JP2568990B2 - 液晶表示装置及びその製造方法 - Google Patents
液晶表示装置及びその製造方法Info
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- JP2568990B2 JP2568990B2 JP20077395A JP20077395A JP2568990B2 JP 2568990 B2 JP2568990 B2 JP 2568990B2 JP 20077395 A JP20077395 A JP 20077395A JP 20077395 A JP20077395 A JP 20077395A JP 2568990 B2 JP2568990 B2 JP 2568990B2
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- Japan
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- liquid crystal
- insulating film
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示装置及びそ
の製造方法に関するものである。
の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来アクティブマトリックスを用いたデ
ィスプレイパネルはダイナミック方式に比しそのマトリ
ックスサイズを非常に大きくでき、大型かつドット数の
大きなパネルを実現可能な方式として注目を浴びてい
る。特に液晶のような受光形素子ではダイナミック方式
での駆動デューティは限界がありテレビ表示等にはアク
ティブマトリックスの応用が考えられている。
ィスプレイパネルはダイナミック方式に比しそのマトリ
ックスサイズを非常に大きくでき、大型かつドット数の
大きなパネルを実現可能な方式として注目を浴びてい
る。特に液晶のような受光形素子ではダイナミック方式
での駆動デューティは限界がありテレビ表示等にはアク
ティブマトリックスの応用が考えられている。
【0003】図1は、従来のアクティブマトリックスの
1セルを示している。アドレス線Xがトランジスタ2の
ゲートに入力されており、トランジスタをONさせてデ
ータ線Yの信号を保持用コンデンサ3に電荷として蓄積
させる。再びデータを書き込むまで、このコンデンサ3
により保持され、同時に液晶4を駆動する。ここでVC
は共通電極信号である。液晶のリークは非常に少ないの
で、短時間の電荷の保持には十分である。ここのトラン
ジスタとコンデンサ3の製造は通常のICのプロセスと
全く同じである。
1セルを示している。アドレス線Xがトランジスタ2の
ゲートに入力されており、トランジスタをONさせてデ
ータ線Yの信号を保持用コンデンサ3に電荷として蓄積
させる。再びデータを書き込むまで、このコンデンサ3
により保持され、同時に液晶4を駆動する。ここでVC
は共通電極信号である。液晶のリークは非常に少ないの
で、短時間の電荷の保持には十分である。ここのトラン
ジスタとコンデンサ3の製造は通常のICのプロセスと
全く同じである。
【0004】図2は図1のセルをシリコンゲートプロセ
スにより作成した例である。単結晶シリコンウエハ上に
トランジスタ10とコンデンサ11が構成される。アド
レス線Xとコンデンサの上電極11は多結晶シリコン
(ポリシリコン)で、又データ線Yと液晶駆動電極13
はAlでできており、コンタクトホール7,8,9によ
り、基板Al、ポリシリコンとAlが夫々接続される。
スにより作成した例である。単結晶シリコンウエハ上に
トランジスタ10とコンデンサ11が構成される。アド
レス線Xとコンデンサの上電極11は多結晶シリコン
(ポリシリコン)で、又データ線Yと液晶駆動電極13
はAlでできており、コンタクトホール7,8,9によ
り、基板Al、ポリシリコンとAlが夫々接続される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】通常のICプロセスに
従ったマトリックス基板は次の大きな欠点をもつ。
従ったマトリックス基板は次の大きな欠点をもつ。
【0006】1つはマトリックス基板の製造プロセスが
ICと同一のため、プロセスが複雑であり工程コストが
高いと同時に基板シリコンとの接合リークによる歩留低
下が発生し、総コストが高い。特にシリコン基板とソー
ス・ドレインとなる拡散層との接合部には、単結晶中の
結晶欠陥にかなり左右され通常のセルではこのリーク電
流を100PA以下にしなければならず、この構造で数
万個のセル全てのリークを押えることはむずかしい。こ
こで発生する接合リークはコンデンサ3に蓄積された電
荷を放電し、コントラストを低下させる。
ICと同一のため、プロセスが複雑であり工程コストが
高いと同時に基板シリコンとの接合リークによる歩留低
下が発生し、総コストが高い。特にシリコン基板とソー
ス・ドレインとなる拡散層との接合部には、単結晶中の
結晶欠陥にかなり左右され通常のセルではこのリーク電
流を100PA以下にしなければならず、この構造で数
万個のセル全てのリークを押えることはむずかしい。こ
こで発生する接合リークはコンデンサ3に蓄積された電
荷を放電し、コントラストを低下させる。
【0007】2つにはAl電極のすきまからシリコン基
板に入射した光は、電子−正孔対を生成し拡散して光電
流を生じてコンデンサ3の電荷を放電してしまいコント
ラストが低下する。
板に入射した光は、電子−正孔対を生成し拡散して光電
流を生じてコンデンサ3の電荷を放電してしまいコント
ラストが低下する。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、一対のガラス
基板間に液晶が封入され、該一対のガラス基板のうち一
方のガラス基板上にマトリクス状に配列されてなる画素
電極、該画素電極に接続されてなる薄膜トランジスタ、
前記画素電極を一方の電極とする保持容量を有する液晶
表示装置の製造方法において、前記一方のガラス基板上
に密着性のよい絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜上
にゲート電極及び前記保持容量の他方の電極となる部材
を同時に同一材料で形成する工程と、前記ゲート電極の
ゲート絶縁膜及び前記保持容量の誘電体膜を同時に同一
材料で形成する工程と、前記薄膜トランジスタのチャネ
ル領域となる不純物がドープされていない非単結晶シリ
コン半導体層を前記ゲート絶縁膜上に形成する工程とか
らなることを特徴とする。
基板間に液晶が封入され、該一対のガラス基板のうち一
方のガラス基板上にマトリクス状に配列されてなる画素
電極、該画素電極に接続されてなる薄膜トランジスタ、
前記画素電極を一方の電極とする保持容量を有する液晶
表示装置の製造方法において、前記一方のガラス基板上
に密着性のよい絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜上
にゲート電極及び前記保持容量の他方の電極となる部材
を同時に同一材料で形成する工程と、前記ゲート電極の
ゲート絶縁膜及び前記保持容量の誘電体膜を同時に同一
材料で形成する工程と、前記薄膜トランジスタのチャネ
ル領域となる不純物がドープされていない非単結晶シリ
コン半導体層を前記ゲート絶縁膜上に形成する工程とか
らなることを特徴とする。
【0009】本発明は、一対のガラス基板間に液晶が封
入され、該一対のガラス基板のうち一方のガラス基板上
にはマトリクス状に配列された複数の画素電極と、該各
画素電極に接続された薄膜トランジスタと、該画素電極
を一方の電極とする保持容量とを有する液晶表示装置に
おいて、前記一方のガラス基板上には密着性のよい第1
の絶縁膜が形成されてなり、前記第1の絶縁膜上に前記
薄膜トランジスタのゲート電極及び前記保持容量の他方
の電極となる部材が形成されてなり、前記ゲート電極及
び前記保持容量の他方の電極となる部材の上に第2の絶
縁膜が形成されてなり、前記ゲート電極の上には前記第
2の絶縁膜を介して前記薄膜トランジスタのチャネル領
域となる不純物がドープされていない非単結晶シリコン
半導体層が形成されてなることを特徴とする。
入され、該一対のガラス基板のうち一方のガラス基板上
にはマトリクス状に配列された複数の画素電極と、該各
画素電極に接続された薄膜トランジスタと、該画素電極
を一方の電極とする保持容量とを有する液晶表示装置に
おいて、前記一方のガラス基板上には密着性のよい第1
