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JP2023035075A - ガスセンサ素子、ガスセンサ及びガスセンサ素子の製造方法 - Google Patents

ガスセンサ素子、ガスセンサ及びガスセンサ素子の製造方法 Download PDF

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JP2023035075A
JP2023035075A JP2021141677A JP2021141677A JP2023035075A JP 2023035075 A JP2023035075 A JP 2023035075A JP 2021141677 A JP2021141677 A JP 2021141677A JP 2021141677 A JP2021141677 A JP 2021141677A JP 2023035075 A JP2023035075 A JP 2023035075A
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斉 古田
Sai Furuta
章敬 小島
Akiyoshi Kojima
健太郎 鎌田
Kentaro Kamata
陽介 鈴木
Yosuke Suzuki
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NGK Spark Plug Co Ltd
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Abstract

【課題】亀裂等の欠陥が抑制されたガス導入部を含むガスセンサ素子等の提供。【解決手段】枠状体は、端部151aが外部側に配置されると共に端部151bが空間150a側に配置される多孔質セラミックからなるガス導入部151と、緻密なセラミックからなり、ガス導入部151と共に空間150aを取り囲む周壁部とを含むセラミック構造体100Cと、を備える。ガス導入部151の端部151bのうち、セラミック構造体100Bと対向する対向面151b1と、セラミック構造体100Bとの間に、空間150aと繋がった隙間150bが形成される。ガスセンサ素子10は、ガス導入部151を形成するための材料よりも収縮開始温度が低い材料からなるセラミックからなり、積層方向から見た場合に、隙間150bの外部側の縁150b1とセラミック構造体100Bとの境界部Xと重なるように、対向面151b1に形成される緩衝層300を備える。【選択図】図6

Description

本発明は、ガスセンサ素子、ガスセンサ及びガスセンサ素子の製造方法に関する。
内燃機関の排ガス中の特定成分の濃度(酸素濃度等)を測定するためのガスセンサが知られている。この種のガスセンサは、セラミックを主体として構成されたガスセンサ素子を備えている。ガスセンサ素子は、複数の板状のセラミック(セラミック構造体)が積層されたものからなり、その内部に、測定室として利用される空間を備えている。この空間は、積層方向において互いに間隔を保ちつつ配置された2つの板状のセラミックと、それらのセラミックの間に配置された枠状のセラミックとで囲まれている。なお、枠状のセラミックは、主に、多孔質セラミックからなるガス導入部と、緻密なセラミックからなる周壁部とからなる。
このようなガスセンサ素子を製造する場合、例えば、特許文献1に示されるように、印刷技術が利用される。この場合、例えば、電極パターン等が設けられた未焼成のシートの表面に、アルミナスラリーを用いて、絶縁層を形成するための層が印刷により形成される。なお、その層には、前記空間に対応した箇所に、スラリーが配置されない開口部が形成されると共に、前記ガス導入部に対応した箇所に、スラリーが配置されない切り欠き部が形成される。この切り欠き部は、開口部と繋がっており、その切り欠き部を埋めるように別途用意された未焼成のガス導入部が配置される。なお、その層のうち、開口部を囲む部分が、周壁部に対応した部分となっている。そして、開口部には、焼成時に形状(空間)が保持されるように、カーボンペースト(焼成時に焼失する焼失材)の層が、印刷により形成される。
このように所定のシート上に、様々な印刷層等が形成された後、その印刷層等を覆うように、他の未焼成のシート等が積層される。そして、得られた未焼成の積層物を、所定の温度で焼成すると、ガスセンサ素子が得られる。
特開2020-3286号公報
ガスセンサ素子の製造時に、印刷によって、開口部に重なるようにカーボンペーストの層(以下、ペースト層)を形成する場合、印刷ズレ等が発生することを考慮して、通常、ペースト層は、その周縁が開口部からはみ出すように予め大きく形成される。そのため、ペースト層の周縁は、厚み方向(積層方向)において、開口部の周りを囲む未焼成のガス導入部や、未焼成の周壁部と重なった状態となる。
しかしながら、このようなペースト層を含む未焼成の積層物を焼成すると、ペースト層の周縁と接触していた部分のガス導入部に、亀裂等の欠陥が発生することがあった。これは、前記積層物の焼成時に、未焼成のガス導入部よりも、ペースト層の方が先に収縮し始めるため、その収縮するペースト層の周縁に未焼成のガス導入部が引っ張られて裂けてしまうためと推測される。
本発明の目的は、亀裂等の欠陥が抑制されたガス導入部を含むガスセンサ素子等を提供することである。
前記課題を解決するための手段は、以下の通りである。即ち、
<1> 複数の板状のセラミック構造体を積層したガスセンサ素子であって、第1固体電解質体と、前記第1固体電解質体の両面に設けられた一対の検知電極とを含む検知セルを有する第1セラミック構造体と、第2固体電解質体と、前記第2固体電解質体の両面に設けられた一対のポンプ電極とを含むポンプセルを有すると共に、前記第1セラミック構造体に対して間隔を保ちつつ、積層方向に配置される第2セラミック構造体と、前記第1セラミック構造体と前記第2セラミック構造体との間に配置され、かつ前記第1セラミック構造体と前記第2セラミック構造体との間に形成される空間を取り囲む枠状体を有する層状の構造体であって、前記枠状体は、一方の端部が外部側に配置されると共に他方の端部が前記空間側に配置され、かつ外部の被検出ガスを前記一方の端部側から前記他方の端部側へ通過させつつ前記空間へ導入する多孔質セラミックからなるガス導入部と、緻密なセラミックからなり、前記ガス導入部と共に前記空間を取り囲む周壁部とを含む第3セラミック構造体と、を備え、前記ガス導入部の前記他方の端部のうち、前記第2セラミック構造体と対向する対向面と、前記第2セラミック構造体との間に、前記空間と繋がった隙間が形成され、前記ガス導入部を形成するための材料よりも収縮開始温度が低い材料からなるセラミックからなり、前記積層方向から見た場合に、前記隙間の外部側の縁と前記第2セラミック構造体との境界部と重なるように、前記対向面に形成される緩衝層を備えるガスセンサ素子。
