JP2800726B2 - 織布の検反装置 - Google Patents
織布の検反装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、製織中の織布又は
織り上がった織布やシート（本明細書において、単に
「織布」という。）の異常の有無を自動検査する検反装
置に関するものである。
織り上がった織布やシート（本明細書において、単に
「織布」という。）の異常の有無を自動検査する検反装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、織布の外観を検査する場合、カメ
ラにより織布表面の画像を撮像し、その撮像結果から得
られる画像濃淡データをしきい値と比較して外観の異常
を検出する検反方法や、レーザー光を織布に照射し、そ
の反射又は透過光を受光素子にて受光し、その受光量の
レベルとしきい値を比較して異常を検出する自動検反方
法が知られている。しかし、これらの検反方法により検
知できる織布の異常は、通常、人が目視で簡単に判定で
きるような糸抜け等の比較的大きな欠陥に限られるとと
もに、これらの検反方法は、振動や外乱等により検知精
度が大きく低下するという問題があった。
ラにより織布表面の画像を撮像し、その撮像結果から得
られる画像濃淡データをしきい値と比較して外観の異常
を検出する検反方法や、レーザー光を織布に照射し、そ
の反射又は透過光を受光素子にて受光し、その受光量の
レベルとしきい値を比較して異常を検出する自動検反方
法が知られている。しかし、これらの検反方法により検
知できる織布の異常は、通常、人が目視で簡単に判定で
きるような糸抜け等の比較的大きな欠陥に限られるとと
もに、これらの検反方法は、振動や外乱等により検知精
度が大きく低下するという問題があった。
【０００３】検知精度を向上させる目的で、光源から織
布に照射して透過する光を、検査対象の糸方向に配置し
た光学スリットを介して受光し、受光波形と基準波形と
の比較から異常を検出する方法が提案されている（特開
平４−１４８８５２号公報参照）。この方法は、織布の
織密度が一定で、かつ光学スリットの方向と検査対象の
糸が平行であることが前提となるが、実際の織布の織密
度は一定でなく、織布の種類によって、その都度光学ス
リットの交換が必要となり、また、実際の織布の糸、こ
のうち特に経糸は、湾曲しており、上記条件を満たさ
ず、このため、検知精度が低下するという問題点を有し
ていた。また、受光センサーに２対の櫛形受光センサー
を用い、両者の出力の差分値と予め設定されたしきい値
との比較から異常を検出する方法が提案されている（特
開平３−２４９２４３号公報参照）。この方法は、２対
の櫛形受光センサーに織布の狭処理領域を２分割した濃
淡情報が反映されるため、振動や外乱光があっても、両
者の差分値出力により相殺される効果がある。しかしな
がら、この方法も、上記方法と同様に、織布の織密度が
変わったり、櫛形受光センサーの方向と検査対象の糸の
平行度が維持できないと検知精度が低下するという問題
点を有していた。また、上記２つの方法は、共に、同じ
センサーで経糸、緯糸の異常を検知できないという問題
を有していた。
布に照射して透過する光を、検査対象の糸方向に配置し
た光学スリットを介して受光し、受光波形と基準波形と
の比較から異常を検出する方法が提案されている（特開
平４−１４８８５２号公報参照）。この方法は、織布の
織密度が一定で、かつ光学スリットの方向と検査対象の
糸が平行であることが前提となるが、実際の織布の織密
度は一定でなく、織布の種類によって、その都度光学ス
リットの交換が必要となり、また、実際の織布の糸、こ
のうち特に経糸は、湾曲しており、上記条件を満たさ
ず、このため、検知精度が低下するという問題点を有し
ていた。また、受光センサーに２対の櫛形受光センサー
を用い、両者の出力の差分値と予め設定されたしきい値
との比較から異常を検出する方法が提案されている（特
開平３−２４９２４３号公報参照）。この方法は、２対
の櫛形受光センサーに織布の狭処理領域を２分割した濃
淡情報が反映されるため、振動や外乱光があっても、両
者の差分値出力により相殺される効果がある。しかしな
がら、この方法も、上記方法と同様に、織布の織密度が
変わったり、櫛形受光センサーの方向と検査対象の糸の
平行度が維持できないと検知精度が低下するという問題
点を有していた。また、上記２つの方法は、共に、同じ
