JP2657959B2 - 磁気光学的記憶装置における光学的な遷移を検出する検出装置 - Google Patents
磁気光学的記憶装置における光学的な遷移を検出する検出装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 この発明は光学的記憶装置に関するものであり、より
詳細には磁気光学的記憶装置のための検出装置に関する
ものである。
詳細には磁気光学的記憶装置のための検出装置に関する
ものである。
B.従来の技術 光学的記録装置は、その潜在的な高密度の記録性のた
めに、近年において使用されてきている。光学的な記録
のための一つのアプローチとしての磁気光学的記録にお
いては、焦点を合わされたレーザ・ビームがパルス化さ
れて短時間に高いパワーが発生され、垂直に磁化される
記憶媒体の温度が上昇するようにされて、該加熱された
領域での磁化の方向を反転させるのに十分な外部からの
印加磁界を得るようにされる。該媒体が低温に戻って読
み取りをなされるときには、該反転された磁化領域はそ
の状態を持続させる。その情報の読み取りには偏光カー
効果（polar Kerr effect）が用いられる。垂直に磁化
された媒体から反射される直線的な偏光（polarized li
ght）は、反射光の偏光の方向に応じて左方または右方
へと回転され、記録されたトラックに沿う磁化の方向
は、情報を記録するために用いられたときと同一の焦点
が合わされたレーザ・ビームによって読み取ることがで
きる。
めに、近年において使用されてきている。光学的な記録
のための一つのアプローチとしての磁気光学的記録にお
いては、焦点を合わされたレーザ・ビームがパルス化さ
れて短時間に高いパワーが発生され、垂直に磁化される
記憶媒体の温度が上昇するようにされて、該加熱された
領域での磁化の方向を反転させるのに十分な外部からの
印加磁界を得るようにされる。該媒体が低温に戻って読
み取りをなされるときには、該反転された磁化領域はそ
の状態を持続させる。その情報の読み取りには偏光カー
効果（polar Kerr effect）が用いられる。垂直に磁化
された媒体から反射される直線的な偏光（polarized li
ght）は、反射光の偏光の方向に応じて左方または右方
へと回転され、記録されたトラックに沿う磁化の方向
は、情報を記録するために用いられたときと同一の焦点
が合わされたレーザ・ビームによって読み取ることがで
きる。
磁気遷移を検知するために、また、ディスク表面およ
びデータ・トラックに関して、レーザ・スポットを正確
な位置に維持するための、焦点合わせ信号およびトラッ
キング信号を生成させるために、検出装置が設けられて
いる。パルス幅変調（PWM）による磁気光学的記憶装置
においては、上下の磁化領域の間での遷移によって、ビ
ットの位置がコード化される。先行技術に係る装置にお
いては、これらの遷移は、２個の光検出器で生成される
電流間の差の変化として、電子的に検知されるものであ
った。
びデータ・トラックに関して、レーザ・スポットを正確
な位置に維持するための、焦点合わせ信号およびトラッ
キング信号を生成させるために、検出装置が設けられて
いる。パルス幅変調（PWM）による磁気光学的記憶装置
においては、上下の磁化領域の間での遷移によって、ビ
ットの位置がコード化される。先行技術に係る装置にお
いては、これらの遷移は、２個の光検出器で生成される
電流間の差の変化として、電子的に検知されるものであ
った。
例えば、特開昭59−79446号で示された装置には２個
の検出器が含まれており、その各々がある一方の方向か
らの光を検知するようにされている。この検出装置にお
いては、本質的に、該信号光の半分が放棄されている。
の検出器が含まれており、その各々がある一方の方向か
らの光を検知するようにされている。この検出装置にお
いては、本質的に、該信号光の半分が放棄されている。
米国特許第3,992,575号における装置は、読み取り用
のビームが適切に焦点が合っているか否かを定めるべ
く、３個の異なる長さが得られるように光路長を変化さ
せるためのものである。また、米国特許第4,065,786号
に開示されているプッシュ・プル式のトラッキング装置
は、該検出信号およびトラッキング・エラー信号を検知
して、ビームをトラック上に維持することを許容するた
めのものである。
のビームが適切に焦点が合っているか否かを定めるべ
く、３個の異なる長さが得られるように光路長を変化さ
せるためのものである。また、米国特許第4,065,786号
に開示されているプッシュ・プル式のトラッキング装置
は、該検出信号およびトラッキング・エラー信号を検知
して、ビームをトラック上に維持することを許容するた
めのものである。
米国特許第4,059,841号に開示されている非磁気光学
的記憶装置によれば、４個の検出器が使用されて、トラ
ックに沿う信号の差動的な読み取りがなされている。そ
の検出信号を得るための電子回路からは電気的なノイズ
が付加的に生じる。そのS/N比によって、記録可能な最
小限のビット・サイズに対する制限が賦課されるが、こ
