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JP2678386B2 - Position detection device - Google Patents

Position detection device

Info

Publication number
JP2678386B2
JP2678386B2 JP18916589A JP18916589A JP2678386B2 JP 2678386 B2 JP2678386 B2 JP 2678386B2 JP 18916589 A JP18916589 A JP 18916589A JP 18916589 A JP18916589 A JP 18916589A JP 2678386 B2 JP2678386 B2 JP 2678386B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scale
pitch
phase
amount
absolute position
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP18916589A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0353113A (en
Inventor
陽 氷室
雅昭 久須美
Original Assignee
ソニー・プレシジョン・テクノロジー株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ソニー・プレシジョン・テクノロジー株式会社 filed Critical ソニー・プレシジョン・テクノロジー株式会社
Priority to JP18916589A priority Critical patent/JP2678386B2/en
Publication of JPH0353113A publication Critical patent/JPH0353113A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2678386B2 publication Critical patent/JP2678386B2/en
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Optical Transform (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば工作機械や精密測長測角装置に使用
して好適な位置検出装置に関する。
The present invention relates to a position detection device suitable for use in, for example, a machine tool or a precision length measuring and angle measuring device.

〔発明の概要〕[Summary of the Invention]

本発明は、例えば工作機械や精密測長測角装置に使用
して好適な位置検出装置において、ピッチλの第1の
目盛、ピッチλ(λ≠λ)の第2の目盛及びピッ
チλ1/m(mは2以上の整数)の第3の目盛が平行に形
成されたスケールと、それら第1、第2及び第3の目盛
を夫々読取って位相検出信号を生成する第1、第2及び
第3の検出器を有しそのスケールに対して相対変位自在
に配設された検出ヘッドと、それら3種類の位相検出信
号よりそれら第1の目盛と第2の目盛との位相差、その
第1の目盛の位相量及びその第3の目盛の位相量を検出
する位相検出回路とを設け、その位相差よりその第1の
目盛の絶対位置をピッチλ単位で求めると共にその第
1の目盛の位相量よりこの第1の目盛のピッチλの中
におけるその第3の目盛の絶対位置をピッチλ1/m単位
で求めることにより、そのスケールとその検出ヘッドと
の相対変位量を絶対位置として検出することにより、高
い分解能で長尺の絶対位置検出ができる様にしたもので
ある。
The present invention is, for example, in a suitable position detection device used in machine tools and precision measuring angle measuring device, a first scale pitch lambda 1, the pitch λ 2 (λ 2 ≠ λ 1 ) second scale and A scale in which a third scale having a pitch λ 1 / m (m is an integer of 2 or more) is formed in parallel, and a first scale that reads the first scale, the second scale, and the third scale to generate a phase detection signal. , A detection head having second and third detectors and arranged so as to be displaceable relative to the scale, and the positions of the first scale and the second scale based on the three types of phase detection signals. A phase detection circuit that detects the phase difference, the phase amount of the first scale and the phase amount of the third scale is provided, and the absolute position of the first scale is obtained from the phase difference in units of pitch λ 1 and Based on the phase amount of the first scale, the third scale in the pitch λ 1 of the first scale By obtaining the absolute position of the scale in units of pitch λ 1 / m and detecting the relative displacement of the scale and its detection head as an absolute position, it is possible to detect a long absolute position with high resolution. It is a thing.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

工作機械等においては例えば加工具の送り量を検出す
るために、一方の部材に周期的なパターンの目盛が形成
されたスケールを配し、他方の部材にその目盛をセンサ
により読取って周期的な電気信号を生成する検出器を配
し、その電信号をパルス化して積算計数することにより
それら一方の部材と他方の部材との相対変位量を測定で
きるようにした所謂インクリメンタル(incremental)
方式の変位検出装置が使用されている。しかしながら、
この種のインクリメンタル方式の変位検出装置では次の
ような欠点がある。
In a machine tool or the like, for example, in order to detect the feed amount of a processing tool, one member is provided with a scale on which a periodic pattern of scales is formed, and the other member is read by a sensor to periodically measure the scale. A detector that generates an electrical signal is arranged, and the amount of relative displacement between the one member and the other member can be measured by pulsing the electric signal and integrating and counting the so-called incremental.
Type displacement detection device is used. However,
This type of incremental displacement detector has the following drawbacks.

例えば作業を中断して電源を切った後や停電事故の
後に作業を再開するような場合には、その積算計数値が
失われているので別途設けた原点設定器によって座標系
の原点設定作業(イニシャライズ)を行う必要がある。
即ち、作業性に劣る。
For example, when the work is interrupted, the power is turned off, or the work is resumed after a power failure, the accumulated count value is lost. (Initialize).
That is, the workability is poor.

他の工作機械等からのノイズにより作業の途中で一
度でも誤計数が発生するそれ以後のその積算計数値は全
て誤りとなってしまうため、再びイニシャライズが必要
となる。即ち、耐ノイズ性に劣る。
Noise from other machine tools or the like causes an erroneous count even once during the work, and all the accumulated count values thereafter are erroneous, so initialization is required again. That is, the noise resistance is poor.

計数パルスを常時計数する方式であるため応答速度
が制限される。
The response speed is limited because the counting pulse is always counted.

上述の〜の欠点を全て解消するために、相対変位
する二部材の一方の部材に或る原点からの絶対位置を示
す非周期的なパターンの目盛が形成されたスケールを配
し、他方の部材にその目盛を読取るセンサを有する検出
器を配し、それら二部材間を相対変位量をそのスケール
上の原点からの絶対位置として検出するようにした所謂
アブソリュート(absolute)方式の位置検出装置が各種
提案されている。
In order to eliminate all of the above-mentioned disadvantages (1) to (4), a scale having an aperiodic pattern graduation indicating an absolute position from a certain origin is arranged on one member of the two members which are relatively displaced, and the other member is arranged. There are various position detection devices of the so-called absolute type, in which a detector having a sensor for reading the scale is arranged and the relative displacement between these two members is detected as an absolute position from the origin on the scale. Proposed.

