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JP2874669B2 - Laser radar - Google Patents

Laser radar

Info

Publication number
JP2874669B2
JP2874669B2 JP8290117A JP29011796A JP2874669B2 JP 2874669 B2 JP2874669 B2 JP 2874669B2 JP 8290117 A JP8290117 A JP 8290117A JP 29011796 A JP29011796 A JP 29011796A JP 2874669 B2 JP2874669 B2 JP 2874669B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
light
slit
light receiving
laser radar
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP8290117A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH10132924A (en
Inventor
昌憲 石井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP8290117A priority Critical patent/JP2874669B2/en
Publication of JPH10132924A publication Critical patent/JPH10132924A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2874669B2 publication Critical patent/JP2874669B2/en
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Lasers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザレーダに関
し、特に、光軸調整に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser radar, and more particularly, to optical axis adjustment.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、レーザレーダにおいて送光軸
と受光軸との光軸調整を行う場合は、まず、送光側から
の光が照準の中心に照射されるように調整を行い、その
後、オートコリメータを使用して受光側に設けられてい
る検知器の中心と照準の中心とが一致するように調整す
ることにより、光軸調整が行われていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, when an optical axis of a light transmitting axis and a light receiving axis is adjusted in a laser radar, first, an adjustment is performed so that light from a light transmitting side is applied to a center of a sight. The optical axis has been adjusted by using an autocollimator so that the center of the detector provided on the light receiving side is aligned with the center of aiming.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような従来のものにおいては、送光軸と受光軸との光
軸調整を行う場合に、オートコリメータ等の精密な測定
装置にアクセスするためにレーザレーダを搭載機器から
わざわざ取り外さなければならず、調整に手間がかかっ
てしまうという問題点がある。
However, in the conventional apparatus described above, when adjusting the optical axis between the light transmitting axis and the light receiving axis, it is necessary to access a precise measuring device such as an autocollimator. There is a problem in that the laser radar must be separately removed from the mounted device, and the adjustment takes time.

【0004】本発明は、上述したような従来の技術が有
する問題点に鑑みてなされたものであって、測定装置を
用いることなく光軸調整を行うことができるレーザレー
ダを提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the conventional technology, and has as its object to provide a laser radar capable of adjusting an optical axis without using a measuring device. And

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、レーザ光を出射する送光光学系と、該送光
光学系から出射され、対象物において反射した反射光を
受光する受光光学系と、前記送光光学系から出射される
レーザ光を制御するとともに、前記受光光学系の制御及
び前記受光光学系において受光された光に対する処理を
行う信号処理部とを有し、前記受光光学系において受光
された光の受光レベルに基づいて前記受光光学系の光軸
を自動調整するレーザレーダであって、前記受光光学系
は、前記反射光を偏向させる光学偏向用光学系と、所定
の幅を具備するスリットを有し、該光学偏向用光学系に
おいて偏向された光に対してスキャンを行うスリット部
と、該スリット部を介して受光される光の受光レベルを
検出する検知部とを有し、前記信号処理部は、前記スリ
ット部におけるスキャン動作を制御するとともに、前記
検知部において検出された受光レベルに基づいて前記光
学偏向用光学系における偏向量を制御することを特徴と
する。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a light transmitting optical system for emitting laser light, and receives reflected light emitted from the light transmitting optical system and reflected on an object. A light-receiving optical system, and a signal processing unit that controls laser light emitted from the light-sending optical system, controls the light-receiving optical system, and performs processing on light received by the light-receiving optical system, A laser radar that automatically adjusts an optical axis of the light receiving optical system based on a light receiving level of light received by the light receiving optical system, wherein the light receiving optical system is an optical deflection optical system that deflects the reflected light, A slit section having a slit having a predetermined width and scanning the light deflected by the optical deflecting optical system, and a detecting section for detecting a light receiving level of light received through the slit section When A, the signal processing unit controls the scanning operation in the slit portion, wherein the controlling the deflection amount in the optical deflecting optical system on the basis of the received light level detected in the detection portion.

【0006】また、前記信号処理部は、前記スリット部
におけるスキャン動作の度に前記検知部から入力される
受光レベルをデータとして記憶し、スキャン動作終了後
に、記憶されているデータを比較することにより、前記
光学偏向用光学系における偏向量を制御することを特徴
とする。
The signal processing unit stores the light receiving level input from the detecting unit as data each time a scanning operation is performed in the slit unit, and compares the stored data after the scanning operation. The deflection amount in the optical deflection optical system is controlled.

