JP2973762B2 - Method for producing silicon carbide sintered body for semiconductor production - Google Patents
Method for producing silicon carbide sintered body for semiconductor productionInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、半導体治具などの半導
体製造用部品の製造に有用な半導体製造用炭化珪素焼結
体とその製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a silicon carbide sintered body for semiconductor production which is useful for producing parts for semiconductor production such as a semiconductor jig and a method for producing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体製造工程においては、従来は石英
ガラス製またはシリコン製の治具および他の半導体製造
用部品が主に使用されてきた。半導体治具の例には、ウ
ェハーボート、マザーボート、縦型ロングボート、プロ
セスチューブ、ライナーチューブ、フォーク、引出し棒
などの熱処理用治具がある。また、半導体製造装置に用
いられる半導体製造用部品としては、ハンド、真空チャ
ック、ベルジャースペイサー、固定・位置決め用治具な
どがある。2. Description of the Related Art In the semiconductor manufacturing process, conventionally, a jig made of quartz glass or silicon and other semiconductor manufacturing parts have been mainly used. Examples of the semiconductor jig include heat treatment jigs such as a wafer boat, a mother boat, a vertical long boat, a process tube, a liner tube, a fork, and a drawer bar. In addition, as a semiconductor manufacturing component used in a semiconductor manufacturing apparatus, there are a hand, a vacuum chuck, a bell jar spacer, a fixing / positioning jig, and the like.
【0003】しかし、石英ガラス製の治具および部品
は、石英のひずみ点が約1100℃と低いことから、熱処理
中に変形や歪を生じ易い上、高温に長時間保持されると
α−クリストバライトへの転移のために失透して破壊す
ることがある。そのため、特に熱処理用治具の場合に
は、高温度熱処理の使用条件下では寿命がかなり制限さ
れている。一方、シリコン製の治具および部品について
は、靱性が低く、成形加工上の制約が多いことなど、工
業的には解決すべきいくつかの問題を抱えていた。[0003] However, quartz glass jigs and parts tend to be deformed or distorted during heat treatment because the strain point of quartz is as low as about 1100 ° C. May devitrify and destroy due to transfer to Therefore, especially in the case of a jig for heat treatment, the service life thereof is considerably limited under the use condition of the high temperature heat treatment. On the other hand, jigs and parts made of silicon have several problems that need to be solved industrially, such as low toughness and many restrictions on molding.
【0004】これに対し、炭化珪素は高温において化学
的に安定で耐食性に優れており、しかも高温度における
強度、剛性が石英ガラスに比べてはるかに高いことか
ら、一部では炭化珪素焼結体による治具も使用されてい
るが、現状では拡散熱処理時に金属不純物ガスを発生す
ることがしばしばあることから、高品質のウェハーの製
造工程にはあまり使用されていない。従って、炭化珪素
焼結体の原料として、金属不純物を実質的に含まない
(即ち、金属不純物含有量が各1ppm 以下の) 高純度の
炭化珪素粉末が望まれていた。[0004] On the other hand, silicon carbide is chemically stable at high temperatures and has excellent corrosion resistance, and since its strength and rigidity at high temperatures are much higher than those of quartz glass, silicon carbide sintered bodies are partially used. However, at present, a metal impurity gas is often generated during diffusion heat treatment, and thus is not often used in a process of manufacturing a high-quality wafer. Therefore, it does not substantially contain metal impurities as a raw material of the silicon carbide sintered body.
High-purity silicon carbide powder (that is, each having a metal impurity content of 1 ppm or less) has been desired.
【0005】炭化珪素には高温側で安定なα型(六方晶
系)と低温側で安定なβ型(立方晶系)の二つの結晶形
があるが、工業的には低温側で安定なβ型の方がより均
質で高純度な粉末を得やすいため、治具の製造にはβ型
炭化珪素粉末が適している。炭化珪素粉末の製造方法と
しては、(1) SiO2とCとの反応、(2) 金属SiとCとの反
応、(3) Si化合物 (例、四塩化珪素) と炭化水素とを気
相で反応させる気相合成法、などが知られているが、工
業的には、原料が安価であり、反応制御が容易な前記
(1) の方法によって炭化珪素粉末が製造されている。Silicon carbide has two crystal forms, α-type (hexagonal) which is stable at high temperatures and β-type (cubic) which is stable at low temperatures, but is industrially stable at low temperatures. β-type silicon carbide powder is more suitable for manufacturing jigs because β-type is easier to obtain a more uniform and high-purity powder. Methods for producing silicon carbide powder include (1) a reaction between SiO 2 and C, (2) a reaction between metal Si and C, and (3) a gaseous phase of Si compound (eg, silicon tetrachloride) and hydrocarbon. A gas phase synthesis method in which the reaction is performed is known, but industrially, the raw materials are inexpensive and the reaction control is easy.
Silicon carbide powder is manufactured by the method (1).
【0006】この(1) のSiO2とCとの反応による炭化珪
素粉末の製造は、高温における次の反応により進行する
といわれている。 SiO2 +C → SiO(g) +CO(g) ・・・ (a) SiO(g) +2C → SiC+CO(g) ・・・ (b) 但し、上記式中、(g) はガスを意味する。It is said that the production of silicon carbide powder by the reaction between SiO 2 and C in (1) proceeds by the following reaction at a high temperature. SiO 2 + C → SiO (g) + CO (g) (a) SiO (g) + 2C → SiC + CO (g) (b) In the above formula, (g) means a gas.
【0007】これらの反応は上記(b) の固体−気体反応
を含んでおり、固体側の拡散が反応の律速となるので、
固体側の粒径が大きいと、均質な粉末が得られにくくな
る恐れがある。[0007] These reactions include the solid-gas reaction of the above (b), and the diffusion on the solid side determines the rate of the reaction.
If the particle size on the solid side is large, there is a possibility that it is difficult to obtain a homogeneous powder.
【0008】これらの反応による炭化珪素の製造方法と
して最もよく知られているのはアチソン法である。アチ
ソン法は、珪素質原料 (SiO2またはSiO2供給源) と炭素
質原料 (CまたはC供給源) の2種類の固体原料の混合
物を、非連続式のアチソン型電気抵抗炉内で加熱して反
応させることにより炭化珪素を製造する方法である。こ
の方法は、直接通電加熱のため温度制御の精度は余りよ
くないが、高温反応となるので、高温側で安定なα型炭
化珪素が塊状で生成する。しかし、使用する2種類の固
体原料のいずれにも多量の金属不純物が含まれている
上、生成した塊状の高強度の炭化珪素を粉砕して微粉化
する必要があるが、この粉砕中にさらに多くの金属不純
物が混入する。従って、この方法で得られた粉末には、
かなりの量の金属不純物の混入が避けられないという、
大きな欠点があった。しかも、1回の反応ごとに炉の側
壁を取り外して塊状の生成物を回収するため、作業性が
極めて悪いという、労働環境面での別の問題があった。[0008] The Acheson method is best known as a method for producing silicon carbide by these reactions. In the Acheson method, a mixture of two types of solid materials, a silicon material (SiO 2 or SiO 2 source) and a carbon material (C or C source), is heated in a discontinuous Acheson type electric resistance furnace. This is a method of producing silicon carbide by reacting with silicon. In this method, the accuracy of temperature control is not very good because of direct current heating, but the reaction becomes a high temperature, so that α-type silicon carbide which is stable on the high temperature side is formed in a lump. However, both of the two types of solid raw materials used contain a large amount of metal impurities, and it is necessary to pulverize the generated massive high-strength silicon carbide to pulverize it. Many metal impurities are mixed. Therefore, the powder obtained by this method includes:
That considerable amounts of metal impurities are inevitable.
There were major drawbacks. In addition, there is another problem in terms of the working environment that the workability is extremely poor because the bulky product is collected by removing the side wall of the furnace for each reaction.
【0009】作業効率の改善については、特公昭58−18
325 号および同58−34405 号の各公報に、ピッチ等の結
合剤を用いて原料混合物を固形化することにより、粉砕
工程を必要とせずに、β型炭化珪素粉末を連続的に製造
することが提案されている。特開昭61−6110号公報に
は、連続製造の改良法として、珪素質固体原料と炭素質
固体原料に、さらに液状珪素化合物と、重合または架橋
により硬化する官能基含有有機化合物とを配合した原料
混合物を用い、この原料混合物を予め加熱して官能基含
有有機化合物を硬化させることにより固形化し、得られ
た固形物を非酸化性雰囲気中で焼成することにより、β
型炭化珪素粉末を連続的に製造する方法が記載されてい
る。Regarding the improvement of work efficiency, Japanese Patent Publication No. Sho 58-18
No. 325 and Nos. 58-34405, the continuous production of β-type silicon carbide powder without the need for a pulverizing step by solidifying the raw material mixture using a binder such as pitch. Has been proposed. Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-6110 discloses an improved method of continuous production in which a silicon compound and a carbon compound are mixed with a liquid silicon compound and a functional group-containing organic compound which cures by polymerization or crosslinking. Using the raw material mixture, the raw material mixture is pre-heated to harden the functional group-containing organic compound to be solidified, and the obtained solid is fired in a non-oxidizing atmosphere to obtain β.
