JP2021161467A - 電極 - Google Patents
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Abstract
Description
一方、固体酸化物形電解セル(SOEC)は、SOFCと構造は同じであるが、SOFCとは逆の反応を起こさせるものである。すなわち、SOECのカソード(水素極)にCO2やH2Oを供給し、電極間に電流を流すと、COやH2を生成させることができる。
(a)電解質: イットリア安定化ジルコニア(YSZ)、スカンジア安定化ジルコニア(SSZ)、サマリアドープトセリア(SDC)、ランタンストロンチウムガリウムマグネシウム酸化物(LSGM)など。
(b)酸素極: ランタンストロンチウムマンガナイト(LSM)、ランタンストロンチウムコバルトフェライト(LSCF)、ランタンストロンチウムコバルタイト(LSC)など。
(c)水素極: Ni/YSZ、Ni/SDC、Ni−Fe/SDCなど。
この点は、SOFCも同様である。すなわち、SOFCのアノード(燃料極)においては、電極反応により水が生成する。そのため、特に、高負荷運転条件下において、生成した水蒸気により燃料極中のNiが酸化され、発電特性が低下する場合がある。
(1)前記電極は、
拡散層と、
前記拡散層の電解質層側表面に形成された活性層と
を備えている。
(2)前記活性層は、
Ni含有粒子(B)と、
ScドープCeO2−ZrO2固溶体からなるScCZ粒子と、
前記ScドープCeO2−ZrO2固溶体以外の固体酸化物からなる電解質粒子(B)と
を含むサーメット(B)からなる。
(A)Ni含有粒子(B)の表面に形成されたNiを含む金属酸化膜(例えば、NiOなど)からスピルオーバーした酸素イオンがScCZに固定されるため、
(B)ScCZの水分解機能により水蒸気が酸素と水素に分解され、ScCZの周囲が還元雰囲気に曝されるため、及び/又は、
(C)Ni含有粒子(B)とScCZとが共存することによって、Ni含有粒子(B)に含まれるNiの電子状態が変化するため
と考えられる。
[1. 電極]
本発明に係る電極は、
拡散層と、
前記拡散層の電解質層側表面に形成された活性層と
を備えている。
本発明において、拡散層は、Ni含有粒子(A)と、固体酸化物からなる電解質粒子(A)とを含むサーメット(A)からなる。拡散層は、活性層を支持するためのものである。拡散層と活性層との積層体からなる電極において、電極反応は、主として活性層内で生じる。そのため、拡散層は、必ずしも高いイオン伝導度を有している必要はない。
(a)その電解質層側表面に形成される活性層を支持するための機能、
(b)燃料(電解又は発電の原料)を活性層まで拡散させる機能、
(c)還元反応に必要な電子を集電体から活性層まで輸送し、又は、酸化反応で生じた電子を活性層から集電体まで輸送する機能、及び、
(d)電極反応により活性層で生成した水素又は水蒸気を電極外に排出する機能
を備えている必要がある。
拡散層の組成は、このような機能を奏する限りにおいて、特に限定されない。
「Ni含有粒子(A)」とは、粒子に含まれる金属元素の総質量に対するNiの質量の割合が10mass%以上である金属粒子をいう。Ni含有粒子(A)に含まれるNiの質量割合は、好ましくは、50mass%以上、さらに好ましくは、90mass%以上である。
Ni含有粒子(A)は、拡散層中において、電子伝導体としての機能を有する。Ni含有粒子(A)の組成は、このような機能を奏するものである限りにおいて、特に限定されない。Ni含有粒子(A)としては、例えば、Ni、Ni−Fe合金、Ni−Co合金などがある。
Ni含有粒子(A)の含有量は、拡散層としての機能を奏する限りにおいて、特に限定されない。また、拡散層に含まれるNi含有粒子(A)の含有量は、活性層に含まれるNi含有粒子(B)の含有量と同一であっても良く、あるいは、異なっていても良い。Ni含有粒子(A)の含有量は、通常、30〜70mass%である。
電解質粒子(A)の組成は、拡散層としての機能を奏する限りにおいて、特に限定されない。電解質粒子(A)は、活性層に含まれる電解質と同一の組成を有するものでも良く、あるいは、異なる組成を有するものでも良い。
電解質粒子(A)としては、例えば、
(a)3〜15mol%のY2O3を含むイットリア安定化ジルコニア(YSZ)、
(b)活性層に含まれる電解質と同一又は類似の組成を持つ材料、
などがある。
これらの中でも、電解質粒子(A)は、YSZが好適である。これは、機械的強度が安定しているためである。
拡散層の気孔率は、電極のガス拡散性、強度、電子伝導性などに影響を与える。一般に、拡散層の気孔率が小さすぎると、ガス拡散性が低下する。従って、拡散層の気孔率は、40%以上が好ましい。気孔率は、好ましくは、45%以上、さらに好ましくは、50%以上である。
一方、拡散層の気孔率が大きくなりすぎると、強度及び電子伝導性が低下する。従って、拡散層の気孔率は、60%以下が好ましい。気孔率は、好ましくは、58%以下、さらに好ましくは、55%以下である。
活性層は、電極反応の反応場となる部分である。本発明において、活性層は、
Ni含有粒子(B)と、
ScドープCeO2−ZrO2固溶体からなるScCZ粒子と、
ScドープCeO2−ZrO2固溶体以外の固体酸化物からなる電解質粒子(B)と
を含むサーメット(B)からなる。
「Ni含有粒子(B)」とは、粒子に含まれる金属元素の総質量に対するNiの質量の割合が90mass%以上である金属粒子をいう。Ni含有粒子(B)に含まれるNiの質量割合は、好ましくは、95mass%以上である。
Ni含有粒子(B)は、活性層中において、電極触媒及び電子伝導体としての機能を有する。Ni含有粒子(B)の組成は、このような機能を奏するものである限りにおいて、特に限定されない。Ni含有粒子(B)としては、例えば、Ni、Ni−Fe合金、Ni−Co合金などがある。高い触媒活性及び高い電子伝導性を得るには、Ni含有粒子(B)は、実質的にNiのみからなり、残部が不可避的不純物からなるものが好ましい。
[A. 酸素吸蔵・放出能]
ScCZ粒子は、ScがドープされたCeO2−ZrO2固溶体からなり、活性層中において、酸化物イオン伝導体としての機能、及びNi含有粒子(B)に含まれるNiの酸化を抑制する機能を有する。CeO2は、ZrO2に酸素吸蔵・放出能を付与する作用がある。一方、Scは、CeO2−ZrO2固溶体(CZ)のCeサイトを置換する。CZに適量のScをドープすると、焼成時におけるCZの分解を抑制することができる。また、ScCZは、Ni含有粒子(B)に含まれるNiの電子状態を変化させる作用がある。そのため、Ni含有粒子(B)とScCZとを共存させると、Ni含有粒子(B)に含まれるNiの酸化を抑制することができる。また、Ni含有粒子(B)がNi以外の金属元素を含む場合であっても、少なくともNiの酸化を抑制することができれば、電極内に三相界面(TPB)を確保することができる。
CeO2-x−ZrO2+(x/2)O2 ⇔ CeO2−ZrO2 …(1)
ScCZ粒子は、特に、次の式(2)で表される組成を有するものが好ましい。
ScxCeyZr1-(x+y)O2 …(2)
但し、0.06≦x≦0.19、0.05≦y≦0.15。
一方、xが過剰になると、分相が生じ、CZ構造を維持できなくなり、構造安定性が低下する。従って、xは、0.19以下が好ましい。
一方、yが過剰になると、電極中の酸素イオン伝導性が低下するだけでなく、電極の機械的強度も低下する場合がある。従って、yは、0.15以下が好ましい。
電解質粒子(B)は、ScドープCeO2−ZrO2固溶体以外の固体酸化物からなる。本発明において、電解質粒子(B)は、電極のイオン伝導性を向上させ、及び/又は、安定化させるために添加される。ScCZも酸素イオン伝導体として機能するが、その酸素イオン伝導度は相対的に低い。また、ScCZは、酸素分圧によって状態が変化し、それによってイオン伝導度も変化する。一方、電極に電解質粒子(B)がさらに含まれていると、電極全体のイオン伝導度が向上し、及び/又は、ScCZ粒子の状態変化に起因するイオン伝導度の不安定化を緩和することができる。
電解質粒子(B)としては、例えば、
(a)イットリア安定化ジルコニアからなるYSZ粒子、
(b)LaドープCeO2−ZrO2固溶体からなるLaCZ粒子
などがある。活性層には、これらのいずれか1種の電解質粒子(B)が含まれていても良く、あるいは、2種以上が含まれていても良い。
YSZ粒子は、イットリア安定化ジルコニアからなり、活性層中において酸化物イオン伝導体としての機能を有する。YSZ粒子に含まれるYの含有量は、特に限定されるものではなく、目的に応じて最適な量を選択することができる。
相対的に高いイオン伝導度と、相対的に高い機械的強度を得るためには、YSZ粒子は、3mol%以上15mol%以下のY2O3を含むものが好ましい。電極中にYSZ粒子がさらに含まれていると、電極の機械的強度が向上する場合がある。
LaCZ粒子は、LaがドープされたCeO2−ZrO2固溶体からなり、活性層中において、酸化物イオン伝導体としての機能、及び、Ni含有粒子(B)に含まれるNiの酸化を抑制する機能を有する。CeO2は、ZrO2に酸素吸蔵・放出能を付与する作用がある。一方、Laは、CeO2−ZrO2固溶体(CZ)のCeサイトを置換し、CZの耐熱性を向上させる作用がある。そのため、CZに適量のLaをドープすると、焼成時におけるCZの分解を抑制することができる。
LaCZ粒子の酸化抑制機能は、ScCZ粒子のそれに比べて劣る。しかしながら、電極中にLaCZ粒子がさらに含まれていると、熱的安定性が向上する場合がある。
LaxCe2-xZr2O7 …(3)
但し、0<x<0.2。
一方、xが過剰になると、LaCZ粒子の酸素吸蔵・放出能力が低下する。従って、xは、0.2未満が好ましい。xは、好ましくは、0.15以下である。
本発明において、活性層は、所定量のScCZ粒子及び電解質粒子(B)を含み、残部がNi含有粒子(B)及び不可避的不純物からなるものが好ましい。また、活性層は、次の式(4)〜式(7)を満たしているのが好ましい。
30mass%≦u≦70mass% …(4)
10mass%≦v≦30mass% …(5)
30mass%≦w≦70mass% …(6)
u+v+w=100mass% …(7)
但し、
uは、前記活性層に含まれる前記ScCZ粒子の質量割合(mass%)。
vは、前記活性層に含まれる前記電解質粒子(B)の質量割合(mass%)、
wは、前記活性層に含まれる前記Ni含有粒子(B)の質量割合(mass%)。
ScCZ粒子の含有量が少なくなりすぎると、Ni含有粒子(B)に含まれるNiの酸化を十分に抑制できなくなる。従って、ScCZ粒子の含有量は、30mass%以上が好ましい。
電解質粒子(B)の含有量が少なくなりすぎると、イオン伝導度が低下し、反応活性点の減少及びイオン伝導距離が伸びることによるオーミック抵抗の増大を招く。従って、電解質粒子(B)の含有量は、10mass%以上が好ましい。
Ni含有粒子(B)の含有量が少なくなりすぎると、活性層の触媒活性及び電子伝導性が低下する。従って、Ni含有粒子(B)の含有量は、30mass%以上が好ましい。
一方、Ni含有粒子(B)の含有量が過剰になると、活性層中におけるScCZ粒子の割合が少なくなるために、かえってセル全抵抗が高くなり、効率も低下する。従って、Ni含有粒子(B)の含有量は、70mass%以下が好ましい。
活性層の気孔率は、電解特性又は発電特性に影響を与える。活性層の気孔率が小さすぎると、ガスの拡散性が低下し、電極反応の効率が低下する。従って、活性層の気孔率は、15%以上が好ましい。気孔率は、好ましくは、20%以上、さらに好ましくは、25%以上である。
一方、活性層の気孔率が大きくなりすぎると、三相界面が相対的に少なくなり、かえって電極反応の効率が低下する。従って、活性層の気孔率は、40%以下が好ましい。気孔率は、好ましくは、35%以下、さらに好ましくは、30%以下である。
本実施の形態に係る電極は、固体酸化物形電解セルの水素極、又は、固体酸化物形燃料電池の燃料極に用いることができる。
本発明に係る電極は、
(a)Ni含有粒子(A)の原料、及び、電解質粒子(A)の原料を含む原料混合物(A)を用いて拡散層成形体を作製し、
(b)拡散層成形体の表面に、Ni含有粒子(B)の原料、ScCZ粉末、及び電解質粒子(B)の原料を含む原料混合物(B)を用いて活性層成形体を形成し、
(c)得られた積層体を焼結し、
(d)得られた焼結体を還元処理する
ことにより製造することができる。
まず、Ni含有粒子(A)の原料、及び、電解質粒子(A)の原料を含む原料混合物(A)を用いて拡散層成形体を作製する(拡散層成形体作製工程)。
電解質粒子(A)の原料の種類は、特に限定されるものではなく、目的に応じて最適な原料を選択することができる。
例えば、電解質粒子(A)がYSZである場合、その原料としては、
(a)目的とする組成を有するYSZ粉末、
(b)目的とする組成となるように配合されたZrO2粉末と、Y2O3粉末との混合物
などがある。
(a)原料混合物(A)を含むスラリーをテープ成形し、得られたグリーンシートを複数枚積層し、積層体を静水圧プレスして圧着させる方法、
(b)原料混合物(A)を金型でプレス成形する方法、
などがある。
次に、拡散層成形体の表面に、Ni含有粒子(B)の原料、ScCZ粉末、及び電解質粒子(B)の原料を含む原料混合物(B)を用いて活性層成形体を形成する(活性層成形体作製工程)。
さらに、原料混合物(A)と同様の理由から、原料混合物(B)中には、造孔材(例えば、カーボン粉末)が含まれていても良い。
なお、Ni含有粒子(B)の原料及び電解質粒子(B)の原料の詳細については、それぞれ、Ni含有粒子(A)の原料及び電解質粒子(A)の原料と同様であるので、説明を省略する。
(a)原料混合物(B)を含むスラリーをテープ成形し、得られたグリーンシートを拡散層成形体の上に積層し、積層体を静水圧プレスして圧着させる方法、
(b)原料混合物(B)を含むスラリーを作製し、拡散層成形体の表面にスラリーをスクリーン印刷する方法、
などがある。
次に、得られた積層体を焼結させる(焼結工程)。焼結条件は、原料組成に応じて最適な条件を選択するのが好ましい。焼結は、通常、大気雰囲気下において、1000℃〜1500℃で1時間〜5時間行うのが好ましい。
原料混合物中に2種以上の酸化物が含まれている場合、焼結中に固相反応が進行し、所定の組成を有する固溶体が生成する場合がある。また、原料混合物中に造孔材が含まれている場合、焼結時に造孔材が消失し、焼結体内に気孔が形成される。
次に、得られた焼結体を還元処理する(還元工程)。これにより、本発明に係る電極が得られる。還元処理は、焼結体中に含まれるNiO等の金属酸化物を還元し、Ni含有粒子(A)及びNi含有粒子(B)を生成させるために行われる。還元条件は、特に限定されるものではなく、電極の組成に応じて最適な条件を選択するのが好ましい。
なお、固体酸化物形電解セルは、後述するように、水素極(カソード)/電解質層/反応防止層/酸素極(アノード)の接合体からなる。水素極の還元は、通常、各層を接合した後に行われる。この点は、固体酸化物形燃料電池セルも同様である。
図2に、Ni/(ScCZ+YSZ)を活性層に用いた固体酸化物形電解セルの模式図を示す。図2において、固体酸化物形電解セル(SOEC)10は、
電解質12と、
電解質12の一方の面に接合された水素極14と、
電解質12の他方の面に接合された酸素極16と、
電解質12と酸素極16との間に挿入された中間層18と
を備えている。
電解質12、酸素極16、及び中間層18の材料は、特に限定されるものではなく、目的に応じて最適な材料を選択することができる。
酸素極16には、(La,Sr)CoO3(LSC)、(La,Sr)(Co,Fe)O3(LSCF)、(La,Sr)MnO3(LSM)などを用いることができる。
中間層18は、電解質12と酸素極16とが直接、接触することにより生じる反応を防止するための層であり、必要に応じて挿入される。例えば、電解質12がYSZであり、酸素極16がLSCである場合、中間層18には、GdドープCeO2(GDC)を用いるのが好ましい。
図3に、Ni/YSZを活性層に用いた従来の固体酸化物形電解セルの模式図を示す。従来のSOEC10’は、電解質12と、電解質12の一方の面に接合された水素極14’と、電解質12の他方の面に接合された酸素極16と、電解質12と酸素極16との間に挿入された中間層18とを備えている。従来のSOEC10’は、水素極14’として、Ni−YSZサーメットが用いられている。
H2O+2e- → H2+O2- …(8)
この点は、SOFCも同様である。すなわち、SOFCのアノード(燃料極)においては、電極反応により水が生成する。そのため、特に、高負荷運転条件下において、生成した水により燃料極中のNiが酸化され、発電特性が低下する場合がある。
しかしながら、Ni、YSZ、及びCZの混合物を焼成して電極を作製する場合、CZが高温に曝されるために、CZの一部が分解し、別の相が生成する場合がある。CZの分解が進行すると、酸素吸蔵・放出能力が低下し、Niの酸化を抑制する効果が低下する。
NiとScCZを含む水素極が高温の水蒸気に曝されると、Niが酸化され、Ni粒子の表面がNiOで被覆された状態となる(ステップ1)。この時、Ni粒子の近傍にScCZ粒子があると、NiOから酸素原子又は酸素イオンがスピルオーバーする(ステップ2)。そのトリガーとなるのは、ScCZの酸素吸蔵能力と考えられる。
NiOからスピルオーバーした酸素は、ScCZに一時的にトラップされる(ステップ3)。水素極は生成したH2によって還元雰囲気になっているが、還元雰囲気下では、ScCZはトラップした酸素原子又は酸素イオンを酸素分子として容易に放出する。ScCZから放出された酸素分子は、Niを再酸化させる前に、拡散層を通って系外に排出される(ステップ4)。以下、このようなステップ1〜4が繰り返されることにより、Ni酸化が抑制されると考えられる。
後述するように、Ni/YSZサーメット中に存在するNiの電子状態は、Niが単独で存在する時の電子状態とほとんど変わらない。一方、Ni/ScCZサーメット中に存在するNiの電子状態は、Niが単独で存在する時の電子状態とは異なっている。Ni/ScCZサーメットがNi/YSZサーメットやNi/LaCZサーメットよりも各段に優れた耐酸化性を示すのは、NiとScCZとが共存することによって、Niの電子状態が変化するためと考えられる。
この点は、電極触媒としてNi以外の元素を含むNi含有粒子(B)を用いた場合も同様であり、Ni含有粒子(B)とScCZとを共存させると、Ni含有粒子(B)に含まれるNiの電子状態が変化し、これによってNi含有粒子(B)に含まれるNiの酸化が抑制されると考えられる。
[1. 試料の作製]
[1.1. Ni酸化率、及びXAFS測定用試料の作製]
電解質源には、
(a)Sc0.132Ce0.104Zr0.764O2固溶体からなるScCZ粉末(実験No.1)、
(b)Y0.158Zr0.842O2固溶体からなるYSZ粉末(実験No.2)、
(c)La0.25Ce0.25Zr0.5O2固溶体からなるLaCZ粉末(実験No.3)、又は、
(d)Ce0.118Zr0.882O2固溶体からなるCZ粉末(実験No.4)
を用いた。
また、Ni源には、NiO粉末を用いた。
0.8mgの電極材と、40mgのθアルミナ粉末とを混合し、加圧してφ10mm、厚さ0.5mmの圧粉成形体を作製した。
電解質粉末をそのまま酸素吸蔵量の測定に供した。
[2.1. Ni酸化率、及びXAFSスペクトルの測定]
電極材を含む圧粉成形体を石英製のX線吸収微構造(XAFS)測定用セルにセットした。4%H2/Heバランスガス(総量100cc/min)をセル内に導入し、780℃まで温度を上昇させた(60℃/min)。その後、700℃に降温し、1分間、Heガスでパージした。次に、セル内の雰囲気を、2%O2/Heガス(加湿無)、又は、2%O2+3%H2O/Heガス(加湿有)の酸化雰囲気に切り替えた。
さらに、XAFSスペクトルから、Ni酸化率を算出した。Ni及びNiOのXAFSスペクトルを用いて、線形最小二乗フィッティングによりNiO/Ni比を求め、これをNi酸化率とした。
熱重量分析計を用いて、ScCZ粉末及びCZ粉末の酸素吸蔵量を測定した。H2(5%)/N2雰囲気とO2(5%)/N2雰囲気を5分毎に3回切り替える変動雰囲気下(すなわち、H2雰囲気で5分間保持→O2雰囲気下で5分保持→H2雰囲気下で5分保持)で試料の重量の増減を測定した。2回目のH2(5%)/N2還元時の重量減少を酸素吸蔵量の代表値とした。試料量は15mg、ガス流量は100mL/min、測定温度は700℃とした。
[3.1. Ni酸化率]
図5に、温度700℃、酸化雰囲気(加湿有又は加湿無)下における各種電極のNi酸化率を示す。図5より、以下のことが分かる。
(2)雰囲気中に水蒸気を添加(3%H2O)した場合、Ni/LaCZは、加湿無に比べてNi酸化がさらに進行した。この点は、図示はしないが、Ni/YSZも同様であった。Ni/YSZ及びNi/LaCZのいずれも、加湿有のNi酸化率は、加湿無のそれに比べて約20%増加した。
(3)Ni/ScCZ(実験No.1)は、Ni/YSZ及びNi/LaCZに比べてNi酸化が著しく抑制された。酸化雰囲気下で50分保持後のNi/ScCZのNi酸化率は、加湿の有無に関わらず、1%未満であった。
図6に、Ni/YSZ(Y0.158Zr0.842O2)のXAFSスペクトルを示す。図7に、Ni/ScCZ(Sc0.132Ce0.104Zr0.764O2)のXAFSスペクトルを示す。図6及び図7より、以下のことが分かる。
(1)Ni/YSZ中のNi(0分)のXAFSスペクトルは、リファレンスのNi金属と同じスペクトルを示した。
(2)Ni/ScCZ中のNi(0分)のXAFSスペクトルは、明らかにNi金属とは異なるスペクトルを示した。ScCZによりNi酸化が抑制されるのは、NiとScCZとを共存させることによりNiの電子状態が変わり、酸化雰囲気でもNiOになりにくくなったため(すなわち、Niの酸化還元電位が変化したため)と考えられる。
図8に、ScCZ(Sc0.132Ce0.104Zr0.764O2)及びCZ(Ce0.118Zr0.882O2)の酸素吸蔵量を示す。図8より、以下のことが分かる。
(1)CZ(実験No.4)の700℃における酸素吸蔵量は、0.033mgであった。一方、ScCZの700℃における酸素吸蔵量は、0.047mgであった。各電極材の酸素吸蔵能力の大きさは、Ni酸化の抑制効果の大きさに対応していると考えられる。
(2)図示はしないが、YSZ(YドープZrO2)、ScZ(ScドープZrO2)、及びScC(ScドープCeO2)のいずれも、Ce3+⇔Ce4+による酸素吸蔵効果はなく、酸素吸蔵量はゼロであった。
(3)CZに含まれるCeの一部をScで置換すると、酸素吸蔵量が増加し、さらにNiの電子状態も変化する。その結果として、Niが酸化されにくくなったと推測される。
Claims (7)
- 以下の構成を備えた電極。
(1)前記電極は、
拡散層と、
前記拡散層の電解質層側表面に形成された活性層と
を備えている。
(2)前記活性層は、
Ni含有粒子(B)と、
ScドープCeO2−ZrO2固溶体からなるScCZ粒子と、
前記ScドープCeO2−ZrO2固溶体以外の固体酸化物からなる電解質粒子(B)と
を含むサーメット(B)からなる。 - 前記ScCZ粒子は、次の式(2)で表される組成を有する請求項1に記載の電極。
ScxCeyZr1-(x+y)O2 …(2)
但し、0.06≦x≦0.19、0.05≦y≦0.15。 - 前記Ni含有粒子(B)は、Ni又はNi−Fe合金からなる請求項1又は2に記載の電極。
- 前記電解質粒子(B)は、
イットリア安定化ジルコニアからなるYSZ粒子、及び/又は、
LaドープCeO2−ZrO2固溶体からなるLaCZ粒子
からなる請求項1から3までのいずれか1項に記載の電極。 - 前記YSZ粒子は、3mol%以上15mol%以下のY2O3を含む請求項4に記載の電極。
- 前記活性層は、次の式(4)〜式(7)を満たす請求項1から5までのいずれか1項に記載の電極。
30mass%≦u≦70mass% …(4)
10mass%≦v≦30mass% …(5)
30mass%≦w≦70mass% …(6)
u+v+w=100mass% …(7)
但し、
uは、前記活性層に含まれる前記ScCZ粒子の質量割合(mass%)。
vは、前記活性層に含まれる前記電解質粒子(B)の質量割合(mass%)、
wは、前記活性層に含まれる前記Ni含有粒子(B)の質量割合(mass%)。 - 固体酸化物形電解セルの水素極、又は、固体酸化物形燃料電池の燃料極に用いられる請求項1から6までのいずれか1項に記載の電極。
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