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JP2019021671A - パワーモジュール - Google Patents

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JP2019021671A JP2017136132A JP2017136132A JP2019021671A JP 2019021671 A JP2019021671 A JP 2019021671A JP 2017136132 A JP2017136132 A JP 2017136132A JP 2017136132 A JP2017136132 A JP 2017136132A JP 2019021671 A JP2019021671 A JP 2019021671A
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Abstract

【課題】パワーモジュールのサイズを小型化する。【解決手段】複数の第1パワー半導体素子14は、第1ベースプレート11と第1天板51との間に設けられている。複数の第1押圧部材15は、複数の第1パワー半導体素子14の各々と第1天板51との間に設けられ、かつ複数の第1パワー半導体素子14と圧接されている。第1ケース13は、第1ベースプレート11上に設けられ、かつ複数の第1パワー半導体素子14を取り囲んでいる。第1金属配線16は、平面視において複数の第1パワー半導体素子14を取り囲み、かつ第1ケース13に設けられている。第1金属リード17は、第1金属配線16と連なり、かつ第1ケース13の内側に向かって延在している。複数の第1パワー半導体素子14の各々は、第1電極41を含む。第1電極41は、第1金属リード17によって第1金属配線16と接続されている。【選択図】図1

Description

本発明は、パワーモジュールに関し、特定的には、圧力接触型の電力用半導体装置に関する。
高電圧および大電流に対応する目的で通電経路を素子の縦方向としたタイプの半導体素子は、一般的にパワー半導体素子(例えばIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)、バイポーラトランジスタ、ダイオードなど)と呼ばれている。パワー半導体素子が回路基板上に実装され、パッケージングされたパワーモジュールは、産業機器、自動車または鉄道など、幅広い分野において用いられている。適用機器の高性能化、適用範囲の拡大に伴い、パワーモジュールの高性能化、高信頼性化への要求が高まってきている。
近年、圧力接触を用いてパッケージされた圧力接触型のパワーモジュール半導体装置などについて様々な技術が提案されている。例えば特許文献1(国際公開WO2002/097883号)には、1つの導電性ベースプレートと、1つの導電性カバープレートと、複数の固定モジュールハウジング要素と、複数の半導体チップとを有する圧力接触型の高出力半導体モジュールが開示されている。
国際公開WO2002/097883号
特許文献1においては、半導体素子の下面は、第1電極を介してベースプレートに接続されている。半導体素子の上面は、第2電極によってフレキシブルで圧縮可能な複数の接触要素を介してカバープレートに接続されている。また半導体素子及び接触要素は、ポリアミド樹脂で形成されたサブモジュールハウジング要素によって誘導されている。
特許文献1に記載の高出力半導体モジュールでは、予備テストされた複数個のサブモジールが1つのモジュールハウジング要素内に並列に配置される。半導体素子である集積ゲートバイポーラトランジスタのゲート電極が、ワイヤーボンド接触を通じて、半導体素子の側方に配置されたゲートランナーに接続されることによって、1本の共有のゲート信号導体に集められている。ゲート信号導体は、モジュールのカバー上に取り付けられた共通のゲートを通じて、外部との電気的なやり取りが可能となっていると予測される。
上記の構造では、半導体素子のゲート電極は、ワイヤーボンド接触を通じて、半導体素子間に配置されたゲートランナーに接続される。そのため、ゲートランナーの配線分だけベースプレートの面積が大きくなり、小型化に適さないという問題がある。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたもので、パワーモジュールのサイズを小型化することを目的とする。