のために、先の付加的に生じる電気的なノイズにより、
達成可能な記録密度に直接的な悪影響がもたらされる。
的記憶装置によれば、４個の検出器が使用されて、トラ
ックに沿う信号の差動的な読み取りがなされている。そ
の検出信号を得るための電子回路からは電気的なノイズ
が付加的に生じる。そのS/N比によって、記録可能な最
小限のビット・サイズに対する制限が賦課されるが、こ
のために、先の付加的に生じる電気的なノイズにより、
達成可能な記録密度に直接的な悪影響がもたらされる。
C.発明が解決しようとする課題 上記した先行の技術においては、磁気光学的な領域の
端部が光学的に検出されることは知られていない。
端部が光学的に検出されることは知られていない。
従って、この発明の主たる目的は、磁気光学的な領域
の端部が光学的に検出される磁気光学的な記憶装置にお
ける検出装置を提供することにある。
の端部が光学的に検出される磁気光学的な記憶装置にお
ける検出装置を提供することにある。
D.課題を解決するための手段 この発明による磁気光学的記憶装置における検出装置
に含まれているものは、放射源、マークが記録されてい
る記憶媒体に対して放射線を指向させるための手段、お
よび、該記録されたマークから反射された放射線を検出
チャネルに指向させるための手段である。該検出チャネ
ルには、記録されたデータを検出するための手段が含ま
れており、この記録されたデータを検出するための手段
は、第１の磁化状態と第２の磁化状態との間の遷移を感
知するものであり、該記録されたデータを指示している
該検出された遷移に応答して電気信号を生成するように
される。
に含まれているものは、放射源、マークが記録されてい
る記憶媒体に対して放射線を指向させるための手段、お
よび、該記録されたマークから反射された放射線を検出
チャネルに指向させるための手段である。該検出チャネ
ルには、記録されたデータを検出するための手段が含ま
れており、この記録されたデータを検出するための手段
は、第１の磁化状態と第２の磁化状態との間の遷移を感
知するものであり、該記録されたデータを指示している
該検出された遷移に応答して電気信号を生成するように
される。
特定の実施例において、記録されたデータを検出する
ための手段に含まれているものは、少なくとも光学的整
合フィルタに結合されるデュアル式の光学的検出器であ
る。
ための手段に含まれているものは、少なくとも光学的整
合フィルタに結合されるデュアル式の光学的検出器であ
る。
E.実施例 図面の第１図に示されているように、磁気光学的記憶
装置のための検出装置に含まれている放射源10は、特定
の実施例においてはレーザからなるものである。レーザ
で生成された平行ビーム12は、70％透過型のビーム・ス
プリッタ14および偏光アナライザ16を通して、その向き
が規定される。偏光アナライザ16は、ｘ偏光を反射し、
また、ｙ偏光を透過する。次いで、アナライザ16を透過
されたｙ偏光は複屈折補償プレート18に入射される。こ
の補償プレート18においては、ｙ成分とは位相が外れて
いる少ないｘ偏光成分が生成される。このｘ成分は位相
がシフトされた局部発振器としての動作をして、この発
明で必要な、遠隔フィールド（far field）での端部の
検出をするようにされる。
装置のための検出装置に含まれている放射源10は、特定
の実施例においてはレーザからなるものである。レーザ
で生成された平行ビーム12は、70％透過型のビーム・ス
プリッタ14および偏光アナライザ16を通して、その向き
が規定される。偏光アナライザ16は、ｘ偏光を反射し、
また、ｙ偏光を透過する。次いで、アナライザ16を透過
されたｙ偏光は複屈折補償プレート18に入射される。こ
の補償プレート18においては、ｙ成分とは位相が外れて
いる少ないｘ偏光成分が生成される。このｘ成分は位相
がシフトされた局部発振器としての動作をして、この発
明で必要な、遠隔フィールド（far field）での端部の
検出をするようにされる。
第１図に示されている実施例において、補償プレート
18を構成する1/4波長プレートは、ｘ方向およびｙ方向
の双方に関して最適の角度をもって指向されて、直線偏
光された入力光が楕円偏光するようにされる。ビーム
は、次いで、回転ミラー20により対物レンズ22に指向さ
れて、磁気光学的記録ディスク24の選択位置に該ビーム
の焦点を合わせるようにされる。図面での明確さのため
に、前記の諸手段20ないし24は90度だけ回転されてい
る。次に、先に記録された信号からの反射光は、対物レ
ンズ22、回転ミラー20および複屈折補償プレート18を含
む同じ光学的構成部品により、検出チャネルに向けて誘
導される。反射されたビームが複屈折補償プレート18を
通過すると、該ビームの楕円偏光は更に大きくなる。複
屈折プレート18を通して伝播された後で、ｘ方向の偏光
成分は偏光アナライザ16によってデータ検出ビーム線内
に指向される。ｙ方向の偏光成分の部分はビーム・スプ
リッタ14によってサーボ・システム内に指向され、残り
はレーザに戻っていく。該ｘ成分はスプリット式の光検
出器26内に指向される。記録ディスク24上の選択された
