ビーム出力レベル
を較正することも望まれる。

【０００５】多くの追記型光ディスクでは、２バイトの
自動レーザ出力訂正（ＡＬＰＣ）フィールドが、それぞ
れの追記型ディスクのセクタ内に設けられる。このＡＬ
ＰＣフィールドは、データを正しいかまたは所望の放射
レーザ出力レベルで書き込むためにレーザ出力の訂正を
可能にする。また、ＡＬＰＣフィールドを使って、デー
タ区域の外で、書込みレベルでレーザを動作させること
ができる。レーザがディスクに適正レベルのレーザを放
射していることを保証するために、ＡＬＰＣフィールド
におけるそのようなレーザ試験信号の書込みがモニタさ
れる。そのような測定は、ビーム・スプリッタからのい
わゆる無駄な光またはレーザの補助ポートからの光を使
ってそれを受け取る光検出機構によって行われる。この
書込み試験は、単にディスク上で１または２バイトを走
査するのと同じ時間だけ、書込みレベルで連続的にレー
ザをオンにするだけである。そのような長時間の連続し
た書込み信号は、過度のエネルギを有していわゆる過剰
融除をもたらすことがあり、すなわち、融除される区域
（記録済みレーザ試験信号の物理サイズ）がトラックの
幅を超え、ＡＬＰＣフィールドの長さを超えることがあ
る。このようなレーザ出力レベルの確認は、レーザの出
力部で測定され、光ディスク上での融除を測定するもの
ではないことを想起されたい。

【０００６】この過剰融除の理由は、デューティ・サイ
クルが通常の書込みパルスと異なることである。つま
り、通常の書込みパルスは、約１０％の衝撃係数を有
し、トラック幅の約半分を融除する。これと対照的に、
書込み検定の際に使用される１００％のデューティ・サ
イクルは極端なものであり、書き込まれるトラックの半
径方向で外側までしばしば融除する。そのような過剰融
除は、半径方向に延びるだけでなく（ＤＣパルスのトレ
ーリング・エッジにおいて）円周方向にも延びる。記録
されるレーザ試験信号の持続時間は、必ずしもＡＬＰＣ
の２バイトのフィールドを満たす必要はないが、多くの
記録装置はそのようなレーザ試験信号を記録する。後者
の例では、レーザ出力レベルが大きすぎると、記録され
るレーザ試験信号が、記録済みのユーザ・データに先行
する同期区域などの次の書込み区域に入り込みまたはそ
こまで延びるようになる。より短い長さの記録済みレー
ザ試験信号でも、やはりＡＬＰＣ区域において半径方向
に過度に融除することがある。したがって、そのような
過度の連続的レーザ放射は、レーザおよびそのすぐ近傍
に望ましくない加熱をもたらすことがある。そのような
過剰融除を避けることが望まれる。

【０００７】いわゆる適正な書込み出力レベルは、レー
ザ書込みパルスの持続時間または幅によっても決まる。
追記型媒体における書込みではしばしば、各ディスク上
に記録される書込み出力レベルが適正であると仮定す
る。回路のばらつき、±５％の信号遅延公差、様々な回
路における信号伝播の非対称性などにより、同じ出力レ
ベルの実際に記録された書込みパルスの非線形なばらつ
きが生じる。追記型記録のそのような意図されないばら
つきを回避することが望まれる。

【０００８】米国特許第４６３１７１３号明細書におい
て、ロミア（Romeas）他は、１０の反復パターンを有す
る追記型光ディスク上に２進数の試験ワードを記録する
ことを開示している。試験パターンの"１"と"０"のそれ
ぞれの部分の持続時間が測定される。１と０の部分の持
続時間が等しくなるレーザ書込み出力が、記録値として
選択される。この較正は、回避することが望ましい貴重
なディスク空間の使用を必要とする。

【０００９】米国特許第５０６７１２２号明細書におい
て、マッギー（McGee）は、光記録システムにおけるモ
ニタ感度を測定するシステムを開示している。その試験
は、所望の書込みレーザ出力を導出するために、所与の
試験書込み信号に対するモニタ応答の変化率を測定する
ことを含んでいる。この場合にも、追記型ディスクの空
間をそのような較正のために使用しないようにすること
が望まれる。

【００１０】米国特許第５０７０４９５号明細書におい
て、ブレッシャ・ジュニア（Bletscher,Jr）他は、対称
形のパラメータに基づく大規模な較正システムを開示し
ている。この較正は、過大なデータ記憶空間を必要とす
る。これは再書込み可能な媒体には実用的であるが、追
記型媒体には経済的ではない。

【００１１】米国特許第５１３６５６９号明細書におい
て、フェネマ（Fennema）他は、感知される媒体のタイ
プに基づいた書込み較正を示している。再書込み可能な
媒体が感知された場合は、前述のようなレーザの大規模
な較正が使用される。追記型（ＷＯＲＭ）媒体が検出さ
れた場合は、制限された較正が実施される。この特許
は、追記型媒体内のディスク空間を保持する必要性を例
示している。データ記憶域を使用しない拡張されたレー
ザ較正技法を実現することが望まれる。

【００１２】米国特許第５１８５７３３号明細書におい
て、フィンケルシュタイン（Finkelstein）他は、ラン
ダムに選択したトラックを使用する別の大規模なレーザ
較正を示している。この方法と装置は、再書込み可能な
媒体にだけ適している。較正の結果、最大のリードバッ
ク信号振幅をもたらす書込みレーザ出力レベルが選択さ
れることになる。

【００１３】米国特許第５２１６６５９号明細書におい
て、コール(Call)他は、ＷＯＲＭ媒体の表面に焦点が合
っていないレーザ・ビームの状態と焦点が合ったビーム
の状態とでレーザ駆動電流を測定することによるレーザ
出力の較正を開示している。レーザ電流に対するレーザ
・ビーム出力レベルの変動を表す曲線が作成され、それ
によってレーザ電流に基づくレーザ出力の計算が可能に
なる。

【００１４】米国特許第５２２６０２７号明細書におい
て、バックス(Bakx)は、記録品質に影響を及ぼすディス
クの最適パラメータを得る方法を開示している。試験用
と予備のパターン区域が必要とされる。また、一連の較
正区域も必要とされる。この方法で必要な較正用ディス
ク区域の要件を軽減することが望まれる。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、追記
型光ディスク記憶装置において、レーザをディスクに合
焦させた状態で、書き込み操作しながら、自動的にレー
ザ出力レベルを制御する方法を提供することである。ま
た、この方法は、ディスクのデータ記憶域をできるだけ
使用しないで、レーザ出力レベルを較正する方法であ
る。さらに、本発明は、そのような制御手段を有する追
記型光ディスク記憶装置を提供する。

【００１６】

【課題を解決するための手段】本発明の好ましい形態に
おいては、データが記録される前に、レーザ試験信号が
データと同じセクタのＡＬＰＣフィールドなどに記録さ
れる。記録されたレーザ試験信号が、確立されたパルス
長と異なる幅を有するものとして検出された場合は、レ
ーザ書込みパルス出力レベルが、前もって確立された長
さのレーザ試験信号を生成する方向に調整される。所定
数のセクタの調整後に、データが記録される。それらの
セクタに記録されたレーザ試験信号を測定して、それら
の信号の記録された長さを決定する。測定された長さを
平均して、平均測定長の値を求める。次いで、平均幅が
確立された幅と比較される。平均測定長が適切でない場
合は、平均測定長が所望の長さと一致するまで調整が繰
り返される。このような調整は、通常の書込み動作の一
部として実行される。不適切な幅の書込みパルス生成パ
ルス幅変調（ＰＷＭ）信号を作成するレーザ・パルスに
よって書き込まれたセクタからのデータは、他のセクタ
に再割当てすることができる。

