[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP2858910B2 - Aluminum foil for electrolytic capacitor electrodes - Google Patents

Aluminum foil for electrolytic capacitor electrodes

Info

Publication number
JP2858910B2
JP2858910B2 JP24493090A JP24493090A JP2858910B2 JP 2858910 B2 JP2858910 B2 JP 2858910B2 JP 24493090 A JP24493090 A JP 24493090A JP 24493090 A JP24493090 A JP 24493090A JP 2858910 B2 JP2858910 B2 JP 2858910B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aluminum foil
aluminum
particles
less
foil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP24493090A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04124240A (en
Inventor
雅司 坂口
忠雄 藤平
智明 山ノ井
真 谷尾
武 西崎
喬 田村
健司 御所名
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHOWA ARUMINIUMU KK
Original Assignee
SHOWA ARUMINIUMU KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHOWA ARUMINIUMU KK filed Critical SHOWA ARUMINIUMU KK
Priority to JP24493090A priority Critical patent/JP2858910B2/en
Publication of JPH04124240A publication Critical patent/JPH04124240A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2858910B2 publication Critical patent/JP2858910B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、電解コンデンサの電極用アルミニウム箔
に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an aluminum foil for an electrode of an electrolytic capacitor.

なお、この明細書において、合金成分についての
「%」は特に規定しないかぎり重量%を示すものとす
る。
In this specification, "%" for an alloy component indicates% by weight unless otherwise specified.

従来の技術 近時、電解コンデンサの小型軽量化の要請は益々強い
ものがあり、そのために静電容量の一層の向上をはかる
べく種々の検討が行われている。
2. Description of the Related Art In recent years, there has been an increasing demand for smaller and lighter electrolytic capacitors, and for that purpose, various studies have been made to further improve the capacitance.

電解コンデンサ電極用アルミニウム箔は、静電容量を
増大するために一般に電気的あるいは電気化学的なエッ
チングを施すことによって表面積を拡大して使用に供さ
れるが、この表面積の拡大率が静電容量に大きく影響す
ることは周知のとおりである。
Aluminum foil for an electrolytic capacitor electrode is generally used by increasing its surface area by performing electrical or electrochemical etching to increase the capacitance. It is well known that this has a significant effect.

そこで、従来、このエッチングによってなるべく大き
な拡面率が得られるものとするために、その電極用アル
ミニウム箔としては、純度99.98〜99.99%の高純度アル
ミニウムが用いられ、Fe、Siなどの不可避的に存在する
不純物についても、これを析出させることなく、できる
だけ固溶状態にするように製造上も配慮されている。即
ち、析出物の存在は、箔の過溶解現象を招き、静電容量
を低下させるのみならず、化成後の洩れ電流を増大させ
るところから、析出物の存在はむしろ有害なものとされ
てきた。
Therefore, conventionally, in order to obtain as large an area coverage as possible by this etching, high-purity aluminum having a purity of 99.98 to 99.99% has been used as the aluminum foil for the electrode, and inevitably Fe, Si, etc. Regarding existing impurities, consideration is also given to the production so as to make the solid solution as much as possible without precipitating them. That is, the presence of the precipitate causes the overdissolution phenomenon of the foil, and not only lowers the capacitance, but also increases the leakage current after the formation, and the presence of the precipitate has been regarded as rather harmful. .

発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記のような従来の基本的な考え方に
従って製造される電極用アルミニウム箔は、使用される
アルミニウム材料の純度、製法上の制約、強度保持等の
諸点から、その静電容量の増大をはかることに対して自
ずと限界があり、近時の更なる静電容量の向上をはかる
ことへの要請に対して必ずしも十分な満足が得られるも
のではなかった。
Problems to be Solved by the Invention However, the aluminum foil for an electrode manufactured according to the conventional basic concept as described above is, from the points of purity of the aluminum material used, restrictions on the manufacturing method, strength retention, etc. There is naturally a limit to increasing the capacitance, and it has not always been possible to obtain sufficient satisfaction with the recent demand for further increasing the capacitance.

