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JP2884522B2 - Wafer transfer device - Google Patents

Wafer transfer device

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Publication number
JP2884522B2
JP2884522B2 JP17409090A JP17409090A JP2884522B2 JP 2884522 B2 JP2884522 B2 JP 2884522B2 JP 17409090 A JP17409090 A JP 17409090A JP 17409090 A JP17409090 A JP 17409090A JP 2884522 B2 JP2884522 B2 JP 2884522B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
carrier
transfer arm
wafer carrier
transfer
Prior art date
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JP17409090A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0462951A (en
Inventor
智幸 寺島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication of JPH0462951A publication Critical patent/JPH0462951A/en
Application granted granted Critical
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Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明はウエハ移し換え装置に係わり、特に、ウエハ
キャリア内に収納されている半導体ウエハを一枚ずつ取
り出して他の場所に移し換える装置に用いて好適なもの
である。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a wafer transfer apparatus, and more particularly to an apparatus for taking out semiconductor wafers housed in a wafer carrier one by one and transferring them to another place. It is suitable for use.

<従来の技術> 周知の通り、半導体装置を製造する場合には、半導体
ウエハ(以下単にウエハとする)をウエハキャリア内に
入れて各製造装置間や各製造ライン間を搬送するように
している。そして、上記ウエハキャリアを所定の位置ま
で搬送したら、上記ウエハをウエハキャリア内から一枚
ずつ取り出して他の場所に移し換えて次の処理を行うよ
うにしている。
<Prior Art> As is well known, when a semiconductor device is manufactured, a semiconductor wafer (hereinafter, simply referred to as a wafer) is placed in a wafer carrier and transported between manufacturing apparatuses or between manufacturing lines. . Then, when the wafer carrier is transported to a predetermined position, the wafers are taken out one by one from the wafer carrier and transferred to another place to perform the next processing.

第4図は、従来のウエハ移し換え装置における搬送ア
ームの構成を示す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a configuration of a transfer arm in a conventional wafer transfer device.

第4図から明らかなように、この搬送アーム1は略十
字形状に形成され、ウエハ(図示せず)と当接してこれ
を支持する支持部2がそれぞれのアーム片1aの先端部に
設けられている。また、搬送アーム1の中心位置にバキ
ューム用開口部3が設けられれていて、図示しない真空
装置が動作して上記バキューム用開口部3から空気が吸
引されるように構成されている。したがって、上記搬送
アーム1がウエハキャリア内に差し込まれ、上記バキュ
ーム用開口部3がウエハに対向している状態で上記真空
装置が動作すると、上記バキューム用開口部3にウエハ
が吸着される。このようにして、ウエハを搬送アーム1
上に吸着したら、上記搬送アーム1をウエハキャリアか
ら引き出し、そこに吸着しているウエハを所定の位置に
移し換える。
As is apparent from FIG. 4, the transfer arm 1 is formed in a substantially cross shape, and a support portion 2 which comes into contact with and supports a wafer (not shown) is provided at the tip of each arm piece 1a. ing. In addition, a vacuum opening 3 is provided at the center position of the transfer arm 1, and a vacuum device (not shown) operates so that air is sucked from the vacuum opening 3. Therefore, when the transfer device 1 is inserted into the wafer carrier and the vacuum device operates with the vacuum opening 3 facing the wafer, the wafer is attracted to the vacuum opening 3. Thus, the wafer is transferred to the transfer arm 1.
When the wafer is sucked up, the transfer arm 1 is pulled out of the wafer carrier, and the wafer sucked there is moved to a predetermined position.

そして、一枚目のウエハの移し換えが終わったら、第
5図の移送状態を説明するための斜視図において矢印で
示すように、ウエハキャリア5が載置されているキャリ
アエレベータ4をウエハ6が収納されているピッチに対
応する距離だけ上動または下動させる。これにより、上
記搬送アーム1が二枚目のウエハ6のすぐ真下に移動し
て上記真空装置による吸着が可能になるので、上記二枚
目のウエハ6を上記搬送アーム1上に真空吸着させてウ
エハキャリア5から引き出し、所定の位置に移し換え
る。このような動作を繰り返し行うことにより上記ウエ
ハキャリア5内に収納されているウエハ6を所定の位置
に移し換えるようにしている。
When the transfer of the first wafer is completed, the carrier elevator 4 on which the wafer carrier 5 is placed is moved by the wafer 6 as shown by an arrow in the perspective view for explaining the transfer state in FIG. Move up or down by a distance corresponding to the stored pitch. As a result, the transfer arm 1 moves just below the second wafer 6 and the suction by the vacuum device becomes possible, so that the second wafer 6 is sucked on the transfer arm 1 by vacuum. It is pulled out from the wafer carrier 5 and transferred to a predetermined position. By repeating such an operation, the wafer 6 stored in the wafer carrier 5 is moved to a predetermined position.