位置に記録された遷移が存在しないときには、スプリッ
ト式の光検出器26を形成する双方のホト・ダイオード28
および30上に等しい照射がなされる。結果としての信号
が差動的に検知されるときには、正味の（net）信号は
得られない。ただし、記録された遷移が存在するときに
は、一方のホト・ダイオード28上での光学的なパワーの
方が他方のホト・ダイオード30上でのそれよりも大きく
て、検出信号が検知手段31によって生成される。
18を構成する1/4波長プレートは、ｘ方向およびｙ方向
の双方に関して最適の角度をもって指向されて、直線偏
光された入力光が楕円偏光するようにされる。ビーム
は、次いで、回転ミラー20により対物レンズ22に指向さ
れて、磁気光学的記録ディスク24の選択位置に該ビーム
の焦点を合わせるようにされる。図面での明確さのため
に、前記の諸手段20ないし24は90度だけ回転されてい
る。次に、先に記録された信号からの反射光は、対物レ
ンズ22、回転ミラー20および複屈折補償プレート18を含
む同じ光学的構成部品により、検出チャネルに向けて誘
導される。反射されたビームが複屈折補償プレート18を
通過すると、該ビームの楕円偏光は更に大きくなる。複
屈折プレート18を通して伝播された後で、ｘ方向の偏光
成分は偏光アナライザ16によってデータ検出ビーム線内
に指向される。ｙ方向の偏光成分の部分はビーム・スプ
リッタ14によってサーボ・システム内に指向され、残り
はレーザに戻っていく。該ｘ成分はスプリット式の光検
出器26内に指向される。記録ディスク24上の選択された
位置に記録された遷移が存在しないときには、スプリッ
ト式の光検出器26を形成する双方のホト・ダイオード28
および30上に等しい照射がなされる。結果としての信号
が差動的に検知されるときには、正味の（net）信号は
得られない。ただし、記録された遷移が存在するときに
は、一方のホト・ダイオード28上での光学的なパワーの
方が他方のホト・ダイオード30上でのそれよりも大きく
て、検出信号が検知手段31によって生成される。
第２図に代表的に示されている信号は、トラックに沿
う磁化の反転によって生成されるものである。ここで示
されているマークは、記録された領域を生成させるため
の、上下の磁化の領域として記録されており、また、レ
ーザ・ビームの２個の位置が点線の円として示されてい
る。記録媒体による反射光は、レーザの入射方向に沿う
局部発振器成分、および、その直角方向における信号成
分に分解される。この信号成分の符号は遷移の際に変化
する。レーザ・スポットの中心部に遷移があるときに
は、左側の検出器28におけるパワーは、右側の検出器30
からのパワーとは異なっている。一様な磁化領域におい
ては、左側の検出器28および右側の検出器30の照射が等
しくなる。かくして、レーザ・スポットによる走査が記
録遷移33上でなされると、そのパワーの差のために、検
知手段31内の回路によって生成される検出器の二つの側
の光電電流iL−iRの差が導かれて、第２図に示されてい
るようにこの差が変動することになる。該検出装置の動
作は、遠隔フィールドでの端部の検出に必要な位相シフ
ト式の局部発振器として動作するような、ｘ成分を生成
させる方法に正確に依存するものではない。
う磁化の反転によって生成されるものである。ここで示
されているマークは、記録された領域を生成させるため
の、上下の磁化の領域として記録されており、また、レ
ーザ・ビームの２個の位置が点線の円として示されてい
る。記録媒体による反射光は、レーザの入射方向に沿う
局部発振器成分、および、その直角方向における信号成
分に分解される。この信号成分の符号は遷移の際に変化
する。レーザ・スポットの中心部に遷移があるときに
は、左側の検出器28におけるパワーは、右側の検出器30
からのパワーとは異なっている。一様な磁化領域におい
ては、左側の検出器28および右側の検出器30の照射が等
しくなる。かくして、レーザ・スポットによる走査が記
録遷移33上でなされると、そのパワーの差のために、検
知手段31内の回路によって生成される検出器の二つの側
の光電電流iL−iRの差が導かれて、第２図に示されてい
るようにこの差が変動することになる。該検出装置の動
作は、遠隔フィールドでの端部の検出に必要な位相シフ
ト式の局部発振器として動作するような、ｘ成分を生成
させる方法に正確に依存するものではない。
第３図には、この発明の別の実施例が示されている。
ここで、データ検出ビーム線内に指向されているｘ成分
は、レンズ34により部分的に焦点が合わされてから、ス
プリット式の光検出器26内に指向される。スプリット式
の光検出器26がレンズ34の焦点位置またはその近傍に配
置されているときには、該局部発振器のために必要とさ
れる位相のシフトはゼロまたは極めて小さいものであ
る。このような送部発振器は、第１図における複屈折プ
レート18を非減衰要素で置換することができる。非減衰
要素は、その透過係数または減衰係数が偏光に依存して
いる光学的デバイスであって、部分的偏光要素、弱偏光
器またはダイクロイック要素と呼ばれるときもある。適