センサーで経糸、緯糸の異常を検知できないという問題
を有していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述のとおり、従来の
技術では、織密度の異なる複数種類の織布を同一の光学
条件で、かつ経糸、緯糸の区別なく、全幅に亘って異常
を高精度に検出することは困難であった。
技術では、織密度の異なる複数種類の織布を同一の光学
条件で、かつ経糸、緯糸の区別なく、全幅に亘って異常
を高精度に検出することは困難であった。
【０００５】本発明は、織密度に左右されず、同一の光
学条件で、経糸異常、緯糸異常を同時に、かつ高精度に
検出することができる織布の自動検反装置を提供するこ
とを目的とする。
学条件で、経糸異常、緯糸異常を同時に、かつ高精度に
検出することができる織布の自動検反装置を提供するこ
とを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、少なくとも被撮像領域の織布に対して光
を照射する投光手段と、織布から透過又は反射する光を
集光し、ＣＣＤ素子にて撮像する撮像手段と、撮像手段
から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換し、
この画像データを基に画像エリア内に設定した複数の処
理領域毎の画像データを自動生成し、この画像データを
統計値に加工し、この複数の処理領域間の統計値の比較
及び予め設定したしきい値との比較を行うことにより織
布の異常の有無を判定する画像処理手段とを備えること
により、織布を撮像し、画像情報から検反情報を取り出
す織布の検反装置において、処理領域を、経糸異常検査
の場合、長軸を経糸方向に、緯糸異常検査の場合、長軸
を緯糸方向に平行に設定し、短軸を経糸又は緯糸のピッ
チ又はその整数倍とした矩形に設定し、この矩形の処理
領域を、画像エリア内に、経糸異常検査の場合、経糸と
垂直方向に、緯糸異常検査の場合、緯糸と垂直方向に、
同じサイズで隣接して複数個設けることを特徴とする。
に、本発明は、少なくとも被撮像領域の織布に対して光
を照射する投光手段と、織布から透過又は反射する光を
集光し、ＣＣＤ素子にて撮像する撮像手段と、撮像手段
から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換し、
この画像データを基に画像エリア内に設定した複数の処
理領域毎の画像データを自動生成し、この画像データを
統計値に加工し、この複数の処理領域間の統計値の比較
及び予め設定したしきい値との比較を行うことにより織
布の異常の有無を判定する画像処理手段とを備えること
により、織布を撮像し、画像情報から検反情報を取り出
す織布の検反装置において、処理領域を、経糸異常検査
の場合、長軸を経糸方向に、緯糸異常検査の場合、長軸
を緯糸方向に平行に設定し、短軸を経糸又は緯糸のピッ
チ又はその整数倍とした矩形に設定し、この矩形の処理
領域を、画像エリア内に、経糸異常検査の場合、経糸と
垂直方向に、緯糸異常検査の場合、緯糸と垂直方向に、
同じサイズで隣接して複数個設けることを特徴とする。
【０００７】この場合において、画像処理手段を、各処
理領域毎の画像データの統計値への加工、処理領域間の
統計値の比較及び予め設定したしきい値との比較、並び
に織布の異常の有無の判定を１サイクルとし、経糸異常
検査の場合、経糸と垂直方向に、緯糸異常検査の場合、
緯糸と垂直方向に、処理領域を順にシフトさせ、同じ処
理を画像エリア全体に対して行うものとすることができ
る。
理領域毎の画像データの統計値への加工、処理領域間の
統計値の比較及び予め設定したしきい値との比較、並び
に織布の異常の有無の判定を１サイクルとし、経糸異常
検査の場合、経糸と垂直方向に、緯糸異常検査の場合、
緯糸と垂直方向に、処理領域を順にシフトさせ、同じ処
理を画像エリア全体に対して行うものとすることができ
る。
【０００８】
【作 用】本発明の織布の検反装置は、投光手段によっ
て被撮像領域の織布に対して光を照射し、織布から透過
又は反射する光を、撮像手段により、集光、撮像し、撮
像手段から出力されたアナログ信号を、画像処理手段に
より、デジタル信号に変換し、この画像データを基に画
像エリア内に設定した複数の処理領域毎の画像データを
自動生成し、この画像データを統計値に加工し、この複
数の処理領域間の統計値の比較及び予め設定したしきい
値との比較を行うことにより織布の異常の有無を判定す
ることにより、１つの光学系で、織密度の異なる複数種
類の織布の異常を、経糸、緯糸の区別なく、全幅に亘っ
て、高精度に検出することが可能となる。
て被撮像領域の織布に対して光を照射し、織布から透過
又は反射する光を、撮像手段により、集光、撮像し、撮
像手段から出力されたアナログ信号を、画像処理手段に
より、デジタル信号に変換し、この画像データを基に画
像エリア内に設定した複数の処理領域毎の画像データを
自動生成し、この画像データを統計値に加工し、この複
数の処理領域間の統計値の比較及び予め設定したしきい
値との比較を行うことにより織布の異常の有無を判定す
ることにより、１つの光学系で、織密度の異なる複数種
類の織布の異常を、経糸、緯糸の区別なく、全幅に亘っ
て、高精度に検出することが可能となる。
【０００９】また、経糸又は緯糸の方向を事前に認識さ
せ、処理領域を、経糸異常検査の場合、長軸を経糸方向
に、緯糸異常検査の場合、長軸を緯糸方向に平行に設定
し、短軸を経糸又は緯糸のピッチ又はその整数倍とした
矩形に設定し、この矩形の処理領域を、画像エリア内
に、経糸異常検査の場合、経糸と垂直方向に、緯糸異常
検査の場合、緯糸と垂直方向に、同じサイズで隣接して
複数個設け、矩形領域を対象とする方向に追従させるこ
とにより、糸方向が必ずしも織布中央部と同一でない織
布側部の検査もでき、織布の異常をより高精度に検出す
ることが可能となる。
せ、処理領域を、経糸異常検査の場合、長軸を経糸方向
に、緯糸異常検査の場合、長軸を緯糸方向に平行に設定
し、短軸を経糸又は緯糸のピッチ又はその整数倍とした
矩形に設定し、この矩形の処理領域を、画像エリア内
に、経糸異常検査の場合、経糸と垂直方向に、緯糸異常
検査の場合、緯糸と垂直方向に、同じサイズで隣接して
複数個設け、矩形領域を対象とする方向に追従させるこ
とにより、糸方向が必ずしも織布中央部と同一でない織
布側部の検査もでき、織布の異常をより高精度に検出す
ることが可能となる。
【００１０】また、画像処理手段を、各処理領域毎の画
像データの統計値への加工、処理領域間の統計値の比較
及び予め設定したしきい値との比較、並びに織布の異常
の有無の判定を１サイクルとし、経糸異常検査の場合、
経糸と垂直方向に、緯糸異常検査の場合、緯糸と垂直方
向に、処理領域を順にシフトさせ、同じ処理を画像エリ
ア全体に対して行うものとすることにより、織布の異常
を迅速に検出することが可能となる。
像データの統計値への加工、処理領域間の統計値の比較
及び予め設定したしきい値との比較、並びに織布の異常
の有無の判定を１サイクルとし、経糸異常検査の場合、
経糸と垂直方向に、緯糸異常検査の場合、緯糸と垂直方
向に、処理領域を順にシフトさせ、同じ処理を画像エリ
ア全体に対して行うものとすることにより、織布の異常
を迅速に検出することが可能となる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の織布の検反装置の
実施の形態を図面に基づいて説明する。
実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００１２】図１に本発明の織布の検反装置の一実施例
の概略ブロック図を、図２に同外観斜視図を示す。光源
１から照射される光は、織布２の隙間を透過し、カメラ
のレンズ３で集光されて、カメラ４内のＣＣＤ素子に結
像される。
の概略ブロック図を、図２に同外観斜視図を示す。光源
１から照射される光は、織布２の隙間を透過し、カメラ
のレンズ３で集光されて、カメラ４内のＣＣＤ素子に結
像される。
【００１３】光源１は、透過方式、反射方式のどちらで
もよいが、糸交路点の上下像が鮮明に撮像でき、欠陥の
特徴を顕著に観察できるように、織布２の隙間の撮像が
容易な透過方式が好ましい。また、本実施例では、カメ
ラ４に、一軸移動ステージ４０に沿って移動するエリア
型のＣＣＤカメラを使用しているため、光源１は、面照
度の均一な散乱光を用いることが好ましい。一方、ライ
ン型のＣＣＤカメラを使用する場合、光源は、半導体レ
ーザ、ＨｅーＮｅレーザをレンズを用いてスリット状に
広げて照射するようにした光源や、ロッドレンズ側面か
らハロゲン光を入射させ、ロッドレンズに設けた特殊な
スリット状散乱塗料によりスリット状に照射するように
した光源や、スリット状の光ファイバ照明を用いること
ができるが、このうち特に、幅方向の配向特性が均一で
あり、かつ高い輝度を得られるロッドレンズを使用した
光源が好ましい。なお、織布が定速度で移動している場
合に、ライン型のＣＣＤカメラを使用するときは、図１
に示すように、Ａ／Ｄ変換器５とフレームメモリ６の間
に一次元／二次元変換器３０を追加すればよい。織布２
を透過する光量の指定は特にないが、ＣＣＤの更新周期
内で充分な電荷を蓄積できるレベルであれば問題はな
い。
もよいが、糸交路点の上下像が鮮明に撮像でき、欠陥の
特徴を顕著に観察できるように、織布２の隙間の撮像が
容易な透過方式が好ましい。また、本実施例では、カメ
ラ４に、一軸移動ステージ４０に沿って移動するエリア
型のＣＣＤカメラを使用しているため、光源１は、面照
度の均一な散乱光を用いることが好ましい。一方、ライ
ン型のＣＣＤカメラを使用する場合、光源は、半導体レ
ーザ、ＨｅーＮｅレーザをレンズを用いてスリット状に
広げて照射するようにした光源や、ロッドレンズ側面か
らハロゲン光を入射させ、ロッドレンズに設けた特殊な
スリット状散乱塗料によりスリット状に照射するように
した光源や、スリット状の光ファイバ照明を用いること
ができるが、このうち特に、幅方向の配向特性が均一で
あり、かつ高い輝度を得られるロッドレンズを使用した
光源が好ましい。なお、織布が定速度で移動している場
合に、ライン型のＣＣＤカメラを使用するときは、図１
に示すように、Ａ／Ｄ変換器５とフレームメモリ６の間
に一次元／二次元変換器３０を追加すればよい。織布２
を透過する光量の指定は特にないが、ＣＣＤの更新周期
内で充分な電荷を蓄積できるレベルであれば問題はな
い。
【００１４】カメラのレンズ３の拡大倍率は、織布２の
織密度が最も細かなレベルを基準に決定する。一般に、
拡大倍率の高い画像ほど、欠陥の抽出が容易な傾向にあ
る。しかし、後述する統計値を演算する矩形の処理領域
の短軸サイズは、検査対象方向の糸ピッチ又はその整数
倍とする必要があるために、撮像した画像内に検査対象
方向の糸が少なくとも４本以上あることが前提となる。
また、後述する撮像した画像内の検査対象方向の糸本数
の自動算出の精度をも考慮すると、カメラ視野内の検査
対象方向の糸数が１０〜５０本の範囲で撮像できる拡大
倍率のレンズを用いることが好ましい。
織密度が最も細かなレベルを基準に決定する。一般に、
拡大倍率の高い画像ほど、欠陥の抽出が容易な傾向にあ
る。しかし、後述する統計値を演算する矩形の処理領域
の短軸サイズは、検査対象方向の糸ピッチ又はその整数
倍とする必要があるために、撮像した画像内に検査対象
方向の糸が少なくとも４本以上あることが前提となる。
また、後述する撮像した画像内の検査対象方向の糸本数
の自動算出の精度をも考慮すると、カメラ視野内の検査
対象方向の糸数が１０〜５０本の範囲で撮像できる拡大
倍率のレンズを用いることが好ましい。
【００１５】ＣＣＤカメラ４で撮像されたアナログ信号
からなる濃淡画像データを、Ａ／Ｄ変換回路５で８ｂｉ
ｔのデジタル信号からなる画像データに加工した後、フ
レームメモリ６に格納する。格納されたフリーズ画像デ
ータは、前処理回路７にて、欠陥を効果的に抽出するた
めの微分強調等の前処理加工を行う。次に、検査対象方
向の糸ピッチを自動算出するために、濃度投影回路９に
て注目糸方向座標の濃度投影（濃度加算処理）を行い、
一次元の濃度データに加工する。また、データを基にＦ
ＦＴ回路８にてフーリエ変換し、周期的成分を抽出す
る。なお、フーリエ変換は、常時行う必要がないため
に、ＣＰＵ１５による処理も可能である。また、これら
の方式は、糸抜け等の欠情報が画像データに含まれる場
合でも高精度に求めることができる利点がある。
からなる濃淡画像データを、Ａ／Ｄ変換回路５で８ｂｉ
ｔのデジタル信号からなる画像データに加工した後、フ
レームメモリ６に格納する。格納されたフリーズ画像デ
ータは、前処理回路７にて、欠陥を効果的に抽出するた
めの微分強調等の前処理加工を行う。次に、検査対象方
向の糸ピッチを自動算出するために、濃度投影回路９に
て注目糸方向座標の濃度投影（濃度加算処理）を行い、
一次元の濃度データに加工する。また、データを基にＦ
ＦＴ回路８にてフーリエ変換し、周期的成分を抽出す
る。なお、フーリエ変換は、常時行う必要がないため
に、ＣＰＵ１５による処理も可能である。また、これら
の方式は、糸抜け等の欠情報が画像データに含まれる場
合でも高精度に求めることができる利点がある。
【００１６】次に、画像データを２値化回路１０にて２
値化処理を行い、２値化した画像データを基に、結合情
報統合化回路１１にてデータの統合化処理を行う。この
データを基に、主軸角演算回路１２にて主軸角を求め
る。この主軸角を精度よく求めるためには、事前に行う
前処理回路７での処理が、検査対象方向の糸方向と垂直
方向の微分強調処理であることが望ましい。また、主軸
角を求める方法としては、公知のＨｏｕｇｈ変換がある
が、方式は特に指定するものではない。
値化処理を行い、２値化した画像データを基に、結合情
報統合化回路１１にてデータの統合化処理を行う。この
データを基に、主軸角演算回路１２にて主軸角を求め
る。この主軸角を精度よく求めるためには、事前に行う
前処理回路７での処理が、検査対象方向の糸方向と垂直
方向の微分強調処理であることが望ましい。また、主軸
角を求める方法としては、公知のＨｏｕｇｈ変換がある
が、方式は特に指定するものではない。
【００１７】求まった検査対象方向の糸ピッチと糸方向
から、統計値演算用の矩形の処理領域が自動生成され
る。その一例を、図３に示す。矩形の処理領域の長軸方
向のサイズは、特定されるものではないが、糸抜け等の
連続して発生する欠陥に対しては長く設定するほど欠陥
検知の精度は向上する傾向にあり、一方、局所的に発生
する毛羽等の欠陥に対しては短い方が好ましい。したが
って、長軸方向のサイズは、検査対象の特徴に合わせて
決定すればよく、計測中に長さを可変にして複数回同一
処理を行ってもよい。処理領域の設定方法は、図３
（ａ）、（ｂ）に示すように、隣接する一対の矩形の領
域に限定するものでなく、図３（ｃ）に示すように、比
較する領域を交互に設けてもよい。ただし、処理領域の
短軸方向のサイズ（画素数）は、検査対象方向の糸ピッ
チ又はその整数倍であることが前提となる。このように
処理領域を設定することで、例えば、処理領域の濃度加
算値の比較を行う場合、欠陥がないときには、比較値の
絶対値の差が最も小さくなり、欠陥があるときには、比
較値の絶対値の差が最も大きく現れる。ただし、矩形の
長軸方向と検査対象の糸方向との位相がずれると、欠陥
の検知精度は低下する。この問題を回避するために、上
述のとおり、検査対象の糸方向を自動的に算出し、矩形
の処理領域の長軸を検査対象の糸方向に追従させる。こ
れにより、例えば、製織中の織布の両側に生じる経糸の
傾きやカメラ固定時の軸出しミスによる検知精度の低下
を回避することができる。また、検査対象の糸の平均密
度を算出し、統計値算出用の矩形の処理領域を自動的に
最適化することにより、糸密度の異なる織布を検査する
場合でも、光学条件を何等調整することなく検査するこ
とができる。さらに、隣接する処理領域間の統計値の比
較処理を行うことにより、例えば、検査中に光源の光量
が相対的に低下、あるいは上昇した場合でも、それらの
影響を相殺することができる。なお、ハレーションを起
こすような迷い光が近くに存在する場合は、遮蔽板２０
を設置するとよい。
から、統計値演算用の矩形の処理領域が自動生成され
る。その一例を、図３に示す。矩形の処理領域の長軸方
向のサイズは、特定されるものではないが、糸抜け等の
連続して発生する欠陥に対しては長く設定するほど欠陥
検知の精度は向上する傾向にあり、一方、局所的に発生
する毛羽等の欠陥に対しては短い方が好ましい。したが
って、長軸方向のサイズは、検査対象の特徴に合わせて
決定すればよく、計測中に長さを可変にして複数回同一
処理を行ってもよい。処理領域の設定方法は、図３
（ａ）、（ｂ）に示すように、隣接する一対の矩形の領
域に限定するものでなく、図３（ｃ）に示すように、比
較する領域を交互に設けてもよい。ただし、処理領域の
短軸方向のサイズ（画素数）は、検査対象方向の糸ピッ
チ又はその整数倍であることが前提となる。このように
処理領域を設定することで、例えば、処理領域の濃度加
算値の比較を行う場合、欠陥がないときには、比較値の
絶対値の差が最も小さくなり、欠陥があるときには、比
較値の絶対値の差が最も大きく現れる。ただし、矩形の
長軸方向と検査対象の糸方向との位相がずれると、欠陥
の検知精度は低下する。この問題を回避するために、上
述のとおり、検査対象の糸方向を自動的に算出し、矩形
の処理領域の長軸を検査対象の糸方向に追従させる。こ
れにより、例えば、製織中の織布の両側に生じる経糸の
傾きやカメラ固定時の軸出しミスによる検知精度の低下
を回避することができる。また、検査対象の糸の平均密
度を算出し、統計値算出用の矩形の処理領域を自動的に
最適化することにより、糸密度の異なる織布を検査する
場合でも、光学条件を何等調整することなく検査するこ
とができる。さらに、隣接する処理領域間の統計値の比
較処理を行うことにより、例えば、検査中に光源の光量
が相対的に低下、あるいは上昇した場合でも、それらの
影響を相殺することができる。なお、ハレーションを起
こすような迷い光が近くに存在する場合は、遮蔽板２０
を設置するとよい。
【００１８】処理領域の統計値としては、濃度の標準偏
差値、平均値、中位置、最頻値、最大、最小値、分散
値、四分位範囲、加算値、分布の歪度、尖度、変動計数
等があり、欠陥の抽出は、この統計値の差分値、相関係
数、しきい値との比較により行う。なお、これらの統計
値の演算及び欠陥の抽出は、ＣＰＵ１５にて行う。ま
た、演算結果は、入出力回路１８を通して出力される。
差値、平均値、中位置、最頻値、最大、最小値、分散
値、四分位範囲、加算値、分布の歪度、尖度、変動計数
等があり、欠陥の抽出は、この統計値の差分値、相関係
数、しきい値との比較により行う。なお、これらの統計
値の演算及び欠陥の抽出は、ＣＰＵ１５にて行う。ま
た、演算結果は、入出力回路１８を通して出力される。
【００１９】ところで、製織中の織り上がった織布をイ
ンラインで検査する場合、風綿等の異物が織布表面に付
着することがある。従来技術で指摘したように、もし単
純に画像の濃度値としきい値との比較や、２対の近傍領
域内の濃度加算値の比較のみで欠陥を抽出しようとする
と、これらの異物を欠陥と誤って判定してしまう。この
問題を回避するために、統計値の総合比較、しきい値と
の比較を行う。例えば、透過方式の検査の場合、異物が
あると、糸欠陥、例えば、ヘルド通し違いやリード通し
違い等の経糸欠点と異物とを上述の矩形の処理領域間で
比較すると、平均濃度値や濃度分布形状等は明らかに異
なる。したがって、従来の演算方式に加えて、このよう
な統計値の比較演算を判定に加えることで、欠陥と異物
等の外乱要素との分離ができる。なお、ここに示した判
定の際のパラメータとなる統計値は、特に限定するもの
でなく、対象欠点で特異な特徴を示す統計値を予め実験
等にて求め、それらを組み合わせて処理すればよい。ま
た、本方式は、同時に豊富な統計値の抽出ができるため
に、例えば、ファジー推論や重回帰分析等での欠陥の識
別も可能である。
ンラインで検査する場合、風綿等の異物が織布表面に付
着することがある。従来技術で指摘したように、もし単
純に画像の濃度値としきい値との比較や、２対の近傍領
域内の濃度加算値の比較のみで欠陥を抽出しようとする
と、これらの異物を欠陥と誤って判定してしまう。この
問題を回避するために、統計値の総合比較、しきい値と
の比較を行う。例えば、透過方式の検査の場合、異物が
あると、糸欠陥、例えば、ヘルド通し違いやリード通し
違い等の経糸欠点と異物とを上述の矩形の処理領域間で
比較すると、平均濃度値や濃度分布形状等は明らかに異
なる。したがって、従来の演算方式に加えて、このよう
な統計値の比較演算を判定に加えることで、欠陥と異物
等の外乱要素との分離ができる。なお、ここに示した判
定の際のパラメータとなる統計値は、特に限定するもの
でなく、対象欠点で特異な特徴を示す統計値を予め実験
等にて求め、それらを組み合わせて処理すればよい。ま
た、本方式は、同時に豊富な統計値の抽出ができるため
に、例えば、ファジー推論や重回帰分析等での欠陥の識
別も可能である。
【００２０】図４は、本発明の一実施例の動作を説明す
るためのフローチャートである。取り込まれた画像の全
体を検査するために、一連の処理が完了した段階で、処
理領域を欠陥抽出に支障のない範囲の画素数だけ検査対
象糸方向と垂直軸にシフトさせて同じ処理を繰り返す。
経糸、緯糸異常を同時に検査する場合、上記一連の処理
を完了後、矩形の処理領域を次の対象とする糸方向に合
わせて同じ処理を行う。この場合、比較する統計値とし
きい値は、前者の場合と同じとは限らないため、その都
度、比較する統計値としきい値を設定し、同じ処理を行
う。なお、全体の制御を行うプログラムはＲＯＭ１６
に、また、統計値やしきい値はＲＡＭ１７に格納するも
のとする。織布幅全体を検査する場合、本実施例に示す
ように、カメラ４を織布幅方向にトラバースするか、カ
メラを複数台、織布幅方向均一間隔に固定すればよい。
本実施例では、製織中の織布のインライン検査を示した
が、本発明は、製織中の織布のほか、織り上がった織布
や織布以外の規則性のある特徴をもったシート等の自動
検反に適用することができる。
るためのフローチャートである。取り込まれた画像の全
体を検査するために、一連の処理が完了した段階で、処
理領域を欠陥抽出に支障のない範囲の画素数だけ検査対
象糸方向と垂直軸にシフトさせて同じ処理を繰り返す。
経糸、緯糸異常を同時に検査する場合、上記一連の処理
を完了後、矩形の処理領域を次の対象とする糸方向に合
わせて同じ処理を行う。この場合、比較する統計値とし
きい値は、前者の場合と同じとは限らないため、その都
度、比較する統計値としきい値を設定し、同じ処理を行
う。なお、全体の制御を行うプログラムはＲＯＭ１６
に、また、統計値やしきい値はＲＡＭ１７に格納するも
のとする。織布幅全体を検査する場合、本実施例に示す
ように、カメラ４を織布幅方向にトラバースするか、カ
メラを複数台、織布幅方向均一間隔に固定すればよい。
本実施例では、製織中の織布のインライン検査を示した
が、本発明は、製織中の織布のほか、織り上がった織布
や織布以外の規則性のある特徴をもったシート等の自動
検反に適用することができる。
【００２１】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、織密度の
異なる複数種類の織布の異常を、光学条件を変更するこ
となく、経糸、緯糸を同時に検知することが可能とな
り、また、豊富な抽出情報により、表面付着物等の外乱
要素と欠陥との分離、さらに欠陥の識別も行うことがで
きるとともに、糸の方向が必ずしも織布中央部と同一で
ない織布側部の検査もでき、織布の異常を高精度に検出
することができる。
異なる複数種類の織布の異常を、光学条件を変更するこ
となく、経糸、緯糸を同時に検知することが可能とな
り、また、豊富な抽出情報により、表面付着物等の外乱
要素と欠陥との分離、さらに欠陥の識別も行うことがで
きるとともに、糸の方向が必ずしも織布中央部と同一で
ない織布側部の検査もでき、織布の異常を高精度に検出
することができる。
【００２２】請求項２記載の発明によれば、織布の異常
を迅速に検出することができる。
を迅速に検出することができる。
【図１】本発明の一実施例の概略ブロック図である。
【図２】本発明の一実施例の外観を示す斜視図である。
【図３】本発明の一実施例の統計値演算用の矩形処理領
域を説明するための図である。
域を説明するための図である。
【図４】本発明の一実施例の動作を説明するためのフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
１ 光源 ２ 織布 ３ レンズ ４ ＣＣＤカメラ ５ Ａ／Ｄ変換回路 ６ フレームメモリ ７ 画像前処理回路 ８ ＦＦＴ回路 ９ 画像濃度投影回路 １０ 画像２値化回路 １１ 画像結合情報統合化回路 １２ 主軸角演算回路 １３ 画像バス １４ ＣＰＵバス １５ ＣＰＵ １６ ＲＯＭ １７ ＲＡＭ １８ 入出力回路 ２０ 遮蔽板 ３０ 一次元／二次元変換器 ４０ 一軸移動ステージ
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/90 D06H 3/08 D06H 3/12
Claims (2)
- 【請求項１】 少なくとも被撮像領域の織布に対して光
を照射する投光手段と、織布から透過又は反射する光を
集光し、ＣＣＤ素子にて撮像する撮像手段と、撮像手段
から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換し、
この画像データを基に画像エリア内に設定した複数の処
理領域毎の画像データを自動生成し、この画像データを
統計値に加工し、この複数の処理領域間の統計値の比較
及び予め設定したしきい値との比較を行うことにより織
布の異常の有無を判定する画像処理手段とを備えること
により、織布を撮像し、画像情報から検反情報を取り出
す織布の検反装置において、処理領域を、経糸異常検査
の場合、長軸を経糸方向に、緯糸異常検査の場合、長軸
を緯糸方向に平行に設定し、短軸を経糸又は緯糸のピッ
チ又はその整数倍とした矩形に設定し、この矩形の処理
領域を、画像エリア内に、経糸異常検査の場合、経糸と
垂直方向に、緯糸異常検査の場合、緯糸と垂直方向に、
同じサイズで隣接して複数個設けることを特徴とする織
布の検反装置。 - 【請求項２】 前記画像処理手段は、各処理領域毎の画
像データの統計値への加工、処理領域間の統計値の比較
及び予め設定したしきい値との比較、並びに織布の異常
の有無の判定を１サイクルとし、経糸異常検査の場合、
経糸と垂直方向に、緯糸異常検査の場合、緯糸と垂直方
向に、処理領域を順にシフトさせ、同じ処理を画像エリ
ア全体に対して行うものであることを特徴とする請求項
１記載の織布の検反装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7198171A JP2800726B2 (ja) | 1995-07-10 | 1995-07-10 | 織布の検反装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7198171A JP2800726B2 (ja) | 1995-07-10 | 1995-07-10 | 織布の検反装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0926400A JPH0926400A (ja) | 1997-01-28 |
| JP2800726B2 true JP2800726B2 (ja) | 1998-09-21 |
Family
ID=16386658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7198171A Expired - Lifetime JP2800726B2 (ja) | 1995-07-10 | 1995-07-10 | 織布の検反装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2800726B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005050194A1 (en) * | 2003-11-21 | 2005-06-02 | Ralph Gregory Burke | A device for inspecting and controlling the density of a moving web of cloth in a production line |
| JP2006275691A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 検査方法および検査装置 |
| JP5531253B2 (ja) * | 2009-04-22 | 2014-06-25 | シーシーエス株式会社 | 検査システム |
| CN102288608A (zh) * | 2011-06-20 | 2011-12-21 | 江南大学 | 一种新的机织物密度自动检测方法 |
| CN102288607A (zh) * | 2011-06-20 | 2011-12-21 | 江南大学 | 基于数码显微镜的机织物密度检测仪 |
| CN105683704B (zh) * | 2013-10-31 | 2019-03-01 | 3M创新有限公司 | 材料的多尺度均匀度分析 |
| CN104674440B (zh) * | 2013-11-29 | 2016-05-04 | 北京中科远恒科技有限公司 | 喷气织机中的纬纱信号的识别方法和装置 |
| CN107657613B (zh) * | 2017-11-01 | 2024-07-19 | 江苏融汇建设集团有限公司 | 一种经纱状态检测装置及其工作方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0192468A (ja) * | 1986-08-20 | 1989-04-11 | Japan Small Business Corp | 検反装置 |
| JPH06288933A (ja) * | 1993-03-31 | 1994-10-18 | Kawashima Textile Manuf Ltd | シート類の表面疵欠点検出方法および装置 |
-
1995
- 1995-07-10 JP JP7198171A patent/JP2800726B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0926400A (ja) | 1997-01-28 |
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