【００１７】本発明はまた、追記型光ディスクプレーヤ
において、書込みパルス生成パルス幅変調（ＰＷＭ）レ
ーザ試験信号の幅（持続時間）を測定することによっ
て、レーザ動作の較正を可能にする。書込みパルス生成
ＰＷＭ信号は、走査されるトラックに沿った記録済みパ
ルス信号の重なりを提供するパルス化レーザ・ビームに
よって生成される。そのような書込みパルス生成ＰＷＭ
信号は、セクタの自動レーザ・パルス訂正（ＡＬＰＣ）
フィールド内に記録されることが好ましい。

【００１８】

【実施例】次に添付した図面をより詳細に参照するが、
様々な図において、同じ番号は同じ部品または構造的特
徴を示す。まず図１を参照すると、マイクロプロセッサ
１０が、図示した光ディスク記録装置を操作し制御す
る。マイクロプロセッサ１０には、通常の内部メモリ
（ランダム・アクセス・メモリＲＡＭおよび読取り専用
メモリＲＯＭ）が含まれる。通常のデータ流れ回路１１
は、接続ケーブル１２を介してホスト・プロセッサ（図
示せず）に接続される。データ検出回路１３が、通常の
光学系を通ってくる光ディスク２０からの変調された反
射光に応答して、データ信号およびフォーマット指示信
号を検出する。検出されたデータ信号は、エラー検出お
よび訂正処理のためにデータ流れ回路１１に直接送られ
る。データ流れ回路１１は、検出されたフォーマット信
号の指示をマイクロプロセッサ１０に提供して、記録装
置を制御できるようにする。レーザ１４は、データ変調
されたレーザ・ビームを、光学系１５を通りそこから双
方向光路１６を経て光ディスク２０のトラック２２（溝
内あるものとして示す）に提供する。駆動軸２１上の通
常のモータ（図示せず）がディスク２０を回転させて、
光路１６上のビームがディスク２０上のトラックを走査
できるようにする。光学系１５は、単一のらせん状トラ
ックの異なる半径の所にアクセスできるように、ディス
ク２０に対して相対的に半径方向に移動できる。

【００１９】マイクロプロセッサ１０は、デジタル・ア
ナログ変換器（ＤＡＣ）２５とレーザ制御部２６を介し
てレーザ１４を制御する。ＤＡＣ２５は、書込みおよび
読取り用のレーザ出力レベルを設定する。レーザ１４の
レーザ・ビームのデータ変調は、すべてマイクロプロセ
ッサ１０の制御下で、データ流れ回路１１によって制御
される。検証回路２３は、データ検出回路１３からリー
ド・バック信号を受け取って、接続しているホスト・プ
ロセッサからデータ流れ回路１１を介して受け取ったデ
ータと比較する。検証回路２３は、マイクロプロセッサ
１０に比較の結果を提供する。比較の結果、リード・バ
ック・データが記録されるデータと同一であること（デ
ータ訂正に使用されるエラー訂正コードによって訂正可
能なものよりも小さい訂正出力によって訂正されるエラ
ー訂正可能な同一性）を示す場合は、記録の検証が行わ
れ、そうでない場合は、検証回路２３はマイクロプロセ
ッサ１０に検証失敗信号を供給する。出力レベル検出回
路２８は、放射レーザ光の出力レベル（強度）をマイク
ロプロセッサ１０に示すために、光学系１５内のビーム
・スプリッタ（個別には図示せず）から、いわゆるウェ
ースト光を受け取る。マイクロプロセッサ１０は、周知
のように、いくつかの所定出力レベルのうちの１つを有
するレーザ・ビームを放射するようにＤＡＣ２５へのデ
ジタル入力を介してレーザ１４を制御するプログラムを
含む。異なる出力レベルが、ディスク２０上に記録され
るデータによってそれぞれゲート制御される。

【００２０】通常、光学系１５は、点線２９によって表
される可動キャリッジに取り付けられ、このキャリッジ
はディスク２０上のトラック２２の各回転にアクセスす
るために、ディスク２０の半径方向に光学系１５を相対
的に移動する。セクタ選択／位置決めサーボ２７が、デ
ィスク２０の半径方向に可動キャリッジ２９を移動し、
また読取りまたは書込みのためにトラック２２内のアド
レス可能セクタのどれにアクセスするかを選択（アドレ
ス指定）する。そのような装置は周知であるので、これ
以上の詳細は省略する。

【００２１】図２に、ディスク２０上の単一のらせん状
トラックであるトラック２２における多数のアドレス可
能セクタの各々に使用されるフォーマットを、単純化し
た形で示す。開始部３０は、通常のクロック同期信号と
そのセクタの識別信号を含む。一実施例においては、開
始部３０は、通常のセクタ・マーク（図示せず、図には
開始部３０の内部の詳細は何も示さず）で始まり、次に
ＶＦＯ１（可変周波数発振器バースト・タイプ１）と呼
ばれる第１のクロック同期バーストがあり、その次に通
常の第１のアドレス・マーク（ＡＭ）がくる。第１のセ
クタ・アドレス識別ＩＤ１が第１のＡＭに続く。次に、
第２のクロック同期バーストＶＦＯ２、第２のアドレス
・マークＡＭおよび第２のセクタ識別ＩＤ２が続く。一
連のクロック同期、ＡＭおよびＩＤ１の群の３回目のく
り返しがその後に続く。他の通常の制御フィールドも使
用される。開始部３０とフラグ・フィールド３１間の縦
線で表されるギャップが、開始部３０をフラグ・フィー
ルド３１から分離する。同様のギャップが、フラグ・フ
ィールド３１を２バイトのＡＬＰＣフィールド３２から
分離する。

【００２２】本発明は、新しい新規な方式でＡＬＰＣフ
ィールド３２を使用する。ＡＬＰＣフィールド３２は、
円周方向でデータ・フィールド３３と隣接する。データ
・フィールド３３は、ＶＦＯ３と呼ばれる第４のクロッ
ク同期バーストで始まり、次に通常のデータ・ビット同
期信号が続き、その後に記録されたデータがくる。図に
は、データ・フィールド３３の内部の詳細は示していな
い。終了部３４は、巡回冗長検査信号やエラー訂正信号
などの周知のエラー検出訂正冗長部を含む。ギャップ
（図示せず）が、隣接のセクタ、すなわち１つのセクタ
の終了部３４と次に隣接するセクタの開始部３０を分離
する。

【００２３】図３は、数字４１によって示した、データ
・クロック同期バーストＶＦＯ３に対する、ＡＬＰＣ３
２内の従来技術のレーザ出力で記録された信号４０の信
号干渉作用を示す。レーザ１４のビーム出力は、レーザ
が一定の書込み強度のビームをＡＬＰＣフィールド３２
に放射している間に出力検出回路２８によって測定され
る。放射ビーム出力は、所定の期間（実験的に決定）所
定の出力を有する書込みパルスを示すことに留意された
い。レーザ１４によって放射された高強度で一定の（Ｄ
Ｃ）レーザ出力試験ビームは、ＡＬＰＣ３２を過剰融除
し、その結果、記録されたレーザ試験信号４０のトレー
リング・エッジが円周方向にデータ・フィールド３３ま
で延びることになる。その結果、ＤＣレーザ試験信号４
０の振幅が大きいために、データ検出回路１３内のリー
ド・バック回路（単独では示さず）に対するマイナス効
果により、遅延したクロック同期にエラーが生じること
がある。本発明の１態様によれば、ＡＬＰＣ３２内に書
込みパルスのクローズ・ストリングが記録され、その結
果、記録された書込みパルスのＰＷＭレーザ試験信号４
２が、データ・フィールド３３まで延びずまた振幅の大
きいＤＣリード・バック信号も生成しなくなる。その結
果振幅が減少し、データ・フィールド３３に対する侵害
が少なくなり、データ・フィールド３３においてより速
くより信頼できるクロック同期が提供される。