当なこのようなデバイスはブリュースター（Brewster）
・プレート36（第３図）であって、直線偏光の平面が回
転するように、ｙ軸に関して約45度に指向されている。
記録媒体からの反射光は、次いで、ブリュースター・プ
レート36を通って伝播して戻される。そして、そのｘ方
向での偏光成分は偏光アナライザ16により取り出され
て、検出チャネル内に指向される。残りのｙ方向での偏
光はサーボ・チャネルおよびレーザに戻される。次に、
レンズ34により、媒体の平面がスプリット式の光検出器
26上に（またはその直近に）イメージの再現がなされ
る。このようなイメージの再現のための端部検出チャネ
ルは、第１図における遠隔フィールド式の装置とは異な
っているけれども、その動作は同様なものである。光検
出器におけるスプリットの線は、磁気領域の端部でのイ
メージの形状と最もよく合致するように、直線または曲
線にすることができる。曲線のための光検出器は第3A図
に例示されている。
ここで、データ検出ビーム線内に指向されているｘ成分
は、レンズ34により部分的に焦点が合わされてから、ス
プリット式の光検出器26内に指向される。スプリット式
の光検出器26がレンズ34の焦点位置またはその近傍に配
置されているときには、該局部発振器のために必要とさ
れる位相のシフトはゼロまたは極めて小さいものであ
る。このような送部発振器は、第１図における複屈折プ
レート18を非減衰要素で置換することができる。非減衰
要素は、その透過係数または減衰係数が偏光に依存して
いる光学的デバイスであって、部分的偏光要素、弱偏光
器またはダイクロイック要素と呼ばれるときもある。適
当なこのようなデバイスはブリュースター（Brewster）
・プレート36（第３図）であって、直線偏光の平面が回
転するように、ｙ軸に関して約45度に指向されている。
記録媒体からの反射光は、次いで、ブリュースター・プ
レート36を通って伝播して戻される。そして、そのｘ方
向での偏光成分は偏光アナライザ16により取り出され
て、検出チャネル内に指向される。残りのｙ方向での偏
光はサーボ・チャネルおよびレーザに戻される。次に、
レンズ34により、媒体の平面がスプリット式の光検出器
26上に（またはその直近に）イメージの再現がなされ
る。このようなイメージの再現のための端部検出チャネ
ルは、第１図における遠隔フィールド式の装置とは異な
っているけれども、その動作は同様なものである。光検
出器におけるスプリットの線は、磁気領域の端部でのイ
メージの形状と最もよく合致するように、直線または曲
線にすることができる。曲線のための光検出器は第3A図
に例示されている。
第４図には、磁気光学的な記憶装置のための検出装置
の別の実施例が示されている。この装置に含まれている
放射源10から生成される平行なビーム12は、偏光ビーム
・スプリッタ40を通して指向される。該偏光ビーム・ス
プリッタ40は、約25％のｙ方向での偏光の外に、100％
のｘ方向での偏光を反射する。この透過光は、回転ミラ
ー20および対物レンズ22によって、磁気光学的記録ディ
スク24の選択された領域に指向される。理想的には、該
ディスク24からの反射上でのｘ偏光とｙ偏光との間には
位相のシフトはなく、該反射光はビーム・スプリッタ40
によってデータ検出ビーム線内に指向される。この結果
としてのビームは、検出チャネルからサーボ・チャネル
を分離させる偏光不感ビーム・スプリッタ42に指向され
る。検出チャネルにおいては、ｘ偏光とｙ偏光との間で
位相をシフトさせる可変補償プレート44を光が通過す
る。整合フィルタ46、半波長プレート48および偏光ビー
ム・スプリッタ50は、次いで、２個の分離したホト・ダ
イオード52および54に対して、強度が等しく、互いに直
角に偏光しているビームを指向させる。レンズ49は、全
ての光がホト・ダイオード52および54に到達することを
確実にするだけのものである。
の別の実施例が示されている。この装置に含まれている
放射源10から生成される平行なビーム12は、偏光ビーム
・スプリッタ40を通して指向される。該偏光ビーム・ス
プリッタ40は、約25％のｙ方向での偏光の外に、100％
のｘ方向での偏光を反射する。この透過光は、回転ミラ
ー20および対物レンズ22によって、磁気光学的記録ディ
スク24の選択された領域に指向される。理想的には、該
ディスク24からの反射上でのｘ偏光とｙ偏光との間には
位相のシフトはなく、該反射光はビーム・スプリッタ40
によってデータ検出ビーム線内に指向される。この結果
としてのビームは、検出チャネルからサーボ・チャネル
を分離させる偏光不感ビーム・スプリッタ42に指向され
る。検出チャネルにおいては、ｘ偏光とｙ偏光との間で
位相をシフトさせる可変補償プレート44を光が通過す
る。整合フィルタ46、半波長プレート48および偏光ビー
ム・スプリッタ50は、次いで、２個の分離したホト・ダ
イオード52および54に対して、強度が等しく、互いに直
角に偏光しているビームを指向させる。レンズ49は、全
ての光がホト・ダイオード52および54に到達することを
確実にするだけのものである。