本発明者らは、静電容量の一層の向上をはかるために
は、箔表面においてできるだけエッチングの開始点を増
やして、高密度にエッチングピットを発生せしめること
が有効であることに着目し、合金成分の及ぼす影響につ
いて種々研究を行った。
The present inventors have focused on the fact that it is effective to increase the starting point of etching as much as possible on the foil surface and generate etching pits with high density in order to further improve the capacitance. Various studies were conducted on the effects of the components.

その結果、合金成分の析出による析出粒子の存在は、
箔の過溶解現象の誘因になるという有害な一面を有する
のに対し、よく観察するとエッチングピットの数、密度
を増大していることを見出した。即ち、エッチング時に
おいて、上記析出物の存在は、それがエッチング核とし
て機能し、エッチングヒットの開始点が上記析出物粒子
の周りから、あるいは粒子そのものから発生しているも
のであることを知り得た。而して、析出物粒子の存在に
よって箔に過溶解現象を生じるのは、該析出物粒子が箔
の内部にまで存在していることによるものであることが
判ってきた。
As a result, the presence of precipitated particles due to the precipitation of alloy components is
While having a detrimental surface that causes the overdissolution phenomenon of the foil, a close observation has revealed that the number and density of etching pits have increased. That is, at the time of etching, the presence of the precipitate can be known as that it functions as an etching nucleus, and the starting point of the etching hit originates from around the precipitate particle or from the particle itself. Was. Thus, it has been found that the cause of the overdissolution phenomenon in the foil due to the presence of the precipitate particles is that the precipitate particles exist inside the foil.

課題を解決するための手段 この発明は、上記のような知見に基いて、析出粒子の
形成要素としてアルミニウム中に含まれる鉄(Fe)およ
びマグネシウム(Mg)あるいは更にけい素(Si)を利用
し、Al−Fe系、Al−Mg系、あるいは更にMg−Si系等の金
属間化合物による微細な析出粒子を箔の表面層のみに分
散状に存在せしめることで、エッチングの開始点となる
核を増やし、内部には、析出粒子を極めて少ないものに
するか、望ましくは存在しないものとすることによっ
て、エッチングピットの数を増大しつゝ、箔の過溶解を
防止し、もって静電容量の一層の向上をはかることに成
功をおさめ得たものである。
Means for Solving the Problems Based on the above findings, the present invention utilizes iron (Fe) and magnesium (Mg) or even silicon (Si) contained in aluminum as a forming element of precipitated particles. , Al-Fe-based, Al-Mg-based, or even Mg-Si-based by dispersing fine precipitate particles by intermetallic compounds and the like only in the surface layer of the foil, the nucleus serving as the starting point of etching The number of etched pits is increased by increasing the number of precipitated particles in the inside to make the number of etched pits extremely small or desirably absent, thereby preventing the foil from being excessively melted, thereby further increasing the capacitance. It was a success in trying to improve the quality.

従って、この発明に係る電解コンデンサ電極用アルミ
ニウム箔は、厚さ10μm以下の2つの表面層と、それら
の間に介在された1つの内層とを有し、上記表面層は、
Fe:0.001〜0.3%及びMg:0.05〜0.5%を含有して残部ア
ルミニウム及び不可避不純物からなり、かつ平均粒子径
10μm以下のAl−Fe系及びAl−Mg系の金属間化合物粒子
が分散され、前記内層は、Fe、Si、Cuの含有量がそれぞ
れ0.01%以下に規制された高純度アルミニウムからな
り、かつFe及びSiの析出量がそれらの含有量の20%以下
であることを特徴とするものである。
Therefore, the aluminum foil for an electrolytic capacitor electrode according to the present invention has two surface layers having a thickness of 10 μm or less and one inner layer interposed between the two surface layers.
Fe: 0.001 to 0.3% and Mg: 0.05 to 0.5%, the balance consisting of aluminum and unavoidable impurities, and average particle size
Al-Fe-based and Al-Mg-based intermetallic compound particles of 10 μm or less are dispersed, and the inner layer is made of high-purity aluminum in which the contents of Fe, Si, and Cu are each regulated to 0.01% or less, and Fe And the precipitation amount of Si is not more than 20% of their content.

