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JP2018509635A - 大面積のx線検出器ウィンドウ用の改良材及び構造体 - Google Patents

大面積のx線検出器ウィンドウ用の改良材及び構造体 Download PDF

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Abstract

最大100mmの検出器ウィンドウの実施形態を開示する。最大100mmの口径に対して低い破損率を有する検出器ウィンドウを提供することが望まれている。検出器ウィンドウの望ましい特性としては、X線の減衰を最小限に抑えること、高強度に耐え得る性能、及び典型的には1気圧の高圧差に耐え得る性能が挙げられる。【選択図】図4A

Description

関連出願の相互参照
本願は、2015年1月22日に出願の米国仮出願第62/106,337号の優先権の利益を主張し、当該出願の全内容を参照により本願に援用する。
X線を利用する計測ツールでは、X線源の過酷なプラズマ環境と計測ツールの超クリーン環境とを分離する検出器ウィンドウが必要となる。図1は、検出器ウィンドウの使用態様を示す例示的な構成である。励起ビームによりX線源が生成され、生成したX線は、検出器ウィンドウおよび一式のシールドを通過し、熱量計によって検出される。検出器ウィンドウは、第一の汚染シールドと真空との境界面であり、内部シールドは、汚染および熱障壁である。検出器ウィンドウは、概して、ベリリウム、ダイヤモンド、グラフェン、ダイヤモンドライクカーボン、又はそれらの組合せからなる薄膜でできている。
検出器ウィンドウの膜は薄く、典型的にはフレームによって支持されるリブからなる構造体によって支持しなければならない。リブ、フレーム、又はそれらの組合せは、支持構造体として既知である。支持構造体は、ウィンドウの膜が撓んだり破損したりするのを防止する。しかしながら、支持構造体は、通過するX線とも干渉し得る。その結果、薄いウィンドウに最も高い強度を付与しつつ、可能な限り薄い厚みと幅を有するように、支持構造体を最適化しなければならない。
低温検出器アレイ、半導体リソグラフィ、及びパルス光源などの大口径の先端技術では、最大100mmの大面積の軟X線ウィンドウが必要とされる。既知の検出器ウィンドウは、比例してサイズ調整することができない。膜厚を増やすと、X線の吸収が増大する。さらに、膜厚を増やすと、より大きな膜を支持するために、支持構造体を比例してより大きくしなければならない。しかしながら、支持構造体の寸法を大きくすると、支持構造体の端部付近において、ピクセルのシャドーイングが発生してしまう。
最大100mmの口径に対して、破損率の低い検出器ウィンドウを提供することが望まれている。検出器ウィンドウの望ましい特性としては、X線の減衰を最小限に抑えること、高強度に耐え得る性能、及び典型的には1気圧の高圧差に耐え得る性能が挙げられる。
本発明の他の特徴や有利な点は、添付の図面を参照して、以下に詳細に説明する好適な実施形態において明らかになる。
検出器ウィンドウの使用態様を示す例示的な構成である。 グリッド支持体および薄膜の積層態様を示す例示的な構成である。 典型的なグリッド支持体の一部拡大斜視図である。 ドーム型グリッド支持体の一例を示す斜視図である。 図4Aの一部拡大図である。 図4Bの5−5線に沿った断面図である。 積層ドーム型グリッドの断面図である。 各グリッドが異なるピッチである積層ドーム型グリッドの断面図である。 少なくとも3つの積層フォーカスグリッド支持体を有する検出器ウィンドウの透過光画像を示す。 ピッチが389ミクロンの積層フォーカスグリッドとピッチが390ミクロンの積層フォーカスグリッドとの別々の透過画像間の差画像を示す。 グリッド支持体の一部拡大図である。
以下の詳細な説明では、その一部をなす添付の図面を参照する。図面中、異なる図面において、類似または同一の符号を使用する場合、特に断りのない限り、一般に類似または同一の部品を示す。詳細な説明、図面、及び特許請求の範囲に記載する例示的な実施形態は、本発明の範囲を限定するものではない。本明細書にて提示する主題の趣旨または範囲から逸脱しない限り、他の実施形態を利用することができ、他の変更を行うことができる。当業者であれば、本明細書にて説明する構成要素(例えば、動作)、デバイス、対象物、及びこれらに付随する議論は、本発明の概念を明確にするための例として用いられ、構成要素の様々な変更が意図されていることを理解するであろう。従って、本明細書にて用いる特定の例示および付随の議論は、それらのより一般的なクラスの代表であることを意図する。一般に、任意の特定の例示は、そのクラスの代表例として用いていることを意図しており、特定の構成要素(例えば、動作)、デバイス、及び対象物を包含しないことによって本発明が限定されると解釈すべきではない。