本発明に係るパワーモジュールは、第1ベースプレートと、第1天板と、複数の第1パワー半導体素子と、複数の第1押圧部材と、第1ケースと、第1金属配線と、第1金属リードとを有している。第1天板は、第1ベースプレートに対向して設けられている。複数の第1パワー半導体素子は、第1ベースプレートと第1天板との間に設けられている。複数の第1押圧部材は、複数の第1パワー半導体素子の各々と第1天板との間に設けられ、かつ複数の第1パワー半導体素子と圧接されている。第1ケースは、第1ベースプレート上に設けられ、かつ複数の第1パワー半導体素子を取り囲んでいる。第1金属配線は、平面視において複数の第1パワー半導体素子を取り囲み、かつ第1ケースに設けられている。第1金属リードは、第1金属配線と連なり、かつ第1ケースの内側に向かって延在している。複数の第1パワー半導体素子の各々は、第1電極を含む。第1電極は、第1金属リードによって第1金属配線と接続されている。
本発明に係るパワーモジュールによれば、第1金属配線は、平面視において複数の第1パワー半導体素子を取り囲み、かつ第1ケースに設けられている。第1金属リードは、第1金属配線と連なり、かつ第1ケースの内側に向かって延在している。複数の第1パワー半導体素子の各々の第1電極は、第1金属リードによって第1金属配線と接続されている。そのため、複数の第1パワー半導体素子の各々の間にゲートランナーを設ける必要がない。従って、パワーモジュールのサイズを小型化することができる。
本発明の実施の形態1によるパワーモジュールを示す平面透視模式図である。図1においては、押圧部材と、天板と、配線押さえ部とは省略されている。図1においては、第1金属配線、第2金属配線、第1金属リード、第2金属リードおよび第1接続配線は実線で示され、第3金属配線、第4金属配線、第3金属リード、第4金属リード、第2接続配線および第3接続配線は破線で示されている。 本発明の実施の形態1によるパワーモジュールを示す平面透視模式図である。図2においては、押圧部材と、天板と、配線押さえ部とは省略されている。図2においては、第1金属配線、第2金属配線、第1金属リード、第2金属リードおよび第1接続配線は破線で示され、第3金属配線、第4金属配線、第3金属リード、第4金属リード、第2接続配線および第3接続配線は実線で示されている。 図2のIII−III線に沿った一部断面模式図である。 本発明の実施の形態1によるパワーモジュールの自己消弧型半導体素子の接続部を示す拡大断面模式図である。 本発明の実施の形態2によるパワーモジュールの自己消弧型半導体素子の接続部を示す拡大断面模式図であり、実施の形態1の図4の領域に対応する。 本発明の実施の形態3によるパワーモジュール半導体装置を示す平面透視模式図である。図6においては、押圧部材と、天板と、配線押さえ部とは省略されている。図6においては、第1金属配線、第2金属配線、第1金属リード、第2金属リードおよび第1接続配線は実線で示され、第3金属リードおよび第4金属リードは破線で示されている。 本発明の実施の形態3によるパワーモジュール半導体装置を示す平面透視模式図である。図7においては、押圧部材と、天板と、配線押さえ部とは省略されている。図7においては、第3金属配線、第4金属配線、第3金属リード、第4金属リード、第5接続配線および第6接続配線は実線で示され、第1金属リードおよび第2金属リードは破線で示されている。 図6のVIII−VIII線に沿った断面模式図である。 本発明の実施の形態3によるパワーモジュール半導体装置の自己消弧型半導体素子の接続部の変形例を示す拡大断面模式図である。 本発明の実施の形態3によるパワーモジュール半導体装置の金属配線および外部端子を示す拡大断面模式図である。
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態について説明する。なお、以下の図面において同一または相当する部分には同一の参照番号を付しその説明は繰返さない。
実施の形態1.
まず、本発明の実施の形態1によるパワーモジュールの構成について説明する。図1および図2は、本発明の実施の形態1によるパワーモジュールを示す平面透視模式図である。図1および図2においては、押圧部材と、天板と、配線押さえ部とは省略されている。図1においては、第1金属配線、第2金属配線、第1金属リード、第2金属リードおよび第1接続配線は実線で示され、第3金属配線、第4金属配線、第3金属リード、第4金属リード、第2接続配線および第3接続配線は破線で示されている。図2においては、第1金属配線、第2金属配線、第1金属リード、第2金属リードおよび第1接続配線は破線で示され、第3金属配線、第4金属配線、第3金属リード、第4金属リード、第2接続配線および第3接続配線は実線で示されている。図3は、図2のIII−III線に沿った一部断面模式図である。図4は、本発明の実施の形態1によるパワーモジュールの自己消弧型半導体素子の接続部を示す拡大断面模式図である。
図1および図2に示されるように、実施の形態1に係るパワーモジュール100は、例えば複数のコアモジュール200を有している。コアモジュール200は、例えば縦方向及び横方向に2つずつ配列されている。コアモジュール200の数は、例えば4個である。コアモジュール200の数は、特に限定されないが、例えば2個以上である。コアモジュール200の平面形状は、例えば略四角形である。コアモジュール200の平面形状は、特に限定されないが、例えば丸形状であってもよい。
複数のコアモジュール200の各々には、例えば、複数のパワー半導体素子14、24と、複数のダイオード12、22とが設けられている。パワー半導体素子は、同一平面においてダイオードと隣接している。複数のコアモジュール200の各々においては、例えば5個のパワー半導体素子及び4個のダイオードが、3×3のマトリクス状に配設されている。パワー半導体素子の数およびダイオードの数は、特に限定されない。パワー半導体素子14、24は、自己消弧型半導体素子である。自己消弧型半導体素子には、例えば、MOSFETまたはIGBTなどが適用される。ダイオード12、22には、例えば、SBD(Schottky Barrier Diode)またはPNダイオードなどが適用される。
図1、図2および図3に示されるように、複数のコアモジュール200は、例えば第1ベースプレート11(第1内ベースプレート)と、第1天板51と、第1パワー半導体素子14と、第1ダイオード12と、第1押圧部材15と、第1ケース13(第1内ケース)と、第1金属配線16と、第1金属リード17と、第3金属配線18と、第3金属リード19とを主に有している。第1天板51は、第1ベースプレート11に対向して設けられている。複数の第1パワー半導体素子14の各々は、第1ベースプレート11と第1天板51との間に設けられている。複数の第1押圧部材15の各々は、複数の第1パワー半導体素子14の各々と第1天板51との間に設けられている。複数の第1押圧部材15の各々は、複数の第1パワー半導体素子14に圧接されている。
第1ケース13は、第1ベースプレート11上に設けられている。第1ケース13は、複数の第1パワー半導体素子14および複数の第1ダイオード12を取り囲んでいる。第1金属配線16は、第1ケース13に設けられている。図1に示されるように、平面視(第1天板51から第1ベースプレート11に向かう方向から見た場合)おいて、第1金属配線16は、複数の第1パワー半導体素子14および複数の第1ダイオード12を取り囲んでいる。第1金属リード17は、第1金属配線16と連なっている。第1金属リード17は、第1ケース13の内側に向かって延在する。図2に示されるように、平面視おいて、第3金属配線18は、複数の第1パワー半導体素子14および複数の第1ダイオード12を取り囲んでいる。平面視おいて、第3金属配線18は、第1金属配線16を取り囲んでいてもよい。第3金属リード19は、第3金属配線18と連なっている。第3金属リード19は、第1ケース13の内側に向かって延在する。
同様に、複数のコアモジュール200は、例えば第2ベースプレート21(第2内ベースプレート)と、第2天板52と、第2パワー半導体素子24と、第2ダイオード22と、第2押圧部材25と、第2ケース23(第2内ケース)と、第2金属配線26と、第2金属リード27と、第4金属配線28と、第4金属リード29とを有していてもよい。図3に示されるように、第2ベースプレート21は、第1ベースプレート11の隣に位置している。第2天板52は、第2ベースプレート21に対向して設けられている。複数の第2パワー半導体素子24は、第2ベースプレート21と第2天板52との間に設けられている。複数の第2押圧部材25は、複数の第2パワー半導体素子24の各々と第2天板52との間に設けられている。複数の第2押圧部材25は、複数の第2パワー半導体素子24に圧接されている。
第2ケース23は、第2ベースプレート21上に設けられている。第2ケース23は、複数の第2パワー半導体素子24および複数のダイオードを取り囲んでいる。第2金属配線26は、第2ケース23に設けられている。図1に示されるように、平面視において、第2金属配線26は、複数の第2パワー半導体素子24および複数のダイオードを取り囲んでいる。第2金属リード27は、第2金属配線26と連なっている。第2金属リード27は、第2ケース23の内側に向かって延在する。図2に示されるように、平面視おいて、第4金属配線28は、複数の第2パワー半導体素子24および複数のダイオードを取り囲んでいる。平面視おいて、第4金属配線28は、第2金属配線26を取り囲んでいてもよい。第4金属リード29は、第4金属配線28と連なっている。第4金属リード29は、第2ケース23の内側に向かって延在する。
図1、図2および図3に示されるように、パワーモジュール100は、第3ベースプレート2(外ベースプレート)と、第3ケース8(外ケース)と、第1接続配線31と、第2接続配線32と、第3接続配線33とをさらに有していてもよい。第3ベースプレート2は、第1ベースプレート11および第2ベースプレート21の双方を支持する。つまり、第1ベースプレート11および第2ベースプレート21は、第3ベースプレート2上に設けられている。第3ケース8は、第3ベースプレート2上に設けられている。第3ケース8は、第1ケース13および第2ケース23の双方を取り囲んでいる。
図3に示されるように、第1ベースプレート11上には、複数の第1金属ブロック10が配置されている。複数の第1金属ブロック10の各々の上には、第1パワー半導体素子14およびダイオード12のいずれかが配置されている。図4に示されるように、第1パワー半導体素子14は、例えば第5電極45を有している。第5電極45上には、第1押圧部材15が配置されている。第1押圧部材15の上には、第1天板51が配置されている。第1天板51が第1押圧部材15を上方から押さえる事により、第1押圧部材15と、第1パワー半導体素子14の第5電極45とが圧接される。第1天板51は、第1押圧部材15および第1パワー半導体素子14を介して、第1ベースプレート11および第3ベースプレート2と電気的に接続されていてもよい。
図3に示されるように、第2ベースプレート21上には、複数の第2金属ブロック20が配置されている。複数の第2金属ブロック20の各々の上には、第2パワー半導体素子24およびダイオード22のいずれかが配置されている。第2パワー半導体素子24は、例えば第6電極(図示せず)を有している。第6電極上には、第2押圧部材25が配置されている。第2押圧部材25の上には、第2天板52が配置されている。第2天板52が第2押圧部材25を上方から押さえる事により、第2押圧部材25と、第2パワー半導体素子24の第6電極とが圧接される。第2天板52は、第2押圧部材25および第2パワー半導体素子24を介して、第2ベースプレート21および第3ベースプレート2と電気的に接続されていてもよい。
第1ベースプレート11は、例えば半田などの金属接合材料を用いて、第1金属ブロック10と接合されている。同様に、第2ベースプレート21は、例えば半田などの金属接合材料を用いて、第2金属ブロック20と接合されている。第1パワー半導体素子14およびダイオード12の各々は、例えば半田などの金属接合材料を用いて、第1金属ブロック10と接合されている。同様に、第2パワー半導体素子24およびダイオード22の各々は、例えば半田などの金属接合材料を用いて、第2金属ブロック20と接合されている。代替的に、焼結銀または導電性接着剤を用いて、上記各部材同士が接合されてもよい。代替的に、液槽拡散接合技術を用いて、上記各部材同士が接合されてもよい。また、上記の各々は説明どおりに金属間接合されていてもよいが、接合材を用いずに接触により電気的に導通されていてもよい。
第1押圧部材15および第2押圧部材25は、例えば内部にバネが配置されている。第1押圧部材15および第2押圧部材25は、例えば上下方向に伸び縮みする部材である。第1押圧部材15および第2押圧部材25を構成する材料は、例えば、銅、アルミニウム、モリブデンなどの金属である。第1押圧部材15および第2押圧部材25を構成する材料として、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂成型物またはセラミック板を加工した材料が用いられてもよい。熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂成型物を用いることにより、低コスト化が可能になる。金属を用いることにより、第1押圧部材15と第1天板51との一体成型および第2押圧部材25と第2天板52との一体成型が可能となる。結果として、低コスト化が可能となる。
複数の第1パワー半導体素子14の各々は、例えば、第1電極41と、第3電極43とをさらに有している。図1に示されるように、第1電極41は、第1金属リード17によって第1金属配線16と接続されている。図2に示されるように、第3電極43は、第3金属リード19によって第3金属配線18と接続されている。複数の第2パワー半導体素子24の各々は、例えば、第2電極42と、第4電極44とをさらに有している。図1に示されるように、第2電極42は、第2金属リード27によって第2金属配線26と接続されている。図2に示されるように、第4電極44は、第4金属リード29によって第4金属配線28と接続されている。
第1金属リード17、第2金属リード27、第3金属リード19および第4金属リード29は、各々、第1金属配線16、第2金属配線26、第3金属配線18および第4金属配線28から取り出されている。第1金属リード17、第2金属リード27、第3金属リード19および第4金属リード29は、各々、自身の弾性力により、第1電極41、第2電極42、第3電極43および第4電極44に圧接されていてもよい。代替的に、第1金属リード17、第2金属リード27、第3金属リード19および第4金属リード29は、各々、半田等の金属材料または導電性接着材を用いて、第1電極41、第2電極42、第3電極43および第4電極44と接合されていてもよい。第1金属リード17、第2金属リード27、第3金属リード19および第4金属リード29は、各々、板状物であり、各々の線幅は、例えば0.5mm以上1mm以下である。第1金属リード17、第2金属リード27、第3金属リード19および第4金属リード29の各々の材料は、例えば銅、ステンレスまたは鉄系材料である。これにより、0.1〜0.5mmの細いアルミニウム合金製の線材であるボンディングワイヤを用いる場合と比較して、長期信頼性試験での断線を抑制することができるため、電気的な接続信頼性が向上する。また、第1金属リード17、第2金属リード27、第3金属リード19および第4金属リード29は、各々の線幅が、例えば0.1mm以上0.5mm以下であってもよい。この場合においても、上記の各々は、例えば銅、ステンレスまたは鉄系材料の板状物であるので、アルミニウム合金製の線材であるボンディングワイヤを用いる場合と比較して、長期信頼性試験での断線を抑制することができるため、電気的な接続信頼性が向上する。
図1および図3に示されるように、第1接続配線31は、第1金属配線16と第2金属配線26とを繋いでいる。第1接続配線31は、隣り合う2つのコアモジュール200の間に配置されている。図1に示されるように、第1接続配線31は、第3ケース8を横切るように配置され、第3ケース8の外側に外部接続端子として取り出されている。図2に示されるように、第2接続配線32は、第3金属配線18と接続されている。図3に示されるように、第2接続配線32は、第1ケース13から第3ケース8に跨がるように配置されている。第2接続配線32は、第1ケース13および第3ケース8の上に配置されている。同様に、第2接続配線32は、第4金属配線28と接続されている。図3に示されるように、第2接続配線32は、第2ケース23から第3ケース8に跨がるように配置されている。第2接続配線32は、第2ケース23および第3ケース8の上に配置されている。
平面視において、第3接続配線33は、例えば、全てのコアモジュール200を取り囲むように配置されている。平面視において、第3接続配線33は、例えば、第1金属配線16、第2金属配線26、第3金属配線18および第4金属配線28の外側に配置されていてもよい。第3接続配線33は、第3ケース8の外側に外部接続端子として取り出されている。図3に示されるように、第1接続配線31上には、例えば配線押さえ部9が配置されている。配線押さえ部9により、第1接続配線31を押さえこむことにより、第1金属配線16および第2金属配線26の各々との電気的な接続を取ってもよい。同様に、配線押さえ部9により、第2接続配線32を押さえこむことにより、第3金属配線18と第2接続配線32との電気的な接続を取ってもよい。
第1金属配線16、第2金属配線26、第3金属配線18、第4金属配線28、第1接続配線31、第2接続配線32および第3接続配線33の各々は、例えば、銅、ステンレスまたは鉄系の材料により構成されている。第1金属配線16、第2金属配線26、第3金属配線18、第4金属配線28、第1接続配線31、第2接続配線32および第3接続配線33の各々は、例えば板状配線である。平面視において、第1金属配線16および第2金属配線26の線幅は、第1接続配線31の線幅よりも小さくてもよい。平面視において、第3金属配線18および第4金属配線28の線幅は、第2接続配線32および第3接続配線33の線幅よりも小さくてもよい。
第1ケース13、第2ケース23および第3ケース8の各々の材料は、例えば、PPS(Polyphenylenesulfide)樹脂やPBT(Polybutyleneterephthalate)樹脂である。コアモジュール200の内部には、絶縁を目的としてガスを封入してもよい。ガスの種類としては、例えばSF6、N2、CO2または乾燥空気などが使用できる。特にSF6ガスは絶縁性能が良いため、高い絶縁性能が要求される場合はSF6ガスを使用することが望ましい。コアモジュール200の内部に、封止樹脂を封入してもよい。封止樹脂の材料は、例えばシリコーンゲルである。自己消弧型半導体素子の上部まで封止する場合には、封止樹脂としてエポキシ樹脂などが使用できる。配線押さえ部9の材料は、第1ケース13、第2ケース23および第3ケース8と同様、PPS樹脂またはPBT樹脂であってもよい。金属配線と接続配線との接続性を考慮すると、配線押さえ部9の材料は、ゴム材のような弾性材料が望ましい。その場合、接続配線は、予め配線押さえ部9に取り付けられた金属プレートであってもよい。代替的に、接続配線は、配線押さえ部9の表面に金属蒸着でパターニングされた金属配線であってもよい。
図3および図4に示されるように、第1金属配線16は、例えば第1ケース13の内部に配置されていてもよい。第1金属配線16は、例えば第1ケース13の内壁にインサート形成されている。同様に、第3金属配線18は、例えば第1ケース13の内部に配置されていてもよい。第3金属配線18は、例えば第1ケース13の内壁にインサート形成されている。第2金属配線26は、例えば第2ケース23の内部に配置されていてもよい。第2金属配線26は、例えば第2ケース23の内壁にインサート形成されている。同様に、第4金属配線28は、例えば第2ケース23の内部に配置されていてもよい。第4金属配線28は、例えば第2ケース23の内壁にインサート形成されている。
次に、実施の形態1に係るパワーモジュール100の作用効果について説明する。
実施の形態1に係るパワーモジュール100は、第1ベースプレート11と、第1天板51と、複数の第1パワー半導体素子14と、複数の第1押圧部材15と、第1ケース13と、第1金属配線16と、第1金属リード17とを有している。第1金属配線16は、平面視において複数の第1パワー半導体素子14を取り囲み、かつ第1ケース13に設けられている。複数の第1パワー半導体素子14の各々は、第1電極41を含む。第1電極41は、第1金属リード17によって第1金属配線16と接続されている。これにより、第1パワー半導体素子14からの信号を、第1金属リード17および第1金属配線16を経由して、外部に取り出すことができる。そのため、複数の第1パワー半導体素子14間にワイヤやゲートランナーを設ける必要がなく、パワーモジュールのサイズを小型化することができる。
また実施の形態1に係るパワーモジュール100によれば、第1金属配線16は、第1ケース13の内部に配置されている。これにより、パワーモジュールのサイズを効果的に小型化することができる。
さらに実施の形態1に係るパワーモジュール100は、第2ベースプレート21と、第2天板52と、複数の第2パワー半導体素子24と、複数の第2押圧部材25と、第2ケース23と、第2金属配線26と、第2金属リード27と、第1接続配線31とを有している。第2金属配線26は、平面視において複数の第2パワー半導体素子24を取り囲み、かつ第2ケース23に設けられている。第1接続配線31は、第1金属配線16と第2金属配線26とを繋いでいる。これにより、パワーモジュール100のサイズを小型化しつつ、複数のコアモジュール200同士を接続することが可能となる。
さらに実施の形態1に係るパワーモジュール100によれば、第3ベースプレート2と、第3ケース8と、第2接続配線32とを有している。第3ベースプレート2は、第1ベースプレート11および第2ベースプレート21の双方を支持している。第3ケース8は、第3ベースプレート2上に設けられ、第1ケース13および第2ケース23の双方を取り囲んでいる。第2接続配線32は、第1ケース13から第3ケース8に跨がるように配置されている。これにより、パワーモジュール100のサイズを小型化しつつ、信号を外部に取り出すことができる。
実施の形態2.
次に、本発明の実施の形態2に係るパワーモジュールの構成について説明する。実施の形態2に係るパワーモジュールにおいては、主に、金属配線が内ケースの外表面に配置されている構成において実施の形態1に係るパワーモジュールと異なっており、他の構成については実施の形態1に係るパワーモジュールと同様である。以下、実施の形態1に係るパワーモジュールと異なる構成を中心に説明する。
図5は、本発明の実施の形態2によるパワーモジュールの自己消弧型半導体素子の接続部を示す拡大断面模式図であり、実施の形態1の図4の領域に対応する。
図5に示されるように、第3金属配線18は、例えば第1ケース13の外表面に配置されていてもよい。第3金属配線18は、例えば第1ケース13にアウトサート形成されている。同様に、第1金属配線16は、例えば第1ケース13の外表面に配置されていてもよい。第1金属配線16は、例えば第1ケース13にアウトサート形成されている。同様に、第2金属配線26は、例えば第2ケース23の外表面に配置されていてもよい。第2金属配線26は、例えば第2ケース23にアウトサート形成されている。同様に、第4金属配線28は、例えば第2ケース23の外表面に配置されていてもよい。第4金属配線28は、例えば第2ケース23にアウトサート形成されている。
次に、実施の形態2に係るパワーモジュール100の作用効果について説明する。実施の形態2に係るパワーモジュール100によれば、第1金属配線16は、第1ケース13の外表面に配置されている。第1金属配線16をアウトサート形成することにより、第1ケース13の製造が簡易化され、より安価にコアモジュール200を小型化することが可能である。
実施の形態3.
次に、本発明の実施の形態3に係るパワーモジュールの構成について説明する。実施の形態3に係るパワーモジュールにおいては、主に、コアモジュール200間の電気的接続方法および外部接続端子の取り出し方法において実施の形態1に係るパワーモジュールと異なっており、他の構成については実施の形態1に係るパワーモジュールと同様である。以下、実施の形態1に係るパワーモジュールと異なる構成を中心に説明する。
図6および図7は、本発明の実施の形態3によるパワーモジュール半導体装置を示す平面透視模式図である。図6および図7においては、押圧部材と、天板と、配線押さえ部とは省略されている。図6においては、第1金属配線、第2金属配線、第1金属リード、第2金属リードおよび第1接続配線は実線で示され、第3金属リードおよび第4金属リードは破線で示されている。図7においては、第3金属配線、第4金属配線、第3金属リード、第4金属リード、第5接続配線および第6接続配線は実線で示され、第1金属リードおよび第2金属リードは破線で示されている。図8は、図6のVIII−VIII線に沿った断面模式図である。
図6および図7に示されるように、コアモジュール200は、例えば縦方向及び横方向に2つずつ配列されている。図6に示されるように、縦方向に隣り合う2つのコアモジュール200を繋ぐように、2つの第1接続配線31が配置されている。同様に、横方向に隣り合う2つのコアモジュール200を繋ぐように、2つの第1接続配線31が配置されている。具体的には、第1接続配線31は、第1金属配線16と第2金属配線26とを繋いでいる。図7に示されるように、縦方向に隣り合う2つのコアモジュール200を繋ぐように、2つの第6接続配線36が配置されている。同様に、横方向に隣り合う2つのコアモジュール200を繋ぐように、2つの第6接続配線36が配置されている。具体的には、第6接続配線36は、第3金属配線18と第4金属配線28とを繋いでいる。平面視において、第6接続配線36は、第1接続配線31と重なっていてもよい。
図6に示されるように、ある一つのコアモジュール200の第2金属配線26に第4接続配線34が繋がれている。第4接続配線34は、第3ケース8の外側に引き出されて外部接続端子となる。図7に示されるように、ある一つのコアモジュール200の第4金属配線28に第5接続配線35が繋がれている。第5接続配線35は、第3ケース8の外側に引き出されて外部接続端子となる。
図8に示されるように、第1ケース13には、第1側面穴91および第3側面穴93が設けられていてもよい。同様に、第2ケース23には、第2側面穴92および第4側面穴94が設けられていてもよい。第1接続配線31は、第1側面穴91および第2側面穴92の双方に配置されている。第1接続配線31は、第1側面穴91において第1金属配線16に接する。第1接続配線31は、第2側面穴92において第2金属配線26に接する。第1接続配線31は、例えば第1金属配線16および第2金属配線26の各々の上方に位置している。第6接続配線36は、第3側面穴93および第4側面穴94の双方に配置されている。第6接続配線36は、第3側面穴93において第3金属配線18に接する。第6接続配線36は、第4側面穴94において第4金属配線28に接する。第6接続配線36は、例えば第1金属配線16および第2金属配線26の各々の下方に位置している。
図9は、本発明の実施の形態3によるパワーモジュール半導体装置の自己消弧型半導体素子の接続部の変形例を示す拡大断面模式図である。図9に示されるように、第3ケース8には、貫通孔81が設けられていてもよい。外部端子34(第4接続配線)は、貫通孔81に配置されている。外部端子34は、第2金属配線26と接続されている。第2ケース23の外側面には、側面穴71が設けられていてもよい。側面穴71は、貫通孔81の位置に合わせて設けられている。外部端子34は、側面穴71まで延在している。外部端子34は、第3ケース8を貫通している。第2パワー半導体素子24は、第2電極42と、第6電極46を有している。第2電極42は、第2金属リード27に接続されている。第6電極46は、第2押圧部材25により圧接されている。
図10は、本発明の実施の形態3によるパワーモジュール半導体装置の金属配線および外部端子を示す拡大断面模式図である。図10に示されるように、外部端子34には、凹部62が設けられていてもよい。凹部62は、例えば円柱状の貫通孔であってもよい。第2金属配線26には、凸部61が設けられていてもよい。凸部61は、例えば円錐状であってもよい。凹部62と凸部61とが噛合されることで、両者が容易に抜けない構造となっている。同様に、第5接続配線35に凹部が設けられ、かつ第4金属配線28に凸部が設けられることで、両者が噛合されてもよい。同様に、第1接続配線31に凹部が設けられ、かつ第2金属配線26に凸部が設けられることで、両者が噛合されてもよい。第1接続配線31に凹部が設けられ、かつ第1金属配線16に凸部が設けられることで、両者が噛合されてもよい。同様に、第6接続配線36に凹部が設けられ、かつ第3金属配線18に凸部が設けられることで、両者が噛合されてもよい。第6接続配線36に凹部が設けられ、かつ第4金属配線28に凸部が設けられることで、両者が噛合されてもよい。両者が噛合するここで、容易に抜けない構造となっている。
次に、実施の形態3に係るパワーモジュール100の作用効果について説明する。
実施の形態3に係るパワーモジュール100によれば、第3ケース8には、貫通孔81が設けられている。外部端子34は、貫通孔81に配置されている。外部端子34は、第2金属配線26と接続されている。これにより、パワーモジュール100のサイズを小型化しつつ、第2金属配線26を経由して、第2パワー半導体素子24の信号を外部に取り出すことができる。
また実施の形態3に係るパワーモジュール100によれば、第1ケース13には、第1側面穴91が設けられている。第2ケース23には、第2側面穴92が設けられている。第1接続配線31は、第1側面穴91および第2側面穴92の双方に配置されていている。これにより、パワーモジュール100のサイズを小型化しつつ、第1金属配線16と第2金属配線26とを接続することができる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味、および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
2 第3ベースプレート(外ベースプレート)、8 第3ケース(外ケース)、9 配線押さえ部、10 第1金属ブロック、11 第1ベースプレート(第1内ベースプレート)、12 第1ダイオード(ダイオード)、13 第1ケース(第1内ケース)、14 第1パワー半導体素子(パワー半導体素子)、15 第1押圧部材、16 第1金属配線、17 第1金属リード、18 第3金属配線、19 第3金属リード、20 第2金属ブロック、21 第2ベースプレート(第2内ベースプレート)、22 第2ダイオード、23 第2ケース(第2内ケース)、24 第2パワー半導体素子、25 第2押圧部材、26 第2金属配線、27 第2金属リード、28 第4金属配線、29 第4金属リード、31 第1接続配線、32 第2接続配線、33 第3接続配線、34 第4接続配線(外部端子)、35 第5接続配線、36 第6接続配線、41 第1電極、42 第2電極、43 第3電極、44 第4電極、45 第5電極、46 第6電極、51 第1天板、52 第2天板、61 凸部、62 凹部、71,91,92,93,94 側面穴、81 貫通孔、100 パワーモジュール、200 コアモジュール。

Claims (7)

  1. 第1ベースプレートと、
    前記第1ベースプレートに対向して設けられた第1天板と、
    前記第1ベースプレートと前記第1天板との間に設けられた複数の第1パワー半導体素子と、
    前記複数の第1パワー半導体素子の各々と前記第1天板との間に設けられ、かつ前記複数の第1パワー半導体素子と圧接されている複数の第1押圧部材と、
    前記第1ベースプレート上に設けられ、かつ前記複数の第1パワー半導体素子を取り囲む第1ケースと、
    平面視において前記複数の第1パワー半導体素子を取り囲み、かつ前記第1ケースに設けられた第1金属配線と、
    前記第1金属配線と連なり、かつ前記第1ケースの内側に向かって延在する第1金属リードとを備え、
    前記複数の第1パワー半導体素子の各々は、第1電極を含み、
    前記第1電極は、前記第1金属リードによって前記第1金属配線と接続されている、パワーモジュール。
  2. 前記第1金属配線は、前記第1ケースの内部に配置されている、請求項1に記載のパワーモジュール。
  3. 前記第1金属配線は、前記第1ケースの外表面に配置されている、請求項1に記載のパワーモジュール。
  4. 前記第1ベースプレートの隣に位置する第2ベースプレートと、
    前記第2ベースプレートに対向して設けられた第2天板と、
    前記第2ベースプレートと前記第2天板との間に設けられた複数の第2パワー半導体素子と、
    前記複数の第2パワー半導体素子の各々と前記第2天板との間に設けられ、かつ前記複数の第2パワー半導体素子と圧接されている複数の第2押圧部材と、
    前記第2ベースプレート上に設けられ、かつ前記複数の第2パワー半導体素子を取り囲む第2ケースと、
    平面視において前記複数の第2パワー半導体素子を取り囲み、かつ前記第2ケースに設けられた第2金属配線と、
    前記第2金属配線と連なり、かつ前記第2ケースの内側に向かって延在する第2金属リードと、
    前記第1金属配線と前記第2金属配線とを繋いでいる第1接続配線とを備え、
    前記複数の第2パワー半導体素子の各々は、第2電極を含み、
    前記第2電極は、前記第2金属リードによって前記第2金属配線と接続されている、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のパワーモジュール。
  5. 前記第1ベースプレートおよび前記第2ベースプレートの双方を支持する第3ベースプレートと、
    前記第3ベースプレート上に設けられ、前記第1ケースおよび前記第2ケースの双方を取り囲む第3ケースと、
    平面視において、前記第1金属配線を取り囲む第3金属配線と、
    前記第3金属配線と接続され、かつ前記第1ケースから前記第3ケースに跨がるように配置された第2接続配線とをさらに備えた、請求項4に記載のパワーモジュール。
  6. 前記第1ベースプレートおよび前記第2ベースプレートの双方を支持する第3ベースプレートと、
    前記第3ベースプレート上に設けられ、前記第1ケースおよび前記第2ケースの双方を取り囲み、かつ貫通孔が設けられた第3ケースと、
    前記貫通孔に配置された外部端子とをさらに備え、
    前記外部端子は、前記第2金属配線と接続されている、請求項4に記載のパワーモジュール。
  7. 前記第1ケースには、第1側面穴が設けられ、
    前記第2ケースには、第2側面穴が設けられ、
    前記第1接続配線は、前記第1側面穴および前記第2側面穴の双方に配置されている、請求項6に記載のパワーモジュール。
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