表面層中には、上記Fe、Mgのほかに更にSi:0.01〜0.5
%を含有し、これによって表面層中に微細な析出Si粒
子、及びMg2Si粒子を分散せしめるものとしても良い。
In the surface layer, in addition to the above Fe and Mg, further Si: 0.01 to 0.5
%, Whereby fine precipitated Si particles and Mg 2 Si particles may be dispersed in the surface layer.

また内層は、エッチングピットのトンネル状の成長を
助長するために、ミラー指数(100)面結晶の占有率が8
0%以上であるものとすることが好ましい。
In order to promote the tunnel-like growth of the etching pit, the inner layer has a Miller index (100) plane occupancy of 8%.
Preferably, it is 0% or more.

以下、この発明の構成事項について更に詳しく説明す
る。
Hereinafter, the components of the present invention will be described in more detail.

先ず、表面層においてその厚さが10μm以下に規制さ
れるのは、電解コンデンサ電極用アルミニウム箔の全体
厚さが一般に概ね75〜100μm程度に形成されることゝ
の関係で、上記表面層厚さを全体厚さの10%程度以下の
ものとし、エッチング時における腐食減量を減らし、箔
強度の著しい低下を防止するためである。即ち、表面層
にはFe、Mg、あるいは更にSiが含有されることゝの関係
で、エッチング時の表面溶解が進行し易いことから、該
表面層をエッチングピットの開始点を増やすことの目的
に主として利用し、該ピットを深く、太くトンネル状に
成長させるのは専らに内層に依存せしめるものとするの
が有利であるからである。従って表面層の厚さは、少な
くとも10μm以下でないと効果がなく、望ましくは5μ
m以下にすべきである。
First, the reason why the thickness of the surface layer is regulated to 10 μm or less is that the overall thickness of the aluminum foil for the electrolytic capacitor electrode is generally formed to about 75 to 100 μm. Is about 10% or less of the total thickness to reduce the corrosion loss at the time of etching and prevent a remarkable decrease in foil strength. In other words, since the surface layer contains Fe, Mg, or further Si, the surface dissolution at the time of etching is easy to progress because of the relationship (1), so that the surface layer is used for the purpose of increasing the starting point of the etching pit. It is mainly used to grow the pits deeply and thickly in a tunnel shape, because it is advantageous to rely solely on the inner layer. Therefore, the thickness of the surface layer is ineffective unless it is at least 10 μm or less, preferably 5 μm.
m or less.

