JP2022142204A - Test equipment, test system, and program - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施形態は、試験装置、試験システム、及びプログラムに関する。 The embodiments of the present invention relate to test apparatuses, test systems, and programs.
プラントの監視制御システムは、プラントを構成する複数の機器を制御するコントローラ（例えばＰＬＣ（Programmable Logic Controller））と、プラントを構成する各機器を制御するための操作を受け、その操作に応じた操作信号をコントローラに送信する監視装置（例えばＨＭＩ（ヒューマンマシンインターフェース））とを備える。また、監視装置は、各機器の状態を表示するよう指示する表示信号をコントローラから受信し、受信した表示信号に応じて機器の状態を表示する機能を持つ。監視装置の表示は、コントローラから入力される信号の変化に応じてプラントの各機器の状態が監視できるように作成されている。そのため、入力される信号と、それに対応する表示は正しく紐づけされた状態となっていることが必要である。 A plant monitoring and control system includes a controller (such as a PLC (Programmable Logic Controller)) that controls a plurality of devices that make up the plant, and an operation that receives an operation for controlling each device that makes up the plant, and an operation that responds to the operation. a monitoring device (eg HMI (Human Machine Interface)) that sends signals to the controller. The monitoring device also has a function of receiving a display signal instructing to display the status of each device from the controller and displaying the status of the device according to the received display signal. The display of the monitoring device is created so that the status of each device in the plant can be monitored according to changes in signals input from the controller. Therefore, it is necessary that the input signal and the corresponding display are correctly linked.
工場試験では、コントローラから入力される信号と、監視装置の表示との一致を確認するためのインターフェース試験（ＩＦ試験）が実施される。ＩＦ試験では、試験者がコントローラへ手入力にて入力信号を設定し、監視装置の表示と図面との信号名称が正しいか（図面と一致しているか）の確認を目視にて実施する。 In the factory test, an interface test (IF test) is performed to check the match between the signal input from the controller and the display of the monitoring device. In the IF test, the tester manually sets the input signal to the controller, and visually confirms whether the signal name on the display of the monitoring device and the drawing is correct (matches the drawing).
一般的に、プラントを構成する機器の数は非常に多く、ＩＦ試験の試験項目数もそれらの機器の数に応じて多くなる。システムによっては、数千から数万点の信号をＩＦ試験にて確認する必要がある。そのため、目視による試験結果の確認では、評価にミスが生じる可能性があり、また試験コストが膨大になる可能性がある。 In general, the number of equipment that constitutes a plant is very large, and the number of test items for IF tests also increases according to the number of those equipment. Depending on the system, it is necessary to confirm thousands to tens of thousands of signals by IF test. Therefore, visual confirmation of the test results may lead to errors in evaluation, and the test cost may be enormous.
本発明が解決しようとする課題は、インターフェース試験の効率を向上させることが可能な試験装置、試験システム、及びプログラムを提供することである。 A problem to be solved by the present invention is to provide a test apparatus, a test system, and a program capable of improving interface test efficiency.
実施形態に係る試験装置は、プラントを構成する複数の機器の接続状態を示すシーケンス図データベース、及び前記複数の機器の動作状態と故障表示との対応関係を示す状態・故障表示表データベースを用いて、試験項目を含む試験判定用データベースを生成する試験判定用データベース生成部と、前記試験判定用データベースを用いて、前記複数の機器を制御するコントローラに前記試験項目に対応する試験を実行させる実行プログラムを生成し、前記実行プログラムを前記コントローラに送信する実行プログラム生成部と、前記実行プログラムにより実行された試験に応じた動作に関する履歴データを取得する履歴データ取得部と、前記履歴データと前記試験判定用データベースとに基づいて、前記履歴データと前記試験判定用データベースとの不一致箇所を判定する判定部とを具備する。 The test apparatus according to the embodiment uses a sequence diagram database showing the connection state of a plurality of equipment that constitutes a plant, and a status/failure display table database showing the correspondence relationship between the operating state of the plurality of equipment and fault indications. a test determination database generation unit for generating a test determination database including test items; and an execution program for causing a controller controlling the plurality of devices to execute a test corresponding to the test items using the test determination database. and transmits the execution program to the controller; a history data acquisition unit that acquires history data related to the operation corresponding to the test executed by the execution program; the history data and the test judgment a judgment unit for judging a point of disagreement between the history data and the test judgment database based on the test judgment database.
以下、実施形態について図面を参照して説明する。以下に示す幾つかの実施形態は、本発明の技術思想を具体化するための装置および方法を例示したものであって、構成部品の形状、構造、配置等によって、本発明の技術思想が特定されるものではない。各機能ブロックは、ハードウェア及びソフトウェアのいずれかまたは両者を組み合わせたものとして実現することができる。各機能ブロックが以下の例のように区別されていることは必須ではない。例えば、一部の機能が例示の機能ブロックとは別の機能ブロックによって実行されてもよい。さらに、例示の機能ブロックがさらに細かい機能サブブロックに分割されていてもよい。なお、以下の説明において、同一の機能及び構成を有する要素については同一符号を付し、重複する説明は省略する。 Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. Several embodiments shown below are examples of apparatuses and methods for embodying the technical idea of the present invention. not to be Each functional block can be implemented as either hardware or software, or a combination of both. It is not essential that each functional block is distinguished as in the example below. For example, some functions may be performed by functional blocks other than those illustrated. Moreover, the illustrated functional blocks may be divided into finer functional sub-blocks. In the following description, elements having the same functions and configurations are denoted by the same reference numerals, and overlapping descriptions are omitted.