<発明が解決しようとする課題> しかしながら、上記の従来の装置の場合には、上記キ
ャリアエレベータ4を予め設定してある一定のピッチで
上下動させているので、上記ウエハ6を上記搬送アーム
1に必ずしも真空吸着させることが出来ないことがあ
る。すなわち、例えば上記ウエハキャリア5が歪んでい
ると、上記ウエハキャリア5内に収納されている各ウエ
ハ6は上記キャリアエレベータ4に対して平行に載置さ
れなくなる。このため、この場合には当然のことなが
ら、上記ウエハ6と上記搬送アーム1とは所定の間隔で
平行に対向しなくなるので、上記真空吸引によって上記
エハ6を上記搬送アーム1上に吸着することが出来なく
なる不都合が生じる。この結果、従来はウエハキャリア
5が歪んでいると、ウエハ6を搬送アーム1によりウエ
ハキャリア5から引き出して所定の位置に移し換えるこ
とが出来なかった。
<Problem to be Solved by the Invention> However, in the case of the above-described conventional apparatus, the carrier elevator 4 is moved up and down at a predetermined fixed pitch, so that the wafer 6 is transferred to the transfer arm 1. May not always be able to be adsorbed by vacuum. That is, for example, when the wafer carrier 5 is distorted, the wafers 6 stored in the wafer carrier 5 are not placed in parallel with the carrier elevator 4. In this case, of course, the wafer 6 and the transfer arm 1 are not opposed to each other in parallel at a predetermined interval, so that the vacuum 6 is sucked onto the transfer arm 1 by the vacuum suction. The inconvenience of not being able to do it occurs. As a result, conventionally, when the wafer carrier 5 is distorted, the wafer 6 cannot be pulled out of the wafer carrier 5 by the transfer arm 1 and moved to a predetermined position.

本発明は上述の問題点に鑑み、ウエハキャリアが歪ん
でいるためにその内部に収納されているウエハがキャリ
アエレベータの上面に対して平行に載置されていなくて
も、上記ウエハと搬送アームとを所定の間隔を存して平
行に対向させることが出来るようにすることを目的とす
る。
The present invention has been made in view of the above-described problems, and even if the wafer contained therein is not placed in parallel with the upper surface of the carrier elevator because the wafer carrier is distorted, the wafer and the transfer arm can be used. Can be made to face in parallel at a predetermined interval.

<課題を解決するための手段> 本発明のウエハ移し換え装置は、ウエハキャリア内に
収納されているウエハを一枚ずつ取り出して他の場所に
移し換えるウエハ移し換え装置において、上記ウエハを
取り出すために上記ウエハキャリア内に進入する搬送ア
ームと、上記ウエハと上記搬送アームとの平行状態を検
出するために、少なくとも上記搬送アーム上の三箇所に
取り付けられた平行検出用センサと、上記ウエハキャリ
アを下方から三点支持するために上記ウエハキャリアが
載置される移し換え装置本体内の三箇所に設けられ、上
記ウエハキャリアを支持する高さを各点において調整す
る平行調整機構とを具備している。
<Means for Solving the Problems> A wafer transfer apparatus according to the present invention is a wafer transfer apparatus for taking out wafers stored in a wafer carrier one by one and transferring the wafers to another place. A transfer arm that enters the wafer carrier, a parallel detection sensor attached to at least three places on the transfer arm to detect a parallel state between the wafer and the transfer arm, and the wafer carrier. A parallel adjustment mechanism is provided at three points in the transfer apparatus body on which the wafer carrier is mounted to support three points from below, and adjusts the height at which the wafer carrier is supported at each point. I have.