また、表面層はFe:0.001〜0.3%及びMg:0.05〜0.5%
を含有し、Al−Fe系及びAl−Mg系金属間化合物を析出せ
しめるものとし、その析出粒子を全体に分散せしめるも
のとする。これらの金属間化合物は、アルミニウムより
電位的に貴であり、エッチング開始点を形成するのに有
利である。しかしながら、その粒子径が10μmをこえる
と、局部的に表面溶解が起こり、静電容量を低下する。
好ましくは平均粒子径で5μm以下、更に好ましくは0.
1〜1.0μmの小さい粒子が大部分を占めて、それが表面
層の全体に均一に分散しているものであることが望まし
い。Feの含有量においてそれが0.001%未満及びMgの含
有量においてそれが0.05%未満では、上記金属間化合物
粒子の生成が難しく、またFe:0.3%、Mg:0.5%を超える
と粒子径が10μmより大きな粒子ができるので好ましく
ない。またとくにMg過多の場合、その酸化物の影響でも
溶解が起り易いものとなる。望ましくはFe:0.003〜0.05
%程度、Mg:0.1〜0.3%程度の含有量とするのが良い。
The surface layer is Fe: 0.001-0.3% and Mg: 0.05-0.5%
To precipitate Al-Fe-based and Al-Mg-based intermetallic compounds, and to disperse the precipitated particles throughout. These intermetallic compounds are more noble in potential than aluminum and are advantageous for forming an etching starting point. However, when the particle diameter exceeds 10 μm, local surface melting occurs, and the capacitance is reduced.
The average particle diameter is preferably 5 μm or less, more preferably 0.1 μm.
It is desirable that the small particles of 1 to 1.0 μm occupy the majority and that they are uniformly dispersed throughout the surface layer. If the Fe content is less than 0.001% and the Mg content is less than 0.05%, it is difficult to form the above-mentioned intermetallic compound particles, and if the content exceeds Fe: 0.3% and Mg: 0.5%, the particle size becomes 10 μm. It is not preferable because larger particles are formed. In particular, when the content of Mg is excessive, dissolution is likely to occur even under the influence of the oxide. Desirably Fe: 0.003-0.05
%, Mg: 0.1 to 0.3%.

表面層中には、更に好ましくはSiを0.01〜0.5%含有
することが許容される。このSiの含有は、Al−Fe系、Al
−Mg系金属間化合物のほかに、更に析出Si、Mg2Si等の
粒子を生成し、これを表面層中に分散して更にエッチン
グピットの開始点を増やすのに有効に作用する。Siの含
有量が0.01%未満ではこの効果に乏しく、0.5%を超え
ると、粒子径が10μmより大きな粒子が形成され、また
箔圧延性が悪くなる。従って、最も好適とするSiの含有
量は0.03〜0.2%程度である。
More preferably, 0.01 to 0.5% of Si is allowed in the surface layer. The content of this Si is Al-Fe based, Al
In addition to the Mg-based intermetallic compound, particles of precipitated Si, Mg 2 Si, etc. are generated and dispersed in the surface layer, which effectively acts to further increase the starting points of etching pits. If the Si content is less than 0.01%, this effect is poor, and if it exceeds 0.5%, particles having a particle diameter of more than 10 μm are formed, and the foil rollability deteriorates. Therefore, the most preferable Si content is about 0.03 to 0.2%.

内層は、前述のように表面層によって高密度に形成さ
れるエッチングピットを、更に深くトンネル状に進行さ
せ、拡面率を増大すると共に、過溶解を防止するもので
ある。従ってAl純度を高いものとし、含有不純物を少な
くして析出粒子が少ない状態にするか、望ましくは析出
粒子が存在しない状態のものとすることが必要である。
そのために、不可避的に含有される不純物としてのFe、
Si、及びCuの含有量は、いずれも0.01%以下であること
が必要であり、また特にFe、Siの析出量が含有量の20%
以下に規制されなければならない。いずれも上記上限値
をこえてFe、Si、Cuを過多に含有し、Fe、Siの析出量が
増えると、過溶解現象につながり、静電容量の低下を招
く。なお、Cuは、固溶限が大きいので、上記含有量の範
囲では析出量の点は格別問題にならない。その他の不純
物、例えばMn、Mg、Cr、Pbは、それぞれ0.005%以下、Z
n、Gaは0.01%以下の程度であれば、それらの含有が許
容される。
The inner layer, as described above, allows the etching pits formed by the surface layer to have a high density to progress deeper in a tunnel-like manner, thereby increasing the area coverage and preventing overdissolution. Therefore, it is necessary to increase the Al purity and reduce the content of impurities to reduce the number of precipitated particles, or desirably, to a state in which no precipitated particles are present.
Therefore, Fe as an unavoidable impurity,
The content of each of Si and Cu needs to be 0.01% or less, and particularly, the precipitation amount of Fe and Si is 20% of the content.
The following must be regulated: All of them exceed the above upper limit and contain excessive amounts of Fe, Si, and Cu, and when the amount of precipitation of Fe and Si increases, this leads to an over-dissolution phenomenon, which leads to a decrease in capacitance. In addition, since Cu has a large solid solubility limit, the amount of precipitation does not become a particular problem in the above content range. Other impurities, for example, Mn, Mg, Cr, Pb are each 0.005% or less, Z
As long as n and Ga are not more than 0.01%, their content is acceptable.

