JP2019070820A - 三次元の回折限界未満の画像解像技術 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の様々な局面を導く研究は、少なくとも一部を、国立衛生研究所によって後援された。米国政府は、本発明に対して一定の権利を有する。
本出願は、2007年12月21日に出願された米国仮特許出願第61/008,661号(発明の名称:「Sub−Diffraction Limit Image Resolution In Three Dimensions」、Zhuangらによる)の利益を主張し、この出願は、本明細書中に参考として援用される。
本発明は、一般的に、三次元画像化技術を含む、回折限界未満の画像解像技術(sub−diffraction limit image resolution)および他の画像化技術に関する。
蛍光顕微鏡法は、分子生物学および細胞生物学、およびその他の非侵襲性の時間分解画像化用途において広く使用されている。標準的な蛍光顕微鏡法は、上述のような利点があるにもかかわらず、光の回折による解像度の限界があるため、超微細構造の画像化には有用ではない。この回折限界を超えるために、近接場光学顕微鏡法(NSOM)、誘導放出抑制(STED)、可逆的飽和性光学蛍光遷移(reversible saturable optical linear fluorescence transition)(RESOLFT)および飽和構造化照射顕微鏡法(saturated structured−illumination microscopy)(SSIM)を含むいくつかのアプローチが用いられているが、それぞれ特定の満足できない限界を有する。電子顕微鏡法は、生体サンプルを高解像度で画像化するために使用されることが多いが、電子顕微鏡法は、光ではなく電子を使用し、調製する必要があるため、生体サンプルに用いるのは困難である。したがって、生体サンプルおよび他のサンプルを超高解像度で画像化するために、蛍光顕微鏡の利点を活かす(例えば、生きた生体サンプルに対し、分子特異性および/または分子適合性を有するように)、非侵襲性の技術を含む新しい技術が必要とされている。
本発明は、例えば以下の項目を提供する。
(項目1)
約1000nm未満の距離離れた第1の実体および第2の実体を提供する工程と、
前記第1の実体から放射される光を測定する工程と、
前記第2の実体から放射される光を測定する工程と、
前記第1の実体から放射される光と前記第2の実体から放射される光とを用い、前記第1の実体および前記第2の実体のx位置、y位置、およびz位置を決定する工程とを含む、方法。
(項目2)
分離の距離離れた第1の実体および第2の実体を提供する工程と、
前記第1の実体から放射される光を測定する工程と、
前記第2の実体から放射される光を測定する工程と、
前記第1の実体から放射される光と前記第2の実体から放射される光とを用い、前記第1の実体および前記第2の実体のx位置、y位置、およびz位置を決定する工程とを含む、方法。
(項目3)
約1000nm未満の距離離れた第1の実体および第2の実体を提供する工程と、
前記第2の実体を活性化せずに、前記第1の実体を活性化する工程と、
前記第1の実体から放射される光を測定する工程と、
前記第2の実体を活性化する工程と、
前記第2の実体から放射される光を測定する工程と、
前記第1の実体から放射される光と前記第2の実体から放射される光とを用い、前記第1の実体および前記第2の実体のx位置、y位置、およびz位置を決定する工程とを含む、方法。
(項目4)
分離距離離れた第1の実体および第2の実体を提供する工程と、
前記第2の実体を活性化せずに、前記第1の実体を活性化する工程と、
前記第1の実体から放射される光を測定する工程と、
前記第2の実体を活性化する工程と、
前記第2の実体から放射される光を測定する工程と、
前記第1の実体から放射される光と前記第2の実体から放射される光とを用い、前記第1の実体および前記第2の実体のx位置、y位置、およびz位置を決定する工程とを含む、方法。
(項目5)
前記第1の実体から放射される光が、前記分離距離よりも大きい波長を有する、項目2または項目4のいずれか1項に記載の方法。
(項目6)
前記第1の実体および前記第2の実体のそれぞれのx位置、y位置、およびz位置を用い、前記第1の実体および前記第2の実体の画像を構築する工程をさらに含む、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目7)
検出器での前記第1の実体および/または前記第2の実体の画像の形状から、前記第1の実体および/または前記第2の実体のz位置を決定する工程をさらに含む、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目8)
検出器での前記第1の実体および/または前記第2の実体の画像の強度から、前記第1の実体および/または前記第2の実体のz位置を決定する工程をさらに含む、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目9)
前記第1の実体から放射される光がレンズを通る方向に対して、円対称でないレンズを、前記第1の実体から放射される光が通る工程を含む、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目10)
前記第1の実体から放射される光が、円筒形のレンズを通る工程をさらに含む、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目11)
前記第1の実体から放射される光を検出器で集める工程をさらに含み、前記第1の実体から放射される光が、前記検出器に焦点を有さない、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目12)
前記第1の実体から放射される光を検出器で集める工程をさらに含み、前記第1の実体が、検出器の共役面にはない、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目13)
前記第2の実体から放射される光を検出器で集める工程をさらに含み、前記検出器によって前記第2の実体から放射される光が、前記検出器の検出領域に焦点を有さない、項目11に記載の方法。
(項目14)
前記第2の実体から放射される光を検出器で集める工程をさらに含み、前記検出器によって前記第2の実体から放射される光が、前記検出器の共役面に焦点を有さない、項目11に記載の方法。
(項目15)
前記第2の実体から放射される光が、前記第2の実体を含まない焦点領域を規定するレンズを通る工程を含む、項目11に記載の方法。
(項目16)
前記第2の実体から放射される光がレンズを通る方向に対して、円対称でないレンズを、前記第2の実体から放射される光が通る工程を含む、項目11に記載の方法。
(項目17)
前記第2の実体から放射される光が、円筒形のレンズを通る工程をさらに含む、項目11に記載の方法。
(項目18)
前記第2の実体から放射される光を検出器で集める工程をさらに含み、前記検出器によって前記第2の実体から放射される光が、前記検出器の検出領域に焦点を有さない、項目9に記載の方法。
(項目19)
前記第2の実体から放射される光を検出器で集める工程をさらに含み、前記検出器によって前記第2の実体から放射される光が、前記検出器の共役面に焦点を有さない、項目9に記載の方法。
(項目20)
前記第2の実体から放射される光が、前記第2の実体を含まない焦点領域を規定するレンズを通る工程を含み、項目9に記載の方法。
(項目21)
前記第2の実体から放射される光がレンズを通る方向に対して、円対称でないレンズを、第2の実体から放射される光が通る工程を含む、項目9に記載の方法。
(項目22)
前記第2の実体から放射される光が、円筒形のレンズを通る工程を含む、項目9に記載の方法。
(項目23)
前記第1の実体から放射される光を複数の検出器で集める工程をさらに含み、前記第1の実体から放射される光が、前記複数の検出器のうちの少なくとも1つによって規定される焦点領域にはない、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目24)
前記第1の実体から放射される光を複数の検出器で集める工程をさらに含み、前記第1の実体から放射される光が、前記複数の検出器のうちの1つ以上に焦点を有さない、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目25)
前記第2の実体から放射される光を複数の検出器で集める工程をさらに含み、前記検出器によって前記第2の実体から放射される光が、前記複数の検出器のうちの少なくとも1つの検出器の検出領域に焦点を有さない、項目24に記載の方法。
(項目26)
前記第2の実体から放射される光を複数の検出器で集める工程をさらに含み、前記検出器によって前記第2の実体から放射される光が、前記複数の検出器のうち、少なくとも1つの検出器の共役面に焦点を有さない、項目24に記載の方法。
(項目27)
前記第1の実体から放射される光と、前記第2の実体から放射される光とでは、波長が異なっている、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目28)
前記第1の実体から放射される光と、前記第2の実体から放射される光の波長が実質的に同じである、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目29)
前記第1の実体および前記第2の実体は、異なる波長で活性化される、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目30)
前記第1の実体および前記第2の実体は、実質的に同じ波長で活性化される、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目31)
前記第1の実体が、前記第2の実体とは化学的に異なっている、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目32)
前記第1の実体は、前記第2の実体と化学的に実質的に同じである、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目33)
前記第1の実体は、光によって活性化可能なプローブまたは光によってスイッチング可能なプローブであるか、または前記第1の実体が、光によって活性化可能であるか、または光によってスイッチング可能である、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目34)
前記第1の実体は、第1の光放射部分と、外側から刺激を加えると前記第1の部分を活性化させる第2の活性化部分とを含む、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目35)
前記第2の実体は、光によって活性化可能なプローブまたは光によってスイッチング可能なプローブであるか、または前記第2の実体が、光によって活性化可能であるか、または光によってスイッチング可能である、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目36)
前記第2の実体は、第1の光放射部分と、外側から刺激を加えると前記第1の部分を活性化させる第2の活性化部分とを含む、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目37)
前記第1の実体から放射される光の波長が、約400nm〜約1000nmである、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目38)
前記第1の実体と、前記第2の実体とが、共通の実体に対して固定されている、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目39)
前記第1の実体の位置および前記第2の実体の位置を、少なくとも約300nmの精度で決定する、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目40)
前記第1の実体と、前記第2の実体とが、約1000nm未満の距離離れた、項目2または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目41)
前記第1の実体の位置および前記第2の実体の位置を、少なくとも約100nmの精度で決定する、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目42)
前記第1の実体の位置および前記第2の実体の位置を、少なくとも約50nmの精度で決定する、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目43)
前記第1の実体の位置および前記第2の実体の位置を、少なくとも約20nmの精度で決定する、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目44)
前記第1の実体の位置および前記第2の実体の位置を、少なくとも約10nmの精度で決定する、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目45)
前記第1の実体の位置および前記第2の実体の位置を、前記第1の実体から放射される光の波長および/または前記第2の実体から放射される光の波長よりも小さな精度で決定する、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目46)
第1の時間点で前記第1の実体の位置および前記第2の実体の位置を決定する工程と、第2の時間点で前記第1の実体の位置および前記第2の実体の位置を決定する工程とを含む、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目47)
2点以上の時間点で、および/または時間の関数として、前記第1の実体の位置および前記第2の実体の位置を決定する工程を含む、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目48)
前記工程を、記載された順序で行う、項目1、2、3または4のいずれか1項に記載の方法。
(項目49)
光を放射可能な複数の実体のうちの少なくともいくつかが約1000nm未満の距離離れたような、光を放射可能な複数の実体を提供する工程と、
前記複数の実体の一部分を活性化させ、光を放射させる工程と、
前記放射した光を測定する工程と、
前記複数の実体の活性化した部分を不活性化する工程と、
前記複数の実体を活性化し、不活性化する工程を繰り返し、この複数の実体のx位置、y位置、およびz位置を決定する工程とを含む、方法。
(項目50)
光を放射可能な複数の実体を提供する工程と、
前記複数の実体の一部分を活性化させ、光を放射させる工程と、
前記放射した光を測定する工程と、
前記複数の実体の活性化した部分を不活性化する工程と、
前記複数の実体を活性化し、不活性化する工程を繰り返し、この複数の実体のx位置、y位置、およびz位置を決定する工程とを含む、方法。
(項目51)
前記複数の実体のうちの少なくともいくつかが、前記放射した光の波長よりも短い分離距離離れた、項目50に記載の方法。
(項目52)
前記複数の実体のそれぞれのx位置、y位置、およびz位置を用い、前記複数の実体の画像を構築する工程をさらに含む、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目53)
検出器での前記複数の実体の画像の形状から、前記複数の実体のz位置を決定する工程をさらに含む、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目54)
検出器での前記複数の実体の画像の強度から、前記複数の実体のz位置を決定する工程をさらに含む、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目55)
前記複数の実体の一部分から放射される光が、前記複数の実体のいくつかから放射される光がレンズを通る方向に対して、円対称でないレンズを通る工程を含む、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目56)
前記複数の実体の一部分から放射される光が、円筒形のレンズを通る工程をさらに含む、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目57)
前記複数の実体の一部分から放射される光を検出器で集める工程をさらに含み、前記複数の実体の一部分のうちのいくつかから放射される光が、前記検出器に焦点を有さない、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目58)
前記複数の実体の一部分から放射される光を複数の検出器で集める工程をさらに含み、前記複数の実体の一部分のうちのいくつかが、前記複数の検出器のうち、少なくとも1つの検出器の焦点領域にはない、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目59)
前記複数の実体の一部分から放射される光が、前記複数の実体の一部分のうちの少なくとも一つの部分を含まない焦点領域を規定するレンズを通る工程を含む、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目60)
前記複数の実体の一部分から放射される光を検出器で集める工程をさらに含み、前記複数の実体の一部分のうちの少なくとも一つの部分から放射される光が、前記検出器の共役面にはない、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目61)
前記複数の実体の一部分から放射される光を複数の検出器で集める工程をさらに含み、前記複数の実体の一部分のうち、少なくとも一部分から放射される光が、前記複数の検出器のうちの1つ以上に焦点を有さない、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目62)
前記複数の実体の少なくともいくつかが、異なる波長で光を放射する、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目63)
前記複数の実体が、それぞれ実質的に同じ波長で光を放射する、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目64)
前記複数の実体の少なくともいくつかが、異なる波長の光によって活性化される、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目65)
前記複数の実体が、それぞれ実質的に同じ波長の光で活性化される、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目66)
前記複数の実体の少なくともいくつかが、光によって活性化可能なプローブまたは光によってスイッチング可能なプローブである、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目67)
前記複数の実体の少なくともいくつかが放射した光の波長が、約490nm〜約1000nmである、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目68)
前記複数の実体の位置を、少なくとも約1000nmの精度で決定する、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目69)
前記複数の実体の位置を、少なくとも約300nmの精度で決定する、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目70)
前記複数の実体の位置を、少なくとも約100nmの精度で決定する、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目71)
前記複数の実体の位置を、少なくとも約50nmの精度で決定する、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目72)
前記複数の実体の位置を、少なくとも約20nmの精度で決定する、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目73)
前記複数の実体の位置を、少なくとも約10nmの精度で決定する、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目74)
前記複数の実体の位置を、前記複数の実体から放射される光の波長よりも小さな精度で決定する、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目75)
第1の時間点で前記複数の実体の位置を決定する工程と、第2の時間点で前記複数の実体の位置を決定する工程とを含む、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目76)
2点以上の時間点で、および/または時間の関数として、前記複数の実体の位置を決定する工程を含む、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
(項目77)
前記工程を、記載された順序で行う、項目49または50のいずれか1項に記載の方法。
本発明は、一般的に、三次元画像化技術を含む、回折限界未満の画像解像技術および他の画像化技術に関する。一態様では、本発明は、入射光の回折限界未満の距離離れた2つ以上の実体からの光を測定することおよび/または画像化することに関する。例えば、これらの実体は、約1000nm未満の距離離れていてもよく、可視光の場合には、約300nm未満の距離離れていてもよい。ある場合には、実体の位置を、三方向すべての空間次元について(すなわち、x方向、y方向、およびz方向について)決定することができ、特定の場合には、三次元すべての位置を、約1000nm未満の精度で決定することができる。ある一連の実施形態では、これらの実体を選択的に活性化してもよい。すなわち、他の実体を活性化させることなく、ある実体を活性化して光を発生させることができる。第1の実体を活性化し、測定し(例えば、その実体から放射される光を測定することによって)、次いで、第2の実体を活性化し、測定してもよい。放射光を用い、例えば、これらの実体の画像の位置を決定することによって、ある場合には、回折限界未満の解像度で第1の実体および第2の実体のx位置およびy位置を決定してもよい。ある場合には、z位置を決定するために、強度または焦点に関する情報(例えば、焦点が存在しないこと)を利用する種々の技術の1つを用いて、z位置を決定してもよい。このような技術の非限定的な例としては、非点収差を利用した画像化、オフフォーカス状態での画像化、または複数の焦点面を有する画像化が挙げられる。本発明の他の態様は、回折限界未満の画像解像技術のためのシステム、回折限界未満の画像解像技術のためのコンピュータプログラムおよびコンピュータ技術、回折限界未満の画像解像技術を促進する方法などに関する。
本実施例は、サンプルを呼び出すことなく、または光学ビームによるスキャニングをすることなく、三次元すべてについて回折限界よりも約10倍高い空間解像度を有する三次元画像化を示す。国際特許公開番号PCT/US2007/017618(2007年8月7日出願、表題「Sub−Diffraction Limit Image Resolution and Other Imaging Techniques」、国際特許公開番号WO2008/091296として、2008年7月31日に公開、参考により本明細書に援用する)では、特定のフルオロフォアが有する、光によってスイッチング可能な性質を利用し、この方法以外では空間的に重なり合ってしまう多くの分子の画像を分割し、個々の蛍光染料について、高い位置決定精度で横方向の寸法を得た。
本実施例は、実施例1に関して有用な特定の技術について記載する。実施例1の光によってスイッチング可能なプローブの三次元位置決定の精度を特性決定するために、製造業者が指示したプロトコルにしたがってタンパク質をアミン反応性染料とともにインキュベートすることによって、ストレプトアビジン分子(Invitrogen)を、光によってスイッチング可能なAlexa 647フルオロフォア(Invitrogen)と、アクチベーター染料Cy3(GE Healthcare)とで標識した。Nap−5カラム(GE Healthcare)を用いたゲル濾過によって、未反応の染料分子を除去した。標識比をUV−Vis分光光度計で特徴付けして、吸収スペクトルから、標識比は、ストレプトアビジン1分子あたり、Cy3が約2、Alexa 647が約0.1であることを示していた。次いで、標識されたストレプトアビジンを、ガラススライドと1.5番のカバーガラスとを使って組み立てたガラスフローチャンバ表面に固定した。1M水酸化カリウムで15分間超音波処理し、MilliQ水でさらに洗浄し、圧縮窒素で乾燥することによって、スライドおよびカバーガラスを洗浄した。標識されたストレプトアビジンサンプルをフローチャンバに注入し、ストレプトアビジンが、表面に非特異的に直接吸着させるか、またはビオチン化したウシ血清アルブミン(BSA)でコーティングされた表面に対し、ビオチン−ストレプトアビジン結合を介して吸着させた。z位置決定の測定値に関する較正曲線を作製するために、Alexa 647で標識されたストレプトアビジンまたは量子ドット(タンパク質A被覆Qdot 655、Invitrogen)も使用した。Cy3およびAlexa 647で二重に標識されたストレプトアビジンと同じ様式で、1個の標識されたストレプトアビジンをチャンバ表面に固定し、量子ドットを、非特異的な結合によって、チャンバ表面に直接固定した。
式中、hは、ピーク高さであり、bは、バックグラウンドであり、(x0,y0)は、ピークの中心位置であり、wxおよびwyは、それぞれx方向およびy方向での画像の幅(点広がり関数、PSF)をあらわす。同時に、対応する分子のz位置を、圧電状態のzの軌道から決定した。次いで、wx値およびwy値を、zの関数として、典型的なデフォーカス曲線の改変型にフィッティングした。
式中、w0は、分子が焦点面にある場合のPSF幅であり、cは、平均焦点面からみた、x焦点面またはy焦点面のオフセットであり、dは、顕微鏡の焦点深さであり、AおよびBは、画像化光学部の非理想性を補正するための高次項の係数である。平均焦点面は、この平均焦点面に位置するフルオロフォアが、x方向およびy方向に等しい幅の画像PSFを有し、球状の画像を作製するように規定される。wx測定値およびwy測定値を、対応するz位置で検索した較正曲線と比較する場合、自動的なz位置決定を容易にするために、これらのフィッティング曲線を作製することを注記しておくべきである。その曲線が、測定した較正データに十分精密に合うならば、曲線をフィッティングするのに使用する実際の関数は、あまり重要ではなかった。
幅の二乗根を用いることによって、幅を直接使用する手順と比較すると、検索手順においてzの位置決定精度が高まることを、シミュレーションし、分析的に処理することによって示すことができる。あらかじめ設定した閾値よりも大きな最小距離Dを有する活性化事象は、その画像がゆがめられていること示し、これは、同じ画像フレームにおいて、非常に近い位置に位置し、光活性化される2個以上の分子によって生じていると考えられる。これらの事象は、さらなる分析の際には除外した。この手順によって、それぞれの活性化したフルオロフォアの3D位置(x0、y0、およびz0)を得て、この様式で、三次元画像を構築した。
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