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JP2019220812A - Photoelectronic sensor - Google Patents

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良一 田島
Ryoichi Tajima
良一 田島
幸一 立石
Koichi Tateishi
幸一 立石
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Abstract

【課題】モニタ用のフォトダイオードを用いずに、発光ダイオードの温度補正及び発光ダイオードの寿命予測を実施可能とする。【解決手段】光を発光する発光ダイオード1011と、発光ダイオード1011の周辺に配置され、温度及び湿度を検出するMEMSセンサである温湿度センサ104と、温湿度センサ104により検出された温度に基づいて、発光ダイオード1011に対する温度補正を行う温度補正部1052と、温湿度センサ104により検出された温度及び湿度に基づいて、発光ダイオード1011の寿命を予測する寿命予測部1053とを備えた。【選択図】図1An object of the present invention is to perform temperature correction of a light emitting diode and prediction of the life of the light emitting diode without using a monitoring photodiode. A light emitting diode emitting light, a temperature / humidity sensor disposed around the light emitting diode and detecting temperature and humidity, and a temperature detected by the temperature / humidity sensor. A temperature correction unit 1052 for performing temperature correction on the light emitting diode 1011, and a life prediction unit 1053 for predicting the life of the light emitting diode 1011 based on the temperature and humidity detected by the temperature and humidity sensor 104. [Selection diagram] Fig. 1

Description

この発明は、光源を有する光電センサに関する。   The present invention relates to a photoelectric sensor having a light source.

従来から、自動で投光量を制御するAPC(Automatic Power Control)機能を有する光電センサが知られている(例えば特許文献1参照)。このAPC機能により、光源が周囲の温度により劣化した場合でも投光量を一定に制御可能となる。   2. Description of the Related Art Conventionally, a photoelectric sensor having an APC (Automatic Power Control) function of automatically controlling the amount of projected light has been known (for example, see Patent Document 1). With this APC function, even when the light source is deteriorated due to the ambient temperature, the amount of emitted light can be controlled to be constant.

特開2002−217702号公報JP-A-2002-217702

しかしながら、従来のAPC機能を有する光電センサでは、投光量をモニタするためのフォトダイオードが別途必要となる。そして、このモニタ用のフォトダイオードは部品サイズが大きいため、光電センサの小型化に対する妨げとなる。また、APC機能では、光源の温度による劣化は補正できるが、光源の寿命そのものは予測できない。   However, in the conventional photoelectric sensor having the APC function, a photodiode for monitoring the projected light amount is separately required. The monitor photodiode has a large component size, which hinders miniaturization of the photoelectric sensor. Further, the APC function can correct deterioration due to the temperature of the light source, but cannot predict the life of the light source itself.

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたもので、モニタ用のフォトダイオードを用いずに、光源の温度補正及び光源の寿命予測を実施可能な光電センサを提供することを目的としている。   The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and has as its object to provide a photoelectric sensor capable of performing light source temperature correction and light source life estimation without using a monitoring photodiode. And

この発明に係る光電センサは、光を発光する光源と、光源の周辺に配置され、温度及び湿度を検出するMEMSセンサである温湿度センサと、温湿度センサにより検出された温度に基づいて、光源に対する温度補正を行う温度補正部と、温湿度センサにより検出された温度及び湿度に基づいて、光源の寿命を予測する寿命予測部とを備えたことを特徴とする。   A photoelectric sensor according to the present invention includes a light source that emits light, a temperature and humidity sensor that is a MEMS sensor that is disposed around the light source and detects temperature and humidity, and a light source based on the temperature detected by the temperature and humidity sensor. And a life prediction unit for predicting the life of the light source based on the temperature and humidity detected by the temperature and humidity sensor.

この発明によれば、上記のように構成したので、モニタ用のフォトダイオードを用いずに、光源の温度補正及び光源の寿命予測が実施可能である。   According to the present invention, since the configuration is as described above, the temperature correction of the light source and the life expectancy of the light source can be performed without using a photodiode for monitoring.

この発明の実施の形態1に係る光電センサの構成例を示す図である。FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a photoelectric sensor according to Embodiment 1 of the present invention. この発明の実施の形態1における処理部の構成例を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a configuration example of a processing unit according to the first embodiment of the present invention. この発明の実施の形態1における処理部による温度補正及び寿命予測の動作例を示すフローチャートである。5 is a flowchart illustrating an example of an operation of temperature correction and life estimation by a processing unit according to Embodiment 1 of the present invention.

以下、この発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1に係る光電センサの構成例を示す図である。
光電センサは、検出領域を介して光の投受光を行い、その受光結果に基づいて検出領域における物体の有無判定等の各種処理を行う。以下では、光電センサが有する構成のうちの投光側の構成のみを示す。この光電センサは、図1に示すように、投光部101、スイッチ102、リファレンス電圧生成部103、温湿度センサ104、処理部105及び通知部106を備えている。なお、光電センサの種別は特に限定されず、透過型、反射型及びリフレクタ型の何れでもよい。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of a photoelectric sensor according to Embodiment 1 of the present invention.
The photoelectric sensor emits and receives light via the detection area, and performs various processes such as determining the presence or absence of an object in the detection area based on the light reception result. Hereinafter, only the configuration on the light emitting side of the configuration of the photoelectric sensor is shown. As shown in FIG. 1, the photoelectric sensor includes a light projecting unit 101, a switch 102, a reference voltage generating unit 103, a temperature and humidity sensor 104, a processing unit 105, and a notifying unit 106. The type of the photoelectric sensor is not particularly limited, and may be any of a transmission type, a reflection type, and a reflector type.

投光部101は、光を発光して検出領域に投光する。この投光部101は、図1に示すように、発光ダイオード(光源)1011、トランジスタ1012及び抵抗1013を有している。   The light emitting unit 101 emits light and emits the light to the detection area. As shown in FIG. 1, the light emitting unit 101 includes a light emitting diode (light source) 1011, a transistor 1012, and a resistor 1013.

発光ダイオード1011は、光を発光する。この発光ダイオード1011は、アノードに定電圧源(図1に示すVcc)が接続されている。
トランジスタ1012は、コレクタ端子に発光ダイオード1011のカソードが接続されている。
抵抗1013は、一端がトランジスタ1012のエミッタ端子に接続され、他端がグランドに接続されている。
The light emitting diode 1011 emits light. The light emitting diode 1011 has an anode connected to a constant voltage source (Vcc shown in FIG. 1).
The transistor 1012 has a collector terminal connected to the cathode of the light emitting diode 1011.
The resistor 1013 has one end connected to the emitter terminal of the transistor 1012 and the other end connected to the ground.

リファレンス電圧生成部103は、処理部105から入力された信号を増幅する。
スイッチ102は、トランジスタ1012のベース端子をリファレンス電圧生成部103又はグランドと接続する。
The reference voltage generation unit 103 amplifies the signal input from the processing unit 105.
The switch 102 connects the base terminal of the transistor 1012 to the reference voltage generator 103 or the ground.

温湿度センサ104は、発光ダイオード1011の周辺に配置され、温度及び湿度を検出する。この温湿度センサ104は、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)センサである。   The temperature and humidity sensor 104 is arranged around the light emitting diode 1011 and detects temperature and humidity. The temperature and humidity sensor 104 is a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) sensor.

処理部105は、リファレンス電圧生成部103に対して信号を出力し、また、スイッチ102を制御する。また、処理部105は、温湿度センサ104による検出結果に基づいて、発光ダイオード1011に対する温度補正及び寿命予測を行う機能も有している。この処理部105は、上記機能を実現するための構成として、図2に示すように、記録部1051、温度補正部1052及び寿命予測部1053を有している。なお、処理部105は、システムLSI(Large Scale Integration)等の処理回路、又はメモリ等に記憶されたプログラムを実行するCPU(Central Processing Unit)等により実現される。   The processing unit 105 outputs a signal to the reference voltage generation unit 103, and controls the switch 102. In addition, the processing unit 105 has a function of performing temperature correction and life expectancy for the light emitting diode 1011 based on the detection result of the temperature and humidity sensor 104. As shown in FIG. 2, the processing unit 105 includes a recording unit 1051, a temperature correction unit 1052, and a life prediction unit 1053 as a configuration for realizing the above function. The processing unit 105 is realized by a processing circuit such as a system LSI (Large Scale Integration) or a CPU (Central Processing Unit) that executes a program stored in a memory or the like.

記録部1051は、温湿度センサ104による検出結果を記録する。なお、記録部1051は、メモリ等によって構成される。   The recording unit 1051 records the detection result of the temperature and humidity sensor 104. Note that the recording unit 1051 is configured by a memory or the like.

温度補正部1052は、記録部1051に記録されている情報(温度)に基づいて、発光ダイオード1011に対する温度補正を行う。この際、温度補正部1052は、リファレンス電圧生成部103に対して出力する信号に補正値を付加することで、発光ダイオード1011に対する温度補正を行う。   The temperature correction unit 1052 performs temperature correction on the light emitting diode 1011 based on information (temperature) recorded in the recording unit 1051. At this time, the temperature correction unit 1052 performs temperature correction on the light emitting diode 1011 by adding a correction value to a signal output to the reference voltage generation unit 103.

寿命予測部1053は、記録部1051に記録されている情報(温度及び湿度)に基づいて、発光ダイオード1011の寿命を予測する。この際、寿命予測部1053は、アイリングモデルにより発光ダイオード1011の寿命を予測する。   The life prediction unit 1053 predicts the life of the light emitting diode 1011 based on information (temperature and humidity) recorded in the recording unit 1051. At this time, the life prediction unit 1053 predicts the life of the light emitting diode 1011 using an Eyring model.

通知部106は、寿命予測部1053による予測結果を外部に通知する。この際、通知部106は、例えば、寿命予測部1053により予測された寿命をそのまま通知してもよいし、当該寿命が閾値より短くなった場合に通知を行うようにしてもよい。この通知部106としては、例えば、情報を画面上に表示する表示部、情報を音声で通知する音声出力部又は情報を外部装置に送信する通信部等が挙げられる。   The notification unit 106 notifies the prediction result by the life prediction unit 1053 to the outside. At this time, the notification unit 106 may, for example, notify the lifetime predicted by the lifetime prediction unit 1053 as it is, or may notify when the lifetime becomes shorter than the threshold. Examples of the notification unit 106 include a display unit that displays information on a screen, a voice output unit that notifies information by voice, and a communication unit that transmits information to an external device.

次に、実施の形態1における処理部105による温度補正及び寿命予測の動作例について、図3を参照しながら説明する。なお、温湿度センサ104は発光ダイオード1011の周辺の温度及び湿度を検出し、記録部1051は温湿度センサ104による検出結果を記録しているものとする。
実施の形態1における処理部105による温度補正及び寿命予測の動作例では、図3に示すように、まず、温度補正部1052は、記録部1051に記録されている情報(温度)に基づいて、発光ダイオード1011に対する温度補正を行う(ステップST1)。この温度補正部1052による温度補正の処理内容は、従来の光電センサにおける処理と同様であり、その詳細については説明を省略する。
Next, an operation example of temperature correction and life prediction by the processing unit 105 according to the first embodiment will be described with reference to FIG. Note that the temperature and humidity sensor 104 detects the temperature and humidity around the light emitting diode 1011, and the recording unit 1051 records the detection result by the temperature and humidity sensor 104.
In the operation example of the temperature correction and the life prediction by the processing unit 105 according to the first embodiment, as shown in FIG. 3, first, the temperature correction unit 1052 Temperature correction is performed on the light emitting diode 1011 (step ST1). The processing content of the temperature correction by the temperature correction unit 1052 is the same as the processing in the conventional photoelectric sensor, and the detailed description thereof will be omitted.

また、寿命予測部1053は、記録部1051に記録されている情報(温度及び湿度)に基づいて、発光ダイオード1011の寿命を予測する(ステップST2)。この際、寿命予測部1053は、下式(1)に示すアイリングモデルに基づいて、発光ダイオード1011の寿命を予測する。式(1)において、Lは発光ダイオード1011の寿命を表し、Aは定数を表し、Eは活性化エネルギーを表し、kはボルツマン定数を表し、Tは温度(絶対温度)を表し、βは定数を表し、RHは湿度(相対湿度)を表す。なお、A,E,k,βは既知である。また、A,βは、光電センサの設計後、温度及び湿度を変化させながら寿命を実測することで得られる。
L=A・exp(E/k・T)・exp(β/RH) (1)
Further, the life prediction unit 1053 predicts the life of the light emitting diode 1011 based on the information (temperature and humidity) recorded in the recording unit 1051 (step ST2). At this time, the life prediction unit 1053 predicts the life of the light emitting diode 1011 based on the Eyring model shown in the following equation (1). In formula (1), L represents a lifetime of the light-emitting diode 1011, A represents a constant, E a represents an activation energy, k b represents a Boltzmann constant, T represents the temperature (absolute temperature), beta Represents a constant, and RH represents humidity (relative humidity). Note that A, E a , k b , and β are known. A and β can be obtained by actually measuring the lifetime while changing the temperature and the humidity after designing the photoelectric sensor.
L = A · exp (E a / k b · T) · exp (β / RH) (1)

近年、MEMS技術により温湿度センサの小型化及び高性能化が進んでいる。そこで、実施の形態1に係る光電センサでは、従来のモニタ用のフォトダイオードに代えて、MEMSセンサである温湿度センサ104を発光ダイオード1011の周辺に配置している。よって、実施の形態1に係る光電センサは、小型化の要求を満たしつつ、温湿度センサ104による検出結果に基づいて発光ダイオード1011に対する温度補正を実施可能となる。   In recent years, the miniaturization and high performance of temperature and humidity sensors have been advanced by MEMS technology. Therefore, in the photoelectric sensor according to the first embodiment, the temperature and humidity sensor 104, which is a MEMS sensor, is arranged around the light emitting diode 1011 instead of the conventional monitoring photodiode. Therefore, the photoelectric sensor according to the first embodiment can perform the temperature correction on the light emitting diode 1011 based on the detection result of the temperature and humidity sensor 104 while satisfying the demand for miniaturization.

また、発光ダイオードの寿命は周辺の温度及び湿度によって変動する。これに対し、実施の形態1に係る光電センサでは、上記のように、MEMSセンサである温湿度センサ104を発光ダイオード1011の周辺に配置している。よって、実施の形態1に係る光電センサは、発光ダイオード1011に対する温度補正に加え、温湿度センサ104による検出結果に基づいて発光ダイオード1011の大まかな寿命予測も実施可能となる。   Further, the life of the light emitting diode varies depending on the surrounding temperature and humidity. On the other hand, in the photoelectric sensor according to the first embodiment, the temperature and humidity sensor 104, which is a MEMS sensor, is disposed around the light emitting diode 1011 as described above. Therefore, the photoelectric sensor according to the first embodiment can perform rough life estimation of the light emitting diode 1011 based on the detection result of the temperature and humidity sensor 104 in addition to the temperature correction for the light emitting diode 1011.

また、実施の形態1に係る光電センサにおいて、加速度を検出する加速度センサ(MEMSセンサ)を用いて、光電センサの機械的寿命を予測してもよい。この場合、加速度センサは、発光ダイオード1011を含む光電センサが有する各部が収納された筐体内に設けられる。また、記録部1051は、加速度センサによる検出結果も記録する。そして、寿命予測部1053は、記録部1051に記録されている情報(加速度)に基づいて、光電センサの機械的寿命を予測する。例えば、加速度センサが発光ダイオード1011の周辺に配置されている場合、寿命予測部1053は、発光ダイオード1011と当該発光ダイオード1011が実装された基板との間のはんだ部分等の劣化具合を予測可能となる。   Further, in the photoelectric sensor according to Embodiment 1, the mechanical life of the photoelectric sensor may be predicted using an acceleration sensor (MEMS sensor) that detects acceleration. In this case, the acceleration sensor is provided in a housing in which each part of the photoelectric sensor including the light-emitting diode 1011 is housed. The recording unit 1051 also records the detection result obtained by the acceleration sensor. Then, the life prediction unit 1053 predicts the mechanical life of the photoelectric sensor based on the information (acceleration) recorded in the recording unit 1051. For example, when the acceleration sensor is disposed around the light emitting diode 1011, the life estimation unit 1053 can predict the degree of deterioration of a solder portion or the like between the light emitting diode 1011 and the board on which the light emitting diode 1011 is mounted. Become.

また、実施の形態1に係る光電センサは、光電センサが周期的な振動を伴う装置に組込まれる場合、振動を検出する振動センサ(MEMSセンサ)を用いて、受光側の受光量データを補正してもよい。   In addition, when the photoelectric sensor according to the first embodiment is incorporated in a device that has periodic vibration, the photoelectric sensor on the light receiving side is corrected using a vibration sensor (MEMS sensor) that detects vibration. You may.

また、上記のような各種のMEMSセンサにより得られる情報(温度、湿度、加速度又は振動)は、産業界で近年盛んに行われているデジタルツイン又はサイバーフィジカルシステムといった取組みにおいても有用であると考えられる。すなわち、これらの取組みでは現実に即した挙動を示す物理モデルを装置毎に定義することが不可欠である。そして、物理モデルを定義する上で、装置の一部となる光電センサに上記のMEMSセンサを予め取付けることで、別途センサを用いることなく装置の局所的な周囲条件を扱うことが可能となるためである。   Information (temperature, humidity, acceleration, or vibration) obtained by the various MEMS sensors described above is considered to be useful in initiatives such as digital twin or cyber-physical systems that have been actively performed in recent years in the industry. Can be That is, in these approaches, it is indispensable to define a physical model that shows a behavior in accordance with reality for each device. Then, in defining the physical model, by attaching the above-mentioned MEMS sensor in advance to the photoelectric sensor that is a part of the device, it becomes possible to handle local ambient conditions of the device without using a separate sensor. It is.

以上のように、この実施の形態1によれば、光電センサは、光を発光する発光ダイオード1011と、発光ダイオード1011の周辺に配置され、温度及び湿度を検出するMEMSセンサである温湿度センサ104と、温湿度センサ104により検出された温度に基づいて、発光ダイオード1011に対する温度補正を行う温度補正部1052と、温湿度センサ104により検出された温度及び湿度に基づいて、発光ダイオード1011の寿命を予測する寿命予測部1053とを備えた。これにより、実施の形態1に係る光電センサは、モニタ用のフォトダイオードを用いずに、発光ダイオード1011の温度補正及び発光ダイオード1011の寿命予測が実施可能である。   As described above, according to the first embodiment, the photoelectric sensor includes the light emitting diode 1011 that emits light and the temperature and humidity sensor 104 that is disposed around the light emitting diode 1011 and is a MEMS sensor that detects temperature and humidity. And a temperature correction unit 1052 that performs temperature correction on the light emitting diode 1011 based on the temperature detected by the temperature and humidity sensor 104, and calculates the lifetime of the light emitting diode 1011 based on the temperature and humidity detected by the temperature and humidity sensor 104. And a life prediction unit 1053 for predicting the life. Accordingly, the photoelectric sensor according to the first embodiment can perform temperature correction of the light emitting diode 1011 and life expectancy of the light emitting diode 1011 without using a monitoring photodiode.

なお、本願発明はその発明の範囲内において、実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。   Note that, in the present invention, within the scope of the invention, any constituent element of the embodiment can be modified or any constituent element of the embodiment can be omitted.

101 投光部
102 スイッチ
103 リファレンス電圧生成部
104 温湿度センサ
105 処理部
106 通知部
1011 発光ダイオード(光源)
1012 トランジスタ
1013 抵抗
1051 記録部
1052 温度補正部
1053 寿命予測部
101 Light Projection Unit 102 Switch 103 Reference Voltage Generation Unit 104 Temperature and Humidity Sensor 105 Processing Unit 106 Notification Unit 1011 Light Emitting Diode (Light Source)
1012 Transistor 1013 Resistance 1051 Recording unit 1052 Temperature correction unit 1053 Life expectancy unit

Claims (3)

光を発光する光源と、
前記光源の周辺に配置され、温度及び湿度を検出するMEMSセンサである温湿度センサと、
前記温湿度センサにより検出された温度に基づいて、前記光源に対する温度補正を行う温度補正部と、
前記温湿度センサにより検出された温度及び湿度に基づいて、前記光源の寿命を予測する寿命予測部と
を備えた光電センサ。
A light source that emits light,
A temperature / humidity sensor that is a MEMS sensor that is arranged around the light source and detects temperature and humidity;
Based on the temperature detected by the temperature and humidity sensor, a temperature correction unit that performs temperature correction on the light source,
A lifetime prediction unit configured to predict the lifetime of the light source based on the temperature and humidity detected by the temperature and humidity sensor.
前記寿命予測部は、アイリングモデルにより前記光源の寿命を予測する
ことを特徴とする請求項1記載の光電センサ。
The photoelectric sensor according to claim 1, wherein the life prediction unit predicts a life of the light source using an Eyring model.
前記光源を含む自機が有する各部が収納された筐体と、
前記筐体内に配置され、加速度を検出するMEMSセンサである加速度センサとを備え、
前記寿命予測部は、前記加速度センサにより検出された加速度に基づいて、自機の機械的寿命を予測する
ことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の光電センサ。
A housing in which each unit of the own device including the light source is stored,
An acceleration sensor that is arranged in the housing and is a MEMS sensor that detects acceleration;
3. The photoelectric sensor according to claim 1, wherein the life predicting unit predicts a mechanical life of the own device based on the acceleration detected by the acceleration sensor. 4.
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