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JP2021082496A - Mass spectroscope - Google Patents

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JP2021082496A JP2019209483A JP2019209483A JP2021082496A JP 2021082496 A JP2021082496 A JP 2021082496A JP 2019209483 A JP2019209483 A JP 2019209483A JP 2019209483 A JP2019209483 A JP 2019209483A JP 2021082496 A JP2021082496 A JP 2021082496A
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Abstract

To provide a mass spectroscope in which maintenance of ion optical elements such as a quadrupole mass filter can be easily performed while maintaining high mounting accuracy and the like.SOLUTION: A mass spectroscope includes: a vacuum chamber 10 in which a vacuum chamber is formed, one of left and right sides of the vacuum chamber which face each other through an ion optical axis in the vacuum chamber being openable and closable; an ion optical element 21 that performs a predetermined operation on ions derived from a sample; a pedestal portion 33 that is placed on a bottom surface of the vacuum chamber and on which the ion optical element is placed; a thin plate-shaped fixing band 213 that fixes the ion optical element so as to be pressed against the pedestal portion by putting a part of the ion optical element between the pedestal portion and itself; a band locking portion 10d that is provided inside a side wall surface of the vacuum chamber on an opposite side to the openable and closable side surface of the vacuum chamber and locks one end of the fixing band; and a band fixing portion 214 that is provided on the openable and closable side surface side of the vacuum chamber at the pedestal portion and fixes the other end of the fixing band to the pedestal portion.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は質量分析装置に関する。本発明は、真空度の高い分析室内に四重極マスフィルタやコリジョンセルが配置された質量分析装置に好適である。 The present invention relates to a mass spectrometer. The present invention is suitable for a mass spectrometer in which a quadrupole mass filter and a collision cell are arranged in an analysis chamber having a high degree of vacuum.

一般的な四重極型質量分析装置では、イオン源において試料中に含まれる化合物からイオンを生成し、その生成された各種イオンを四重極マスフィルタで質量電荷比m/zに応じて分離し、その分離されたイオンをイオン検出器で検出する。また、コリジョンセルを挟んでその前後に四重極マスフィルタが配置されたトリプル四重極型質量分析装置では、イオン源で生成された各種イオンを前段の四重極マスフィルタで質量電荷比に応じて分離して、特定の質量電荷比を有するイオン(プリカーサイオン)のみを選択的にコリジョンセルに導入する。そして、コリジョンセルにおいてプリカーサイオンを衝突誘起解離(CID)等の手法により解離させ、それにより生じた各種のプロダクトイオンを後段の四重極マスフィルタで質量電荷比に応じて分離し、その分離されたプロダクトイオンをイオン検出器で検出する。 In a general quadrupole mass analyzer, ions are generated from the compounds contained in the sample at the ion source, and the various ions generated are separated by a quadrupole mass filter according to the mass-to-charge ratio m / z. Then, the separated ions are detected by an ion detector. In addition, in a triple quadrupole mass analyzer in which quadrupole mass filters are arranged in front of and behind a collision cell, various ions generated by an ion source are converted to a mass-to-charge ratio by the quadrupole mass filter in the previous stage. Correspondingly, only ions having a specific mass-to-charge ratio (precursor ions) are selectively introduced into the collision cell. Then, in the collision cell, precursor ions are dissociated by a method such as collision-induced dissociation (CID), and various product ions generated by the dissociation are separated according to the mass-to-charge ratio by a quadrupole mass filter in the subsequent stage, and the ions are separated. The product ion is detected by an ion detector.

こうした質量分析装置では分析時に、試料由来の中性粒子やイオンが四重極マスフィルタを構成するロッド電極やコリジョンセル内に配置されているロッド電極などのイオン光学素子に付着する。そのため、装置の使用時間が長くなるとそれらイオン光学素子の汚染が進行し、それらにより生成される電場に乱れが生じる。その結果、検出感度や質量精度が低下する等の性能の低下が生じる。したがって、イオン光学素子等の汚染に起因して装置の性能が不安定になった場合には、装置から四重極マスフィルタユニットやコリジョンセルを取り出し、それらを洗浄する等のメンテナンス作業が必要である。従来の一般的な質量分析装置では、こうしたメンテナンス作業が容易に行えるように、真空チャンバの上部に開閉可能な蓋が設けられ、この蓋を開けた状態で四重極マスフィルタやコリジョンセルを上方向に取り外し又は上方向から装着できるような構造が採られている(特許文献1参照)。 In such a mass spectrometer, neutral particles and ions derived from a sample adhere to ion optical elements such as a rod electrode constituting a quadrupole mass filter and a rod electrode arranged in a collision cell during analysis. Therefore, when the device is used for a long time, the ion optical elements are contaminated, and the electric field generated by them is disturbed. As a result, performance deterioration such as deterioration of detection sensitivity and mass accuracy occurs. Therefore, if the performance of the device becomes unstable due to contamination of the ion optical element, etc., maintenance work such as removing the quadrupole mass filter unit and collision cell from the device and cleaning them is required. is there. In a conventional general mass spectrometer, a lid that can be opened and closed is provided at the top of the vacuum chamber so that such maintenance work can be easily performed, and the quadrupole mass filter or collision cell is raised with the lid open. It has a structure that allows it to be removed in the direction or attached from above (see Patent Document 1).

上述したような質量分析装置を液体クロマトグラフ(LC)の検出器として用いた液体クロマトグラフ質量分析(LC−MS)システムは一般に、検出器ユニットのほかに、移動相を送給するポンプなどを含む送液ユニット、送給された移動相中に試料を注入するインジェクションユニット、カラムを内装するカラムオーブンユニットなどの複数のユニットから構成される。従来の一般的な質量分析装置は、検出器ユニット以外のユニットに比べてかなりサイズが大きいため、それらユニットとは別に設置されている。そのため、LC−MSシステムは比較的大きな設置スペースを要する。 A liquid chromatograph mass spectrometry (LC-MS) system using the above-mentioned mass spectrometer as a liquid chromatograph (LC) detector generally includes a detector unit and a pump for feeding a mobile phase. It is composed of a plurality of units such as a liquid feeding unit containing the liquid, an injection unit for injecting a sample into the fed mobile phase, and a column oven unit containing a column. Since the conventional general mass spectrometer is considerably larger in size than the units other than the detector unit, it is installed separately from those units. Therefore, the LC-MS system requires a relatively large installation space.

しかしながら、LC−MSシステムの使用分野が広がるのに伴って、システムの設置スペースの縮小化が強く求められるようになってきており、近年、従来の一般的な四重極型質量分析装置に比べてかなり小形化された装置が開発されている。例えば非特許文献1に開示されたLC−MSシステムでは、質量分析装置である検出器ユニットが他のユニットと同程度のサイズに抑えられており、他のユニットを積み重ねたシステム構成が可能となっている。 However, as the fields of use of LC-MS systems have expanded, there has been a strong demand for reducing the installation space of the system, and in recent years, compared to conventional general quadrupole mass spectrometers. A considerably smaller device has been developed. For example, in the LC-MS system disclosed in Non-Patent Document 1, the detector unit, which is a mass spectrometer, is suppressed to the same size as other units, and a system configuration in which other units are stacked becomes possible. ing.

国際公開第2019/155543号International Publication No. 2019/155543

「ACQUITY QDa検出器−質量分析(MS)検出器」、[online]、日本ウォーターズ株式会社、[2019年10月29日検索]、インターネット<URL: http://www.waters.com/waters/ja_JP/ACQUITY-QDa-Mass-Detector-for-Chromatographic-Analysis/nav.htm?locale=ja_JP&cid=134761404>"ACQUITY QDa Detector-Mass Spectrometry (MS) Detector", [online], Japan Waters Corp., [Search October 29, 2019], Internet <URL: http://www.waters.com/waters/ ja_JP / ACQUITY-QDa-Mass-Detector-for-Chromatographic-Analysis / nav.htm? Locale = ja_JP & cid = 134761404 >

しかしながら、こうした小形化を図った質量分析装置では次のような問題がある。
即ち、質量分析装置である検出器ユニットは、ステンレス等から成る真空チャンバや真空ポンプなどを備えるため、LC−MSシステムを構成する他のユニットに比べて重量が大きい。そのため、複数のユニットを積み重ねる際には最下部に設置されるのが一般的である。そうした構成のLC−MSシステムにおいて検出器ユニットの四重極マスフィルタ等のメンテナンスを行おうとすると、検出器ユニットの上部に載置されているユニットを移動させる必要があり、メンテナンス作業が非常に煩雑で時間が掛かるという問題がある。
However, such a miniaturized mass spectrometer has the following problems.
That is, since the detector unit, which is a mass spectrometer, includes a vacuum chamber made of stainless steel or the like, a vacuum pump, or the like, the weight is heavier than other units constituting the LC-MS system. Therefore, when stacking a plurality of units, it is generally installed at the bottom. In an LC-MS system with such a configuration, if maintenance of the quadrupole mass filter of the detector unit is to be performed, it is necessary to move the unit mounted on the upper part of the detector unit, and the maintenance work is very complicated. There is a problem that it takes time.

本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、質量分析装置の上部にLC−MSシステムを構成するユニット等の他の装置が積み重ねて配置されている場合であっても、四重極マスフィルタを始めとするイオン光学素子等のメンテナンスを容易に、且つ高い取付精度等を維持しながら実施することができる質量分析装置を提供することにある。 The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to stack other devices such as a unit constituting an LC-MS system on the mass spectrometer. Even in this case, it is an object of the present invention to provide a mass spectrometer capable of easily performing maintenance of an ion optical element such as a quadrupole mass filter while maintaining high mounting accuracy and the like.