【0007】また、前記スリット部は、所定の幅を有す
るスリットを形成するシャッタと、該シャッタを駆動す
るモータとを有し、前記シャッタによって前記スリット
の位置を変化させることにより、スキャン動作を行うこ
とを特徴とする。
The slit section has a shutter for forming a slit having a predetermined width, and a motor for driving the shutter, and performs a scanning operation by changing the position of the slit by the shutter. It is characterized by the following.

【0008】また、前記光学偏向用光学系は、前記反射
光を偏向させる2つのウェッジプリズムと、該ウェッジ
プリズムを回転させるためのモータとを有し、前記ウェ
ッジプリズムが回転することによって前記偏向量が変化
することを特徴とする。
The optical deflecting optical system has two wedge prisms for deflecting the reflected light, and a motor for rotating the wedge prisms. Is changed.

【0009】(作用)上記のように構成された本発明に
おいては、送光光学系から出射されたレーザ光の反射光
が受光光学系において受光されると、光軸偏向用光学系
において、受光された光が所定量だけ偏向され、出力さ
れる。この状態において、スリット部においてスリット
の位置が順次変えられ、スリットがそれぞれの位置に設
定されたときの受光レベルが検知器において検出され、
検出された受光レベルが信号処理部に送られてデータと
して格納される。その後、信号処理部において、格納さ
れているデータのうち決められたものどうしが比較され
ることにより、スリットの位置の移動に対する受光レベ
ルの対称性が判断され、対称性が満たされるまで、光軸
偏向用光学系における偏向量が順次変えられて同様の測
定が行われる。
(Operation) In the present invention configured as described above, when the reflected light of the laser light emitted from the light transmitting optical system is received by the light receiving optical system, the reflected light is received by the optical axis deflection optical system. The emitted light is deflected by a predetermined amount and output. In this state, the position of the slit is sequentially changed in the slit portion, and the light receiving level when the slit is set at each position is detected by the detector,
The detected light receiving level is sent to the signal processing unit and stored as data. Thereafter, in the signal processing unit, the determined one of the stored data is compared with each other to determine the symmetry of the received light level with respect to the movement of the position of the slit, and the optical axis is maintained until the symmetry is satisfied. The same measurement is performed by sequentially changing the deflection amount in the deflection optical system.

【0010】このように、スリットの位置の移動に対す
る受光レベルの対称性が満たされるまで、すなわち、受
光光学系における光軸が調整されるまで、光軸偏向用光
学系における偏向量が自動的に順次変えられるので、測
定装置を用いることなく、受光光学系の光軸が調整さ
れ、調整に手間がかかることはない。
As described above, the amount of deflection in the optical axis deflecting optical system is automatically adjusted until the symmetry of the light receiving level with respect to the movement of the slit position is satisfied, that is, until the optical axis in the light receiving optical system is adjusted. Since they can be sequentially changed, the optical axis of the light receiving optical system is adjusted without using a measuring device, and the adjustment does not take time and effort.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】図1は、本発明のレーザレーダの実施の一
形態を示すブロック図である。また、図2は、図1に示
すスリット部4の構造を示す図であり、(a)は断面
図、(b)は正面図である。また、図3は、図1に示す
光軸偏向用光学系5の構成を示す断面図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a laser radar according to the present invention. FIGS. 2A and 2B are views showing the structure of the slit section 4 shown in FIG. 1, wherein FIG. 2A is a sectional view and FIG. 2B is a front view. FIG. 3 is a sectional view showing the configuration of the optical axis deflecting optical system 5 shown in FIG.