【００２４】過剰融除された試験信号４１の別のマイナ
ス効果は、半径方向での溝の浸食である。この浸食によ
り、トラックのシーク中にトラック溝をカウントし損じ
ることがある。このカウント・エラーは、目標の渦線で
はなく意図しないらせん状トラックの渦線へのトラック
・シークをまねく。本発明は、この新たなリスクを未然
に防ぐ。

【００２５】また、レーザ１４から放射されたビームの
焦点をディスク２０の記録層（溝２２）上に合わせなが
ら、レーザ・ビームの出力レベルを測定することが望ま
しい。ディスク２０の追記型の記録面を融除しないよう
に、レーザ・ビームの焦点を外しながらレーザ・ビーム
出力を測定するのが通常の慣行である。本発明によれ
ば、ビームの焦点を書込みのために合わせながら、デー
タ記憶セクタを使用しあるいは書込み動作からはなれて
セクタにアクセスすることなしに、様々なセクタ内のＡ
ＬＰＣフィールド３２を使用して、データ記録または書
込み動作を実行する結果としてレーザ・ビーム出力を調
整する。図４に、焦点が合った状態と焦点が外れた状態
における、記録面でのレーザ・ビーム出力とレーザ電流
の関係をグラフで示す。水平の線４５は、レーザ１４の
最小レーザ出力を示す。線４６は、焦点が外れている状
態におけるレーザ電流によるビーム出力レベルの変化を
示す。この線は、焦点の外れたビームを使って焦点を合
わせるときのレーザの動作を示す。線４８は、１％のフ
ィードバックを使用した焦点の合ったビームを示す。線
４７は、２％のフィードバックを使用した焦点の合った
ビームを示す。点４６Ｆは、焦点の外れた較正において
レーザ１４放射ビームの出力レベルの可能な較正を示
す。点４７Ｆは、その結果生じた、２％のフィードバッ
クを使用した焦点の合ったビームの出力レベルを示す。
このグラフは、レーザが書込みのために焦点の外れたビ
ームを使用して較正された出力である場合の方が、焦点
の合ったビームを使用した較正の場合よりも、焦点の合
った書込みレーザの出力レベルが高いことを示す。その
ように書込みビームの出力レベルが高まると、ＡＬＰＣ
試験に関して前に考察したような過剰融除による書込み
が生じることがある。したがって、ビームの焦点が合っ
ているときに、レーザの書込み出力レベルを較正するこ
とが重要である。

【００２６】図５に、記録済み書込みパルス生成ＰＷＭ
レーザ試験信号４２をグラフで示す。この場合も、ＡＬ
ＰＣフィールド３２の試験信号が書き込まれている間
に、レーザ・ビーム出力が、光学系１５からの無駄な光
を使って出力レベル検出回路２８によって測定されるこ
とに留意されたい。トラック２２の一部分を、２本の水
平な破線で示す。数字５０は、書込みパルス生成ＰＷＭ
レーザ試験信号を示し、トラック２２の長手方向に重な
る、書込み強度のレーザ・ビームで記録された一連の
「点」を示す。記録された「点」は、およそトラック２
２の半径方向の幅である（点５０は直径をもっと小さく
しても本発明を実施するために使用できる）。その結果
行われる記録は、温度の作用によって、波線５２で示す
書込みパルス生成ＰＷＭレーザ試験信号４２を生成す
る。その結果、記録済み書込みパルス生成ＰＷＭ信号は
通常、感知されると、小さな変調成分を有するリード・
バック信号の包絡線（envelope）をもたらす。この書込
みパルス生成ＰＷＭ信号は、図３の信号４２をもたら
す。書込みパルス生成ＰＷＭレーザ試験信号の利点は、
従来技術の拡張時間ＤＣ最大ピーク信号とは対照的に、
試験信号はデータ記録動作の使用を複製することであ
る。

【００２７】図５に示したＰＷＭ信号は、ＤＡＣ２５と
レーザ制御部２６を介したレーザ１４のマイクロプロセ
ッサ１０による既知の書込み制御を使って生成される。
データ流れ回路１１は、レーザ１４に対してＤＡＣ２５
レーザ・レベルをゲート制御するため、レーザ制御部２
６に、書込みクロック限時パルスを供給する。限時パル
スは、データ流れ回路１１において通常の書込みクロッ
ク（発振器、図示せず）によって生成される。通常、書
込みクロックは、各ビット期間に１回だけ時限パルスを
出し、すなわちビット期間を定義する。２進１信号また
は２進ゼロ信号のどちらかが、各ビット期間内に「記
録」される。２進ゼロ信号は、トラック２２に融除がな
く、一方、２進１信号は融除（「ピット」とも呼ばれ
る）がある。ビット期間は、ビット期間の持続時間によ
って、または隣り合ったビット期間に１が２つ記録され
ないようにするコーディングによって、記録された１が
重なり合わないように選択される。たとえば、コード
（２，７）を使用する場合、隣り合ったビット期間がそ
れぞれ１の信号を有することはない。この例では、ＰＷ
Ｍ信号４２を生成するために、連続するビット期間のそ
れぞれに２進１信号を記録することによって、コード
（２，７）は無視される。そのような記録では、図５に
示したように、記録された２進数の１は重なり合った融
除を生じる。そのような融除されたピットの円周の長さ
は、持続時間一定のビット期間を使用するときには、半
径と共に変化する。各ピットの中央をＸ５６で示す。一
方、記録システムは時限書込みパルスを使用することも
でき、その結果、図５で連続するビット期間の中央にそ
れぞれ示すハッシュ・マーク５５で表されるように、離
間した融除ピットが生じる。このときは、１の信号が連
続して記録されるので、ＰＷＭ信号は生成されない。た
とえば、１００１００１００１（それぞれの１は、記録
されたパルスを示す）のデータ・パターン（２，７）を
使用して、重なり合わない、すなわち数字５５で表され
るようにトラック２２の長さ方向に沿って分離された、
記録される点５０を生成することができる。コード・デ
ータ・パターン（２，７）を１０１０１０１０１に変え
ると、記録される点５０が重なり合って、ＰＷＭ信号４
２を生成する。そのような記録制御は、マイクロプロセ
ッサ１０によって、プログラム制御することが好まし
い。そのようなプログラム制御部は、マイクロプロセッ
サ１０により記録する際に使用されるビット期間を選択
するように設定されたＤＡＣを含むことができる。ＤＡ
Ｃ２５（図示せず）は、選択された期間を有するタイミ
ング・パルスを生成するために、既知の方式でＶＦＯ
（図示せず）にバイアスをかけて発振させる、アナログ
周波数（ビット期間）制御信号を出力する。