<作用> ウエハキャリア内に収納されている各ウエハに搬送ア
ームを接近させる際には、上記搬送アーム上に設けられ
たセンサの出力に基づいて平行調整機構を動作させ、上
記ウエハと上記搬送アームとを所定間隔で平行に対向さ
せる。これにより、上記ウエハキャリアは歪んでいるこ
と等により、上記ウエハがキャリアエレベータ上に平行
に載置されていない場合でも、上記搬送アームに設けら
れているバキューム用開口と上記ウエハとを、予め設定
した所定の相対位置にして対向させることが可能とな
る。
<Operation> When the transfer arm approaches each wafer stored in the wafer carrier, a parallel adjustment mechanism is operated based on the output of a sensor provided on the transfer arm, and the wafer and the transfer arm are operated. And are opposed in parallel at a predetermined interval. Accordingly, even when the wafer carrier is not placed in parallel on the carrier elevator due to distortion of the wafer carrier, the vacuum opening provided in the transfer arm and the wafer are set in advance. It is possible to face each other at a predetermined relative position.

<実施例> 第1図は、本発明のウエハ移し換え装置の一実施例を
示す搬送アーム1の斜視図、第2図はキャリアエレベー
タ4の斜視図である。
<Embodiment> FIG. 1 is a perspective view of a transfer arm 1 showing an embodiment of a wafer transfer apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view of a carrier elevator 4.

第1図から明らかなように、実施例のウエハ移し換え
装置は、搬送アーム1に設けられている三箇所の支持部
2のそれぞれに、第1〜第3のセンサ8a,8b,8cがそれぞ
れ配設されている。これらのセンサ8a〜8cは、ウエハキ
ャリア5内に収納されているウエハ6に搬送アーム1を
接近させたときに、各支持部2とウエハ6との間隔を検
出するために配設されているもので、搬送アーム1とウ
エハ6とを所定の間隔で平行に対向させることを可能に
するものである。このような目的で用いられる平行度セ
ンサ8a〜8cとしては、例えば赤外線を検出光として使用
する反射片光センサを用いることが出来る。
As is clear from FIG. 1, the wafer transfer apparatus of the embodiment has first to third sensors 8a, 8b, 8c on three support portions 2 provided on the transfer arm 1, respectively. It is arranged. These sensors 8a to 8c are provided to detect the distance between each support portion 2 and the wafer 6 when the transfer arm 1 approaches the wafer 6 stored in the wafer carrier 5. This allows the transfer arm 1 and the wafer 6 to face each other in parallel at a predetermined interval. As the parallelism sensors 8a to 8c used for such a purpose, for example, reflective single-sided optical sensors using infrared rays as detection light can be used.

一方、第2図に示すように、キャリアエレベータ4の
上面4aの三箇所に設けられているガイド9のすぐ内側に
支持ピン10を突出させている。これらの支持ピン10はキ
ャリアエレベータ4を支持するために設けられているも
ので、各支持ピン10はキャリアエレベータ4の内部を説
明するための第3図に示すように、第1〜第3の微調整
モータ11a,11b,11cの動作により図中上下方向に移動す
るようになされている。
On the other hand, as shown in FIG. 2, the support pins 10 protrude immediately inside guides 9 provided at three places on the upper surface 4a of the carrier elevator 4. These support pins 10 are provided to support the carrier elevator 4, and each support pin 10 has a first to a third as shown in FIG. 3 for explaining the inside of the carrier elevator 4. The fine adjustment motors 11a, 11b, 11c are moved in the vertical direction in the figure by the operation of the motors.

そして、本実施例では、第1のセンサ8aの検出出力で
第1の微調整モータ11aの動作を制御するとともに、第
2のセンサ8bの出力で第2の微調整モータ11bの動作を
制御する。また、第3のセンサ8cの検出出力で第3の微
調整用モータ11cの動作を制御し、ウエハキャリア5内
に収納されているウエハ6の平行状態を微調整するよう
にしている。
In this embodiment, the operation of the first fine adjustment motor 11a is controlled by the detection output of the first sensor 8a, and the operation of the second fine adjustment motor 11b is controlled by the output of the second sensor 8b. . In addition, the operation of the third fine adjustment motor 11c is controlled by the detection output of the third sensor 8c to finely adjust the parallel state of the wafer 6 stored in the wafer carrier 5.

次に、このように構成された実施例のウエハ移し換え
装置の動作を説明する。
Next, the operation of the thus configured wafer transfer apparatus of the embodiment will be described.