<2> 前記緩衝層は、前記ガス導入部に含まれる気孔よりも大きな気孔を含む多孔質セラミックからなる前記<1>に記載のガスセンサ素子。
<3> 前記緩衝層は、前記ガス導入部の前記他方の端部のうち前記空間に面する端面を覆わないように、前記対向面に形成される前記<1>又は<2>に記載のガスセンサ素子。
<4> 前記第2セラミック構造体は、前記ポンプセルを含む板状本体部と、前記板状本体部と、前記第3セラミック構造体との間に配置され、緻密なセラミックの層からなる接着層と、前記板状本体部と、前記接着層との間に配置され、前記積層方向から見た場合に、前記空間の周りを囲むような形をなした補強層を備える前記<1>から<3>の何れか1つに記載のガスセンサ素子。
<5> 前記緩衝層を形成するための材料は、主成分としてジルコニアを含有し、前記ガス導入部を形成するための材料は、主成分としてアルミナを含有する前記<1>から<4>の何れか1つに記載のガスセンサ素子。
<6> 前記<1>から<5>の何れか1つに記載のガスセンサ素子を備えるガスセンサ。
<7> 複数の板状のセラミック構造体を積層したガスセンサ素子であって、第1固体電解質体と、前記第1固体電解質体の両面に設けられた一対の検知電極とを含む検知セルを有する第1セラミック構造体と、第2固体電解質体と、前記第2固体電解質体の両面に設けられた一対のポンプ電極とを含むポンプセルを有すると共に、前記第1セラミック構造体に対して間隔を保ちつつ、積層方向に配置される第2セラミック構造体と、前記第1セラミック構造体と前記第2セラミック構造体との間に配置され、かつ前記第1セラミック構造体と前記第2セラミック構造体との間に形成される空間を取り囲む枠状体を有する層状の構造体であって、前記枠状体は、一方の端部が外部側に配置されると共に他方の端部が前記空間側に配置され、かつ外部の被検出ガスを前記一方の端部側から前記他方の端部側へ通過させつつ前記空間へ導入する多孔質セラミックからなるガス導入部と、緻密なセラミックからなり、前記ガス導入部と共に前記空間を取り囲む周壁部とを含む第3セラミック構造体と、を備えるガスセンサ素子の製造方法であって、前記第1セラミック構造体を形成するための第1グリーンシート上に、前記ガス導入部を形成するための材料からなる未焼成ガス導入部と、前記周壁部を形成するための材料からなる未焼成周壁部とが設置され、前記未焼成ガス導入部及び前記未焼成周壁部の内側に前記空間に対応した開口部が形成される設置工程と、前記未焼成ガス導入部よりも収縮開始温度が低い材料からなる未焼成緩衝層が、前記未焼成ガス導入部の前記開口部側に配置された前記他方の端部に対応した内側端部上に重なるように形成される第1形成工程と、前記第1グリーンシート上の前記開口部内に充填されると共に、端部が前記開口部の外側にある前記未焼成ガス導入部側へはみ出しつつ前記未焼成緩衝層と重なるように、焼失材を含むペースト材料からなる焼失部が、印刷により形成される第2形成工程と、前記焼失部が形成された前記第1グリーンシートと、前記第2セラミック構造体を形成するための第2グリーンシートとが、互いに積層される積層工程と、前記積層工程後に得られる積層物を焼成する焼成工程とを備えるガスセンサ素子の製造方法。
<8> 前記未焼成ガス導入部は、前記焼成工程で焼失する第1焼失性粉末を含有し、
前記未焼成緩衝層は、前記焼成工程で焼失し、かつ前記第1焼失性粉末よりも粒径の大きな第2焼失性粉末を含有する前記<7>に記載のガスセンサ素子の製造方法。
<9> 未焼成緩衝層における前記第2焼失性粉末の含有率は、前記未焼成ガス導入部における前記第1焼失性粉末の含有率よりも低い前記<8>に記載のガスセンサ素子の製造方法。
<10> 前記第2焼失性粉末は、球形であり、前記第1焼失性粉末は、不定形である前記<8>又は<9>に記載のガスセンサ素子の製造方法。
<11> 前記未焼成緩衝層は、主成分としてジルコニアを含有し、前記未焼成ガス導入部は、主成分としてアルミナを含有する前記<7>から<10>の何れか1つに記載のガスセンサ素子の製造方法。
<12> 前記第1形成工程において、前記未焼成緩衝層が、前記内側端部の前記開口部に面する端面を覆わないように、前記内側端部上に形成される前記<7>から<11>の何れか1つに記載のガスセンサ素子の製造方法。
本発明によれば、亀裂等の欠陥が抑制されたガス導入部を含むガスセンサ素子等を提供することができる。
実施形態1に係るガスセンサの縦断面図 実施形態1に係るガスセンサ素子の斜視図 図2のA-A線断面図 ガスセンサ素子の分解斜視図 第3セラミック構造体の枠状体付近を拡大した平面図 図2のB-B線断面図 ガスセンサ素子の製造方法における各工程を示すフロー図 設置工程で得られる第1積層物の一部を示す平面図 第1形成工程において、未焼成ガス導入部の内側端部上に、未焼成緩衝層が形成された状態の第1積層物の一部を示す平面図 第2形成工程において、端部が未焼成緩衝層と重なるように、焼失部が形成された状態の第1積層物の一部を示す平面図 ガスセンサ素子を形成するための未焼成の積層物の構成を模式的に表した断面図
<実施形態1>
以下、本発明の実施形態1を、図1~図11を参照しつつ説明する。図1は、実施形態1に係るガスセンサ1の縦断面図であり、図2は、実施形態1に係るガスセンサ素子10の斜視図であり、図3は、図2のA-A線断面図であり、図4は、ガスセンサ素子10の分解斜視図である。
図1には、ガスセンサ1の軸線AXが、上下方向に沿った直線(一点鎖線)として示されている。本明細書では、ガスセンサ1の軸線AX方向に沿った方向を、「長手方向」と称し、軸線AXに対して垂直に交わる方向を、「幅方向」と称する場合がある。また、本明細書では、図1に示されるガスセンサ1の下側を、「先端側」と称し、その反対側(図1の上側)を、「後端側」と称する。また、説明の便宜上、図2~図4の上側を、ガスセンサ素子10の「表側(表面側)」と称し、それらの下側を、ガスセンサ素子10の「裏側(裏面側)」と称する。
ガスセンサ1は、測定対象ガス(被検出ガス)である排ガス中のNO等の濃度を検出可能なガスセンサ素子10を備えている。このガスセンサ1は、内燃機関の排気管(不図示)に装着されて使用されるものであり、排気管に固定するためのネジ部21が外表面の所定位置に形成された筒状の主体金具20を備えている。ガスセンサ素子10は、全体的には、軸線AX方向に沿って延びた細長い板状をなしており、そのようなガスセンサ素子10が主体金具20の内側で保持されている。
ガスセンサ1は、ガスセンサ素子10の後端部10kが挿入される挿入孔62を有する筒状の保持部材60と、この保持部材60の内側で保持される6個の端子部材とを備えている。なお、図1には、説明の便宜上、6個の端子部材のうち2個の端子部材75,76のみが示されている。
ガスセンサ素子10の後端部10kには、図2に示されるように、平面視で矩形状をなした電極端子部13~18が合計6個形成されている。なお、図1では、電極端子部14,17のみが図示される。これらの電極端子部13~18には、それぞれ、前述の端子部材が弾性的に当接して電気的に接続している。例えば、電極端子部14には、端子部材75の素子当接部75bが弾性的に当接して電気的に接続し、また、電極端子部17には、端子部材76の素子当接部76bが弾性的に当接して電気的に接続している。