また、内層は、エッチングピットをトンネル状に進行
させて表面積を大きくるために、その結晶組織において
ミラー指数(100)面結晶の占有率を高いものとするこ
とが望ましい。即ち、該(100)面結晶占有率を少なく
とも全体の80%以上、望ましくは90%以上とするのが良
い。
In addition, in order to increase the surface area of the inner layer by causing the etching pits to progress in a tunnel shape, it is desirable that the crystal structure has a high occupancy of the Miller index (100) plane crystal. That is, the (100) plane crystal occupancy is preferably at least 80% or more, and more preferably 90% or more.

この発明に係る上記3層構成の電解コンデンサ電解箔
の製造は、表面層及び内層の構成材料を各別に製作し、
それらを熱間圧延によって圧着したのち、冷間圧延、及
び要すれば中間焼鈍を介在させて箔圧延を行い、所定厚
みに製造する。そして、最終焼鈍を施すことによって、
Al−Fe系金属間化合物等の粒子の析出状態を前記の所定
範囲にコントロールし、更に該高温処理後低温の時効処
理を施すことによってAl−Mg系析出物、Mg2Si等の粒子
を分散せしめるものとすることによって最も簡易に製造
しうる。しかし、この発明のアルミニウム箔は、上記の
製法に限定されるものではなく、例えば表面層と内層の
材料を各別に製造し、最終工程で両者を貼合わせる方法
によって製造するものとしても良い。
In the production of the electrolytic capacitor electrolytic foil having the three-layer structure according to the present invention, the constituent materials of the surface layer and the inner layer are separately manufactured,
After they are press-bonded by hot rolling, cold rolling and, if necessary, intermediate annealing are performed to perform foil rolling to produce a predetermined thickness. And by performing the final annealing,
By controlling the precipitation state of particles such as Al-Fe intermetallic compound within the above-mentioned predetermined range, and further performing aging treatment at a low temperature after the high-temperature treatment, the particles such as Al-Mg-based precipitates and Mg 2 Si are dispersed. The simplest production is possible by making it strict. However, the aluminum foil of the present invention is not limited to the above-described manufacturing method. For example, the aluminum foil may be manufactured by a method in which the materials for the surface layer and the inner layer are separately manufactured, and both are bonded in the final step.

表面層の構成材料の製造において、該層中での有害な
粗大な金属粒子は鋳造凝固時に生成することが多い。従
って、この粗大粒子の生成を回避するために、特に含有
Fe量が比較的多い場合には殊更、表面層材料スラブを冷
却速度10℃/sec以上の急冷凝固法の採用によって過飽和
固溶体に製作することが望ましい。
In the production of surface layer components, harmful coarse metal particles in the layer are often generated during casting solidification. Therefore, in order to avoid the formation of coarse particles,
When the amount of Fe is relatively large, it is particularly desirable to manufacture the surface layer material slab into a supersaturated solid solution by employing a rapid solidification method at a cooling rate of 10 ° C./sec or more.