【0013】本形態は図1に示すように、レーザ光を出
射するレーザ7aからなる送光光学系7と、レーザ7a
から出射され、対象物において反射した反射光を受光す
る受光光学系1と、レーザ7aから出射されるレーザ光
を制御するとともに、受光光学系1の制御及び受光光学
系1において受光された光に対する処理を行う信号処理
部6とから構成されており、受光光学系1には、2枚1
組のウェッジプリズムからなり、反射光を偏向させる光
学偏向用光学系5と、光学偏向用光学系5において偏向
された光に対してx方向のスキャンを行うスリット部3
と、光学偏向用光学系5において偏向された光に対して
y方向のスキャンを行うスリット部4と、スリット部
3,4を介して入射される光の受光レベルを検出する検
知部2とが設けられている。また、図2に示すようにス
リット部4には、所定の幅を有するスリット4aを形成
するシャッタ10,11と、シャッタ10,11をそれ
ぞれ駆動するモータ8,9とが設けられており、また、
スリット部3においては、スリット部4と同様なものが
設けられているが、スリット部4に設けられているもの
に対してそれぞれ垂直になるように構成されている。ま
た、図3に示すように光学偏向用光学系5には、反射光
を偏向させる2枚1組のウェッジプリズム15,16
と、ウェッジプリズム15,16をそれぞれ回転させる
ためのモータ13,14とが設けられている。
In this embodiment, as shown in FIG. 1, a light transmitting optical system 7 comprising a laser 7a for emitting a laser beam, and a laser 7a
A light receiving optical system 1 for receiving reflected light reflected from a target object and a laser beam emitted from a laser 7a, controlling the light receiving optical system 1 and controlling the light received by the light receiving optical system 1. And a signal processing unit 6 for performing processing.
An optical deflecting optical system 5 that deflects reflected light, and a slit section 3 that scans the light deflected by the optical deflecting optical system 5 in the x direction.
And a slit unit 4 for scanning the light deflected by the optical deflecting optical system 5 in the y direction, and a detecting unit 2 for detecting a light receiving level of the light incident through the slit units 3 and 4. Is provided. Further, as shown in FIG. 2, the slit portion 4 is provided with shutters 10 and 11 for forming a slit 4a having a predetermined width, and motors 8 and 9 for driving the shutters 10 and 11, respectively. ,
The slits 3 are provided with the same components as the slits 4, but are configured to be perpendicular to the slits 4. As shown in FIG. 3, a pair of wedge prisms 15 and 16 for deflecting the reflected light are provided in the optical deflecting optical system 5.
And motors 13 and 14 for rotating the wedge prisms 15 and 16 respectively.

【0014】以下に、上記のように構成されたレーザレ
ーダの動作について説明する。
The operation of the laser radar configured as described above will be described below.

【0015】図4は、図1に示したレーザレーダの動作
を説明するためのタイミングチャートである。
FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the laser radar shown in FIG.

【0016】まず、信号処理部6から送光光学系7に対
して送信信号が出力されると、送光光学系7内に設けら
れたレーザ7aから送信信号に基づいたレーザ光が出射
される。
First, when a transmission signal is output from the signal processing unit 6 to the light transmission optical system 7, a laser beam based on the transmission signal is emitted from a laser 7a provided in the light transmission optical system 7. .

【0017】その後、レーザ7aから出射されたレーザ
光が、ある対象物において反射すると、その反射光が受
光光学系1において受光される。
Thereafter, when the laser light emitted from the laser 7a is reflected by a certain object, the reflected light is received by the light receiving optical system 1.

【0018】受光光学系1において反射光が受光される
と、光学偏向用光学系5において、受光された光がウェ
ッジプリズム15,16の角度に基づいて偏向され、出
力される。
When the reflected light is received by the light receiving optical system 1, the received light is deflected by the optical deflecting optical system 5 based on the angles of the wedge prisms 15 and 16 and is output.

【0019】光学偏向用光学系5を通過した光はスリッ
ト部3,4を介して検知部2において受光されるが、こ
こで、スリット部3,4の動作について詳細に説明す
る。
The light that has passed through the optical deflecting optical system 5 is received by the detector 2 via the slits 3 and 4. Here, the operation of the slits 3 and 4 will be described in detail.

【0020】まず、スリット部3内に設けられているス
リット(不図示)が開放され、スリット部4内に設けら
れているスリット4aが、所定の幅を有し、かつスリッ
ト窓12(図2参照)の端部に位置するように設定され
る。
First, a slit (not shown) provided in the slit portion 3 is opened, and a slit 4a provided in the slit portion 4 has a predetermined width and a slit window 12 (FIG. 2). (See Reference).

【0021】この状態で検知部2において光が受光され
ると、その受光レベルが1番目のデータとして信号処理
部6に送られ、記憶される。
In this state, when light is received by the detection unit 2, the light reception level is sent to the signal processing unit 6 as first data and stored.