また、6個の端子部材(端子部材75,76等)には、それぞれ、異なるリード線71
が電気的に接続されている。例えば、図1に示されるように、端子部材75のリード線把持部77によって、リード線71の芯線が加締められて把持される。また、端子部材76のリード線把持部78によって、他のリード線71の芯線が加締めされて把持される。
図2に示されるように、ガスセンサ素子10の後端部10kにおける2つの主面10a,10bのうち、一方の(表側の)主面10aには、電極端子部13~15よりも先端側であり、かつ後述するセラミックスリーブ45(図1参照)よりも後端側の箇所に、開口状の大気導入口10hが設けられている。大気導入口10hは、保持部材60の挿入孔62内に配置されている。
主体金具20は、軸線AX方向に貫通する貫通孔23を有する筒状部材である。この主体金具20は、径方向内側に突出する形で、貫通孔23の一部を構成する棚部25を備えている。主体金具20は、ガスセンサ素子10の先端部10sを、自身の先端側外部(図1の下方)に突出させると共に、ガスセンサ素子10の後端部10kを自身の後端側外部(図1の上方)に突出させた状態で、ガスセンサ素子10を貫通孔23内で保持する。
また、主体金具20の貫通孔23の内部には、環状のセラミックホルダ42、滑石粉末を環状に充填してなる2つの滑石リング43,44、及びセラミックスリーブ45が配置されている。より詳細には、軸線AX方向に延びたガスセンサ素子10の周りを取り囲む形で、セラミックホルダ42、滑石リング43,44、及びセラミックスリーブ45がこの順で、主体金具20の先端側から後端側に重ねられている。
セラミックホルダ42と主体金具20の棚部25との間には、金属カップ41が配置されている。また、セラミックスリーブ45と主体金具20の加締め部22との間には、加締めリング46が配置されている。なお、主体金具20の加締め部22は、加締めリング46を介してセラミックスリーブ45を先端側に押し付けるように、加締められている。
主体金具20の先端部20bには、ガスセンサ素子10の先端部10sを覆うように、複数の孔を有する金属製(例えば、ステンレス)の外部プロテクタ31及び内部プロテクタ32が、溶接によって取り付けられている。また、主体金具20の後端部には、外筒51が溶接によって取り付けられている。外筒51は、全体的には、軸線AX方向に延びた筒状をなしており、ガスセンサ素子10を包囲している。
保持部材60は、絶縁性材料(例えば、アルミナ)からなり、軸線AX方向に貫通する挿入孔62を有する筒状部材である。挿入孔62内には、上述した6個の端子部材(端子部材75,76等)が配置されている(図1参照)。保持部材60の後端部には、径方向外側に突出する鍔部65が形成されている。保持部材60は、鍔部65が内部支持部材53に当接する形で、内部支持部材53によって保持されている。なお、内部支持部材53は、外筒51のうち、径方向内側に向けて加締められた加締め部51gによって保持されている。
保持部材60の後端面61上には、絶縁部材90が配置されている。絶縁部材90は、絶縁性材料(例えば、アルミナ)からなり、全体的には、円環状をなしている。この絶縁部材90には、軸線AX方向に貫通する貫通孔91が合計6個形成されている。この貫通孔91には、上述した端子部材のリード線把持部77,78等が配置されている。
また、外筒51のうち、後端側に配される後端開口部51cの径方向内側には、フッ素ゴムからなる弾性シール部材73が配置されている。この弾性シール部材73には、軸線AX方向に延びる円筒状の挿通孔73cが、合計6個形成されている。各々の挿通孔73cは、弾性シール部材73の挿通孔面73b(円筒状の内壁面)によって構成されている。各々の挿通孔73cには、リード線71が1本ずつ挿通されている。各々のリード線71は、弾性シール部材73の挿通孔73cを通じて、ガスセンサ1の外部に延出している。弾性シール部材73は、外筒51の後端開口部51cを径方向内側に加締めることで径方向に弾性圧縮変形し、これにより、挿通孔面73bとリード線71の外周面71bとを密着させて、挿通孔面73bとリード線71の外周面71bとの間を水密に封止している。
図3に示されるように、ガスセンサ素子10は、複数の板状のセラミック構造体が積層された構造を備える。このようなガスセンサ素子10は、板状の絶縁層111s,121s,131sと、それらの中に形成された固体電解質体111e,121e,131eと、それらの間に配置された絶縁体140,145とを備える。更に、ガスセンサ素子10は、固体電解質体131eの裏面側に、配置されるヒータ161を備える。ヒータ161は、アルミナを主体とする板状の2つの絶縁体162,163と、それらの間に埋設されたヒータパターン164とを備える。ヒータパターン164は、白金(Pt)を主体とする膜状のパターンからなる。
なお、固体電解質体111e,121e,131eは、それぞれ平面視で略矩形状をなしている。固体電解質体111eは、軸線AX方向に延びた板状の絶縁層111sのうち、先端側(図4の左側)に設けられた開口部111aと重なるように形成されている。固体電解質体121eは、軸線AX方向に延びた板状の絶縁層121sのうち、先端側(図4の左側)に設けられた開口部121aと重なるように形成されている。固体電解質体131eは、軸線AX方向に延びた板状の絶縁層131sのうち、先端側(図4の左側)に設けられた開口部131aと重なるように形成される。なお、各固体電解質体111e,121e,131eは、対応する開口部111a,121a,131aに対して、それぞれ埋め込まれるように形成されてもよいし、別途、用意されたシート状の部材を所定箇所に転写するよう形成されてもよい。
固体電解質体111e,121e,131eは、固体電解質であるジルコニアからなり、酸素イオン伝導性を有する。固体電解質体111eの表面側には、多孔質のIp1+電極112が設けられている。また、固体電解質体111eの裏面側には、多孔質のIp1-電極113が設けられている。更に、Ip1+電極112の表面は、多孔質層114で覆われている。なお、Ip1+電極112には、Ip1+リード116が接続されている。また、Ip1-電極113には、Ip1-リード117が接続されている。なお、Ip1+電極112及びIp1-電極113が、本発明の一対のポンプ電極112,113に対応する。
図4に示されるように、Ip1+電極112及びIp1+リード116の各表面には、軸線AX方向に延びた板状の緻密層118Bが積層されている。緻密層118Bは、アルミナ等からなるガス非透過性の材料からなる。緻密層118Bの先端側には、平面視で矩形状をなした開口部118Baが設けられている。そして、この開口部118Baを埋めるように、上述した多孔質層114が形成される。
なお、図4に示されるように、緻密層118Bの表面側には、空隙10Gを含むと共に、アルミナ等からなるガス非透過性の緻密層118が配置される。空隙10Gは、長手方向(軸線AX方向)に延びた溝部の内側に形成される。その空隙10Gからは、多孔質層114の一部が露出した状態となっている。空隙10Gは、軸線AX方向に延びた板状の緻密層118において、多孔質層114近傍から大気導入口10hに連通する部位まで真っ直ぐに延びている。そして、軸線AX方向に延びた板状の緻密層118のうち、後端側には、電極端子部13,14,15と導通するためのスルーホールが設けられている。
また、緻密層118の表面には、アルミナ等からなるガス非透過性の緻密層115が積層されている。緻密層115がこのように積層されることで、緻密層115により空隙10Gが閉塞される。
緻密層115のうち、長手方向(軸線AX方向)に延びた空隙10Gの後端と重なる位置に大気導入口10hが形成されている。大気導入口10hは、緻密層115を厚み方向に貫通する形で設けられた開口部からなる。このような大気導入口10hは、空隙10Gと繋がっている。大気導入口10hは、セラミックスリーブ45よりも後端側に開口しており、排ガスではなく、大気を導入することができる。これにより、Ip1+電極112は、多孔質層114を介して大気導入口10hから導入される大気に晒される。
固体電解質体111e、Ip1+電極112、及びIp1-電極113は、Ip1セル(ポンプセル)110を構成する(図3参照)。このIp1セル110は、Ip1+電極112とIp1-電極113との間に流されるポンプ電流Ip1(第1ポンプ電流)に応じて、Ip1+電極112の接する雰囲気(空隙10G内の大気)と、Ip1-電極113の接する雰囲気(後述する第1測定室150内の雰囲気。つまり、ガスセンサ素子10の外部の測定対象ガス)との間で酸素の汲み出し及び汲み入れ(所謂、酸素ポンピング)を行う。なお、本明細書において、Ip1セル110、絶縁層111s等を含む板状の部分を、「第2セラミック構造体100B」と称する。
固体電解質体121eの表面側には、多孔質のVs-電極122が設けられている。また、固体電解質体121eの裏面側には、多孔質のVs+電極123が設けられている。Vs-電極122及びVs+電極123が、本発明の一対の検知電極122,123に対応する。
積層方向において、固体電解質体111eと固体電解質体121eとの間には、第1測定室150が形成されている。この第1測定室150は、排気管内の排気通路を流れる測定対象ガス(排ガス)が、ガスセンサ素子10内に最初に導入される内部空間からなり、ガス透過性及び透水性を有する第1多孔質体(拡散抵抗部)151(図2、図4参照)を通じてガスセンサ素子10の外部と連通している。第1多孔質体151は、ガスセンサ素子10の外部との仕切りとして、第1測定室150の側方に設けられている。このような第1多孔質体151は、第1測定室150内への排ガスの単位時間あたりの流通量(拡散速度)を制限する。
第1測定室150の後端側(図3の右側)には、第1測定室150と、後述する第2測定室160との間の仕切りとして、排ガスの単位時間あたりの流通量を制限する第2多孔質体152が設けられている。
固体電解質体121e、Vs-電極122及びVs+電極123は、Vsセル(検知セル)120を構成する。このVsセル120は、主として、固体電解質体121eにより隔てられた雰囲気(Vs-電極122の接する第1測定室150内の雰囲気と、Vs+電極123の接する基準酸素室170内の雰囲気)間の酸素分圧差に応じて起電力を発生する。なお、本明細書において、Vsセル120、絶縁層121s等を含む板状の部分を、「第1セラミック構造体100A」と称する。
固体電解質体131eの表面側には、多孔質のIp2+電極132と、多孔質のIp2-電極133とが設けられている。
Ip2+電極132とVs+電極123との間には、孤立した小空間としての基準酸素室170が形成されている。この基準酸素室170は、絶縁体145に形成されている開口部145bにより構成されている。なお、基準酸素室170のうち、Ip2+電極132側には、セラミックス製の多孔質体171が配置されている(図3参照)。
また、積層方向において、Ip2-電極133と対向する位置には、第2測定室160が形成されている。この第2測定室160は、主として、絶縁体145を積層方向(厚み方向)に貫通する開口部145cと、絶縁層121sを積層方向(厚み方向)に貫通する開口部125と、第2多孔質体152を積層方向(厚み方向)に貫通する開口部152aとにより構成されている。
第1測定室150と第2測定室160とは、ガス透過性及び透水性を有する第2多孔質体152を介して連通している。したがって、第2測定室160は、第1多孔質体151、第1測定室150及び第2多孔質体152を通じて、ガスセンサ素子10の外部と連通している。
固体電解質体131e、Ip2+電極132及びIp2-電極133は、NO濃度を検出するためのIp2セル130(第2ポンプセル)を構成する。このIp2セル130は、第2測定室160内で分解されたNO由来の酸素(酸素イオン)を、固体電解質体131eを通じて、基準酸素室170に移動させる。その際に、Ip2+電極132とIp2-電極133との間には、第2測定室160内に導入された排ガス(測定対象ガス)に含まれるNOの濃度に応じて電流(第2ポンプ電流)が流れる。なお、本明細書において、Ip2セル130、絶縁層131s等を含む板状の部分を、「第4セラミック構造体100D」と称する。
また、本明細書において、第1セラミック構造体100Aと第2セラミック構造体100Bとの間に配置される板状の部分を、「第3セラミック構造体100C」と称する。なお、第3セラミック構造体100Cの詳細は、後述する。
本実施形態では、絶縁層111sの裏面のうち、Ip1-電極113等を除く部位に、アルミナ絶縁層119が形成されている。Ip1-電極113は、アルミナ絶縁層119を積層方向に貫通する貫通孔119b(図4参照)を通じて、固体電解質体111eと接触する。このアルミナ絶縁層119は、第2セラミック構造体100Bの一部を構成する。
また、絶縁層121sの表面のうち、Vs-電極122等を除く部位に、アルミナ絶縁層128(図3参照)が形成されている。なお、図4では、説明の便宜上、アルミナ絶縁層128は省略されている。Vs-電極122は、アルミナ絶縁層128を積層方向に貫通する貫通孔(不図示)を通じて、固体電解質体121eと接触する。このアルミナ絶縁層128は、第1セラミック構造体100Aの一部を構成する。
また、絶縁層121sの裏面のうち、Vs+電極123等を除く部位に、アルミナ絶縁層129(図3参照)が形成されている。なお、図4では、説明の便宜上、アルミナ絶縁層129は省略されている。Vs+電極123は、アルミナ絶縁層129を積層方向に貫通する貫通孔(不図示)を通じて、固体電解質体121eと接触する。このアルミナ絶縁層129は、第1セラミック構造体100Aの一部を構成する。
また、絶縁層131sの表面のうち、Ip2+電極132及びIp2-電極133等を除く部位に、アルミナ絶縁層138(図3参照)が形成されている。なお、図4では、説明の便宜上、アルミナ絶縁層138は省略されている。Ip2+電極132及びIp2-電極133は、アルミナ絶縁層138を積層方向に貫通する貫通孔(不図示)を通じて、それぞれ固体電解質体131eと接触する。このアルミナ絶縁層138は、第4セラミック構造体100Dの一部を構成する。
ここで、図5等を参照しつつ、第3セラミック構造体100Cについて説明する。図5は、第3セラミック構造体100Cの枠状体200付近を拡大した平面図である。なお、図5の上側が、ガスセンサ素子10の先端側に対応し、図5の下側が、ガスセンサ素子10の後端側に対応する。第3セラミック構造体100Cは、第1セラミック構造体100Aと第2セラミック構造体100Bとの間に形成される空間150aを取り囲む枠状体200を有する層状のセラミック製の構造体である。このような第3セラミック構造体100Cは、主として、層状(板状)の絶縁体140と、2つの第1多孔質体(ガス導入部)151と、第2多孔質体152とを備えている(図4参照)。絶縁体140は、緻密なセラミック(例えば、アルミナ)からなる。なお、空間150aは、第1セラミック構造体100Aと第2セラミック構造体100Bとの間に形成されると共に、第1測定室150の大部分を占める空間(主空間)からなる。
枠状体200は、2つの第1多孔質体(ガス導入部)151と、第2多孔質体152と、それらと共に、空間150aを取り囲む周壁部141とからなる。周壁部141は、絶縁体140のうち、空間150aに面する部分からなる。
図5に示されるように、第3セラミック構造体100Cの幅方向(左右方向)において、空間150aを間に置きつつ対向する形で、1組(2つ)の第1多孔質体(ガス導入部)151が配置されている。
第1多孔質体(ガス導入部)151は、一方の端部151aが外部側に配置されると共に、他方の端部151bが空間150a側に配置された状態となっている。このような第1多孔質体(ガス導入部)151は、外部の測定対象ガス(被検出ガス)を一方の端部151a側から他方の端部151b側へ通過させつつ、空間150aへ導入する多孔質セラミックからなる。
そして、図5に示されるように、それらの第1多孔質体(ガス導入部)151等と共に、空間150aを取り囲むように、周壁部141が配置されている。
図6は、図2のB-B線断面図である。図6には、説明の便宜上、ガスセンサ素子10のうち、第1セラミック構造体100Aと第2セラミック構造体100Bとの間に配置される第3セラミック構造体100Cの第1多孔質体(ガス導入部)151付近の断面構成が示されている。
図6に示されるように、第1多孔質体(ガス導入部)151の他方の端部151bのうち、第2セラミック構造体100Bと対向する対向面151b1と、第2セラミック構造体100Bとの間に、空間150aと繋がった隙間150bが形成される。この隙間150bは、第1測定室150の一部である。また、隙間150bは、2つの第1多孔質体(ガス導入部)151について、それぞれ第2セラミック構造体100Bとの間に形成される(つまり、隙間150bは、2つ形成される)。
そして、ガスセンサ素子10を、積層方向から見た場合に、隙間150bの外部側の縁150b1と、第2セラミック構造体100Bとの境界部Xと重なるように、緩衝層300が形成されている。緩衝層300は、第1多孔質体(ガス導入部)151を形成するための材料よりも収縮開始温度が低い材料からなるセラミックからなる。
なお、本明細書において、「収縮開始温度」とは、各セラミック層(例えば、緩衝層300、第1多孔質体151)と同一組成のグリーンシートをそれぞれ用意し、大気雰囲気下で昇温して焼成を進行させ、各セラミック層としたときの割り掛け率が1.05になったときの温度をいう。割り掛け率は、焼成収縮率ともいい、焼成後のセラミック層の縦又は横の寸法を1としたときの、焼成前のグリーンシートの縦又は横の寸法で算出する。
つまり、割り掛け率=(焼成前のグリーンシートの縦又は横の寸法)/(焼成後のセラミック層の同方向の寸法)である。
緩衝層300は、後述するように印刷により形成される。本実施形態のガスセンサ素子10は、このような緩衝層300を備えることにより、ガスセンサ素子10の製造時において、第1多孔質体(ガス導入部)151に、亀裂等の欠陥が発生することが抑制される。
緩衝層300は、第1多孔質体(ガス導入部)151に含まれる気孔よりも大きな気孔を含む多孔質セラミックからなる。そのため、測定対象ガス(被検出ガス)が第1多孔質体(ガス導入部)151の内部を移動する際の単位時間当たりの流通量(拡散速度)が、緩衝層300によって影響を受けて、低下することが抑制される。
緩衝層300を形成するための材料は、主成分としてジルコニアを含有しており、また、第1多孔質体(ガス導入部)151を形成するための材料は、主成分としてアルミナを含有する。なお、本明細書において、「主成分」とは、各構成中において、含有量(含有割合)が50質量%以上の成分である。つまり、本実施形態では、緩衝層300は、50質量%以上のジルコニアを含有し、第1多孔質体(ガス導入部)151は、50質量%以上のアルミナを含有する。
また、緩衝層300は、図6に示されるように、第1多孔質体(ガス導入部)151の他方の端部151bのうち、空間150aに面する端面151b2を覆わないように、対向面151b1に形成される。そのため、測定対象ガス(被検出ガス)が第1多孔質体(ガス導入部)151の内部を移動する際の単位時間当たりの流通量(拡散速度)が、緩衝層300によって影響を受けて、低下することが抑制される。
なお、本実施形態において、第2セラミック構造体100Bは、図6に示されるように、Ip1セル(ポンプセル)110、アルミナ絶縁層119等を含む板状本体部400と、板状本体部400と、第3セラミック構造体100Cとの間に配置され、緻密なセラミックの層からなる接着層193とを備えている。そして更に、第2セラミック構造体100Bは、板状本体部400と、接着層193との間に配置され、積層方向から見た場合に、空間150aの周りを囲むような形をなした補強層192を備えている(図4参照)。接着層193は、全体的には、層状(板状)である。接着層193には、平面視で、第1測定室150(主空間150a)と重なる箇所に、厚み方向に貫通する開口部193aが形成されている。
補強層192の内周縁192aは、図6に示されるように、第1多孔質体(ガス導入部)151の端面151b2よりも外側に位置すると共に、隙間150bの外部側の縁150b1と接している。補強層192の内周縁192aは、緩衝層300に対して、直に接していない。補強層192は、接着層193を介して第3セラミック構造体100Cに積層されている。接着層193は、例えば、緻密なセラミック(例えば、アルミナ)からなる。補強層192は、例えば、主成分としてジルコニアを含有するセラミックからなる。
また、図4に示されるように、本実施形態の第3セラミック構造体100Cは、枠状体200と、第1セラミック構造体100Aの絶縁層121sとの間に配置され、積層方向から見た場合に、空間150aの周りを囲むような形をなした補強層182を備えている。なお、補強層182は、枠状体200のうち、第1多孔質体(ガス導入部)151に対して直に、接触しないように、切り欠き部182aが設けられている。補強層182は、例えば、補強層192と同様、主成分としてジルコニアを含有するセラミックからなる。
なお、本発明の目的を損なわない限り、補強層192及び補強層182は、上述した緩衝層300と同じ材質で構成されてもよい。
ここで、本実施形態のガスセンサ1によるNO濃度の検出方法について、簡単に説明する。ガスセンサ素子10の固体電解質体111e,121e,131eは、ヒータパターン164の昇温に伴い加熱されて、活性化する。これにより、Ip1セル110、Vsセル120及びIp2セル130がそれぞれ作動する。
排気管内の排気通路(不図示)を流れる排ガスは、第1多孔質体151による流通量の制限を受けつつ、第1測定室150内に導入される。このとき、Vsセル120には、Vs+電極123側から、Vs-電極122側へ微弱な電流(微小電流)Icpが流されている。そのため、排ガス中の酸素は、負極側となる第1測定室150内のVs-電極122から電子を受け取ることができ、酸素イオンとなって固体電解質体121e内を流れ、基準酸素室170内に移動する。つまり、Vs-電極122とVs+電極123との間で、電流Icpが流されることによって、第1測定室150内の酸素が基準酸素室170内へ送り込まれる。
第1測定室150内に導入された排ガスの酸素濃度が、予め定められている所定値より低い場合、Ip1+電極112側が負極となるようにIp1セル110に電流Ip1が流され、ガスセンサ素子10の外部から第1測定室150内へ酸素の汲み入れが行われる。
これに対して、第1測定室150内に導入された排ガスの酸素濃度が、前記所定値よりも高い場合、Ip1-電極113側が負極となるようにIp1セル110に電流Ip1が流され、第1測定室150内からガスセンサ素子10の外部へ酸素の汲み出しが行われる。
このように、第1測定室150において酸素濃度が調整された排ガスは、第2多孔質体152を通じて、第2測定室160内へ導入される。第2測定室160内でIp2-電極133と接触した排ガス中のNOは、Ip2+電極132と、Ip2-電極133との間に電圧Vp2が印加されることで、Ip2-電極133上で、窒素と酸素とに分解(還元)され、分解された酸素は、酸素イオンとなって固体電解質体131e内を流れ、基準酸素室170内へ移動する。このとき、第1測定室150で汲み残された残留酸素も同様に、Ip2セル130によって基準酸素室170内へ移動される。これにより、Ip2セル130には、NO由来の電流と残留酸素由来の電流とが流れる。なお、基準酸素室170内に移動した酸素は、基準酸素室170内に接するVs+電極123とVs+リード及びIp2+電極132とIp2+リードを介して外部(大気)へ放出される。このため、Vs+リード及びIp2+リードは多孔質となっている。
第1測定室150で汲み残された残留酸素の濃度は、上記のように所定値に調整されているため、その残留酸素由来の電流は略一定とみなすことができる。つまり、残留酸素由来の電流は、NO由来の電流の変動に対して影響は小さく、Ip2セル130を流れる電流(第2ポンプ電流)は、NO濃度に比例することとなる。したがって、Ip2セル130を流れる電流Ip2(第2ポンプ電流)を測定し、その電流値に基づいて、排ガス中のNO濃度が検出される。
次いで、図7~図11等を参照しつつ、上述したガスセンサ素子10の製造方法について説明する。図7は、ガスセンサ素子の製造方法における各工程を示すフロー図である。図7に示されるように、本実施形態のガスセンサ素子の製造方法は、設置工程S101と、第1形成工程S102と、第2形成工程S103と、積層工程S104と、焼成工程S105とを備える。
設置工程S101は、第1セラミック構造体100Aを形成するための第1グリーンシート121sU上に、第1多孔質体(ガス導入部)151を形成するための材料からなる未焼成ガス導入部151Uと、周壁部141を形成するための材料からなる未焼成周壁部141Uの内側に空間150aに対応した開口部150aUが形成される工程である。図8は、設置工程S101で得られる第1積層物L1の一部を示す平面図である。
第1グリーンシート121sUは、第1セラミック構造体100Aの絶縁層121sを形成するためのものである。そのような第1グリーンシート121sUの表面上に、未焼成周壁部141Uが印刷により形成される。未焼成周壁部141Uは、絶縁体140を形成するための材料からなる未焼成絶縁体140Uの一部からなる。未焼成周壁部141U(未焼成絶縁体140U)は、主成分としてアルミナを含有する。
未焼成ガス導入部151Uは、主成分としてアルミナを含有すると共に、後述する焼成工程S105で焼失する第1焼失性粉末(例えば、カーボン粉末)を含有する。第1焼失性粉末の形状は、球状ではなく、不定形であることが好ましい。
本実施形態の未焼成ガス導入部151Uは、別途、用意された支持シート上に、予め剥離可能な状態で形成しておき、そのシート上の未焼成ガス導入部151Uを、第1グリーンシート121sUの所定箇所(未焼成絶縁体140Uに形成された切り欠き部)に転写することで、第1グリーンシート121sUの所定箇所に、未焼成ガス導入部151Uが形成される。なお、他の実施形態においては、未焼成ガス導入部151Uは、印刷によって形成されてもよい。
なお、第1積層物L1には、固体電解質体121eやVs-電極122等を形成するための各種材料からなる部材が、適宜、積層されている。
第1形成工程S102は、未焼成ガス導入部151Uよりも収縮開始温度が低い材料からなる未焼成緩衝層300Uが、未焼成ガス導入部151Uの開口部150aU側に配置された他方の端部151bに対応した内側端部151bU上に重なるように形成される工程である。図9は、第1形成工程S102において、未焼成ガス導入部151Uの内側端部151bU上に、未焼成緩衝層300Uが形成された状態の第1積層物L1の一部を示す平面図である。
未焼成緩衝層300Uは、上述したように、未焼成ガス導入部151Uよりも収縮開始温度が低い材料からなる。このような未焼成緩衝層300Uとしては、例えば、主成分としてジルコニアを含有すると共に、後述する焼成工程S105で焼失する第2焼失性粉末(例えば、カーボン粉末)を含有するものが挙げられる。
なお、第2焼失性粉末としては、第1焼失性粉末よりも粒径の大きなものが利用されることが好ましい。このように第2焼失性粉末の粒径が、第1焼失性粉末の粒径よりも大きいと、未焼成緩衝層300Uの方が、未焼成ガス導入部151Uよりも、収縮開始温度が低くなるよう調整し易く、しかも、最終的に得られる緩衝層300について、第1多孔質体(ガス導入部)151におけるガスの流通量(拡散速度)の低下が抑制される。
また、未焼成緩衝層300Uにおける第2焼失性粉末の含有率は、未焼成ガス導入部151Uにおける第1焼失性粉末の含有率よりも低いことが好ましい。このように、未焼成緩衝層300Uにおける第2焼失性粉末の含有率が低いと、未焼成緩衝層300Uの方が、未焼成ガス導入部151Uよりも、収縮開始温度が低くなるよう調整し易く、しかも、最終的に得られる緩衝層300について、第1多孔質体(ガス導入部)151におけるガスの流通量(拡散速度)の低下が抑制される。
また、第2焼失性粉末は、球形であることが好ましい。第2焼失性粉末が球形であると、最終的に得られる緩衝層300について、ガスが拡散し易い構造とはならないため、第1多孔質体(ガス導入部)151におけるガスの流通量(拡散速度)の低下が抑制される。
第1形成工程S102において、未焼成緩衝層300Uは、内側端部151bUの開口部150aUに面する端面151b2Uを覆わないように、内側端部151bU上に形成される。そのため、最終的に得られる緩衝層300が、第1多孔質体(ガス導入部)151におけるガスの流通量(拡散速度)を低下させることが抑制される。
なお、未焼成緩衝層300Uは、図9に示されるように、ガスセンサ素子10の前後方向(長手方向)において、細長く延びた形をなしている。未焼成緩衝層300Uは、印刷装置を用いた印刷により形成される。印刷ズレ等を考慮して、未焼成緩衝層300Uの前側(図9の上側)の端部300Uaは、未焼成ガス導入部151Uよりも前側に配される未焼成周壁部141U上に形成される。また、未焼成緩衝層300Uの後側(図9の下側)の端部300Ubは、未焼成ガス導入部151Uよりも後側に配される未焼成周壁部141U上に形成される。
第2形成工程S103は、第1グリーンシート121sU上の開口部150aU内に充填されると共に、端部501Uが開口部150aUの外側にある未焼成ガス導入部151U側へはみ出しつつ未焼成緩衝層300Uと重なるように、焼失材(例えば、カーボン粉末)を含むペースト材料(例えば、カーボンペースト)からなる焼失部500Uが、印刷により形成される工程である。
図10は、第2形成工程S104において、端部501Uが未焼成緩衝層300Uと重なるように、焼失部500Uが形成された状態の第1積層物L1の一部を示す平面図である。
焼失部500Uは、焼失材(例えば、カーボン粉末)を含むペースト材料(例えば、カーボンペースト)からなる。つまり、焼失部500Uとしては、一般的に開口部を形成するために利用される公知のペースト材料が利用される。なお、焼失部500Uは、印刷ズレ等を考慮して、その端部(周縁)が開口部150aからはみ出すように、開口部150aUに充填される。
焼失部500Uは、未焼成緩衝層300Uや未焼成ガス導入部151U等と比べて、収縮開始温度が低いため、それらの中では、後述する焼成工程S105において、最も早く収縮が開始する。そして、焼失部500Uの端部501Uは、収縮による影響を最も受けやすい箇所である。このような焼失部500Uの端部501Uが、仮に、未焼成ガス導入部151Uに対して、直接、重なるように形成されると、焼失部500Uの収縮開始温度と、未焼成ガス導入部151Uの収縮開始温度との差が大き過ぎるため、焼失部500Uの収縮時に、その端部501Uによって未焼成ガス導入部151Uが引っ張られて、未焼成ガス導入部151Uに亀裂等の欠陥が発生する虞がある。
本実施形態では、上述した欠陥が未焼成ガス導入部151Uに発生することを抑制するために、焼失部500Uの端部501Uが、未焼成ガス導入部151Uではなく、それに重ねられるように形成された未焼成緩衝層300Uに対して、直に接触するように形成される。未焼成緩衝層300Uの収縮開始温度は、未焼成ガス導入部151Uと比べて低いため、焼失部500Uの端部501Uの収縮時に、その端部501Uと直に接触する未焼成緩衝層300Uが、未焼成ガス導入部151Uよりも早く、収縮する端部501Uの動きに追従することができる。
なお、未焼成緩衝層300Uが、未焼成ガス導入部151Uに対して形成されても、通常は、未焼成緩衝層300Uの収縮に伴って、未焼成ガス導入部151Uに欠陥が発生することはない。
図10等に示されるように、焼失部500Uの端部501Uよりも中央側の部分が、未焼成ガス導入部151Uに対して、直に接触することがあっても、通常は、その部分(中央側の部分)が、焼失部500Uの収縮時に、未焼成ガス導入部151Uに対して影響を与えることはない。そのため、本発明の目的を焼失部500Uの端部501U以外の部分が、未焼成ガス導入部151Uに対して、直に接触していてもよい。
積層工程S104は、焼失部500Uが形成された第1グリーンシート121sUと、第2セラミック構造体100Bを形成するための第2グリーンシート111sUとが、互いに積層される工程である。
この積層工程S104では、焼失部500Uが形成された第1グリーンシート121sUを含む第1積層物L1と、第2セラミック構造体100Bを形成するための第2グリーンシート111sUを含む第2積層物L2とが、互いに積層される。第2グリーンシート111sUは、第2セラミック構造体100Bが備える絶縁層111sを形成するためのシートである。このような第1積層物L1や第2積層物L2等が積層されることで、ガスセンサ素子10を形成するための未焼成の積層物Lが得られる。図11は、ガスセンサ素子10を形成するための未焼成の積層物Lの構成を模式的に表した断面図である。図11には、図6に示されるガスセンサ素子10の断面構成に対応した箇所の積層物Lが示されている。
図11に示されるように、第1積層物L1は、第1グリーンシート121sU、未焼成ガス導入部151U、未焼成緩衝層300U、焼失部500U等を備えている。
第2積層物L2は、第2グリーンシート111sU、アルミナ絶縁層119を形成するための未焼成アルミナ絶縁層119U、補強層192を形成するための未焼成補強層192U、接着層193を形成するための未焼成接着層193U、開口部150aUを形成するために焼失部500Uと共に使用される焼失部600U等を備えている。なお、焼失部600Uは、上述した焼失部500Uと同様の組成からなり、焼失部500Uに重ねられることで、開口部150aU内に充填される。焼失部600Uは、第2グリーンシート111sUの所定箇所に、印刷を利用して形成される。焼失部600Uは、平面視で、焼失部500Uと略同じ大きさを備えている。
未焼成緩衝層300Uは、内側端部151bUの表面151b1U上に形成されている。この表面151b1Uは、最終的に、対向面151b1となる。図11に示されるように、未焼成緩衝層300Uは、内側端部151bUの開口部150aUに面する端面151b2Uを覆わないように、内側端部151bUの表面151b1U上に形成されている。
なお、積層工程S104では、更に、ガスセンサ素子10を製造するために必要な未焼成のシート等が、適宜、第1積層物L1や第2積層物L2等に対して積層される。
焼成工程S105は、積層工程S104後に得られる積層物Lを焼成する工程である。焼成工程S105において、積層物Lが所定の温度条件で焼成されることにより、ガスセンサ素子10が得られる。積層物Lが焼成されると、焼失部500U,600Uが消失して、第1測定室150として利用される空間(主空間)150aと、空間150aと繋がった隙間150bが形成される。
1…ガスセンサ、10…ガスセンサ素子、100A…第1セラミック構造体、100B…第2セラミック構造体、100C…第3セラミック構造体、110…ポンプセル、111e…第2固体電解質体、112,113…ポンプ電極、120…検知セル、121e…第1固体電解質体、122,123…検知電極、141…周壁部、150a…空間(主空間)、150b…隙間、150b1…隙間の外部側の縁、151b1…対向面、200…枠状体、300…緩衝層

Claims (12)

  1. 複数の板状のセラミック構造体を積層したガスセンサ素子であって、
    第1固体電解質体と、前記第1固体電解質体の両面に設けられた一対の検知電極とを含む検知セルを有する第1セラミック構造体と、
    第2固体電解質体と、前記第2固体電解質体の両面に設けられた一対のポンプ電極とを含むポンプセルを有すると共に、前記第1セラミック構造体に対して間隔を保ちつつ、積層方向に配置される第2セラミック構造体と、
    前記第1セラミック構造体と前記第2セラミック構造体との間に配置され、かつ前記第1セラミック構造体と前記第2セラミック構造体との間に形成される空間を取り囲む枠状体を有する層状の構造体であって、前記枠状体は、一方の端部が外部側に配置されると共に他方の端部が前記空間側に配置され、かつ外部の被検出ガスを前記一方の端部側から前記他方の端部側へ通過させつつ前記空間へ導入する多孔質セラミックからなるガス導入部と、緻密なセラミックからなり、前記ガス導入部と共に前記空間を取り囲む周壁部とを含む第3セラミック構造体と、を備え、
    前記ガス導入部の前記他方の端部のうち、前記第2セラミック構造体と対向する対向面と、前記第2セラミック構造体との間に、前記空間と繋がった隙間が形成され、
    前記ガス導入部を形成するための材料よりも収縮開始温度が低い材料からなるセラミックからなり、前記積層方向から見た場合に、前記隙間の外部側の縁と前記第2セラミック構造体との境界部と重なるように、前記対向面に形成される緩衝層を備えるガスセンサ素子。
  2. 前記緩衝層は、前記ガス導入部に含まれる気孔よりも大きな気孔を含む多孔質セラミックからなる請求項1に記載のガスセンサ素子。
  3. 前記緩衝層は、前記ガス導入部の前記他方の端部のうち前記空間に面する端面を覆わないように、前記対向面に形成される請求項1又は請求項2に記載のガスセンサ素子。
  4. 前記第2セラミック構造体は、
    前記ポンプセルを含む板状本体部と、
    前記板状本体部と、前記第3セラミック構造体との間に配置され、緻密なセラミックの層からなる接着層と、
    前記板状本体部と、前記接着層との間に配置され、前記積層方向から見た場合に、前記空間の周りを囲むような形をなした補強層を備える請求項1から請求項3の何れか一項に記載のガスセンサ素子。
  5. 前記緩衝層を形成するための材料は、主成分としてジルコニアを含有し、
    前記ガス導入部を形成するための材料は、主成分としてアルミナを含有する請求項1から請求項4の何れか一項に記載のガスセンサ素子。
  6. 請求項1から請求項5の何れか一項に記載のガスセンサ素子を備えるガスセンサ。
  7. 複数の板状のセラミック構造体を積層したガスセンサ素子であって、第1固体電解質体と、前記第1固体電解質体の両面に設けられた一対の検知電極とを含む検知セルを有する第1セラミック構造体と、第2固体電解質体と、前記第2固体電解質体の両面に設けられた一対のポンプ電極とを含むポンプセルを有すると共に、前記第1セラミック構造体に対して間隔を保ちつつ、積層方向に配置される第2セラミック構造体と、前記第1セラミック構造体と前記第2セラミック構造体との間に配置され、かつ前記第1セラミック構造体と前記第2セラミック構造体との間に形成される空間を取り囲む枠状体を有する層状の構造体であって、前記枠状体は、一方の端部が外部側に配置されると共に他方の端部が前記空間側に配置され、かつ外部の被検出ガスを前記一方の端部側から前記他方の端部側へ通過させつつ前記空間へ導入する多孔質セラミックからなるガス導入部と、緻密なセラミックからなり、前記ガス導入部と共に前記空間を取り囲む周壁部とを含む第3セラミック構造体と、を備えるガスセンサ素子の製造方法であって、
    前記第1セラミック構造体を形成するための第1グリーンシート上に、前記ガス導入部を形成するための材料からなる未焼成ガス導入部と、前記周壁部を形成するための材料からなる未焼成周壁部とが設置され、前記未焼成ガス導入部及び前記未焼成周壁部の内側に前記空間に対応した開口部が形成される設置工程と、
    前記未焼成ガス導入部よりも収縮開始温度が低い材料からなる未焼成緩衝層が、前記未焼成ガス導入部の前記開口部側に配置された前記他方の端部に対応した内側端部上に重なるように形成される第1形成工程と、
    前記第1グリーンシート上の前記開口部内に充填されると共に、端部が前記開口部の外側にある前記未焼成ガス導入部側へはみ出しつつ前記未焼成緩衝層と重なるように、焼失材を含むペースト材料からなる焼失部が、印刷により形成される第2形成工程と、
    前記焼失部が形成された前記第1グリーンシートと、前記第2セラミック構造体を形成するための第2グリーンシートとが、互いに積層される積層工程と、
    前記積層工程後に得られる積層物を焼成する焼成工程とを備えるガスセンサ素子の製造方法。
  8. 前記未焼成ガス導入部は、前記焼成工程で焼失する第1焼失性粉末を含有し、
    前記未焼成緩衝層は、前記焼成工程で焼失し、かつ前記第1焼失性粉末よりも粒径の大きな第2焼失性粉末を含有する請求項7に記載のガスセンサ素子の製造方法。
  9. 未焼成緩衝層における前記第2焼失性粉末の含有率は、前記未焼成ガス導入部における前記第1焼失性粉末の含有率よりも低い請求項8に記載のガスセンサ素子の製造方法。
  10. 前記第2焼失性粉末は、球形であり、前記第1焼失性粉末は、不定形である請求項8又は請求項9に記載のガスセンサ素子の製造方法。
  11. 前記未焼成緩衝層は、主成分としてジルコニアを含有し、
    前記未焼成ガス導入部は、主成分としてアルミナを含有する請求項7から請求項10の何れか一項に記載のガスセンサ素子の製造方法。
  12. 前記第1形成工程において、前記未焼成緩衝層が、前記内側端部の前記開口部に面する端面を覆わないように、前記内側端部上に形成される請求項7から請求項11の何れか一項に記載のガスセンサ素子の製造方法。
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