ウエハ6が収納されたウエハキャリア5がキャリアエ
レベータ4上に載置されると粗調整用モータ12が動作
し、例えばキャリアエレベータ4を下動させる。この下
動は、ウエハキャリア5内に挿入されている搬送アーム
1上に設けられているセンサ8a〜8cのいずれか一つが、
ウエハ6に対して所定の距離に接近するまで行われる。
When the wafer carrier 5 in which the wafers 6 are stored is placed on the carrier elevator 4, the coarse adjustment motor 12 operates, and moves the carrier elevator 4 downward, for example. This downward movement is caused by any one of the sensors 8a to 8c provided on the transfer arm 1 inserted into the wafer carrier 5.
The process is performed until the wafer 6 approaches a predetermined distance.

そして、或るセンサ、すなわち或る支持部2とウエハ
6とが所定の距離まで接近すると、そのセンサから接近
検出出力が導出される。この接近検出出力が図示しない
コントローラに与えられと、コントローラの制御により
粗調整用モータ12の動作が停止される。
When a certain sensor, that is, a certain supporting portion 2 and the wafer 6 approach each other to a predetermined distance, an approach detection output is derived from the sensor. When this approach detection output is given to a controller (not shown), the operation of the coarse adjustment motor 12 is stopped by the control of the controller.

粗調整用モータ12の動作が停止されると、次に、微調
整用モータ11a,11b,11cの内、未だウエハ6に対して所
定の位置まで接近していないセンサに対応する微調整モ
ータが動作する。すなわち、例えば第1のセンサ8aがウ
エハ6に対して所定の距離まで接近していて、第2およ
び第3のセンサ8b,8cが未だウエハ6に対して所定の距
離まで接近していないとする。この場合、第2および第
3のセンサ8b,8cに対応する第2の微調整モータ11b及び
第3の微調整用モータ11cが動作し、これらのモータ8b,
8cに対応する支持ピン10を下方に下げる。これにより、
ウエハキャリア5の支持状態が変わり、第2および第3
のセンサ8b,8cとウエハ6とが近づく。そして、これら
の間隔が所定の距離まで接近すると、各センサ8b,8cか
ら接近検出出力が導出され、それに対応する微調整用モ
ータ11b,11cの動作が停止する。
When the operation of the coarse adjustment motor 12 is stopped, next, of the fine adjustment motors 11a, 11b, and 11c, the fine adjustment motor corresponding to the sensor that has not yet approached the wafer 6 to a predetermined position. Operate. That is, for example, it is assumed that the first sensor 8a is close to the wafer 6 to a predetermined distance, and the second and third sensors 8b and 8c are not yet close to the wafer 6 to a predetermined distance. . In this case, the second fine adjustment motor 11b and the third fine adjustment motor 11c corresponding to the second and third sensors 8b and 8c operate, and these motors 8b and 8c
Lower the support pin 10 corresponding to 8c. This allows
The support state of the wafer carrier 5 changes, and the second and third
Sensors 8b, 8c and the wafer 6 approach each other. Then, when these intervals approach a predetermined distance, an approach detection output is derived from each of the sensors 8b and 8c, and the corresponding fine adjustment motors 11b and 11c stop operating.

このようにして微調整が行われることにより、搬送ア
ーム1上の三点がウエハ6に対して所定の距離になる
と、ウエハ6と搬送アーム1とが予め設定されている距
離を開けて平行に対向する。次に、真空装置を動作させ
てバキューム用開口部3から吸引を開始し、ウエハ6を
搬送アーム1上に吸着する。この場合、搬送アーム1を
ウエハ6に対して所定の間隔で平行に対向させているの
で、ウエハ6を容易にかつ確実に搬送アーム1上に吸着
させることができる。したがって、実施例のウエハ移し
換え装置によれば、例えばウエハキャリア5が歪んでい
るためにウエハ6がキャリアエレベータ4上に平行に載
置されていない場合でも、ウエハ6と搬送アーム1とを
所定の距離で平行に対向させることが出来る。このた
め、移し換えするウエハ6が収納されているウエハキャ
リア5が歪んでいても安定した真空吸着を行うことが出
来、ウエハキャリア5の歪みによる不都合を確実に防止
することが出来る。
By performing the fine adjustment in this manner, when the three points on the transfer arm 1 are at a predetermined distance from the wafer 6, the wafer 6 and the transfer arm 1 are spaced apart from each other by a predetermined distance to be parallel. opposite. Next, the vacuum device is operated to start suction from the vacuum opening 3, and the wafer 6 is sucked onto the transfer arm 1. In this case, since the transfer arm 1 is opposed to the wafer 6 in parallel at a predetermined interval, the wafer 6 can be easily and reliably attracted to the transfer arm 1. Therefore, according to the wafer transfer apparatus of the embodiment, even when the wafer 6 is not placed in parallel on the carrier elevator 4 because the wafer carrier 5 is distorted, for example, the wafer 6 and the transfer arm 1 are kept in a predetermined position. At a distance of. Therefore, even if the wafer carrier 5 accommodating the wafer 6 to be transferred is distorted, stable vacuum suction can be performed, and the inconvenience due to the distortion of the wafer carrier 5 can be reliably prevented.