第3図は特公昭50−23618号公報にて開示されている
従来の磁気式のアブソリュート方式の位置検出装置を示
し、この第3図において、(1)は磁性材より成るスケ
ールであり、このスケール(1)にはピッチλの磁気
目盛(2)及びピッチλ(λ<λ)の磁気目盛
(3)が平行に形成されている。また、(4A)及び(4
B)は夫々磁気目盛(2)を読取るための一対の磁束応
答型の磁気ヘッド、(5)は1ピッチλ内の位相θ
(絶対位置)を検出するための位相検出回路、(6A)及
び(6B)は夫々磁気目盛(3)を読取るための一対の磁
束応答型の磁気ヘッド、(7)は1ピッチλ内の位相
θを検出するための位相検出回路を示す。
FIG. 3 shows a conventional magnetic absolute position detecting device disclosed in Japanese Examined Patent Publication No. 50-23618. In FIG. 3, (1) is a scale made of a magnetic material. A magnetic scale (2) with a pitch λ 1 and a magnetic scale (3) with a pitch λ 221 ) are formed in parallel on the scale ( 1 ). (4A) and (4
B) The magnetic head of the pair of magnetic flux response type for reading the respective magnetic scale (2), (5) the phase theta 1 in one pitch lambda 1
Phase detection circuit for detecting the (absolute position), (6A) and (6B) of the pair of magnetic flux response type magnetic head for reading the respective magnetic scale (3), (7) within one pitch lambda 2 showing a phase detection circuit for detecting the phase theta 2.

位相検出回路(5)から磁気ヘッド(4A)及び(4B)
に対しては定数A及び励磁周波数f/2を用いて夫々次の
式で表わされる励磁信号IA及びIBが供給される。
From phase detection circuit (5) to magnetic heads (4A) and (4B)
Is the excitation signal I A and I B of the formula each follows using constants A and the excitation frequency f / 2 is supplied for.

IA=Acosπft ‥‥(1) IB=Acos(πft+π/4) ‥‥(2) また、磁気ヘッド(4A)と磁気ヘッド(4B)との間隔
を(n+1/4)λ(nは整数)、それら磁気ヘッド(4
A)及び(4B)とスケール(1)との磁気目盛(2)及
び(3)の左端を原点とした相対変位量(絶対位置)を
xとすると、磁気ヘッド(4A)及び(4B)からは定数A1
を用いて夫々次の式で表わされる位相検出信号KA及びKB
が位相検出回路(5)へ供給される。
I A = Acos πft ··· (1) I B = Acos (πft + π / 4) ··· (2) In addition, the distance between the magnetic head (4A) and the magnetic head (4B) is (n + 1/4) λ 1 (n is Integer), those magnetic heads (4
Assuming that the relative displacement (absolute position) of the magnetic scales (2) and (3) of the magnetic scales (A) and (4B) and the scale (1) with the left end as the origin is x, the magnetic heads (4A) and (4B) Is the constant A 1
And the phase detection signals K A and K B represented by the following equations, respectively.
Is supplied to the phase detection circuit (5).

KA=A1sin(2πx/λ)cos2πft ‥‥(3) KB=A1cos(2πx/λ)sin2πft ‥‥(4) そして、位相検出回路(5)においてはそれら位相検
出信号KAとKBとを加算して変位信号dを形成し、 d=KA+KB =A1sin(2πft+2πx/λ) =A1sin(2πft+θ) ‥‥(5) θ=2πx/λ ‥‥(6) この変位信号dの位相量θ(0〜2π)を測定す
る。この位相量θと変位量xとの関係は第4図Aに示
す如くなり、例えば位相量θがπの場合にはその変位
量xがx0,x1,x2,x3‥‥のいずれなのかの判別はできな
いが、磁気目盛(2)の1ピッチλの範囲内では位相
量θが0〜2πの或る値をとるため、その変位量xを
絶対位置として検出することができる。
K A = A 1 sin (2πx / λ 1 ) cos2πft ··· (3) K B = A 1 cos (2πx / λ 1 ) sin2πft ··· (4) And the phase detection signals in the phase detection circuit (5) Displacement signal d is formed by adding K A and K B, and d = K A + K B = A 1 sin (2πft + 2πx / λ 1 ) = A 1 sin (2πft + θ 1 ) ... (5) θ 1 = 2πx / λ 1 (6) The phase amount θ 1 (0 to 2π) of this displacement signal d is measured. The relationship between the phase amount θ 1 and the displacement amount x is as shown in FIG. 4A. For example, when the phase amount θ 1 is π, the displacement amount x is x 0 , x 1 , x 2 , x 3 ... Although it is not possible to determine which of the two, the phase amount θ 1 takes a certain value from 0 to 2π within the range of one pitch λ 1 of the magnetic scale (2), so the displacement amount x is detected as an absolute position. can do.

同様に位相検出回路(7)においては第4図Bに示す
如く、変位量xについて周期λで0〜2πの値を採る
位相量θが測定される。従って、 θ=2πx/λ ‥‥(7) が成立している。
Similarly, as shown in FIG. 4B, the phase detection circuit (7) measures the phase amount θ 2 which takes a value of 0 to 2π in the period λ 2 for the displacement amount x. Therefore, θ 2 = 2πx / λ 2 (7) holds.

それら位相量θ及びθは絶対位置検出回路(8)
に供給され、この絶対位置検出回路(8)においては先
ず位相差Δθ(=θ−θ)が計算される。この位相
差Δθは式(6)及び(7)より次のように表わされ
る。
They phase amount theta 1 and theta 2 absolute position detection circuit (8)
The absolute position detection circuit (8) first calculates a phase difference Δθ (= θ 2 −θ 1 ). This phase difference Δθ is expressed as follows from equations (6) and (7).