整合フィルタ46は、実質的に全てのｘ方向での偏光信
号光を、一方のホト・ダイオードまたは他方のホト・ダ
イオードに指向させるように設計されており、複屈折の
光学的要素を組み込むことにより実現する。第８図に
は、整合フィルタの別の実施例が示されている。この実
施例においては、半波長プレート60の半分が、可変補償
プレート44と半波長プレート48との間の経路内に配置さ
れている。この実施例では、遠隔フィールドに分離され
た端部の検出装置が提供される。フィルタのこの実施例
において、媒体から戻って、補償プレートを通過する平
行ビームは、次のようにして、複屈折フィルタによる影
響を受ける。即ち、局部発振器の方向（ｙ）における偏
光のためのフィルタの光学的長さは該フィルタの開口部
を横切って一定であり、これに対して、それに直角の
（ｘまたは信号の）偏光においては、その光学的長さは
該フィルタの直径に沿って半波長だけ変化する。信号の
偏光がフィルタの平面において一様な符号を有している
ときには、この整合フィルタは該ビーム・エリアの半分
に対して符号を反転させる。該ビーム・エリアにわたっ
て平均された信号の振幅はゼロであり、また、２個の検
出器52および54における光学的なパワーは等しいもので
ある。調節可能な半波長プレート48は、２個の検出器に
おける局部発振器パワーが等しくなるような向きにされ
る。遷移が読み取りレーザ・ビームの中心下に置かれた
とき、磁化の上下に対するカー（Kerr）の回転における
差による信号の偏光振幅の符号反転は、フィルタの位相
シフトによる反転によって補償される。フィルタを出る
光の平均的な偏光は、２個の検出器52、54に到達するパ
ワーの不平衡に基づいて変化する。この結果としての電
気信号は、第２図におけるものと同様である。遠隔フィ
ールドでの整合フィルタの適切な動作のために、媒体の
カーの楕円率がゼロであり、入射する読み取りビームが
直線偏光されているときには、補償プレート44はｘ方向
での偏光とｙ方向での偏光との間に、90度の位相シフト
を課するように調節すべきことが必要とされる。これと
別の場合においては、異なる補償器の位相シフトが必要
とされる。
号光を、一方のホト・ダイオードまたは他方のホト・ダ
イオードに指向させるように設計されており、複屈折の
光学的要素を組み込むことにより実現する。第８図に
は、整合フィルタの別の実施例が示されている。この実
施例においては、半波長プレート60の半分が、可変補償
プレート44と半波長プレート48との間の経路内に配置さ
れている。この実施例では、遠隔フィールドに分離され
た端部の検出装置が提供される。フィルタのこの実施例
において、媒体から戻って、補償プレートを通過する平
行ビームは、次のようにして、複屈折フィルタによる影
響を受ける。即ち、局部発振器の方向（ｙ）における偏
光のためのフィルタの光学的長さは該フィルタの開口部
を横切って一定であり、これに対して、それに直角の
（ｘまたは信号の）偏光においては、その光学的長さは
該フィルタの直径に沿って半波長だけ変化する。信号の
偏光がフィルタの平面において一様な符号を有している
ときには、この整合フィルタは該ビーム・エリアの半分
に対して符号を反転させる。該ビーム・エリアにわたっ
て平均された信号の振幅はゼロであり、また、２個の検
出器52および54における光学的なパワーは等しいもので
ある。調節可能な半波長プレート48は、２個の検出器に
おける局部発振器パワーが等しくなるような向きにされ
る。遷移が読み取りレーザ・ビームの中心下に置かれた
とき、磁化の上下に対するカー（Kerr）の回転における
差による信号の偏光振幅の符号反転は、フィルタの位相
シフトによる反転によって補償される。フィルタを出る
光の平均的な偏光は、２個の検出器52、54に到達するパ
ワーの不平衡に基づいて変化する。この結果としての電
気信号は、第２図におけるものと同様である。遠隔フィ
ールドでの整合フィルタの適切な動作のために、媒体の
カーの楕円率がゼロであり、入射する読み取りビームが
直線偏光されているときには、補償プレート44はｘ方向
での偏光とｙ方向での偏光との間に、90度の位相シフト
を課するように調節すべきことが必要とされる。これと
別の場合においては、異なる補償器の位相シフトが必要
とされる。
整合フィルタの別の実施例が第６図に示されている。
そして、この実施例においては、第１のレンズ55が設け
られているのは、空間的に非一様な複屈折要素上に反射
ビームの焦点を結ばせるためである。このビームは第２
のレンズ57により再び平行にされて、半波長プレート48
を通るように指向される。特定の実施例において、空間
的に非一様な複屈折要素を構成するものは、図面の第７
図に示されているように、領域の端部に整合する端部58
で位置決めされた半波長プレート56である。
そして、この実施例においては、第１のレンズ55が設け
られているのは、空間的に非一様な複屈折要素上に反射
ビームの焦点を結ばせるためである。このビームは第２
のレンズ57により再び平行にされて、半波長プレート48
を通るように指向される。特定の実施例において、空間