本願では、提示を明確にするために、形式的な見出しを使用する。しかしながら、見出しは提示を目的とするものであり、異なるタイプの主題が本願を通じて議論され得ることを理解されたい(例えば、(1つ又は複数の)プロセス/動作という見出しの下で、(1つ又は複数の)デバイス/(1つ又は複数の)構造体を記載していることもあり、及び/又は、(1つ又は複数の)構造体/(1つ又は複数の)プロセスという見出しの下で、(1つ又は複数の)プロセス/動作を議論していることもあり、及び/又は、単一のトピックが2つ以上のトピックの見出しに及ぶこともある)。従って、形式的な見出しの使用は、いかなる限定をも意図するものではない。概観として、実施形態は、最大100mm(100mmまで)の口径用の改良された検出器ウィンドウを提供する。
軟X線ウィンドウにはグリッド支持体が使用されている。しかしながら、グリッド支持体は製造コストが高い。品質が劣るグリッド支持体は、シャドーイングや蛍光を引き起こし、及び/又は壊れやすい。適切に製造されたグリッド支持体は、大面積の検出器ウィンドウを支持するのに必要とされる強度を付与することができる。積層グリッド支持体は、曲げモーメントのピーク値を低減し、少なくとも1、好ましくは1〜5の幾何学的アスペクト比を達成する。幾何学的アスペクト比は、入射ビーム方向のグリッド支持体の全厚をグリッドバーの幅で除した値として定義される。グリッド支持体は、とりわけ、単結晶シリコンのエッチング、フォトエッチング、又は機械操作などの任意の既知の方法で作製することができる。
図2を参照して、検出器ウィンドウ(10)の例示的な構成を示す。検出器ウィンドウ(10)は、共に積層した複数の層(11,12,13)からなる。ここでは例示目的で3つの層を示しているが、本明細書に記載の発明は任意の数の層によって定義可能であることを理解されたい。少なくとも1つの層が薄膜であり、少なくとも2つの層がグリッド支持体である。一実施形態では、グリッド支持体(12,13)は、互いの上に積層され、及び/又は動作可能に取り付けられ、薄膜(11)は、積層グリッド支持体(12,13)に動作可能に取り付けられる。別の実施形態では、薄膜(11)は、グリッド支持体(12,13)に挟まれる。
薄膜は、ベリリウム、アルミニウム、ポリイミド、炭素、窒化ホウ素、又はそれらの組合せからなることができる。薄膜は、接着剤、金属結合、反応性ポリマーを用いた化学結合などの任意の既知の方法を使用して、グリッド支持体に動作可能に取り付けることができる。好ましくは、グリッド支持体は、ステンレス鋼、アルミニウム、炭素、チタン、ベリリウム、又はそれらの組合せから作製される。積層グリッド支持体は、エポキシ材あるいは任意の既知の取付け方法を用いて、動作可能に互いに取り付けられる。
図3は、グリッド支持体(14)の典型的部分を示す。ここでは、グリッド支持体(14)を六角形の形状を有するものとして示しているが、グリッド支持体の形状は、任意の幾何学形状とすることができることを理解されたい。図3、図4A、図4B、及び図5を参照して、一実施形態では、典型的なグリッド支持体(14)は、球欠またはドーム型グリッド支持体(15)に変形される。図4Aは、典型的なドーム型グリッド支持体(15)を示す。
図6を参照して、一実施形態では、少なくとも2つのドーム型グリッド支持体(15)が互いに積層し、及び/又は動作可能に取り付けられる。積層ドーム型グリッド支持体(15)は、エポキシ材または任意の既知の取付け技術を用いて、互いに動作可能に取り付けられる。
一実施形態では、一方のドーム型グリッド支持体(15a)のピッチ(17a)が、他方のドーム型グリッド支持体(15a)のピッチ(17b)と異なる。好ましくは、ドーム型グリッド支持体(15a,15b)のピッチ(17a,17b)は、200〜500の間である。好ましくは、ドーム型グリッド支持体(15)は、軟質の拡散接合されたグリッドを用いて作製される。好ましくは、ドーム型グリッド支持体(15)は、少なくとも80%の開口領域(16)を画定する。任意の薄膜を、とりわけ、接着剤、金属結合、反応性ポリマーを用いた化学結合などの任意の既知の方法を用いて、積層ドーム型グリッド支持体(15)に取り付けることができる。
一実施形態では、薄膜は、25mmのウィンドウに取り付けられる、市販のLEX(登録商標)発光X線薄膜であり、ドーム型グリッド支持体(15)はステンレス鋼から作製される。この実施形態では、検出器ウィンドウ(10)は、検出器ウィンドウ面から50mmに位置する点源に対して、80%の幾何学的透過率を有する。
共焦点顕微鏡を用いて、ドーム型グリッド支持体をXYZ走査することで、検出器ウィンドウ(10)上の張力、曲率、及び表面張力を直接計算することができる。この実施形態では、ステンレス鋼のグリッド支持体が4%だけ変形され、平均的なバー応力は220MPaである。バー応力とは、グリッド支持体の一部であるバーにおける単軸応力であり、平均バー応力は、グリッド支持体の全体の体積にわたるバー応力の平均である。
図7を参照して、別の実施形態では、検出器ウィンドウは、少なくとも2つのグリッド支持体(18a,18b)からなり、各グリッド支持体は、異なるピッチ(19a,19b)を有する。グリッド支持体(18a,18b)は、互いに積層され、及び/又は動作可能に接合される。積層グリッド支持体(18)は、エポキシ材あるいは任意の既知の取付け技術を用いて、互いに動作可能に取り付けられる。積層グリッド支持体(18a,18b)は、固定の焦点(20)を有する。焦点(20)は、ミリメートルから無限大の間で選択可能である。この幾何学的形状は、積層焦点グリッド(18)として知られている。
積層焦点グリッド(18)の幾何学的形状では、下側のグリッドバーが上側のグリッドバーの影の位置に配置され、その結果、グリッド支持体を追加しても、グリッドのオクルージョンはわずかな量しか発生しない。薄膜は、ベリリウム、アルミニウム、ポリイミド、炭素、窒化ホウ素、又はそれらの組合せからなることができる。薄膜は、例えば、接着剤、金属結合、反応性ポリマーを用いた化学結合などの任意の既知の方法を用いて、積層焦点グリッド(18)に動作可能に取り付けることができる。好ましくは、積層焦点グリッド(18)は、ステンレス鋼、アルミニウム、炭素、チタン、ベリリウム、又はそれらの組合せから作製することができる。
リソグラフィのアライメント及びメッシュの質は、積層焦点グリッド(18)及び非積層グリッド支持体を透過撮像することによって評価される。典型的な結果を図8A及び図8Bに示す。図8Aは、少なくとも3つの積層焦点グリッド(18)を有する検出器ウィンドウ(10)の透過光画像であって、2つの積層焦点グリッド(18)は、好ましくは200〜500ミクロンの間の、同じピッチを有する。3つ目の積層焦点グリッド(18)は、他の2つとは異なるピッチを有するが、そのピッチは、好ましくは200〜500ミクロンの間である。
図8Bは、ピッチが389ミクロンの積層焦点グリッド(18)とピッチが390ミクロンのグリッドとの別々の透過画像間の差画像である。外径の明るいリングは口径の違いに起因する。残留強度は、開口端付近で最も明るく、2つのグリッド支持体間のピッチ差によって引き起こされる。2つのグリッド間の開口まわりのパターニングエラーのサンプルは、平均して5ミクロン未満のパターニングの不整合を示す。
この実施形態では、積層焦点グリッド(18)は、88%の開口領域(16)を有しており、バーの平均幅は25ミクロンである。検出器ウィンドウ(10)から20mmの位置にX線源が存在する場合、透過率は、検出器ウィンドウ(10)の中央部で約87%、端部で78%である。この実施形態では、検出器ウィンドウ(10)の端部における透過率は、無限遠の位置に存在するX線源に対して70%になる。X線源が検出器ウィンドウ(10)から約30mmの位置にある場合、透過率は、検出器ウィンドウ(10)の中央部で87%、端部で74%となる。
図9を参照して、別の実施形態では、少なくとも1つのグリッド支持体(30)が少なくとも1つの薄膜(31)に動作可能に取り付けられ、グリッド支持体(30)は、溝(34)を画定する略指状のバー(32)によって画定される。各指状のバー(32)は、略同じバー幅(33)を有し、グリッド支持体(30)上で放射状(R)に分散配置される。この溝付きグリッド支持体(30)は、遮断面積(areal blocking)を低減する。
溝付きグリッド支持体(30)は、少なくとも80%の開口領域を提供する。これに対して、当業界で既知であり、かつ同じ又は類似の設計ルールで作製された、典型的な六角形のグリッド支持体(図3)は、76%の開口領域を提供する。加えて、溝付きグリッド支持体(30)は、六角形のグリッド支持体の半分の蛍光しか生じない。
一実施形態では、バー幅(33)は、少なくとも30ミクロンである。一実施形態では、各溝(32)は、少なくとも210ミクロンの開口部を有する。一実施形態では、溝付きグリッド支持体(30)は、ステンレス鋼から作製することができる。一実施形態では、溝付きグリッド支持体(30)は、カーボンファイバーやベクトラン(登録商標)といった超強力の低Z材から作製することができる。薄膜は、ベリリウム、アルミニウム、ポリイミド、炭素、窒化ホウ素、又はそれらの組合せからなるものとすることができる。薄膜は、例えば、接着剤、金属結合、反応性ポリマーを用いた化学結合といった任意の既知の方法を用いて、溝付きグリッド支持体(30)に動作可能に取り付けることができる。

Claims (20)

  1. 少なくとも2つの積層グリッド支持体に動作可能に取り付けられた薄膜層からなる最大100mmの口径用の検出器ウィンドウ。
  2. 前記薄膜は、ベリリウム、アルミニウム、ポリイミド、炭素、窒化ホウ素、又はそれらの組合せからなる群より選択される、請求項1に記載の検出器ウィンドウ。
  3. 前記グリッド支持体は、ステンレス鋼、アルミニウム、炭素、チタン、ベリリウム、又はそれらの組合せからなる群より選択される材料から作製される、請求項1に記載の検出器ウィンドウ。
  4. 少なくとも1つのグリッド支持体が、六角形の形状である、請求項1に記載の検出器ウィンドウ。
  5. 少なくとも1つのグリッド支持体が、球欠またはドーム型グリッド支持体に変形される、請求項4に記載の検出器ウィンドウ。
  6. 少なくとも1つのドーム型グリッド支持体が、軟質の拡散接合グリッドを用いて作製され、該ドーム型グリッド支持体は、少なくとも80%の開口部を有する、請求項5に記載の検出器ウィンドウ。
  7. 少なくとも2つのドーム型グリッド支持体が存在し、各ドーム型グリッド支持体は、ピッチを有し、一方のドーム型グリッド支持体のピッチは、他方のドーム型グリッド支持体のピッチと等しくなく、各ドーム型グリッド支持体のピッチは、200〜500ミクロンの間である、請求項6に記載の検出器ウィンドウ。
  8. 少なくとも2つの六角形のグリッド支持体に動作可能に取り付けられた薄膜からなる最大100mmの口径用の検出器ウィンドウであって、前記薄膜は、LEX(登録商標)発光X線薄膜であり、前記グリッドは、ステンレス鋼製である、検出器ウィンドウ。
  9. 幾何学的透過率が少なくとも80%である、請求項8に記載の検出器ウィンドウ。
  10. 少なくとも2つのグリッド支持体に動作可能に取り付けられた薄膜からなる最大100mmの口径用の検出器ウィンドウであって、各グリッド支持体は、他のグリッド支持体のピッチとは異なるピッチを有し、前記グリッド支持体は積層され、該積層グリッド支持体は固定焦点を有する、検出器ウィンドウ。
  11. 前記固定焦点は、1mmと無限大の間にある、請求項10に記載の検出器ウィンドウ。
  12. 3つの積層グリッド支持体を有する請求項10に記載の検出器ウィンドウであって、2つのグリッド支持体が同じピッチを有し、1つのグリッド支持体が異なるピッチを有し、各グリッド支持体のピッチは200〜500ミクロンの間であり、前記積層グリッド支持体は少なくとも80%の開口部を有する、検出器ウィンドウ。
  13. 複数の略指状のバーを有する少なくとも1つのグリッド支持体に動作可能に取り付けられた薄膜からなる最大100mmの口径用の検出器ウィンドウであって、略指状のバーの各々は、溝を画定し、略同じバー幅を有し、グリッド支持体上で放射状に分散配置される、検出器ウィンドウ。
  14. 前記バー幅は少なくとも10ミクロンであり、各溝は少なくとも100ミクロンである、請求項13に記載の検出器ウィンドウ。
  15. 前記グリッド支持体は、ステンレス鋼、カーボンファイバー、ベクトラン、チタン、ベリリウム、又はそれらの組合せから作製される、請求項13に記載の検出器ウィンドウ。
  16. 少なくとも2つの積層グリッド支持体に薄膜を動作可能に取り付ける工程を含む、検出器ウィンドウの製造方法。
  17. 前記少なくとも2つのグリッド支持体は、変形される、請求項16に記載の方法。
  18. 前記少なくとも2つのグリッド支持体は、異なるピッチを有する、請求項17に記載の方法。
  19. 前記少なくとも2つのグリッド支持体は、共通の焦点を有する、請求項18に記載の方法。
  20. グリッド支持体に薄膜を動作可能に取り付ける工程を含む、検出器ウィンドウの製造方法であって、前記少なくとも1つのグリッド支持体は、複数の略指状のバーを有し、略指状のバーの各々は、溝を画定し、略同じバー幅を有し、前記グリッド支持体上で放射状に分散配置される、方法。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016205772A1 (en) 2015-06-19 2016-12-22 Mark Larson High-performance, low-stress support structure with membrane
FI127409B (en) * 2017-01-18 2018-05-15 Oxford Instruments Tech Oy radiation window
CN107487064A (zh) * 2017-08-11 2017-12-19 厦门大学 一种用于x射线衍射原位测试的窗口材料及其制造方法
US10991540B2 (en) 2018-07-06 2021-04-27 Moxtek, Inc. Liquid crystal polymer for mounting x-ray window

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03135787A (ja) * 1989-10-20 1991-06-10 Jeol Ltd X線検出器
JPH03170673A (ja) * 1989-11-28 1991-07-24 Sumitomo Electric Ind Ltd X線用窓材の製造方法
JPH03282400A (ja) * 1990-03-30 1991-12-12 Seiko Instr Inc 光学用窓材
JP2009503506A (ja) * 2005-07-27 2009-01-29 フィジカル・オプティクス・コーポレーション ロブスターアイx線画像処理システムおよびその製作方法
US20090173897A1 (en) * 2007-06-01 2009-07-09 Decker Keith W Radiation Window With Coated Silicon Support Structure
JP2012242381A (ja) * 2011-05-16 2012-12-10 Brigham Young Univ 炭素複合材料の支持構造
JP2013066650A (ja) * 2011-09-26 2013-04-18 Rf:Kk X線グリッド製造方法、製造装置、製造システム、放射線撮像装置
US20140008538A1 (en) * 2010-09-21 2014-01-09 Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften, E.V. Radiation entry window for a radiation detector
JP2014160040A (ja) * 2013-02-20 2014-09-04 Toshiba Corp X線透過装置およびx線検査装置
US20150016593A1 (en) * 2012-03-11 2015-01-15 Mark Larson Radiation window with support structure

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4178509A (en) * 1978-06-02 1979-12-11 The Bendix Corporation Sensitivity proportional counter window
US4939763A (en) * 1988-10-03 1990-07-03 Crystallume Method for preparing diamond X-ray transmissive elements
EP0400655A1 (en) * 1989-06-01 1990-12-05 Seiko Instruments Inc. Optical window piece
JP3026284B2 (ja) * 1990-09-18 2000-03-27 住友電気工業株式会社 X線窓材とその製造方法
US7756251B2 (en) * 2007-09-28 2010-07-13 Brigham Young Univers ity X-ray radiation window with carbon nanotube frame
US8314386B2 (en) * 2010-03-26 2012-11-20 Uchicago Argonne, Llc High collection efficiency X-ray spectrometer system with integrated electron beam stop, electron detector and X-ray detector for use on electron-optical beam lines and microscopes
FI20105626A0 (fi) * 2010-06-03 2010-06-03 Hs Foils Oy Erittäin ohut berylliumikkuna ja menetelmä sen valmistamiseksi
US8929515B2 (en) * 2011-02-23 2015-01-06 Moxtek, Inc. Multiple-size support for X-ray window
JP5974495B2 (ja) * 2012-01-19 2016-08-23 Jfeエンジニアリング株式会社 粒子線透過窓の製作方法
JP5910290B2 (ja) * 2012-04-26 2016-04-27 Jfeエンジニアリング株式会社 粒子線透過窓の製造方法
WO2014029900A1 (en) * 2012-08-22 2014-02-27 Hs Foils Oy Reinforced radiation window, and method for manufacturing the same

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03135787A (ja) * 1989-10-20 1991-06-10 Jeol Ltd X線検出器
JPH03170673A (ja) * 1989-11-28 1991-07-24 Sumitomo Electric Ind Ltd X線用窓材の製造方法
JPH03282400A (ja) * 1990-03-30 1991-12-12 Seiko Instr Inc 光学用窓材
JP2009503506A (ja) * 2005-07-27 2009-01-29 フィジカル・オプティクス・コーポレーション ロブスターアイx線画像処理システムおよびその製作方法
US20090173897A1 (en) * 2007-06-01 2009-07-09 Decker Keith W Radiation Window With Coated Silicon Support Structure
US20140008538A1 (en) * 2010-09-21 2014-01-09 Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften, E.V. Radiation entry window for a radiation detector
JP2012242381A (ja) * 2011-05-16 2012-12-10 Brigham Young Univ 炭素複合材料の支持構造
JP2013066650A (ja) * 2011-09-26 2013-04-18 Rf:Kk X線グリッド製造方法、製造装置、製造システム、放射線撮像装置
US20150016593A1 (en) * 2012-03-11 2015-01-15 Mark Larson Radiation window with support structure
JP2014160040A (ja) * 2013-02-20 2014-09-04 Toshiba Corp X線透過装置およびx線検査装置

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