発明の効果 この発明のアルミニウム箔によれば、従来の一般的な
純度99.98〜99.99%の高純度アルミニウムによる単層箔
として製造されるコンデンサ電極用アルミニウム箔に較
べ、エッチングによるトンネル状ピットの数を増大し、
静電容量を更に一層優れたものとすることができ、ひい
ては電解コンデンサの軽量小型化の要請に一段と好適に
対応しうる。
According to the aluminum foil of the present invention, the number of tunnel-like pits formed by etching is smaller than that of a conventional aluminum foil for a capacitor electrode manufactured as a single-layer foil made of high-purity aluminum having a general purity of 99.98 to 99.99%. Increase,
The capacitance can be further improved, and the demand for a lighter and smaller electrolytic capacitor can be more suitably met.

実施例 (実施例1〜7、比較例1〜3) Fe、Mg、及びSiをそれぞれ第1表に示す各種の割合に
含有し、その他痕跡量の不可避不純物を含む高純度アル
ミニウムを用い、半連続鋳造法及び一部のものは冷却速
度30℃/secの急冷凝固法によってそれぞれ各種の表面層
用アルミニウムスラブを製造した。そしてこれらのスラ
ブを熱間圧延し、厚さ5mmの表面層用シートに製造し
た。
Examples (Examples 1 to 7, Comparative Examples 1 to 3) Using high-purity aluminum containing Fe, Mg, and Si in various proportions shown in Table 1 and other trace amounts of inevitable impurities, Various aluminum slabs for the surface layer were manufactured by the continuous casting method and, in some cases, the rapid solidification method at a cooling rate of 30 ° C./sec. These slabs were hot-rolled to produce a surface layer sheet having a thickness of 5 mm.

一方、Fe:0.001%、Si:0.001%、Cu:0.004%を含有す
る純度99.99%、厚さ300mmのアルミニウムスラブを、60
0℃×20時間均質化処理して内層用材料とした。
On the other hand, an aluminum slab with a purity of 99.99% and a thickness of 300 mm containing 0.001% of Fe, 0.001% of Si and 0.004% of Cu,
It was homogenized at 0 ° C. for 20 hours to obtain an inner layer material.

そして、上記内層用材料の両面に表面層用シートを重
ね、熱間圧延にて圧着させたのち、冷間圧延、及び箔圧
延を行って厚さ0.1mmのアルミニウム・クラッド箔と
し、これを真空下に500℃×5時間最終焼鈍し更に200℃
×30時間の人工時効処理を施して各種のアルミニウム箔
試料を得た。
Then, a sheet for the surface layer is superimposed on both surfaces of the material for the inner layer, and after being pressed by hot rolling, cold rolling and foil rolling are performed to obtain an aluminum clad foil having a thickness of 0.1 mm. Final annealing at 500 ℃ for 5 hours and further at 200 ℃
Various aluminum foil samples were obtained by performing an artificial aging treatment for 30 hours.

上記によって得られた各種試料は、いずれも表面層の
厚さが約1.6μmであり、内層の(100)面結晶占有率は
85〜95%の範囲にあり、また内部のFe、Si、Cuの析出量
は含有量の10%以下であった。また、表面層中の析出粒
子の大きさは、第1表に示すとおりであった。
In each of the various samples obtained above, the thickness of the surface layer was about 1.6 μm, and the (100) plane crystal occupancy of the inner layer was
It was in the range of 85-95%, and the precipitation amount of Fe, Si, and Cu inside was 10% or less of the content. The size of the precipitated particles in the surface layer was as shown in Table 1.

そこで、上記各種の試料につき、次の条件にて電解エ
ッチング及び化成を行った。
Therefore, the various samples were subjected to electrolytic etching and chemical formation under the following conditions.