的に非一様な複屈折要素を構成するものは、図面の第７
図に示されているように、領域の端部に整合する端部58
で位置決めされた半波長プレート56である。
局部発振器の方向（ｙ）における偏光用のフィルタの
光学的長さは一定である。これに対して、これに直角の
偏光においては、その光学的長さは直線または曲線に沿
って半波長だけ変化するが、この曲線は記録媒体24上で
記録されたマークにおけるイメージの曲折した端部に最
もよく整合している。該信号の偏光がイメージにわたっ
て一様な符号を有しているときには、該イメージ・エリ
アの半分に対する符号が整合フィルタによって反転され
る。該イメージにわたって平均された信号の振幅はゼロ
であり、該フィルタを出る偏光は局部発振器における偏
光と同じである。そして、２個の検出器52、54における
光学的なパワーは同じである。フィルタ56上に遷移がイ
メージされるときには、カーの回転に基づく信号振幅の
反転が、フィルタの位相シフトに基づく反転によって補
償される。フィルタを出る偏光は回転されて、該２個の
検出器52、54におけるパワーの不平衡がもたらされる。
その結果としての電気信号は、第５図に示されているよ
うに、直接的な重ね書きによって書き込まれた磁気領域
53を示すものである。先行端部の信号の符号は追尾端部
の信号に対する符号とは反対である。フィルタによって
該領域の端部における曲線に対する補償がなされること
から、その幅は通常のように測４定された幅よりも狭い
ものである。整合フィルタ46は位相を偏光させるだけで
あるから、開口部において光にロスを生じることはな
い。
光学的長さは一定である。これに対して、これに直角の
偏光においては、その光学的長さは直線または曲線に沿
って半波長だけ変化するが、この曲線は記録媒体24上で
記録されたマークにおけるイメージの曲折した端部に最
もよく整合している。該信号の偏光がイメージにわたっ
て一様な符号を有しているときには、該イメージ・エリ
アの半分に対する符号が整合フィルタによって反転され
る。該イメージにわたって平均された信号の振幅はゼロ
であり、該フィルタを出る偏光は局部発振器における偏
光と同じである。そして、２個の検出器52、54における
光学的なパワーは同じである。フィルタ56上に遷移がイ
メージされるときには、カーの回転に基づく信号振幅の
反転が、フィルタの位相シフトに基づく反転によって補
償される。フィルタを出る偏光は回転されて、該２個の
検出器52、54におけるパワーの不平衡がもたらされる。
その結果としての電気信号は、第５図に示されているよ
うに、直接的な重ね書きによって書き込まれた磁気領域
53を示すものである。先行端部の信号の符号は追尾端部
の信号に対する符号とは反対である。フィルタによって
該領域の端部における曲線に対する補償がなされること
から、その幅は通常のように測４定された幅よりも狭い
ものである。整合フィルタ46は位相を偏光させるだけで
あるから、開口部において光にロスを生じることはな
い。
更に別の実施例には、イメージ処理用の光学的手段お
よび整合フィルタと置換するために、複屈折用のホログ
ラムまたは格子装置の使用が含まれている。このホログ
ラムは、前述されたフィルタとほぼ同様な光学的な転換
機能を果たすものである。このようなホログラムは、あ
る一方の偏光における領域境界のホログラムを他方の偏
光における一様なトラックのホログラムと重畳させるこ
とで得ることができるが、その双方は対物レンズを通し
てイメージ処理されている。
よび整合フィルタと置換するために、複屈折用のホログ
ラムまたは格子装置の使用が含まれている。このホログ
ラムは、前述されたフィルタとほぼ同様な光学的な転換
機能を果たすものである。このようなホログラムは、あ
る一方の偏光における領域境界のホログラムを他方の偏
光における一様なトラックのホログラムと重畳させるこ
とで得ることができるが、その双方は対物レンズを通し
てイメージ処理されている。
F.発明の効果 この発明によれば、磁化状態相互間のデータの遷移、
即ち反射光の遷移を、従来のような電気的な手段ではな
く、光学的な手段をもって検出することにより、電気的
なノイズが加わることがなく、S/N比の改善された検出
ができる。
即ち反射光の遷移を、従来のような電気的な手段ではな
く、光学的な手段をもって検出することにより、電気的
なノイズが加わることがなく、S/N比の改善された検出
ができる。
第１図は、この発明による磁気光学的記憶装置の検出装
置を示す概略図である。 第２図は、この発明による記録遷移の検出からもたらさ
れる信号の波形図である。 第３図は、この発明による磁気光学的記憶装置の検出装
置の別の実施例を示す図である。 第3A図は、スプリット式の光検出器26の特定の実施例を
示す図である。 第４図は、磁気光学的記憶装置の検出装置の別の実施例
を示す概略図である。 第５図は、前記第４図の装置において、記録遷移の検出
からもたらされる信号の波形図である。 第６図は、前記第４図における磁気光学的記憶装置の検
出装置の別の実施例を示す図である。 第７図は、前記第４図における整合フィルタの別の実施