上記課題を解決するために成された本発明に係る質量分析装置の一態様は、
その内部に真空室を形成し、該真空室中のイオン光軸を挟んで左右いずれか一方の側面が開閉可能である真空チャンバと、
試料由来のイオンに対する所定の操作を行うイオン光学素子と、
前記真空チャンバの底面上に配置され、その上に前記イオン光学素子が載置される台座部と、
前記台座部との間に前記イオン光学素子の少なくとも一部を挟み込んで該イオン光学素子を前記台座部に押し付けるように固定するための薄板状の固定バンドと、
前記真空チャンバの開閉可能な側面とは反対側の該真空チャンバの側壁面内側に設けられた、前記固定バンドの一端を係止するバンド係止部と、
前記台座部にあって前記真空チャンバの開閉可能な側面の側に設けられた、前記固定バンドの他端を該台座部に対して固定するバンド固定部と、
を備えるものである。
One aspect of the mass spectrometer according to the present invention made to solve the above problems is
A vacuum chamber in which a vacuum chamber is formed and one of the left and right sides can be opened and closed across the ion optical axis in the vacuum chamber.
An ion optical element that performs a predetermined operation on the ions derived from the sample,
A pedestal portion arranged on the bottom surface of the vacuum chamber and on which the ion optical element is placed,
A thin plate-shaped fixing band for sandwiching at least a part of the ion optical element between the pedestal portion and fixing the ion optical element so as to be pressed against the pedestal portion.
A band locking portion for locking one end of the fixing band provided inside the side wall surface of the vacuum chamber opposite to the openable / closable side surface of the vacuum chamber.
A band fixing portion for fixing the other end of the fixing band to the pedestal portion, which is provided on the openable side surface side of the vacuum chamber in the pedestal portion.
Is provided.

本発明に係る質量分析装置の上記態様において、イオン光学素子は、例えば電場の作用によりイオンの挙動を制御する、四重極マスフィルタ、イオンガイド、イオンレンズ、イオントラップ、デフレクタ、リフレクタなどを含む。また、イオン光学素子は、イオンを解離させる空間を提供するコリジョンセルなども含むものとする。 In the above aspect of the mass spectrometer according to the present invention, the ion optical element includes, for example, a quadrupole mass filter, an ion guide, an ion lens, an ion trap, a deflector, a reflector and the like that control the behavior of ions by the action of an electric field. .. Further, the ion optical element shall also include a collision cell or the like that provides a space for dissociating ions.

本発明に係る質量分析装置の上記態様では例えば、細長い形状の真空チャンバが前後方向に延在するように配置される。この場合、真空チャンバ内の真空室においてイオン光軸も前後方向に延伸し、このイオン光軸を挟んだ左右いずれか一方の真空チャンバの側面が開閉可能である。目的とするイオン光学素子を装置の外部に取り出す際には、作業者が真空チャンバの上記側面を開放する。すると、真空チャンバの開口部から見てイオン光学素子の手前側にバンド固定部があるから、この固定部の固定を外す。バンド固定部の固定は例えばネジなどの別の部材を用いたものでよい。 In the above aspect of the mass spectrometer according to the present invention, for example, an elongated vacuum chamber is arranged so as to extend in the front-rear direction. In this case, the ion optical axis is also extended in the front-rear direction in the vacuum chamber in the vacuum chamber, and the side surface of either the left or right vacuum chamber sandwiching the ion optical axis can be opened and closed. When the target ion optical element is taken out of the apparatus, the operator opens the side surface of the vacuum chamber. Then, since there is a band fixing portion on the front side of the ion optical element when viewed from the opening of the vacuum chamber, the fixing of this fixing portion is released. The band fixing portion may be fixed by using another member such as a screw.

一方、真空チャンバの開口部から見てイオン光学素子の向こう側では、固定バンドはバンド係止部で係止されているだけである。そのため、バンド固定部とは異なり、作業者はネジの取り外しなどの作業を行うことなく、容易に固定バンドを取り外すことができる。そして、固定バンドを取り外したあと、台座部の上からイオン光学素子を取り外し、開口部を通して装置の外側に取り出せばよい。イオン光学素子を装置の内部に取り付ける際には、上記取り外し作業と逆の手順で作業を行えばよい。 On the other hand, on the other side of the ion optical element when viewed from the opening of the vacuum chamber, the fixed band is only locked by the band locking portion. Therefore, unlike the band fixing portion, the operator can easily remove the fixing band without performing work such as removing the screw. Then, after removing the fixing band, the ion optical element may be removed from above the pedestal and taken out of the device through the opening. When the ion optical element is attached to the inside of the apparatus, the procedure may be the reverse of the above removal operation.

本発明に係る質量分析装置の一態様によれば、装置の側方からイオン光学素子の脱着を行うことができる。それにより、当該装置の上部に別の装置が載置されている状態のままで、つまりはその別の装置を移動させることなく、イオン光学素子のメンテナンス作業を行うことができ、高い作業性を実現することができる。また、イオン光学素子の手前側にあるネジの締め付け又は取り外し等の作業を行うことで簡単にイオン光学素子を脱着できるので、イオン光学素子の脱着の作業を効率良く行うことができるのみならず、イオン光学素子に工具等が接触して該素子を損傷する等の事故を防止することができる。さらにまた、簡単な作業でイオン光学素子を適切な位置に精度良く取り付けることができる。 According to one aspect of the mass spectrometer according to the present invention, the ion optical element can be attached and detached from the side of the apparatus. As a result, the maintenance work of the ion optical element can be performed while the other device is mounted on the upper part of the device, that is, without moving the other device, and high workability is achieved. It can be realized. Further, since the ion optical element can be easily attached and detached by tightening or removing the screw on the front side of the ion optical element, not only the work of attaching and detaching the ion optical element can be efficiently performed, but also the work of attaching and detaching the ion optical element can be performed efficiently. It is possible to prevent accidents such as damage to the ion optical element due to contact with a tool or the like. Furthermore, the ion optical element can be accurately mounted at an appropriate position with a simple operation.

本発明の第1実施形態の質量分析装置を用いたLC−MSシステムの外観斜視図。The external perspective view of the LC-MS system using the mass spectrometer of the 1st Embodiment of this invention. 第1実施形態の質量分析装置の要部の構成図。The block diagram of the main part of the mass spectrometer of 1st Embodiment. 第1実施形態の質量分析装置を正面から見た状態の概略垂直断面図。A schematic vertical sectional view of the mass spectrometer of the first embodiment as viewed from the front. 第1実施形態の質量分析装置の右側面カバーを取り外した状態の概略平面図。The schematic plan view of the mass spectrometer of 1st Embodiment in the state which removed the right side cover. 第1実施形態の質量分析装置の右側面カバー及び真空チャンバ側面蓋を取り外した状態の概略平面図。The schematic plan view of the mass spectrometer of 1st Embodiment in the state which removed the right side cover and the vacuum chamber side cover. 本発明の第2実施形態の質量分析装置を正面から見た状態の概略垂直断面図。Schematic vertical cross-sectional view of the mass spectrometer of the second embodiment of the present invention as viewed from the front. 第2実施形態の質量分析装置の右側面カバーを取り外した状態の概略平面図。The schematic plan view of the mass spectrometer of the 2nd Embodiment in the state which removed the right side cover. 第2実施形態の質量分析装置の右側面カバー及び真空チャンバ側面蓋を取り外した状態の概略平面図。The schematic plan view of the mass spectrometer of the 2nd Embodiment in the state which removed the right side cover and the vacuum chamber side cover. 第1実施形態の質量分析装置におけるイオンゲージ取付構造を示す概略水平断面図。The schematic horizontal sectional view which shows the ion gauge mounting structure in the mass spectrometer of 1st Embodiment. 第1実施形態の質量分析装置におけるイオンゲージ取付構造に用いられる部品の斜視図。The perspective view of the part used for the ion gauge mounting structure in the mass spectrometer of 1st Embodiment.

[第1実施形態]
本発明の第1実施形態である質量分析装置について、添付図面を参照して説明する。
この質量分析装置は、エレクトロスプレーイオン化(ESI)法などの大気圧イオン源を搭載したシングルタイプの四重極型質量分析装置である。
[First Embodiment]
The mass spectrometer according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
This mass spectrometer is a single-type quadrupole mass spectrometer equipped with an atmospheric pressure ion source such as an electrospray ionization (ESI) method.

図1は、第1実施形態の質量分析装置を検出器として用いたLC−MSシステムの外観斜視図である。このLC−MSシステムは、検出器ユニットである質量分析装置1と、カラムオーブンユニット2と、二つの送液ユニット3、4と、インジェクションユニット5と、を含む。送液ユニット3、4は移動相が収容された移動相容器、送液ポンプ、ミキサなどを含む。インジェクションユニット5は、オートサンプラ、インジェクタなどを含む。カラムオーブンユニット2は、その内部にカラムを備える。各ユニットはその外形がいずれも略矩形状であり、図1に示すようにユニットを積み重ねた状態で使用することができる。なお、説明の便宜上、図中に示すように、互いに直交するX軸、Y軸、Z軸を定めている。つまり、Z軸方向は高さ方向であり、Y軸方向は奥行方向である。 FIG. 1 is an external perspective view of an LC-MS system using the mass spectrometer of the first embodiment as a detector. This LC-MS system includes a mass spectrometer 1 which is a detector unit, a column oven unit 2, two liquid feeding units 3 and 4, and an injection unit 5. The liquid feeding units 3 and 4 include a mobile phase container containing a mobile phase, a liquid feeding pump, a mixer and the like. The injection unit 5 includes an autosampler, an injector, and the like. The column oven unit 2 includes a column inside. The outer shape of each unit is substantially rectangular, and as shown in FIG. 1, the units can be used in a stacked state. For convenience of explanation, as shown in the figure, the X-axis, the Y-axis, and the Z-axis that are orthogonal to each other are defined. That is, the Z-axis direction is the height direction, and the Y-axis direction is the depth direction.