A method for continuously producing silicon carbide powder is described.
【0010】また、粒径や形状の均一な炭化珪素粉末を
製造するために、液状の原料を使用して原料混合物を均
質化することも知られている。例えば、特開昭57−8801
9 号公報には、炭素質原料を珪酸液で処理して得た原料
混合物を、非酸化雰囲気下で加熱焼成して、炭化珪素粉
末を製造することが提案されている。この公報には、好
ましい方法として、炭素質原料も液状のものを使用し、
混合を液相で行うことが記載されている。特公平1−42
886 号公報には、上記反応においてシリカゾルが若干生
成する欠点を改善するために、液状の珪素質原料と、加
熱により炭素を生成する液状の有機化合物と、この有機
化合物と均一に溶化する重合または架橋触媒とを含む混
合液を反応させて得た、Si、OおよびCを含む硬化物を
炭化珪素前駆体として使用し、これを非酸化性雰囲気中
で焼成することによりβ型炭化珪素粉末を製造する方法
が記載されている。It is also known to homogenize a raw material mixture using a liquid raw material in order to produce silicon carbide powder having a uniform particle size and shape. For example, JP-A-57-8801
No. 9 proposes producing a silicon carbide powder by heating and firing a raw material mixture obtained by treating a carbonaceous raw material with a silicate liquid in a non-oxidizing atmosphere. In this publication, as a preferable method, a carbonaceous raw material is also used in a liquid form,
It is described that mixing takes place in the liquid phase. 1-42
No. 886 discloses that in order to improve the disadvantage that silica sol is slightly generated in the above reaction, a liquid silicon-based raw material, a liquid organic compound which generates carbon by heating, and a polymerization or a solution which uniformly dissolves the organic compound. A cured product containing Si, O and C obtained by reacting a mixed solution containing a cross-linking catalyst is used as a silicon carbide precursor, and this is fired in a non-oxidizing atmosphere to obtain a β-type silicon carbide powder. A method of manufacture is described.
【0011】しかし、上述した各種のβ型炭化珪素粉末
の製造方法のいずれも、最終生成物中には、半導体製造
工程では許容できない量、例えば、少なくとも一つの金
属種について3ppm 以上の金属不純物の残存が確認され
ており、金属不純物含有量がすべての金属について1pp
m 以下という、望ましい高純度のβ型炭化珪素粉末を製
造することは困難であった。不純物の除去には洗浄が有
効であるが、不純物含有量を洗浄で1ppm 以下に低減さ
せるのは、工業的には極めて困難である。このような粉
末原料を使用するため、半導体治具や部品の製作に用い
る炭化珪素焼結体 (炭化珪素粉末の成形と焼結により得
られる) についても、金属不純物含有量が各金属いずれ
も1ppm 以下という望ましい水準にすることはできなか
った。However, in any of the above-mentioned methods for producing β-type silicon carbide powder, the final product contains unacceptable amounts of metal impurities in the semiconductor manufacturing process, for example, 3 ppm or more of at least one metal species. Residuals were confirmed and the metal impurity content was 1 pp for all metals.
m or less, it was difficult to produce a desirable high-purity β-type silicon carbide powder. Cleaning is effective for removing impurities, but it is extremely difficult industrially to reduce the impurity content to 1 ppm or less by cleaning. Since such powdered raw materials are used, the content of metal impurities in each of the silicon carbide sintered bodies (obtained by molding and sintering silicon carbide powder) used in the production of semiconductor jigs and parts is 1 ppm for each metal. It was not possible to reach the following desirable levels.
【0012】[0012]
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、半導
体製造に有害な各金属元素の含有量が1ppm 以下のβ型
炭化珪素粉末を用いた、半導体製造に有害な各金属元素
の含有量が1ppm 以下という半導体製造工程で使用する
のに十分な高純度を備えた半導体製造用炭化珪素焼結体
の製造方法を提供することである。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a β-type silicon carbide powder having a content of each metal element harmful to semiconductor production of 1 ppm or less, the content of each metal element harmful to semiconductor production. It is an object of the present invention to provide a method for producing a silicon carbide sintered body for semiconductor production having a high purity of 1 ppm or less, which is high enough to be used in a semiconductor production process.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記目的
を達成すべく検討したところ、β型炭化珪素粉末に含ま
れている金属不純物は、そのほとんどが炭素質原料に由
来することを究明した。即ち、珪素質原料の方は、工業
的に高純度化が可能であり、半導体製造に有害な不純物
金属を実質的に含有しないものが容易に得られるのに対
し、固体の炭素質原料として好適な各種の有機樹脂類
(例、フェノール樹脂) には、製造時の触媒に由来する
相当量の半導体製造に有害な金属不純物が含まれてお
り、これを例えば1ppm 以下まで減少させることは工業
的には困難である。しかも、炭素は金属などを容易に吸
着するため、最終生成物の炭化珪素粉末中には半導体製
造に有害な金属不純物が不可避的に残存することにな
る。その上、炭化珪素粉末から成形、仮焼、溶融金属シ
リコン含浸による反応焼結の工程を経て炭化珪素焼結体
を製造するプロセスにおいても、半導体製造に有害な金
属不純物が外部から混入する可能性があり、この点につ
いても注意が必要である。Means for Solving the Problems The present inventors have studied to achieve the above object, and found that most of metal impurities contained in β-type silicon carbide powder are derived from carbonaceous raw materials. I found out. That is, the silicon-based raw material can be industrially highly purified and can be easily obtained without substantially containing an impurity metal harmful to semiconductor production, but is preferably used as a solid carbon-based raw material. Various organic resins
(Eg, phenolic resin) contains a considerable amount of metal impurities harmful to semiconductor production derived from the catalyst at the time of production, and it is industrially difficult to reduce this to, for example, 1 ppm or less. In addition, since carbon easily adsorbs metals and the like, metal impurities harmful to semiconductor production inevitably remain in the final product silicon carbide powder. In addition, in the process of manufacturing silicon carbide sintered bodies through the steps of molding, calcining, and reaction sintering by impregnation of molten metal silicon from silicon carbide powder, there is a possibility that metal impurities harmful to semiconductor manufacturing may be mixed in from the outside. Attention should be paid to this point.
【0014】この2点に着目してさらに研究を進めた結
果、炭素質原料として、金属触媒を使用しないで製造
された、重合または架橋により硬化する有機化合物を使
用することにより、目的とする高純度のβ型炭化珪素粉
末を得ることができること、この粉末を用いて成形、
仮焼、高純度溶融金属シリコン含浸の含浸による反応焼
結の各工程を経て炭化珪素焼結体を製造する際、外部か
ら混入する不純物量は、十分な注意をすれば、工程中ま
たは工程終了後の高純化処理(例、HClガス雰囲気中で
の熱処理或いは洗浄)によって除去可能なレベルに容易
に抑制できるので、半導体製造に有害な量の金属不純物
を含まない、高純度の半導体製造用炭化珪素焼結体が製
造できることを見出し、本発明を完成した。As a result of further research focusing on these two points, as a result of using an organic compound which is produced without using a metal catalyst and which is cured by polymerization or cross-linking as a carbonaceous raw material, it is possible to obtain a desired high carbonaceous material. That β-type silicon carbide powder of a purity can be obtained, and molding using this powder,
When manufacturing silicon carbide sintered body through each process of calcination and reaction sintering by impregnation of high purity molten metal silicon impregnation, the amount of impurities mixed in from outside may be during or after the process if sufficient care is taken. It can be easily suppressed to a level that can be removed by a subsequent high-purification treatment (eg, heat treatment or washing in an HCl gas atmosphere). The present inventors have found that a silicon sintered body can be manufactured, and have completed the present invention.
【0015】ここに、本発明の要旨は、炭化珪素粉末を
成形して得た成形体を非酸化性雰囲気下で仮焼し、得ら
れた多孔質体に溶融金属シリコンを含浸させて反応焼結
させることからなる、半導体製造用炭化珪素焼結体の製
造方法であって、前記炭化珪素粉末が、(a) 液状珪素化
合物と、加水分解性珪素化合物より合成された珪素質固
体とからなる群より選ばれた少なくとも1種の珪素含有
原料、および(b) 半導体製造に有害な元素を含まない触
媒を用いて合成された重合性または架橋性の有機化合物
から選ばれた少なくとも1種の炭素含有原料、からな
る、炭素および珪素を含有し、少なくとも1成分が液状
である原料混合物を、加熱および/または触媒もしくは
架橋剤を用いて固化させ、得られた固形物を非酸化性雰
囲気下で加熱焼成することにより得た、平均粒径が 0.5
〜20μm、遊離炭素含有量が20重量%以下、半導体製造
に有害な各金属元素の含有量が1ppm 以下、の炭化珪素
粉末 (以下、この炭化珪素粉末を「高純度プリカーサ法
粉末」という)であり、仮焼後に得られた多孔質体は炭
素微粒子を含まないか又は多孔質炭化珪素の母相に1μ
m以下の炭素微粒子が均一分散された組織を有すること
を特徴とする、半導体製造用炭化珪素焼結体の製造方法
である。Here, the gist of the present invention is that a molded body obtained by molding silicon carbide powder is calcined in a non-oxidizing atmosphere, and the obtained porous body is impregnated with molten metallic silicon to carry out reaction firing. A method for producing a silicon carbide sintered body for semiconductor production, wherein the silicon carbide powder comprises: (a) a liquid silicon compound; and a silicon solid which is synthesized from a hydrolyzable silicon compound. At least one silicon-containing material selected from the group; and (b) at least one carbon selected from a polymerizable or crosslinkable organic compound synthesized using a catalyst containing no harmful elements for semiconductor production. A raw material mixture containing carbon and silicon and containing at least one component in a liquid state is solidified by heating and / or using a catalyst or a cross-linking agent, and the resulting solid is subjected to a non-oxidizing atmosphere. Heat and bake It was obtained by the average particle size of 0.5
Silicon carbide powder having a free carbon content of 20% by weight or less and a content of each metal element harmful to semiconductor production of 1 ppm or less (hereinafter, this silicon carbide powder is referred to as "high-purity precursor method powder"). Yes, the porous body obtained after calcination does not contain fine carbon particles or is 1 μm in the matrix of the porous silicon carbide.