［１］ 試験システム１の構成
図１は、本実施形態に係る試験システム１のブロック図である。試験システム１は、監視装置１０、サーバ２０、コントローラ３０、及び試験装置５０を備える。監視装置１０、サーバ２０、及びコントローラ３０は、ネットワーク４０を介して通信可能に接続される。ネットワーク４０は、例えば、有線ＬＡＮ（Local Area Network）、無線ＬＡＮ、ＷＡＮ（Wide Area Network）、インターネット等でよい。ネットワーク４０は、典型的にはイーサネット（登録商標）である。
[1] Configuration of
監視装置１０は、ヒューマンマシンインターフェースからなり、例えばパーソナルコンピュータで構成される。監視装置１０は、オペレータの操作に基づいて、コントローラ３０を経由してプラント４１の状態を監視するとともに、プラント４１の動作を制御する。監視装置１０は、プラント４１を構成する機器の状態を示す状態信号をコントローラ３０から受信し、この受信した状態信号に基づいてプラント４１の状態を表示する。また、監視装置１０は、プラント４１を構成する機器を制御するための操作を受け、この操作に応じた操作信号をコントローラ３０に送信する。
The
監視装置１０は、制御部１１、信号伝送部１２、入力部１３、及び表示部１４等を備える。制御部１１は、監視装置１０の動作を統括的に制御する。信号伝送部１２は、ネットワーク４０を介して、サーバ２０及びコントローラ３０との間でデータの送受信を行う。入力部１３は、ユーザ（試験者、及びオペレータを含む）からの操作を受け付ける。表示部１４は、各種情報を画面に表示する。
The
サーバ２０は、監視装置１０から送信されるデータを格納する。サーバ２０は、信号処理部２１、信号伝送部２２、及び記憶部２３等を備える。信号処理部２１は、サーバ２０に入力される入力データを処理し、サーバ２０から出力される出力データを処理する。信号伝送部２２は、ネットワーク４０を介して、監視装置１０との間でデータの送受信を行う。また、信号伝送部２２は、試験装置５０の間でデータの送受信を行うことも可能である。記憶部２３は、監視装置１０から送信される履歴データを格納する。履歴データは、監視装置１０の動作に関する履歴を示すデータである。履歴データの詳細については後述する。
The
コントローラ３０は、監視装置１０の下位のコントローラである。コントローラ３０は、例えばＰＬＣ（Programmable Logic Controller）で構成される。コントローラ３０は、監視対象であるプラント４１に接続され、プラント４１の監視及び制御を行う。プラント４１は、例えば上下水道プラントを含む。コントローラ３０は、プラント４１に設けられた電力計、水量計、流量計、温度計等と通信可能に接続されており、周期的に消費電力、水量、流量、温度等の情報を受信する。なお、本実施形態では、製品出荷前の工場試験を想定しており、工場試験においてコントローラ３０に接続されていないプラント４１を図１において破線で示している。
The
コントローラ３０は、制御部３１、信号伝送部３２、入出力インターフェース部（ＩＯインターフェース部）３３、及び自動信号入力部３４等を備える。制御部３１は、コントローラ３０の動作を統括的に制御する。信号伝送部３２は、ネットワーク４０を介して、監視装置１０との間でデータの送受信を行う。ＩＯインターフェース部３３は、プラント４１と通信可能なように接続され、プラント４１との間でインターフェース処理を実行し、プラント４１との間でデータの送受信を行う。
The
自動信号入力部３４は、試験装置５０と通信可能なように接続され、試験装置５０からデータ（実行プログラムを含む）を受信する。制御部３１は、自動信号入力部３４から入力された実行プログラムを用いて所定の制御を実行する。
The automatic
［２］ 試験装置５０の構成
次に、試験装置５０の構成について説明する。図２は、図１に示した試験装置５０のブロック図である。
[2] Configuration of
試験装置５０は、監視装置１０及びコントローラ３０を試験するための装置である。試験装置５０は、パーソナルコンピュータ、又はタブレット端末等で構成される。試験装置５０は、有線又はネットワークを介してサーバ２０に接続可能であり、サーバ２０に格納されたデータを受信可能である。また、試験装置５０は、有線又はネットワークを介してコントローラ３０に接続可能であり、コントローラ３０にデータを送信することが可能である。
The
試験装置５０は、制御部５１、記憶部５２、通信部５３、入力部５４、及び表示部５５等を備える。制御部５１、記憶部５２、通信部５３、入力部５４、及び表示部５５は、バス５６を介して接続される。
The
制御部５１は、試験装置５０の動作を統括的に制御する。制御部５１は、ＩＯ（入出力）シーケンス図データベース取得部５１Ａ、状態・故障表示表データベース取得部５１Ｂ、履歴データ取得部５１Ｃ、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄ、実行プログラム生成部５１Ｅ、及び試験判定部５１Ｆを備える。
The
ＩＯシーケンス図データベース取得部５１Ａは、外部からＩＯシーケンス図データベースを取得する。状態・故障表示表データベース取得部５１Ｂは、外部から状態・故障表示表データベースを取得する。履歴データ取得部５１Ｃは、サーバ２０から履歴データを取得する。ＩＯシーケンス図データベース、状態・故障表示表データベース、及び履歴データの詳細については後述する。
The IO sequence diagram
試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、記憶部５２に格納されたＩＯシーケンス図データベース及び状態・故障表示表データベースを用いて、試験判定用データベースを生成する。試験判定用データベースの詳細については後述する。
The test determination
実行プログラム生成部５１Ｅは、試験判定用データベースを用いて、インターフェース試験用の実行プログラムを生成する。この実行プログラムは、コントローラ３０の自動信号入力部３４に入力される。この実行プログラムは、コントローラ３０に試験項目に対応する試験を実行させ、監視装置１０に情報を表示させるためのプログラムである。
The execution
試験判定部５１Ｆは、履歴データと試験判定用データベースとに基づいて、試験判定を実行する。試験判定部５１Ｆは、試験結果を表示部５５に表示する。
The
記憶部５２は、ＲＯＭ（Read Only Memory）、フラッシュメモリ、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、ＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等の不揮発性記憶装置と、ＲＡＭ（Random Access Memory）、レジスタ等の揮発性記憶装置とを含む。記憶部５２は、試験装置５０のプロセッサが実行するプログラムを格納する。また、記憶部５２は、ＩＯシーケンス図データベース（ＩＯシーケンス図データベースＤＢ）を格納する記憶領域５２Ａ、状態・故障表示表データベース（状態・故障表示表ＤＢ）を格納する記憶領域５２Ｂ、試験判定用データベース（試験判定用ＤＢ）を格納する記憶領域５２Ｃ、及び履歴データを格納する記憶領域５２Ｄを備える。
The
通信部５３は、有線又は、ＷＡＮ（Wide Area Network）、若しくはＬＡＮ（Local Area Network）等のネットワークを介して、外部と通信を行い、データの送受信を行う。
The
入力部５４は、ユーザの操作を受け付ける。入力部５４は、例えば、キーボード及びマウスを含む。ユーザは、入力部５４を用いて、試験装置５０に情報を入力することが可能である。
The
表示部５５は、ディスプレイからなり、各種の表示データを画面に表示する。
The
（ハードウェア構成）
図３は、図２に示す試験装置５０に適用されるコンピュータのハードウェア構成例を示すブロック図である。試験装置５０は、プロセッサ６０、ＲＯＭ（Read Only Memory）６１、ＲＡＭ（Random Access Memory）６２、入出力インターフェース（入出力Ｉ／Ｆ）６３、入力装置６４、表示装置６５、補助記憶装置６６、及び通信インターフェース（通信Ｉ／Ｆ）６７等を備える。プロセッサ６０、ＲＯＭ６１、ＲＡＭ６２、入出力インターフェース６３、及び通信インターフェース６７は、バス６８を介して接続される。
(Hardware configuration)
FIG. 3 is a block diagram showing a hardware configuration example of a computer applied to the
プロセッサ６０は、試験装置５０の動作を統括的に制御するＣＰＵ（Central Processing Unit）である。プロセッサ６０は、ＲＯＭ６１、ＲＡＭ６２、及び補助記憶装置６６に格納されたプログラム及びデータを用いて、各種の演算処理を実行する。
The
本実施形態の機能を実現する特定のプログラムは、ＲＯＭ６１及び／又は補助記憶装置６６に格納される。本実施形態の機能は、プロセッサ６０が、ＲＯＭ６１及び／又は補助記憶装置６６に格納された上記特定のプログラムを実行することより実現される。
A specific program that implements the functions of this embodiment is stored in the
ＲＯＭ６１は、コンピュータを機能させるための基本プログラムや環境ファイルなどを格納する読み取り専用の記憶装置である。ＲＡＭ６２は、プロセッサ６０が実行するプログラム及びプログラムの実行に必要なデータを格納する記憶装置であり、高速な読み出しと書き込みが可能である。
The
入出力インターフェース６３は、各種のハードウェアとバス６８との接続を仲介する装置である。入出力インターフェース６３には、入力装置６４、表示装置６５、及び補助記憶装置６６などのハードウェアが接続される。入力装置６４は、ユーザからの入力を処理する装置であり、例えばキーボード及びマウスなどである。表示装置６５は、ユーザに対して演算結果及び画像などを表示する装置であり、例えば液晶ディスプレイ、又は有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイなどである。補助記憶装置６６は、プログラムやデータを格納する大容量の記憶装置であり、例えばＨＤＤ（Hard Disk Drive）、又はＳＳＤ（Solid State Drive）などである。
The input/
通信インターフェース６７は、所定の通信プロトコルを用いて、ネットワークを介して外部装置との間で通信を実行する。 The communication interface 67 uses a predetermined communication protocol to communicate with an external device via a network.