図2は質量分析装置1の要部の構成図である。真空チャンバ10の内部は、第1中間真空室11、第2中間真空室12、及び高真空室13の三室に区画されている。また、真空チャンバ10の前方には、内部にイオン化室14を画成するイオン化ユニットが取り付けられている。第1中間真空室11、第2中間真空室12、及び高真空室13はそれぞれ真空ポンプ(図示せず)により真空排気され、イオン化室14は外部に連通している。 FIG. 2 is a block diagram of a main part of the mass spectrometer 1. The inside of the vacuum chamber 10 is divided into three chambers, a first intermediate vacuum chamber 11, a second intermediate vacuum chamber 12, and a high vacuum chamber 13. Further, in front of the vacuum chamber 10, an ionization unit defining an ionization chamber 14 is attached inside. The first intermediate vacuum chamber 11, the second intermediate vacuum chamber 12, and the high vacuum chamber 13 are each evacuated by a vacuum pump (not shown), and the ionization chamber 14 communicates with the outside.

イオン化室14にはイオン化プローブ15が設けられ、イオン化室14と第1中間真空室11との間は細径の脱溶媒管16を通して連通している。第1中間真空室11の内部には第1イオンガイド17が配置され、第1中間真空室11と第2中間真空室12とはスキマー18の頂部に形成された小孔を通して連通している。第2中間真空室12の内部には第2イオンガイド19が配置され、第2中間真空室12と高真空室13とはレンズ電極20の中心に形成された小孔を通して連通している。高真空室13の内部には、プリロッド電極とメインロッド電極とを含む四重極マスフィルタ21と、イオン検出器22とが配置されている。 An ionization probe 15 is provided in the ionization chamber 14, and the ionization chamber 14 and the first intermediate vacuum chamber 11 communicate with each other through a small-diameter desolvation tube 16. A first ion guide 17 is arranged inside the first intermediate vacuum chamber 11, and the first intermediate vacuum chamber 11 and the second intermediate vacuum chamber 12 communicate with each other through a small hole formed at the top of the skimmer 18. A second ion guide 19 is arranged inside the second intermediate vacuum chamber 12, and the second intermediate vacuum chamber 12 and the high vacuum chamber 13 communicate with each other through a small hole formed in the center of the lens electrode 20. Inside the high vacuum chamber 13, a quadrupole mass filter 21 including a pre-rod electrode and a main rod electrode, and an ion detector 22 are arranged.

図2に示すように、脱溶媒管16、第1イオンガイド17、スキマー18、第2イオンガイド19、レンズ電極20、四重極マスフィルタ21、及びイオン検出器22は、概ね直線状のイオン光軸Cに沿って配置されている。 As shown in FIG. 2, the desolvation tube 16, the first ion guide 17, the skimmer 18, the second ion guide 19, the lens electrode 20, the quadrupole mass filter 21, and the ion detector 22 are substantially linear ions. It is arranged along the optical axis C.

上記LC−MSシステムにおける分析動作を簡単に説明する。
送液ユニット3、4は単一の又は二液が混合された移動相を所定の流速(流量)で以てカラムに送給する。インジェクションユニット5は、予め用意された複数のサンプルから一つを選択して吸引し、所定のタイミングで、カラムに送給される移動相中に注入する。カラムオーブンユニット2においてカラムは、例えば略一定の温度に維持される。移動相の流れに押されてカラムにサンプルが導入されると、該サンプルに含まれる各種の成分(化合物)はカラムを通過する間に時間的に分離される。そして、分離された成分を含む溶出液がカラムの出口から溶出し、質量分析装置1のイオン化プローブ15に導入される。
The analysis operation in the LC-MS system will be briefly described.
The liquid feeding units 3 and 4 feed the mobile phase, which is a single liquid or a mixture of two liquids, to the column at a predetermined flow rate (flow rate). The injection unit 5 selects one from a plurality of samples prepared in advance, sucks it, and injects it into the mobile phase fed to the column at a predetermined timing. In the column oven unit 2, the column is maintained at, for example, a substantially constant temperature. When a sample is introduced into the column by being pushed by the flow of the mobile phase, various components (compounds) contained in the sample are separated in time while passing through the column. Then, the eluate containing the separated components is eluted from the outlet of the column and introduced into the ionization probe 15 of the mass spectrometer 1.

イオン化プローブ15は溶出液を略大気圧雰囲気であるイオン化室14内に噴霧し、該溶出液に含まれる試料成分をイオン化する。イオン化の手法は例えばエレクトロスプレーイオン化法や大気圧化学イオン化法などを用いることができる。生成されたイオンは脱溶媒管16を通して第1中間真空室11内へと送られ、さらに、第1イオンガイド17、スキマー18、第2イオンガイド19、レンズ電極20を経て高真空室13まで送られる。この試料成分由来のイオンは四重極マスフィルタ21に導入され、四重極マスフィルタ21を構成するロッド電極に印加されている電圧に対応する特定の質量電荷比を有するイオンのみが四重極マスフィルタ21を通り抜け、それ以外のイオンは途中で発散する。イオン検出器22は四重極マスフィルタ21を通り抜けて来たイオンを検出し、そのイオンの量に応じた検出信号を出力する。 The ionization probe 15 sprays the eluate into the ionization chamber 14 having a substantially atmospheric pressure atmosphere, and ionizes the sample components contained in the eluate. As the ionization method, for example, an electrospray ionization method or an atmospheric pressure chemical ionization method can be used. The generated ions are sent into the first intermediate vacuum chamber 11 through the desolvation tube 16, and further sent to the high vacuum chamber 13 via the first ion guide 17, the skimmer 18, the second ion guide 19, and the lens electrode 20. Be done. Ions derived from this sample component are introduced into the quadrupole mass filter 21, and only ions having a specific mass-to-charge ratio corresponding to the voltage applied to the rod electrodes constituting the quadrupole mass filter 21 are quadrupole. It passes through the mass filter 21 and the other ions are emitted on the way. The ion detector 22 detects ions that have passed through the quadrupole mass filter 21 and outputs a detection signal according to the amount of the ions.

このようにして、このLC−MSシステムでは、サンプルに含まれる複数の成分を時間方向に分離したうえで、質量分析装置1によりその各成分の量(濃度)に応じた検出信号を得ることができる。上述したように、質量分析装置1の真空チャンバ10の内部では、試料成分由来のイオンは、装置の前方側から後方側へと向かって、つまりは概ねY軸方向に進行する。 In this way, in this LC-MS system, after separating a plurality of components contained in the sample in the time direction, the mass spectrometer 1 can obtain a detection signal according to the amount (concentration) of each component. it can. As described above, inside the vacuum chamber 10 of the mass spectrometer 1, the ions derived from the sample components travel from the front side to the rear side of the device, that is, substantially in the Y-axis direction.

すでに述べたように、分析の実行時に四重極マスフィルタ21やイオンガイド17、19等のイオン光学素子には試料成分由来のイオンやイオン化していない分子等の中性粒子、或いは溶媒分子などが付着して汚れる。そのため、こうしたイオン光学素子を真空チャンバ10内から取り出し洗浄する必要がある。但し、質量分析装置1の上部にはカラムオーブンユニット2(又はそのほかの液体クロマトグラフ用のユニット)が載置されており、メンテナンス作業のためにこれを移動するのは面倒である。そこで、本実施形態の質量分析装置1は、以下に説明するような特徴的な構造を有している。 As already described, when the analysis is performed, the quadrupole mass filter 21, the ion guides 17, 19 and other ion optical elements include ions derived from sample components, neutral particles such as non-ionized molecules, or solvent molecules. Adheres and becomes dirty. Therefore, it is necessary to take out such an ion optical element from the inside of the vacuum chamber 10 and clean it. However, a column oven unit 2 (or other unit for a liquid chromatograph) is placed on the upper part of the mass spectrometer 1, and it is troublesome to move this for maintenance work. Therefore, the mass spectrometer 1 of the present embodiment has a characteristic structure as described below.

図3は、本実施形態の質量分析装置を正面から見た状態の概略垂直断面図である。図4は、本実施形態の質量分析装置の右側面カバーを取り外した状態の概略平面図である。図5は、本実施形態の質量分析装置の右側面カバー及び真空チャンバ側面蓋を取り外した状態の概略平面図である。 FIG. 3 is a schematic vertical sectional view of the mass spectrometer of the present embodiment as viewed from the front. FIG. 4 is a schematic plan view of the mass spectrometer of the present embodiment with the right side cover removed. FIG. 5 is a schematic plan view of the mass spectrometer of the present embodiment with the right side cover and the vacuum chamber side cover removed.

図3、図4に示すように、本実施形態の質量分析装置1において、真空チャンバ10は、略矩形状である外装カバー30の右側面カバー30aの直ぐ内側にY軸方向に沿って延伸するように配置されている。右側面カバー30aは例えばネジ等により外装カバー30のそのほかの部分に取り付けられており、ネジ等を外すことで右側面カバー30aは容易に取り外すことが可能である。 As shown in FIGS. 3 and 4, in the mass spectrometer 1 of the present embodiment, the vacuum chamber 10 extends along the Y-axis direction immediately inside the right side cover 30a of the substantially rectangular exterior cover 30. It is arranged like this. The right side cover 30a is attached to other parts of the exterior cover 30 with screws or the like, and the right side cover 30a can be easily removed by removing the screws or the like.

真空チャンバ10の下部には、真空ポンプユニット32が配置され、真空チャンバ10の上部及び左側方には各種の電気系部品を含む回路ユニット31が配置されている。真空チャンバ10内に形成されている高真空室13の部分、つまりは真空チャンバ10の後方側の部分は右側方に開口部が形成され、その開口部を覆うように側面蓋10aが着脱可能に設けられている。この側面蓋10aの装着もネジ等によるものとすることができる。この側面蓋10aを取り付けたときに高真空室13内は略気密になり、真空ポンプでの真空排気が可能となる。 A vacuum pump unit 32 is arranged in the lower part of the vacuum chamber 10, and a circuit unit 31 including various electrical components is arranged in the upper part and the left side of the vacuum chamber 10. An opening is formed on the right side of the portion of the high vacuum chamber 13 formed in the vacuum chamber 10, that is, the portion on the rear side of the vacuum chamber 10, and the side lid 10a can be attached and detached so as to cover the opening. It is provided. The side lid 10a can also be attached by screws or the like. When the side lid 10a is attached, the inside of the high vacuum chamber 13 becomes substantially airtight, and vacuum exhaust by a vacuum pump becomes possible.

図3に示すように右側面カバー30aを外装カバー30から取り外すと、図4に示すように、右側面のほぼ全体が開放されるため、真空チャンバ10の右側面が露出する。真空チャンバ10内の真空が解除された状態で側面蓋10aを真空チャンバ10から取り外すと、図5に示すように、高真空室13内に配置されている四重極マスフィルタ21及びイオン検出器22が露出する。したがって、メンテナンスを実施する作業者は、右側面カバー30a及び側面蓋10aをそれぞれ取り外すことで、高真空室13内に配置されている部材に容易にアクセスすることができる。 When the right side cover 30a is removed from the exterior cover 30 as shown in FIG. 3, almost the entire right side is opened as shown in FIG. 4, so that the right side of the vacuum chamber 10 is exposed. When the side lid 10a is removed from the vacuum chamber 10 with the vacuum in the vacuum chamber 10 released, the quadrupole mass filter 21 and the ion detector arranged in the high vacuum chamber 13 are arranged as shown in FIG. 22 is exposed. Therefore, the operator performing the maintenance can easily access the members arranged in the high vacuum chamber 13 by removing the right side cover 30a and the side lid 10a, respectively.

四重極マスフィルタ21を構成する、外形が略円柱状である4本のメインロッド電極211はそれぞれ、略円環状で所定の厚さを有するロッドホルダ212の内側の溝に嵌め込まれた状態で、図示しないネジにより該ロッドホルダ212に固定されている。ロッドホルダ212はメインロッド電極211の前端側と後端側とにそれぞれ1個ずつ設けられ、これにより、4本のメインロッド電極211の相対的な位置関係は定まっている。また、図5では記載を省略しているが、4本のプリロッド電極は4本のメインロッド電極211のそれぞれの前方に絶縁体を挟んで取り付けられている。ロッド電極211は、例えばステンレスやモリブデンなどの導電体から成り、ロッドホルダ212は、セラミックや合成樹脂などの絶縁体から成る。 The four main rod electrodes 211 constituting the quadrupole mass filter 21 having a substantially cylindrical outer shape are each fitted in a groove inside a rod holder 212 having a substantially annular shape and a predetermined thickness. , It is fixed to the rod holder 212 by a screw (not shown). One rod holder 212 is provided on each of the front end side and the rear end side of the main rod electrode 211, whereby the relative positional relationship between the four main rod electrodes 211 is determined. Further, although the description is omitted in FIG. 5, the four pre-rod electrodes are attached in front of each of the four main rod electrodes 211 with an insulator interposed therebetween. The rod electrode 211 is made of a conductor such as stainless steel or molybdenum, and the rod holder 212 is made of an insulator such as ceramic or synthetic resin.

2個のロッドホルダ212はそれぞれ、真空チャンバ10の底面上に取り付けられた台座部33の略半円状の凹部33aに載置される。即ち、ロッドホルダ212の下部は台座部33の凹部33aに収容される。ロッドホルダ212の上部は、バネ性を有する固定バンド213によって下方に、つまり台座部33の凹部33aに押し付けられるように固定される。固定バンド213の一端は、真空チャンバ10の左側壁10cの内側に形成されている凹部である係止部10dにより係止され、固定バンド213の他端は、台座部33に対しネジ214で固定される。これによって、4本のメインロッド電極211は所定の位置に確実に設置されるようになっている。 Each of the two rod holders 212 is placed in a substantially semicircular recess 33a of the pedestal portion 33 mounted on the bottom surface of the vacuum chamber 10. That is, the lower portion of the rod holder 212 is housed in the recess 33a of the pedestal portion 33. The upper portion of the rod holder 212 is fixed by a spring-loaded fixing band 213 so as to be pressed downward, that is, against the recess 33a of the pedestal portion 33. One end of the fixing band 213 is locked by a locking portion 10d which is a recess formed inside the left side wall 10c of the vacuum chamber 10, and the other end of the fixing band 213 is fixed to the pedestal portion 33 with a screw 214. Will be done. As a result, the four main rod electrodes 211 are surely installed at predetermined positions.

台座部33は真空チャンバ10と同じ材料、例えばアルミニウムやステンレスなどから成る。また、固定バンド213は例えば、ステンレス又は防錆表面処理がなされたリン青銅などから成るものとすることができる。また、図3中に示すように、台座部33の上面と真空チャンバ10の天面との間の距離Lは、ロッドホルダ212の外径Dよりも大きく定められている。 The pedestal 33 is made of the same material as the vacuum chamber 10, such as aluminum or stainless steel. Further, the fixing band 213 may be made of, for example, stainless steel or phosphor bronze having a rust-preventive surface treatment. Further, as shown in FIG. 3, the distance L between the upper surface of the pedestal portion 33 and the top surface of the vacuum chamber 10 is set to be larger than the outer diameter D of the rod holder 212.

上述したように、真空チャンバ10の右側面側から見たときにメインロッド電極211よりも向こう側に位置する固定バンド213の端部は、係止部10dに差し込まれて係止されているだけある。一方、ネジ214により固定される固定バンド213の端部は、真空チャンバ10の右側面側から見たときにメインロッド電極211の手前側に位置している。したがって、上述したように作業者が側面蓋10aを取り外したあと、手前にあるネジ214を取り外しさえすれば、固定バンド213を容易に係止部10dから抜き取ることができる。そして、上述したようにL>Dの関係であるため、固定バンド213を取り外したあと、メインロッド電極211を保持した状態のロッドホルダ212を台座部33から持ち上げ、そのまま手前側に移動させて真空チャンバ10の外側に取り出すことができる。即ち、四重極マスフィルタ21を容易に、且つメインロッド電極211と台座部33との接触を避けながら、装置の外側に取り出すことができる。 As described above, the end of the fixing band 213 located on the side beyond the main rod electrode 211 when viewed from the right side of the vacuum chamber 10 is simply inserted into the locking portion 10d and locked. is there. On the other hand, the end of the fixing band 213 fixed by the screw 214 is located on the front side of the main rod electrode 211 when viewed from the right side of the vacuum chamber 10. Therefore, the fixing band 213 can be easily pulled out from the locking portion 10d as long as the operator removes the side lid 10a and then removes the screw 214 in front of the side lid 10a as described above. Since the relationship is L> D as described above, after removing the fixing band 213, the rod holder 212 holding the main rod electrode 211 is lifted from the pedestal portion 33 and moved to the front side as it is to create a vacuum. It can be taken out of the chamber 10. That is, the quadrupole mass filter 21 can be easily taken out of the device while avoiding contact between the main rod electrode 211 and the pedestal portion 33.

また、一旦取り外した四重極マスフィルタ21を真空チャンバ10内に設置する場合には、上記と逆の手順によって容易に且つ適切な位置に、四重極マスフィルタ21を取り付けることができる。 Further, when the quadrupole mass filter 21 once removed is installed in the vacuum chamber 10, the quadrupole mass filter 21 can be easily and appropriately attached at an appropriate position by the reverse procedure of the above.

なお、上述したように固定バンド213はロッドホルダ212を台座部33に押し付けるように固定するものであるので、適度なバネ性が必要である。ステンレスは縦弾性係数が比較的大きいためバネ性の点では有利である。一方、リン青銅はステンレスに比べると縦弾性係数は小さいものの、厚さを調整することでステンレス製の固定バンドと同程度のバネ性を持たせることができる。また、リン青銅はステンレスに比べて熱伝導率が高い。特許文献1等にも記載されているように、分析時にメインロッド電極211に高周波電圧が印加されるとロッドホルダ212の材料の誘電損失によってロッドホルダ212自体が発熱する。これに対し、固定バンド213としてリン青銅を用い、その熱伝導性を良好にしておくことで、ロッドホルダ212の熱を固定バンド213を通して台座部33にまで伝導させ、台座部33から真空チャンバ10などに逃がすことが容易になる。それにより、ロッドホルダ212からの放熱を促進させることができ、ロッドホルダ212の熱膨張によるメインロッド電極211の位置ずれを防止することができる。 As described above, since the fixing band 213 fixes the rod holder 212 so as to press it against the pedestal portion 33, an appropriate spring property is required. Since stainless steel has a relatively large Young's modulus, it is advantageous in terms of springiness. On the other hand, phosphor bronze has a smaller Young's modulus than stainless steel, but by adjusting the thickness, it can have the same springiness as a stainless steel fixing band. In addition, phosphor bronze has a higher thermal conductivity than stainless steel. As described in Patent Document 1 and the like, when a high frequency voltage is applied to the main rod electrode 211 during analysis, the rod holder 212 itself generates heat due to the dielectric loss of the material of the rod holder 212. On the other hand, by using phosphor bronze as the fixing band 213 and keeping its thermal conductivity good, the heat of the rod holder 212 is conducted to the pedestal portion 33 through the fixing band 213, and the pedestal portion 33 to the vacuum chamber 10 It becomes easy to escape to such as. As a result, heat dissipation from the rod holder 212 can be promoted, and misalignment of the main rod electrode 211 due to thermal expansion of the rod holder 212 can be prevented.

なお、図3、図5では、4本のメインロッド電極211に電圧を印加するための配線などの構造についての記載を省略しているが、例えば特許文献1に開示されているような、メインロッド電極に弾性を有して接触するショートバネを介して各メインロッド電極に所定の電圧を印加する構造を採ることができる。もちろん、電圧を印加するための構造はこれに限らない。 Although the description of the structure such as the wiring for applying the voltage to the four main rod electrodes 211 is omitted in FIGS. 3 and 5, for example, the main rod as disclosed in Patent Document 1. A structure can be adopted in which a predetermined voltage is applied to each main rod electrode via a short spring that elastically contacts the rod electrode. Of course, the structure for applying the voltage is not limited to this.

上述したように本実施形態の質量分析装置によれば、作業者が、装置の右側方から真空チャンバ10の内部に容易にアクセスし、真空チャンバ10の内部に設置されている四重極マスフィルタ21を簡単に取り出したり、逆に四重極マスフィルタ21を真空チャンバ10の内部に簡単に装着したりすることができる。それにより、メンテナンス作業の際に、質量分析装置1の上に載置されている別のユニットを移動させる必要がない。また、四重極マスフィルタ21の着脱の作業自体も簡単で時間をとらないので、作業を効率良く行うことができる。 As described above, according to the mass spectrometer of the present embodiment, the operator can easily access the inside of the vacuum chamber 10 from the right side of the device, and the quadrupole mass filter installed inside the vacuum chamber 10 The 21 can be easily taken out, or conversely, the quadrupole mass filter 21 can be easily mounted inside the vacuum chamber 10. As a result, it is not necessary to move another unit mounted on the mass spectrometer 1 during the maintenance work. Further, since the work itself of attaching and detaching the quadrupole mass filter 21 is simple and does not take time, the work can be performed efficiently.

もちろん、四重極マスフィルタ21のみならず、イオンガイド17、19などの他のイオン光学素子についても同様の構成とすることができる。但し、イオン流の上流側に位置しているイオンガイド17、19などのイオン光学素子は構造上、装置の前方側に引き出すような構成とすることも可能である。これに対し、イオン流の下流側に位置している四重極マスフィルタ21や後述するコリジョンセルなどは、装置の前方側に引き出すような構成とすることはかなり困難である。こうしたことから、装置の側方から脱着が可能であるという構成は、特に装置の後部側に位置しているイオン光学素子に有利である。 Of course, not only the quadrupole mass filter 21 but also other ion optical elements such as the ion guides 17 and 19 can have the same configuration. However, the ion optical elements such as the ion guides 17 and 19 located on the upstream side of the ion flow can be structurally configured to be pulled out to the front side of the device. On the other hand, it is quite difficult to configure the quadrupole mass filter 21 located on the downstream side of the ion flow, the collision cell described later, and the like to be pulled out to the front side of the device. For these reasons, the configuration in which the device can be attached and detached from the side is particularly advantageous for the ion optical element located on the rear side of the device.

また、上記の第1実施形態は本発明をシングルタイプの四重極型質量分析装置に適用した例であるが、本発明は他のタイプの質量分析装置、具体的には、トリプル四重極型質量分析装置などにも適用することができる。トリプル四重極型質量分析装置は、コリジョンセルを挟んでその前後にそれぞれ四重極マスフィルタを備える。この前後の四重極マスフィルタについて上述した構成とすることができるのは当然であるが、コリジョンセルについても同様の構成を採用することができる。 Further, the first embodiment described above is an example in which the present invention is applied to a single type quadrupole mass spectrometer, but the present invention is an example of another type of mass spectrometer, specifically, a triple quadrupole mass spectrometer. It can also be applied to a type mass spectrometer and the like. The triple quadrupole mass spectrometer has a quadrupole mass filter in front of and behind the collision cell. It goes without saying that the quadrupole mass filters before and after this can be configured as described above, but the same configuration can be adopted for the collision cell.

[第2実施形態]
次に、本発明に係る発明の第2実施形態であるトリプル四重極型質量分析装置について図6〜図8を参照して説明する。図6は、第2実施形態の質量分析装置を正面から見た状態の概略垂直断面図である。図7は、第2実施形態の質量分析装置の右側面カバーを取り外した状態の概略平面図である。図8は、第2実施形態の質量分析装置の右側面カバー及び真空チャンバ側面蓋を取り外した状態の概略平面図である。即ち、図6〜図8は、第1実施形態における図3〜図5に相当する図面である。この第2実施形態において上述した第1実施形態の質量分析装置と同様の又は相当する構成要素には、同じ符号を付している。
[Second Embodiment]
Next, the triple quadrupole mass spectrometer according to the second embodiment of the invention according to the present invention will be described with reference to FIGS. 6 to 8. FIG. 6 is a schematic vertical sectional view of the mass spectrometer of the second embodiment as viewed from the front. FIG. 7 is a schematic plan view of the mass spectrometer of the second embodiment with the right side cover removed. FIG. 8 is a schematic plan view of the mass spectrometer of the second embodiment with the right side cover and the vacuum chamber side cover removed. That is, FIGS. 6 to 8 are drawings corresponding to FIGS. 3 to 5 in the first embodiment. In this second embodiment, the same or corresponding components as those of the mass spectrometer of the first embodiment described above are designated by the same reference numerals.

図8に示すように、高真空室13内には、コリジョンセル41を挟んで前段四重極マスフィルタ40と後段四重極マスフィルタ42とが配置されている。コリジョンセル41は、略円筒形状で両端面にイオン通過開口が形成されたセル本体部410を有し、セル本体部410の内部に、イオンガイドを構成する4本のロッド電極411が配置されている。イオンガイドを構成するロッド電極の数はこれに限らない。セル本体部410の内部には所定の不活性ガスである衝突誘起解離ガスが導入され、前段四重極マスフィルタ40を通り抜けたイオンはセル本体部410の内部で衝突誘起解離ガスに接触し解離する。解離によって生成されたプロダクトイオンは、ロッド電極411に印加される高周波電圧によって生成される電場により収束され、後段四重極マスフィルタ42に向けて送り出される。 As shown in FIG. 8, a front quadrupole mass filter 40 and a rear quadrupole mass filter 42 are arranged in the high vacuum chamber 13 with the collision cell 41 interposed therebetween. The collision cell 41 has a cell body 410 having a substantially cylindrical shape and ion passage openings formed on both end surfaces thereof, and four rod electrodes 411 constituting an ion guide are arranged inside the cell body 410. There is. The number of rod electrodes constituting the ion guide is not limited to this. A collision-induced dissociation gas, which is a predetermined inert gas, is introduced into the cell body 410, and ions that have passed through the pre-stage quadrupole mass filter 40 come into contact with the collision-induced dissociation gas inside the cell body 410 and dissociate. To do. The product ions generated by the dissociation are converged by the electric field generated by the high frequency voltage applied to the rod electrode 411 and sent out to the subsequent quadrupole mass filter 42.

第2実施形態の質量分析装置では、前段四重極マスフィルタ40及び後段四重極マスフィルタ42と同様に、コリジョンセル41のセル本体部410も台座部33と固定バンド213とによって着脱容易に固定されている。したがって、コリジョンセル41の洗浄を行う際に、作業者は、右側面カバー30a及び側面蓋10aをそれぞれ取り外し、高真空室13内にアクセスが可能な状態としたあとに、固定バンド213を固定しているネジ214を取り外すことでコリジョンセル41を容易に真空チャンバ10の外側に取り出すことができる。 In the mass spectrometer of the second embodiment, similarly to the front quadrupole mass filter 40 and the rear quadrupole mass filter 42, the cell body 410 of the collision cell 41 can be easily attached and detached by the pedestal 33 and the fixed band 213. It is fixed. Therefore, when cleaning the collision cell 41, the operator removes the right side cover 30a and the side lid 10a, respectively, makes the inside of the high vacuum chamber 13 accessible, and then fixes the fixing band 213. The collision cell 41 can be easily taken out of the vacuum chamber 10 by removing the screw 214.

[イオンゲージの取付構造]
上記第1及び第2実施形態の質量分析装置では、高真空室13内の真空度を計測するためのイオンゲージ35が真空チャンバ10の後壁10eの背面に取り付けられている。イオンゲージ35はフィラメントを有しており、消耗品であるため、できるだけ容易に交換できるようにしておくことが好ましい。一般的には、外装カバーの背面板を取り外し可能としておき、後方側からイオンゲージを固定しているネジ等を外すことでイオンゲージの取り外しを可能としている。しかしながら、図1に示したようなLC−MSシステムは、その背面が壁に近接するように設置されていることが多く、後方側からのアクセスは困難である。そこで、第1及び第2実施形態の質量分析装置では、右側方からイオンゲージ35を容易に着脱できる構造が採用されている。
[Ion gauge mounting structure]
In the mass spectrometers of the first and second embodiments, an ion gauge 35 for measuring the degree of vacuum in the high vacuum chamber 13 is attached to the back surface of the rear wall 10e of the vacuum chamber 10. Since the ion gauge 35 has a filament and is a consumable item, it is preferable that the ion gauge 35 can be replaced as easily as possible. Generally, the back plate of the exterior cover is made removable, and the ion gauge can be removed by removing the screw or the like fixing the ion gauge from the rear side. However, the LC-MS system as shown in FIG. 1 is often installed so that its back surface is close to the wall, and it is difficult to access from the rear side. Therefore, the mass spectrometers of the first and second embodiments adopt a structure in which the ion gauge 35 can be easily attached and detached from the right side.

図9は、第1実施形態の質量分析装置におけるイオンゲージ取付構造を示す概略水平断面図、図10は、第1実施形態の質量分析装置におけるイオンゲージ取付構造に用いられる部品の斜視図である。 FIG. 9 is a schematic horizontal sectional view showing an ion gauge mounting structure in the mass spectrometer of the first embodiment, and FIG. 10 is a perspective view of parts used for the ion gauge mounting structure in the mass spectrometer of the first embodiment. ..

真空チャンバ10の後壁10eには取付穴10fが貫通して設けられ、その取付穴10fにイオンゲージ35の内部空間に連通する接続管部35aが挿入される。このイオンゲージ35を取付穴10fに取り付けるための部品は、略U字状である第1板状部材350と、第1板状部材350の取付高さを調整する円環状のスペーサ351と、第1板状部材350を引っ掛けるためのボルト352と、段差付き円筒形状であるフランジ353と、略円環状であるガスケット押さえ354と、ゴムから成る円環状の2個のガスケット355と、第1板状部材350の両端部を係止する第2板状部材356と、第2板状部材356の取付高さを調整する円環状のスペーサ357と、第2板状部材356を固定するためのネジ358と、を含む。 A mounting hole 10f is provided through the rear wall 10e of the vacuum chamber 10, and a connecting pipe portion 35a communicating with the internal space of the ion gauge 35 is inserted into the mounting hole 10f. The parts for mounting the ion gauge 35 in the mounting hole 10f are a first plate-shaped member 350 having a substantially U shape, an annular spacer 351 for adjusting the mounting height of the first plate-shaped member 350, and a first. A bolt 352 for hooking one plate-shaped member 350, a cylindrical flange 353 with a step, a gasket retainer 354 which is substantially annular, two annular gaskets 355 made of rubber, and a first plate-shaped member. A second plate-shaped member 356 that locks both ends of the member 350, an annular spacer 357 that adjusts the mounting height of the second plate-shaped member 356, and a screw 358 for fixing the second plate-shaped member 356. And, including.

図9に示すように、イオンゲージ35の接続管部35aには、その先端部側からガスケット55、ガスケット押さえ354、及びフランジ353が挿通されている。接続管部35aを取付穴10fに嵌入すると、ガスケット355は取付穴10fの内周に形成されている段差部に接して位置決めされる。ボルト352はスペーサ351が挿通された状態で真空チャンバ10の後壁10eのボルト穴に螺入された状態である。第1板状部材350は、スペーサ351を後壁10eとの間に挟み込み、U字状の両方の延伸部の間にボルト352とフランジ353を挟むように、装着される。第1板状部材350のU字状延伸部はフランジ353の外周形状に沿った湾曲状に形成されているため、この湾曲状部がフランジ353に当接する位置まで第1板状部材350を挿入する。 As shown in FIG. 9, a gasket 55, a gasket retainer 354, and a flange 353 are inserted into the connecting pipe portion 35a of the ion gauge 35 from the tip end side thereof. When the connecting pipe portion 35a is fitted into the mounting hole 10f, the gasket 355 is positioned in contact with the stepped portion formed on the inner circumference of the mounting hole 10f. The bolt 352 is screwed into the bolt hole of the rear wall 10e of the vacuum chamber 10 with the spacer 351 inserted. The first plate-shaped member 350 is mounted so as to sandwich the spacer 351 between the rear wall 10e and the bolt 352 and the flange 353 between both the U-shaped extending portions. Since the U-shaped extension portion of the first plate-shaped member 350 is formed in a curved shape along the outer peripheral shape of the flange 353, the first plate-shaped member 350 is inserted until the curved portion abuts on the flange 353. To do.

一方、第2板状部材356はスペーサ357を後壁10eとの間に挟み込んだ状態で、3本のネジ358により後壁10eに固定される。ネジ358を締めると第2板状部材356は第1板状部材350のU字状延伸部の端部を押さえ付けると、第1板状部材350は取付穴10fの内部に沈み込むようにフランジ353を押し下げる。すると、フランジ353はガスケット押さえ354を介してガスケット355を押し下げる。ガスケット255はゴム製であり且つ位置が規制されているので、力を受けて潰れ、取付穴10f内周面とイオンゲージ35の接続管部35aの外周面とに密着する。これによって、高真空室13内の気密性を確保しながらイオンゲージ35を取り付けることができる。 On the other hand, the second plate-shaped member 356 is fixed to the rear wall 10e by three screws 358 in a state where the spacer 357 is sandwiched between the spacer 357 and the rear wall 10e. When the screw 358 is tightened, the second plate-shaped member 356 presses the end of the U-shaped extension portion of the first plate-shaped member 350, and the first plate-shaped member 350 is flanged so as to sink into the mounting hole 10f. Push down 353. Then, the flange 353 pushes down the gasket 355 via the gasket retainer 354. Since the gasket 255 is made of rubber and its position is restricted, it is crushed by receiving a force and comes into close contact with the inner peripheral surface of the mounting hole 10f and the outer peripheral surface of the connecting pipe portion 35a of the ion gauge 35. As a result, the ion gauge 35 can be attached while ensuring the airtightness in the high vacuum chamber 13.

イオンゲージ35の交換等のためにイオンゲージ35を取り外す際には、作業者は装置の右側方からオフセットドライバー等の工具を用いてネジ358を弛める。すると、第1板状部材350の抑えが解除され、ガスケット355が復元するので、イオンゲージ35の接続管部35aが取付穴10fから抜け易くなる。これによって、装置の右側方から容易にイオンゲージ35を取り外すことが可能となる。イオンゲージ35を取り付ける際には、上記取り外し時と逆の手順で作業を行えばよい。
このようにして、質量分析装置1の右側方からイオンゲージ35を容易に着脱することができる。
When removing the ion gauge 35 for replacement of the ion gauge 35 or the like, the operator loosens the screw 358 from the right side of the device using a tool such as an offset screwdriver. Then, the restraint of the first plate-shaped member 350 is released and the gasket 355 is restored, so that the connecting pipe portion 35a of the ion gauge 35 can be easily pulled out from the mounting hole 10f. This makes it possible to easily remove the ion gauge 35 from the right side of the device. When attaching the ion gauge 35, the work may be performed in the reverse procedure of the removal.
In this way, the ion gauge 35 can be easily attached to and detached from the right side of the mass spectrometer 1.

また、上記実施形態は本発明の一例にすぎず、本発明の趣旨の範囲でさらに適宜、変形、追加、修正を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。 Further, the above embodiment is only an example of the present invention, and it is clear that the present invention is included in the claims even if it is further appropriately modified, added, or modified within the scope of the present invention.

[種々の態様]
上述した例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
[Various aspects]
It will be understood by those skilled in the art that the above-described exemplary embodiments are specific examples of the following embodiments.

(第1項)本発明に係る質量分析装置の一態様は、
その内部に真空室を形成し、該真空室中のイオン光軸を挟んで左右いずれか一方の側面が開閉可能である真空チャンバと、
試料由来のイオンに対する所定の操作を行うイオン光学素子と、
前記真空チャンバの底面上に配置され、その上に前記イオン光学素子が載置される台座部と、
前記台座部との間に前記イオン光学素子の少なくとも一部を挟み込んで該イオン光学素子を前記台座部に押し付けるように固定するための薄板状の固定バンドと、
前記真空チャンバの開閉可能な側面とは反対側の該真空チャンバの側壁面内側に設けられた、前記固定バンドの一端を係止するバンド係止部と、
前記台座部にあって前記真空チャンバの開閉可能な側面の側に設けられた、前記固定バンドの他端を該台座部に対して固定するバンド固定部と、
を備えるものである。
(Section 1) One aspect of the mass spectrometer according to the present invention is
A vacuum chamber in which a vacuum chamber is formed and one of the left and right sides can be opened and closed across the ion optical axis in the vacuum chamber.
An ion optical element that performs a predetermined operation on the ions derived from the sample,
A pedestal portion arranged on the bottom surface of the vacuum chamber and on which the ion optical element is placed,
A thin plate-shaped fixing band for sandwiching at least a part of the ion optical element between the pedestal portion and fixing the ion optical element so as to be pressed against the pedestal portion.
A band locking portion for locking one end of the fixing band provided inside the side wall surface of the vacuum chamber opposite to the openable / closable side surface of the vacuum chamber.
A band fixing portion for fixing the other end of the fixing band to the pedestal portion, which is provided on the openable side surface side of the vacuum chamber in the pedestal portion.
Is provided.

第1項に記載の質量分析装置では、真空チャンバの上面(天面)ではなく側面を開放することができ、この側面を開放すると、イオン光学素子の手前側にバンド固定部が位置している。そして、真空チャンバの開口部から見てイオン光学素子の向こう側では、固定バンドはバンド係止部で係止されているだけである。そのため、手前側のバンド固定部による固定を解除するだけで容易に固定バンドを取り外すことができ、固定バンドを取り外したあと、台座部の上からイオン光学素子を取り外して装置の外側に取り出すことができる。 In the mass spectrometer according to the first item, the side surface of the vacuum chamber can be opened instead of the upper surface (top surface), and when this side surface is opened, the band fixing portion is located on the front side of the ion optical element. .. Then, on the other side of the ion optical element when viewed from the opening of the vacuum chamber, the fixed band is only locked by the band locking portion. Therefore, the fixing band can be easily removed by simply releasing the fixing by the band fixing part on the front side, and after removing the fixing band, the ion optical element can be removed from the top of the pedestal and taken out to the outside of the device. it can.

このように第1項に記載の質量分析装置によれば、当該装置の上部に別の装置が載置されている状態のままで、つまりはその別の装置を移動させることなく、イオン光学素子のメンテナンス作業を行うことができ、高い作業性を実現することができる。また、イオン光学素子の脱着の作業自体が簡単で手間が掛からないので、メンテナンスの作業を効率良く行うことができる。また、イオン光学素子に工具等が接触して該素子を損傷する等の事故を防止することができる。さらにまた、簡単な作業でイオン光学素子を適切な位置に精度良く取り付けることができる。 As described above, according to the mass spectrometer described in the first paragraph, the ion optical element remains in a state where another device is mounted on the upper part of the device, that is, without moving the other device. Maintenance work can be performed, and high workability can be realized. Further, since the work itself of attaching and detaching the ion optical element is simple and does not take time and effort, the maintenance work can be performed efficiently. In addition, it is possible to prevent accidents such as damage to the ion optical element due to contact with a tool or the like. Furthermore, the ion optical element can be accurately mounted at an appropriate position with a simple operation.

(第2項)第1項に記載の質量分析装置において、前記イオン光学素子は、直線状の軸の周りに配置された4本のロッド電極と、前記4本のロッド電極を保持する絶縁性材料から成るロッドホルダと、を含む四重極マスフィルタであり、前記固定バンドは、前記ロッドホルダを前記台座部に押さえ付けるように取り付けられるものとすることができる。 (Item 2) In the mass spectrometer according to the item 1, the ion optical element has four rod electrodes arranged around a linear axis and an insulating property that holds the four rod electrodes. It is a quadrupole mass filter including a rod holder made of a material, and the fixing band can be attached so as to press the rod holder against the pedestal portion.

第2項に記載の質量分析装置によれば、イオンを質量電荷比に応じて分離する四重極マスフィルタが汚れた場合でも、これを比較的容易に取り外して洗浄することができる。
また、多くの場合、質量分析装置における試料由来のイオンの経路の中で、四重極マスフィルタはイオン流の下流に位置している。そのため、装置の前方側にイオン源が設けられ、該イオン源で生成されたイオンが装置の後方側に送られる構成の装置では、四重極マスフィルタは装置の後方側に配置される。そうした場合に、四重極マスフィルタを装置の前方に引き出すようにして取り外せる構造を採ることは困難である。これに対し、第2項に記載の質量分析装置によれば、装置の側方に四重極マスフィルタを取り外すことができるので、四重極マスフィルタのメンテナンスの作業性が向上する。
According to the mass spectrometer according to the second item, even if the quadrupole mass filter that separates ions according to the mass-to-charge ratio becomes dirty, it can be relatively easily removed and washed.
Also, in many cases, the quadrupole mass filter is located downstream of the ion stream in the path of sample-derived ions in the mass spectrometer. Therefore, in a device in which an ion source is provided on the front side of the device and the ions generated by the ion source are sent to the rear side of the device, the quadrupole mass filter is arranged on the rear side of the device. In such a case, it is difficult to adopt a structure in which the quadrupole mass filter can be removed by pulling it out to the front of the device. On the other hand, according to the mass spectrometer described in the second paragraph, since the quadrupole mass filter can be removed on the side of the device, the workability of maintenance of the quadrupole mass filter is improved.

(第3項)第1項に記載の質量分析装置において、前記イオン光学素子は、イオンを解離させるセル本体部を含むコリジョンセルであり、前記固定バンドは、前記セル本体部を前記台座部に押さえ付けるように取り付けられるものとすることができる。 (Item 3) In the mass spectrometer according to the first item, the ion optical element is a collision cell including a cell body portion for dissociating ions, and the fixed band has the cell body portion on the pedestal portion. It can be attached so as to hold it down.

第3項に記載の質量分析装置によれば、イオンを解離させるためのコリジョンセルのセル本体やセル本体の内部に配置されているイオンガイドが汚れた場合でも、これを比較的容易に取り外して洗浄することができる。また、四重極マスフィルタと同様にコリジョンセルもイオン流の下流に位置しており、装置の後方側に配置されていることが多いが、その場合でも着脱が容易である。 According to the mass spectrometer according to the third item, even if the cell body of the collision cell for dissociating the ions or the ion guide arranged inside the cell body becomes dirty, it can be removed relatively easily. Can be washed. Further, like the quadrupole mass filter, the collision cell is also located downstream of the ion flow and is often arranged on the rear side of the device, but even in that case, it is easy to attach and detach.

即ち、本発明に係る質量分析装置における上記イオン光学素子は、イオン経路の中のいずれに位置しているイオン光学素子でもよいが、特にイオン経路の中の後段部、つまりはイオン流の下流に位置しているイオン光学素子に対してその効果が大きいということができる。 That is, the ion optical element in the mass spectrometer according to the present invention may be an ion optical element located anywhere in the ion path, but particularly in the latter part of the ion path, that is, downstream of the ion flow. It can be said that the effect is great for the ionic optical element located.

(第4項)第2項に記載の質量分析装置では、前記真空チャンバの天面内側と前記台座部の上面との間の距離が、円環状である前記ロッドホルダの外径よりも大きいものとすることができる。 (Item 4) In the mass spectrometer according to item 2, the distance between the inside of the top surface of the vacuum chamber and the upper surface of the pedestal portion is larger than the outer diameter of the rod holder which is annular. Can be.

(第5項)第3項に記載の質量分析装置では、前記真空チャンバの天面内側と前記台座部の上面との間の距離が、円筒状である前記セル本体部の外径よりも大きいものとすることができる。 (Clause 5) In the mass spectrometer according to the third item, the distance between the inside of the top surface of the vacuum chamber and the upper surface of the pedestal portion is larger than the outer diameter of the cell body portion which is cylindrical. Can be.

第4項及び第5項に記載の質量分析装置によれば、固定バンドを取り外した状態で、四重極マスフィルタやコリジョンセルを台座部から持ち上げ、そのまま真空チャンバの外側に取り出すことができる。また、四重極マスフィルタやコリジョンセルを台座部や真空チャンバの天面に接触させずに出し入れすることができる。したがって、四重極マスフィルタやコリジョンセルの脱着の作業が容易であるとともに、それらが台座部や真空チャンバの天面に接触して損傷することを防止することができる。 According to the mass spectrometers described in the fourth and fifth paragraphs, the quadrupole mass filter and the collision cell can be lifted from the pedestal portion and taken out of the vacuum chamber as they are with the fixing band removed. Further, the quadrupole mass filter and the collision cell can be taken in and out without contacting the pedestal portion and the top surface of the vacuum chamber. Therefore, the work of attaching and detaching the quadrupole mass filter and the collision cell can be easily performed, and it is possible to prevent them from coming into contact with the pedestal portion and the top surface of the vacuum chamber and being damaged.

(第6項)第1項〜第5項のいずれか1項に記載の質量分析装置では、前記真空チャンバは、その開閉可能である側面が外装カバーの側面に面するように配置されているものとすることができる。 (Section 6) In the mass spectrometer according to any one of paragraphs 1 to 5, the vacuum chamber is arranged so that its openable side surface faces the side surface of the exterior cover. Can be.

第6項に記載の質量分析装置では、外装カバーの側面を開放するとその直ぐ内側に真空チャンバがあり、該真空チャンバの側面を開放するとイオン光学素子の脱着が可能である。したがって、第6項に記載の質量分析装置によれば、イオン光学素子の脱着が一層容易である。 In the mass spectrometer according to item 6, when the side surface of the exterior cover is opened, there is a vacuum chamber immediately inside, and when the side surface of the vacuum chamber is opened, the ion optical element can be attached and detached. Therefore, according to the mass spectrometer according to the sixth item, the attachment / detachment of the ion optical element is easier.

(第7項)第1項〜第6項のいずれか1項に記載の質量分析装置では、前記外装カバーの上面には他の装置が載置可能である平坦部が形成されているものとすることができる。 (Section 7) In the mass spectrometer according to any one of paragraphs 1 to 6, a flat portion on which another device can be placed is formed on the upper surface of the exterior cover. can do.

第7項に記載の質量分析装置では、質量分析装置の上部に例えば液体クロマトグラフユニットなどを載置することができる。それによって、液体クロマトグラフ質量分析システム全体としての設置スペースを縮小することができる。 In the mass spectrometer according to the seventh item, for example, a liquid chromatograph unit or the like can be placed on the upper part of the mass spectrometer. Thereby, the installation space of the liquid chromatograph mass spectrometry system as a whole can be reduced.

(第8項)第1項〜第7項のいずれか1項に記載の質量分析装置では、前記固定バンドは弾性を有する部材からなるものとすることができる。 (Item 8) In the mass spectrometer according to any one of items 1 to 7, the fixing band may be made of an elastic member.

第8項に記載の質量分析装置によれば、例えば固定バンドで固定されているロッドホルダやセル本体部が熱膨張による形状変化を生じた場合でも、固定バンド自体がその形状変化を吸収する。したがって、ロッドホルダやセル本体部などの破損を防止しつつ、確実にそれらを台座部に固定することができる。また特に、弾性を有する部材として熱伝導性の良好なリン青銅を用いれば、ロッドホルダやセル本体部からの熱を効率良く逃がし、それらの加熱を抑えることができる。 According to the mass spectrometer according to the item 8, even if the rod holder or the cell body fixed by the fixed band undergoes a shape change due to thermal expansion, the fixed band itself absorbs the shape change. Therefore, it is possible to securely fix the rod holder and the cell body to the pedestal while preventing damage to the rod holder and the cell body. In particular, if phosphor bronze having good thermal conductivity is used as the elastic member, heat from the rod holder and the cell body can be efficiently dissipated, and their heating can be suppressed.

(第9項)第2項に記載の質量分析装置では、前記固定バンドは少なくとも、前記ロッドホルダにおいて周方向に隣接するロッド電極の間の部分の外周面に面接触しているものとすることができる。 (Item 9) In the mass spectrometer according to the second item, it is assumed that the fixed band is in surface contact with at least the outer peripheral surface of the portion between the rod electrodes adjacent to each other in the circumferential direction in the rod holder. Can be done.

第9項に記載の質量分析装置によれば、ロッドホルダの中で発熱が最も大きい箇所に固定バンドが接触するため、ロッドホルダの熱を良好に放散することができる。 According to the mass spectrometer according to the ninth item, since the fixing band comes into contact with the portion of the rod holder that generates the most heat, the heat of the rod holder can be satisfactorily dissipated.

1…質量分析装置
2…カラムオーブンユニット
3、4…送液ユニット
5…インジェクションユニット
10…真空チャンバ
10a…側面蓋
10c…左側壁
10d…係止部
10e…後壁
10f…取付穴
11…第1中間真空室
12…第2中間真空室
13…高真空室
14…イオン化室
15…イオン化プローブ
16…脱溶媒管
17…第1イオンガイド
18…スキマー
19…第2イオンガイド
20…レンズ電極
21…四重極マスフィルタ
211…メインロッド電極
212…ロッドホルダ
213…固定バンド
214…ネジ
22…イオン検出器
30…外装カバー
30a…右側面カバー
31…回路ユニット
32…真空ポンプユニット
33…台座部
33a…凹部
35…イオンゲージ
35a…接続管部
350…第1板状部材
351、357…スペーサ
352…ボルト
353…フランジ
354…ガスケット押さえ
355…ガスケット
356…第2板状部材
358…ネジ
40…前段四重極マスフィルタ
41…コリジョンセル
410…セル本体部
411…ロッド電極
42…後段四重極マスフィルタ
C…イオン光軸
1 ... Mass spectrometer 2 ... Column oven unit 3, 4 ... Liquid feeding unit 5 ... Injection unit 10 ... Vacuum chamber 10a ... Side lid 10c ... Left side wall 10d ... Locking part 10e ... Rear wall 10f ... Mounting hole 11 ... First Intermediate vacuum chamber 12 ... Second intermediate vacuum chamber 13 ... High vacuum chamber 14 ... Ionization chamber 15 ... Ionization probe 16 ... Degasket tube 17 ... First ion guide 18 ... Skimmer 19 ... Second ion guide 20 ... Lens electrode 21 ... Four Multipolar mass filter 211 ... Main rod electrode 212 ... Rod holder 213 ... Fixed band 214 ... Screw 22 ... Ion detector 30 ... Exterior cover 30a ... Right side cover 31 ... Circuit unit 32 ... Vacuum pump unit 33 ... Pedestal 33a ... Recess 35 ... Ion gauge 35a ... Connection pipe 350 ... First plate-shaped member 351 ... 357 ... Spacer 352 ... Bolt 353 ... Flange 354 ... Gasket retainer 355 ... Gasket 356 ... Second plate-shaped member 358 ... Screw 40 ... Front quadrupole Mass filter 41 ... Collision cell 410 ... Cell body 411 ... Rod electrode 42 ... Rear quadrupole mass filter C ... Ion optical axis

Claims (9)

その内部に真空室を形成し、該真空室中のイオン光軸を挟んで左右いずれか一方の側面が開閉可能である真空チャンバと、
試料由来のイオンに対する所定の操作を行うイオン光学素子と、
前記真空チャンバの底面上に配置され、その上に前記イオン光学素子が載置される台座部と、
前記台座部との間に前記イオン光学素子の少なくとも一部を挟み込んで該イオン光学素子を前記台座部に押し付けるように固定するための薄板状の固定バンドと、
前記真空チャンバの開閉可能な側面とは反対側の該真空チャンバの側壁面内側に設けられた、前記固定バンドの一端を係止するバンド係止部と、
前記台座部にあって前記真空チャンバの開閉可能な側面の側に設けられた、前記固定バンドの他端を該台座部に対して固定するバンド固定部と、
を備える、質量分析装置。
A vacuum chamber in which a vacuum chamber is formed and one of the left and right sides can be opened and closed across the ion optical axis in the vacuum chamber.
An ion optical element that performs a predetermined operation on the ions derived from the sample,
A pedestal portion arranged on the bottom surface of the vacuum chamber and on which the ion optical element is placed,
A thin plate-shaped fixing band for sandwiching at least a part of the ion optical element between the pedestal portion and fixing the ion optical element so as to be pressed against the pedestal portion.
A band locking portion for locking one end of the fixing band provided inside the side wall surface of the vacuum chamber opposite to the openable / closable side surface of the vacuum chamber.
A band fixing portion for fixing the other end of the fixing band to the pedestal portion, which is provided on the openable side surface side of the vacuum chamber in the pedestal portion.
A mass spectrometer.
前記イオン光学素子は、直線状の軸の周りに配置された4本のロッド電極と、前記4本のロッド電極を保持する絶縁性材料から成るロッドホルダと、を含む四重極マスフィルタであり、前記固定バンドは、前記ロッドホルダを前記台座部に押さえ付けるように取り付けられるものである、請求項1に記載の質量分析装置。 The ion optical element is a quadrupole mass filter including four rod electrodes arranged around a linear axis and a rod holder made of an insulating material that holds the four rod electrodes. The mass spectrometer according to claim 1, wherein the fixing band is attached so as to press the rod holder against the pedestal portion. 前記イオン光学素子は、イオンを解離させるセル本体部を含むコリジョンセルであり、前記固定バンドは、前記セル本体部を前記台座部に押さえ付けるように取り付けられるものである、請求項1に記載の質量分析装置。 The ion optical element is a collision cell including a cell body portion for dissociating ions, and the fixing band is attached so as to press the cell body portion against the pedestal portion, according to claim 1. Mass spectrometer. 前記真空チャンバの天面内側と前記台座部の上面との間の距離が、円環状である前記ロッドホルダの外径よりも大きい、請求項2に記載の質量分析装置。 The mass spectrometer according to claim 2, wherein the distance between the inside of the top surface of the vacuum chamber and the upper surface of the pedestal portion is larger than the outer diameter of the rod holder which is annular. 前記真空チャンバの天面内側と前記台座部の上面との間の距離が、円筒状である前記セル本体部の外径よりも大きい、請求項3に記載の質量分析装置。 The mass spectrometer according to claim 3, wherein the distance between the inside of the top surface of the vacuum chamber and the upper surface of the pedestal portion is larger than the outer diameter of the cell body portion having a cylindrical shape. 前記真空チャンバは、その開閉可能である側面が外装カバーの側面に面するように配置されている、請求項1〜5のいずれか1項に記載の質量分析装置。 The mass spectrometer according to any one of claims 1 to 5, wherein the vacuum chamber is arranged so that its openable side surface faces the side surface of the exterior cover. 前記外装カバーの上面には他の装置が載置可能である平坦部が形成されている、請求項1〜6のいずれか1項に記載の質量分析装置 The mass spectrometer according to any one of claims 1 to 6, wherein a flat portion on which another device can be placed is formed on the upper surface of the exterior cover. 前記固定バンドは弾性を有する部材からなる、請求項1〜7のいずれか1項に記載の質量分析装置。 The mass spectrometer according to any one of claims 1 to 7, wherein the fixing band is made of an elastic member. 前記固定バンドは少なくとも、前記ロッドホルダにおいて周方向に隣接するロッド電極の間の部分の外周面に面接触している、請求項2に記載の質量分析装置。 The mass spectrometer according to claim 2, wherein the fixed band is in surface contact with at least the outer peripheral surface of a portion of the rod holder between rod electrodes adjacent in the circumferential direction.
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