【００２８】本発明のもう１つの態様によれば、記録済
みの書込みパルス生成ＰＷＭレーザ試験信号４２（図
３）の長さを測定することによって、ディスク２０表面
における実際のレーザ１４の書込み強度ビーム出力レベ
ルを測定する。図６に、レーザ・ビーム出力レベルの変
化によるパルス長の（書込み記録ビーム出力レベル（強
度）の動作範囲内での）線形変化を示す。線６０は、ビ
ーム出力レベルが変化するときのパルス持続時間（長
さ）の線形変化を示す。線６１は、１０％低い出力レベ
ルを示す。線６３は、最も望ましい記録のための書込み
ビーム出力レベルを示す。線６２は、所望の記録のため
の最適レベルよりも大きなピーク出力レベルを示す。図
７を見ると最も分かりやすいが、より高いピーク値はよ
り低い方の出力パルスと同じ持続時間内で立ち上がり立
ち下がるので、記録されるパルスの有効長さがより長く
なる。

【００２９】図７のリード・バック・レーザ試験信号
（パルス）６８は、最適出力レベルで生成されるＰＷＭ
パルスを示す。リード・バックＰＷＭパルス６７の形状
は、数字６９〜７６によって示す一連の点における振幅
を測定することによって決定される。点７２と７３によ
って、ＰＷＭリード・バック・パルス６７の振幅が決定
される。測定点７０と７１はリーディング・エッジの勾
配を定義し、一方、測定点７４と７５はトレーリング・
パルスの勾配を定義する。勾配を示す点（７０、７１ま
たは７４、７５）の間を補間することにより、５０％し
きい値６６の振幅を超える時間の位置が決定される。５
０％しきい値６６の値は、６９または７６にベースライ
ン・レベルとして示された値に、点７２または７３によ
って示されるＰＷＭ振幅値を加えた合計を２で割ること
によって計算される。しきい値線６６におけるリーディ
ング・エッジ７０〜７１とトレーリング・エッジ７４〜
７５の間の経過時間がパルス長を示す。パルス６８で示
すようにパルスのピーク振幅を大きくすると、図７から
容易に分かるように、ＰＷＭしきい値７９がリード・バ
ックＰＷＭ信号６７と交わるそれぞれの時間によって決
定されるパルス長が長くなる。トレーリング・エッジに
おいて、数字７７と７８は、パルスのピーク振幅の増大
によって生じるパルス持続時間またはパルス長の増加を
示す。

【００３０】製造中またはそれ以前など記録装置を使用
する前に、記録されたパルスを生成するために使用され
る相対的レーザ出力レベルの計算を可能にするために、
これらのＰＷＭパルスの持続時間が、実験的に決定され
た最適レーザ出力レベルに較正される。たとえば、第１
のＷＯＲＭディスクは、最適記録に１１ミリワットを必
要とする。この第１のディスク上にＰＷＭパルス６８が
１０ミリワットで記録されると、記録されたＰＷＭ信号
は短すぎることになる。相対出力に対するパルス幅が較
正された場合は、そのようなＰＷＭパルスが最適出力レ
ベルよりも約１０％低い出力レベルで記録された時間測
定によって計算できる。逆に、記録されるＰＷＭ信号が
長すぎる場合は、最適出力レベルがより低いことを示
す。この測定は、あらゆるディスク上に光学記録を行う
ために個々のディスクごとに使用される。この原理が本
発明において使用される。リード・バック書込みパルス
生成ＰＷＭレーザ試験信号の持続時間または長さを測定
することによって、パルスを（同じ焦点の合った状態
で）記録した相対レーザ・ビーム出力レベルが得られ
る。

【００３１】したがって、追記型ディスク上での任意の
記録セッション中の最初のデータ書込み動作（書込みコ
マンドの実行）中に、または書込みエラーの検出時に図
７に示したように、ＡＬＰＣフィールド３２の記録済み
レーザ試験信号４２が測定される。次に、マイクロプロ
セッサ１０は、前に説明したように作成されマイクロプ
ロセッサ１０に記憶されたテーブル索引を使って、出力
レベルを計算する。本発明を実施するには、書込みパル
ス生成ＰＷＭ信号の定量分析は必要でない。書込みパル
ス生成ＰＷＭ信号の所望の長さが予め決定され、マイク
ロプロセッサ１０の内部メモリに記憶される。書込みパ
ルス生成ＰＷＭ信号の測定長さが所望の長さよりも長い
場合は、レーザ出力が減らされる。書込みパルス生成Ｐ
ＷＭ信号の測定された長さが所望の長さよりも短い場合
は、レーザ出力が増加される。後者の処理は後で明らか
になるように反復することが好ましい。

【００３２】図８は、本発明の一実施例を示す。この実
施例は、マイクロプロセッサ１０に組み込まれたプログ
ラムを含む。したがって、この機械操作図は、任意の既
知のプログラミング技法を使って実施できる組込みプロ
グラム手段を表す。段階９０〜９５で、レーザ１４の動
作の初期設定が実施される。米国特許第５２１６６５９
号明細書は、図の光ディスク記録装置が光ディスクを受
け取った後の光記録装置内でのレーザの初期設定を示し
ている。この実施例では、段階９０で、焦点の外れたレ
ーザ・ビームを使って（図４に示したグラフの線４６を
参照のこと）レーザ１４の書込みビーム出力レベルを較
正する。段階９１で出力レベル検出回路２８（図１）を
介するフィードバックを使用することなくレーザ１４を
較正することが好ましい。段階９２で、レーザ１４の駆
動電流レベルを設定するために、較正するレーザ書込み
パルスの平均出力を測定する。この実施例では、３Ｔ試
験パターンを使用した。このパターンは、１０００１０
００１など、一連のパルス（１）が、空（パルスなし）
のビット位置（０）の数で示される数のビット記録位置
だけ分離されたものである。この較正では、各光ディス
ク２２上の通常の所望の記録済み書込みビーム出力レベ
ルが使用される。前に指摘したように、そのような較正
は、所与の記録動作に最適でも適切でもないことがあ
る。本発明によれば、レーザ１４の出力レベルは、書込
みパルス生成ＰＷＭ信号の持続時間または長さを測定す
ることによって自動的に調整される。

【００３３】図１の記録装置の電源が入れられるたび
に、段階９０〜９５が実行される。そのような電源投入
によって記録セッションが開始される。その後、段階９
６などでディスク２０上に記録するためのデータを受け
取るまで、動作は行われない。この説明では、ターゲッ
ト・セクタにアクセスできるように、光学系１５がディ
スク２０に対して相対的に位置決めされていると仮定す
る。そのセクタの１回目の通過において、段階９７で、
段階９０〜９５で較正されたビーム出力レベルを使っ
て、ＡＬＰＣフィールド３２に書込みパルス生成ＰＷＭ
レーザ試験信号を記録する。この記録されるレーザ試験
信号は、持続時間が２バイトを超えない、すなわち２バ
イトの長さのＡＬＰＣフィールド３２よりも小さいこと
が好ましい。セクタの２回目の通過において、段階９８
で、図７を見ると最も分かるように記録パルスの持続時
間を測定する。しきい値の交差を見つけるための自動的
線形補間が周知なので、本明細書ではこれ以上詳しく説
明しない。

【００３４】測定後、段階１００で、マイクロプロセッ
サ１０は、測定されたリード・バック書込みパルス生成
ＰＷＭレーザ試験信号の長さを所期の値と比較する。比
較の結果、測定長さが実験的に決定された所期の長さの
公差の範囲内にある場合（段階１００からＹＥＳに出る
場合）、段階１０１で、データがターゲット・セクタお
よび他のセクタに書き込まれる。