Δθ=θ−θ =2πx(1/λ−1/λ) =2πx(λ−λ)/(λλ)‥‥(8) 更に、その式(8)より x=(Δθ/2π)λλ2/(λ−λ) ‥‥(9) となり、λ及びλは既知であるため、その絶対位置
検出回路(8)は式(9)よりその変位量xを計算して
表示器(9)へ供給する。この場合、 0≦Δθ<2π ‥‥(10) の範囲内であればその変位量xの値は一義的に求められ
るため、その変位量xが絶対位置として正確に測定でき
る最大測定長Lは L=λλ2/(λ−λ) ‥‥(11) で表わされる。従って、この変位量xと位相差Δθとの
関係は第4図Cに示す如くなる。更に、式(9)におい
ては位相差Δθは一般に2πの1000分の1程度の分解能
で測定できるため、その変位量xの測定分解能Δxは Δx≒L×10-3 ‥‥(12) 程度となる。λ及びλとして具体的な数値を代入し
た場合の最大測定長L及び測定分解能Δxの値を表1に
示す。
Δθ = θ 2 −θ 1 = 2πx (1 / λ 2 −1 / λ 1 ) = 2πx (λ 1 −λ 2 ) / (λ 1 λ 2 ) ... (8) Further, from the formula (8), x = (Δθ / 2π) λ 1 λ 2 / (λ 1 −λ 2 ) ... (9) Since λ 1 and λ 2 are known, the absolute position detection circuit (8) can be calculated from equation (9). The displacement amount x is calculated and supplied to the display (9). In this case, if the value of the displacement amount x is uniquely determined within the range of 0 ≦ Δθ <2π (10), the maximum measurement length L that can accurately measure the displacement amount x as an absolute position is L = λ 1 λ 2 / (λ 1 −λ 2 ) ... (11) Therefore, the relationship between the displacement amount x and the phase difference Δθ is as shown in FIG. 4C. Further, in the formula (9), since the phase difference Δθ can be generally measured with a resolution of about 1/1000 of 2π, the measurement resolution Δx of the displacement amount x is about Δx≈L × 10 −3 (12) Become. Table 1 shows the values of the maximum measurement length L and the measurement resolution Δx when specific numerical values are substituted for λ 1 and λ 2 .

また、従来の他のアブソリュート方式の位置検出装置
として第5図に示すようなグレイコードを用いた装置も
知られている。この第10図において、(10)はkビット
のグレイコード(11)が形成された透光性のスケール、
(12)は発光素子、(13)はコリメータレンズ、(14)
はグレイコード(11)に対応する参照窓(15)が形成さ
れたインデックス板、(16)はグレイコード(11)に対
応するk個の受光素子を示し、発光素子(12)〜受光素
子(16)を有する検出器がそのスケール(10)に対して
x方向に変位自在に配されている。そのグレイコード
(11)の分解能をλとすると、その検出器の受光素子
(16)より出力される電気信号をデコードして得られた
装置にλを乗ずることにより、そのスケール(10)に
対するその検出器の変位量xが分解能λの絶対位置と
して求められる。
Further, as another conventional absolute type position detecting device, a device using a gray code as shown in FIG. 5 is also known. In FIG. 10, (10) is a translucent scale formed with a k-bit Gray code (11),
(12) is a light emitting element, (13) is a collimator lens, (14)
Denotes an index plate on which a reference window (15) corresponding to the gray code (11) is formed, and (16) denotes k light receiving elements corresponding to the gray code (11). A detector having 16) is disposed so as to be displaceable in the x direction with respect to the scale (10). If the resolution of the Gray code (11) is λ G , the scale (10) is obtained by multiplying the device obtained by decoding the electric signal output from the light receiving element (16) of the detector by λ G. The displacement amount x of the detector with respect to is determined as the absolute position of the resolution λ G.

この場合、その変位量xを絶対位置として正確に測定
できる最大測定長Lは L=λ×2k ‥‥(13) となり、例えば分解能λを1mm、kを10とすると、そ
の最大測定長Lは1024mmとなる。
In this case, the maximum measurement length L that can be accurately measured with the displacement amount x as the absolute position is L = λ G × 2 k (13). For example, if the resolution λ G is 1 mm and k is 10, the maximum measurement can be made. The length L is 1024 mm.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、上述の従来のアブソリュート方式の位
置検出装置の内で第3図例のものは、最大測定長Lを実
用的な値である1000mm程度に設定すると分解能Δxが式
(12)より1mm程度となり、分解能が極めて悪い不都合
があった。
However, in the conventional absolute type position detecting device shown in FIG. 3, when the maximum measurement length L is set to a practical value of about 1000 mm, the resolution Δx becomes about 1 mm from the formula (12). However, the resolution was extremely poor.

尚、上述の特公昭50−23618号公報(第3図例)に
は、変位量xからスケール(1)のピッチλ単位の絶
対位置を特定し、最終的にその変位量xの分解能をその
ピッチλの例えば10-3程度まで大幅に改善できること
が開示されているが、そのピッチλ単位での絶対位置
を正確に測定しようとすると最大測定長Lが制限される
不都合がある。
Incidentally, in the above-mentioned Japanese Patent Publication No. 50-23618 (Fig. 3 example), the absolute position of the unit of the pitch λ 1 of the scale (1) is specified from the displacement amount x, and the resolution of the displacement amount x is finally determined. Although it is disclosed can be greatly improved to the pitch lambda 1 of example 10 about -3, there is a disadvantage that the maximum measurement length L is limited when trying to accurately measure the absolute position of its pitch lambda 1 units.

更に、第5図例の位置検出装置では分解能λは10μ
m程度が限界である。この場合、そのスケールとして実
用的な限界である12ビット程度のグレイコードを形成し
たスケールを使用した場合には、最大測定長LはΔx=
0.01mm且つ212=4096より40mm程度となり実用的でない
不都合がある。
Furthermore, the resolution λ G is 10 μ in the position detection device of FIG.
m is the limit. In this case, when a scale having a gray code of about 12 bits, which is a practical limit, is used as the scale, the maximum measurement length L is Δx =
0.01 mm and 2 12 = 4096, which is about 40 mm, which is not practical.