【0022】次に、信号処理部6の制御によってモータ
8,9が駆動し、それにより、シャッタ10,11が移
動して、それに伴ってスリット4aの位置が移動する。
Next, the motors 8 and 9 are driven by the control of the signal processing section 6, whereby the shutters 10 and 11 move, and the position of the slit 4a moves accordingly.

【0023】そして、この状態で検知部2において光が
受光されると、その受光レベルが2番目のデータとして
信号処理部6に送られ、記憶される。
When light is received by the detection unit 2 in this state, the light reception level is sent to the signal processing unit 6 as second data and stored.

【0024】このように、スリット部4内に設けられて
いるスリット4aがスリット窓12に対して最初に設定
された位置とは反対側の端部に位置するまで、2n回の
測定が繰り返し行われる。なお、スリット4aの幅とな
るシャッタ10とシャッタ11との間隔おいては、モー
タ8,9の駆動により一定となるように制御されてい
る。
As described above, 2n measurements are repeatedly performed until the slit 4a provided in the slit portion 4 is located at the end opposite to the position initially set with respect to the slit window 12. Will be The distance between the shutter 10 and the shutter 11, which is the width of the slit 4a, is controlled to be constant by driving the motors 8 and 9.

【0025】次に、スリット部4内に設けられているス
リット4aが開放され、スリット部3について上述した
ものと同様の測定が行われる。
Next, the slit 4a provided in the slit portion 4 is opened, and the same measurement as described above for the slit portion 3 is performed.

【0026】その後、信号処理部6において、記憶され
ているデータの比較が行われるが、信号処理部6におけ
るデータの比較においては、スリット部3,4のそれぞ
れにおいてスキャンされた2n個のデータについて、1
番目のデータと2n番目,2番目のデータと2n−1番
目のデータ,・・・・・,n番目のデータとn+1番目
のデータとが比較されるように行われる。
Thereafter, the stored data is compared in the signal processing unit 6. In the comparison of the data in the signal processing unit 6, the 2n data scanned in each of the slit units 3 and 4 are compared. , 1
The second data is compared with the 2nth data, the 2nd data and the 2n-1st data,..., The nth data and the (n + 1) th data are compared.

【0027】図5は、各測定ポイントに対して検知器か
ら出力される受光レベルを示す図であり、(a)は対称
性が満たされた場合における図、(b)は対称性が満た
されていない場合における図である。
FIGS. 5A and 5B are diagrams showing the received light level output from the detector at each measurement point. FIG. 5A shows a case where the symmetry is satisfied, and FIG. 5B shows a case where the symmetry is satisfied. FIG.

【0028】図5(a)に示すように各比較結果がそれ
ぞれ等しい場合、対称性が満たされたと判断され、光軸
調整が終了する。
When the comparison results are equal as shown in FIG. 5A, it is determined that the symmetry has been satisfied, and the optical axis adjustment ends.

【0029】また、図5(b)に示すように各比較結果
がそれぞれ等しくない場合、信号処理部6における制御
により、モータ13,14が駆動してウェッジプリズム
15,16が回転し、それにより、光軸偏向用光学系5
における偏向量が変えられて、上述した測定が繰り返し
行われる。
When the comparison results are not equal to each other, as shown in FIG. 5B, the motors 13 and 14 are driven by the control of the signal processing unit 6, and the wedge prisms 15 and 16 are rotated. , Optical axis deflection optical system 5
Is changed, and the above-described measurement is repeatedly performed.

【0030】ここで、ウェッジプリズム15,16にお
いては、まず、ウェッジプリズム15のみが所定の角度
ずつ回転し、それぞれの角度において上記測定が行われ
る。ウェッジプリズム15が360°回転した後におい
ても図5に示す対称性が満たされない場合、ウェッジプ
リズム16が所定の角度だけ回転し、その状態において
ウェッジプリズム15が所定の角度ずつ回転して測定が
行われる。
Here, in the wedge prisms 15 and 16, first, only the wedge prism 15 rotates by a predetermined angle, and the above measurement is performed at each angle. If the symmetry shown in FIG. 5 is not satisfied even after the wedge prism 15 rotates 360 °, the wedge prism 16 rotates by a predetermined angle, and in this state, the wedge prism 15 rotates by a predetermined angle to perform measurement. Will be

【0031】このようにして、図5に示す対称性が満た
されるまで、ウェッジプリズム15,16が回転し、測
定が行われる。
In this manner, the wedge prisms 15 and 16 are rotated and measurement is performed until the symmetry shown in FIG. 5 is satisfied.