［３］ 試験システム１の動作
上記のように構成された試験システム１の動作について説明する。
[3] Operation of
［３－１］ 試験システム１のインターフェース試験の全体的な流れ
まず、試験システム１のインターフェース試験の全体的な流れについて説明する。図４は、試験システム１のインターフェース試験の全体的な流れを説明するフローチャートである。
[3-1] Overall Flow of Interface Test of
試験装置５０の制御部５１は、試験判定用データベースを生成する（ステップＳ１００）。試験判定用データベースは、コントローラ３０に入力する実行プログラムが、コントローラ３０に実行させる試験の試験項目の集まりである。試験判定用データベースの詳細については後述する。
The
続いて、制御部５１は、実行プログラム生成部５１Ｅに、試験用のパラメータを設定する（ステップＳ１０１）。このパラメータは、ユーザにより試験装置５０の入力部５４に入力される。
Subsequently, the
続いて、制御部５１は、ステップＳ１００で生成した試験判定用データベースを用いて、実行プログラムを生成する（ステップＳ１０２）。実行プログラムは、コントローラ３０に、試験項目に対応する試験を実行させるプログラムである。コントローラ３０は、実行プログラムにより、複数の試験項目に対応する試験を順に実行していく。コントローラ３０は、試験が終了するまで、実行プログラムを実行する（ステップＳ１０３）。
Subsequently, the
コントローラ３０は、実行プログラムにより生成された試験信号を監視装置１０に送信する。監視装置１０は、コントローラ３０から送信された信号を用いて、プラント４１の状態を含む情報を表示部１４に表示する。また、監視装置１０は、表示した情報を履歴データとしてサーバ２０に送信する。履歴データは、サーバ２０に格納される。
続いて、制御部５１に含まれる履歴データ取得部５１Ｃは、通信部５３を介して、サーバ２０から履歴データを取得する（ステップＳ１０４）。
Subsequently, the history
続いて、制御部５１は、試験判定動作を実行する（ステップＳ１０５）。すなわち、制御部５１は、ステップＳ１００で生成した試験判定用データベースと、ステップＳ１０４で取得した履歴データとを比較し、両者の項目が一致しているか否かを判定する。
Subsequently, the
続いて、制御部５１は、試験判定結果を表示部５５に表示する（ステップＳ１０６）。ユーザは、表示部５５に表示された試験判定結果を確認することで、監視装置１０が正常に動作したか否かを判定できる。
Subsequently, the
［３－２］ 試験判定用データベースの生成動作
次に、試験判定用データベースの生成動作について説明する。試験判定用データベースの生成動作は、図４のステップＳ１００に対応する。図５は、試験判定用データベースの生成動作を説明するフローチャートである。
[3-2] Generating Operation of Test Judgment Database Next, the operation of generating the test judgment database will be described. The test determination database generation operation corresponds to step S100 in FIG. FIG. 5 is a flowchart for explaining the operation of generating the test judgment database.
ＩＯシーケンス図データベース取得部５１Ａは、外部からＩＯシーケンス図データベースを取得する（ステップＳ２００）。状態・故障表示表データベース取得部５１Ｂは、外部から状態・故障表示表データベースを取得する（ステップＳ２００）。ステップＳ２００で取得されたＩＯシーケンス図データベースは、記憶部５２の記憶領域５２Ａに格納される。ステップＳ２００で取得された状態・故障表示表データベースは、記憶部５２の記憶領域５２Ｂに格納される。
The IO sequence diagram
図６は、ＩＯシーケンス図データベースの一例を示す図である。ＩＯシーケンス図データベースは、ＩＯシーケンス図のデータである。ＩＯシーケンス図データベースは、プラント４１に含まれる複数の機器をその動作の順序に従って展開した接続図である。ＩＯシーケンス図は、展開接続図とも呼ばれる。ＩＯシーケンス図データベースは、端子台番号（ＴＢ_Ｎｏ）、コネクタ番号（ＣＮ_Ｎｏ）、ビット番号（ビットＮｏ）、負荷名称、及び信号名称などを含む。ビット番号は、ＩＯシーケンス図データベースの項目に割り当てられた番号であり、０～Ｆ（１５）の１６進数で表される。負荷名称は、プラント４１に含まれる機器の名称である。信号名称は、ビット番号に対応する項目の信号の名称であり、プラント４１に含まれる機器の部分的な名称、及び故障表示の種類を含む。図６の項目から延びる線は、配線を意味する。
FIG. 6 is a diagram showing an example of an IO sequence diagram database. The IO sequence diagram database is data of IO sequence diagrams. The IO sequence diagram database is a connection diagram in which a plurality of devices included in the
図６の例では、プラント４１は、無停電電源装置、及び直流電源装置を含む。無停電電源装置は、インバータ、バイパス回路、及び整流器を含む。図６に示した「スペース」は、対応するコネクタに何も接続されていないことを意味する。
In the example of FIG. 6, the
図７は、状態・故障表示表データベースの一例を示す図である。状態・故障表示表データベースは、状態・故障表示表のデータである。状態・故障表示表データベースは、複数の項目が定義され、項目番号（項目Ｎｏ）ごとに、プラント４１に含まれる機器の動作状態と当該機器の故障表示との対応関係を示した表である。状態・故障表示表データベースは、項目番号、設備区分、負荷名称、信号名称、及び警報（警報情報）を含む。状態・故障表示表データベースに含まれる負荷名称、及び信号名称はそれぞれ、前述したＩＯシーケンス図に含まれる負荷名称、及び信号名称と同じ意味である。警報は、重故障、及び軽故障の状態を含む。図７において、重故障が二重丸で表され、軽故障が丸で表される。
FIG. 7 is a diagram showing an example of the status/failure display table database. The status/failure table database is data of the status/failure table. The status/failure display table database is a table in which a plurality of items are defined and shows the correspondence relationship between the operating status of the equipment included in the
図７の例では、プラント４１は、受変電設備を含む。また、プラント４１の受変電設備は、試験用電源盤、機械室照明制御盤、直流電源装置、無停電電源装置、及び原水動力変圧器を含む。信号名称は、軽故障、重故障、及び給電などを含む。なお、図６及び図７では、ＩＯシーケンス図データベースの名称と、状態・故障表示表データベースの名称とが統一されていない例を示している。
In the example of FIG. 7, the
続いて、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、記憶部５２に格納されたＩＯシーケンス図データベース及び状態・故障表示表データベースを用いて、試験判定用データベースを生成する（ステップＳ２０１）。
Subsequently, the test determination
図８は、試験判定用データベースの一例を示す図である。試験判定用データベースは、ビット番号（ビットＮｏ）に対応した複数の項目を有し、各項目は、設備区分、負荷名称、信号名称、及び警報などを含む。 FIG. 8 is a diagram showing an example of the test determination database. The test determination database has a plurality of items corresponding to bit numbers (bit No.), and each item includes facility classification, load name, signal name, alarm, and the like.
続いて、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、ＩＯシーケンス図データベースの負荷名称及び信号名称を用いて、状態・故障表示表データベースの項目を検索する（ステップＳ２０２）。すなわち、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、ＩＯシーケンス図データベースの負荷名称及び信号名称と同じ名称を含む項目を、状態・故障表示表データベースから検索する。
Subsequently, the test determination
ＩＯシーケンス図データベースと状態・故障表示表データベースとで名称が一致した場合（ステップＳ２０３＝Ｙｅｓ）、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、一致項目として該当項目を試験判定用データベースに登録する（ステップＳ２０４）。
If the names of the IO sequence diagram database and the status/fault display table database match (step S203=Yes), the test determination
ＩＯシーケンス図データベースと状態・故障表示表データベースとで名称が一致しない場合（ステップＳ２０３＝Ｎｏ）、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、あいまい検索を用いて再検索を行う（ステップＳ２０５）。あいまい検索とは、名称が完全一致していなくても、表記が異なるが同じものを指し示している項目を検索する操作である。ＩＯシーケンス図データベースと状態・故障表示表データベースとで負荷名称及び信号名称が統一されておらず、完全一致しない場合も想定される。あいまい検索を行うことで、名称が完全一致していないが同じ負荷名称及び信号名称を指し示している項目を検索することができる。図６のビット番号Ｄを例に挙げると、「Ａ棟無停電電源装置」、「インバータ」、及び「重故障」のＡＮＤ検索を行う。この結果、図７の項目番号５４９が検索される。
If the names of the IO sequence diagram database and the status/fault display table database do not match (step S203=No), the test
ＩＯシーケンス図データベースと状態・故障表示表データベースとで名称が一致した場合（ステップＳ２０６＝Ｙｅｓ）、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、一致項目として該当項目を試験判定用データベースに登録する（ステップＳ２０７）。
If the names of the IO sequence diagram database and the status/failure display table database match (step S206=Yes), the test determination
ＩＯシーケンス図データベースと状態・故障表示表データベースとで名称が一致しない場合（ステップＳ２０６＝Ｎｏ）、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、不一致項目として該当項目を試験判定用データベースに登録する（ステップＳ２０８）。
If the names of the IO sequence diagram database and the status/failure display table database do not match (step S206=No), the test determination
図７の状態・故障表示表データベースにおいて、破線の四角で囲んだ負荷名称及び信号名称は、図６のＩＯシーケンス図データベースに含まれる負荷名称及び信号名称と一致している。図７の破線の四角に付記した数字は、図６のビット番号に対応する。図７の破線の四角で示した項目が試験判定用データベースに登録される。 In the status/failure display table database of FIG. 7, the load names and signal names enclosed in broken-line squares match the load names and signal names included in the IO sequence diagram database of FIG. The numbers attached to the dashed squares in FIG. 7 correspond to the bit numbers in FIG. Items indicated by dashed squares in FIG. 7 are registered in the test determination database.
続いて、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、ＩＯシーケンス図データベースの全ての項目を検索したか否かを判定する（ステップＳ２０９）。そして、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、ＩＯシーケンス図データベースの全ての項目を検索するまで、検索動作を繰り返す。
Subsequently, the test determination
ステップＳ２０９において全ての項目を検索した場合、試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、試験判定用データベースに登録した複数の項目をビット番号順に並び替える（ステップＳ２１０）。以上の動作により、例えば図８の試験判定用データベースが生成される。
When all the items have been retrieved in step S209, the test
試験判定用ＤＢ生成部５１Ｄは、ワードごとに試験判定用データベースを生成する。図８の試験判定用データベースは、あるワードに含まれる１５ビット分の項目の例を示している。図９は、複数の試験判定用データベースの一例を示す図である。図９には、一例として、１６個の複数の試験判定用データベース５２Ｃ_０～５２Ｃ_Ｆを示している。
The test determination
試験判定用データベース５２Ｃ_０～５２Ｃ_Ｆには、個別のワードが定義され、例えば、試験判定用データベース５２Ｃ_０～５２Ｃ_Ｆにはそれぞれワード“００”～“Ｆ０”が定義される。ワードの上位データ（２桁目）が試験判定用データベースの番号に対応し、ワードの下位データ（１桁目）が試験判定用データベース内のビット番号に対応する。例えば、ワード“１２”は、試験判定用データベース５２Ｃ_１のビット番号２の項目を指す。
Individual words are defined in the test determination databases 52C_0 to 52C_F. For example, words "00" to "F0" are defined in the test determination databases 52C_0 to 52C_F, respectively. The upper data (second digit) of the word corresponds to the number of the test judgment database, and the lower data (first digit) of the word corresponds to the bit number in the test judgment database. For example, the word "12" indicates the item of
［３－３］ 実行プログラムによるコントローラ３０の動作
次に、実行プログラムによるコントローラ３０の動作について説明する。実行プログラムによるコントローラ３０の動作は、図４のステップＳ１０３に対応する。図１０は、実行プログラムによるコントローラ３０の動作を説明するフローチャートである。
[3-3] Operation of
図４のステップＳ１０１において、実行プログラム生成部５１Ｅには、パラメータが設定される。ユーザは、試験装置５０の入力部５４に、パラメータとして、試験対象ワード、及び開始時刻を入力する。実行プログラム生成部５１Ｅには、試験対象ワード、及び開始時刻が設定される。
In step S101 of FIG. 4, parameters are set in the
図１０において、試験対象ワードがｗｏｒｄ［Ａ］～ｗｏｒｄ［Ｂ］であるものとする。ｗｏｒｄ［Ａ］及びｗｏｒｄ［Ｂ］はそれぞれ、個別の試験判定用データベースを特定する。“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”は、２桁のワードであり、ワードの上位データ（２桁目）が試験判定用データベースの番号に対応し、ワードの下位データ（１桁目）が試験判定用データベース内のビット番号に対応する。すなわち、“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”は、ｗｏｒｄ［Ａ］に対応する試験判定用データベースのうちビット番号Ｃの項目を特定する。 In FIG. 10, it is assumed that words to be tested are word[A] to word[B]. word[A] and word[B] each identify a separate test decision database. "word[A].[C]" is a two-digit word, the upper data (second digit) of the word corresponds to the number of the test judgment database, and the lower data (first digit) of the word corresponds to the test Corresponds to the bit number in the judgment database. That is, "word[A].[C]" specifies the item of bit number C in the test determination database corresponding to word[A].
コントローラ３０は、“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”にＣ＝０を入力する（ステップＳ３００）。続いて、コントローラ３０は、所定時間だけ待機する（ステップＳ３０１）。図１０の“Ｔ”は、タイマーを意味し、所定時間だけ待機する処理である。
The
続いて、コントローラ３０は、“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”に対応する信号をオンする（ステップＳ３０２）。すなわち、コントローラ３０は、“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”をオンする試験信号を監視装置１０に送信する。続いて、コントローラ３０は、所定時間だけ待機する（ステップＳ３０３）。監視装置１０は、受信した試験信号に対応するプラント４１の状態を表示部１４に表示する。また、監視装置１０は、表示部１４に表示した情報を履歴データとしてサーバ２０に送信する。サーバ２０は、監視装置１０から受信した履歴データを記憶部２３に格納する。
Subsequently, the
続いて、コントローラ３０は、“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”に対応する信号をオフする（ステップＳ３０４）。すなわち、コントローラ３０は、“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”をオフする試験信号を監視装置１０に送信する。続いて、コントローラ３０は、所定時間だけ待機する（ステップＳ３０５）。監視装置１０は、受信した試験信号に対応する表示動作を終了する。
Subsequently, the
続いて、コントローラ３０は、“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”が最終ビット（Ｃ＝Ｆ（１５））であるか否かを判定する（ステップＳ３０６）。“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”が最終ビットでない場合（ステップＳ３０６＝Ｎｏ）、コントローラ３０は、“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”にＣ＝Ｃ＋１を入力する（ステップＳ３０７）。続いて、コントローラ３０は、ステップＳ３０１～Ｓ３０５を繰り返す。
Subsequently, the
“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”が最終ビットである場合（ステップＳ３０６＝Ｙｅｓ）、コントローラ３０は、“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”が最終ワード（Ａ＝Ｂ）であるか否かを判定する（ステップＳ３０８）。“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”が最終ワードでない場合（ステップＳ３０８＝Ｎｏ）、コントローラ３０は、“ｗｏｒｄ［Ａ］．［Ｃ］”にＡ＝Ａ＋１を入力する（ステップＳ３０９）。続いて、コントローラ３０は、ステップＳ３００～Ｓ３０６を繰り返す。
If "word[A].[C]" is the last bit (step S306=Yes), the
上記の機能を、実行プログラムとして作成し、コントローラ３０（ＰＬＣ）に、ソフトを実装させることで、必要な信号の入力を自動的に実施することができる。本プログラムを「自動信号入力プログラム」と定義する。上記の動作によって、試験判定用データベースに対応した信号を発生させることが可能となる。 By creating the above functions as an execution program and implementing the software in the controller 30 (PLC), it is possible to automatically input necessary signals. This program is defined as "automatic signal input program". By the above operation, it is possible to generate a signal corresponding to the test judgment database.
［３－４］ 試験判定動作
次に、試験判定動作について説明する。試験判定動作は、図４のステップＳ１０５に対応する。図１１は、試験判定動作を説明するフローチャートである。
[3-4] Test Judgment Operation Next, the test judgment operation will be described. The test determination operation corresponds to step S105 in FIG. FIG. 11 is a flow chart for explaining the test determination operation.
図４のステップＳ１０４において、履歴データ取得部５１Ｃは、サーバ２０から履歴データを取得し、この履歴データは、試験装置５０の記憶部５２の記憶領域５２Ｄに格納されている。
In step S104 of FIG. 4, the history
試験判定部５１Ｆは、記憶部５２の記憶領域５２Ｄから履歴データを読み出す（ステップＳ４００）。図１２は、履歴データの一例を示す図である。履歴データは、項目ごとに、イベントが発生した時刻、設備区分、名称、及び警報を含む。
The
続いて、試験判定部５１Ｆは、記憶部５２の記憶領域５２Ｃから試験判定用データベースを読み出す（ステップＳ４０１）。図１３は、試験判定用データベースの一例を示す図である。試験判定用データベースは、項目ごとに、設備区分、名称、及び警報を含む。
Subsequently, the
続いて、試験判定部５１Ｆは、項目ごとに、履歴データと試験判定用データベースとを比較する（ステップＳ４０２）。
Subsequently, the
不一致箇所を検出した場合（ステップＳ４０３＝Ｙｅｓ）、試験判定部５１Ｆは、試験判定用データベースの不一致箇所を強調表示する（ステップＳ４０４）。図１３の試験判定用データベースの例では、名称“ＨＨＨ”が不一致箇所であり、名称“ＨＨＨ”が強調表示される。
If a non-matching portion is detected (step S403=Yes), the
続いて、試験判定部５１Ｆは、履歴データの全ての項目を比較したか否かを判定する（ステップＳ４０５）。履歴データの全ての項目を比較していない場合（ステップＳ４０５＝Ｎｏ）、試験判定部５１Ｆは、ステップＳ４０２～Ｓ４０４を繰り返す。
Subsequently, the
履歴データの全ての項目を比較した場合（ステップＳ４０５＝Ｙｅｓ）、試験判定部５１Ｆは、比較結果を表示部５５に表示する（ステップＳ４０６）。
When all items of history data are compared (step S405=Yes), the
本機能を持たせることにより、試験判定における不一致箇所が一目で分かるため、試験結果の確認作業を効率的に行うことができる。 By providing this function, inconsistencies in the test judgment can be seen at a glance, so that the work of confirming the test results can be performed efficiently.
［４］ 実施形態の効果
実施形態によれば、試験システム１に含まれる監視装置１０の構成を変更することなく、監視制御システムに試験装置５０を接続することで、監視制御システムのインターフェース試験を行うことができる。
[4] Effect of Embodiment According to the embodiment, the interface test of the monitoring control system can be performed by connecting the
また、試験システム１のインターフェース試験において、コントローラ３０は、実行プログラムを用いて、試験判定用データベースに含まれる複数の試験項目を自動で実行することができる。そして、監視装置１０の動作に関する履歴データと、試験判定用データベースとを比較することで、監視装置１０の動作の良否判定を行うことができる。これにより、インターフェース試験の正確性を向上させることができる。また、インターフェース試験における作業の効率を向上させることができる。
Further, in the interface test of the
また、監視装置１０の動作の良否判定を自動で行うことができる。これにより、試験コストを低減することができる。また、試験結果の確認の際に発生し得るヒューマンエラーを低減することができる。
In addition, it is possible to automatically determine whether the operation of the
上述した実施形態において、各構成要素は、専用のハードウェアで構成されてもよく、あるいは、各構成要素に適したプログラムを実行することによって実現されてもよい。各構成要素は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）又はプロセッサなどのプログラム実行部が、ハードディスク又は半導体メモリなどの記録媒体に記録されたプログラムを読み出して実行することによって実現されてもよい。また、プログラムをＤＶＤ（Digital Versatile Disc）などのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録し、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータに読み込ませ、実行することによって実現してもよい。 In the above-described embodiments, each component may be configured with dedicated hardware, or may be realized by executing a program suitable for each component. Each component may be implemented by a program execution unit such as a CPU (Central Processing Unit) or processor reading and executing a program recorded in a recording medium such as a hard disk or semiconductor memory. Alternatively, the program may be recorded on a computer-readable recording medium such as a DVD (Digital Versatile Disc), and the program recorded on the recording medium may be read by a computer and executed.
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。 While several embodiments of the invention have been described, these embodiments have been presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the scope of the invention described in the claims and equivalents thereof.
１…試験システム、１０…監視装置、１１…制御部、１２…信号伝送部、１３…入力部、１４…表示部、２０…サーバ、２１…信号処理部、２２…信号伝送部、２３…記憶部、３０…コントローラ、３１…制御部、３２…信号伝送部、３３…ＩＯインターフェース部、３４…自動信号入力部、４０…ネットワーク、４１…プラント、５０…試験装置、５１…制御部、５１Ａ…ＩＯシーケンス図データベース取得部、５１Ｂ…状態・故障表示表データベース取得部、５１Ｃ…履歴データ取得部、５１Ｄ…試験判定用ＤＢ生成部、５１Ｅ…実行プログラム生成部、５１Ｆ…試験判定部、５２…記憶部、５３…通信部、５４…入力部、５５…表示部、５６…バス、６０…プロセッサ、６１…ＲＯＭ、６２…ＲＡＭ、６３…入出力インターフェース、６４…入力装置、６５…表示装置、６６…補助記憶装置、６７…通信インターフェース、６８…バス。
Claims (9)
前記試験判定用データベースを用いて、前記複数の機器を制御するコントローラに前記試験項目に対応する試験を実行させる実行プログラムを生成し、前記実行プログラムを前記コントローラに送信する実行プログラム生成部と、
前記実行プログラムにより実行された試験に応じた動作に関する履歴データを取得する履歴データ取得部と、
前記履歴データと前記試験判定用データベースとに基づいて、前記履歴データと前記試験判定用データベースとの不一致箇所を判定する判定部と、
を具備する試験装置。 Using a sequence diagram database showing the connection state of a plurality of equipment that constitutes a plant and a status/failure display table database showing the correspondence relationship between the operating state of the plurality of equipment and fault indications, a test decision including test items a test judgment database generation unit that generates a database;
an execution program generation unit that uses the test determination database to generate an execution program that causes a controller that controls the plurality of devices to execute a test corresponding to the test item, and that transmits the execution program to the controller;
a history data acquisition unit that acquires history data related to the operation according to the test executed by the execution program;
a judgment unit that judges, based on the history data and the test judgment database, a point of disagreement between the history data and the test judgment database;
A test device comprising
前記シーケンス図データベースに含まれる負荷名称及び信号名称を用いて、状態・故障表示表データベースの項目を検索し、
一致項目を試験項目として前記試験判定用データベースに登録する
請求項１に記載の試験装置。 The test judgment database generation unit
using the load names and signal names contained in the sequence diagram database to search for items in the status/failure display table database;
The testing apparatus according to claim 1, wherein matching items are registered in said test determination database as test items.
前記状態・故障表示表データベースは、複数の項目ごとに、負荷名称、信号名称、及び警報情報を含む
請求項１又は２に記載の試験装置。 The sequence diagram database includes load names and signal names for each of a plurality of items,
3. The test apparatus according to claim 1, wherein the status/failure display table database includes a load name, a signal name, and alarm information for each of a plurality of items.
請求項１乃至３の何れか１項に記載の試験装置。 The test apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the history data includes load names, signal names, and alarm information for each of a plurality of items.
請求項１乃至４の何れか１項に記載の試験装置。 5. The determining unit according to any one of claims 1 to 4, wherein, when detecting the inconsistent portion between the history data and the test determination database, the determination unit highlights the inconsistent portion in the test determination database. Test equipment as described.
請求項１乃至５の何れか１項に記載の試験装置。 The test apparatus according to any one of claims 1 to 5, further comprising a storage unit that stores the test determination database and the history data.
請求項１乃至６の何れか１項に記載の試験装置。 The test apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the determination section displays the determination result on a display section.
前記試験装置から送信された前記実行プログラムを受信する前記コントローラと、
前記実行プログラムにより実行される試験に応じた動作に関する情報を表示する監視装置と、
前記試験に応じた動作に関する前記履歴データを格納するサーバと、
を具備する試験システム。 a test apparatus according to claim 1;
the controller that receives the execution program transmitted from the test device;
a monitoring device that displays information about the operation according to the test executed by the execution program;
a server that stores the history data about the operation according to the test;
A test system comprising
プラントを構成する複数の機器の接続状態を示すシーケンス図データベース、及び前記複数の機器の動作状態と故障表示との対応関係を示す状態・故障表示表データベースを用いて、複数の試験項目を含む試験判定用データベースを生成する処理と、
前記試験判定用データベースを用いて、前記複数の機器を制御するコントローラに前記試験項目に対応する試験を実行させる実行プログラムを生成し、前記実行プログラムを前記コントローラに送信する処理と、
前記実行プログラムにより実行された試験に応じた動作に関する履歴データを取得する処理と、
前記履歴データと前記試験判定用データベースとに基づいて、前記履歴データと前記試験判定用データベースとの不一致箇所を判定する処理と、
を実行させるプログラム。 to the computer,
A test including a plurality of test items using a sequence diagram database showing the connection state of a plurality of equipment that constitutes a plant, and a status/failure display table database showing the correspondence relationship between the operating state of the plurality of equipment and fault indications a process of generating a judgment database;
a process of using the test determination database to generate an execution program that causes a controller that controls the plurality of devices to execute a test corresponding to the test item, and transmitting the execution program to the controller;
a process of acquiring history data regarding actions according to tests executed by the execution program;
a process of determining mismatching points between the history data and the test determination database based on the history data and the test determination database;
program to run.
Priority Applications (1)
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