本発明は斯かる点に鑑み、最大測定長が例えば1000mm
のオーダーの実用的な範囲に設定できると共に、分解能
がインクリメンタル方式の変位検出装置並みの例えば1
μmのオーダーであるようなアブソリュート方式の位置
検出装置を提案することを目的とする。
In view of this, the present invention has a maximum measurement length of, for example, 1000 mm.
And the resolution can be set to, for example, 1 as high as that of an incremental displacement detection device.
It is an object of the present invention to propose an absolute position detecting device having an order of μm.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明による位置検出装置は、例えば第1図に示す如
く、ピッチλの第1の目盛(18)、ピッチλ(λ
≠λ)の第2の目盛(19)及びピッチλ1/m(mは2
以上の整数)の第3の目盛(20)が平行に形成されたス
ケール(17)と、それら第1、第2及び第3の目盛を夫
々読取って位相検出信号を生成する第1、第2及び第3
の検出器(22)〜(24)を有しそのスケール(17)に対
して相対変位自在に配設された検出ヘッド(21)と、そ
れら3種類の位相検出信号よりそれら第1の目盛(18)
と第2の目盛(19)との位相差(θ−θ)、その第
1の目盛(18)の位相量θ及びその第3の目盛(20)
の位相量θを検出する位相検出回路(25)〜(27)と
を設け、その位相差(θ−θ)よりその第1の目盛
(18)の絶対位置をピッチλ単位で求めると共にその
第1の目盛(18)の位相量θよりこの第1の目盛(1
8)のピッチλの中におけるその第3の目盛(20)の
絶対位置をピッチλ1/m単位で求めることにより、その
スケール(17)とその検出ヘッド(21)との相対変位量
を絶対位置として検出する様にしたものである。
Position detecting device according to the invention, for example, as shown in FIG. 1, the first scale (18) of the pitch lambda 1, pitch lambda 2 (lambda 2
Second scale (19) with ≠ λ 1 and pitch λ 1 / m (m is 2
A scale (17) in which a third scale (20) of the above integer) is formed in parallel, and first and second scales for reading the first, second and third scales respectively to generate a phase detection signal. And the third
Detection heads (21) having detectors (22) to (24) and arranged so that they can be displaced relative to the scale (17), and those first scales (three scales based on the three types of phase detection signals). 18)
Difference (θ 2 −θ 1 ) between the second scale (19) and the second scale (19), the phase amount θ 1 of the first scale (18) and the third scale (20)
The phase detection circuits (25) to (27) for detecting the phase amount θ 3 of are provided, and the absolute position of the first scale (18) is determined by the unit of the pitch λ 1 from the phase difference (θ 2 −θ 1 ). The first scale (1) is calculated from the phase amount θ 1 of the first scale (18).
By finding a pitch lambda 1 / m unit the absolute position of the third scale (20) in the inside of the pitch lambda 1 of 8), a relative displacement amount between the scale (17) and the detection head (21) The absolute position is detected.

〔作用〕[Action]

斯かる本発明によれば、先ずその第1の目盛(18)と
第2の目盛(19)との位相差(θ−θ)よりその検
出ヘッド(21)の絶対位置が第1の目盛(18)のピッチ
λよりも良好な分解能で求められるので、その検出ヘ
ッド(21)が第1の目盛(18)の何番目のピッチに在る
のかが特定される。続いて、その第1の目盛(18)の位
相量θよりその第1の目盛(18)のピッチλ内にお
ける絶対位置が第3の目盛(20)のピッチλ1/mよりも
良好な分解能で求められるので、その検出ヘッド(21)
がその第1の目盛(18)の或るピッチλ内で第3の目
盛(20)の何番目のピッチに在るのかが特定される。
According to such present invention, first, the first scale (18) and the phase difference between the second scale (19) the absolute position first of (theta 2 - [theta] 1) the detection head from (21) Since the resolution is better than the pitch λ 1 of the scale (18), the pitch of the detection head (21) on the first scale (18) is specified. Then, from the phase amount θ 1 of the first scale (18), the absolute position within the pitch λ 1 of the first scale (18) is better than the pitch λ 1 / m of the third scale (20). Since it can be obtained with various resolutions, its detection head (21)
Is located within a certain pitch λ 1 of the first scale (18) on the third scale (20).

従って、例えば第2図に示す如くその検出ヘッド(2
1)が第1の目盛(18)のN1番目のピッチ内に在り、更
にその第1の目盛(18)のN1番目のピッチ内において第
3の目盛(20)のN2番目のピッチ内に在ると共に、その
第3の目盛(20)の位相量θが変位量Δxに対応する
と仮定すれば、その検出ヘッド(21)のそのスケール
(17)に対する絶対位置x(位置P)は x=(N1−1)λ+(N2−1)λ1/m+Δx の計算式より算出することができる。
Therefore, for example, as shown in FIG.
1) is in the first scale (18) N in the first pitch, further N 2 th pitch of the third graduation in N within the first pitch of the first scale (18) (20) Assuming that the phase amount θ 3 of the third scale (20) corresponds to the displacement amount Δx, the absolute position x (position P) of the detection head (21) with respect to the scale (17) Can be calculated by the formula x = (N 1 −1) λ 1 + (N 2 −1) λ 1 / m + Δx.

この場合、変位量Δxは第3の目盛(20)の1ピッチ
λ1/mの10-3程度の分解能で測定できるのに対して、従
来の分解能はほぼ第1の目盛(18)のピッチλのオー
ダーであるため、測定の分解能は略1/(103m)に改善さ
れる。
In this case, the displacement Δx can be measured with a resolution of about 10 −3 of one pitch λ 1 / m of the third scale (20), whereas the conventional resolution is almost the pitch of the first scale (18). Since it is on the order of λ 1 , the measurement resolution is improved to approximately 1 / (10 3 m).

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明による位相検出装置の一実施例につき第
1図及び第2図を参照して説明しよう。
An embodiment of the phase detector according to the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 and 2.

第1図は本例の位置検出装置を示し、この第1図にお
いて、(17)はスケールであり、このスケール(17)に
ピッチλの第1の目盛(18)、ピッチλ(λ<λ
)の第2の目盛(19)及びピッチλの第3の目盛
(20)を平行に形成する。それら目盛(18)〜(20)は
磁気目盛、光学格子、電磁誘導方式の導電性パターン等
の何れでもよい。そして、ピッチλ12は比較的
大きな値の自然数n及び2以上の自然数mを用いて次の
関係を充足するように定める。
Figure 1 shows a position detecting device of the present embodiment. In FIG. 1, (17) is a scale, the first scale (18) of the pitch lambda 1 to the scale (17), the pitch lambda 2 (lambda 2
The second scale (19) of 1 ) and the third scale (20) of the pitch λ 3 are formed in parallel. The scales (18) to (20) may be magnetic scales, optical gratings, electromagnetic induction type conductive patterns, or the like. Then, the pitches λ 1 , λ 2 , λ 3 are determined so as to satisfy the following relationship by using a natural number n having a relatively large value and a natural number m of 2 or more.