【0032】上記測定が繰り返し行われ、図5に示す対
称性が満たされた後、すなわち、光軸調整が終了した
後、開口が塞がらないように、スリット部3,4内に設
けられているスリットが開放される。
After the above measurement is repeatedly performed and the symmetry shown in FIG. 5 is satisfied, that is, after the optical axis adjustment is completed, the openings are provided in the slit portions 3 and 4 so that the openings are not closed. The slit is opened.

【0033】上記のように構成された本形態において
は、2組のスリットを利用して検知部の出力がモニター
されることにより、その対称性から検知部の検知面の中
心からのずれを検出することができる。特に、送光側の
拡がり角と受光側の視野角が近い場合に、正確に光軸調
整を行うことができる。
In the present embodiment configured as described above, the output of the detection unit is monitored using two sets of slits, and a deviation from the center of the detection surface of the detection unit is detected based on the symmetry. can do. In particular, when the spread angle on the light-transmitting side is close to the viewing angle on the light-receiving side, the optical axis can be accurately adjusted.

【0034】(他の実施の形態)上述した実施の形態に
おいては、スリット部3を用いたx方向のスキャンと、
スリット部4を用いたy方向のスキャンとが別々に行わ
れているが、両者を同時に実行させることもできる。
(Other Embodiments) In the above-described embodiment, the scanning in the x direction using the slit portion 3 is performed.
Although the scanning in the y direction using the slit portion 4 is performed separately, both can be performed simultaneously.

【0035】その場合、スリット部3内に設けられてい
るスリットとスリット部4内に設けられているスリット
とにより矩形状の穴が形成され、この矩形状の穴を用い
てスキャンを行うことにより、検知部からの出力におい
て2次元分布が得られるので、短時間で精度良く光軸調
整を行うことができる。
In this case, a rectangular hole is formed by the slit provided in the slit 3 and the slit provided in the slit 4, and scanning is performed using the rectangular hole. Since a two-dimensional distribution is obtained in the output from the detection unit, the optical axis can be adjusted with high accuracy in a short time.

【0036】また、スリット間隔の設定により、視野を
絞るアイリスとしての役目も担うことができる。
The setting of the slit interval can also serve as an iris for narrowing the field of view.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように本発明においては、
スリットの位置の移動に対する受光レベルの対称性が満
たされるまで、すなわち、受光光学系における光軸が調
整されるまで、光軸偏向用光学系における偏向量が自動
的に順次変えられる構成としたため、測定装置を用いる
ことなく、受光光学系の光軸を調整することができ、そ
れにより、光軸調整を手間をかけずに行うことができ
る。
As described above, in the present invention,
Until the symmetry of the light receiving level with respect to the movement of the position of the slit is satisfied, that is, until the optical axis in the light receiving optical system is adjusted, the deflection amount in the optical axis deflection optical system is automatically and sequentially changed. The optical axis of the light receiving optical system can be adjusted without using a measuring device, so that the optical axis adjustment can be performed without trouble.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のレーザレーダの実施の一形態を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a laser radar according to the present invention.

【図2】図1に示すスリット部の構造を示す図であり、
(a)は断面図、(b)は正面図である。
FIG. 2 is a view showing a structure of a slit portion shown in FIG. 1,
(A) is a sectional view, and (b) is a front view.

【図3】図1に示す光軸偏向用光学系の構成を示す断面
図である。
FIG. 3 is a sectional view showing a configuration of an optical axis deflecting optical system shown in FIG. 1;

【図4】図1に示したレーザレーダの動作を説明するた
めのタイミングチャートである。
FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the laser radar shown in FIG.

【図5】各測定ポイントに対して検知器から出力される
受光レベルを示す図であり、(a)は対称性が満たされ
た場合における図、(b)は対称性が満たされていない
場合における図である。
5A and 5B are diagrams illustrating light receiving levels output from a detector for each measurement point, where FIG. 5A is a diagram when symmetry is satisfied, and FIG. 5B is a diagram when symmetry is not satisfied. FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 受光光学系 2 検知部 3,4 スリット部 4a スリット 5 光軸偏向用光学系 6 信号処理部 7 送光光学系 7a レーザ 8,9,13,14 モータ 10,11 シャッタ 12 スリット窓 15,16 ウェッジプリズム REFERENCE SIGNS LIST 1 light receiving optical system 2 detection unit 3, 4 slit unit 4 a slit 5 optical axis deflection optical system 6 signal processing unit 7 light transmission optical system 7 a laser 8, 9, 13, 14 motor 10, 11 shutter 12 slit window 15, 16 Wedge prism

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01S 7/48 - 7/51 G01S 17/00 - 17/95 G01S 11/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G01S 7/48-7/51 G01S 17/00-17/95 G01S 11/00

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 レーザ光を出射する送光光学系と、 該送光光学系から出射され、対象物において反射した反
射光を受光する受光光学系と、 前記送光光学系から出射されるレーザ光を制御するとと
もに、前記受光光学系の制御及び前記受光光学系におい
て受光された光に対する処理を行う信号処理部とを有
し、 前記受光光学系において受光された光の受光レベルに基
づいて前記受光光学系の光軸を自動調整するレーザレー
ダであって、 前記受光光学系は、 前記反射光を偏向させる光学偏向用光学系と、 所定の幅を具備するスリットを有し、該光学偏向用光学
系において偏向された光に対してスキャンを行うスリッ
ト部と、 該スリット部を介して受光される光の受光レベルを検出
する検知部とを有し、 前記信号処理部は、前記スリット部におけるスキャン動
作を制御するとともに、前記検知部において検出された
受光レベルに基づいて前記光学偏向用光学系における偏
向量を制御することを特徴とするレーザレーダ。
A light transmitting optical system that emits a laser beam; a light receiving optical system that receives light reflected from a target object that is emitted from the light transmitting optical system; and a laser that is emitted from the light transmitting optical system. And a signal processing unit that controls light, controls the light receiving optical system, and performs processing on the light received by the light receiving optical system, based on a light receiving level of the light received by the light receiving optical system. A laser radar for automatically adjusting an optical axis of a light receiving optical system, wherein the light receiving optical system has an optical deflecting optical system for deflecting the reflected light, and a slit having a predetermined width. A slit section that scans the light deflected in the optical system; and a detection section that detects a light receiving level of light received through the slit section. The signal processing section includes: You That controls the scanning operation, the laser radar and controlling the amount of deflection of the optical deflector optical system based on the light reception level detected in the detection portion.
【請求項2】 請求項1に記載のレーザレーダにおい
て、 前記信号処理部は、前記スリット部におけるスキャン動
作の度に前記検知部から入力される受光レベルをデータ
として記憶し、スキャン動作終了後に、記憶されている
データを比較することにより、前記光学偏向用光学系に
おける偏向量を制御することを特徴とするレーザレー
ダ。
2. The laser radar according to claim 1, wherein the signal processing unit stores a light receiving level input from the detection unit as data each time a scanning operation is performed in the slit unit, and after the scanning operation is completed, A laser radar, wherein the amount of deflection in the optical deflection optical system is controlled by comparing stored data.
【請求項3】 請求項2に記載のレーザレーダにおい
て、 前記スリット部は、 所定の幅を有するスリットを形成するシャッタと、 該シャッタを駆動するモータとを有し、 前記シャッタによって前記スリットの位置を変化させる
ことにより、スキャン動作を行うことを特徴とするレー
ザレーダ。
3. The laser radar according to claim 2, wherein the slit portion has a shutter that forms a slit having a predetermined width, and a motor that drives the shutter, and the position of the slit is determined by the shutter. A laser radar which performs a scanning operation by changing the value of.
【請求項4】 請求項3に記載のレーザレーダにおい
て、 前記光学偏向用光学系は、 前記反射光を偏向させる2つのウェッジプリズムと、 該ウェッジプリズムを回転させるためのモータとを有
し、 前記ウェッジプリズムが回転することによって前記偏向
量が変化することを特徴とするレーザレーダ。
4. The laser radar according to claim 3, wherein the optical deflecting optical system includes two wedge prisms for deflecting the reflected light, and a motor for rotating the wedge prism. A laser radar, wherein the amount of deflection changes as a wedge prism rotates.
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