<発明の効果> 本発明は上述したように、搬送アーム上の三箇所に接
近検出センサを設け、上記搬送アームをウエハキャリア
内に収納されている各ウエハに接近させる際には、上記
センサの出力に基づいて平行調整機構を動作させ、上記
ウエハと上記搬送アームとを所定間隔で平行に対向させ
るようにしたので、上記ウエハキャリアが歪んでいるこ
と等により、その内部に収納されているウエハがキャリ
アエレベータ上に平行に載置されない場合でも、上記搬
送アームに設けられているバキューム用開口部と上記ウ
エハとの相対位置が、予め設定したある所定の相対位置
となるようにすることが出来、ウエハの移し換え動作が
安定化させることが出来る。
<Effect of the Invention> As described above, the present invention provides the approach detection sensors at three places on the transfer arm, and when the transfer arm approaches each wafer stored in the wafer carrier, The parallel adjustment mechanism is operated based on the output so that the wafer and the transfer arm are opposed to each other in parallel at a predetermined interval, so that the wafer contained in the wafer carrier is distorted due to distortion of the wafer carrier or the like. Even if the wafer is not placed in parallel on the carrier elevator, the relative position between the vacuum opening provided in the transfer arm and the wafer can be set to a predetermined relative position set in advance. In addition, the wafer transfer operation can be stabilized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、本発明の一置実施例を示す搬送アームの斜視
図、 第2図は、キャリアエレベータの斜視図、 第3図は、キャリアエレベータの内部説明図、 第4図は、従来技術を示す搬送アームの斜視図、 第5図は、従来のウエハ移し換え装置の主要部の構成を
示す斜視図である。 1…搬送アーム,2…支持部,3…バキューム用開口部,4…
キャリアエレベータ,5…ウエハキャリア,6…ウエハ,8a
〜8c…平行度検出用センサ,10…支持ピン,11a〜11c…微
調整用モータ。
FIG. 1 is a perspective view of a transfer arm showing one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of a carrier elevator, FIG. 3 is an internal explanatory view of the carrier elevator, and FIG. FIG. 5 is a perspective view showing a configuration of a main part of a conventional wafer transfer apparatus. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Transfer arm, 2 ... Support part, 3 ... Vacuum opening, 4 ...
Carrier elevator, 5… wafer carrier, 6… wafer, 8a
... 8c ... parallelism detection sensor, 10 ... support pins, 11a-11c ... fine adjustment motor.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ウエハキャリア内に収納されているウエハ
を一枚ずつ取り出して他の場所に移し換えるウエハ移し
換え装置において、 上記ウエハを取り出すために上記ウエハキャリア内に進
入する搬送アームと、 上記ウエハと上記搬送アームとの平行状態を検出するた
めに、少なくとも上記搬送アーム上の三箇所に取り付け
られた平行検出用センサと、 上記ウエハキャリアを下方から支持するために上記ウエ
ハキャリアが載置される移し換え装置本体内の三箇所に
設けられ、上記ウエハキャリアを支持する高さを各点に
おいて調整する平行度調整機構とを具備することを特徴
とするウエハ移し換え装置。
1. A wafer transfer device for taking out wafers housed in a wafer carrier one by one and transferring the wafers to another place, a transfer arm which enters the wafer carrier to take out the wafers, At least three parallel detection sensors mounted on the transfer arm for detecting a parallel state between the wafer and the transfer arm, and the wafer carrier for supporting the wafer carrier from below are mounted. And a parallelism adjusting mechanism provided at three points in the main body of the transfer device for adjusting the height at which the wafer carrier is supported at each point.
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