λ=λ1/m ‥‥(14) nλ=(n+1)λ(=L) ‥‥(15) 尚、従来の第3図例において説明した如く、ピッチλ
の目盛及びピッチλの目盛を用いると変位量xを絶
対位置として正確に測定できる最大測定長Lはλλ2/
(λ−λ)であるが(式(11)参照)、本例では式
(15)の関係があるため L=λλ2/(λ−λ) =nλλ2/(nλ−nλ) =(n+1)λλ2/{(n+1)λ−nλ} =(n+1)λ=nλ が成立する。そのため、式(15)において「(=L)」
としたものである。
λ 3 = λ 1 / m (14) nλ 1 = (n + 1) λ 2 (= L) (15) Incidentally, as explained in the conventional example of FIG. 3, the pitch λ
If the scale of 1 and the scale of pitch λ 2 are used, the maximum measurement length L that can be accurately measured with the displacement amount x as the absolute position is λ 1 λ 2 /
1 −λ 2 ) (see Expression (11)), but in this example, because of the relationship of Expression (15), L = λ 1 λ 2 / (λ 1 −λ 2 ) = nλ 1 λ 2 / (Nλ 1 −nλ 2 ) = (n + 1) λ 2 λ 2 / {(n + 1) λ 2 −nλ 2 } = (n + 1) λ 2 = nλ 1 holds. Therefore, “(= L)” in equation (15)
It is what it was.

第1図において、(21)はスケール(17)に対してx
方向に変位自在に支持されている検出ヘッドを示し、こ
の検出ヘッド(21)には第1の目盛(18)を読取って位
相検出信号を生成する第1の検出器(22)、第2の目盛
(19)を読取って位相検出信号を生成する第2の検出器
(23)及び第3の目盛(20)を読取って位相検出信号を
生成する第3の検出器(20)を設ける。それら検出器
(22)〜(24)は目盛(18)〜(20)が磁気目盛であれ
ば磁気ヘッドより構成し、目盛(18)〜(20)が光学格
子であれば発光素子、受光素子等より構成するなど、そ
れら目盛(18)〜(20)に対応させて構成する。
In Fig. 1, (21) is x with respect to the scale (17).
A detection head supported so as to be displaceable in a predetermined direction. The detection head (21) has a first detector (22) for reading a first scale (18) and a phase detection signal, and a second detector (22). A second detector (23) for reading the scale (19) to generate a phase detection signal and a third detector (20) for reading the third scale (20) and generating a phase detection signal are provided. If the scales (18) to (20) are magnetic scales, these detectors (22) to (24) are composed of a magnetic head. If the scales (18) to (20) are optical gratings, a light emitting element and a light receiving element. The scales (18) to (20) are made corresponding to the scales (18) to (20).

その第1の検出器(22)より出力される位相検出信号
を第1の位相量検出回路(25)の入力端子及び位相差検
出回路(26)の一方の入力端子に供給し、第2の検出器
(23)より出力される位相検出信号を位相差検出回路
(26)の他方の入力端子に供給し、第3の検出器(24)
より出力される位相検出信号を第2の位相量検出回路
(27)の入力端子に供給する。その検出ヘッド(21)が
そのスケール(17)の第1の目盛(18)、第2の目盛
(19)及び第3の目盛(20)に対して夫々位相量θ1
及びθの位置に在るものと仮定すると(第2図参
照)、第1の位相量検出回路(25)はその位相量θ
検出して第1の係数判別回路(28)の一方の入力ポート
及び第2の係数判別回路(29)の一方の入力ポートに供
給し、位相差検出回路(26)は位相差(θ−θ)を
検出して第1の係数判別回路(28)の他方の入力ポート
に供給し、第2の位相量検出回路(27)は位相量θ
検出して第2の係数判別回路(29)の他方の入力ポート
に供給する。検出器(22)〜(24)が磁束応答型の磁気
ヘッドである場合は、第1及び第2の位相量検出回路
(25),(27)は夫々第3図例の位相検出回路(5)と
同様に構成でき、位相差検出回路(26)は例えば第3図
例の位相検出回路(5),(7)及び減算回路より構成
できる。
The phase detection signal output from the first detector (22) is supplied to the input terminal of the first phase amount detection circuit (25) and one input terminal of the phase difference detection circuit (26), The phase detection signal output from the detector (23) is supplied to the other input terminal of the phase difference detection circuit (26), and the third detector (24)
The phase detection signal output from the above is supplied to the input terminal of the second phase amount detection circuit (27). The detection head (21) has phase amounts θ 1 , θ with respect to the first scale (18), the second scale (19) and the third scale (20) of the scale (17), respectively.
Assuming that they are located at positions 2 and θ 3 (see FIG. 2), the first phase amount detection circuit (25) detects the phase amount θ 1 and detects the phase coefficient θ 1 of the first coefficient discriminating circuit (28). It supplies to one input port and one input port of the second coefficient discriminating circuit (29), and the phase difference detecting circuit (26) detects the phase difference (θ 2 −θ 1 ) to detect the first coefficient discriminating circuit. The second phase amount detection circuit (27) detects the phase amount θ 3 and supplies it to the other input port of the second coefficient determination circuit (29). When the detectors (22) to (24) are magnetic flux response type magnetic heads, the first and second phase amount detection circuits (25) and (27) are respectively the phase detection circuit (5 ), And the phase difference detection circuit (26) can be composed of, for example, the phase detection circuits (5) and (7) and the subtraction circuit shown in FIG.