例を示す図である。 第８図は、磁気光学的記憶装置の検出装置の更に別の実
施例を示す図である。 10……放射源、 12……平行ビーム、 14……ビーム・スプリッタ、 16……偏光アナライザ、 18……複屈折補償プレート、 20……回転ミラー、 22……対物レンズ、 24……磁気光学的記録ディスク、 26……光検出器、 28、30……ホト・ダイオード、 31……検知手段。
置を示す概略図である。 第２図は、この発明による記録遷移の検出からもたらさ
れる信号の波形図である。 第３図は、この発明による磁気光学的記憶装置の検出装
置の別の実施例を示す図である。 第3A図は、スプリット式の光検出器26の特定の実施例を
示す図である。 第４図は、磁気光学的記憶装置の検出装置の別の実施例
を示す概略図である。 第５図は、前記第４図の装置において、記録遷移の検出
からもたらされる信号の波形図である。 第６図は、前記第４図における磁気光学的記憶装置の検
出装置の別の実施例を示す図である。 第７図は、前記第４図における整合フィルタの別の実施
例を示す図である。 第８図は、磁気光学的記憶装置の検出装置の更に別の実
施例を示す図である。 10……放射源、 12……平行ビーム、 14……ビーム・スプリッタ、 16……偏光アナライザ、 18……複屈折補償プレート、 20……回転ミラー、 22……対物レンズ、 24……磁気光学的記録ディスク、 26……光検出器、 28、30……ホト・ダイオード、 31……検知手段。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−65255（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−60841（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−266752（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−28526（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−237241（ＪＰ，Ａ)
Claims (6)
- 【請求項１】放射線を放出せしめる放射源、 第１および第２の磁化状態にある領域としてのマークが
記録されている記憶媒体に対して、前記放射線を指向さ
せるための手段、 前記記録されたマークから反射された放射線を検出チャ
ネルに指向させるための手段を含んでなり、 前記反射された放射線を検出チャネルに指向させるため
の手段は、少なくとも偏光ビーム・スプリッタ、可変補
償プレートおよび光学的な整合フィルタを含み、 また、前記検出チャネルは、記録されたデータを検出す
るための手段を含み、該記録されたデータを検出するた
めの手段は、偏光ビーム・スプリッタ、可変補償プレー
トおよび光学的な整合フィルタに結合されるデュアル式
の光学的検出器からなり、前記第１の磁化状態と前記第
２の磁化状態との間の遷移を検出して、この遷移による
光学的なパワーの不平衡を電気信号として出力する、 ことを特徴とする磁気光学的記憶装置における検出装
置。 - 【請求項２】前記光学的な整合フィルタは、２要素式の
偏光を感知する位相マスクであって、前記位相マスクの
半分により、前記ビームの半分に、前記ビームの他の半
分に対して180度の位相遅延を生じるようにする、請求
項１に記載の装置。 - 【請求項３】前記光学的な整合フィルタは、前記記憶媒
体におけるイメージを、空間的に非一様な複屈折要素上
に再現させる、請求項１に記載の装置。 - 【請求項４】前記空間的に非一様な複屈折要素は、前記
記憶媒体上に書き込まれた前記磁気領域の端部イメージ
について、その平均的な曲率に整合された遷移領域が含
まれるようにされている、請求項３に記載の装置。 - 【請求項５】放射線を放出せしめる放射源、 第１および第２の磁化状態にある領域としてのマークが
記録されている記憶媒体に対して、前記放射線を指向さ
せるための手段、 前記記録されたマークから反射された放射線を検出チャ
ネルに指向させるための手段を含んでなり、 前記反射された放射線を検出チャネルに指向させるため
の手段は、少なくとも非減衰要素、偏光アナライザおよ
びイメージ再現レンズを含み、 また、前記検出チャネルは、記録されたデータを検出す
るための手段を含み、該記録されたデータを検出するた
めの手段は、非減衰要素、偏光アナライザおよびイメー
ジ再現レンズに結合されるスプリット式の光学的検出器
からなり、前記第１の磁化状態と前記第２の磁化状態と
の間の遷移を検出して、この遷移による光学的なパワー
の不平衡を電気信号として出力する、 ことを特徴とする磁気光学的記憶装置における検出装
置。 - 【請求項６】前記スプリット式の光学的検出器は、前記
検出器上の前記レンズによってイメージが再現されるよ
うに、前記遷移のイメージの平均的な曲率を整合させる
線に沿って分割されている、請求項５に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US41486889A | 1989-09-29 | 1989-09-29 | |