A method for producing a silicon carbide sintered body for semiconductor production, characterized by having a structure in which m or less carbon fine particles are uniformly dispersed.
【0016】本発明の好適態様によれば、上記の高純度
プリカーサ法粉末を使用して成形、仮焼、金属シリコン
含浸、反応焼結の各工程を経て炭化珪素焼結体を製造す
る際に、外部からの不純物の混入を可及的に避け、また
混入が避けられない場合でも除去が容易な不純物となる
ように配慮し、雰囲気 (不活性ガス又は真空) 中での熱
処理や洗浄、必要であればハロゲンガス中の熱処理など
による高純度化処理などにより不純物の除去を行うこと
で、反応焼結後に得られた炭化珪素焼結体が、β型炭化
珪素の母相50〜80重量%、反応炭化珪素相0〜30重量
%、および金属シリコン相0〜40重量%から構成され、
かつこの組織中の各不純物元素の含有量が全部の相の合
計で1ppm 以下である、高純度の半導体製造用炭化珪素
焼結体を得ることができる。According to a preferred embodiment of the present invention, when a silicon carbide sintered body is manufactured through the steps of molding, calcining, metal silicon impregnation, and reaction sintering using the high-purity precursor method powder, In order to avoid contamination from outside as much as possible and to make it easy to remove impurities even when contamination cannot be avoided, heat treatment, washing, and cleaning in an atmosphere (inert gas or vacuum) are necessary. If the impurities are removed by a high-purification treatment or the like by a heat treatment in a halogen gas, the silicon carbide sintered body obtained after the reaction sintering becomes a β-type silicon carbide matrix of 50 to 80% by weight. And 0 to 30% by weight of a reactive silicon carbide phase and 0 to 40% by weight of a metallic silicon phase.
In addition, a high-purity sintered silicon carbide for semiconductor production can be obtained in which the content of each impurity element in this structure is 1 ppm or less in total of all phases.
【0017】本発明において、半導体製造に有害な元素
(以下、『有害元素』と言う)は、ウェハーの熱処理工
程で塩化物などとなって気化し、ウェハーに不純物とし
て取り込まれ、Siウェハーの絶縁抵抗の低下やSiO2の耐
電圧低下を引き起こし易い元素のことである。この『有
害元素』の具体例としては、Fe、Ni、Cu、Cr、V、Wな
どの重金属元素、Li、Na、Kなどのアルカリ金属元素、
ならびにBe、Mg、Ca、B、Al、Gaなどのアルカリ土類も
しくは両性金属元素などが挙げられる。In the present invention, elements harmful to semiconductor manufacturing (hereinafter referred to as "harmful elements") are vaporized as chlorides and the like in a heat treatment step of the wafer, taken into the wafer as impurities, and insulated from the Si wafer. It is an element that easily causes a decrease in resistance and a decrease in withstand voltage of SiO 2 . Specific examples of this "harmful element" include heavy metal elements such as Fe, Ni, Cu, Cr, V and W, alkali metal elements such as Li, Na and K,
And alkaline earth or amphoteric metal elements such as Be, Mg, Ca, B, Al, and Ga.
【0018】本発明の方法で用いる原料混合物は、(a)
液状珪素化合物と、加水分解性珪素化合物より合成され
た珪素質固体とからなる群から選ばれた少なくとも1種
の珪素含有原料と、(b) 『有害元素』を含まない触媒を
用いて合成された、重合性または架橋性の有機化合物か
ら選ばれた少なくとも1種の炭素含有原料とからなり、
原料混合物中の少なくとも1成分は液状の成分である。
目的とする『有害元素』含有量が各元素につき1ppm 以
下のβ型炭化珪素粉末を得るには、すべての使用原料の
『有害元素』含有量が各1ppm 以下であることが特に好
ましい。The raw material mixture used in the method of the present invention comprises (a)
(B) at least one silicon-containing raw material selected from the group consisting of a liquid silicon compound and a siliconaceous solid synthesized from a hydrolyzable silicon compound, and (b) synthesized using a catalyst containing no harmful elements. And at least one carbon-containing raw material selected from polymerizable or crosslinkable organic compounds,
At least one component in the raw material mixture is a liquid component.
In order to obtain the desired β-type silicon carbide powder having a desired “harmful element” content of 1 ppm or less for each element, it is particularly preferable that all the raw materials used have a “harmful element” content of 1 ppm or less.
【0019】(a)成分の液状珪素化合物としては、その
製造工程で『有害元素』を含まない原料と、必要であれ
ば『有害元素』を含まない触媒とを用いて合成された、
『有害元素』の含有量が各1ppm 以下のものを使用する
ことが好ましい。液状珪素化合物の例としては、加水
分解性珪酸化合物をトリメチル化して得られる1群のポ
リマー、加水分解性珪酸化合物と1価もしくは多価ア
ルコール(ジオール、トリオールなど)とのエステル、
例えば、四塩化珪素とエタノールとの反応で合成される
エチルシリケート、加水分解性珪素化合物と有機化合
物との反応で得られたエステル以外の反応生成物(例、
テトラメチルシラン、ジメチルジフェニルシラン、ポリ
ジメチルシラン)が挙げられる。The liquid silicon compound as the component (a) was synthesized using a raw material containing no "harmful elements" and, if necessary, a catalyst containing no "harmful elements" in the production process.
It is preferable to use those having a "harmful element" content of 1 ppm or less. Examples of the liquid silicon compound include a group of polymers obtained by trimethylating a hydrolyzable silicate compound, an ester of the hydrolyzable silicate compound with a monohydric or polyhydric alcohol (diol, triol, etc.),
For example, ethyl silicate synthesized by a reaction between silicon tetrachloride and ethanol, a reaction product other than an ester obtained by a reaction between a hydrolyzable silicon compound and an organic compound (eg,
Tetramethylsilane, dimethyldiphenylsilane, polydimethylsilane).
【0020】(a) 成分として使用する加水分解性珪素化
合物より合成された珪素質固体も同様に、『有害元素』
の含有量が各1ppm 以下のものを使用することが好まし
い。かかる珪素質固体は、高温の非酸化性雰囲気中で炭
素と反応して炭化珪素を生成するものであればよい。好
ましい珪素質固体の例は、四塩化珪素の加水分解により
得られる無定型シリカ微粉末である。The siliconaceous solid synthesized from the hydrolyzable silicon compound used as the component (a) is also referred to as a "harmful element".
It is preferable to use those having a content of 1 ppm or less. Such a siliconaceous solid may be any as long as it reacts with carbon in a high-temperature non-oxidizing atmosphere to generate silicon carbide. An example of a preferred siliceous solid is amorphous silica fine powder obtained by hydrolysis of silicon tetrachloride.
【0021】(b) 成分は、『有害元素』を含まない触媒
を用いて合成された、加熱および/または触媒もしくは
架橋剤により重合または架橋して硬化しうる任意の1種
もしくは2種以上の有機化合物から構成され、モノマ
ー、オリゴマー、ポリマーのいずれでもよい。かかる有
機化合物の好適な具体例としては、『有害元素』を含ま
ない触媒を用いて合成されたフェノール樹脂、フラン樹
脂、尿素樹脂、エポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹
脂、ポリイミド樹脂、ポリウレタン樹脂などの硬化性樹
脂が挙げられる。なかでも、残炭率が高く、作業性に優
れているレゾール型またはノボラック型フェノール樹脂
が好ましい。The component (b) may be any one or more of any kind that can be cured by polymerization or crosslinking by heating and / or a catalyst or a crosslinking agent, which is synthesized using a catalyst containing no harmful elements. It is composed of an organic compound and may be any of a monomer, an oligomer and a polymer. Preferred specific examples of such organic compounds include phenol resins, furan resins, urea resins, epoxy resins, unsaturated polyester resins, polyimide resins, polyurethane resins, and the like, which are synthesized using a catalyst containing no harmful elements. Resin. Among them, a resol type or novolak type phenol resin having a high residual carbon ratio and excellent workability is preferable.
【0022】本発明に有用なレゾール型フェノール樹脂
は、フェノール、クレゾール、キシレノール、レゾルシ
ン、ビスフェノールAなどの1価または2価のフェノー
ル類とホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、ベンズア
ルデヒドなどのアルデヒド類とを、『有害元素』を含ま
ない触媒としてアンモニアまたは有機アミンの存在下で
反応させて製造することができる。従来のレゾール型フ
ェノール樹脂は、一般にアルカリ金属化合物を触媒とし
て用いて製造されてきたが、このような従来のレゾール
型フェノール樹脂は、『有害元素』の含有量が1ppm を
超えるため、本発明で用いるのには適さない。The resole type phenolic resin useful in the present invention is obtained by converting a monovalent or divalent phenol such as phenol, cresol, xylenol, resorcin, bisphenol A and an aldehyde such as formaldehyde, acetaldehyde, benzaldehyde into a harmful element. Can be produced by reacting in the presence of ammonia or an organic amine as a catalyst that does not contain the same. Conventional resol-type phenolic resins have generally been produced using an alkali metal compound as a catalyst. However, such conventional resol-type phenolic resins have a "harmful element" content of more than 1 ppm, so that the present invention provides Not suitable for use.
【0023】触媒として用いる有機アミンは、第一級、
第二級、および第三級アミンのいずれでもよい。代表的
なアミンとしては、ジメチルアミン、トリメチルアミ
ン、ジエチルアミン、トリエチルアミン、ジメチルモノ
エタノールアミン、モノメチルジエタノールアミン、N
−メチルアニリン、ピリジン、モルホリン等が例示され
る。フェノール類とアルデヒド類とをアンモニアまたは
有機アミンの存在下に反応させてレゾール型フェノール
樹脂を合成する方法は、使用触媒が異なる以外は、従来
公知の方法がそのまま採用できる。即ち、フェノール類
1モルに対し、1〜3モルのアルデヒド類と0.02〜0.2
モルの有機アミンまたはアンモニアを加え、60〜100 ℃
に加熱すればよい。The organic amines used as catalysts are primary,
Any of secondary and tertiary amines may be used. Representative amines include dimethylamine, trimethylamine, diethylamine, triethylamine, dimethylmonoethanolamine, monomethyldiethanolamine, N
-Methylaniline, pyridine, morpholine and the like. As a method for synthesizing a resol-type phenol resin by reacting a phenol and an aldehyde in the presence of ammonia or an organic amine, a conventionally known method can be employed as it is, except that a different catalyst is used. That is, with respect to 1 mole of phenol, 1 to 3 moles of aldehyde and 0.02 to 0.2
Add mole organic amine or ammonia and add 60-100 ° C
It may be heated to.
【0024】一方、本発明に有用なノボラック型フェノ
ール樹脂の製造は、上記と同様の1価または2価フェノ
ール類とアルデヒド類とを混合し、『有害元素』を含ま
ない塩酸、硫酸、p−トルエンスルホン酸またはシュウ
酸などの酸類を触媒として反応させて製造することがで
きる。このノボラック型フェノール樹脂の製造にも従来
公知の方法がそのまま採用できる。即ち、フェノール類
1モルに対し、 0.5〜0.9 モルのアルデヒド類と0.02〜
0.2 モルの『有害元素』を含まない無機酸または有機酸
を加え、60〜100 ℃に加熱すればよい。On the other hand, a novolak-type phenol resin useful in the present invention is produced by mixing a monohydric or dihydric phenol and an aldehyde as described above, and adding hydrochloric acid, sulfuric acid, p- It can be produced by reacting with an acid such as toluenesulfonic acid or oxalic acid as a catalyst. A conventionally known method can be employed as it is for the production of the novolak type phenol resin. That is, 0.5 to 0.9 moles of aldehydes and 0.02 to
0.2 mol of an inorganic or organic acid containing no "harmful elements" may be added and heated to 60 to 100 ° C.
【0025】本発明の高純度プリカーサ法粉末の製造に
おいては、(a) 成分と(b) 成分のうち少なくとも1種の
原料、好ましくは全部の原料、が液状である原料混合物
を使用する。例えば、(a) 成分として液状珪素化合物を
使用するか、および/または(b) 成分として液状樹脂、
例えば、液状レゾール型フェノール樹脂を使用する。或
いは、ノボラック型フェノール樹脂のように固体成分の
場合には、適当な有機溶媒に溶解して溶液状で使用す
る。原料混合物を構成する成分がすべて固体であると、
原料成分の均質な混合が困難となり、最終生成物として
得られた炭化珪素粉末の粒径や形状が不均一となる。In the production of the high-purity precursor method powder of the present invention, a raw material mixture in which at least one, preferably all, of the components (a) and (b) is liquid is used. For example, a liquid silicon compound is used as the component (a), and / or a liquid resin is used as the component (b).
For example, a liquid resol type phenol resin is used. Alternatively, in the case of a solid component such as a novolak type phenol resin, the solid component is dissolved in an appropriate organic solvent and used in the form of a solution. If all the components that make up the raw material mixture are solid,
Uniform mixing of the raw material components becomes difficult, and the particle size and shape of the silicon carbide powder obtained as the final product become uneven.
【0026】上記の(a) 成分(珪素含有原料)と(b) 成
分(炭素含有原料)とを混合し、必要に応じて重合また
は架橋用の触媒または架橋剤を加え、炭化珪素製造用の
原料混合物を調製する。(b) 成分がレゾール型フェノー
ル樹脂のように液状である場合には、(a) 成分と(b) 成
分とを混合し、好ましくは極めて十分に撹拌して、組成
が均一な原料混合物を得る。(b) 成分がノボラック型フ
ェノール樹脂のように固体である場合には、好ましくは
(b) 成分を適当な溶剤(例、ノボラック型フェノール樹
脂の場合にはアルコール)にとかしてから、得られた溶
液を(a) 成分と混合し、好ましくは極めて十分に撹拌す
る。The above component (a) (silicon-containing raw material) and component (b) (carbon-containing raw material) are mixed, and if necessary, a polymerization or crosslinking catalyst or a crosslinking agent is added thereto. Prepare a raw material mixture. When the component (b) is a liquid such as a resol-type phenolic resin, the component (a) and the component (b) are mixed and preferably very thoroughly stirred to obtain a raw material mixture having a uniform composition. . When the component (b) is a solid such as a novolak type phenol resin, it is preferably
After dissolving the component (b) in a suitable solvent (eg, alcohol in the case of a novolak type phenol resin), the obtained solution is mixed with the component (a), and the mixture is preferably stirred very thoroughly.
【0027】(b) 成分が加熱のみで速やかに固化する場
合は、重合または架橋触媒を添加する必要はないが、多
くの場合は硬化を促進するための重合または架橋用の触
媒または架橋剤を原料混合物に添加し、均一に混合して
おく。触媒としては、『有害元素』を含まない重合また
は架橋反応用の触媒を使用する。例えば、レゾール型フ
ェノール樹脂の硬化触媒としては、塩酸、硫酸などの無
機酸類、有機過酸化物、有機スルホン酸などが適当であ
る。(b) 成分がノボラック型フェノール樹脂の場合に
は、ヘキサメチレンテトラミンなどの架橋剤を配合す
る。When the component (b) is rapidly solidified only by heating, it is not necessary to add a polymerization or crosslinking catalyst. In many cases, however, a polymerization or crosslinking catalyst or a crosslinking agent for accelerating curing is used. Add to the raw material mixture and mix uniformly. As the catalyst, a catalyst for polymerization or crosslinking reaction containing no "harmful elements" is used. For example, as a curing catalyst for the resol-type phenol resin, inorganic acids such as hydrochloric acid and sulfuric acid, organic peroxides and organic sulfonic acids are suitable. (b) When the component is a novolak type phenol resin, a crosslinking agent such as hexamethylenetetramine is blended.
【0028】得られた原料混合物を、次いで室温で放置
するか、或いは加熱することにより、重合または架橋反
応を生じさせ、(b) 成分を硬化させることにより混合物
を固化させ、SiとCと酸素を含有する均一な固形物を炭
化珪素前駆体として得る。例えば、(b) 成分がレゾール
型フェノール樹脂またはノボラック型フェノール樹脂で
ある場合には、通常は単に放置するだけで硬化が進行す
る。加熱する場合の加熱温度は、(b) 成分の硬化に十分
な温度であればよく、樹脂種や触媒・架橋剤に応じて適
宜決定することができる。この段階では、樹脂の分解・
炭化を生ずるほどの高温には加熱しない。加熱雰囲気は
特に制限されず、加熱は大気中でも非酸化性雰囲気中で
も実施できる。The resulting raw material mixture is then left at room temperature or heated to cause a polymerization or cross-linking reaction, and by curing the component (b), the mixture is solidified to form Si, C and oxygen. Is obtained as a silicon carbide precursor. For example, when the component (b) is a resol-type phenol resin or a novolak-type phenol resin, curing usually proceeds simply by leaving it alone. The heating temperature at the time of heating may be any temperature that is sufficient for curing the component (b), and can be appropriately determined according to the type of resin and the catalyst / crosslinking agent. At this stage, decomposition of the resin
Do not heat to a temperature high enough to cause carbonization. The heating atmosphere is not particularly limited, and the heating can be performed in the air or in a non-oxidizing atmosphere.
【0029】得られた炭化珪素前駆体となる固形物を、
次いで、非酸化性雰囲気、例えば、真空、窒素、ヘリウ
ムまたはアルゴン中で加熱焼成して、固形物を炭化およ
び珪化することにより、目的とするβ型炭化珪素粉末を
得る。加熱温度は、この焼成に必要な温度であれば特に
制限されないが、一般には約1600〜2000℃である。焼成
時間は一般に約30分〜3時間である。The obtained solid to be a silicon carbide precursor is
Next, by heating and firing in a non-oxidizing atmosphere, for example, vacuum, nitrogen, helium or argon, the solid is carbonized and silicified to obtain the desired β-type silicon carbide powder. The heating temperature is not particularly limited as long as it is a temperature necessary for this firing, but is generally about 1600 to 2000 ° C. The firing time is generally from about 30 minutes to 3 hours.
【0030】この加熱焼成を行う前に、前処理として、
硬化により得られた固形物を、500℃以上、1300℃以下
の温度で熱処理し、主として(b) 成分の有機化合物中に
含まれている炭化しない揮散成分を除去することは、作
業性向上に効果がある。この前処理としての熱処理は、
(b) 成分の樹脂種に応じて適宜実施され、熱処理雰囲気
は、上述したような非酸化性雰囲気とすることが好まし
い。また、揮散成分が少量である場合には、硬化により
得られた固形物をそのまま非酸化性雰囲気中で加熱焼成
することもできる。この熱処理と加熱焼成時の昇温速度
に関しては、特に制限はない。Before performing the heating and firing, as a pretreatment,
The solid matter obtained by curing is heat-treated at a temperature of 500 ° C. or more and 1300 ° C. or less to remove volatile components that are not carbonized, which are mainly contained in the organic compound (b). effective. The heat treatment as this pretreatment is
(b) The heat treatment is appropriately performed according to the resin type of the component, and the heat treatment atmosphere is preferably a non-oxidizing atmosphere as described above. When the volatile component is small, the solid obtained by curing can be directly heated and fired in a non-oxidizing atmosphere. There is no particular limitation on the rate of temperature increase during the heat treatment and the heating and firing.
【0031】(a) 成分と(b) 成分の珪素含有原料と炭素
含有原料の配合比は、原料混合物の硬化によって得た固
形物の試料を非酸化性雰囲気中 800〜1400℃の温度で熱
処理して不揮発分を含まない熱処理物を形成し、この熱
処理物中のSiとCとの原子比を基準にして決定される。
(a) 成分と(b) 成分の配合割合は、かかる熱処理物中の
CとSiとの原子比 (C/Si原子比) が、1<C/Si<1
0、好ましくはC/Si=約3となるように決定すること
が望ましい。炭素質原料のCの一部は、この熱処理中に
揮散して失われるので、実際の(b) 成分の配合量は、熱
処理後の混合物中のC残留率 (残炭率) を考慮して、熱
処理物について決定した配合割合に、さらに失われる分
のC量を加える必要がある。なお、上記の非酸化性雰囲
気中 800〜1400℃の温度での熱処理は、配合割合の決定
を目的として炭化物中のC/Siの原子比を決定するため
に行うものであり、実際の炭化珪素の製造にこのような
熱処理を行う必要があるのではない。ただし、前述した
ように、原料混合物から得られた固形物の加熱焼成前に
熱処理を行う場合には、この条件の範囲内で熱処理を行
うことは可能である。The mixing ratio of the silicon-containing raw material and the carbon-containing raw material of the components (a) and (b) is determined by heat-treating a solid sample obtained by curing the raw material mixture at a temperature of 800 to 1400 ° C. in a non-oxidizing atmosphere. As a result, a heat-treated product containing no non-volatile components is formed, and the heat-treated product is determined on the basis of the atomic ratio of Si and C in the heat-treated product.
The mixing ratio of the components (a) and (b) is such that the atomic ratio of C to Si (C / Si atomic ratio) in the heat-treated product is 1 <C / Si <1.
It is desirable to determine such that 0, preferably C / Si = about 3. Since a part of carbon of the carbonaceous raw material is volatilized and lost during this heat treatment, the actual blending amount of the component (b) is determined in consideration of the C residual ratio (residual carbon ratio) in the mixture after the heat treatment. In addition, it is necessary to further add the lost C amount to the blending ratio determined for the heat-treated product. Note that the heat treatment at a temperature of 800 to 1400 ° C. in the non-oxidizing atmosphere is performed to determine the atomic ratio of C / Si in the carbide for the purpose of determining the mixing ratio. It is not necessary to carry out such a heat treatment for the production of. However, as described above, when heat treatment is performed before heating and firing the solid obtained from the raw material mixture, heat treatment can be performed within the range of these conditions.
【0032】加水分解性珪素質固体などの固体原料を原
料混合物に配合する場合には、液状原料 (固体原料を適
当な溶媒にとかして溶液化したものを含む) の割合が全
体の5重量%未満になるような配合割合は、原料の均質
化を阻害するので避けることが好ましい。即ち、液状原
料は、少なくとも5重量%以上、好ましくは少なくとも
15重量%、特に好ましくは100 重量%の割合で存在させ
る。When a solid raw material such as a hydrolyzable siliconaceous solid is blended into the raw material mixture, the ratio of the liquid raw material (including a solution obtained by dissolving the solid raw material in an appropriate solvent) is 5% by weight of the whole. It is preferable to avoid such a mixing ratio that the mixing ratio becomes less, because it hinders the homogenization of the raw material. That is, the liquid raw material is at least 5% by weight or more, preferably at least
It is present in a proportion of 15% by weight, particularly preferably 100% by weight.
【0033】上述した方法で最終の加熱焼成工程後に得
られる高純度プリカーサ法粉末は、粒径および形状が比
較的均一なβ型炭化珪素の微粉末からなる。この粉末中
のα型炭化珪素の混入率は、粉末X線解析法によれば1
%以下であり、反応条件を選択すれば、β型炭化珪素単
相の粉末も得ることができる。粉末の平均粒径は主に炭
化珪素化時の加熱焼成温度に依存し、一般に0.5 〜1000
μmの範囲内である。The high-purity precursor method powder obtained after the final heating and sintering step by the above-described method is composed of fine powder of β-type silicon carbide having a relatively uniform particle size and shape. According to the powder X-ray analysis method, the mixing ratio of α-type silicon carbide in the powder was 1%.
% Or less, and if the reaction conditions are selected, a powder of a β-type silicon carbide single phase can be obtained. The average particle size of the powder mainly depends on the heating and firing temperature at the time of silicon carbide, and is generally 0.5 to 1000.
It is in the range of μm.
【0034】(b) 成分として『有害元素』を含まない触
媒を用いて製造された硬化性の有機化合物を使用し、
(a) 成分についても好ましくは『有害元素』含有量が各
1ppm以下の高純度の原料を使用することにより、『有
害元素』含有量が各1ppm 以下の高純度プリカーサ法粉
末を得ることが可能となる。(B) a curable organic compound produced using a catalyst containing no "harmful elements" as a component,
(a) It is possible to obtain a high-purity precursor method powder having a "harmful element" content of 1 ppm or less by preferably using a high-purity raw material having a "harmful element" content of 1 ppm or less. Becomes
【0035】前述のように、一部の『有害元素』は高純
化熱処理や洗浄で除去され得るが、除去の難易は元素の
種類だけでなく、それら元素の結合状態や存在位置にも
大きく影響される。即ち、付着や吸着した状態にあり、
かつ蒸気圧の高い元素は、高純化熱処理や洗浄で除去さ
れ易いが、原料の炭化珪素多結晶粒内に含まれた有害元
素は一般に除去することが容易でない。とりわけ高温で
も蒸気圧の低い金属元素は、原料の段階で極力低下させ
ておく必要がある。このため炭化珪素粉末に含まれる
『有害元素』含有量を各1ppm 以下とした。As described above, some "harmful elements" can be removed by high-purification heat treatment or cleaning, but the difficulty of removal greatly affects not only the types of the elements but also the bonding state and location of those elements. Is done. That is, it is in the state of adhering or adsorbing,
In addition, elements having a high vapor pressure are easily removed by heat treatment for purification or cleaning, but generally, it is not easy to remove harmful elements contained in silicon carbide polycrystal grains as a raw material. In particular, metal elements having a low vapor pressure even at a high temperature need to be reduced as much as possible at the raw material stage. For this reason, the content of “harmful elements” contained in the silicon carbide powder was set to 1 ppm or less.
【0036】この炭化珪素粉末中の『有害元素』含有量
の上限は、『有害元素』含有量が各1ppm 以下のβ型炭
化珪素粉末から製造した炭化珪素焼結部材を、現在用い
られているSiウェハーの汚染チェック方法、例えば、ラ
イフタイム法、X線透過法等によって試験したところ、
悪影響が認められなかったことから決定されたものであ
る。『有害元素』は少なければ少ないほど好ましいの
で、使用原料もできるだけ『有害元素』含有量が低いも
のを使用することが望ましい。The upper limit of the "harmful element" content in the silicon carbide powder is such that a silicon carbide sintered member manufactured from a β-type silicon carbide powder having a "harmful element" content of 1 ppm or less is currently used. Tests were conducted using Si wafer contamination check methods, such as the lifetime method and the X-ray transmission method.
It was determined because no adverse effects were observed. The smaller the "harmful element" is, the more preferable it is. Therefore, it is desirable to use a raw material having the lowest possible "harmful element" content.
【0037】この高純度プリカーサ法粉末から半導体治
具その他の半導体製造用部品の製造に有用な炭化珪素焼
結体を製造するには、冷間等方プレス法、鋳込み法等の
適当な粉末成形方法で上記炭化珪素粉末を成形し、得ら
れた成形体を非酸化性雰囲気下で仮焼することにより多
孔質体とし、この多孔質体に高純度の溶融金属シリコン
を高温で含浸させると同時に反応焼結させて、炭化珪素
焼結体を得る。この炭化珪素焼結体から、適当な成形加
工により所望の治具または部品を製作することができ
る。In order to manufacture a silicon carbide sintered body useful for manufacturing a semiconductor jig and other semiconductor manufacturing parts from the high-purity precursor method powder, a suitable powder molding method such as a cold isostatic pressing method and a casting method is used. The above-mentioned silicon carbide powder is formed by a method, and the obtained formed body is calcined in a non-oxidizing atmosphere to form a porous body. At the same time, the porous body is impregnated with high-purity molten metal silicon at a high temperature. Reaction sintering is performed to obtain a silicon carbide sintered body. From this silicon carbide sintered body, a desired jig or component can be manufactured by an appropriate molding process.
【0038】この焼結体の製造工程においては、前述し
たように、外部からの『有害元素』の混入が可及的に防
止されるように留意する。例えば、粉末との接触部や摺
動部には『有害元素』を含まない樹脂等を用いるか、
『有害元素』を含まない樹脂等で被覆すること、鋳込み
法による成形時に使用する解膠剤やバインダーに混入す
る不純物は、高純化処理や洗浄で除去し易い元素に限定
し、しかも除去可能な量に抑えることなどの注意をすれ
ばよい。このようにして、目的とする『有害元素』含有
量が各1ppm 以下の炭化珪素焼結体を得ることができ
る。In the manufacturing process of this sintered body, as described above, care should be taken to minimize the intrusion of "harmful elements" from the outside. For example, use a resin or the like that does not contain "harmful elements" for the contact parts and sliding parts with powder,
Coating with resin etc. that does not contain "harmful elements", impurities contained in deflocculants and binders used during molding by the casting method are limited to elements that can be easily removed by high purification treatment and washing, and can be removed Attention should be paid to reducing the amount. In this way, it is possible to obtain a silicon carbide sintered body having a target “harmful element” content of 1 ppm or less.
【0039】成形に使用する高純度プリカーサ法粉末
は、平均粒径が 0.5〜20μmの範囲内になるように、必
要であれば粒度調整する。平均粒径 0.5μm未満では、
冷間等方プレスで成形した場合には、粉末の流動性の低
下により成形体の密度が不均一になりやすく、鋳込み法
による成形では、粉末と解膠剤とバインダーとを混合し
たスラリーが高粘度となるため、成形体が不均質になり
易い。一方、平均粒径が20μmを越えると、次工程で成
形体を仮焼して多孔質体とする時に、粒と粒の結合総断
面積が減少するため多孔質体の強度が低下し、取扱いが
難しくなって工業的に適さなくなる。The particle size of the high-purity precursor method powder used for molding is adjusted, if necessary, so that the average particle size is in the range of 0.5 to 20 μm. If the average particle size is less than 0.5 μm,
When compacted by cold isostatic pressing, the density of the compact tends to be non-uniform due to a decrease in the fluidity of the powder, and in the molding by the casting method, the slurry in which the powder, the deflocculant and the binder are mixed is high. Due to the viscosity, the molded body is likely to be heterogeneous. On the other hand, if the average particle size exceeds 20 μm, when the molded body is calcined in the next step to form a porous body, the total cross-sectional area of the grains decreases, and the strength of the porous body decreases. Becomes difficult and industrially unsuitable.
【0040】また、使用する高純度プリカーサ法粉末
は、遊離炭素含有量20重量%以下が望ましい。炭化珪素
粉末中の遊離炭素量は、原料混合物中の(a) の珪素含有
原料と(b) の炭素含有原料との配合比を変動させること
により調整できる。この遊離炭素は、0.01〜0.1 μm程
度の大きさの炭素微粒子として、平均粒径 0.5〜20μm
の炭化珪素の多結晶の周囲に分散状態で分布させること
が好ましい。このような遊離炭素の微粒化は、A成分と
B成分が均質に分散硬化した前駆体粉末を作ることによ
り可能である。It is desirable that the high purity precursor method powder used has a free carbon content of 20% by weight or less. The amount of free carbon in the silicon carbide powder can be adjusted by changing the mixing ratio of the silicon-containing raw material (a) and the carbon-containing raw material (b) in the raw material mixture. This free carbon has a mean particle size of 0.5 to 20 μm as carbon fine particles having a size of about 0.01 to 0.1 μm.
Is preferably distributed around the polycrystalline silicon carbide. Such atomization of free carbon can be achieved by preparing a precursor powder in which the component A and the component B are uniformly dispersed and hardened.
【0041】上記の微粒子状で遊離炭素を含有する炭化
珪素粉末から得られた成形体を非酸化性雰囲気下で多孔
質体に仮焼する際、一部の遊離炭素は吸着された酸素原
子等と反応し、除去されるが、残りは多孔質炭化珪素の
母相に1μm以下の炭素微粒子として均一に分散した状
態で残存する。成形前の炭化珪素粉末中の遊離炭素含有
量が20重量%を越えると、この多孔質体に金属シリコン
を含浸させて反応焼結させる際、含浸させた金属シリコ
ンと遊離炭素との反応により生成した炭化珪素の体積膨
張により割れを引き起こし易くなる。このため、炭化珪
素粉末中の遊離炭素含有量は20重量%以下が望ましい。
遊離炭素含有量の好ましい範囲は0〜10重量%である。When the compact obtained from the finely divided silicon carbide powder containing free carbon is calcined into a porous body in a non-oxidizing atmosphere, a part of free carbon is adsorbed by oxygen atoms or the like. , And is removed, but the remainder remains in the matrix of the porous silicon carbide in a state of being uniformly dispersed as fine carbon particles of 1 μm or less. When the free carbon content in the silicon carbide powder before molding exceeds 20% by weight, when the porous body is impregnated with metallic silicon and subjected to reaction sintering, it is formed by a reaction between the impregnated metallic silicon and free carbon. Cracks are easily caused by the volume expansion of the silicon carbide. Therefore, the free carbon content in the silicon carbide powder is desirably 20% by weight or less.
The preferred range of the free carbon content is 0 to 10% by weight.
【0042】高純度プリカーサ法粉末の成形体を仮焼し
て多孔質体とする。この仮焼の雰囲気には、例えば、真
空、窒素、アルゴン、ヘリウムなどの非酸化性雰囲気を
使用する。仮焼条件は、成形体の大きさにもよるが、一
般に約 500〜2000℃で約1〜10時間である。この多孔質
体は炭素微粒子を含まないか、又は多孔質炭化珪素の母
相に炭素微粒子が均一分散された組織を有する。The molded body of the high-purity precursor method powder is calcined to obtain a porous body. As the calcination atmosphere, for example, a non-oxidizing atmosphere such as vacuum, nitrogen, argon, and helium is used. The calcination conditions are generally about 500-2000 ° C. for about 1-10 hours, depending on the size of the compact. This porous body does not contain fine carbon particles or has a structure in which fine carbon particles are uniformly dispersed in a matrix of porous silicon carbide.
【0043】その後、この多孔質体に溶融状態の高温の
高純度金属シリコンを含浸させることにより反応焼結さ
せると、本発明の方法の目的物である炭化珪素焼結体が
得られる。金属シリコン含浸による反応焼結は、不活性
ガスあるいは真空雰囲気下 (ただし窒素はシリコンと反
応するので好ましくない) で行うことが好ましく、処理
温度条件は一般に温度約1450〜1600℃、処理時間約1〜
10時間である。金属シリコンの含浸量は一般に全重量の
20〜50重量%程度である。Thereafter, the porous body is impregnated with a high-temperature, high-purity metallic silicon in a molten state for reaction sintering to obtain a silicon carbide sintered body which is the object of the method of the present invention. The reaction sintering by impregnation with metallic silicon is preferably performed under an inert gas or a vacuum atmosphere (however, nitrogen is not preferable because it reacts with silicon). The processing temperature conditions are generally a temperature of about 1450 to 1600 ° C. and a processing time of about 1 hour. ~
10 hours. The amount of metallic silicon impregnation is generally
It is about 20 to 50% by weight.
【0044】金属シリコンの含浸による反応焼結では、
多孔質体に残留する微粒状の遊離炭素が金属シリコンと
反応して炭化珪素化されると同時に、溶融金属シリコン
により炭化珪素粒が焼結される。従って、反応焼結後に
得られる焼結体は、炭化珪素粉末に起因する炭化珪素母
相、遊離炭素と金属シリコンとの反応により生じた反応
炭化珪素相、および金属シリコン相の3相から構成され
ることになる。炭化珪素粉末に含まれる残存酸素量が1
重量%以下の場合で、遊離炭素の99重量%以上が炭化珪
素となるから、これら3相の構成比は、炭化珪素母相50
〜80重量%、反応炭化珪素相0〜30重量%および金属シ
リコン相0〜40重量%の範囲内となる。好ましい構成比
は、炭化珪素母相50〜70重量%、反応炭化珪素相0〜10
重量%および金属シリコン相10〜40重量%である。In the reaction sintering by impregnation of metallic silicon,
Fine-grained free carbon remaining in the porous body reacts with metallic silicon to form silicon carbide, and at the same time, silicon carbide particles are sintered by molten metallic silicon. Therefore, the sintered body obtained after the reaction sintering is composed of three phases: a silicon carbide matrix caused by silicon carbide powder, a reaction silicon carbide phase generated by a reaction between free carbon and metal silicon, and a metal silicon phase. Will be. The amount of residual oxygen contained in the silicon carbide powder is 1
In the case where the content is less than 99% by weight, silicon carbide accounts for 99% by weight or more of the free carbon.
To 80% by weight, 0 to 30% by weight of the reactive silicon carbide phase and 0 to 40% by weight of the metallic silicon phase. A preferred composition ratio is 50 to 70% by weight of a silicon carbide matrix phase, 0 to 10% of a reacted silicon carbide phase.
% By weight and 10-40% by weight of the metallic silicon phase.
【0045】金属シリコンの不純物を0.1 ppm 未満にす
ることは容易であり、しかもこの焼結体を製造する際に
混入する有害元素量を高純化処理や洗浄などで除去され
る量を超えないように調整することは著しく困難ではな
いので、使用する炭化珪素粉末のが高純度(即ち、『有
害元素』含有量が各1ppm 以下)でありさえすれば、焼
結体に含まれる半導体製造に有害な元素量を上記3相の
合計で1ppm 以下とすることは工業的に比較的容易に実
現可能である。It is easy to reduce the impurity of metallic silicon to less than 0.1 ppm, and the amount of harmful elements mixed in the production of this sintered body should not exceed the amount removed by high purification treatment or washing. Is not extremely difficult, so long as the silicon carbide powder used is of high purity (that is, the content of “harmful elements” is 1 ppm or less each), it is harmful to the semiconductor production contained in the sintered body. It is industrially relatively easy to realize that the total amount of these elements is 1 ppm or less in total of the three phases.
【0046】本発明の方法で得られた高純度の炭化珪素
焼結体は、各種の形状に容易に成形加工できる。特に10
00℃以上の高温度領域では石英よりも変形が小さく、高
強度であり、その強度も1350℃程度まで保持され、しか
も半導体製造に有害な元素のガス発生も生じないので、
ウェハーボート、マザーボート、縦型ロングボート、プ
ロセスチューブ、ライナーチューブ、フォーク、引出し
棒等の半導体製造用熱処理治具に適用した場合に、その
強度と耐熱性が生かされる。The high-purity sintered silicon carbide obtained by the method of the present invention can be easily formed into various shapes. Especially 10
In the high temperature region of 00 ° C or higher, the deformation is smaller than quartz, the strength is high, the strength is maintained up to about 1350 ° C, and gas generation of elements harmful to semiconductor production does not occur,
When applied to heat treatment jigs for manufacturing semiconductors such as wafer boats, mother boats, vertical long boats, process tubes, liner tubes, forks, drawer rods, etc., their strength and heat resistance are utilized.
【0047】さらに1000℃未満〜室温の温度領域でも、
従来使用されている石英よりも強度が優れており、しか
も高純度であることから、ハンド、真空チャック、べル
ジャー、スペイサー、固定・位置決め用治具等の他の半
導体製造装置部品の製造に適用することも可能である。Further, even in a temperature range of less than 1000 ° C. to room temperature,
Higher strength and higher purity than conventionally used quartz, so it is applicable to the manufacture of other semiconductor manufacturing equipment parts such as hands, vacuum chucks, belgers, spacers, fixing / positioning jigs, etc. It is also possible.
【0048】とりわけ、集積密度の高いウェハーの製造
工程などで要求されるより高純度の半導体製造装置の材
料として、本発明の方法で得られた炭化珪素焼結体を適
用することは、工業的に見て合理的である。In particular, the use of the silicon carbide sintered body obtained by the method of the present invention as a material for a higher-purity semiconductor manufacturing apparatus required in a manufacturing process of a wafer having a high integration density is industrially difficult. It is reasonable to look at.
【0049】[0049]
【実施例】次に実施例および比較例を挙げて、本発明を
さらに具体的に説明する。実施例中、部と%は特に指定
がなければ重量部および重量%である。Next, the present invention will be described more specifically with reference to examples and comparative examples. In the examples, parts and% are parts by weight and% by weight unless otherwise specified.
【0050】実施例1 原料として、液状珪素化合物であるエチルシリケート
(SiO2含有量40%、『有害元素』は実質的に含有せず)
と、不揮発分65%のレゾール型フェノール樹脂Aを用い
た。このフェノール樹脂Aは、高純度のフェノールとホ
ルムアルデヒドから触媒としてトリエチルアミンを使用
した以外は、常法により合成したものであった。 Example 1 As a raw material, ethyl silicate as a liquid silicon compound was used.
(SiO 2 content 40%, "toxic elements" does not substantially contain)
And a resol type phenol resin A having a nonvolatile content of 65%. The phenolic resin A was synthesized by a conventional method from high-purity phenol and formaldehyde, except that triethylamine was used as a catalyst.
【0051】エチルシリケート62部にフェノール樹脂A
38部を加えて均一に混合した後、触媒として『有害元
素』を実質的に含まない33%濃度のp−トルエンスルホ
ン酸水溶液16部をさらに加え、十分に撹拌・混合して、
均一な原料混合物を得た。この原料混合物を室温で約30
分間放置して硬化させた。得られた樹脂状固体を、電気
炉により窒素雰囲気下で昇温速度10℃/minで1000℃まで
加熱して、不揮発分を含まない熱処理物を得た。この熱
処理物は、均質で緻密な固体で、CとSiの含有量は、残
炭率からC/Si=3と推定された。この熱処理物を、上
と同じ炉を用いてAr雰囲気下で10℃/minの昇温速度で18
00℃まで昇温加熱し、30分保持後、放冷して1600℃に4
時間保持した後、放冷して、高純度炭化珪素粉末Aを得
た。Phenol resin A in 62 parts of ethyl silicate
After adding 38 parts and mixing uniformly, 16 parts of a 33% aqueous p-toluenesulfonic acid solution substantially free of "harmful elements" as a catalyst is further added, and sufficiently stirred and mixed.
A homogeneous raw material mixture was obtained. This raw material mixture is allowed to
Allowed to cure for minutes. The obtained resinous solid was heated to 1000 ° C. at a rate of 10 ° C./min in an electric furnace under a nitrogen atmosphere to obtain a heat-treated product containing no nonvolatile components. This heat-treated product was a homogeneous and dense solid, and the content of C and Si was estimated to be C / Si = 3 from the residual carbon ratio. This heat-treated product was heated at a rate of 10 ° C./min for 18 hours in an Ar atmosphere using the same furnace as above.
The temperature was raised to 00 ° C and maintained for 30 minutes.
After holding for a while, the mixture was allowed to cool to obtain high-purity silicon carbide powder A.
【0052】得られた炭化珪素粉末Aは、X線回折によ
り調べたところ実質的にβ型炭化珪素のみからなり、そ
の平均粒径は約5μm、遊離炭素含有量は10%であっ
た。この炭化珪素粉末Aの放射化分析による不純物分析
結果を表1に示す。When the obtained silicon carbide powder A was examined by X-ray diffraction, it was substantially composed of only β-type silicon carbide, the average particle diameter was about 5 μm, and the free carbon content was 10%. Table 1 shows the results of impurity analysis of the silicon carbide powder A by activation analysis.
【0053】上で得た炭化珪素粉末A60部に、解膠剤と
してポリカルボン酸アンモニウム塩3部、バインダーと
してアクリル系水溶性エマルジョン3部、および水24部
を混合し、スラリーを生成した。このスラリーを鋳型で
鋳込成形し、成形体を1000℃以上の真空雰囲気下で3時
間仮焼した。得られた多孔質体に、1500℃で全重量に対
して30%の量の高純度シリコン(不純物含有量テンナイ
ン)を1時間かけて含浸させ、反応焼結させた。得られ
た炭化珪素焼結体Aは、炭化珪素母相56重量%、反応炭
化珪素相18重量%および金属シリコン相26重量%であっ
た。この炭化珪素焼結体Aの断片を放射化分析で分析し
た結果を表1に示す。表1に示した焼結体の不純物含有
量は、いずれも上記3相の合計量である。To 60 parts of the silicon carbide powder A obtained above, 3 parts of ammonium polycarboxylate as a deflocculant, 3 parts of an acrylic water-soluble emulsion as a binder, and 24 parts of water were mixed to form a slurry. This slurry was cast-molded in a mold, and the molded body was calcined in a vacuum atmosphere at 1000 ° C. or higher for 3 hours. The obtained porous body was impregnated with high-purity silicon (impurity content of ten nines) in an amount of 30% with respect to the total weight at 1500 ° C. for 1 hour, followed by reaction sintering. The obtained silicon carbide sintered body A had a silicon carbide matrix phase of 56% by weight, a reactive silicon carbide phase of 18% by weight, and a metal silicon phase of 26% by weight. Table 1 shows the result of analyzing the fragments of the silicon carbide sintered body A by activation analysis. The impurity contents of the sintered bodies shown in Table 1 are all the total amounts of the above three phases.
【0054】比較例1 比較材として市販の高純度炭化珪素粉末Bを前記と同様
の工程で、混合、成形、仮焼、金属シリコン含浸、反応
焼結させ、得られた炭化珪素焼結体Bの断片を放射化分
析で分析した結果を表1に併せて示す。 Comparative Example 1 As a comparative material, commercially available high-purity silicon carbide powder B was mixed, molded, calcined, impregnated with metal silicon, and reaction-sintered in the same steps as described above, and the obtained silicon carbide sintered body B was obtained. Table 1 also shows the results of the analysis of the fragment by activation analysis.
【0055】[0055]
【表1】 [Table 1]
【0056】本発明に従って、『有害元素』を含まない
触媒を用いて合成した『有害元素』含有量各1ppm 以下
のフェノール樹脂を炭素質原料とした場合には『有害元
素』含有量が各1ppm 以下の炭化珪素粉末 (高純度プリ
カーサ法粉末) を得ることができ、この粉末から、成
形、仮焼、金属シリコン含浸と反応焼結の工程を経て
『有害元素』含有量各1ppm 以下の炭化珪素焼結体が得
られることが確認できた。According to the present invention, when a phenolic resin synthesized using a catalyst containing no harmful elements and having a harmful element content of 1 ppm or less is used as the carbonaceous raw material, the harmful element content is 1 ppm each. The following silicon carbide powder (high-purity precursor method powder) can be obtained. From this powder, through the steps of molding, calcining, metal silicon impregnation and reaction sintering, silicon carbide having a "harmful element" content of 1 ppm or less each It was confirmed that a sintered body was obtained.
【0057】これに対し、比較例のように、市販の高純
度炭化珪素粉末には、少なくとも1種の『有害元素』が
1ppm を越える量で含まれており、得られた炭化珪素焼
結体の『有害元素』含有量も少なくとも1種の元素につ
いて1ppm を超え、半導体製造用の治具として使用する
のは不適当な品質のものであった。On the other hand, as in the comparative example, the commercially available high-purity silicon carbide powder contains at least one “harmful element” in an amount exceeding 1 ppm, and the obtained silicon carbide sintered body The "harmful element" content of at least one element exceeded 1 ppm, and was of unsuitable quality for use as a jig for semiconductor production.
【0058】[0058]
【発明の効果】以上に詳述したように、特定の方法で得
られた特定性状の高純度プリカーサ法粉末を焼結粉末原
料として、成形、仮焼、および金属シリコンの含浸と反
応焼結という工程により、『有害元素』含有量が各1pp
m 以下の炭化珪素焼結体を得ることができた。この焼結
体より製造された治具は、『有害元素』含有量が低いた
め、ウェハーを汚染する心配がなく、高品質ウェハーの
製造にも十分に利用できる。これにより、高温での安定
性、耐食性および強度に優れ、しかもウェハーを汚染し
ない、高性能の半導体治具が提供され、産業上極めて有
用である。As described in detail above, a high-purity precursor method powder having a specific property obtained by a specific method is used as a raw material for sintering powder, and is formed, molded, calcined, impregnated with metallic silicon and reactively sintered. Depending on the process, the content of "harmful elements" is 1pp each
m or less silicon carbide sintered bodies could be obtained. Since the jig manufactured from this sintered body has a low content of "harmful elements", there is no need to worry about contamination of the wafer, and the jig can be sufficiently used for manufacturing a high quality wafer. This provides a high-performance semiconductor jig that is excellent in stability at high temperatures, corrosion resistance and strength, and does not contaminate the wafer, and is extremely useful in industry.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 狩野 治之 茨城県鹿島郡鹿島町大字光3番地 住金 化工株式会社内 (72)発明者 宮崎 忠昭 東京都小平市小川東町3丁目1番1号 株式会社ブリヂストン内 (72)発明者 和田 宏明 東京都小平市小川東町3丁目1番1号 株式会社ブリヂストン内 (56)参考文献 特開 平5−339057(JP,A) 特開 平6−16404(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) C04B 35/56 C01B 31/36 C04B 41/85 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Haruyuki Kano, Inventor, Haruyuki Kano, Kashima-gun, Ibaraki Prefecture, Sumikin Chemical Co., Ltd. Inside Bridgestone (72) Inventor Hiroaki Wada 3-1-1 Ogawa Higashi-cho, Kodaira-shi, Tokyo Bridgestone Corporation (56) References JP-A-5-339057 (JP, A) JP-A-6-16404 (JP, A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) C04B 35/56 C01B 31/36 C04B 41/85
Claims (2)
酸化性雰囲気下で仮焼し、得られた多孔質体に溶融金属
シリコンを含浸させて反応焼結させることからなる、半
導体製造用炭化珪素焼結体の製造方法であって、 前記炭化珪素粉末が、(a) 液状珪素化合物と、加水分解
性珪素化合物より合成された珪素質固体とからなる群よ
り選ばれた少なくとも1種の珪素含有原料、および(b)
半導体製造に有害な元素を含まない触媒を用いて合成さ
れた重合性または架橋性の有機化合物から選ばれた少な
くとも1種の炭素含有原料、からなる、炭素および珪素
を含有し、少なくとも1成分が液状である原料混合物
を、加熱および/または触媒もしくは架橋剤を用いて固
化させ、得られた固形物を非酸化性雰囲気下で加熱焼成
することにより得た、平均粒径が 0.5〜20μm、遊離炭
素含有量が20重量%以下、半導体製造に有害な各金属元
素の含有量が1ppm 以下、の炭化珪素粉末であり、 仮焼後に得られた多孔質体は炭素微粒子を含まないか又
は多孔質炭化珪素の母相に炭素微粒子が均一分散された
組織を有することを特徴とする、半導体製造用炭化珪素
焼結体の製造方法。1. A semiconductor, comprising: sintering a molded body obtained by molding silicon carbide powder in a non-oxidizing atmosphere, impregnating the obtained porous body with molten metal silicon, and performing reaction sintering. A method for producing a silicon carbide sintered body for production, wherein the silicon carbide powder comprises at least one selected from the group consisting of (a) a liquid silicon compound and a silicon solid synthesized from a hydrolyzable silicon compound. Species of silicon-containing raw material, and (b)
At least one component containing carbon and silicon, comprising at least one carbon-containing raw material selected from polymerizable or crosslinkable organic compounds synthesized using a catalyst containing no element harmful to semiconductor production. The liquid raw material mixture is solidified by heating and / or using a catalyst or a cross-linking agent, and the obtained solid is heated and calcined under a non-oxidizing atmosphere. A silicon carbide powder having a carbon content of 20% by weight or less and a content of each metal element harmful to semiconductor production of 1 ppm or less, and the porous body obtained after calcination does not contain fine carbon particles or is porous. A method for producing a silicon carbide sintered body for semiconductor production, characterized by having a structure in which carbon fine particles are uniformly dispersed in a matrix of silicon carbide.
製造用炭化珪素焼結体であって、β型炭化珪素母相50〜
80重量%、反応炭化珪素相0〜30重量%、および金属シ
リコン相0〜40重量%から構成され、かつ半導体製造に
有害な各金属元素の含有量が全部の相の合計で1ppm 以
下であることを特徴とする、半導体製造用炭化珪素焼結
体。2. A silicon carbide sintered body for semiconductor production produced by the method according to claim 1, wherein the β-type silicon carbide mother phase is 50 to 50%.
It is composed of 80% by weight, 0 to 30% by weight of a reactive silicon carbide phase, and 0 to 40% by weight of a metal silicon phase, and the content of each metal element harmful to semiconductor production is 1 ppm or less in total of all phases. A silicon carbide sintered body for semiconductor production, characterized in that:
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