又、本例の検出ヘッド(21)はスケール(17)に対し
て第2図に示す如く位置Pに在り、その検出ヘッド(2
1)がスケール(17)の左端に位置するときの変位量を
0としたときのその位置Pにおける変位量(即ち絶対位
置)をxとする。そして、その変位量xは第2図Aに示
す如く第1の目盛(18)に沿って原点からN1番目のピッ
チ内に存在すると共に、その第1の目盛(18)のN1番目
のピッチ内においてその変位量xは第2図Cに示す如く
第3の目盛(20)に沿ってN2番目のピッチ内に存在する
ものとする。また、その第3の目盛(20)のN2番目のピ
ッチλ内におけるその変位量xの絶対位置をΔxとし
て、第1の目盛(18)の(N1−1)ピッチ分の長さを
l1、第3の目盛(20)の(N2−1)ピッチ分の長さをl2
とすると、第2図より絶対位置xは x=l1+l2+Δx =(N1−1)λ+(N2−1)λ+Δx ‥‥(16) で表わすことができる。式(16)において、Δxは位相
量θと θ=2πΔx/λ ‥‥(17) の関係があるため、その位相量θより容易に算出する
ことができる。
Further, the detection head (21) of this example is located at the position P with respect to the scale (17) as shown in FIG.
When the displacement amount when 1) is located at the left end of the scale (17) is 0, the displacement amount (that is, absolute position) at the position P is x. Then, the amount of the displacement x is present in the first scale (18) N in the first pitch from the origin along as shown in Fig. 2 A, the first graduation N first (18) It is assumed that the displacement amount x within the pitch exists within the N 2 -th pitch along the third scale (20) as shown in FIG. 2C. The absolute position of the displacement amount x within the N 2nd pitch λ 3 of the third scale (20) is Δx, and the length of the first scale (18) is equal to the (N 1 -1) pitch. To
l 1 , the length of the (N 2 -1) pitch of the third scale (20) to l 2
Then, from FIG. 2, the absolute position x can be represented by x = l 1 + l 2 + Δx = (N 1 -1) λ 1 + (N 2 -1) λ 3 + Δx (16). In Expression (16), Δx has a relationship of the phase amount θ 3 and θ 3 = 2πΔx / λ 3 (17), and therefore can be easily calculated from the phase amount θ 3 .

本例では式(16)における整数N1−1及びN2−1は夫
々第1図の第1の係数判別回路(28)及び第2の係数判
別回路(29)において計算される。先ず、係数判別回路
(28)は位相差(θ−θ)に対応する変位量y1を式
(9)に対応する次式より算出する。
In this example, the integers N 1 -1 and N 2 -1 in the equation (16) are calculated in the first coefficient discriminating circuit (28) and the second coefficient discriminating circuit (29) of FIG. 1, respectively. First, the coefficient determination circuit (28) calculates the displacement amount y 1 corresponding to the phase difference (θ 2 −θ 1 ) from the following equation corresponding to equation (9).

y1=L(θ−θ)/(2π) ‥‥(18) この変位量y1は第2図Dに示す如く真の変位量xに対
して誤差Δy1の範囲内にあり、第1の係数判別回路(2
8)は第1の目盛(18)の1ピッチλ単位の整数N1
1を次式より求める。
y 1 = L (θ 2 −θ 1 ) / (2π) (18) This displacement amount y 1 is within the range of the error Δy 1 with respect to the true displacement amount x as shown in FIG. 2D. First coefficient determination circuit (2
8) is an integer N 1 − of one pitch λ 1 unit of the first scale (18)
1 is calculated from the following equation.

N1−1=INT(y1) ‥‥(19) この式(19)において、INT(y1)はy1
整数部を示す。しかしながら、検出ヘッド(21)がスケ
ール(17)に対して相対的に第2図Dの位置Qに在るよ
うな場合には、式(19)では誤差Δy1のために±1の誤
差が生じ得る。これを避けるためには、Δy1がΔy1≦λ
1/2を充足するようにして、第2図Aに示す如く第1の
目盛(18)の1ピッチλを前部R2(0≦θ<2π/
3)、後部R1(4π/3<θ<2π)及びその中間部R3
(2π/3≦θ≦4π/3)に分ける。そして、第1の目
盛(18)の位相量θが中間部R3に在るときには式(1
9)をそのまま採用し、その位相量θが後部R1に在る
ときに変位量y1が前部R2に在るときには式(19)で求め
た値から1を減算したものを真のN1−1と判定して、そ
の位相量θが前部R2に在るときに変位量y1が後部R1
在るときには式(19)で求めた値に1を加算したものを
真のN1−1と判定する如くなす。この場合、位置差(θ
−θ)の10-3の分解能で変位量y1を測定できると仮
定すると、L=λλ2/(λ−λ)を用いて Δy1≒L×10-3≦λ1/2 ‥‥(20) を満足するようにλ1を定めればよい。
N 1 −1 = INT (y 1 / λ 1 ) (19) In this equation (19), INT (y 1 / λ 1 ) represents the integer part of y 1 / λ 1 . However, when the detection head (21) is located at the position Q in FIG. 2D relative to the scale (17), the error Δy 1 in the expression (19) causes an error of ± 1. Can happen. To avoid this, Δy 1 is Δy 1 ≤ λ
As shown in FIG. 2A, one pitch λ 1 of the first graduation (18) is adjusted so as to satisfy 1/2 and the front portion R 2 (0 ≦ θ 1 <2π /
3), rear part R 1 (4π / 3 <θ 1 <2π) and its middle part R 3
It is divided into (2π / 3 ≦ θ 1 ≦ 4π / 3). When the phase amount θ 1 of the first scale (18) is in the intermediate portion R 3 , the formula (1
9) is adopted as it is, and when the phase amount θ 1 is in the rear part R 1 and the displacement amount y 1 is in the front part R 2 , subtracting 1 from the value obtained by the equation (19) is true. Of N 1 −1, and when the displacement amount y 1 is in the rear portion R 1 when the phase amount θ 1 is in the front portion R 2 , 1 is added to the value obtained by the equation (19). Make things as if they were true N 1 -1. In this case, the position difference (θ
Assuming that the displacement y 1 can be measured with a resolution of 10 −3 of 2 −θ 1 ), Δy 1 ≈L × 10 −3 ≦ λ using L = λ 1 λ 2 / (λ 1 −λ 2 ). 1/2 ‥‥ (20) λ 1 so as to satisfy, it may be set to lambda 2.