| US414868 | 1989-09-29 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03120645A JPH03120645A (ja) | 1991-05-22 |
| JP2657959B2 true JP2657959B2 (ja) | 1997-09-30 |
Family
ID=23643329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2220140A Expired - Fee Related JP2657959B2 (ja) | 1989-09-29 | 1990-08-23 | 磁気光学的記憶装置における光学的な遷移を検出する検出装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0420694B1 (ja) |
| JP (1) | JP2657959B2 (ja) |
| DE (1) | DE69018913T2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5610897A (en) * | 1992-08-31 | 1997-03-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical information reproducing apparatus |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5979446A (ja) * | 1982-10-28 | 1984-05-08 | Sharp Corp | 磁気光学ヘッド |
| US4646103A (en) * | 1985-03-20 | 1987-02-24 | Hitachi, Ltd. | Optical recording method |
| JPS61237241A (ja) * | 1985-04-12 | 1986-10-22 | Alps Electric Co Ltd | 光磁気記録再生装置 |
| JPS6265255A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-03-24 | Seiko Epson Corp | 光磁気デイスク記録再生装置 |
| JPS62188047A (ja) * | 1986-02-13 | 1987-08-17 | Nec Corp | 光磁気デイスク装置 |
| JPH0721897B2 (ja) * | 1986-04-24 | 1995-03-08 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 光磁気データ記録装置 |
| JPS62266752A (ja) * | 1986-05-14 | 1987-11-19 | Fujitsu Ltd | 光磁気記録用光学ヘツド |
| JPS62285264A (ja) * | 1986-06-02 | 1987-12-11 | Nec Corp | 光磁気記録用光ヘツド |
| JP2810035B2 (ja) * | 1986-08-22 | 1998-10-15 | 株式会社日立製作所 | 光学的記録再生方法 |
| JPH073710B2 (ja) * | 1987-06-17 | 1995-01-18 | 日本電気株式会社 | 光磁気ディスク装置 |
| JPS6460841A (en) * | 1987-08-31 | 1989-03-07 | Mitsubishi Electric Corp | Magneto-optical recording and reproducing device |
-
1990
- 1990-08-23 JP JP2220140A patent/JP2657959B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1990-09-28 DE DE1990618913 patent/DE69018913T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-09-28 EP EP19900310683 patent/EP0420694B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0420694A2 (en) | 1991-04-03 |
| JPH03120645A (ja) | 1991-05-22 |
| EP0420694A3 (en) | 1992-12-23 |
| DE69018913D1 (de) | 1995-06-01 |
| EP0420694B1 (en) | 1995-04-26 |
| DE69018913T2 (de) | 1995-11-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |