JP2024081161A - Clock recovery circuit, error rate measurement device, and error rate measurement method - Google Patents
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Links
- 238000011084 recovery Methods 0.000 title claims abstract description 97
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 21
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title abstract description 9
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 13
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 13
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 5
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 14
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 8
- 238000013075 data extraction Methods 0.000 description 7
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
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Abstract
Description
本発明は、クロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法に関し、特に、スペクトラム拡散クロックにより変調されたデータ信号からクロックを再生するためのクロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法に関する。 The present invention relates to a clock recovery circuit, an error rate measurement device, and an error rate measurement method, and in particular to a clock recovery circuit, an error rate measurement device, and an error rate measurement method for recovering a clock from a data signal modulated by a spread spectrum clock.
近年、IoT(Internet of Things)やクラウドコンピューティングの普及により通信システムは膨大なデータを扱うようになり、通信システムを構成する各種の通信機器のインタフェースは高速化とシリアル伝送化が進んでいる。例えば、USB(登録商標)(Universal Serial Bus)やPCI Express(登録商標)(Peripheral Component Interconnect Express)などの高速シリアルバス(High Speed Serial Bus)の規格では、電磁両立性(Electro-Magnetic Compatibility:EMC)対策として、基準信号のスペクトラムを拡散したスペクトラム拡散クロック(Spread-Spectrum Clock:SSC)によるSSC変調が採用されている。 In recent years, with the spread of IoT (Internet of Things) and cloud computing, communication systems have begun to handle huge amounts of data, and the interfaces of various communication devices that make up the communication systems are becoming faster and more serial in transmission. For example, standards for high-speed serial buses such as USB (registered trademark) (Universal Serial Bus) and PCI Express (registered trademark) (Peripheral Component Interconnect Express) employ SSC modulation using a spread-spectrum clock (SSC) that spreads the spectrum of the reference signal as a measure against Electro-Magnetic Compatibility (EMC).
SSC変調されたデータ信号(以下、「SSC変調データ信号」とも言う)は、図7(a)に示すような所定の変調周波数を有するSSC変調波により周波数掃引された基準クロックに同期したタイミングで生成される。例えば、PCI Express規格のSSC変調波は、図7(a)に示すような周期33kHzの三角波の波形形状を有している。 The SSC modulated data signal (hereinafter also referred to as "SSC modulated data signal") is generated at a timing synchronized with a reference clock that is frequency swept by an SSC modulated wave having a predetermined modulation frequency as shown in FIG. 7(a). For example, an SSC modulated wave of the PCI Express standard has a triangular waveform shape with a period of 33 kHz as shown in FIG. 7(a).
ところで、通信機器における信号の品質評価の指標の一つとして、受信データのうちビット誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率(Bit Error Rate:BER)が知られている。 By the way, one of the indicators for evaluating the quality of signals in communication devices is the bit error rate (BER), which is defined as the comparison between the number of bit errors that occurred in the received data and the total number of received data.
近年、通信システムを構成する各種の通信機器の多くは、同期用のクロックを伝送せず、データ信号のみを伝送するようになっており、BERを測定する従来の誤り率測定装置は、受信したデータ信号からクロックを再生するクロックリカバリデバイスを備えている。 In recent years, many of the various communication devices that make up communication systems are designed to transmit only data signals without transmitting a clock for synchronization, and conventional error rate measurement devices that measure BER are equipped with a clock recovery device that recovers the clock from the received data signal.
10Gイーサネット(登録商標)規格等の高速シリアル通信用途向けの汎用クロックリカバリデバイスは通常±100ppm程度の周波数偏差又はビットレート偏差に対応できるようになっているが、このようなクロックリカバリデバイスに、例えば最大5300ppmの周波数偏移を有するPCI Express規格のSSC変調データ信号が入力されると、クロックリカバリデバイスがアンロックしたり誤動作したりする。また、クロックリカバリデバイスが動作していても、SSC変調の周波数偏移に追従しきれない場合がある。 General-purpose clock recovery devices for high-speed serial communication applications such as the 10G Ethernet (registered trademark) standard are usually designed to handle frequency deviations or bit rate deviations of about ±100 ppm. However, when an SSC modulated data signal of the PCI Express standard, which has a frequency deviation of up to 5,300 ppm, for example, is input to such a clock recovery device, the clock recovery device may unlock or malfunction. In addition, even if the clock recovery device is operating, it may not be able to keep up with the frequency deviation of the SSC modulation.
このような場合、クロックリカバリデバイスの出力をFM(Frequency Modulation)復調して得られるSSC変調波は、図7(b)の実線のグラフに示すように、破線で示す本来の三角波の頂点部分が削られたような歪な波形になってしまう。 In such a case, the SSC modulated wave obtained by FM (Frequency Modulation) demodulation of the output of the clock recovery device will have a distorted waveform in which the peak of the original triangular wave shown by the dashed line has been removed, as shown by the solid line in Figure 7(b).
一般的には、高速シリアル通信向けのクロックリカバリデバイスのループ帯域は、数MHzから数十MHz程度であることから、SSC変調の33kHz程度の変調周波数に十分対応可能である。つまり、従来のクロックリカバリデバイスは、目的の周波数に確実にロックさせるために許容されるビットレート偏差を設計上の理由で制約しているために、PCI Express規格のSSC変調に対する耐力が十分でないものと考えられる。 Generally, the loop bandwidth of clock recovery devices for high-speed serial communication is on the order of several MHz to several tens of MHz, which is sufficient to handle modulation frequencies of around 33 kHz for SSC modulation. In other words, conventional clock recovery devices are considered to have insufficient resistance to the SSC modulation of the PCI Express standard because the allowable bit rate deviation for reliably locking to the target frequency is restricted for design reasons.
従来、図8に示すように、位相比較器51aと、ループフィルタ52aと、電圧制御発振器53aと、信号入力端子57aと、信号出力端子59aと、付加的なループである電圧追尾回路VT1とを有し、クロックリカバリデバイスとして利用可能な位相同期回路PS1が知られている(例えば、特許文献1参照)。電圧追尾回路VT1は、基準電圧発生器58aと、差動増幅器54aと、フィルタ55aと、加算器56aとによって構成されている。
As shown in Fig. 8, a phase-locked loop circuit PS1 is known that has a
電圧追尾回路VT1は、位相比較器51aの出力電圧の平均値を、基準電圧発生器58aの出力電圧VRに一致させるように制御する。電圧追尾回路VT1は、位相比較器51aの出力電圧のデューティ比を保つようにフィードバック制御するので、電圧追尾回路VT1が存在しない場合の位相同期回路と比較すると、位相同期回路PS1では、ロックレンジが大幅に拡大されている。
The voltage tracking circuit VT1 controls the average value of the output voltage of the
しかしながら、特許文献1に開示された位相同期回路PS1は、ロックレンジの拡大に限度があり、SSC変調データ信号の最大5300ppmの周波数偏差又はビットレート偏差に対応したクロック再生には適していないという問題があった。
However, the phase-locked loop circuit PS1 disclosed in
本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号からクロックを再生することができるクロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve these problems in the past, and aims to provide a clock recovery circuit, an error rate measurement device, and an error rate measurement method that can recover a clock from an SSC modulated data signal with a large frequency deviation.
上記課題を解決するために、本発明に係るクロックリカバリ回路は、SSC(Spread Spectrum Clock)変調されたリファレンスクロックを生成するリファレンスクロック生成部と、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号のSSC変調クロックを、前記リファレンスクロックに同期して再生するクロックリカバリ部と、前記クロックリカバリ部により再生された前記SSC変調クロックをFM復調して、前記SSC変調周波数を有するFM復調信号を生成するFM復調部と、を備え、前記リファレンスクロック生成部は、入力される制御電圧に応じた周波数の出力信号を出力する電圧制御発振器と、所定の周波数を有する基準クロック源と、前記電圧制御発振器の前記出力信号との位相差に応じた位相差信号を出力する位相比較器と、前記位相差信号に従った充電/放電電流を生成するチャージポンプと、前記充電/放電電流から高周波成分を除去した信号を出力するループフィルタと、前記FM復調部により生成された前記FM復調信号と、前記ループフィルタの出力とを加算する信号合成部と、を有し、前記電圧制御発振器は、前記信号合成部の出力が前記制御電圧として入力されることにより、前記リファレンスクロックを前記出力信号で変調して出力する構成である。 In order to solve the above problems, the clock recovery circuit of the present invention uses SSC (Spread Spectrum The reference clock generating unit generates a reference clock modulated by FM (FM Clock), a clock recovery unit reproduces an SSC-modulated clock of a data signal SSC-modulated at a predetermined SSC modulation frequency in synchronization with the reference clock, and an FM demodulation unit FM demodulates the SSC-modulated clock reproduced by the clock recovery unit to generate an FM demodulated signal having the SSC modulation frequency. The reference clock generating unit has a voltage-controlled oscillator that outputs an output signal having a frequency according to an input control voltage, a reference clock source having a predetermined frequency, a phase comparator that outputs a phase difference signal according to the phase difference with the output signal of the voltage-controlled oscillator, a charge pump that generates a charge/discharge current according to the phase difference signal, a loop filter that outputs a signal obtained by removing high-frequency components from the charge/discharge current, and a signal synthesis unit that adds the FM demodulated signal generated by the FM demodulation unit and the output of the loop filter. The voltage-controlled oscillator is configured to modulate the reference clock with the output signal by inputting the output of the signal synthesis unit as the control voltage.
この構成により、本発明に係るクロックリカバリ回路は、クロックリカバリ部の出力をFM復調して得られたSSC変調波であるFM復調信号を生成し、電圧制御発振器のクロックをFM復調信号でSSC変調してリファレンスクロックを生成し、SSC変調されたリファレンスクロックをクロックリカバリ部にフィードバックするようになっている。この構成により、本発明に係るクロックリカバリ回路は、従来の高速シリアル通信用途向けの汎用クロックリカバリデバイスをクロックリカバリ部として用いながらも、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号とリファレンスクロックとの周波数偏差を最小化させるように、SSC変調データ信号の周波数にリファレンスクロックの周波数を追従させることで、クロックリカバリ部の耐力を向上させて、SSC変調クロックを再生することができる。 With this configuration, the clock recovery circuit of the present invention generates an FM demodulated signal that is an SSC modulated wave obtained by FM demodulating the output of the clock recovery section, SSC modulates the clock of the voltage controlled oscillator with the FM demodulated signal to generate a reference clock, and feeds back the SSC modulated reference clock to the clock recovery section. With this configuration, the clock recovery circuit of the present invention uses a general-purpose clock recovery device for conventional high-speed serial communication applications as the clock recovery section, but can improve the durability of the clock recovery section and reproduce the SSC modulated clock by making the frequency of the reference clock follow the frequency of the SSC modulated data signal so as to minimize the frequency deviation between the SSC modulated data signal, which has a large frequency deviation, and the reference clock.
また、本発明に係るクロックリカバリ回路は、前記クロックリカバリ部により再生された前記SSC変調クロックを分周して、前記FM復調部に出力する分周器と、前記分周器の分周比を制御する分周比制御部と、を更に備え、前記FM復調部は、前記分周器により分周された前記SSC変調クロックを遅延させて出力する遅延部と、前記分周器の出力と、前記遅延部の出力との排他的論理和を演算する排他的論理和回路と、前記排他的論理和回路の出力を平滑化して前記FM復調信号を生成するローパスフィルタと、を有し、前記分周比制御部は、前記排他的論理和回路に入力される前記SSC変調クロックの最高周波数が、前記排他的論理和回路の動作上限周波数の1/4以下になるように、前記データ信号のビットレートに基づいて前記分周比を制御する構成であってもよい。 The clock recovery circuit according to the present invention may further include a divider that divides the SSC modulated clock reproduced by the clock recovery unit and outputs the clock to the FM demodulation unit, and a division ratio control unit that controls the division ratio of the divider. The FM demodulation unit may include a delay unit that delays and outputs the SSC modulated clock divided by the divider, an exclusive OR circuit that calculates the exclusive OR of the output of the divider and the output of the delay unit, and a low-pass filter that smooths the output of the exclusive OR circuit to generate the FM demodulated signal. The division ratio control unit may be configured to control the division ratio based on the bit rate of the data signal so that the maximum frequency of the SSC modulated clock input to the exclusive OR circuit is equal to or less than 1/4 of the upper operating frequency limit of the exclusive OR circuit.
この構成により、本発明に係るクロックリカバリ回路は、排他的論理和回路の復調分解能を確保しつつ、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号からSSC変調クロックを再生することができる。 With this configuration, the clock recovery circuit of the present invention can recover an SSC modulated clock from an SSC modulated data signal with a large frequency deviation while maintaining the demodulation resolution of the exclusive OR circuit.
また、本発明に係る誤り率測定装置は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号を受信する信号受信部と、前記信号受信部により受信された前記データ信号を構成するビット列データのビット誤り率を算出する誤り率算出部と、を備える誤り率測定装置であって、前記信号受信部は、上記のいずれかのクロックリカバリ回路を有し、前記クロックリカバリ回路により前記データ信号から再生された前記SSC変調クロックのタイミングで前記データ信号を構成するビット列データを抽出する構成である。 The error rate measurement device according to the present invention is an error rate measurement device including a signal receiving unit that receives a data signal SSC modulated at a predetermined SSC modulation frequency, and an error rate calculation unit that calculates the bit error rate of bit string data that constitutes the data signal received by the signal receiving unit, and the signal receiving unit has any of the clock recovery circuits described above, and is configured to extract the bit string data that constitutes the data signal at the timing of the SSC modulated clock recovered from the data signal by the clock recovery circuit.
この構成により、本発明に係る誤り率測定装置は、被測定物から送信されるSSC変調データ信号を受信し、上記のいずれかのクロックリカバリ回路を用いてSSC変調データ信号からSSC変調クロックを生成することができる。さらに、本発明に係る誤り率測定装置は、生成したSSC変調クロックのタイミングで、SSC変調データ信号を構成するビット列データを抽出し、このビット列データのBERを測定することができる。 With this configuration, the error rate measurement device according to the present invention can receive an SSC modulated data signal transmitted from the device under test, and generate an SSC modulated clock from the SSC modulated data signal using any of the clock recovery circuits described above. Furthermore, the error rate measurement device according to the present invention can extract bit string data constituting the SSC modulated data signal at the timing of the generated SSC modulated clock, and measure the BER of this bit string data.
また、本発明に係る誤り率測定方法は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号を受信する信号受信ステップと、前記信号受信ステップにより受信された前記データ信号を構成するビット列データのビット誤り率を算出する誤り率算出ステップと、を含む誤り率測定方法であって、前記信号受信ステップは、上記のいずれかのクロックリカバリ回路により前記データ信号から再生された前記SSC変調クロックのタイミングで前記データ信号を構成するビット列データを抽出する構成である。 The error rate measurement method according to the present invention includes a signal receiving step of receiving a data signal SSC modulated at a predetermined SSC modulation frequency, and an error rate calculation step of calculating a bit error rate of bit string data constituting the data signal received by the signal receiving step, and the signal receiving step is configured to extract bit string data constituting the data signal at the timing of the SSC modulated clock recovered from the data signal by any one of the clock recovery circuits described above.
本発明は、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号からクロックを再生することができるクロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法を提供するものである。 The present invention provides a clock recovery circuit, an error rate measurement device, and an error rate measurement method that can recover a clock from an SSC modulated data signal with a large frequency deviation.
以下、本発明に係るクロックリカバリ回路、誤り率測定装置、及び誤り率測定方法の実施形態について、図面を用いて説明する。 The following describes embodiments of the clock recovery circuit, error rate measurement device, and error rate measurement method according to the present invention with reference to the drawings.
(第1の実施形態)
図1に示す本発明の第1の実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、SSC変調されたリファレンスクロックを生成するリファレンスクロック生成部10と、クロックリカバリ部20と、分周器21と、FM復調部22と、増幅器25と、アナログスイッチ26と、操作部27と、制御部30と、を備える。制御部30は、分周比制御部31と、ゲイン制御部32と、切替制御部33と、周波数補正制御部34と、を含む。
First Embodiment
1 includes a reference
以下では、主に、後述するアナログスイッチ26が切替制御部33によりオンの状態(以下、「有効」とも言う)に設定されている場合の各部の構成及び動作について説明する。
The following mainly describes the configuration and operation of each part when the
クロックリカバリ部20は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたSSC変調データ信号のSSC変調クロックを、リファレンスクロック生成部10により生成されるリファレンスクロックに同期して再生するようになっている。すなわち、SSC変調されたデータ信号をクロックリカバリ部20で再生したクロックは、データ信号と同様にSSC変調されたクロックである。クロックリカバリ部20としては、高速シリアル通信用途向けの汎用クロックリカバリデバイスを用いることができる。ここで、SSC変調周波数は、通信規格ごとに規定されており、例えば30~33kHzの範囲の周波数である。例えば、クロックリカバリ部20から出力されるSSC変調クロックは、SSC変調の周波数偏移とSSC変調周波数に応じて、図2に示すように、パルスの立ち上がり(又は立ち下がり)の間隔や、パルス幅が変化したものになっている。
The
分周器21は、クロックリカバリ部20により再生されたSSC変調クロックを、後段のFM復調部22で扱いやすい周波数まで分周して、FM復調部22に出力するようになっている。FM復調部22がクロックリカバリ部20の出力をそのままFM復調できる場合には、分周器21はなくてもよい。
The
FM復調部22は、クロックリカバリ部20により再生されたSSC変調クロックをFM復調して、通信規格で規定されたSSC変調周波数を有するFM復調信号を生成するようになっている。FM復調信号は、例えば、PCI Express規格であれば、図7(a)に示すような周期33kHzの三角波の波形形状を有する。FM復調には多種多様な方式があるが、本実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、後述する誤り率測定装置で採用可能な広帯域(広いビットレート範囲)のクロックリカバリを実現するために、広帯域化に有利な遅延検波方式を採用した。すなわち、FM復調部22は、分周器21により分周されたSSC変調クロックを遅延検波するものであり、遅延検波回路23と、ローパスフィルタ(Low Pass Filter:LPF)24と、を有する。
The
図3に示すように、遅延検波回路23は、遅延部23aと、高速動作の排他的論理和(Exclusive OR:EXOR)回路23bとで構成される。EXOR回路23bでの復調分解能を確保するために、EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数は、EXOR回路23bの動作上限周波数の1/4以下とすることが望ましい。このため、分周比制御部31は、EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数が、EXOR回路23bの動作上限周波数の1/4以下になるように、SSC変調データ信号のビットレートに基づいて分周器21の分周比を制御するようになっている。
As shown in FIG. 3, the
遅延部23aは、分周器21により分周されたSSC変調クロックを、その最高周波数の1/4周期分だけ遅延させて出力するようになっている。EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの周波数が低いと、遅延部23aによる遅延時間が大きくなり、実装規模や遅延安定性とのトレードオフが生じるため、分周器21の分周比はこの点を考慮して設定されることが望ましい。
The
遅延部23aは、例えば、固定遅延素子や可変遅延デバイスなどの素子又はデバイスにより構成することや、ケーブルやプリント配線板の伝送路を伸ばすなどの方法により構成することができる。
The
EXOR回路23bは、分周器21により分周されたSSC変調クロックと、分周器21により分周されて遅延部23aにより遅延されたSSC変調クロックとの排他的論理和を演算するようになっている。遅延部23aから入力されたSSC変調クロックの最高周波数は1/4周期分だけ遅延しているため、EXOR回路23bは、EXOR回路23bに入力されたSSC変調クロックの2倍の周波数のクロックを出力する。
The
LPF24は、EXOR回路23bの出力を平滑化して、通信規格で規定されたSSC変調周波数を有するFM復調信号を生成するようになっている。このとき、EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数において、遅延部23aによりSSC変調クロックに付加される遅延時間に誤差がなければ、EXOR回路23bの出力波形のデューティ比は50%となるため、LPF24の出力の直流平均値レベル(以下、「DCオフセット」とも言う)はEXOR回路23bの出力振幅の半分の電圧レベルとなる。
The
LPF24は、FM復調信号の雑音に応じて、SSC変調周波数である33kHzの例えば3~10倍程度の範囲のカットオフ周波数を有するものを好適に用いることができる。LPF24は、このようにカットオフ周波数が比較的低いものであるため、1次のRCローパスフィルタで構成することができる。ただし、LPF24は、RCローパスフィルタ及びその次数に限定されず、オペアンプで構成したものであってもLCローパスフィルタで構成したものであってもよい。
The
EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの周波数範囲が変化すると、EXOR回路23bの出力波形のデューティ比が変化し、EXOR回路23b出力の直流平均値レベルも変化する。EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数がEXOR回路23bの動作上限周波数の1/4以上になった場合は、分周比制御部31は、EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数が、再度EXOR回路23bの動作上限周波数の1/4以下になるように、SSC変調データ信号のビットレートに基づいて分周器21の分周比を制御する。
When the frequency range of the SSC modulated clock input to the
遅延部23aの遅延量が固定遅延量である場合は、EXOR回路23bへ入力されるSSC変調クロックの周波数が下がると、LPF24通過後のEXOR回路23bの出力のDCオフセットと検波効率が下がってしまう。
If the delay amount of the
このため、増幅器25は、ゲイン制御部32により設定されたゲインで、FM復調部22により生成されたFM復調信号を増幅するようになっている。例えば、ゲイン制御部32は、クロックリカバリ回路1に入力されたSSC変調データ信号のSSC変調の既知の周波数偏移に応じたゲインを増幅器25に設定するようになっている。ゲイン制御部32は、増幅器25のゲインを調整することにより、後段のリファレンスクロック生成部10により生成されるリファレンスクロックの周波数偏移を調整して、SSC変調データ信号とリファレンスクロックとの周波数偏差が、クロックリカバリ部20のロック可能な範囲内でなるべく小さくなるようにする。
For this reason, the
なお、SSC変調クロックの周波数範囲によって変動してしまうDCオフセット成分は、後段のリファレンスクロック生成部10において不要である。このため、FM復調部22と増幅器25との間に、コンデンサや公知のDCオフセットキャンセル回路等を適宜設けることにより、増幅器25がLPF24の出力のAC成分、すなわちSSC変調波の波形だけを増幅できるようにすることが望ましい。
The DC offset component that varies depending on the frequency range of the SSC modulated clock is not necessary in the downstream reference
あるいは、遅延量が可変な可変遅延デバイスを遅延部23aとして使用して、SSC変調クロックの周波数範囲に応じて、LPF24の出力のDCオフセットと検波効率の低下を抑制する最適な遅延量を設定する方法もある。
Alternatively, a variable delay device with a variable delay amount can be used as the
アナログスイッチ26は、切替制御部33の制御に応じて、増幅器25により増幅されたFM復調信号の後段のリファレンスクロック生成部10へのフィードバックを「有効」又は「無効」に切り替えるようになっている。例えば、切替制御部33は、クロックリカバリ回路1に入力されるデータ信号がSSC変調データ信号である場合には、FM復調信号をリファレンスクロック生成部10においてリファレンスクロックに重畳するためアナログスイッチ26を「有効」にする制御を行う。一方、切替制御部33は、クロックリカバリ回路1に入力されるデータ信号がSSC変調されていない信号である場合には、不要なFM復調信号がリファレンスクロック生成部10においてリファレンスクロックに重畳されるのを防ぐため、アナログスイッチ26をオフの状態である「無効」にする制御を行う。
The
切替制御部33によりアナログスイッチ26が「無効」から「有効」に切り替えられた直後は、FM復調部22から出力されるFM復調信号の波形は、図7(b)の実線のグラフに示すように三角波の頂点部分が削られたような歪な波形となっている。しかしながら、三角波が本来の傾きを持っている期間に、クロックリカバリ部20に入力されるSSC変調データ信号とリファレンスクロックとの周波数偏差が小さくなり、FM復調信号の波形が、図7(a)に示すような理想的な三角波の波形になる。なお、FM復調部22から出力されるFM復調信号は電圧信号であり、図7(a)及び(b)は、FM復調信号の電圧と、その電圧に比例する周波数偏移とを、任意単位で表示している。
Immediately after the
なお、クロックリカバリ回路1に入力されるデータ信号がSSC変調されていない信号である場合には、アナログスイッチ26が切替制御部33により「無効」に設定され、リファレンスクロック生成部10は、SSC変調されていないリファレンスクロックを生成することになる。
When the data signal input to the
図4に示すように、リファレンスクロック生成部10は、信号合成部11と、ループフィルタ12と、PLL(Phase Locked Loop)部13と、を有する。PLL部13は、VCO14と、プログラマブル分周器である分周器15a~15cと、位相比較器16と、チャージポンプ17と、を有する。
As shown in FIG. 4, the reference
信号合成部11は、例えば、オペアンプによる加算回路で構成され、FM復調部22により生成されたFM復調信号と、ループフィルタ12の出力と、を加算するようになっている。信号合成部11の出力は、VCO14に制御電圧として入力される。
The
VCO14は、信号合成部11の出力が制御電圧として入力されることにより、VCO14のクロックを変調して、信号合成部11から入力される制御電圧にほぼ比例した周波数のリファレンスクロックを生成し、生成したリファレンスクロックを出力信号として出力するようになっている。VCO14は、クロックリカバリ部20に入力されたSSC変調データ信号とリファレンスクロックとの周波数偏差を小さくして、SSC変調データ信号の周波数にリファレンスクロックの周波数が追従するように制御する。
The
分周器15aは、VCO14から出力されたリファレンスクロックを、例えば、SSC変調データ信号のボーレート(Baud rate)の1/Naの周波数まで分周して、クロックリカバリ部20に出力するようになっている。分周器15aの分周比Naは、VCO14から出力されたリファレンスクロックの周波数がクロックリカバリ部20の要求する周波数になるように、分周比制御部31により設定される。なお、VCO14から出力されたリファレンスクロックをそのままクロックリカバリ部20に入力すればよい場合には、分周器15aはなくてもよい。
The
分周器15bは、VCO14から出力されたリファレンスクロックの中心周波数を、外部の信号源から分周器15cに入力される基準クロック源の分周及び逓倍関係になるように設定するものである。分周器15bは、VCO14からの出力信号をフィードバック信号として所定の分周比Nbで分周し、分周したフィードバック信号の中心周波数と、分周器15cの出力の周波数とを一致させる。分周器15bの分周比Nbは、周波数補正制御部34により設定される。
The
分周器15cは、外部の信号源から入力される基準クロック源を所定の分周比Ncで分周して、位相比較器16に出力するようになっている。分周器15cの分周比Ncは、周波数補正制御部34により設定される。基準クロック源は、SSC変調されていない固定周波数(例えば、40MHz)のクロックである。
The
周波数補正制御部34は、分周器15bにより分周されたリファレンスクロックの中心周波数と、分周器15cにより分周された基準クロック源の周波数とを一致させるように、分周比Nb及び分周比Ncを設定するようになっている。
The frequency
位相比較器16は、例えば排他的論理和(EXOR)回路で構成されており、分周器15bにより分周されたリファレンスクロックと、分周器15cにより分周された基準クロック源との位相差に比例したパルス幅の位相差信号を出力するようになっている。
The
チャージポンプ17は、位相比較器16から入力される位相差信号に従った充電/放電電流を生成して、ループフィルタ12に供給するようになっている。
The
ループフィルタ12は、チャージポンプ17から供給される充電/放電電流を電圧に変換し、変換した電圧の高周波成分を除去して平滑化した信号を信号合成部11に出力するようになっている。ループフィルタ12を含めたPLL部13のループ帯域幅は、VCO14のクロックをSSC変調する目的と、リファレンスクロックの中心周波数を安定化させる目的とを両立するために、SSC変調周波数30~33kHzよりも狭い周波数(例えば、10kHz)に設定されている。
The
これにより、信号合成部11は、PLL部13のループ帯域外の成分をFM復調信号に重畳して、VCO14に対して直接SSC変調を実施することができる。仮に、PLL部13のループ帯域内でSSC変調を実施しようとする場合には、変調はフィードバックにより打ち消されてしまうことになる。
This allows the
FM復調部22から出力されたFM復調信号のDCオフセット成分が、DCオフセットキャンセル回路等により除去されている場合には、リファレンスクロック生成部10により生成されたリファレンスクロックにセンタースプレッド方式相当のSSC変調が掛かっていることになる。このため、クロックリカバリ回路1に入力されるSSC変調データ信号がダウンスプレッド方式又はアップスプレッド方式のSSC変調が掛かったものである場合は、例えば、特開2018-156647号公報に開示されたような公知の方法で、リファレンスクロック生成部10により生成されるリファレンスクロックの周波数をダウンスプレッド方式又はアップスプレッド方式に合わせて換算することが望ましい。
When the DC offset component of the FM demodulated signal output from the
このため、周波数補正制御部34は、クロックリカバリ回路1に入力されるSSC変調データ信号のスプレッド方式に応じて、信号合成部11によるFM復調信号とループフィルタ12の出力との加算結果から得られるSSC変調周波数偏移の中心をずらす制御、すなわち、VCO14から出力されるリファレンスクロックの中心周波数をずらす制御を行うようになっている。例えば、周波数補正制御部34は、分周器15b,15cの分周比を制御して、リファレンスクロックの中心周波数を所望のスプレッド方式に対応する周波数に制御するようになっている。
For this reason, the frequency
操作部27は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、例えば表示装置の表示画面に対応する入力面への接触操作による接触位置を検出するためのタッチセンサを備えるタッチパネルで構成される。あるいは、操作部27は、キーボード又はマウスのような入力デバイスを含んで構成されてもよい。操作部27への操作入力は、制御部30により検知されるようになっている。
The
ユーザによる操作部27への操作入力により、クロックリカバリ回路1に入力されるSSC変調データ信号からリファレンスクロックを生成するために必要な設定情報として、クロックリカバリ回路1に入力されるデータ信号がSSC変調データ信号であるか否か、SSC変調データ信号のビットレート、スプレッド方式の選択などの設定を行うことが可能である。
By inputting operations into the
制御部30は、例えばCPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、HDD(Hard Disk Drive)、SSD(Solid State Drive)などを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、クロックリカバリ回路1を構成する上記各部の動作を制御するものであって、上述の分周比制御部31、ゲイン制御部32、切替制御部33、及び周波数補正制御部34を含む。また、制御部30は、ROM等に記憶された所定のプログラムをRAMに移して実行することにより、分周比制御部31、ゲイン制御部32、切替制御部33、及び周波数補正制御部34の少なくとも一部をソフトウェア的に構成することが可能である。なお、分周比制御部31、ゲイン制御部32、切替制御部33、及び周波数補正制御部34の少なくとも一部は、FPGA(Field Programmable Gate Array)やASIC(Application Specific Integrated Circuit)などのデジタル回路で構成することも可能である。あるいは、分周比制御部31、ゲイン制御部32、切替制御部33、及び周波数補正制御部34の少なくとも一部は、デジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。
The
以上説明したように、本実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、クロックリカバリ部20の出力をFM復調して得られたSSC変調波であるFM復調信号を生成し、VCO14のクロックをFM復調信号でSSC変調してリファレンスクロックを生成し、SSC変調されたリファレンスクロックをクロックリカバリ部20にフィードバックするようになっている。この構成により、本実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、従来の高速シリアル通信用途向けの汎用クロックリカバリデバイスをクロックリカバリ部20として用いながらも、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号とリファレンスクロックとの周波数偏差を最小化させるように、SSC変調データ信号の周波数にリファレンスクロックの周波数を追従させることで、クロックリカバリ部20の耐力を向上させて、SSC変調クロックを再生することができる。
As described above, the
また、本実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、EXOR回路23bに入力されるSSC変調クロックの最高周波数が、EXOR回路23bの動作上限周波数の1/4以下になるように、SSC変調データ信号のビットレートに基づいて、分周器21の分周比を制御するようになっている。この構成により、本実施形態に係るクロックリカバリ回路1は、EXOR回路23bの復調分解能を確保しつつ、周波数偏移の大きなSSC変調データ信号からSSC変調クロックを再生することができる。
The
(第2の実施形態)
続いて、本発明の第2の実施形態に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法について、図面を参照しながら説明する。なお、第1の実施形態と同様の構成については同一の符号を付して適宜説明を省略する。また、第1の実施形態と同様の動作についても適宜説明を省略する。
Second Embodiment
Next, an error rate measurement device and an error rate measurement method according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that the same components as those in the first embodiment are given the same reference numerals and the description thereof will be omitted as appropriate. Also, the description of the same operations as those in the first embodiment will be omitted as appropriate.
図5に示すように、第2の実施形態に係る誤り率測定装置100は、被測定物(Device Under Test:DUT)200から送信されるSSC変調データ信号の誤り率を測定するものであって、データ記憶部41と、信号送信部42と、信号受信部43と、同期検出部44と、誤り率算出部45と、表示部46と、制御部47と、を備える。
As shown in FIG. 5, the error
DUT200は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたSSC変調データ信号を出力するものである。DUT200が対応する規格の例としては、PCI Express Gen1~6、USB3.1~4、DP1.4~2などが挙げられる。
データ記憶部41は、RAMなどのメモリによって構成され、基準になるビット列データをあらかじめ記憶している。ここで、ビット列データとは、2値以上の多値K(Kは2以上の整数)からなるPAM信号が取り得る0レベルからK-1レベルまでのK個のレベルに対応したデータである。例えば、4値のPAM信号であるPAM4信号のビット列データは、"00"、"01"、"10"、及び"11"のビットの組合せからなる。
The
信号送信部42は、データ記憶部41から読み込んだビット列データを所定のSSC変調周波数でSSC変調してテスト信号を生成し、生成したテスト信号をDUT200に送信するようになっている。このとき、DUT200は、信号送信部42から送信されたテスト信号を受信して、受信したテスト信号をSSC変調データ信号として信号受信部43に送信することになる。すなわち、DUT200は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたK値のPAM信号をSSC変調データ信号として送信するものである。
The
信号受信部43は、DUT200から送信されたSSC変調データ信号を受信し、受信したSSC変調データ信号のビット列データを同期検出部44に出力するようになっており、第1の実施形態のクロックリカバリ回路1と、ビット列データ抽出部48と、を有する。
The
クロックリカバリ回路1は、DUT200から送信されたSSC変調データ信号からSSC変調クロックを再生する。
The
ビット列データ抽出部48は、クロックリカバリ回路1により再生されたSSC変調クロックのタイミングで、DUT200から送信されたSSC変調データ信号を構成するビット列データを抽出するようになっている。例えば、ビット列データ抽出部48は、少なくとも1つの0/1判定器を有しており、各0/1判定器にクロックリカバリ回路1からのSSC変調クロックが入力されることで、DUT200から送信されたSSC変調データ信号のレベルの判定をSSC変調クロックのタイミングで行うことができる。なお、クロックリカバリ回路1から出力されるSSC変調クロックは、ビット列データ抽出部48に限らず、誤り率測定装置100を構成する各部で動作クロックとして使用されてもよい。
The bit string
同期検出部44は、データ記憶部41から読み込んだビット列データと、ビット列データ抽出部48により抽出されたSSC変調データ信号のビット列データとの同期を取るようになっている。そして、同期検出部44は、同期が取れたSSC変調データ信号のビット列データを誤り率算出部45に出力する。
The
誤り率算出部45は、同期検出部44から出力されたSSC変調データ信号を構成するビット列データと、データ記憶部41に記憶されているビット列データとを順次比較することにより、SSC変調データ信号を構成するビット列データの誤りビットを検出するとともに、SSC変調データ信号を構成するビット列データのBERを算出するようになっている。
The error
表示部46は、例えばLCD(Liquid Crystal Display)やCRT(Cathode Ray Tube)などの表示機器で構成され、制御部47から出力される制御信号に応じて、誤り率算出部45により算出されたビット列データのBERなどの各種表示内容を表示するようになっている。さらに、表示部46は、制御部47から出力される制御信号に応じて、各種条件を設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象の表示を行うようになっている。
The
制御部47は、第1の実施形態における制御部30と同様に構成され、誤り率測定装置100を構成する上記各部の動作を制御するようになっている。また、制御部47は、ROM等に記憶された所定のプログラムをRAMに移して実行することにより、誤り率算出部45の少なくとも一部をソフトウェア的に構成することが可能である。なお、誤り率算出部45の少なくとも一部は、FPGAやASICなどのデジタル回路で構成することも可能である。あるいは、誤り率算出部45の少なくとも一部は、デジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。なお、本実施形態における制御部47は、第1の実施形態における制御部30を兼ねていてもよい。
The
以下、本実施形態の誤り率測定方法について、図6のフローチャートを参照しながらその処理の一例を説明する。 Below, an example of the process for measuring the error rate according to this embodiment will be described with reference to the flowchart in Figure 6.
まず、信号送信部42は、データ記憶部41から読み込んだビット列データを所定のSSC変調周波数でSSC変調してテスト信号を生成し、生成したテスト信号をDUT200に送信する(ステップS1)。
First, the
次に、クロックリカバリ回路1は、所定のSSC変調周波数でSSC変調されたSSC変調データ信号をDUT200から受信して、SSC変調クロックを生成する(信号受信ステップS2)。
Next, the
次に、ビット列データ抽出部48は、クロックリカバリ回路1によりSSC変調データ信号から再生されたSSC変調クロックのタイミングで、SSC変調データ信号を構成するビット列データを抽出する(信号受信ステップS3)。
Next, the bit string
次に、誤り率算出部45は、ステップS3により抽出されたSSC変調データ信号を構成するビット列データのBERを算出する(誤り率算出ステップS4)。
Next, the error
以上説明したように、本実施形態に係る誤り率測定装置100は、DUT200から送信されるK値のPAM信号をSSC変調データ信号として受信し、第1の実施形態のクロックリカバリ回路1を用いてSSC変調データ信号からSSC変調クロックを生成することができる。さらに、本実施形態に係る誤り率測定装置100は、生成したSSC変調クロックのタイミングで、SSC変調データ信号を構成するビット列データを抽出し、このビット列データのBERを測定することができる。
As described above, the error
1 クロックリカバリ回路
10 リファレンスクロック生成部
11 信号合成部
12 ループフィルタ
13 PLL部
14 VCO
15a~15c 分周器
16 位相比較器
17 チャージポンプ
20 クロックリカバリ部
21 分周器
22 FM復調部
23 遅延検波回路
23a 遅延部
23b EXOR回路
24 LPF
25 増幅器
26 アナログスイッチ
31 分周比制御部
32 ゲイン制御部
33 切替制御部
34 周波数補正制御部
41 データ記憶部
42 信号送信部
43 信号受信部
44 同期検出部
45 誤り率算出部
48 ビット列データ抽出部
100 誤り率測定装置
200 DUT
REFERENCE SIGNS
15a to
25
Claims (4)
所定のSSC変調周波数でSSC変調されたデータ信号のSSC変調クロックを、前記リファレンスクロックに同期して再生するクロックリカバリ部(20)と、
前記クロックリカバリ部により再生された前記SSC変調クロックをFM復調して、前記SSC変調周波数を有するFM復調信号を生成するFM復調部(22)と、を備え、
前記リファレンスクロック生成部は、
入力される制御電圧に応じた周波数の出力信号を出力する電圧制御発振器(14)と、
所定の周波数を有する基準クロック源と、前記電圧制御発振器の前記出力信号との位相差に応じた位相差信号を出力する位相比較器(16)と、
前記位相差信号に従った充電/放電電流を生成するチャージポンプ(17)と、
前記充電/放電電流から高周波成分を除去した信号を出力するループフィルタ(12)と、
前記FM復調部により生成された前記FM復調信号と、前記ループフィルタの出力とを加算する信号合成部(11)と、を有し、
前記電圧制御発振器は、前記信号合成部の出力が前記制御電圧として入力されることにより、前記電圧制御発振器のクロックを変調して前記リファレンスクロックを生成し、生成した前記リファレンスクロックを前記出力信号として出力することを特徴とするクロックリカバリ回路。 A reference clock generating unit (10) that generates a reference clock modulated by SSC (Spread Spectrum Clock);
a clock recovery unit (20) for recovering an SSC modulated clock of a data signal SSC modulated at a predetermined SSC modulation frequency in synchronization with the reference clock;
an FM demodulation unit (22) that FM demodulates the SSC modulated clock recovered by the clock recovery unit to generate an FM demodulated signal having the SSC modulation frequency;
The reference clock generating unit
a voltage controlled oscillator (14) that outputs an output signal having a frequency corresponding to an input control voltage;
a phase comparator (16) that outputs a phase difference signal corresponding to a phase difference between a reference clock source having a predetermined frequency and the output signal of the voltage controlled oscillator;
A charge pump (17) for generating a charge/discharge current according to the phase difference signal;
a loop filter (12) that outputs a signal obtained by removing high-frequency components from the charge/discharge current;
a signal synthesis unit (11) that adds the FM demodulated signal generated by the FM demodulation unit and an output of the loop filter,
The clock recovery circuit is characterized in that the voltage-controlled oscillator receives the output of the signal synthesis unit as the control voltage, modulates the clock of the voltage-controlled oscillator to generate the reference clock, and outputs the generated reference clock as the output signal.
前記分周器の分周比を制御する分周比制御部(31)と、を更に備え、
前記FM復調部は、
前記分周器により分周された前記SSC変調クロックを遅延させて出力する遅延部(23a)と、
前記分周器の出力と、前記遅延部の出力との排他的論理和を演算する排他的論理和回路(23b)と、
前記排他的論理和回路の出力を平滑化して前記FM復調信号を生成するローパスフィルタ(24)と、を有し、
前記分周比制御部は、前記排他的論理和回路に入力される前記SSC変調クロックの最高周波数が、前記排他的論理和回路の動作上限周波数の1/4以下になるように、前記データ信号のビットレートに基づいて前記分周比を制御することを特徴とする請求項1に記載のクロックリカバリ回路。 a frequency divider (21) that divides the SSC modulated clock reproduced by the clock recovery unit and outputs the divided clock to the FM demodulation unit;
A frequency division ratio control unit (31) that controls the frequency division ratio of the frequency divider,
The FM demodulation unit includes:
a delay unit (23a) that delays and outputs the SSC modulated clock frequency-divided by the frequency divider;
an exclusive OR circuit (23b) that calculates an exclusive OR between the output of the frequency divider and the output of the delay unit;
a low-pass filter (24) that smoothes the output of the exclusive OR circuit to generate the FM demodulated signal;
2. The clock recovery circuit according to claim 1, wherein the division ratio control unit controls the division ratio based on a bit rate of the data signal so that the maximum frequency of the SSC modulated clock input to the exclusive OR circuit is equal to or lower than 1/4 of an upper limit operating frequency of the exclusive OR circuit.
前記信号受信部により受信された前記データ信号を構成するビット列データのビット誤り率を算出する誤り率算出部(45)と、を備える誤り率測定装置(100)であって、
前記信号受信部は、前記請求項1又は請求項2に記載のクロックリカバリ回路を有し、前記クロックリカバリ回路により前記データ信号から再生された前記SSC変調クロックのタイミングで前記データ信号を構成するビット列データを抽出することを特徴とする誤り率測定装置。 A signal receiving unit (43) for receiving a data signal modulated by a predetermined SSC modulation frequency;
an error rate calculation unit (45) that calculates a bit error rate of bit string data that constitutes the data signal received by the signal receiving unit,
3. The error rate measuring device according to claim 1, wherein the signal receiving section has a clock recovery circuit according to claim 1 or 2, and extracts bit string data constituting the data signal at the timing of the SSC modulated clock recovered from the data signal by the clock recovery circuit.
前記信号受信ステップにより受信された前記データ信号を構成するビット列データのビット誤り率を算出する誤り率算出ステップ(S4)と、を含む誤り率測定方法であって、
前記信号受信ステップは、前記請求項1又は請求項2に記載のクロックリカバリ回路により前記データ信号から再生された前記SSC変調クロックのタイミングで前記データ信号を構成するビット列データを抽出することを特徴とする誤り率測定方法。 A signal receiving step (S2, S3) of receiving a data signal modulated by a predetermined SSC modulation frequency;
an error rate calculation step (S4) of calculating a bit error rate of bit string data constituting the data signal received by the signal receiving step,
3. The error rate measuring method according to claim 1, wherein the signal receiving step extracts bit string data constituting the data signal at the timing of the SSC modulated clock recovered from the data signal by the clock recovery circuit according to claim 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
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JP7497413B1 JP7497413B1 (en) | 2024-06-10 |
JP2024081161A true JP2024081161A (en) | 2024-06-18 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP7497413B1 (en) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9036764B1 (en) | 2012-12-07 | 2015-05-19 | Rambus Inc. | Clock recovery circuit |
JP7122426B1 (en) | 2021-03-23 | 2022-08-19 | アンリツ株式会社 | Spread spectrum clock generator and spread spectrum clock generation method, pulse pattern generator and pulse pattern generation method, error rate measurement device and error rate measurement method |
-
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---|---|
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