〔電解エッチング条件〕[Electrolytic etching conditions]

電解液 :4%塩酸水溶液 液 温:70℃ 電流密度:17A/dm2 時 間:6分間 〔化学条件〕 化成液:ホウ酸20g/+ホウ酸アンモニウム20g/ 液 温:20±5℃ 電流密度:1200mA/dm2 化成電圧:350V そして、上記各試料の静電容量を調べた。その結果を
従来箔との対比において第1表に併記する。
Electrolyte: 4% aqueous hydrochloric acid solution Temperature: 70 ° C Current density: 17 A / dm 2 hours: 6 minutes [Chemical conditions] Chemical solution: boric acid 20 g / + ammonium borate 20 g / solution Temperature: 20 ± 5 ° C Current density : 1200 mA / dm 2 Formation voltage: 350 V Then, the capacitance of each of the samples was examined. The results are shown in Table 1 in comparison with the conventional foil.

尚、従来箔は、上記実施例の内層用アルミニウム材料
と同一組成の高純度アルミニウムを用い、均質化処理、
熱間圧延、箔圧延、最終焼鈍(真空中480℃×5時間)
の順次的実施により厚さ0.1mmの単層箔に製造したもの
であり、(100)面結晶占有率95%のものである。
The conventional foil is made of high-purity aluminum having the same composition as the aluminum material for the inner layer of the above embodiment,
Hot rolling, foil rolling, final annealing (480 ° C x 5 hours in vacuum)
Was manufactured into a single-layer foil having a thickness of 0.1 mm, and the (100) plane crystal occupation ratio was 95%.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 谷尾 真 大阪府堺市海山町6丁224番地 昭和ア ルミニウム株式会社内 (72)発明者 西崎 武 大阪府堺市海山町6丁224番地 昭和ア ルミニウム株式会社内 (72)発明者 田村 喬 大阪府堺市海山町6丁224番地 昭和ア ルミニウム株式会社内 (72)発明者 御所名 健司 大阪府堺市海山町6丁224番地 昭和ア ルミニウム株式会社内 (56)参考文献 特開 昭59−65424(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) C22C 21/00 - 21/18 H01G 9/04──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Makoto Tanio, Inventor: 6,224, Kaiyamacho, Sakai City, Osaka Prefecture (72) Inventor: Takeshi Nishizaki 6,224, Kaiyamacho, Sakai City, Osaka Prefecture: Aluminum Showa Inside (72) Inventor Takashi Tamura 6,224 Kaiyamacho, Sakai City, Osaka Prefecture Inside Showa Aluminum Co., Ltd. (72) Inventor's name Kenji 6,224 Kaiyamacho, Sakai City, Osaka Prefecture Inside Showa Aluminum Co., Ltd. (56) References JP-A-59-65424 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) C22C 21/00-21/18 H01G 9/04

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】厚さ10μm以下の2つの表面層と、それら
の間に介在された1つの内層とを有し、 上記表面層は、Fe:0.001〜0.3%及びMg:0.05〜0.5%を
含有して残部アルミニウム及び不可避不純物からなり、
かつ平均粒子径10μm以下のAl−Fe系及びAl−Mg系の金
属間化合物粒子が分散され、 前記内層は、Fe、Si、Cuの含有量がそれぞれ0.01%以下
に規制された高純度アルミニウムからなり、かつFe及び
Siの析出量がそれらの含有量の20%以下であることを特
徴とする電解コンデンサ電極用アルミニウム箔。
(1) It has two surface layers having a thickness of 10 μm or less and one inner layer interposed therebetween, wherein the surface layer contains Fe: 0.001 to 0.3% and Mg: 0.05 to 0.5%. Containing aluminum and inevitable impurities,
In addition, Al-Fe-based and Al-Mg-based intermetallic compound particles having an average particle diameter of 10 μm or less are dispersed, and the inner layer is made of high-purity aluminum in which the contents of Fe, Si, and Cu are each regulated to 0.01% or less. And Fe and
An aluminum foil for an electrolytic capacitor electrode, wherein the amount of Si deposited is 20% or less of the content thereof.
【請求項2】表面層は、更にSi:0.01〜0.5%を含有し、
平均粒子径10μm以下の析出Si粒子及びMg2Si粒子が分
散されてなる請求項(1)記載の電解コンデンサ電極用
アルミニウム箔。
2. The surface layer further contains Si: 0.01 to 0.5%,
The average particle diameter of 10μm following claims precipitation Si particles and Mg 2 Si particles dispersed (1) aluminum foil for electrolytic capacitor electrodes as claimed.
【請求項3】内層のミラー指数(100)面結晶占有率が8
0%以上である請求項(1)または(2)記載の電解コ
ンデンサ電極用アルミニウム箔。
3. The crystal occupation ratio of the Miller index (100) plane of the inner layer is 8
The aluminum foil for an electrolytic capacitor electrode according to claim 1 or 2, wherein the aluminum foil is at least 0%.
JP24493090A 1990-09-14 1990-09-14 Aluminum foil for electrolytic capacitor electrodes Expired - Fee Related JP2858910B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24493090A JP2858910B2 (en) 1990-09-14 1990-09-14 Aluminum foil for electrolytic capacitor electrodes