の絶縁膜が形成されてなり、前記第1の絶縁膜上に前記
薄膜トランジスタのゲート電極及び前記保持容量の他方
の電極となる部材が形成されてなり、前記ゲート電極及
び前記保持容量の他方の電極となる部材の上に第2の絶
縁膜が形成されてなり、前記ゲート電極の上には前記第
2の絶縁膜を介して前記薄膜トランジスタのチャネル領
域となる不純物がドープされていない非単結晶シリコン
半導体層が形成されてなることを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の構成はガラス、石英、又
はシリコンウエハ上にシリコン薄膜をチャネルとする薄
膜トランジスタを構成するものであって以下具体例にそ
って説明する。
はシリコンウエハ上にシリコン薄膜をチャネルとする薄
膜トランジスタを構成するものであって以下具体例にそ
って説明する。
【0011】(実施例1) 図3は、本発明に用いるマトリックスセルを示すもので
あり、図1の従来との違いは、容量18のGND配線を
新たに設けることにあり、基本的なデータの書込は同じ
である。この場合のGND電位は一定のバイアス電圧を
意味しバイアスレベル、又は信号レベルは問わない。又
表示データの入力をデータ線Yがサンブルーホールドす
る容量として、データ線YとGNDラインの間の容量2
1、又はアドレス線Xとの間の容量22を利用する。
あり、図1の従来との違いは、容量18のGND配線を
新たに設けることにあり、基本的なデータの書込は同じ
である。この場合のGND電位は一定のバイアス電圧を
意味しバイアスレベル、又は信号レベルは問わない。又
表示データの入力をデータ線Yがサンブルーホールドす
る容量として、データ線YとGNDラインの間の容量2
1、又はアドレス線Xとの間の容量22を利用する。
【0012】図4にセルの構造例を示す。(a)は平面
図であってアドレス線50はデータ線51、駆動電極及
びコンデンサの電極52をソース・ドレインとするトラ
ンジスタのチャネル54のゲートになっている。又GN
Dライン53はアドレス線50と同時に構成され電極5
2との間に容量を構成している。
図であってアドレス線50はデータ線51、駆動電極及
びコンデンサの電極52をソース・ドレインとするトラ
ンジスタのチャネル54のゲートになっている。又GN
Dライン53はアドレス線50と同時に構成され電極5
2との間に容量を構成している。
【0013】図4(b)は、(a)のAB線での断面を
示すものであり、製造プロセスの一例として説明する
と、石英等の高融点ガラス基板57にシリコン薄膜とし
てポリシリコンを約3000Å成長させる。但し場合に
よっては密着性をよくするため、薄いSiO2 をあらか
じめ形成することもある。更にフォトエッチングにより
ゲート50とコンデンサ電極53を形成した後に熱酸化
により約1500ÅのSiO2 膜55をゲート絶縁膜及
びコンデンサの誘電体膜として成長させる。その後2層
目のポリシリコンをつけてフォトエッチングによりパタ
ーンを形成後レジストマスクによりチャネル部54以外
にPイオンを打ち込んでソースドレイン電極及びデータ
線の配線部、コンデンサの電極を兼ねた液晶の駆動電極
を形成する。
示すものであり、製造プロセスの一例として説明する
と、石英等の高融点ガラス基板57にシリコン薄膜とし
てポリシリコンを約3000Å成長させる。但し場合に
よっては密着性をよくするため、薄いSiO2 をあらか
じめ形成することもある。更にフォトエッチングにより
ゲート50とコンデンサ電極53を形成した後に熱酸化
により約1500ÅのSiO2 膜55をゲート絶縁膜及
びコンデンサの誘電体膜として成長させる。その後2層
目のポリシリコンをつけてフォトエッチングによりパタ
ーンを形成後レジストマスクによりチャネル部54以外
にPイオンを打ち込んでソースドレイン電極及びデータ
線の配線部、コンデンサの電極を兼ねた液晶の駆動電極
を形成する。
【0014】このままでトランジスタの性能(シキイ
値、コンダクタンス)が不十分であるので、特にチャネ
ル部54に局部的、又は基板全体を均一に、レーザーを
照射しポリシリコンを短時間のうちに溶接、凝固させて
グレインを成長することによって、性能の改良を行な
う。これはいわゆるレーザアニールと言われているもの
である。
値、コンダクタンス)が不十分であるので、特にチャネ
ル部54に局部的、又は基板全体を均一に、レーザーを
照射しポリシリコンを短時間のうちに溶接、凝固させて
グレインを成長することによって、性能の改良を行な
う。これはいわゆるレーザアニールと言われているもの
である。
【0015】(実施例2) 図5は、本発明の他の例として通常のガラス基板上にセ
ルを構成した低温プロセスによる断面を示す。ガラス基
板70上にスパッタ又はプラズマCVD法等の低温での
膜生成法によりシリコン膜を作成し、全面にPイオン又
はBイオンを打込む。次にフォトエッチングによりゲー
ト73とコンデンサ電極72を形成する。更に絶縁膜7
4を形成する。これもやはり低温成長によるSiO2 等
を用いる。更にトランジスタのソースドレイン、コンデ
ンサと駆動電極を兼ねるための2層目のシリコン膜をや
はり低温で形成する。このポリシリコンは全くドープし
ないか、又はシキイ値をエンハンスメントにするだけに
十分な量のBイオンを打込む。その後レーザビームを局
部的又は全体に照射しアニールをする。
ルを構成した低温プロセスによる断面を示す。ガラス基
板70上にスパッタ又はプラズマCVD法等の低温での
膜生成法によりシリコン膜を作成し、全面にPイオン又
はBイオンを打込む。次にフォトエッチングによりゲー
ト73とコンデンサ電極72を形成する。更に絶縁膜7
4を形成する。これもやはり低温成長によるSiO2 等
を用いる。更にトランジスタのソースドレイン、コンデ
ンサと駆動電極を兼ねるための2層目のシリコン膜をや
はり低温で形成する。このポリシリコンは全くドープし
ないか、又はシキイ値をエンハンスメントにするだけに
十分な量のBイオンを打込む。その後レーザビームを局
部的又は全体に照射しアニールをする。
【0016】レーザビームの一部は、1層目のシリコン
に吸収されるが、ガラス基板70は透過する。従って1
層目のシリコン中のイオン打込みされた不純物の活性
化、2層目のポリシリコンのグレインの成長(特にチャ
ネル部78)が行なわれるべく適当なビームのエネルギ
ーで適当な時間(パルスレーザであればパルス間隔、C
Wレーザでは走査スピードに依存)で処理とすると、ガ
ラス基板には影響が殆んどない範囲でアニールが可能で
ある。この方式の特徴はレーザアニールにより、従来の
熱アニールに対しガラス基板に与える影響を非常に少な
くできるのでコストの安いガラスを用いることができる
こと、レーザのアニールは不純物の活性化と共に、チャ
ネル部のシリコン膜のグレインを成長させて、トランジ
スタの特性(特に移動度)を改良することが同時にでき
ることにある。
に吸収されるが、ガラス基板70は透過する。従って1
層目のシリコン中のイオン打込みされた不純物の活性
化、2層目のポリシリコンのグレインの成長(特にチャ
ネル部78)が行なわれるべく適当なビームのエネルギ
ーで適当な時間(パルスレーザであればパルス間隔、C
Wレーザでは走査スピードに依存)で処理とすると、ガ
ラス基板には影響が殆んどない範囲でアニールが可能で
ある。この方式の特徴はレーザアニールにより、従来の
熱アニールに対しガラス基板に与える影響を非常に少な
くできるのでコストの安いガラスを用いることができる
こと、レーザのアニールは不純物の活性化と共に、チャ
ネル部のシリコン膜のグレインを成長させて、トランジ
スタの特性(特に移動度)を改良することが同時にでき
ることにある。
【0017】その後Alをつけてフォトエッチングして
ソースドレイン電極76,77を形成する。Alとシリ
コンはこのままではコンタクトがとれにくいのでこの後
多少熱処理をするか、弱いレーザービームを照射すれば
よい。
ソースドレイン電極76,77を形成する。Alとシリ
コンはこのままではコンタクトがとれにくいのでこの後
多少熱処理をするか、弱いレーザービームを照射すれば
よい。
【0018】図6は本発明のマトリックス基板を用いた
液晶ディスプレイ装置の簡単な断面面を示す。透明駆動
電極67をのせた透明基板65とネサ膜よりなる共通電
極69をのせたガラス66に液晶体68をはさむ。更に
偏光板62、63でサンドイッチし、下側には反射板6
4をつける。こうすると上から入射した光は電極67を
ほとんど経過し反射板64で反射し、人体の目に感知さ
れる。この方式は通常のFEツイスト・ネマティック
(TN)方式タイプの液晶が使えるので、コントラスト
が高く、同時に視覚も広い。
液晶ディスプレイ装置の簡単な断面面を示す。透明駆動
電極67をのせた透明基板65とネサ膜よりなる共通電
極69をのせたガラス66に液晶体68をはさむ。更に
偏光板62、63でサンドイッチし、下側には反射板6
4をつける。こうすると上から入射した光は電極67を
ほとんど経過し反射板64で反射し、人体の目に感知さ
れる。この方式は通常のFEツイスト・ネマティック
(TN)方式タイプの液晶が使えるので、コントラスト
が高く、同時に視覚も広い。
【0019】
【発明の効果】以上のような発明とすることによって、
以下の如く顕著な効果を有するものである。
以下の如く顕著な効果を有するものである。
【0020】(a)絶縁膜を介して逆スタガー型の薄膜
トランジスタを形成しているため、真空状態を破ること
なく連続して膜を形成することができる。従って、膜の
間に不純物が混入することがなく、良好な電気的特性を
もつ境界面を得ることができる。(b)基板上に形成したゲート電極上にゲート絶縁膜を
形成した後、連続して 不純物をドープしない真性半導体
からなるチャンネル部を形成できるので、真性半導体と
絶縁膜とのMOS界面に不純物が残留することのない薄
膜トランジスタを形成できる。
トランジスタを形成しているため、真空状態を破ること
なく連続して膜を形成することができる。従って、膜の
間に不純物が混入することがなく、良好な電気的特性を
もつ境界面を得ることができる。(b)基板上に形成したゲート電極上にゲート絶縁膜を
形成した後、連続して 不純物をドープしない真性半導体
からなるチャンネル部を形成できるので、真性半導体と
絶縁膜とのMOS界面に不純物が残留することのない薄
膜トランジスタを形成できる。
【0021】(c)ガラス基板上に絶縁膜を形成してい
るため、ガラス基板と薄膜トランジスタとの密着性が向
上する。
るため、ガラス基板と薄膜トランジスタとの密着性が向
上する。
【0022】(d)逆スタガー型の薄膜トランジスタで
あるため、また絶縁膜上に絶縁膜を形成しているため、
薄膜トランジスタのチャンネル領域にガラス基板からの
不純物が拡散することを防止できるので、トランジスタ
の特性が安定する。
あるため、また絶縁膜上に絶縁膜を形成しているため、
薄膜トランジスタのチャンネル領域にガラス基板からの
不純物が拡散することを防止できるので、トランジスタ
の特性が安定する。
【図1】従来のアクティブマトリックスに用いたセルの
回路図。
回路図。
【図2】バルクシリコンを用いたセルの平面図。
【図3】本発明のセル図。
【図4】(a)(b)は本発明の実施例を示す図。
【図5】本発明の他の実施例を示す図。
【図6】本発明の基板をパネルに実装した際の断面図。
7、8、9・・・・コンタクトホール 10・・・・・・・ポリシリコンゲート 11・・・・・・・コンデンサ3のポリシリコンの上部
電極 13・・・・・・・Alによる駆動電極50、52、75・・・・・2層目のシリコン薄膜 51、53、72、73・・1層目のシリコン薄膜 54、78・・チャンネル 55、74・・ゲート絶縁膜 62、63・・・偏光板 64・・・反射板
電極 13・・・・・・・Alによる駆動電極50、52、75・・・・・2層目のシリコン薄膜 51、53、72、73・・1層目のシリコン薄膜 54、78・・チャンネル 55、74・・ゲート絶縁膜 62、63・・・偏光板 64・・・反射板
Claims (2)
- 【請求項1】一対のガラス基板間に液晶が封入され、該
一対のガラス基板のうち一方のガラス基板上にマトリク
ス状に配列されてなる画素電極、該画素電極に接続され
てなる薄膜トランジスタ、前記画素電極を一方の電極と
する保持容量を有する液晶表示装置の製造方法におい
て、 前記一方のガラス基板上に密着性のよい絶縁膜を形成す
る工程と、 前記絶縁膜上にゲート電極及び前記保持容量の他方の電
極となる部材を同時に同一材料で形成する工程と、 前記ゲート電極のゲート絶縁膜及び前記保持容量の誘電
体膜を同時に同一材料で形成する工程と、 前記薄膜トランジスタのチャネル領域となる不純物がド
ープされていない非単結晶シリコン半導体層を前記ゲー
ト絶縁膜上に形成する工程とからなることを特徴とする
液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項2】一対のガラス基板間に液晶が封入され、該
一対のガラス基板のうち一方のガラス基板上にはマトリ
クス状に配列された複数の画素電極と、該各画素電極に
接続された薄膜トランジスタと、該画素電極を一方の電
極とする保持容量とを有する液晶表示装置において、 前記一方のガラス基板上には密着性のよい第1の絶縁膜
が形成されてなり、 前記第1の絶縁膜上に前記薄膜トランジスタのゲート電
極及び前記保持容量の他方の電極となる部材が形成され
てなり、 前記ゲート電極及び前記保持容量の他方の電極となる部
材の上に第2の絶縁膜が形成されてなり、 前記ゲート電極の上には前記第2の絶縁膜を介して前記
薄膜トランジスタのチャネル領域となる不純物がドープ
されていない非単結晶シリコン半導体層が形成されてな
ることを特徴とする液晶表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20077395A JP2568990B2 (ja) | 1995-08-07 | 1995-08-07 | 液晶表示装置及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20077395A JP2568990B2 (ja) | 1995-08-07 | 1995-08-07 | 液晶表示装置及びその製造方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4039181A Division JPH05243577A (ja) | 1992-02-26 | 1992-02-26 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7226894A Division JPH08107215A (ja) | 1995-09-04 | 1995-09-04 | 薄膜トランジスタの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0851219A JPH0851219A (ja) | 1996-02-20 |
JP2568990B2 true JP2568990B2 (ja) | 1997-01-08 |
Family
ID=16429945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20077395A Expired - Lifetime JP2568990B2 (ja) | 1995-08-07 | 1995-08-07 | 液晶表示装置及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2568990B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6788108B2 (en) | 2001-07-30 | 2004-09-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5375953A (en) * | 1976-12-15 | 1978-07-05 | Seiko Epson Corp | Color displayer |
JPS5919339B2 (ja) * | 1977-08-30 | 1984-05-04 | シャープ株式会社 | マトリツクス型液晶表示装置 |
-
1995
- 1995-08-07 JP JP20077395A patent/JP2568990B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1980年(昭和55年)春季 第27回応用物理学関係連合講演会講演予稿集 P.410 3p−T−6 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0851219A (ja) | 1996-02-20 |
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