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JP2020119243A - Electronic apparatus, means for detecting fitting of cooling means, and program for detecting fitting of cooling means - Google Patents

Electronic apparatus, means for detecting fitting of cooling means, and program for detecting fitting of cooling means Download PDF

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JP2020119243A
JP2020119243A JP2019009653A JP2019009653A JP2020119243A JP 2020119243 A JP2020119243 A JP 2020119243A JP 2019009653 A JP2019009653 A JP 2019009653A JP 2019009653 A JP2019009653 A JP 2019009653A JP 2020119243 A JP2020119243 A JP 2020119243A
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Abstract

To provide an electronic apparatus, a method for detecting fitting of cooling means, and a program for detecting fitting of cooling means which, in a state in which an electronic circuit has the highest load, can correctly inspect whether or not cooling means sufficiently cools the electronic circuit.SOLUTION: An electronic apparatus 10 according to the invention has a processor 11 including an integrated circuit for executing a program, cooling means 12 fitted to the processor 11 for cooling the processor 11, a temperature sensor 14 for measuring temperature of the processor 11, and a memory 13 for storing a program which the processor 11 executes. The processor 11 carries out temperature increasing processing for setting a use ratio of the processor 11 to a predetermined ratio or higher. If the temperature of the processor 11 is lower than the predetermined temperature after the temperature increasing processing, the processor 11 determines that the cooling means 12 is normally fitted to the processor 11. If on the other hand the temperature of the processor 11 is the predetermined temperature or higher, the processor 11 determines that the cooling means 12 is not normally fitted to the processor 11.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は電子装置、冷却手段装着検出方法及び冷却手段装着検出プログラムに関する。 The present invention relates to an electronic device, a cooling unit mounting detection method, and a cooling unit mounting detection program.

電子機器の処理の複雑化・高速化に対応するために、LSI(Large Scale Integrated Circuit)を含むIC(Integrated Circuit)は年々高集積化・高クロック化がすすめられている。高集積化・高クロック化にともないICの消費電力が増大し、IC自体の発熱量も増加している。このようにIC自体の発熱によってICの動作上限温度を超えてしまうことを避けるため、ヒートシンクと呼ばれる放熱用の部品を装着して部品温度を下げることが行われている。 In order to cope with complicated and high-speed processing of electronic devices, ICs (Integrated Circuits) including LSIs (Large Scale Integrated Circuits) are being highly integrated and clocked year by year. The power consumption of the IC has increased along with the high integration and the high clock, and the heat generation amount of the IC itself has also increased. As described above, in order to prevent the operation upper limit temperature of the IC from being exceeded due to heat generation of the IC itself, a component for heat dissipation called a heat sink is mounted to lower the temperature of the component.

一般的にヒートシンクはICの上面に装着される。しかしICとヒートシンク表面の凹凸によって隙間ができると、熱伝導効率が悪化し十分な放熱ができない。そこで、ICとヒートシンクの間に、軟質材料でできた熱伝導シートあるいは熱伝導グリスをはさむことでヒートシンクを密に接触させ、熱伝導効率を上げることが行われている。 Generally, the heat sink is mounted on the upper surface of the IC. However, if a gap is formed due to the unevenness of the IC and the surface of the heat sink, the heat conduction efficiency is deteriorated and sufficient heat cannot be dissipated. Therefore, a heat conductive sheet or a heat conductive grease made of a soft material is sandwiched between the IC and the heat sink so that the heat sink is brought into close contact with the heat conductive sheet to increase the heat conductive efficiency.

しかし、熱伝導シートの貼付や熱伝導グリスの塗布を忘れた場合、または熱伝導シート貼付時に発生した気泡や貼付位置のズレあるいは熱伝導グリス塗布量不足などによって接続面積が不足している場合、十分な放熱効果が得られないことがある。 However, if you forget to attach the heat-conducting sheet or apply heat-conducting grease, or if the connection area is insufficient due to air bubbles that occur when attaching the heat-conducting sheet, gaps in the attaching position, or insufficient amount of heat-conducting grease applied, In some cases, a sufficient heat dissipation effect cannot be obtained.

他方、ヒートシンクは通常、不透明な金属材料で作られるため、目視で熱伝導シートや熱伝導グリスを観測することが困難である。したがって、熱伝導シートの貼付状況や熱伝導グリスの塗布状況を見るためには、X線などによる画像解析が必要で、設備投資と観測に要する時間が必要であった。 On the other hand, since the heat sink is usually made of an opaque metal material, it is difficult to visually observe the heat conductive sheet or the heat conductive grease. Therefore, image analysis by X-ray or the like is required to see the attachment state of the heat conductive sheet and the application state of the heat conductive grease, and the time required for capital investment and observation is required.

特許文献1には、発熱部品が実装された電子回路の消費電流が少ないにもかかわらず部品温度が高い場合、冷却部に異常が生じていると判断する異常検査システムが記載されている。 Patent Document 1 describes an abnormality inspection system that determines that an abnormality has occurred in a cooling unit when the component circuit has a high temperature even though the electronic circuit on which the heat-generating component is mounted consumes less current.

特開2012−64975号公報JP2012-64975A

しかしながら、特許文献1に記載された異常検査システムでは、電子回路が最も発熱する状態での検査を行っていないので、電子回路の負荷が最も高い状態において、冷却部が電子回路を十分に冷却できているか否かどうかを正しく検査できないという問題があった。 However, in the abnormality inspection system described in Patent Document 1, since the inspection is not performed in the state where the electronic circuit generates the most heat, the cooling unit can sufficiently cool the electronic circuit when the load of the electronic circuit is the highest. There was a problem that it could not be correctly inspected whether or not it is.

一実施形態の電子装置は、プログラムを実行する集積回路を含むプロセッサと、前記プロセッサに装着され、前記プロセッサを冷却する冷却手段と、前記プロセッサの温度を計測する温度センサと、前記プロセッサが実行するプログラムを記憶するメモリと、を備え、前記プロセッサは、前記プロセッサの使用率を所定の比率以上とする昇温処理を行い、前記プロセッサは、前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度未満である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていると判断し、前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度以上である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていないと判断するようにした。 According to one embodiment, an electronic device includes a processor including an integrated circuit that executes a program, a cooling unit that is mounted on the processor to cool the processor, a temperature sensor that measures the temperature of the processor, and the processor executes the temperature sensor. And a memory for storing a program, wherein the processor performs a temperature raising process for making the usage rate of the processor equal to or higher than a predetermined ratio, and the processor, after the temperature raising process, has a predetermined temperature of the processor. If it is less than, it is determined that the cooling unit is normally attached to the processor, and after the temperature raising process, if the temperature of the processor is equal to or higher than a predetermined temperature, the cooling unit is normally attached to the processor. I decided that it wasn't installed.

一実施形態の冷却手段装着検出方法は、冷却手段を装着したプロセッサに、前記プロセッサの使用率を所定の比率以上とする昇温処理を実行させ、前記昇温処理後の前記プロセッサの温度を測定し、前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度未満である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていると判断し、前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度以上である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていないと判断するようにした。 A cooling means mounting detection method according to an embodiment causes a processor equipped with a cooling means to perform a temperature raising process for making a utilization rate of the processor equal to or higher than a predetermined ratio, and measures the temperature of the processor after the temperature raising process. Then, after the temperature raising process, if the temperature of the processor is lower than a predetermined temperature, it is determined that the cooling unit is normally attached to the processor, and after the temperature raising process, the temperature of the processor is predetermined. When the temperature is equal to or higher than the temperature, it is determined that the cooling unit is not normally attached to the processor.

一実施形態の冷却手段装着検出プログラムは、冷却手段を装着したプロセッサに、前記プロセッサの使用率を所定の比率以上とする昇温処理を実行させるステップと、前記昇温処理後の前記プロセッサの温度を測定するステップと、前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度未満である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていると判断し、前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度以上である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていないと判断するステップとを前記プロセッサに実行させるようにした。 A cooling unit mounting detection program according to an embodiment includes a step of causing a processor mounted with a cooling unit to perform a temperature raising process for making a utilization rate of the processor equal to or higher than a predetermined ratio, and a temperature of the processor after the temperature raising process. And a step of measuring the temperature rise process, and if the temperature of the processor is lower than a predetermined temperature, it is determined that the cooling unit is properly attached to the processor, and the processor after the temperature rise process, If the temperature is higher than or equal to a predetermined temperature, it is determined that the cooling unit is not normally attached to the processor.

本発明の電子装置、冷却手段装着検出方法及び冷却手段装着検出プログラムによれば、電子回路の負荷が最も高い状態において、冷却部が電子回路を十分に冷却できているか否かどうかを正しく検査できる。 According to the electronic device, the cooling unit mounting detection method, and the cooling unit mounting detection program of the present invention, it is possible to correctly inspect whether or not the cooling unit can sufficiently cool the electronic circuit when the load of the electronic circuit is the highest. ..

実施の形態1に係る電子装置の構成の一例を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing an example of a configuration of an electronic device according to the first embodiment. 実施の形態2に係る電子装置の構成の一例を示すブロック図である。FIG. 6 is a block diagram showing an example of a configuration of an electronic device according to a second embodiment. 冷却手段を装着したCPUの一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of CPU which mounted the cooling means. 実施の形態2に係る電子装置の動作の一例を示すフローチャートである。9 is a flowchart showing an example of operation of the electronic device according to the second embodiment. 実施の形態3に係る電子装置の構成の一例を示すブロック図である。FIG. 9 is a block diagram showing an example of a configuration of an electronic device according to a third embodiment. 実施の形態3に係る電子装置の動作の一例を示すフローチャートである。9 is a flowchart showing an example of operation of the electronic device according to the third embodiment.

(実施の形態1)
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図1は、実施の形態1に係る電子装置の構成の一例を示すブロック図である。図1において、電子装置10は、プロセッサ11と、冷却手段12と、メモリ13と、温度センサ14を備える。
(Embodiment 1)
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an example of the configuration of the electronic device according to the first embodiment. In FIG. 1, the electronic device 10 includes a processor 11, a cooling unit 12, a memory 13, and a temperature sensor 14.

プロセッサ11は、プログラムを実行する集積回路を含むデバイスである。プロセッサ11は、メモリ13とバスで接続されている。そして、プロセッサ11は、メモリ13に記憶されたプログラム及びデータを読み込むことができる。また、プロセッサ11は、温度センサ14とも接続されている。そしてプロセッサ11は温度センサ14が計測した温度のデータを読み込むことができる。 The processor 11 is a device including an integrated circuit that executes a program. The processor 11 is connected to the memory 13 via a bus. Then, the processor 11 can read the programs and data stored in the memory 13. The processor 11 is also connected to the temperature sensor 14. Then, the processor 11 can read the temperature data measured by the temperature sensor 14.

冷却手段12は、プロセッサ11に装着され、プロセッサ11を冷却するデバイスである。
メモリ13は、プロセッサ11が実行するプログラムを記憶する記憶回路である。
温度センサ14は、プロセッサ11の温度を計測するセンサである。
The cooling unit 12 is a device mounted on the processor 11 to cool the processor 11.
The memory 13 is a storage circuit that stores a program executed by the processor 11.
The temperature sensor 14 is a sensor that measures the temperature of the processor 11.

以上の構成において、プロセッサ11は、プロセッサ11の使用率を所定の比率以上とする昇温処理を実行する。そして、プロセッサ11は、昇温処理後、温度センサ14が計測したプロセッサ11の温度が所定の温度未満である場合、冷却手段12がプロセッサ11に正常に装着されていると判断する。また、プロセッサ11は、昇温処理後、温度センサ14が計測したプロセッサ11の温度が所定の温度以上である場合、冷却手段12がプロセッサに正常に装着されていないと判断する。 In the above-described configuration, the processor 11 executes the temperature raising process that makes the usage rate of the processor 11 equal to or higher than a predetermined ratio. Then, if the temperature of the processor 11 measured by the temperature sensor 14 is lower than the predetermined temperature after the temperature raising process, the processor 11 determines that the cooling unit 12 is normally attached to the processor 11. After the temperature raising process, the processor 11 determines that the cooling unit 12 is not normally attached to the processor when the temperature of the processor 11 measured by the temperature sensor 14 is equal to or higher than a predetermined temperature.

このように実施の形態1の電子装置、冷却手段装着検出方法及び冷却手段装着検出プログラムによれば、プロセッサの使用率を所定の比率以上とする昇温処理を実行し、昇温処理後のプロセッサの温度を測定することにより、冷却手段がプロセッサに正常に装着されているか否かを判断することができる。 As described above, according to the electronic device, the cooling unit mounting detection method, and the cooling unit mounting detection program of the first embodiment, the temperature rising process is executed to make the usage rate of the processor equal to or higher than the predetermined ratio, and the processor after the temperature rising process is executed. By measuring the temperature of, it is possible to determine whether or not the cooling means is properly attached to the processor.

(実施の形態2)
実施の形態2では、冷却手段を装着し、温度を測定されるデバイスと、冷却手段がプロセッサに正常に装着されているか否かを判断するデバイスとが同じデバイスである例について説明する。
(Embodiment 2)
In the second embodiment, an example will be described in which the device in which the cooling means is mounted and whose temperature is measured and the device which determines whether or not the cooling means is properly mounted in the processor are the same device.

図2は、実施の形態2に係る電子装置の構成の一例を示すブロック図である。図2において、図1の同一の構成は、同じ番号を付し、説明を省略する。図2において、電子装置20は、CPU(Central Processing Unit)111と、冷却手段12と、メモリ13と、温度センサ14と、表示デバイス25と、周辺デバイス26を備える。 FIG. 2 is a block diagram showing an example of the configuration of the electronic device according to the second embodiment. 2, the same components as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted. In FIG. 2, the electronic device 20 includes a CPU (Central Processing Unit) 111, a cooling unit 12, a memory 13, a temperature sensor 14, a display device 25, and a peripheral device 26.

CPU111は、実施の形態1のプロセッサ11に対応する構成である。CPU111はアドレスバス、データバス及び制御バスでメモリ13と接続されている。そして、CPU111は、メモリ13に記憶されたプログラム及びデータを読み込み、プログラムを実行するプロセッサである。 The CPU 111 has a configuration corresponding to the processor 11 of the first embodiment. The CPU 111 is connected to the memory 13 via an address bus, a data bus and a control bus. The CPU 111 is a processor that reads the program and data stored in the memory 13 and executes the program.

冷却手段12は、CPU111に発生した熱を電子回路外へ放出させて冷却するため、CPU111に当接または近接して実装される部材である。例えば冷却手段12は、ヒートシンク、冷却ファン、ヒートパイプまたはペルチェ素子が好適である。また、冷却手段12は、ヒートシンク、冷却ファン、ヒートパイプ及びペルチェ素子を組み合わせたものであってもよい。冷却手段12は、特にヒートシンクと冷却ファンを組み合わせたものが好適である。 The cooling means 12 is a member mounted in contact with or close to the CPU 111 in order to release the heat generated in the CPU 111 to the outside of the electronic circuit to cool it. For example, the cooling means 12 is preferably a heat sink, a cooling fan, a heat pipe or a Peltier element. Further, the cooling means 12 may be a combination of a heat sink, a cooling fan, a heat pipe and a Peltier element. The cooling means 12 is preferably a combination of a heat sink and a cooling fan.

メモリ13は、ROM(Read Only Memory)131と、RAM(Random Access Memory)132とを備える。ROM131は、プログラムや設定などのデータを保存する記憶回路である。ROM131は、マスクROMまたはPROM(Programmable ROM)のいずれであってもよい。RAM132は、ROM131内のプログラムを実行可能な形式に変換したプログラムデータや一時データを保持する記憶回路である。RAM132は、SRAM(Static RAM)、DRAM(Dynamic RAM)、FeRAM(Ferroelectric RAM)、MRAM(Magnetoresistive RAM)、ReRAM(Resistive RAM)またはPRAM(Phase change RAM)のいずれであってもよい。 The memory 13 includes a ROM (Read Only Memory) 131 and a RAM (Random Access Memory) 132. The ROM 131 is a storage circuit that stores data such as programs and settings. The ROM 131 may be either a mask ROM or a PROM (Programmable ROM). The RAM 132 is a storage circuit that holds program data and temporary data obtained by converting the program in the ROM 131 into an executable format. The RAM 132 may be any of SRAM (Static RAM), DRAM (Dynamic RAM), FeRAM (Ferroelectric RAM), MRAM (Magnetoresistive RAM), ReRAM (Resistive RAM) or PRAM (Phase change RAM).

温度センサ14は、プロセッサ11内のCPU111の温度を計測するセンサである。例えば、温度センサ14は、サーミスタ、熱電対、測温抵抗体のいずれかであってもよい。 The temperature sensor 14 is a sensor that measures the temperature of the CPU 111 in the processor 11. For example, the temperature sensor 14 may be any of a thermistor, a thermocouple, and a resistance temperature detector.

表示デバイス25は、少なくともCPU111の状態を表示するための表示デバイスである。表示デバイス25は、冷却手段がプロセッサに正常に装着されている状態と、冷却手段がプロセッサに正常に装着されていない状態とを区別して表示できる表示デバイスである。例えば、表示デバイス25は、文字またはグラフィックスで、冷却手段がプロセッサに正常に装着されている状態と、冷却手段がプロセッサに正常に装着されていない状態とを区別して表示できるデバイスである。 The display device 25 is a display device for displaying at least the state of the CPU 111. The display device 25 is a display device that can distinguish between a state where the cooling unit is normally attached to the processor and a state where the cooling unit is not normally attached to the processor. For example, the display device 25 is a device that can display, in characters or graphics, a state where the cooling unit is normally attached to the processor and a state where the cooling unit is not normally attached to the processor.

具体的には、表示デバイス25は、液晶ディスプレイまたはLED(light emitting diode)ディスプレイが好適である。また、表示デバイス25は、色または表示の連続、点滅で、冷却手段がプロセッサに正常に装着されている状態と、冷却手段がプロセッサに正常に装着されていない状態とを区別して表示できるデバイスであってもよい。具体的には、表示デバイス25は、色の異なるLED、または表示を連続、点滅で切り換えられるLEDが好適である。 Specifically, the display device 25 is preferably a liquid crystal display or an LED (light emitting diode) display. In addition, the display device 25 is a device that can distinguish between a state in which the cooling unit is normally attached to the processor and a state in which the cooling unit is not normally attached to the processor by displaying continuous or blinking colors or displays. It may be. Specifically, the display device 25 is preferably an LED of a different color or an LED whose display can be switched continuously or by blinking.

周辺デバイス26は、外部の装置と接続し、固有の機能を提供するデバイスである。例えば、周辺デバイス26は、外部の装置と通信を行うデバイスである。 The peripheral device 26 is a device that is connected to an external device and provides a unique function. For example, the peripheral device 26 is a device that communicates with an external device.

次に、冷却手段12の装着例について説明する。図3は、冷却手段を装着したCPUの一例を示す断面図である。図3では、冷却手段12の一例としてヒートシンクをCPU111に装着した例を示している。図3においてCPU111は、熱伝導シート112を介して一面にヒートシンク121を装着している。 Next, an example of mounting the cooling means 12 will be described. FIG. 3 is a sectional view showing an example of a CPU equipped with a cooling means. FIG. 3 shows an example in which a heat sink is attached to the CPU 111 as an example of the cooling unit 12. In FIG. 3, the CPU 111 has a heat sink 121 mounted on one surface via a heat conductive sheet 112.

なお、熱伝導シート112の代わりに熱伝導グリスをCPU111の一面に塗布し塗布されたCPU111の一面にヒートシンク121を装着するようにしてもよい。 Instead of the heat conductive sheet 112, heat conductive grease may be applied to one surface of the CPU 111, and the heat sink 121 may be mounted on the applied one surface of the CPU 111.

上述したようにCPU111に冷却手段12が正しく装着されている場合、CPU111の熱が冷却手段12に伝導し、CPU111は温度の上昇が抑えられる。しかし、CPU111に冷却手段12が正しく装着されていない場合、CPU111の熱が冷却手段12に十分に伝導せず、CPU111の温度が上昇し続ける。 As described above, when the cooling means 12 is properly attached to the CPU 111, the heat of the CPU 111 is conducted to the cooling means 12, and the temperature rise of the CPU 111 is suppressed. However, when the cooling means 12 is not properly attached to the CPU 111, the heat of the CPU 111 is not sufficiently conducted to the cooling means 12, and the temperature of the CPU 111 continues to rise.

そこで、実施の形態2の電子装置20は、CPU111の使用率を所定の比率以上とする処理を行うことによりCPU111の温度を上昇させ、CPU111の温度を測定し、ヒートシンク121が正常に装着されているかを判断する。 Therefore, the electronic device 20 according to the second embodiment raises the temperature of the CPU 111 by performing a process of increasing the usage rate of the CPU 111 to a predetermined ratio or more, measures the temperature of the CPU 111, and attaches the heat sink 121 normally. Determine if.

次に、冷却手段12が正しく装着されているか否かの判断の処理について説明する。図4は、実施の形態2に係る電子装置の動作の一例を示すフローチャートである。 Next, a process of determining whether or not the cooling means 12 is properly mounted will be described. FIG. 4 is a flowchart showing an example of the operation of the electronic device according to the second embodiment.

まず、ステップS41において、CPU111は、ROM131からプログラムを読み込み、ステップS42に進む。 First, in step S41, the CPU 111 reads the program from the ROM 131, and proceeds to step S42.

ステップS42において、CPU111は、読み込んだプログラムを実行可能な形式に変換する。そして、CPU111は変換後のプログラムをRAM132に書き込み、ステップS43に進む。 In step S42, the CPU 111 converts the read program into an executable format. Then, the CPU 111 writes the converted program in the RAM 132, and proceeds to step S43.

ステップS43において、CPU111は、RAM132から検査プログラムを読み込み、ステップS44に進む。この検査プログラムには、CPU111の使用率を所定の比率以上とする処理が記述されている。たとえばUnix(登録商標)系のOS(Operating System)であるLinux(登録商標)では「# yes > /dev/null &」なる処理を行うことでCPU使用率を100%にすることができる。 In step S43, the CPU 111 reads the inspection program from the RAM 132, and proceeds to step S44. In this inspection program, processing for setting the usage rate of the CPU 111 to a predetermined rate or higher is described. For example, in Linux (registered trademark) which is an OS (Operating System) of Unix (registered trademark) system, the CPU usage rate can be set to 100% by performing the process of "# yes >/dev/null &".

ステップS44において、CPU111は、検査プログラムを実行し、ステップS45に進む。 In step S44, the CPU 111 executes the inspection program, and proceeds to step S45.

ステップS45において、CPU111は、検査プログラムを実行した状態で所定の時間待ち、ステップS46に進む。例えば、所定の時間は60秒である。 In step S45, the CPU 111 waits for a predetermined time while executing the inspection program, and proceeds to step S46. For example, the predetermined time is 60 seconds.

ステップS46において、CPU111は、温度センサ14の測定した温度を読み込み、ステップS47に進む。 In step S46, the CPU 111 reads the temperature measured by the temperature sensor 14, and proceeds to step S47.

ステップS47において、CPU111は、温度センサ14から読みだしたCPU111の温度Tと、あらかじめ決められた上限温度T(limit)を比較する。ここで、上限温度T(limit)は事前評価によって正常時の温度上昇を確認して決定された閾値である。 In step S47, the CPU 111 compares the temperature T of the CPU 111 read from the temperature sensor 14 with a predetermined upper limit temperature T(limit). Here, the upper limit temperature T(limit) is a threshold value determined by confirming the temperature increase in the normal state by the preliminary evaluation.

そして、CPU111の温度Tが上限温度T(limit)以上である場合、ステップS48に進む。また、CPU111の温度Tが上限温度T(limit)未満である場合、ステップS49に進む。 If the temperature T of the CPU 111 is equal to or higher than the upper limit temperature T(limit), the process proceeds to step S48. If the temperature T of the CPU 111 is lower than the upper limit temperature T(limit), the process proceeds to step S49.

ステップS48において、CPU111は、表示デバイス25に異常状態(冷却手段がプロセッサに正常に装着されていない状態)であることを伝えるメッセージを表示させ、ステップS50に進む。 In step S48, the CPU 111 causes the display device 25 to display a message indicating that it is in an abnormal state (a state in which the cooling unit is not normally attached to the processor), and proceeds to step S50.

ステップS49において、CPU111は、表示デバイス25に正常状態(冷却手段がプロセッサに正常に装着されている状態)であることを伝えるメッセージを表示させ、ステップS50に進む。
ステップS50において、CPU111は、検査プログラムを終了させる。
In step S49, the CPU 111 causes the display device 25 to display a message indicating that the display device 25 is in a normal state (a state in which the cooling unit is normally attached to the processor), and proceeds to step S50.
In step S50, the CPU 111 ends the inspection program.

このように、実施の形態2の電子装置、冷却手段装着検出方法及び冷却手段装着検出プログラムによれば、CPUの使用率を所定の比率以上とする処理を行うことによりCPUの温度を上昇させ、CPUの温度を測定することにより、所望の放熱効果が得られているかを知ることができ、ヒートシンクが正常に装着されているかを判断することができる。 As described above, according to the electronic device, the cooling unit mounting detection method, and the cooling unit mounting detection program of the second embodiment, the temperature of the CPU is raised by performing the process of setting the CPU usage rate to be equal to or higher than a predetermined ratio. By measuring the temperature of the CPU, it is possible to know whether the desired heat dissipation effect is obtained, and it is possible to judge whether the heat sink is properly mounted.

また、実施の形態2の電子装置、冷却手段装着検出方法及び冷却手段装着検出プログラムによれば、特別な設備を使わなくてもヒートシンクが正しく装着されているか検査することができるので、設備投資を抑制できる。また、実施の形態2の電子装置によれば、画像解析などを行うのに比べて短時間で検査ができ、検査時間を短縮することもできる。 Further, according to the electronic device, the cooling unit mounting detection method, and the cooling unit mounting detection program of the second embodiment, it is possible to inspect whether the heat sink is mounted correctly without using special equipment. Can be suppressed. Further, according to the electronic device of the second embodiment, it is possible to perform the inspection in a shorter time as compared with the case of performing the image analysis and the like, and it is possible to shorten the inspection time.

そして、実施の形態2の電子装置、冷却手段装着検出方法及び冷却手段装着検出プログラムによれば、電子回路の負荷が最も高い状態において、冷却部が電子回路を十分に冷却できているか否かどうかを正しく検査できる。 Then, according to the electronic device, the cooling unit mounting detection method, and the cooling unit mounting detection program of the second embodiment, it is determined whether or not the cooling unit can sufficiently cool the electronic circuit when the load of the electronic circuit is the highest. Can be inspected correctly.

(実施の形態3)
実施の形態3では、冷却手段を装着し、温度を測定されるデバイスと、冷却手段がデバイスに正常に装着されているか否かを判断するプロセッサが異なる例について説明する。
(Embodiment 3)
In the third embodiment, an example in which a device in which a cooling unit is mounted and whose temperature is measured and a processor which determines whether or not the cooling unit is normally mounted in the device are different will be described.

図5は、実施の形態3に係る電子装置の構成の一例を示すブロック図である。図5において、電子装置30は、CPU111と、メモリ13と、表示デバイス25と、冷却手段32と、周辺デバイス36と、温度センサ34とを備える。図5において、図1または図2と同一の構成は、同じ番号を付し、説明を省略する。 FIG. 5 is a block diagram showing an example of the configuration of the electronic device according to the third embodiment. In FIG. 5, the electronic device 30 includes a CPU 111, a memory 13, a display device 25, a cooling unit 32, a peripheral device 36, and a temperature sensor 34. 5, the same components as those in FIG. 1 or 2 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

冷却手段32は、周辺デバイス36に発生した熱を電子回路外へ放出させて冷却するため、周辺デバイス36に当接または近接して実装される部材である。例えば冷却手段32は、ヒートシンク、冷却ファン、ヒートパイプまたはペルチェ素子が好適である。また、冷却手段32は、ヒートシンク、冷却ファン、ヒートパイプ及びペルチェ素子を組み合わせたものであってもよい。冷却手段32は、特にヒートシンクと冷却ファンを組み合わせたものが好適である。 The cooling unit 32 is a member mounted in contact with or in proximity to the peripheral device 36 in order to release the heat generated in the peripheral device 36 to the outside of the electronic circuit to cool it. For example, the cooling means 32 is preferably a heat sink, a cooling fan, a heat pipe or a Peltier element. Further, the cooling means 32 may be a combination of a heat sink, a cooling fan, a heat pipe and a Peltier element. The cooling means 32 is preferably a combination of a heat sink and a cooling fan.

周辺デバイス36は、通信デバイスである。例えば、周辺デバイス36は、イーサネット(登録商標)通信用デバイスであってもよい。具体的には、周辺デバイス36は、試験用として送信信号を受信信号に折り返すことで疑似的に通信状態を作り出すループバック機能や、送信信号の振幅を変更する機能を持っていてもよい。通信用の部品は無通信状態に比べて通信状態の方が消費電力は大きく、送信信号の振幅が大きいほど消費電力が大きい。そこでCPU11は、周辺デバイス36の通信機能を有効にすることで、意図的に消費電力を大きくすることができる。例えば、周辺デバイス36は、CPU11とシリアルバスで接続し、CPU111は周辺デバイス36の通信機能を有効にする。 The peripheral device 36 is a communication device. For example, the peripheral device 36 may be an Ethernet (registered trademark) communication device. Specifically, the peripheral device 36 may have a loopback function for artificially creating a communication state by folding a transmission signal back into a reception signal for testing, and a function for changing the amplitude of the transmission signal. The power consumption of the communication component is higher in the communication state than in the non-communication state, and the power consumption increases as the amplitude of the transmission signal increases. Therefore, the CPU 11 can intentionally increase the power consumption by enabling the communication function of the peripheral device 36. For example, the peripheral device 36 is connected to the CPU 11 via a serial bus, and the CPU 111 enables the communication function of the peripheral device 36.

温度センサ34は、周辺デバイス36の温度を計測するセンサである。例えば、温度センサ34は、サーミスタ、熱電対、測温抵抗体のいずれかであってもよい。また例えば、温度センサ34は、CPU111とシリアルバスで接続し、CPU111が、計測した周辺デバイス36の温度を読み取ることできる。 The temperature sensor 34 is a sensor that measures the temperature of the peripheral device 36. For example, the temperature sensor 34 may be any of a thermistor, a thermocouple, and a resistance temperature detector. Further, for example, the temperature sensor 34 can be connected to the CPU 111 via a serial bus, and the CPU 111 can read the measured temperature of the peripheral device 36.

以上の構成により、実施の形態3の電子装置30は、周辺デバイス36の使用率(負荷)を所定の比率以上とする処理を行うことにより周辺デバイス36の温度を上昇させ、周辺デバイス36の温度を測定し、冷却手段32が正常に装着されているかを判断する。 With the above configuration, the electronic apparatus 30 according to the third embodiment raises the temperature of the peripheral device 36 by performing a process of increasing the usage rate (load) of the peripheral device 36 to a predetermined ratio or higher, and Is measured to determine whether the cooling means 32 is properly attached.

次に、冷却手段32が正しく装着されているか否かの判断の処理について説明する。図6は、実施の形態3に係る電子装置の動作の一例を示すフローチャートである。図6において、図4と同一の処理は同じ符番を付し、説明を省略する。 Next, a process of determining whether or not the cooling means 32 is properly attached will be described. FIG. 6 is a flowchart showing an example of the operation of the electronic device according to the third embodiment. 6, the same processes as those in FIG. 4 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

ステップS53において、CPU111は、RAM132から検査プログラムを読み込み、ステップS54に進む。この検査プログラムには、試験用として送信信号を受信信号に折り返すことで疑似的に通信状態を作り出すループバック機能や、送信信号の振幅を変更する機能を周辺デバイス36に実行させるプログラムが含まれている。 In step S53, the CPU 111 reads the inspection program from the RAM 132, and proceeds to step S54. This inspection program includes a program for causing the peripheral device 36 to execute a loopback function for artificially creating a communication state by folding a transmission signal back into a reception signal for testing, and a function for changing the amplitude of the transmission signal. There is.

ステップS54において、CPU111は、検査プログラムを実行し、ステップS55に進む。 In step S54, the CPU 111 executes the inspection program, and proceeds to step S55.

ステップS55において、CPU111は、検査プログラムを実行した状態で所定の時間待ち、ステップS56に進む。例えば、所定の時間は60秒である。 In step S55, the CPU 111 waits for a predetermined time while executing the inspection program, and proceeds to step S56. For example, the predetermined time is 60 seconds.

ステップS56において、CPU111は、温度センサ14の測定した温度を読み込み、ステップS57に進む。 In step S56, the CPU 111 reads the temperature measured by the temperature sensor 14, and proceeds to step S57.

ステップS57において、CPU111は、温度センサ14から読みだした周辺デバイス36の温度Tと、あらかじめ決められた上限温度T(limit)を比較する。ここで、上限温度T(limit)は事前評価によって正常時の温度上昇を確認して決定された閾値である。 In step S57, the CPU 111 compares the temperature T of the peripheral device 36 read from the temperature sensor 14 with a predetermined upper limit temperature T(limit). Here, the upper limit temperature T(limit) is a threshold value determined by confirming the temperature increase in the normal state by the preliminary evaluation.

そして、CPU111の温度Tが上限温度T(limit)以上である場合、ステップS58に進む。また、CPU111の温度Tが上限温度T(limit)未満である場合、ステップS59に進む。 If the temperature T of the CPU 111 is equal to or higher than the upper limit temperature T(limit), the process proceeds to step S58. If the temperature T of the CPU 111 is lower than the upper limit temperature T(limit), the process proceeds to step S59.

ステップS58において、CPU111は、表示デバイス25に異常状態(冷却手段がプロセッサに正常に装着されていない状態)であることを伝えるメッセージを表示させ、ステップS50に進む。 In step S58, the CPU 111 causes the display device 25 to display a message indicating that it is in an abnormal state (a state in which the cooling unit is not normally attached to the processor), and proceeds to step S50.

ステップS59において、CPU111は、表示デバイス25に正常状態(冷却手段がプロセッサに正常に装着されている状態)であることを伝えるメッセージを表示させ、ステップS60に進む。
ステップS60において、CPU111は、検査プログラムを終了させる。
In step S59, the CPU 111 causes the display device 25 to display a message indicating that the display device 25 is in a normal state (a state in which the cooling unit is normally attached to the processor), and proceeds to step S60.
In step S60, the CPU 111 ends the inspection program.

このように、実施の形態3の電子装置、冷却手段装着検出方法及び冷却手段装着検出プログラムによれば、周辺デバイスに対して意図的に消費電力が高くなる設定を行い、所定の時間で処理を行うことにより周辺デバイスの温度を上昇させ、周辺デバイスの温度を測定することにより、所望の放熱効果が得られているかを知ることができ、冷却手段が正常に装着されているかを判断することができる。 As described above, according to the electronic device, the cooling unit mounting detection method, and the cooling unit mounting detection program of the third embodiment, the peripheral device is intentionally set to have higher power consumption, and the processing is performed at a predetermined time. By doing so, the temperature of the peripheral device is raised, and by measuring the temperature of the peripheral device, it is possible to know whether the desired heat radiation effect is obtained, and it is possible to judge whether the cooling means is properly mounted. it can.

なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、CPUの代わりにASIC(application specific integrated circuit)、プログラマブルロジックデバイスまたはFPGA(field-programmable gate array)としてもよい。 The present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, and can be modified as appropriate without departing from the spirit of the present invention. For example, instead of the CPU, an ASIC (application specific integrated circuit), a programmable logic device, or an FPGA (field-programmable gate array) may be used.

なお、上記説明におけるCPUの使用率は、一般にCPUがアイドルスレッドを実行していない時間をCPUがスレッドを実行している時間で除算した比率で定義されるが、CPUのBusy時間をBusy時間とWaiting時間の合計で除算した比率で定義してもよい。また、その他のCPUの使用率で定義されたものであってもよい。 Note that the CPU usage rate in the above description is generally defined as the ratio of the time when the CPU is not executing the idle thread divided by the time when the CPU is executing the thread. The Busy time of the CPU is referred to as the Busy time. You may define with the ratio divided by the total of Waiting time. Further, it may be defined by the usage rate of other CPUs.

また、上述した冷却手段が正常に装着されているかを判断することを実現するプログラムは、様々なタイプの非一時的なコンピュータ可読媒体(non−transitory computer readable medium)を用いて格納され、コンピュータに供給することができる。非一時的なコンピュータ可読媒体は、様々なタイプの実体のある記録媒体(tangible storage medium)を含む。非一時的なコンピュータ可読媒体の例は、磁気記録媒体(例えばフレキシブルディスク、磁気テープ、ハードディスクドライブ)、光磁気記録媒体(例えば光磁気ディスク)、CD−ROM(Read Only Memory)CD−R、CD−R/W、半導体メモリ(例えば、マスクROM、PROM(Programmable ROM)、EPROM(Erasable PROM)、フラッシュROM、RAM(Random Access Memory))を含む。また、プログラムは、様々なタイプの一時的なコンピュータ可読媒体(transitory computer readable medium)によってコンピュータに供給されてもよい。一時的なコンピュータ可読媒体の例は、電気信号、光信号、及び電磁波を含む。一時的なコンピュータ可読媒体は、電線及び光ファイバ等の有線通信路、または無線通信路を介して、プログラムをコンピュータに供給できる。 In addition, the program that realizes whether or not the cooling unit is properly mounted is stored using various types of non-transitory computer readable media, and is stored in the computer. Can be supplied. Non-transitory computer readable media include various types of tangible storage media. Examples of the non-transitory computer-readable medium are magnetic recording media (for example, flexible disk, magnetic tape, hard disk drive), magneto-optical recording media (for example, magneto-optical disk), CD-ROM (Read Only Memory) CD-R, CD. -R/W, semiconductor memory (for example, mask ROM, PROM (Programmable ROM), EPROM (Erasable PROM), flash ROM, RAM (Random Access Memory)) are included. Further, the program may be supplied to the computer by various types of transitory computer readable medium. Examples of transitory computer-readable media include electrical signals, optical signals, and electromagnetic waves. The transitory computer-readable medium can supply the program to the computer via a wired communication path such as an electric wire and an optical fiber, or a wireless communication path.

10、20、30 電子装置
11 プロセッサ
12、32 冷却手段
13 メモリ
14、34 温度センサ
25 表示デバイス
26、36 周辺デバイス
111 CPU
112 熱伝導シート
121 ヒートシンク
131 ROM
132 RAM
10, 20, 30 Electronic device 11 Processor 12, 32 Cooling means 13 Memory 14, 34 Temperature sensor 25 Display device 26, 36 Peripheral device 111 CPU
112 heat conduction sheet 121 heat sink 131 ROM
132 RAM

Claims (8)

プログラムを実行する集積回路を含むプロセッサと、
前記プロセッサに装着され、前記プロセッサを冷却する冷却手段と、
前記プロセッサの温度を計測する温度センサと、
前記プロセッサが実行するプログラムを記憶するメモリと、を備え、
前記プロセッサは、前記プロセッサの使用率を所定の比率以上とする昇温処理を行い、
前記プロセッサは、
前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度未満である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていると判断し、
前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度以上である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていないと判断する、電子装置。
A processor including an integrated circuit for executing a program;
Cooling means attached to the processor for cooling the processor;
A temperature sensor for measuring the temperature of the processor,
A memory that stores a program executed by the processor,
The processor performs a temperature raising process to make the usage rate of the processor equal to or higher than a predetermined ratio,
The processor is
After the temperature raising process, if the temperature of the processor is lower than a predetermined temperature, it is determined that the cooling unit is normally attached to the processor,
An electronic device that determines that the cooling unit is not normally attached to the processor when the temperature of the processor is equal to or higher than a predetermined temperature after the temperature raising process.
前記プロセッサは、所定の時間、前記プロセッサの使用率を100%とするプログラムを実行し、
前記昇温処理後、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されているか否か判断する請求項1に記載の電子装置。
The processor executes a program that sets the usage rate of the processor to 100% for a predetermined time,
The electronic device according to claim 1, wherein after the temperature raising process, it is determined whether the cooling unit is properly attached to the processor.
前記プロセッサは、前記プロセッサが所定の時間、アイドリング時間無しで命令を連続して実行し、
前記昇温処理後、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されているか否か判断する請求項2に記載の電子装置。
The processor executes instructions continuously for a predetermined time without idling time,
The electronic device according to claim 2, wherein after the temperature raising process, it is determined whether the cooling unit is normally attached to the processor.
前記プロセッサの判断結果を表示する表示手段を備える請求項1から3のいずれかに記載の電子装置。 The electronic device according to claim 1, further comprising a display unit that displays a determination result of the processor. 前記プロセッサは、CPU(Central Processing Unit)を備え、
前記冷却手段は、前記CPUに装着され、前記CPUを冷却し、
前記温度センサは、前記CPUの温度を計測する、請求項1から4のいずれかに記載の電子装置。
The processor includes a CPU (Central Processing Unit),
The cooling means is attached to the CPU to cool the CPU,
The electronic device according to claim 1, wherein the temperature sensor measures the temperature of the CPU.
前記プロセッサは、CPU(Central Processing Unit)と通信デバイスを備え、
前記冷却手段は、前記通信デバイスに装着され、前記通信デバイスを冷却し、
前記温度センサは、前記通信デバイスの温度を計測する、請求項1から4のいずれかに記載の電子装置。
The processor includes a CPU (Central Processing Unit) and a communication device,
The cooling means is attached to the communication device to cool the communication device,
The electronic device according to claim 1, wherein the temperature sensor measures a temperature of the communication device.
冷却手段を装着したプロセッサに、前記プロセッサの使用率を所定の比率以上とする昇温処理を実行させ、
前記昇温処理後の前記プロセッサの温度を測定し、
前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度未満である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていると判断し、
前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度以上である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていないと判断する、冷却手段装着検出方法。
A processor equipped with a cooling unit is caused to execute a temperature raising process for making the usage rate of the processor equal to or higher than a predetermined ratio,
Measuring the temperature of the processor after the temperature raising process,
After the temperature raising process, if the temperature of the processor is lower than a predetermined temperature, it is determined that the cooling means is normally attached to the processor,
After the temperature increasing process, if the temperature of the processor is equal to or higher than a predetermined temperature, it is determined that the cooling unit is not normally attached to the processor.
冷却手段を装着したプロセッサに、前記プロセッサの使用率を所定の比率以上とする昇温処理を実行させるステップと、
前記昇温処理後の前記プロセッサの温度を測定するステップと、
前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度未満である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていると判断し、
前記昇温処理後、前記プロセッサの温度が所定の温度以上である場合、前記冷却手段が前記プロセッサに正常に装着されていないと判断するステップとを前記プロセッサに実行させる、冷却手段装着検出プログラム。
A step of causing a processor equipped with a cooling means to perform a temperature raising process for making the usage rate of the processor equal to or higher than a predetermined ratio;
Measuring the temperature of the processor after the temperature raising process,
After the temperature raising process, if the temperature of the processor is lower than a predetermined temperature, it is determined that the cooling means is normally attached to the processor,
After the temperature raising process, if the temperature of the processor is equal to or higher than a predetermined temperature, it is determined that the cooling unit is not normally attached to the processor.
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