同時に、第2の係数判別回路(29)は、第1の目盛
(18)の位相量θより第2図Aに示す1ピッチλ
の変位量y2を付式より算出する。
At the same time, the second coefficient discriminating circuit (29) calculates the displacement amount y 2 within one pitch λ 1 shown in FIG. 2A from the phase amount θ 1 of the first scale (18) by using an additional equation.

y2=λθ1/(2π) ‥‥(21) この変位量y2は真の変位量に対して誤差Δy2の範囲内
に入り、第2の係数判別回路(29)は第3の目盛(20)
のその第1の目盛(18)の1ピッチλ内における1ピ
ッチλ単位の整数N2−1を次式より求める。
y 2 = λ 1 θ 1 / (2π) (21) This displacement amount y 2 falls within the error Δy 2 range with respect to the true displacement amount, and the second coefficient discriminating circuit (29) determines the third displacement amount. Scale (20)
An integer N 2 −1 of one pitch λ 3 unit within one pitch λ 1 of the first scale (18) of the is calculated from the following equation.

N2−1=INT(y2) ‥‥(22) 式(22)を使用した場合にも、誤差Δy2によって±1
の誤差が生じ得るため、位相量θの10-3の分解能で変
位量y2を測定できると仮定すると、λ=mλより Δy2≒mλ×10-3≦λ3/2 ‥‥(23) を充足するようにmの値を定める。そして、式(19)の
場合と同様に補正を行う如くなす。
N 2 −1 = INT (y 2 / λ 3 ) ... (22) Even when the formula (22) is used, the error Δy 2 is ± 1.
Since the error of may occur, assuming can measure the displacement amount y 2 with a resolution of the phase amount theta 1 of 10 -3, λ 1 =3 than Δy 2 ≒ mλ 3 × 10 -3 ≦ λ 3/2 ‥ Set the value of m so that (23) is satisfied. Then, the correction is performed similarly to the case of the equation (19).

続いて、第1図において、第1の係数判別回路(28)
は式(19)に従って算出した整数N1−1を演算回路(3
0)の第1の入力ポートに供給し、第2の係数判別回路
(29)は式(22)に従って算出した整数N2−1を演算回
路(30)の第2の入力ポートに供給し、第2の位相量検
出回路(27)は位相量θを演算回路(30)の第3の入
力ポートに供給する。そして、その演算回路(30)は式
(17)より第3の目盛(20)の1ピッチλ内の絶対位
置Δxを算出した後に、式(16)に基いて総合的な変位
量である絶対位置xを算出して表示器(31)に供給す
る。
Subsequently, referring to FIG. 1, a first coefficient discriminating circuit (28)
Calculating circuit integer N 1 -1 calculated according to equation (19) (3
0) to the first input port, and the second coefficient determination circuit (29) supplies the integer N 2 −1 calculated according to equation (22) to the second input port of the arithmetic circuit (30), The second phase amount detection circuit (27) supplies the phase amount θ 3 to the third input port of the arithmetic circuit (30). Then, the arithmetic circuit (30) calculates the absolute position Δx within one pitch λ 3 of the third scale (20) from the equation (17), and then it is the total displacement amount based on the equation (16). The absolute position x is calculated and supplied to the display (31).

上述のように本例によれば、スケール(17)と検出ヘ
ッド(21)との変位量を最大測定長Lの範囲内で絶対位
置xとして測定することができる。また、第3の目盛
(20)の位相量θも10-3程度の分解能で測定すると、
その絶対位置xの分解能はλ×10-3程度となる。
As described above, according to this example, the displacement amount between the scale (17) and the detection head (21) can be measured as the absolute position x within the range of the maximum measurement length L. Moreover, when the phase amount θ 3 of the third scale (20) is also measured with a resolution of about 10 −3 ,
The resolution of the absolute position x is about λ 3 × 10 -3 .

具体的には、第1の目盛(18)、第2の目盛(19)、
第3の目盛(20)の夫々の目盛のピッチλ12
(=λ1/m)を λ=10.00mm λ=9.95mm λ=0.20mm(即ち、m=50) に設定すると、最大測定長Lは L=λλ2/(λ−λ)=1990(mm) となる。このとき、式(15)におけるn(=L/λ)は
199となるので、第1の目盛(18)及び第2の目盛(1
9)より得られた位相差(θ−θ)を少なくとも199
分割すればよい。但し、式(19)における±1の誤差を
正確に除去するには、その位相差(θ−θ)を2×
199分割以上する必要がある。
Specifically, the first scale (18), the second scale (19),
Pitch of each scale of the third scale (20) λ 1 , λ 2 , λ
When 3 (= λ 1 / m) is set to λ 1 = 10.00mm λ 2 = 9.95mm λ 3 = 0.20mm (that is, m = 50), the maximum measurement length L is L = λ 1 λ 2 / (λ 1 −λ 2 ) = 1990 (mm). At this time, n (= L / λ 1 ) in equation (15) is
Since it becomes 199, the first scale (18) and the second scale (1
The phase difference (θ 2 −θ 1 ) obtained from 9) should be at least 199
What is necessary is just to divide. However, in order to accurately remove the error of ± 1 in Expression (19), the phase difference (θ 2 −θ 1 ) is set to 2 ×.
It is necessary to divide into 199 or more.

また、m=50であるため、本例では第1の目盛(18)
の位相量θを少なくとも50分割して第3の目盛(20)
の1ピッチλ単位の整数N2−1を算出すればよい。但
し、より正確な測定を行うにはその位相量θを100分
割以上する必要がある。最後に、第3の目盛(20)の1
ピッチλ(0.2mm)を例えば200分割することによって
その1ピッチλの絶対位置Δxを1μmの分解能で測
定することができる。
Also, since m = 50, in this example, the first scale (18)
3rd scale (20) by dividing the phase amount θ 1 of at least 50
It is sufficient to calculate an integer N 2 −1 of 1 pitch λ 3 unit. However, in order to perform more accurate measurement, it is necessary to divide the phase amount θ 1 into 100 or more. Finally, 1 on the third scale (20)
By dividing the pitch λ 3 (0.2 mm) into 200, for example, the absolute position Δx of one pitch λ 3 can be measured with a resolution of 1 μm.

従って、この場合には最大測定長1990mmの全範囲内を
分解能1μmで絶対位置検出することができる。
Therefore, in this case, the absolute position can be detected with a resolution of 1 μm within the entire range of the maximum measurement length of 1990 mm.

このように本例によれば、アブソリュート型の位置検
出装置において、最大測定長を実用的な範囲に設定でき
ると共に、分解能をインクリメンタル方式の変位検出装
置並みに設定できる利益がある。
As described above, according to this example, in the absolute type position detection device, there is an advantage that the maximum measurement length can be set in a practical range and the resolution can be set to the same level as that of the incremental type displacement detection device.

尚、第1図例において、第1〜第3の目盛(18)〜
(20)と平行して更に第3の目盛(20)のピッチλ
整数分の1のピッチを有する第4の目盛をスケール(1
7)に形成し、検出ヘッド(21)にはその第4の目盛を
読取る検出器を配することにより、更に最大測定長の範
囲を拡張し、分解能を細分化することが可能である。同
様に、第5の目盛、第6の目盛を追加していくことも可
能である。
In the example of FIG. 1, the first to third scales (18)
In parallel with (20), a fourth scale having a pitch that is an integer fraction of the pitch λ 3 of the third scale (20) is further scaled (1
It is possible to further expand the range of the maximum measurement length and subdivide the resolution by forming a detector in (7) and arranging a detector for reading the fourth scale on the detection head (21). Similarly, it is possible to add the fifth scale and the sixth scale.

また、本発明はリニアエンコーダだけでなく、ロータ
リーエンコーダにも当然に適用することができる。ロー
タリーエンコーダの場合には、円盤上に複数の目盛を同
芯円状に形成する如くなす。
Further, the present invention can be naturally applied not only to the linear encoder but also to the rotary encoder. In the case of a rotary encoder, a plurality of scales are formed concentrically on a disk.

このように本発明は上述実施例に限定されず、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で種々の構成を採り得ることは
勿論である。
As described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and may adopt various configurations without departing from the spirit of the present invention.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明によれば、最大測定長又は最大測定角度を実用
的な範囲に設定できると共に、分解能がインクリメンタ
ル方式の変位検出装置並みに改善されたアブソリュート
方式の位置検出装置を実現できる利益がある。
According to the present invention, it is possible to set the maximum measurement length or the maximum measurement angle in a practical range, and it is possible to realize an absolute type position detection device in which the resolution is improved to that of an incremental type displacement detection device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は実施
例の動作の説明に供する線図、第3図は従来のアブソリ
ュート型の位置検出装置の一例を示す構成図、第4図は
第3図例の動作の説明に供する線図、第5図は従来のア
ブソリュート型の位置検出装置の他の例を示す斜視図で
ある。 (17)はスケール、(18)は第1の目盛、(19)は第2
の目盛、(20)は第3の目盛、(21)は検出ヘッド、
(22)は第1の検出器、(23)は第2の検出器、(24)
は第3の検出器、(25)は第1の位相量検出回路、(2
6)は位相差検出回路、(27)は第2の位相量検出回
路、(28)は第1の係数判別回路、(29)は第2の係数
判別回路、(30)は演算回路である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram used to explain the operation of the embodiment, and FIG. 3 is a block diagram showing an example of a conventional absolute type position detecting device. FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the example of FIG. 3, and FIG. 5 is a perspective view showing another example of a conventional absolute type position detecting device. (17) is the scale, (18) is the first scale, (19) is the second scale
Scale, (20) is the third scale, (21) is the detection head,
(22) is the first detector, (23) is the second detector, (24)
Is the third detector, (25) is the first phase amount detection circuit, (2
6) is a phase difference detection circuit, (27) is a second phase amount detection circuit, (28) is a first coefficient determination circuit, (29) is a second coefficient determination circuit, and (30) is an arithmetic circuit. .

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−229905(JP,A) 特開 昭64−39522(JP,A) 特開 昭63−247615(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) Reference JP-A-1-229905 (JP, A) JP-A 64-39522 (JP, A) JP-A 63-247615 (JP, A)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ピッチλの第1の目盛、ピッチλ(λ
≠λ)の第2の目盛及びピッチλ1/m(mは2以上
の整数)の第3の目盛が平行に形成されたスケールと、 上記第1、第2及び第3の目盛を夫々読取って位相検出
信号を生成する第1、第2及び第3の検出器を有し上記
スケールに対して相対変位自在に配設された検出ヘッド
と、 上記3種類の位相検出信号より上記第1の目盛と第2の
目盛との位相差、上記第1の目盛の位相量及び上記第3
の目盛の位相量を検出する位相検出回路とを設け、 上記位相差より上記第1の目盛の絶対位置をピッチλ
単位で求めると共に上記第1の目盛の位相量より該第1
の目盛のピッチλの中における上記第3の目盛の絶対
位置をピッチλ1/m単位で求めることにより、上記スケ
ールと上記検出ヘッドとの相対変位量を絶対位置として
検出する様にしたことを特徴とする位置検出装置。
1. A first scale having a pitch λ 1, a pitch λ 2
2 ≠ λ 1 ) and a scale in which a third scale having a pitch λ 1 / m (m is an integer of 2 or more) is formed in parallel, and the first scale, the second scale, and the third scale. A detection head having first, second, and third detectors for reading each to generate a phase detection signal, the detection head being disposed so as to be relatively displaceable with respect to the scale; The phase difference between the first scale and the second scale, the phase amount of the first scale, and the third scale.
And a phase detection circuit for detecting the phase amount of the scale, and the absolute position of the first scale is determined by the pitch λ 1 from the phase difference.
It is calculated in units and the first scale is used to calculate the first
The absolute position of the third scale within the pitch λ 1 of the scale is determined in units of the pitch λ 1 / m to detect the relative displacement between the scale and the detection head as an absolute position. A position detecting device characterized by.
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