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24493090A JP2858910B2 (en) 1990-09-14 1990-09-14 Aluminum foil for electrolytic capacitor electrodes

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04124240A JPH04124240A (en) 1992-04-24
JP2858910B2 true JP2858910B2 (en) 1999-02-17

Family

ID=17126084

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24493090A Expired - Fee Related JP2858910B2 (en) 1990-09-14 1990-09-14 Aluminum foil for electrolytic capacitor electrodes

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2858910B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NZ270219A (en) * 1993-12-23 1997-03-24 Mintek Spark plug electrode of intermetallic compound

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04124240A (en) 1992-04-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4677505B1 (en) Cu-Ni-Si-Co-based copper alloy for electronic materials and method for producing the same
KR20110069893A (en) Aluminum alloy foil for current collector and method for producing the same
JP3370246B2 (en) Aluminum alloy and foil for high pressure anode of electrolytic capacitor
JP2009081110A (en) Aluminum alloy foil for current collector
JP4198584B2 (en) Aluminum foil for electrolytic capacitor and manufacturing method thereof
JP2666912B2 (en) Aluminum alloy for electrolytic capacitor electrode foil
JP3480210B2 (en) Aluminum alloy for electrolytic capacitor anode
JP2858910B2 (en) Aluminum foil for electrolytic capacitor electrodes
JP2858909B2 (en) Aluminum foil for electrolytic capacitor electrodes
JP3731094B2 (en) Aluminum alloy foil for electrolytic capacitor anode
JP2651931B2 (en) Aluminum alloy foil for cathode of electrolytic capacitor and method for producing the same
JP3043029B2 (en) Al alloy foil for Al electrolytic capacitor cathode
JP3306585B2 (en) Cu alloy rolled sheet with fine crystals and precipitates and low distribution ratio
JP4916605B2 (en) Aluminum material for electrolytic capacitor electrode, aluminum foil, and method for producing aluminum foil
JPH03122239A (en) Aluminum alloy for cathode foil of electrolytic capacitor
JP4582627B2 (en) Aluminum alloy foil for electrolytic capacitor cathode
JP3244131B2 (en) Aluminum alloy foil for electrolytic capacitor electrode and method for producing the same
JP3699146B2 (en) Aluminum alloy foil for electrolytic capacitor cathode
JP4539911B2 (en) Aluminum foil for electrode capacitor anode and manufacturing method thereof
JPH0251212A (en) Electrolytic capacitor anode aluminum alloy foil and its production
JP2709406B2 (en) Aluminum alloy foil for cathode of electrolytic capacitor and method for producing the same
JP2878487B2 (en) Aluminum alloy for cathode foil of electrolytic capacitor
JP2002206128A (en) Aluminum-clad material, and aluminum foil for electrolytic capacitor electrode
JP3203678B2 (en) Method for producing aluminum alloy foil for cathode of electrolytic capacitor
JP3312913B2 (en) Aluminum foil for electrode of electrolytic capacitor

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees