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JP2017213296A - Radiographic apparatus, radiographic system, radiographic method, and program - Google Patents

Radiographic apparatus, radiographic system, radiographic method, and program Download PDF

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JP2017213296A
JP2017213296A JP2016110660A JP2016110660A JP2017213296A JP 2017213296 A JP2017213296 A JP 2017213296A JP 2016110660 A JP2016110660 A JP 2016110660A JP 2016110660 A JP2016110660 A JP 2016110660A JP 2017213296 A JP2017213296 A JP 2017213296A
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  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To allow reduction of workload for a test to detect abnormal pixels.SOLUTION: There is provided a radiographic apparatus which includes a plurality of pixels to detect radiation information, the radiographic apparatus comprising: region determination means which sets a plurality of partial regions each including a plurality of above-mentioned pixels and determines, as a test region, a partial region whose pixels are to be tested among the plurality of partial regions; enabling-control means for enabling the pixels included in the test region; and check means for checking the outputs of the enabled pixels.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラムに関し、特に、自動露出制御の検知画素を試験する放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラムに関する。   The present invention relates to a radiation imaging apparatus, a radiation imaging system, a radiation imaging method, and a program, and more particularly to a radiation imaging apparatus, a radiation imaging system, a radiation imaging method, and a program for testing detection pixels for automatic exposure control.

放射線を電荷に変換する変換素子や薄膜トランジスタなどのスイッチ素子と、配線が設けられた画素アレイと、走査回路や読出回路とを組み合わせた検出装置が、放射線2次元検出装置として広く利用されている。近年、検出装置の多機能化の1つとして、自動露出制御(Automatic Exposure Control:AEC)機能の内蔵が検討されている。   2. Description of the Related Art Detection devices that combine a conversion element that converts radiation into electric charges, a switching element such as a thin film transistor, a pixel array provided with wiring, and a scanning circuit or a readout circuit are widely used as a radiation two-dimensional detection device. In recent years, the incorporation of an automatic exposure control (AEC) function has been studied as one of multifunctional detection devices.

これは、検出装置において種々の放射線情報(例えば、放射線源から放射線が照射される照射開始のタイミング、放射線の照射が停止される停止タイミング、及び放射線の瞬間照射量や積算照射量など)の取得を可能とするものである。また、この機能により積算照射量を監視し、積算照射量が適正量に達した時点で検出装置が放射線源を制御し照射を終了させることも可能となる。   This is because various types of radiation information (for example, irradiation start timing when radiation is irradiated from the radiation source, stop timing when radiation irradiation is stopped, instantaneous radiation dose, integrated dose, etc.) are acquired in the detection device. Is possible. In addition, the integrated irradiation amount can be monitored by this function, and when the integrated irradiation amount reaches an appropriate amount, the detection apparatus can control the radiation source and terminate the irradiation.

特許文献1には、AEC試験時のエラーをAECの感度の影響かそれ以外の影響かを判別する技術が開示されている。また、特許文献2には、AEC画素を大ブロック小ブロックで分割したうえで、AEC画素を好適に選択決定する技術が開示されている。   Patent Document 1 discloses a technique for discriminating whether an error during an AEC test is an influence of AEC sensitivity or other influence. Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-228561 discloses a technique for suitably selecting and determining AEC pixels after dividing the AEC pixels into large blocks and small blocks.

また、非特許文献1には、医用画像部門における品質維持の評価及び日常試験方法についてのガイドラインが示されている。   Non-Patent Document 1 provides guidelines on quality maintenance evaluation and daily test methods in the medical imaging department.

特許第4875523号公報Japanese Patent No. 4875523 特開2014−52191号公報JP 2014-52191 A 「JISハンドブック2011 放射線(能)」,JIS Z 4752−3−1:2004,日本規格協会"JIS Handbook 2011 Radiation (Noh)", JIS Z 4752-3-1: 2004, Japanese Standards Association

AEC機能を内蔵した検出装置において、自動露出制御画素(AEC画素)の有効無効を自由に切り替えて放射線を検知する。この場合、AEC機能の受け入れ試験や日常試験を実施する際には、AEC画素の組み合わせの最小単位に対して放射線の照射を伴う試験をしておく必要があり、AEC画素の数によっては試験にかかる作業負荷が高いものとなる。   In a detection apparatus incorporating an AEC function, radiation is detected by freely switching between valid and invalid of automatic exposure control pixels (AEC pixels). In this case, when the acceptance test of the AEC function or the daily test is performed, it is necessary to perform a test with radiation irradiation on the minimum unit of the combination of AEC pixels, and depending on the number of AEC pixels, the test is performed. Such a workload is high.

また、AEC画素に異常画素がある場合、どのAEC画素が異常であるかを特定する作業負荷も高い。そこで、本発明は、異常画素を検出するための操作を軽減する放射線撮影装置を提供する。   Further, when there are abnormal pixels in the AEC pixels, the workload for specifying which AEC pixel is abnormal is also high. Therefore, the present invention provides a radiation imaging apparatus that reduces the operation for detecting abnormal pixels.

本発明は、放射線情報を検知する複数の画素を有した放射線撮影装置であって、前記複数の画素を含む部分領域を複数設定し、複数の部分領域のうち、画素の試験を実施する部分領域を試験領域として決定する領域決定手段と、前記試験領域に含まれる前記画素を有効化する有効化制御手段と、有効化された前記画素の出力をチェックするチェック手段と、を備える。   The present invention is a radiation imaging apparatus having a plurality of pixels for detecting radiation information, wherein a plurality of partial regions including the plurality of pixels are set, and a partial region in which a pixel test is performed among the plurality of partial regions Are determined as test areas, validation control means for validating the pixels included in the test area, and check means for checking the output of the validated pixels.

本発明により、受け入れ試験や日常試験の際に異常画素があると検出された場合にどの画素に異常があるのかを確認することができるようになる。この結果、異常画素を検出するための試験にかかる作業負荷を軽減することができる。   According to the present invention, it is possible to confirm which pixel is abnormal when it is detected that there is an abnormal pixel during an acceptance test or a daily test. As a result, it is possible to reduce the work load on the test for detecting abnormal pixels.

検出装置の断面の一例を示した図である。It is the figure which showed an example of the cross section of a detection apparatus. 検出装置の等価回路図の一例を示した図である。It is the figure which showed an example of the equivalent circuit schematic of a detection apparatus. 放射線撮影システムの構成の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of a structure of a radiography system. 第1の実施形態に係る放射線撮影装置の処理の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of a process of the radiography apparatus which concerns on 1st Embodiment. 対象領域を部分領域に分割することを説明する図である。It is a figure explaining dividing an object field into a partial field. 第1の実施形態に係る放射線撮影装置の処理の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of a process of the radiography apparatus which concerns on 1st Embodiment.

本発明の概要を示す。図1(a)及び(b)は、検出装置全体の断面模式図である。検出装置は、対象領域の放射線情報を検知する複数の画素(検知画素)を試験する放射線撮影装置である。   The outline | summary of this invention is shown. 1A and 1B are schematic cross-sectional views of the entire detection device. The detection device is a radiation imaging device that tests a plurality of pixels (detection pixels) that detect radiation information of a target region.

図1(a)において、放射線源1は、被写体2に向かってX線3を放射する。検出装置4は、基板100上に2次元行列状に配列された複数の変換素子12を有している。検出装置4と対向してシンチレータ190が配置され、シンチレータ190は、X線の強度に応じて異なる強度の可視光を放つ。光電変換により、各変換素子には各点における光強度に応じて異なる量の信号が蓄積される。これを後述の方法で読み出すことで、X線画像を形成する。   In FIG. 1A, the radiation source 1 emits X-rays 3 toward the subject 2. The detection device 4 has a plurality of conversion elements 12 arranged in a two-dimensional matrix on the substrate 100. A scintillator 190 is arranged to face the detection device 4, and the scintillator 190 emits visible light having different intensities according to the intensity of X-rays. By photoelectric conversion, different amounts of signals are accumulated in each conversion element according to the light intensity at each point. An X-ray image is formed by reading this out by a method described later.

図2は、検出装置4の模式的等価回路図である。撮影領域90には、通常画素11及び検知画素111が、2次元行列的に配置されている。以下、通常画素及び検知画素をあわせて画素と呼ぶものとする。   FIG. 2 is a schematic equivalent circuit diagram of the detection device 4. In the imaging region 90, the normal pixels 11 and the detection pixels 111 are arranged in a two-dimensional matrix. Hereinafter, the normal pixel and the detection pixel are collectively referred to as a pixel.

検出装置4は、1000個×1000個から3000個×3000個程度の画素を有するが、図2(a)に示すように、本実施形態では簡単のために12個×12個の画素を有するとする。通常画素11は、診断に用いられる2次元画像を構成するために、撮影領域90全体にわたって配列されている。図2(b)に示すように、通常画素11は、変換素子12とスイッチ素子13とを含む。   The detection device 4 has about 1000 × 1000 to 3000 × 3000 pixels. However, as shown in FIG. 2A, the detection device 4 has 12 × 12 pixels for simplicity. Then. The normal pixels 11 are arranged over the entire imaging region 90 in order to form a two-dimensional image used for diagnosis. As shown in FIG. 2B, the normal pixel 11 includes a conversion element 12 and a switch element 13.

変換素子12は、バイアス配線19によってバイアス電源50に接続され、変換素子12が光電変換動作を行うための電圧が印加される。信号配線16は、列方向に複数配置され、複数の画素のスイッチ素子のソース電極に共通に接続される。制御配線15は、行方向に複数配置され、複数の画素のスイッチ素子のゲート電極に共通に接続される。制御配線15は走査回路20に接続され、信号配線16は読出回路30に接続される。   The conversion element 12 is connected to a bias power supply 50 by a bias wiring 19 and a voltage for the conversion element 12 to perform a photoelectric conversion operation is applied. A plurality of signal lines 16 are arranged in the column direction and are commonly connected to the source electrodes of the switch elements of the plurality of pixels. A plurality of control wirings 15 are arranged in the row direction and are commonly connected to the gate electrodes of the switch elements of the plurality of pixels. The control wiring 15 is connected to the scanning circuit 20, and the signal wiring 16 is connected to the readout circuit 30.

スイッチ素子13が導通状態となると、画素の変換素子12の信号が、信号配線16を通じて読出回路30で読み出される。検知画素111は、照射情報(放射線の照射開始情報、照射終了情報、瞬間照射量、及び積算照射量など)を取得するために設けられている。本実施形態では、12×12画素中に9個の検知画素111が含まれている。   When the switch element 13 becomes conductive, the signal of the pixel conversion element 12 is read out by the readout circuit 30 through the signal wiring 16. The detection pixel 111 is provided to acquire irradiation information (radiation irradiation start information, irradiation end information, instantaneous irradiation amount, integrated irradiation amount, and the like). In the present embodiment, nine detection pixels 111 are included in 12 × 12 pixels.

図2(c)に示すように、検知画素111は、変換素子121とスイッチ素子131とを含む。変換素子121は、バイアス配線19によってバイアス電源50に接続され、光電変換動作を行うための電圧が印加される。検知配線161は、検知画素111のスイッチ素子131のソース電極に共通に接続される。本実施形態では、検知画素111が、1本の検知配線161に3個ずつ接続されている。   As shown in FIG. 2C, the detection pixel 111 includes a conversion element 121 and a switch element 131. The conversion element 121 is connected to the bias power supply 50 by the bias wiring 19 and is applied with a voltage for performing a photoelectric conversion operation. The detection wiring 161 is commonly connected to the source electrode of the switch element 131 of the detection pixel 111. In the present embodiment, three detection pixels 111 are connected to one detection wiring 161 at a time.

制御配線15の代わりに、検知画素用の制御配線411が、検知画素のスイッチ素子のゲート電極に共通に接続される。走査回路20、読出回路30、検知画素用の走査回路41、及び検知画素用の読出回路40は、制御部49に接続されている。制御部49は、これらの回路を制御し、種々の動作を行わせる。バイアス配線19に所定の電圧を印加した状態で、検知画素用の制御配線411を1本ずつ駆動させることで、検知配線161に検知画素111の信号が読み出される。   Instead of the control wiring 15, a detection pixel control wiring 411 is commonly connected to the gate electrode of the switch element of the detection pixel. The scanning circuit 20, the readout circuit 30, the detection pixel scanning circuit 41, and the detection pixel readout circuit 40 are connected to a control unit 49. The control unit 49 controls these circuits to perform various operations. By driving the detection pixel control wiring 411 one by one in a state where a predetermined voltage is applied to the bias wiring 19, the signal of the detection pixel 111 is read to the detection wiring 161.

各検知配線161に接続された複数の検知画素用の制御配線411が互いに電気的に接続されていない。それにより、1本の検知配線161に接続された複数の検知画素111を個別に駆動でき、検知画素111の自由な組み合わせで検知信号を読み出すことができる。   A plurality of detection pixel control wirings 411 connected to each detection wiring 161 are not electrically connected to each other. Thereby, a plurality of detection pixels 111 connected to one detection wiring 161 can be individually driven, and a detection signal can be read by a free combination of the detection pixels 111.

また、制御部49は、検知画素用の読出回路40からの照射情報を一時的に保持し、照射情報を用いた種々の演算や、照射情報に基づく種々の判断を行う。例えば、制御部49は、放射線源1から放射線3が照射される照射開始のタイミングの判断、放射線3の照射が停止される停止タイミングの判断、放射線の瞬間照射量の判断、及び放射線の積算照射量の判断などを行うことができる。   The control unit 49 temporarily holds irradiation information from the readout circuit 40 for the detection pixels, and performs various calculations using the irradiation information and various determinations based on the irradiation information. For example, the control unit 49 determines the irradiation start timing at which the radiation 3 is irradiated from the radiation source 1, the stop timing at which the irradiation of the radiation 3 is stopped, the determination of the instantaneous radiation dose, and the cumulative radiation irradiation. The amount can be judged.

さらに、制御部49は、放射線源1と有線または無線で電気的に接続され、放射線源1の開始・停止信号を受け取ったり、後述するように放射線源1に対して放射線照射開始又は停止を制御したりできるようにしてもよい。なお、図2では、読出回路30と検知画素用の読出回路40を別の回路で示したが、これらは一体形成されてもよい。   Further, the control unit 49 is electrically connected to the radiation source 1 in a wired or wireless manner, receives a start / stop signal of the radiation source 1, and controls the start or stop of radiation irradiation with respect to the radiation source 1 as will be described later. You may be able to do it. In FIG. 2, the readout circuit 30 and the readout circuit 40 for detection pixels are shown as separate circuits, but they may be formed integrally.

(第1の実施形態)
本発明の第1の実施形態について説明する。本実施形態では、上記の検出装置4の受け入れ試験や日常試験において異常画素を検出するための手段を、図3及び図4を用いて説明する。図3は、本実施形態に係る放射線撮影装置を含む放射線撮影システムの構成の一例を示すブロック図である。図4は、本実施形態に係る放射線撮影装置の処理の一例を示すフローチャートである。
(First embodiment)
A first embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, means for detecting abnormal pixels in the acceptance test and daily test of the detection device 4 will be described with reference to FIGS. 3 and 4. FIG. 3 is a block diagram illustrating an example of a configuration of a radiation imaging system including the radiation imaging apparatus according to the present embodiment. FIG. 4 is a flowchart illustrating an example of processing of the radiation imaging apparatus according to the present embodiment.

上記と共通する部分の説明は省略する。放射線撮影装置は、放射線情報を検知する複数の画素を有する。放射線撮影装置は、対象領域の放射線情報を検知する複数の画素(検知画素)を試験する。本実施形態では、画素(検知画素)は自動露出制御画素(AEC画素)である。   The description of the parts common to the above is omitted. The radiation imaging apparatus has a plurality of pixels that detect radiation information. The radiation imaging apparatus tests a plurality of pixels (detection pixels) that detect radiation information of the target region. In the present embodiment, the pixel (detection pixel) is an automatic exposure control pixel (AEC pixel).

放射線撮影装置は、試験開始指示部301、領域決定部302、有効化制御部303、出力部304、X線発生部(放射線発生部)305、データ収集部306、チェック部307、及び画素管理部308を備える。領域決定部302は、複数の画素を含む部分領域を複数設定し、複数の部分領域のうち、画素の試験を実施する部分領域を試験領域として決定する。有効化制御部303は、試験領域に含まれる画素を有効化する。チェック部307は、有効化された画素の出力をチェックする。   The radiation imaging apparatus includes a test start instruction unit 301, an area determination unit 302, an activation control unit 303, an output unit 304, an X-ray generation unit (radiation generation unit) 305, a data collection unit 306, a check unit 307, and a pixel management unit. 308. The region determination unit 302 sets a plurality of partial regions including a plurality of pixels, and determines a partial region in which the pixel test is performed among the plurality of partial regions as a test region. The validation control unit 303 validates the pixels included in the test area. The check unit 307 checks the output of the validated pixel.

ステップS401において、試験開始指示部301は、異常画素を検出するための試験(異常画素検出試験)の開始を指示する。例えば、異常画素検出試験を開始するためのボタンなどが選択されることで、異常画素検出試験の開始が指示されてもよいし、検出装置4のキャリブレーションをすることで、異常画素検出試験の開始が指示されてもよい。また、通常撮影において画像に異常を検知した場合に異常画素検出試験の開始が指示されてもよい。異常画素検出試験の開始が指示されると、異常画素検知フローが開始される。   In step S401, the test start instruction unit 301 instructs the start of a test (abnormal pixel detection test) for detecting abnormal pixels. For example, the start of the abnormal pixel detection test may be instructed by selecting a button or the like for starting the abnormal pixel detection test, or the detection device 4 is calibrated to perform the abnormal pixel detection test. A start may be indicated. In addition, when an abnormality is detected in an image during normal shooting, the start of an abnormal pixel detection test may be instructed. When the start of the abnormal pixel detection test is instructed, the abnormal pixel detection flow is started.

ステップS402において、AEC画素(検知画素)を全て有効にするように、検知画素用の操作回路41及び検知画素用の読出回路40が制御部49により制御される。領域決定部302が、AEC画素の全てを試験領域として決定し、有効化制御部303が、AEC画素の全てを有効化する。   In step S402, the control unit 49 controls the detection pixel operation circuit 41 and the detection pixel readout circuit 40 so that all the AEC pixels (detection pixels) are valid. The area determination unit 302 determines all the AEC pixels as test areas, and the validation control unit 303 validates all the AEC pixels.

ステップS403において、X線発生装置(放射線発生部)305が有効化されたAEC画素に放射線を照射する。放射線源1から照射された放射線3は検出領域90に照射される。検知画素111にも放射線3が照射されるので、AEC画素が有効に動作する。このとき、AEC画素に何らかの異常があり、通常想定しているよりも早く自動露出制御信号を出力することがある。このように早く自動露出制御信号を出力すると、放射線源1は放射線3の照射を停止してしまう。   In step S403, the X-ray generation apparatus (radiation generation unit) 305 irradiates radiation to the activated AEC pixel. The radiation 3 emitted from the radiation source 1 is applied to the detection region 90. Since the detection pixel 111 is also irradiated with the radiation 3, the AEC pixel operates effectively. At this time, there is some abnormality in the AEC pixel, and the automatic exposure control signal may be output earlier than normally assumed. If the automatic exposure control signal is output early as described above, the radiation source 1 stops the irradiation of the radiation 3.

この場合、検出装置4で検出したデータに基づく放射線画像が、想定よりも少ない放射線量で画像化されることとなり、所望の画像が得られないおそれがある。そのため、想定より早く自動露出制御信号を出力するAEC画素を異常画素として特定し、対策を講ずる必要がある。   In this case, the radiographic image based on the data detected by the detection device 4 is imaged with a radiation dose smaller than expected, and a desired image may not be obtained. Therefore, it is necessary to identify an AEC pixel that outputs an automatic exposure control signal earlier than expected as an abnormal pixel and take measures.

ステップS404において、画像出力値がチェックされる。チェック部307は、画像画素データを所定の期待値と比較することにより、AEC画素の出力をチェックする。ここで、非特許文献1によれば、撮影された画像は、撮影用フイルムの現像後、濃度計で撮影用フイルムの指定した部分の光学的濃度が使用者の期待に合うようにならなければならない。通常画素11により撮像された画像データが使用者の期待に合うような値(期待値)であるかを確認する。   In step S404, the image output value is checked. The check unit 307 checks the output of the AEC pixel by comparing the image pixel data with a predetermined expected value. Here, according to Non-Patent Document 1, after the development of the film for photographing, the optical density of the portion designated by the film for photographing with the densitometer does not meet the user's expectation. Don't be. It is confirmed whether the image data captured by the normal pixel 11 is a value (expected value) that meets the user's expectation.

ただし、フイルムに現像せずとも、画像データの値により検証可能である。IHE(Integrating the Healthcare Enterprise)のテクニカルフレームワークのCPI(Consistent Presentation of Image)などにも規定されている通り、画像データと表示の一貫性が保たれている。   However, it can be verified by the value of the image data without developing the film. As specified in CPI (Consistent Presentation of Image) of the Technical Framework of IHE (Integrating the Healthcare Enterprise), consistency of image data and display is maintained.

例えば、自動露出制御した結果の画像では、規定の体圧を模したファントムを被検体とした放射線撮影において、画素値が2000〜3000の間にあることなどのように、期待値を設定することができる。したがって、ステップS404において、画像出力値を判定した結果が期待値通りであれば、異常画素はないと判断され、本処理フローが終了する。画像出力値を判定した結果が期待値と異なる場合は、ステップS4の処理フローが実施される。   For example, in an image obtained as a result of automatic exposure control, an expected value is set such that the pixel value is between 2000 and 3000 in radiography using a phantom simulating a specified body pressure as a subject. Can do. Accordingly, if the result of determining the image output value in step S404 is as expected, it is determined that there is no abnormal pixel, and this processing flow ends. If the result of determining the image output value is different from the expected value, the process flow of step S4 is performed.

ステップS4は、領域決定部302により開始され、本処理フローで再帰的に呼び出されることを表す。この処理が開始されると、ステップS405の処理が実施される。   Step S4 is started by the area determining unit 302 and represents being called recursively in this processing flow. When this process is started, the process of step S405 is performed.

ステップS405で対象としている撮影領域90の部分領域が指定されて処理を実施する。このフローが初回に呼び出される場合、領域決定部302は、撮影領域90全面を対象領域とするのが一般的である。   In step S405, a partial region of the target photographing region 90 is designated and processing is performed. When this flow is called for the first time, the area determination unit 302 generally sets the entire imaging area 90 as a target area.

このステップでは、領域決定部302は、対象領域に対して部分領域に分割可能であるかどうかを判断する。例えば、図2の撮影領域90の12画素x12画素の中にAEC画素が9個存在し、12画素x12画素を6画素(列)x12画素(行)の領域と6画素(列)x12画素(行)の領域のように左右に2分割することが可能である。左右に2分割した場合は、AEC画素は左側の領域に6個、右側の領域に3個存在する形で分割されることになる。   In this step, the region determination unit 302 determines whether or not the target region can be divided into partial regions. For example, nine AEC pixels exist in 12 pixels × 12 pixels in the imaging region 90 of FIG. 2, and 12 pixels × 12 pixels are divided into 6 pixels (columns) × 12 pixels (rows) region and 6 pixels (columns) × 12 pixels ( It is possible to divide the image into two areas, such as the area of (row). When the left and right are divided into two, six AEC pixels are divided in the left area and three in the right area.

図5は、撮影領域90を部分領域に分割することを説明する図である。撮影領域90は撮影領域601で表され、AEC画素は画素602で表される。12画素x12画素の撮影領域601は、中央線603を境に左右に分割することができる。左右に2分割したのは一例であり、領域の分割方法は公知の技術により自由に分割することが可能である。本実施形態では、図5に示すように、撮影領域601は4つの部分領域604,605,606,607に分割される。   FIG. 5 is a diagram for explaining the division of the imaging region 90 into partial regions. The shooting area 90 is represented by a shooting area 601, and the AEC pixel is represented by a pixel 602. An imaging region 601 of 12 pixels × 12 pixels can be divided into left and right with a center line 603 as a boundary. The division into two left and right is an example, and the region dividing method can be freely divided by a known technique. In the present embodiment, as shown in FIG. 5, the imaging region 601 is divided into four partial regions 604, 605, 606, and 607.

ただし、分割する際にはAEC画素602を含む領域を分割することが重要であり、AEC画素602のない領域を分割してもこの場合は意味がない。そのため、領域決定部302は、AEC画素602を含む最小単位に分割できるかを判断するものである。   However, when dividing, it is important to divide the area including the AEC pixel 602. Even if the area without the AEC pixel 602 is divided, there is no meaning in this case. Therefore, the area determination unit 302 determines whether or not the area determination unit 302 can be divided into minimum units including the AEC pixel 602.

なお、場合によっては、各AEC画素が独立して動作できずに、グループで動作する場合がある。制御配線15や制御部49の製造方法によっては、ラインごとに読み出し可能であるが、画素ごとには読み出しできないような場合もある。この場合は、領域決定部302は、各ラインに包含されるAEC画素602の組み合わせを1つのグループとして認識する。領域決定部302は、そのグループを包含した形で、領域の分割が可能であるかどうかを判別する。   In some cases, each AEC pixel cannot operate independently, but operates in a group. Depending on the manufacturing method of the control wiring 15 and the control unit 49, the data can be read for each line, but the data may not be read for each pixel. In this case, the region determination unit 302 recognizes a combination of AEC pixels 602 included in each line as one group. The area determination unit 302 determines whether the area can be divided in a form including the group.

例えば、公知の4分木分割をした場合、撮影領域601は4つの部分領域604,605,606,607に分割される。部分領域604には、AEC画素602が2つ包含され、部分領域605にはAEC画素602が1つ包含され、部分領域606にはAEC画素602が4つ包含される。   For example, when the known quadtree division is performed, the shooting area 601 is divided into four partial areas 604, 605, 606, and 607. The partial area 604 includes two AEC pixels 602, the partial area 605 includes one AEC pixel 602, and the partial area 606 includes four AEC pixels 602.

さらに、部分領域606を4分木分割すると、部分領域608,609,610,611に分割される。それぞれの部分領域608,609,610,611にはAEC画素602が1つ包含される。このAEC画素が個別に動作可能であれば、部分領域608,609,610,611が最小単位となる。   Furthermore, when the partial area 606 is divided into quadtrees, it is divided into partial areas 608, 609, 610, and 611. Each partial region 608, 609, 610, 611 includes one AEC pixel 602. If these AEC pixels can be operated individually, the partial areas 608, 609, 610, and 611 are the minimum units.

後述するステップS410で画像出力値が期待値と異なると判定された場合、ステップS4が再帰的に呼び出される。部分領域への分割とAEC画素のチェックが繰り返されることにより、領域決定部302は、独立して動作するAEC画素を含む部分領域(最小単位)にまで対象領域又は試験領域を分割する。   If it is determined in step S410 described later that the image output value is different from the expected value, step S4 is recursively called. By repeatedly dividing into partial areas and checking AEC pixels, the area determination unit 302 divides the target area or the test area into partial areas (minimum units) including AEC pixels that operate independently.

ステップS404もしくは後述するステップS410で画像出力値が期待値と異なると判定され、ステップS405で部分領域(最小単位)に分割できない場合、ステップS407へ進む。ステップS407では、対象領域に含まれるAEC画素による動作が不良であるので、その対象領域に含まれるAEC画素を不良と判定する。   If it is determined in step S404 or step S410, which will be described later, that the image output value is different from the expected value, and if it cannot be divided into partial areas (minimum units) in step S405, the process proceeds to step S407. In step S407, since the operation by the AEC pixel included in the target area is defective, the AEC pixel included in the target area is determined to be defective.

ステップS404もしくは後述するステップS410で画像出力値が期待値と異なると判定され、ステップS405で部分領域に分割できる場合、ステップS406へ進む。ステップS406では、領域決定部302が、AEC画素を含む部分領域に対象領域を分割する。本実施形態では、ステップS405でAEC画素602が駆動できる最小単位に分割可能であると判別されたので、対象領域を部分領域に分割する。   If it is determined in step S404 or step S410 described later that the image output value is different from the expected value, and if it can be divided into partial areas in step S405, the process proceeds to step S406. In step S406, the region determination unit 302 divides the target region into partial regions including AEC pixels. In this embodiment, since it is determined in step S405 that the AEC pixel 602 can be divided into minimum units that can be driven, the target area is divided into partial areas.

ステップS408では、領域決定部302が、複数の部分領域のうち試験を実施する部分領域を試験領域として決定する。また、有効化制御部303が、試験領域に含まれるAEC画素(検知画素)を有効化する。有効化制御部303が、ステップS406で設定した部分領域におけるAEC画素を有効にするように制御部49を制御する。   In step S <b> 408, the region determination unit 302 determines a partial region to be tested among a plurality of partial regions as a test region. In addition, the validation control unit 303 validates AEC pixels (detection pixels) included in the test area. The validation control unit 303 controls the control unit 49 to validate the AEC pixel in the partial area set in step S406.

ステップS409では、有効化されたAEC画素に放射線3が照射される。放射線3の照射はステップS403と同様であるが、ステップS408ではAEC画素が限定された状態での放射線照射となる。AEC画素の出力値が所定の値を超えると、出力部304は、自動露出制御検知(AEC検知)によりAEC画素の自動露出制御信号(AEC信号)を出力する。出力部304からX線発生装置305にAEC信号が出力される。   In step S409, the radiation 3 is irradiated to the activated AEC pixel. The irradiation of the radiation 3 is the same as that in step S403, but in step S408, the irradiation is performed with the AEC pixels being limited. When the output value of the AEC pixel exceeds a predetermined value, the output unit 304 outputs an automatic exposure control signal (AEC signal) of the AEC pixel by automatic exposure control detection (AEC detection). An AEC signal is output from the output unit 304 to the X-ray generator 305.

ステップS410では、チェック部307が、有効化されたAEC画素の出力をチェックする。データ収集部306が、AEC信号に基づいて画像画素データを収集し、データ収集部306で収集された画像画素データの値を、チェック部307がチェックする。チェックは、ステップS404と同様である。チェック部307は、画像画素データを所定の期待値と比較することにより、画素の出力をチェックする。   In step S410, the check unit 307 checks the output of the validated AEC pixel. The data collection unit 306 collects image pixel data based on the AEC signal, and the check unit 307 checks the value of the image pixel data collected by the data collection unit 306. The check is the same as in step S404. The check unit 307 checks the output of the pixel by comparing the image pixel data with a predetermined expected value.

画像チェックの結果が期待値と異なる場合は、チェックされた部分領域を対象領域としてステップS406に戻り、ステップS4のフローが再帰的に実施される。つまり、領域決定部302は、チェックの結果に応じて、AEC画素を含む部分領域に試験領域をさらに分割し、さらに分割された複数の部分領域のうち試験を実施する部分領域を試験領域として決定する。この場合、領域決定部302は、独立して動作するAEC画素を含む部分領域にまで対象領域又は試験領域を分割する。   If the result of the image check is different from the expected value, the checked partial area is set as the target area, the process returns to step S406, and the flow of step S4 is recursively performed. That is, the area determination unit 302 further divides the test area into partial areas including AEC pixels according to the check result, and determines a partial area to be tested as a test area from among the plurality of divided partial areas. To do. In this case, the region determination unit 302 divides the target region or the test region into partial regions including AEC pixels that operate independently.

画像チェックの結果が期待値通りの結果であれば、次の部分領域の試験を判定するためにステップS411に進む。試験の結果は、画素管理部308で記録管理される。画素管理部308は、チェックの結果をチェックの時間情報とともに記録する。   If the result of the image check is the result as expected, the process proceeds to step S411 to determine the next partial area test. The result of the test is recorded and managed by the pixel management unit 308. The pixel management unit 308 records the check result together with the check time information.

ステップS411では、ステップS406で分割された部分領域でステップS408からステップS410までのフローを実施した領域以外の部分領域で試験の未実施の領域があるかどうかを判定する。未実施の部分領域がある場合は、その部分領域に関してステップS408からの処理が実施される。   In step S411, it is determined whether there is an unexecuted region in a partial region other than the region in which the flow from step S408 to step S410 is performed in the partial region divided in step S406. If there is an unexecuted partial area, the processing from step S408 is performed on the partial area.

領域決定部302は、部分領域のうち試験が未実施である部分領域を試験領域として決定する。次の試験領域の決定方法は、公知の技術でよく、例えば、公知のモートン順序などを用いて選択すればよい。図5でモートン順序を用いると、領域606の対象領域を部分領域608,609,610,611の順番で選択していく。   The region determination unit 302 determines a partial region that has not been tested among the partial regions as a test region. The next test area determination method may be a known technique, for example, a known Morton order. When the Morton order is used in FIG. 5, the target area of the area 606 is selected in the order of the partial areas 608, 609, 610, and 611.

以上のようなフローを実施することで、1つ又は複数の異常画素を検出することが可能となる。   By performing the flow as described above, it is possible to detect one or a plurality of abnormal pixels.

(第2の実施形態)
以下では、本発明の第2の実施形態を記す。実施形態1と共通する部分の説明は省略する。実施形態1に記載の検出装置4において、AEC画素の日常試験を行う実施形態を図6のフローチャートを用いて説明する。
(Second Embodiment)
Hereinafter, a second embodiment of the present invention will be described. Descriptions of parts common to the first embodiment are omitted. In the detection apparatus 4 described in the first embodiment, an embodiment in which a daily test of AEC pixels is performed will be described with reference to a flowchart of FIG.

ステップS501において、日常試験の開始指示を行う。例えば、撮影装置の操作画面上の開始ボタンなどを押すことで処理が開始される。また、試験開始指示部301が、日常試験(異常画素検出試験)の開始を指示してもよい。   In step S501, a daily test start instruction is issued. For example, the processing is started by pressing a start button on the operation screen of the photographing apparatus. Further, the test start instruction unit 301 may instruct the start of a daily test (abnormal pixel detection test).

ステップS502において、日常試験の履歴情報から最終試験日のAEC画素をチェックする。日常試験は、実施履歴をデータベースなどにAEC画素と試験日を記憶しておくことで履歴管理される。画素管理部308が、チェックの結果の履歴を管理してもよい。   In step S502, the AEC pixel of the last test date is checked from the history information of the daily test. The daily test is managed by storing the execution history in a database or the like by storing the AEC pixel and the test date. The pixel management unit 308 may manage a history of check results.

例えば、検出装置4の新規購入時には、最終試験日は全て同一日となっている。その後、試験を実施すると最終試験日が更新される。検出装置4のAEC画素全ての履歴情報が保持される。また、電気的に駆動可能なAEC画素の組み合わせの最小単位ごとに、日常試験が行われ、履歴管理されてもよい。   For example, when the detection device 4 is newly purchased, the final test dates are all the same day. Thereafter, when the test is performed, the last test date is updated. History information of all AEC pixels of the detection device 4 is held. Further, daily tests may be performed and history management may be performed for each minimum unit of combinations of electrically driveable AEC pixels.

ステップS5は、本処理フローで再帰的に呼び出されることを表す。この処理が開始されると、ステップS503の処理が実施される。通常、最初に処理する場合は検出装置4の全面を対象領域として開始する。   Step S5 represents being called recursively in this processing flow. When this process is started, the process of step S503 is performed. Usually, when processing first, the whole surface of the detection apparatus 4 is started as a target area.

ステップS503において、対象領域内に最終試験日が最も古い画素が複数存在するかどうかが判定される。通常、最初に処理する場合は、検出装置4の全面が対象領域となるため、全てのAEC画素の中で最終試験日が最も古い画素の数が調べられることになる。   In step S503, it is determined whether or not there are a plurality of pixels having the oldest final test date in the target area. Usually, when processing is performed first, the entire surface of the detection device 4 is the target region, and therefore, the number of pixels with the oldest final test date among all the AEC pixels is checked.

最も古い画素が複数存在しない場合、すなわち1つの場合は、ステップS504が実行され、1つのAEC画素が試験画素として決定される。試験される画素(試験画素)を決定したら、ステップS5の処理フローは終了する。なお、AEC画素の数が0の場合は、処理は終了する。このように、領域決定部302は、対象領域に所定の数のAEC画素を含むか否かを判定する。   When there are not a plurality of the oldest pixels, that is, when there is one, step S504 is executed, and one AEC pixel is determined as a test pixel. When the pixel to be tested (test pixel) is determined, the process flow of step S5 ends. If the number of AEC pixels is 0, the process ends. As described above, the region determination unit 302 determines whether or not the target region includes a predetermined number of AEC pixels.

ステップS503において、最も古い画素が複数存在すると判定された場合は、その中から試験する画素(又は、試験領域)を特定するためにステップS505が実行される。領域決定部302は、履歴に基づいて試験領域を決定する。後述するように、本実施形態では、領域決定部302は、試験の試験最終時間が最も古い画素が最も多い部分領域を試験領域として決定する。ここで、試験最終時間には、試験時間の代わりに試験日が用いられてもよい。   If it is determined in step S503 that there are a plurality of the oldest pixels, step S505 is executed to specify a pixel (or test area) to be tested from among them. The area determination unit 302 determines a test area based on the history. As will be described later, in this embodiment, the region determination unit 302 determines a partial region having the largest number of pixels with the oldest test final time as a test region. Here, the test date may be used as the test final time instead of the test time.

ステップS505において、対象領域の中心から所定の範囲内にAEC画素があるかどうかを確認する。最終試験日が同日のAEC画素が複数存在する場合に、対象領域の中心部を優先的に試験するためである。本実施の形態では、対象領域の中心部のAEC画素を優先的に試験するが、中心部のAEC画素を優先的に試験しない場合は、この処理ステップをスキップしてもよい。   In step S505, it is confirmed whether or not there is an AEC pixel within a predetermined range from the center of the target region. This is because when there are a plurality of AEC pixels having the same final test date, the central portion of the target region is preferentially tested. In the present embodiment, the AEC pixel at the center of the target area is preferentially tested. However, if the AEC pixel at the center is not preferentially tested, this processing step may be skipped.

対象領域の中心から所定の範囲内にAEC画素が存在する場合は、ステップS506が実行される。なお、対象領域の中心とAEC画素が数学的に完全一致している必要はなく、対象領域の中心から数画素程度の誤差を許容するようにしてもよい。   If there is an AEC pixel within a predetermined range from the center of the target area, step S506 is executed. Note that the center of the target area and the AEC pixel do not need to be completely mathematically matched, and an error of about several pixels from the center of the target area may be allowed.

ステップS506において、対象領域の中心から所定の範囲内のAEC画素を試験画素(試験領域)として、ステップS5の処理フローは終了する。   In step S506, an AEC pixel within a predetermined range from the center of the target region is set as a test pixel (test region), and the processing flow of step S5 ends.

ステップS507において、第1の実施形態と同様に、部分領域に分割する処理が実施される。ステップS508において、ステップS507で部分領域に分割した結果、部分領域の中で最終試験日が最も古いAEC画素が最も多い部分領域を試験領域とする。このように、領域決定部302は、AEC画素を含む部分領域に対象領域を分割し、複数の部分領域のうち試験を実施する部分領域を試験領域として決定する。   In step S507, as in the first embodiment, a process of dividing into partial areas is performed. In step S508, as a result of the division into partial areas in step S507, the partial area having the largest number of AEC pixels with the oldest final test date is set as the test area. In this manner, the region determination unit 302 divides the target region into partial regions including AEC pixels, and determines a partial region to be tested among a plurality of partial regions as a test region.

領域決定部302は、試験の試験最終時間が最も古い画素が最も多い部分領域を試験領域として決定する。例えば、図5に示すように、部分領域604,605,606,607に分割した場合であって、全てのAEC画素の最終試験日が同じであると仮定する。この場合、部分領域606が4つのAEC画素を包含しており、AEC画素の数が最も多いので、部分領域606が試験領域として決定される。部分領域606を対象領域としてステップS5のフローを再帰的に実行する。   The region determination unit 302 determines a partial region having the largest number of pixels with the oldest test final time as a test region. For example, as shown in FIG. 5, it is assumed that all the AEC pixels have the same final test date in the case of division into partial regions 604, 605, 606, and 607. In this case, since the partial area 606 includes four AEC pixels and the number of AEC pixels is the largest, the partial area 606 is determined as the test area. The flow of step S5 is recursively executed with the partial area 606 as the target area.

ステップS5が再帰的に呼び出され、部分領域への分割が繰り返されることにより、試験画素が特定される。例えば、ステップS503を再帰的に繰り返すことにより、領域決定部302は、所定の数のAEC画素を含む部分領域にまで対象領域又は試験領域を分割する。また、ステップS505を再帰的に繰り返すことにより、領域決定部302は、部分領域の中心から所定の範囲内にAEC画素が存在するまで対象領域又は試験領域を分割する。   Step S5 is recursively called, and the division into partial areas is repeated to identify the test pixel. For example, by recursively repeating step S503, the region determination unit 302 divides the target region or the test region into partial regions including a predetermined number of AEC pixels. Further, by recursively repeating step S505, the region determining unit 302 divides the target region or the test region until an AEC pixel exists within a predetermined range from the center of the partial region.

ステップS5のフローを再帰的に実行することで、試験画素が特定される。ステップS509において、特定された試験画素を有効にするために、検知画素用の走査回路41及び検知画素用の読出回路40が制御部49により制御されて動作し、放射線源1が放射線3を照射する。有効化制御部303が、試験領域に含まれるAEC画素(検知画素)を有効化する。X線発生装置(放射線発生部)305が有効化されたAEC画素に放射線を照射する。   A test pixel is specified by recursively executing the flow of step S5. In step S509, in order to validate the specified test pixel, the detection pixel scanning circuit 41 and the detection pixel readout circuit 40 operate under the control of the control unit 49, and the radiation source 1 emits the radiation 3. To do. The validation control unit 303 validates AEC pixels (detection pixels) included in the test area. The X-ray generator (radiation generator) 305 irradiates the AEC pixels that are activated.

ステップS510において、第1の実施形態と同様に、AEC画像の有効性を判断し、試験履歴に記録する。チェック部307は、画像画素データを所定の期待値と比較することにより、AEC画素の出力をチェックする。画素管理部308は、チェックの結果をチェックの時間情報とともに記録する。   In step S510, as in the first embodiment, the validity of the AEC image is determined and recorded in the test history. The check unit 307 checks the output of the AEC pixel by comparing the image pixel data with a predetermined expected value. The pixel management unit 308 records the check result together with the check time information.

ステップS511において、他のAEC画素に対しても日常試験を継続するかどうかを判断し、処理を継続する場合はステップS510で更新した最新の日常試験履歴を用いてステップS502が実行される。継続の判断は、ユーザーの指示により判断されてもよいし、予め決められた固定数に達したか否かで判断されてもよい。   In step S511, it is determined whether to continue the daily test for other AEC pixels. If the process is to be continued, step S502 is executed using the latest daily test history updated in step S510. The continuation determination may be determined according to a user instruction, or may be determined based on whether or not a predetermined fixed number has been reached.

以上のようなフローを実施することで、部分領域ごとに優先度に応じて、1つ又は複数の異常画素を検出する日常試験を実施することが可能となる。   By carrying out the flow as described above, it is possible to carry out a daily test for detecting one or a plurality of abnormal pixels according to the priority for each partial region.

なお、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではなく、請求項に記載された範囲内において変更・変形することが可能である。   In addition, this invention is not limited to these embodiment, It can change and change within the range described in the claim.

本発明は、上記の実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、システム又は装置のコンピュータ(CPUやMPUなど)がプログラムを読み出すことにより実行されてもよい。また、本発明は、システム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能であり、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。   The present invention supplies software (programs) for realizing the functions of the above-described embodiments to a system or apparatus via a network or various storage media, and a computer (CPU, MPU, etc.) of the system or apparatus reads the program. May be executed. The present invention can also be realized by a process in which one or more processors in a computer of a system or apparatus read and execute a program, and can also be realized by a circuit (for example, an ASIC) that realizes one or more functions.

1 放射線源
4 検出装置
11 通常画素
111 検知画素
301 試験開始指示部
302 領域決定部
303 有効化制御部
304 出力部
305 X線発生装置(放射線発生部)
306 データ収集部
307 チェック部
308 画素管理部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Radiation source 4 Detection apparatus 11 Normal pixel 111 Detection pixel 301 Test start instruction part 302 Area | region determination part 303 Activation control part 304 Output part 305 X-ray generator (radiation generation part)
306 Data collection unit 307 Check unit 308 Pixel management unit

Claims (13)

放射線情報を検知する複数の画素を有した放射線撮影装置であって、
前記複数の画素を含む部分領域を複数設定し、複数の部分領域のうち、画素の試験を実施する部分領域を試験領域として決定する領域決定手段と、
前記試験領域に含まれる前記画素を有効化する有効化制御手段と、
有効化された前記画素の出力をチェックするチェック手段と、
を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
A radiation imaging apparatus having a plurality of pixels for detecting radiation information,
A plurality of partial regions including the plurality of pixels, and region determining means for determining, as a test region, a partial region in which the pixel test is performed among the plurality of partial regions;
Validation control means for validating the pixels included in the test area;
Checking means for checking the output of the activated pixels;
A radiation imaging apparatus comprising:
前記領域決定手段は、前記チェックの結果に応じて、前記画素を含む部分領域に前記試験領域をさらに分割し、さらに分割された複数の前記部分領域のうち前記試験を実施する部分領域を試験領域として決定することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮影装置。   The area determining means further divides the test area into partial areas including the pixels according to the check result, and further selects a partial area for performing the test among the plurality of the divided partial areas as a test area. The radiation imaging apparatus according to claim 1, wherein the radiation imaging apparatus is determined as: 前記領域決定手段は、前記部分領域のうち前記試験が未実施である前記部分領域を前記試験領域として決定することを特徴とする請求項1又は2に記載の放射線撮影装置。   The radiation imaging apparatus according to claim 1, wherein the area determination unit determines the partial area of the partial area where the test has not been performed as the test area. 前記領域決定手段は、独立して動作する前記画素を含む部分領域にまで前記対象領域又は前記試験領域を分割することを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の放射線撮影装置。   4. The radiographic apparatus according to claim 1, wherein the area determination unit divides the target area or the test area into partial areas including the pixels that operate independently. 5. . 前記画素は、AEC画素であって、
AEC検知により前記画素のAEC信号を出力する出力手段と、
前記AEC信号に基づいて画像画素データを収集するデータ収集手段とを備え、
前記チェック手段は、前記画像画素データを所定の期待値と比較することにより、前記画素の出力をチェックすることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の放射線撮影装置。
The pixel is an AEC pixel,
Output means for outputting an AEC signal of the pixel by AEC detection;
Data collecting means for collecting image pixel data based on the AEC signal,
The radiographic apparatus according to claim 1, wherein the check unit checks the output of the pixel by comparing the image pixel data with a predetermined expected value.
前記チェックの結果を前記チェックの時間情報とともに記録する画素管理手段を備えることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載の放射線撮影装置。   The radiation imaging apparatus according to claim 1, further comprising: a pixel management unit that records a result of the check together with time information of the check. 前記チェックの結果の履歴を管理する前記画素管理部を備え、
前記領域決定部は、前記履歴に基づいて前記試験領域を決定することを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載の放射線撮影装置。
The pixel management unit for managing the history of the check results,
The radiation imaging apparatus according to claim 1, wherein the region determination unit determines the test region based on the history.
前記領域決定手段は、前記試験の試験最終時間が最も古い前記画素が最も多い前記部分領域を前記試験領域として決定することを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項に記載の放射線撮影装置。   The radiographic imaging according to any one of claims 1 to 7, wherein the area determination unit determines the partial area having the largest number of the pixels with the oldest test final time as the test area. apparatus. 前記領域決定手段は、所定の数の前記画素を含む部分領域にまで前記対象領域又は前記試験領域を分割することを特徴とする請求項8に記載の放射線撮影装置。   The radiation imaging apparatus according to claim 8, wherein the area determination unit divides the target area or the test area into partial areas including a predetermined number of the pixels. 前記領域決定手段は、前記部分領域の中心から所定の範囲内に前記画素が存在するまで前記対象領域又は前記試験領域を分割することを特徴とする請求項8に記載の放射線撮影装置。   9. The radiographic apparatus according to claim 8, wherein the area determination unit divides the target area or the test area until the pixel exists within a predetermined range from the center of the partial area. 対象領域の放射線情報を検知する複数の画素を試験する放射線撮影システムであって、
前記画素を含む部分領域に前記対象領域を分割し、複数の部分領域のうち前記試験を実施する部分領域を試験領域として決定する領域決定手段と、
前記試験領域に含まれる前記画素を有効化する有効化制御手段と、
有効化された前記画素に放射線を照射する放射線発生手段と、
有効化された前記画素の出力をチェックするチェック手段と、
を備えることを特徴とする放射線撮影システム。
A radiography system that tests a plurality of pixels that detect radiation information of a target region,
A region determination unit that divides the target region into partial regions including the pixels, and determines a partial region in which the test is performed among a plurality of partial regions as a test region;
Validation control means for validating the pixels included in the test area;
Radiation generating means for irradiating the activated pixels with radiation;
Checking means for checking the output of the activated pixels;
A radiation imaging system comprising:
対象領域の放射線情報を検知する複数の画素を試験する放射線撮影方法であって、
前記画素を含む部分領域に前記対象領域を分割し、複数の部分領域のうち前記試験を実施する部分領域を試験領域として決定する工程と、
前記試験領域に含まれる前記画素を有効化する工程と、
有効化された前記画素の出力をチェックする工程と、
を備えることを特徴とする放射線撮影方法。
A radiography method for testing a plurality of pixels for detecting radiation information of a target region,
Dividing the target region into partial regions including the pixels, and determining a partial region for performing the test as a test region among a plurality of partial regions;
Enabling the pixels included in the test area;
Checking the output of the enabled pixel;
A radiation imaging method comprising:
コンピュータを請求項1乃至10の何れか1項に記載の放射線撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。   The program for functioning a computer as each means of the radiography apparatus of any one of Claims 1 thru | or 10.
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