【００３５】段階１００の比較の結果、測定長が所定公
差の範囲外であった場合（段階１００から"ＮＯ"に出る
場合）は、段階１０２で、測定された試験信号長が所期
のレーザ試験信号長よりも長いかそれとも短いかを判定
する。段階１０４で、測定された書込みパルス生成ＰＷ
Ｍ信号が長すぎる場合はレーザ駆動電流振幅を小さく
し、段階１０５で、測定された書込みパルス生成ＰＷＭ
信号が短かすぎる場合はレーザ駆動電流振幅を大きくす
る。レーザ駆動電流の振幅の縮小および拡大は、記録装
置の設計の際に決められた一定の量でもよく、また線６
０（図６）によって示した勾配が既知なので、その勾配
から駆動電流振幅の変化量の推定値を求めてもよい。す
なわち駆動電流振幅が変化すると、測定された出力レベ
ル（測定されたパルス長）と所望の出力レベルとの差よ
りも大きくなく、好ましくはそれに等しい量だけレーザ
・ビーム出力も変化するはずである。さらに、レーザ駆
動電流の小さな調整には、ディスク２０上のビームの半
径方向位置に関する補償を含めることができる。レーザ
駆動電流の振幅調整は、レーザ駆動ＤＡＣ２５へのデジ
タル入力を変更するマイクロプロセッサ１０によって補
完される。

【００３６】機械操作は、段階１０４または１０５から
段階１０６に進んで、２回目の通過の間中、元のターゲ
ット・セクタを含む"Ｎ"個のセクタのデータを書き込
む。Ｎは、３、５、８、１０など、正の整数である。こ
の書込みは、調整後の駆動電流レベルで行われる。すな
わち、段階１０４または１０５は、ＡＬＰＣフィールド
３２の書込みパルス生成ＰＷＭ信号のトレーリング・エ
ッジと記録の開始との間のレーザ駆動書込み電流振幅を
変化を補完する。代替案は、ターゲット・セクタを元の
レーザ駆動電流値で書込み、次に、追加のＮ個のセクタ
上で段階１０６を実行することである。光学系１５が、
書込み中読取り機能または書込み後読取りの機能を含む
場合は、上記測定動作がターゲット・セクタのただ１回
の通過中に行われる。

【００３７】検証動作中にセクタを次に通過する間に、
段階１１０で、すべてのＡＬＰＣフィールド３２のリー
ド・バックと記録したばかりの書込みパルス生成ＰＷＭ
レーザ試験信号の長さを測定する。あるいは、それに加
えてまたはそれと交換に、段階１１０で、ＡＬＰＣ区域
３２に記録されたＰＷＭ信号に対する、データ区域３３
に記録されたＰＷＭパルス・マークまたは信号の長さを
測定することもできる。ＰＷＭ信号の測定長さを平均し
て、平均測定ＰＷＭ信号長を生成する。次に、平均測定
ＰＷＭ信号長を、所望のまたは最適ＰＷＭ信号長と比較
する。平均測定長が所定公差の範囲内である場合は、矢
印１０１に沿って、調整したばかりの書込み駆動電流振
幅を使って記録を続ける。段階１１０で平均測定長が所
望の長さの公差の範囲外であると確認された場合は、段
階１１２で、代替セクタに記録するために、Ｎ個のセク
タのすべてに記録されたデータを再び割り当てる。その
ような再割当ておよび記録は周知である。再割当ての
後、代替セクタへの記録の前に、段階１１３で段階９７
〜１０５が繰り返される。次に、Ｎ個のセクタのデータ
が代替セクタに書き込まれる。段階１０６〜１１３の反
復数は、３回など、決まった繰返し数に制限することが
できる。

【００３８】まとめとして、本発明の較正に関して以下
の事項を開示する。

【００３９】（１）追記型光ディスクにレーザ・ビーム
を放射して前記ディスクのトラック内にデータを記録す
るレーザ手段と、マイクロプロセッサ制御装置と、レー
ザ手段に光結合され、前記放射したレーザ・ビームのレ
ーザ出力レベルを検出し指示する手段とを有し、前記光
ディスクが、前記トラック内に配置された多数のアドレ
ス可能な追記型セクタを有し、前記セクタのうちのいく
つかはそれぞれ、記録済みデータまたは信号に上書きす
ることなく書き込むことができる所定の未書込み区域を
有する、追記型光記録装置において、レーザ出力レベル
を制御する改良された方法であって、所定の書込み出力
レベルで前記レーザ・ビームを放射するように前記レー
ザ手段を初期設定する段階と、前記未書込み区域のうち
の１つを有する前記セクタのうちの第１のセクタを選択
する段階と、前記第１のセクタにアクセスして、前記第
１のセクタの前記未書込み区域に所定のレーザ試験信号
を記録レーザ試験信号として記録する段階と、前記レー
ザ試験信号を記録した後で、前記記録レーザ試験信号を
読み取り、次に、前記読み取った記録レーザ試験信号の
前記トラックに沿った長さを測定する段階と、所望のレ
ーザ書込み出力レベルを示すために所望のレーザ試験信
号長を確立する段階と、前記測定したレーザ試験信号長
を前記所望のレーザ試験信号長と比較して、記録レーザ
試験信号長が前記所望のレーザ試験信号長とほぼ等しい
かあるいはそれよりも短いかまたは長いかを示す段階
と、前記比較によりほぼ等しいことが示された場合は、
データを記録し続ける段階と、そうでない場合は、前記
所望のレーザ試験信号長よりも長い前記測定したレーザ
試験信号長によって示される過度の出力レベルからレー
ザ書込み出力レベルを減少させるか、あるいは前記所望
のレーザ試験信号長よりも短い前記測定したレーザ試験
信号長によって示される前記所望の出力レベルまでレー
ザ書込み出力レベルを増大させることによって、レーザ
書込み出力レベルを調整する段階と、を含む方法。 （２）前記セクタ内にデータを記録するための書込みパ
ルスを確立する段階と、前記書込みパルスのうちの一連
の重複した書込みパルスを生成する段階と、前記第１の
セクタに前記一連の重複書込みパルスを前記レーザ試験
信号として記録する段階とをさらに含む、上記（１）に
記載の方法。 （３）前記アドレス可能なセクタのそれぞれに、レーザ
出力レベル検査区域を確立する段階と、前記検査区域を
前記第１のセクタの前記未書込み区域として選択する段
階とをさらに含む、上記（１）に記載の方法。 （４）前記アドレス可能セクタのそれぞれにデータを受
け取り、記憶するデータ区域を確立する段階と、Ｎが正
の整数であるとして、前記調整段階の後で、前記データ
区域のうちの未書込みデータ区域を有する前記アドレス
可能セクタそれぞれの"Ｎ"個の前記データ区域にデータ
を記録する段階と、前記Ｎ個のセクタのそれぞれにデー
タを記録する前に、前記Ｎ個のセクタの各検査区域にパ
ルス幅変調（ＰＷＭ）信号を記録する段階と、前記Ｎ個
のセクタに記録された前記ＰＷＭ信号の記録された長さ
を測定する段階と、測定したＮ個のセクタの記録レーザ
試験信号長を平均して、平均レーザ試験信号長を生成す
る段階と、前記比較段階と調整段階を繰り返す段階とを
さらに含む、上記（３）に記載の方法。 （５）前記アクセス段階において、パルス幅変調（ＰＷ
Ｍ）試験信号を前記レーザ試験信号として記録するため
に、前記所定の書込み出力レベルで前記トラックの長さ
に沿って重複するように、前記第１のセクタの前記検査
区域に前記レーザ試験信号を一連の重複書込みパルスと
して記録する段階をさらに含む、上記（３）に記載の方
法。 （６）前記アクセス段階を実行する前に、前記検査区域
を、所定数のデータ・バイトを記憶できる長さを有する
ように作成する段階と、前記アクセス段階において、前
記ＰＷＭレーザ試験信号を、前記所定数のバイトよりも
実質上短い長さを有するように記録する段階とをさらに
含む、上記（３）に記載の方法。 （７）前記制御装置において、レーザを始動するための
レーザ駆動電流をレーザに供給して、前記所定のレーザ
出力レベルを有するレーザ・ビームを放射させる段階
と、前記調整段階において、前記レーザ駆動電流を変化
させて、前記レーザ出力レベルを前記所定のレーザ出力
レベルから変化させる段階とをさらに含む、上記（３）
に記載の方法。 （８）前記アドレス可能セクタのそれぞれにレーザ検査
区域とデータ記憶域を、各前記セクタにおける前記レー
ザ検査区域と前記データ記憶域の未記録の区域がそれぞ
れ前記所定の未書込み区域のうちの２つとなるように確
立する段階と、前記アクセス段階において、前記レーザ
検査区域にレーザ試験信号を記録する段階と、前記調整
段階の後で、未記録のデータ区域を有する前記セクタの
うちの第１の所定セクタにデータを記録し、前記調整段
階の後で、未記録のデータ区域を有する前記セクタのう
ちの第２の所定セクタに前記レーザ試験信号を記録し、
前記セクタのうちの前記第２の所定セクタの前記レーザ
検査区域のそれぞれに前記レーザ試験信号を記録する段
階と、前記セクタの前記第２の所定セクタからすべての
記録済みレーザ試験信号を読み取り、前記セクタの前記
第２の所定セクタから読み取った前記レーザ試験信号の
それぞれの長さを測定し、読み取った値を平均し、前記
比較段階を繰り返す段階とをさらに含む、上記（１）に
記載の方法。 （９）追記型光ディスク上の記録トラックに光路手段を
介してレーザ・ビームを放射するレーザと、前記放射レ
ーザ・ビームの一部を受け取るように光路手段に光学的
に結合され、測定した光ビーム出力レベルを制御装置に
示すように制御装置に接続された出力レベル感知手段と
を含む、追記型光ディスク記録装置における、レーザ放
射ビームの出力レベルを制御する装置において、前記制
御装置内にあって、所定の書込み出力レベルで前記レー
ザ・ビームを放射するように前記レーザ手段を初期設定
する初期設定手段と、前記制御装置内にあって、第１の
未書込み区域を有する前記セクタのうちの第１のセクタ
を選択するセクタ選択手段と、前記制御装置内にあっ
て、前記第１のセクタの前記第１の未書込み区域にアク
セスするアクセス手段と、光路手段に接続され、前記第
１の未書込み区域に所定のレーザ試験信号を記録済みレ
ーザ試験信号として記録する書込み手段と、前記制御装
置内にあって光路手段に接続され、前記制御装置が前記
記録手段を始動するのに応答して、前記レーザ試験信号
を記録し、前記記録済みレーザ試験信号を感知して、前
記感知した記録済みレーザ試験信号を前記制御装置に供
給するリード・バック手段と、前記制御装置内にあっ
て、前記感知した記録済みレーザ試験信号を受け取り、
前記感知した記録済み試験信号の長さを測定して、測定
した試験信号の長さの信号を生成する測定手段と、前記
制御装置内にあって、所望のレーザ試験信号の長さを確
立し、所望の長さ信号を生成して、所望のレーザ書込み
出力レベルに対応する前記所望のレーザ試験信号の長さ
を示す参照手段と、前記制御装置内にあって、前記参照
手段と前記測定手段とに接続され、前記所望のレーザ試
験信号の長さ信号と前記測定した試験信号の長さ信号と
を受け取り、前記測定したレーザ試験信号の長さを前記
所望のレーザ試験信号の長さと比較して、記録済みレー
ザ試験信号の長さが、前記所望のレーザ試験信号の長さ
とほぼ等しいかあるいはそれよりも短いかまたは長いか
を示す比較手段と、前記比較手段と前記制御装置とに接
続され、前記比較の結果ほぼ等しいことを前記比較器手
段が示すのに応答して、前記制御装置に記録続行制御メ
ッセージを送る記録承認手段と、比較手段と制御装置と
に接続され、測定した試験信号の長さが前記所望の試験
信号の長さよりも長いことを比較手段が示すのに応答し
て、レーザ書込み出力レベルを減少させ、さらに測定し
た試験信号の長さが前記所望の試験信号の長さよりも小
さいことを前記比較手段が示すのに応じて、レーザ書込
み出力レベルを増大させる調整手段とを含む装置。 （１０）前記書込み手段が、書込みパルスを生成する手
段を含み、前記書込み手段が、ＰＷＭ信号を前記レーザ
試験信号として生成するために、重複する一連の所定数
の前記書込みパルスを生成することを特徴とする、上記
（９）に記載の装置。 （１１）前記記録手段と前記調整手段に接続され、前記
レーザ出力レベル調整のうちの１つに応答して、Ｎが正
の整数であるとして、前記調整済みレーザ出力レベルを
使って"Ｎ"個の未書込みセクタに所定のデータを記録す
る巡回手段をさらに含み、前記第１の未書込み区域がレ
ーザ検査区域であり、前記記録手段が、前記Ｎ個の各セ
クタにデータを記録する前に、前記Ｎ個のセクタそれぞ
れの検査区域に前記レーザ試験信号をＮ個のセクタの記
録済みレーザ試験信号として記録し、前記リード・バッ
ク手段が、前記Ｎセクタの記録済みレーザ試験信号をす
べて感知し、感知したＮ個のセクタの記録済みレーザ試
験信号を前記測定手段に供給し、前記測定手段内に平均
手段があり、前記測定手段は、前記感知したＮ個のセク
タの記録済みレーザ試験信号のそれぞれの長さを測定し
て示し、前記測定した長さの指示を前記平均手段に供給
し、前記平均手段は、前記感知したＮ個のセクタの記録
済みレーザ試験信号から平均測定長さ信号を導出して、
前記平均測定長さ信号を前記測定長さの指示として前記
比較手段に供給することを特徴とする、上記（９）に記
載の装置。 （１２）前記記録手段が、前記トラック上の所定のビッ
ト期間を測定して、前記所定のビット期間のうち２進１
を示すビット期間の満了時にレーザを始動させて、前記
トラックに１を示す信号を記録するために、前記レーザ
を始動して光エネルギーの２進１を示すインパルスを前
記トラックに放射させる、タイミング手段を有し、前記
記録手段内に試験信号制御手段があり、前記レーザ試験
信号を前記検査区域に記録すべきことを前記制御装置が
示すのに応答して、タイミング手段を始動させて、前記
トラック上の記録済みの１ビットを示す信号が前記トラ
ックの縦方向で重なるような所定のより短い持続時間を
有するように前記所定のビット期間を減少させ、かつ所
定の一連の１を示す信号を前記レーザ試験信号として記
録させることを特徴とする、上記（１１）に記載の装
置。 （１３）前記タイミング手段内にあって、Ｍが正の整数
であるとして、Ｍ個の前記ビット期間がバイト長である
ことを示すバイト決定手段を含み、Ｋが正の整数である
として、前記セクタのそれぞれにおける前記検査区域
が、ＫＭバイトの長さを有し、前記制御装置と前記バイ
ト決定手段と前記記録手段とに接続され、バイト決定手
段と前記制御装置とに応答して、前記記録手段に制御信
号を供給するＪがＫＭよりも小さいとき、前記レーザ試
験信号を、前記連続するＪ個の前記１を示す信号として
記録するように指示するレーザ試験信号長手段をさらに
含むことを特徴とする、上記（１２）に記載の装置。

【００４０】

【発明の効果】本発明に従って追記型光ディスク記憶装
置において、データの記憶域を無駄に使うことなく、効
率よく、レーザ出力レベルを制御することができる。レ
ーザをディスクに合焦させた状態で、つまり、実際の書
き込み操作において、その書き込まれたデータ（信号）
そのものを測定するので、光学系及びディスクの汚染や
劣化にかかわらず、最適なレベルに較正することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明が有利に利用される光ディスク記録装置
を簡略化して示すブロック図である。

【図２】図１に示した光ディスク記録装置で使用される
ディスクのセクタのフォーマットを示す図である。

【図３】図１に示した光ディスク記録装置のリード・バ
ック信号に対する本発明実施の効果を示すグラフであ
る。

【図４】異なる焦点状態におけるレーザ駆動電流とレー
ザ・ビーム出力の関係を示すグラフである。

【図５】図１に示した光ディスク記録装置によって生成
される、光媒体の追記型トラックに記録された書込みパ
ルス生成ＰＷＭ信号を示す図である。

【図６】図１に示した装置で使用される、パルス幅とレ
ーザ・ビーム出力の関係を示すグラフである。

【図７】レーザ試験信号の長さの測定値を示すグラフで
ある。

【図８】図１に示した装置において本発明を実施する処
理を示すフローチャートである。

【符号の説明】

１１ データ流れ回路 １２ ケーブル １３ データ検出回路 １４ レーザ １５ 光学系 １６ 双方向光路 ２０ 光ディスク ２１ 駆動軸 ２２ トラック ２３ 検証回路 ２５ デジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ） ２６ レーザ制御部 ２７ セクタ選択／位置決めサーボ ２８ 出力レベル検出回路 ２９ キャリッジ ３０ 開始部 ３１ フラグ・フィールド ３２ ＡＬＰＣフィールド ３３ データ・フィールド ３４ 終了部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ブレール・ヤン・フィンケルシュタイン アメリカ合衆国85748 アリゾナ州ツー ソン イースト・ポトマック 10272 (72)発明者 グレン・アラン・ジャケット アメリカ合衆国85715 アリゾナ州ツー ソン ノース・ロッキー・リッジ・プレ ース 5270 (56)参考文献 特開 平５−143997（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−52547（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 7/125

Claims (10)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】追記型光ディスクにレーザ・ビームを放射
   して前記ディスクのトラック内にデータを記録するレー
   ザ手段と、マイクロプロセッサ制御装置と、レーザ手段
   に光結合され、前記放射したレーザ・ビームのレーザ出
   力レベルを検出し指示する手段とを有し、前記光ディス
   クが、前記トラック内に配置された多数のアドレス可能
   な追記型セクタを有し、前記セクタのうちのいくつかは
   それぞれ、記録済みデータまたは信号に上書きすること
   なく書き込むことができる所定の未書込み区域を有す
   る、追記型光記録装置において、レーザ出力レベルを制
   御する改良された方法であって、 ａ） 所定の書込み出力レベルで前記レーザ・ビームを
   放射するように前記レーザ手段を初期設定する段階と、 ｂ） 前記未書込み区域のうちの１つを有する前記セク
   タのうちの第１のセクタを選択する段階と、 ｃ） 前記第１のセクタの未書込み区域にレーザ出力レ
   ベル検査区域を確立する段階と、 ｄ） 前記第１のセクタにアクセスして、前記第１のセ
   クタの前記レーザ出力レベル検査区域に所定のレーザ試
   験信号を記録レーザ試験信号として記録する段階と、 ｅ） 前記レーザ試験信号を記録した後で、前記記録レ
   ーザ試験信号を読み取り、次に、前記読み取った記録レ
   ーザ試験信号の前記トラックに沿った長さを測定する段
   階と、 ｆ） 所望のレーザ書込み出力レベルを示すために所望
   のレーザ試験信号長を確立する段階と、 ｇ） 前記測定したレーザ試験信号長を前記所望のレー
   ザ試験信号長と比較して、記録レーザ試験信号長が前記
   所望のレーザ試験信号長とほぼ等しいかあるいはそれよ
   りも短いかまたは長いかを示す段階と、 ｈ） 前記比較によりほぼ等しいことが示された場合
   は、データを記録し続ける段階と、 ｉ） そうでない場合は、前記所望のレーザ試験信号長
   よりも長い前記測定したレーザ試験信号長によって示さ
   れる過度の出力レベルからレーザ書込み出力レベルを減
   少させるか、あるいは前記所望のレーザ試験信号長より
   も短い前記測定したレーザ試験信号長によって示される
   前記所望の出力レベルまでレーザ書込み出力レベルを増
   大させることによって、レーザ書込み出力レベルを調整
   する段階と、 を含む方法。
2. 【請求項２】前記段階ｄ）は、 前記セクタ内にデータを記録するための書込みパルスを
   確立する段階と、 前記書込みパルスのうちの一連の重複した書込みパルス
   を生成する段階と、 前記第１のセクタに前記一連の重複書込みパルスを前記
   レーザ試験信号として記録する段階とを含む、請求項１
   に記載の方法。
3. 【請求項３】前記段階ｄ）は、 パルス幅変調（ＰＷＭ）試験信号を前記レーザ試験信号
   として記録するために、前記所定の書込み出力レベルで
   前記トラックの長さに沿って重複するように、前記第１
   のセクタの前記検査区域に前記レーザ試験信号を一連の
   重複書込みパルスとして記録する段階を含む、請求項２
   に記載の方法。
4. 【請求項４】前記段階ｃ）は、前記検査区域を、所定数
   のデータ・バイトを記憶できる長さを有するように作成
   する段階を含み、 前記段階ｄ）は、前記ＰＷＭレーザ試験信号を、前記所
   定数のバイトよりも実質上短い長さを有するように記録
   する段階を含む、 請求項２に記載の方法。
5. 【請求項５】追記型光ディスクにレーザ・ビームを放射
   して前記ディスクのトラック内にデータを記録するレー
   ザ手段と、マイクロプロセッサ制御装置と、レーザ手段
   に光結合され、前記放射したレーザ・ビームのレーザ出
   力レベルを検出し指示する手段とを有し、前記光ディス
   クが、前記トラック内に配置された多数のアドレス可能
   な追記型セクタを有し、前記セクタのうちのいくつかは
   それぞれ、記録済みデータまたは信号に上書きすること
   なく書き込むことができる所定の未書込み区域を有す
   る、追記型光記録装置において、レーザ出力レベルを制
   御する改良された方法であって、 所定の書込み出力レベルで前記レーザ・ビームを放射す
   るように前記レーザ手段を初期設定する段階と、 前記未書込み区域を有する前記セクタのうちのＮ個のセ
   クタを選択する段階と、 前記Ｎ個のセクタの各未書込み区域にレーザ出力レベル
   検査区域を確立する段階と、 前記Ｎ個のセクタにアクセスして、前記Ｎ個のセクタの
   前記レーザ出力レベル検査区域にパルス幅変調のレーザ
   試験信号を記録レーザ試験信号として記録する段階と、 前記Ｎ個のセクタに記録された前記レーザ試験信号の記
   録された長さを測定する段階と、 測定したＮ個のセクタの記録レーザ試験信号長を平均し
   て、平均レーザ試験信号長を生成する段階と、 前記平均レーザ試験信号長を所望のレーザ試験信号長と
   比較して、記録レーザ試験信号長が前記所望のレーザ試
   験信号長とほぼ等しいかあるいはそれよりも短いかまた
   は長いかを示す段階と、 前記比較によりほぼ等しいことが示された場合は、デー
   タを記録し続ける段階と、 そうでない場合は、前記所望のレーザ試験信号長よりも
   長い前記平均レーザ試験信号長によって示される過度の
   出力レベルからレーザ書込み出力レベルを減少させる
   か、あるいは前記所望のレーザ試験信号長よりも短い前
   記平均レーザ試験信号長によって示される前記所望の出
   力レベルまでレーザ書込み出力レベルを増大させること
   によって、レーザ書込み出力レベルを調整する段階と、 を含む方法。
6. 【請求項６】追記型光ディスク上の記録トラックに光路
   手段を介してレーザ・ビームを放射するレーザと、前記
   放射レーザ・ビームの一部を受け取るように光路手段に
   光学的に結合され、測定した光ビーム出力レベルを制御
   装置に示すように制御装置に接続された出力レベル感知
   手段とを含む、追記型光ディスク記録装置における、レ
   ーザ放射ビームの出力レベルを制御する装置において、 前記制御装置内にあって、所定の書込み出力レベルで前
   記レーザ・ビームを放射するように前記レーザ手段を初
   期設定する初期設定手段と、 前記制御装置内にあって、第１の未書込み区域を有する
   前記セクタのうちの第１のセクタを選択するセクタ選択
   手段と、 前記制御装置内にあって、前記第１のセクタの前記第１
   の未書込み区域にアクセスするアクセス手段と、 前記第１のセクタの未書込み区域にレーザ出力レベル検
   査区域を確立する手段と、 光路手段に接続され、前記レーザ出力レベル検査区域に
   所定のレーザ試験信号を記録済みレーザ試験信号として
   記録する書込み手段と、 前記制御装置内にあって光路手段に接続され、前記制御
   装置が前記記録手段を始動するのに応答して、前記レー
   ザ試験信号を記録し、前記記録済みレーザ試験信号を感
   知して、前記感知した記録済みレーザ試験信号を前記制
   御装置に供給するリード・バック手段と、 前記制御装置内にあって、前記感知した記録済みレーザ
   試験信号を受け取り、前記感知した記録済み試験信号の
   長さを測定して、測定した試験信号の長さの信号を生成
   する測定手段と、 前記制御装置内にあって、所望のレーザ試験信号の長さ
   を確立し、所望の長さ信号を生成して、所望のレーザ書
   込み出力レベルに対応する前記所望のレーザ試験信号の
   長さを示す参照手段と、 前記制御装置内にあって、前記参照手段と前記測定手段
   とに接続され、前記所望のレーザ試験信号の長さ信号と
   前記測定した試験信号の長さ信号とを受け取り、前記測
   定したレーザ試験信号の長さを前記所望のレーザ試験信
   号の長さと比較して、記録済みレーザ試験信号の長さ
   が、前記所望のレーザ試験信号の長さとほぼ等しいかあ
   るいはそれよりも短いかまたは長いかを示す比較手段
   と、 前記比較手段と前記制御装置とに接続され、前記比較の
   結果ほぼ等しいことを前記比較手段が示すのに応答し
   て、前記制御装置に記録続行制御メッセージを送る記録
   承認手段と、 比較手段と制御装置とに接続され、測定した試験信号の
   長さが前記所望の試験信号の長さよりも長いことを比較
   手段が示すのに応答して、レーザ書込み出力レベルを減
   少させ、さらに測定した試験信号の長さが前記所望の試
   験信号の長さよりも小さいことを前記比較手段が示すの
   に応じて、レーザ書込み出力レベルを増大させる調整手
   段とを含む装置。
7. 【請求項７】前記書込み手段が、書込みパルスを生成す
   る手段を含み、前記書込み手段が、ＰＷＭ信号を前記レ
   ーザ試験信号として生成するために、重複する一連の所
   定数の前記書込みパルスを生成することを特徴とする、
   請求項６に記載の装置。
8. 【請求項８】前記記録手段と前記調整手段に接続され、
   前記レーザ出力レベル調整のうちの１つに応答して、Ｎ
   が正の整数であるとして、前記調整済みレーザ出力レベ
   ルを使って"Ｎ"個の未書込みセクタに所定のデータを記
   録する巡回手段をさらに含み、 前記第１の未書込み区域がレーザ検査区域であり、 前記記録手段が、前記Ｎ個の各セクタにデータを記録す
   る前に、前記Ｎ個のセクタそれぞれの検査区域に前記レ
   ーザ試験信号をＮ個のセクタの記録済みレーザ試験信号
   として記録し、 前記リード・バック手段が、前記Ｎセクタの記録済みレ
   ーザ試験信号をすべて感知し、感知したＮ個のセクタの
   記録済みレーザ試験信号を前記測定手段に供給し、 前記測定手段内に平均手段があり、前記測定手段は、前
   記感知したＮ個のセクタの記録済みレーザ試験信号のそ
   れぞれの長さを測定して示し、前記測定した長さの指示
   を前記平均手段に供給し、前記平均手段は、前記感知し
   たＮ個のセクタの記録済みレーザ試験信号から平均測定
   長さ信号を導出して、前記平均測定長さ信号を前記測定
   長さの指示として前記比較手段に供給することを特徴と
   する、請求項７に記載の装置。
9. 【請求項９】前記記録手段が、前記トラック上の所定の
   ビット期間を測定して、前記所定のビット期間のうち２
   進１を示すビット期間の満了時にレーザを始動させて、
   前記トラックに１を示す信号を記録するために、前記レ
   ーザを始動して光エネルギーの２進１を示すインパルス
   を前記トラックに放射させる、タイミング手段を有し、 前記記録手段内に試験信号制御手段があり、前記レーザ
   試験信号を前記検査区域に記録すべきことを前記制御装
   置が示すのに応答して、タイミング手段を始動させて、
   前記トラック上の記録済みの１ビットを示す信号が前記
   トラックの縦方向で重なるような所定のより短い持続時
   間を有するように前記所定のビット期間を減少させ、か
   つ所定の一連の１を示す信号を前記レーザ試験信号とし
   て記録させることを特徴とする、請求項８に記載の装
   置。
10. 【請求項１０】前記タイミング手段内にあって、Ｍが正
    の整数であるとして、Ｍ個の前記ビット期間がバイト長
    であることを示すバイト決定手段を含み、 Ｋが正の整数であるとして、前記セクタのそれぞれにお
    ける前記検査区域が、ＫＭバイトの長さを有し、 前記制御装置と前記バイト決定手段と前記記録手段とに
    接続され、バイト決定手段と前記制御装置とに応答し
    て、前記記録手段に制御信号を供給するＪがＫＭよりも
    小さいとき、前記レーザ試験信号を、前記連続するＪ個
    の前記１を示す信号として記録するように指示するレー
    ザ試験信号長手段をさらに含むことを特徴とする、請求
    項９に記載の装置。